WO2012008319A1 - エミュレータ検証システム、エミュレータ検証方法 - Google Patents
エミュレータ検証システム、エミュレータ検証方法 Download PDFInfo
- Publication number
- WO2012008319A1 WO2012008319A1 PCT/JP2011/065173 JP2011065173W WO2012008319A1 WO 2012008319 A1 WO2012008319 A1 WO 2012008319A1 JP 2011065173 W JP2011065173 W JP 2011065173W WO 2012008319 A1 WO2012008319 A1 WO 2012008319A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- verification
- emulator
- pattern
- result
- portable storage
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/006—Identification
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/261—Functional testing by simulating additional hardware, e.g. fault simulation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318342—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences by preliminary fault modelling, e.g. analysis, simulation
- G01R31/318357—Simulation
Definitions
- the present invention relates to an emulator verification system that performs execution processing based on a test pattern for a logic circuit and verifies an operation state in the logic circuit.
- the emulator verification apparatus 200 includes a data input unit 304 that acquires a test pattern sent from the server computer 303, a test pattern storage unit 301 that temporarily stores and saves the test pattern, and a verification of a circuit 201 to be verified. It is assumed that a configuration is provided that includes a result pattern storage unit 302 that acquires and stores the processing result of the processing, and a data output unit 305 that notifies the server computer 303 of the processing result (verification result) of the verification process of the circuit 201 to be verified.
- the verification result in the circuit 201 to be verified may be set to be transferred to an observation device such as a logic analyzer set in advance to the outside or another computer set by connecting to the observation device. Good.
- the present invention provides a first portable storage medium for inputting a verification test pattern stored in advance when connected to the emulator verification device, and a verification result in the emulator verification device for reading and holding the verification result.
- a verification test pattern stored in advance when connected to the emulator verification device
- a verification result in the emulator verification device for reading and holding the verification result.
- FIG. 1 is a schematic block diagram showing an embodiment of an emulator verification system according to an embodiment of the present invention.
- 2 is a sequence chart showing the entire operation content in the emulator verification system shown in FIG. 1.
- 3A is a schematic block diagram showing the internal configuration of the movable test pattern storage device in the emulator verification system shown in FIG. 1, and
- FIG. 3B is the movement in the emulator verification system shown in FIG.
- It is a schematic block diagram which shows the internal structure of a possible result pattern storage apparatus.
- 1 is a schematic block diagram showing a general emulator verification system that performs verification processing of a physically installed emulator circuit.
- FIG. It is a schematic block diagram which shows an example at the time of applying the emulator verification system shown in FIG. 1 with respect to a general emulator verification system.
- the pattern read / write device 1 includes a connection interface (1-1) to which a movable test pattern storage device 14 which is a nonvolatile storage device (data storage medium) can be connected, and a connection interface to which a movable result pattern storage device 16 can be connected. (1-2).
- the pattern read / write device 1 includes a host calculation processing unit 11 that generates a test pattern, a peripheral device control unit 12 that acquires the test pattern generated by the host calculation processing unit 11 and transmits the test pattern to the test pattern conversion unit 13;
- a test pattern conversion means 13 for converting the data format of the test pattern sent from the peripheral device control unit 12 into a storage data format in the movable test pattern storage device 14 and a movable result pattern storage device 16 are connected to the connection interface.
- a result pattern conversion means 15 is provided for reading the result pattern from the movable result pattern storage device 16 and converting the result pattern into a readable / writable data format in the host calculation processing unit 11.
- the emulator verification device 2 includes a connection interface (2-1) to which a movable test pattern storage device 14 that is a nonvolatile storage device (data storage medium) can be connected, and a movable that is a nonvolatile storage device (data storage medium).
- a connection interface (2-2) to which the result pattern storage device 16 can be connected is provided.
