JP5249123B2 - 診断機能を備える装置、診断方法、およびプログラム - Google Patents

Description

本発明は、診断機能を備える装置、診断方法、およびプログラムに関する。

従来、半導体試験装置、計測機器、および計算機などの装置においては、装置システムが正常に動作しているかを診断するための診断機能をもつものが知られている。

特開平１１−３０４８８０号公報

ところで、このような診断を実行中の間、装置本来の動作は中断するのが普通である。従って、例えばデバイスを量産するラインに関わる装置で診断する場合、診断時間はシステムのダウンタイムとなってデバイスの生産性を下げてしまう。

上記課題を解決するために、本発明の第１の態様においては、複数の診断箇所の診断機能を備える装置であって、前記複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得する取得部と、前記複数の診断箇所のうち、前記診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する診断部と、前記複数の診断箇所のそれぞれの前記診断不要期間の開始タイミングを調整して、異なる２以上の診断タイミングにおける診断時間を均一化する調整部とを備える装置、診断方法、およびプログラムを提供する。
また、本発明の第２の態様においては、複数の診断箇所の診断機能を備える装置であって、前記複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得する取得部と、前記複数の診断箇所のうち、前記診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する診断部と、前記複数の診断箇所のそれぞれに対応する診断インターバルを記憶する診断インターバル記憶部と、前記複数の診断箇所のうち前記診断部が診断した診断箇所の前記診断不要期間を、当該診断箇所に対応する前記診断インターバルにより更新する更新部と、を備え、前記更新部は、前記診断部が診断した前記診断箇所について、前記診断不要期間に続く前記診断インターバルの長さの期間を、新たな診断不要期間とする装置、診断方法、およびプログラムを提供する。
また、本発明の第３の態様においては、複数の診断箇所の診断機能を備える装置であって、前記複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得する取得部と、前記複数の診断箇所のうち、前記診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する診断部と、前記複数の診断箇所のそれぞれに対応する診断インターバルを記憶する診断インターバル記憶部と、前記複数の診断箇所のうち前記診断部が診断した診断箇所の前記診断不要期間を、当該診断箇所に対応する前記診断インターバルにより更新する更新部と、を備え、前記更新部は、前記診断部が診断した前記診断箇所について、前記診断不要期間に続けて前記診断インターバルの長さの期間を複数加えていった場合に、当該診断箇所を今回診断した診断時点を含むこととなる前記期間を新たな診断不要期間とする装置、診断方法、およびプログラムを提供する。
また、本発明の第４の態様においては、複数の診断箇所の診断機能を備える装置であって、前記複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得する取得部と、前記複数の診断箇所のうち、前記診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する診断部と、前記複数の診断箇所のそれぞれに対応する診断インターバルを記憶する診断インターバル記憶部と、前記複数の診断箇所のうち前記診断部が診断した診断箇所の前記診断不要期間を、当該診断箇所に対応する前記診断インターバルにより更新する更新部と、を備え、前記更新部は、前記診断部が診断した前記診断箇所について、前記診断不要期間に続けて前記診断インターバルの長さの期間を複数加えていった場合に、当該診断箇所を今回診断した診断時点を含むこととなる前記期間を新たな診断不要期間とする装置、診断方法、およびプログラムを提供する。

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。

本実施形態に係る試験装置１０の構成を示す。 本実施形態に係る試験装置１０の動作を示す。 本実施形態に係る試験装置１０の各診断箇所を診断するタイミングの一例を示す。 本発明の実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

図１は、本実施形態に係る試験装置１０の構成を示す。試験装置１０は、複数の診断箇所の診断機能を有する装置の一例であり、アナログ回路、デジタル回路、メモリ、およびシステム・オン・チップ（ＳＯＣ）等のＤＵＴ１００（Ｄｅｖｉｃｅ Ｕｎｄｅｒ Ｔｅｓｔ）を試験する。試験装置１０は、ＤＵＴ１００を試験するための試験パターンに基づく試験信号をＤＵＴ１００に入力し、試験信号に応じてＤＵＴ１００が出力する出力信号に基づいてＤＵＴ１００の良否を判定する。

