TWI403894B - 診斷用電腦程式產品、切換用電腦程式產品、測試裝置以及診斷方法 - Google Patents
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Description
本發明涉及一種診斷程式、切換程式、測試裝置以及診斷方法。本發明特別是涉及一種測試裝置中測試模組診斷用的診斷程式、切換程式、測試裝置以及診斷方法,其中此測試裝置具備:多個測試模組,其使測試信號供給至被測試元件;以及控制裝置,其控制著多個測試模組。
本申請案是與下記的日本申請案相關連。就藉由文獻之參照而確認可編入的指定國而言,藉由參照下記的申請案中所記載的內容而編入本申請案中,以作為本申請案之一部份。
1.特願2005-100018申請日2005年03月30日。
記憶體、邏輯大型積體電路(LSI)或SoC(System on Chip)等的被測試元件DUT(Device Under Test)測試用的測試裝置對DUT的輸入端供給一種測試信號,且對應於此測試信號使由輸出端所輸出的輸出信號來與一種期待值相比較以判定此DUT的良否。先前的測試裝置中,與DUT之間的空間中使信號輸出入用的測試模組的種類是固定地對應於使該測試模組插入至測試裝置本體中時所用的插槽(slot)位置來決定。
測試裝置以判定異常之有無為目的且具有診斷功能。測試裝置在診斷過程中亦診斷各測試模組的功能是否有異常。在診斷對象的測試模組的診斷中,進行一種輸出入測試,將該測試模組所輸出的診斷用信號輸入至另一個測試模組中以與期待值相比較,另一測試模組所輸出的診斷用信號輸入至該測試模組中以與期待值相比較等等。
先前,在以測試裝置的障礙有無的檢出作為目的時,使用一種診斷此測試裝置的各部所用的方法,在此測試裝置的控制裝置上執行一種診斷程式。
先前的測試裝置中,插入各插槽中的測試模組的種類預先予以決定。於是,先前技術中診斷對象的測試模組診斷用的對象診斷程式使診斷用信號輸出入至診斷對象的測試模組和已知的另一測試模組之間。即,藉由種類已預定的另一測試模組控制用的診斷用信號輸出入程式的叫出,則該對象診斷程式可在該另一測試模組和診斷對象的測試模組之間進行該診斷用信號的輸出入。
對此而言,近年來測試裝置的構成是以提高自由度為目的,例如,非專利文件1中所示的OPENSTAR(登錄商標)等的開放式架構(open architecture)已被提出。
非專利文件1:Semiconductor Test Consortium,“STC ANNOUNCES PUBLIC ACC ESS TO THE OPENSTAR(tm)SPECS”,[online],西元2004年12月7日、[西元2005年3月16日檢索]、Internet<URL:http://www.semitest.org/site/News/STC_Spec_Open_to_Public>
在採用開放式架構的測試裝置的情況下,測試裝置的各插槽中可搭載著以開放式架構為基準的各種測試模組。在此種測試裝置中,與先前一樣在執行程式使由診斷對象的測試模組的對象診斷程式所預定的種類之其它測試模組控制用的診斷用信號輸出入程式被叫出時,則測試裝置所搭載的其它測試模組變更時即不能作適當的診斷。因此,其它測試模組變更時,對象診斷程式即有必要變更。
於是,本發明的目的是提供一種可解決上述問題的診斷程式、切換程式、測試裝置和診斷方法。此目的藉由申請專利範圍之獨立項中所記載的特徵之組合來達成。又,申請專利範圍各附屬項規定了本發明更有利的具體例。
依據本發明的第1形式,本發明提供一種診斷程式,其藉由控制裝置來診斷多個測試模組,其中測試裝置具備:多個測試模組,其使測試信號供給至被測試元件;以及控制裝置,其對多個測試模組進行控制,此診斷程式具備:對象診斷軟體模組,其藉由上述控制裝置來診斷一成為診斷對象的診斷對象測試模組;診斷用信號輸出入軟體模組,其設在非診斷對象的非診斷對象測試模組的每一種類中,對上述診斷對象測試模組輸出診斷用信號,或藉由上述控制裝置來控制該診斷對象測試模組所輸出的診斷用信號應輸入時所用的非診斷對象測試模組;種類特定軟體模組,其由對象診斷軟體模組接收一種叫出以指出其與非診斷對象測試模組之間該診斷用信號的輸入或輸出,於是藉由控制裝置來對該非診斷對象測試模組的種類所對應的診斷用信號輸出入軟體模組進行特別限定;以及叫出前切換軟體模組,其藉由該控制裝置來叫出上述種類特定軟體模組所特定的診斷用信號輸出入軟體模組,且藉由該非診斷對象測試模組而由該診斷對象測試模組使診斷用信號輸入,或對該診斷對象測試模組輸出該診斷用信號。
上述之種類特定軟體模組亦可對一種構成檔進行檢索,以讀出該非診斷對象測試模組所對應的診斷用信號輸出入軟體模組的識別資訊,其中此構成檔儲存著軟體模組識別資訊以對該控制裝置上所儲存-及該測試裝置所具備的多個測試模組各別所對應的診斷用信號輸出入軟體模組進行識別。
就此測試裝置所具備的多個各別的測試模組而言,此診斷程式亦可另外具備:種類識別資訊讀出軟體模組,其藉由上述之控制裝置以讀出該測試模組內所儲存的該測試模組的種類識別用的種類識別資訊;以及構成檔寫入軟體模組,其就該測試裝置所具備的多個各別的測試模組而言依據該種類識別資訊讀出軟體模組所讀出的種類識別資訊,使該測試模組所對應的診斷用信號輸出入軟體模組識別用的軟體模組識別資訊儲存在上述的構成檔中。
一個非診斷對象測試模組在控制裝置上藉由2個以上的診斷用信號輸出入軟體模組的執行以使上述診斷用信號輸入或輸出時,上述叫出前切換軟體模組亦可對應於其與非診斷對象測試模組之間診斷用信號的輸入或輸出之指示用的叫出,以藉由此控制裝置依序叫出上述2個診斷用信號輸出入軟體模組。
依據本發明的第2實施形式,本發明提供一種切換程式,其對藉由控制裝置來對成為診斷對象的診斷對象測試模組進行診斷所用的對象診斷軟體模組所叫出的軟體模組、以及藉由控制裝置來對非診斷對象的非診斷對象測試模組進行控制所用的診斷用信號輸出入軟體模組進行切換,其中測試裝置具備:多個測試模組,其將測試信號供給至被測試元件;以及控制裝置,其對該多個測試模組進行控制,此診斷用信號輸出入軟體模組設在非診斷對象的非診斷對象測試模組的每一種類中,且對診斷對象測試模組輸出診斷用信號,或藉由控制裝置來對診斷對象測試模組所輸出的診斷用信號應輸入時所用的非診斷對象測試模組進行控制,此切換程式具備:種類特定軟體模組,其由對象診斷軟體模組接收其與非診斷對象測試模組之間上述診斷用信號輸入或輸出之指示用的叫出,藉由控制裝置來對該非診斷對象測試模組的種類所對應的診斷用信號輸出入軟體模組進行特別限定;以及叫出前切換軟體模組,其藉由控制裝置來叫出上述種類特定軟體模組所特定的診斷用信號輸出入軟體模組,且藉由非診斷對象測試模組而由該診斷對象測試模組使診斷用信號輸入,或對該診斷對象測試模組輸出此診斷用信號。
