JP7345469B2 - ディスプレイ装置 - Google Patents

ディスプレイ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7345469B2
JP7345469B2 JP2020528905A JP2020528905A JP7345469B2 JP 7345469 B2 JP7345469 B2 JP 7345469B2 JP 2020528905 A JP2020528905 A JP 2020528905A JP 2020528905 A JP2020528905 A JP 2020528905A JP 7345469 B2 JP7345469 B2 JP 7345469B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
led stack
led
layer
stack
type semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020528905A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2021504752A (ja
Inventor
ヒョン チェ,ジョン
フン イ,チョン
ギュ ジャン,ソン
ヨン キム,チャン
ジュン イ,ホ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seoul Viosys Co Ltd
Original Assignee
Seoul Viosys Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seoul Viosys Co Ltd filed Critical Seoul Viosys Co Ltd
Publication of JP2021504752A publication Critical patent/JP2021504752A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7345469B2 publication Critical patent/JP7345469B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • H01L25/167Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
    • H01L27/153Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars
    • H01L27/156Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars two-dimensional arrays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0756Stacked arrangements of devices
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/0004Devices characterised by their operation
    • H01L33/0008Devices characterised by their operation having p-n or hi-lo junctions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/10Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a light reflecting structure, e.g. semiconductor Bragg reflector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/26Materials of the light emitting region
    • H01L33/30Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/44Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
    • H01L33/46Reflective coating, e.g. dielectric Bragg reflector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/501Wavelength conversion elements characterised by the materials, e.g. binder
    • H01L33/502Wavelength conversion materials
    • H01L33/504Elements with two or more wavelength conversion materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58Optical field-shaping elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58Optical field-shaping elements
    • H01L33/60Reflective elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/40Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/43Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
    • H01L29/45Ohmic electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0093Wafer bonding; Removal of the growth substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/08Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a plurality of light emitting regions, e.g. laterally discontinuous light emitting layer or photoluminescent region integrated within the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • H01L33/22Roughened surfaces, e.g. at the interface between epitaxial layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • H01L33/24Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate of the light emitting region, e.g. non-planar junction
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • H01L33/382Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape the electrode extending partially in or entirely through the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • H01L33/385Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape the electrode extending at least partially onto a side surface of the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/40Materials therefor
    • H01L33/405Reflective materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/40Materials therefor
    • H01L33/42Transparent materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K2102/00Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/30Devices specially adapted for multicolour light emission
    • H10K59/32Stacked devices having two or more layers, each emitting at different wavelengths
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/30Devices specially adapted for multicolour light emission
    • H10K59/35Devices specially adapted for multicolour light emission comprising red-green-blue [RGB] subpixels
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/30Devices specially adapted for multicolour light emission
    • H10K59/35Devices specially adapted for multicolour light emission comprising red-green-blue [RGB] subpixels
    • H10K59/352Devices specially adapted for multicolour light emission comprising red-green-blue [RGB] subpixels the areas of the RGB subpixels being different
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/30Devices specially adapted for multicolour light emission
    • H10K59/35Devices specially adapted for multicolour light emission comprising red-green-blue [RGB] subpixels
    • H10K59/353Devices specially adapted for multicolour light emission comprising red-green-blue [RGB] subpixels characterised by the geometrical arrangement of the RGB subpixels
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/30Devices specially adapted for multicolour light emission
    • H10K59/38Devices specially adapted for multicolour light emission comprising colour filters or colour changing media [CCM]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Description