試験装置１０は、複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得して、診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断することで、診断時間の短縮を実現する。試験装置１０は、試験モジュール１１０と制御装置１３０とを備える。

試験モジュール１１０は、ＤＵＴ１００との間で信号を授受してＤＵＴ１００を試験する。試験モジュール１１０は、信号入出力部１１５、メモリ１２０、レジスタ１２５とを備える。信号入出力部１１５は、ＤＵＴ１００との間で信号を授受する。メモリ１２０は、例えば試験パターンデータおよび／または試験結果等を記憶する。レジスタ１２５は、試験の実行に用いる演算および／または実行状態等を保持する。信号入出力部１１５、メモリ１２０およびレジスタ１２５は、本実施形態における診断箇所の一例となる。

制御装置１３０は、ＤＵＴ１００を試験する試験モジュール１１０を制御すると共に、試験装置１０内の複数の診断箇所の診断を制御する。制御装置１３０は、制御部１３５と、診断不要期間記憶部１４０と、取得部１４５と、診断部１５０と、診断インターバル記憶部１５５と、更新部１６０と、診断インターバル変更部１６５と、調整部１７０と、設定部１７５とを有する。

制御部１３５は、ＤＵＴ１００を試験するために試験モジュール１１０を制御する。さらに制御部１３５は、診断タイミングとなったことに応じて診断部１５０に診断を指示する。ここで制御部１３５は、診断タイミングとして、例えば、試験装置１０の電源投入時、リセット時、一定間隔おき、任意間隔おき、またはユーザによる指示を受けた場合に診断部１５０に診断を指示してよい。

診断不要期間記憶部１４０は、複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を記憶する。ここで診断不要期間は、試験装置１０が診断を不要と判断した期間であることが好ましい。試験装置１０は、診断不要期間として、予め設定された期間、または初期値を用いてよい。初期値の一例として、各診断箇所のそれぞれのＭＴＢＦ（平均故障間隔：Ｍｅａｎ Ｔｉｍｅ Ｂｅｔｗｅｅｎ Ｆａｉｌｕｒｅ）に予め定められた任意の係数を乗じた期間であってよい。

取得部１４５は、診断を実行する場合に診断不要期間記憶部１４０に記憶された複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得して、診断部１５０に渡す。

診断部１５０は、試験装置１０が診断を指示したことに応じて診断箇所を選択して診断する。最初の診断においては、診断部１５０は、全ての診断箇所の診断不要期間が設定されていないのであれば、全ての診断箇所を診断する。２回目以降の診断の指示に応じて診断部１５０は、診断タイミング時点で診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する。診断部１５０は診断不要期間に基づいて診断箇所を選択しているので、診断を行った診断箇所の診断不要期間を更新してもよい。診断不要期間を更新しなければ常にその診断箇所は診断される。例えば、ユーザにより全診断箇所の診断を指示された場合には、診断部１５０は、全ての診断不要期間を初期化して、かつ診断不要期間の更新を行わないことで、システムの全機能を常に診断することもできる。

診断インターバル記憶部１５５は、複数の診断箇所のそれぞれに対応する診断インターバルを記憶する。診断インターバル記憶部１５５は、診断インターバルの一例として、試験装置１０の製造者またはユーザにより予め設定された時間を記憶してもよく、各診断箇所のそれぞれのＭＴＢＦに予め定められた任意の係数を乗じた期間を記憶してもよい。

更新部１６０は、診断部１５０が診断した診断箇所の診断不要期間を、当該診断箇所に対応する診断インターバル記憶部１５５に記憶された診断インターバルにより更新する。一例として、更新部１６０は、診断不要期間に続く診断インターバルの長さの期間を、新たな診断不要期間とする。

診断インターバル変更部１６５は、複数の診断箇所のそれぞれについて、診断により不良を検出した頻度に基づいて診断インターバルを更新する。診断インターバル変更部１６５は、変更した診断インターバルを診断インターバル記憶部１５５に記憶する。

調整部１７０は、予め複数の診断箇所のそれぞれの診断スケジュールを求め、診断不要期間の開始タイミングを調整する。調整部１７０は、調整した開始タイミングを診断部１５０に渡す。

