JP5486289B2 - コンピュータシステム及び周辺装置の検証方法 - Google Patents

Description

本発明は、コンピュータシステム及び周辺装置の検証方法に係り、特に、複数の外部記憶装置を含む周辺装置を有し、周辺装置の検証を行うコンピュータシステム及び周辺装置の検証方法に関する。

図７は従来技術によるコンピュータシステムの構成を示すブロック図、図８は周辺装置であるハードディスクドライブの検証を行う場合の中央処理装置とハードディスクドライブとの間のデータの流れを説明する図であり、以下、図７、図８を参照して、従来技術による周辺装置の検証方法について説明する。

一般に、コンピュータシステムは、図７に示しているように、計算機１０１と、１台以上の外部記憶装置１０２〜１０５を含む周辺装置と、コンソール１０７とから構成される。このようなコンピュータシステムにおける周辺装置としての外部記憶装置１０２〜１０５の動作試験を行う場合、作業者は、検証プログラム１０６を計算機１０１にロードして起動する。起動された検証プログラム１０６は、自プログラムが認識した外部記憶装置１０２〜１０５についての試験を、コンソール１０７から入力される動作試験の指示１０８としての、試験時間、試験対象装置、開始アドレス、終了アドレスの情報に基づいて実行する。

従来技術による周辺装置の検証方法としては、各周辺装置を順々に試験する方法や、周辺装置１つに対し１つの試験プロセスを生成し、周辺装置毎に並列に試験を行う方法等がある。

また、検証プログラム１０６を使用して周辺装置の試験を行う場合、図８に示すように、計算機１０１が備える中央処理装置２０１とディスクインタフェース２０４に接続された周辺装置の１つであるハードディスクドライブ２０５との間でデータの転送が行われる。このデータの転送は、通常、途中経路となる内部バス２０２、外部バス２０３を経由して行われる。この場合、一般に、途中経路となる内部バス２０２、外部バス２０３の伝送帯域は、１つのプロセスにより試験を行った場合におけるデータ転送速度に必要な伝送帯域より十分に広い。このため、周辺装置の試験として、これらのバスへさらに負荷を掛ける目的で、同じ装置に対して領域が重ならないようにアドレス範囲を指定した上で複数の試験プロセスを同時に実行するという方法がある。

近年、磁気ディスク等の外部記憶装置の大容量化が進み、コンピュータシステムの装置検証に多くの時間を要するようになってきた。そして、コンピュータシステムの構築及び保守を行う立場から見ると、限られた時間でコンピュータシステムの接続確認及び動作確認を行う必要があり、その時間の中で全ての周辺装置に対する効果的な検証を行うことができることが望まれる。一方、外部記憶装置やインタフェースの設計者の立場から見ると、バスの伝送帯域一杯に負荷を掛けたい、あるいは、一定の転送速度で負荷を掛けたい等の様々な要望がある。

前述したような要望に対する解決策として、検証システムがサポートする外部記憶装置の一定容量にデータを入出力するのに必要な時間を予め集計してデータベース化しておき、その情報を基に試験に掛かる時間を予測するという技術が、例えば、特許文献１等に記載されて知られている。また、試験時間を短縮するため、複数のプロセスを用いて同時に試験を実行する方法が、例えば、特許文献２等に記載されて知られている。

特許公開平８−２５５１１３号公報 特許公開平４−１４８４６２号公報

前述した従来技術による周辺装置である外部記憶装置の検証方法は、外部記憶装置の大容量化に伴う試験時間の増大化に対する対策として不十分なものであった。

すなわち、一般に、外部記憶装置の接続のされ方はコンピュータシステム毎に異なり、それにより、同じ装置であっても性能が異なり、また、他の周辺装置の試験も同時に実行されることにより、実行時間が一定ではない。そのため、特許文献１に記載された従来技術での方法である、一定容量当たりの試験の実行時間を基にして、試験に掛かる時間を予測するという方法は、予測した試験完了時間と実際の試験実行時間との間に大幅なずれが生じてしまうという問題点を生じさせる。また、特許文献１に記載された従来技術は、試験の完了時間を求めることができるようになっても、その完了時間について、利用者からの早めたり、遅くしたりといった介入の手段が限られているという問題点が残るものである。

また、特許文献２での複数のプロセスを用いて同時に試験を実行する従来技術は、同時に実行可能なプロセス数がＣＰＵの数に連動しており、負荷や実行時間に応じた制御が行われるものではないという問題点を有している。

