TWI405079B - 電子裝置輸出測試方法、系統及平台 - Google Patents

Description

電子裝置輸出測試方法、系統及平台

本發明是有關於一種電子裝置輸出測試方法及其應用，且特別是有關於一種影音輸出測試方法及其應用。

視頻圖形陣列(Video Graphics Array，VGA)係目前一般市面上最廣為採用的顯示介面規範。由於過去傳統螢幕僅接收類比訊號，因此電腦之顯示卡需將數位訊號轉換成類比訊號，才能夠呈現到螢幕上。然而，在轉換的過程中，會造成訊號的衰竭，因而使得呈現出來的影像失真。

因此，市場上出現了數位視覺介面(Digital Visual Interface，DVI)的規格，使訊號走完全數位化的傳輸方式，傳送至螢幕呈現。由於少了一次的轉換的過程，自然使得顯示品質有了莫大提昇。然而，由於DVI的頻寬不足，造成採用DVI介面之大尺寸螢幕的顯示效果受到很大的限制。

於是，市場上又推出了具有高傳輸頻寬(最高可達5Gbps)之高解析度多媒體介面(High Definition Multimedia Interface，HDMI)。其中，HDMI不僅能傳輸影像訊號，並進一步將聲音訊號的傳輸整合在其中。因此，各式各樣的影音裝置，像是機上盒、DVD播放器、數位電視、監視器、投影機等等，無不陸續將HDMI納入支援。

隨著上述顯示的不斷推陳出新，各家廠商為了搶攻需求不同的消費者，因此紛紛製造出支援多種顯示介面的影音裝置。然而，過去在測試影音裝置時，需將影音裝置接上支援多種顯示介面之顯示裝置。然後，逐一透過各顯示介面傳送測試影像至顯示裝置，並透過人眼檢視顯示裝置所呈現的影像是否正確，以測試各顯示介面。在需檢測的影音裝置數目龐大時，上述測試過程不僅耗時且需耗費大量人力。

因此，本發明之一目的是在提供一種電子裝置輸出測試方法、系統及平台，用以使受測裝置將測試訊號傳送至受測通道，測試平台藉由分析自受測通道接收到之訊號是否對應測試訊號，來判斷受測裝置之受測通道是否功能正常。

依據本發明一實施例，一種電子裝置輸出測試方法包含：使一受測裝置透過一受測通道傳送一第一訊號至一測試平台。使測試平台分析自受測通道所接收之一訊號是否對應第一訊號。在所接收之訊號係對應第一訊號時，判定受測裝置之受測通道係功能正常。在所接收之訊號並非對應第一訊號時，判定受測裝置之受測通道係功能異常。

依據本發明另一實施例，一種電子裝置輸出測試系統包含一受測通道、一受測裝置以及一測試平台。受測裝置包含電性連接受測通道之至少一第一傳輸介面，用以將一第一訊號，傳輸至受測通道。測試平台包含至少一第二傳輸介面以及一處理模組。第二傳輸介面電性連接受測通道，用以自受測通道接收一訊號。處理模組電性連接第二傳輸介面，藉由比對第一訊號以及透過第二傳輸介面所接收之訊號是否相同，判斷受測裝置之第一傳輸介面是否功能正常。其中，在第一訊號以及所接收之訊號相同時，判定受測裝置之第一傳輸介面之功能正常。

依據本發明又一實施例，一種電子裝置輸出之測試平台包含數個傳輸介面、一選擇模組以及一處理模組。傳輸介面分別透過數個傳輸通道電性連接一受測裝置。選擇模組根據一選擇訊號，選擇傳輸介面的其中之一，作為一受測通道。受測裝置將一第一訊號傳輸至受測通道。電子裝置輸出之測試平台透過被選擇的傳輸介面，自受測通道接收一訊號。處理模組與傳輸介面電性連接，用以藉由比對第一訊號以及所接收之訊號是否相同，判斷受測裝置之受測通道是否功能正常。其中，在第一訊號以及所接收之訊號相同時，判定受測裝置之受測通道係功能正常。

請參照第1圖，其繪示依照本發明一實施方式的一種電子裝置輸出測試系統之功能方塊圖。電子裝置輸出測試系統之受測裝置將測試訊號傳送至受測通道，電子裝置輸出測試系統之測試平台藉由分析自受測通道接收到之訊號是否對應測試訊號，來判斷受測裝置之受測通道是否功能正常。

電子裝置輸出測試系統包含一受測裝置100以及一電子裝置輸出之測試平台200以及一受測通道311。受測裝置100包含一傳輸介面111，且測試平台200包含一傳輸介面231以及一處理模組210。受測裝置100之傳輸介面111以及測試平台200之傳輸介面231係透過受測通道311電性連接。

