TW201729581A - 時序控制晶片無畫面檢測系統及其方法 - Google Patents
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Abstract
一種時序控制晶片無畫面檢測系統,包括一視頻訊號源、電連接至視頻訊號源之一視頻判斷模組,以及電連接於視頻訊號源與視頻判斷模組之間之一時序控制晶片。視頻訊號源釋出一包含標準圖像之一第一圖像訊號至時序控制晶片;視頻判斷模組從時序控制晶片擷取低電壓差分訊號(LVDS);視頻判斷模組根據轉換的低電壓差分訊號模擬一第二圖像訊號,並比對第一圖像訊號與第二圖像訊號,當第一、第二圖像訊號具相同時,則所檢測的時序控制晶片為良品。
Description
本發明涉及一種時序控制晶片無畫面檢測系統及其方法,特別是一種時序控制晶片視頻訊號檢測系統及其方法。
按,液晶螢幕(Liquid Crystal Display,簡稱LCD)的年產量居高不下,各廠商品牌間的競爭也導致液晶螢幕機種數日趨成長,假設某公司一年開發數百機種,各機種的設計變更與主晶片變更等等產品設計成本,為LCD的開發品質埋下潛在危機。傳統的時序控制器,即慣稱的TCON板(Timer Control Register,簡稱TCON),是將輸入訊號(包含全值域RGB訊號、時序訊號、控制訊號等)轉換為能驅動液晶螢幕的低電壓差分訊號(Low-Voltage Differential Signaling,簡稱LVDS),再傳送至液晶螢幕的低電壓差分訊號接收晶片,以驅動液晶螢幕以顯示圖像。這是由於低電壓差分訊號具有快速的位元傳輸率、較低的功率、以及更少的噪聲干擾,因此大幅應用於影像輸出。
傳統對液晶螢幕的檢驗方式,是以信號源提供不同的標準圖像,例如:全黑、全白、斜坡、閃爍、色異、水波紋,階層等,給待測的TCON板,隨後TCON板輸出低電壓差分訊號信號至另一顯示器(Panel)顯示圖像,以人力目視來判斷所輸出的圖像是否異常。然而,操作人員再以肉
眼對先後兩個液晶螢幕判定畫面品質,肉眼不僅容易產生誤差、也提高視覺疲勞的強度,人員與機台的交錯使用亦缺乏系統性、智慧化亦較低,檢測的整體精確率與效率是相對低的。
因此,業界亟待能夠同時提高效率與精確率的檢測方案,進一步提高品質與降低成本。
本發明之目的在於提供一種同時提高效率與精確率的時序控制晶片無畫面檢測系統及其方法。
為此,本發明提供一種時序控制晶片無畫面檢測系統,包括一視頻訊號源、一視頻判斷模組,以及電連接於視頻訊號源與視頻判斷模組之間之一時序控制晶片。視頻訊號源根據一標準圖像傳送一第一圖像訊號至時序控制晶片;視頻判斷模組從時序控制晶片擷取有形成一輸出畫面框之一低電壓差分訊號;視頻判斷模組將低電壓差分訊號模擬還原一第二圖像訊號,並比對第一圖像訊號與第二圖像訊號。
為此,本發明提供一種時序控制晶片無畫面檢測系統,包括:一訊號單元、一時序控制晶片、以及一判斷單元。訊號單元具有一視頻訊號源與一電壓訊號源;視頻訊號源根據一標準圖像傳送一第一圖像訊號;電壓訊號源具有一初始電壓。時序控制晶片電連接至訊號單元,接受第一圖像訊號與初始電壓。判斷單元具有一視頻判斷模組與一電壓判斷模組;視頻判斷模組從時序控制晶片擷取有形成一輸出畫面框之一低電壓差分訊號,並根據低電壓差分訊號模擬還原一第二圖像訊號,以比對第一圖像訊號與第二圖像訊號;電壓判斷模組從時序控制晶片取得一輸出電壓,
以比對初始電壓與輸出電壓。
為此,本發明提供一種時序控制晶片無畫面檢測方法,包括有下列步驟:由一視頻訊號源根據一標準圖像提供一第一圖像訊號到一時序控制晶片;由一視頻判斷模組從時序控制晶片擷取有形成一輸出畫面框之一低電壓差分訊號;由視頻判斷模組將前述低電壓差分訊號模擬還原為一第二圖像訊號;以及由視頻判斷模組比對第一圖像訊號與第二圖像訊號。
100、200‧‧‧時序控制晶片無畫面檢測系統
10‧‧‧訊號單元
11‧‧‧視頻訊號源
20‧‧‧時序控制晶片
30‧‧‧判斷單元
31‧‧‧視頻判斷模組
32‧‧‧電壓判斷模組
12‧‧‧電壓訊號源
SS1、SS2‧‧‧第一、第二圖像訊號
S102~S109、S202~S207、S302~S309、S402~S406、S502~S506、S702~S704‧‧‧步驟