本発明の目的は、前述した従来技術の問題点を解決し、試験を行う周辺装置である外部記憶装置の容量と与えられた試験時間または最大データ転送量とにより試験を実施するプロセスの数を変動させ、周辺装置の検証を効率的に行うことができるようにしたコンピュータシステム及び周辺装置の検証方法を提供することにある。

本発明によれば前記目的は、計算機と、周辺装置として外部記憶装置を含む複数の周辺装置とからなるコンピュータシステムにおいて、前記外部記憶装置に対してデータの読み取りまたは書き込みを行う一定時間の試験を１つの試験プロセスにより実施し、その一定時間と、その一定時間の試験での試験済み容量と、前記外部記憶装置の指定された試験範囲の容量とから、前記１つの試験プロセスを用いて試験を行った場合の前記外部記憶装置の指定された試験範囲の試験完了までの実行時間を予測する実行時間予測手段と、
前記予測した実行時間と指示された最大データ転送量とから、指定された最大転送量で試験を行うのに必要な複数の試験プロセスの数及び前記外部記憶装置への入出力コマンドの量を算出し、前記複数の試験プロセスのそれぞれの試験領域を決定し、前記複数の試験プロセスを生成し、生成した複数の試験プロセスのそれぞれに前記試験領域を割り当てて試験を実行させるプロセス生成手段と、
前記生成した複数の試験プロセスによる試験を一定時間後に終了させ、複数の試験プロセスによる試験済み容量を集計すると共に試験時の転送量を算出し、該算出された転送量と指示された最大データ転送量とを比較し、最大データ転送量となるように、次の一定時間における試験プロセス数及び入出力コマンドの量を算出し、各プロセスの試験領域を決定し、複数の試験プロセスを生成し、生成した複数の試験プロセスに試験を実行させる処理を繰り返し実行するプロセス再配置手段とを備えることにより達成される。

本発明によれば、複数の試験プロセスにより試験での一定時間当たりの処理量の推移を基に試験プロセス数を制御することにより、利用者が試験完了時間を指示するだけで、大容量の外部記憶装置を効率良く試験を行うことができる。

本発明の一実施形態によるコンピュータシステムの構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態により周辺装置の検証を行うコンピュータシステムにおける計算機の機能構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態での処理を行った場合の時間経過と処理量の推移とを示す図である。 試験完了までの試験時間が指示され、外部記憶装置に対して短時間試験機構が有する試験プロセスにより一定時間の試験を行った後の状態を示す図である。 外部記憶装置に対して短時間試験機構が有する試験プロセスにより一定時間の試験行った後（図４に示す状態の後）にプロセス生成機構が生成した複数の試験プロセスが一定時間の試験を行った後の状態を示す図である。 最大データ転送量が指示され、外部記憶装置に対して短時間試験機構が有する試験プロセスにより一定時間の試験を行った後の状態を示す図である。 従来技術によるコンピュータシステムの構成を示すブロック図である。 周辺装置であるハードディスクドライブの検証を行う場合の中央処理装置とハードディスクドライブとの間のデータの流れを説明する図である。

以下、本発明による周辺装置の検証方法及び検証システムの実施形態を図面により詳細に説明する。

図１は本発明の一実施形態によるコンピュータシステムの構成を示すブロック図である。ここに示す本発明の実施形態によるコンピュータシステムは、周辺装置として複数の外部記憶装置を備えて構成され、周辺装置の検証を外部記憶装置に対して行うものとしたものである。

図１に示す本発明の実施形態によるコンピュータシステムは、図７に示した場合と同様に、計算機５０１と、１台以上の外部記憶装置５０２〜５０５を含む周辺装置、コンソール５０７とから構成される。このようなコンピュータシステムにおける周辺装置の動作試験を行う場合、作業者は、動作試験の指示５０８として、試験時間または最大データ転送量、試験対象装置、開始アドレス、終了アドレスの情報をコンソール５０７から入力すると共に、検証プログラム５０６を計算機５０１にロードして起動する。起動された検証プログラム５０６は、接続されている周辺装置としての外部記憶装置５０２〜５０５を検索して一覧表示し、コンソール５０７から試験対象の外部記憶装置５０２〜５０４が選択され、試験開始の指示が行われると、選択された外部記憶装置５０２〜５０４に対しての試験を行う。このとき、コンソール５０７から入力される作業者からの指示５０８としては、試験対象となる外部記憶装置の選択指示だけでなく、試験時間または最大データ転送量、開始アドレス、終了アドレス等の情報も含まれる。なお、以下の説明では、開始アドレス、終了アドレスが、選択した外部記憶装置の全容量を示すように指定されたものとしている。

