KR20070121020A - 진단 프로그램, 교체 프로그램, 시험 장치, 및 진단 방법 - Google Patents

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Abstract

시험 장치의 제어 장치로 하여금 시험 모듈을 진단하게 하는 진단 프로그램에 있어서, 진단 대상 시험 모듈을 진단하게 하는 대상 진단 소프트웨어 모듈; 진단 대상 시험 모듈에 대하여 진단용 신호를 출력하게 하기 위해 비진단 대상 시험 모듈을 제어시키는 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈; 대상 진단 소프트웨어 모듈로부터 호출을 받음에 따라 비진단 대상 시험 모듈의 종류에 따른 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 특정시키는 종류 특정 소프트웨어 모듈; 및 특정된 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 호출하고, 비진단 대상 시험 모듈로부터 진단 대상 시험 모듈에 대하여 진단용 신호를 출력하게 하는 호출처 교체 소프트웨어 모듈을 포함하는 진단 프로그램을 제공한다.
시험장치, 진단프로그램, 진단소프트웨어모듈

Description

진단 프로그램, 교체 프로그램, 시험 장치, 및 진단 방법{Diagnosis program, switching program, test device, and diagnosis method}
본 발명은 진단 프로그램, 교체 프로그램, 시험 장치, 및 진단 방법에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 시험 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 복수의 시험 모듈과 복수의 시험 모듈을 제어하는 제어 장치를 포함하는 시험 장치에 있어서, 시험 모듈을 진단하기 위한 진단 프로그램, 교체 프로그램, 시험 장치, 및 진단 방법에 관한 것이다.
본 출원은, 다음의 일본 출원에 관련된다. 문헌의 참조에 의한 편입이 인정되는 지정국에 대해서는 다음의 출원에 기재된 내용을 참조에 의해 본 출원에 편입하고, 본 출원의 일부로 한다.
1. 일본특허출원 2005-100018 출원일 2005년 03월 30일
메모리, 로직 LSI, 또는 SoC(System on Chip) 등의 DUT(Device Under Test : 피시험 디바이스)를 시험하는 시험 장치는, 일례로서 DUT의 입력 단자에 시험 신호를 공급하고, 시험 신호에 따라 출력 단자로부터 출력되는 출력 신호를 기대치와 비교함으로써 DUT의 양부를 판정한다. 종래의 시험 장치에서는 DUT와의 사이에서 신호를 입출력하는 시험 모듈의 종류가 당해 시험 모듈을 시험 장치 본체에 삽입하 는 슬롯 위치에 따라 고정적으로 정해져 있었다.
시험 장치는 이상의 유무를 판정하는 것을 목적으로 하여 진단 기능을 갖는다. 시험 장치는 진단 과정에서 각 시험 모듈의 기능에 이상이 있는 것인가 아닌가에 대해서도 진단한다. 진단 대상의 시험 모듈의 진단에서는 당해 시험 모듈이 출력한 진단용 신호를 다른 시험 모듈에 입력하여 기대치와 비교하고, 다른 시험 모듈이 출력한 진단용 신호를 당해 시험 모듈에 입력하여 기대치와 비교하는 등의 입출력 시험 등을 수행한다.
종래, 시험 장치의 장해 유무를 검출하기 위하여, 시험 장치의 제어 장치에서 진단 프로그램을 실행하고 시험 장치의 각 부분을 진단하는 방법이 이용되어 왔다. 여기서, 종래의 시험 장치에서는 각 슬롯에 삽입되는 시험 모듈의 종류가 미리 정해져 있다. 이 때문에 종래에는 진단 대상의 시험 모듈을 진단하는 대상 진단 프로그램은 진단 대상의 시험 모듈과 기존의 다른 시험 모듈 간에 진단용 신호를 입출력시키고 있었다. 즉, 당해 대상 진단 프로그램은 미리 정해진 종류의 다른 시험 모듈을 제어하는 진단용 신호 입출력 프로그램을 호출함으로써 당해 다른 시험 모듈과 진단 대상의 시험 모듈 간에 진단용 신호의 입출력을 수행하고 있었다.
이에 대하여, 최근 시험 장치의 구성의 자유도를 높이는 것을 목적으로 하여, 예를 들면 비특허문헌 1에 나타내는 OPENSTAR(등록상표) 등의 오픈 아키텍처가 제안되어 있다.
[비특허문헌 1] Semiconductor Test Consortium, “STC ANNOUNCES PUBLIC ACCESS TO THE OPENSTAR™ SPECS”, [online], 2004년 12월7일, [2005년 3월 16일 검색], 인터넷 <URL:http://www.semitest.org/site/News/STC_Spec_Open_to_Public>
오픈 아키텍처를 채용하는 시험 장치의 경우, 시험 장치의 각 슬롯에는 오픈 아키텍처에 기초하는 각종의 시험 모듈을 탑재할 수 있다. 이러한 시험 장치에 있어서, 종래와 마찬가지로 진단 대상의 시험 모듈의 대상 진단 프로그램으로부터 미리 정해진 종류의 다른 시험 모듈을 제어하는 진단용 신호 입출력 프로그램을 호출하도록 프로그램한 경우, 시험 장치에 탑재되는 다른 시험 모듈이 변경되면 적절한 진단을 수행할 수 없게 된다. 따라서, 다른 시험 모듈을 변경할 때마다 대상 진단 프로그램을 변경할 필요가 있었다.
그래서, 본 발명은 상기의 과제를 해결할 수 있는 진단 프로그램, 교체 프로그램, 시험 장치, 및 진단 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. 이 목적은 청구의 범위의 독립항에 기재된 특징의 조합에 의해 달성된다. 또한, 종속항은 본 발명의 또 다른 유리한 구체예를 규정한다.
본 발명의 제1 형태에 따르면, 시험 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 복수의 시험 모듈과 상기 복수의 시험 모듈을 제어하는 제어 장치를 포함하는 시험 장치에서, 상기 제어 장치로 하여금 상기 시험 모듈을 진단하게 하는 진단 프로그램에 있어서, 진단 대상이 되는 진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 진단하게 하는 대상 진단 소프트웨어 모듈; 진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈의 종류마다 설치되며, 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 진단용 신호를 출력시키거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈이 출력하는 진단용 신호를 입력시키기 위하여 상기 비진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 제어하게 하는 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈; 상기 비진단 대상 시험 모듈과의 사이에서 상기 진단용 신호의 입력 또는 출력을 지시하는 호출을 상기 대상 진단 소프트웨어 모듈로부터 받음에 따라 당해 비진단 대상 시험 모듈의 종류에 따른 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 특정하게 하는 종류 특정 소프트웨어 모듈; 및 상기 종류 특정 소프트웨어 모듈에 의해 특정된 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 호출하게 하고, 당해 비진단 대상 시험 모듈로 하여금 상기 진단 대상 시험 모듈로부터 상기 진단용 신호를 입력하게 하거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 상기 진단용 신호를 출력하게 하는 호출처 교체 소프트웨어 모듈을 포함하는 진단 프로그램을 제공한다.
상기 종류 특정 소프트웨어 모듈은 상기 제어 장치 상에 기억된, 상기 시험 장치에 포함되는 상기 복수의 시험 모듈의 각각에 따른 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 식별하는 소프트웨어 모듈 식별 정보를 저장하는 구성 파일을 검색하고, 상기 비진단 대상 시험 모듈에 따른 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈의 식별 정보를 판독하여도 된다.
상기 시험 장치에 포함되는 상기 복수의 시험 모듈의 각각에 대하여, 당해 시험 모듈 내에 기억된 당해 시험 모듈의 종류를 식별하는 종류 식별 정보를 상기 제어 장치로 하여금 판독하게 하는 종류 식별 정보 판독 소프트웨어 모듈; 및 상기 시험 장치에 포함되는 상기 복수의 시험 모듈의 각각에 대하여, 상기 종류 식별 정보 판독 소프트웨어 모듈이 판독한 상기 종류 식별 정보에 기초하여 당해 시험 모듈에 따른 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 식별하는 소프트웨어 모듈 식별 정보를 상기 구성 파일에 저장하는 구성 파일 기록 소프트웨어 모듈을 더 포함하여도 된다.