其中，受測裝置100可包含多個傳輸介面111、112、...、11n，且測試平台200亦可包含多個傳輸介面231、232、...、23n，用以分別電性連接受測裝置100之傳輸介面111、112、...、11n，而形成數個傳輸通道311、312、...、31n。換言之，在使用本揭露之電子裝置輸出測試系統時，可先將受測裝置100之多個傳輸介面111、112、...、11n，一一電性連接上測試平台200之多個傳輸介面231、232、...、23n，以待測試。其中，傳輸通道311、312、...、31n可為影像傳輸通道、聲音傳輸通道或影音傳輸通道。實作上，傳輸通道311、312、...、31n可應用高清晰度多媒體介面(High Definition Multimedia Interface，HDMI)、數位視覺介面(Digital Visual Interface，DVI)、S視訊(S-video)、複合視訊(Composite video)、色差(Component Video)、視頻圖形陣列(Video Graphics Array，VGA)、立體聲(stereo)或其他影音傳輸介面。

接下來，藉由受測裝置100之一選擇模組130選擇傳輸介面111、...、11n的其中之一。舉例來說，在本實施例中選擇模組130係選擇傳輸介面111，因此使得被選擇的傳輸介面111所連接之傳輸通道311被視為受測通道311。測試平台200之一選擇模組240則藉由一選擇傳輸介面300，取得受測裝置100之選擇模組130所選擇的傳輸介面111之資訊(或稱為一選擇訊號)。其中，選擇傳輸介面300可應用RS-232或其他傳輸介面，以分別與受測裝置100之選擇模組130以及測試平台200之選擇模組130電性連接。然後，選擇模組240根據選擇訊號，自傳輸介面231、232、...、23n，選擇傳輸介面231。接下來，使傳輸介面231所連接之傳輸通道311，作為受測通道311。其中，傳輸介面111之資訊可包含受測通道111所應用之影音傳輸介面，藉此使選擇模組240選擇因為應用相同影音傳輸介面，而透過受測通道311與傳輸介面111相接之傳輸介面231。此外，傳輸介面111之資訊可包含傳輸介面111之識別資訊(如識別編號)，而使選擇模組240選擇相對應之傳輸介面231。然而，在其他實施例中，傳輸介面111之資訊可包含其他資訊，用以作為選擇模組240選擇傳輸介面231之依據，並不限於本實施例。此外，在其他實施例中，亦可使受測裝置之傳輸介面數目不同於測試平台之傳輸介面數目。另外，在其他實施例中，亦可使測試平台200之選擇模組240選擇傳輸介面231，並使受測裝置100之選擇模組130隨之選擇對應之傳輸介面111。

在選擇傳輸介面111後，受測裝置100之傳輸介面111將第一訊號傳輸至其所連接之受測通道311。其中，傳輸介面111可依據受測通道311所應用之傳輸介面標準，將第一訊號進行轉換，以傳輸至受測通道311。舉例來說，當受測通道311係應用高清晰度多媒體介面時，傳輸介面111將第一訊號轉換為高清晰度多媒體介面所應用之格式，以傳輸至受測通道311。然而，在其他實施例中，可依受測通道311所應用之影音傳輸介面，而將第一訊號轉換成不同格式，並不限於本實施例。此外，在傳輸介面111具有多個接腳時，可藉由特殊設計之第一訊號，而使第一訊號逐一透過各接腳傳輸至受測通道311。如此一來，便可對受測裝置100之傳輸介面111之各個接腳進行測試。

測試平台200之傳輸介面231自受測通道311接收一訊號。測試平台200之處理模組210藉由比對第一訊號以及傳輸介面231所接收之訊號是否相同，判斷受測裝置之傳輸介面111以及其所透過之受測通道311是否功能正常。其中，在第一訊號以及所接收之訊號相同時，判定受測裝置100之傳輸介面111以及受測通道311係功能正常。此外，由於視訊解交錯掃描晶片(deinterlacer/scalar)可處理影音訊號，因此可使用視訊解交錯掃描晶片實作處理模組210。然而，在其他實施例中，處理模組210亦可使用其他類型之處理元件，並不限於本實施例。

請參照第2圖，其係依照本發明另一實施方式的一種電子裝置輸出測試方法之流程圖。在電子裝置輸出測試方法中，一受測裝置將測試訊號傳送至一受測通道，一測試平台藉由分析自受測通道接收到之訊號是否對應測試訊號，來判斷受測裝置之受測通道是否功能正常。電子裝置輸出測試方法400包含以下步驟：在步驟410中，使一測試平台傳送一初始訊號至一受測裝置。在步驟420中，在受測裝置收到初始訊號後，使受測裝置開始透過一受測通道傳送一第一訊號至測試平台。其中，在受測裝置具有分別與測試平台電性連接之多個待測通道時，測試平台可自待測通道中選擇受測通道，並使所傳送之初始訊號包含受測通道之資訊。如此一來，受測裝置可依據初始訊號中之受測通道之資訊，而透過所選擇之受測通道傳送第一訊號至測試平台(步驟420)。其中，受測通道以及待測通道可應用高清晰度多媒體介面、數位視覺介面、S視訊、複合視訊、色差、視頻圖形陣列、立體聲或其他影音傳輸介面。因此，傳送第一訊號(步驟420)時，可依據受測通道所使用之影音傳輸介面，將第一訊號轉換成相對應之格式。

此外，可在步驟420前，發出一確認要求至受測裝置，以自受測裝置之受測通道取得一確認訊號。其中，當自受測裝置之受測通道取得確認訊號時，判定受測裝置之受測通道為致能(enabled)狀態，因而使測試平台準備自受測裝置之受測通道接收訊號。

在步驟430中，判斷測試平台在傳送初始訊號後的一段時間內，是否自受測裝置接收到訊號。在傳送初始訊號後的一段時間後，若測試平台仍未自受測裝置收到訊號，則判定受測裝置與受測通道之間或受測通道與測試平台之間接觸異常(步驟490)。接下來，使測試平台傳送初始訊號至受測裝置(步驟410)，以測試受測裝置之下一個受測通道。如此一來，在步驟490後，可針對受測裝置之受測通道的晶片接腳與電路板之間的接觸進行檢測，或檢測其他可能造成受測裝置與受測通道之間或受測通道與測試平台之間接觸異常之因素。

在傳送初始訊號後的一段時間內，若自受測裝置收到訊號時，使測試平台分析自受測通道所接收之訊號是否對應第一訊號(步驟440)。其中，步驟440可藉由比對第一訊號以及所接收之訊號是否相同而進行分析。在第一訊號以及所接收之訊號相同時，則判定自受測通道所接收之訊號係對應第一訊號。在第一訊號以及所接收之訊號不相同時，則判定自受測通道所接收之訊號並非對應第一訊號。然而，在其他實施例中，亦可使用其他分析方法，分析自受測通道所接收之訊號是否對應第一訊號(步驟440)，並不限於本實施例。

在自受測通道所接收之訊號係對應第一訊號時，則判定受測裝置之受測通道係功能正常(步驟450)。接下來，顯示並記錄受測裝置之受測通道係功能正常(步驟460)，並使測試平台傳送初始訊號至受測裝置(步驟410)，以測試受測裝置之下一個受測通道。

在所接收之訊號並非對應第一訊號時，則判定受測裝置之受測通道係功能異常(步驟470)。接下來，顯示並記錄受測裝置之受測通道係功能異常(步驟480)，並使測試平台傳送初始訊號至受測裝置(步驟410)，以測試受測裝置之下一個受測通道。如此一來，藉由電子裝置輸出測試方法400，即可逐一完成對受測裝置之各個待測通道之測試。

由上述本發明實施方式可知，應用本發明具有下列優點。僅需將受測裝置之多個傳輸介面，接上測試裝置上對應之傳輸介面，即可對受測裝置之各個傳輸介面進行測試。尤其，在受測裝置為影音裝置時，應用本揭露可不需因應各個傳輸介面，而使用不同之顯示裝置，來呈現測試影像。因而，可減少對應不同傳輸介面之顯示裝置之購置成本。此外，僅需將待測之影音裝置接上測試平台，而不需使用人力檢視影音裝置所輸出之測試影像或聲音，更進一步節省測試時所需之人力。

雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100．．．受測裝置

111、112、...、11n．．．傳輸介面

130．．．選擇模組

200．．．測試平台

210．．．處理模組

240．．．選擇模組

300．．．選擇傳輸介面

311～31n．．．傳輸通道

400．．．電子裝置輸出測試方法

410～490．．．步驟

231、232、...、23n．．．傳輸介面

為讓本發明之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下：

第1圖繪示依照本發明一實施方式的一種電子裝置輸出測試系統之功能方塊圖。

第2圖係依照本發明另一實施方式的一種電子裝置輸出測試方法之流程圖。

400．．．電子裝置輸出測試方法

410～490．．．步驟

Claims (15)

1. 一種電子裝置輸出測試方法，包含：使一受測裝置透過一受測通道傳送一第一訊號至一測試平台；使該測試平台分析自該受測通道所接收之一訊號是否對應該第一訊號；在所接收之該訊號係對應該第一訊號時，判定該受測裝置之該受測通道係功能正常；在所接收之該訊號並非對應該第一訊號時，判定該受測裝置之之該受測通道係功能異常；使該測試平台傳送一初始訊號至該受測裝置，藉此使該受測裝置開始透過該受測通道傳送該第一訊號至該測試平台；以及在傳送該初始訊號一段時間後，若該測試平台仍未接收到訊號，則判定該受測裝置與該受測通道之間或該受測通道與該測試平台之間接觸異常。
2. 如請求項1所述之電子裝置輸出測試方法，更包含：發出一確認要求至該受測裝置，以自該受測裝置之該受測通道取得一確認訊號，其中當自該受測裝置之該受測通道取得該確認訊號時，判定該受測裝置之該受測通道為致能(enabled)狀態，而使該測試平台準備自該受測裝置之該受測通道接收該訊號。
3. 如請求項1所述之電子裝置輸出測試方法，其中在該受測裝置具有複數個待測通道時，該電子裝置輸出測試方法更包含：自該些待測通道選擇該受測通道。
4. 如請求項1所述之電子裝置輸出測試方法，其中該受測通道為影像傳輸通道、聲音傳輸通道或影音傳輸通道。
5. 一種電子裝置輸出測試系統，包含：一受測通道；一受測裝置，包含：至少一第一傳輸介面，電性連接該受測通道，將一第一訊號，傳輸至該受測通道；一測試平台，包含：至少一第二傳輸介面，電性連接該受測通道，自該受測通道接收一訊號；以及一處理模組，電性連接該第二傳輸介面，藉由比對該第一訊號以及透過該第二傳輸介面所接收之該訊號是否相同，判斷該受測裝置之該第一傳輸介面是否功能正常，其中在該第一訊號以及所接收之該訊號相同時，判定該受測裝置之該第一傳輸介面之功能正常，其中該測試平台傳送一初始訊號至該受測裝置，藉此使該受測裝置開始透過該受測通道傳送該第一訊號至該測 試平台，其中在傳送該初始訊號一段時間後，若該測試平台仍未接收到訊號，該測試平台則判定該受測裝置與該受測通道之間或該受測通道與該測試平台之間接觸異常。
6. 如請求項5所述之電子裝置輸出測試系統，其中該第一傳輸介面具有複數個接腳，且該第一訊號係逐一透過該傳輸介面之該些接腳傳輸至該受測通道。
7. 如請求項5所述之電子裝置輸出測試系統，其中該受測通道為影像傳輸通道、聲音傳輸通道或影音傳輸通道。
8. 如請求項5所述之電子裝置輸出測試系統，其中該受測通道係應用高清晰度多媒體介面、數位視覺介面、S視訊、複合視訊、色差、視頻圖形陣列或立體聲。
9. 如請求項5所述之電子裝置輸出測試系統，其中該電子裝置輸出測試平台系統更包含複數個傳輸通道，該至少一第一傳輸介面之數目為複數個時，該些第一傳輸介面分別與該些傳輸通道一一電性連接，且該受測裝置更包含：一選擇模組，選擇該些第一傳輸介面的其中之一，並使被選擇的該第一傳輸介面所連接之該傳輸通道，作為該受測通道。
10. 如請求項9所述之電子裝置輸出測試系統，更包含：一選擇傳輸介面，其中該測試平台藉由該選擇傳輸介面，取得該選擇模組所選擇的該受測通道之資訊，藉此使該第二傳輸介面自該選擇模組所選擇的該受測通道，接收該訊號。
11. 如請求項10所述之電子裝置輸出測試系統，其中該選擇傳輸介面為RS-232。
12. 如請求項5所述之電子裝置輸出測試系統，其中該電子裝置測試平台之該處理模組係為一視訊解交錯掃描晶片(deinterlacer/scalar)。
13. 一種電子裝置輸出之測試平台，包含：複數個傳輸介面，分別透過複數個傳輸通道電性連接一受測裝置；一選擇模組，根據一選擇訊號，選擇該些傳輸介面的其中之一，作為一受測通道，其中該受測裝置將一第一訊號傳輸至該受測通道，且該電子裝置輸出之測試平台透過被選擇的該傳輸介面，自該受測通道接收一訊號；以及一處理模組，與該些傳輸介面電性連接，藉由比對該第一訊號以及所接收之該訊號是否相同，判斷該受測裝置之該受測通道是否功能正常，其中在該第一訊號以及所接收之該訊號相同時，判定該受測裝置之該受測通道係功能正常， 其中該測試平台傳送一初始訊號至該受測裝置，藉此使該受測裝置開始透過該受測通道傳送該第一訊號至該測試平台，其中在傳送該初始訊號一段時間後，若該測試平台仍未接收到訊號，該測試平台則判定該受測裝置與該受測通道之間或該受測通道與該測試平台之間接觸異常。
14. 如請求項13所述之電子裝置輸出之測試平台，更包含：一選擇傳輸介面，電性連接該受測裝置，其中該選擇模組藉由該選擇傳輸介面，自該受測裝置取得該選擇訊號。
15. 如請求項13所述之電子裝置輸出之測試平台，其中該處理模組係為一視訊解交錯掃描晶片。