SL1‧‧‧低電壓差分訊號
V1‧‧‧初始電壓
V2‧‧‧輸出電壓
321‧‧‧訊號處理器
33‧‧‧控制模組
331‧‧‧交集邏輯
34‧‧‧顯示介面
R‧‧‧比對結果
第1圖為本發明之時序控制晶片無畫面檢測系統之第一實施例之系統示意圖;第2圖為本發明之時序控制晶片無畫面檢測系統之第二實施例之系統示意圖;第3圖為本發明之時序控制晶片無畫面檢測方法第一實施例之流程圖;第3A圖為第3圖之局部步驟圖;以及第4圖為本發明之時序控制晶片無畫面檢測方法第二實施例圖之流程圖。
請同時參閱第1、3圖,一種時序控制晶片無畫面檢測系統100包括一內建有一視頻訊號源11之訊號單元10、一內建有一視頻判斷模組31之判斷單元30、以及電連接於視頻訊號源11與視頻判斷模組31之間的一時序控制晶片20。
本發明所定義第一圖像訊號SS1可對應到不同的標準圖像,例如全黑、全白、斜坡、閃爍、色異、水波紋、階層等不同圖像,當視頻訊號源11傳送一標準訊號至時序控制晶片20時,此標準訊號係至少包括前述第一圖像訊號SS1。由於視頻訊號源11可以按不同的介面標準輸出,例如:視頻圖形陣列(Video Graphics Array,簡稱VGA)、數位視訊介面(Digital Visual Interface,簡稱DVI)、高畫質晰度多媒體介面(High Definition Multimedia Interface,簡稱HDMI)、數位式視訊介面標準(DisplayPort,簡稱DP)等。大多數的介面標準除具有第一圖像訊號SS1之外,尚能進一步包括聲音訊號。
因此,前述的第一圖像訊號SS1通過時序控制晶片20可轉換為一低電壓差分訊號SL1輸出,而此低電壓差分訊號可形成一輸出畫面框,而此輸出畫面框所呈現的圖像應與所選用的標準圖像相同。
視頻判斷模組31從時序控制晶片20擷取有輸出畫面框的低電壓差分訊號SL1;視頻判斷模組31根據低電壓差分訊號SL1模擬還原為一第二圖像訊號SS2,並比對第一圖像訊號SS1與第二圖像訊號SS2,得出一包含「通過」或「失敗」的比對結果R。當第一圖像訊號SS1與第二圖像訊號SS2具有相同的影像資料,則比對結果R為「通過」;反之為「失敗」。
判斷單元30更包括電連接至視頻判斷模組31之一顯示介面34;視頻判斷模組31輸出一比對結果R至顯示介面34;其中,顯示介面34可為容許人為操控的人機介面。
其中,視頻判斷模組31內可供比對的第一圖像訊號SS1,其可預先內建。或,視頻判斷模組31電連接至視頻訊號源11,藉以發生容許以下事件,如:視頻判斷模組31與視頻訊號源11同步,因此視頻訊號源11可在同一時序給出同一個第一圖像訊號SS1;或,由視頻判斷模組31傳送所欲檢測之第一圖像訊號SS1至視頻訊號源11。
本實施例的檢測方法,如第3圖,係包括有:步驟S102:由視頻訊號源11根據一標準圖像提供一第一圖像訊號SS1到一時序控制晶片20;步驟S104:由視頻判斷模組31從時序控制晶片20擷取一輸出低電壓差分訊號SL1;步驟S106:由視頻判斷模組11將低電壓差分訊號SL1模擬還原為一第二圖像訊號SS2;以及步驟S108:由視頻判斷模組11比對第一、第二圖像訊號SS1、SS2。
其中,步驟S108中,請參閱第3A圖,包括步驟S202:由視頻判斷模組31預設的標準圖像擷取出對應的第一圖像訊號SS1;步驟S204:比對第一圖像訊號SS1與第二圖像訊號SS2;步驟S206:第一圖像訊號SS1與第二圖像訊號SS2比對後具有相同的影像資料則得出一包含「通過」的比對結果,或步驟S207,反之得出一包含「失敗」的比對結果R;以及步驟S208:輸入該比對結果R至顯示介面34。其中,所謂「具有相同的影像資料」是指符合誤差範圍內的影像資料。
其中,由於本系統100可以至少檢測一個時序控制晶片,因此,步驟S108後至少包含一步驟S109:判斷是否結束,「是」則結束,「否」則返回步驟S102。
由於時序控制晶片通常一併處理圖像訊號與電壓訊號,因此本發明另一種時序控制晶片無畫面檢測系統200進一步包含電壓檢測的具體實施方式參閱第2、4圖。
