TWI432753B - 測試系統及其測試方法 - Google Patents

Description

測試系統及其測試方法

本發明是有關於一種測試系統及其測試方法，且特別是有關於可藉由自動地測試電子裝置之多個輸出介面之測試系統及其測試方法。

在科技日新月異的現今時代中，許多應用於日常生活中之電子裝置被發展出來。電子裝置例如筆記型電腦，而此電子裝置係支援多個輸出介面，來滿足消費者於影音視覺上的享受。多個輸出介面例如分別支援視頻圖像陣列(Video Graphics Array,VGA)介面標準、高清晰度多媒體介面(High Definition Multimedia Interface,HDMI)標準、S端子(Super-Video)標準、顯示器連接埠(Display Port)標準、索尼/飛利浦數位介面(Sony/Philips Digital Inter Face,S/PDIF)標準或音源輸出(Audio Line Out)標準之其一。

於電子裝置出廠前，各企業之檢測人員係以人工的方式對電子裝置所包含之多個輸出介面進行檢測，檢測人員需先將測試裝置(比如為耳機)耦接至對應之輸出介面(比如為支援音源輸出)，利用電子裝置來輸出測試信號(例如係聲音信號)，檢測人員以人工檢測方式藉由聽取耳機以判斷此輸出介面是否良好，而通常電子裝置具有多個輸出介面。然而，檢測人員以上述之人工檢測方式對電子裝置進行檢測時，除了可能造成人工判斷中所產生的人為誤差外，且相當的耗時與耗費人力。

本發明的目的為提出一種測試系統及其測試方法，依據本發明之一實施例，測試系統包括電子裝置與測試裝置。電子裝置包括多個輸出介面。測試裝置包括多個測試介面與一處理單元。電子裝置透過多個輸出介面提供對應之測試信號，多個測試介面分別對應並耦接至多個輸出介面，處理單元透過多個測試介面所接收之測試信號，以判斷此些測試信號是否符合一組預設條件，以決定對應於此些測試信號之輸出介面是否良好。如此，可以自動化的方式來對多個輸出介面進行檢測，以節省檢測所花費之時間與降低進行檢測之人力消耗，更可避免人工判斷方式所可能產生的誤差，從而提升檢測的準確度。

根據本發明之一方面，提出一種測試系統，包括電子裝置與測試裝置。電子裝置包括多個輸出介面，電子裝置依據一組操作指令透過此些輸出介面提供對應之一測試信號。測試裝置包括通訊單元、多個測試介面、轉換單元、多工單元與處理單元。此些測試介面分別耦接此些輸出介面。轉換單元用以轉換透過此些測試介面所接收之此些測試信號。多工單元用以選取多個轉換後的測試信號。處理單元用以依據此組操作命令來控制多工單元以選出此些轉換後的測試信號之其一，並判斷所選出之轉換後的測試信號是否符合一預設條件，以產生一測試結果訊息，處理單元更用以控制通訊單元來傳輸此測試結果訊息至電子裝置。

根據本發明之另一方面，提出一種測試方法，適用於一測試系統，該測試系統包括電子裝置與測試裝置。電子裝置包括多個輸出介面。測試裝置包括多個測試介面，此些輸出介面分別耦接該些測試介面，此方法包括下列步驟。首先，電子裝置依據一組操作指令透過此些輸出介面提供對應之一測試信號。接著，測試裝置轉換透過此些測試介面所接收之此些測試信號。之後，測試裝置依據此組操作指令控制一多工單元以選出此些轉換後的測試信號之其一。接著，測試裝置判斷所選出之轉換後的測試信號是否符合一預設條件，以產生一測試結果訊息。然後，測試裝置控制一通訊單元來將此測試結果訊息傳輸至電子裝置。

為讓本發明之上述內容能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

請參照第1圖，其繪示本發明之一實施例之測試系統之方塊圖。如第1圖所示，測試系統200包括電子裝置150與測試裝置100。電子裝置150包括多個輸出介面140。前述電子裝置例如為筆記型電腦或其他具有多個輸出介面的電子裝置。測試裝置100包括通訊單元10、多工單元30、多個測試介面50、轉換單元70與處理單元90。

電子裝置150例如係依據一組操作命令透過多個輸出介面150提供對應之測試信號s1~sn。多個測試介面50分別耦接多個輸出介面140。轉換單元70用以轉換透過多個測試介面50所接收之多個測試信號。處理單元90依據一組操作命令來控制多工單元30以選出多個轉換後的測試信號之其一，並判斷所選出之轉換後的測試信號是否符合一預設條件，以產生一測試結果訊息。處理單元90更用以控制通訊單元10來傳輸此測試結果訊息至電子裝置150。

請同時參照第2圖與第3圖，第2圖繪示應用於第1圖之測試系統之測試方法之流程圖。第3圖繪示第1圖之測試裝置之詳細方塊圖。首先，於步驟S202中，電子裝置150依據一組操作命令透過多個測試介面50提供對應之一測試信號。多個輸出介面140分別例如係為輸出介面141~146，且多個測試介面50分別例如係為測試介面51~56。測試介面51~56分別對應並耦接多個輸出介面141~146。其中多個測試介面51~56與耦接之多個輸出介面141~146例如分別支援音源輸出(Audio Line out)標準、一視頻圖像陣列(Video Graphics Array,VGA)介面標準、高清晰度多媒體介面(High Definition Multimedia Interface,HDMI)標準、S端子(Super-Video)標準、顯示器連接埠(Display Port)標準、索尼/飛利浦數位介面(Sony/Philips Digital InterFace,S/PDIF)標準之其一。茲舉一例詳細說明此組操作指令如下。

舉例來說，此組操作命令例如包括多個操作指令，由電子裝置150依據各個操作指令來提供對應之測試信號，而電子裝置例如更將操作指令傳輸至測試裝置100。假定電子裝置150依據此組操作指令之其一來透過例如支援音源輸出標準之輸出介面141提供測試信號s1，而測試信號s1例如包含支援音源輸出標準之左、右聲道之聲音信號。如此，此組操作指令可依據電子裝置所具有之各個輸出介面來設計與調整所提供之信號的類型，更可由檢測人員來設定此組操作指令中之各操作指令的順序。

更進一步來說，電子裝置150依據此組操作指令中所包含之各操作指令分別透過輸出介面142~146提供測試信號s2~s6。輸出介面142~146與耦接之測試介面52~56例如分別係支援VGA介面標準、S端子標準、HDMI標準、顯示器連接埠(Display Port)標準與S/PDIF標準。

接著，上述之測試信號s2例如包含水平同步信號(Horizontal Synchronisation，Hsync)、垂直同步信號(Vertical Synchronisation，Vsync)、紅、綠、藍(R、G、B)的色差信號。測試信號s3例如包含亮度、色度信號。測試信號s4及測試信號s5分別例如包含S/PDIF規格之聲音信號、水平同步信號與垂直同步信號。測試信號s6例如包含S/PDIF規格之聲音信號。

接著，本實施例進入步驟S204，於步驟S204中，轉換單元70用以轉換透過多個測試介面所接收之測試信號。轉換單元70例如包括聲音信號轉換電路71、色差信號轉換電路72、S端子信號轉換電路73、S/PDIF與聲音信號轉換電路74~76與數位類比轉換電路77，與高清晰度多媒體介面(HDMI)解碼電路78及顯示器連接埠解碼電路79。茲舉一例詳細說明轉換單元如何將測試信號進行轉換如下。

舉例來說，聲音信號轉換電路71、色差訊號轉換電路72與S端子信號轉換電路73係各對應於測試介面51～53，且更例如分別用以轉換測試信號s1~s3，以輸出轉換後的測試信號f1~f3。在一例子中，聲音轉換電路71、色差信號轉換電路72、S端子信號轉換電路73例如係將測試信號s1~s3轉換為電晶體-電晶體邏輯(Transistor-Transistor Logic,TTL)類型之信號。測試信號s1例如係弦波信號，轉換後的測試信號f1例如為TTL信號。

