JP5008676B2 - プログラム、記録媒体、試験装置および診断方法 - Google Patents
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Description
1.米国特許出願番号 11/607,824 出願日2006年12月01日
12 ロードボード
14 試験モジュール
16 計測器
20 制御装置
22 バス
30 診断プログラム
42 診断制御ソフトウェアモジュール
44 対象診断ソフトウェアモジュール
46 バス制御ソフトウェアモジュール
48 診断インターフェイスプログラム
52 取得モジュール
54 計測ソフトウェアモジュール
56 切替ソフトウェアモジュール
60 構成ファイル
100 DUT
1900 コンピュータ
2000 CPU
2010 ROM
2020 RAM
2030 通信インターフェイス
2040 ハードディスクドライブ
2050 フレキシブルディスク・ドライブ
2060 CD−ROMドライブ
2070 入出力チップ
2075 グラフィック・コントローラ
2080 表示装置
2082 ホスト・コントローラ
2084 入出力コントローラ
2090 フレキシブルディスク
2095 CD−ROM
試験装置10は、ロードボード12と、少なくとも1つの試験モジュール14と、計測器16と、制御装置20とを備える。ロードボード12は、DUT100を載置し、試験モジュール14とDUT100との間を接続する。ここで、診断をする場合、試験装置10は、試験用のロードボード12に代えて、DUT100を載置しない診断用のロードボード12を備えてよい。
計測器16は、試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する。計測器16は、制御装置20からコマンドが与えられ、与えられたコマンドに応じた計測をする。そして、計測器16は、計測して得られた結果を制御装置20に返信する。
ホスト・コントローラ2082は、RAM2020と、高い転送レートでRAM2020をアクセスするCPU2000及びグラフィック・コントローラ2075とを接続する。CPU2000は、ROM2010及びRAM2020に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ2075は、CPU2000等がRAM2020内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置2080上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ2075は、CPU2000等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。
Claims (9)
- 試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、前記試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、前記試験モジュールおよび前記計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、前記制御装置により前記計測器を用いて前記複数の試験モジュールを診断させる診断プログラムを記録した記録媒体であって、
前記診断プログラムは、
診断対象となる前記試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールと、
前記試験装置に搭載された前記計測器の種類を示す計測器識別情報を前記制御装置により取得させる取得モジュールと、
前記計測器の種類毎に設けられ、前記制御装置上で実行されて、前記試験モジュールの前記基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを前記制御装置から前記計測器へと発行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールと、
前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記対象診断ソフトウェアモジュールに返送する切替ソフトウェアモジュールと
を備える記録媒体。 - 前記診断プログラムは、前記制御装置および前記計測器の間を接続するバスの種類毎に設けられ、当該バスを介して前記制御装置および前記計測器の間の通信を前記制御装置により行わせるバス制御ソフトウェアモジュールを更に備え、
前記取得モジュールは、前記制御装置および前記計測器の間を接続するバスの種類を示すバス識別情報を前記制御装置により更に取得させ、
前記切替ソフトウェアモジュールは、前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させ、
前記切替ソフトウェアモジュールから呼び出された前記計測ソフトウェアモジュールは、前記バス識別情報により識別されるバスに応じた前記バス制御ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させて、前記制御装置から前記計測器へと前記コマンドを発行させ前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取らせる
請求項1に記載の記録媒体。 - 前記取得モジュールは、前記制御装置上に記憶された、前記試験装置が搭載している前記試験モジュール、前記計測器、および前記バスの識別情報を格納する構成ファイルを前記制御装置により検索させ、前記試験装置に搭載された前記計測器に対応する前記計測器識別情報および前記バス識別情報を前記制御装置により読み出させる請求項2に記載の記録媒体。
- 前記取得モジュールは、
前記制御装置に接続されたそれぞれの前記バスに前記計測器が接続されているか否かを前記制御装置により検出させて、前記計測器が検出された前記バスの識別情報を前記バス識別情報とし、
前記バス制御ソフトウェアモジュールを呼び出して、前記試験装置に搭載された前記計測器内に記憶された、当該計測器の種類を識別する前記計測器識別情報を前記制御装置により読み出させる
請求項2または3に記載の記録媒体。 - 試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、前記試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、前記試験モジュールおよび前記計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、診断対象となる前記試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールから呼び出されて、前記制御装置により前記計測器を制御させる診断インターフェイスプログラムを記録した記録媒体であって、
前記診断インターフェイスプログラムは、
前記試験装置に搭載された前記計測器の種類を示す計測器識別情報を前記制御装置により取得させる取得モジュールと、
前記計測器の種類毎に設けられ、前記制御装置上で実行されて、前記試験モジュールの前記基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを前記制御装置から前記計測器へと発行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールと、
前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記対象診断ソフトウェアモジュールに返送する切替ソフトウェアモジュールと
を備える記録媒体。 - 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、
前記試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、
前記試験モジュールおよび前記計測器を制御する制御装置と
を備え、
前記制御装置は、前記計測器を用いて前記複数の試験モジュールを診断させる診断プログラムを実行することにより、
診断対象となる前記試験モジュールを診断する対象診断部と、
前記試験装置に搭載された前記計測器の種類を示す計測器識別情報を取得する取得部と、
前記計測器の種類毎に設けられ、前記制御装置上で実行されて、前記試験モジュールの前記基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを前記計測器へと発行し、前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取る計測処理部と、
前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断部から受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測処理部を呼び出して実行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記対象診断部に返送する切替部と
して機能する試験装置。 - 試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、前記試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、前記試験モジュールおよび前記計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、前記制御装置により前記計測器を用いて前記複数の試験モジュールを診断させる診断方法であって、
診断対象となる前記試験モジュールを診断させる対象診断ソフトウェアモジュールを前記制御装置上で実行させることと、
前記試験装置に搭載された前記計測器の種類を示す計測器識別情報を前記制御装置により取得させることと、
前記計測器の種類毎に設けられ、前記制御装置上で実行されて、前記試験モジュールの前記基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを前記制御装置から前記計測器へと発行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールを前記制御装置上で実行させることと、
前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記対象診断ソフトウェアモジュールに返送することと
を備える診断方法。 - 試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、前記試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、前記試験モジュールおよび前記計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、前記制御装置により前記計測器を用いて前記複数の試験モジュールを診断させる診断プログラムであって、
診断対象となる前記試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールと、
前記試験装置に搭載された前記計測器の種類を示す計測器識別情報を前記制御装置により取得させる取得モジュールと、
前記計測器の種類毎に設けられ、前記制御装置上で実行されて、前記試験モジュールの前記基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを前記制御装置から前記計測器へと発行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールと、
前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記対象診断ソフトウェアモジュールに返送する切替ソフトウェアモジュールと
を備える診断プログラム。 - 試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、前記試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、前記試験モジュールおよび前記計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、診断対象となる前記試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールから呼び出されて、前記制御装置により前記計測器を制御させる診断インターフェイスプログラムであって、
前記試験装置に搭載された前記計測器の種類を示す計測器識別情報を前記制御装置により取得させる取得モジュールと、
前記計測器の種類毎に設けられ、前記制御装置上で実行されて、前記試験モジュールの前記基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを前記制御装置から前記計測器へと発行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールと、
前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記対象診断ソフトウェアモジュールに返送する切替ソフトウェアモジュールと
を備える診断インターフェイスプログラム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/607,824 | 2006-12-01 | ||
US11/607,824 US7552028B2 (en) | 2006-12-01 | 2006-12-01 | Recording medium, test apparatus and diagnostic method |
PCT/JP2007/071636 WO2008065863A1 (fr) | 2006-12-01 | 2007-11-07 | Programme, support d'enregistrement, appareil de test et procédé de diagnostic |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2008065863A1 JPWO2008065863A1 (ja) | 2010-03-04 |
JP5008676B2 true JP5008676B2 (ja) | 2012-08-22 |
Family
ID=39467658
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008546929A Expired - Fee Related JP5008676B2 (ja) | 2006-12-01 | 2007-11-07 | プログラム、記録媒体、試験装置および診断方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7552028B2 (ja) |
JP (1) | JP5008676B2 (ja) |
KR (1) | KR20090088415A (ja) |
DE (1) | DE112007002963T5 (ja) |
TW (1) | TWI352207B (ja) |
WO (1) | WO2008065863A1 (ja) |
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- 2007-11-07 KR KR1020097012912A patent/KR20090088415A/ko not_active Application Discontinuation
- 2007-11-07 DE DE112007002963T patent/DE112007002963T5/de not_active Withdrawn
- 2007-11-07 JP JP2008546929A patent/JP5008676B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-11-07 WO PCT/JP2007/071636 patent/WO2008065863A1/ja active Application Filing
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100909 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120522 |
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