そして、検証プログラム５０６は、選択された外部記憶装置、例えば、外部記憶装置５０２に対して、最初に、１プロセスによる一定の短時間、例えば、１分間だけ試験を行う。この短時間の試験の終了後、検証プログラムは、短時間の試験で試験が完了した容量と、選択された外部記憶装置の容量（指定された開始アドレス、終了アドレスにより決まる容量）とから指定された試験時間とにより、試験時間内で試験を終了することができるプロセス数を求め、次に、求められた複数のプロセスのそれぞれに試験が完了していない残りの試験対象領域を割り当てて、それらのプロセスを用いて一定の短時間、例えば、１分間だけ試験を行うことを、指定された外部記憶装置の容量の全ての試験が完了するまで繰り返す。なお、前述した検証プログラムでの試験の詳細については後述する。

図２は本発明の実施形態により周辺装置の検証を行うコンピュータシステムにおける計算機の機能構成を示すブロック図である。

周辺装置の検証を行うコンピュータシステムにおける計算機３０１は、図示しないが、よく知られているように、ＣＰＵ、主メモリ、ＨＤＤ等による記憶装置、表示装置、キーボード、マウス等による入力装置等を備えて構成されている。また、試験対象となる外部記憶装置３０２は、ディスクインタフェース３１２と、ハードディスクドライブ３１３とにより構成されている。検証プログラムは、前述の計算機３０１にインストールされて記憶装置に格納され、周辺装置の試験を行うときに、主メモリにロードされて、本発明の実施形態での処理を実行する。検証プログラムは、ＣＰＵにより実行されることにより、実行時間予測機構３０３、プロセス生成機構３０４、プロセス再配置機構３０５を構築し、これらの各機構が、容量取得コマンド３０６、試験プロセスを含む短時間試験機構３０７、複数の試験プロセス３０８〜３１１を生成する。そして、短時間試験機構３０７、複数の試験プロセス３０８〜３１１は、ディスクインタフェース３１２を介して、ハードディスクドライブ３１３の試験を行う。

前述において、実行時間予測機構３０３は、試験対象となる外部記憶装置３０２に対してその装置の容量を取得する容量取得コマンドコマンド（例えば、SCSIインタフェースにおけるreadcapacityコマンド）３０６を発行して試験対象の周辺装置としての外部記憶装置５０２の容量を求め、その後、短時間試験機構３０７に、その短時間試験機構３０７が有する試験プロセスにより一定時間（例えば、１分程度の短時間）の試験を実行させ、その試験後の処理量と試験対象装置の容量とから、１つのプロセスで試験を続けた場合の実行時間を予測する。

その後、プロセス生成機構３０４は、予測した実行時間と利用者が指示した試験完了時間とにより、利用者が指示した試験完了時間までに試験を完了することができるプロセス数を割り出し、複数の試験プロセス３０８〜３１１を生成し、これらの複数の試験プロセスにより一定時間（例えば、１分程度の短時間）の試験を並列に実行させる。プロセス再配置機構３０５は、複数の試験プロセスによる一定時間の試験の後に試験済みの容量を集計し、試験対象装置の容量と比較し、利用者が指示する試験完了時間と経過時間とを比較し、次の一定時間における試験プロセス数を決定して試験プロセス生成する。プロセス再配置機構３０５は、利用者が指示する試験完了時間の終了まで、前述した処理を繰り返す。

図３は前述したような本発明の実施形態での処理を行った場合の時間経過と処理量の推移とを示す図である。図３では、横軸に試験時間、縦軸に処理容量を示している。そして、横軸の時間ｔ１の時点までの処理が、短時間試験機構３０７が有する試験プロセスにより一定時間（例えば、１分程度の短時間）の試験行った場合の処理であり、次のｔ１からｔ２までの処理が、複数の試験プロセス３０８〜３１１により一定時間（例えば、１分程度の短時間）の試験行った場合の処理である。本発明の実施形態では、複数の試験プロセスによるこのような処理が繰り返し行われることになる。

なお、本発明の実施形態では、短時間試験機構３０７が有する試験プロセスにより実行される一定の時間と、複数の試験プロセス３０８〜３１１により実行される一定の時間とは、同一の時間とするが、これらの時間を異ならせてもよい。

