JP5113159B2 - 段階的オンダイターミネーションを備えた集積回路 - Google Patents

段階的オンダイターミネーションを備えた集積回路 Download PDF

Info

Publication number
JP5113159B2
JP5113159B2 JP2009513379A JP2009513379A JP5113159B2 JP 5113159 B2 JP5113159 B2 JP 5113159B2 JP 2009513379 A JP2009513379 A JP 2009513379A JP 2009513379 A JP2009513379 A JP 2009513379A JP 5113159 B2 JP5113159 B2 JP 5113159B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
impedance
termination
value
memory device
memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009513379A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009540633A (ja
Inventor
スク オー,ギョン
ピー. シャエファー,イアン
Original Assignee
ラムバス・インコーポレーテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ラムバス・インコーポレーテッド filed Critical ラムバス・インコーポレーテッド
Publication of JP2009540633A publication Critical patent/JP2009540633A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5113159B2 publication Critical patent/JP5113159B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0005Modifications of input or output impedance
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/38Information transfer, e.g. on bus
    • G06F13/40Bus structure
    • G06F13/4063Device-to-bus coupling
    • G06F13/4068Electrical coupling
    • G06F13/4086Bus impedance matching, e.g. termination
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0602Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
    • G06F3/0604Improving or facilitating administration, e.g. storage management
    • G06F3/0605Improving or facilitating administration, e.g. storage management by facilitating the interaction with a user or administrator
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0628Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
    • G06F3/0655Vertical data movement, i.e. input-output transfer; data movement between one or more hosts and one or more storage devices
    • G06F3/0659Command handling arrangements, e.g. command buffers, queues, command scheduling
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0668Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
    • G06F3/0671In-line storage system
    • G06F3/0683Plurality of storage devices
    • G06F3/0685Hybrid storage combining heterogeneous device types, e.g. hierarchical storage, hybrid arrays
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4093Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • G11C11/417Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • G11C11/417Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/419Read-write [R-W] circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/26Sensing or reading circuits; Data output circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/32Timing circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/017545Coupling arrangements; Impedance matching circuits