하나의 상기 비진단 대상 시험 모듈이 둘 이상의 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치 상에서 실행시킴으로써 상기 진단용 신호를 입력 또는 출력하는 경우, 상기 호출처 교체 소프트웨어 모듈은 당해 비진단 대상 시험 모듈과의 사이에서 상기 진단용 신호의 입력 또는 출력을 지시하는 호출에 따라 당해 둘 이상의 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 순차 호출하게 하여도 된다.
본 발명의 제2 형태에 따르면, 시험 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 복수의 시험 모듈과 상기 복수의 시험 모듈을 제어하는 제어 장치를 포함하는 시험 장치에서, 진단 대상이 되는 진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 진단하게 하는 대상 진단 소프트웨어 모듈로부터 호출되는, 진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 제어하게 하는 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 교체하는 교체 프로그램에 있어서, 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈은 진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈의 종류마다 설치되며, 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 진단용 신호를 출력시키거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈이 출력하는 진단용 신호를 입력시키기 위하여 상기 비진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 제어하게 하며, 당해 교체 프로그램은, 상기 비진단 대상 시험 모듈과의 사이에서 상기 진단용 신호의 입력 또는 출력을 지시하는 호출을 상기 대상 진단 소프트웨어 모듈로부터 받음에 따라 당해 비진단 대상 시험 모듈의 종류에 따른 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 특정하게 하는 종류 특정 소프트웨어 모듈; 및 상기 종류 특정 소프트웨어 모듈에 의해 특정된 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 호출하게 하고, 당해 비진단 대상 시험 모듈로 하여금 상기 진단 대상 시험 모듈로부터 상기 진단용 신호를 입력시키거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 상기 진단용 신호를 출력시키는 호출처 교체 소프트웨어 모듈을 포함하는 교체 프로그램을 제공한다.
본 발명의 제3 형태에 따르면, 피시험 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서, 시험 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 복수의 시험 모듈; 및 상기 복수의 시험 모듈을 제어하는 제어 장치를 포함하며, 상기 제어 장치는 상기 시험 모듈을 진단하는 진단 프로그램을 실행함으로써, 진단 대상이 되는 진단 대상 시험 모듈을 진단하는 대상 진단부; 진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈의 종류마다 설치되며, 상기 비진단 대상 시험 모듈로부터 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 진단용 신호를 출력하게 하거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈이 출력하는 진단용 신호를 상기 비진단 대상 시험 모듈로 하여금 입력하게 하는 진단용 신호 입출력부; 상기 비진단 대상 시험 모듈과의 사이에서 상기 진단용 신호의 입력 또는 출력을 지시하는 호출을 상기 대상 진단부로부터 받음에 따라 당해 비진단 대상 시험 모듈의 종류에 따른 상기 진단용 신호 입출력부를 특정하는 종류 특정부; 및 상기 종류 특정부에 의해 특정된 상기 진단용 신호 입출력부를 호출하고, 당해 비진단 대상 시험 모듈로 하여금 상기 진단 대상 시험 모듈로부터 상기 진단용 신호를 입력하게 하거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 상기 진단용 신호를 출력하게 하는 호출처 교체부로서 기능하는 시험 장치를 제공한다.
본 발명의 제4 형태에 따르면, 시험 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 복수의 시험 모듈과 상기 복수의 시험 모듈을 제어하는 제어 장치를 포함하는 시험 장치에서, 상기 제어 장치로 하여금 상기 시험 모듈을 진단하게 하는 진단 방법에 있어서, 진단 대상이 되는 진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 진단하게 하는 대상 진단 단계; 진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈의 종류마다 설치되며, 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 진단용 신호를 출력시키거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈이 출력하는 진단용 신호를 입력시키기 위하여 상기 비진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 제어하게 하는 진단용 신호 입출력 단계; 상기 비진단 대상 시험 모듈과의 사이에서 상기 진단용 신호의 입력 또는 출력이 상기 대상 진단 단계에서 지시됨에 따라 당해 비진단 대상 시험 모듈의 종류에 따른 상기 진단용 신호 입출력 단계를 상기 제어 장치로 하여금 특정하게 하는 종류 특정 단계; 및 상기 종류 특정 단계에 의해 특정된 상기 진단용 신호 입출력 단계의 처리를 상기 제어 장치로 하여금 수행하게 하고, 당해 비진단 대상 시험 모듈로 하여금 상기 진단 대상 시험 모듈로부터 상기 진단용 신호를 입력하게 하거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 상기 진단용 신호를 출력하게 하는 호출처 교체 단계를 포함하는 진단 방법을 제공한다.
또한, 상기 발명의 개요는 본 발명이 필요로 하는 특징의 모두를 열거한 것이 아니며, 이들 특징군의 서브 콤비네이션도 또한 발명이 될 수 있다.
본 발명에 따르면, 시험 장치에 탑재하는 시험 모듈에 관계없이 적절한 진단 처리를 수행할 수 있는 진단 프로그램을 제공할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 형태에 관한 시험 장치(10)의 구성을 나타낸다.
도 2는 본 발명의 실시 형태에 관한 사이트 제어 장치(130)의 구성을 나타낸다.
도 3은 본 발명의 실시 형태에 관한 사이트 제어 장치(130) 상에서 동작하는 진단 프로그램(20)의 구성을 나타낸다.
도 4는 본 발명의 실시 형태에 관한 진단 프로그램(20)에 의한 구성 파일(330)의 작성 플로우를 나타낸다.
도 5는 본 발명의 실시 형태에 관한 진단 프로그램(20)에 의한 시험 장치(10)의 진단 플로우를 나타낸다.
도 6은 본 발명의 실시 형태에 관한 진단 프로그램(20)에 의한 S510의 동작 플로우의 전반 부분을 나타낸다.
도 7은 본 발명의 실시 형태에 관한 진단 프로그램(20)에 의한 S510의 동작 플로우의 후반 부분을 나타낸다.
<부호의 설명>
10 시험 장치
20 진단 프로그램
100a∼b DUT
110 시스템 제어 장치
120 통신 네트워크
130a∼c 사이트 제어 장치
140 버스 스위치
150a∼b 동기 모듈
160a∼b 동기 접속 모듈
170a∼b 시험 모듈
180 로드 보드
300a∼b 대상 진단 SW 모듈
310a∼b 진단용 신호 입출력 SW 모듈
320 교체 SW 모듈
322 종류 식별 정보 판독 SW 모듈
324 구성 파일 기록 SW 모듈
326 종류 특정 SW 모듈
328 호출처 교체 SW 모듈
330 구성 파일
340 진단 제어 SW 모듈
1900 컴퓨터
2000 CPU
2010 ROM
2020 RAM
2030 통신 인터페이스
2040 하드디스크 드라이브
2050 플렉시블 디스크 드라이브
2060 CD-ROM 드라이브
2070 입출력 칩
2075 그래픽 컨트롤러
2080 표시 장치
2082 호스트 컨트롤러
2084 입출력 컨트롤러
2090 플렉시블 디스크
2095 CD-ROM
도 1은 본 실시 형태에 관한 시험 장치(10)의 구성을 나타낸다. 시험 장치(10)는 시험 신호를 생성해서 DUT(100)(Device Under Test : 피시험 디바이스)에 공급하고, DUT(100)가 시험 신호에 기초하여 동작한 결과로 출력하는 출력 신호가 기대치와 일치할 지의 여부에 기초하여 DUT(100)의 양부를 판단한다. 본 실시 형태에 관한 시험 장치(10)는 오픈 아키텍처에 의해 실현되며, DUT(100)에 시험 신호 를 공급하는 시험 모듈(170) 등으로서 오픈 아키텍처에 기초하는 각종의 모듈을 이용할 수 있다.
시험 장치(10)는 시스템 제어 장치(110), 통신 네트워크(120), 사이트 제어 장치(130a∼c), 버스 스위치(140), 동기 모듈(150a∼b), 동기 접속 모듈(160a∼b), 시험 모듈(170a∼b), 및 로드 보드(180)를 포함하며, DUT(100a∼b)에 접속된다. 동기 모듈(150a∼b), 동기 접속 모듈(160a∼b), 및 시험 모듈(170a∼b)은 본 발명에 따른 시험 모듈의 일례이다.