図３から判るように、前述したような本発明の実施形態によれば、一定時間の試験を複数のプロセスにより並列に実行し、プロセス数を再演算する処理を繰り返すことにより、図８に示して説明したようなバス２０２、２０３の帯域幅及びディスクインタフェース２０４での転送速度による上限はあるが、利用者が指示する試験完了時間内に試験対象装置の指定された全領域の試験を実施することができる。

前述した説明では、作業者からの指示の情報として、試験完了までの試験時間が指示された場合の処理について説明したが、次に、試験時間に代って、最大データ転送量が、作業者からの指示の情報として指示された場合の処理について説明する。

図２において、一定時間当たりの最大データ転送量の上限が与えられた場合、まず、実行時間予測機構３０３は、前述した場合と同様に、試験対象装置に対して当該装置の容量を取得する容量取得コマンド３０６を発行して試験対象の周辺装置としての外部記憶装置５０２の容量を求め、その後、短時間試験機構３０７に、その短時間試験機構３０７が有する試験プロセスにより一定時間（例えば、１分程度の短時間）の試験を実行させ、そのときのデータの転送量を求める。

次に、プロセス生成機構３０４は、試験を実際に実行しときの転送量に比較して、利用者が指示する最大データ転送量の方が大きい場合、利用者が指示する最大データ転送量に達するように並列に実行する複数の試験プロセス３０８〜３１１を生成し、これらの複数の試験プロセスにより一定時間（例えば、１分程度の短時間）の試験を並列に実行させる。

その後、プロセス再配置機構３０５は、並列実行させた実行プロセスでの試験が終了する一定時間後に試験済みの容量を集計して一定時間当たりのデータ転送量を算出し、この一定時間当たりのデータ転送量と利用者が指示する最大データ転送量と比較し、次の一定時間における試験プロセス数を決定する。このとき、試験プロセス数が１プロセスとなって、実際に実行した転送量より利用者が指示する最大データ転送量が小さい場合、入出力コマンドの実行を間引く、または、sleep 等の休止命令を実行することによりデータ転送量の調整を図る。

次に、図４〜図６を参照して、プロセス生成機構３０４、プロセス再配置機構３０５が生成する試験プロセスの数を求める処理について説明する。

図４は試験完了までの試験時間が指示され、外部記憶装置５０２に対して短時間試験機構３０７が有する試験プロセスにより一定時間の試験を行った後の状態を示す図である。図４では外部記憶装置５０２の容量６０１に対して、図３で説明した時間ｔ１までの一定時間の試験で試験を完了した容量が容量６０２、残りの容量が容量６０３であるとして示している。

そして、本発明の実施形態では、この時点で、試験の完了した容量６０２と、外部記憶装置の容量６０１とから、次に示す式（１）、式（２）により、次の一定時間で並列に試験を行うプロセス数ｐ１を求める。

１プロセスで続けた場合に掛かる時間ｔｆ
＝外部記憶装置の容量６０１÷試験の完了した容量６０２×一定時間 ……（１）
プロセス数ｐ１
＝１プロセスで続けた場合の時間ｔｆ÷利用者が指示する試験完了時間 ……（２）
式（２）で求められたプロセス数ｐ１の値は、小数点以下を繰り上げた値とされる。そして、本発明の実施形態におけるプロセス生成機構３０４は、試験の完了していない領域６０３の容量をプロセス数ｐ１で割ったサイズを各子プロセスとしての複数の試験プロセスでの試験対象領域６０４〜６０６とし、求めたプロセス数だけ子プロセスである試験プロセス３０８〜３１１を生成し、それぞれの試験プロセス３０８〜３１１に一定時間の試験を行わせる。

図５は外部記憶装置３０２に対して短時間試験機構３０７が有する試験プロセスにより一定時間の試験行った後（図４に示す状態の後）にプロセス生成機構３０４が生成した複数の子プロセスである試験プロセスが一定時間の試験を行った後の状態を示す図である。

プロセス再配置機構３０５は、プロセス生成機構３０４が生成した複数の子プロセスである試験プロセス３０８〜３１１が一定時間の試験を行った後に割り込みを起こして各試験プロセス３０８〜３１１の処理を終了させ、各試験プロセスの実行結果より試験の完了した容量を集計し、複数のプロセスでの総合処理容量７０２を求め、外部記憶装置の容量６０１と複数プロセス（複数の子プロセス）で試験を行ったときの処理容量７０２とから、次に示す式（３）、式（４）により、前述した複数の試験プロセスで外部記憶装置の容量６０１の全容量を試験したとき掛かる時間である、この一定時間でのプロセス数で続けた場合に掛かる時間ｔｇと、残り時間ｔｈとを求め、その結果から次の一定時間で並列に試験を行うプロセス数を求める。