本発明の例示的な実施形態は、一般的に、発光ダイオードに関し、特に、次世代ディスプレイ用マイクロ発光ダイオード(「マイクロLED」)およびこれを含むディスプレイ装置に関する。
発光ダイオード(LED)は、ディスプレイ装置、自動車ランプ、一般照明などのような広範囲な分野で無機光源として用いられてきた。発光ダイオードは長い寿命、低電力消費および迅速かつ速い応答によって既存の光源を急速に代替している。
典型的な発光ダイオードは、ディスプレイ装置においてバックライト光源として一般的に用いられてきた。しかし、最近、発光ダイオードから直接的にイメージを実現できる次世代ディスプレイとしてマイクロLEDが開発されている。
一般的に、ディスプレイ装置は、青色、緑色および赤色の混合された色相を用いることにより多様な色相を実現する。このように、ディスプレイ装置の各ピクセル(pixel)は青色、緑色および赤色サブピクセルを含み、特定のピクセルの色相はこれらサブピクセルの色相により決定され、イメージはこれらピクセルの組み合わせによって実現される。
マイクロLEDディスプレイにおいて、マイクロLEDは各ピクセルに対応するように二次元平面上に配列され、そのため、多数のマイクロLEDが、典型的には数百万または数千万個が1つの基板上に配置される必要がある。しかし、一般的に、約10,000μm以下の表面積を有するマイクロLEDの小さなフォームファクタは、ディスプレイ装置の製造中に多様な問題を引き起こすことがある。例えば、マイクロLEDは取り扱いしにくく、そのため、特に、単一ディスプレイを作るために数百万個のマイクロLEDを搬送しなければならない場合、マイクロLEDをディスプレイパネル上に実装することが困難である。また、マイクロLEDが一旦ディスプレイパネルに実装されると、欠陥があるマイクロLEDを取り替えることが難しい。
さらに、サブピクセルが二次元平面上に配列されるため、青色、緑色および赤色サブピクセルを含む1つのピクセルによって占有される面積が比較的大きい。このように、限られた面積内にサブピクセルを配列することは、各サブピクセルの面積を減少させることを必要とし、その結果、発光面積の減少によってサブピクセルの明るさを低下させることがある。
本背景技術の欄に開示された前記情報は単に本発明の概念の背景を理解するためのものであり、そのため、先行技術を含む場合がある。
本発明の原理およびいくつかの例示的な一実施形態により構成される発光ダイオードおよびこれを用いたディスプレイは、ピクセル領域の対応する表面積を増加させることなく、そしてディスプレイ特性を劣化させることなく、各LEDサブピクセルの発光面積を増加させることを目的の一つとする。
本発明の原理およびいくつかの例示的な一実施形態により構成される発光ダイオードおよびこれを用いたディスプレイは、サブピクセルの2つ以上が垂直に積層され、ディスプレイを実現するために必要な表面積を減少させるサブピクセル構造を有する。
本発明の原理およびいくつかの例示的な一実施形態により構成される発光ダイオードおよびこれを用いたディスプレイは、独立して駆動可能なサブピクセルを有する。
本発明の原理およびいくつかの例示的な実施形態により構成される発光ダイオードおよびこれを用いたディスプレイは、マイクロLEDとして構成される場合、特に有利である。例えば、本発明の原理およびいくつかの例示的な実施形態により構成されるマイクロLEDは、ウエハレベルで複数個が同時に製造可能であり、そのため、マイクロLEDを個別的に実装する必要性がなくなる。
本発明の原理およびいくつかの例示的な実施形態により構成される発光ダイオードおよびこれを用いたディスプレイは、有利には、赤色LEDスタック(stack)と基板との間で部分反射層を用い、そして/または、マイクロLEDを用いたピクセルの各LEDスタックの明るさを制御するために、各LEDスタックの半導体層のバンドギャップを制御する。
本発明の概念のさらなる特徴は以下の説明で提示され、部分的にかかる説明から明らかになるか、または本発明の概念を実施することにより理解されるであろう。
例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオード(LED)スタックは、支持基板と、支持基板上に配置される第1LEDサブユニットと、第1LEDサブユニット上に配置される第2LEDサブユニットと、第2LEDサブユニット上に配置される第3LEDサブユニットと、第1LEDサブユニットと第2LEDサブユニットとの間に介在し、第1LEDサブユニットで発生する光を透過させ、第2LEDサブユニットで発生する光を反射させるように構成される第1カラーフィルタと、第2LEDサブユニットと第3LEDサブユニットとの間に介在し、第1および第2LEDサブユニットで発生する光を透過させ、第3LEDサブユニットで発生する光を反射させるように構成される第2カラーフィルタとを含み、第2LEDサブユニットおよび第3LEDサブユニットは、第1LEDサブユニットで発生する光を透過させるように構成され、第3LEDサブユニットは、第2LEDサブユニットで発生する光を透過させるように構成される。
第1、第2および第3LEDサブユニットは、第1、第2および第3LEDスタックをそれぞれ含んでもよい。
LEDスタックは、約10,000μm未満の表面積を有するマイクロLEDを含んでもよい。
第2LEDサブユニットおよび第3LEDサブユニットは、第1LEDサブユニットで発生する光をマイクロLEDスタックの外部に透過させるように構成され、第3LEDサブユニットは、第2LEDサブユニットで発生する光をマイクロLEDスタックの外部に透過させるように構成される。
第1、第2および第3LEDスタックは、赤色光、緑色光および青色光をそれぞれ放出するように構成される。
第1カラーフィルタおよび第2カラーフィルタは、低域通過フィルタ、帯域通過フィルタおよび帯域阻止フィルタのうちの1つ以上をそれぞれ含んでもよい。
第1カラーフィルタおよび第2カラーフィルタは、分布ブラッグ反射器(distributed Bragg reflector)を含んでもよい。
ディスプレイ用LEDスタックは、支持基板と第1LEDスタックとの間に介在する第1ボンディング層(bonding layer)と、第1LEDスタックと第1カラーフィルタとの間に介在する第2ボンディング層と、第2LEDスタックと第2カラーフィルタとの間に介在する第3ボンディング層とをさらに含んでもよく、第2ボンディング層は、第1LEDスタックで発生する光を透過させるように構成され、第3ボンディング層は、第1LEDスタックおよび第2LEDスタックで発生する光を透過させるように構成される。
第1ボンディング層、第2ボンディング層および第3ボンディング層は、透明無機絶縁膜、透明有機絶縁膜および透明導電性薄膜のうちの1つ以上を含んでもよい。
ディスプレイ用LEDスタックは、第1ボンディング層と第1LEDスタックとの間に配置され、第1LEDスタックのp型半導体層とオーミック接触する第1反射電極と、第1カラーフィルタと第2LEDスタックとの間に配置され、第2LEDスタックのp型半導体層とオーミック接触する第2透明電極と、第2カラーフィルタと第3LEDスタックとの間に配置され、第3LEDスタックのp型半導体層とオーミック接触する第3透明電極とをさらに含んでもよく、第2透明電極および第3透明電極は、第1LEDスタックで発生する光を外部に透過させるように構成され、第3透明電極は、第2LEDスタックで発生する光を外部に透過させるように構成される。
第2ボンディング層は、第1LEDスタックのn型半導体層と接触可能であり、第3ボンディング層は、第2LEDスタックのn型半導体層と接触可能である。
ディスプレイ用LEDスタックは、支持基板と第1LEDスタックとの間に介在する第1ボンディング層と、第1カラーフィルタと第2LEDスタックとの間に介在する第2ボンディング層と、第2LEDスタックと第2カラーフィルタとの間に介在する第3ボンディング層とをさらに含んでもよく、第2ボンディング層および第3ボンディング層は、第1LEDスタックおよび第2LEDスタックで発生する光を透過させるように構成される。
ディスプレイ用LEDスタックは、第1ボンディング層と第1LEDスタックとの間に配置され、第1LEDスタックのn型半導体層とオーミック接触する第1反射電極と、第1LEDスタックと第1カラーフィルタとの間に配置され、第1LEDスタックのp型半導体層とオーミック接触する第1透明電極と、第2LEDスタックと第3ボンディング層との間に配置され、第2LEDスタックのp型半導体層とオーミック接触する第2透明電極と、第2カラーフィルタと第3LEDスタックとの間に配置され、第3LEDスタックのp型半導体層とオーミック接触する第3透明電極とをさらに含んでもよく、第1、第2および第3透明電極は、第1LEDスタックで発生する光を外部に透過させるように構成され、第3透明電極は、第2LEDスタックで発生する光を外部に透過させるように構成される。
ディスプレイ用LEDスタックは、第2ボンディング層と第2LEDスタックとの間に配置される第2反射電極をさらに含んでもよく、第2透明電極は、第2LEDスタックのn型半導体層とオーミック接触する。
ディスプレイ装置は、支持基板上に配列される複数のピクセルを含んでもよく、ピクセルのうちの少なくともいくつかが、例示的な一実施形態によるLEDスタックを含む。
第1、第2および第3LEDスタックのそれぞれは、p型半導体層およびn型半導体層を含んでもよく、各ピクセルのp型半導体層は、共通配線に電気的に接続され、各ピクセルのn型半導体層は、互いに異なる配線に電気的に接続される。
共通配線は、データ配線を含んでもよく、異なる配線は、スキャン配線を含んでもよい。
ディスプレイ装置は、第1、第2および第3LEDスタックの側面を覆う下部絶縁層をさらに含んでもよく、下部絶縁層は、第1、第2および第3LEDスタックの一部分を露出させる開口部を含む。
下部絶縁層は、赤色光、緑色光および青色光を反射させるように構成される分布ブラッグ反射器を含んでもよい。
ディスプレイ装置は、支持基板と第1LEDスタックとの間に配置される反射電極をさらに含んでもよく、反射電極は、複数のピクセルの上部に連続的に配置される共通配線を含む。
ディスプレイ装置は、支持基板と第1LEDスタックとの間に配置される複数の反射電極をさらに含んでもよく、各反射電極は、各ピクセル領域内に配置される。
第3LEDスタックは、その上部表面上に粗面化された表面(roughened surface)を有してもよい。
各ピクセルの第1、第2および第3LEDスタックは、独立して駆動可能である。
例示的な一実施形態によるディスプレイ用LEDピクセルは、第1表面および第2表面を有する第1LEDサブユニットと、第1LEDサブユニットの第1表面の一部分上に配置される第2LEDサブユニットと、第2LEDサブユニットの一部分上に配置される第3LEDサブユニットと、第1LEDサブユニットの第2表面上に配置される反射電極と、第2LEDサブユニットと第3LEDサブユニットとの間に配置され、第2LEDサブユニットの上部表面とオーミック接触する第2透明電極と、第3LEDサブユニットの上部表面とオーミック接触する第3透明電極とを含み、第1、第2および第3LEDサブユニットのそれぞれは、n型半導体層およびp型半導体層を含み、第1、第2および第3LEDサブユニットのn型半導体層のそれぞれは、反射電極に電気的に接続され、第1LEDサブユニットと、第2LEDサブユニットおよび第3LEDサブユニットは、独立して駆動可能である。
第1、第2および第3LEDサブユニットは、第1、第2および第3LEDスタックをそれぞれ含んでもよい。
LEDピクセルは、約10,000μm未満の表面積を有するマイクロLEDを含んでもよい。
第1LEDスタック、第2LEDスタックおよび第3LEDスタックは、それぞれ赤色光、緑色光および青色光を放出するように構成される。
第1LEDスタックで発生する光の第1部分は、第2LEDスタックを貫通せずに外部に放出されるように構成され、第1LEDスタックで発生する光の第2部分は、第2LEDスタックおよび第2透明電極を透過して外部に放出されるように構成され、第1LEDスタックで発生する光の第3部分は、第2LEDスタック、第2透明電極、第3LEDスタックおよび第3透明電極を透過して外部に放出されるように構成され、第2LEDスタックで発生する光の第1部分は、第3LEDスタックを貫通せずに外部に放出されるように構成され、第2LEDスタックで発生する光の第2部分は、第3LEDスタックおよび第3透明電極を透過することにより外部に放出されるように構成される。
第1、第2および第3LEDスタックのp型半導体層のそれぞれは、対応するn型半導体層上に配置され、反射電極は、第1LEDスタックのn型半導体層とオーミック接触可能であり、第2透明電極および第3透明電極は、第2LEDスタックおよび第3LEDスタックのp型半導体層とそれぞれオーミック接触可能である。
ディスプレイ用LEDピクセルは、第1LEDスタックと第2LEDスタックとの間に介在する第1カラーフィルタと、第2LEDスタックと第3LEDスタックとの間に介在する第2カラーフィルタとをさらに含んでもよく、第1カラーフィルタは、第1LEDスタックで発生する光を透過させ、第2LEDスタックで発生する光を反射させるように構成され、第2カラーフィルタは、第2LEDスタックで発生する光を透過させ、第3LEDスタックで発生する光を反射させるように構成される。
第1カラーフィルタは、第2LEDスタックのn型半導体層と接触可能であり、第2カラーフィルタは、第3LEDスタックのn型半導体層と接触可能である。
ディスプレイ用LEDピクセルは、第1LEDスタックと第1カラーフィルタとの間に介在する第1ボンディング層と、第2LEDスタックと第2カラーフィルタとの間に介在する第2ボンディング層とをさらに含んでもよく、第2ボンディング層は、第1LEDスタックで発生する光を透過させるように構成され、第3ボンディング層は、第2LEDスタックで発生する光を透過させるように構成される。
ディスプレイ用LEDピクセルは、第1LEDスタックのp型半導体層とオーミック接触する第1オーミック電極と、第2LEDスタックのn型半導体層と接触する第2オーミック電極と、第3LEDスタックのn型半導体層と接触する第3オーミック電極と、第2透明電極上に配置される第2電流拡散層と、第3透明電極上に配置される第3電流拡散層とをさらに含んでもよく、第2オーミック電極は、第3LEDスタックと重ならない第2LEDスタックのn型半導体層の一部分上に配置され、第2電流拡散層は、第2透明電極上に配置される。
第3オーミック電極および第3電流拡散層は、同一の材料を含んでもよい。
第2オーミック電極、第2電流拡散層、第3オーミック電極および第3電流拡散層は、同一の材料を含んでもよい。
ディスプレイ用LEDピクセルは、第1オーミック電極上に配置される第1電流拡散層をさらに含んでもよく、第1オーミック電極は、透明であり、第1、第2および第3電流拡散層は、同一の材料を含む。
ディスプレイ装置は、支持基板上に配列される複数のピクセルを含んでもよく、ピクセルのうちの少なくともいくつかが、例示的な一実施形態によるLEDピクセルを含む。
第1、第2および第3LEDスタックのp型半導体層のそれぞれが互いに異なる配線に電気的に接続される。
例示的な一実施形態によるディスプレイ用LEDスタックは、第1表面および第2表面を有する第1LEDサブユニットと、第1LEDサブユニットの第1表面上に配置される第2LEDサブユニットと、第2LEDサブユニット上に配置される第3LEDサブユニットと、第2LEDサブユニットの第2側に配置され、第1LEDサブユニットとオーミック接触を形成する反射電極と、第1LEDサブユニットと第2LEDサブユニットとの間に介在し、第1LEDサブユニットとオーミック接触を形成するオーミック電極とを含み、第2LEDサブユニットおよび第3LEDサブユニットは、第1LEDサブユニットから発生する光を透過させるように構成され、第3LEDサブユニットは、第2LEDサブユニットから発生する光を透過させるように構成される。
第1、第2および第3LEDサブユニットは、第1、第2および第3LEDスタックをそれぞれ含んでもよい。
LEDスタックは、約10,000μm未満の表面積を有するマイクロLEDを含んでもよい。
反射電極とオーミック電極は、互いに異なる屈折率を有してもよい。
第1、第2および第3LEDスタックは、赤色光、緑色光および青色光をそれぞれ放出するように構成される。
ディスプレイ用LEDスタックは、第1LEDスタックと第2LEDスタックとの間に介在し、第1LEDスタックから発生する光を透過させ、第2LEDスタックから発生する光を反射させるように構成される第1カラーフィルタと、第2LEDスタックと第3LEDスタックとの間に介在し、第1および第2LEDスタックから発生する光を透過させ、第3LEDスタックから発生する光を反射させるように構成される第2カラーフィルタとをさらに含んでもよい。
第1カラーフィルタおよび第2カラーフィルタのそれぞれは、低域通過フィルタ、帯域通過フィルタおよび帯域阻止フィルタのうちの1つ以上を含んでもよい。
第1および第2カラーフィルタのそれぞれは、分布ブラッグ反射器を含んでもよい。
ディスプレイ用LEDスタックは、支持基板と、支持基板と第1LEDスタックとの間に介在する第1ボンディング層と、第1LEDスタックと第2LEDスタックとの間に介在する第2ボンディング層と、第2LEDスタックと第3LEDスタックとの間に介在する第3ボンディング層とをさらに含んでもよく、第2ボンディング層は、第1LEDスタックから発生する光を透過させるように構成され、第3ボンディング層は、第1および第2LEDスタックから発生する光を透過させるように構成される。
第1ボンディング層は、反射電極に隣接していてもよく、第2ボンディング層は、オーミック電極に隣接していてもよい。
ディスプレイ用LEDスタックは、第2LEDスタックのp型半導体層とオーミック接触を形成する第2透明電極と、第3LEDスタックのp型半導体層とオーミック接触を形成する第3-p透明電極とをさらに含んでもよい。
第2ボンディング層は、第1LEDスタックのn型半導体層に隣接していてもよく、第3ボンディング層は、第2LEDスタックのn型半導体層に隣接していてもよい。
ディスプレイ用LEDスタックは、第1LEDスタックと第2LEDスタックとの間に介在し、第1LEDスタックから発生する光を透過させ、第2LEDスタックから発生する光を反射させるように構成される第1カラーフィルタと、第2LEDスタックと第3LEDスタックとの間に介在し、第1および第2LEDスタックから発生する光を透過させ、第3LEDスタックから発生する光を反射させるように構成される第2カラーフィルタとをさらに含んでもよく、第1カラーフィルタが第2ボンディング層上に配置され、第2カラーフィルタが第3ボンディング層上に配置される。
ディスプレイ装置は、支持基板上に配列される複数のピクセルを含んでもよく、ピクセルのうちの少なくともいくつかが、例示的な一実施形態によるLEDスタックを含む。
第1、第2および第3LEDスタックのそれぞれは、p型半導体層およびn型半導体層を含んでもよく、第1、第2および第3LEDスタックのp型半導体層のそれぞれが共通配線に電気的に接続され、第1、第2および第3LEDスタックのn型半導体層のそれぞれが互いに異なる配線に電気的に接続される。
共通配線は、データ配線を含んでもよく、異なる配線は、スキャン配線を含んでもよい。
ディスプレイ装置は、第1、第2および第3LEDスタックの側面を覆う下部絶縁層をさらに含んでもよく、下部絶縁層は、オーミック電極、反射電極、第2LEDスタックおよび第3LEDスタックを露出させる開口部を含んでもよい。
下部絶縁層は、赤色、緑色および青色光を反射させるように構成される分布ブラッグ反射器を含んでもよい。
反射電極は、共通配線を含んでもよく、複数のピクセルの上部に連続的に配置される。
反射電極は、各ピクセル領域内に配置される。
例示的な一実施形態によるディスプレイ用LEDスタックは、第1有色光を放出するように構成される第1LEDサブユニットと、第1LEDサブユニット上に配置され、第2有色光を放出するように構成される第2LEDサブユニットと、第1LEDサブユニットおよび第2LEDサブユニットのうちの少なくとも1つの上に配置され、第3有色光を放出するように構成される第3LEDサブユニットとを含み、第1LEDサブユニットは、第2LEDサブユニットおよび第3LEDサブユニットを介して光を放出するように構成され、第2LEDサブユニットは、第3LEDサブユニットを介して光を放出するように構成される。
第1、第2および第3LEDサブユニットは、第1、第2および第3LEDスタックをそれぞれ含んでもよい。
LEDスタックは、約10,000μm未満の表面積を有するマイクロLEDを含んでもよい。
第1有色光は、第2有色光より長い波長を有してもよく、第2有色光は、第3有色光より長い波長を有してもよい。
第1、第2および第3有色光は、それぞれ赤色光、緑色光および青色光であってもよい。
第1LEDスタックは、第2有色光の一部分がその上に入射する場合、光を発生するように構成され、第2LEDスタックは、第3有色光の一部分がその上に入射する場合、光を発生するように構成される。
外部に放出される第2有色光の光度は、第2有色光によって誘発される第1有色光の光度の少なくとも約10倍であってもよく、外部に放出される第3有色光の光度は、第3有色光によって誘発される第2有色光の光度の約10倍であってもよい。
ディスプレイ用LEDスタックは、支持基板と、第1LEDスタックと支持基板との間に介在し、第1LEDスタックとオーミック接触を形成する反射電極と、第1LEDスタックと第2LEDスタックとの間に介在し、第1LEDスタックとオーミック接触を形成するオーミック電極とをさらに含んでもよい。
ディスプレイ用LEDスタックは、支持基板と第1LEDスタックとの間に介在する第1ボンディング層と、第1LEDスタックと第2LEDスタックとの間に介在する第2ボンディング層と、第2LEDスタックと第3LEDスタックとの間に介在する第3ボンディング層とをさらに含んでもよく、第2ボンディング層は、第1有色光を透過させるように構成され、第3ボンディング層は、第1有色光および第2有色光を透過させるように構成される。
第1ボンディング層は、反射電極に隣接していてもよく、第2ボンディング層は、オーミック電極に隣接していてもよい。
ディスプレイ用LEDスタックは、第2LEDスタックのp型半導体層とオーミック接触を形成する第2透明電極と、第3LEDスタックのp型半導体層とオーミック接触を形成する第3透明電極とをさらに含んでもよい。
第2ボンディング層は、第1LEDスタックのn型半導体層に隣接していてもよく、第3ボンディング層は、第2LEDスタックのn型半導体層に隣接していてもよい。
ディスプレイ装置は、支持基板上に配列される複数のピクセルを含んでもよく、ピクセルのうちの少なくともいくつかが、例示的な一実施形態によるLEDスタックを含む。
第1LEDスタックは、第1領域、第2領域および第3領域を有することができ、第1領域は、平面図で第2および第3LEDスタックと重ならなくてもよく、第2領域は、平面図で第2LEDスタックと重なりかつ第3LEDスタックと重ならなくてもよいし、第3領域は、平面図で第2および第3LEDスタックのすべてと重なってもよい。
第1、第2および第3LEDスタックは、平面図で互いに実質的に同一の幅を有することができる。
第1LEDスタックの幅は、平面図で第2または第3LEDスタックより大きくてよい。
ディスプレイ装置は、第1、第2および第3LEDスタックの側面を覆う下部絶縁層をさらに含んでもよく、下部絶縁層は、オーミック電極、反射電極、第2LEDスタックおよび第3LEDスタックを露出させる開口部を含む。
下部絶縁層は、赤色、緑色および青色光を反射させるように構成される分布ブラッグ反射器を含んでもよい。
第1、第2および第3LEDスタックのそれぞれは、p型半導体層およびn型半導体層を含んでもよく、第1、第2および第3LEDスタックのp型半導体層のそれぞれが共通配線に電気的に接続され、第1、第2および第3LEDスタックのn型半導体層のそれぞれが互いに異なる配線に電気的に接続される。
反射電極は、共通配線を含んでもよく、複数のピクセルの上部に連続的に配置される。
反射電極は、各ピクセル領域内に配置される。
第1、第2および第3LEDスタックは、独立して駆動されるように構成される。
例示的な一実施形態によるディスプレイ用LEDピクセルは、基板と、基板上に配置される第1LEDサブユニットと、第1LEDサブユニット上に配置される第2LEDサブユニットと、第1および第2LEDサブユニットのうちの少なくとも1つの上に配置される第3LEDサブユニットと、基板内の複数のビアを含み、第1、第2および第3LEDサブユニットのそれぞれが第1導電型半導体層および第2導電型半導体層を含み、複数のビアのそれぞれは、第1、第2および第3LEDサブユニットのうちの少なくとも1つに電気的に接続される。
第1、第2および第3LEDサブユニットは、第1、第2および第3LEDスタックをそれぞれ含んでもよい。
LEDピクセルは、約10,000μm未満の表面積を有するマイクロLEDを含んでもよい。
第1LEDスタック、第2LEDスタックおよび第3LEDスタックは、互いに異なる波長を有する光を放出するように構成される。
第1LEDスタック、第2LEDスタックおよび第3LEDスタックは、それぞれ赤色光、緑色光および青色光を放出するように構成される。
基板は、GaAs基板を含んでもよく、第1LEDスタックは、AlGaInP系半導体層を含む。
ディスプレイ用LEDピクセルは、基板と第1LEDスタックとの間に介在する分布ブラッグ反射器をさらに含んでもよく、分布ブラッグ反射器は、半導体層を含んでもよい。
分布ブラッグ反射器は、互いに交互に配置されるAlAs層およびAlGaAs層を含んでもよい。
ディスプレイ用LEDピクセルは、第1LEDスタックと第2LEDスタックとの間に介在する第1ボンディング層と、第2LEDスタックと第3LEDスタックとの間に介在する第2ボンディング層とをさらに含んでもよい。
ディスプレイ用LEDピクセルは、第1ボンディング層と第2LEDスタックとの間に介在し、第2LEDスタックとオーミック接触を形成する下部第2オーミック電極と、第2ボンディング層と第3LEDスタックとの間に介在し、第3LEDスタックとオーミック接触を形成する下部第3オーミック電極とをさらに含んでもよい。
下部第2オーミック電極および下部第3オーミック電極のそれぞれは、反射層を含んでもよい。
複数のビアは、第1、第2および第3ビアを含んでもよく、第1ビアは、第1LEDスタックの第2導電型半導体層に電気的に接続され、第2ビアは、第2LEDスタックの第2導電型半導体層に電気的に接続され、第3ビアは、第3LEDスタックの第2導電型半導体層に電気的に接続される。
第1、第2および第3LEDスタックの第1導電型半導体層は、互いに電気的に接続される。
ディスプレイ用LEDは、第1LEDスタックの第1導電型半導体層と接触する上部第1オーミック電極と、第1LEDスタックの第2導電型半導体層と接触する下部第1オーミック電極と、第2LEDスタックの第1導電型半導体層と接触する上部第2オーミック電極と、第2LEDスタックの第2導電型半導体層と接触する下部第2オーミック電極と、第3LEDスタックの第1導電型半導体層と接触する上部第3オーミック電極と、第3LEDスタックの第2導電型半導体層と接触する下部第3オーミック電極とをさらに含んでもよく、第1、第2および第3ビアが下部第1オーミック電極、下部第2オーミック電極および下部第3オーミック電極にそれぞれ電気的に接続され、上部第1オーミック電極、上部第2オーミック電極および上部第3オーミック電極は、互いに電気的に接続される。
ディスプレイ用LEDピクセルは、基板の下部表面上に配置されるボンディングパッド(bonding pad)をさらに含んでもよく、複数のビアは、ボンディングパッドのそれぞれに接続される。
ボンディングパッドは、基板から絶縁される複数の第1ボンディングパッドと、基板に電気的に接続される1つ以上の第2ボンディングパッドとを含んでもよく、複数のビアは、複数の第1ボンディングパッドのそれぞれに電気的に接続される。
ディスプレイ装置は、回路基板と、回路基板上に配列される複数のピクセルとを含んでもよく、ピクセルのうちの少なくともいくつかが、例示的な一実施形態によるLEDピクセルを含む。
回路基板は、パッシブ回路およびアクティブ回路のうちの1つ以上を含んでもよく、複数のビアは、回路基板に電気的に接続される。
基板は、複数のピクセルの上部に連続的に配置され、回路基板への電気的な接続により接地に接続される。
ディスプレイ装置は、基板と回路基板との間に介在する複数の電極パッドをさらに含んでもよく、複数の電極パッドのうちの1つ以上が基板に電気的に接続され、複数のビアは、複数の電極パッドを介して回路基板に電気的に接続される。
前述した一般的な説明および以下の詳細な説明はすべて例示的かつ説明的であり、請求の範囲に記載の本発明に関するさらなる説明を提供するように意図されたものと理解されなければならない。
本発明の原理およびいくつかの例示的な実施形態により構成される発光ダイオードおよびこれを用いたディスプレイは、ピクセル領域に対応する表面積を増加させることなく、そしてディスプレイ特性を劣化させることなく、各LEDサブピクセルの発光面積を増加させることができる。
本発明の原理およびいくつかの例示的な実施形態により構成される発光ダイオードおよびこれを用いたディスプレイは、サブピクセルの2つ以上が垂直に積層され、ディスプレイを実現するために必要な表面積を減少させるサブピクセル構造を有する。
本発明の原理およびいくつかの例示的な実施形態により構成される発光ダイオードおよびこれを用いたディスプレイは、独立して駆動可能なサブピクセルを有する。
本発明の原理およびいくつかの例示的な実施形態により構成される発光ダイオードおよびこれを用いたディスプレイは、マイクロLEDとして構成される場合、特に有利である。例えば、本発明の原理およびいくつかの例示的な実施形態により構成されるマイクロLEDは、ウエハレベルで複数個が同時に製造可能であり、そのため、マイクロLEDを個別的に実装する必要性がなくなる。
本発明の原理およびいくつかの例示的な実施形態により構成される発光ダイオードおよびこれを用いたディスプレイは、有利には、赤色LEDスタックと基板との間で部分反射層を用い、そして/または、マイクロLEDを用いたピクセルの各LEDスタックの明るさを制御するために、各LEDスタックの半導体層のバンドギャップを制御する。
本発明のさらなる理解を提供するために含まれて本明細書に組み込まれ、本明細書の一部を構成する添付図面は、本発明の例示的な一実施形態を示し、以下の詳細な説明とともに本発明の概念を説明する役割をする。
例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの製造方法を示す概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略回路図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略平面図である。 例示的な一実施形態による図4のディスプレイ装置の1つのピクセルの拡大平面図である。 図5のA-A線に沿った概略断面図である。 図5のB-B線に沿った概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 他の例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略回路図である。 他の例示的な一実施形態によるピクセルの概略平面図である。 さらに他の例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの概略断面図である。 さらに他の例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの製造方法を示す概略断面図である。 さらに他の例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの製造方法を示す概略断面図である。 さらに他の例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの製造方法を示す概略断面図である。 さらに他の例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの製造方法を示す概略断面図である。 さらに他の例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの製造方法を示す概略断面図である。 さらに他の例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの製造方法を示す概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードピクセルの概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略回路図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略平面図である。 例示的な一実施形態による図16のディスプレイ装置の1つのピクセルの拡大平面図である。 例示的な一実施形態による図17のA-A線に沿った概略断面図である。 例示的な一実施形態による図17のB-B線に沿った概略断面図である。 例示的な一実施形態による図17のC-C線に沿った概略断面図である。 例示的な一実施形態による図17のD-D線に沿った概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。 さらに他の例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略断面図である。 さらに他の例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略回路図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックを製造する方法を示す概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックを製造する方法を示す概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックを製造する方法を示す概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックを製造する方法を示す概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックを製造する方法を示す概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略回路図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略平面図である。 例示的な一実施形態による図39のディスプレイ装置の1つのピクセルの拡大平面図である。 図40のA-A線に沿った概略断面図である。 図40のB-B線に沿った概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 他の例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略回路図である。 他の例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックを製造する方法を示す概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックを製造する方法を示す概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックを製造する方法を示す概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックを製造する方法を示す概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードスタックを製造する方法を示す概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略回路図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略平面図である。 例示的な一実施形態による図49のディスプレイ装置の1つのピクセルの拡大平面図である。 例示的な一実施形態による図50のA-A線に沿った概略断面図である。 例示的な一実施形態による図50のB-B線に沿った概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 他の例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略回路図である。 他の例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードピクセルの断面図である。 は、例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の概略回路図である。 それぞれ例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の1つのピクセルの上面図である。 それぞれ例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の1つのピクセルの底面図である。 図59AのA-A線に沿った概略断面図である。 例示的な一実施形態による図59AのB-B線に沿った概略断面図である。 例示的な一実施形態による図59AのC-C線に沿った概略断面図である。 例示的な一実施形態による図59AのD-D線に沿った概略断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置を製造する方法を示す断面図である。 他の例示的な一実施形態によるディスプレイ用発光ダイオードピクセルの断面図である。 例示的な一実施形態によるディスプレイ装置の1つのピクセルの拡大平面図である。 図70のG-G線に沿った断面図である。 図70のH-H線に沿った断面図である。
以下の説明において、説明の目的のために、本発明の多様な例示的な実施例または実施形態の完全な理解を提供するために多数の特定の細部事項が説明される。本明細書で使用される「実施例」および「実施形態」は、本明細書に開示された本発明の概念の1つ以上を利用するデバイスまたは方法の非制限的な例を示す相互入替可能な単語である。しかし、多様な例示的な実施例がこれら特定の細部事項を利用しなかったり、1つ以上の等価配列体を用いて実施できることが明確に理解される。他の例において、公知の構造およびデバイスは、多様な例示的な実施例を不必要にあいまいにすることを避けるために、ブロック図の形態で示される。また、多様な例示的な実施例が互いに異なってもよいが、排他的である必要はない。例えば、例示的な実施例の特定の形状、構成および特徴は、本発明の概念を逸脱しない限度内で他の例示的な実施例で使用または実現可能である。
別途に明示されない限り、図示の例示的な実施例は、本発明の概念が実際に実現できるいくつかの方式の変化する細部事項の例示的な特徴を提供するものと理解されなければならない。そのため、別途に明示されない限り、多様な実施例の特徴部、構成要素、モジュール、層、膜、パネル、領域および/または態様など(以下、個別的または集合的に「要素」と称される)は、本発明の概念を逸脱しない限度内で異なって組み合わされ、分離され、相互入替えられ、そして/または再配列される。
添付した図面における断面ハッチングおよび/または陰影の使用は、一般的に隣接する要素間の境界を明確化するために提供される。このように、断面ハッチングまたは陰影の存在だけでなく不在も、明示されない限り、要素の特定の材料、材料特性、寸法、比率、例示された要素間の共通性および/または任意の他の特徴、属性、特性などに対する何らかの選好度または要求度を意味しない。また、添付した図面において、要素の大きさおよび相対的な大きさは、明確性および/または説明的な目的のために誇張されることがある。例示的な実施例が異なって実現可能な場合、特定の工程順序は説明された順序と異なって行われてもよい。例えば、2つの連続して説明された工程は、実質的に同時に行われるか、または説明された順序と反対の順序で行われてもよい。さらに、同一の参照符号は、同一の要素を表す。
層のような要素が他の要素または層「上にあるか」、「それに連結される(connected to)」か、「それに結合される(coupled to)」ものと言及される場合、前記要素は、直接的に他の要素または層上にあるか、それに連結されるか、それに結合されてもよく、または介在要素または層が存在してもよい。しかし、要素または層が他の要素または層「上に直接あるか」、「それに直接連結されるか」または「それに直接結合される」ものと言及される場合、介在要素または層が存在しない。このために、「連結された」という用語は、介在要素がある状態でまたはない状態で、物理的な、電気的なおよび/または流体的な連結を指す。また、D1軸、D2軸およびD3軸は、x、yおよびz軸のような直交座標系の3つの軸に限定されず、より広い意味で解釈できる。例えば、D1軸、D2軸およびD3軸は、互いに直角であってもよく、または互いに直角でない互いに異なる方向を示すことができる。本開示の目的のために、「X、YおよびZのうちの1つ以上」および「X、YおよびZからなるグループより選択された1つ以上」は、Xのみ、Yのみ、Zのみまたは、例えば、XYZ、XYY、YZおよびZZのような、X、YおよびZのうちの2つ以上の任意の組み合わせとして解釈できる。本明細書に使われる用語「および/または」は、関連するリストされた物品のうちの1つ以上の任意およびすべての組み合わせを含む。
本明細書では、たとえ、用語「第1」、「第2」などが多様な形態の要素を説明するために使われるが、これらの要素がこれらの用語によって限定されてはならない。これらの用語は、1つの要素を他の1つの要素と区別するために使われる。そのため、以下に述べる第1要素は、本開示の教示を逸脱しない範囲内で第2要素と名付けられてもよい。
「下に」、「の下に」、「真下に」、「下部の」、「上に」、「上部の」、「上方に」、「より高い」(例えば、「側壁」におけるように)「側部」などのような空間的に相対的な用語は、説明的な目的のために、そして、それによって、図面に示されるような1つの要素と他の要素との関係を説明するために、本明細書で使われる。空間的に相対的な用語は、図面に示された方位に付加して、使用、作動および/または製造中の装置の互いに異なる方位を含むように意図される。例えば、図面における装置をひっくり返すと、他の要素または特徴部「の下に」または「下に」として説明された要素は、他の要素または特徴部の「上に」配向されるであろう。そのため、「の下に」という例示的な用語は、上および下の方位をすべて含んでもよい。また、装置は異なって配向されてもよく(例えば、90゜回転するか他の方位に配向されてもよく)、このように、本明細書で使われる空間的に相対的な叙述語は対応的に解釈できる。
本明細書で使われる専門用語は、特定の実施例を説明するためのものであり、限定的ではない。本明細書で使われる単数形態は、文脈上明らかに異なって指示しない限り、複数の形態をさらに含む。また、本明細書で使われる「備える」、「備えている」、「含む」および/または「含んでいる」という用語は、言及された特徴、整数、段階、作動、要素、構成要素および/またはそのグループの存在を明示するが、1つ以上の他の特徴、整数、段階、作動、要素、構成要素および/またはそのグループの存在または付加を排除しない。さらに、本明細書で使われる用語「実質的に」、「約」およびその他の類似する用語は、程度を示す用語ではない近似度を示す用語として使われ、このように、当業界における通常の知識を有する者によって認識可能な、測定された、計算された、そして/または提供された値の固有の偏差を説明するために使われる。
多様な例示的な実施例は、理想化された例示的な実施例および/または中間構造体の概略例示図である断面および/または分解例示図を参照して以下に説明される。このように、例えば、製造手法および/または公差の結果として例示図の形状からの変形が予想できる。そのため、本明細書に開示された例示的な実施例は、必ずしも特定の図示の領域の形状に限定されると解釈されてはならず、例えば、製造に起因して発生する形状における偏差を含むと解釈されなければならない。この方式により、図面に示された領域は本質的に概略的であってもよく、これら領域の形状はデバイスの領域の実形状を反映しなくてもよいし、このように、必ずしも限定的な意味を有するものとは意図されない。
別途に定義されない限り、本明細書で使われる(技術的または科学的な用語を含む)すべての用語は、本開示の属する技術分野における通常の知識を有する者によって通常理解されるのと同じ意味を有する。通常使われる辞書で定義されたような用語は、関連技術の脈絡でその意味と一致する意味を有すると解釈されなければならず、本明細書で明示的に定義されない限り、理想的または過度に形式的な観点で解釈されてはならない。
本明細書で使われる、例示的な実施例による発光ダイオードスタックまたは発光ダイオードは、当業界で公知のように、約10,000μm未満の表面積を有するマイクロLEDを含んでもよい。他の例示的な実施例において、マイクロLEDは、特定の応用例によって、約4,000μm未満または約2,500μm未満の表面積を有することができる。
図1を参照すると、ディスプレイ用発光ダイオードスタック100は、支持基板51と、第1LEDスタック23と、第2LEDスタック33と、第3LEDスタック43と、第1-p反射電極25と、第2-p透明電極35と、第3-p透明電極45と、第1カラーフィルタ37と、第2カラーフィルタ47と、第1ボンディング層53と、第2ボンディング層55と、第3ボンディング層57とを含んでもよい。本明細書に開示された例示的な実施例のために用いられる発光ダイオードスタックは、マイクロLED(またはマイクロLEDスタック)を指す。
支持基板51は、第1、第2および第3LED半導体スタック23、33および43を支持する。支持基板51は、その表面上にまたはその内部に回路を含んでもよいが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。支持基板51は、例えば、Si基板またはGe基板を含んでもよい。
第1LEDスタック23、第2LEDスタック33および第3LEDスタック43は、それぞれn型半導体層と、p型半導体層と、その間に介在する活性層とを含む。活性層は、多重量子井戸構造を有してもよい。
例えば、第1LEDスタック23は、赤色光を放出する無機発光ダイオードであってもよく、第2LEDスタック33は、緑色光を放出する無機発光ダイオードであってもよいし、第3LEDスタック43は、青色光を放出する無機発光ダイオードであってもよい。第1LEDスタック23は、GaInP系井戸層を含んでもよく、第2LEDスタック33および第3LEDスタック43は、GaInN系井戸層を含んでもよい。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、発光ダイオードスタック100がマイクロLEDを含む場合、第1LEDスタック23は、赤色、緑色および青色光のうちのいずれか1つを放出することができ、第2および第3LEDスタック33および43は、その小さなフォームファクタによって、作動に不利な影響を及ぼすか、カラーフィルタを必要とすることなく、赤色、緑色および青色光のうちの他の1つを放出することができる。
第1、第2および第3LEDスタック23、33および43のそれぞれの頂部(top)および底(bottom)表面は、それぞれn型半導体層およびp型半導体層を含んでもよい。図1で、第1~第3LEDスタック23、33および43のそれぞれの上部表面は、n型半導体層を含むものと説明され、その下部表面は、p型半導体層を含むものと説明される。第3LEDスタック43の上部表面がn型であるので、粗面化された表面が化学的なエッチングにより第3LEDスタック43の上部表面上に形成される。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、LEDスタックのそれぞれの上部表面および下部表面の半導体タイプは反転してもよい。
第1LEDスタック23は、支持基板51に近接して配置され、第2LEDスタック33は、第1LEDスタック23上に配置され、第3LEDスタック43は、第2LEDスタック33上に配置される。第1LEDスタック23が第2および第3LEDスタック33および43より長い波長を有する光を放出するので、第1LEDスタック23で発生する光は、第2および第3LEDスタック33および43を介して透過して外部に放出される。また、第2LEDスタック33が第3LEDスタック43より長い波長を有する光を放出するので、第2LEDスタック33で発生する光は、第3LEDスタック43を介して透過して外部に放出される。
第1-p反射電極25は、第1LEDスタック23のp型半導体層とオーミック接触し、第1LEDスタック23から発生する光を反射させてもよい。例えば、第1-p反射電極25は、Au-Ti、Au-Snなどを含んでもよい。また、第1-p反射電極25は、拡散バリア層を含んでもよい。
第2-p透明電極35は、第2LEDスタック33のp型半導体層とオーミック接触する。第2-p透明電極35は、赤色光および緑色光を透過する金属層または導電性酸化物層を含んでもよい。
第3-p透明電極45は、第3LEDスタック43のp型半導体層とオーミック接触する。第3-p透明電極45は、赤色光、緑色光および青色光を透過する金属層または導電性酸化物層を含んでもよい。
第1-p反射電極25、第2-p透明電極35および第3-p透明電極45は、各LEDスタック23、33および43のp型半導体層とオーミック接触し、電流拡散を助けることができる。
一方、第1カラーフィルタ37は、第1LEDスタック23と第2LEDスタック33との間に配置される。加えて、第2カラーフィルタ47は、第2LEDスタック33と第3LEDスタック43との間に配置される。第1カラーフィルタ37は、第1LEDスタック23で発生する光を透過させ、第2LEDスタック33で発生する光を反射させる。一方、第2カラーフィルタ47は、第1および第2LEDスタック23および33で発生する光を透過させ、第3LEDスタック43で発生する光を反射させる。そのため、第1LEDスタック23で発生する光は、第2LEDスタック33および第3LEDスタック43を介して外部に放出され、第2LEDスタック33で発生する光は、第3LEDスタック43を介して外部に放出される。また、第2LEDスタック33で発生する光は、第1LEDスタック23上に入射して損失することを防止することが可能であり、第3LEDスタック43で発生する光は、第2LEDスタック33上に入射して損失することを防止することが可能である。例示的な実施例により、第1カラーフィルタ37はさらに、第3LEDスタック43で発生する光を反射させてもよい。
第1および第2カラーフィルタ37および47のそれぞれは、例えば、低周波領域(例えば、長波長領域)のみを通過させる低域通過フィルタ、所定の波長帯域のみを通過させる帯域通過フィルタ、または所定の波長帯域のみを遮断する帯域阻止フィルタであってもよい。特に、第1および第2カラーフィルタ37および47は、分布ブラッグ反射器(DBR)を含んでもよい。分布ブラッグ反射器は、他の波長領域で光を透過させながら、特定の波長帯域(阻止帯域)で光を反射させてもよい。分布ブラッグ反射器は、互いに異なる屈折率を有する絶縁層を交互に積層することにより形成可能であり、例えば、TiO2およびSiO2を交互に積層することにより形成可能である。また、分布ブラッグ反射器の阻止帯域は、TiO2およびSiO2の厚さを調節することにより制御可能である。低域通過フィルタおよび帯域通過フィルタも、互いに異なる屈折率を有する絶縁層を交互に積層することにより形成可能である。
第1ボンディング層53は、第1LEDスタック23を支持基板51と結合させる。図1に示すように、第1-p反射電極25は、第1ボンディング層53と接触可能である。第1ボンディング層53は、光透過性層または不透明層であってもよい。第1ボンディング層53は、例えば、透明無機絶縁膜、透明有機絶縁膜または透明導電性薄膜であってもよい。
第2ボンディング層55は、第2LEDスタック33を第1LEDスタック23に結合させる。図1に示すように、第2ボンディング層55は、第1LEDスタック23および第1カラーフィルタ37と接触可能である。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、透明導電層が第1LEDスタック23上にさらに配置されてもよい。第2ボンディング層55は、第1LEDスタック23で発生する光を透過させる。第2ボンディング層55は、例えば、透明無機絶縁膜、透明有機絶縁膜または透明導電性薄膜であってもよく、例えば、光透過性スピンオンガラスで形成されてもよい。
第3ボンディング層57は、第3LEDスタック43を第2LEDスタック33に結合させる。図1に示すように、第3ボンディング層57は、第2LEDスタック33および第2カラーフィルタ47と接触可能である。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、透明導電層が第2LEDスタック33上にさらに配置されてもよい。第3ボンディング層57は、第1LEDスタック23および第2LEDスタック33で発生する光を透過させる。第3ボンディング層57は、例えば、透明無機絶縁膜、透明有機絶縁膜または透明導電性薄膜であってもよく、例えば、光透過性スピンオンガラスで形成されてもよい。
図2は、例示的な実施例によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの製造方法を示す概略断面図である。
図2を参照すると、まず、第1LEDスタック23が第1基板21上で成長し、第1-p反射電極25が第1LEDスタック23上に形成される。
第1基板21は、例えば、GaAs基板であってもよい。また、第1LEDスタック23は、AlGaInP系半導体層として形成され、n型半導体層と、活性層と、p型半導体層とを含む。第1-p反射電極25は、第1LEDスタック23のp型半導体層とオーミック接触する。
一方、第2LEDスタック33が第2基板31上で成長し、第2-p透明電極35および第1カラーフィルタ37が第2LEDスタック33上に形成される。第2LEDスタック33は、窒化ガリウム系半導体層で形成され、GaInN井戸層を含んでもよい。第2基板31は、窒化ガリウム系半導体層がその上に成長できる基板であり、第1基板21とは異なる。GaInNの組成比は、第2LEDスタック33が緑色光を放出するように決定されてもよい。第2-p透明電極35は、第2LEDスタック33のp型半導体層とオーミック接触する。
また、第3LEDスタック43が第3基板41上で成長し、第3-p透明電極45および第2カラーフィルタ47が第3LEDスタック43上に形成される。第3LEDスタック43は、窒化ガリウム系半導体層で形成され、GaInN井戸層を含んでもよい。第3基板41は、窒化ガリウム系半導体層がその上に成長できる基板であり、第1基板21とは異なる。GaInNの組成比は、第3LEDスタック43が青色光を放出するように決定されてもよい。一方、第3-p透明電極45は、第3LEDスタック43のp型半導体層とオーミック接触する。
図2の第1カラーフィルタ37および第2カラーフィルタ47は、図1を参照して説明したものと同一であるので、重複を避けるために詳細な説明は省略する。
図1および図2を参照すると、第1LEDスタック23が第1ボンディング層53を介して支持基板51にボンディングされる。第1ボンディング層53は、支持基板51上に予め配置されてもよく、第1-p反射電極25は、第1ボンディング層53にボンディングされ、支持基板51に面することができる。一方、第1基板21は、化学的なエッチング手法を利用して第1LEDスタック23から除去される。
その後、第2LEDスタック33が第2ボンディング層55を介して第1LEDスタック23にボンディングされる。第1カラーフィルタ37は、第2ボンディング層55にボンディングされ、第1LEDスタック23に面する。第2ボンディング層55は、第1LEDスタック23上に予め配置されてもよく、第1カラーフィルタ37は、第2ボンディング層55に面して第2ボンディング層55にボンディングされるように配置される。一方、第2基板31は、レーザリフトオフ、化学的リフトオフなどのような手法を利用して第2LEDスタック33から分離される。
その後、第3LEDスタック43が第3ボンディング層57を介して第2LEDスタック33にボンディングされる。第2カラーフィルタ47は、第3ボンディング層57にボンディングされ、第2LEDスタック33に面する。第3ボンディング層57は、第2LEDスタック33上に予め配置されてもよく、第2カラーフィルタ47は、第3ボンディング層57に面して第3ボンディング層57にボンディングされるように配置される。一方、第3基板41は、レーザリフトオフ、化学的リフトオフなどのような手法を利用して第3LEDスタック43から分離される。この方式により、図1に示すディスプレイ用発光ダイオードスタックが形成され、第3LEDスタック43のn型半導体層が露出する。
例示的な実施例によるディスプレイ装置は、ピクセルユニット内で支持基板51上に配置される第1~第3LEDスタック23、33および43のスタックをパターニングすることにより、そして、これらLEDスタックをインターコネクション(inter connection)により互いに接続することにより形成できる。以下、例示的な実施例によるディスプレイ装置を説明する。
図3は、例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略回路図である。図4は、例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略平面図である。図5は、例示的な実施例による図4のディスプレイ装置の1つのピクセル領域の拡大平面図である。図6は、図5のA-A線に沿った概略断面図であり、図7は、図5のB-B線に沿った概略断面図である。
図3および図4を参照すると、例示的な実施例によるディスプレイ装置は、パッシブマトリクス方式で駆動されるように実現できる。
例えば、図1を参照して説明したディスプレイ用発光ダイオードスタックは、第1~第3LEDスタック23、33および43が垂直方向に積層され、そのため、1つのピクセルが3つの発光ダイオードR、GおよびBを含む構造を有する。ここで、第1発光ダイオードRは、第1LEDスタック23に対応し、第2発光ダイオードGは、第2LEDスタック33に対応し、第3発光ダイオードBは、第3LEDスタック43に対応する。
図3および図4で、1つのピクセルは、第1~第3発光ダイオードR、GおよびBを含み、各発光ダイオードは、サブピクセルに対応する。第1~第3発光ダイオードR、GおよびBのアノードは、共通配線(例えば、データ配線)に接続され、そのカソードは、異なる配線(例えば、スキャン配線)に接続される。より具体的には、第1ピクセルにおいて、第1~第3発光ダイオードR、GおよびBのアノードは、データ配線Vdata1に共通に接続され、そのカソードは、スキャン配線Vscan1-1、Vscan1-2およびVscan1-3にそれぞれ接続される。そのため、同一のピクセル内の発光ダイオードR、GおよびBは、独立して駆動可能である。
また、発光ダイオードR、GおよびBのそれぞれは、パルス幅変調方式でまたは電流の強度を変更することにより駆動可能であり、それによって、各サブピクセルの輝度を調節する。
図4を参照すると、複数のピクセルは、図1を参照して説明したLEDスタックをパターニングすることにより形成され、各ピクセルは、第1-p反射電極25およびインターコネクション配線71、73および75に接続される。図3に示すように、第1-p反射電極25は、データ配線Vdataとして使用可能であり、インターコネクション配線71、73および75は、スキャン配線として使用可能である。
ピクセルは、マトリクス状に配列され、各ピクセルの発光ダイオードR、GおよびBのアノードは、第1-p反射電極25に共通に接続され、そのカソードは、互いに離隔したインターコネクション配線71、73および75にそれぞれ接続される。インターコネクション配線71、73および75は、スキャン配線Vscanとして使用可能である。
図4~図7を参照すると、各ピクセルにおいて、第1-p反射電極25の一部分、第1LEDスタック23の上部表面の一部分、第2-p透明電極35の一部分、第2LEDスタック33の上部表面の一部分、第3-p透明電極45の一部分、および第3LEDスタック43の上部表面が外部に露出する。
第3LEDスタック43は、その上部表面上に粗面化された表面43aを有してもよい。粗面化された表面43aは、第3LEDスタック43の全体上部表面上に形成されるか、図6に示すように、その一部上に形成されてもよい。
第1絶縁層61は、各ピクセルの側面を覆うことができる。第1絶縁層61は、SiO2のような光透過性材料で形成される。この場合、第1絶縁層61は、第3LEDスタック43の全体上部表面を覆うことができる。代替的に、第1絶縁層61は、分布ブラッグ反射器を含み、第1~第3LEDスタック23、33および43内で側面に向かって進行する光を反射させてもよい。この場合、第1絶縁層61は、第3LEDスタック43の上部表面を少なくとも部分的に露出させる。
第1絶縁層61は、第3LEDスタック43の上部表面を露出させる開口部61aと、第2LEDスタック33の上部表面を露出させる開口部61bと、第1LEDスタック23の上部表面を露出させる開口部61c(図8Hによく示されている)と、第3-p透明電極45を露出させる開口部61dと、第2-p透明電極35を露出させる開口部61eと、第1-p反射電極25を露出させる開口部61fとを含んでもよい。
インターコネクション配線71およびインターコネクション配線75は、第1~第3LEDスタック23、33および43近傍で支持基板51上に形成され、第1絶縁層61上に配置されて第1-p反射電極25から絶縁される。一方、コネクタ77aは、第3-p透明電極45を第1-p反射電極25に接続し、コネクタ77bは、第2-p透明電極35を第1-p反射電極25に接続し、第1LEDスタック23、第2LEDスタック33および第3LEDスタック43のアノードは、第1-p反射電極25に共通に接続される。
一方、コネクタ71aは、第3LEDスタック43の上部表面をインターコネクション配線71に接続し、コネクタ75aは、第1LEDスタック23の上部表面をインターコネクション配線75に接続する。
第2絶縁層81は、インターコネクション配線71および73および第1絶縁層61上に配置され、第3LEDスタック43の上部表面を覆うことができる。第2絶縁層81は、第2LEDスタック33の上部表面の一部分を露出させる開口部81aを有してもよい。
インターコネクション配線73は、第2絶縁層81上に配置され、コネクタ73aは、第2LEDスタック33の上部表面をインターコネクション配線73に接続することができる。コネクタ73aは、インターコネクション配線75の上部にわたって通過してもよいし、第2絶縁層81によってインターコネクション配線75から絶縁される。
上述のように、例示的な実施例による各ピクセルの電極は、データ配線およびスキャン配線に接続される。特に、図4~図7は、インターコネクション配線71および75が第1絶縁層61上に形成され、インターコネクション配線73が第2絶縁層81上に形成されることを示すが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。例えば、インターコネクション配線71、73および75のそれぞれは、第1絶縁層61上に形成され、第2絶縁層81で覆われてもよく、第2絶縁層81は、インターコネクション配線73を露出させる開口部を有してもよい。この場合、コネクタ73aは、第2LEDスタック33の上部表面を第2絶縁層81の開口部を介してインターコネクション配線73に接続することができる。
一方、インターコネクション配線71、73および75が支持基板51内に形成され、コネクタ71a、73aおよび75aは、第1~第3LEDスタック23、33および43の上部表面を第1絶縁層61上のインターコネクション配線71、73および75に接続することができる。
図8A~図8Kは、例示的な実施例によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図である。
まず、図1に示す発光ダイオードスタック100が提供される。
次に、図8Aを参照すると、粗面化された表面43aが第3LEDスタック43の上部表面上に形成される。粗面化された表面43aは、第3LEDスタック43の上部表面上で各ピクセル領域に対応するように形成される。粗面化された表面43aは、化学的なエッチング手法、例えば、光-増強化学的エッチング(PEC)手法により形成される。
粗面化された表面43aは、さらにエッチングされる第3LEDスタック43の領域を考慮して各ピクセル領域内で部分的に形成されてもよいが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。粗面化された表面43aは、第3LEDスタック43の全体上部表面にわたって形成されてもよい。