Description

技術分野
本発明は、高速信号システムおよびコンポーネントに関する。
背景
高速信号線は、一般に、信号線の特性インピーダンスと整合するように選択された抵抗負荷によって終端され、それによって、望ましくない反射を打ち消す。歴史的には、終端素子は、マザーボードまたは他のプリント回路基板上の金属トレースに接続されたディスクリート抵抗器によって実現されていた。最近になって、特に高帯域幅メモリシステムの領域では、オンダイターミネーション構造が、例えば、メモリ装置またはメモリコントローラの集積回路ダイ上に設けられている。
図1は、オンダイターミネーション方式を用いる先行技術のメモリシステム100を示す。メモリシステム100には、メモリコントローラ101ならびにメモリモジュール103Aおよび103Bのペアが含まれ、各メモリモジュールが、共有データ経路102(DATA)に並列に結合され、各メモリモジュール(103A、103B)が、終端制御線(それぞれTC1、TC2)に結合されて、メモリコントローラからのそれぞれの終端制御信号の受信を可能にする。詳細図106に示すように、所与のメモリモジュール103内におけるメモリ装置105のそれぞれには、データ入力/出力(I/O)回路107−107のセットが含まれるが、これらの回路107−107は、データ信号トランシーバ109(すなわち、I/O論理/メモリコア回路115へのインバウンドデータを供給し、かつこの回路115からのアウトバウンドデータを受信するように結合された出力ドライバおよび信号受信機)と、データ経路112(Data[N:1)のそれぞれのデータ線117−117に並列に結合された切り替え終端構造111と、を有し、ここでデータ経路112のデータ線117−117は、データ経路102内のデータ線のサブセットを構成する。切り替え終端構造111自体には、それぞれ、スイッチ素子(X)を介して、対応するデータ線に結合されるそれぞれの負荷素子(R)が含まれ、所与のメモリモジュール103のメモリ装置内におけるスイッチ素子のそれぞれは、共通終端制御入力部(TC)に結合されて、着信終端制御信号を受信する。この構成によって、メモリコントローラ101は、メモリモジュール103のいずれかに供給される(すなわち、終端制御線TC1およびTC2を介して)終端制御信号をアサートして、メモリモジュールの構成メモリ装置内の負荷素子を、データ経路102のそれぞれの線に切り替え可能に接続してもよい。メモリモジュール(103Aまたは103B)の選択された1つの内で受信されるように、データがデータ経路102に出力される書き込み動作中に、メモリコントローラ101は、選択されなかったメモリモジュールに結合された終端制御線における終端制御信号をアサートし、それによって、そのメモリモジュールに結合されたデータ経路スタブを終端し、望ましくない反射を抑える。同時に、メモリコントローラ101は、選択されたメモリモジュールに供給される終端制御信号をデアサートし、それによって、そのメモリモジュールにおけるメモリ装置105内のオンダイターミネーションからデータ経路102を分離して、過度の信号減衰を回避する。メモリコントローラのこの動作は、図1の120で示す。
分析が示すところでは、残念なことに、図1の単一終端方式は、選択されたモジュール内のオンダイターミネーションがデータ経路102から減結合された場合に、選択されたメモリモジュールで生じる傾向があるインピーダンス不連続に起因して、少なくとも一部に次善の信号性能をもたらす可能性がある。他方では、選択されたメモリモジュールにおいて終端制御信号をアサートすることは、過度に、着信データ信号を減衰させ、信号マージン減少させ、かつ信号エラーの起こりやすさを増加させる傾向がある。
本発明は、添付の図面の図において、限定するものとしてではなくむしろ例として示され、これらの図面において、同様の参照数字は、同様の要素を指す。
詳細な説明
複数の段階的オンダイターミネーションからもたらされる改善された信号特性を有する信号システムが、様々な実施形態において開示される。一実施形態において、多重モジュールメモリシステム内の各メモリ装置は、着信高速信号線ごとに複数のオンダイターミネーション構造を含み、当メモリモジュールが着信信号の目的地かどうかに従って、複数の異なる終端負荷のいずれかを信号線に切り替え可能に結合できるようにする。例えば、特定の実施形態において、2モジュールメモリシステム内の各メモリ装置には、着信データ線当たり2つの終端構造が含まれ、これらの2つの終端構造内の負荷素子が、異なるインピーダンス値によって実現されるか、または異なるインピーダンス値を有するようにプログラムされ、それによって、所与のメモリモジュールが高速信号の目的地かどうかに応じて、その所与のメモリモジュール内において比較的高負荷の終端と比較的低負荷の終端との間の選択を可能にする。したがって、書き込み動作中に、高負荷終端(本明細書ではハード終端と呼ぶ)を、選択されなかった(例えば、アドレス指定されなかった)メモリモジュールのメモリ装置内における高速信号線に切り替え可能に接続して、伝送線負荷整合を提供してもよく、他方で、低負荷終端(本明細書ではソフト終端と呼ぶ)を、選択されたメモリモジュールにおけるメモリ装置内から選択されたメモリ装置の内部の高速信号線に切り替え可能に接続して、着信信号を過度に減衰せずに、エネルギ吸収の望ましいレベルを提供(例えば、反射を打ち消す)してもよい。代わりのメモリモジュールに向けられた、続く書き込み動作では、終端選択を迅速に逆にして、代わりに選択されたメモリモジュールにおいてソフト終端を、かつ選択されなかったメモリモジュールにおいてハード終端を確立してもよい。