設定部１７５は、他の試験装置１８０の情報を受信する。他の試験装置１８０の情報は、一例として他の装置における対応する診断箇所の診断インターバル、診断結果、および他の装置における対応する診断箇所の不良を検出する時間間隔等の少なくとも一つであってよい。

図２は、本実施形態に係る試験装置１０の動作を示す。試験装置１０は、診断の実行に用いるデータを診断実行前に予め設定する（Ｓ２００）。このデータは、一例として診断すべき複数の診断箇所、複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間の初期値および診断インターバルの初期値等の少なくとも一つであってよい。このとき、設定部１７５は、他の一又は複数の試験装置１８０の情報を基に診断インターバル記憶部１５５の診断インターバルの設定を更新してもよい。設定部１７５によって、他の装置で行った診断結果を反映した診断を容易に実現すると共に、複数の試験装置の診断結果および診断状況について総合的な管理および運営を実現できる。

試験装置１０は、診断を指示されたことに応じて、Ｓ２１０からＳ２５０の処理を実行する。本実施形態に係る取得部１４５は、各診断箇所の診断不要期間を診断不要期間記憶部１４０より取得する（Ｓ２１０）。このとき、調整部１７０は、複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間の開始タイミングを調整して、診断部１５０に調整結果を伝えてもよい。

診断部１５０は、取得した開始タイミングおよび診断不要期間に基づいて診断箇所を選択して、診断を実行する。診断部１５０は、現在の診断タイミングが入手した診断不要期間を経過しているかどうかを判別する（Ｓ２３０）。診断部１５０は、診断タイミングが診断不要期間内であれば診断を実行せず、試験装置１０は診断しなかったことをディスプレイおよびまたは記録装置に出力する（Ｓ２４０）。診断部１５０は、診断タイミングが診断不要期間を経過しているときは診断を実行する（Ｓ２６０）。

診断部１５０が診断を実行した後、更新部１６０は、診断不要期間の更新を実行する（Ｓ２７０）。ここで更新部１６０は、診断箇所の診断不要期間に続く診断インターバルの長さの期間を、新たな診断不要期間とする。

このとき診断インターバル変更部１６５は、診断結果を基に診断インターバルを更新してもよい。診断インターバル変更部１６５が診断インターバルを更新した場合、更新部１６０は更新された診断インターバルを用いて診断不要期間を更新する。診断インターバル変更部１６５によって診断インターバルを更新していくことにより、装置の診断または使用に応じて実際に不良を検出した頻度に基づいて診断インターバルを変化させることができる。なお、試験装置１０は、診断インターバルが一定の診断方法とするか、装置の診断結果に応じて診断インターバルが変化する方法とするかは、選択できるようにしてもよい。

更新部１６０が診断不要期間を更新した後、試験装置１０は診断結果をディスプレイおよび／または記録装置等に出力する（Ｓ２４０）。試験装置１０は、次の診断箇所があれば診断箇所についてのループを繰り返し、診断すべき箇所がなくなれば診断を終了する。このようにして、試験装置１０が１回の診断を実行する。

試験装置１０が次の診断を指示した場合、取得部１４５は、診断不要期間記憶部１４０に記憶された新たな診断不要期間を取得して、診断部１５０にデータを渡す。診断部１５０は次の診断指示に応じて、診断タイミング時点で診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する。試験装置１０は、以上の手順を診断指示に応じて繰り返すことによって、診断不要期間を経過した診断箇所を診断することができ、システムのダウンタイムを短縮することができる。

本実施形態において、Ｓ２１０の処理の時点で、調整部１７０が複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間の開始タイミングを調整すると、異なる２以上の診断タイミングにおける診断時間を均一化することができる。例えば、診断部１５０は、診断タイミングが１日おき等の一定間隔であると判断した場合、診断不要期間が２日の診断箇所については、診断の実行と不実行を交互に繰り返す。診断部１５０は、開始タイミングが同一で診断不要期間が２日の診断箇所が複数ある場合は、同一の診断タイミングで診断を実行もしくは実行しないことになり、上記の例では２回に１回といった周期的な診断実行回数の増減が発生する。そこで調整部１７０が診断不要期間の開始タイミングを調整することで、診断時間を均一に近づけることができる。