- the emulator verification device 2 reads a test pattern from the movable test pattern storage device 14 and converts the data format of the test pattern into a data format that can be executed by the circuit section 21 to be verified;
- the test pattern storage terminal unit 23 that temporarily holds the converted test pattern and a circuit to be verified that has been set in advance, and performing the execution process based on the test pattern on the circuit to be verified
- the verification target circuit unit 21 that performs the verification process related to the execution process, the result pattern storage terminal unit 24 that acquires and temporarily stores the verification result information indicating the verification result, and the result pattern storage terminal unit 24 Result pattern format conversion for converting the data format of the result pattern information according to the data format that can be stored in the movable result pattern storage device 16 And it has a configuration in which the stage 25.
- a test pattern used for verification can be input to the emulator verification device 2 via the movable test pattern storage device 14 as a mechanism independent of the pattern read / write device 1 and the emulator verification device 2. Further, the verification result pattern, which is the verification result based on the test pattern, can be output to the movable result pattern storage device 16 which is a mechanism independent of the pattern reading / writing device 1 and the emulator verification device 2, and further, in the middle of the verification process Even so, the verification result pattern as an intermediate result can be extracted from the emulator verification device 2. It is assumed that the verification result taken out during the verification process can be read into the pattern read / write device 1 and output and displayed.
- the host calculation processing unit 11 of the pattern read / write device 1 has a test pattern generation function that generates a test pattern for verification in the circuit unit 21 to be verified.
- the test pattern generated by the host calculation processing unit 11 is sent to the test pattern conversion means 13 via the peripheral device control unit 12.
- the host calculation processing unit 11 has a configuration including a storage area for holding a preset test pattern for verification and a test pattern input function for inputting the test pattern for verification to the test pattern conversion unit 13. There may be.