この一定時間でのプロセス数で続けた場合に掛かる時間ｔｇ
＝外部記憶装置の容量６０１÷試験完了した容量７０２×一定時間 ……（３）
残り時間ｔｈ＝利用者が指示する試験完了時間−経過時間 ……（４）
式（４）における経過時間は、一定時間にその繰り返し回数を乗じた時間である。そして、式（３）、式（４）で求めた時間の小数点以下を切り捨てて、時間ｔｇ≦時間ｔｈであった場合、プロセス数を変更せず、時間ｔｇ＞時間ｔｈであった場合、次の一定時間はプロセス数を＋１として試験を行う。

プロセス再配置機構３０５は、前述したような演算及び処理を行うことにより、プロセス生成機構３０４が生成した複数の試験プロセスによる試験を一定時間後に終了させ、複数の試験プロセスによる試験済み容量を集計し、試験未完了の領域を算出し、試験未完了の領域を試験するのに必要な時間と実行時間予測機構３０３が予測した実行時間の残りとを比較して、目標の試験時間で試験が完了できるように、次の一定時間における試験プロセス数を算出し、各プロセスの試験領域を決定し、複数の試験プロセスを生成し、生成した複数の試験プロセスに試験を実行させる処理を試験終了まで、すなわち、外部記憶装置の指定された全領域の試験が終了するまで繰り返す。なお、この外部記憶装置の指定された全領域の試験が終了するまでの時間は、指定された試験時間に一致する。

本発明の実施形態では、前述したようにして求められたプロセス数により試験を一定時間実行し、その結果を基にプロセス数の再計算を行い、この処理を利用者が指示する試験完了時間まで繰り返し実行する。その際、プロセス数を増やしても一定時間当りの試験完了容量が増えない場合、そのプロセス数を固定として利用者が指示する試験完了時間まで試験を繰り返し実行する。

図６は最大データ転送量が指示され、外部記憶装置３０２に対して短時間試験機構３０７が有する試験プロセスにより一定時間の試験を行った後の状態を示す図である。図６では外部記憶装置５０２の容量６０１に対して、図３で説明した時間ｔ１までの一定時間の試験で試験を完了した容量が容量８０２、残りの容量が容量８０３であるとして示しており、ここに示す状態は、図４に示したものと同一である。

本発明の実施形態は、作業者から最大データ転送量が与えられた場合にも、短時間試験機構３０７が周辺装置としての外部記憶装置に対して１プロセスによる一定の短時間試験を行う。そして、本発明の実施形態は、この短時間試験が完了した時点での試験の完了した容量と作業者から与えられた最大データ転送量とから、次に試験を行うために使用する試験プロセス数を求め、求められた複数の試験プロセスを生成し、それらの試験プロセスに一定時間の試験を行わせる処理を、周辺装置としての外部記憶装置の全容量の処理が終了するまで繰り返し実行する。

図６に示しているように、一定時間の短時間試験が完了した時点での試験の完了した容量８０２が一定時間当たりの転送量であるため、前述の作業者から与えられた最大データ転送量と試験の完了した容量８０２とから、次に示す式（５）により、試験を行うプロセス数ｐ２を求めることができる。

プロセス数ｐ２
＝作業者が指示する最大データ転送量÷試験の完了した容量８０２ ……（５）
式（５）において、もし作業者が指示する最大データ転送量が一定時間当たりの転送量８０２より小さい場合、入出力コマンド実行の間にsleep コマンドを実行することにより、一定時間当たりの入出力コマンドの実行量を少なくして転送量を調整する。sleep コマンドに設定するsleep 時間ｔｓ１は、次に示す式（６）により求めることができる。

sleep時間ｔｓ１
＝（一定時間あたりの転送量８０２−利用者が指示する最大データ転送量）÷一定時間当たりの転送量８０２ ……（６）
本発明の実施形態は、前述したように、最大データ転送量が指示され、その最大データ転送量が短時間試験機構３０７による一定の短時間試験での一定の短時間当たりの転送量８０２より小さい場合、入出力コマンド発行後に前述したsleep コマンドを発行し、そのコマンドで指定されるsleep 時間ｔｓ１の間、データ転送を中断することにより一定時間あたりの転送量を利用者が指示する最大データ転送量に近付けることができる。