上記の例では、調整部１７０は、診断不要期間が２日の診断箇所の約半数について開始タイミングを１日遅らせるかもしくは進ませることで、診断時間の増減を均一化させることができる。以上のように、調整部１７０は、複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間の開始タイミングを調整することで、異なる２以上の診断タイミングにおける診断時間を均一化することができる。

図３は、本実施形態に係る試験装置１０の各診断箇所を診断するタイミングの一例を示す。横軸は時間軸を示し、縦軸にはｎ個の診断箇所を一例として示す。試験装置１０は、診断箇所１，２，３，…の診断において、ｔ１，ｔ２，ｔ３，…の診断時間を要するとする。各診断箇所の診断不要期間は３００−１〜ｎであり、本実施形態の１回目の診断タイミングは、全ての診断不要期間の開始タイミングと一致しているとする。

取得部１４５は、各診断箇所の診断不要期間３００−１〜ｎを診断不要期間記憶部１４０より取得する。診断部１５０は、１回目の診断タイミングが全ての診断不要期間の開始タイミングと一致しているので、全ての診断箇所の診断を実行する。ここで図中の○印は、診断の実行を示し、×印は診断を実行しないことを示す。

診断部１５０は、２回目の診断が指示されると、それぞれの診断箇所について診断を実行するかしないかを選択する。診断部１５０は、診断箇所１から診断箇所ｎまでを順番に処理してよい。診断部１５０は、２回目の診断タイミングが診断箇所１の診断不要期間３００−１を経過しているので、診断箇所１の診断を実行する。更新部１６０は、診断箇所１について、診断不要期間３００−１に続く診断インターバル３１０−１の長さの期間を、新たな診断不要期間とする。

診断部１５０は、２回目の診断タイミングが診断箇所２の診断不要期間３００−２の期間内であることから、診断箇所２の診断を実行しない。

診断部１５０は、２回目の診断タイミングが診断箇所３の診断不要期間３００−３を経過しているので、診断箇所３の診断を実行する。更新部１６０は、診断箇所３について診断不要期間を更新する。診断箇所３のように、更新部１６０が診断不要期間を更新しても今回診断したタイミングに達しない場合がある。更新部１６０は、診断部１５０が診断した診断箇所について、診断不要期間に続けて診断インターバルの長さの期間を複数加えていった場合に、当該診断箇所を今回診断した診断時点を含むこととなる期間を新たな診断不要期間としてもよい。そして更新部１６０は、新たな診断不要期間を診断不要期間記憶部１４０に記憶する。本実施形態の例では、更新部１６０は、診断不要期間３００−３に続けて診断インターバルの長さの期間を２回加え、２回目の診断タイミングを含むこととなる期間３１０−３を新たな診断不要期間とする。

試験装置１０は、同様の操作を診断箇所ｎまで実行することで２回目の診断を終える。図３には診断箇所１〜３およびｎについて、試験装置１０が５回の診断指示を行った結果を示している。システムの診断箇所全てを試験装置１０が診断する場合、診断箇所１〜ｎについての診断時間は５×（ｔ１＋ｔ２＋ｔ３＋・・・＋ｔｎ）となる。本実施形態によれば、試験装置１０は診断箇所２の２回の診断および診断箇所ｎの３回の診断を実行しない等から、全ての診断を実行した場合に比べて診断時間は短縮される。このようにして、試験装置１０は、診断によるシステムのダウンタイムを短縮することができる。

本実施形態においては、診断不要期間の更新方法の一例して、更新部１６０は、診断不要期間に続く診断インターバルの長さの期間を新たな診断不要期間とした。更新方法の他の一例として、更新部１６０は、診断タイミングから診断インターバルの長さの期間を新たな診断不要期間としてもよい。更新部１６０が診断タイミングから診断インターバルの長さの期間を新たな診断不要期間とすることにより、不良の発生率が一定であるというモデルにおいて、適切な診断不要期間を設定できる。