시스템 제어 장치(110)는 시험 장치(10)가 DUT(100a∼b)의 시험에 이용하는 시험 제어 프로그램, 시험 프로그램, 및 시험 데이타 등과 더불어 시험 장치(10)의 내부를 진단하기 위한 진단 프로그램 등을 외부의 네트워크 등을 통해서 수신하여 저장한다. 통신 네트워크(120)는 시스템 제어 장치(110), 사이트 제어 장치(130a∼c), 및 시험 에뮬레이션 장치(190)를 접속하고, 이들 사이의 통신을 중계한다.
사이트 제어 장치(130a∼c)는 본 발명에 따른 제어 장치의 일례이며, 동기 모듈(150), 동기 접속 모듈(160), 및 시험 모듈(170)을 제어함으로써 DUT(100)의 시험을 제어한다. 여기서, 복수의 사이트 제어 장치(130)는 각각 하나의 DUT(100)의 시험을 제어한다. 예를 들면, 도 1에서는 사이트 제어 장치(130a)는 DUT(100a)의 시험을 제어하고, 사이트 제어 장치(130b)는 DUT(100b)의 시험을 제어한다. 그 대안으로서, 복수의 사이트 제어 장치(130)는 각각 복수의 DUT(100)의 시험을 제어하여도 된다.
보다 구체적으로는, 사이트 제어 장치(130)는 통신 네트워크(120)를 통해서 시스템 제어 장치(110)로부터 시험 제어 프로그램을 취득하여 실행한다. 다음에, 사이트 제어 장치(130)는 시험 제어 프로그램에 기초하여 당해 DUT(100)의 시험에 이용하는 시험 프로그램 및 시험 데이타를 시스템 제어 장치(110)로부터 취득하고, 버스 스위치(140)를 통해서 당해 DUT(100)의 시험에 이용하는 동기 모듈(150) 및 하나 또는 복수의 시험 모듈(170) 등의 모듈에 저장한다. 다음에, 사이트 제어 장치(130)는 시험 프로그램 및 시험 데이타에 기초하는 시험의 시작을 버스 스위치(140)를 통해서 동기 모듈(150)에 지시한다. 그리고, 사이트 제어 장치(130)는 시험이 종료한 것을 나타내는 인터럽트 등을, 예를 들면 동기 모듈(150)로부터 수신하고, 시험 결과에 기초하여 다음 시험을 각 모듈에 수행하게 한다. 이상과 같이, 사이트 제어 장치(130)는 동기 모듈(150) 및 복수의 시험 모듈(170)의 각각에 대해서 시험용 소프트웨어 모듈(이하, 소프트웨어 모듈을 SW 모듈로 나타낸다)을 실행함으로써 당해 모듈에 의한 시험 동작을 제어한다.
또한, 사이트 제어 장치(130a∼c)는 진단 프로그램을 실행하고, 시험 장치(10)의 각 부분을 진단한다. 진단 처리에 있어서, 복수의 사이트 제어 장치(130)의 각각은 버스 스위치(140)에 의해 당해 사이트 제어 장치(130)에 접속되는 동기 모듈(150), 동기 접속 모듈(160), 및 시험 모듈(170)을 진단한다. 각각의 시험 모듈(170)의 진단에서, 사이트 제어 장치(130)는 진단 대상의 시험 모듈(170)과 진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈(170) 간에 진단용 신호를 주고 받게 한다. 그리고, 진단 대상 시험 모듈(170)이 출력하고 비진단 시험 모듈(170)에 의해 취득된 진단용 신호와 기대치의 비교 결과에 기초하여 진단 대상 시험 모 듈(170)의 출력 채널의 양부를 진단한다. 또한, 비진단 대상 시험 모듈(170)이 출력하고 진단 대상 시험 모듈(170)에 의해 취득된 진단용 신호와 기대치의 비교 결과에 기초하여 진단 대상 시험 모듈(170)의 입력 채널의 양부를 진단한다.
버스 스위치(140)는 복수의 사이트 제어 장치(130)의 각각을 당해 사이트 제어 장치(130)가 제어하는 동기 모듈(150) 및 하나 또는 복수의 시험 모듈(170)에 접속하고, 이들 사이의 통신을 중계한다. 여기서, 미리 정해진 하나의 사이트 제어 장치(130)는 시험 장치(10)의 사용자 또는 시험 제어 프로그램 등의 지시에 기초하여 복수의 사이트 제어 장치(130)의 각각을 당해 사이트 제어 장치(130)가 DUT(100)의 시험에 이용하는 동기 모듈(150) 및 하나 이상의 시험 모듈(170)에 접속시키기 위해 버스 스위치(140)를 설정하여도 된다. 예를 들면, 도 1에서는 사이트 제어 장치(130a)는 동기 모듈(150a) 및 복수의 시험 모듈(170a)에 접속하도록 설정되고, 이들을 이용하여 DUT(100a)의 시험을 수행한다. 또한, 사이트 제어 장치(130b)는 동기 모듈(150b) 및 복수의 시험 모듈(170b)에 접속하도록 설정되고, 이들을 이용하여 DUT(100b)의 시험을 수행한다.
여기서, 사이트 제어 장치(130b)가 동기 모듈(150b), 동기 접속 모듈(160b), 및 하나 또는 복수의 시험 모듈(170b)을 이용해서 DUT(100b)를 시험하기 위한 구성 및 동작은 사이트 제어 장치(130a)가 동기 모듈(150a), 동기 접속 모듈(160a), 및 하나 또는 복수의 시험 모듈(170a)을 이용해서 DUT(100a)를 시험하기 위한 구성 및 동작과 실질적으로 같으므로, 이하 차이점을 제외하고 사이트 제어 장치(130a)가 DUT(100a)를 시험하기 위한 구성 및 동작을 중심으로 설명한다.
동기 모듈(150a)은 사이트 제어 장치(130a)의 지시에 기초하여 DUT(100a)의 시험에 이용하는 복수의 시험 모듈(170a)이 시험 신호를 생성해야 할 시험 신호 생성 타이밍을 생성한다. 또한, 동기 모듈(150a)은 동기 접속 모듈(160a)을 통해서 하나 또는 복수의 시험 모듈(170a)로부터 시험 결과를 수신하고, 시험 결과의 양부에 대응한 시험 프로그램의 시퀀스를 하나 또는 복수의 시험 모듈(170a)로 하여금 실행하게 한다.
동기 접속 모듈(160a)은 동기 모듈(150a)이 생성한 시험 신호 생성 타이밍을 당해 시험 신호 생성 타이밍에 대응하여 동작시켜야 할 시험 모듈(170a)에 통지하고, 하나 또는 복수의 시험 모듈(170a)의 각각을 지정된 타이밍에서 동작시킨다. 또한, 동기 접속 모듈(160a)은 하나 또는 복수의 시험 모듈(170a)로부터 시험 결과를 수신하고 동기 모듈(150a)에 송신한다.
복수의 시험 모듈(170a)은 DUT(100a)의 복수의 단자의 일부에 각각 접속되며, 사이트 제어 장치(130a)에 의해 저장된 시험 프로그램 및 시험 데이타에 기초하여 DUT(100a)의 시험을 수행한다. DUT(100a)의 시험에 있어서, 시험 모듈(170a)은 시험 프로그램에 의해 정해진 시퀀스에 기초하여 시험 데이타로부터 시험 신호를 생성하고, 당해 시험 모듈(170a)에 접속된 DUT(100a)의 단자에 시험 신호를 공급한다. 다음에, 시험 모듈(170a)은 DUT(100a)가 시험 신호에 기초하여 동작한 결과로 출력하는 출력 신호를 취득하고 기대치와 비교한다. 그리고, 시험 모듈(170a)은 출력 신호와 기대치의 비교 결과를 시험 결과로서 동기 접속 모듈(160a)에 송신한다. 여기서, 복수의 시험 모듈(170a)은 시험 프로그램 및 시험 데이타에 기초하여 시험 신호의 사이클 주기를 동적으로 변화시키기 위해서 다른 사이클 주기에 기초하여 시험 신호를 생성한다.