一実施形態において、複数の終端制御線が、メモリモジュールにおけるメモリ装置の各ランクに設けられて(メモリ装置のランクは、並列グループとしてデータを受信または出力するように選択された1つまたは複数のメモリ装置のセット)、そこにおけるソフトおよびハード終端間の独立した選択を可能にする。代替実施形態において、スヌープ論理回路をメモリ装置のそれぞれの内に設けて、そのメモリ装置が特定の信号トランザクションの目標かどうかを決定し、かつそれに対応して、ソフト終端またはハード終端のどちらかを、データ線および/または他の高速信号線に切り替え可能に結合する。別の実施形態では、バッファ集積回路(IC)を設けて、メモリモジュール内で着信信号を受信し、かつこれらの信号を、メモリモジュールにおけるメモリ装置の複数のランクの1つに分配する。かかる実施形態では、高速信号線ごとの複数の段階的オンダイターミネーション構造は、メモリ装置の代わりにかまたはメモリ装置に加えて、バッファICに設けてもよい。複数の段階的オンダイターミネーション構造に結合された高速信号線には、データ信号線、アドレス信号線、コマンド信号線(これらのいずれかもしくは全てを時間多重化し、かくして、単一セットの信号線を構成してもよい)、またはこれらの任意の組み合わせを含んでもよい。さらに、シリアル・プレゼンス・ディテクト(SPD)メモリなどの不揮発性メモリは、所与のメモリモジュール内のメモリ装置が段階的終端に対するサポートを含むかどうかを示す情報でプログラムしてもよい。この構成によって、メモリコントローラは、SPDメモリ(または他の特徴的な回路または記憶装置)を読み出して段階的終端がサポートされているかどうかを決定し、サポートされている場合には、それに対応して終端制御信号を送出し、かくして、メモリコントローラが、レガシー終端モードまたは段階的終端モードのどちらかで動作できるようにしてもよい。また、デュアルランクメモリモジュールを有するシステムにおいて、所与のメモリモジュールにおける2つのランクのそれぞれに対する終端値を、低負荷値および高負荷値を有するようにプログラムし、かくして、そのモジュールが高速信号の目的地であるかどうかに従って、ハードおよびソフト終端間の選択を可能にしてもよい。これらおよび他の実施形態は、以下でさらに詳細に説明する。
図2は、高速信号線ごとに複数の段階的オンダイターミネーションを有するメモリシステム150の実施形態を示す。メモリシステム150には、マルチドロップデータ経路152を介して、2つのメモリモジュール153Aおよび153B(すなわち、メモリモジュール153Aおよび153Bは、データ経路152に並列に結合される)に結合されるメモリコントローラ151が含まれるが、代替実施形態では、追加メモリモジュールを、マルチドロップデータ経路152に結合してもよい。また、コマンド、アドレスおよびタイミング信号を伝達するための1つまたは複数の追加信号経路(図示せず)を、メモリコントローラ151とメモリモジュール153との間に結合してもよい。
メモリモジュール153のそれぞれには、データ経路における信号線のそれぞれのサブセットに結合された(すなわち、データ経路152のそれぞれのスライスに結合された)複数の集積回路メモリ装置155が含まれ、それによって、メモリランクを形成する。一般に、メモリランク内のメモリ装置は、グループとしてアクセスされ、かくして、N×Mビット幅の読み出しおよび書き込みデータワードの転送を可能にするが、この場合に、Nは、所与のトランザクションにおいて所与のメモリ装置へまたはそこから伝達されるデータビット数(すなわちスライス幅)であり、Mは、メモリランク内のメモリ装置の数(すなわちデータ経路スライスの数)である。
上記の図1のメモリ装置とは異なり、メモリモジュール153内におけるメモリ装置155のそれぞれは、2つの終端制御入力部を含み、2つの独立した終端制御信号の受信を可能にし、かくして、着信データスライスの各データ線に、2つの段階的終端負荷(すなわち、異なるインピーダンス値を有する終端負荷)の1つを切り替え接続することに備える。図示の特定の実施形態において、終端制御信号は、メモリコントローラ151から終端制御線TC1およびTC2で出力されるが、これらのTC1およびTC2は、メモリモジュール153Aの終端制御入力部TCaおよびTCbにそれぞれ結合され、かつ逆の順序でメモリモジュール153Bの終端制御入力部TCbおよびTCaに結合される。メモリモジュール153のそれぞれの内部で、TCaおよびTCb終端制御入力部は、個別メモリ装置155の対応するTCaおよびTCb入力部に結合される。詳細図156を参照すると、所与のモジュール153内におけるメモリ装置155のそれぞれには、データI/O回路157−157のセットが含まれるが、これらの回路157−157は、データトランシーバ構造159(例えば、I/O論理およびメモリコア165にインバウンドデータを供給し、かつそこからアウトバウンドデータを受信するように結合された出力ドライバ160aおよび信号受信機160b)と、データ経路162のそれぞれのデータ線167−167に、全て並列に結合された切り替え終端構造161aおよび161bのペアと、を有し、ここでデータ経路162のデータ線167−167が、全体的データ経路152内におけるデータ線のサブセットを構成する。切り替え終端構造161a、161bのそれぞれには、対応するスイッチ素子X1、X2を介して対応するデータ線に結合されたそれぞれの負荷素子R1、R2が含まれる。図示のように、データI/O回路157−157のそれぞれの内のスイッチ素子X1は、終端制御入力部TCaに共通に結合され、スイッチ素子X2は、終端制御入力部TCbに共通に結合される。この構成によって、終端制御信号が信号線TC1上でアサートされた場合に、負荷素子R1は、モジュール153A内でデータ経路152のそれぞれの線に切り替え可能に結合され、負荷素子R2は、モジュール153B内でデータ経路のそれぞれの線に切り替え可能に結合される(すなわち、2つのメモリモジュール153Aおよび153BのTCaおよびTCb入力への、線TC1/TC2の交換結合によって)。したがって、メモリ装置155のそれぞれの内部で、比較的高負荷(すなわち、比較的低インピーダンス)を有するように負荷素子R1を、かつ比較的低負荷(すなわち、比較的高インピーダンス)を有するように負荷素子R2をプログラム(または実現)することによって、負荷素子R1は、データ経路に切り替え可能に結合されてハード終端を達成することができ、負荷素子R2は、データ経路に切り替え可能に結合されてソフト終端を達成することができる。