なお、本実施形態においては、診断結果の出力については特に規定していない例を説明したが、試験装置１０は各診断箇所の診断不要期間の時系列を表またはグラフにより表示してもよい。また試験装置１０はそれぞれのタイミングにおける総診断時間の長さを表示してもよい。さらにユーザが診断インターバルの係数等を指定したことに応じて、当該係数に応じた表示に変更してもよい。

図４は、本実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。本実施形態に係るコンピュータ１９００は、ホスト・コントローラ２０８２により相互に接続されるＣＰＵ２０００、ＲＡＭ２０２０、グラフィック・コントローラ２０７５、及び表示装置２０８０を有するＣＰＵ周辺部と、入出力コントローラ２０８４によりホスト・コントローラ２０８２に接続される通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、及びＤＶＤドライブ２０６０を有する入出力部と、入出力コントローラ２０８４に接続されるＲＯＭ２０１０、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０を有するレガシー入出力部とを備える。

ホスト・コントローラ２０８２は、ＲＡＭ２０２０と、高い転送レートでＲＡＭ２０２０をアクセスするＣＰＵ２０００及びグラフィック・コントローラ２０７５とを接続する。ＣＰＵ２０００は、ＲＯＭ２０１０及びＲＡＭ２０２０に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等がＲＡＭ２０２０内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置２０８０上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。

入出力コントローラ２０８４は、ホスト・コントローラ２０８２と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、ＤＶＤドライブ２０６０を接続する。通信インターフェイス２０３０は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ２０４０は、コンピュータ１９００内のＣＰＵ２０００が使用するプログラム及びデータを格納する。ＤＶＤドライブ２０６０は、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。

また、入出力コントローラ２０８４には、ＲＯＭ２０１０と、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０の比較的低速な入出力装置とが接続される。ＲＯＭ２０１０は、コンピュータ１９００が起動時に実行するブート・プログラム、及び／又は、コンピュータ１９００のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ２０５０は、フレキシブルディスク２０９０からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。入出力チップ２０７０は、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０を入出力コントローラ２０８４へと接続すると共に、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を入出力コントローラ２０８４へと接続する。

ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク２０９０、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５、又はＩＣカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、ＲＡＭ２０２０を介してコンピュータ１９００内のハードディスクドライブ２０４０にインストールされ、ＣＰＵ２０００において実行される。

コンピュータ１９００にインストールされ、コンピュータ１９００を試験装置１０の制御装置１３０として機能させるプログラムは、制御モジュールと、診断不要期間記憶モジュールと、取得モジュールと、診断モジュールと、診断インターバル記憶モジュールと、更新モジュールと、診断インターバル変更モジュールと、調整モジュールと、設定モジュールとを備える。これらのプログラム又はモジュールは、ＣＰＵ２０００等に働きかけて、コンピュータ１９００を、制御部１３５、診断不要期間記憶部１４０、取得部１４５、診断部１５０、診断インターバル記憶部１５５、更新部１６０、診断インターバル変更部１６５、調整部１７０、設定部１７５としてそれぞれ機能させる。

これらのプログラムに記述された情報処理は、コンピュータ１９００に読込まれることにより、ソフトウェアと上述した各種のハードウェア資源とが協働した具体的手段である制御部１３５、診断不要期間記憶部１４０、取得部１４５、診断部１５０、診断インターバル記憶部１５５、更新部１６０、診断インターバル変更部１６５、調整部１７０、設定部１７５として機能する。そして、これらの具体的手段によって、本実施形態におけるコンピュータ１９００の使用目的に応じた情報の演算又は加工を実現することにより、使用目的に応じた特有の試験装置１０の制御装置１３０が構築される。