前述的時序控制晶片無畫面檢測系統200包括一訊號單元10、一時序控制晶片20、一判斷單元30。訊號單元10具有前述的視頻訊號源11與一電壓訊號源12;視頻訊號源11根據一標準圖像傳送一第一圖像訊號SS1;該電壓訊號源具有一初始電壓V1。時序控制晶片20電連接至訊號單元10;時序控制晶片20接受標準訊號F1與初始電壓V1並輸出至判斷單元30。判斷單元30之視頻判斷模組31從時序控制晶片20擷取有形成一輸出畫面框的一低電壓差分訊號SL1,並根據低電壓差分訊號SL1模擬還原一第二圖像訊號SS2,以比對第一、第二圖像訊號SS1、SS2;判斷單元30之電壓判斷模組32從時序控制晶片20取得一輸出電壓V2,以比對初始電壓V1與輸出電壓V2。
判斷單元30進一步包括一訊號處理器321、與一控制模組33。訊號處理器321可選用國家儀器(National Instruments Corporation)的SCXI機型;訊號處理器321電連接至時序控制晶片20,控制模組33電連接訊號處理器321。因此訊號處理器321可進一步調節輸出電壓V2不論輸出電壓V2是否經過調節,控制模組33均會比對初始電壓V1與未調節/調節後的輸出電壓V2。需要說明的是,控制模組33可為原本內建至視頻判斷模組31與電壓判斷模組32,而可各自比對其訊號。控制模組33也可配置視頻判斷模組31與電壓判斷模組32之外,以綜合判斷視頻判斷模組31與電壓判斷模組32
的比對結果。不論控制模組33的配置如何,判斷單元30皆進一步包括一交集邏輯331,至少處理前述的兩種比對結果,一為第一圖像訊號SS1與第二圖像訊號SS2的圖像比對結果,另一為初始電壓V1與輸出電壓V2的電壓比對結果。交集邏輯331,顧名思義即採用布林運算的交集判斷:例如,僅有當訊號框比對結果與電壓比對結果均為「通過」(即正常品)時,才獲得一比對結果R為包含「通過」的資訊;「否」則為「失敗」;交集邏輯331的設計可存在控制模組33內,也可獨立於控制模組33外,由判斷單元30管理。例如:當控制模組33配置視頻判斷模組31與電壓判斷模組32之外時,交集邏輯331設於控制模組33內;當控制模組33內建至視頻判斷模組31與電壓判斷模組32時,交集邏輯331則獨立於控制模組33外。
本實施例中,由單一的控制模組33配置視頻判斷模組31與電壓判斷模組32之外,交集邏輯331設於控制模組33內。此外,判斷單元30包括顯示介面34,因此,交集邏輯331運算完成的比對結果R可輸出至顯示介面34。
本實施例的檢測方法,其有關於圖像比對結果的流程概略與第3、3A圖同;惟,綜合檢測電壓部分的具體實施方式,則參閱第4圖,其包括有:步驟S302:由訊號單元10提供一第一圖像訊號SS1、與一初始電壓V1。步驟S304:將前述訊號SS1、V1傳送至一時序控制晶片20。步驟S306:由一判斷單元30從時序控制晶片20取得一輸出低電壓差分訊號SL1與一輸出電壓V2;判斷單元30對低電壓差分訊號SL1模擬一第二圖像訊號SS2,判斷單元30可比對第一與第二圖像訊號SS1、SS2、以及比對初始電壓V1與輸
出電壓V2。步驟S308:由一交集邏輯331處理前述的兩種比對結果,當圖像比對結果與電壓比對結果均為「通過」(即正常品)時,才輸出一比對結果為「通過」,「否」則為「失敗」。
其中,步驟S302進一步包括:步驟S402:由一視頻訊號源11根據一標準圖像提供一第一圖像訊號SS1;以及步驟S502:由一電壓訊號源12提供一初始電壓V1。
其中,步驟S306進一步包括:步驟S404:由視頻判斷模組31從時序控制晶片20擷取有形成一輸出畫面框的一輸出低電壓差分訊號SL1,並將低電壓差分訊號SL1模擬還原為一第二圖像訊號SS2。步驟S406:由視頻判斷模組11比對第一圖像訊號SS1與第二圖像訊號SS2;其中,第一圖像訊號SS1對應至標準圖像,而第二圖像訊號SS2對應至輸出畫面框。以及步驟S702:比對合格得出一包含「通過」的圖像比對結果;或步驟S704,反之得出一包含「失敗」的圖像比對結果。
其中,步驟S306更包括:步驟S504:由視頻判斷模組31從時序控制晶片20取得一輸出電壓V2,並進一步調節輸出電壓V2。步驟S506:由電壓判斷模組12比對初始電壓V1與輸出電壓V2。以及步驟S702:比對合格則得出一包含「通過」的電壓比對結果;或步驟S704,反之為得出一包含「失敗」的電壓比對結果。