したがって、170においてコントローラ動作で示すように、メモリモジュール153Aに向けられた書き込み動作中に、メモリコントローラ151は、線TC2において終端制御信号をアサートして(かつ線TC1において終端制御信号をデアサートして)、メモリモジュール153B内で負荷素子R1をデータ経路152に切り替え可能に結合し、かつメモリモジュール153A内で負荷素子R2をデータ経路152に切り替え可能に結合し、かくして、選択された、および選択されなかったメモリモジュール内で段階的終端、すなわち、選択されたメモリモジュールにおけるソフト終端および選択されなかったメモリモジュールにおけるハード終端を達成することができる(両方の終端制御信号をデアサートすることによって第3の制御状態を確立し、かくして両方のメモリモジュール内で、終端負荷をデータ経路102から減結合してもよいことに留意されたい)。図1に関連して上記した従来のオン/オフ終端方式と比較すると、複数の段階的終端は、一般に、より大きな信号マージン(すなわち、より開いたデータアイ)をもたらし、かくして、ビット誤り率の低減、および信号速度の向上のための追加ヘッドルームを提供する。
さらに図2を参照すると、終端構造161aおよび161bは、出力ドライバ160a内に交互に含んでもよいことに留意すべきであるが、この場合に、出力ドライバ160aは、信号線を駆動するために用いられる素子のサブセット(例えば、信号を実際に駆動するときに用いられる、駆動素子完全なセットのより弱いサブセット)をターンオンし、並行して、プルアップおよび/またはプルダウン終端素子を同時に信号線に結合して終端を確立してもよい。また、終端制御線の単一ペア(すなわち、メモリモジュール153Aの終端制御入力部TCaおよびTCbに、かつ逆の順序でメモリモジュール153Bの終端制御入力部に結合された)を図2で示し、上記したけれども、代替実施形態において、終端制御線の別個のペアを、各メモリモジュールに対して設けてもよい。
図3は、構成メモリ装置内に追加終端構造を加えずに、メモリシステム200内に段階的終端を達成するための例示的なアプローチを示す。図示のように、メモリシステム200には、マルチドロップデータ経路152を介して、2つのデュアルランクメモリモジュール203Aおよび203B(だが、代替実施形態において、追加デュアルランクメモリモジュール203をマルチドロップデータ経路152に結合してもよく、追加ランクをメモリモジュールごとに設けてもよい)に結合されたメモリコントローラ201が含まれるが、しかし図2の実施形態におけるような、メモリランクごとの複数の終端制御線の代わりに、メモリランクごとに1つの終端制御線だけが設けられる。所与のメモリモジュール203内におけるメモリ装置205の2つのランク(207および207)が、データ経路152に並列に結合され、かつそれらの間の比較的短い経路(208)のインピーダンスが、データ経路152のオフモジュール部分と比較して比較的小さいので、2つの異なるランク207および207内の対応するメモリ装置205内における終端構造(またはそれらの負荷素子)は、異なるインピーダンス値を有するようにプログラム(または異なるインピーダンス値で実現)し、かくして、段階的終端負荷間で選択するように備えてもよい。より具体的には、詳細図216aおよび216bで示すように、モジュール203Aのメモリランク207内におけるメモリ装置205Aのそれぞれにおいて、比較的高い終端負荷R1(すなわち低インピーダンス)を有するようにプログラムし、かつメモリモジュール203Aのメモリランク2内におけるメモリ装置205Bのそれぞれは、比較的低い終端負荷R2にプログラムし、かくして、同じメモリモジュール内でソフト終端メモリランク207およびハード終端メモリランク207を確立してもよい。この構成が、着信データ線214ごとに単一の終端構造(すなわち、スイッチXおよび終端負荷が、I/O回路211内の信号トランシーバ159に並列に結合される)を有するメモリ装置205内であっても可能であること、および異なるメモリランクにおける装置内のソフトおよびハード終端負荷(R1およびR2)のプログラミングが、レジスタプログラミング(例えば、I/O論理およびメモリコア219内のレジスタ221内で値を記憶すること)、製造時設定(例えばヒューズ、アンチヒューズ、不揮発性記憶素子等)または外部コンタクトストラッピングを通じて達成可能であることに留意されたい。メモリモジュール203Bの2つのメモリランク207および207内におけるメモリ装置205は、詳細図216cおよび216dに示すように同じ方法でプログラムしてもよい。この構成によって、書き込みデータを受信するように選択されたメモリモジュールに供給される終端制御信号をデアサートする代わりに、選択されたメモリモジュール203のソフト終端メモリランク207の切り替え結合を制御する終端制御信号をアサートし、かつハード終端メモリランク207の切り替え結合を制御する終端制御信号をデアサートして、選択されたメモリモジュール203においてソフト終端を確立してもよく、他方で、選択されなかったメモリモジュールに供給される終端制御信号は、反対にアサートおよびデアサートされて(すなわち、メモリランク207では終端制御信号をアサートして、ハード終端を結合し、メモリランク207では終端制御信号をデアサートして、ソフト終端を分離(減結合)する)、選択されなかったメモリモジュールでハード終端を確立する。したがって、230においてコントローラ動作によって示すように、メモリモジュール203A(メモリモジュールA)に向けられた書き込み動作において、終端制御信号は、終端制御線TC1およびTC4においてデアサートされ(すなわち、論理「0」に設定され)、終端制御線TC2およびTC3においてアサートされ(論理「1」に設定され)、メモリモジュール203Aのメモリランク207内のR2終端負荷をデータ経路152に切り替え可能に結合して(かつメモリランク207内のR1終端負荷を切り替え可能に減結合して)、選択されたメモリモジュール用のソフト終端を達成し、さらにメモリモジュール203Bのメモリランク207内のR1終端負荷をデータ経路152に切り替え可能に結合して、選択されなかったメモリモジュール用のハード終端を達成する。メモリモジュール203Bに向けられた書き込み動作では、終端制御線における信号レベルは、逆にされて、選択されたメモリモジュール203Bにおいてソフト終端(TC3=0、TC4=1)を確立し、選択されなかったメモリモジュール203Aにおいてハード終端(TC1=1、TC2=0)を確立する。