図8Bを参照すると、その後、第3LEDスタック43の周辺領域が各ピクセル領域でエッチングされて第3-p透明電極45を露出させる。残留する第3LEDスタック43は、長方形または正方形状を有してもよいし、複数の陥没部がその周縁に沿って形成される。
図8Cを参照すると、その後、露出した第3-p透明電極45が第3LEDスタック43内に形成された1つの陥没部に対応するその一部を除いて除去されて、第2LEDスタック33の上部表面を露出させる。第2LEDスタック33の上部表面は、第3LEDスタック45の周囲で、そして第3-p透明電極45が残留する陥没部以外の第3LEDスタック43の他の陥没部内で露出する。
図8Dを参照すると、露出した第2LEDスタック33は、第3LEDスタック43のもう1つの陥没部に対応するその一部を除いて除去されて、第2-p透明電極35を露出させる。
図8Eを参照すると、その後、露出した第2-p透明電極35が第3LEDスタック43のさらに他の1つの陥没部に対応するその一部を除いて除去されて、第1LEDスタック23の上部表面を露出させる。そのため、第1LEDスタック23の上部表面は、第3LEDスタック43の周囲で露出し、第1LEDスタック23の上部表面はさらに、第3LEDスタック43の陥没部のうちの1つ以上で露出する。
図8Fを参照すると、露出した第1LEDスタック23は、第3LEDスタック43のさらに他の1つの陥没部に対応するその一部を除いて除去されて、第1-p反射電極25を露出させる。第1-p反射電極25は、第3LEDスタック43の周囲で露出する。
図8Gを参照すると、第1-p反射電極25は、支持基板51が露出できるように、線形インターコネクション配線を形成するためにパターニングされる。第1-p反射電極25は、図4に示すように、列を作って配列されるピクセルを互いに接続することができる。
図8Hを参照すると、第1絶縁層61(図6および図7参照)がピクセルを覆うように形成される。特に、第1絶縁層61は、第1-p反射電極25を覆いかつ、第1~第3LEDスタック23、33および43の側面を覆う。加えて、第1絶縁層61は、第3LEDスタック43の上部表面を少なくとも部分的に覆うことができる。第1絶縁層61がSiO2層のような透明層であれば、第1絶縁層61は、第3LEDスタック43の全体上部表面を覆うことができる。代替的に、第1絶縁層61が分布ブラッグ反射器を含むと、第1絶縁層61は、光が外部に放出できるように、第3LEDスタック43の上部表面の少なくとも一部分を露出させてもよい。
一方、第1絶縁層61は、第3LEDスタック43を露出させる開口部61aと、第2LEDスタック33を露出させる開口部61bと、第1LEDスタック23を露出させる開口部61cと、第3-p透明電極45を露出させる開口部61dと、第2-p透明電極35を露出させる開口部61eと、第1-p反射電極25を露出させる開口部61fとを含んでもよい。第1-p反射電極25を露出させる2つ以上の開口部61fが形成されてもよい。
図8Iを参照すると、その後、インターコネクション配線71および75およびコネクタ71a、75a、77aおよび77bがリフトオフ手法などを利用して形成される。インターコネクション配線71および75は、第1絶縁層61によって第1-p反射電極25から絶縁される。コネクタ71aは、第3LEDスタック43をインターコネクション配線71に電気的に接続し、コネクタ75aは、第1LEDスタック23をインターコネクション配線75に電気的に接続する。一方、コネクタ77aは、第3-p透明電極45を第1-p反射電極25に電気的に接続し、コネクタ77bは、第2-p透明電極35を第1-p反射電極25に電気的に接続する。
図8Jを参照すると、その後、第2絶縁層81(図6および図7参照)がインターコネクション配線71および75およびコネクタ71a、75a、77aおよび77bを覆う。第2絶縁層81も、第3LEDスタック43の全体上部表面を覆うことができる。一方、第2絶縁層81は、第2LEDスタック33の上部表面を露出させる開口部81aを有する。第2絶縁層81は、例えば、シリコン酸化物膜またはシリコン窒化物膜で形成され、また、分布ブラッグ反射器を含んでもよい。第2絶縁層81が分布ブラッグ反射器を含むと、第2絶縁層61は、第3LEDスタック43の上部表面を少なくとも部分的に露出させて、光を外部に放出させることができる。
図8Kを参照すると、その後、インターコネクション配線73およびコネクタ73aがリフトオフ手法などにより形成される。インターコネクション配線73は、第2絶縁層81上に配置され、第1-p反射電極25およびインターコネクション配線71および75から絶縁される。コネクタ73aは、第2LEDスタック33およびインターコネクション配線73を電気的に接続する。コネクタ73aは、インターコネクション配線75の上部を横切ることができ、第2絶縁層81によってインターコネクション配線75から絶縁される。
この方式により、図5に示すピクセル領域が形成される。また、図4に示すように、複数のピクセルが支持基板51上に形成されてもよいし、これらのピクセルは、第1-p反射電極25およびインターコネクション配線71、73および75によって互いに接続されてパッシブマトリクス方式で駆動可能である。
上記のように、パッシブマトリクス方式で駆動されるディスプレイ装置の製造方法を例示的な実施例により説明した。しかし、本発明の概念が上記の特定の製造方法に限定されるものではなく、パッシブマトリクス方式で駆動されるディスプレイ装置が、図1に示す発光ダイオードスタックを用いて多様な方式で製造できる。例えば、インターコネクション配線73が第2絶縁層81上に形成されるものと説明したが、インターコネクション配線73は、インターコネクション配線71および75とともに第1絶縁層61上に形成されてもよいし、コネクタ73aは、第2絶縁層81上に形成されて第2LEDスタック33をインターコネクション配線73に接続することができる。また、インターコネクション配線71、73および75は、支持基板51内に設けられてもよい。
図9は、他の例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略回路図である。図3~図8を参照して説明したディスプレイ装置がパッシブマトリクス方式で駆動されるように構成されるが、図示の実施例によるディスプレイ装置は、アクティブマトリクス駆動のためのものである。
図9を参照すると、例示的な実施例による駆動回路は、2つ以上のトランジスタTr1およびTr2およびキャパシタを含む。電源が選択配線Vrow1~Vrow3に接続され、データ電圧がデータ配線Vdata1~Vdata3に印加される場合、電圧は対応する発光ダイオードに印加される。また、データ配線Vdata1~Vdata3の値に応じて対応するキャパシタに電荷が充電される。トランジスタTr2は、キャパシタの充電電圧によってターンオン状態を保持することができ、そのため、選択配線Vrow1への電源供給が遮断されても、キャパシタの電圧が保持可能であり、電圧が発光ダイオードLED1~LED3に印加される。さらに、発光ダイオードLED1~LED3を介して流れる電流がデータ配線Vdata1~Vdata3の値に応じて変更可能である。電流は電流供給源Vddを介して常に供給可能なため、光が連続的に放出できる。
トランジスタTr1およびTr2およびキャパシタは、支持基板51内に形成される。例えば、シリコン基板上に形成された薄膜トランジスタがアクティブマトリクス駆動のために使用できる。
発光ダイオードLED1、LED2およびLED3は、1つのピクセル内に積層された第1、第2および第3LEDスタック23、33および43に対応することができる。第1~第3LEDスタック23、33および43のアノードは、トランジスタTr2に接続され、そのカソードは、接地に接続される。
図9がアクティブマトリクス駆動のためのディスプレイ装置の駆動回路を示すが、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、他の回路が使用されてもよい。また、発光ダイオードLED1~LED3のアノードが互いに異なるトランジスタTr2に接続されるものと説明され、そのカソードが接地に接続されるものと説明されるが、代替的に、発光ダイオードのアノードは、電流供給源Vddに接続され、そのカソードは、互いに異なるトランジスタに接続されてもよい。
図10は、他の例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略平面図である。以下、支持基板151上に配列される複数のピクセルのうちの1つのピクセルについて説明する。
図10を参照すると、例示的な実施例によるピクセルは、支持基板151がトランジスタおよびキャパシタを含む薄膜トランジスタパネルであり、第1-p反射電極25が第1LEDスタック23の下部領域内に画定されることを除けば、図4~図7を参照して説明したピクセルと概ね類似している。
第3LEDスタック43のカソードは、コネクタ171aを介して支持基板151に接続される。例えば、図9に示すように、第3LEDスタック43(例えば、LED3)のカソードは、支持基板151に電気的に接続され、接地に接続される。第2LEDスタック33(例えば、LED2)および第1LEDスタック23(例えば、LED1)のカソードも、それぞれコネクタ173aおよび175aを介して支持基板151に接続され、接地に接続される。
一方、第1-p反射電極25は、支持基板151内に設けられるトランジスタTr2(図9参照)に接続される。第3-p透明電極45および第2-p透明電極35も、それぞれコネクタ171bおよび173bを介して支持基板151内に設けられるトランジスタTr2(図9参照)に接続される。
上記のように、第1~第3LEDスタック23、33および43を接続することにより、図9に示すようなアクティブマトリクス駆動のための回路が構成される。
図10がアクティブマトリクス駆動のためのディスプレイ装置のピクセルを示すが、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、アクティブマトリクス駆動のための多様な回路に多様な変形が加えられてもよい。
一方、図1を再度参照すると、第1-p反射電極25、第2-p透明電極35および第3-p透明電極45が第1LEDスタック23、第2LEDスタック33および第3LEDスタック43のp型半導体層とそれぞれオーミック接触するものと説明されるが、n型半導体層にはオーミック接触層が別途設けられない。これは、ピクセルの大きさが200μm以下と小さい場合、n型半導体層に別途のオーミック接触層を形成しなくても、電流拡散(curent spreading)における困難が少ないからである。しかし、電流拡散のために、必要であれば、透明電極層が各LEDスタックのn型半導体層上にさらに配置されてもよい。
第1~第3LEDスタック23、33および43は、多様な構成によって互いにボンディングされてもよい。
図11は、さらに他の例示的な実施例によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの概略断面図である。
図11を参照すると、発光ダイオードスタック101は、図1の発光ダイオードスタック100と同様に、支持基板51と、第1LEDスタック23と、第2LEDスタック33と、第3LEDスタック43と、第2-p透明電極35と、第3-p透明電極45と、第1カラーフィルタ137と、第2カラーフィルタ47、第1ボンディング層153と、第2ボンディング層155と、第3ボンディング層157とを含んでもよい。発光ダイオードスタック101は、第1-n反射電極129と、第1-p透明電極125と、第2-n透明電極139とをさらに含んでもよい。
支持基板51は、半導体スタック23、33および43を支持する。支持基板51は、その表面上にまたはその内部に回路を含んでもよいが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。支持基板51は、例えば、Si基板またはGe基板を含んでもよい。
第1LEDスタック23、第2LEDスタック33および第3LEDスタック43は、図1を参照して説明したものと類似しているので、その詳細な説明は重複を避けるために省略される。発光ダイオードスタック101は、第1LEDスタック23および第2LEDスタック33の下部表面がn型であり、その上部表面がp型であるという点において、図1のそれとは異なる。第3LEDスタック43の下部表面は、p型であり、その上部表面は、n型であり、これは図1のそれと実質的に同一である。
第1LEDスタック23の上部表面がp型であるので、第1-p透明電極125は、第1LEDスタック23の上部表面とオーミック接触する。第1-p透明電極125は、第1LEDスタック23で発生する光、例えば、赤色光を透過させる。
第1-n反射電極129は、第1LEDスタック23の下部表面とオーミック接触する。第1-n反射電極129は、第1LEDスタック23とオーミック接触し、第1LEDスタック23で発生する光を反射させる。第1-n反射電極129は、例えば、Au-Ti、Au-Snなどで形成される。また、第1-n反射電極129は、拡散バリア層を含んでもよい。
第2-p透明電極35は、第2LEDスタック33のp型半導体層とオーミック接触する。第2LEDスタック33の上部表面がp型であるので、第2-p透明電極35は、第2LEDスタック33上に配置される。第2-p透明電極35は、赤色光および緑色光に透過性である金属層または導電性酸化物層で形成される。
第2-n透明電極139は、第2LEDスタック33の下部表面とオーミック接触する。第2-n透明電極139も、赤色光および緑色光に透過性である金属層または導電性酸化物層で形成される。第2-n透明電極139は、第2LEDスタック33をパターニングすることにより部分的に露出して、第2LEDスタック33のn型半導体層への電気的な接続のための接続端子を提供する。
第3-p透明電極45は、第3LEDスタック43のp型半導体層とオーミック接触する。第3-p透明電極45は、赤色光、緑色光および青色光に透過性である金属層または導電性酸化物層で形成される。
第1カラーフィルタ137は、第1LEDスタック23と第2LEDスタック33との間に配置される。また、第2カラーフィルタ47は、第2LEDスタック33と第3LEDスタック43との間に配置される。第1カラーフィルタ137は、第1LEDスタック23で発生する光を透過させ、第2LEDスタック33で発生する光を反射させる。第2カラーフィルタ47は、第1および第2LEDスタック23および33で発生する光を透過させ、第3LEDスタック43で発生する光を反射させる。そのため、第1LEDスタック23で発生する光は、第2LEDスタック33および第3LEDスタック43を介して外部に放出され、第2LEDスタック33で発生する光は、第3LEDスタック43を介して外部に放出される。また、第2LEDスタック33で発生する光が第1LEDスタック23上に入射して損失するのを防止し、または第3LEDスタック43で発生する光が第2LEDスタック33上に入射して損失するのを防止することができる。
いくつかの例示的な実施例により、第1カラーフィルタ137は、第3LEDスタック43で発生する光を反射させてもよい。
第1および第2カラーフィルタ137および47のそれぞれは、例えば、低周波領域、すなわち長波長領域のみを通過させる低域通過フィルタ、所定の波長帯域のみを通過させる帯域通過フィルタ、または所定の波長帯域のみを遮断する帯域阻止フィルタであってもよい。特に、第1および第2カラーフィルタ137および47は、分布ブラッグ反射器(DBR)を含む帯域阻止フィルタであってもよい。分布ブラッグ反射器は、互いに異なる屈折率を有する絶縁層を交互に積層することにより、例えば、TiO2およびSiO2を交互に積層することにより形成可能である。また、分布ブラッグ反射器の阻止帯域は、TiO2およびSiO2の厚さを調節することにより制御可能である。低域通過フィルタおよび帯域通過フィルタも、互いに異なる屈折率を有する絶縁層を交互に積層することにより形成可能である。
第1ボンディング層153は、第1LEDスタック23を支持基板51に結合する。図11に示すように、第1-n反射電極129は、第1ボンディング層153と接触可能である。第1ボンディング層153は、光透過性であるか、不透明であってもよい。第1ボンディング層153は、例えば、透明無機絶縁膜、透明有機絶縁膜または透明導電性薄膜であってもよい。
第2ボンディング層155は、第2LEDスタック33を第1LEDスタック23に結合する。図11に示すように、第2ボンディング層155は、第1カラーフィルタ137上に配置され、第2-n透明電極139と接触可能である。第2ボンディング層155は、第1LEDスタック23で発生する光を透過させる。第2ボンディング層155は、例えば、透明無機絶縁膜、透明有機絶縁膜または透明導電性薄膜であってもよく、例えば、光透過性スピンオンガラスで形成されてもよい。
第3ボンディング層157は、第3LEDスタック43を第2LEDスタック33に結合する。図11に示すように、第3ボンディング層157は、第2-p透明電極35と接触可能であり、第2カラーフィルタ47と接触可能である。第3ボンディング層157は、第1LEDスタック23および第2LEDスタック33で発生する光を透過させる。第3ボンディング層157は、例えば、透明無機絶縁膜、透明有機絶縁膜または透明導電性薄膜であってもよく、例えば、光透過性スピンオンガラスで形成されてもよい。
図12A~図12Fは、さらに他の例示的な実施例によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの製造方法を示す概略断面図である。
図12Aを参照すると、第3LEDスタック43が第3基板41上に成長し、第3-p透明電極45および第2カラーフィルタ47が第3LEDスタック43上に形成される。第3LEDスタック43は、窒化ガリウム系半導体層で形成され、GaInN井戸層を含んでもよい。第3基板41は、窒化ガリウム系半導体層がその上に成長できる基板、例えば、サファイア基板である。GaInNの組成比は、第3LEDスタック43が青色光を放出するように決定されてもよい。第3-p透明電極45は、第3LEDスタック43のp型半導体層とオーミック接触する。
図12Bを参照すると、第2LEDスタック33が第2基板31上に成長し、第2-p透明電極35が第2LEDスタック33上に形成される。第2LEDスタック33は、窒化ガリウム系半導体層で形成され、GaInN井戸層を含んでもよい。第2基板31は、窒化ガリウム系半導体層がその上に成長できる基板であり、第3基板41と同一であってもよい。GaInNの組成比は、第2LEDスタック33が緑色光を放出するように決定されてもよい。第2-p透明電極35は、第2LEDスタック33のp型半導体層とオーミック接触する。
第3ボンディング層157は、第2カラーフィルタ47上に設けられ、第2基板31は、第2基板31の第2-p透明電極35が第3ボンディング層157と接触するように配置される。第3ボンディング層157は、例えば、スピンオンガラスで形成されてもよい。この方式により、第2LEDスタック33が第3LEDスタック43にボンディングされる。
図12Cを参照すると、その後、第2基板31が第2LEDスタック33から分離される。第2基板31は、レーザリフトオフ、化学的リフトオフなどのような手法を利用することにより第2LEDスタック33から分離される。第2基板31が分離されることにより、第2LEDスタック33が露出する。その後、第2-n透明電極139が露出した第2LEDスタック33上に形成される。第2-n透明電極139は、金属または導電性酸化物層で形成される。例示的な実施例により、第2-n透明電極139は省略可能である。
図12Dを参照すると、第1LEDスタック23が第1基板21上に成長し、第1-p透明電極125が第1LEDスタック23上に形成され、第1カラーフィルタ137が第1-p透明電極125上に形成される。
第1基板21は、例えば、GaAs基板であってもよい。また、第1LEDスタック23は、AlGaInP系半導体層で形成され、n型半導体層と、活性層と、p型半導体層とを含む。第1-p透明電極125は、第1LEDスタック23のp型半導体層とオーミック接触する。
第1カラーフィルタ137は、図1を参照して説明したものと実質的に同一であるので、重複を避けるためにその詳細な説明は省略する。
第2ボンディング層155は、第2-n透明電極139上に設けられ、第1基板21は、第1基板21の第1カラーフィルタ137が第2ボンディング層155と接触するように配置される。第2ボンディング層155は、例えば、スピンオンガラスで形成されてもよい。そのため、第1LEDスタック23は、第2LEDスタック33にボンディングされる。
図12Eを参照すると、第1LEDスタック23が第2LEDスタック33上にボンディングされた後、第1基板21は、化学的エッチング手法を利用して第1LEDスタック23から除去される。そのため、第1LEDスタック23が露出する。
図12Fを参照すると、第1-n反射電極129が露出した第1LEDスタック23上に形成される。第1-n反射電極129は、第1LEDスタック23で発生する光を反射させる金属層を含む。その後、第1ボンディング層153が第1-n反射電極129上に配置され、支持基板51がその上でボンディングされる。その後、第3基板41がレーザリフトオフ、化学的リフトオフなどのような手法を利用することにより第3LEDスタック43から分離される。この方式により、第3LEDスタック43のn型半導体層が図11に示すように露出するディスプレイ用発光ダイオードスタック101が提供可能である。
ディスプレイ装置は、ピクセルユニット内で支持基板51上に配置される第1~第3LEDスタック23、33および43を含む発光ダイオードスタック101をパターニングすることにより、そしてインターコネクション配線によって第1~第3LEDスタック22、33および43を接続することにより形成される。
例示的な実施例により、複数のピクセルがディスプレイ用発光ダイオードスタック100または101を用いることによりウエハレベルで形成され、これは発光ダイオードを個別的に実装する工程を省くことができる。また、第1~第3LEDスタック23、33および43が垂直に積層された構造を有するので、サブピクセルの面積が限られたピクセル面積内で確保できる。加えて、第1LEDスタック23、第2LEDスタック33および第3LEDスタック43で発生する光が第2および第3LEDスタック33および43を介して透過して外部に放出されるので、光損失を減少させることが可能である。
図13は、例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略平面図であり、図14は、例示的な実施例によるディスプレイ用発光ダイオードピクセルの概略断面図である。
図13を参照すると、ディスプレイ装置200は、支持基板251と、支持基板251上に配列される複数のピクセル20とを含む。各ピクセル20は、第1~第3サブピクセルR、GおよびBを含む。
図14を参照すると、支持基板251は、LEDスタック223、233および243を支持する。支持基板251は、表面上にまたは内部に回路を含んでもよいが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。支持基板251は、例えば、ガラス基板、サファイア基板、Si基板またはGe基板を含んでもよい。
第1サブピクセルRは、第1LEDスタック223を含み、第2サブピクセルGは、第2LEDスタック233を含み、第3サブピクセルBは、第3LEDスタック243を含む。第1サブピクセルRは、第1LEDスタック223内で光を放出するように構成され、第2サブピクセルGは、第2LEDスタック233内で光を放出するように構成され、第3サブピクセルBは、第3LEDスタック243内で光を放出するように構成される。第1~第3LEDスタック223、233および243は、互いに独立して駆動可能である。
第1LEDスタック223、第2LEDスタック233および第3LEDスタック243は、垂直方向に積層されて互いに重なる。特に、第2LEDスタック233は、第1LEDスタック223の部分的な領域上に配置される。第2LEDスタック233は、第1LEDスタック223上で一側に面して形成される。また、第3LEDスタック243は、第2LEDスタック233の部分的な領域上に配置され、第2LEDスタック233上で一側に面して形成される。図14は、第3LEDスタック243が第2LEDスタック233の右側に隣接して配置されることを示すが、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、第2LEDスタック233の左側に面して隣接して配置されてもよい。
第1LEDスタック223で発生する光Rの一部分は、第2LEDスタック233で覆われない領域から放出され、光Rの他の一部分は、第2LEDスタック233を介して放出され、残りの他の一部分は、第2LEDスタック233および第3LEDスタック243それぞれを介して放出される。第2LEDスタック233で発生する光Gの一部分は、第3LEDスタック243で覆われない領域から放出され、残りの他の一部分は、第3LEDスタック243を介して放出される。第3LEDスタック243で発生する光Bは、その頂部表面(top surface)を介して放出される。
一般的に、第1LEDスタック223において、第2LEDスタック233で覆われた領域は光損失が生じることがあり、そのため、単位面積あたりにより高い光度を有する光が第2LEDスタック233で覆われない領域から放出される。このように、第1LEDスタック223において第2LEDスタック233で覆われた領域の面積および第2LEDスタック233で覆われない領域の面積は、第1LEDスタック223から放出される光の光度を制御するために調節可能である。同じく、第2LEDスタック233において第3LEDスタック243で覆われた領域の面積および第3LEDスタック243で覆われない領域の面積は、第2LEDスタック233から放出される光の光度を制御するために調節可能である。
例えば、第1LEDスタック223が赤色光を放出し、第2LEDスタック233が緑色光を放出し、第3LEDスタック243が青色光を放出する場合、緑色光が高い可視性を有するため、緑色光の光度を減少させる必要があり得る。その理由から、第3LEDスタック243で覆われない第2LEDスタック233の領域の面積が第3LEDスタック243の面積より小さくてよい。加えて、赤色光は低い可視性を有するため、赤色光の光度を増加させる必要があり得る。その理由から、第2LEDスタック233で覆われない第1LEDスタック223の領域の面積が第3LEDスタック243の面積より大きくてよい。
第1LEDスタック223、第2LEDスタック233および第3LEDスタック243は、それぞれn型半導体層と、p型半導体層と、その間に介在する活性層とを含む。活性層は、多重量子井戸構造を有してもよい。第1~第3LEDスタック223、233および243は、互いに異なる活性層を含んでもよく、そのため、互いに異なる波長で光を放出することができる。例えば、第1LEDスタック223は、赤色光を放出する無機発光ダイオードであってもよく、第2LEDスタック233は、緑色光を放出する無機発光ダイオードであってもよいし、第3LEDスタック243は、青色光を放出する無機発光ダイオードであってもよい。このために、第1LEDスタック223は、GaInP系井戸層を含んでもよく、第2LEDスタック233および第3LEDスタック243は、GaInN系井戸層を含んでもよい。
図15は、例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略回路図である。
図15を参照すると、例示的な実施例によるディスプレイ装置は、パッシブマトリクス方式で駆動されるように実現できる。図13および図14を参照して説明しているように、1つのピクセルは、第1~第3サブピクセルR、GおよびBを含む。第1サブピクセルRの第1LEDスタック223は、第1波長で光を放出し、第2サブピクセルGの第2LEDスタック233は、第2波長で光を放出し、第3サブピクセルBの第3LEDスタック243は、第3波長で光を放出する。第1~第3サブピクセルR、GおよびBのカソードは、共通配線、例えば、データ配線Vdata(225)に接続され、そのアノードは、異なる配線、例えば、スキャン配線Vscan(271、273および275)に接続される。
より具体的には、第1~第3サブピクセルR、GおよびBのカソードは、データ配線Vdata1に共通に接続され、そのアノードは、スキャン配線Vscan1-1、Vscan1-2およびVscan1-3に接続される。そのため、同一のピクセル内のサブピクセルR、GおよびBは、個別的に駆動できる。
また、LEDスタック223、233および243のそれぞれは、パルス幅変調方式でまたは電流の強度を変更することにより駆動可能であり、それによって、各サブピクセルの輝度を調節する。さらに、第1~第3LEDスタック223、233および243の面積と、LEDスタック223、233および243が図14に示すように重ならない領域の面積とを調節することにより、輝度を調節することが可能である。
図16は、例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略平面図である。ディスプレイ装置200Aは、図15の回路図により、支持基板251上に整列される複数のピクセル20Aを含む。図17は、図16のディスプレイ装置の1つのピクセル20A領域の拡大平面図である。図18A~図18Dは、図17のA-A、B-B、C-CおよびD-D線に沿った概略断面図である。
図16、17、18A、18B、18Cおよび18Dを参照すると、ディスプレイ装置200Aは、支持基板251と、支持基板251上に配置される複数のピクセル20Aとを含んでもよい。各ピクセル20Aは、第1~第3サブピクセルR、GおよびBを含む。さらに具体的には、ピクセル20Aは、第1LEDスタック223と、第2LEDスタック233と、第3LEDスタック243と、反射電極225と、第1オーミック電極229と、第2透明電極236と、第2オーミック電極237と、第2電流拡散層239と、第3透明電極246と、第3オーミック電極247と、第3電流拡散層249と、第1カラーフィルタ235と、第2カラーフィルタ245と、第1ボンディング層253と、第2ボンディング層255と、第3ボンディング層257と、絶縁層227と、下部絶縁層261と、上部絶縁層263と、インターコネクション配線271、273および275と、コネクタ271a、273a、275a、277aおよび277bとを含む。
各サブピクセルR、GおよびBは、反射電極225およびインターコネクション配線271、273および275に接続される。図15に示すように、反射電極225は、データ配線Vdataとして使用可能であり、インターコネクション配線271、273および275は、スキャン配線Vscanとして使用可能である。
図16に示すように、ピクセル20Aは、マトリクス状に配列され、各ピクセル20AのサブピクセルR、GおよびBのカソードは、反射電極225に共通に接続され、そのアノードは、互いに離隔するインターコネクション配線271、273および275にそれぞれ接続される。コネクタ271a、273aおよび275aは、インターコネクション配線271、273および275をサブピクセルR、GおよびBとそれぞれ接続することができる。
支持基板251は、LEDスタック223、233および243を支持する。支持基板251は、その表面上にまたはその内部に回路を含んでもよいが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。支持基板251は、例えば、ガラス基板、サファイア基板、Si基板またはGe基板を含んでもよい。
第1LEDスタック223は、第1導電型半導体層223aおよび第2導電型半導体層223bを含み、第2LEDスタック233は、第1導電型半導体層233aおよび第2導電型半導体層233bを含み、第3LEDスタック243は、第1導電型半導体層243aおよび第2導電型半導体層243bを含む。加えて、たとえ図示しないものの、活性層が第1導電型半導体層223a、233aおよび243aと第2導電型半導体層223b、233bおよび243bとの間にそれぞれ介在してもよい。
例示的な実施例により、第1導電型半導体層223a、233aおよび243aは、それぞれn型半導体層であり、第2導電型半導体層223b、233bおよび243bは、それぞれp型半導体層である。粗面化された表面が表面テクスチャリング(surface texturing)によって第1導電型半導体層223a、233aおよび243aの1つ以上の上に形成される。
第1LEDスタック223は、支持基板251に近接して配置され、第2LEDスタック233は、第1LEDスタック223上に配置され、第3LEDスタック243は、第2LEDスタック233上に配置される。また、第2LEDスタック233は、第1LEDスタック223上の部分的な領域上に配置され、そのため、第1LEDスタック223は、第2LEDスタック233と部分的に重なる。加えて、第3LEDスタック243は、第2LEDスタック233の部分的な領域上に配置され、そのため、第2LEDスタック233は、第3LEDスタック243と部分的に重なる。このように、第1LEDスタック223で発生する光の少なくとも一部分は、第2および第3LEDスタック233および243を貫通せずに外部に放出される。また、第2LEDスタック233で発生する光の少なくとも一部分は、第3LEDスタック243を貫通せずに外部に放出される。
第1LEDスタック223、第2LEDスタック233および第3LEDスタック243は、図14のLEDスタック223、233および243の材料と実質的に同一の材料を含んでもよいので、その詳細な説明は重複を避けるために省略される。
反射電極225は、第1LEDスタック223の下部表面、さらに具体的には、第1導電型半導体層223aとオーミック接触する。反射電極225は、第1LEDスタック223から放出される光を反射させるための反射層を含む。反射電極225は、第1LEDスタック223の実質的に全体下部表面と重なってもよい。また、反射電極225は、複数のピクセル20Aに共通に接続され、データ配線Vdataとして使用される。
反射電極225は、第1LEDスタック223の第2導電型半導体層223bとオーミック接触を形成する材料層で形成され、また、第1LEDスタック223で発生する光、例えば、赤色光を反射させる反射層をさらに含んでもよい。
反射電極225は、オーミック反射層を含んでもよく、例えば、Au-Te合金、Au-Ge合金などで形成される。これらの合金は、赤色領域内の光に対して高い反射率を有し、第1導電型半導体層223aとオーミック接触を形成する。
第1オーミック電極229は、第1サブピクセルRの第2導電型半導体層223bとオーミック接触する。第1オーミック電極229は、例えば、Au-Zn合金、Au-Be合金などで形成される。第1オーミック電極229は、パッド領域および延長部を含んでもよい。図18Bに示すように、コネクタ275aは、第1オーミック電極229のパッド領域に接続される。第1オーミック電極229は、第2LEDスタック233から離隔可能である。
第2オーミック電極237は、第2LEDスタック233の第1導電型半導体層233aとオーミック接触する。第2オーミック電極237は、第1導電型半導体層233a上に配置される。例えば、第1導電型半導体層233a上に配置される第2導電型半導体層233bおよび活性層は、部分的に除去されて第1導電型半導体層233aを露出させてもよく、第2オーミック電極237は、露出した第1導電型半導体層233a上に配置される。
図18Cに示すように、コネクタ277bは、第2オーミック電極237を反射電極225に電気的に接続することができる。第2オーミック電極237は、第3LEDスタック243から離隔可能である。
第2透明電極236は、第2LEDスタック233の上部表面上で第2導電型半導体層233bとオーミック接触する。第2透明電極236は、第2導電型半導体層233bの実質的に全体領域を覆うことができる。このように、第2透明電極236は、第2LEDスタック233および第3LEDスタック243の間に介在しかつ、平面図で第3LEDスタック243を取り囲んでもよい。第2透明電極236は、透明酸化物層または透明金属層で形成される。
例示的な実施例による第2透明電極236は、支持基板251から相対的にさらに離隔する、第2LEDスタック233の上部表面側上に配置される。この方式により、第2透明電極236は、第2LEDスタック233の成長基板が除去された後に第2LEDスタック233上に形成される。このように、第2透明電極236は、成長基板の除去中に損傷することが防止される。
第2電流拡散層239は、第2透明電極236上に配置され、第2透明電極236を介して第2導電型半導体層233bに電気的に接続される。第2電流拡散層239は、第3LEDスタック243から離隔可能である。第2電流拡散層239は、図17に示すように、パッド領域および延長部を含んでもよく、コネクタ273aは、第2電流拡散層239のパッド領域に接続される。
第2オーミック電極237および第2電流拡散層239は、同一の工程中に同一の材料層で併せて形成される。したがって、第2オーミック電極237および第2電流拡散層239は、実質的に同一の層構造を有することができる。
第3オーミック電極247は、第3LEDスタック243の第1導電型半導体層243aとオーミック接触する。第3オーミック電極247は、第1導電型半導体層243a上に配置される。例えば、第1導電型半導体層243a上に配置される第2導電型半導体層243bおよび活性層は、部分的に除去されて第1導電型半導体層243aを露出させてもよく、第3オーミック電極247は、露出した第1導電型半導体層243a上に配置される。図18Dに示すように、コネクタ277aは、第3オーミック電極247を反射電極225に電気的に接続することができる。
第3透明電極246は、第3LEDスタック243の第2導電型半導体層243bとオーミック接触可能である。第3透明電極246は、第2導電型半導体層243bの実質的に全体領域を覆うことができる。第3透明電極246は、透明酸化物層または透明金属層で形成される。
例示的な実施例による第3透明電極246は、支持基板251から相対的にさらに離隔する、第3LEDスタック243の上部表面側上に配置される。この方式により、第3透明電極246は、第3LEDスタック243の成長基板が除去された後に第3LEDスタック243上に形成される。そのため、第3透明電極246は、成長基板の除去中に損傷することが防止される。
第3電流拡散層249は、第3透明電極246上に配置され、第3透明電極246を介して第2導電型半導体層243bに電気的に接続される。第3電流拡散層246は、パッド領域および延長部を含んでもよく、図18Dに示すように、コネクタ271aは、第3電流拡散層249のパッド領域に接続される。
第1オーミック電極229、第2電流拡散層239および第3電流拡散層246のそれぞれは、各LEDスタック内での電流拡散を助けるための延長部を含んでもよい。
第3オーミック電極247および第3電流拡散層249は、同一の工程中に同一の材料層で併せて形成される。したがって、第3オーミック電極247および第3電流拡散層249は、実質的に同一の層構造を有することができる。また、第2オーミック電極237、第2電流拡散層239、第3オーミック電極247および第3電流拡散層249は、すべて同一の工程で形成可能であり、実質的に同一の層構造を有することができる。
第1カラーフィルタ235は、第1LEDスタック223と第2LEDスタック233との間に配置される。加えて、第2カラーフィルタ245は、第2LEDスタック233と第3LEDスタック243との間に配置される。第1カラーフィルタ235は、第1LEDスタック223で発生する光を透過させ、第2LEDスタック233で発生する光を反射させる。一方、第2カラーフィルタ245は、第1および第2LEDスタック223および233で発生する光を透過させ、第3LEDスタック243で発生する光を反射させる。そのため、第1LEDスタック223で発生する光は、第2LEDスタック233および第3LEDスタック243を介して外部に放出され、第2LEDスタック233で発生する光は、第3LEDスタック243を介して外部に放出される。また、第2LEDスタック233で発生する光が第1LEDスタック223上に入射して損失するか、第3LEDスタック243で発生する光が第2LEDスタック233上に入射して損失するのを防止することが可能である。
いくつかの例示的な実施例により、第1カラーフィルタ237は、第3LEDスタック243で発生する光を反射させてもよい。
第1および第2カラーフィルタ235および245のそれぞれは、例えば、低周波領域、すなわち長波長領域のみを通過させる低域通過フィルタ、所定の波長帯域のみを通過させる帯域通過フィルタ、または所定の波長帯域のみを遮断する帯域阻止フィルタであってもよい。特に、第1および第2カラーフィルタ237および247は、互いに異なる屈折率を有する絶縁層を交互に積層することにより形成可能である。例えば、第1および第2カラーフィルタ235および245は、TiO2とSiO2を交互に積層することにより形成可能である。特に、第1および第2カラーフィルタ235および245は、分布ブラッグ反射器(DBR)を含んでもよい。分布ブラッグ反射器の阻止帯域は、TiO2およびSiO2の厚さを調節することにより制御可能である。低域通過フィルタおよび帯域通過フィルタも、互いに異なる屈折率を有する絶縁層を交互に積層することにより形成可能である。
第1ボンディング層253は、第1LEDスタック223を支持基板251に結合する。反射電極225は、第1ボンディング層253と接触可能である。第1ボンディング層253は、光透過性であるか、不透過性であってもよい。第1ボンディング層253は、有機材料層または無機材料層で形成されてもよい。有機層の例は、SU8、ポリ(メチルメタクリレート)(poly(methylmethacrylate))(PMMA)、ポリイミド、パリレン(parylene)、ベンゾシクロブテン(benzocyclobutene:BCB)などを含んでもよい。無機層の例は、Al2O3、SiO2、SiNxなどを含んでもよい。有機材料層は、高真空および高圧でボンディングされてもよい。無機材料層は、例えば、化学機械研磨工程により表面-平坦化され、その後、表面エネルギーがプラズマなどを用いて制御可能であり、無機材料層は、表面エネルギーを用いて高真空でボンディングされてもよい。特に、第1ボンディング層253におけるように、黒色エポキシのような、光を吸収する接着層を用いることにより、ディスプレイ装置のコントラスト比が向上することができる。第1ボンディング層253はさらに、スピンオンガラスで形成されてもよい。
第2ボンディング層255は、第1LEDスタック223を第2LEDスタック233に結合する。第2ボンディング層255は、第1LEDスタック223と第1カラーフィルタ235との間に配置される。第2ボンディング層255は、第1LEDスタック223で発生する光を透過させることができ、第1ボンディング層253に関連して上述した光透過性ボンディング材料で形成されてもよい。
絶縁層227は、第2ボンディング層255と第1LEDスタック223との間に介在してもよい。絶縁層227は、第2導電型半導体層223bと接触可能である。絶縁層227は、例えば、SiO2で形成され、それによって、第2ボンディング層255のボンディング強度を向上させることができる。
第3ボンディング層257は、第2LEDスタック233を第3LEDスタック243に結合する。第3ボンディング層257は、第2LEDスタック233と第2カラーフィルタ245との間に配置され、第2LEDスタック233と第2カラーフィルタ245とをボンディングすることができる。第3ボンディング層257は、第1および第2LEDスタック223および233で発生する光を透過させることができ、第1ボンディング層253に関連して上述した光透過性ボンディング材料で形成されてもよい。
下部絶縁層261は、第1~第3LEDスタック223、233および243を覆うことができる。特に、下部絶縁層261は、第1LEDスタック223の周囲で露出した反射電極225を覆う。一方、下部絶縁層261は、電気的な接続経路を提供するための開口部を有してもよい。
上部絶縁層263は、下部絶縁層261を覆う。上部絶縁層263も、電気的な接続経路を提供するための開口部を有してもよい。
下部絶縁層261および上部絶縁層263は、絶縁性を有する限り、特に限定されず、例えば、シリコン酸化物またはシリコン窒化物で形成されてもよい。
図16および図17に示すように、インターコネクション配線271、273および275は、平面図で露出した反射電極225と直交するように配列される。インターコネクション配線271およびインターコネクション配線275は、上部絶縁層263上に配置され、コネクタ271aおよび275aを介して第3電流拡散層249および第1オーミック電極229にそれぞれ接続される。このために、上部絶縁層263および下部絶縁層261は、第3オーミック電極247および第1オーミック電極229を露出させる開口部を有してもよい。
インターコネクション配線273は、下部絶縁層261上に配置され、反射電極225から絶縁される。インターコネクション配線273は、下部絶縁層261と上部絶縁層263との間に配置され、コネクタ273aを介して第2電流拡散層239に接続される。このために、下部絶縁層261は、第2電流拡散層239を露出させる開口部を有する。
コネクタ277aおよび277bは、下部絶縁層261と上部絶縁層263との間にそれぞれ配置される。このように、第3オーミック電極247および第2オーミック電極237は、反射電極225に電気的に接続される。このために、下部絶縁層261は、第3オーミック電極247および第2オーミック電極237を露出させる開口部を有してもよい。
インターコネクション配線271およびインターコネクション配線273は、上部絶縁層263によって互いに絶縁され、そのため、インターコネクション配線271および273は、垂直方向に互いに重なるように配列される。
図16~図18のディスプレイ装置200Aは、各ピクセルの電極がデータ配線およびスキャン配線に接続される構造を有する。特に、図16のインターコネクション配線271および275は、上部絶縁層263上に配置され、インターコネクション配線273は、下部絶縁層261と上部絶縁層263との間に配置される。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではない。例えば、インターコネクション配線271および275がインターコネクション配線273とともに下部絶縁層261上に形成され、上部絶縁層263で覆われてもよいし、コネクタ271aおよび275aは、上部絶縁層263上に形成されてもよい。
以下、上述した例示的な実施例によるディスプレイ装置200Aの製造方法を説明する。
図19A~図33は、例示的な実施例によるディスプレイ装置の製造方法を示す概略平面図および断面図である。図19A~図33で、多様な断面図は、対応する平面図のA-A線に沿ったものである。
図19Aおよび図19Bを参照すると、第1LEDスタック223が第1基板21上に成長する。第1基板21は、例えば、GaAs基板であってもよい。第1LEDスタック223は、AlGaInP系半導体層で形成され、第1導電型半導体層223aと、活性層と、第2導電型半導体層223bとを含む。
絶縁層227が第1LEDスタック223上に形成される。絶縁層227は、第2導電型半導体層223bを露出させる開口部を有するようにパターニングされる。絶縁層227は、親水性材料層、例えば、SiO2で形成される。例示的な実施例により、絶縁層227は省略可能である。
第1オーミック電極229は、絶縁層227の開口部内に形成される。第1オーミック電極229は、例えば、Au-Zn合金、Au-Be合金などで形成される。第1オーミック電極229は、パッド領域および延長部を有するように形成される。第1オーミック電極229は、リフトオフ手法により形成され、各ピクセル領域内に形成される。第1オーミック電極229は、図19Aに示すように、ピクセル領域の一側に面して配置される。
次に、図20Aを参照すると、予備基板321aがボンディング層323aを介して第1LEDスタック223に付着する。予備基板321aは特に限定されず、第1LEDスタック223を支持可能な任意の基板であってもよい。一方、第1基板221が化学的なエッチング手法を利用して第1LEDスタック223から除去されて、第1LEDスタック223の第1導電型半導体層223aを露出させる。第1導電型半導体層223aの露出した表面は、表面テクスチャリングによって粗面化される。
反射電極225が露出した第1LEDスタック223上に形成される。反射電極225は、例えば、Au-Te合金、Au-Ge合金などで形成される。反射電極225は、リフトオフ手法を利用して形成され、特定の形状を有するようにパターニングされる。例えば、反射電極225は、複数のピクセルを縦方向に接続する形状を有するようにパターニングされる。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、反射電極225は、第1LEDスタック223の実質的に全体表面上にパターニングなしに形成され、その後、後の段階でパターニングされる。反射電極225は、n型半導体層であり得る、第1LEDスタック223の第1導電型半導体層223aとオーミック接触可能である。
図20Bを参照すると、支持基板251が第1ボンディング層253を介して第1LEDスタック223にボンディングされる。第1LEDスタック223上の反射電極225は、支持基板251にボンディングされるために、支持基板251に面するように配置される。そのため、第1ボンディング層253は、反射電極225および第1導電型半導体層223aと接触可能である。
支持基板251がボンディングされた後、予備基板321aおよびボンディング層323aが除去可能である。そのため、絶縁層227および第1オーミック電極229が露出してもよい。
図21Aを参照すると、第2LEDスタック233が第2基板31上に成長する。第2LEDスタック233は、窒化ガリウム半導体層で形成され、第1導電型半導体層233a、GaInN井戸層および第2導電型半導体層233bを含んでもよい。第2基板31は、窒化ガリウム系半導体層がその上に成長できる基板であり、第1基板21とは異なってもよい。GaInNの組成比は、第2LEDスタック233が緑色光を放出するように決定されてもよい。
図21Bを参照すると、予備基板321bがボンディング層323bを介して第2LEDスタック233上に付着する。予備基板321bは特に限定されず、第2LEDスタック233を支持可能な任意の基板であってもよい。
図21Cを参照すると、その後、第2基板231が除去される。第2基板31は、レーザリフトオフ、化学的リフトオフなどのような手法を利用することにより第2LEDスタック233から分離されて、第2LEDスタック233の第1導電型半導体層233aを露出させてもよい。第1導電型半導体層233aの露出した表面は、表面テクスチャリングによって粗面化される。
第1カラーフィルタ235が露出した第1導電型半導体層233a上に形成される。第1カラーフィルタ235は、第1導電型半導体層233aと接触可能である。第1カラーフィルタ235の材料は、図18Aのそれと実質的に同一であり、重複を避けるためにその詳細な説明は省略する。
図22Aを参照すると、第3LEDスタック243が第3基板41上に成長する。第3LEDスタック243は、窒化ガリウム系半導体層で形成され、第1導電型半導体層243a、GaInN井戸層および第2導電型半導体層243bを含んでもよい。第3基板41は、窒化ガリウム系半導体層がその上に成長できる基板であり、第1基板21とは異なってもよい。GaInNの組成比は、第3LEDスタック243が青色光を放出するように決定されてもよい。
図22Bを参照すると、予備基板321cがボンディング層323cを介して第3LEDスタック243上に付着する。予備基板321cは特に限定されず、第3LEDスタック243を支持可能な任意の基板であってもよい。
図22Cを参照すると、その後、第3基板41が除去される。第3基板41は、レーザリフトオフ、化学的リフトオフなどのような手法を利用することにより第3LEDスタック243から分離されて、第3LEDスタック243の第1導電型半導体層243aを露出させてもよい。第1導電型半導体層243aの露出した表面は、表面テクスチャリングによって粗面化される。
第2カラーフィルタ245が露出した第1導電型半導体層243a上に形成される。第2カラーフィルタ245は、第1導電型半導体層243aと接触可能である。第2カラーフィルタ245の材料は、図18Aのそれと実質的に同一であるので、重複を避けるためにその詳細な説明は省略する。
一方、第1LEDスタック223、第2LEDスタック233および第3LEDスタック243が互いに異なる基板上に成長するので、LEDスタックの形成順序は特に限定されない。
図23Aおよび図23Bを参照すると、まず、図21Cの第2LEDスタック233が第2ボンディング層255を介して、図20Bの露出した絶縁層227および第1オーミック電極229にボンディングされる。
第1カラーフィルタ235が支持基板251に面するように配置され、第2ボンディング層255を介して絶縁層227にボンディングされてもよい。第2ボンディング層255は、光透過性材料で形成される。
後続して、予備基板321bおよびボンディング層323bが除去されて第2導電型半導体層233bを露出させ、第2透明電極236が露出した第2導電型半導体層233b上に形成される。第2透明電極236は、第2導電型半導体層233bとオーミック接触する。第2透明電極236は、第2導電型半導体層233bの実質的に全体領域を覆うことができる。
第2基板31が第2LEDスタック233から除去された後に第2透明電極236が形成されるので、第2透明電極236は、第2基板31の除去工程中に損傷することが防止可能である。
図24Aおよび24Bを参照すると、図22Cの第3LEDスタック243は、第3ボンディング層257を介して、第2透明電極236がその上に形成された、第2LEDスタック233にボンディングされる。
第2カラーフィルタ245は、第2LEDスタック233に面するように配置され、第3ボンディング層257を介して第2透明電極236にボンディングされてもよい。第3ボンディング層257は、光透過性材料で形成される。
後続して、予備基板321cおよびボンディング層323cが除去されて第2導電型半導体層243bを露出させ、第3透明電極246が露出した第2導電型半導体層243b上に形成される。第3透明電極246は、第2導電型半導体層243bとオーミック接触する。第3透明電極246は、第2導電型半導体層243bの実質的に全体領域を覆うことができる。
図25Aおよび図25Bを参照すると、第3透明電極246、第2導電型半導体層243bおよび活性層が各ピクセル領域で第1導電型半導体層243aを露出させるようにパターニングされる。第3透明電極246は、第3サブピクセル領域内に画定された状態で残留してもよいし、図25Aに示すようなリセス部を含んでもよい。
その後、第3オーミック電極247および第3電流拡散層249が第3透明電極246および第1導電型半導体層243a上にそれぞれ形成される。第3オーミック電極247は、リセス部内に形成される。第3オーミック電極247および第3電流拡散層249は、同一の工程中に同一の材料層で形成され、そのため、第3オーミック電極247および第3電流拡散層249は、実質的に同一の構造を有することができる。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、第3オーミック電極247および第3電流拡散層249は、別途の工程で形成されてもよい。例えば、第3透明電極246がパターニングされる前に第3電流拡散層249が形成され、第1導電型半導体層243aが露出した後に第3オーミック電極247が形成されるか、またはその逆であってもよい。また、第3オーミック電極247および第3電流拡散層249は、後述のように、第2電流拡散層239とともに形成されてもよい。
図26Aおよび図26Bを参照すると、第1導電型半導体層243a、第2カラーフィルタ245および第3ボンディング層257を順次にパターニングすることにより、第2透明電極236が露出する。この方式により、第3サブピクセル領域Bが画定され、第2透明電極236は、第3サブピクセル領域Bの周囲で露出する。
図27Aおよび図27Bを参照すると、第2透明電極236、第2導電型半導体層233bおよび活性層がパターニングされて、第1導電型半導体層233aを露出させる。第2透明電極236は、第2サブピクセル領域内に画定された状態で残留してもよいし、図27Aに示すようなリセス部を含んでもよい。
その後、第2オーミック電極237および第2電流拡散層239が第2透明電極236および第1導電型半導体層233a上にそれぞれ形成される。第2オーミック電極237は、リセス部内に形成される。第2オーミック電極237および第2電流拡散層239は、同一の工程中に同一の材料層で形成され、そのため、第2オーミック電極237および第2電流拡散層239は、実質的に同一の構造を有することができる。
また、第3オーミック電極247および第3電流拡散層249も、同一の工程中に同一の材料層を用いて第2オーミック電極237および第2電流拡散層239とともに形成されてもよい。
しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、第2オーミック電極237および第2電流拡散層239は、別途の工程で形成されてもよい。例えば、第2透明電極236がパターニングされる前に第2電流拡散層239が先に形成され、第1導電型半導体層233aが露出した後に第2オーミック電極237が形成されるか、またはその逆であってもよい。
図28Aおよび図28Bを参照すると、第1導電型半導体層233a、第1カラーフィルタ235、第2ボンディング層255および絶縁層227を順次にパターニングすることにより、第2透明電極23bが露出する。この方式により、第2サブピクセル領域Gが画定され、第2導電型半導体層223bが第2サブピクセル領域Gの周囲で露出する。また、第1オーミック電極229が第2LEDスタック233の外側上で露出し、第2LEDスタック233は、第3LEDスタック243と部分的に重なる。特に、第3LEDスタック243は、第2LEDスタック233の領域内で画定されるように配置される。
図29Aおよび図29Bを参照すると、第1LEDスタック223がパターニングされて、第1サブピクセルR領域とは異なる部分で第1LEDスタック223を除去する。一方、第1オーミック電極229が第1サブピクセルR領域内に残留してもよい。第1LEDスタック223は、第2LEDスタック233および第3LEDスタック243と部分的に重なる。特に、第2LEDスタック233および第3LEDスタック243は、第1LEDスタック223の領域内で画定されるように配置される。
一方、第1LEDスタック223をパターニングすることにより、反射電極225が露出し、第1ボンディング層253の表面も部分的に露出してもよい。他の例示的な実施例により、絶縁層が第1ボンディング層253上に配置され、そのため、第1ボンディング層253よりは絶縁層が露出してもよい。
例示的な実施例により、第1オーミック電極229、第2電流拡散層239および第3電流拡散層249のそれぞれがパッド領域および延長部を含んでもよく、延長部は、露出した反射電極225の長手方向に沿って延びてもよい。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではない。
図30Aおよび図30Bを参照すると、その後、下部絶縁層261が形成され、第1~第3LEDスタック223、233および243、反射電極225および第1ボンディング層253を覆う。第2透明電極236および第3透明電極246も、下部絶縁層261によって覆われてもよい。下部絶縁層261がパターニングされて、第1オーミック電極229、第2オーミック電極237、第2電流拡散層239、第3オーミック電極247、第3電流拡散層249および反射電極225を露出させる開口部を形成することができる。
図31を参照すると、インターコネクション配線273およびコネクタ273a、277aおよび277bが下部絶縁層261上に形成される。コネクタ273aは、第2電流拡散層239をインターコネクション配線273に接続し、コネクタ277aは、第3オーミック電極247を反射電極225に接続し、コネクタ277bは、第2オーミック電極237を反射電極225に接続する。図31のA-A線に沿った断面図は、図30Bと同一である。
図32Aおよび図32Bを参照すると、その後、上部絶縁層263が形成され、インターコネクション配線273およびコネクタ273a、277aおよび277bを覆う。上部絶縁層263がパターニングされて、第1オーミック電極229および第3電流拡散層249のパッド領域を露出させてもよい。
図33を参照すると、その後、インターコネクション配線271および275およびコネクタ271aおよび275aが上部絶縁層263上に形成される。コネクタ271aは、インターコネクション配線271を第3電流拡散層249に接続し、コネクタ275aは、インターコネクション配線275を第1オーミック電極229に接続する。
このように、図16および図17を参照して説明したディスプレイ装置200Aが製造される。
図34は、他の例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略断面図である。
図34を参照すると、例示的な実施例によるディスプレイ装置は、透明電極226が第1LEDスタック223の上部表面上に配置され、第1電流拡散層229が透明電極226上に配置されることを除けば、図16および図17のディスプレイ装置と実質的に類似している。特に、透明電極226が第1導電型半導体層223a上に配置されて第1導電型半導体層223aとオーミック接触する。透明電極226は、第1LEDスタック223の実質的に全体上部表面を覆うことができ、そのため、第1LEDスタック223と第2LEDスタック233の外側だけでなく、第2LEDスタック233の間に介在してもよい。
透明電極226は、図19Aを参照して説明した絶縁層227を形成する前に、第2導電型半導体層223bの領域の大部分を覆うように形成されてもよい。また、絶縁層227は省略可能である。一方、第1電流拡散層229は、透明電極226の真上に形成される。代替的に、第1電流拡散層229は、図28Aおよび図28Bを参照して説明しているように、第1導電型半導体層233a、第1カラーフィルタ235、第2ボンディング層255および絶縁層227がパターニングされて、透明電極226を露出させることにより、第2サブピクセルG領域を形成した後に、形成されてもよい。
この方式により、第1電流拡散層229が透明電極226を形成することにより、第1導電型半導体層223aとオーミック接触する必要がないので、第1電流拡散層229は、第2電流拡散層239または第3電流拡散層249とともに同一の材料層で形成される。そのため、第1電流拡散層229も、第2オーミック電極237、第2電流拡散層239、第3オーミック電極247および第3電流拡散層249を形成する場合、同一の工程中に同一の材料層で併せて形成されてもよい。
一方、図34のディスプレイ装置がパッシブマトリクス駆動方式で駆動されるピクセルを含むものと説明するが、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、ピクセルは、アクティブマトリクス駆動方式で駆動可能である。
図35は、さらに他の例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略回路図である。ここで、ディスプレイ装置の回路図は、アクティブマトリクス方式で駆動される。
図35を参照すると、例示的な実施例による駆動回路は、2つ以上のトランジスタTr1およびTr2およびキャパシタを含む。電源が選択配線Vrow1~Vrow3に接続され、データ電圧がデータ配線Vdata1~Vdata3に印加される場合、電圧が対応する発光ダイオードに印加される。また、データ配線Vdata1~Vdata3の値に応じて対応するキャパシタに電荷が充電される。トランジスタTr2は、キャパシタの充電電圧によってターンオン状態を保持することができ、そのため、選択配線Vrow1への電源供給が遮断されても、キャパシタの電圧は保持可能であり、電圧が発光ダイオードLED1~LED3に印加される。さらに、発光ダイオードLED1~LED3を介して流れる電流は、データ配線Vdata1~Vdata3の値に応じて変更可能である。電流は電流供給源Vddを介して常に供給可能なため、光が連続的に放出できる。
トランジスタTr1およびTr2およびキャパシタは、支持基板251内に形成される。支持基板251はさらに、その表面上にコンタクトパッドを有してトランジスタをキャパシタに接続することができる。加えて、選択配線およびデータ配線が支持基板251内にまたは上に設けられ、そのため、前記のインターコネクション配線271、273および275は省略可能である。