- test pattern format conversion means 15 has a connection detection function for detecting that the movable result pattern storage device 16 is connected to the connection interface (1-2) prior to the execution of the test pattern verification conversion function. Yes.
- the result pattern format conversion means 25 may be set to detect the storage data format in the movable result pattern storage device 16 when the movable result pattern storage device 16 is connected. As a result, the result pattern format conversion means 25 can perform conversion in which the test pattern stored in advance is adapted to the stored data format in the movable result pattern storage device 16.
- the switching means 404 may be a physical switch or a switch unit controlled by software.
- the nonvolatile memory unit 400 may be set to store a test pattern exceeding a certain capacity.
- the switching unit 604 may be a physical switch or a switch unit controlled by software.
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Description
また、この関連技術として、検証対象の論理回路(FPGA)を有し、制御用プログラマブルデバイス、検証装置本体に設けられた連結機構、およびDUT搭載基板からなるDUT搭載手段を備えたエミュレータ検証装置が開示されている(特許文献2)。
また、この関連技術として、検証結果の保存場所をICメモリカード上に設定することにより、検証結果の書き込み作業中に、検証装置で別の作業を行うことを可能とするシステムが開示されている(特許文献4)。
本発明は、上記関連技術の有する不都合を改善し、被検証装置の論理回路におけるテストパタンに基づく検証処理を迅速に行うことを可能とするエミュレータ検証システム、およびエミュレータ検証方法を提供することを、その目的とする。
次に、本発明を実施するための実施形態1について図面を参照して説明する。
また、パタン読み書き装置1は、テストパタンの生成を行うホスト計算処理部11と、ホスト計算処理部11で生成されたテストパタンを取得しテストパタン変換手段13に送信する周辺装置制御部12と、周辺装置制御部12から送り込まれたテストパタンのデータ形式を移動可能テストパタン格納装置14における記憶用データ形式に変換するテストパタン変換手段13と、接続インタフェースに移動可能結果パタン格納装置16が接続された場合に移動可能結果パタン格納装置16から結果パタンを読み込むと共にホスト計算処理部11での読み書き可能なデータ形式に変換する結果パタン変換手段15を備えている。
移動可能テストパタン格納装置14は、図3(A)に示すように、パタン読み書き装置1およびエミュレータ検証装置2に対する物理的な接続インタフェースとしてのピン変換手段43と、パタン読み書き装置1またはエミュレータ検証装置2に接続された場合にピン変換手段43を介して行われるテストパタン(データ)の読み書き処理を制御する入力データ変換制御手段41と、ピン変換手段43がパタン読み書き装置1に接続された場合に取得したテストパタン情報を記憶する不揮発性メモリ40を備えた構成を有する。
また、不揮発性メモリ40は、SDカードやCDカード、USBメモリ、USBハードディスク、SSDメモリのような汎用計算機用フラッシュメモリで構成されていてもよい。
また、テストパタンに基づく検証結果である検証結果パタンをパタン読み書き装置1およびエミュレータ検証装置2から独立した機構である移動可能結果パタン格納装置16に出力することができ、更には、検証処理の途中であっても途中結果としての検証結果パタンをエミュレータ検証装置2から取り出すことができる。
尚、検証処理途中で取り出された検証結果はパタン読み書き装置1に読み込まれ、出力表示することができるものとする。
また、ホスト計算処理部11は、予め設定された検証用テストパタンを保持するための記憶領域と、検証用テストパタンをテストパタン変換手段13に対して入力するテストパタン入力機能を備えた構成であってもよい。
また、周辺装置制御部12は、結果パタン変換手段15で変換された結果パタンを予め設定されたディスプレイ装置などに出力表示する制御を行う結果パタン出力機能を有する。
これにより、テストパタン変換手段13では、予め記憶したテストパタンを移動可能テストパタン格納装置14における記憶データ形式に適合させた変換を行うことが可能となる。
また、テストパタン形式変換手段22は、データ形式を変換したテストパタンをテストパタン格納端子部23に入力する(テストパタン入力機能)。
これにより、テストパタンは、被検証回路部21からアクセス可能な状態でテストパタン格納端子部23に格納される。