図3に示したアプローチの代替アプローチにおいて、ハード終端は、所与のメモリモジュールに供給される両方の終端制御信号をアサートすることによって達成してもよく、実際上は、並列な2つのメモリランク207および207の共通に結合された終端構造内で負荷素子を切り替え可能に結合して、R1およびR2が同じ値にプログラム(または同じ値で実現)された場合には、R1/2になるインピーダンスR1R2/(R1+R2)を確立する。したがって、かかるアプローチでは、両方の終端制御信号を同時にアサートして、選択されなかったモジュール内にハード終端を達成してもよく、他方で、単一の終端制御信号をアサートして、選択されたメモリモジュール内にソフト終端(R1もしくはR2、または同じ値でプログラムされた場合には、それらのどちらでも)を達成してもよい。
図4は、段階的オンダイターミネーションを有するメモリシステム250の代替実施形態を示す。メモリシステム250には、図2に関連して一般的に説明したように、マルチドロップデータ経路152および終端制御線TC1およびTC2を介して、メモリモジュール253Aおよび253Bに結合されたメモリコントローラ251が含まれる。しかしながら、図2とは異なり、メモリモジュール253のそれぞれには、メモリコントローラ251とメモリ装置263−263の1つまたは複数のランクとの間の媒介物として動作するバッファIC261が含まれる。より具体的には、バッファIC261には、メモリコントローラ251から信号を受信し、かつメモリコントローラ251に信号を出力するコントローラインタフェース(すなわち、メモリコントローラ251へ/メモリコントローラ251からコマンド、アドレスおよびタイミング信号を伝達するために、データ経路、終端制御線と同様に他の信号線(図示せず)に結合された)と、それぞれのメモリランク263へ、およびそこから信号を転送する複数のメモリインタフェースと、が含まれる(この点に関して、バッファIC261は、複数の別個のICによって実現し、それぞれが、メモリランク263のそれぞれの1つと、またはメモリランクのそれぞれのサブセットとインタフェースしてもよい)。メモリランク263と、バッファIC261の所与のメモリインタフェースとの間に結合されたデータ経路(および/またはコマンド、アドレスおよびタイミング信号を伝達するための他の信号経路)のそれぞれは、ポイントツーポイントリンクであってもよく、またはかつダイもしくはメモリモジュール253のどちらかにおいて、単独もしくは二重(すなわち、一端もしくは両端に結合された終端構造)に終端してもよい。一実施形態において、バッファIC261の内のコントローラインタフェースは、一般に、図2の実施形態内の個別メモリ装置に対して説明した方法で実現してもよい。すなわち、各バッファIC261は、2つの終端制御入力部TCaおよびTCbを含み、2つの独立した終端制御信号の受信を可能にし、かくして、データ経路152の各高速信号線に、2つの段階的終端負荷のうちの1つを切り替え接続することに備える。図2の実施形態におけるように、TC1/TC2とTCa/TCbとの間の終端制御線接続部は、メモリモジュール253Bに対してメモリモジュール253Aでは逆にされて、終端制御信号が線TC1においてアサートされた場合には、この信号が、メモリモジュール253Aにおける終端制御入力部TCaを介し、かつメモリモジュール253Bにおける終端制御入力部TCbを介して受信されるようにする(上記で論じたように、極性転換される制御線の共通ペアの代わりに、終端制御線の別個のペアをメモリモジュール用に設けてもよい)。同様に、終端制御信号が線TC2においてアサートされた場合には、この信号は、メモリモジュール253Aにおける終端制御入力部TCbを介して、かつメモリモジュール253Bにおける終端制御入力部TCaを介して受信される。言及したように、多重バッファICは、メモリモジュール内のそれぞれのランクまたはメモリICの他のグループとインタフェースするように設けてもよい。
詳細図256を参照すると、各バッファIC261内のコントローラインタフェースは、図2の詳細図156に関連して一般的に上記したように構成されるデータI/O回路157のセットによって実現してもよい。すなわち、各I/O回路157には、データトランシーバ構造159(例えば、出力ドライバおよび信号受信機)と、データ経路152のそれぞれのデータ線に全て並列に結合される切り替え終端構造のペア161aおよび161bと、が含まれる。切り替え終端構造161aおよび161bのそれぞれには、対応するスイッチ素子(X1、X2)を介してデータ線に結合されるそれぞれの負荷素子(R1、R2)が含まれる。データトランシーバ159は、バッファ論理回路265に結合されるが、このバッファ論理回路265は、メモリコントローラ251からトランシーバ159を介し、メモリインタフェース266−266の対応する1つを介して、メモリランク263−263の選択された1つで受信されるインバウンド信号を多重化し(例えば、切り替え可能に結合し)、かつメモリランク263−263の1つからデータトランシーバ159へ、したがってメモリコントローラ251で受信されるアウトバウンド信号を多重化するように動作する。
図2の実施形態におけるように、I/O回路157のそれぞれにおけるスイッチ素子X1は、終端制御入力部TCaに共通に結合され、スイッチ素子X2は、終端制御入力部TCbに共通に結合される。この構成によって、かつメモリモジュール253Aおよび253BのTCa/TCb終端制御入力部を終端制御線TC1およびTC2に逆に接続することによって、終端制御信号が終端制御線TC1においてアサートされた場合に、負荷素子R1は、メモリモジュール253A内でデータ経路152のそれぞれの線に切り替え可能に結合され、負荷素子R2は、メモリモジュール253B内でデータ経路152のそれぞれの線に切り替え可能に結合される。同様に、終端制御信号が終端制御線TC2においてアサートされた場合には、負荷素子R2は、メモリモジュール253A内でデータ経路152に切り替え可能に結合され、負荷素子R1は、メモリモジュール253B内でデータ経路152に切り替え可能に結合される。したがって、比較的低インピーダンス(すなわち比較的高負荷)を有するように負荷素子R1を、かつ比較的高インピーダンス(すなわち比較的低負荷)を有するように負荷素子R2をプログラム(または実現)することによって、負荷素子R1をデータ経路152に切り替え可能に結合してハード終端を達成してもよく、負荷素子R2をデータ経路に切り替え可能に結合してソフト終端を達成してもよい。したがって、272においてコントローラ動作で示すように、メモリモジュール253A(メモリモジュールA)に向けられた書き込み動作中に、線TC2において終端制御信号をアサートして、負荷素子R1を、メモリモジュール253B内でデータ経路に切り替え可能に結合し、かつ負荷素子R1を、メモリモジュール253A内でデータ経路に切り替え可能に結合し、かくして、選択された、および選択されなかったメモリモジュール内に段階的終端を達成してもよい。すなわち、選択されたメモリモジュール内のソフト終端および選択されなかったメモリモジュール内のハード終端である。
図5は、段階的オンダイターミネーションを有するメモリシステム300の別の実施形態を示す。メモリシステム300には、上記の実施形態におけるように、マルチドロップデータ経路152を介して、かつまた本明細書では同様に要求経路と呼んでもよいマルチドロップコマンド/アドレス経路302(CA)を介してメモリモジュール303Aおよび303Bに結合されるメモリコントローラ301が含まれる(コマンド/アドレス経路はまた、図2、3および4の実施形態において設けてもよいが、しかしこれらの実施形態の他の特徴を不明瞭にしないように省略されていることに留意されたい)。しかしながら、図2、3および4の実施形態とは異なり、メモリモジュール303Aおよび303Bのメモリ装置305内におけるスヌープ論理回路を優先するので、終端制御線TC1/TC2は省略されている(または少なくとも未使用である)。メモリ装置305の詳細図306によって示される一実施形態において、スヌープ論理315は、I/O論理およびメモリコア回路310に一緒に含まれ、かつコマンド/アドレス経路302で伝達される信号の全てまたはサブセットを受信するように、信号受信機311を介して結合される。スヌープ論理315には、要求されたトランザクションの性質(例えば、読み出しまたは書き込み)を決定する回路であって、コマンド/アドレス経路302で伝達されたモジュールセレクタ(またはモジュールアドレス)をメモリモジュール用に確立されたモジュール識別子値と比較して、所与のメモリアクセストランザクションがホストメモリ装置305(すなわちスヌープ論理315が存在するメモリ装置)かまたは同じデータスライスに結合された別のメモリ装置305に向けられているかどうかを決定し、かつそれに応じて、制御信号C1およびC2(これらの制御信号は、図2に関連して上記したように実現されたデータI/O回路157内のそれぞれのスイッチ素子に供給される)を発生する回路が含まれる。320においてメモリ動作によって示すように、メモリモジュール303Aのメモリ装置内におけるスヌープ論理315が、メモリモジュール303Aに向けられたメモリ書き込みトランザクションを検出した場合には(すなわち、書き込みイネーブル信号がアサートされ(WE=1)、かつモジュールセレクタ=モジュール303A用のモジュール識別子)、スヌープ論理は、制御信号C1をデアサートし、制御信号C2において(on control signal C2)アサートして、負荷素子R2(すなわち、比較的低負荷値によってプログラムまたは実現され、選択されたモジュール内でソフト終端を確立する)をデータ経路152のそれぞれの線に切り替え可能に結合し、負荷素子R1をデータ経路152から切り替え可能に減結合する。同じトランザクション中に、メモリモジュール303Bのメモリ装置内におけるスヌープ論理315は、メモリ書き込みトランザクションが別のメモリモジュール(すなわちメモリモジュールA)に向けられていると判定し、それに応じて、終点制御線C2をアサートし、制御信号C1をデアサートして、負荷素子R1をデータ経路152に切り替え可能に結合し、負荷素子R2をデータ経路152から切り替え可能に結合し、それによって、選択されなかったメモリモジュール303Bにおいてハード終端を確立する。メモリコントローラが、メモリモジュール303Bに向けられたメモリ書き込みコマンドを発行した場合には、メモリモジュール303Aおよび303B内のスヌープ論理回路315は、メモリモジュールの逆になった役割を検出して、選択されなかったメモリモジュール303Aのメモリ装置305内におけるスヌープ論理315は、負荷素子R1をデータ経路152に切り替え可能に結合してハード終端を達成し、選択されたメモリモジュール303Bのメモリ装置305内におけるスヌープ論理315は、負荷素子R2をデータ経路152に切り替え可能に結合してソフト終端を達成する。
モジュールアドレスは、設定レジスタプログラミング、製造時プログラミングまたは設定(例えば、ヒューズ、アンチヒューズもしくは他の不揮発性回路素子によって確立される)、ピンストラッピング等を通してメモリモジュールのために確立してもよいことに留意されたい。また、ホストメモリ装置が所与のトランザクションに参加するように意図されているかどうかを決定するために、スヌープ論理315によって実際にスヌープされる信号に関して、スヌープ論理は、着信アドレスフィールド、チップ選択信号、および/またはメモリ装置が着信コマンドに応答することになるかどうかに関係する任意の他の信号の1つまたは全てのビットを評価してもよい。