其中,步驟S308進一步包括:步驟S802:由一交集邏輯取得至少以下兩種比對結果:其一為第一圖像訊號SS1與第二圖像訊號SS2的
圖像比對結果、以及初始電壓V1與調節後的輸出電壓V2的電壓比對結果,並輸出最終的比對結果R。以及步驟S804:最終的比對結果之判斷方式為:當圖像比對結果與電壓比對結果均為「通過」(即正常品)時為「通過」,其餘則進入步驟S8106:均為「失敗」。
其中,由於本系統可以至少檢測一個時序控制晶片,因此,步驟S308後至少包含一步驟S309:判斷是否結束,「是」則結束,「否」則返回步驟S302。
綜上所述,可知本發明之時序控制晶片無畫面檢測系統100、200的確無需藉由液晶螢幕顯示器顯示畫面以供比對,即可達到提高效率與精確率的技術功效。簡而言之,本發明將待測的時序控制晶片通過測試訊號的輸出訊號轉換成一種內部訊號,此等內部訊號格式與測試訊號格式相同,藉此選定畫面框而可比對訊號特徵,以省略液晶螢幕的顯示需求。
因此,本發明的優點除前述的技術功效外,更至少包括有:省略傳統檢測過程中,針對不同規格參數的液晶面板匹配電路的調整與試誤;根據前述步驟地省略,亦同時省略檢測用的大量液晶面板;避免因傳統檢測搭配液晶面板卻發生失誤時的面板損害或故障;本發明可以採用不同的LVDS線序轉換板,以支持不同分辨率的液晶螢幕顯示訊號的接入,有利於操作人員的使用。
本發明及其具體實施例係不侷限於上述例示,其概念透過申
請專利範圍的概念與範疇下可為替代或變換。
100‧‧‧時序控制晶片無畫面檢測系統
10‧‧‧訊號單元
11‧‧‧視頻訊號源
20‧‧‧時序控制晶片
30‧‧‧判斷單元
31‧‧‧視頻判斷模組
SS1、SS2‧‧‧第一、第二圖像訊號
SL1‧‧‧低電壓差分訊號
34‧‧‧顯示介面
Claims (13)
- 一種時序控制晶片無畫面檢測系統,包括:一視頻訊號源;一視頻判斷模組;以及一時序控制晶片,電連接該視頻訊號源與該視頻判斷模組;其中,該視頻訊號源根據一標準圖像傳送一第一圖像訊號至該時序控制晶片;該視頻判斷模組從該時序控制晶片擷取有形成一輸出畫面框之一低電壓差分訊號;該視頻判斷模組根據該低電壓差分訊號模擬還原一第二圖像訊號,並比對該第一圖像訊號與該第二圖像訊號。
- 如請求項1之時序控制晶片無畫面檢測系統,其中:該視頻判斷模組更包括電連接至該視頻判斷模組之一顯示介面;該視頻判斷模組輸出一比對結果至該顯示介面。
- 如請求項1之時序控制晶片無畫面檢測系統,其中該視頻判斷模組預設有複數個對應於標準圖像之第一圖像訊號。
- 如請求項1~3任一項之時序控制晶片無畫面檢測系統,其中該視頻判斷模組更進一步電連接該視頻訊號源。
- 如請求項4之時序控制晶片無畫面檢測系統,其中該視頻判斷模組所比對的第一圖像訊號,係由該視頻訊號源所傳送。
- 如請求項4之時序控制晶片無畫面檢測系統,其中該視頻訊號源所提供的第一圖像訊號,係由該視頻判斷模組所傳送。
- 一種時序控制晶片無畫面檢測系統,係包括:一訊號單元,具有一視頻訊號源與一電壓訊號源;該視頻訊號源根 據一標準圖像傳送一第一圖像訊號;該電壓訊號源具有一初始電壓;一時序控制晶片,電連接至該訊號單元;該時序控制晶片接受該第一圖像訊號與該初始電壓;以及一判斷單元,具有一視頻判斷模組與一電壓判斷模組;該視頻判斷模組從該時序控制晶片擷取有形成一輸出畫面框之一低電壓差分訊號,並根據該低電壓差分訊號模擬還原一第二圖像訊號,以比對該第一圖像訊號與該第二圖像訊號;該電壓判斷模組從該時序控制晶片取得一輸出電壓,以比對該初始電壓與該輸出電壓。
- 如請求項7之時序控制晶片無畫面檢測系統,其中:該判斷單元包括一訊號處理器;該訊號處理器電連接至該時序控制晶片與該電壓判斷模組,該訊號處理器調節該輸出電壓。
- 如請求項7之時序控制晶片無畫面檢測系統,其中:該判斷單元包括一交集邏輯,該交集邏輯取得該標準訊號與該輸出訊號的圖像比對結果、以及該初始電壓與調節後的輸出電壓的比對結果,並輸出一最終的比對結果。
- 如請求項7~9任一項之時序控制晶片無畫面檢測系統,其中:該判斷單元更包括電連接至該控制模組之一顯示介面,該比對結果輸出至該顯示介面。
- 一種時序控制晶片無畫面檢測方法,包括有下列步驟:由一視頻訊號源根據一標準圖像提供一第一圖像訊號到一時序控制晶片;由一視頻判斷模組從該時序控制晶片擷取有形成一輸出畫面框之 一輸出低電壓差分訊號;由該視頻判斷模組將該低電壓差分訊號模擬還原為一第二圖像訊號;以及由該視頻判斷模組比對該第一圖像訊號與該第二圖像訊號。
- 如請求項11之時序控制晶片無畫面檢測方法,更包括有:由一電壓訊號源提供一初始電壓到一時序控制晶片;以及由一電壓判斷模組從該時序控制晶片取得一輸出電壓,調節該輸出電壓,以比對該初始電壓與調節後的輸出電壓。
- 如請求項12之時序控制晶片無畫面檢測方法,更包括有:由一交集邏輯處理至少以下兩種結果:該第一圖像訊號與該第二圖像訊號的圖像比對結果、以及該初始電壓與調節後的輸出電壓的比對結果;並輸出一最終的比對結果。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610009433.2A CN105405377A (zh) | 2016-01-08 | 2016-01-08 | 时序控制芯片无画面检测系统及其方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201729581A true TW201729581A (zh) | 2017-08-16 |
Family
ID=55470835
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW105121134A TW201729581A (zh) | 2016-01-08 | 2016-07-04 | 時序控制晶片無畫面檢測系統及其方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN105405377A (zh) |
TW (1) | TW201729581A (zh) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106683600A (zh) * | 2016-10-20 | 2017-05-17 | 惠州高盛达科技有限公司 | Tcon PCB自动检测系统及其方法 |
CN114512077B (zh) * | 2020-10-23 | 2023-12-05 | 西安诺瓦星云科技股份有限公司 | 接收卡输出的驱动时序检测方法、装置及系统 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101495865B1 (ko) * | 2008-09-18 | 2015-02-25 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 이의 구동방법 |
CN101950516B (zh) * | 2010-09-08 | 2012-12-05 | 佛山市进步科技有限公司 | 液晶电视和液晶显示器驱动板检测系统 |
CN104053281B (zh) * | 2014-06-16 | 2016-12-21 | 京东方光科技有限公司 | 点灯治具 |
CN104932124B (zh) * | 2015-06-12 | 2017-08-29 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 基于fpga的图形信号产生装置及方法 |
CN105161039A (zh) * | 2015-09-29 | 2015-12-16 | 南京熊猫电子制造有限公司 | 一种基于Labview的多种类型信号在线测试系统 |
-
2016
- 2016-01-08 CN CN201610009433.2A patent/CN105405377A/zh active Pending
- 2016-07-04 TW TW105121134A patent/TW201729581A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105405377A (zh) | 2016-03-16 |
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