또한, 시험 모듈(170a)은 시험 프로그램의 처리가 완료한 경우 또는 시험 프로그램의 실행 중에 이상이 생긴 경우 등에, 사이트 제어 장치(130a)에 대하여 인터럽트를 발생한다. 이 인터럽트는 버스 스위치(140)를 통해서 당해 시험 모듈(170a)에 대응하는 사이트 제어 장치(130a)에 통지되고, 사이트 제어 장치(130a) 내의 프로세서에 의해 인터럽트 처리가 수행된다.
로드 보드(180)는 복수의 DUT(100)를 탑재하고, 복수의 시험 모듈(170)을 대응하는 DUT(100)의 단자에 접속한다. 여기서, 시험 장치(10)를 진단하는 경우, 통상 시험용 로드 보드(180)를 대신하여 진단용 로드 보드(180)를 이용해도 된다. 이 진단용 로드 보드(180)는 진단 대상 시험 모듈(170)과 비진단 대상 시험 모듈(170) 간을 직접 접속하는 구성을 취하여도 된다.
이상과 같이, 시험 장치(10)는 오픈 아키텍처에 의해 실현되어 오픈 아키텍처 규격을 만족하는 각종의 모듈을 사용할 수 있다. 그리고, 시험 장치(10)는 동기 모듈(150), 동기 접속 모듈(160), 및 시험 모듈(170) 등의 모듈을 버스 스위치(140)의 임의의 접속 슬롯에 삽입해서 사용할 수 있다. 이 때, 시험 장치(10)의 사용자 등은 예를 들면 사이트 제어 장치(130a)를 통해서 버스 스위치(140)의 접속 형태를 변경하고, DUT(100)의 시험에 이용하는 복수의 모듈을 당해 DUT(100)의 시험을 제어하는 사이트 제어 장치(130)에 접속시킬 수 있다. 이에 따라, 시험 장치(10)의 사용자는 복수의 DUT(100)의 각각의 단자수, 단자의 배치, 단자의 종류, 또는 시험의 종류 등에 따라 적절한 모듈을 선택하여 시험 장치(10)에 설치할 수 있다.
또한, 이상의 대안으로서, 동기 접속 모듈(160a) 및 동기 접속 모듈(160b)은 시험 장치(10)에 이용되는 모든 시험 모듈(170)에 공통적으로 설치된 하나의 동기 접속부에 의해 실현되어도 된다. 이 경우, 시험 장치(10)의 사용자 등은 버스 스위치(140)의 접속 형태의 변경과 함께 동기 접속부와 시험 모듈(170)의 접속 형태를 변경함으로써 복수의 DUT(100)의 특성에 따라 적절한 모듈을 선택할 수 있다.
도 2는 본 실시 형태에 관한 사이트 제어 장치(130)의 하드웨어 구성을 나타낸다. 사이트 제어 장치(130)로서 동작하는 컴퓨터(1900)는 호스트 컨트롤러(2082)에 의해 서로 접속되는 CPU(2000), RAM(2020), 그래픽 컨트롤러(2075), 및 표시 장치(2080)를 포함하는 CPU 주변부, 입출력 컨트롤러(2084)에 의해 호스트 컨트롤러(2082)에 접속되는 통신 인터페이스(2030), 하드디스크 드라이브(2040), 및 CD-ROM 드라이브(2060)를 포함하는 입출력부, 및 입출력 컨트롤러(2084)에 접속되는 ROM(2010), 플렉시블 디스크 드라이브(2050), 및 입출력 칩(2070)을 포함하는 레거시 입출력부를 포함한다.
호스트 컨트롤러(2082)는 RAM(2020)과 높은 전송률로 RAM(2020)을 액세스하는 CPU(2000) 및 그래픽 컨트롤러(2075)를 접속한다. CPU(2000)는 ROM(2010) 및 RAM(2020)에 저장된 프로그램에 기초하여 동작하여 각 부분의 제어를 수행한다. 그래픽 컨트롤러(2075)는 CPU(2000) 등이 RAM(2020) 내에 설치한 프레임 버퍼 상에 생성하는 화상 데이타를 취득하여 표시 장치(2080) 상에 표시시킨다. 그 대안으로 서, 그래픽 컨트롤러(2075)는 CPU(2000) 등이 생성하는 화상 데이타를 저장하는 프레임 버퍼를 그 내부에 포함하여도 된다.
입출력 컨트롤러(2084)는 호스트 컨트롤러(2082)와 비교적 고속의 입출력 장치인 통신 인터페이스(2030), 하드디스크 드라이브(2040), 및 CD-ROM 드라이브(2060)를 접속한다. 통신 인터페이스(2030)는 네트워크를 통해서 다른 장치 와 통신한다. 하드디스크 드라이브(2040)는 컴퓨터(1900) 내의 CPU(2000)가 사용하는 프로그램 및 데이타를 저장한다. CD-ROM 드라이브(2060)는 CD-ROM(2095)으로부터 프로그램 또는 데이타를 읽어내고, RAM(2020)을 통해서 하드디스크 드라이브(2040)에 제공한다.
또한, 입출력 컨트롤러(2084)에는 ROM(2010)과 플렉시블 디스크 드라이브(2050) 및 입출력 칩(2070)의 비교적 저속의 입출력 장치가 접속된다. ROM(2010)은 컴퓨터(1900)가 기동시 실행하는 부트 프로그램이나 컴퓨터(1900)의 하드웨어에 의존하는 프로그램 등을 저장한다. 플렉시블 디스크 드라이브(2050)는 플렉시블 디스크(2090)로부터 프로그램 또는 데이타를 읽어내고, RAM(2020)을 통해서 하드디스크 드라이브(2040)에 제공한다. 입출력 칩(2070)은 플렉시블 디스크 드라이브(2050)나, 예를 들면 병렬 포트, 직렬 포트, 키보드 포트, 마우스 포트 등을 통해서 각종의 입출력 장치를 접속한다.
RAM(2020)을 통해서 하드디스크 드라이브(2040)에 제공되는 진단 프로그램 등의 프로그램은 플렉시블 디스크(2090), CD-ROM(2095), 또는 IC 카드 등의 기록 매체에 저장되어서 이용자에 의해 제공된다. 프로그램은 기록 매체로부터 판독되 고, RAM(2020)을 통해서 컴퓨터(1900) 내의 하드디스크 드라이브(2040)에 인스톨되며, CPU(2000)에서 실행된다.
이상에 나타낸 프로그램 또는 모듈은 외부의 기억 매체에 저장되어도 된다. 기억 매체로서는, 플렉시블 디스크(2090), CD-ROM(2095) 외에, DVD나 CD 등의 광학 기록 매체, MO 등의 광자기 기록 매체, 테이프 매체, IC 카드 등의 반도체 메모리 등을 이용할 수 있다. 또한, 전용 통신 네트워크나 인터넷에 접속된 서버 시스템에 설치한 하드 디스크 또는 RAM 등의 기억장치를 기록 매체로서 사용하고, 네트워크를 통해서 프로그램을 컴퓨터(1900)에 제공해도 된다.
도 3은 본 실시 형태에 관한 사이트 제어 장치(130) 상에서 동작하는 진단 프로그램(20)의 구성을 나타낸다. 진단 프로그램(20)은 사이트 제어 장치(130)로 하여금 동기 모듈(150), 동기 접속 모듈(160), 및 시험 모듈(170)을 진단하게 하는 프로그램이다. 이하, 시험 모듈(170)을 진단하는 경우를 예로 해서 설명한다.
진단 프로그램(20)은 시험 장치(10)가 진단용의 로드 보드(180)를 탑재한 상태에서 사이트 제어 장치(130)에 의해 실행되고, 진단 대상의 시험 모듈(170)과 진단 대상이 아닌 시험 모듈(170)을 제어하여 진단용 신호를 주고 받게 한다. 그리고, 진단용 신호를 주고 받은 결과에 기초하여 진단 대상의 시험 모듈(170)의 입출력 채널이 정상인가 아닌가를 진단한다.