依據本發明的第3實施形式,本發明提供一種對被測試元件進行測試用的測試裝置,其具備:多個測試模組,其將測試信號供給至被測試元件;以及控制裝置,其對該多個測試模組進行控制,此控制裝置藉由該測試模組診斷用的診斷程式之執行而具有以下的功能:對象診斷部,其對成為診斷對象的診斷對象測試模組進行診斷;診斷用信號輸出入部,其設在非診斷對象的非診斷對象測試模組的每一種類中,且由非診斷對象測試模組而對診斷對象測試模組輸出診斷用信號,或藉由非診斷對象測試模組使診斷對象測試模組所輸出的診斷用信號輸入;種類特定部,其由對象診斷部接收其與非診斷對象測試模組之間上述診斷用信號輸入或輸出之指示用的叫出,以對該非診斷對象測試模組的種類所對應的診斷用信號輸出入部進行特別限定;以及叫出前切換部,其叫出該種類特定部所特定的上述診斷用信號輸出入部,藉由該非診斷對象測試模組使診斷用信號由診斷對象測試模組輸入,或使診斷用信號對診斷對象測試模組輸出。
依據本發明的第4實施形式,本發明提供一種藉由控制裝置來對上述測試模組進行診斷用的診斷方法,其中此測試裝置具備:多個測試模組,其將測試信號供給至被測試元件;以及控制裝置,其對該多個測試模組進行控制,此診斷方法具備:對象診斷步驟,其藉由控制裝置來對一成為診斷對象的診斷對象測試模組進行診斷;診斷用信號輸出入步驟,其設在非診斷對象的非診斷對象測試模組的每一種類中,且對診斷對象測試模組輸出診斷用信號,或藉由控制裝置來對診斷對象測試模組所輸出的診斷用信號應輸入時所用的非診斷對象測試模組進行控制;種類特定步驟,其對應於由對象診斷步驟指出其與非診斷對象測試模組之間上述診斷用信號之輸入或輸出,以藉由控制裝置來對該非診斷對象測試模組的種類所對應的診斷用信號輸出入步驟進行特別限定;以及叫出前切換步驟,其藉由控制裝置來進行由該種類特定步驟所特定的上述診斷用信號輸出入步驟的處理,藉由該非診斷對象測試模組使診斷用信號由診斷對象測試模組輸入,或使診斷用信號對診斷對象測試模組輸出。
又,上記的發明的概要未列舉本發明的必要的特徵的全部,這些特徵群的下位組合(sub-combination)亦屬本發明。
依據本發明而提供一種診斷程式,其不論一測試裝置中所搭載的測試模組屬哪一種都可進行適當的診斷處理。
為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下。
圖1是本實施形式之測試裝置10之構成圖。此測試裝置10產生一測試信號以供給至被測試元件DUT100(Device Under Test)。DUT100依據以測試信號為基準來動作的結果被輸出時用的輸出信號是否與期待值相一致來判斷DUT100的良否。本實施形式之測試裝置10藉由開放式架構來實現且作為一種將測試信號供給至DUT100時所用的測試模組170,其可使用各種以開放式架構為基準的模組。
此測試裝置10具備:階段(stage)控制裝置110、通信網路120、位置控制裝置130a~c、匯流排開關140、同步模組150a~b、同步連接模組160a~b、測試模組170a~b、載入板(load board)180,測試裝置10連接至DUT100a~b。同步模組150a~b、同步連接模組160a~b、以及測試模組170a~b是本發明的測試模組的一例。
系統控制模組110經由外部的網路等來接收-且儲存此測試裝置10在DUT100a~b測試時所用的測試控制程式、測試程式以及測試資料等、測試裝置10的內部診斷用的診斷程式等。通信網路120連接著系統控制裝置110、位置控制裝置130a~c、以及測試仿真器(emulator)裝置190,使這些元件之間的通信可繼續存在著。
位置控制裝置130a~c是本發明的控制裝置的一例,其藉由對此同步模組150、同步連接模組160以及測試模組170的控制來控制DUT100的測試。此處,多個位置控制裝置130分別控制著一個DUT100的測試。例如,圖1中,位置控制裝置130a控制著一個DUT100a的測試,位置控制裝置130b控制著一個DUT100b的測試。以另一種方式觀之,則亦可視為多個位置控制裝置130分別控制著多個DUT100的測試。
更具體而言,位置控制裝置130經由通信網路120而由系統控制裝置110取得一種測試控制程式且執行此程式。其次,位置控制裝置130依據上述之測試控制程式而由系統控制裝置110取得該DUT100測試時用的測試程式和測試資料,且經由匯流排開關140而儲存在DUT100測試時用的同步模組150及1或多個測試模組170等的模組中。其次,位置控制裝置130藉由匯流排開關140而將以測試程式和測試資料為基準的”測試的開始”指示在同步模組150中。然後,位置控制裝置130例如由同步模組150接收一種指示”測試終了”所用的插入等,且依據測試結果而在各模組中進行下一個測試。如上所述,在同步模組150和多個各別的測試模組170中,位置控制裝置130藉由測試用軟體模組(軟體模組之名稱以下是由”SW模組”而來)之執行來控制該模組之測試動作。
又,位置控制裝置130a~c執行上述診斷程式以對此測試裝置10的各部進行診斷。在診斷處理中,多個各別的位置控制裝置130藉由匯流排開關140來對該位置控制裝置130所連接的同步模組150、同步連接模組160和測試模組170進行診斷。在各別的測試模組170的診斷中,位置控制裝置130在診斷對象的測試模組170和非診斷對象的非診斷對象測試模組170之間接收一種診斷用信號。然後,診斷對象測試模組170輸出時依據非診斷對象測試模組170所取得的診斷用信號和期待值的比較結果,以診斷此診斷對象測試模組170的輸出通道的良否。又,非診斷對象測試模組170輸出時依據診斷對象測試模組170所取得的診斷用信號和期待值的比較結果,以診斷此診斷對象測試模組170的輸入通道的良否。
匯流排開關140使多個各別的位置控制裝置130連接至此位置控制裝置130所控制的同步模組150及1或多個測試模組170,使這些模組之間的通信可繼續。此處,已預定的一個位置控制裝置130亦可依據此測試裝置10的使用者或測試控制程式等的指示來對匯流排開關140進行設定,匯流排開關140應使多個各別的位置控制裝置130連接至位置控制裝置130在DUT100測試時所用的同步模組150及1個以上的測試模組170。例如,圖1中位置控制裝置130a設定成連接至同步模組150a及多個測試模組170a,使用這些模組來進行DUT100a的測試。又,位置控制裝置130b設定成連接至同步模組150b及多個測試模組170b,使用這些模組來進行DUT100b的測試。