発光ダイオードLED1~LED3は、1つのピクセル内において、第1~第3LEDスタック223、233および243にそれぞれ対応することができる。第1~第3LEDスタック223、233および243のアノードは、トランジスタTr2に接続され、そのカソードは、接地に接続される。第1オーミック電極229、第2電流拡散層239および第3電流拡散層249は、トランジスタTr2に接続されるコネクタを介して支持基板251上の接続パッドにそれぞれ接続され、反射電極225は、支持基板251の接続パッドに接続されて接地に接続される。
第1~第3LEDスタック223、233および243は、反射電極225に共通に接続されて接地に接続される。また、反射電極225は、2つ以上のピクセルまたはすべてのピクセルに連続的に配置される。そのため、反射電極225は、ディスプレイ装置においてすべてのLEDスタックに共通に接続される。この方式により、アクティブマトリクス駆動回路のノイズが、反射電極225をピクセルと基板251との間に配置することにより除去可能である。
図35が例示的な実施例によるアクティブマトリクス用回路図を示すが、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、他の回路も使用されてもよい。
例示的な実施例によれば、複数のピクセルがウエハボンディング(wafer bonding)を用いることによりウエハレベル(wafer level)で形成され、そのため、ディスプレイ装置は、発光ダイオードを個別的に実装せずに形成される。
図36は、例示的な実施例によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの概略断面図である。
図36を参照すると、発光ダイオードスタック1000は、支持基板1510と、第1LEDスタック1230と、第2LEDスタック1330と、第3LEDスタック1430と、反射電極1250と、オーミック電極(ohmic electrode)1290と、第2-p透明電極1350と、第3-p透明電極1450と、絶縁層1270と、第1カラーフィルタ1370と、第2カラーフィルタ1470と、第1ボンディング層1530と、第2ボンディング層1550と、第3ボンディング層1570とを含む。また、第1LEDスタック1230は、オーミック接触(ohmic contact)のためのオーミック接触部分1230aを含んでもよい。
支持基板1510は、半導体スタック1230、1330および1430を支持する。支持基板1510は、その表面上にまたはその内部に回路を含んでもよいが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。支持基板1510は、例えば、Si基板またはGe基板を含んでもよい。
第1LEDスタック1230、第2LEDスタック1330および第3LEDスタック1430のそれぞれは、n型半導体層と、p型半導体層と、その間に介在する活性層とを含む。活性層は、多重量子井戸構造(multi-quantum well structure)を有してもよい。
例えば、第1LEDスタック1230は、赤色光を放出するように構成された無機発光ダイオードであってもよく、第2LEDスタック1330は、緑色光を放出するように構成された無機発光ダイオードであってもよいし、第3LEDスタック1430は、青色光を放出するように構成された無機発光ダイオードであってもよい。第1LEDスタック1230は、GaInP系井戸層(GaInP-based well layer)を含んでもよく、第2LEDスタック1330および第3LEDスタック1430のそれぞれは、GaInN系井戸層(GaInN-based well layer)を含んでもよい。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、発光ダイオードスタック1000がマイクロLEDを含む場合、第1LEDスタック1230は、赤色、緑色および青色光のうちのいずれか1つを放出することができ、第2および第3LEDスタック1330および1430は、その小さなフォームファクタによって、作動に不利な影響を及ぼすか、カラーフィルタを必要とすることなく、赤色、緑色および青色光のうちの他の1つを放出することができる。
また、第1~第3LEDスタック1230、1330および1430のそれぞれの両面は、それぞれn型半導体層およびp型半導体層である。図示の例示的な実施例において、第1~第3LEDスタック1230、1330および1430のそれぞれは、n型上部表面およびp型下部表面を有する。第3LEDスタック1430がn型上部表面を有するため、粗面化された表面(roughened surface)が第3LEDスタック1430の上部表面上に化学的エッチングにより形成される。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、それぞれのLEDスタックの上部および下部表面の半導体タイプは、代替的に配列されてもよい。
第1LEDスタック1230は、支持基板1510近傍に配置され、第2LEDスタック1330は、第1LEDスタック1230上に配置され、第3LEDスタック1430は、第2LEDスタック1330上に配置される。第1LEDスタック1230が第2および第3LEDスタック1330および1430より長い波長を有する光を放出するので、第1LEDスタック1230から発生する光は、第2および第3LEDスタック1330および1430を介して外部に放出される。また、第2LEDスタック1330が第3LEDスタック1430より長い波長を有する光を放出するので、第2LEDスタック1330から発生する光は、第3LEDスタック1430を介して外部に放出される。
反射電極1250は、第1LEDスタック1230のp型半導体層とオーミック接触を形成し、第1LEDスタック1230から発生する光を反射させる。例えば、反射電極1250は、オーミック接触層1250aと、反射層1250bとを含んでもよい。
オーミック接触層1250aは、第1LEDスタック1230のp型半導体層と部分的に接触する。オーミック接触層1250aによる光の吸収を防止するために、オーミック接触層1250aがp型半導体層と接触する領域は、p型半導体層の全体面積の50%を超えなくてもよい。反射層1250bは、オーミック接触層1250aおよび絶縁層1270を覆う。図36に示すように、反射層1250bは、実質的に全体オーミック接触層1250aを覆うことができるが、これに限定されるものではない。代替的に、反射層1250bは、オーミック接触層1250aの一部分を覆うことができる。
反射層1250bが絶縁層1270を覆うので、比較的高い屈折率を有する第1LEDスタック1230と、比較的低い屈折率を有する絶縁層1270および反射層1250bの積層構造によって全方向反射器(omnidirectional reflector)が形成される。反射層1250bは、第1LEDスタック1230の面積の50%以上または第1LEDスタック1230の大部分を覆い、それによって発光効率を向上させることができる。
オーミック接触層1250aおよび反射層1250bは、金(Au)を含み得る金属層であってもよい。反射層1250bは、第1LEDスタック1230から発生する光、例えば、赤色光に対して比較的高い反射率を有する金属で形成される。他方、反射層1250bは、第2LEDスタック1330および第3LEDスタック1430から発生する光、例えば、緑色光または青色光に対して比較的低い反射率を有する金属で形成され、第2および第3LEDスタック1330および1430から発生して支持基板1510に向かって進行する光の干渉を減少させることができる。
絶縁層1270は、支持基板1510と第1LEDスタック1230との間に介在し、第1LEDスタック1230を露出させる開口部を有する。オーミック接触層1250aは、絶縁層1270の開口部内で第1LEDスタック1230に接続される。
オーミック電極1290は、第1LEDスタック1230の上部表面上に配置される。オーミック電極1290のオーミック接触抵抗を減少させるために、オーミック接触部分1230aは、第1LEDスタック1230の上部表面から突出してもよい。オーミック電極1290は、オーミック接触部分1230a上に配置される。
第2-p透明電極1350は、第2LEDスタック1330のp型半導体層とオーミック接触を形成する。第2-p透明電極1350は、赤色光および緑色光に透過性である金属層または導電性酸化物層を含んでもよい。
第3-p透明電極1450は、第3LEDスタック1430のp型半導体層とオーミック接触を形成する。第3-p透明電極1450は、赤色光、緑色光および青色光に透過性である金属層または導電性酸化物層を含んでもよい。
反射電極1250、第2-p透明電極1350および第3-p透明電極1450は、対応するLEDスタックのp型半導体層とのオーミック接触による電流拡散を助けることができる。
第1カラーフィルタ1370は、第1LEDスタック1230と第2LEDスタック1330との間に介在してもよい。第2カラーフィルタ1470は、第2LEDスタック1330と第3LEDスタック1430との間に介在してもよい。第1カラーフィルタ1370は、第2LEDスタック1330から発生する光を反射させながら、第1LEDスタック1230から発生する光を透過させる。第2カラーフィルタ1470は、第3LEDスタック1430から発生する光を反射させながら、第1および第2LEDスタック1230および1330から発生する光を透過させる。このように、第1LEDスタック1230から発生する光は、第2LEDスタック1330および第3LEDスタック1430を介して外部に放出され、第2LEDスタック1330から発生する光は、第3LEDスタック1430を介して外部に放出される。また、第2LEDスタック1330から発生する光は、第1LEDスタック1230に流入することが防止可能であり、第3LEDスタック1430から発生する光は、第2LEDスタック1330に流入することが防止可能であり、それによって、光損失を防止する。
いくつかの例示的な実施例において、第1カラーフィルタ1370は、第3LEDスタック1430から発生する光を反射させてもよい。
第1および第2カラーフィルタ1370および1470は、例えば、低周波数帯域で、すなわち長波長帯域で、光を透過させる低域通過フィルタ、所定の波長帯域で光を透過させる帯域通過フィルタ、または所定の波長帯域で光の通過を防止する帯域阻止フィルタであってもよい。特に、第1および第2カラーフィルタ1370および1470のそれぞれは、分布ブラッグ反射器(DBR)を含んでもよい。分布ブラッグ反射器は、互いに異なる屈折率を有する絶縁層、例えば、TiO2およびSiO2を交互に積層することにより形成可能である。また、分布ブラッグ反射器の阻止帯域は、TiO2およびSiO2層の厚さを調節することにより制御可能である。低域通過フィルタおよび帯域通過フィルタも、互いに異なる屈折率を有する絶縁層を交互に積層することにより形成可能である。
第1ボンディング層1530は、第1LEDスタック1230を支持基板1510に結合する。図36に示すように、反射電極1250は、第1ボンディング層1530に隣接していてもよい。第1ボンディング層1530は、光透過性または不透明層であってもよい。
第2ボンディング層1550は、第2LEDスタック1330を第1LEDスタック1230に結合する。図36に示すように、第2ボンディング層1550は、第1LEDスタック1230および第1カラーフィルタ1370に隣接していてもよい。オーミック電極1290は、第2ボンディング層1550によって覆われてもよい。第2ボンディング層1550は、第1LEDスタック1230から発生する光を透過させる。第2ボンディング層1550は、例えば、光透過性スピンオンガラス(light transmissive spin-on-glass)で形成されてもよい。
第3ボンディング層1570は、第3LEDスタック1430を第2LEDスタック1330に結合する。図36に示すように、第3ボンディング層1570は、第2LEDスタック1330および第2カラーフィルタ1470に隣接していてもよい。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではない。例えば、透明導電層が第2LEDスタック1330上に配置されてもよい。第3ボンディング層1570は、第1LEDスタック1230および第2LEDスタック1330から発生する光を透過させる。第3ボンディング層1570は、例えば、光透過性スピンオンガラスで形成されてもよい。
図37A、図37B、図37C、図37Dおよび図37Eは、例示的な実施例によるディスプレイ用発光ダイオードスタックを製造する方法を示す概略断面図である。
図37Aを参照すると、第1LEDスタック1230が第1基板1210上に成長する。第1基板1210は、例えば、GaAs基板であってもよい。第1LEDスタック1230は、AlGaInP系半導体層で形成され、n型半導体層と、活性層と、p型半導体層とを含む。
絶縁層1270が第1LEDスタック1230上に形成され、開口部を形成するようにパターニングされる。例えば、SiO2層が第1LEDスタック1230上に形成され、フォトレジストがSiO2層上に蒸着され、フォトレジストパターンを形成するようにフォトリソグラフィーおよび現像(development)が続く。その後、SiO2層がエッチングマスクとして用いられるフォトレジストパターンを介してパターニングされ、それによって、絶縁層1270を形成する。
その後、オーミック接触層1250aが絶縁層1270の開口部内に形成される。オーミック接触層1250aは、リフトオフ工程などにより形成される。オーミック接触層1250aが形成された後に、反射層1250bがオーミック接触層1250aおよび絶縁層1270を覆うように形成される。反射層1250bは、リフトオフ工程などにより形成される。反射層1250bは、図37Aに示すように、オーミック接触層1250aの一部分またはその全体を覆うことができる。オーミック接触層1250aおよび反射層1250bは、反射電極1250を形成する。
反射電極1250は、第1LEDスタック1230のp型半導体層とオーミック接触を形成するので、以下、第1-p反射電極1250として称される。
図37Bを参照すると、第2LEDスタック1330が第2基板1310上に成長し、第2-p透明電極1350および第1カラーフィルタ1370が第2LEDスタック1330上に形成される。第2LEDスタック1330は、GaN系半導体層で形成され、GaInN井戸層を含んでもよい。第2基板1310は、GaN系半導体層がその上に成長できる基板であり、第1基板1210とは異なる。第2LEDスタック1330のためのGaInNの組成比は、第2LEDスタック1330が緑色光を放出するように決定されてもよい。第2-p透明電極1350は、第2LEDスタック1330のp型半導体層とオーミック接触を形成する。
図37Cを参照すると、第3LEDスタック1430が第3基板1410上に成長し、第3-p透明電極1450および第2カラーフィルタ1470が第3LEDスタック1430上に形成される。第3LEDスタック1430は、GaN系半導体層で形成され、GaInN井戸層を含んでもよい。第3基板1410は、GaN系半導体層がその上に成長できる基板であり、第1基板1210とは異なる。第3LEDスタック1430のためのGaInNの組成比は、第3LEDスタック1430が青色光を放出するように決定されてもよい。第3-p透明電極1450は、第3LEDスタック1430のp型半導体層とオーミック接触を形成する。
第1カラーフィルタ1370および第2カラーフィルタ1470は、図36を参照して説明したものと実質的に同一であるので、重複を避けるために繰り返しの説明は省略される。
このように、第1LEDスタック1230、第2LEDスタック1330および第3LEDスタック1430は、互いに異なる基板上に成長してもよいし、その形成順序は特定の順序に限定されない。
図37Dを参照すると、第1LEDスタック1230が第1ボンディング層1530を介して支持基板1510に結合される。第1ボンディング層1530は、支持基板1510上に予め形成されてもよく、反射電極1250は、支持基板1510に面するように第1ボンディング層1530にボンディングされてもよい。第1基板1210は、化学的エッチングなどにより第1LEDスタック1230から除去される。したがって、第1LEDスタック1230のn型半導体層の上部表面が露出する。
その後、オーミック電極1290が第1LEDスタック1230の露出する領域に形成される。オーミック電極1290のオーミック接触抵抗を減少させるために、オーミック電極1290は熱処理が施される。オーミック電極1290は、ピクセル領域に対応するようにそれぞれのピクセル領域に形成される。
図37Eを参照すると、第2LEDスタック1330は、第2ボンディング層1550を介して、オーミック電極1290がその上部に形成される第1LEDスタック1230に結合される。第1カラーフィルタ1370は、第1LEDスタック1230に面するように第2ボンディング層1550にボンディングされる。第2ボンディング層1550は、第1カラーフィルタ1370が第2ボンディング層1550に面して第2ボンディング層1550にボンディングできるように、第1LEDスタック1230上に予め形成されてもよい。第2基板1310は、レーザリフトオフまたは化学的リフトオフ工程により第2LEDスタック1330から分離される。
その後、図36および図37Cを参照すると、第3LEDスタック1430は、第3ボンディング層1570を介して第2LEDスタック1330に結合される。第2カラーフィルタ1470は、第2LEDスタック1330に面するように第3ボンディング層1570にボンディングされる。第3ボンディング層1570は、第2カラーフィルタ1470が第3ボンディング層1570に面して第3ボンディング層1570にボンディングできるように、第2LEDスタック1330上に予め配置されてもよい。第3基板1410は、レーザリフトオフまたは化学的リフトオフ工程により第3LEDスタック1430から分離される。このように、ディスプレイ用発光ダイオードスタックが図36に示すように形成され、外部に露出する第3LEDスタック1430のn型半導体層を有する。
例示的な実施例によるディスプレイ装置は、ピクセルユニット内で支持基板1510上の第1~第3LEDスタック1230、1330および1430のスタックをパターニングすることにより設けられ、次いで、第1~第3LEDスタックがインターコネクションにより互いに接続される。以下、例示的な実施例によるディスプレイ装置を説明する。
図38は、例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略回路図であり、図39は、例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略平面図である。
図38および図39を参照すると、例示的な実施例によるディスプレイ装置は、パッシブマトリクス方式(passive matrix manner)で動作できる。
例えば、図36のディスプレイ用発光ダイオードスタックが垂直方向に積層された第1~第3LEDスタック1230、1330および1430を含むので、1つのピクセルは、3つの発光ダイオードR、GおよびBを含んでもよい。第1発光ダイオードRは、第1LEDスタック1230に対応することができ、第2発光ダイオードGは、第2LEDスタック1330に対応することができ、第3発光ダイオードBは、第3LEDスタック1430に対応することができる。
図38および図39で、1つのピクセルは、第1~第3発光ダイオードR、GおよびBを含み、そのそれぞれは、サブピクセルに対応する。第1~第3発光ダイオードR、GおよびBのアノードは、共通配線、例えば、データ配線に接続され、そのカソードは、異なる配線、例えば、スキャン配線に接続される。より具体的には、第1ピクセルにおいて、第1~第3発光ダイオードR、GおよびBのアノードは、データ配線Vdata1に共通に接続され、そのカソードは、スキャン配線Vscan1-1、Vscan1-2およびVscan1-3にそれぞれ接続される。このように、各ピクセルにおいて発光ダイオードR、GおよびBは、独立して駆動可能である。
また、発光ダイオードR、GおよびBのそれぞれは、パルス幅変調によってまたは電流の大きさを変更することにより駆動可能であり、それによって、各サブピクセルの明るさを制御する。
図39を参照すると、複数のピクセルが図36の発光ダイオードスタック1000をパターニングすることにより形成され、各ピクセルは、反射電極1250およびインターコネクション配線1710、1730および1750に接続される。図38に示すように、反射電極1250は、データ配線Vdataとして使用可能であり、インターコネクション配線1710、1730および1750は、スキャン配線として形成可能である。
ピクセルは、各ピクセルの発光ダイオードR、GおよびBのアノードが反射電極1250に共通に接続され、そのカソードが互いに分離されたインターコネクション配線1710、1730および1750に接続される、マトリクス状に配列される。ここで、インターコネクション配線1710、1730および1750は、スキャン配線Vscanとして使用可能である。
図40は、図39のディスプレイ装置の1つのピクセルの拡大平面図であり、図41は、図40のA-A線に沿った概略断面図であり、図42は、図40のB-B線に沿った概略断面図である。
図39、図40、図41および図42を参照すると、各ピクセルにおいて、反射電極1250の一部分、第1LEDスタック1230の上部表面上に形成されるオーミック電極1290(図43H参照)、第2-p透明電極1350の一部分(さらに図43H参照)、第2LEDスタック1330の上部表面の一部分(図43J参照)、第3-p透明電極1450の一部分(図43H参照)、および第3LEDスタック1430の上部表面が外部に露出する。
第3LEDスタック1430は、その上部表面上で粗面化された表面1430aを有してもよい。粗面化された表面1430aは、図41に示すように、第3LEDスタック1430の上部表面の全体上部に形成されるか、またはそのいくつかの領域に形成される。
下部絶縁層1610は、各ピクセルの側面を覆うことができる。下部絶縁層1610は、SiO2のような光透過性材料で形成される。この場合、下部絶縁層1610は、第3LEDスタック1430の全体上部表面を覆うことができる。代替的に、下部絶縁層1610は、分布ブラッグ反射器を含み、第1~第3LEDスタック1230、1330および1430の側面に向かって進行する光を反射させてもよい。この場合、下部絶縁層1610は、第3LEDスタック1430の上部表面を部分的に露出させる。
下部絶縁層1610は、第3LEDスタック1430の上部表面を露出させる開口部1610aと、第2LEDスタック1330の上部表面を露出させる開口部1610bと、第1LEDスタック1230のオーミック電極1290を露出させる開口部1610c(図43H参照)と、第3-p透明電極1450を露出させる開口部1610dと、第2-p透明電極1350を露出させる開口部1610eと、第1-p反射電極1250を露出させる開口部1610fとを含んでもよい。
インターコネクション配線1710および1750は、支持基板1510上で第1~第3LEDスタック1230、1330および1430近傍に形成され、第1-p反射電極1250から絶縁されるように下部絶縁層1610上に配置される。接続部分1770aは、第3-p透明電極1450を反射電極1250に接続し、接続部分1770bは、第2-p透明電極1350を反射電極1250に接続して、第1LEDスタック1230、第2LEDスタック1330および第3LEDスタック1430のアノードが反射電極1250に共通に接続される。
接続部分1710aは、第3LEDスタック1430の上部表面をインターコネクション配線1710に接続し、接続部分1750aは、第1LEDスタック1230のオーミック電極1290をインターコネクション配線1750に接続する。
上部絶縁層1810は、第3LEDスタック1430の上部表面を覆うようにインターコネクション配線1710および1730および下部絶縁層1610上に配置される。上部絶縁層1810は、第2LEDスタック1330の上部表面を部分的に露出する開口部1810aを有してもよい。
インターコネクション配線1730は、上部絶縁層1810上に配置され、接続部分1730aは、第2LEDスタック1330の上部表面をインターコネクション配線1730に接続することができる。接続部分1730aは、インターコネクション配線1750の上部部分を貫通することができ、上部絶縁層1810によってインターコネクション配線1750から絶縁される。
図示の例示的な実施例による各ピクセルの電極がデータ配線およびスキャン配線に接続されるものと説明されるが、多様な実施形態が可能である。また、インターコネクション配線1710および1750が下部絶縁層1610上に形成され、インターコネクション配線1730が上部絶縁層1810上に形成されるものと説明されるが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。例えば、インターコネクション配線1710、1730および1750のそれぞれは、下部絶縁層1610上に形成され、インターコネクション配線1730を露出させるための開口部を有し得る上部絶縁層1810によって覆われてもよい。この構造において、接続部分1730aは、第2LEDスタック1330の上部表面を上部絶縁層1810の開口部を介してインターコネクション配線1730に接続することができる。
代替的に、インターコネクション配線1710、1730および1750は、支持基板1510の内部に形成され、下部絶縁層1610上の接続部分1710a、1730aおよび1750aは、オーミック電極1290、第2LEDスタック1330の上部表面および第3LEDスタック1430の上部表面をインターコネクション配線1710、1730および1750に接続することができる。
図43A~図43Kは、例示的な実施例による図40のピクセルを含むディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。
まず、図36を参照して説明した発光ダイオードスタック1000が用意される。
その後、図43Aを参照すると、粗面化された表面1430aが第3LEDスタック1430の上部表面上に形成される。粗面化された表面1430aは、第3LEDスタック1430の上部表面上に形成され、各ピクセル領域に対応することができる。粗面化された表面1430aは、化学的エッチング、例えば、光-増強化学的エッチング(photo-enhanced chemical etching:PEC)などにより形成される。
粗面化された表面1430aは、後続の工程でエッチングされる第3LEDスタック1430の領域を考慮して各ピクセル領域内に部分的に形成されてもよいが、これに限定されるものではない。代替的に、粗面化された表面1430aは、第3LEDスタック1430の全体上部表面上部に形成されてもよい。
図43Bを参照すると、各ピクセルにおいて第3LEDスタック1430の周辺領域がエッチングによって除去されて、第3-p透明電極1450を露出させる。図43Bに示すように、第3LEDスタック1430は、長方形状または正方形状を有するように残留してもよい。第3LEDスタック1430は、その周縁に沿って複数の陥没部を有してもよい。
図43Cを参照すると、第2LEDスタック1330の上部表面は、第3LEDスタック1430の1つの陥没部以外の領域で露出した第3-p透明電極1450を除去することにより露出する。したがって、第2LEDスタック1330の上部表面は、第3LEDスタック1430の周囲で、そして第3-p透明電極1450が内部に部分的に残留する陥没部を除いた他の陥没部で露出する。
図43Dを参照すると、第2-p透明電極1350が第3LEDスタック1430の他の1つの陥没部以外の領域で露出した第2LEDスタック1330を除去することにより露出する。
図43Eを参照すると、オーミック電極1290は、第3LEDスタック1430のさらに他の1つの陥没部以外の領域で露出した第2-p透明電極1350を除去することにより、第1LEDスタック1230の上部表面とともに露出する。この場合、オーミック電極1290は、1つの陥没部で露出してもよい。したがって、第1LEDスタック1230の上部表面は、第3LEDスタック1430の周囲で露出し、オーミック電極1290の上部表面は、第3LEDスタック1430内に形成された陥没部のうちの1つ以上内で露出する。
図43Fを参照すると、反射電極1250は、1つの陥没部内で露出したオーミック電極1290以外の第1LEDスタック1230の露出した部分を除去することにより露出する。反射電極1250は、第3LEDスタック1430の周囲で露出する。
図43Gを参照すると、線形インターコネクション配線が反射電極1250をパターニングすることにより形成される。ここで、支持基板1510が露出してもよい。反射電極1250は、マトリクスに配列されたピクセルのうちの1つの行(row)内に配列されたピクセルを互いに接続することができる(図39参照)。
図43Hを参照すると、下部絶縁層1610(図41および図42参照)は、ピクセルを覆うように形成される。下部絶縁層1610は、反射電極1250および第1~第3LEDスタック1230、1330および1430の側面を覆う。また、下部絶縁層1610は、第3LEDスタック1430の上部表面を少なくとも部分的に覆うことができる。下部絶縁層1610がSiO2層のような透明層であれば、下部絶縁層1610は、第3LEDスタック1430の全体上部表面を覆うことができる。代替的に、下部絶縁層1610が分布ブラッグ反射器を含む場合、下部絶縁層1610は、光が外部に放出できるように、第3LEDスタック1430の上部表面を少なくとも部分的に露出させてもよい。
下部絶縁層1610は、第3LEDスタック1430を露出させる開口部1610aと、第2LEDスタック1330を露出させる開口部1610bと、オーミック電極1290を露出させる開口部1610cと、第3-p透明電極1450を露出させる開口部1610dと、第2-p透明電極1350を露出させる開口部1610eと、反射電極1250を露出させる開口部1610fとを含んでもよい。1つ以上の開口部1610fが反射電極1250を露出させるように形成される。
図43Iを参照すると、インターコネクション配線1710および1750および接続部分1710a、1750a、1770aおよび1770bが形成される。これらは、リフトオフ工程などにより形成される。インターコネクション配線1710および1750は、下部絶縁層1610によって反射電極1250から絶縁される。接続部分1710aは、第3LEDスタック1430をインターコネクション配線1710に電気的に接続し、接続部分1750aは、第1LEDスタック1230がインターコネクション配線1750に電気的に接続されるように、オーミック電極1290をインターコネクション配線1750に電気的に接続する。接続部分1770aは、第3-p透明電極1450を第1-p反射電極1250に電気的に接続し、接続部分1770bは、第2-p透明電極1350を第1-p反射電極1250に電気的に接続する。
図43Jを参照すると、上部絶縁層1810(図41および図42参照)は、インターコネクション配線1710および1750および接続部分1710a、1750a、1770aおよび1770bを覆う。上部絶縁層1810はさらに、第3LEDスタック1430の全体上部表面を覆うことができる。上部絶縁層1810は、第2LEDスタック1330の上部表面を露出させる開口部1810aを有する。上部絶縁層1810は、例えば、シリコン酸化物またはシリコン窒化物で形成され、分布ブラッグ反射器を含んでもよい。上部絶縁層1810が分布ブラッグ反射器を含む場合、上部絶縁層1810は、光が外部に放出できるように、第3LEDスタック1430の上部表面の少なくとも一部を露出させてもよい。
図43Kを参照すると、インターコネクション配線1730および接続部分1730aが形成される。インターコネクション配線1750および接続部分1750aがリフトオフ工程などにより形成される。インターコネクション配線1730は、上部絶縁層1810上に配置され、反射電極1250およびインターコネクション配線1710および1750から絶縁される。接続部分1730aは、第2LEDスタック1330をインターコネクション配線1730に電気的に接続する。接続部分1730aは、インターコネクション配線1750の上部部分を貫通することができ、上部絶縁層1810によってインターコネクション配線1750から絶縁される。
このように、図40に示すようなピクセル領域が形成される。また、図39に示すように、複数のピクセルが支持基板1510上に形成され、パッシブマトリクス方式で動作するように反射電極1250とインターコネクション配線1710、1730および1750によって互いに接続される。
上記のディスプレイ装置がパッシブマトリクス方式で動作するように構成されるものと説明されたが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。より具体的には、いくつかの例示的な実施例によるディスプレイ装置は、図36に示す発光ダイオードスタックを用いてパッシブマトリクス方式で動作するように多様な方式で製造できる。
例えば、インターコネクション配線1730が上部絶縁層1810上に形成されるものとして示されるが、インターコネクション配線1730は、下部絶縁層1610上でインターコネクション配線1710および1750とともに形成され、接続部分1730aは、第2LEDスタック1330をインターコネクション配線1730に接続するように上部絶縁層1810上に形成される。代替的に、インターコネクション配線1710、1730および1750は、支持基板1510の内部に配置されてもよい。
図44は、他の例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略回路図である。図示の例示的な実施例によるディスプレイ装置は、アクティブマトリクス方式で駆動可能である。
図44を参照すると、例示的な実施例による駆動回路は、2つ以上のトランジスタTr1およびTr2およびキャパシタを含む。電源が選択配線Vrow1~Vrow3に接続され、電圧がデータ配線Vdata1~Vdata3に印加される場合、電圧は対応する発光ダイオードに印加される。また、対応するキャパシタは、データ配線Vdata1~Vdata3の値に応じて充電される。トランジスタTr2のターンオン状態がキャパシタの充電された電圧によって保持できるので、キャパシタの電圧は、選択配線Vrow1に供給される電力が遮断される場合にも保持されて発光ダイオードLED1~LED3に印加される。なお、発光ダイオードLED1~LED3内で流れる電流は、データ配線Vdata1~Vdata3の値に応じて変化可能である。電流は、光が連続的に放出できるように、電流供給源Vddを介して連続的に供給される。
トランジスタTr1およびTr2およびキャパシタは、支持基板1510の内部に形成される。例えば、シリコン基板上に形成された薄膜トランジスタは、アクティブマトリクス駆動のために使用できる。
発光ダイオードLED1~LED3は、1つのピクセル内に積層された第1~第3LEDスタック1230、1330および1430にそれぞれ対応することができる。第1~第3LEDスタックのアノードは、トランジスタTr2に接続され、そのカソードは、接地に接続される。
図44が例示的な実施例によるアクティブマトリクス駆動のための回路を示すが、他の多様な類型の回路が使用できる。また、発光ダイオードLED1~LED3のアノードが互いに異なるトランジスタTr2に接続されるものと説明され、そのカソードが接地に接続されるものと説明されるが、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、発光ダイオードのアノードは、電流供給源Vddに接続され、そのカソードは、互いに異なるトランジスタに接続されてもよい。
図45は、他の例示的な実施例によるディスプレイ装置のピクセルの概略平面図である。本明細書で説明されるピクセルは、支持基板1511上に配列された複数のピクセルのうちの1つであってもよい。
図45を参照すると、図示の例示的な実施例によるピクセルは、支持基板1511がトランジスタおよびキャパシタを含む薄膜トランジスタパネルであり、反射電極が第1LEDスタックの下部領域に配置されることを除けば、図39~図42を参照して説明したピクセルと実質的に類似している。
第3LEDスタックのカソードは、接続部分1711aを介して支持基板1511に接続される。例えば、図45に示すように、第3LEDスタックのカソードは、支持基板1511への電気的な接続により接地に接続される。第2LEDスタックおよび第1LEDスタックのカソードも、接続部分1731aおよび1751aを経由した支持基板1511への電気的な接続により接地に接続される。
反射電極は、支持基板1511の内部のトランジスタTr2(図44参照)に接続される。第3-p透明電極および第2-p透明電極はさらに、接続部分1771aおよび1731bを介して支持基板1511の内部のトランジスタTr2(図44参照)に接続される。
この方式により、第1~第3LEDスタックは、互いに接続され、それによって、図44に示すように、アクティブマトリクス駆動のための回路を構成する。
図45が例示的な実施例によるアクティブマトリクス駆動のためのピクセルの電気的な接続を示すが、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、ディスプレイ装置用回路は、多様な方式でのアクティブマトリクス駆動のための多様な回路に変形可能である。
また、図36の反射電極1250、第2-p透明電極1350および第3-p透明電極1450が第1LEDスタック1230、第2LEDスタック1330および第3LEDスタック1430のそれぞれの対応するp型半導体層とオーミック接触を形成するものと説明され、オーミック電極1290が第1LEDスタック1230のn型半導体層とオーミック接触を形成するが、第2LEDスタック1330および第3LEDスタック1430のそれぞれのn型半導体層は、別途のオーミック接触層が設けられない。ピクセルが200μm以下の小さな大きさを有する場合、n型半導体層で別途のオーミック接触層の形成なくても、電流拡散(curent spreading)において困難が少ない。しかし、いくつかの実施例によれば、電流拡散を確保するために、LEDスタックのそれぞれのn型半導体層上に透明電極層が配置される。
また、第1~第3LEDスタック1230、1330および1430がボンディング層1530、1550および1570を介して互いに結合されるが、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、第1~第3LEDスタック1230、1330および1430は、多様な順序で、そして多様な構造を用いて互いに接続される。
例示的な実施例によれば、ディスプレイ用発光ダイオードスタック1000を用いてウエハレベルで複数のピクセルを形成することが可能なため、発光ダイオードの個別的な実装に対する必要性が省かれる。加えて、例示的な実施例による発光ダイオードスタックは、第1~第3LEDスタック1230、1330および1430が垂直方向に積層されて、限られたピクセル面積内でサブピクセル用面積を確保する構造を有する。さらに、例示的な実施例による発光ダイオードスタックは、第1LEDスタック1230、第2LEDスタック1330および第3LEDスタック1430から発生する光がそれを介して外部に放出されることを許容し、それによって、光損失を減少させる。
図46は、例示的な実施例によるディスプレイ用発光ダイオードスタックの概略断面図である。
図46を参照すると、発光ダイオードスタック2000は、支持基板2510と、第1LEDスタック2230と、第2LEDスタック2330と、第3LEDスタック2430と、反射電極2250と、オーミック電極2290と、第2-p透明電極2350と、第3-p透明電極2450と、絶縁層2270と、第1ボンディング層2530と、第2ボンディング層2550と、第3ボンディング層2570とを含む。また、第1LEDスタック2230は、オーミック接触のためのオーミック接触部分2230aを含んでもよい。
一般的に、第2LEDスタックから放出される光によって第1LEDスタックから光が発生し、第3LEDスタックから放出される光によって第2LEDスタックから光が発生することがある。このように、カラーフィルタが第2LEDスタックと第1LEDスタックとの間および第3LEDスタックと第2LEDスタックとの間に介在してもよい。
しかし、カラーフィルタが光の干渉を防止できるが、カラーフィルタを形成することは製造の複雑性を増加させる。例示的な実施例によるディスプレイ装置は、LEDスタックの間にカラーフィルタを配列せず、LEDスタックの間での二次光の発生を抑制することができる。
したがって、いくつかの例示的な実施例において、LEDスタック間の光の干渉は、LEDスタックそれぞれのバンドギャップを制御することにより減少可能であり、これは以下でより詳細に説明される。
支持基板2510は、半導体スタック2230、2330および2430を支持する。支持基板2510は、その表面上にまたはその内部に回路を含んでもよいが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。支持基板2510は、例えば、Si基板、Ge基板、サファイア基板、パターニングされたサファイア基板、ガラス基板またはパターニングされたガラス基板を含んでもよい。
第1LEDスタック2230、第2LEDスタック2330および第3LEDスタック2430のそれぞれは、n型半導体層と、p型半導体層と、その間に介在する活性層とを含む。活性層は、多重量子井戸構造を有してもよい。
第1LEDスタック2230から発生する光L1は、第2LEDスタック2330から発生する光L2より長い波長を有し、第2LEDスタック2330から発生する光L2は、第3LEDスタック2430から発生する光L3より長い波長を有する。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、発光ダイオードスタックがマイクロLEDを含む場合、第1、第2および第3LEDスタック2230、2330および2440から発生する光は、その小さなフォームファクタによって、動作に不利な影響を及ぼすことなく、任意の波長範囲を有することができる。
第1LEDスタック2230は、赤色光を放出するように構成される無機発光ダイオードであってもよく、第2LEDスタック2330は、緑色光を放出するように構成される無機発光ダイオードであってもよいし、第3LEDスタック2430は、青色光を放出するように構成される無機発光ダイオードであってもよい。第1LEDスタック2230は、GaInP系井戸層を含んでもよく、第2LEDスタック2330および第3LEDスタック2430のそれぞれは、GaInN系井戸層を含んでもよい。
図46の発光ダイオードスタック2000が3つのLEDスタック2230、2330および2430を含むものとして示されるが、本発明の概念は積層された特定の個数のLEDスタックに限定されない。例えば、黄色光を放出するためのLEDスタックが、第1LEDスタック2230と第2LEDスタック2330との間にさらに追加されてもよい。
第1~第3LEDスタック2230、2330および2430のそれぞれの両面は、それぞれn型半導体層およびp型半導体層である。図46で、第1~第3LEDスタック2230、2330および2430のそれぞれは、n型上部表面およびp型下部表面を有するものと説明される。第3LEDスタック2430がn型上部表面を有するので、粗面化された表面が化学的エッチングなどにより第3LEDスタック2430の上部表面上に形成される。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、それぞれのLEDスタックの上部および下部表面の半導体タイプは、代替的に形成されてもよい。
第1LEDスタック2230は、支持基板2510近傍に配置され、第2LEDスタック2330は、第1LEDスタック2230上に配置され、第3LEDスタック2430は、第2LEDスタック上に配置される。第1LEDスタック2230が第2および第3LEDスタック2330および2430より長い波長を有する光を放出するので、第1LEDスタック2230から発生する光L1は、第2および第3LEDスタック2330および2430を介して外部に放出される。また、第2LEDスタック2330が第3LEDスタック2430より長い波長を有する光を放出するので、第2LEDスタック2330から発生する光L2は、第3LEDスタック2430を介して外部に放出される。第3LEDスタック2430内で発生する光L3は、第3LEDスタック2430から直接外部に放出される。
例示的な実施例において、第1LEDスタック2230のn型半導体層は、第1LEDスタック2230の活性層のバンドギャップより広く、第2LEDスタック2330の活性層のバンドギャップより狭いバンドギャップを有してもよい。したがって、第2LEDスタック2330から発生する光の一部分は、第1LEDスタック2230の活性層に到達する前に、第1LEDスタック2230のn型半導体層によって吸収できる。このように、第1LEDスタック2230の活性層内で発生する光の光度は、第2LEDスタック2330から発生する光によって減少できる。
また、第2LEDスタック2330のn型半導体層は、第1LEDスタック2230および第2LEDスタック2330のそれぞれの活性層のバンドギャップより広く、第3LEDスタック2430の活性層のバンドギャップより狭いバンドギャップを有する。したがって、第3LEDスタック2430から発生する光の一部分は、第2LEDスタック2330の活性層に到達する前に、第2LEDスタック2330のn型半導体層によって吸収できる。このように、第2LEDスタック2330または第1LEDスタック2230で発生する光の光度は、第3LEDスタック2430から発生する光によって減少できる。
第3LEDスタック2430のp型半導体層およびn型半導体層は、第1LEDスタック2230および第2LEDスタック2330の活性層より広いバンドギャップを有し、それによって、第1および第2LEDスタック2230および2330から発生する光をそれを介して透過させる。
例示的な実施例によれば、第1および第2LEDスタック2230および2330のn型半導体層またはp型半導体層のバンドギャップを調節することにより、LEDスタック2230、2330および2430間の光の干渉を減少させることが可能であり、これはカラーフィルタのような他の構成要素に対する必要性を省くことができる。例えば、第2LEDスタック2330から発生して外部に放出される光の光度は、第2LEDスタック2330から発生する光によって第1LEDスタック2230から発生する光の光度の約10倍以上であってもよい。同じく、第3LEDスタック2430から発生して外部に放出される光の光度は、第3LEDスタック2430から発生する光によって誘発される第2LEDスタック2330から発生する光の光度の約10倍以上であってもよい。この場合、第3LEDスタック2430から発生して外部に放出される光の光度は、第3LEDスタック2430から発生する光によって誘発される第1LEDスタック2230から発生する光の光度の約10倍以上であってもよい。したがって、光の干渉によって誘発される色不純(color contamination)のないディスプレイ装置を実現することが可能である。
反射電極2250は、第1LEDスタック2230のp型半導体層とオーミック接触を形成し、第1LEDスタック2230から発生する光を反射させる。例えば、反射電極2250は、オーミック接触層2250aと、反射層2250bとを含んでもよい。
オーミック接触層2250aは、第1LEDスタック2230のp型半導体層と部分的に接触する。オーミック接触層2250aによる光の吸収を防止するために、オーミック接触層2250aがp型半導体層と接触する領域は、p型半導体層の全体面積の約50%を超えなくてもよい。反射層2250bは、オーミック接触層2250aおよび絶縁層2270を覆う。図46に示すように、反射層2250bは、実質的に全体オーミック接触層2250aを覆うことができるが、これに限定されるものではない。代替的に、反射層2250bは、オーミック接触層2250aの一部分を覆うことができる。
反射層2250bが絶縁層2270を覆うので、全方向反射器は、比較的高い屈折率を有する第1LEDスタック2230と比較的低い屈折率を有する絶縁層2270の積層構造、および反射層2250bによって形成される。反射層2250bは、第1LEDスタック2230の面積の約50%以上または第1LEDスタック2230の大部分を覆うことができ、それによって、発光効率を向上させることができる。
オーミック接触層2250aおよび反射層2250bは、金(Au)を含み得る金属層で形成される。反射層2250bは、第1LEDスタック2230から発生する光、例えば、赤色光に対して比較的高い反射率を有する金属を含んでもよい。他方、反射層2250bは、第2LEDスタック2330および第3LEDスタック2430から発生する光、例えば、緑色光または青色光に対して比較的低い反射率を有する金属を含み、第2および第3LEDスタック2330および2430から発生して支持基板2510に向かって進行する光の干渉を減少させることができる。
絶縁層2270は、支持基板2510と第1LEDスタック2230との間に介在し、第1LEDスタック2230を露出させる開口部を有する。オーミック接触層2250aは、絶縁層2270の開口部内で第1LEDスタック2230に接続される。
オーミック電極2290は、第1LEDスタック2230の上部表面上に配置される。オーミック電極2290のオーミック接触抵抗を減少させるために、オーミック接触部分2230aが第1LEDスタック2230の上部表面から突出してもよい。オーミック電極2290は、オーミック接触部分2230a上に配置される。
第2-p透明電極2350は、第2LEDスタック2330のp型半導体層とオーミック接触を形成する。第2-p透明電極2350は、赤色光および緑色光に透過性である金属層または導電性酸化物層で形成される。
第3-p透明電極2450は、第3LEDスタック2430のp型半導体層とオーミック接触を形成する。第3-p透明電極2450は、赤色光、緑色光および青色光に透過性である金属層または導電性酸化物層で形成される。
反射電極2250、第2-p透明電極2350および第3-p透明電極2450は、対応するLEDスタックのp型半導体層とのオーミック接触により電流拡散を助けることができる。
第1ボンディング層2530は、第1LEDスタック2230を支持基板2510に結合する。図46に示すように、反射電極2250は、第1ボンディング層2530に隣接していてもよい。第1ボンディング層2530は、光透過性または不透明層であってもよい。
第2ボンディング層2550は、第2LEDスタック2330を第1LEDスタック2230に結合する。図46に示すように、第2ボンディング層2550は、第1LEDスタック2230および第2-p透明電極2350に隣接していてもよい。オーミック電極2290は、第2ボンディング層2550によって覆われてもよい。第2ボンディング層2550は、第1LEDスタック2230から発生する光を透過させる。第2ボンディング層2550は、光透過性ボンディング材料、例えば、光透過性有機ボンディング剤、または光透過性スピンオンガラスで形成されてもよい。光透過性有機ボンディング剤の例は、SU8、ポリ(メチルメタクリレート)(PMMA)、ポリイミド、パリレン(Parylene)、ベンゾシクロブテン(BCB)などを含んでもよい。また、第2LEDスタック2330は、プラズマボンディングなどによって第1LEDスタック2230にボンディングされてもよい。
第3ボンディング層2570は、第3LEDスタック2430を第2LEDスタック2330に結合する。図46に示すように、第3ボンディング層2570は、第2LEDスタック2330および第3-p透明電極2450に隣接していてもよい。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではない。例えば、透明導電層が第2LEDスタック2330上に配置されてもよい。第3ボンディング層2570は、第1LEDスタック2230および第2LEDスタック2330から発生する光を透過させ、例えば、光透過性スピンオンガラスで形成されてもよい。
第2ボンディング層2550および第3ボンディング層2570のそれぞれは、第3LEDスタック2430から発生する光と第2LEDスタック2330から発生する光を透過させることができる。
図47A~図47Eは、例示的な実施例によるディスプレイ用発光ダイオードスタックを製造する方法を示す概略断面図である。
図47Aを参照すると、第1LEDスタック2230が第1基板2210上に成長する。第1基板2210は、例えば、GaAs基板であってもよい。第1LEDスタック2230は、AlGaInP系半導体層で形成され、n型半導体層と、活性層と、p型半導体層とを含む。いくつかの例示的な実施例において、n型半導体層は、第2LEDスタック2330から発生する光を吸収できるエネルギーバンドギャップを有してもよく、p型半導体層は、第2LEDスタック2330から発生する光を吸収できるエネルギーバンドギャップを有してもよい。
絶縁層2270は、第1LEDスタック2230上に形成され、その内部に開口部を形成するようにパターニングされる。例えば、SiO2層が第1LEDスタック2230上に形成され、フォトレジストがSiO2層上に蒸着され、フォトレジストパターンを形成するようにフォトリソグラフィーおよび現像が続く。その後、SiO層がエッチングマスクとして用いられたフォトレジストパターンを介してパターニングされ、それによって、開口部を有する絶縁層2270を形成する。
その後、オーミック接触層2250aが絶縁層2270の開口部内に形成される。オーミック接触層2250aは、リフトオフ工程などにより形成される。オーミック接触層2250aが形成された後に、反射層2250bがオーミック接触層2250aおよび絶縁層2270を覆うように形成される。反射層2250bは、リフトオフ工程などにより形成される。反射層2250bは、オーミック接触層2250aの一部分またはその全体を覆うことができる。オーミック接触層2250aおよび反射層2250bは、反射電極2250を形成する。
反射電極2250は、第1LEDスタック2230のp型半導体層とオーミック接触を形成するので、以下、第1-p反射電極2250と称される。
図47Bを参照すると、第2LEDスタック2330が第2基板2310上に成長し、第2-p透明電極2350が第2LEDスタック2330上に形成される。第2LEDスタック2330は、GaN系半導体層で形成され、GaInN井戸層を含んでもよい。第2基板2310は、GaN系半導体層がその上に成長できる基板であり、第1基板2210とは異なる。第2LEDスタック2330のためのGaInNの組成比は、第2LEDスタック2330が緑色光を放出するように決定されてもよい。第2-p透明電極2350は、第2LEDスタック2330のp型半導体層とオーミック接触を形成する。第2LEDスタック2330は、n型半導体層と、活性層と、p型半導体層とを含んでもよい。いくつかの例示的な実施例において、第2LEDスタック2330のn型半導体層は、第3LEDスタック2430から発生する光を吸収できるエネルギーバンドギャップを有してもよく、第2LEDスタック2330のp型半導体層は、第3LEDスタック2430から発生する光を吸収できるエネルギーバンドギャップを有してもよい。
図47Cを参照すると、第3LEDスタック2430が第3基板2410上に成長し、第3-p透明電極2450が第3LEDスタック2430上に形成される。第3LEDスタック2430は、GaN系半導体層で形成され、GaInN井戸層を含んでもよい。第3基板2410は、GaN系半導体層がその上に成長できる基板であり、第1基板2210とは異なる。第3LEDスタック2430のためのGaInNの組成比は、第3LEDスタック2430が青色光を放出するように決定されてもよい。第3-p透明電極2450は、第3LEDスタック2430のp型半導体層とオーミック接触を形成する。
このように、第1LEDスタック2230、第2LEDスタック2330および第3LEDスタック2430は、互いに異なる基板上に成長し、その形成順序は特定の順序に限定されない。
図47Dを参照すると、第1LEDスタック2230が第1ボンディング層2530を介して支持基板2510に結合される。第1ボンディング層2530は、支持基板2510上に予め形成されてもよく、反射電極2250は、支持基板2510に面するように第1ボンディング層2530にボンディングされてもよい。第1基板2210は、化学的エッチングなどにより第1LEDスタック2230から除去される。したがって、第1LEDスタック2230のn型半導体層の上部表面が露出する。
その後、オーミック電極2290が第1LEDスタック2230の露出した領域内に形成される。オーミック電極2290のオーミック接触抵抗を減少させるために、オーミック電極2290は熱処理が施される。オーミック電極2290は、ピクセル領域に対応するように各ピクセル領域内に形成される。
図47Eを参照すると、第2LEDスタック2330は、オーミック電極2290がその上に形成される第1LEDスタック2230に第2ボンディング層2550を介して結合される。第2-p透明電極2350は、第1LEDスタック2230に面するように第2ボンディング層2550にボンディングされる。第2ボンディング層2550は、第2-p透明電極2350が第2ボンディング層2550に面して第2ボンディング層2550にボンディングできるように、第1LEDスタック2230上に予め形成されてもよい。第2基板2310は、レーザリフトオフまたは化学的リフトオフ工程により第2LEDスタック2330から分離される。
その後、図46および図47Cを参照すると、第3LEDスタック2430が第3ボンディング層2570を介して第2LEDスタック2330に結合される。第3-p透明電極2450は、第2LEDスタック2330に面するように第3ボンディング層2570にボンディングされる。第3ボンディング層2570は、第3-p透明電極2450が第3ボンディング層2570に面して第3ボンディング層2570にボンディングできるように、第2LEDスタック2330上に予め形成されてもよい。第3基板2410は、レーザリフトオフまたは化学的リフトオフ工程により第3LEDスタック2430から分離される。このように、外部に露出した第3LEDスタック2430のn型半導体層を有する、図46に示すような、ディスプレイ用発光ダイオードスタックが形成される。
ディスプレイ装置は、ピクセルユニット内で支持基板2510上に配置される第1~第3LEDスタック2230、2330および2430のスタックをパターニングすることにより形成され、次いで、第1~第3LEDスタック2230、2330および2430がインターコネクションにより互いに接続される。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではない。例えば、ディスプレイ装置は、第1~第3LEDスタック2230、2330および2430のスタックを個別ユニットに分割し、第1~第3LEDスタック2230、2330および2430をプリント回路基板のような他の支持基板に伝達することにより製造できる。
図48は、例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略回路図である。図49は、例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略平面図である。
図48および図49を参照すると、例示的な実施例によるディスプレイ装置は、パッシブマトリクス方式で駆動されるように実現できる。
図46に示すディスプレイ用発光ダイオードスタックは、垂直に積層された第1~第3LEDスタック2230、2330および2430を含む構造を有する。1つのピクセルが3つの発光ダイオードR、GおよびBを含むので、第1発光ダイオードRは、第1LEDスタック2230に対応することができ、第2発光ダイオードGは、第2LEDスタック2330に対応することができ、第3発光ダイオードBは、第3LEDスタック2430に対応することができる。
図48および図49を参照すると、1つのピクセルは、第1~第3発光ダイオードR、GおよびBを含み、そのそれぞれは、サブピクセルに対応することができる。第1~第3発光ダイオードR、GおよびBのアノードは、共通配線、例えば、データ配線に接続され、そのカソードは、異なる配線、例えば、スキャン配線に接続される。例えば、第1ピクセルにおいて、第1~第3発光ダイオードR、GおよびBのアノードは、データ配線Vdata1に共通に接続され、そのカソードは、スキャン配線Vscan1-1、Vscan1-2およびVscan1-3にそれぞれ接続される。このように、各ピクセル内の発光ダイオードR、GおよびBは、独立して駆動可能である。
また、発光ダイオードR、GおよびBのそれぞれは、パルス幅変調によってまたは電流の大きさを変更することにより駆動され、各サブピクセルの明るさを制御することができる。
図49を参照すると、複数のピクセルが図46のスタックをパターニングすることにより形成され、ピクセルのそれぞれは、反射電極2250およびインターコネクション配線2710、2730および2750に接続される。図48に示すように、反射電極2250は、データ配線Vdataとして使用可能であり、インターコネクション配線2710、2730および2750は、スキャン配線として形成可能である。
ピクセルは、各ピクセルの発光ダイオードR、GおよびBのアノードが反射電極2250に共通に接続され、そのカソードが互いに分離されたインターコネクション配線2710、2730および2750に接続される、マトリクス状に配列される。ここで、インターコネクション配線2710、2730および2750は、スキャン配線Vscanとして使用可能である。
図50は、図49のディスプレイ装置の1つのピクセルの拡大平面図である。図51は、図50のA-A線に沿った概略断面図であり、図52は、図50のB-B線に沿った概略断面図である。
図49~図52を参照すると、各ピクセルにおいて、反射電極2250の一部分、第1LEDスタック2230の上部表面上に形成されたオーミック電極2290(図53H参照)、第2-p透明電極2350の一部分(図53H参照)、第2LEDスタック2330の上部表面の一部分(図53J参照)、第3-p透明電極2450の一部分(図53H参照)、および第3LEDスタック2430の上部表面が外部に露出する。
第3LEDスタック2430は、その上部表面上に粗面化された表面2430aを有してもよい。粗面化された表面2430aは、第3LEDスタック2430の上部表面の全体上部に形成されるか、またはそのいくつかの領域に形成されてもよい。
下部絶縁層2610は、各ピクセルの側面を覆うことができる。下部絶縁層2610は、SiO2のような光透過性材料で形成される。この場合、下部絶縁層2610は、第3LEDスタック2430の実質的に全体上部表面を覆うことができる。代替的に、下部絶縁層2610は、分布ブラッグ反射器を含み、第1~第3LEDスタック2230、2330および2430の側面に向かって進行する光を反射させてもよい。この場合、下部絶縁層2610は、第3LEDスタック2430の上部表面を部分的に露出させてもよい。また、代替的に、下部絶縁層2610は、光を吸収する黒色系絶縁層(black-based insulation layer)であってもよい。さらに、電気的にフローティングされた金属反射層が下部絶縁層2610上にさらに形成され、第1~第3LEDスタック2230、2330および2430の側面を介して放出される光を反射させてもよい。
下部絶縁層2610は、第3LEDスタック2430の上部表面を露出させる開口部2610aと、第2LEDスタック2330の上部表面を露出させる開口部2610bと、第1LEDスタック2230のオーミック電極2290を露出させる開口部2610c(図53H参照)と、第3-p透明電極2450を露出させる開口部2610dと、第2-p透明電極2350を露出させる開口部2610eと、第1-p反射電極2250を露出させる開口部2610fとを含んでもよい。
インターコネクション配線2710および2750は、支持基板2510上で第1~第3LEDスタック2230、2330および2430近傍に形成され、第1-p反射電極2250から絶縁されるように下部絶縁層2610上に配置される。接続部分2770aは、第3-p透明電極2450を反射電極2250に接続し、接続部分2770bは、第2-p透明電極2350を反射電極2250に接続して、第1LEDスタック2230、第2LEDスタック2330および第3LEDスタック2430のアノードが反射電極2250に共通に接続される。