また、検証用のテストパタンとして、検証中途再開用のテストパタンがテストパタン格納端子部23に格納されることにより、被検証回路部21において検証処理の途中から再開させることができる。
尚、この検証結果は、被検証回路が、テストパタンが入力された場合に、このテストパタンに基づく実行処理が正常に行われる否か、または、この実行処理内容を示すものとする。
これにより、被検証回路部21は、期待値と比較した結果を波形図表示用に出力したり、検証、照合、確認作業といった一般的検証処理、検証作業の実行を行うものとする。
また、被検証回路部21は、上記検証結果パタンのうち保存の必要性のあるデータ、参照の必要性のあるデータを抽出してメモリに書き込むためのデータを書き出し、結果パタン格納端子部24に格納する設定であってもよい。
尚、上記パタン読み書き装置1で読み書き処理可能なデータ形式は、エミュレータ検証装置2内に予め登録設定されているものとする。
これにより、結果パタン形式変換手段25は、予め記憶したテストパタンを移動可能結果パタン格納装置16における記憶データ形式に適合させた変換を行うことが可能となる。
次に、上記の実施形態1の全体的な動作について説明する。
ここで、非検証回路部21が、テストパタンに基づく検証処理を行い、エミュレータ検証装置2に対して、移動可能結果パタン格納装置16が接続した場合に、検証処理結果のデータ形式を移動可能結果パタン格納装置16における保存用のデータ形式に変換すると共に移動可能結果パタン格納装置16に書き出す。
次いで、移動可能結果パタン格納装置16がパタン読み書き装置1に対して接続された場合に、結果パタン変換手段15が、移動可能結果パタン格納装置16から検証処理結果(結果パタン)を取得し、出力表示用のデータ形式に変換する。
ここで、上記テストパタンは、ホスト計算処理部101が予め設定されたプログラムに基づき実行処理を行うことにより生成するパタンデータであり、例えば、テキストデータ、画像データ、または動画データなどを含むパタンデータであるものとする。
尚、テストパタン変換手段103における上記テストパタン変換機能およびテストパタン書込み処理機能の実行処理はホスト計算処理部101により制御されるものとする。
次に、被検証回路部21は、テストパタンに基づく検証処理を行う(ステップC7:検証実行)。
このとき、結果パタン格納端子部24は、検証結果として得られた結果パタンから、予め設定された条件に基づき、保存しておく必要性、あるいは参照の必要性があるデータを抽出する設定であってもよい。
ここで、被検証回路部21では、テストパタンの一部として予め設定されたテストシナリオに基づき、上記ステップC6~8が連続的に繰り返し実行される設定であってもよい。
このとき、結果パタン形式変換手段25は、検証処理が中途状態にあるか否かをチェックしながら、変換した結果パタンを移動可能結果パタン格納手段106に対して書き込む(ステップC10)。
ここで、結果パタン形式変換手段25は、取得した結果パタンから検証状態が終了したか否かを判定し、検証処理が終了したと判定されない場合、つまり、検証処理が中断した状態にあると判定された場合には結果パタンが、結果パタン格納端子部204から結果パタンを取得する。
結果パタン形式変換手段25による上記処理はステップC7の検証実行が完了する、または、準備された中断の条件に合致した場合に終了する。これは制御部26が予め設定された条件プログラムに基づき判断するものとする。中断状態の場合は検証処理が中断されたことを示す中断フラグ情報を出力するものとする。
これにより、被検証回路部21は、中断した段階から迅速に再開することができる。
また、結果パタンの格納手段に記憶することによって、エミュレータ装置の電源がオフ状態に設定された後、再度電源を立ち上げられれば、即時検証処理を再開することが可能となる。
次に、本実施形態2のエミュレータ回路検証システムについて、図5に基づき説明する。ここで、前述した実施形態1と同一の部分については、同一の符号を付するものとする。
次に、本実施形態3のエミュレータ回路検証システムについて、図6のブロック図に基づき説明する。ここで、前述した実施形態1および2と同一の部分については、同一の符号を付するものとする。
また、被検証処理部20は、生成した結果パタンをエミュレータ検証装置202に着脱可能に接続された移動可能結果パタン格納装置16に対して出力する。
不揮発性メモリ部600は、図8に示すように、記憶部位1、2、3・・・Nからなる記憶領域であり、大容量のテストパタンを分割して記憶する分割記憶手段606を有し、また、取得した結果パタンを書き込む記憶部位を選択するセレクタ手段605と、セレクタ手段605に対してデータ書き込み先である記憶部位の切り替え指定を行う切り替え手段604を有する。
尚、切り替え手段604は、物理的スイッチやソフトウエアで制御されるスイッチ部であってもよい。
また、リアルタイムに必要となる制御情報などのテストデータをデータ入力手段を介して直接エミュレータ検証装置に入力する構成とし、検証処理における異常発生などを示す検証結果情報を直接サーバ計算機に通知する構成としたことにより、検証に即時必要なデータについては、移動可能テストパタン格納装置や移動可能結果パタン格納装置への入出力の手間を省いて、エミュレータ検証装置およびサーバ計算機間で送受信して、評価することができ、また、音声や動画像などの大規模データは、移動可能テストパタン104や移動可能結果パタン106を経由して、後で評価するといったことが可能となる。
尚、上記の実施形態の一部又は全部は、新規な技術として以下のようにまとめられるが、本発明は必ずしもこれに限定されるものではない。
予め設定された検証用テストパタン情報を保持すると共に当該検証用テストパタン情報に基づく検証処理の結果を出力表示するパタン読み書き装置と、前記検証用テストパタン情報に基づく実行を行うと共にその実行内容の検証処理を行うエミュレータ検証装置とを備えたエミュレータ検証システムであって、