此處,位置控制裝置130b使用同步模組150b、同步連接模組160b及1個或多個測試模組170b來測試DUT100b時所用的構成和動作是與位置控制裝置130a使用同步模組150a、同步連接模組160a及1個或多個測試模組170a來測試DUT100a時所用的構成和動作大略相同,則以下除了不同點之外以位置控制裝置130a在DUT100a測試時所用的構成和動作作為中心來說明。
同步模組150a依據位置控制裝置130a的指示來產生DUT100a測試時所用的多個測試模組170a應產生一種測試信號時所需的測試信號產生時序。又,同步模組150a藉由同步連接模組160a而由1個或多個測試模組170a來接收該測試結果,且在1個或多個測試模組170a中執行該測試結果的良否所對應的測試程式的序列。
同步連接模組160a將同步模組150a所產生的測試信號產生時序通知對應於此測試信號產生時序而應動作的測試模組170a,以指定的時序使1個或多個各別之測試模組170a動作。又,同步連接模組160a由1個或多個測試模組170a接收該測試結果以發送至同步模組150a。
多個測試模組170a分別連接至DUT100a所具有的多個端子中的一個,且依據位置控制裝置130a所儲存的測試程式和測試資料來進行DUT100a之測試。在DUT100a的測試過程中,此測試模組170a依據該測試程式所決定的順序而由測試資料中產生一種測試信號,且將此測試信號供給至此連接至測試模組170a之DUT100a之端子。其次,此測試模組170a取得一種使DUT100a依據此測試信號來動作後的結果被輸出時用的輸出信號,且使此輸出信號與期待值相比較。然後,測試模組170a將此輸出信號與期待值的比較結果發送至同步連接模組160a以作為測試結果。此處,多個測試模組170a由於依據該測試程式和測試資料而以動態方式使測試信號的循環(cycle)周期發生變化,則可依據不同的循環周期以產生一種測試信號。
又,在測試程式處理完成之後或此測試程式執行中發生異常時,則此測試模組170a對位置控制裝置130a產生一種插入作用。此種插入作用經由匯流排開關140而通知此測試模組170a所對應的位置控制裝置130a,且藉由此位置控制裝置130a所具有的處理器來進行此插入處理。
載入板180載置著多個DUT100,使多個測試模組170連接至相對應的DUT100的端子。此處,進行此測試裝置10的診斷時,亦可使用診斷用的載入板180以取代通常測試用的載入板180。此種診斷用的載入板180亦可採用一種使診斷對象測試模組170和非診斷對象測試模組170之間達成直接連接時所需的構成。
以上的敘述中,此測試裝置10藉由開放式架構來實現,其可使用各種滿足開放式架構規格的模組。然後,此測試裝置10可將同步模組150、同步連接模組160以及測試模組170等的模組插入至匯流排開關140所具有的任意的連接插槽中且使用這些模組。此時,此測試裝置10的使用者等例如藉由位置控制裝置130a使匯流排開關140的連接形式變更,且可使DUT100測試時用的多個模組連接至DUT100測試時控制用的位置控制裝置130。因此,此測試裝置10的使用者可對應於多個各別的DUT100的端子數、端子的配置、端子的種類或測試的種類等以選取適當的模組而安裝在此測試裝置10中。
又,若不用以上的方式,則同步連接模組160a和同步連接模組160b亦可藉由測試裝置10中所用的全部之測試模組170中所共同設計的一種同步連接部來實現。在此種情況下,此測試裝置10的使用者等藉由匯流排開關140的連接形式的變更且同時藉由同步連接部和測試模組170的連接形式的變更,則可對應於多個DUT100的特性而選取適當的模組。
圖2是本發明的實施形式之位置(site)控制裝置130的硬體構成。作為位置控制裝置130而動作時的電腦1900具備:CPU周邊部,其具有以主控制器2082而互相連接的CPU2000,RAM2020,圖形控制器2075以及顯示裝置2080;輸出入部,其具有藉由輸出入控制器2084而連接至主控制器2082之通信介面2030、硬碟驅動器2040以及CD-ROM驅動器2060;以及傳統(legacy)輸出入部,其具有連接至輸出入控制器2084之ROM2010、軟碟驅動器2050以及輸出入晶片2070。
主控制器2082連接著RAM2020、以高傳送速率來對RAM2020進行存取的CPU2000、以及圖形控制器2075。CPU2000依據ROM2010和RAM2020中所儲存的程式來動作,以進行各部的控制。圖形控制器2075取得CPU2000等在RAM2020內所設置的框(frame)緩衝器上所產生的圖像資料且顯示在該顯示裝置2080上。若不用上述方式,則圖形控制器2075內部中亦可含有框(frame)緩衝器以儲存著CPU2000等所產生的圖像資料。
此輸出入控制器2084連接著主控制器2082、比較高速的輸出入裝置所在的通信介面2030、硬碟驅動器2040、CD-ROM驅動器2060。通信介面2030經由網路而與其它的裝置相通信。硬碟驅動器2040儲存著電腦1900內的CPU2000所使用的程式和資料。CD-ROM驅動器2060由CD-ROM2095讀取程式或資料,且經由RAM2020而提供至硬碟驅動器2040。
又,輸出入控制器2084上連接著ROM2010、軟碟驅動器2050、以及輸出入晶片2070之比較低速的輸出入裝置。ROM2010儲存著電腦1900起動時所執行的起動(boot)程式或儲存著電腦1900之與硬體有關的程式等。軟碟驅動器2050由軟碟2090讀出程式或資料,且經由RAM2020而提供至硬碟驅動器2040。輸出入晶片2070經由軟碟驅動器2050或例如經由平行埠(port)、串列埠、鍵盤埠、滑鼠埠等以連接各種輸出入裝置。
經由RAM2020以提供至硬碟驅動器2040中的診斷程式等的程式是由利用者所提供而儲存於軟碟2090、CD-ROM2095、或IC卡等的記錄媒體中。程式由記錄媒體讀出、經由RAM2020而安裝在電腦1900內的硬碟驅動器2040中,以及在CPU2000中執行。