接続部分2710aは、第3LEDスタック2430の上部表面をインターコネクション配線2710に接続し、接続部分2750aは、第1LEDスタック2230上のオーミック電極2290をインターコネクション配線2750に接続する。
上部絶縁層2810がインターコネクション配線2710および2730および下部絶縁層2610上に配置され、第3LEDスタック2430の上部表面を覆うことができる。上部絶縁層2810は、第2LEDスタック2330の上部表面を部分的に露出させる開口部2810aを有してもよい。
インターコネクション配線2730は、上部絶縁層2810上に配置され、接続部分2730aは、第2LEDスタック2330の上部表面をインターコネクション配線2730に接続することができる。接続部分2730aは、インターコネクション配線2750の上部部分を貫通することができ、上部絶縁層2810によってインターコネクション配線2750から絶縁される。
各ピクセルの電極がデータ配線およびスキャン配線に接続されるものと説明されるが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。また、インターコネクション配線2710および2750が下部絶縁層2610上に形成されるものと説明され、インターコネクション配線2730が上部絶縁層2810上に形成されるものと説明されたが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。例えば、すべてのインターコネクション配線2710、2730および2750が下部絶縁層2610上に形成され、インターコネクション配線2730を露出させる開口部を有し得る上部絶縁層2810によって覆われてもよい。この方式により、接続部分2730aが第2LEDスタック2330の上部表面を上部絶縁層2810の開口部を介してインターコネクション配線2730に接続することができる。
代替的に、インターコネクション配線2710、2730および2750が支持基板2510の内部に形成されてもよく、下部絶縁層2610上の接続部分2710a、2730aおよび2750aは、オーミック電極2290、第1LEDスタック2230の上部表面および第3LEDスタック2430の上部表面をインターコネクション配線2710、2730および2750に接続することができる。
例示的な実施例によれば、第1LEDスタック2230から発生する光L1は、第2および第3LEDスタック2330および2430を介して外部に放出され、第2LEDスタック2330から発生する光L2は、第3LEDスタック2430を介して外部に放出される。また、第3LEDスタック2430から発生する光L3の一部分は、第2LEDスタック2330に進入することができ、第2LEDスタック2330から発生する光L2の一部分は、第1LEDスタック2230に進入することができる。また、光L3によって第2LEDスタック2330から二次光が発生し、光L2によって第1LEDスタック2230から二次光が発生することがある。しかし、このような二次光は低い光度を有することができる。
図53A~図53Kは、例示的な実施例によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図である。以下の説明は、図50のピクセルを参照して与えられる。
まず、図46に示す発光ダイオードスタック2000が用意される。
図53Aを参照すると、粗面化された表面2430aが第3LEDスタック2430の上部表面上に形成される。粗面化された表面2430aは、各ピクセル領域に対応するように第3LEDスタック2430の上部表面上に形成される。粗面化された表面2430aは、化学的エッチング、例えば、光-増強化学的エッチング(PEC)などにより形成される。
粗面化された表面2430aは、後続の工程でエッチングされる第3LEDスタック2430の領域を考慮して各ピクセル領域で部分的に形成されてもよいが、これに限定されるものではない。代替的に、粗面化された表面2430aは、第3LEDスタック2430の全体上部表面上部に形成される。
図53Bを参照すると、各ピクセルにおいて第3LEDスタック2430の周囲領域はエッチングによって除去されて、第3-p透明電極2450を露出させる。図53Bに示すように、第3LEDスタック2430は、長方形状または正方形状を有するように残留してもよい。第3LEDスタック2430は、その周縁に沿って形成された複数の陥没部を有してもよい。
図53Cを参照すると、第2LEDスタック2330の上部表面は、1つの陥没部以外の他の領域で露出した第3-p透明電極2450を除去することにより露出する。したがって、第2LEDスタック2330の上部表面は、第3LEDスタック2430の周囲で、そして第3-p透明電極2450が部分的に残留する陥没部以外の他の陥没部で露出する。
図53Dを参照すると、第2-p透明電極2350は、1つの陥没部以外の領域で露出する第2LEDスタック2330を除去することにより露出する。
図53Eを参照すると、オーミック電極2290は、1つの陥没部以外の領域で露出する第2-p透明電極2350を除去することにより、第1LEDスタック2230の上部表面とともに露出する。ここで、オーミック電極2290は、1つの陥没部で露出してもよい。したがって、第1LEDスタック2230の上部表面が第3LEDスタック2430の周囲で露出し、オーミック電極2290の上部表面は、第3LEDスタック2430に形成される陥没部のうちの1つ以上で露出する。
図53Fを参照すると、反射電極2250は、1つの陥没部以外の領域で第1LEDスタック2230の露出する部分を除去することにより露出する。このように、反射電極2250は、第3LEDスタック2430の周囲で露出する。
図53Gを参照すると、線形インターコネクション配線が反射電極2250をパターニングすることにより形成される。ここで、支持基板2510が露出してもよい。反射電極2250は、マトリクスに配列されるピクセルのうちの1つの行に配列されるピクセルを互いに接続することができる(図49参照)。
図53Hを参照すると、下部絶縁層2610(図51および図52参照)がピクセルを覆うように形成される。下部絶縁層2610は、反射電極2250、および第1~第3LEDスタック2230、2330および2430の側面を覆う。加えて、下部絶縁層2610は、第3LEDスタック2430の上部表面を部分的に覆うことができる。下部絶縁層2610がSiO2層のような透明層であれば、下部絶縁層2610は、第3LEDスタック2430の実質的に全体上部表面を覆うことができる。代替的に、下部絶縁層2610は、分布ブラッグ反射器を含んでもよい。この場合、下部絶縁層2610は、第3LEDスタック2430の上部表面を部分的に露出させて、光が外部に放出できるようにする。
下部絶縁層2610は、第3LEDスタック2430を露出させる開口部2610aと、第2LEDスタック2330を露出させる開口部2610bと、オーミック電極2290を露出させる開口部2610cと、第3-p透明電極2450を露出させる開口部2610dと、第2-p透明電極2350を露出させる開口部2610eと、反射電極2250を露出させる開口部2610fとを含んでもよい。反射電極2250を露出させる開口部2610fは、単数または複数で形成されてもよい。
図53Iを参照すると、インターコネクション配線2710および2750および接続部分2710a、2750a、2770aおよび2770bがリフトオフ工程などにより形成される。インターコネクション配線2710および2750は、下部絶縁層2610によって反射電極2250から絶縁される。接続部分2710aは、第3LEDスタック2430をインターコネクション配線2710に電気的に接続し、接続部分2750aは、オーミック電極2290をインターコネクション配線2750に電気的に接続して、第1LEDスタック2230がインターコネクション配線2750に電気的に接続される。接続部分2770aは、第3-p透明電極2450を第1-p反射電極2250に電気的に接続し、接続部分2770bは、第2-p透明電極2350を第1-p反射電極2250に電気的に接続する。
図53Jを参照すると、上部絶縁層2810(図51および図52参照)がインターコネクション配線2710および2750および接続部分2710a、2750a、2770aおよび2770bを覆う。上部絶縁層2810はさらに、第3LEDスタック2430の実質的に全体上部表面を覆うことができる。上部絶縁層2810は、第2LEDスタック2330の上部表面を露出させる開口部2810aを有する。上部絶縁層2810は、例えば、シリコン酸化物またはシリコン窒化物で形成され、分布ブラッグ反射器を含んでもよい。上部絶縁層2810が分布ブラッグ反射器を含む場合、上部絶縁層2810は、第3LEDスタック2430の上部表面の少なくとも一部を露出させて、光が外部に放出できるようにする。
図53Kを参照すると、インターコネクション配線2730および接続部分2730aが形成される。インターコネクション配線2750および接続部分2750aは、リフトオフ工程などにより形成される。インターコネクション配線2730は、上部絶縁層2810上に配置され、反射電極2250およびインターコネクション配線2710および2750から絶縁される。接続部分2730aは、第2LEDスタック2330をインターコネクション配線2730に電気的に接続する。接続部分2730aは、インターコネクション配線2750の上部部分を貫通することができ、上部絶縁層2810によってインターコネクション配線2750から絶縁される。
このように、図50に示すピクセル領域が形成される。また、図49に示すように、複数のピクセルが支持基板2510上に形成され、反射電極2250およびインターコネクション配線2710、2730および2750によって互いに接続されてパッシブマトリクス方式で作動できる。
上記の説明がパッシブマトリクス方式で動作できるディスプレイ装置を製造する方法を説明したが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。より具体的には、例示的な実施例によるディスプレイ装置は、図46に示す発光ダイオードスタックを用いてパッシブマトリクス方式で動作するように多様な方式で製造できる。
例えば、インターコネクション配線2730が上部絶縁層2810上に形成されるものと説明されるが、インターコネクション配線2730は、下部絶縁層2610上にインターコネクション配線2710および2750とともに形成されてもよいし、接続部分2730aは、上部絶縁層2810上に形成されて第2LEDスタック2330をインターコネクション配線2730に接続することができる。代替的に、インターコネクション配線2710、2730および2750は、支持基板2510の内部に配置されてもよい。
図54は、他の例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略回路図である。図54の回路図は、アクティブマトリクス方式で駆動されるディスプレイ装置に関する。
図54を参照すると、例示的な実施例による駆動回路は、2つ以上のトランジスタTr1およびTr2およびキャパシタを含む。電源が選択配線Vrow1~Vrow3に接続され、電圧がデータ配線Vdata1~Vdata3に印加される場合、電圧は対応する発光ダイオードに印加される。また、対応するキャパシタは、データ配線Vdata1~Vdata3の値に応じて充電される。トランジスタTr2のターンオン状態がキャパシタの充電された電圧によって保持できるので、キャパシタの電圧は、選択配線Vrow1に供給される電力が遮断されても、保持されて発光ダイオードLED1~LED3に印加される。また、発光ダイオードLED1~LED3内で流れる電流は、データ配線Vdata1~Vdata3の値に応じて変更可能である。電流は電流供給源Vddを介して連続的に供給され、そのため、光が連続的に放出できる。
トランジスタTr1およびTr2およびキャパシタは、支持基板2510の内部に形成される。例えば、シリコン基板上に形成された薄膜トランジスタがアクティブマトリクス駆動のために使用できる。
ここで、発光ダイオードLED1~LED3は、1つのピクセル内に積層された第1~第3LEDスタック2230、2330および2430にそれぞれ対応することができる。第1~第3LEDスタック2230、2330および2430のアノードは、トランジスタTr2に接続され、そのカソードは、接地に接続される。
たとえ図54が例示的な実施例によるアクティブマトリクス駆動のための回路を示すが、他の類型の回路を多様に使用できる。加えて、発光ダイオードLED1~LED3のアノードは、互いに異なるトランジスタTr2に接続されるものと説明され、そのカソードが接地に接続されるものと説明されるが、いくつかの例示的な実施例において、発光ダイオードのアノードは、電流供給源Vddに接続され、そのカソードは、互いに異なるトランジスタに接続される。
図55は、他の例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略平面図である。以下の説明は、支持基板2511上に配列される複数のピクセルのうちの1つのピクセルを参照して与えられる。
図55を参照すると、例示的な実施例によるピクセルは、支持基板2511がトランジスタおよびキャパシタを含む薄膜トランジスタパネルであり、反射電極2250が第1LEDスタック2230の下部領域に配置されることを除けば、図49~図52を参照して説明されたピクセルと実質的に類似している。
第3LEDスタック2430のカソードは、接続部分2711aを介して支持基板2511に接続される。例えば、図54に示すように、第3LEDスタック2430のカソードは、支持基板2511への電気的な接続により接地に接続される。第2LEDスタック2330および第1LEDスタック2230のカソードはさらに、接続部分2731aおよび2751aを経由した支持基板2511への電気的な接続により接地に接続される。
反射電極は、支持基板2511の内部でトランジスタTr2(図54参照)に接続される。第3-p透明電極および第2-p透明電極はさらに、接続部分2711bおよび2731bを介して支持基板2511の内部でトランジスタTr2(図54参照)に接続される。
この方式により、第1~第3LEDスタックは、互いに接続され、それによって、図54に示すように、アクティブマトリクス駆動のための回路を形成する。
たとえ図55が例示的な実施例によるアクティブマトリクス駆動のための電気接続部を有するピクセルを示すが、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、ディスプレイ装置用回路は、アクティブマトリクス駆動のための多様な回路に多様な方式で変形可能である。
また、図46の反射電極2250、第2-p透明電極2350および第3-p透明電極2450は、第1LEDスタック2230、第2LEDスタック2330および第3LEDスタック2430のそれぞれのp型半導体層とオーミック接触を形成するものと説明され、オーミック電極2290は、第1LEDスタック2230のn型半導体層とオーミック接触を形成するものと説明され、第2LEDスタック2330および第3LEDスタック2430のそれぞれのn型半導体層は、別途のオーミック接触層が設けられない。ピクセルが200μm以下の小さな大きさを有する場合、n型半導体層内に別途のオーミック接触層を形成しなくても、電流拡散における困難が少ないが、いくつかの実施例により、電流拡散を確保するために、透明電極層がLEDスタックのそれぞれのn型半導体層上に配置される。
同時に、図46が第1~第3LEDスタック2230、2330および2430のボンディング層を経由した互いへの結合を示すが、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、第1~第3LEDスタック2230、2330および2430は、多様な順序で多様な構造を用いて互いに接続される。
例示的な実施例によれば、ディスプレイ用発光ダイオードスタック2000を用いてウエハレベルで複数のピクセルを形成することが可能なため、発光ダイオードの個別的な実装に対する必要性が省かれる。また、例示的な実施例による発光ダイオードスタックは、第1~第3LEDスタック2230、2330および2430が垂直方向に積層された構造を有し、そのため、サブピクセルのための面積が限られたピクセル領域内で確保できる。さらに、例示的な実施例による発光ダイオードスタックは、第1LEDスタック2230、第2LEDスタック2330および第3LEDスタック2430から発生する光がそれを介して外部に放出されることを許容し、それによって、光損失を減少させる。
図56は、例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略平面図であり、図57は、例示的な実施例によるディスプレイ用発光ダイオードピクセルの概略断面図である。
図56および図57を参照すると、ディスプレイ装置は、回路基板3510と、複数のピクセル3000とを含む。ピクセル3000のそれぞれは、基板3210と、基板3210上に配置された第1~第3サブピクセルR、GおよびBとを含む。
回路基板3510は、パッシブ回路またはアクティブ回路を含んでもよい。パッシブ回路は、例えば、データ配線およびスキャン配線を含んでもよい。アクティブ回路は、例えば、トランジスタおよびキャパシタを含んでもよい。回路基板3510は、その表面上にまたはその内部に回路を有することができる。回路基板3510は、例えば、ガラス基板、サファイア基板、Si基板またはGe基板を含んでもよい。
基板3210は、第1~第3サブピクセルR、GおよびBを支持する。基板3210は、複数のピクセル3000の上部で連続的であり、サブピクセルR、GおよびBを回路基板3510に電気的に接続する。例えば、基板3210は、GaAs基板であってもよい。
第1サブピクセルRは、第1LEDスタック3230を含み、第2サブピクセルGは、第2LEDスタック3330を含み、第3サブピクセルBは、第3LEDスタック3430を含む。第1サブピクセルRは、第1LEDスタック3230が光を放出することを許容するように構成され、第2サブピクセルGは、第2LEDスタック3330が光を放出することを許容するように構成され、第3サブピクセルBは、第3LEDスタック3430が光を放出することを許容するように構成される。第1~第3LEDスタック3230、3330および3430は、独立して駆動可能である。
第1LEDスタック3230、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430は、垂直方向に互いに重なるように積層される。ここで、図57に示すように、第2LEDスタック3330は、第1LEDスタック3230の一部分内に配置される。例えば、第2LEDスタック3330は、第1LEDスタック3230上で一側に面して配置される。第3LEDスタック3430は、第2LEDスタック3330の一部分内に配置される。例えば、第3LEDスタック3430は、第2LEDスタック3330上で一側に面して配置される。図57が第3LEDスタック3430が右側に面して配置されたことを示しているが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。代替的に、第3LEDスタック3430は、第2LEDスタック3330の左側に面して配置されてもよい。
第1LEDスタック3230から発生する光Rは、第2LEDスタック3330によって覆われない領域を介して放出され、第2LEDスタック3330から発生する光Gは、第3LEDスタック3430によって覆われない領域を介して放出される。より具体的には、第1LEDスタック3230から発生する光は、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430を貫通せずに外部に放出され、第2LEDスタック3330から発生する光は、第3LEDスタック3430を貫通せずに外部に放出される。
光Rが通過して放出される第1LEDスタック3230の領域、光Gが通過して放出される第2LEDスタック3330の領域、および第3LEDスタック3340の領域は、互いに異なる面積を有してもよいし、LEDスタック3230、3330および3430のそれぞれから放出される光の光度は、その面積を調節することにより調節可能である。
しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではない。代替的に、第1LEDスタック3230から発生する光は、第2LEDスタック3330を貫通した後にまたは第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430を貫通した後に外部に放出され、第2LEDスタック3330から発生する光は、第3LEDスタック3430を貫通した後に外部に放出される。
第1LEDスタック3230、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430のそれぞれは、第1導電型(例えば、n型)半導体層と、第2導電型(例えば、p型)半導体層と、その間に介在する活性層とを含んでもよい。活性層は、多重量子井戸構造を有してもよい。第1~第3LEDスタック3230、3330および3430は、互いに異なる波長を有する光を放出するために互いに異なる活性層を含んでもよい。例えば、第1LEDスタック3230は、赤色光を放出するように構成される無機発光ダイオードであってもよく、第2LEDスタック3330は、緑色光を放出するように構成される無機発光ダイオードであってもよいし、第3LEDスタック3430は、青色光を放出するように構成される無機発光ダイオードであってもよい。このために、第1LEDスタック3230は、AlGaInP系井戸層を含んでもよく、第2LEDスタック3330は、AlGaInPまたはAlGaInN系井戸層を含んでもよく、第3LEDスタック3430は、AlGaInN系井戸層を含んでもよい。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではない。第1LEDスタック3230、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430から発生する光の波長は変化可能である。例えば、第1LEDスタック3230、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430は、緑色光、赤色光および青色光をそれぞれ放出するか、または緑色光、青色光および赤色光をそれぞれ放出することができる。
また、分布ブラッグ反射器が基板3210と第1LEDスタック3230との間に介在し、基板3210による吸収による第1LEDスタック3230から発生する光の損失を防止することができる。例えば、AlAsおよびAlGaAs半導体層を互いに交互に積層するより形成される分布ブラッグ反射器がそれらの間に介在してもよい。
図58は、例示的な実施例によるディスプレイ装置の概略回路図である。
図58を参照すると、例示的な実施例によるディスプレイ装置は、アクティブマトリクス方式で駆動可能である。このように、回路基板は、アクティブ回路を含んでもよい。
例えば、駆動回路は、2つ以上のトランジスタTr1およびTr2およびキャパシタを含んでもよい。電源が選択配線Vrow1~Vrow3に接続され、電圧がデータ配線Vdata1~Vdata3に印加される場合、電圧は対応する発光ダイオードに印加される。なお、対応するキャパシタは、データ配線Vdata1~Vdata3の値に応じて充電される。トランジスタTr2のターンオン状態がキャパシタの充電された電圧によって保持できるので、キャパシタの電圧は、選択配線Vrow1に供給される電力が遮断される場合にも保持されて発光ダイオードLED1~LED3に印加される。また、発光ダイオードLED1~LED3内で流れる電流は、データ配線Vdata1~Vdata3の値に応じて変更可能である。電流は電流供給源Vddを介して連続的に供給され、そのため、光が連続的に放出できる。
トランジスタTr1およびTr2およびキャパシタは、支持基板3510の内部で形成される。ここで、発光ダイオードLED1~LED3は、1つのピクセル内に積層された第1~第3LEDスタック3230、3330および3430にそれぞれ対応することができる。第1~第3LEDスタック3230、3330および3430のアノードは、トランジスタTr2に接続され、そのカソードは、接地に接続される。第1~第3LEDスタック3230、3330および3430のカソードは、例えば、接地に共通に接続される。
たとえ図58が例示的な実施例によるアクティブマトリクス駆動のための回路を示すが、他の類型の回路がさらに使用されてもよい。また、発光ダイオードLED1~LED3のアノードが異なるトランジスタTr2に接続されるものと説明され、そのカソードが接地に接続されるものと説明されるが、いくつかの例示的な実施例において、発光ダイオードのアノードは、共通に接続され、そのカソードは、互いに異なるトランジスタに接続されてもよい。
たとえアクティブマトリクス駆動のためのアクティブ回路が説明されたが、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、例示的な実施例によるピクセルは、パッシブマトリクス方式で駆動可能である。このように、回路基板3510は、その上に配列されたデータ配線およびスキャン配線を含んでもよく、サブピクセルのそれぞれは、データ配線およびスキャン配線に接続される。例示的な実施例において、第1~第3LEDスタック3230、3330および3430のアノードは、互いに異なるデータ配線に接続され、そのカソードは、スキャン配線に共通に接続される。他の例示的な実施例において、第1~第3LEDスタック3230、3330および3430のアノードは、互いに異なるスキャン配線に接続され、そのカソードは、共通にデータ配線に接続される。
また、LEDスタック3230、3330および3430のそれぞれは、パルス幅変調によってまたは電流の大きさを変更することにより駆動可能であり、それによって、各サブピクセルの明るさを制御することができる。また、明るさは、第1~第3LEDスタック3230、3330および3430の面積と、光R、GおよびBが通過して放出されるLEDスタック3230、3330および3430の領域の面積とを調節することにより調節可能である。例えば、低い可視性(visibility)を有する光を放出するLEDスタック、例えば、第1LEDスタック3230は、第2LEDスタック3330または第3LEDスタック3430より大きい面積を有し、そのため、同一の電流密度下でより高い光度を有する光を放出することができる。また、第2LEDスタック3330の面積が第3LEDスタック3430の面積より大きいので、第2LEDスタック3330は、同一の電流密度下で第3LEDスタック3430よりも高い光度を有する光を放出することができる。この方式により、光出力は、第1LEDスタック3230、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430の面積を調節することにより、第1~第3LEDスタック3230、3330および3430から放出された光の可視性に基づいて調節可能である。
図59Aおよび図59Bは、例示的な実施例によるディスプレイ装置の1つのピクセルの平面図および底面図であり、図60A、図60B、図60Cおよび図60Dは、それぞれ図59AのA-A、B-B、C-CおよびD-D線に沿った概略断面図である。
ディスプレイ装置において、ピクセルは、回路基板3510上に配列され(図56参照)、ピクセルのそれぞれは、基板3210と、サブピクセルR、GおよびBとを含む。基板3210は、複数のピクセルの上部で連続的であり得る。以下、例示的な実施例によるピクセルの構成が説明される。
図59A、図59B、図60A、図60B、図60Cおよび図60Dを参照すると、ピクセルは、基板3210と、分布ブラッグ反射器3220と、絶縁層3250と、貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cと、第1LEDスタック3230と、第2LEDスタック3330と、第3LEDスタック3430と、第1-1オーミック電極3290aと、第1-2オーミック電極3290bと、第2-1オーミック電極3390と、第2-2オーミック電極3350と、第3-1オーミック電極3490と、第3-2オーミック電極3450と、第1ボンディング層3530と、第2ボンディング層3550と、上部絶縁層3610と、コネクタ3710、3720および3730と、下部絶縁層3750と、電極パッド3770a、3770b、3770cおよび3770dとを含む。
サブピクセルR、GおよびBのそれぞれは、LEDスタック3230、3330および3430と、オーミック電極とを含む。また、第1~第3サブピクセルR、GおよびBのアノードは、電極パッド3770a、3770bおよび3770cにそれぞれ電気的に接続され、そのカソードは、電極パッド3770dに電気的に接続され、それによって、第1~第3サブピクセルR、GおよびBが独立して駆動されることを許容する。
基板3210は、LEDスタック3230、3330および3430を支持する。基板3210は、AlGaInP系半導体層がその上に成長できる成長基板(growth substrate)、例えば、GaAs基板であってもよい。特に、基板3210は、n型導電性を示す半導体基板であってもよい。
第1LEDスタック3230は、第1導電型半導体層3230aおよび第2導電型半導体層3230bを含み、第2LEDスタック3330は、第1導電型半導体層3330aおよび第2導電型半導体層3330bを含み、第3LEDスタック3430は、第1導電型半導体層3430aおよび第2導電型半導体層3430bを含む。活性層が第1導電型半導体層3230a、3330aまたは3430aと第2導電型半導体層3230b、3330bまたは3430bとの間に介在してもよい。
例示的な実施例によれば、第1導電型半導体層3230a、3330aおよび3430aのそれぞれは、n型半導体層であってもよく、第2導電型半導体層3230b、3330bおよび3430bのそれぞれは、p型半導体層であってもよい。粗面化された表面が表面テクスチャリング(surface texturing)によって第1導電型半導体層3230a、3330aおよび3430aのそれぞれの上部表面上に形成される。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではなく、第1および第2導電型は、逆に変更可能である。
第1LEDスタック3230は、支持基板3510近傍に配置され、第2LEDスタック3330は、第1LEDスタック3230上に配置され、第3LEDスタック3430は、第2LEDスタック3330上に配置される。第2LEDスタック3330が第1LEDスタック3230上の一部領域に配置され、第1LEDスタック3230が第2LEDスタック3330と部分的に重なる。第3LEDスタック3430が第2LEDスタック3330上の一部領域に配置され、第2LEDスタック3330が第3LEDスタック3430と部分的に重なる。したがって、第1LEDスタック3230から発生する光は、第2および第3LEDスタック3330および3430を貫通せずに外部に放出される。また、第2LEDスタック3330から発生する光は、第3LEDスタック3430を貫通せずに外部に放出される。
第1LEDスタック3230、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430の材料は、図57を参照して説明したものと実質的に同一であるので、その詳細な説明は重複を避けるために省略される。
分布ブラッグ反射器3220が基板3210と第1LEDスタック3230との間に介在する。分布ブラッグ反射器3220は、基板3210上に成長した半導体層を含んでもよい。例えば、分布ブラッグ反射器3220は、AlAs層およびAlGaAs層を交互に積層することにより形成可能である。分布ブラッグ反射器3220は、基板3210を第1LEDスタック3230の第1導電型半導体層3230aに電気的に接続する半導体層を含んでもよい。
貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cが基板3210を介して形成される。貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cは、第1LEDスタック3230を貫通するように形成される。貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cは、導電性ペーストでまたはメッキによって形成される。
絶縁層3250は、貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cと基板3210および第1LEDスタック3230を介して形成された貫通ホールの内壁との間に配置され、第1LEDスタック3230と基板3210との間の短絡(short circuit)を防止する。
第1-1オーミック電極3390aは、第1LEDスタック3230の第1導電型半導体層3230aとオーミック接触を形成する。第1-1オーミック電極3290aは、例えば、Au-TeまたはAu-Ge合金で形成される。
第1-1オーミック電極3290aを形成するために、第2導電型半導体層3230bおよび活性層が第1導電型半導体層3230aを露出させるように部分的に除去されてもよい。第1-1オーミック電極3290aは、第2LEDスタック3330が配置された領域から離隔して配置される。また、第1-1オーミック電極3290は、パッド領域および延長部を含んでもよく、コネクタ3710は、図59Aに示すように、第1-1オーミック電極3290のパッド領域に接続される。
第1-2オーミック電極3390bは、第1LEDスタック3230の第2導電型半導体層3230bとオーミック接触を形成する。図59Aに示すように、第1-2オーミック電極3290bは、電流拡散を助けるために第1-1オーミック電極3290aを部分的に取り囲むように形成される。第1-2オーミック電極3290bは、延長部を含まなくてもよい。第1-2オーミック電極3290bは、例えば、Au-ZnまたはAu-Be合金で形成される。また、第1-2オーミック電極3290bは、単一層または多重層構造を有してもよい。
第1-2オーミック電極3290bは、貫通ホールビア3270aが第2導電型半導体層3230bに電気的に接続できるように貫通ホールビア3270aに接続される。
第2-1オーミック電極3390は、第2LEDスタック3330の第1導電型半導体層3330aとオーミック接触を形成する。第2-1オーミック電極3390はさらに、パッド領域および延長部を含んでもよい。図59Aに示すように、コネクタ3710は、第2-1オーミック電極3390を第1-1オーミック電極3290aに電気的に接続することができる。第2-1オーミック電極3390は、第3LEDスタック3430が配置される領域から離隔して配置される。
第2-2オーミック電極3350は、第2LEDスタック3330の第2導電型半導体層3330bとオーミック接触を形成する。第2-2オーミック電極3350は、反射層3350aと、バリア層3350bとを含んでもよい。反射層3350aは、第2LEDスタック3330から発生する光を反射させて、第2LEDスタック3330の発光効率を向上させる。バリア層3350bは、反射層3350aを提供する接続パッドとして作用することができ、コネクタ3720に接続される。第2-2オーミック電極3350が本例示的な実施例で金属層を含むものと説明されるが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。例えば、第2-2オーミック電極3350は、導電性酸化物半導体層のような透明導電性酸化物で形成されてもよい。
第3-1オーミック電極3490は、第3LEDスタック3430の第1導電型半導体層3430aとオーミック接触を形成する。第3-1オーミック電極3490はさらに、パッド領域および延長部を含んでもよく、コネクタ3710は、図59Aに示すように、第3-1オーミック電極3490を第1-1オーミック電極3290aに接続する。
第3-2オーミック電極3450は、第3LEDスタック3430の第2導電型半導体層3430bとオーミック接触を形成することができる。第3-2オーミック電極3450は、反射層3450aと、バリア層3450bとを含んでもよい。反射層3450aは、第3LEDスタック3430から発生する光を反射させて、第3LEDスタック3430の発光効率を向上させる。バリア層3450bは、反射層3450aを提供する接続パッドとして作用することができ、コネクタ3730に接続される。第3-2オーミック電極3450が金属層を含むものと説明されるが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。代替的に、第3-2オーミック電極3450は、導電性酸化物半導体層のような透明導電性酸化物で形成されてもよい。
第1-2オーミック電極3290b、第2-2オーミック電極3350および第3-2オーミック電極3450は、対応するLEDスタックのp型半導体層とオーミック接触を形成して電流拡散を助けることができ、第1-1オーミック電極3290a、第2-1オーミック電極3390および第3-1オーミック電極3490は、対応するLEDスタックのn型半導体層とオーミック接触を形成して電流拡散を助けることができる。
第1ボンディング層3530は、第2LEDスタック3330を第1LEDスタック3230に結合する。図示のように、第2-2オーミック電極3350は、第1ボンディング層3530に隣接していてもよい。第1ボンディング層3530は、光透過性層または不透明層であってもよい。第1ボンディング層3530は、有機材料または無機材料で形成されてもよい。有機材料の例は、SU8、ポリ(メチルメタクリレート)(PMMA)、ポリイミド、パリレン、ベンゾシクロブテン(BCB)などを含んでもよく、無機材料の例は、Al2O3、SiO2、SiNxなどを含んでもよい。有機材料層は、高真空下でボンディングされてもよいし、無機材料層は、例えば、化学的機械的研磨により第1ボンディング層の表面を平坦化し、次いで、プラズマ処理により表面エネルギーを調整した後、高真空下でボンディングされてもよい。第1ボンディング層3530は、スピンオンガラスで形成されるか、またはAuSnなどで形成された金属ボンディング層であってもよい。金属ボンディング層のために、絶縁層が第1LEDスタック3230上に配置され、第1LEDスタック3230と金属ボンディング層との間に電気的な絶縁を確保することができる。また、反射層が第1ボンディング層3530と第1LEDスタック3230との間にさらに配置され、第1LEDスタック3230から発生する光が第2LEDスタック3330に進入するのを防止することができる。
第2ボンディング層3550は、第2LEDスタック3330を第3LEDスタック3430に結合する。第2ボンディング層3550は、第2LEDスタック3330と第3-2オーミック電極3450との間に介在し、第2LEDスタック3330を第3-2オーミック電極3450にボンディングすることができる。第2ボンディング層3550は、第1ボンディング層3530と実質的に同一のボンディング材料で形成される。また、絶縁層および/または反射層が第2LEDスタック3330と第2ボンディング層3550との間にさらに配置されてもよい。
第1ボンディング層3530および第2ボンディング層3550が光透過性材料で形成され、第2-2オーミック電極3350および第3-2オーミック電極3450が透明酸化物材料で形成される場合、第1LEDスタック3230から発生する光の一部は、第1ボンディング層3530および第2-2オーミック電極3350を貫通した後に第2LEDスタック3330を介して放出され、第2ボンディング層3550および第3-2オーミック電極3450を貫通した後に第3LEDスタック3430を介してさらに放出されてもよい。また、第2LEDスタック3330から発生する光の一部は、第2ボンディング層3550および第3-2オーミック電極3450を貫通した後に第3LEDスタック3430を介して放出されてもよい。
この場合、第1LEDスタック3230から発生する光は、第2LEDスタック3330を貫通する間、第2LEDスタック3330に吸収されることが防止されなければならない。このように、第1LEDスタック3230から発生する光は、第2LEDスタック3330より小さいバンドギャップを有してもよく、そのため、第2LEDスタック3330から発生する光より長い波長を有してもよい。
また、第2LEDスタック3330から発生する光が第3LEDスタック3430を貫通する間、第3LEDスタック3430によって吸収されることを防止するために、第2LEDスタック3330から発生する光は、第3LEDスタック3430から発生する光より長い波長を有してもよい。
第1ボンディング層3530と第2ボンディング層3550が不透明材料で形成される場合、反射層は、第1LEDスタック3230と第1ボンディング層3530との間および第2LEDスタック3330と第2ボンディング層3550との間にそれぞれ介在し、第1LEDスタック3230から発生して第1ボンディング層3530に進入する光、および第2LEDスタック3330から発生して第2ボンディング層3550に進入する光を反射させる。反射した光は、第1LEDスタック3230および第2LEDスタック3330を介して放出される。
上部絶縁層3610は、第1~第3LEDスタック3230、3330および3430を覆うことができる。特に、上部絶縁層3610は、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430の側面を覆うことができ、また、第1LEDスタック3230の側面を覆うことができる。
上部絶縁層3610は、第1~第3貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cを露出させる開口部と、第2LEDスタック3330の第1導電型半導体層3330a、第3LEDスタック3430の第1導電型半導体層3430a、第2-2オーミック電極3350および第3-2オーミック電極3450を露出させる開口部とを有する。
上部絶縁層3610は、任意の絶縁物質、例えば、シリコン酸化物またはシリコン窒化物で形成されてもよいが、これに限定されるものではない。
コネクタ3710は、第1-1オーミック電極3290a、第2-1オーミック電極3390および第3-1オーミック電極3490を互いに電気的に接続する。コネクタ3710は、上部絶縁層3610上に形成され、第3LEDスタック3430の第2導電型半導体層3430b、第2LEDスタック3330の第2導電型半導体層3330bおよび第1LEDスタック3230の第2導電型半導体層3230bから絶縁される。
コネクタ3710は、第2-1オーミック電極3390および第3-1オーミック電極3490と実質的に同一の材料で形成され、そのため、第2-1オーミック電極3390および第3-1オーミック電極3390とともに形成される。代替的に、コネクタ3710は、第2-1オーミック電極3390または第3-1オーミック電極3490とは異なる導電性材料で形成され、そのため、第2-1オーミック電極3390および/または第3-1オーミック電極3490とは異なる工程で別個に形成されてもよい。
コネクタ3720は、第2-1オーミック電極3350、例えば、バリア層3350bを第2貫通ホールビア3270bに電気的に接続することができる。コネクタ3730は、第3-1オーミック電極、例えば、バリア層3450bを第3貫通ホールビア3270cに電気的に接続する。コネクタ3720は、上部絶縁層3610によって第1LEDスタック3230から電気的に絶縁される。コネクタ3730は、上部絶縁層3610によって第2LEDスタック3330および第1LEDスタック3230から電気的に絶縁される。
コネクタ3720および3730は、同一の工程により併せて形成される。コネクタ3720および3730はさらに、コネクタ3710とともに形成される。また、コネクタ3720および3730は、第2-1オーミック電極3390および第3-1オーミック電極3490と実質的に同一の材料で形成され、ともに形成されてもよい。代替的に、コネクタ3720および3730は、第2-1オーミック電極3390または第3-1オーミック電極3490とは異なる導電性材料で形成され、そのため、第2-1オーミック電極3390および/または第3-1オーミック電極3490とは異なる工程により別個に形成されてもよい。
下部絶縁層3750は、基板3210の下部表面を覆う。下部絶縁層3750は、基板3210の下部側で第1~第3貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cを露出させる開口部を含んでもよく、また、基板3210の下部表面を露出させる開口部を含んでもよい。
電極パッド3770a、3770b、3770cおよび3770dは、基板3210の下部表面上に配置される。電極パッド3770a、3770bおよび3770cは、絶縁層3750の開口部を介して貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cに接続され、電極パッド3770dは、基板3210に接続される。
電極パッド3770a、3770bおよび3770cは、各ピクセルの第1~第3LEDスタック3230、3330および3430にそれぞれ電気的に接続されるように、各ピクセルに設けられる。電極パッド3770dがさらに各ピクセルに設けられてもよいが、基板3210は、複数のピクセルの上部に連続的に配置され、これは各ピクセルに電極パッド3770dを提供する必要性を省くことができる。
電極パッド3770a、3770b、3770cおよび3770dは、回路基板3510にボンディングされ、それによって、ディスプレイ装置を提供する。
次に、例示的な実施例によるディスプレイ装置を製造する方法が説明される。
図61A~図68Bは、例示的な実施例によるディスプレイ装置を製造する方法を示す概略平面図および断面図である。それぞれの断面図は、対応するそれぞれの平面図に示された線に沿ったものである。
図61Aおよび図61Bを参照すると、第1LEDスタック3230が基板3210上に成長する。基板3210は、例えば、GaAs基板であってもよい。第1LEDスタック3230は、AlGaInP系半導体層で形成され、第1導電型半導体層3230aと、活性層と、第2導電型半導体層3230bとを含む。分布ブラッグ反射器3220は、第1LEDスタック3230の成長前に形成されてもよい。分布ブラッグ反射器3220は、例えば、AlAs/AlGaAs層を繰り返し積層することにより形成されるスタック構造を有してもよい。
その後、溝がフォトリソグラフィーおよびエッチングにより第1LEDスタック3230および基板3210上に形成される。溝は、図61Bに示すように、基板3210を貫通するように形成されるか、または基板3210内で所定の深さに形成されてもよい。
その後、絶縁層3250が溝の側壁を覆うように形成され、貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cが溝を満たすように形成される。貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cは、例えば、溝の側壁を覆う絶縁層を形成し、メッキにより溝を導電性材料層または導電性ペーストで満たし、化学機械的研磨により第1LEDスタック3230の上部表面から絶縁層および導電性材料層を除去することにより形成できる。
図62Aおよび図62Bを参照すると、第2LEDスタック3330および第2-2オーミック電極3350が第1ボンディング層3530を介して第1LEDスタック3230に結合される。
第2LEDスタック3330が第2基板上に成長し、第2-2オーミック電極3350が第2LEDスタック3330上に形成される。第2LEDスタック3330は、AlGaInP系またはAlGaInN系半導体層で形成され、第1導電型半導体層3330aと、活性層と、第2導電型半導体層3330bとを含んでもよい。第2基板は、AlGaInP系半導体層がその上に成長できる基板、例えば、GaAs基板またはAlGaInN系半導体層がその上に成長できる基板、例えば、サファイア基板であってもよい。第2LEDスタック3330のためのAl、GaおよびInの組成比は、第2LEDスタック3330が緑色光を放出できるように決定されてもよい。第2-2オーミック電極3350は、第2導電型半導体層3330b、例えば、p型半導体層とオーミック接触を形成する。第2-2オーミック電極3350は、第2LEDスタック3330から発生する光を反射させる反射層3350aと、バリア層3350bとを含んでもよい。
第2-2オーミック電極3350は、第1LEDスタック3230に面するように配置され、第1ボンディング層3530によって第1LEDスタック3230に結合される。その後、第2基板は、化学的エッチングまたはレーザリフトオフにより、第1導電型半導体層3330aを露出させるように第2LEDスタック3330から除去される。粗面化された表面が露出した第1導電型半導体層3330a上に表面テクスチャリングによって形成される。
例示的な実施例により、絶縁層および反射層は、第1ボンディング層3530の形成前に、第1LEDスタック3230上にさらに形成されてもよい。
図63Aおよび図63Bを参照すると、第3LEDスタック3430および第3-2オーミック電極3450は、第2ボンディング層3550を介して第2LEDスタック3330に結合される。
第3LEDスタック3430は、第3基板上に成長し、第3-2オーミック電極3450は、第3LEDスタック3430上で形成される。第3LEDスタック3430は、AlGaInN系半導体層で形成され、第1導電型半導体層3430aと、活性層と、第2導電型半導体層3430bとを含んでもよい。第3基板は、GaN系半導体層がその上に成長できる基板であり、第1基板3210とは異なる。第3LEDスタック3430のためのAlGaInNの組成比は、第3LEDスタック3430が青色光を放出できるように決定されてもよい。第3-2オーミック電極3450は、第2導電型半導体層3430b、例えば、p型半導体層とオーミック接触を形成する。第3-2オーミック電極3450は、第3LEDスタック3430から発生する光を反射させる反射層3450aと、バリア層3450bとを含んでもよい。
第3-2オーミック電極3450は、第2LEDスタック3330に面するように配置され、第2ボンディング層3550によって第2LEDスタック3330に結合される。その後、第3基板は、化学的エッチングまたはレーザリフトオフにより、第1導電型半導体層3430aを露出させるように第3LEDスタック3430から除去される。粗面化された表面が露出した第1導電型半導体層3430a上に表面テクスチャリングによって形成される。
例示的な実施例により、絶縁層および反射層が、第2ボンディング層3550の形成前に、第2LEDスタック3330上にさらに形成されてもよい。
図64Aおよび図64Bを参照すると、それぞれのピクセル領域において、第3LEDスタック3430は、第3サブピクセルB以外の第3LEDスタック3430を除去するようにパターニングされる。第3サブピクセルBの領域において、湾入部(indentation)を介してバリア層3450bを露出させるように、第3LEDスタック3430上に湾入部が形成される。
その後、第3サブピクセルB以外の領域において、第3-2オーミック電極3450および第2ボンディング層3550が除去されて、第2LEDスタック3330を露出させる。このように、第3-2オーミック電極3450は、第3サブピクセルBの領域近傍に制限的に配置される。
各ピクセル領域において、第2LEDスタック3330がパターニングされて、第2サブピクセルG以外の領域で第2LEDスタック3330を除去する。第2サブピクセルGの領域において、第2LEDスタック3330は、第3LEDスタック3430と部分的に重なる。
第2LEDスタック3330をパターニングすることにより、第2-2オーミック電極3350が露出する。第2LEDスタック3330は、湾入部を含んでもよく、第2-2オーミック電極3350、例えば、バリア層3350bが湾入部を介して露出してもよい。
その後、第2-2オーミック電極3350および第1ボンディング層3530が除去されて、第1LEDスタック3230を露出させる。このように、第2-2オーミック電極3350は、第2サブピクセルGの領域近傍に配置される。他方、第1~第3貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cはさらに、第1LEDスタック3230とともに露出する。
各ピクセル領域において、第1LEDスタック3230の第2導電型半導体層3230bをパターニングすることにより、第1導電型半導体層3230aが露出する。図64Aに示すように、第1導電型半導体層3230aは、延伸された形状に露出してもよいし、これに限定されるものではない。
また、ピクセル領域は、第1LEDスタック3230をパターニングすることにより互いに分割される。このように、第1サブピクセルRの領域が形成される。ここで、分布ブラッグ反射器3220がさらに分割されてもよい。代替的に、分布ブラッグ反射器3220は、分割されずに複数のピクセルの上部に連続的に配置されてもよい。また、第1導電型半導体層3230aも、複数のピクセルの上部に連続的に配置されてもよい。
図65Aおよび図65Bを参照すると、第1-1オーミック電極3290aおよび第2-2オーミック電極3290bが第1LEDスタック3230上に形成される。第1-1オーミック電極3290aは、例えば、露出した第1導電型半導体層3230a上でAu-TeまたはAu-Ge合金で形成される。第1-2オーミック電極3290bは、例えば、第2導電型半導体層3230b上でAu-BeまたはAu-Zn合金で形成される。第1-2オーミック電極3290bは、第1-1オーミック電極3290aの前に形成されるか、またはその逆であってもよい。第1-2オーミック電極3290bは、第1貫通ホールビア3270aに接続される。他方、第1-1オーミック電極3290aは、パッド領域と、パッド領域から第1貫通ホールビア3270aに向かって延びる延長部とを含んでもよい。
電流拡散のために、第1-2オーミック電極3290bが第1-1オーミック電極3290aを少なくとも部分的に取り囲むように配置される。たとえ第1-1オーミック電極3290aおよび第1-2オーミック電極3290bのそれぞれが図65Aで延伸された形状を有するものとして示されるが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。代替的に、第1-1オーミック電極3290aおよび第1-2オーミック電極3290bのそれぞれは、例えば、円形状を有してもよい。
図66Aおよび図66Bを参照すると、上部絶縁層3610が第1~第3LEDスタック3230、3330および3430を覆うように形成される。上部絶縁層3610は、第1-1オーミック電極3390aおよび第1-2オーミック電極3290bを覆うことができる。上部絶縁層3610は、第1~第3LEDスタック3230、3330および3430の側面および分布ブラッグ反射器3220の側面をさらに覆うことができる。
上部絶縁層3610は、第1-1オーミック電極3290aを露出させる開口部3610aと、バリア層3350bおよび3450bを露出させる開口部3610bおよび3610cと、第2および第3貫通ホールビア3270bおよび3270cを露出させる開口部3610dおよび3610eと、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430の第1導電型半導体層3330aおよび3430aを露出させる開口部3610fおよび3610gとを有することができる。
図67Aおよび図67Bを参照すると、第2-1オーミック電極3390、第3-1オーミック電極3490およびコネクタ3710、3720および3730が形成される。第2-1オーミック電極3390は、第1導電型半導体層3330aとオーミック接触を形成するように開口部3610f内に形成され、第3-1オーミック電極3490は、第1導電型半導体層3430aとオーミック接触を形成するように開口部3610g内に形成される。
コネクタ3710は、第2-1オーミック電極3390および第3-1オーミック電極3490を第1-1オーミック電極3290aに電気的に接続する。コネクタ3710は、例えば、開口部3610a内で露出する第1-1オーミック電極3290aに接続される。コネクタ3710は、第2導電型半導体層3230b、3330bおよび3430bから絶縁されるように上部絶縁層3610上に形成される。
コネクタ3720は、第2-2オーミック電極3350を第2貫通ホールビア3270bに電気的に接続し、コネクタ3730は、第3-2オーミック電極3450を第3貫通ホールビア3270cに電気的に接続する。コネクタ3720および3730は、上部絶縁層3610上に配置され、第1~第3LEDスタック3230、3330および3430に対する短絡を防止する。
第2-1オーミック電極3390、第3-1オーミック電極3490およびコネクタ3710、3720および3730は、同一の工程により実質的に同一の材料で形成される。しかし、本発明の概念がこれに限定されるものではない。代替的に、第2-1オーミック電極3390、第3-1オーミック電極3490およびコネクタ3710、3720および3730は、互いに異なる工程により互いに異なる材料で形成されてもよい。
その後、図68Aおよび図68Bを参照すると、下部絶縁層3750が基板3210の下部表面上に形成される。下部絶縁層3750は、第1~第3貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cを露出させる開口部を有し、また、基板3210の下部表面を露出させる開口部を有することができる。
電極パッド3770a、3770b、3770cおよび3770dは、下部絶縁層3750上に形成される。電極パッド3770a、3770bおよび3770cは、第1~第3貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cにそれぞれ接続され、電極パッド3770dは、基板3210に接続される。
したがって、電極パッド3770aは、第1貫通ホールビア3270aを介して第1LEDスタック3230の第2導電型半導体層3230bに電気的に接続され、電極パッド3770bは、第2貫通ホールビア3270bを介して第2LEDスタック3330の第2導電型半導体層3330bに電気的に接続され、電極パッド3770cは、第3貫通ホールビア3270cを介して第3LEDスタック3430の第2導電型半導体層3430bに電気的に接続される。第1~第3LEDスタック3230、3330および3430の第1導電型半導体層3230a、3330aおよび3430aは、共通に電極パッド3770dに電気的に接続される。
この方式により、例示的な実施例によるディスプレイ装置は、基板3210の電極パッド3770a、3770b、3770cおよび3770dを、図56に示す回路基板3510にボンディングすることにより形成できる。前述のように、回路基板3510は、アクティブ回路またはパッシブ回路を含んでもよく、これによって、ディスプレイ装置は、アクティブマトリクス方式またはパッシブマトリクス方式で駆動可能である。
図69は、他の例示的な実施例によるディスプレイ用発光ダイオードピクセルの断面図である。
図69を参照すると、例示的な実施例によるディスプレイ装置の発光ダイオードピクセル3001は、第2LEDスタック3330が第1LEDスタック3230の大部分を覆い、第3LEDスタック3430が第2LEDスタック3330の大部分を覆うことを除けば、図57のディスプレイ装置の発光ダイオードピクセル3000と概ね類似している。この方式により、第1サブピクセルRから発生する光は、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430を実質的に貫通した後に外部に放出され、第2LEDスタック3330から発生する光は、第3LEDスタック3430を実質的に貫通した後に外部に放出される。
第1LEDスタック3230は、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430より長い波長を有する光を放出するように、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430より狭いバンドギャップを有する活性層を含んでもよく、第2LEDスタック3330は、第3LEDスタック3430より長い波長を有する光を放出するように、第3LEDスタック3430より狭いバンドギャップを有する活性層を含んでもよい。
図70は、例示的な実施例によるディスプレイ装置の1つのピクセルの拡大平面図であり、図71Aおよび図71Bは、それぞれ図70のG-GおよびH-H線に沿った断面図である。
図70、図71Aおよび図71Bを参照すると、例示的な実施例によるピクセルは、第2LEDスタック3330が第1LEDスタック3230の大部分を覆い、第3LEDスタック3430が第2LEDスタック3330の大部分を覆うことを除けば、図59、図60A、図60Bおよび図60Cのピクセルと概ね類似している。第1~第3貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cは、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430の外部に配置される。
また、第1-1オーミック電極3290aの一部分と第2-1オーミック電極3390の一部分は、第3LEDスタック3430の下に配置される。このように、第1-1オーミック電極3290aは、第2LEDスタック3330が第1LEDスタック3230に結合される前に形成されてもよいし、第2-1オーミック電極3390はさらに、第3LEDスタック3430が第2LEDスタック3330に結合される前に形成されてもよい。
また、第1LEDスタック3230から発生する光は、第2LEDスタック3330および第3LEDスタック3430を実質的に貫通した後に外部に放出され、第2LEDスタック3330から発生する光は、第3LEDスタック3430を実質的に貫通した後に外部に放出される。したがって、第1ボンディング層3530および第2ボンディング層3550は、光透過性材料で形成され、第2-2オーミック電極3350および第3-2オーミック電極3450は、透明導電性で構成される。
他方、図71Aおよび図71Bに示すように、湾入部(indentation)が第3-2オーミック電極3450を露出させるように第3LEDスタック3430上に形成され、湾入部が第2-2オーミック電極3350を露出させるように第3LEDスタック3430および第2LEDスタック3330上に連続的に形成されてもよい。第2-2オーミック電極3350および第3-2オーミック電極3450は、コネクタ3720および3730を介して第2貫通ホールビア3270bおよび第3貫通ホールビア3270cにそれぞれ電気的に接続される。
また、湾入部は、第2LEDスタック3330の第1導電型半導体層3330a上に形成された第2-1オーミック電極3390を露出させるように第3LEDスタック3430上に形成され、湾入部は、第1LEDスタック3230の第1導電型半導体層3230a上に形成された第1-1オーミック電極3290aを露出させるように第3LEDスタック3430および第2LEDスタック3330上に連続的に形成される。コネクタ3710は、第1-1オーミック電極3290aおよび第2-1オーミック電極3390を第3-1オーミック電極3490に接続することができる。第3-1オーミック電極3490は、コネクタ3710とともに形成され、第1-1オーミック電極3290aおよび第2-1オーミック電極3390のパッド領域に接続される。
第1-1オーミック電極3290aおよび第2-1オーミック電極3390は、第3LEDスタック3430の下に部分的に配置されるが、本発明の概念がこれに限定されるものではない。例えば、第3LEDスタック3430の下に配置された第1-1オーミック電極3290aおよび第2-1オーミック電極3390の部分は省略可能である。また、第2-1オーミック電極3390は省略可能であり、コネクタ3710は、第1導電型半導体層3330aとオーミック接触を形成することができる。
例示的な実施例によれば、複数のピクセルがウエハボンディングによりウエハレベルで形成され、そのため、発光ダイオードを個別的に実装する工程が省かれるか、または実質的に減少できる。
また、貫通ホールビア3270a、3270bおよび3270cが基板3210内に形成され、電流経路として用いられるため、基板3210は除去する必要がない。したがって、第1LEDスタック3230の成長のために用いられる成長基板は、第1LEDスタック3230から除去されずに基板3210として使用可能である。
特定の例示的な実施例および実施形態が本明細書で説明されたが、他の実施例および変形例もかかる説明から明らかになろう。したがって、本発明の概念はこのような実施例に限定されず、当業界における通常の知識を有する者にとって自明なように、添付した請求の範囲のより広い範囲および多様な自明な変形例と等価の配列体に限定される。

Claims (7)

  1. 支持基板上に配列される複数のピクセルを備えるディスプレイ装置であって、
    前記ピクセルのうちの少なくともいくつかが、第1、第2および第3ディスプレイ用発光ダイオード(LED)スタックを備え、
    前記第1、第2および第3LEDスタックのそれぞれは、
    第1表面および第2表面を有する第1LEDサブユニットと、
    前記第1LEDサブユニットの第1表面上に配置される第2LEDサブユニットと、
    前記第2LEDサブユニット上に配置され、粗面化された表面を有する第3LEDサブユニットと、
    前記第1LEDサブユニットの前記第2表面側に配置され、前記第1LEDサブユニットとオーミック接触を形成する反射電極と、
    前記第1LEDサブユニットと第2LEDサブユニットとの間に介在し、前記第2LEDサブユニットと電気的な接触を形成するオーミック電極と、を備え、
    前記第2LEDサブユニットおよび第3LEDサブユニットは、前記第1LEDサブユニットから発生する第1の光を透過させるように構成され、
    前記第3LEDサブユニットは、前記第2LEDサブユニットから発生する第2の光を透過させるように構成され、
    前記粗面化された表面から前記第1の光が射出され、
    前記第1、第2および第3LEDスタックの側面を覆う下部絶縁層をさらに備え、
    前記下部絶縁層は、前記反射電極、前記第2LEDスタックおよび第3LEDスタックを露出させる開口部を備える、ディスプレイ装置。
  2. 前記第1、第2および第3LEDスタックのそれぞれがp型半導体層およびn型半導体層を備え、
    前記第1、第2および第3LEDスタックのp型半導体層のそれぞれが共通配線に電気的に接続され、
    前記第1、第2および第3LEDスタックのn型半導体層のそれぞれが互いに異なる配線に電気的に接続される、請求項に記載のディスプレイ装置。
  3. 前記粗面化された表面は、前記第3LEDスタックの前記n型半導体層に形成される、請求項に記載のディスプレイ装置。
  4. 前記共通配線は、データ配線を備え、前記異なる配線は、スキャン配線を備える、請求項に記載のディスプレイ装置。
  5. 前記下部絶縁層は、赤色、緑色および青色光を反射させるように構成される分布ブラッグ反射器を備える、請求項に記載のディスプレイ装置。
  6. 前記反射電極が共通配線を備え、複数のピクセルの下部に連続的に配置される、請求項に記載のディスプレイ装置。
  7. 前記反射電極が各ピクセル領域内に配置される、請求項に記載のディスプレイ装置。
JP2020528905A 2017-11-27 2018-11-27 ディスプレイ装置 Active JP7345469B2 (ja)

Applications Claiming Priority (13)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201762590810P 2017-11-27 2017-11-27
US201762590870P 2017-11-27 2017-11-27
US201762590854P 2017-11-27 2017-11-27
US62/590,870 2017-11-27
US62/590,854 2017-11-27
US62/590,810 2017-11-27
US201862621503P 2018-01-24 2018-01-24
US62/621,503 2018-01-24
US201862635284P 2018-02-26 2018-02-26
US62/635,284 2018-02-26
US16/198,796 US10892297B2 (en) 2017-11-27 2018-11-22 Light emitting diode (LED) stack for a display
US16/198,796 2018-11-22
PCT/KR2018/014734 WO2019103579A1 (en) 2017-11-27 2018-11-27 Led unit for display and display apparatus having the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021504752A JP2021504752A (ja) 2021-02-15
JP7345469B2 true JP7345469B2 (ja) 2023-09-15

Family

ID=66630726

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020528905A Active JP7345469B2 (ja) 2017-11-27 2018-11-27 ディスプレイ装置

Country Status (7)

Country Link
US (5) US10892297B2 (ja)
EP (6) EP3923327A1 (ja)
JP (1) JP7345469B2 (ja)
KR (1) KR20200085770A (ja)
CN (5) CN110828435A (ja)
BR (1) BR112020010671A2 (ja)
WO (1) WO2019103579A1 (ja)

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10622342B2 (en) * 2017-11-08 2020-04-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. Stacked LED structure and associated manufacturing method
US10886327B2 (en) * 2017-12-14 2021-01-05 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting stacked structure and display device having the same
TWI793318B (zh) * 2019-05-03 2023-02-21 優顯科技股份有限公司 微半導體堆疊結構、及其電子裝置
CN114793476A (zh) 2019-06-19 2022-07-26 上海显耀显示科技有限公司 用于同轴多色led的系统和方法
KR102170243B1 (ko) * 2019-06-24 2020-10-26 주식회사 썬다이오드코리아 공융 금속-합금 본딩을 이용한 다중 접합 발광 다이오드 및 이의 제조방법
US11515297B2 (en) * 2019-06-27 2022-11-29 Intel Corporation Micro light-emitting diode displays having colloidal or graded index quantum dot films
KR102213343B1 (ko) * 2019-07-01 2021-02-08 한국과학기술원 다색 픽셀 어레이를 갖는 마이크로 led 디스플레이 및 그의 구동 회로와 결합에 따른 제조 방법
US11049992B2 (en) * 2019-07-11 2021-06-29 Pix Art Imaging Inc. Dual wavelength light emitting device, dual wavelength light transceiving device and display
US10971650B2 (en) * 2019-07-29 2021-04-06 Lextar Electronics Corporation Light emitting device
US11798974B2 (en) * 2019-09-27 2023-10-24 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device for display and display apparatus having the same
US11038088B2 (en) 2019-10-14 2021-06-15 Lextar Electronics Corporation Light emitting diode package
US11658275B2 (en) * 2019-10-28 2023-05-23 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device for display and LED display apparatus having the same
CN110649060B (zh) * 2019-11-01 2022-04-26 京东方科技集团股份有限公司 微发光二极管芯片及制作方法、显示面板制作方法
US11749708B2 (en) 2020-01-03 2023-09-05 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device and LED display apparatus including the same
US11626391B2 (en) * 2020-01-22 2023-04-11 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device and display apparatus having the same
CN113556882B (zh) * 2020-04-23 2022-08-16 鹏鼎控股(深圳)股份有限公司 透明电路板的制作方法以及透明电路板
KR20230022943A (ko) 2020-06-03 2023-02-16 제이드 버드 디스플레이(상하이) 리미티드 수평 광 방출을 갖는 다색 led 픽셀 유닛을 위한 시스템들 및 방법들
KR20220021985A (ko) * 2020-08-14 2022-02-23 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이를 포함하는 타일형 표시 장치
US11476299B2 (en) * 2020-08-31 2022-10-18 Hong Kong Beida Jade Bird Display Limited Double color micro LED display panel
US11646300B2 (en) * 2020-09-01 2023-05-09 Jade Bird Display (shanghai) Limited Double color micro LED display panel
KR20220036420A (ko) * 2020-09-14 2022-03-23 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이의 구동 방법
KR20220043993A (ko) * 2020-09-28 2022-04-06 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그의 제조 방법
CN112291917B (zh) * 2020-10-15 2021-05-14 深圳市顺华智显技术有限公司 一种柔性电路板及其制作方法
KR20220081455A (ko) 2020-12-08 2022-06-16 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 제조 방법
CN112736169A (zh) * 2021-03-30 2021-04-30 北京芯海视界三维科技有限公司 发光器件及显示装置
CN113380929B (zh) * 2021-06-09 2024-04-26 成都辰显光电有限公司 显示面板制造方法、显示面板及显示设备
WO2023102839A1 (zh) * 2021-12-09 2023-06-15 厦门市芯颖显示科技有限公司 叠层发光单元及其制备方法和显示面板
US11869923B2 (en) * 2021-12-14 2024-01-09 Lumileds Llc Light-emitting array with dielectric light collection structures
CN114497292B (zh) * 2021-12-24 2023-05-09 华灿光电(浙江)有限公司 三基色发光二极管芯片及其制备方法
KR102599276B1 (ko) * 2022-01-25 2023-11-07 주식회사 썬다이오드코리아 수직 적층 구조를 가지는 rgcb 마이크로 디스플레이의 화소
KR102588011B1 (ko) * 2022-02-18 2023-10-12 명지대학교 산학협력단 형광체 사용없이 트렌치를 이용하여 다양한 색상의 광을 구현할 수 있는 발광 다이오드
US20230420426A1 (en) * 2022-06-24 2023-12-28 Lumileds Llc Compact arrays of color-tunable pixels
US20230420627A1 (en) * 2022-06-24 2023-12-28 Lumileds Llc Compact arrays of color-tunable pixels having two p-n junctions
KR102650040B1 (ko) * 2023-03-13 2024-03-21 웨이브로드 주식회사 칼라필터가 불필요한 수직 적층형 마이크로디스플레이 패널 및 그 제조 방법

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001273979A (ja) 1994-12-13 2001-10-05 Trustees Of Princeton Univ オーガニック発光構造
US20090078955A1 (en) 2007-09-26 2009-03-26 Iii-N Technlogy, Inc Micro-Emitter Array Based Full-Color Micro-Display
US20100159792A1 (en) 2008-12-22 2010-06-24 Vitex Systems, Inc. Encapsulated white oleds having enhanced optical output
US20120231572A1 (en) 2010-10-13 2012-09-13 Zvi Or-Bach Method for fabricating novel semiconductor and optoelectronic devices
JP2012253046A (ja) 2001-11-06 2012-12-20 Universal Display Corp 多層ミラーとして機能する封止構造を有する有機発光デバイス構造体
JP2013229218A (ja) 2012-04-26 2013-11-07 Konica Minolta Inc 表示装置
US20170288093A1 (en) 2016-04-04 2017-10-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Led light source module and display device

Family Cites Families (223)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0710003B2 (ja) 1988-03-11 1995-02-01 信越半導体株式会社 混色発光半導体素子
JP3259931B2 (ja) 1992-04-17 2002-02-25 シャープ株式会社 半導体発光素子および半導体表示装置
JPH07254732A (ja) 1994-03-15 1995-10-03 Toshiba Corp 半導体発光装置
JP3620877B2 (ja) 1994-09-16 2005-02-16 豊田合成株式会社 3族窒化物半導体平面発光素子
JPH08213657A (ja) 1994-10-24 1996-08-20 Mitsubishi Electric Corp 可視光led装置,及びその製造方法
FR2726126A1 (fr) 1994-10-24 1996-04-26 Mitsubishi Electric Corp Procede de fabrication de dispositifs a diodes electroluminescentes a lumiere visible
US5625201A (en) * 1994-12-12 1997-04-29 Motorola Multiwavelength LED devices and methods of fabrication
US5703436A (en) * 1994-12-13 1997-12-30 The Trustees Of Princeton University Transparent contacts for organic devices
JPH08274376A (ja) 1995-03-15 1996-10-18 Texas Instr Inc <Ti> シリコンに格子整合したiii−v化合物半導体エミッター
US5583350A (en) * 1995-11-02 1996-12-10 Motorola Full color light emitting diode display assembly
US5583349A (en) 1995-11-02 1996-12-10 Motorola Full color light emitting diode display
US6046543A (en) * 1996-12-23 2000-04-04 The Trustees Of Princeton University High reliability, high efficiency, integratable organic light emitting devices and methods of producing same
KR100298205B1 (ko) * 1998-05-21 2001-08-07 오길록 고집적삼색발광소자및그제조방법
US6459100B1 (en) 1998-09-16 2002-10-01 Cree, Inc. Vertical geometry ingan LED
US6853411B2 (en) 2001-02-20 2005-02-08 Eastman Kodak Company Light-producing high aperture ratio display having aligned tiles
JP3643328B2 (ja) * 2001-08-21 2005-04-27 ファナック株式会社 2次元ldアレイ発光装置
TW522534B (en) * 2001-09-11 2003-03-01 Hsiu-Hen Chang Light source of full color LED using die bonding and packaging technology
CN100392873C (zh) 2001-12-07 2008-06-04 张修恒 叠置晶片全彩色发光二极管的封装结构及方法
JP2003197968A (ja) 2001-12-18 2003-07-11 Shuko Cho 透明導電層及び反射層で直接結合されたチップの積み重ねによるフルカラー発光ダイオード光源のパッケージ構造
TW523942B (en) 2002-03-05 2003-03-11 Hsiu-Hen Chang package socket and package legs structure for LED and manufacturing of the same
US7511311B2 (en) 2002-08-01 2009-03-31 Nichia Corporation Semiconductor light-emitting device, method for manufacturing the same, and light-emitting apparatus including the same
US6717358B1 (en) 2002-10-09 2004-04-06 Eastman Kodak Company Cascaded organic electroluminescent devices with improved voltage stability
TWI246240B (en) * 2003-03-11 2005-12-21 Pioneer Corp Multi-wavelength semiconductor laser device and manufacturing method thereof
EP1482566A3 (en) 2003-05-28 2004-12-08 Chang Hsiu Hen Light emitting diode electrode structure and full color light emitting diode formed by overlap cascaded die bonding
JP4699681B2 (ja) 2003-06-27 2011-06-15 パナソニック株式会社 Ledモジュール、および照明装置
JP2005072323A (ja) * 2003-08-26 2005-03-17 Oki Data Corp 半導体装置
CN1275337C (zh) * 2003-09-17 2006-09-13 北京工大智源科技发展有限公司 高效高亮度多有源区隧道再生白光发光二极管
TWI223460B (en) * 2003-09-23 2004-11-01 United Epitaxy Co Ltd Light emitting diodes in series connection and method of making the same
JP2005190768A (ja) 2003-12-25 2005-07-14 Toyota Industries Corp 照明装置
US7745986B2 (en) 2004-02-09 2010-06-29 Universal Display Corporation Transflective display having full color OLED blacklight
EP2254390B1 (en) * 2004-03-26 2012-07-04 Panasonic Corporation Organic light emitting element
US7528810B2 (en) 2004-05-25 2009-05-05 Victor Company Of Japan, Limited Display with multiple emission layers
US20070170444A1 (en) 2004-07-07 2007-07-26 Cao Group, Inc. Integrated LED Chip to Emit Multiple Colors and Method of Manufacturing the Same
US7271420B2 (en) 2004-07-07 2007-09-18 Cao Group, Inc. Monolitholic LED chip to emit multiple colors
US20080128728A1 (en) 2004-09-10 2008-06-05 Luminus Devices, Inc. Polarized light-emitting devices and methods
US7679097B2 (en) * 2004-10-21 2010-03-16 Nichia Corporation Semiconductor light emitting device and method for manufacturing the same
US8017955B2 (en) 2004-11-19 2011-09-13 Koninklijke Philips Electronics N.V. Composite LED modules
KR100665120B1 (ko) 2005-02-28 2007-01-09 삼성전기주식회사 수직구조 질화물 반도체 발광소자
WO2006100711A1 (ja) 2005-03-18 2006-09-28 Fujitsu Limited 表示装置およびその製造方法
JP4636501B2 (ja) * 2005-05-12 2011-02-23 株式会社沖データ 半導体装置、プリントヘッド及び画像形成装置
KR100691177B1 (ko) 2005-05-31 2007-03-09 삼성전기주식회사 백색 발광소자
JP4802556B2 (ja) 2005-06-06 2011-10-26 ソニー株式会社 チップ状電子部品の製造方法
KR100672535B1 (ko) * 2005-07-25 2007-01-24 엘지전자 주식회사 유기 el 소자 및 그 제조방법
JP4869661B2 (ja) 2005-08-23 2012-02-08 株式会社Jvcケンウッド 表示装置
JP2007095844A (ja) 2005-09-27 2007-04-12 Oki Data Corp 半導体発光複合装置
JP5193048B2 (ja) 2005-09-30 2013-05-08 ソウル オプト デバイス カンパニー リミテッド 垂直に積層された発光ダイオードを有する発光素子
JP2007114278A (ja) * 2005-10-18 2007-05-10 Fuji Xerox Co Ltd 光アドレス型空間光変調素子の駆動方法、および光アドレス型空間光変調素子駆動装置
KR100845694B1 (ko) 2006-01-18 2008-07-11 주식회사 엘지화학 적층형 유기발광소자
US7737451B2 (en) * 2006-02-23 2010-06-15 Cree, Inc. High efficiency LED with tunnel junction layer
US20070222922A1 (en) * 2006-03-22 2007-09-27 Eastman Kodak Company Graded contrast enhancing layer for use in displays
US7808013B2 (en) 2006-10-31 2010-10-05 Cree, Inc. Integrated heat spreaders for light emitting devices (LEDs) and related assemblies
JP5030742B2 (ja) 2006-11-30 2012-09-19 株式会社半導体エネルギー研究所 発光素子
KR20080054626A (ko) 2006-12-13 2008-06-18 엘지디스플레이 주식회사 유기 전계발광표시소자 및 그 제조방법
TWI440210B (zh) 2007-01-22 2014-06-01 Cree Inc 使用發光裝置外部互連陣列之照明裝置及其製造方法
EP2122695A4 (en) 2007-03-08 2013-09-11 3M Innovative Properties Co NETWORK OF LUMINESCENT ELEMENTS
JP2008263127A (ja) 2007-04-13 2008-10-30 Toshiba Corp Led装置
US7687812B2 (en) * 2007-06-15 2010-03-30 Tpo Displays Corp. Light-emitting diode arrays and methods of manufacture
US20080308819A1 (en) 2007-06-15 2008-12-18 Tpo Displays Corp. Light-Emitting Diode Arrays and Methods of Manufacture
US9136498B2 (en) * 2007-06-27 2015-09-15 Qd Vision, Inc. Apparatus and method for modulating photon output of a quantum dot light emitting device
DE102007030129A1 (de) 2007-06-29 2009-01-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Herstellung einer Mehrzahl optoelektronischer Bauelemente und optoelektronisches Bauelement
US8022421B2 (en) 2007-11-06 2011-09-20 Industrial Technology Institute Light emitting module having LED pixels and method of forming the same
US7732803B2 (en) * 2008-05-01 2010-06-08 Bridgelux, Inc. Light emitting device having stacked multiple LEDS
KR100937866B1 (ko) * 2008-05-15 2010-01-21 삼성모바일디스플레이주식회사 유기발광 표시장치
KR101458958B1 (ko) 2008-06-10 2014-11-13 삼성전자주식회사 반도체 칩, 반도체 패키지 및 반도체 칩의 제조 방법
JP2009302201A (ja) 2008-06-11 2009-12-24 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物半導体発光素子
DE102008030584A1 (de) 2008-06-27 2009-12-31 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelementes und optoelektronisches Bauelement
KR101332794B1 (ko) 2008-08-05 2013-11-25 삼성전자주식회사 발광 장치, 이를 포함하는 발광 시스템, 상기 발광 장치 및발광 시스템의 제조 방법
TWI537900B (zh) * 2008-08-19 2016-06-11 索爾維美國有限公司 使用者可組態之鑲嵌發光裝置
TW201014452A (en) 2008-08-19 2010-04-01 Plextronics Inc Organic light emitting diode lighting devices
JP5097057B2 (ja) 2008-08-29 2012-12-12 株式会社沖データ 表示装置
JP4555880B2 (ja) 2008-09-04 2010-10-06 株式会社沖データ 積層半導体発光装置及び画像形成装置
JP5024247B2 (ja) 2008-09-12 2012-09-12 日立電線株式会社 発光素子
US7977872B2 (en) * 2008-09-16 2011-07-12 Global Oled Technology Llc High-color-temperature tandem white OLED
TW201017863A (en) 2008-10-03 2010-05-01 Versitech Ltd Semiconductor color-tunable broadband light sources and full-color microdisplays
JP5521478B2 (ja) * 2008-10-22 2014-06-11 日亜化学工業株式会社 窒化物半導体発光素子の製造方法及び窒化物半導体発光素子
US8809893B2 (en) 2008-11-14 2014-08-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor light emitting device
US20100210160A1 (en) 2009-02-18 2010-08-19 3M Innovative Properties Company Hydrophilic porous substrates
EP2406821A2 (en) 2009-03-13 2012-01-18 Tessera, Inc. Stacked microelectronic assemblies having vias extending through bond pads
US8946204B2 (en) 2009-05-07 2015-02-03 Gruenenthal Gmbh Substituted phenylureas and phenylamides as vanilloid receptor ligands
US8207547B2 (en) * 2009-06-10 2012-06-26 Brudgelux, Inc. Thin-film LED with P and N contacts electrically isolated from the substrate
KR101077789B1 (ko) 2009-08-07 2011-10-28 한국과학기술원 Led 디스플레이 제조 방법 및 이에 의하여 제조된 led 디스플레이
EP2462797B1 (en) * 2009-08-07 2019-02-27 Showa Denko K.K. Multicolor LED lamp for use in plant cultivation, illumination appratus and plant cultivation method
US8796699B2 (en) 2009-11-24 2014-08-05 University Of Florida Research Foundation, Inc. Method and apparatus for sensing infrared radiation
US8642363B2 (en) 2009-12-09 2014-02-04 Nano And Advanced Materials Institute Limited Monolithic full-color LED micro-display on an active matrix panel manufactured using flip-chip technology
US9236532B2 (en) 2009-12-14 2016-01-12 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting diode having electrode pads
JP5443286B2 (ja) 2009-12-24 2014-03-19 スタンレー電気株式会社 フェイスアップ型光半導体装置
KR101654340B1 (ko) * 2009-12-28 2016-09-06 서울바이오시스 주식회사 발광 다이오드
KR101631652B1 (ko) * 2009-12-29 2016-06-20 삼성전자주식회사 광민감성 투명 산화물 반도체 재료를 이용한 이미지 센서
JP2011159671A (ja) 2010-01-29 2011-08-18 Oki Data Corp 半導体発光装置および画像表示装置
US20110204376A1 (en) * 2010-02-23 2011-08-25 Applied Materials, Inc. Growth of multi-junction led film stacks with multi-chambered epitaxy system
EP2366753B1 (en) * 2010-03-02 2015-06-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-Emitting Element and Lighting Device
US8866131B2 (en) * 2010-04-02 2014-10-21 Hitachi, Ltd. Organic light-emitting device and light source apparatus using same
CN102859726B (zh) * 2010-04-06 2015-09-16 首尔伟傲世有限公司 发光二极管及其制造方法
JP5725927B2 (ja) * 2010-05-18 2015-05-27 ソウル バイオシス カンパニー リミテッドSeoul Viosys Co.,Ltd. 高効率発光ダイオード及びその製造方法
KR101252032B1 (ko) 2010-07-08 2013-04-10 삼성전자주식회사 반도체 발광소자 및 이의 제조방법
DE112011102506B4 (de) * 2010-07-28 2021-03-25 Seoul Viosys Co., Ltd. Lichtemittierende Diode und lichtemittierende Diodeneinheit
US9178107B2 (en) 2010-08-03 2015-11-03 Industrial Technology Research Institute Wafer-level light emitting diode structure, light emitting diode chip, and method for forming the same
JP5333382B2 (ja) 2010-08-27 2013-11-06 豊田合成株式会社 発光素子
US9070851B2 (en) 2010-09-24 2015-06-30 Seoul Semiconductor Co., Ltd. Wafer-level light emitting diode package and method of fabricating the same
US8283215B2 (en) * 2010-10-13 2012-10-09 Monolithic 3D Inc. Semiconductor and optoelectronic devices
US9941319B2 (en) 2010-10-13 2018-04-10 Monolithic 3D Inc. Semiconductor and optoelectronic methods and devices
KR20120040011A (ko) 2010-10-18 2012-04-26 한국전자통신연구원 발광 다이오드
JP5777879B2 (ja) 2010-12-27 2015-09-09 ローム株式会社 発光素子、発光素子ユニットおよび発光素子パッケージ
CN102593303A (zh) * 2011-01-05 2012-07-18 晶元光电股份有限公司 具有栓塞的发光元件
US20120236532A1 (en) 2011-03-14 2012-09-20 Koo Won-Hoe Led engine for illumination
JP5854419B2 (ja) 2011-03-18 2016-02-09 国立大学法人山口大学 多波長発光素子及びその製造方法
FR2964498A1 (fr) * 2011-03-21 2012-03-09 Soitec Silicon On Insulator Empilement de led de couleur
WO2012128188A1 (en) * 2011-03-23 2012-09-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device and lighting device
JP5095840B2 (ja) * 2011-04-26 2012-12-12 株式会社東芝 半導体発光素子
WO2012147759A1 (ja) 2011-04-27 2012-11-01 Jx日鉱日石エネルギー株式会社 有機el素子用の光取出し透明基板及びそれを用いた有機el素子
TW201248945A (en) 2011-05-31 2012-12-01 Chi Mei Lighting Tech Corp Light-emitting diode device and method for manufacturing the same
US8884316B2 (en) 2011-06-17 2014-11-11 Universal Display Corporation Non-common capping layer on an organic device
US9309223B2 (en) * 2011-07-08 2016-04-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Heterocyclic compound, light-emitting element, light-emitting device, electronic device, and lighting device
US8927958B2 (en) 2011-07-12 2015-01-06 Epistar Corporation Light-emitting element with multiple light-emitting stacked layers
JP2013021175A (ja) * 2011-07-12 2013-01-31 Toshiba Corp 半導体発光素子
JP2013070030A (ja) 2011-09-06 2013-04-18 Sony Corp 撮像素子、電子機器、並びに、情報処理装置
US9070613B2 (en) * 2011-09-07 2015-06-30 Lg Innotek Co., Ltd. Light emitting device
DE102011116232B4 (de) * 2011-10-17 2020-04-09 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronischer Halbleiterchip und Verfahren zu dessen Herstellung
KR101902392B1 (ko) 2011-10-26 2018-10-01 엘지이노텍 주식회사 발광 소자
DE102011056888A1 (de) 2011-12-22 2013-06-27 Osram Opto Semiconductors Gmbh Anzeigevorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Anzeigevorrichtung
JP6095958B2 (ja) 2011-12-27 2017-03-15 新光電気工業株式会社 発光装置
CN102593290B (zh) 2012-01-18 2014-08-13 鄂尔多斯市荣泰光电科技有限责任公司 白光led外延片及其制作工艺以及白光led芯片的制作方法
TW201338232A (zh) 2012-03-02 2013-09-16 Innocom Tech Shenzhen Co Ltd 串接型有機電致發光模組
KR20130104612A (ko) 2012-03-14 2013-09-25 서울바이오시스 주식회사 발광 다이오드 및 그것을 제조하는 방법
US20130264587A1 (en) * 2012-04-04 2013-10-10 Phostek, Inc. Stacked led device using oxide bonding
US8835948B2 (en) * 2012-04-19 2014-09-16 Phostek, Inc. Stacked LED device with diagonal bonding pads
TW201344955A (zh) 2012-04-27 2013-11-01 Phostek Inc 發光二極體裝置
US9257665B2 (en) 2012-09-14 2016-02-09 Universal Display Corporation Lifetime OLED display
DE102012108763B4 (de) * 2012-09-18 2023-02-09 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Optoelektronischer halbleiterchip und lichtquelle mit dem optoelektronischen halbleiterchip
US8946052B2 (en) 2012-09-26 2015-02-03 Sandia Corporation Processes for multi-layer devices utilizing layer transfer
JP6384326B2 (ja) * 2012-10-31 2018-09-05 コニカミノルタ株式会社 有機エレクトロルミネッセンス素子
KR101931771B1 (ko) 2012-11-23 2019-03-14 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
DE102013112602B4 (de) * 2012-12-18 2020-11-12 Lg Display Co., Ltd. Weiße organische Lichtemissionsvorrichtung
US20140184062A1 (en) 2012-12-27 2014-07-03 GE Lighting Solutions, LLC Systems and methods for a light emitting diode chip
US20140191243A1 (en) 2013-01-08 2014-07-10 University Of Florida Research Foundation, Inc. Patterned articles and light emitting devices therefrom
US9443833B2 (en) * 2013-01-31 2016-09-13 Nthdegree Technologies Worldwide Inc. Transparent overlapping LED die layers
JP2014175427A (ja) * 2013-03-07 2014-09-22 Toshiba Corp 半導体発光素子及びその製造方法
TW201438188A (zh) * 2013-03-25 2014-10-01 Miracle Technology Co Ltd 堆疊式發光二極體陣列結構
DE112014002456B4 (de) * 2013-05-17 2017-07-13 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Organisches elektrolumineszierendes Element und Beleuchtungs-Einrichtung
CN105230124A (zh) * 2013-05-17 2016-01-06 松下知识产权经营株式会社 有机电致发光元件
JP2015012044A (ja) 2013-06-26 2015-01-19 株式会社東芝 半導体発光素子
KR102050461B1 (ko) 2013-06-28 2019-11-29 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 소자
JP2015012244A (ja) * 2013-07-01 2015-01-19 株式会社東芝 半導体発光素子
TWI727366B (zh) * 2013-08-09 2021-05-11 日商半導體能源研究所股份有限公司 發光元件、顯示模組、照明模組、發光裝置、顯示裝置、電子裝置、及照明裝置
DE102013109451B9 (de) * 2013-08-30 2017-07-13 Osram Oled Gmbh Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements
JP2016540347A (ja) 2013-11-15 2016-12-22 ロッキード・マーティン・アドバンスト・エナジー・ストレージ・エルエルシーLockheed Martin Advanced Energy Storage, LLC レドックスフロー電池の充電状態確定方法及び基準電極の較正方法
JP6497647B2 (ja) 2013-12-24 2019-04-10 パナソニックIpマネジメント株式会社 表示装置及び表示装置の製造方法
KR101452801B1 (ko) 2014-03-25 2014-10-22 광주과학기술원 발광다이오드 및 이의 제조방법
KR20150121306A (ko) 2014-04-18 2015-10-29 포항공과대학교 산학협력단 질화물 반도체 발광소자 및 이의 제조방법
KR20150131522A (ko) * 2014-05-15 2015-11-25 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 소자 디스플레이 패널
US9831387B2 (en) 2014-06-14 2017-11-28 Hiphoton Co., Ltd. Light engine array
KR20160035102A (ko) * 2014-08-21 2016-03-31 주식회사 세미콘라이트 반도체 발광소자
JP2016027361A (ja) 2014-07-01 2016-02-18 株式会社リコー エレクトロクロミック表示装置およびその製造方法、駆動方法
GB201413578D0 (en) 2014-07-31 2014-09-17 Infiniled Ltd A colour iled display on silicon
JP6351520B2 (ja) 2014-08-07 2018-07-04 株式会社東芝 半導体発光素子
JP6413460B2 (ja) 2014-08-08 2018-10-31 日亜化学工業株式会社 発光装置及び発光装置の製造方法
KR20160027875A (ko) 2014-08-28 2016-03-10 서울바이오시스 주식회사 발광소자
US9799719B2 (en) 2014-09-25 2017-10-24 X-Celeprint Limited Active-matrix touchscreen
KR101888608B1 (ko) 2014-10-17 2018-09-20 엘지이노텍 주식회사 발광 소자 패키지 및 조명 장치
US10381335B2 (en) * 2014-10-31 2019-08-13 ehux, Inc. Hybrid display using inorganic micro light emitting diodes (uLEDs) and organic LEDs (OLEDs)
US9847051B2 (en) 2014-11-04 2017-12-19 Apple Inc. Organic light-emitting diode display with minimized subpixel crosstalk
US9698134B2 (en) 2014-11-27 2017-07-04 Sct Technology, Ltd. Method for manufacturing a light emitted diode display
US20160163940A1 (en) 2014-12-05 2016-06-09 Industrial Technology Research Institute Package structure for light emitting device
KR102402260B1 (ko) 2015-01-08 2022-05-27 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 발광 소자 패키지
KR102434778B1 (ko) 2015-03-26 2022-08-23 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 발광 소자 패키지
KR102038443B1 (ko) 2015-03-26 2019-10-30 엘지이노텍 주식회사 발광 소자 및 발광 소자 패키지
KR101771461B1 (ko) 2015-04-24 2017-08-25 엘지전자 주식회사 반도체 발광 소자를 이용한 디스플레이 장치 및 이의 제조방법
JP6668608B2 (ja) * 2015-04-27 2020-03-18 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法
JP6637674B2 (ja) 2015-04-30 2020-01-29 信越化学工業株式会社 プリント配線板、プリント配線板の製造方法、及び半導体装置
CN104952995B (zh) 2015-05-05 2017-08-25 湘能华磊光电股份有限公司 一种iii族半导体发光器件的倒装结构
US20160336482A1 (en) * 2015-05-12 2016-11-17 Epistar Corporation Light-emitting device
DE102015108545A1 (de) 2015-05-29 2016-12-01 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements
DE102015108532A1 (de) 2015-05-29 2016-12-01 Osram Opto Semiconductors Gmbh Anzeigevorrichtung mit einer Mehrzahl getrennt voneinander betreibbarer Bildpunkte
JP2016225221A (ja) 2015-06-02 2016-12-28 コニカミノルタ株式会社 電界発光素子
KR102410028B1 (ko) 2015-06-24 2022-06-15 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 이를 포함하는 전자 장치
JP2017011202A (ja) 2015-06-25 2017-01-12 京セラ株式会社 発光装置
TWI577042B (zh) * 2015-07-15 2017-04-01 南臺科技大學 發光二極體晶片及數據發射及接收裝置
KR102594189B1 (ko) 2015-08-18 2023-10-26 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 발광 소자, 이 소자를 포함하는 발광 소자 패키지 및 이 패키지를 포함하는 발광 장치
KR102415331B1 (ko) 2015-08-26 2022-06-30 삼성전자주식회사 발광 소자 패키지, 및 이를 포함하는 장치
KR102443035B1 (ko) 2015-09-02 2022-09-16 삼성전자주식회사 Led 구동 장치 및 그를 포함하는 조명 장치
US10032757B2 (en) 2015-09-04 2018-07-24 Hong Kong Beida Jade Bird Display Limited Projection display system
US10304811B2 (en) 2015-09-04 2019-05-28 Hong Kong Beida Jade Bird Display Limited Light-emitting diode display panel with micro lens array
KR102460072B1 (ko) 2015-09-10 2022-10-31 삼성전자주식회사 반도체 발광 소자
KR102406606B1 (ko) 2015-10-08 2022-06-09 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 소자, 이를 포함하는 유기 발광 표시 장치, 및 이의 제조 방법
KR101739851B1 (ko) 2015-10-30 2017-05-25 주식회사 썬다이오드코리아 파장변환구조체를 포함하는 발광 소자
US10304813B2 (en) 2015-11-05 2019-05-28 Innolux Corporation Display device having a plurality of bank structures
KR102546307B1 (ko) 2015-12-02 2023-06-21 삼성전자주식회사 발광 소자 및 이를 포함하는 표시 장치
KR20170082187A (ko) 2016-01-05 2017-07-14 삼성전자주식회사 백색 발광장치 및 디스플레이 장치
KR102413447B1 (ko) * 2016-01-08 2022-06-27 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 발광소자
US20170213989A1 (en) 2016-01-22 2017-07-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Organometallic complex, light-emitting element, light-emitting device, electronic device, and lighting device
TWI581455B (zh) 2016-01-29 2017-05-01 友達光電股份有限公司 發光裝置及發光裝置之製造方法
KR102524805B1 (ko) 2016-02-12 2023-04-25 삼성전자주식회사 광원 모듈, 디스플레이 패널 및 이를 구비한 디스플레이 장치
WO2017145026A1 (en) * 2016-02-23 2017-08-31 Silanna UV Technologies Pte Ltd Resonant optical cavity light emitting device
KR102328852B1 (ko) * 2016-02-24 2021-11-22 삼성디스플레이 주식회사 유기발광소자
WO2017146477A1 (ko) 2016-02-26 2017-08-31 서울반도체주식회사 디스플레이 장치 및 그의 제조 방법
DE102016104280A1 (de) * 2016-03-09 2017-09-14 Osram Opto Semiconductors Gmbh Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines Bauelements
KR20170108321A (ko) * 2016-03-17 2017-09-27 주식회사 루멘스 발광 다이오드
KR102517336B1 (ko) 2016-03-29 2023-04-04 삼성전자주식회사 디스플레이 패널 및 이를 구비한 멀티비전 장치
CN205944139U (zh) 2016-03-30 2017-02-08 首尔伟傲世有限公司 紫外线发光二极管封装件以及包含此的发光二极管模块
CN105789237A (zh) 2016-04-25 2016-07-20 京东方科技集团股份有限公司 Led显示模组、显示装置及显示模组的制作方法
JP6683003B2 (ja) 2016-05-11 2020-04-15 日亜化学工業株式会社 半導体素子、半導体装置及び半導体素子の製造方法
KR20170129983A (ko) 2016-05-17 2017-11-28 삼성전자주식회사 발광소자 패키지, 이를 이용한 디스플레이 장치 및 그 제조방법
US10388691B2 (en) * 2016-05-18 2019-08-20 Globalfoundries Inc. Light emitting diodes (LEDs) with stacked multi-color pixels for displays
CN107437551B (zh) 2016-05-25 2020-03-24 群创光电股份有限公司 显示装置及其制造方法
KR20160073366A (ko) * 2016-06-14 2016-06-24 주식회사 세미콘라이트 반도체 발광소자
EP3297044A1 (en) 2016-09-19 2018-03-21 Nick Shepherd Improved led emitter, led emitter array and method for manufacturing the same
CN106449659B (zh) 2016-11-11 2019-06-07 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其制造方法、显示器
KR102642304B1 (ko) * 2016-11-28 2024-02-28 삼성전자주식회사 광전자 소자 및 전자 장치
US11287563B2 (en) 2016-12-01 2022-03-29 Ostendo Technologies, Inc. Polarized light emission from micro-pixel displays and methods of fabrication thereof
US10400958B2 (en) 2016-12-30 2019-09-03 Lumileds Llc Addressable color changeable LED structure
CN106898601A (zh) 2017-02-15 2017-06-27 佛山市国星光电股份有限公司 三角形组合的led线路板、三角形led器件及显示屏
WO2018156876A1 (en) 2017-02-24 2018-08-30 Kim, Jeehwan Methods and apparatus for vertically stacked multicolor light-emitting diode (led) display
CN106848043A (zh) 2017-03-28 2017-06-13 光创空间(深圳)技术有限公司 一种led器件的封装方法及led器件
TWI699496B (zh) 2017-03-31 2020-07-21 億光電子工業股份有限公司 發光裝置和照明模組
TWI613806B (zh) 2017-05-16 2018-02-01 錼創科技股份有限公司 微型發光二極體裝置及顯示面板
KR20190001050A (ko) 2017-06-26 2019-01-04 주식회사 루멘스 칩 적층 구조를 갖는 led 픽셀 소자
KR102503578B1 (ko) 2017-06-30 2023-02-24 엘지전자 주식회사 반도체 발광 소자를 이용한 디스플레이 장치
CN109216329B (zh) * 2017-07-07 2020-09-08 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 微型led显示面板及其制备方法
KR102476136B1 (ko) 2017-09-05 2022-12-09 삼성전자주식회사 Led를 이용한 디스플레이 장치
US11282981B2 (en) 2017-11-27 2022-03-22 Seoul Viosys Co., Ltd. Passivation covered light emitting unit stack
KR102509639B1 (ko) 2017-12-12 2023-03-15 삼성전자주식회사 발광소자 패키지 제조방법
WO2019147738A1 (en) 2018-01-23 2019-08-01 Light Share, LLC Full-color monolithic micro-led pixels
US11508876B2 (en) 2018-12-31 2022-11-22 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device package and display device having the same

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001273979A (ja) 1994-12-13 2001-10-05 Trustees Of Princeton Univ オーガニック発光構造
JP2012253046A (ja) 2001-11-06 2012-12-20 Universal Display Corp 多層ミラーとして機能する封止構造を有する有機発光デバイス構造体
US20090078955A1 (en) 2007-09-26 2009-03-26 Iii-N Technlogy, Inc Micro-Emitter Array Based Full-Color Micro-Display
US20100159792A1 (en) 2008-12-22 2010-06-24 Vitex Systems, Inc. Encapsulated white oleds having enhanced optical output
US20120231572A1 (en) 2010-10-13 2012-09-13 Zvi Or-Bach Method for fabricating novel semiconductor and optoelectronic devices
JP2013229218A (ja) 2012-04-26 2013-11-07 Konica Minolta Inc 表示装置
US20170288093A1 (en) 2016-04-04 2017-10-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Led light source module and display device

Also Published As

Publication number Publication date
EP3923328A1 (en) 2021-12-15
KR20200085770A (ko) 2020-07-15
EP3923327A1 (en) 2021-12-15
CN111223845A (zh) 2020-06-02
US20210335887A1 (en) 2021-10-28
EP3913670A1 (en) 2021-11-24
JP2021504752A (ja) 2021-02-15
EP3718139A1 (en) 2020-10-07
US20200328250A1 (en) 2020-10-15
CN110828435A (zh) 2020-02-21
US11532664B2 (en) 2022-12-20
EP3718139A4 (en) 2021-10-13
US20190165038A1 (en) 2019-05-30
WO2019103579A1 (en) 2019-05-31
US20210335886A1 (en) 2021-10-28
CN110690248A (zh) 2020-01-14
BR112020010671A2 (pt) 2020-11-10
EP3913668A1 (en) 2021-11-24
US11563052B2 (en) 2023-01-24
EP3913669A1 (en) 2021-11-24
US20230223424A1 (en) 2023-07-13
US10892297B2 (en) 2021-01-12
US20210351230A1 (en) 2021-11-11
US11610939B2 (en) 2023-03-21
CN110729283A (zh) 2020-01-24
CN110192276A (zh) 2019-08-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7345469B2 (ja) ディスプレイ装置
JP7221967B2 (ja) ディスプレイ用のledスタックを有する発光素子及びそれを有するディスプレイ装置
JP7221964B2 (ja) ディスプレイ用ledスタックを備えた発光素子およびこれを備えたディスプレイ装置
JP7206276B2 (ja) ディスプレイ用ledユニットおよびこれを有するディスプレイ装置
US20230143510A1 (en) Led unit for display and display apparatus having the same
CN111180479B (zh) 用于显示器的发光元件和具有其的显示装置
US12009384B2 (en) Light emitting diode (LED) stack for a display
US20240186300A1 (en) Light emitting device with led stack for display and display apparatus having the same

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20211011

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220914

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220920

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20221212

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230220

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20230307

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230706

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20230718

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230808

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230905

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7345469

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150