一例として、コンピュータ１９００と外部の装置等との間で通信を行う場合には、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０上にロードされた通信プログラムを実行し、通信プログラムに記述された処理内容に基づいて、通信インターフェイス２０３０に対して通信処理を指示する。通信インターフェイス２０３０は、ＣＰＵ２０００の制御を受けて、ＲＡＭ２０２０、ハードディスクドライブ２０４０、フレキシブルディスク２０９０、又はＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５等の記憶装置上に設けた送信バッファ領域等に記憶された送信データを読み出してネットワークへと送信し、もしくは、ネットワークから受信した受信データを記憶装置上に設けた受信バッファ領域等へと書き込む。このように、通信インターフェイス２０３０は、ＤＭＡ（ダイレクト・メモリ・アクセス）方式により記憶装置との間で送受信データを転送してもよく、これに代えて、ＣＰＵ２０００が転送元の記憶装置又は通信インターフェイス２０３０からデータを読み出し、転送先の通信インターフェイス２０３０又は記憶装置へとデータを書き込むことにより送受信データを転送してもよい。

また、ＣＰＵ２０００は、ハードディスクドライブ２０４０、ＤＶＤドライブ２０６０（ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５）、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０（フレキシブルディスク２０９０）等の外部記憶装置に格納されたファイルまたはデータベース等の中から、全部または必要な部分をＤＭＡ転送等によりＲＡＭ２０２０へと読み込ませ、ＲＡＭ２０２０上のデータに対して各種の処理を行う。そして、ＣＰＵ２０００は、処理を終えたデータを、ＤＭＡ転送等により外部記憶装置へと書き戻す。このような処理において、ＲＡＭ２０２０は、外部記憶装置の内容を一時的に保持するものとみなせるから、本実施形態においてはＲＡＭ２０２０および外部記憶装置等をメモリ、記憶部、または記憶装置等と総称する。本実施形態における各種のプログラム、データ、テーブル、データベース等の各種の情報は、このような記憶装置上に格納されて、情報処理の対象となる。なお、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０の一部をキャッシュメモリに保持し、キャッシュメモリ上で読み書きを行うこともできる。このような形態においても、キャッシュメモリはＲＡＭ２０２０の機能の一部を担うから、本実施形態においては、区別して示す場合を除き、キャッシュメモリもＲＡＭ２０２０、メモリ、及び／又は記憶装置に含まれるものとする。

また、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０から読み出したデータに対して、プログラムの命令列により指定された、本実施形態中に記載した各種の演算、情報の加工、条件判断、情報の検索・置換等を含む各種の処理を行い、ＲＡＭ２０２０へと書き戻す。例えば、ＣＰＵ２０００は、条件判断を行う場合においては、本実施形態において示した各種の変数が、他の変数または定数と比較して、大きい、小さい、以上、以下、等しい等の条件を満たすかどうかを判断し、条件が成立した場合（又は不成立であった場合）に、異なる命令列へと分岐し、またはサブルーチンを呼び出す。

また、ＣＰＵ２０００は、記憶装置内のファイルまたはデータベース等に格納された情報を検索することができる。例えば、第１属性の属性値に対し第２属性の属性値がそれぞれ対応付けられた複数のエントリが記憶装置に格納されている場合において、ＣＰＵ２０００は、記憶装置に格納されている複数のエントリの中から第１属性の属性値が指定された条件と一致するエントリを検索し、そのエントリに格納されている第２属性の属性値を読み出すことにより、所定の条件を満たす第１属性に対応付けられた第２属性の属性値を得ることができる。

以上に示したプログラム又はモジュールは、外部の記録媒体に格納されてもよい。記録媒体としては、フレキシブルディスク２０９０、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５の他に、ＤＶＤ又はＣＤ等の光学記録媒体、ＭＯ等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワーク又はインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスク又はＲＡＭ等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ１９００に提供してもよい。

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。

特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。

１０ 試験装置、１００ ＤＵＴ、１１０ 試験モジュール、１１５ 信号入出力部、１２０ メモリ、１２５ レジスタ、１３０ 制御装置、１３５ 制御部、１４０ 診断不要期間記憶部、１４５ 取得部、１５０ 診断部、１５５ 診断インターバル記憶部、１６０ 更新部、１６５ 診断インターバル変更部、１７０ 調整部、１７５ 設定部、１８０ 試験装置、３００−１〜ｎ 診断不要期間、３１０−１〜ｎ 新たな診断不要期間、１９００ コンピュータ、２０００ ＣＰＵ、２０１０ ＲＯＭ、２０２０ ＲＡＭ、２０３０ 通信インターフェイス、２０４０ ハードディスクドライブ、２０５０ フレキシブルディスク・ドライブ、２０６０ ＤＶＤドライブ、２０７０ 入出力チップ、２０７５ グラフィック・コントローラ、２０８０ 表示装置、２０８２ ホスト・コントローラ、２０８４ 入出力コントローラ、２０９０ フレキシブルディスク、２０９５ ＤＶＤ−ＲＯＭ

Claims (16)

1. 複数の診断箇所の診断機能を備える装置であって、
   前記複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得する取得部と、
   前記複数の診断箇所のうち、前記診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する診断部と、
   前記複数の診断箇所のそれぞれの前記診断不要期間の開始タイミングを調整して、異なる２以上の診断タイミングにおける診断時間を均一化する調整部と、
   を備える装置。
2. 前記複数の診断箇所のそれぞれに対応する診断インターバルを記憶する診断インターバル記憶部と、
   前記複数の診断箇所のうち前記診断部が診断した診断箇所の前記診断不要期間を、当該診断箇所に対応する前記診断インターバルにより更新する更新部と、
   を更に備える請求項１に記載の装置。
3. 複数の診断箇所の診断機能を備える装置であって、
   前記複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得する取得部と、
   前記複数の診断箇所のうち、前記診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する診断部と、
   前記複数の診断箇所のそれぞれに対応する診断インターバルを記憶する診断インターバル記憶部と、
   前記複数の診断箇所のうち前記診断部が診断した診断箇所の前記診断不要期間を、当該診断箇所に対応する前記診断インターバルにより更新する更新部と、
   を備え、
   前記更新部は、前記診断部が診断した前記診断箇所について、前記診断不要期間に続く前記診断インターバルの長さの期間を、新たな診断不要期間とする装置。
4. 前記更新部は、前記診断部が診断した前記診断箇所について、前記診断不要期間に続けて前記診断インターバルの長さの期間を複数加えていった場合に、当該診断箇所を今回診断した診断時点を含むこととなる前記期間を新たな診断不要期間とする請求項３に記載の装置。
5. 複数の診断箇所の診断機能を備える装置であって、
   前記複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得する取得部と、
   前記複数の診断箇所のうち、前記診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する診断部と、
   前記複数の診断箇所のそれぞれに対応する診断インターバルを記憶する診断インターバル記憶部と、
   前記複数の診断箇所のうち前記診断部が診断した診断箇所の前記診断不要期間を、当該診断箇所に対応する前記診断インターバルにより更新する更新部と、
   を備え、
   前記更新部は、前記診断部が診断した前記診断箇所について、前記診断不要期間に続けて前記診断インターバルの長さの期間を複数加えていった場合に、当該診断箇所を今回診断した診断時点を含むこととなる前記期間を新たな診断不要期間とする装置。
6. 複数の診断箇所の診断機能を備える装置であって、
   前記複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得する取得部と、
   前記複数の診断箇所のうち、前記診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する診断部と、
   前記複数の診断箇所のそれぞれに対応する診断インターバルを記憶する診断インターバル記憶部と、
   前記複数の診断箇所のうち前記診断部が診断した診断箇所の前記診断不要期間を、当該診断箇所に対応する前記診断インターバルにより更新する更新部と、
   を備え、
   前記更新部は、前記診断部が診断した前記診断箇所について、前記診断不要期間に続けて前記診断インターバルの長さの期間を複数加えていった場合に、当該診断箇所を今回診断した診断時点を含むこととなる前記期間を新たな診断不要期間とする装置。
7. 前記複数の診断箇所のそれぞれについて、診断により不良を検出した頻度に基づいて、前記診断インターバルを変更する診断インターバル変更部を更に備える請求項２から６のいずれか一項に記載の装置。
8. 前記診断インターバル変更部は、前記複数の診断箇所のそれぞれについて、診断により不良を検出した時間間隔に予め定められた係数を乗じて前記診断インターバルを算出する請求項７に記載の装置。
9. 前記複数の診断箇所のそれぞれの前記診断不要期間の開始タイミングを調整して、異なる２以上の診断タイミングにおける診断時間を均一化する調整部を更に備える請求項３〜８のいずれか一項に記載の装置。