前述した本発明の実施形態によれば、複数の試験プロセスにより試験での一定時間当たりの処理量の推移を基に試験プロセス数を制御することにより、利用者が試験完了時間を指示するだけで、大容量の外部記憶装置を効率良く試験を行うことができる。また、一定時間あたりの処理量の推移を基に、複数の試験プロセスの数と入出力コマンドの実行量とを制御することにより、利用者が最大データ転送量を指示するだけで、一定の負荷を掛ける試験を簡単に実現することができる。

前述した本発明の実施形態は、周辺装置が外部記憶装置であるとして説明したが、本発明は、周辺装置としてのネットワークに対する試験にも適用することができ、ネットワークの伝送帯域についての試験に利用することができる。

１０１、３０１、５０１ 計算機
１０２〜１０５、３０２、５０２〜５０５ 外部記憶装置
１０６、５０６ 検証プログラム
１０７、５０７ コンソール
１０８、５０８ 作業者からの指示
２０１ 中央処理装置
２０２ 内部バス
２０３ 外部バス
２０４、３１２ ディスクインタフェース
２０５、３１３ ハードディスクドライブ
３０３ 実行時間予測機構
３０４ プロセス生成機構
３０５ プロセス再配置機構
３０６ 容量取得コマンド
３０７ 短時間試験機構
３０８〜３１１ 試験プロセス

Claims (2)

1. 計算機と、周辺装置として外部記憶装置を含む複数の周辺装置とからなるコンピュータシステムにおいて、
   前記外部記憶装置に対してデータの読み取りまたは書き込みを行う一定時間の試験を１つの試験プロセスにより実施し、その一定時間と、その一定時間の試験での試験済み容量と、前記外部記憶装置の指定された試験範囲の容量とから、前記１つの試験プロセスを用いて試験を行った場合の前記外部記憶装置の指定された試験範囲の試験完了までの実行時間を予測する実行時間予測手段と、
   前記予測した実行時間と指示された最大データ転送量とから、指定された最大転送量で試験を行うのに必要な複数の試験プロセスの数及び前記外部記憶装置への入出力コマンドの量を算出し、前記複数の試験プロセスのそれぞれの試験領域を決定し、前記複数の試験プロセスを生成し、生成した複数の試験プロセスのそれぞれに前記試験領域を割り当てて試験を実行させるプロセス生成手段と、
   前記生成した複数の試験プロセスによる試験を一定時間後に終了させ、複数の試験プロセスによる試験済み容量を集計すると共に試験時の転送量を算出し、該算出された転送量と指示された最大データ転送量とを比較し、最大データ転送量となるように、次の一定時間における試験プロセス数及び入出力コマンドの量を算出し、各プロセスの試験領域を決定し、複数の試験プロセスを生成し、生成した複数の試験プロセスに試験を実行させる処理を繰り返し実行するプロセス再配置手段とを備えることを特徴とするコンピュータシステム。
2. 計算機と、周辺装置として外部記憶装置を含む複数の周辺装置とからなるコンピュータシステムにおける周辺装置の検証方法において、
   前記計算機は、実行時間予測手段と、プロセス生成手段と、プロセス再配置手段とを備え、
   前記実行時間予測手段は、
   前記外部記憶装置に対してデータの読み取りまたは書き込みを行う一定時間の試験を１つの試験プロセスにより実施し、その一定時間と、その一定時間の試験での試験済み容量と、前記外部記憶装置の指定された試験範囲の容量とから、前記１つの試験プロセスを用いて試験を行った場合の前記外部記憶装置の指定された試験範囲の試験完了までの実行時間を予測し、
   前記プロセス生成手段は、
   前記予測した実行時間と指示された最大データ転送量とから、指定された最大転送量で試験を行うのに必要な複数の試験プロセスの数及び前記外部記憶装置への入出力コマンドの量を算出し、前記複数の試験プロセスのそれぞれの試験領域を決定し、前記複数の試験プロセスを生成し、生成した複数の試験プロセスのそれぞれに前記試験領域を割り当てて試験を実行させ、
   前記プロセス再配置手段は、
   前記生成した複数の試験プロセスによる試験を一定時間後に終了させ、複数の試験プロセスによる試験済み容量を集計すると共に試験時の転送量を算出し、該算出された転送量と指示された最大データ転送量とを比較し、最大データ転送量となるように、次の一定時間における試験プロセス数及び入出力コマンドの量を算出し、各プロセスの試験領域を決定し、複数の試験プロセスを生成し、生成した複数の試験プロセスに試験を実行させる処理を繰り返し実行することを特徴とするコンピュータシステムにおける周辺装置の検証方法。
   
   
   

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