진단 프로그램(20)은 대상 진단 SW 모듈(300a∼b), 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310a∼b), 교체 SW 모듈(320), 및 진단 제어 SW 모듈(340)을 포함한다. 이들 소프트웨어 모듈은 사이트 제어 장치(130)의 CPU(2000) 등에 의해 실행되고, 사이 트 제어 장치(130)를 하나 또는 복수의 대상 진단부, 하나 또는 복수의 대상 진단용 신호 입출력부, 교체부, 및 진단 제어부로서 각각 기능시키는 프로그램이다.
하나 또는 복수의 대상 진단 SW 모듈(300 : 300a∼b)의 각각은 사이트 제어 장치(130)에 의해 실행되며, 진단 대상이 되는 시험 모듈(170)을 사이트 제어 장치(130)로 하여금 진단하게 한다. 이들 대상 진단 SW 모듈(300)은 시험 모듈(170)의 종류마다 시험 모듈(170)의 설계자 등에 의해 기술되며, 시험 모듈(170) 내의 각 부분의 하드웨어가 정상적으로 동작할 것인가 아닌가를 사이트 제어 장치(130)로 하여금 진단하게 한다. 진단 처리에 있어서, 대상 진단 SW 모듈(300)은 교체 SW 모듈(320)을 통해서 비진단 대상의 시험 모듈(170)을 제어하는 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 호출하고, 진단 대상의 시험 모듈(170)과 당해 비진단 대상의 시험 모듈(170) 간에 진단용 신호를 주고 받게 한다. 그리고, 대상 진단 SW 모듈(300)은 진단용 신호를 주고 받은 결과에 기초하여 진단 대상의 시험 모듈(170)의 입출력 채널이 정상인가 아닌가를 진단한다.
하나 또는 복수의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310 : 310a∼b)의 각각은 진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈(170)의 종류마다 설치된다. 각 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)은 사이트 제어 장치(130)에 의해 실행되며, 진단 대상 시험 모듈(170)에 대하여 진단용 신호를 출력시키거나 또는 진단 대상 시험 모듈(170)이 출력하는 진단용 신호를 입력시키기 위해 비진단 대상 시험 모듈(170)을 사이트 제어 장치(130)로 하여금 제어하게 한다.
교체 SW 모듈(320)은 사이트 제어 장치(130)에 의해 실행되며, 진단 대상 시 험 모듈(170)과 비진단 대상 시험 모듈(170) 간에 진단용 신호의 주고 받음을 지시하는 호출을 대상 진단 SW 모듈(300)로부터 받고, 비진단 대상 시험 모듈(170)을 제어하는 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 호출한다. 교체 SW 모듈(320)은 종류 식별 정보 판독 SW 모듈(322), 구성 파일 기록 SW 모듈(324), 종류 특정 SW 모듈(326), 및 호출처 교체 SW 모듈(328)을 포함한다. 이들 프로그램 또는 SW 모듈은 사이트 제어 장치(130)의 CPU(2000) 등에 의해 실행되며, 사이트 제어 장치(130)를 종류 식별 정보 판독부, 구성 파일 기록부, 종류 특정부, 및 호출처 교체부로서 각각 기능시키는 프로그램이다.
종류 식별 정보 판독 SW 모듈(322)은 사이트 제어 장치(130)에 의해 실행되며, 시험 장치(10)에 포함되는 복수의 시험 모듈(170)의 각각으로부터 당해 시험 모듈(170)의 종류를 식별하는 종류 식별 정보를 사이트 제어 장치(130)로 하여금 판독하게 한다. 구성 파일 기록 SW 모듈(324)은 각각의 시험 모듈(170)에 대해서 종류 식별 정보 판독 SW 모듈(322)이 판독한 종류 식별 정보에 기초하여 당해 시험 모듈(170)에 따른 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 식별하는 SW 모듈 식별 정보를 구성 파일(330)에 저장한다. 여기서, 구성 파일(330)은 예를 들면 하드디스크 드라이브(2040) 상의 파일로서 설치되며, 예를 들면 시험 장치(10)의 각 슬롯에 삽입된 각각의 시험 모듈(170)의 종류 등의 구성 정보를 사이트 제어 장치(130) 상에 기억한다.
종류 특정 SW 모듈(326)은 사이트 제어 장치(130)에 의해 실행되며, 진단 대상 시험 모듈(170)과 비진단 대상 시험 모듈(170) 간에 진단용 신호의 입력 또는 출력을 지시하는 호출을 대상 진단 SW 모듈(300)로부터 받는다. 그리고, 종류 특정 SW 모듈(326)은 당해 호출을 받음에 따라 당해 비진단 대상 시험 모듈(170)의 종류에 따른 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 사이트 제어 장치(130)로 하여금 특정하게 한다.
호출처 교체 SW 모듈(328)은 사이트 제어 장치(130)에 의해 실행되며, 종류 특정 SW 모듈(326)에 의해 특정된 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 사이트 제어 장치(130)로 하여금 호출하게 한다. 이에 따라, 호출처 교체 SW 모듈(328)은 당해 비진단 대상 시험 모듈(170)로 하여금 진단 대상 시험 모듈(170)로부터 진단용 신호를 입력하게 하거나 또는 진단 대상 시험 모듈(170)에 대하여 진단용 신호를 출력하게 한다.
진단 제어 SW 모듈(340)은 사이트 제어 장치(130)에 의해 실행되며, 복수의 시험 모듈(170)의 진단을 제어한다.
이상에 나타낸 진단 프로그램(20)에 의하면, 시험 장치(10)에 삽입하는 다른 시험 모듈(170)을 변경함으로써 시험 장치(10)의 구성을 변경한 경우에도 진단 대상의 시험 모듈(170)을 진단하는 대상 진단 SW 모듈(300)을 변경할 필요가 없어진다. 이에 따라, 진단 프로그램(20)은 시험 장치(10)에 탑재하는 시험 모듈(170)의 종류에 관계없이 적절한 진단 처리를 수행할 수 있다.
도 4는 본 실시 형태에 관한 진단 프로그램(20)에 의한 구성 파일(330)의 작성 플로우를 나타낸다.
우선, 시험 대상이 되는 DUT(100)에 따라 시험 장치(10)의 각 슬롯에 동기 모듈(150), 동기 접속 모듈(160), 및 시험 모듈(170)이 삽입되어 시험 장치(10)의 하드웨어가 구성된다(S400). 다음에, 하나 또는 복수의 사이트 제어 장치(130)의 각각에서 진단 프로그램(20)이 기동되어 진단 처리가 개시된다. 각각의 사이트 제어 장치(130) 상에서 실행되는 진단 프로그램(20)은 당해 사이트 제어 장치(130)에 대응된 복수의 시험 모듈(170)의 각각에 대해 순차 S420 내지 S440의 처리를 수행한다(S410, S450).
다음에, 종류 식별 정보 판독 SW 모듈(322)은 처리 대상의 시험 모듈(170) 내의 레지스터 또는 플래시 메모리 등에 기억된 당해 시험 모듈(170)의 종류 식별 정보를 사이트 제어 장치(130)로 하여금 취득하게 한다(S420). 이 종류 식별 정보는 예를 들면 시험 모듈(170)의 제조자 및 제품 번호 등을 식별하는 정보이어도 된다.
다음에, 구성 파일 기록 SW 모듈(324)은 S420에서 종류 식별 정보 판독 SW 모듈(322)이 판독한 종류 식별 정보에 기초하여 당해 시험 모듈(170)에 따른 SW 모듈 식별 정보를 특정하고(S430), 당해 시험 모듈(170)에 대응시켜서 구성 파일(330)에 저장한다(S440).
복수의 시험 모듈(170)의 각각에 대해서 상기 S420 내지 S440의 처리를 수행함으로써 사이트 제어 장치(130)는 시험 장치(10)에 삽입된 시험 모듈(170)의 구성을 나타내는 구성 파일(330)을 작성할 수 있다. 그 대안으로서, 시험 장치(10)의 사용자는 구성 파일(330)을 수작업으로 작성하여도 된다.
도 5는 본 실시 형태에 관한 진단 프로그램(20)에 의한 시험 장치(10)의 진 단 플로우를 나타낸다. 도 4에 나타낸 구성 파일(330)의 생성을 끝내면, 사이트 제어 장치(130) 상에서 실행되는 진단 제어 SW 모듈(340)은 복수의 시험 모듈(170)의 각각에 대해서 대상 진단 SW 모듈(300)을 순차 실행시킨다(S510). 이에 따라, 진단 제어 SW 모듈(340)은 복수의 시험 모듈(170)의 각각을 순차 사이트 제어 장치(130)로 하여금 진단하게 한다(S500, S520).
모든 시험 모듈(170)의 진단을 끝내면, 진단 제어 SW 모듈(340)은 각각의 대상 진단 SW 모듈(300)로부터 취득한 진단 결과를 출력한다(S530). 시험 장치(10)의 사용자는 당해 진단 결과에 기초하여 시험 장치(10)가 정상적으로 동작할 것인가 아닌가의 정보 및 불량인 시험 모듈(170)을 특정하는 정보 등을 얻을 수 있다.
도 6 및 도 7은 본 실시 형태에 관한 진단 프로그램(20)에 의한 S510의 동작 플로우를 나타낸다. 진단 프로그램(20) 내의 대상 진단 SW 모듈(300), 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310), 및 교체 SW 모듈(320)은 사이트 제어 장치(130) 상에서 실행됨으로써 도 4의 S510에서 도 6 및 도 7에 나타낸 처리를 수행한다.
우선, 진단 프로그램(20) 내의 대상 진단 SW 모듈(300)은 진단 대상의 시험 모듈(170)의 내부 기능을 진단한다(S600). 다음에, 진단 프로그램(20)은 진단 대상의 시험 모듈(170)의 하나 또는 복수의 입력 단자의 각각에 대해서 S620 내지 S660의 처리를 수행한다(S610, S670).
각각의 입력 단자에 대해서, 대상 진단 SW 모듈(300)은 당해 입력 단자에 접속된 비진단 대상의 시험 모듈(170)로부터 진단용 신호의 출력을 지시하는 호출을 사이트 제어 장치(130)에 의해 수행한다(S620). 다음에, 교체 SW 모듈(320) 내의 종류 특정 SW 모듈(326)은 당해 호출에 따라 대상 진단 SW 모듈(300)에 의해 지정된 비진단 대상의 시험 모듈(170)의 종류에 따른 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 사이트 제어 장치(130)에 의해 특정한다(S630). 즉, 종류 특정 SW 모듈(326)은 비진단 대상 시험 모듈(170)의 종류를 사이트 제어 장치(130)에 의해 특정하고, 당해 종류를 이용해서 구성 파일(330)을 사이트 제어 장치(130)로 검색한다. 그리고, 교체 SW 모듈(320)은 당해 종류의 비진단 대상 시험 모듈(170)에 따른 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)의 식별 정보를 판독한다.
예를 들면, 대상 진단 SW 모듈(300)은 진단 대상의 시험 모듈(170)의 당해 입력 단자에 접속된 출력 단자를 가지는 시험 모듈(170)의 슬롯 위치 등으로부터 당해 시험 모듈(170)의 모듈 번호를 특정한다. 그리고, 대상 진단 SW 모듈(300)은 당해 모듈 번호 및 당해 시험 모듈(170) 내에서의 출력 단자의 번호 등을 포함하는 파라미터를 이용해서 교체 SW 모듈(320)의 호출을 수행하여도 된다. 이 경우, 종류 특정 SW 모듈(326)은 당해 모듈 번호에 기초하여 당해 모듈 번호가 할당된 비진단 대상 시험 모듈(170)을 특정하고, 당해 비진단 대상 시험 모듈(170)의 종류에 따른 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 특정한다. 그 대안으로서, 대상 진단 SW 모듈(300)은 진단 대상의 시험 모듈(170)의 입력 단자를 특정하는 정보를 포함하는 파라미터를 이용해서 교체 SW 모듈(320)을 호출하는 구성을 취하여도 된다. 이 경우, 교체 SW 모듈(320)은 당해 진단 대상 시험 모듈(170)의 모듈 번호 및 당해 시험 모듈(170) 내에서의 당해 입출력 단자의 정보에 기초하여 당해 입출력 단자에 접속된 출력 단자를 가지는 시험 모듈(170)을 특정한다. 그리고, 교체 SW 모 듈(320)은 당해 시험 모듈(170)의 종류에 따른 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 특정한다.
또한, 종류 특정 SW 모듈(326)은 대상 진단 SW 모듈(300)로부터의 호출에 대하여 동일 종류 또는 다른 종류의 둘 이상의 시험 모듈(170)을 각각 제어하는 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 특정해도 된다.
또한, 종류 특정 SW 모듈(326)은 하나의 비진단 대상 시험 모듈(170)이 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 사이트 제어 장치(130) 상에서 실행시킴으로써 진단용 신호를 출력하는 경우, 대상 진단 SW 모듈(300)로부터의 하나의 호출에 대하여 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 특정해도 된다.
다음에, 호출처 교체 SW 모듈(328)은 종류 특정 SW 모듈(326)에 의해 특정된 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 호출한다(S640). 이 호출을 받은 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)은 제어 대상의 비진단 대상 시험 모듈(170)을 제어하고, 당해 비진단 대상 시험 모듈(170)로부터 진단 대상 시험 모듈(170)로 진단용 신호를 출력시킨다. 이 결과, 진단 대상 시험 모듈(170)은 진단용 신호를 입력할 수 있다(S650).
여기서, 호출처 교체 SW 모듈(328)은 대상 진단 SW 모듈(300)로부터의 하나의 호출에 대하여 동일 종류 또는 다른 종류의 둘 이상의 시험 모듈(170)을 각각 제어하는 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 호출해도 된다. 일례로서, 대상 진단 SW 모듈(300)이 둘 이상의 시험 모듈(170)의 리셋을 지시한 경우 또는 둘 이상의 비진단 대상 시험 모듈(170)로부터 진단 대상 시험 모듈(170)로 동기 해서 진단용 신호를 공급하는 것을 지시한 경우, 호출처 교체 SW 모듈(328)은 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 호출한다.
또한, 하나의 비진단 대상 시험 모듈(170)이 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 사이트 제어 장치(130) 상에서 실행시킴으로써 진단용 신호를 출력하는 경우, 호출처 교체 SW 모듈(328)은 대상 진단 SW 모듈(300)로부터의 호출에 따라 당해 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 사이트 제어 장치(130)로 하여금 순차 호출하게 한다. 이에 따라, 호출처 교체 SW 모듈(328)은 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)의 처리에 의해 비진단 대상 시험 모듈(170)로부터 진단용 신호를 출력시킨다.
다음에, 대상 진단 SW 모듈(300)은 진단 대상 시험 모듈(170)이 입력한 진단용 신호를 기대치와 비교하여 진단 대상 시험 모듈(170)의 입력 채널의 양부를 진단한다(S660).
진단 프로그램(20)은 사이트 제어 장치(130) 상에서 실행됨으로써 진단 대상 시험 모듈(170)의 각 입력 단자에 대해서 이상에 나타낸 S620 내지 S660의 처리를 수행한다. 이에 따라, 진단 프로그램(20)은 진단 대상 시험 모듈(170)의 각 입력 채널을 진단할 수 있다.
다음에, 진단 프로그램(20)은 진단 대상의 시험 모듈(170)의 하나 또는 복수의 출력 단자의 각각에 대해서 S710 내지 S750의 처리를 수행한다(S700, S760). 여기서, 출력 단자에 관한 S710 내지 S750의 처리는 입력 단자에 관한 S620 내지 S660의 처리에 각각 대응하므로, 이하 차이점을 제외하고 설명을 생략한다.
각각의 출력 단자에 대해서, 대상 진단 SW 모듈(300)은 당해 출력 단자에 접속된 비진단 대상의 동기 모듈(150), 동기 접속 모듈(160), 또는 시험 모듈(170)에 대하여 진단용 신호의 입력을 지시하는 호출을 사이트 제어 장치(130)로 수행한다(S710). 다음에, 교체 SW 모듈(320) 내의 종류 특정 SW 모듈(326)은 당해 호출에 따라 대상 진단 SW 모듈(300)에 의해 지정된 비진단 대상의 시험 모듈(170)의 종류에 따른 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 사이트 제어 장치(130)로 특정한다(S720). 여기서, 종류 특정 SW 모듈(326)은 대상 진단 SW 모듈(300)로부터의 호출에 대하여 동일 종류 또는 다른 종류의 둘 이상의 시험 모듈(170)을 제어하는 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 특정해도 된다. 또한, 종류 특정 SW 모듈(326)은 하나의 비진단 대상 시험 모듈(170)이 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 사이트 제어 장치(130) 상에서 실행시킴으로써 진단용 신호를 입력하는 경우, 대상 진단 SW 모듈(300)로부터의 하나의 호출에 대하여 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 특정해도 된다.
다음에, 호출처 교체 SW 모듈(328)은 종류 특정 SW 모듈(326)에 의해 특정된 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 호출한다(S730). 이 호출을 받은 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)은 제어 대상의 비진단 대상 시험 모듈(170)을 제어하고, 진단 대상 시험 모듈(170)로부터 당해 진단 대상 시험 모듈(170)로 출력되는 진단용 신호를 입력가능한 상태로 한다. 이 상태에서, 대상 진단 SW 모듈(300)은 진단 대상 시험 모듈(170)을 제어하여 진단용 신호를 출력시킨다(S740).
여기서, 호출처 교체 SW 모듈(328)은 대상 진단 SW 모듈(300)로부터의 하나 의 호출에 대하여 동일 종류 또는 다른 종류의 둘 이상의 시험 모듈(170)을 제어하는 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 호출해도 된다. 일례로서, 진단 대상의 동기 접속 모듈(160)로부터 둘 이상의 시험 모듈(170)로 출력되는 동기 신호를 당해 둘 이상의 시험 모듈(170)로 하여금 입력하게 할 경우, 호출처 교체 SW 모듈(328)은 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 호출한다.
또한, 하나의 비진단 대상 시험 모듈(170)이 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 사이트 제어 장치(130) 상에서 실행시킴으로써 진단용 신호를 입력하는 경우, 호출처 교체 SW 모듈(328)은 대상 진단 SW 모듈(300)로부터의 호출에 따라 당해 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)을 사이트 제어 장치(130)로 하여금 순차 호출하게 한다. 이에 따라, 호출처 교체 SW 모듈(328)은 둘 이상의 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)의 처리에 의해 진단 대상 시험 모듈(170)로부터 진단용 신호를 입력하게 한다.
다음에, 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)은 비진단 대상 시험 모듈(170)이 입력한 진단용 신호를 기대치와 비교하여 진단 대상 시험 모듈(170)의 출력 채널의 양부를 진단한다(S750).
진단 프로그램(20)은 사이트 제어 장치(130) 상에서 실행됨으로써 진단 대상 시험 모듈(170)의 각 출력 단자에 대해서 이상에 나타낸 S710 내지 S750의 처리를 수행한다. 이에 따라, 진단 프로그램(20)은 진단 대상 시험 모듈(170)의 각 출력 채널을 진단할 수 있다.
다음에, 진단 프로그램(20)은 진단 대상 시험 모듈(170)의 내부 기능의 진단 결과(S600), 각 입력 채널의 진단 결과(S610 내지 S670), 및 각 출력 채널의 진단 결과(S700 내지 S760)를 시험 장치(10)의 사용자에게 출력한다. 이 진단 결과를 받고, 시험 장치(10)의 사용자는 불량인 시험 모듈(170)을 교환하여 시험 장치(10)를 정상인 상태로 유지할 수 있다.
사이트 제어 장치(130)는, 예를 들면 시험 장치(10)의 전원이 투입된 경우 또는 시험 장치(10)의 사용자에게 진단 처리를 지시받은 경우, 이상에 나타낸 진단 처리를 수행한다. 그리고, 당해 진단 처리 후, 시험 장치(10)는 하나 또는 복수의 DUT(100)의 시험을 수행하여도 된다.
이상, 본 발명을 실시 형태를 이용해서 설명하였지만, 본 발명의 기술적 범위는 상기 실시 형태에 기재된 범위에 한정되지는 않는다. 상기 실시 형태에 다양한 변경 또는 개량을 추가할 수 있다는 것이 당업자에게 명확하다. 이와 같은 변경 또는 개량을 추가한 형태도 본 발명의 기술적 범위에 포함될 수 있는 것이 청구의 범위의 기재로부터 명확하다.
예를 들면, 이상에 나타낸 대상 진단 SW 모듈(300) 및 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)은 각각의 시험 모듈(170)에 대응해서 설치되며, DUT(100)의 시험시 대응하는 시험 모듈(170)을 제어하는 시험용 SW 모듈과는 별도로 설치되어도 된다. 그 대안으로서, 대상 진단 SW 모듈(300) 및 진단용 신호 입출력 SW 모듈(310)은 시험용 SW 모듈 내에 포함되어 시험용 SW 모듈의 일부의 기능으로서 실현되어도 된다.
또한, 동기 모듈(150) 및 동기 접속 모듈(160)도 시험 신호를 DUT(100)에 공 급하기 위해서 이용되는 것이기 때문에, 진단 프로그램(20)은 시험 모듈(170)과 마찬가지로 이들 모듈에 대해 진단을 수행하여도 된다. 즉, 진단 프로그램(20)은 동기 모듈(150) 및 동기 접속 모듈(160) 등의 다른 모듈에 대해서도 진단 대상의 시험 모듈로서 시험 모듈(170)과 마찬가지로 진단을 수행하여도 된다. 또한, 진단 프로그램(20)은 동기 모듈(150) 및 동기 접속 모듈(160) 등의 다른 모듈을 비진단 대상의 시험 모듈로서 진단 대상 시험 모듈(170)과의 사이에서 진단용 신호를 주고 받게 하여도 된다.

Claims (9)

  1. 시험 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 복수의 시험 모듈과 상기 복수의 시험 모듈을 제어하는 제어 장치를 포함하는 시험 장치에서, 상기 제어 장치로 하여금 상기 시험 모듈을 진단하게 하는 진단 프로그램에 있어서,
    진단 대상이 되는 진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 진단하게 하는 대상 진단 소프트웨어 모듈;
    진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈의 종류마다 설치되며, 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 진단용 신호를 출력시키거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈이 출력하는 진단용 신호를 입력시키기 위하여 상기 비진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 제어하게 하는 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈;
    상기 비진단 대상 시험 모듈과의 사이에서 상기 진단용 신호의 입력 또는 출력을 지시하는 호출을 상기 대상 진단 소프트웨어 모듈로부터 받음에 따라 당해 비진단 대상 시험 모듈의 종류에 따른 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 특정하게 하는 종류 특정 소프트웨어 모듈; 및
    상기 종류 특정 소프트웨어 모듈에 의해 특정된 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 호출하게 하고, 당해 비진단 대상 시험 모듈로 하여금 상기 진단 대상 시험 모듈로부터 상기 진단용 신호를 입력하게 하거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 상기 진단용 신호를 출력하게 하는 호출처 교체 소프트웨어 모듈
    을 포함하는 진단 프로그램.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 종류 특정 소프트웨어 모듈은 상기 제어 장치 상에 기억된, 상기 시험 장치에 포함되는 상기 복수의 시험 모듈의 각각에 따른 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 식별하는 소프트웨어 모듈 식별 정보를 저장하는 구성 파일을 검색하고, 상기 비진단 대상 시험 모듈에 따른 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈의 식별 정보를 판독하는 진단 프로그램.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 시험 장치에 포함되는 상기 복수의 시험 모듈의 각각에 대하여, 당해 시험 모듈 내에 기억된 당해 시험 모듈의 종류를 식별하는 종류 식별 정보를 상기 제어 장치로 하여금 판독하게 하는 종류 식별 정보 판독 소프트웨어 모듈; 및
    상기 시험 장치에 포함되는 상기 복수의 시험 모듈의 각각에 대하여, 상기 종류 식별 정보 판독 소프트웨어 모듈이 판독한 상기 종류 식별 정보에 기초하여 당해 시험 모듈에 따른 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 식별하는 소프트웨어 모듈 식별 정보를 상기 구성 파일에 저장하는 구성 파일 기록 소프트웨어 모듈
    을 더 포함하는 진단 프로그램.
  4. 제1항에 있어서,
    하나의 상기 비진단 대상 시험 모듈이 둘 이상의 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치 상에서 실행시킴으로써 상기 진단용 신호를 입력 또는 출력하는 경우, 상기 호출처 교체 소프트웨어 모듈은 당해 비진단 대상 시험 모듈과의 사이에서 상기 진단용 신호의 입력 또는 출력을 지시하는 호출에 따라 당해 둘 이상의 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 순차 호출하게 하는 진단 프로그램.
  5. 시험 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 복수의 시험 모듈과 상기 복수의 시험 모듈을 제어하는 제어 장치를 포함하는 시험 장치에서, 진단 대상이 되는 진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 진단하게 하는 대상 진단 소프트웨어 모듈로부터 호출되는, 진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 제어하게 하는 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 교체하는 교체 프로그램에 있어서,
    상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈은 진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈의 종류마다 설치되며, 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 진단용 신호를 출력시키거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈이 출력하는 진단용 신호를 입력시키기 위하여 상기 비진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 제어하게 하며,
    당해 교체 프로그램은,
    상기 비진단 대상 시험 모듈과의 사이에서 상기 진단용 신호의 입력 또는 출력을 지시하는 호출을 상기 대상 진단 소프트웨어 모듈로부터 받음에 따라 당해 비진단 대상 시험 모듈의 종류에 따른 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 특정하게 하는 종류 특정 소프트웨어 모듈; 및
    상기 종류 특정 소프트웨어 모듈에 의해 특정된 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 호출하게 하고, 당해 비진단 대상 시험 모듈로 하여금 상기 진단 대상 시험 모듈로부터 상기 진단용 신호를 입력시키거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 상기 진단용 신호를 출력시키는 호출처 교체 소프트웨어 모듈
    을 포함하는 교체 프로그램.
  6. 피시험 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서,
    시험 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 복수의 시험 모듈; 및
    상기 복수의 시험 모듈을 제어하는 제어 장치
    를 포함하며,
    상기 제어 장치는 상기 시험 모듈을 진단하는 진단 프로그램을 실행함으로써,
    진단 대상이 되는 진단 대상 시험 모듈을 진단하는 대상 진단부;
    진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈의 종류마다 설치되며, 상기 비진단 대상 시험 모듈로부터 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 진단용 신호를 출력하게 하거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈이 출력하는 진단용 신호를 상기 비진단 대상 시험 모듈로 하여금 입력하게 하는 진단용 신호 입출력부;
    상기 비진단 대상 시험 모듈과의 사이에서 상기 진단용 신호의 입력 또는 출력을 지시하는 호출을 상기 대상 진단부로부터 받음에 따라 당해 비진단 대상 시험 모듈의 종류에 따른 상기 진단용 신호 입출력부를 특정하는 종류 특정부; 및
    상기 종류 특정부에 의해 특정된 상기 진단용 신호 입출력부를 호출하고, 당해 비진단 대상 시험 모듈로 하여금 상기 진단 대상 시험 모듈로부터 상기 진단용 신호를 입력하게 하거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 상기 진단용 신호를 출력하게 하는 호출처 교체부
    로서 기능하는 시험 장치.
  7. 시험 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 복수의 시험 모듈과 상기 복수의 시험 모듈을 제어하는 제어 장치를 포함하는 시험 장치에서, 상기 제어 장치로 하여금 상기 시험 모듈을 진단하게 하는 진단 방법에 있어서,
    진단 대상이 되는 진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 진단하게 하는 대상 진단 단계;
    진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈의 종류마다 설치되며, 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 진단용 신호를 출력시키거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈이 출력하는 진단용 신호를 입력시키기 위하여 상기 비진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 제어하게 하는 진단용 신호 입출력 단계;
    상기 비진단 대상 시험 모듈과의 사이에서 상기 진단용 신호의 입력 또는 출력이 상기 대상 진단 단계에서 지시됨에 따라 당해 비진단 대상 시험 모듈의 종류에 따른 상기 진단용 신호 입출력 단계를 상기 제어 장치로 하여금 특정하게 하는 종류 특정 단계; 및
    상기 종류 특정 단계에 의해 특정된 상기 진단용 신호 입출력 단계의 처리를 상기 제어 장치로 하여금 수행하게 하고, 당해 비진단 대상 시험 모듈로 하여금 상기 진단 대상 시험 모듈로부터 상기 진단용 신호를 입력하게 하거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 상기 진단용 신호를 출력하게 하는 호출처 교체 단계
    를 포함하는 진단 방법.
  8. 시험 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 복수의 시험 모듈과 상기 복수의 시험 모듈을 제어하는 제어 장치를 포함하는 시험 장치에서, 상기 제어 장치로 하여금 상기 시험 모듈을 진단하게 하는 진단 프로그램을 기록한 기록 매체에 있어서,
    상기 진단 프로그램은,
    진단 대상이 되는 진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 진단하게 하는 대상 진단 소프트웨어 모듈;
    진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈의 종류마다 설치되며, 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 진단용 신호를 출력시키거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈이 출력하는 진단용 신호를 입력시키기 위하여 상기 비진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 제어하게 하는 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈;
    상기 비진단 대상 시험 모듈과의 사이에서 상기 진단용 신호의 입력 또는 출력을 지시하는 호출을 상기 대상 진단 소프트웨어 모듈로부터 받음에 따라 당해 비진단 대상 시험 모듈의 종류에 따른 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 특정하게 하는 종류 특정 소프트웨어 모듈; 및
    상기 종류 특정 소프트웨어 모듈에 의해 특정된 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 호출하게 하고, 당해 비진단 대상 시험 모듈로 하여금 상기 진단 대상 시험 모듈로부터 상기 진단용 신호를 입력하게 하거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 상기 진단용 신호를 출력하게 하는 호출처 교체 소프트웨어 모듈
    를 포함하는 기록 매체.
  9. 시험 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 복수의 시험 모듈과 상기 복수의 시험 모듈을 제어하는 제어 장치를 포함하는 시험 장치에서, 진단 대상이 되는 진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 진단하게 하는 대상 진단 소프트웨어 모듈로부터 호출되는, 진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 제어하게 하는 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 교체하는 교체 프로그램을 기록한 기록 매체에 있어서,
    상기 교체 프로그램은,
    상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈은 진단 대상이 아닌 비진단 대상 시험 모듈의 종류마다 설치되며, 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 진단용 신호를 출력시키거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈이 출력하는 진단용 신호를 입력시키기 위하여 상기 비진단 대상 시험 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 제어하게 하며,
    당해 교체 프로그램은,
    상기 비진단 대상 시험 모듈과의 사이에서 상기 진단용 신호의 입력 또는 출력을 지시하는 호출을 상기 대상 진단 소프트웨어 모듈로부터 받음에 따라 당해 비진단 대상 시험 모듈의 종류에 따른 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 특정하게 하는 종류 특정 소프트웨어 모듈; 및
    상기 종류 특정 소프트웨어 모듈에 의해 특정된 상기 진단용 신호 입출력 소프트웨어 모듈을 상기 제어 장치로 하여금 호출하게 하고, 당해 비진단 대상 시험 모듈로 하여금 상기 진단 대상 시험 모듈로부터 상기 진단용 신호를 입력하게 하거나 또는 상기 진단 대상 시험 모듈에 대하여 상기 진단용 신호를 출력하게 하는 호출처 교체 소프트웨어 모듈
    을 포함하는 기록 매체.
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