10. 前記複数の診断箇所のうち少なくとも１つの診断箇所について、他の装置における対応する診断箇所の設定または診断結果をネットワークを介して受け取って、当該装置における当該診断箇所の診断インターバルを設定する設定部を更に備える請求項１から９のいずれか一項に記載の装置。
11. 当該装置は、
    被試験デバイスとの間で信号を授受して前記被試験デバイスを試験する試験モジュールと、
    前記試験モジュールを制御する制御部と、
    を備える試験装置であり、
    前記診断部は、前記複数の診断箇所として、前記試験モジュール内の前記被試験デバイスとの間で信号を授受する信号入出力部、前記試験モジュール内のメモリおよびレジスタ、並びに前記制御部のうち少なくとも１つを含む箇所を診断する
    請求項１から１０のいずれか一項に記載の装置。
12. 複数の診断箇所を備える装置の診断方法であって、
    前記装置が前記複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得する取得ステップと、
    前記装置が前記複数の診断箇所のうち、前記診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する診断ステップと、
    前記装置が前記複数の診断箇所のそれぞれの前記診断不要期間の開始タイミングを調整して、異なる２以上の診断タイミングにおける診断時間を均一化する調整ステップと、
    を備える診断方法。
13. 複数の診断箇所を備える装置の診断方法であって、
    前記装置が前記複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得する取得ステップと、
    前記装置が前記複数の診断箇所のうち、前記診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する診断ステップと、
    前記装置が前記複数の診断箇所のそれぞれに対応する診断インターバルを記憶する診断インターバル記憶ステップと、
    前記装置が前記複数の診断箇所のうち前記診断ステップで診断した診断箇所の前記診断不要期間を、当該診断箇所に対応する前記診断インターバルにより更新する更新ステップと、
    を備え、
    前記更新ステップは、前記診断ステップが診断した前記診断箇所について、前記診断不要期間に続く前記診断インターバルの長さの期間を、新たな診断不要期間とする診断方法。
14. 複数の診断箇所を備える装置の診断方法であって、
    前記装置が前記複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得する取得ステップと、
    前記装置が前記複数の診断箇所のうち、前記診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する診断ステップと、
    前記装置が前記複数の診断箇所のそれぞれに対応する診断インターバルを記憶する診断インターバル記憶ステップと、
    前記装置が前記複数の診断箇所のうち前記診断ステップで診断した診断箇所の前記診断不要期間を、当該診断箇所に対応する前記診断インターバルにより更新する更新ステップと、
    を備え、
    前記更新ステップは、前記診断ステップが診断した前記診断箇所について、前記診断不要期間に続けて前記診断インターバルの長さの期間を複数加えていった場合に、当該診断箇所を今回診断した診断時点を含むこととなる前記期間を新たな診断不要期間とする診断方法。
15. 複数の診断箇所を備える装置の診断方法であって、
    前記装置が前記複数の診断箇所のそれぞれの診断不要期間を取得する取得ステップと、
    前記装置が前記複数の診断箇所のうち、前記診断不要期間が経過している診断箇所を選択して診断する診断ステップと、
    前記装置が前記複数の診断箇所のそれぞれに対応する診断インターバルを記憶する診断インターバル記憶ステップと、
    前記装置が前記複数の診断箇所のうち前記診断ステップで診断した診断箇所の前記診断不要期間を、当該診断箇所に対応する前記診断インターバルにより更新する更新ステップと、
    を備え、
    前記更新ステップは、前記診断ステップが診断した前記診断箇所について、前記診断不要期間に続けて前記診断インターバルの長さの期間を複数加えていった場合に、当該診断箇所を今回診断した診断時点を含むこととなる前記期間を新たな診断不要期間とする診断方法。
16. コンピュータを、請求項１から１１のいずれか一項に記載の診断機能を備える装置として機能させるためのプログラム。

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