前記パタン読み書き装置および前記エミュレータ装置それぞれに対して着脱可能な接続部を有する第1および第2の可搬記憶媒体を備え、
前記パタン読み書き装置は、
当該パタン読み書き装置に対して前記第1の可搬記憶媒体が接続した場合に前記検証処理用パタン情報のデータ形式を前記第1の可搬記憶媒体における記憶用のデータ形式に変換すると共に前記検証処理用パタン情報の書き出しを行うパタン情報変換書き出し部と、
前記第2の可搬記憶媒体が前記パタン読み書き装置に対して接続された場合に、前記第2の可搬記憶媒体から前記検証処理の結果を示す検証結果情報を取得すると共に当該検証結果情報を前記出力表示用のデータ形式に変換する検証結果変換出力部とを備え、
前記エミュレータ検証装置は、
当該エミュレータ検証装置に前記第1の可搬記憶媒体が接続された場合に当該第1の可搬記憶媒体から前記検証処理用パタン情報を取得すると共に、そのデータ形式を前記検証処理用のデータ形式に変換するデータ読込変換部と、
前記エミュレータ検証装置に前記第2の可搬記憶媒体が接続した場合に前記検証処理結果情報のデータ形式を前記第2の可搬記憶媒体におけるデータ読出し用のデータ形式に変換すると共に当該検証処理用パタン情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出す検証結果変換書き出し部とを備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。
付記1に記載のエミュレータ検証システムであって、
前記検証結果変換書き出し部は、前記検証処理の状態が前記検証処理用パタン情報内に含まれる検証中断条件に合致した場合に、前記検証処理を中断し検証結果情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出す検証中断書き出し手段を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。
付記1に記載のエミュレータ検証システムであって、
前記エミュレータ検証装置は、
前記第1および第2の可搬記憶媒体の接続部との接続が可能な単一の接続インタフェース部を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。
付記1に記載のエミュレータ検証システムであって、
前記エミュレータ検証装置は、前記第1および第2の可搬記憶媒体の接続部それぞれに対応した第1および第2の接続インタフェース部と、
前記第1および第2の接続インタフェース部における接続状況を監視し当該接続状況に応じて前記データ読込変換部および検証結果変換書き出し部における動作を制御するデータ読み書き制御部とを備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。
付記4に記載のエミュレータ検証システムであって、
前記第1の可搬記憶媒体は、前記検証処理用パタン情報の種別に対応して予め設定された異なる記憶領域を有し、
前記パタン情報変換書き出し部は、前記検証処理用パタン情報を種別ごとに前記記憶領域に書き出す種別対応書き出し機能を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。
予め設定された被検証用回路における検証用テスト情報に基づく実行内容の正常性を検証するエミュレータ検証装置と、エミュレータ検証装置に接続し前記検証処理に係る指示情報を入力するサーバ装置とを備えたエミュレータ検証システムであって、
前記エミュレータ検証装置に着脱可能に接続すると共に予め設定されたデータ容量より大きい検証処理用テスト情報を前記エミュレータ検証装置に対して入力する第1の可搬記憶媒体と、
前記エミュレータ検証装置に対して着脱可能に接続すると共に前記エミュレータ検証装置における検証処理の結果を示す予め設定されたデータ容量より大きい検証結果情報を取得し記憶保持する第2の可搬記憶媒体とを備え、
前記エミュレータ検証装置は、予め設定されたデータ容量より小さい検証処理用テスト情報を前記サーバ装置から取得する小容量テスト情報取得機能と、予め設定されたデータ容量より小さい検証結果情報を前記サーバ装置に対して出力する小規模結果情報出力機能とを有し、
前記第1の可搬記憶媒体は、前記検証処理用パタン情報を入力するのに先立ち当該検証処理用パタン情報のデータ形式を前記検証処理用に変換する検証用テストデータ形式変換機能を備え、
前記第2の可搬記憶媒体は、前記検証結果情報を取得した場合に当該前記検証結果情報のデータ形式を記憶保持用に変換する検証結果データ形式変換機能を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。
予め設定された検証用テストパタン情報を保持すると共に当該検証用テストパタン情報に基づく検証処理の結果を出力表示するパタン読み書き装置と、前記検証用テストパタン情報に基づく実行内容の検証処理を行うエミュレータ検証装置と、前記パタン読み書き装置および前記エミュレータ検証装置それぞれに対して着脱可能な接続部を有する第1および第2の可搬記憶媒体とを備えたエミュレータ検証システムにあって、前記検証処理を実行するエミュレータ検証方法であって、
前記パタン読み書き装置に対して前記第1の可搬記憶媒体が接続した場合に、前記パタン読み書き装置が前記検証処理用パタン情報のデータ形式を前記第1の可搬記憶媒体における記憶用のデータ形式に変換し、前記検証処理用パタン情報の書き出しを行い、
前記エミュレータ検証装置に前記第1の可搬記憶媒体が接続された場合に、当該第1の可搬記憶媒体から前記検証処理用パタン情報を取得すると共に、そのデータ形式を前記検証処理用のデータ形式に変換し、