以上所示的程式或模組亦可儲存在外部的記憶媒體中。可使用軟碟2090、CD-ROM2095的其它種類、DVD或CD等的光學記錄媒體、MO等的光磁氣記錄媒體、磁帶媒體、IC卡等的半導體記憶體等以作為記憶媒體。又,連接至專用通信網路或網際網路(internet)之伺服器系統中所設置的硬碟或RAM等的記憶裝置亦可用作記錄媒體,以經由網路將程式提供至電腦1900。
圖3是本實施形式之位置(site)控制裝置130上進行動作用之診斷程式20之構成。診斷程式20是一種藉由位置控制裝置130來對同步模組150、同步連接模組160、以及測試模組170進行診斷所用的程式。以下,以測試模組170診斷時為例來作說明。
診斷程式20是在此測試裝置10搭載著診斷用的載入板180時的狀態下藉由位置控制裝置130來執行,對診斷對象的測試模組170和非診斷對象的測試模組170進行控制以接收診斷用信號。然後,依據診斷用信號已接收後的結果,以對”診斷對象的測試模組170的輸出入通道是否正常”進行診斷。
診斷程式20具備:對象診斷軟體模組300a~b、診斷用信號輸出入軟體模組310a~b、切換軟體模組320、診斷控制軟體模組340。這些軟體模組藉由位置控制裝置130的CPU2000等來執行,這些軟體模組都是一種程式,其功能是各別使位置控制裝置130作為1個或多個對象診斷部、1個或多個對象診斷用信號輸出入部、切換部、以及診斷控制部。
1個或多個各別的對象診斷軟體模組300(300a~b)藉由位置控制裝置130來執行,且藉由位置控制裝置130來對成為診斷對象的測試模組170進行診斷。對象診斷軟體模組300藉由測試模組170之每一種類中測試模組170的設計者等來描述,且藉由位置控制裝置130來對”測試模組170內的各部的硬體是否正常地動作”進行診斷。在診斷處理時,對象診斷軟體模組300藉由切換軟體模組320來叫出非診斷對象的測試模組170受控制時用的診斷用信號輸出入軟體模組310,以便在診斷對象的測試模組170和非診斷對象的測試模組170之間接收該診斷用信號。然後,對象診斷軟體模組300依據診斷用信號已接收後的結果來對”診斷對象的測試模組170的輸出入通道是否正常”進行診斷。
1個或多個各別的診斷用信號輸出入軟體模組310(310a~b)設在非診斷對象之非診斷對象測試模組170的每一種類中。各診斷用信號輸出入軟體模組310藉由位置控制裝置130來執行,以對診斷對象測試模組170輸出診斷用信號,或藉由位置控制裝置130來對診斷對象測試模組170所輸出的診斷用信號應輸入時所用的非診斷對象測試模組170進行控制。
切換軟體模組320藉由位置控制裝置130來執行,以便由對象診斷軟體模組300接收一種指示”診斷對象測試模組170和非診斷對象測試模組170之間診斷用信號已被接收”所用的叫出,以叫出此非診斷對象測試模組170受控制時用的診斷用信號輸出入軟體模組310。上述之切換軟體模組320具有:種類識別資訊讀出軟體模組322、構成檔寫入軟體模組324、種類特定軟體模組326、叫出前切換軟體模組328。這些程式或軟體模組藉由位置控制裝置130的CPU2000等來執行,這些軟體模組都是一種程式,其功能是各別使位置控制裝置130作為種類識別資訊讀出部、構成檔寫入部、種類特定部、叫出前切換部。
種類識別資訊讀出軟體模組322藉由位置控制裝置130來執行,藉由位置控制裝置130而由此測試裝置10所具備的多個測試模組170中各別地讀出此測試模組170的種類識別用的種類識別資訊。在各別的測試模組170中此構成檔寫入軟體模組324依據種類識別資訊讀出軟體模組322所讀出的種類識別資訊,使此測試模組170所對應的診斷用信號輸出入軟體模組310識別用的軟體模組識別資訊儲存在一構成檔330中。此處,此構成檔330例如設置成硬碟驅動器2040上的檔,例如,此測試裝置10的各插槽中所插入的各別之測試模組170的種類等的構成資訊儲存在位置控制裝置130上。
種類特定軟體模組326藉由位置控制裝置130來執行,以便由對象診斷軟體模組300接收一種指示”診斷對象測試模組170和非診斷對象測試模組170之間診斷用信號已被輸入或輸出”所用的叫出。然後,種類特定軟體模組326對應於此叫出已被接收之事實以藉由位置控制裝置130來對此非診斷對象測試模組170的種類所對應的診斷用信號輸出入軟體模組310進行特別限定。
叫出前切換軟體模組328藉由位置控制裝置130來執行,且藉由位置控制裝置130來叫出種類特定軟體模組326所特定的診斷用信號輸出入軟體模組310。於是,叫出前切換軟體模組328藉由非診斷對象測試模組170而由診斷對象測試模組170輸入該診斷用信號,或對診斷對象測試模組170輸出該診斷用信號。
診斷控制軟體模組340藉由位置控制裝置130來執行,以對多個測試模組170的診斷進行控制。
依據以上所示的診斷程式20,即使藉由此測試裝置10中所插入的其它的測試模組170的變更以使此測試裝置10的構成變更時,此時診斷對象的測試模組170診斷用的對象診斷軟體模組300仍可不必變更。於是,不論此測試裝置10上所搭載的測試模組170的種類如何,此診斷程式20都可進行適當的診斷處理。
圖4是本實施形式之診斷程式20進行時的構成檔330的作成流程。
首先,依據作為測試對象的DUT100,此測試裝置10的各插槽中插入同步模組150、同步連接模組160、以及測試模組170,以構成此測試裝置10的硬體(S400)。其次,1個或多個各別的位置控制裝置130中使診斷程式20起動,以開始此診斷處理。各別的位置控制裝置130上已執行的診斷程式20在位置控制裝置130所對應的多個各別的測試模組170中依順序進行一種由S420至S440之處理。
其次,種類識別資訊讀出軟體模組322藉由位置控制裝置130以取得一處理對象的測試模組170內的暫存器或快閃記憶體等所儲存的此測試模組170之種類識別資訊(S420)。種類識別資訊例如亦可為此測試模組170的製造者和製造編號等識別用的資訊。
其次,構成檔寫入軟體模組324依據S420中種類識別資訊讀出軟體模組322所讀出的種類識別資訊來對此測試模組170所對應的軟體模組識別資訊進行特別限定(S430),且對應於此測試模組170而儲存在上述的構成檔330中(S440)。
在多個各別的測試模組170中,藉由進行一種由S420至S440之處理,則位置控制裝置130可作成此測試裝置10中已插入的測試模組170的構成顯示用的構成檔330。若不用上述方式,則此測試裝置10的使用者亦可使用人手來作成上述之構成檔330。