高清晰度多媒體介面解碼電路78例如係對測試信號s4進行解碼，以取出測試信號s4中例如包含之水平與垂直同步信號a1、S/PDIF規格之聲音信號a2，S/PDIF信號與聲音信號轉換電路74將測試信號s4中具有S/PDIF規格之聲音信號a2轉換為TTL類型之信號f4。在一例子中，S/PDIF信號與聲音信號轉換電路74例如係先將S/PDIF規格之聲音信號a2先轉換為類比聲音信號，再將此類比聲音信號轉換為TTL類型之信號。

顯示器連接埠解碼電路79例如係透過測試介面55對測試信號s5進行解碼，以取出測試信號s5中例如所包含之水平與垂直同步信號a3、S/PDIF規格之聲音信號a4，S/PDIF信號與聲音信號轉換電路75將測試信號s5中之S/PDIF規格的聲音信號a3轉換為TTL類型之信號f5。在一例子中，S/PDIF與聲音信號轉換電路75例如係先將S/PDIF規格之聲音信號a4先轉換為類比聲音訊號，再將此類比聲音信號轉換為TTL類型之信號。

之後，進入本實施例之步驟S206，於步驟S206中，處理單元90依據此組操作指令來控制多工單元30以選出多個轉換後的測試信號之其一。處理單元90例如係藉由通訊單元10來取得此組操作指令。舉例來說，假定電子裝置150依據一操作指令提供測試信號s1，處理單元90例如依據此操作命令控制多工單元30來選出轉換後的測試信號f1。通訊單元10例如支援串列數據通訊(Radio Standard，RS-232)標準或通用序列匯流排(Universal serial Bus，USB)。

於步驟S208中，處理單元90判斷轉換後的測試信號是否符合一預設條件，以提供測試結果訊息。若轉換後的測試信號未符合預設條件時，則執行步驟S210；若轉換後的測試信號符合預設條件時，則執行步驟S212。其中處理單元90用以在一預定時間內，判斷轉換後的測試信號之脈衝數目是否符合預設條件之方法例如係利用脈衝計數方法(Pulse counting method)，茲舉一例詳細說明脈衝計數方法如下。

舉例來說，處理單元90用以判斷轉換後的測試信號f1是否符合一預設條件，對應於轉換後的測試信號f1之測試信號s1之規格(比如週期、頻率)係已預設於電子裝置150與測試裝置100中，例如第4圖所示，其繪示係代表測試信號s1所包含之左、右聲道之信號之波形圖。左聲道信號d1與右聲道信號d2之週期T例如係1ms，當一預定時間例如設定為9.5ms時，處理單元90判斷於此預定時間內，經過輸出介面141並透過聲音轉換電路71轉換後之轉換後的測試信號f1的脈衝數目是否符合預設條件。

此預設條件例如係當時間經過9.5ms後，處理單元90應當會收到的9個脈衝數目，若轉換後的測試訊號f1於預設時間(9.5ms)內之脈衝數目係為9個，則測試信號s1是為正確，亦代表對應於測試信號s1之輸出介面141是為良好。然而，上述之預定時間與預設條件可依據不同測試信號來進行調整與設計，並不以此為限制。

在另一例子中，測試信號s2所包含之垂直同步信號之一個週期例如為16.67ms，預定時間可設定為42ms(意即(16.67ms*2+16.67ms*3)/2)。此時，處理單元90用以判斷轉換後的測試信號f2中之垂直同步信號於42ms中之脈衝數目是否為2個。此外，處理單元90利用脈衝計數方法來辨識測試信號s2所包含之RGB色差信號時，由於在垂直空白期間(vertical blanking period)中，支援VGA標準之輸出介面52並無輸出RGB信號，因此會造成計算上的誤差。

於此，可將對應於RGB色差信號之預定時間設定大於1個垂直同步信號週期加上2個垂直空白期間的時間，例如電子裝置之支援VGA標準的輸出介面輸出1024x768解析度的模式並且為全白畫面，處理單元90判斷RGB色差信號於設定的20ms(垂直空白期間的時間一般而言小於1ms)中之脈衝數目是否至少為768個(例如對應於在任意兩個垂直同步週期間至少有768條水平掃描線)，以避免垂直空白週期對脈衝計數方法的影響。然，在其他例子中，處理單元可依照上述之方式來判斷其他測試信號是否正確，於此將不再贅述。

於步驟S210中，處理單元90控制通訊單元10來傳輸代表失敗之測試結果訊息r至電子裝置150。於步驟S212中，處理單元90控制通訊單元10來傳輸代表成功之測試結果訊息r至電子裝置150。

更進一步來說，電子裝置150例如更包括顯示單元(未繪示)，若測試結果訊息係代表測試成功，則電子裝置150藉由顯示單元來顯示代表測試成功之測試結果訊息。在一例子中，電子裝置150先提供對應於輸出介面141測試信號s1後，更依據測試裝置100回傳之測試結果訊息來決定是否繼續提供其他測試信號。若測試結果訊息係代表測試成功，電子裝置150例如繼續提供對應於輸出介面142之測試信號s2，並繼續等待測試裝置100回傳測試結果訊息，以繼續進行檢測。若測試結果訊息係代表測試失敗時，電子裝置150藉由顯示單元(未繪示)來顯示代表測試失敗之測試結果訊息以告知檢測人員哪一個輸出介面可能有問題，並可停止後續之檢測。

如此，本實施例可讓檢測人員以自動化的檢測方式對電子裝置之多個輸出介面進行檢測，以避免檢測人員以人工判斷的方式進行檢測所可能產生的人為誤差，亦可節省檢測人員於以人工方式進行檢測所消耗的時間，以節省人力。

本發明之上述不同實施例之測試系統及其測試方法，具有之功效如下：

(1)在上述一實施例中，可讓檢測人員不需以人工判斷的方式來決定輸出介面是否良好，以避免人為誤差來確保檢測之準確性。

(2)此外，以自動化方式對電子裝置之多個輸出介面進行檢測，亦取代傳統耗時又費力之人工檢測方式，如此除了可降低人力耗損，更能節省檢測上所花費的時間。

(3)如上述一實施例所示，更可讓檢測人員依據電子裝置之輸出介面之個數來靈活設計操作命令與預定條件，從而提升應用範疇。

因此，相較於習知需要以人工方式對多個輸出介面來進行檢測的方式，本發明之實施例具有更高的應用性、便利性及準確性，讓檢測人員於可省時省力的情況下，可更快速取得高準確性的檢測結果。

綜上所述，雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

10．．．通訊單元

30．．．多工單元

50~56．．．測試介面

70．．．轉換單元

71．．．聲音信號轉換電路

72．．．色差訊號轉換電路

73S．．．端子信號轉換電路

74~76．．．S/PDIF信號與聲音信號轉換電路

78．．．高清晰度多媒體介面解碼電路

79．．．顯示器連接埠解碼電路

90．．．處理單元

100．．．測試裝置

140~146．．．輸出介面

150．．．電子裝置

200．．．測試系統

s1~sn．．．測試信號

f1~f6．．．轉換後的測試信號

d1、d2．．．左、右聲道信號

T．．．週期

S202~S212．．．步驟

第1圖繪示乃本發明之一實施例之測試系統之方塊圖。

第2圖繪示乃應用於第1圖之測試系統之測試方法之流程圖。

第3圖繪示乃第1圖之測試系統之詳細方塊圖。

第4圖繪示乃第1圖之測試系統之測試信號s1所包含之左、右聲道之信號之波形圖。

10．．．通訊單元

30．．．多工單元

50．．．測試介面

70．．．轉換單元

90．．．處理單元

100．．．測試裝置

140．．．輸出介面

150．．．電子裝置

200．．．測試系統

s1~sn．．．測試信號

Claims (16)

1. 一種測試系統，包括：一電子裝置，包括複數個輸出介面，該電子裝置依據一組操作指令透過該些輸出介面提供對應之一測試信號；一測試裝置，包括：一通訊單元；複數個測試介面，該些測試介面分別耦接該些輸出介面；一轉換單元包括多個轉換電路，用以分別轉換透過該些測試介面所接收之該些測試信號；一多工單元耦接至該些轉換電路，從該些轉換電路選取該些轉換後的測試信號之其一；一處理單元，依據該組操作指令來控制該多工單元以選出該些轉換後的測試信號之其一，並判斷所選出之該轉換後的測試信號於一預定時間內之脈衝數量是否符合一預設條件，以產生一測試結果訊息，該處理單元更用以控制該通訊單元來傳輸該測試結果訊息至該電子裝置。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中該些轉換電路分別對應於該些測試信號。
3. 如申請專利範圍第2項所述之測試系統，其中該轉換單元更包括：多個解碼電路，用以對轉換前之該些測試信號之至少其一進行解碼。
4. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中該 測試信號係為類比信號，該轉換後的測試信號係為電晶體-電晶體邏輯(Transistor-Transistor Logic,TTL)信號。
5. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中若該轉換後的測試信號未符合該預設條件時，該處理器控制該通訊單元來傳輸代表失敗之該測試結果訊息至該電子裝置；若該轉換後的測試信號符合該預設條件時，該處理單元控制該通訊單元來傳輸代表成功之該測試結果訊息至該電子裝置。
6. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中該些測試介面與耦接之該些輸出介面分別支援一視頻圖像陣列(Video Graphics Array,VGA)介面標準、高清晰度多媒體介面(High Definition Multimedia Interface,HDMI)標準、一S端子(Super-Video)標準、一顯示器連接埠(Display Port)標準、索尼/飛利浦數位介面(Sony/Philips Digital InterFace,S/PDIF)標準、一音源輸出(Audio Line Out)標準之其一。
7. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中該通訊單元係支援串列數據通訊(Radio Standard，RS-232)標準、通用序列匯流排(Universal serial Bus，USB)之其一。
8. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中該電子裝置更依據該測試結果訊息來決定是否繼續提供測試信號。
9. 一種測試方法，適用於一測試系統，該測試系統包括一電子裝置與一測試裝置，該電子裝置包括複數個輸出介面，該測試裝置包括複數個測試介面，該些輸出介面 分別耦接該些測試介面，該方法包括：該電子裝置依據一組操作指令透過該些輸出介面提供對應之一測試信號；該測試裝置之多個轉換電路轉換透過該些測試介面所接收之該些測試信號；該測試裝置依據該組操作指令控制耦接至該些轉換電路之一多工單元以從該些轉換電路選出該些轉換後的測試信號之其一；該測試裝置判斷所選出之該轉換後的測試信號於一預定時間內之脈衝數量是否符合一預設條件，以產生一測試結果訊息；以及該測試裝置依據該測試結果訊息控制一通訊單元來將該測試結果訊息傳輸至該電子裝置。
10. 如申請專利範圍第9項所述之測試方法，包括：分別轉換該些測試信號。
11. 如申請專利範圍第10項所述之測試方法，其中於轉換該些測試信號之步驟前更包括：對轉換前之該些測試訊號之至少其一進行解碼。
12. 如申請專利範圍第9項所述之測試方法，其中該測試信號係為弦波信號，該轉換後的測試信號係為電晶體-電晶體邏輯信號。
13. 如申請專利範圍第9項所述之測試方法，其中更包括：若該轉換後的測試信號未符合該預設信號時，該測試裝置控制該通訊單元來傳輸代表失敗之該測試結果訊息 至該電子裝置；若該轉換後的測試信號符合該預設信號時，該測試裝置制該通訊單元來傳輸代表成功之該測試結果訊息至該電子裝置。
14. 如申請專利範圍第9項所述之測試方法，其中該些測試介面與耦接之該些輸出介面分別支援一視頻圖像陣列(Video Graphics Array,VGA)介面標準、高清晰度多媒體介面(High Definition Multimedia Interface,HDMI)標準、一S端子(Super-Video)標準、一顯示器連接埠(Display Port)標準、索尼/飛利浦數位介面(Sony/Philips Digital InterFace,S/PDIF)標準、一音源輸出(Audio Line Out)標準之其一。
15. 如申請專利範圍第9項所述之測試方法，其中該通訊單元係支援串列數據通訊(Radio Standard，RS-232)標準、通用序列匯流排(Universal serial Bus，USB)之其一。
16. 如申請專利範圍第9項所述之測試方法，其中該電子裝置更依據該測試結果訊息來決定是否繼續提供測試信號。