前記エミュレータ検証装置に前記第2の可搬記憶媒体が接続した場合に、前記検証処理結果情報のデータ形式を前記第2の可搬記憶媒体におけるデータ読出し用のデータ形式に変換すると共に当該検証処理用パタン情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出し、
前記第2の可搬記憶媒体が前記パタン読み書き装置に対して接続された場合に、前記第2の可搬記憶媒体から前記検証処理の結果を示す検証結果情報を取得し、当該検証結果情報を前記出力表示用のデータ形式に変換することを特徴としたエミュレータ検証方法。
11 ホスト計算処理部
12 周辺装置制御部
13 テストパタン変換手段
14、34 移動可能テストパタン格納手段(第1の可搬記憶媒体)
15 結果パタン変換手段
16、36 移動可能テストパタン格納手段(第2の可搬記憶媒体)
2 エミュレータ検証装置
21 被検証回路部
22 テストパタンメモリ形式変換手段
23 テストパタン格納端子部
24 結果パタン格納端子部
25 結果パタンメモリ形式変換手段
Claims (7)
- 予め設定された検証用テストパタン情報を保持すると共に当該検証用テストパタン情報に基づく検証処理の結果を出力表示するパタン読み書き装置と、前記検証用テストパタン情報に基づく実行を行うと共にその実行内容の検証処理を行うエミュレータ検証装置とを備えたエミュレータ検証システムであって、
前記パタン読み書き装置および前記エミュレータ装置それぞれに対して着脱可能な接続部を有する第1および第2の可搬記憶媒体を備え、
前記パタン読み書き装置は、
当該パタン読み書き装置に対して前記第1の可搬記憶媒体が接続した場合に前記検証処理用パタン情報のデータ形式を前記第1の可搬記憶媒体における記憶用のデータ形式に変換すると共に前記検証処理用パタン情報の書き出しを行うパタン情報変換書き出し部と、
前記第2の可搬記憶媒体が前記パタン読み書き装置に対して接続された場合に、前記第2の可搬記憶媒体から前記検証処理の結果を示す検証結果情報を取得すると共に当該検証結果情報を前記出力表示用のデータ形式に変換する検証結果変換出力部とを備え、
前記エミュレータ検証装置は、
当該エミュレータ検証装置に前記第1の可搬記憶媒体が接続された場合に当該第1の可搬記憶媒体から前記検証処理用パタン情報を取得すると共に、そのデータ形式を前記検証処理用のデータ形式に変換するデータ読込変換部と、
前記エミュレータ検証装置に前記第2の可搬記憶媒体が接続した場合に前記検証処理結果情報のデータ形式を前記第2の可搬記憶媒体におけるデータ読出し用のデータ形式に変換すると共に当該検証処理用パタン情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出す検証結果変換書き出し部とを備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。 - 請求項1に記載のエミュレータ検証システムであって、
前記検証結果変換書き出し部は、前記検証処理の状態が前記検証処理用パタン情報内に含まれる検証中断条件に合致した場合に、前記検証処理を中断し検証結果情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出す検証中断書き出し手段を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。 - 請求項1に記載のエミュレータ検証システムであって、
前記エミュレータ検証装置は、
前記第1および第2の可搬記憶媒体の接続部との接続が可能な単一の接続インタフェース部を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。 - 請求項1に記載のエミュレータ検証システムであって、
前記エミュレータ検証装置は、前記第1および第2の可搬記憶媒体の接続部それぞれに対応した第1および第2の接続インタフェース部と、
前記第1および第2の接続インタフェース部における接続状況を監視し当該接続状況に応じて前記データ読込変換部および検証結果変換書き出し部における動作を制御するデータ読み書き制御部とを備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。 - 請求項4に記載のエミュレータ検証システムであって、
前記第1の可搬記憶媒体は、前記検証処理用パタン情報の種別に対応して予め設定された異なる記憶領域を有し、
前記パタン情報変換書き出し部は、前記検証処理用パタン情報を種別ごとに前記記憶領域に書き出す種別対応書き出し機能を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。 - 予め設定された被検証用回路における検証用テスト情報に基づく実行内容の正常性を検証するエミュレータ検証装置と、エミュレータ検証装置に接続し前記検証処理に係る指示情報を入力するサーバ装置とを備えたエミュレータ検証システムであって、
前記エミュレータ検証装置に着脱可能に接続すると共に予め設定されたデータ容量より大きい検証処理用テスト情報を前記エミュレータ検証装置に対して入力する第1の可搬記憶媒体と、
前記エミュレータ検証装置に対して着脱可能に接続すると共に前記エミュレータ検証装置における検証処理の結果を示す予め設定されたデータ容量より大きい検証結果情報を取得し記憶保持する第2の可搬記憶媒体とを備え、
前記エミュレータ検証装置は、予め設定されたデータ容量より小さい検証処理用テスト情報を前記サーバ装置から取得する小容量テスト情報取得機能と、予め設定されたデータ容量より小さい検証結果情報を前記サーバ装置に対して出力する小規模結果情報出力機能とを有し、
前記第1の可搬記憶媒体は、前記検証処理用パタン情報を入力するのに先立ち当該検証処理用パタン情報のデータ形式を前記検証処理用に変換する検証用テストデータ形式変換機能を備え、