圖5是本實施形式之診斷程式20進行時之測試裝置10之診斷流程。圖4中所示的構成檔330的產生終了之後,位置控制裝置130上已執行的診斷控制軟體模組340在多個各別的測試模組170中依序執行對象診斷軟體模組300(S510)。於是此診斷控制軟體模組340依序藉由位置控制裝置130來對多個測試模組170各別地進行診斷(S500,S520)。
全部的測試模組170診斷完成之後,診斷控制軟體模組340使由各別的對象診斷軟體模組300所取得的診斷結果輸出(S530)。測試裝置10的使用者依據此診斷結果可得到”此測試裝置10是否正常地動作”的資訊以及得到”對不良之測試模組170作特別限定”的資訊等。
圖6和圖7是本實施形式之診斷程式20進行時之S510的動作流程。此診斷程式20內的對象診斷軟體模組300、診斷用信號輸出入軟體模組310、以及切換軟體模組320藉由在位置控置裝置130上執行而在圖4之S510中進行圖6和圖7中所示的處理。
首先,診斷程式20內的對象診斷軟體模組300對診斷對象的測試模組170的內部功能進行診斷(S600)。其次,在診斷對象的測試模組170所具有的1個或多個各別的輸入端中,此診斷程式20進行一種由S620至S660的處理(S610,S670)。各別的輸入端中,對象診斷軟體模組300藉由位置控置裝置130來進行一種指示”由該輸入端子所連接的非診斷對象的測試模組170輸出一種診斷用的信號”所用的叫出(S620)。其次,切換軟體模組320內的種類特定軟體模組326依據此叫出以藉由位置控置裝置130來對由對象診斷軟體模組300所指定的非診斷對象測試模組170的種類所對應的診斷用信號輸出入軟體模組310進行特別限定(S630)。即,種類特定軟體模組326藉由位置控置裝置130來對非診斷對象測試模組170的種類進行特別限定,使用該種類以藉由位置控置裝置130來對該構成檔330進行檢索。然後,切換軟體模組320讀出該種類的非診斷對象測試模組170所對應的診斷用信號輸出入軟體模組310的識別資訊。
例如,對象診斷軟體模組300由測試模組170的插槽位置等來對此測試模組170的模組編號作特別限定,其中此測試模組170具有連接至診斷對象測試模組170之該輸入端子的輸出端子。然後,對象診斷軟體模組300亦可使用一種包含該模組編號和該測試模組170內之輸出端子的編號的參數,以進行此切換軟體模組320的叫出。此時,種類特定軟體模組326依據該模組編號來對此模組編號已分配完成的非診斷對象測試模組170進行特別限定,且對此非診斷對象測試模組170的種類所對應的診斷用信號輸出入軟體模組310進行特別限定。若不用上述方式,則對象診斷軟體模組300亦可使用一種包含”對該診斷對象測試模組170的輸入端子作特別限定用的資訊”之參數且採用此切換軟體模組320叫出時所用的構成。此時,切換軟體模組320依據該診斷對象測試模組170的模組編號及該測試模組170內之該輸入端子的資訊來對此測試裝置170(其具有連接至該輸入端子的輸出端子)進行特別限定。然後,此切換軟體模組320對此測試模組170的種類所對應的診斷用信號輸出入軟體模組310進行特別限定。
又,對該對象診斷軟體模組300而來的叫出而言,種類特定軟體模組326亦可對同一種類或不同種類之2種以上的測試模組170各別地進行控制時所用的2種以上的診斷用信號輸出入軟體模組310進行特別限定。
又,藉由一個非診斷對象測試模組170在位置控制裝置130上執行2種以上的診斷用信號輸出入軟體模組310,則在診斷用信號輸出時對由對象診斷軟體模組300而來的叫出而言此種類特定軟體模組326亦可對2種以上的診斷用信號輸出入軟體模組310進行特別限定。
其次,叫出前切換軟體模組328叫出由種類特定軟體模組326所特定的診斷用信號輸出入軟體模組310。已接收此種叫出的診斷用信號輸出入軟體模組310對控制對象的非診斷對象測試模組170進行控制,且由此非診斷對象測試模組170來對診斷對象測試模組170輸出該診斷用信號。結果,診斷對象測試模組170可輸入該診斷用信號(S650)。
此處,對由對象診斷軟體模組300而來的一種叫出而言,叫出前切換軟體模組328亦可將同一種類或不同種類之2種以上的測試模組170各別地進行控制時所用的2種以上的診斷用信號輸出入軟體模組310予以叫出。舉一例而言,對象診斷軟體模組300指出2個以上的測試模組170被重置(reset)時,或指出由2個以上的非診斷對象測試模組170來對診斷對象測試模組170同步地供給診斷用信號時,則此叫出前切換軟體模組328即叫出2個以上的診斷用信號輸出入軟體模組310。
又,藉由一個非診斷對象測試模組170在該位置控制裝置130上執行2個以上的診斷用信號輸出入軟體模組310以輸出該診斷用信號時,叫出前切換軟體模組328對應於由對象診斷軟體模組300而來的叫出以藉由位置控制裝置130依序叫出該2個以上的診斷用信號輸出入軟體模組310。於是,叫出前切換軟體模組328藉由2個以上的診斷用信號輸出入軟體模組310的處理以便由非診斷對象測試模組170輸出該診斷用信號。
其次,對象診斷軟體模組300將此診斷對象測試模組170所輸入的診斷用信號來與期待值相比較,以診斷此診斷對象測試模組170的輸入通道的良否(S660)。
藉由在位置控制裝置130上執行此診斷程式20,以便在診斷對象測試模組170的各輸入端子中進行以上所示的S620至S660的處理。於是,此診斷程式20可對此診斷對象測試模組170的各輸入通道進行診斷。
其次,此診斷程式20在診斷對象測試模組170所具有的1個或多個各別的輸出端子中進行S710至S750的處理(S700,S760)。此處,輸出端子中所進行的S710至S750的處理因為與輸入端子中所進行的S620至S660的處理分別地相對應,則以下除了不同點之外都不再說明。
各別的輸出端子中,對連接至此輸出端子的非診斷對象同步模組150、同步連接模組160、或測試模組170而言,對象診斷軟體模組300藉由位置控制裝置130來進行一種指出”須輸入該診斷用信號”所用的叫出(S710)。其次,切換軟體模組320內的種類特定軟體模組326對應於該叫出以藉由位置控制裝置130來對此對象診斷軟體模組300所指定的非診斷對象測試模組170的種類所對應的診斷用信號輸出入軟體模組310進行特別限定(S720)。此處,對由對象診斷軟體模組300而來的叫出而言,種類特定軟體模組326亦可對同一種類或不同種類之2種以上的測試模組170進行控制時所用的2種以上的診斷用信號輸出入軟體模組310進行特別限定。又,一個非診斷對象測試模組170藉由在位置控制裝置130上執行2個以上的診斷用信號輸出入軟體模組310以輸入該診斷用信號時,對由對象診斷軟體模組300而來的一種叫出而言,種類特定軟體模組326亦可對2個以上的診斷用信號輸出入軟體模組310進行特別限定。
其次,叫出前切換軟體模組328叫出一種由種類特定軟體模組326所特定的診斷用信號輸出入軟體模組310(S730)。已接收此叫出的診斷用信號輸出入軟體模組310對控制對象的非診斷對象測試模組170進行控制,以成為一種”可由診斷對象測試模組170來輸入一種對此診斷對象測試模組170而言是已被輸出的診斷用信號”狀態。在此種狀態中,對象診斷軟體模組300控制著此診斷對象測試模組170,以輸出該診斷用信號(S740)。
此處,對由對象診斷軟體模組300而來的一種叫出而言,叫出前切換軟體模組328亦可叫出同一種類或不同種類之2種以上的測試模組170進行控制時所用的2種以上的診斷用信號輸出入軟體模組310。舉一例而言,由診斷對象的同步連接模組160藉由該2個以上的測試模組170來輸入一種對2個以上的測試模組而言是已被輸出的同步信號時,此叫出前切換軟體模組328會叫出2個以上的診斷用信號輸出入軟體模組310。
又,一個非診斷對象測試模組170藉由在位置控制裝置130上執行2個以上的診斷用信號輸出入軟體模組310以輸入該診斷用信號時,此叫出前切換軟體模組328對應於由對象診斷軟體模組300而來的叫出以藉由位置控制裝置130來依序叫出該2個以上的診斷用信號輸出入軟體模組310。於是,此叫出前切換軟體模組328藉由2個以上的診斷用信號輸出入軟體模組310的處理而由診斷對象測試模組170輸入該診斷用信號。
其次,診斷用信號輸出入軟體模組310使非診斷對象測試模組170所輸入的診斷用信號來與期待值相比較,以診斷此診斷對象測試模組170的輸出通道的良否(S750)。
藉由診斷程式20在位置控制裝置130上執行,則就診斷對象測試模組170的各輸出端子而言可進行以上所示的S710至S750的處理。因此,此診斷程式20可診斷此診斷對象測試模組170的各輸出通道。
其次,此診斷程式20對此測試裝置10的使用者輸出此診斷對象測試模組170的內部功能的診斷結果(S600)、各輸入通道的診斷結果(S610至S670)以及各輸出通道的診斷結果(S700至S760)。此測試裝置10之使用者在接收此診斷結果下可更換不良的測試模組170,使此測試裝置10保持在正常的狀態。
例如,在此測試裝置10的電源投入時或由測試裝置10的使用者指出此診斷處理時,則位置控制裝置130即進行以上所示的診斷處理。然後,此診斷處理之後此測試裝置10可進行1種或多種DUT100的測試。
以上,雖然使用本發明的實施形式來說明本發明,但本發明的技術的應用範圍不限於上述實施形式中所記載的範圍。上述實施形式可施加多種的變更或改良,此為此行的業者所明白。施加多種變更或改良後的實施形式亦是在本發明的範圍中可得到者,這由申請專利範圍的記載即可明白。
例如,以上所示的對象診斷軟體模組300和診斷用信號輸出入軟體模組310亦可對應於各別的測試模組170而設置,其在DUT100測試時可與相對應的測試模組170控制用的測試用軟體模組分別地進行安裝。若不用上述方式,則對象診斷軟體模組300和診斷用信號輸出入軟體模組310亦可組裝在測試用軟體模組中,以實現此測試用軟體模組的一部份功能。
又,由於亦使用該同步模組150和同步連接模組160以將測試信號供給至DUT100,則此診斷程式20亦可與該測試模組170一樣地進行診斷。即,就同步模組150和同步連接模組160等的其它模組而言,此診斷程式20亦可與該測試模組170一樣地進行診斷以作為診斷對象的測試模組。又,此診斷程式20亦可在其與診斷對象測試模組170之間接收該診斷用信號,此時將同步模組150和同步連接模組160等的其它模組作為非診斷對象測試模組。
雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10...測試裝置
20...診斷程式
100a~b...被測試元件(DUT)
110...系統控制裝置
120...通信網路
130a~c...位置控制裝置
140...匯流排開關
150a~b...同步模組
160a~b...同步連接模組
170a~b...測試模組
180...載入板
300a~b...對象診斷軟體模組
310a~b...診斷用信號輸出入軟體模組
320...切換軟體模組
322...種類識別資訊讀出軟體模組
324...構成檔寫入軟體模組
326...種類特定軟體模組
328...叫出前切換軟體模組
330...構成檔
340...診斷控制軟體模組
1900...電腦
2000...中央處理單元(CPU)
2010...唯讀記憶體(ROM)
2020...隨機存取記憶體(RAM)
2030...通信介面
2040...硬碟驅動器
2050...軟碟驅動器
2060...CD-ROM驅動器
2070...輸出入晶片
2075...圖形控制器
2080...顯示裝置
2082...主控制器
2084...輸出入控制器
2090...軟碟
2095...CD-ROM
圖1是本發明的實施形式之測試裝置10之構成。
圖2是本發明的實施形式之位置(site)控制裝置130的構成。
圖3是本發明的實施形式之位置(site)控制裝置130上進行動作用之診斷程式20之構成。
圖4是本發明的實施形式之診斷程式20進行時的構成檔330的作成流程。
圖5是本發明的實施形式之診斷程式20進行時之測試裝置10之診斷流程。
圖6是本發明的實施形式之診斷程式20進行時之S510的動作流程的前半部份。
圖7是本發明的實施形式之診斷程式20進行時之S510的動作流程的後半部份。
10...測試裝置
100a~b...被測試元件(DUT)
110...系統控制裝置
120...通信網路
130a~c...位置控制裝置
140...匯流排開關
150a~b...同步模組
160a~b...同步連接模組
170a~b...測試模組
180...載入板
Claims (10)
- 一種診斷用電腦程式產品,在具備控制裝置及多個測試模組的測試裝置中,藉由該控制裝置來診斷該多個測試模組,其中該多個測試模組使測試信號供給至被測試元件;該控制裝置對該多個測試模組進行控制,此診斷用電腦程式產品具備:對象診斷軟體模組,其藉由上述控制裝置來診斷一成為診斷對象的診斷對象測試模組;診斷用信號輸出入軟體模組,其設在非診斷對象的非診斷對象測試模組的每一種類中,對上述診斷對象測試模組輸出診斷用信號,或藉由上述控制裝置來控制該診斷對象測試模組所輸出的診斷用信號應輸入時所用的非診斷對象測試模組;種類特定軟體模組,其由對象診斷軟體模組接收一種叫出以指出其與非診斷對象測試模組之間該診斷用信號的輸入或輸出,於是藉由控制裝置來對該非診斷對象測試模組的種類所對應的診斷用信號輸出入軟體模組進行特別限定;以及叫出前切換軟體模組,其藉由該控制裝置來叫出上述種類特定軟體模組所特定的診斷用信號輸出入軟體模組,且藉由該非診斷對象測試模組而由該診斷對象測試模組使診斷用信號輸入,或對該診斷對象測試模組輸出該診斷用信號,其中該診斷用信號輸出入軟體模組為多個。
- 如申請專利範圍第1項所述之診斷用電腦程式產品,其中種類特定軟體模組可對一種構成檔進行檢索,以讀出該非診斷對象測試模組所對應的診斷用信號輸出入軟體模組的識別資訊,其中此構成檔儲存著軟體模組識別資訊以對該控制裝置上所儲存-及該測試裝置所具備的多個測試模組各別所對應的診斷用信號輸出入軟體模組進行識別。
- 如申請專利範圍第2項所述之診斷用電腦程式產品,其中就此測試裝置所具備的多個各別的測試模組而言,此診斷用電腦程式產品更可另外具備:種類識別資訊讀出軟體模組,其藉由上述之控制裝置以讀出該測試模組內所儲存的該測試模組的種類識別用的種類識別資訊;以及構成檔寫入軟體模組,其就該測試裝置所具備的多個各別的測試模組而言依據該種類識別資訊讀出軟體模組所讀出的種類識別資訊,使該測試模組所對應的診斷用信號輸出入軟體模組識別用的軟體模組識別資訊儲存在上述的構成檔中。
- 如申請專利範圍第1項所述之診斷用電腦程式產品,其中一個非診斷對象測試模組在控制裝置上藉由2個以上的上述診斷用信號輸出入軟體模組的執行以使上述診斷用信號輸入或輸出時,上述叫出前切換軟體模組可對應於其與非診斷對象測試模組之間診斷用信號的輸入或輸出之指示用的叫出,以藉由此控制裝置依序叫出上述2個以 上的上述診斷用信號輸出入軟體模組。
- 如申請專利範圍第1項所述之診斷用電腦程式產品,其中該診斷用信號輸出入軟體模組是相對於該診斷對象測試模組,經由輸出通道使診斷用信號輸出,或者是使該診斷對象測試模組所輸出的診斷信號,經由輸入通道而輸入,且該對象診斷軟體模組進行下述動作:比較期望值、與由該非診斷對象測試模組所輸出且由該診斷對象測試模組所輸入的診斷用信號,並判斷該診斷對象測試模組的該輸入通道是否正常;以及比較期望值、與由該診斷對象測試模組所輸出且由該非診斷對象測試模組所輸入的診斷用信號,並判斷該診斷對象測試模組的該輸出通道是否正常。
- 一種切換用電腦程式產品,在具備控制裝置及多個測試模組的測試裝置中,藉由該控制裝置來對成為診斷對象的診斷對象測試模組進行診斷所用的對象診斷軟體模組而被呼叫出,且該切換用電腦程式產品藉由該控制裝置來對非診斷對象的非診斷對象測試模組進行控制所用的多個診斷用信號輸出入軟體模組進行切換,其中該多個測試模組將測試信號供給至被測試元件,且該控制裝置對該多個測試模組進行控制,該多個診斷用信號輸出入軟體模組設在非診斷對象的非診斷對象測試模組的每一種類中,且對診斷對象測試模組輸出診斷用信號,或藉由控制裝置來對診斷對象測試模 組所輸出的診斷用信號應輸入時所用的非診斷對象測試模組進行控制,此切換用電腦程式產品具備:種類特定軟體模組,其由對象診斷軟體模組接收其與非診斷對象測試模組之間上述診斷用信號輸入或輸出之指示用的叫出,於是藉由控制裝置來對該非診斷對象測試模組的種類所對應的診斷用信號輸出入軟體模組進行特別限定;以及叫出前切換軟體模組,其藉由該控制裝置來叫出上述種類特定軟體模組所特定的診斷用信號輸出入軟體模組,且藉由該非診斷對象測試模組而由該診斷對象測試模組使診斷用信號輸入,或對該診斷對象測試模組輸出該診斷用信號。
- 一種對被測試元件進行測試用的測試裝置,其具備:多個測試模組,其將測試信號供給至被測試元件;以及控制裝置,其對該多個測試模組進行控制,此控制裝置藉由該測試模組診斷用的診斷程式之執行而具有以下的功能:對象診斷部,其對成為診斷對象的診斷對象測試模組進行診斷;診斷用信號輸出入部,其設在非診斷對象的非診斷對象測試模組的每一種類中,且由非診斷對象測試模組而對診斷對象測試模組輸出診斷用信號,或藉由非診斷對象測試模組使診斷對象測試模組所輸出的診斷用信號輸入; 種類特定部,其由對象診斷部接收其與非診斷對象測試模組之間上述診斷用信號輸入或輸出之指示用的叫出,以對該非診斷對象測試模組的種類所對應的診斷用信號輸出入部進行特別限定;以及叫出前切換部,其叫出該種類特定部所特定的上述診斷用信號輸出入部,藉由該非診斷對象測試模組使該診斷用信號由診斷對象測試模組輸入,或使診斷用信號對診斷對象測試模組輸出,其中該診斷用信號輸出入部為多個。
- 一種在具備控制裝置及多個測試模組的測試裝置中藉由該控制裝置來對該多個測試模組進行診斷用的診斷方法,其中該多個測試模組將測試信號供給至被測試元件,且該控制裝置對該多個測試模組進行控制,此診斷方法具備:對象診斷步驟,其藉由控制裝置來對成為診斷對象的診斷對象測試模組進行診斷;診斷用信號輸出入步驟,其設在非診斷對象的非診斷對象測試模組的每一種類中,且對診斷對象測試模組輸出診斷用信號,或藉由控制裝置來對診斷對象測試模組所輸出的診斷用信號應輸入時所用的非診斷對象測試模組進行控制;種類特定步驟,其對應於由對象診斷步驟指出其與非診斷對象測試模組之間上述診斷用信號之輸入或輸出,以藉由控制裝置來對該非診斷對象測試模組的種類所對應的 診斷用信號輸出入步驟進行特別限定;以及叫出前切換步驟,其藉由控制裝置來進行由該種類特定步驟所特定的上述診斷用信號輸出入步驟的處理,藉由該非診斷對象測試模組使該診斷用信號由診斷對象測試模組輸入,或使診斷用信號對診斷對象測試模組輸出,其中該診斷用信號輸出入步驟進行多次。
- 一種記錄著診斷程式的記錄媒體,此診斷程式在具備控制裝置及多個測試模組的測試裝置中,藉由該控制裝置來診斷該多個測試模組,其中該多個測試模組使測試信號供給至被測試元件,且該控制裝置對該多個測試模組進行控制,此診斷程式具備:對象診斷軟體模組,其藉由上述控制裝置來診斷一成為診斷對象的診斷對象測試模組;診斷用信號輸出入軟體模組,其設在非診斷對象的非診斷對象測試模組的每一種類中,對上述診斷對象測試模組輸出診斷用信號,或藉由上述控制裝置來控制該診斷對象測試模組所輸出的診斷用信號應輸入時所用的非診斷對象測試模組;種類特定軟體模組,其由對象診斷軟體模組接收一種叫出以指出其與非診斷對象測試模組之間該診斷用信號的輸入或輸出,於是藉由控制裝置來對該非診斷對象測試模組的種類所對應的診斷用信號輸出入軟體模組進行特別限定;以及叫出前切換軟體模組,其藉由該控制裝置來叫出上述 種類特定軟體模組所特定的診斷用信號輸出入軟體模組,且藉由該非診斷對象測試模組而由該診斷對象測試模組使診斷用信號輸入,或對該診斷對象測試模組輸出該診斷用信號,其中該診斷用信號輸出入軟體模組為多個。
- 一種記錄著切換程式之記錄媒體,此切換程式在具備控制裝置及多個測試模組的測試裝置中,藉由該控制裝置來對成為診斷對象的診斷對象測試模組進行診斷所用的對象診斷軟體模組而被呼叫出,且切換程式藉由該控制裝置來對非診斷對象的非診斷對象測試模組進行控制所用的多個診斷用信號輸出入軟體模組進行切換,其中該多個測試模組將測試信號供給至被測試元件,且該控制裝置對該多個測試模組進行控制,該多個診斷用信號輸出入軟體模組設在非診斷對象的非診斷對象測試模組的每一種類中,且對診斷對象測試模組輸出診斷用信號,或藉由控制裝置來對診斷對象測試模組所輸出的診斷用信號應輸入時所用的非診斷對象測試模組進行控制,此切換程式具備:種類特定軟體模組,其由對象診斷軟體模組接收其與非診斷對象測試模組之間上述診斷用信號輸入或輸出之指示用的叫出,於是藉由控制裝置來對該非診斷對象測試模組的種類所對應的診斷用信號輸出入軟體模組進行特別限定;以及 叫出前切換軟體模組,其藉由該控制裝置來叫出上述種類特定軟體模組所特定的診斷用信號輸出入軟體模組,且藉由該非診斷對象測試模組而由該診斷對象測試模組使診斷用信號輸入,或對該診斷對象測試模組輸出該診斷用信號。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005100018A JP2006275986A (ja) | 2005-03-30 | 2005-03-30 | 診断プログラム、切替プログラム、試験装置、および診断方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200634507A TW200634507A (en) | 2006-10-01 |
TWI403894B true TWI403894B (zh) | 2013-08-01 |
Family
ID=37072038
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW095110503A TWI403894B (zh) | 2005-03-30 | 2006-03-27 | 診斷用電腦程式產品、切換用電腦程式產品、測試裝置以及診斷方法 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7802140B2 (zh) |
EP (1) | EP1876458B1 (zh) |
JP (1) | JP2006275986A (zh) |
KR (1) | KR100919942B1 (zh) |
CN (1) | CN101147074A (zh) |
DE (1) | DE602006010685D1 (zh) |
MY (1) | MY141134A (zh) |
TW (1) | TWI403894B (zh) |
WO (1) | WO2006109463A1 (zh) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2005
- 2005-03-30 JP JP2005100018A patent/JP2006275986A/ja active Pending
- 2005-04-26 US US11/114,927 patent/US7802140B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-03-22 KR KR1020077024613A patent/KR100919942B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2006-03-22 WO PCT/JP2006/305679 patent/WO2006109463A1/ja active Application Filing
- 2006-03-22 EP EP06729646A patent/EP1876458B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-03-22 CN CNA2006800091659A patent/CN101147074A/zh active Pending
- 2006-03-22 DE DE602006010685T patent/DE602006010685D1/de active Active
- 2006-03-27 TW TW095110503A patent/TWI403894B/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-03-29 MY MYPI20061381A patent/MY141134A/en unknown
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US7802140B2 (en) | 2010-09-21 |
JP2006275986A (ja) | 2006-10-12 |
WO2006109463A1 (ja) | 2006-10-19 |
KR20070121020A (ko) | 2007-12-26 |
EP1876458B1 (en) | 2009-11-25 |
CN101147074A (zh) | 2008-03-19 |
US20060224926A1 (en) | 2006-10-05 |
TW200634507A (en) | 2006-10-01 |
KR100919942B1 (ko) | 2009-10-05 |
EP1876458A1 (en) | 2008-01-09 |
MY141134A (en) | 2010-03-15 |
DE602006010685D1 (de) | 2010-01-07 |
EP1876458A4 (en) | 2009-01-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |