JP5388331B2 - ポリオルガノシロキサン組成物 - Google Patents
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Description
近年、半導体装置の製造工程では、主に構成要素の材質や構造設計上の理由から、上記熱硬化処理をより低い温度で行うことが可能な材料への要求が高まっている。しかしながら、従来のポリイミド樹脂前駆体組成物の場合、硬化処理温度を下げると熱イミド化を完結させることが出来ず、各種の硬化膜物性が低下するため、硬化処理温度の下限はせいぜい300℃前後であった。
(a)下記一般式(1)で示される少なくとも1種のシラノール化合物、下記一般式(2)で示される少なくとも1種のアルコキシシラン化合物、並びに下記一般式(3)で示される金属アルコキシド、下記一般式(4)で示される金属アルコキシド及びBa(OH)2からなる群より選択される少なくとも1つの触媒を混合し、積極的に水を添加することなく重合される方法で得られる、ポリオルガノシロキサン100質量部。
(b)光重合開始剤0.1〜20質量部。
(c)光重合性の不飽和結合基を2つ以上有する、(a)成分以外の化合物1〜100質量部。
(a)ポリオルガノシロキサン
本発明の組成物に用いられるポリオルガノシロキサンは、下記一般式(1)で示される、少なくとも1種のシラノール化合物と、同じく下記一般式(2)で示される、少なくとも1種のアルコキシシラン化合物と、同じく下記一般式(3)で示される、少なくとも1種の触媒とを混合し、積極的に水を添加することなく重合させる方法で得られるものである。
この際、上記一般式(3)で示される触媒の全てか、もしくはその一部を、下記一般式(4)で示される少なくとも1種の触媒に置き換えても良い。
また、上記一般式(3)で示される触媒の全てか、もしくはその一部を、Ba(OH)2に置き換えても良い。
この際、上記化学構造のうち、(6)を(7)に、(8)を(9)に、(10)を(11)に、それぞれ全て、もしくはその一部を置き換えることも可能である。ここで、Mはケイ素、ゲルマニウム、チタニウム、ジルコニウムのいずれかを示し、R’’’は炭素数1〜4のルキル基であり、M’はホウ素またはアルミニウムを示し、R’’’’は炭素数1〜4のアルキル基示す。
本発明の組成物には、感光性を付与する目的で、光重合開始剤を添加することが重要である。好ましいものとしては365nmに吸収を持つ以下の化合物が挙げられる。
(1)ベンゾフェノン、4,4’−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、o−ベンゾイル安息香酸メチル、4−ベンゾイル−4’−メチルジフェニルケトン、ジベンジルケトン、フルオレノンなどのベンゾフェノン誘導体
(2)2,2’−ジエトキシアセトフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオフェノン、2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モフォリノプロパン−1−オン、2−ヒドロキシ−1−{4−[4−(2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオニル)−ベンジル]−フェニル}−2−メチルプロパン−1−オン、フェニルグリオキシル酸メチルなどのアセトフェノン誘導体
(3)チオキサントン、2−メチルチオキサントン、2−イソプロピルチオキサントン、ジエチルチオキサントンなどのチオキサントン誘導体
(4)ベンジル、ベンジルジメチルケタール、ベンジル−β−メトキシエチルアセタールなどのベンジル誘導体
(5)ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、2−ヒドロキシ−2−メチル−1フェニルプロパン−1−オン、などのベンゾイン誘導体
(6)1−フェニル−1,2−ブタンジオン−2−(O-メトキシカルボニル)オキシム、1−フェニル−1,2−プロパンジオン−2−(O−メトキシカルボニル)オキシム、1−フェニル−1,2−プロパンジオン−2−(O−エトキシカルボニル)オキシム、1−フェニル−1,2−プロパンジオン−2−(O−ベンゾイル)オキシム、1,3−ジフェニルプロパントリオン−2−(O−エトキシカルボニル)オキシム、1−フェニル−3−エトキシプロパントリオン−2−(O−ベンゾイル)オキシム、1,2−オクタンジオン,1−[4−(フェニルチオ)−2−(O−ベンゾイルオキシム)]、エタノン,1−[9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル]−,1−(O−アセチルオキシム)などのオキシム系化合物
(7)2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、1−[4−(2−ヒドロキシエトキシ)フェニル]−2−ヒドロキシ−2−メチル−1−プロパン−1−オン、2−ヒドロキシ−1−{4−[4−(2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオニル)−ベンジル]フェニル}−2−メチルプロパン、などのα−ヒドロキシケトン系化合物
(8)2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノン−1(IRGACURE369)、2−ジメチルアミノ−2−(4−メチルベンジル)−1−(4−モルフォリン−4−イル−フェニル)ブタン−1−オンなどのα−アミノアルキルフェノン系化合物
(9)ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フェニルフォスフィンオキサイド、ビス(2,6−ジメトキシベンゾイル)−2,4,4−トリメチル−ペンチルフォスフィンオキサイド、2,4,6−トリメチルベンゾイル−ジフェニル−フォスフィンオキサイドなどのフォスフィンオキサイド系化合物
(10)ビス(η5−2,4−シクロペンタジエン−1−イル)−ビス(2,6−ジフルオロ−3−(1H−ピロール−1−イル)フェニル)チタニウムなどのチタノセン化合物
(11)エチル−p−(N,N−ジメチルアミノベンゾエイト)などのベンゾエイト化合物
(12)9−フェニルアクリジンなどのアクリジン誘導体
などが好ましく挙げられる。また、これらの使用にあたっては、単独でも2種以上の混合物でもかまわない。
(c)光重合性の不飽和結合基を2つ以上有する、(a)成分以外の化合物
本発明の組成物には、製膜特性や感光特性並びに硬化後の力学特性を改善する目的で、光重合性の不飽和結合基を2つ以上有する、(a)成分以外の化合物を添加することが重要である。このようなモノマーとしては、光重合開始剤の作用により重合可能な多官能(メタ)アクリル酸エステル系化合物が好ましく、例えば、ポリエチレングリコールジアクリレート[エチレングリコールユニットの数2〜20]、ポリエチレングリコールジメタクリレート[エチレングリコールユニットの数2〜20]、ポリ(1,2−プロピレングリコール)ジアクリレート[1,2−プロピレングリコールユニット数2〜20]、ポリ(1,2−プロピレングリコール)ジメタクリレート[1,2−プロピレングリコールユニット数2〜20]、ポリテトラメチレングリコールジアクリレート[テトラメチレングリコールユニット数2〜10]、ポリテトラメチレングリコールジメタクリレート[テトラメチレングリコールユニット数2〜10]、1,4−シクロヘキサンジアクリレート、1,4−シクロヘキサンジメタクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレート、エトキシ化トリメチロールプロパントリアクリレート[エチレングリコールユニットの数2〜20]、トリメチロールプロパントリメタクリレート、トリ−2−ヒドロキシエチルイソシアヌレートトリアクリレート、トリ−2−ヒドロキシエチルイソシアヌレートトリメタクリレート、グリセロールジアクリレート、グリセロールジメタクリレート、ジトリメチロールプロパントリアクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラアクリレート、ジペンタエリスリトールペンタアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート、メチレンビスアクリルアミド、エチレングリコールジグリシジルエーテル−メタクリル酸付加物、グリセロールジグリシジルエーテル−アクリル酸付加物、ビスフェノールAジグリシジルエーテル−アクリル酸付加物、ビスフェノールAジグリシジルエーテル−メタクリル酸付加物、エトキシ化ビスフェノールAジアクリレート[エチレングリコールユニットの数2〜30]、エトキシ化ビスフェノールAジメタクリレート[エチレングリコールユニットの数4〜30]、N,N’−ビス(2−メタクリロイルオキシエチル)尿素などが挙げられる。
(d)シリコーンレジン
本発明の組成物においては、ソフトベーク後のコーティング膜のタック性や流動性を改善する目的で、シリコーンレジンを添加することができる。ここでいうシリコーンレジンとは、例えば、日刊工業新聞社刊「シリコーンハンドブック」(1990)に記されている、アルコキシシリル基やクロロシリル基などの加水分解性基を2〜4個有するオルガノシラン化合物を共加水分解し重合して得られる三次元網目構造をとったポリマーのことを指す。なお、本発明における(a)成分はシリコ−ンレジンには該当しないものとする。
(e)有機ケイ素化合物
本発明の組成物においては、各種基材とも密着性を向上させる目的で、有機ケイ素化合物を添加することが出来る。有機ケイ素化合物としては、下記一般式(2)で表される化合物を添加しても良い。
具体的には、以下のようなものが挙げられる。(以下、アルコキシの表記はメトキシ基又はエトキシ基のことを指す。)ビニルトリアルコキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリアルコキシシラン、3−グリシドキプロピルトリアルコキシシラン、3−グリシドキプロピルメチルジアルコキシシラン、p−スチリルトリアルコキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリアルコキシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジアルコキシラン、3−アクリロキシプロピルトリアルコキシラン、3−アクリロキシプロピルメチルジアルコキシラン、N−2(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリアルコキシシラン、N−2(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジアルコキシシラン、3−アミノプロピルトリアルコキシシラン、3−トリアルコキシシリル−N−(1.3−ジメチル−ブチリデン)プロピルアミン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリアルコキシシラン、3−ウレイドプロピルトリアルコキシシラン、3−ウレイドプロピルメチルジアルコキシシラン、3−メルカプトプロピルトリアルコキシシラン、3−メルカプトプロピルメチルジアルコキシシラン、ビス(トリアルコキシシリルプロピル)テトラスルフィド、3−イソシアナトプロピルトリアルコキシシランである。
(f)溶媒
本発明の組成物においては、溶媒を添加して粘度を調整することもできる。好適な溶媒としては、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチル−2−ピロリドン(以下、「NMP」ともいう。)、N−エチル−2−ピロリドン、テトラヒドロフラン、N,N−ジメチルアセトアミド(以下、「DMAc」ともいう。)、ジメチルスルホキシド、ヘキサメチルホスホルアミド、ピリジン、シクロペンタノン、γ−ブチロラクトン(以下、「GBL」ともいう。)、α−アセチル−γ−ブチロラクトン、テトラメチル尿素、1,3−ジメチル−2−イミダゾリノン、N−シクロヘキシル−2−ピロリドン、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、アニソール、酢酸エチル、乳酸エチル、乳酸ブチルなどが挙げられ、これらは単独または二種以上の組合せで用いることができる。これらの中でも、N−メチル−2−ピロリドンやγ−ブチロラクトン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートが、特に好ましい。これらの溶媒は、塗布膜厚、粘度に応じて、本発明の組成物に適宜加えることができるが、本発明の(a)成分に対して、5〜100質量部の範囲で用いることが好ましい。
(g)その他の添加剤
本発明の組成物には、所望に応じ、光感度向上のための増感剤を添加することができる。このような増感剤としては、例えば、ミヒラーズケトン、4,4’−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、2,5−ビス(4’−ジエチルアミノベンジリデン)シクロペンタノン、2,6−ビス(4’−ジエチルアミノベンジリデン)シクロヘキサノン、2,6−ビス(4’−ジメチルアミノベンジリデン)−4−メチルシクロヘキサノン、2,6−ビス(4’−ジエチルアミノベンジリデン)−4−メチルシクロヘキサノン、4,4’−ビス(ジメチルアミノ)カルコン、4,4’−ビス(ジエチルアミノ)カルコン、2−(4’−ジメチルアミノシンナミリデン)インダノン、2−(4’−ジメチルアミノベンジリデン)インダノン、2−(p−4’−ジメチルアミノビフェニル)ベンゾチアゾール、1,3−ビス(4−ジメチルアミノベンジリデン)アセトン、1,3−ビス(4−ジエチルアミノベンジリデン)アセトン、3,3’−カルボニル−ビス(7−ジエチルアミノクマリン)、3−アセチル−7−ジメチルアミノクマリン、3−エトキシカルボニル−7−ジメチルアミノクマリン、3−ベンジロキシカルボニル−7−ジメチルアミノクマリン、3−メトキシカルボニル−7−ジエチルアミノクマリン、3−エトキシカルボニル−7−ジエチルアミノクマリン、N−フェニル−N−エチルエタノールアミン、N−フェニルジエタノールアミン、N−p−トリルジエタノールアミン、N−フェニルエタノールアミン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)アニリン、4−モルホリノベンゾフェノン、4−ジメチルアミノ安息香酸イソアミル、4−ジエチルアミノ安息香酸イソアミル、ベンズトリアゾール、2−メルカプトベンズイミダゾール、1−フェニル−5−メルカプト−1,2,3,4−テトラゾール、1−シクロヘキシル−5−メルカプト−1,2,3,4−テトラゾール、1−(tert−ブチル)−5−メルカプト−1,2,3,4−テトラゾール、2−メルカプトベンゾチアゾール、2−(p−ジメチルアミノスチリル)ベンズオキサゾール、2−(p−ジメチルアミノスチリル)ベンズチアゾール、2−(p−ジメチルアミノスチリル)ナフト(1,2−p)チアゾール、2−(p−ジメチルアミノベンゾイル)スチレンなどが挙げられる。また、使用にあたっては、単独でも2種以上の混合物でもかまわない。その添加量は、他の添加剤成分量との兼ね合いもあるが、本発明の(a)成分に対して0.1〜10質量部であることが好ましく、1〜5質量部であることがより好ましい。
<硬化レリーフパターン及びポリオルガノシロキサン膜の形成方法>
次に、本発明の組成物を用いて硬化レリーフパターンを形成する方法の好適例を以下に示す。
<成形物用の型を利用したマイクロプラスチックレンズ及び液晶偏光板用光学素子の製造方法>
本発明の感光性樹脂組成物を密着性良くガラス基板に金属型を使用して形成する方法を以下に述べる。マイクロプラスチックレンズ及び液晶偏光板用光学素子は、型の大きさ、種類が異なるだけであり、製造方法は同じである。
<マスクを使用してのマイクロプラスチックレンズ製造方法>
本発明のシロキサン構造を有する透明感光性樹脂組成物を密着性良くガラス基板またはシリコン基板(以下、基板という。)にマスクを使用してマイクロプラスチックレンズを形成する方法を以下に述べる。
[合成例1]
(ポリオルガノシロキサンP−1の合成)
水冷コンデンサーおよびバキュームシール付き撹拌羽根を装着した容量2リットルの丸底フラスコに、ジフェニルシランジオール(以下DPD)540.78g(2.5mol)、3−メタクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン(以下MEMO)577.41g(2.325mol)、テトラ−isoプロポキシチタン(以下TIP)24.87g(0.0875mol)を仕込み、撹拌を開始した。これをオイルバスに浸け、加熱温度を120℃に設定し、室温より加熱を開始した。途中、重合反応の進行に伴って発生するメタノールを水冷コンデンサーで還留させつつ、反応溶液温度が一定となるまで反応させ、その後更に30分間、加熱撹拌を継続した。
[合成例2]
(ポリオルガノシロキサンP−2の合成)
水冷コンデンサーおよびバキュームシール付き撹拌羽根を装着した容量2リットルの丸底フラスコに、DPDを432.62g(2.0mol)、MEMOを495.71g(1.996mol)、TIPを0.568g(0.002mol)、水酸化ナトリウムを0.16g(0.004mol)を仕込み、撹拌を開始した。これをオイルバスに浸け、加熱温度を80℃に設定し、室温より加熱を開始した。途中、重合反応の進行に伴って発生するメタノールを水冷コンデンサーで還留させつつ、反応溶液温度が一定となるまで反応させ、その後更に30分間、加熱撹拌を継続した。
[合成例3]
(ポリオルガノシロキサンP−3の合成)
合成例1におけるTIPをテトラ−isoプロポキシジルコニウムとした以外は合成例1と同様にして、ポリオルガノシロキサンP−3(23℃における粘度78ポイズ)を得た。
[合成例4]
(ポリオルガノシロキサンP−4の合成)
合成例1におけるMEMOを565.0g(2.275mol)、TIPをトリ−isoプロポキシアルミニウム30.63g(0.15mol)とした以外は合成例1と同様にして、ポリオルガノシロキサンP−4(23℃における粘度122ポイズ)を得た。
[合成例5]
(ポリオルガノシロキサンP−5の合成)
合成例2におけるMEMOを496.7g(2.0mol)とし、TIPを添加せず、水酸化ナトリウムのみを触媒として重合した以外は合成例2と同様の操作を行い、ポリオルガノシロキサンP−5(メタノール留去直後の23℃での粘度52ポイズ)を得た。このものはイオン交換処理前から僅かに白濁した状態であったが、メタノール留去後には更に白濁化が進行し、室温で一昼夜放置した後には白色微粉結晶状の沈殿を伴った。また、合成例2と同様にしたICP−MSイオン分析の結果、P−5中のナトリウムイオン濃度は1ppm未満であった。
[合成例6]
(ポリアミドP−6の合成)
容量5Lのセパラブルフラスコに、ジフェニルエーテル−3,3’,4,4’−テトラカルボン酸二無水物310.22g(1.00mol)、2−ヒドロキシエチルメタクリレート270.69g(2.08mol)、ピリジン158.2g(2.00mol)、ガンマーブチロラクトン1000gを投入、混合し、常温で16時間撹拌放置した。これに、ジシクロヘキシルカルボジイミド400.28g(1.94mol)をガンマーブチロラクトン400gに溶解希釈したものを、氷冷下、30分ほどかけて滴下投入し、続いて4,4’−ジアミノジフェニルエーテル185.97g(0.93mol)をガンマーブチロラクトン650gに分散させたものを、60分ほどかけて加えた。氷冷のまま3時間撹拌し、その後エタノールを50g加え、氷冷バスを取り外し、更に1時間撹拌放置した。上記プロセスで析出してきた固形分(ジシクロヘキシルウレア)を加圧濾別した後、反応液を40Lのエタノールに滴下投入し、その際析出する重合体を分離、洗浄し、50℃で24時間真空乾燥することにより、ポリアミドP−6を得た。ポリスチレン換算GPC重量平均分子量(テトラヒドロフラン中)は25500であった。
[実施例1]
(ポリオルガノシロキサン組成物C−1の調整)
合成例1で得られたポリオルガノシロキサンP−1を100質量部、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノン−1を4質量部、4,4’−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノンを1質量部、ポリテトラメチレングリコールジメタクリレート(テトラメチレングリコールユニット数8;日本油脂製PDT−650)を10質量部、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシランを5質量部、それぞれ計量混合し、孔径0.2ミクロンのテフロン(登録商標)製フィルターでろ過し、ワニス状のポリオルガノシロキサン組成物C−1を得た。
[実施例2]
(ポリオルガノシロキサン組成物C−2の調整)
合成例1で得られたポリオルガノシロキサンP−1を100質量部、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノン−1を4質量部、4,4’−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノンを1質量部、ポリテトラメチレングリコールジメタクリレート(テトラメチレングリコールユニット数8 日本油脂製PDT−650)を30質量部、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシランを10質量部、シリコーンレジン(東レ・ダウコーニング製217フレーク)を150質量部、N−メチル−2−ピロリドンを40質量部、それぞれ計量混合し、孔径0.2ミクロンのテフロン(登録商標)製フィルターでろ過し、ワニス状のポリオルガノシロキサン組成物C−2を得た。
[実施例3]
(ポリオルガノシロキサン組成物C−3の調整)
ポリオルガノシロキサンとして合成例2のP−2を用いた以外は実施例2と同様にして、ポリオルガノシロキサンC−3を得た。
[実施例4]
(ポリオルガノシロキサン組成物C−4の調整)
ポリオルガノシロキサンとして合成例3のP−3を用いた以外は実施例2と同様にして、ポリオルガノシロキサンC−4を得た。
[実施例5]
(ポリオルガノシロキサン組成物C−5の調整)
ポリオルガノシロキサンとして合成例4のP−4を用いた以外は実施例2と同様にして、ポリオルガノシロキサンC−5を得た。
[比較例1]
(ポリオルガノシロキサン組成物C−6の調整)
ポリオルガノシロキサンとして合成例5のP−5を用いた以外は実施例2と同様にして計量混合した。その後孔径0.2ミクロンのテフロン(登録商標)製フィルターでろ過しようとしたが、途中でポリオルガノシロキサンP−5由来の白濁成分が原因と思われる目詰まりを起こし、濾過不能となり、その後の操作を断念した。
[比較例2]
(ポリオルガノシロキサン組成物C−7の調整)
実施例1の組成からポリテトラメチレングリコールジメタクリレート(テトラメチレングリコールユニット数8 日本油脂製PDT−650)を除いた以外は実施例1と同様にして、ワニス状のポリオルガノシロキサン組成物C−7を得た。
[比較例3]
(感光性ポリアミド組成物C−8の調整)
合成例6で得られた感光性ポリアミドP−6を100質量部、1,3−ジフェニルプロパントリオン−2−(O−エトキシカルボニル)オキシム4質量部、1−フェニル−5−メルカプト−1,2,3,4−テトラゾール1質量部、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)アニリン3質量部、N−ニトロソジフェニルアミン0.05質量部、テトラエチレングリコールジメタクリレート4質量部、N−メチル−2−ピロリドン240質量部を混合溶解させ、孔径0.2ミクロンのテフロン(登録商標)フィルターでろ過し、ワニス状の感光性ポリアミド組成物C−8を得た。
(タック性評価)
本発明の実施例、比較例で得られたワニス状の感光性組成物を、スピンコーター(東京エレクトロン製 型式名クリーントラックマーク7)を用いて5インチシリコンウエハー上に塗布し、125℃で12分間ソフトベークし、初期膜厚44ミクロンの塗膜を得た。
(リソグラフィー評価)
上記と同様にして得た塗膜に、i線ステッパー露光機(ニコン製 型式名NSR2005i8A)により、CMOSイメージセンサーのレンズアレイ保護用スペーサー構造を模した格子状パターンをデザインした評価用フォトマスクを通して、露光量を100〜900mJ/cm2の範囲で横方向に100mJ/cm2ずつ、フォーカスを16ミクロンから32ミクロンの範囲で縦方向に2ミクロンずつ、それぞれ段階的に変化させて露光した。露光から30分後、実施例1〜5及び比較例2〜3の組成物より得られた塗膜に関しては、現像液としてプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを用いて、未露光部が完全に溶解消失するまでの時間に1.4を乗じた時間の回転スプレー現像を施し、引き続きイソプロパノールで10秒間回転スプレーリンスし、格子状のレリーフパターンを得た。比較例3の組成物より得られた塗膜に関しては、現像液としてシクロペンタノンを、リンス液としてプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを用い、上記と同様の現像、リンス処理を施して格子状のレリ−フパターンを得た。
(低温硬化特性;硬化フィルムの引張り伸度の評価)
上記実施例、比較例の各組成物を、上述のリソグラフィー評価と同様にして、5インチシリコンウェハー上にアルミニウムを真空蒸着した基材上に塗布、ソフトベークした後、縦型キュア炉(光洋サーモシステム製、形式名VF−2000B)を用いて、窒素雰囲気下、180℃で2時間の加熱硬化処理を施し、硬化後膜厚15μmの樹脂膜を作製した。この樹脂膜を、ダイシングソー(ディスコ製、型式名DAD−2H/6T)を用いて3.0mm幅にカットし、10%塩酸水溶液に浸漬してシリコンウェハー上から剥離し、短冊状のフィルムサンプルとした。
(デガス性 5%重量減少温度および150℃均熱重量減少率の評価)
上記引っ張り伸度評価用に調整した短冊状のフィルムサンプルを用い、2つの方法によりデガス性を評価した。いずれも結果を表2に示す。
1)5%重量減少温度
熱重量減少測定装置(島津製、形式名TGA−50)を用い、5%の重量減少を指し示す温度を測定した。測定条件は、測定温度範囲25℃〜450℃、昇温速度10℃/min、窒素雰囲気である。
2)150℃均熱重量減少率
同じくTGA−50を用い、150℃均熱処理時における重量減少率(単位%)を測定した。測定条件は、150℃までの昇温速度10℃/min、150℃での均熱処理時間22時間、窒素雰囲気である。
(加熱硬化時の体積収縮率の評価)
上記引っ張り伸度評価用のサンプルを作成するに際して行った、縦型キュア炉を用いた180℃で2時間の加熱硬化処理(キュア)の前後での塗膜の厚みを触針段差計(KLAテンコール製、型式名P−15)で測定し、その変化率(残膜率、単位%)を算出し、体積収縮率の指標とした。結果を表2に示す。
(透明性の評価)
厚さ1mm、40mm四方の石英板に上記実施例、比較例の組成物を簡易スピンコーターで均一に塗布し、125℃で6分間ソフトベークし、ブロードバンド露光機(キャノン製、形式名PLA−501)を用いて全面露光した。これに引っ張り伸度評価用サンプル作成の際と同様の方法で180℃で2時間の加熱硬化処理を施し、膜厚10ミクロン前後の加熱硬化膜を得た。このものの、加熱硬化膜厚10ミクロン当たりの波長600nmでの光透過率を紫外可視分光光度計(島津製、UV1600PC)で測定、算出し、透明性の指標とした。結果を表2に示す。
[実施例6]
1)DPDとMEMOを1対1モルで反応させて感光性樹脂としたドイツ国 Fraunhofer ISC社から得たORMOCER(登録商標)ONE(ORMOCER ONE合成の反応温度は80℃、反応時間は15分、触媒はBa(OH)2H2Oを0.002モル)に、重合開始剤IRGACURE369 0.1質量%(チバガイギー社製)と、ポリエチレンオキサイドビスフェノールAジメタクリレート(日本油脂(株)製、商品名;耐熱性ブレンマーPDBE450)とを20質量%とを添加混合し、0.2μmのフィルターでろ過した後、感光性樹脂組成物とする。最終粘度としては15ポイズである。
[実施例7]
1)実施例6と同じORMOCER(登録商標)ONE に、光重合開始剤IRGACURE369 0.1質量%(チバガイギー社製)と、ポリエチレンオキサイドビスフェノールAジメタクリレート(日本油脂(株)製、商品名;耐熱性ブレンマーPDBE450)20質量%と、MEMO3質量%とを添加混合し、0.2μmのフィルターでろ過した後、感光性樹脂組成物とする。最終粘度としては15ポイズである。
[比較例4]
1)実施例6において、ポリエチレンオキサイドビスフェノールAジメタクリレート(日本油脂(株)製、商品名;耐熱性ブレンマーPDBE450)を添加混合しないこと以外は、同様に行って、感光性樹脂組成物を得た。最終粘度としては15ポイズであった。
<密着力評価方法>
Cuスパッタ膜付きSiウエハ上に各実施例6〜7及び比較例4の1)〜4)で成膜後、碁盤目テープ剥離試験(JIS K5400)にて、クロスカットガイド1.0を用いて、1mm角の正方形100個が出来るようにカッターナイフで傷を付け、上からセロハンテープを貼り付けた後剥離し、セロハンテープに付着せず基板上に残った正方形の数を数えることにより、密着性を評価した。
<破断点伸度評価方法>
Alスパッタ膜付きSiウエハ上に各実施例6〜7及び比較例4の1)〜4)で成膜後、ダイシングソー(ディスコ製型式名DAD−2H/6T)を用いて3.0mm幅にカットし、10質量%塩酸水に浸漬してシリコンウエハ上から剥離し、短冊状のフィルムサンプルとした。引張り破断ひずみ試験(JIS K7161)にて測定装置(ORIENTEC製テンシロン型式UTM−II−20)にセットし、チャック間距離50mm、引張り速度40mm/分で測定した。
<耐湿性試験>
実施例6〜7及び比較例4のガラス基板上に成膜した樹脂について、恒温恒湿装置(YAMATO製 型式IW221)で温度60℃、湿度90%の条件で、1000時間までストレス試験を行い、ストレス前後の光透過率の変化(光透過測定機:島津製UV−3101PC 400nm波長)、剥がれ、クラックなどを評価した。
[実施例8]
マイクロプラスチックレンズ及び液晶偏光板用光学素子の製造方法
マイクロプラスチックレンズ及び液晶偏光板用光学素子は金属型の種類が異なるだけであり、製造方法は同じである。
[実施例9]
マスクを使用してのマイクロプラスチックレンズ製造方法
1)基板へのコート及び加熱ステップ:実施例2で得られる感光性樹脂組成物にNMPを40質量%添加混合して希釈した後、シリコン基板上に滴下し、2500rpm、30秒の条件でスピンコーターを使ってコートする。コートしたシリコン基板面を上にしてホットプレート上で120℃で5分間加熱する。NMP乾燥除去後の感光性樹脂の厚みは6μmである。
Claims (19)
- 下記(a)〜(c)成分を含むポリオルガノシロキサン組成物:
(a)下記一般式(1)で示される少なくとも1種のシラノール化合物、下記一般式(2)で示される少なくとも1種のアルコキシシラン化合物、並びに下記一般式(3)で示される金属アルコキシド、下記一般式(4)で示される金属アルコキシド、及びBa(OH)2からなる群より選択される少なくとも1つの触媒を混合し、積極的に水を添加することなく重合させる方法で得られる、ポリオルガノシロキサン100質量部、
(Rは、少なくとも芳香族基を1つ含む炭素数6〜20の基である。R’は、エポキシ基、および、炭素−炭素二重結合基からなる群より選択される少なくとも1つの基を含む炭素数2〜17の有機基である。R’’はメチル基またはエチル基である。)
(Mはケイ素、ゲルマニウム、チタニウム、ジルコニウムのいずれかを示し、R’’’は炭素数1〜4のアルキル基である。)
(M’はホウ素またはアルミニウムを示し、R’’’’は炭素数1〜4のアルキル基である。)
(b)光重合開始剤0.1〜20質量部、
(c)光重合性の不飽和結合基を2つ以上有する、(a)成分以外の化合物1〜100質量部、ただし、前記(c)化合物は、ポリエチレングリコールジアクリレート[エチレングリコールユニットの数2〜20]、ポリエチレングリコールジメタクリレート[エチレングリコールユニットの数2〜20]、ポリ(1,2−プロピレングリコール)ジアクリレート[1,2−プロピレングリコールユニット数2〜20]、ポリ(1,2−プロピレングリコール)ジメタクリレート[1,2−プロピレングリコールユニット数2〜20]、ポリテトラメチレングリコールジアクリレート[テトラメチレングリコールユニット数2〜10]、ポリテトラメチレングリコールジメタクリレート[テトラメチレングリコールユニット数2〜10]、1,4−シクロヘキサンジアクリレート、1,4−シクロヘキサンジメタクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレート、エトキシ化トリメチロールプロパントリアクリレート[エチレングリコールユニットの数2〜20]、トリメチロールプロパントリメタクリレート、トリ−2−ヒドロキシエチルイソシアヌレートトリアクリレート、トリ−2−ヒドロキシエチルイソシアヌレートトリメタクリレート、グリセロールジアクリレート、グリセロールジメタクリレート、ジトリメチロールプロパントリアクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラアクリレート、ジペンタエリスリトールペンタアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート、メチレンビスアクリルアミド、エチレングリコールジグリシジルエーテル−メタクリル酸付加物、グリセロールジグリシジルエーテル−アクリル酸付加物、ビスフェノールAジグリシジルエーテル−アクリル酸付加物、ビスフェノールAジグリシジルエーテル−メタクリル酸付加物、エトキシ化ビスフェノールAジアクリレート[エチレングリコールユニットの数2〜30]、エトキシ化ビスフェノールAジメタクリレート[エチレングリコールユニットの数4〜30]、及びN,N’−ビス(2−メタクリロイルオキシエチル)尿素からなる群より選ばれる少なくとも一種の化合物である。 - 前記(c)化合物が、ポリエチレングリコールジアクリレート[エチレングリコールユニットの数2〜20]、ポリエチレングリコールジメタクリレート[エチレングリコールユニットの数2〜20]、エトキシ化ビスフェノールAジアクリレート[エチレングリコールユニットの数2〜30]、及びエトキシ化ビスフェノールAジメタクリレート[エチレングリコールユニットの数4〜30] からなる群より選ばれる少なくとも一種の化合物である、請求項1に記載の感光性樹脂組成物。
- 前記(c)化合物が、エトキシ化ビスフェノールAジメタクリレート[エチレングリコールユニットの数4〜30]、ポリテトラメチレングリコールジメタクリレート[テトラメチレングリコールユニット数2〜10]からなる群から選択される一種以上の化合物である、請求項1又は2に記載の感光性樹脂組成物。
- さらに前記(a)成分100質量部に対して、(e)0.1〜20質量部の(CH3O)3−Si−(CH2)3−O−CO−C(CH3)=CH2、(CH3O)3−Si−(CH2)3−O−CO−CH=CH2、及び(CH3O)3−Si−(CH2)3−O−CH2−C2H3O(左記C2H3Oはエポキシ基)からなる群より選ばれる一種以上の有機ケイ素化合物を含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の組成物。
- 前記触媒が上記一般式で示される金属アルコキシド(3)及び上記一般式(4)で示される金属アルコキシドからなる群より選択される少なくとも1つの金属アルコキシドである、請求項1〜4のいずれか一項に記載の組成物。
- (a)ポリオルガノシロキサンが、上記シラノール化合物、上記アルコキシシラン化合物、上記触媒、ならびに水酸化カリウムおよび水酸化ナトリウムを混合し、積極的に水を添加することなく重合させる方法で得られたものであることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の組成物。
- (a)成分100質量部に対して、50〜200質量部の(d)シリコーンレジンを含むことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の組成物。
- 請求項1〜7のいずれか一項に記載の組成物をガラス基板にコートし、50〜150℃で1分〜30分間加熱して組成物付着ガラス基板を得るステップと、該組成物付着ガラス基板の該組成物面に、別に用意した請求項1〜7のいずれか一項に記載の組成物を満たした成形物用の型の開口部を押し当てるステップと、該ガラス基板側から露光するステップと、該成形物の型を該ガラス基板から剥離するステップと、150℃〜250℃の温度で0.5時間〜2時間加熱するステップとを順次行うことを特徴とするマイクロプラスチックレンズ又は液晶偏光板用光学素子の製造方法。
- 請求項1〜7のいずれか一項に記載の組成物を、ガラス基板又はシリコン基板にコートし、50〜150℃で1分〜30分間加熱して組成物付着ガラス基板又はシリコン基板を得るステップと、マイクロプラスチックレンズの円パターンからなる複数枚のマスクで、各マスクにはアライメントマークがあり、各レンズパターンについて直径の異なる同心円パターンになっている複数枚のマスクを使い、現像削れ後の残膜飽和最低露光量÷マスク枚数の一定光量で、円直径の小さいマスクから順にマスク1枚ごとに紫外線を複数回露光するステップと、露光後に現像するステップと、現像後150℃〜250℃の温度で0.5時間〜2時間加熱するステップとを順次行うことを特徴とするマイクロプラスチックレンズの製造方法。
- 請求項1〜7のいずれか一項に記載の組成物を基材上に塗布することを特徴とする、ポリオルガノシロキサン膜の形成方法。
- 請求項10に記載の方法によって得られるポリオルガノシロキサン膜を、活性光線の照射および加熱からなる群から選ばれる少なくとも1つの方法によって硬化させたことを特徴とする、ポリオルガノシロキサン硬化膜。
- 金属配線を含む基材上または金属配線を含まない基材上に請求項10に記載の方法によってポリオルガノシロキサン膜を形成する工程、パターニングマスクを介して該膜に活性光線を照射し露光部を光硬化させる工程、現像液を用いて該膜の未硬化の部分を除去する工程、基材ごと加熱する工程からなる、ポリオルガノシロキサン硬化レリーフパターンの形成方法。
- 請求項12に記載の方法によって得られるポリオルガノシロキサン硬化レリーフパターン。
- 請求項11に記載の硬化膜を含む半導体装置。
- 請求項13に記載の硬化レリーフパターンを含む半導体装置。
- 集積回路が形成された結晶基板上に形成されたミクロ構造体と、前記ミクロ構造体を被覆するためのパッケージ材と、前記パッケージ材を前記ミクロ構造体上に支持するためのスペーサー材とを有する半導体装置において、前記スペーサー材が請求項11に記載の硬化膜であることを特徴とする半導体装置。
- 集積回路がフォトダイオードを含むことを特徴とする請求項16に記載の半導体装置。
- ミクロ構造体がマイクロレンズであることを特徴とする請求項16または請求項17に記載の半導体装置。
- ミクロ構造体上に直接または薄膜層を介してポリオルガノシロキサン膜を形成する工程、パターニングマスクを介して該膜に活性光線を照射し露光部を光硬化させる工程、現像液を用いて該膜の未硬化の部分を除去する工程、基材ごと加熱する工程からなることを特徴とする請求項16〜18のいずれか一項に記載の半導体装置を製造する方法。
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