前記第2の可搬記憶媒体は、前記検証結果情報を取得した場合に当該前記検証結果情報のデータ形式を記憶保持用に変換する検証結果データ形式変換機能を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。 - 予め設定された検証用テストパタン情報を保持すると共に当該検証用テストパタン情報に基づく検証処理の結果を出力表示するパタン読み書き装置と、前記検証用テストパタン情報に基づく実行内容の検証処理を行うエミュレータ検証装置と、前記パタン読み書き装置および前記エミュレータ検証装置それぞれに対して着脱可能な接続部を有する第1および第2の可搬記憶媒体とを備えたエミュレータ検証システムにあって、前記検証処理を実行するエミュレータ検証方法であって、
前記パタン読み書き装置に対して前記第1の可搬記憶媒体が接続した場合に、前記パタン読み書き装置が前記検証処理用パタン情報のデータ形式を前記第1の可搬記憶媒体における記憶用のデータ形式に変換し、前記検証処理用パタン情報の書き出しを行い、
前記エミュレータ検証装置に前記第1の可搬記憶媒体が接続された場合に、当該第1の可搬記憶媒体から前記検証処理用パタン情報を取得すると共に、そのデータ形式を前記検証処理用のデータ形式に変換し、
前記エミュレータ検証装置に前記第2の可搬記憶媒体が接続した場合に、前記検証処理結果情報のデータ形式を前記第2の可搬記憶媒体におけるデータ読出し用のデータ形式に変換すると共に当該検証処理用パタン情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出し、
前記第2の可搬記憶媒体が前記パタン読み書き装置に対して接続された場合に、前記第2の可搬記憶媒体から前記検証処理の結果を示す検証結果情報を取得し、当該検証結果情報を前記出力表示用のデータ形式に変換することを特徴としたエミュレータ検証方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012524515A JP5900336B2 (ja) | 2010-07-13 | 2011-07-01 | エミュレータ検証システム、エミュレータ検証方法 |
US13/809,947 US8990624B2 (en) | 2010-07-13 | 2011-07-01 | Emulator verification system, emulator verification method |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010158991 | 2010-07-13 | ||
JP2010-158991 | 2010-07-13 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2012008319A1 true WO2012008319A1 (ja) | 2012-01-19 |
Family
ID=45469323
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2011/065173 WO2012008319A1 (ja) | 2010-07-13 | 2011-07-01 | エミュレータ検証システム、エミュレータ検証方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8990624B2 (ja) |
JP (1) | JP5900336B2 (ja) |
WO (1) | WO2012008319A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20130024178A1 (en) * | 2011-07-20 | 2013-01-24 | Narendran Kumaragurunathan | Playback methodology for verification components |
US9886536B2 (en) * | 2015-04-27 | 2018-02-06 | Zipalog, Inc. | System and method for passive verification |
CN112885403B (zh) * | 2021-02-08 | 2023-07-14 | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 | 一种Flash控制器的功能测试方法、装置及设备 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05181928A (ja) * | 1991-12-27 | 1993-07-23 | Oki Electric Ind Co Ltd | 論理シュミレーション用パターンの作成装置 |
JP2009048367A (ja) * | 2007-08-17 | 2009-03-05 | Oki Electric Ind Co Ltd | 回路設計方法、ならびにその方法により製造される集積回路 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3003190B2 (ja) | 1990-09-14 | 2000-01-24 | 松下電器産業株式会社 | 流し槽付き家具 |
JPH04169875A (ja) | 1990-11-02 | 1992-06-17 | Nec Corp | 論理集積回路の試験方法 |
JP4294531B2 (ja) | 2004-04-06 | 2009-07-15 | 三菱電機株式会社 | 論理回路検証・テストシステム |
JP2005346517A (ja) | 2004-06-04 | 2005-12-15 | Renesas Technology Corp | 検証装置および検証方法 |
-
2011
- 2011-07-01 US US13/809,947 patent/US8990624B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2011-07-01 JP JP2012524515A patent/JP5900336B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2011-07-01 WO PCT/JP2011/065173 patent/WO2012008319A1/ja active Application Filing
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05181928A (ja) * | 1991-12-27 | 1993-07-23 | Oki Electric Ind Co Ltd | 論理シュミレーション用パターンの作成装置 |
JP2009048367A (ja) * | 2007-08-17 | 2009-03-05 | Oki Electric Ind Co Ltd | 回路設計方法、ならびにその方法により製造される集積回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8990624B2 (en) | 2015-03-24 |
JPWO2012008319A1 (ja) | 2013-09-09 |
US20130117610A1 (en) | 2013-05-09 |
JP5900336B2 (ja) | 2016-04-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI503835B (zh) | Test apparatus and test method | |
JP2006127553A (ja) | プログラムのテスト及びデバッギングが容易な中央処理装置 | |
US11302412B2 (en) | Systems and methods for simulated device testing using a memory-based communication protocol | |
CN109783340B (zh) | SoC的测试代码烧写方法、IP测试方法及装置 | |
CN102346235A (zh) | 一种面向硬件设备功能的自动测试系统及方法 | |
JP2010176392A (ja) | 不良解析装置と方法及びプログラム | |
GB2381875A (en) | Test system or method for integrated circuits | |
JP5900336B2 (ja) | エミュレータ検証システム、エミュレータ検証方法 | |
KR100825786B1 (ko) | 메모리 카드 및 메모리 카드의 디버깅 방법 | |
JP4130811B2 (ja) | 試験装置及び試験方法 | |
JP2010175459A (ja) | 診断装置、診断方法および試験装置 | |
KR101300443B1 (ko) | 바이패스 경로를 이용하여 신뢰성 검증을 할 수 있는 플래시 메모리 저장 장치, 및 이를 이용한 플래시 메모리 저장 장치의 신뢰성 검증 시스템 및 방법 | |
JP2001265620A (ja) | Romのプログラムデバッグ方式 | |
CN112885403B (zh) | 一种Flash控制器的功能测试方法、装置及设备 | |
JP4589255B2 (ja) | ハードウェア/ソフトウェア協調検証装置 | |
KR101466665B1 (ko) | 멀티플렉서를 이용한 eMMC 멀티 다운로더 설계 방법 | |
JP2008140124A (ja) | データ処理装置 | |
JP5120103B2 (ja) | デバッグ方法およびデバッグプログラム | |
JP5279817B2 (ja) | 試験装置および試験方法 | |
JP4893028B2 (ja) | チップセットのエミュレーション装置および方法 | |
JP4749812B2 (ja) | 試験装置 | |
JP2003196999A (ja) | 半導体集積回路試験装置及び方法 | |
JP2023031907A (ja) | 情報処理装置および情報処理装置の制御方法 | |
JP2007080183A (ja) | データ処理装置、及びその制御方法 | |
JP2010244183A (ja) | 装置検査システム、装置検査方法、装置検査プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 11806649 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
WWE | Wipo information: entry into national phase |
Ref document number: 2012524515 Country of ref document: JP |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
WWE | Wipo information: entry into national phase |
Ref document number: 13809947 Country of ref document: US |
|
122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 11806649 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |