JP5008676B2 - プログラム、記録媒体、試験装置および診断方法 - Google Patents

プログラム、記録媒体、試験装置および診断方法 Download PDF

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Description

本発明は、記録媒体、試験装置および診断方法に関する。特に本発明は、試験信号を被試験デバイスに供給する複数の試験モジュールと、複数の試験モジュールを制御する制御装置とを備える試験装置において、試験モジュールを診断させるプログラムを記録した記録媒体、試験装置および診断方法に関する。文献の参照による組み込みが認められる指定国については、下記の出願に記載された内容を参照により本出願に組み込み、本出願の一部とする。
1.米国特許出願番号 11/607,824 出願日2006年12月01日
メモリ、ロジックLSI、又はSoC(System on Chip)等のDUT(Device Under Test:被試験デバイス)を試験する試験装置は、DUTとの間で信号を入出力する試験モジュールを備える。試験装置は、一例として、試験モジュールからDUTの基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しに対して試験信号を供給し、試験信号に応じてDUTの出力端子から出力される出力信号を試験モジュールにより受けて期待値と比較することにより、DUTの良否を判定する。
試験装置は、異常有無を判定することを目的として診断機能を有する。試験装置は、診断の過程において、各試験モジュールに異常があるかどうかについても診断する。試験モジュールの診断において、試験装置は、一例として、診断対象の試験モジュールの基準電圧、基準電流および基準抵抗等を計測器により計測し、計測結果が正常な範囲にあるかを判定する。また、試験モジュールの診断において、試験装置の制御装置は、プログラムを実行し、例えばGP−IB等のバスを介してコマンドを送信して計測器を制御する。なお、現時点で先行技術文献の存在を認識していないので、先行技術文献に関する記載を省略する。
ところで、試験装置に備えられる計測器の種類を変更した場合、制御装置から計測器に与えるコマンドが変更されてしまうので、プログラムについても対応する修正を行う必要があった。また、試験装置に備えられる計測器の種類を変更した場合、計測器および制御装置の間を接続するバスも変更される場合がある。この場合も、プログラムの修正が必要となった。従って、試験モジュールの設計者は、試験装置に搭載された計測器の種類が変更する毎に、当該試験モジュールを診断するプログラムを修正しなければならなかった。
そこで本発明の1つの側面においては、上記の課題を解決することのできる記録媒体、試験装置および診断方法を提供することを目的とする。この目的は請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
即ち、本発明の第1形態によると、試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、試験モジュールおよび計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、制御装置により計測器を用いて複数の試験モジュールを診断させる診断プログラムを記録した記録媒体であって、診断プログラムは、診断対象となる試験モジュールを制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールと、試験装置に搭載された計測器の種類を示す計測器識別情報を制御装置により取得させる取得モジュールと、計測器の種類毎に設けられ、制御装置上で実行されて、試験モジュールの基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを制御装置から計測器へと発行させ、基準パラメータの計測結果を計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールと、試験モジュールが有する基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、計測器識別情報により識別される計測器に応じた計測ソフトウェアモジュールを呼び出して制御装置により実行させ、基準パラメータの計測結果を対象診断ソフトウェアモジュールに返送する切替ソフトウェアモジュールとを備える記録媒体を提供する。
本発明の第2形態によると、試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、試験モジュールおよび計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、診断対象となる試験モジュールを制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールから呼び出されて、制御装置により計測器を制御させる診断インターフェイスプログラムを記録した記録媒体であって、診断インターフェイスプログラムは、試験装置に搭載された計測器の種類を示す計測器識別情報を制御装置により取得させる取得モジュールと、計測器の種類毎に設けられ、制御装置上で実行されて、試験モジュールの基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを制御装置から計測器へと発行させ、基準パラメータの計測結果を計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールと、試験モジュールが有する基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、計測器識別情報により識別される計測器に応じた計測ソフトウェアモジュールを呼び出して制御装置により実行させ、基準パラメータの計測結果を対象診断ソフトウェアモジュールに返送する切替ソフトウェアモジュールとを備える記録媒体を提供する。
本発明の第3形態によると、被試験デバイスを試験する試験装置であって、試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、試験モジュールおよび計測器を制御する制御装置とを備え、制御装置は、計測器を用いて複数の試験モジュールを診断させる診断プログラムを実行することにより、診断対象となる試験モジュールを診断する対象診断部と、試験装置に搭載された計測器の種類を示す計測器識別情報を取得する取得部と、計測器の種類毎に設けられ、制御装置上で実行されて、試験モジュールの基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを計測器へと発行し、基準パラメータの計測結果を計測器から受け取る計測処理部と、試験モジュールが有する基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを対象診断部から受けたことに応じて、計測器識別情報により識別される計測器に応じた計測処理部を呼び出して実行させ、基準パラメータの計測結果を対象診断部に返送する切替部として機能する試験装置を提供する。
本発明の第4形態によると、試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、試験モジュールおよび計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、制御装置により計測器を用いて複数の試験モジュールを診断させる診断方法であって、診断対象となる試験モジュールを診断させる対象診断ソフトウェアモジュールを制御装置上で実行させることと、試験装置に搭載された計測器の種類を示す計測器識別情報を制御装置により取得させることと、計測器の種類毎に設けられ、制御装置上で実行されて、試験モジュールの基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを制御装置から計測器へと発行させ、基準パラメータの計測結果を計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールを制御装置上で実行させることと、試験モジュールが有する基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、計測器識別情報により識別される計測器に応じた計測ソフトウェアモジュールを呼び出して制御装置により実行させ、基準パラメータの計測結果を対象診断ソフトウェアモジュールに返送することとを備える診断方法を提供する。
即ち、本発明の第5形態によると、試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、試験モジュールおよび計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、制御装置により計測器を用いて複数の試験モジュールを診断させる診断プログラムであって、診断対象となる試験モジュールを制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールと、試験装置に搭載された計測器の種類を示す計測器識別情報を制御装置により取得させる取得モジュールと、計測器の種類毎に設けられ、制御装置上で実行されて、試験モジュールの基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを制御装置から計測器へと発行させ、基準パラメータの計測結果を計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールと、試験モジュールが有する基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、計測器識別情報により識別される計測器に応じた計測ソフトウェアモジュールを呼び出して制御装置により実行させ、基準パラメータの計測結果を対象診断ソフトウェアモジュールに返送する切替ソフトウェアモジュールとを備える診断プログラムを提供する。
本発明の第6形態によると、試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、試験モジュールおよび計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、診断対象となる試験モジュールを制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールから呼び出されて、制御装置により計測器を制御させる診断インターフェイスプログラムであって、試験装置に搭載された計測器の種類を示す計測器識別情報を制御装置により取得させる取得モジュールと、計測器の種類毎に設けられ、制御装置上で実行されて、試験モジュールの基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを制御装置から計測器へと発行させ、基準パラメータの計測結果を計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールと、試験モジュールが有する基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、計測器識別情報により識別される計測器に応じた計測ソフトウェアモジュールを呼び出して制御装置により実行させ、基準パラメータの計測結果を対象診断ソフトウェアモジュールに返送する切替ソフトウェアモジュールとを備える診断インターフェイスプログラムを提供する。なお上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションも又発明となりうる。
図1は、本発明の実施形態に係る試験装置10の構成をDUT100とともに示す。(実施例1) 図2は、本発明の実施形態に係る制御装置20のハードウェア構成の一例を示す。(実施例1) 図3は、本発明の実施形態に係る制御装置20上で動作する診断プログラム30の構成を、計測器16およびバス22とともに示す。(実施例1) 図4は、本発明の実施形態に係る診断プログラム30による試験装置10の診断フローを示す。(実施例1) 図5は、本発明の実施形態に係る診断プログラム30によるステップS1012における動作フローを示す。(実施例1)
符号の説明
10 試験装置
12 ロードボード
14 試験モジュール
16 計測器
20 制御装置
22 バス
30 診断プログラム
42 診断制御ソフトウェアモジュール
44 対象診断ソフトウェアモジュール
46 バス制御ソフトウェアモジュール
48 診断インターフェイスプログラム
52 取得モジュール
54 計測ソフトウェアモジュール
56 切替ソフトウェアモジュール
60 構成ファイル
100 DUT
1900 コンピュータ
2000 CPU
2010 ROM
2020 RAM
2030 通信インターフェイス
2040 ハードディスクドライブ
2050 フレキシブルディスク・ドライブ
2060 CD−ROMドライブ
2070 入出力チップ
2075 グラフィック・コントローラ
2080 表示装置
2082 ホスト・コントローラ
2084 入出力コントローラ
2090 フレキシブルディスク
2095 CD−ROM
以下、発明の実施の形態を通じて本発明の一側面を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、又実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、本実施形態に係る試験装置10の構成をDUT100とともに示す。試験装置10は、DUT100(Device Under Test:被試験デバイス)を試験する。より詳しくは、試験装置10は、試験信号を生成してDUT100に供給し、DUT100が試験信号に基づいて動作した結果出力する出力信号が期待値と一致するか否かに基づいてDUT100の良否を判断する。
試験装置10は、ロードボード12と、少なくとも1つの試験モジュール14と、計測器16と、制御装置20とを備える。ロードボード12は、DUT100を載置し、試験モジュール14とDUT100との間を接続する。ここで、診断をする場合、試験装置10は、試験用のロードボード12に代えて、DUT100を載置しない診断用のロードボード12を備えてよい。
各試験モジュール14(14−1〜14−n(nは正の整数))は、DUT100が有する端子に接続され、制御装置20から与えられた試験プログラム及び試験データに基づいてDUT100の試験を行う。DUT100の試験において、各試験モジュール14は、試験プログラムにより定められたシーケンスに基づいて試験データから試験信号を生成し、当該試験モジュール14に接続されたDUT100の端子に試験信号を供給する。さらに、試験モジュール14は、DUT100が試験信号に基づいて動作した結果出力する出力信号を取得し、期待値と比較する。そして、試験モジュール14は、出力信号と期待値との比較結果を、試験結果として制御装置20に送信する。
また、試験モジュール14は、一例として、基準電圧源、基準抵抗および基準電流源等を有してよい。試験時において、試験モジュール14は、基準電圧源、基準抵抗および基準電流源等を用いて試験信号の生成および出力信号の取得をする。
計測器16は、試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する。計測器16は、制御装置20からコマンドが与えられ、与えられたコマンドに応じた計測をする。そして、計測器16は、計測して得られた結果を制御装置20に返信する。
診断時において、計測器16は、制御装置20によるスイッチ制御等により、診断対象となる試験モジュール14が有する例えば電圧源、抵抗および電流源と接続される。そして、計測器16は、制御装置20から与えられたコマンドに応じて、接続された試験モジュール14が有する電圧源から発生された基準電圧の値、当該試験モジュール14が有する基準抵抗の値、当該試験モジュール14が有する基準電流源により発生される基準電流の値の少なくとも一つを、基準パラメータとして計測する。
制御装置20は、各試験モジュール14および制御装置20を制御する。試験時において、制御装置20は、試験モジュール14を制御する。制御装置20は、一例として、DUT100の試験に用いる試験プログラム及び試験データを当該試験に用いる試験モジュール14に格納する。次に、制御装置20は、試験プログラム及び試験データに基づく試験の開始を当該試験に用いる試験モジュール14に指示して、試験を実行させる。そして、制御装置20は、試験が終了したことを示す割込み等を試験モジュール14から受信し、試験結果に基づいて次の試験を試験モジュール14に行わせる。
また、試験モジュール14の診断時において、制御装置20は、計測器16を制御する。制御装置20は、例えば記録媒体により提供される診断プログラムを実行することにより、計測器16を制御する。それぞれの試験モジュール14の診断において、制御装置20は、スイッチ等を制御して、診断対象の試験モジュール14と計測器16とを接続する。続いて、制御装置20は、計測器16にコマンドを発行して、診断対象の試験モジュール14が有する基準パラメータ(基準電圧、基準抵抗および基準電流の少なくとも1つを含むパラメータ)を当該計測器16により計測させる。そして、制御装置20は、基準パラメータの計測結果を受信して、診断対象の試験モジュールの基準パラメータが本来出力されるべき値となるように補正する。また、制御装置20は、計測器16による計測結果を受信し、当該計測結果に基づき診断対象の試験モジュール14が正常に動作しているか否かを判定してもよい。
以上のような構成の試験装置10によれば、DUT100を試験することができる。さらに、試験装置10によれば、各試験モジュール14が正常に動作するように補正することができる。
ここで、試験装置10は、搭載している第1種類の計測器16(16−1)を、例えば製造元、製品バージョン等が異なることにより制御装置20から与えられるコマンド体系が異なる第2種類の計測器16(16−2)に交換可能となっている。搭載された計測器16を種類の異なる他の計測器16に交換した場合であっても、試験装置10によれば、制御装置20が実行する診断プログラムの記述を変更せずに、各試験モジュール14の診断を行うことができる。
また、試験装置10は、制御装置20および計測器16の間を接続する複数種類のバス22(22−1、22−2、…)を更に備えてよい。バス22は、一例として、GP−IB(General Purpose − Interface bus)およびUSB(Universal Serial Bus)等であってよい。ここで、試験装置10に搭載された計測器16が他の計測器16に交換された場合、交換後の計測器16は、交換前の計測器16が接続されていた第1種類のバス22(22−1)とは異なる、第2種類のバス22(22−2)に接続されてよい。このように計測器16に接続されるバス22の種類が切り替えられた場合であっても、試験装置10は、制御装置20が実行する診断プログラムの記述を変更せずに、各試験モジュール14の診断を行うことができる。
図2は、本実施形態に係る制御装置20のハードウェア構成の一例を示す。制御装置20として動作するコンピュータ1900は、ホスト・コントローラ2082により相互に接続されるCPU2000、RAM2020、グラフィック・コントローラ2075、及び表示装置2080を有するCPU周辺部と、入出力コントローラ2084によりホスト・コントローラ2082に接続される通信インターフェイス2030、ハードディスクドライブ2040、及びCD−ROMドライブ2060を有する入出力部と、入出力コントローラ2084に接続されるROM2010、フレキシブルディスク・ドライブ2050、及び入出力チップ2070を有するレガシー入出力部とを備える。
ホスト・コントローラ2082は、RAM2020と、高い転送レートでRAM2020をアクセスするCPU2000及びグラフィック・コントローラ2075とを接続する。CPU2000は、ROM2010及びRAM2020に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ2075は、CPU2000等がRAM2020内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置2080上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ2075は、CPU2000等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。
入出力コントローラ2084は、ホスト・コントローラ2082と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス2030、ハードディスクドライブ2040、CD−ROMドライブ2060を接続する。通信インターフェイス2030は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ2040は、コンピュータ1900内のCPU2000が使用するプログラム及びデータを格納する。CD−ROMドライブ2060は、CD−ROM2095からプログラム又はデータを読み取り、RAM2020を介してハードディスクドライブ2040に提供する。
また、入出力コントローラ2084には、ROM2010と、フレキシブルディスク・ドライブ2050、及び入出力チップ2070の比較的低速な入出力装置とが接続される。ROM2010は、コンピュータ1900が起動時に実行するブート・プログラムや、コンピュータ1900のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ2050は、フレキシブルディスク2090からプログラム又はデータを読み取り、RAM2020を介してハードディスクドライブ2040に提供する。入出力チップ2070は、フレキシブルディスク・ドライブ2050や、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を接続する。
RAM2020を介してハードディスクドライブ2040に提供される診断プログラム等のプログラムは、フレキシブルディスク2090、CD−ROM2095、又はICカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、RAM2020を介してコンピュータ1900内のハードディスクドライブ2040にインストールされ、CPU2000において実行される。
以上に示したプログラム又はモジュールは、外部の記憶媒体に格納されてもよい。記憶媒体としては、フレキシブルディスク2090、CD−ROM2095の他に、DVDやCD等の光学記録媒体、MO等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ICカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークやインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスク又はRAM等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ1900に提供してもよい。
図3は、本実施形態に係る制御装置20上で動作する診断プログラム30の構成を、計測器16およびバス22とともに示す。診断プログラム30は、制御装置20により制御装置20を用いて試験装置10に搭載された複数の試験モジュール14を診断させるプログラムである。診断プログラム30は、試験装置10が例えば診断用のロードボード12を搭載した状態において制御装置20により実行され、制御装置20により計測器16を制御し、試験装置10に搭載された診断対象の試験モジュール14を診断する。
診断プログラム30は、診断制御ソフトウェアモジュール42と、少なくとも一つの対象診断ソフトウェアモジュール44と、診断インターフェイスプログラム48と、少なくとも一つのバス制御ソフトウェアモジュール46とを備える。これらのソフトウェアモジュールは、制御装置20のCPU2000により実行される。
より詳しくは、診断制御ソフトウェアモジュール42は、CPU2000により実行されることにより、当該制御装置20を診断制御部として機能させる。各対象診断ソフトウェアモジュール44は、CPU2000により実行されることにより、当該制御装置20を対象診断部として機能させる。バス制御ソフトウェアモジュール46は、CPU2000により実行されることにより、当該制御装置20をバス制御部として機能させる。診断インターフェイスプログラム48は、CPU2000により実行されることにより、当該制御装置20を診断インターフェイス部として機能させる。
診断制御ソフトウェアモジュール42は、制御装置20により実行され、当該試験装置10による試験モジュール14の診断処理を制御する。診断制御ソフトウェアモジュール42は、一例として、診断対象となる試験モジュール14を選択し、診断対象となる試験モジュール14に対応した1つの対象診断ソフトウェアモジュール44を呼び出して、制御装置20に実行させる。
各対象診断ソフトウェアモジュール44(44−1、44−2、…)は、制御装置20により実行され、診断対象となる試験モジュール14の基準パラメータの値を制御装置20により診断させる。これらの対象診断ソフトウェアモジュール44は、試験モジュール14の種類毎に試験モジュール14の設計者等により記述される。
ここで、対象診断ソフトウェアモジュール44は、診断時において、計測器16に対して診断対象となる試験モジュール14の基準パラメータを計測させる。計測器16に対して基準パラメータを計測させる場合、対象診断ソフトウェアモジュール44は、診断インターフェイスプログラム48を呼び出し、試験モジュール14が有する基準パラメータの値を計測することを、呼び出した診断インターフェイスプログラム48を介して計測器16に指示する。そして、対象診断ソフトウェアモジュール44は、呼び出した診断インターフェイスプログラム48を介して、計測器16から計測結果を取得する。
各バス制御ソフトウェアモジュール46(46−1、46−2、…)は、制御装置20により実行される。各バス制御ソフトウェアモジュール46は、制御装置20および計測器16の間を接続するバス22の種類毎に設けられ、当該バス22を介して制御装置20および計測器16の間の通信を制御装置20により行わせる。
診断インターフェイスプログラム48は、試験モジュール14が有する基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しに応じて、制御装置20により実行される。診断インターフェイスプログラム48は、呼び出しを対象診断ソフトウェアモジュール44から受けると、呼び出された機能を実行させるコマンドを計測器16に送信する。そして、診断インターフェイスプログラム48は、実行結果を計測器16から受信し、呼び出しをした対象診断ソフトウェアモジュール44に計測処理の結果を返信する。
ここで、診断インターフェイスプログラム48は、試験装置10に搭載された計測器16の種類(例えばコマンド体系)に対応したコマンドを、制御装置20から計測器16に発行させる。例えば、診断インターフェイスプログラム48は、同一の計測機能を計測器16に実行させる場合であっても、種類の異なる計測器16に対しては、互いに記述が異なるコマンドを発行する。さらに、診断インターフェイスプログラム48は、搭載された計測器16の種類に関わらず、対象診断ソフトウェアモジュール44から共通の記述の呼び出しを受け付ける。例えば、試験装置10に搭載された計測器16が異なる種類の計測器16に交換された場合であっても、同一の計測機能を計測器16に実行させる場合には、診断インターフェイスプログラム48は、対象診断ソフトウェアモジュール44から共通の記述により呼び出される。
診断インターフェイスプログラム48は、取得モジュール52と、複数の計測ソフトウェアモジュール54と、切替ソフトウェアモジュール56とを有する。これらのソフトウェアモジュールは、制御装置20のCPU2000により実行される。より詳しくは、取得モジュール52は、CPU2000により実行されることにより、当該制御装置20を取得部として機能させる。計測ソフトウェアモジュール54は、CPU2000により実行されることにより、当該制御装置20を計測部として機能させる。切替ソフトウェアモジュール56は、CPU2000により実行されることにより、当該制御装置20を切替部として機能させる。
取得モジュール52は、制御装置20上で実行され、試験装置10に搭載された計測器16の種類を示す計測器識別情報を制御装置20により取得させる。取得モジュール52は、一例として、当該試験装置10の構成時または対象診断ソフトウェアモジュール44からの呼び出し時等に、計測器16の計測器識別情報を制御装置20により取得させてよい。また、例えば、取得モジュール52は、バス制御ソフトウェアモジュール46を呼び出して、試験装置10に搭載された計測器16内の例えば外部からアクセス可能なレジスタに記憶された、当該計測器16の種類を識別する計測器識別情報を、制御装置20により読み出させてもよい。また、取得モジュール52は、試験装置10の製造者により制御装置20内の記憶装置に直接格納された計測器識別情報を、当該記憶装置を当該制御装置20により読み出させてもよい。
計測器識別情報に加えて、取得モジュール52は、制御装置20および計測器16の間を接続するバス22の種類を示すバス識別情報を制御装置20により更に取得させてよい。この場合において、取得モジュール52は、制御装置20に接続されたそれぞれのバス22に計測器16が接続されているか否かを制御装置20により検出させて、計測器16が検出されたバスの識別情報をバス識別情報としてよい。
ここで、制御装置20上の例えばハードディスクドライブ2040またはRAM2020等は、試験装置10が搭載している試験モジュール14、計測器16、およびバス22の識別情報を格納する構成ファイル60を記憶してよい。この場合、取得モジュール52は、制御装置20上のハードディスクドライブ2040等に記憶された、構成ファイル60を制御装置20により検索させ、試験装置10に搭載された計測器16に対応する計測器識別情報およびバス識別情報を制御装置20により読み出させてよい。また、取得モジュール52は、取得した計測器識別情報と、構成ファイル60に格納された情報とを比較して、構成ファイル60に格納された計測器16の種類と、計測器識別情報に示された計測器16の種類とが一致しているか否かを判断してよい。
各計測ソフトウェアモジュール54(54−1、54−2、…)は、当該試験装置10が搭載可能な計測器16の種類毎に設けられる。各計測ソフトウェアモジュール54は、切替ソフトウェアモジュール56からの呼び出しに応じて制御装置20上で実行される。複数の計測ソフトウェアモジュール54のそれぞれは、対応する種類の計測器16により受け付け可能なコマンドを発行し、当該種類の計測器16から計測結果を受け取る。
切替ソフトウェアモジュール56から呼び出された計測ソフトウェアモジュール54は、対象診断ソフトウェアモジュール44により指示された試験モジュール14の基準パラメータの値を当該計測器16により計測させるコマンドを、制御装置20から計測器16へと発行させる。計測ソフトウェアモジュール54は、一例として、電圧を計測するコマンド、抵抗値を計測するコマンド、電流値を計測するコマンドを、制御装置20から計測器16へと発行させる。さらに、各計測ソフトウェアモジュール54は、基準パラメータの計測結果を計測器16から受け取る。
また、この場合において、切替ソフトウェアモジュール56から呼び出された計測ソフトウェアモジュール54は、バス識別情報により識別されるバスに応じた1つのバス制御ソフトウェアモジュール46を呼び出して制御装置20により実行させる。そして、当該計測ソフトウェアモジュール54は、制御装置20から対応するバス22を介して計測器16へとコマンドを発行させ、基準パラメータの計測結果を計測器16から受け取らせる。
切替ソフトウェアモジュール56は、試験モジュール14が有する基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを対象診断ソフトウェアモジュール44から受けたことに応じて、制御装置20により実行される。当該呼び出しを受けた対象診断ソフトウェアモジュール44は、計測器識別情報により識別される計測器16に応じた1つの計測ソフトウェアモジュール54を呼び出して制御装置20により実行させる。
すなわち、切替ソフトウェアモジュール56は、計測器識別情報に基づき当該試験装置10に搭載された計測器16の種類を特定し、複数の計測ソフトウェアモジュール54のうち特定した種類に対応する1つの計測ソフトウェアモジュール54を呼び出す。そして、切替ソフトウェアモジュール56は、呼び出した計測ソフトウェアモジュール54により、対象診断ソフトウェアモジュール44からの指示に応じた計測を実行させるコマンドを、制御装置20から計測器16に発行させる。なお、この場合において、切替ソフトウェアモジュール56は、対象診断ソフトウェアモジュール44からの指示に応じた1つの計測動作を計測器16に実行させることを目的として、複数のコマンドを制御装置20から計測器16に発行させてもよい。そして、切替ソフトウェアモジュール56は、呼び出した計測ソフトウェアモジュール54が計測器16から受け取った基準パラメータの計測結果を、対象診断ソフトウェアモジュール44に返送する。
このような診断インターフェイスプログラム48によれば、対象診断ソフトウェアモジュール44から与えられた共通記述の呼び出しを、試験装置10に搭載された計測器16の種類に対応したコマンドに変換して、制御装置20から計測器16に送信することができる。さらに、診断インターフェイスプログラム48によれば、対象診断ソフトウェアモジュール44から与えられた共通記述の呼び出しを、計測器16が接続されたバス22の種類に対応したコマンドに変換して、制御装置20から計測器16に送信することができる。
以上に示した診断プログラム30によれば、試験装置10に搭載する計測器16の種類または当該計測器16に接続するバス22の種類を変更した場合においても、対象診断ソフトウェアモジュール44の記述を変更する必要がなくなる。これにより診断プログラム30は、試験装置10に搭載する計測器16の種類によらず適切な診断処理を行うことができる。
図4は、本実施形態に係る診断プログラム30による試験装置10の診断フローを示す。診断処理が開始すると、制御装置20上で実行される診断制御ソフトウェアモジュール42は、複数の試験モジュール14のそれぞれについて順次に、対応する対象診断ソフトウェアモジュール44を実行させる(S1012)。これにより診断制御ソフトウェアモジュール42は、複数の試験モジュール14のそれぞれを順次制御装置20により診断させることができる(S1011、S1013)。
全ての試験モジュール14の診断を終えると、診断制御ソフトウェアモジュール42は、それぞれの対象診断ソフトウェアモジュール44から取得した診断結果を出力する(S1014)。試験装置10の使用者は、当該診断結果に基づいて、試験装置10が正常に動作するか否かの情報、および、不良である試験モジュール14を特定する情報等を得ることができる。
図5は、本実施形態に係る診断プログラム30によるS1012の動作フローを示す。診断プログラム30内の対象診断ソフトウェアモジュール44、バス制御ソフトウェアモジュール46および診断インターフェイスプログラム48は、制御装置20上で実行されることにより、図4のS1012において、図5に示した処理を行う。
まず、診断プログラム30内の対象診断ソフトウェアモジュール44は、診断対象の試験モジュール14を診断する(S1021)。次に、診断プログラム30は、試験モジュール14の診断中において、適宜、基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを行う。診断プログラム30は、当該呼び出し毎に、S1023からS1029までの処理を行う(S1022、S1030)。
対象診断ソフトウェアモジュール44は、診断インターフェイスプログラム48内の切替ソフトウェアモジュール56を呼び出す(S1023)。次に、ステップS1023において呼び出された切替ソフトウェアモジュール56は、計測器識別情報により識別される計測ソフトウェアモジュール54を呼び出して、実行する(S1024)。すなわち、切替ソフトウェアモジュール56は、当該試験装置10に搭載された計測器16の種類に対応する計測ソフトウェアモジュール54を呼び出して、実行する。
次に、ステップS1024において呼び出された計測ソフトウェアモジュール54は、バス識別情報により識別されるバス22に応じたバス制御ソフトウェアモジュール46を呼び出して、実行する(S1026)。すなわち、当該計測ソフトウェアモジュール54は、試験装置10に搭載された試験装置10および制御装置20の間を接続するバス22の種類に対応したバス制御ソフトウェアモジュール46を呼び出して、実行する。
次に、ステップS1024において呼び出された計測ソフトウェアモジュール54は、指示された基準パラメータを計測器16により計測させるべく、指示に応じたコマンドを制御装置20から計測器16へバス22を介して発行する(S1027)。次に、ステップS1024において呼び出された計測ソフトウェアモジュール54は、基準パラメータの計測結果を、計測器16からバス22を介して制御装置20により受け取らせる(S1028)。そして、切替ソフトウェアモジュール56は、ステップS1024において呼び出された計測ソフトウェアモジュール54が受け取った基準パラメータの計測結果を、対象診断ソフトウェアモジュール44に返送する(S1029)。対象診断ソフトウェアモジュール44は、この結果を受けて、診断対象となる試験モジュール14の診断をすることができる。
以上、本発明の一側面を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることができる。その様な変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。

Claims (9)

  1. 試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、前記試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、前記試験モジュールおよび前記計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、前記制御装置により前記計測器を用いて前記複数の試験モジュールを診断させる診断プログラムを記録した記録媒体であって、
    前記診断プログラムは、
    診断対象となる前記試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールと、
    前記試験装置に搭載された前記計測器の種類を示す計測器識別情報を前記制御装置により取得させる取得モジュールと、
    前記計測器の種類毎に設けられ、前記制御装置上で実行されて、前記試験モジュールの前記基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを前記制御装置から前記計測器へと発行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールと、
    前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記対象診断ソフトウェアモジュールに返送する切替ソフトウェアモジュールと
    を備える記録媒体。
  2. 前記診断プログラムは、前記制御装置および前記計測器の間を接続するバスの種類毎に設けられ、当該バスを介して前記制御装置および前記計測器の間の通信を前記制御装置により行わせるバス制御ソフトウェアモジュールを更に備え、
    前記取得モジュールは、前記制御装置および前記計測器の間を接続するバスの種類を示すバス識別情報を前記制御装置により更に取得させ、
    前記切替ソフトウェアモジュールは、前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させ、
    前記切替ソフトウェアモジュールから呼び出された前記計測ソフトウェアモジュールは、前記バス識別情報により識別されるバスに応じた前記バス制御ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させて、前記制御装置から前記計測器へと前記コマンドを発行させ前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取らせる
    請求項1に記載の記録媒体。
  3. 前記取得モジュールは、前記制御装置上に記憶された、前記試験装置が搭載している前記試験モジュール、前記計測器、および前記バスの識別情報を格納する構成ファイルを前記制御装置により検索させ、前記試験装置に搭載された前記計測器に対応する前記計測器識別情報および前記バス識別情報を前記制御装置により読み出させる請求項2に記載の記録媒体。
  4. 前記取得モジュールは、
    前記制御装置に接続されたそれぞれの前記バスに前記計測器が接続されているか否かを前記制御装置により検出させて、前記計測器が検出された前記バスの識別情報を前記バス識別情報とし、
    前記バス制御ソフトウェアモジュールを呼び出して、前記試験装置に搭載された前記計測器内に記憶された、当該計測器の種類を識別する前記計測器識別情報を前記制御装置により読み出させる
    請求項2または3に記載の記録媒体。
  5. 試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、前記試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、前記試験モジュールおよび前記計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、診断対象となる前記試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールから呼び出されて、前記制御装置により前記計測器を制御させる診断インターフェイスプログラムを記録した記録媒体であって、
    前記診断インターフェイスプログラムは、
    前記試験装置に搭載された前記計測器の種類を示す計測器識別情報を前記制御装置により取得させる取得モジュールと、
    前記計測器の種類毎に設けられ、前記制御装置上で実行されて、前記試験モジュールの前記基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを前記制御装置から前記計測器へと発行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールと、
    前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記対象診断ソフトウェアモジュールに返送する切替ソフトウェアモジュールと
    を備える記録媒体。
  6. 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
    試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、
    前記試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、
    前記試験モジュールおよび前記計測器を制御する制御装置と
    を備え、
    前記制御装置は、前記計測器を用いて前記複数の試験モジュールを診断させる診断プログラムを実行することにより、
    診断対象となる前記試験モジュールを診断する対象診断部と、
    前記試験装置に搭載された前記計測器の種類を示す計測器識別情報を取得する取得部と、
    前記計測器の種類毎に設けられ、前記制御装置上で実行されて、前記試験モジュールの前記基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを前記計測器へと発行し、前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取る計測処理部と、
    前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断部から受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測処理部を呼び出して実行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記対象診断部に返送する切替部と
    して機能する試験装置。
  7. 試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、前記試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、前記試験モジュールおよび前記計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、前記制御装置により前記計測器を用いて前記複数の試験モジュールを診断させる診断方法であって、
    診断対象となる前記試験モジュールを診断させる対象診断ソフトウェアモジュールを前記制御装置上で実行させることと、
    前記試験装置に搭載された前記計測器の種類を示す計測器識別情報を前記制御装置により取得させることと、
    前記計測器の種類毎に設けられ、前記制御装置上で実行されて、前記試験モジュールの前記基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを前記制御装置から前記計測器へと発行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールを前記制御装置上で実行させることと、
    前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記対象診断ソフトウェアモジュールに返送することと
    を備える診断方法。
  8. 試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、前記試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、前記試験モジュールおよび前記計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、前記制御装置により前記計測器を用いて前記複数の試験モジュールを診断させる診断プログラムであって、
    診断対象となる前記試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールと、
    前記試験装置に搭載された前記計測器の種類を示す計測器識別情報を前記制御装置により取得させる取得モジュールと、
    前記計測器の種類毎に設けられ、前記制御装置上で実行されて、前記試験モジュールの前記基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを前記制御装置から前記計測器へと発行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールと、
    前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記対象診断ソフトウェアモジュールに返送する切替ソフトウェアモジュールと
    を備える診断プログラム。
  9. 試験信号を被試験デバイスに供給する試験モジュールと、前記試験モジュールが有する基準電圧、基準抵抗、および基準電流の少なくとも1つを含む基準パラメータを計測する計測器と、前記試験モジュールおよび前記計測器を制御する制御装置とを備える試験装置において、診断対象となる前記試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールから呼び出されて、前記制御装置により前記計測器を制御させる診断インターフェイスプログラムであって、
    前記試験装置に搭載された前記計測器の種類を示す計測器識別情報を前記制御装置により取得させる取得モジュールと、
    前記計測器の種類毎に設けられ、前記制御装置上で実行されて、前記試験モジュールの前記基準パラメータの値を当該計測器により計測させるコマンドを前記制御装置から前記計測器へと発行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記計測器から受け取る計測ソフトウェアモジュールと、
    前記試験モジュールが有する前記基準パラメータの値を計測することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、前記計測器識別情報により識別される前記計測器に応じた前記計測ソフトウェアモジュールを呼び出して前記制御装置により実行させ、前記基準パラメータの計測結果を前記対象診断ソフトウェアモジュールに返送する切替ソフトウェアモジュールと
    を備える診断インターフェイスプログラム。
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