さらに図5を参照すると、代替実施形態において、スヌープ論理回路315を明示的な終端制御と組み合わせてもよいことに留意すべきである。例えば、かかる一実施形態では、単一の終端制御線が、メモリモジュールごとに設けられる。終端制御信号が、終端制御線においてアサートされて、終端をイネーブルにすべきことを示し、他方で、スヌープ論理が、適用される終端の段階(例えば、ソフト終端またはハード終端)を示す。別の代替実施形態において、有限状態機械(FSM)を、スヌープ論理回路315の代わりにかまたはそれと組み合わせて設けて、終端値を決定してもよい。例えば、所与のメモリ装置(もしくはメモリ装置のグループ)またはバッファICが、(例えば、データの送信または制御信号のアサーションより所定の時間先立って、メモリ装置またはバッファIC内で受信されるコマンド、アドレス値または他の情報に基づいて)終端制御信号がアサートされる時間にデータを受信するように予想している場合には、FSMは、かかる予想を信号で知らせ、かくして、複数の終端値の適切な1つを適用するように選択してもよい。単一の終端制御線がモジュールごとに設けられ、かつ所与のモジュールへの終端制御線が活性化されるが、しかしデータが予想されない場合には、FSMは、異なる(例えば、より高い負荷の)終端値を適用するように選択してもよい。メモリ装置またはバッファICには、要求/コマンド処理プロセス(また他の制御機能)のための内部状態機械を含んでもよいが、この場合には、複数の段階的終端間で選択するために比較的少量の追加論理だけが状態機械内で必要とされるようにすべきである。状態機械インプリメンテーションはまた、専用の終端制御線を設ける代わりかまたはそれに加えて、スヌープ論理と組み合わせてもよいことに留意されたい。例えば、各メモリモジュール内のFSMは、スヌープ論理回路が、所与のトランザクションに対して選択されたかまたは選択されなかったメモリモジュールを示すかどうかに従って、モジュール内で適用される終端タイミング値および終端値を決定してもよい。かかる全ての場合に、状態機械、専用制御線入力部および/またはスヌープ論理回路の組み合わせを、メモリIC内部の代わりに、図4に関連して一般的に説明するようなバッファIC内に設けてもよい。
有限状態機械または他の制御回路を、スヌープ論理回路315の代わりかまたはそれと組み合わせて用いて、所与のトランザクション中に適用される終端値を決定する実施形態において、各メモリランク内の各個別メモリ装置には、メモリ装置内で、現在、書き込みまたは読み出し動作が実行されているかどうかを始めとする、任意の所定時間におけるメモリ装置の動作状態を示す有限状態機械を含んでもよい。したがって、各メモリ装置は、現在の装置動作状態に従ってハード終端、ソフト終端または無終端を達成することにより、共有または専用終端制御線(すなわち、複数のメモリランクに共通に結合された終端制御線またはメモリランクごとの専用終端制御線)における終端制御信号のアサーションに応答してもよい。代替として、各メモリ装置は、有限状態機械に加えてスヌープ論理回路(例えば、図5に関連して一般的に説明するような)を含んでもよく、現在の動作状態に従ってハード終端、ソフト終端または無終端を達成することにより、終端制御(すなわち、実際上は、専用終端制御線の代わりをするスヌープ論理)の必要性を示す、トランザクションの検出に応答してもよい。図6は、明示的または暗黙的な終端制御検出回路(すなわち、共有もしくは専用終端制御線に結合された回路またはスヌープ論理回路)と共にメモリ装置内で適用して、複数の段階的終端における所望の1つを達成可能な有限状態機械の例示的な状態図350を示す。図示のように、所与のランクのメモリ装置(その状態機械は、一般にロックステップで動作可能である)は、当初は、構成メモリバンクのどの行も活性化されないアイドル動作状態351であってもよい。特に図示していないが、メモリ装置は、アイドル状態(または図6に示す他の状態のいずれか)と、図6には特に示していない様々な低出力状態、初期化状態、較正状態、設定状態(すなわち、プログラム可能レジスタの設定を含む装置設定動作のための)、リフレッシュ状態等との間で、遷移してもよい。アイドル状態の間は、読み出し動作も書き込み動作もメモリ装置内に生じないので、終端要求の検出(例えば、専用もしくは共有終端制御信号の検出アサーション、またはメモリ読み出しもしくは書き込みトランザクションを示す制御および/もしくはアドレス経路における情報の検出)は、別のメモリランクに向けられると推測してもよく、その結果、アイドル状態のメモリ装置は、ハード終端(「ハードT」)を達成する。活性化コマンドが、アイドルメモリランク(すなわち、構成メモリ装置がアイドル状態351であるメモリランク)内で受信された場合には、構成メモリ装置は、指定された行およびバンクアドレスでそれぞれの行活性化を実行し(1つまたは複数の中間動作状態を仮定してもよい)、かくして、アクティブ状態353へ遷移する。アクティブ状態への遷移中およびアクティブ状態である間、やはり終端要求は他のメモリランクに向けられていると推測してもよく(すなわち、読み出し動作も書き込み動作も、対象メモリランク内に生じていないので)、その結果、図示のようにハード終端が適用される。活性化されたランク内で書き込みコマンドが受信された場合には、構成メモリ装置は、書き込みデータが書き込み状態メモリランクに送出される書き込み状態355へと遷移し、ソフト終端(「ソフトT」)が適用されて、上記のデータ経路を通じた信号特性を改善する。他のメモリランクが、それらの動作状態に従って、書き込みデータの転送中にハード終端を適用してもよいことに留意されたい。書き込み動作が完了した(または複数の連続書き込み動作が完了した)後で、メモリランクのメモリ装置は、プリチャージ状態(「Prchg」)359に(例えば自動プリチャージモードで)遷移するか、またはアクティブ状態353に戻ってもよい。プリチャージ状態359において、メモリランクのメモリ装置は、続く活性化動作に備えて、開いたバンクを閉じ、かつ内部信号線をプリチャージする動作を実行する。したがって、プリチャージ状態359の間に検出された終端要求は他のメモリランクに向けられていると推測して、図示のようにハード終端を適用するようにしてもよい。再びアクティブ状態353を参照すると、メモリ読み出しコマンドが受信された場合には、メモリランクのメモリ装置は、読み出しデータがメモリ装置からメモリコントローラまたは他の装置へ出力される読み出し状態357に遷移する。したがって、読み出し状態中に、メモリ装置は、読み出しデータが駆動されているデータ線から全ての終端要素を減結合して、過度の信号減衰を避けてもよい。書き込み状態355におけるように、他のメモリランクは、それらの動作状態に従って、読み出しデータの転送中にハード終端を適用してもよい。
段階的信号終端を含むかまたはサポートする実施形態およびアプローチを、主にメモリシステムの文脈で説明したが、かかる実施形態およびアプローチは、動的に選択される段階的終端が有益であり得る任意の信号システムまたはそのコンポーネントに容易に適用可能であることに留意すべきである。また、メモリシステムに関連して、コアメモリ記憶素子の種類は、用途のニーズに従って変化してもよく、限定ではなく例として、ダイナミックランダムアクセスメモリ(ダイナミックRAMまたはDRAM)記憶素子、スタティックランダムアクセスメモリ(SRAM)記憶素子、電気的消去可能プログラム可能読み出し専用メモリ(EEPROMまたはフラッシュEEPROM)内の、フローティングゲートトランジスタなどの不揮発性記憶素子等を含んでもよい。オンダイターミネーション自体のインプリメンテーションに関連して、負荷素子は、事実上任意のタイプの受動素子(例えば抵抗器)、能動素子(例えば、トランジスタもしくはダイオード)またはそれらの任意の組み合わせによって実現してもよく、同様にスイッチ素子は、トランジスタスイッチ、または負荷素子を接続もしくは所与のノードから分離するために使用可能な任意の他のオンダイ構造によって実現してもよい。また、複数のオンダイターミネーション要素または回路を、本明細書では別個の終端回路として一般的に表したが、かかる全ての場合に、2つ以上の終端回路を、共有コンポーネントを含むそれぞれの負荷素子によって実現してもよい。例えば、第1の終端回路内の第1の負荷素子は、グループとしてイネーブルまたはディスエーブルされる第1のトランジスタセットによって実現されて、第1の終端インピーダンスを達成してもよく、他方で、第2の終端回路内の第2の負荷素子は、グループとしてイネーブルまたはディスエーブルされる第1のトランジスタセットのサブセットを含んで、異なる終端インピーダンスを達成してもよい。
本明細書に開示した実施形態の様々な態様が、以下の番号が付された条項において、限定することなく、あくまでも例として記載される。
1.
外部データ経路の信号線に結合する複数のデータ入力部と、
第1および第2の終端制御信号をそれぞれ受信する第1および第2の終端制御入力部と、
前記複数のデータ入力部ならびに前記第1および第2の制御入力部に結合された第1のインタフェースを有し、かつ複数の入力/出力(I/O)ノードを含む第1のメモリインタフェースを有するバッファ集積回路(IC)と、
第1の複数のメモリICであって、各メモリICが前記複数のI/Oノードのそれぞれのサブセットに結合された第1の複数のメモリICと、
を含むメモリモジュール。
2.
前記バッファICが、前記複数のデータ入力部のサブセットにそれぞれ結合された複数の終端回路を含み、各終端回路が、前記データ入力部の対応する1つに切り替え可能に結合された第1の負荷素子、および前記データ入力部の対応する1つに切り替え可能に結合された第2の負荷素子を含む、条項1に記載のメモリモジュール。
3.
前記複数の終端回路のそれぞれが、前記第1の終端制御入力部を介して受信される信号の状態に従って、前記データ入力部の対応する1つに前記第1の負荷素子を切り替え可能に結合するか、または前記データ入力部の対応する1つから前記第1の負荷素子を切り替え可能に減結合する第1のスイッチ素子と、前記第2の終端制御入力部を介して受信される信号の状態に従って、前記データ入力部の対応する1つに前記第2の負荷素子を切り替え可能に結合するか、または前記データ入力部の対応する1つから前記第2の負荷素子を切り替え可能に減結合する第2のスイッチ素子と、を含む、条項2に記載のメモリモジュール。
4.
前記第1の複数のメモリICの各メモリICが、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)記憶素子のアレイを含む、条項1に記載のメモリモジュール。
5.
前記バッファICが、第2のメモリインタフェースを含み、前記メモリモジュールが、前記第2のメモリインタフェースに結合された第2の複数のメモリICを含む、条項1に記載のメモリモジュール。
本明細書に開示する様々な回路は、それらの挙動、レジスタ転送、論理コンポーネント、トランジスタ、レイアウト配置および/または他の特性に関して、コンピュータ支援設計ツールを用いて記載され、かつ様々なコンピュータ可読媒体に具体化されるデータおよび/または命令として表現(または象徴)され得ることにさらに留意されたい。かかる回路表現を実現可能なファイルおよび他のオブジェクトのフォーマットには、限定するわけではないが、C、VerilogおよびVHDLなどの行動言語をサポートするフォーマット、RTLのようなレジスタレベルの記述言語をサポートするフォーマット、およびGDSII、GDSIII、GDSIV、CIF、MEBES言語などのジオメトリ記述言語をサポートするフォーマット、ならびに任意の他の適切なフォーマットおよび言語が含まれる。かかるフォーマットされたデータおよび/または命令を具体化できるコンピュータ可読媒体には、限定するわけではないが、様々な形態における不揮発性記憶媒体(例えば、光、磁気または半導体記憶媒体)と、無線、光、もしくは有線信号媒体またはそれらの任意の組み合わせを通して、かかるフォーマットされたデータおよび/または命令を転送するために利用できる搬送波と、が含まれる。搬送波による、かかるフォーマットされたデータおよび/または命令の転送例には、限定するわけではないが、1つまたは複数のデータ転送プロトコル(例えば、HTTP、FTP、SMTP等)を介し、インターネットおよび/または他のコンピュータネットワークを通じた転送(アップロード、ダウンロード、電子メール等)が含まれる。
上記回路のかかるデータおよび/または命令ベース表現は、1つまたは複数のコンピュータ可読媒体を介してコンピュータシステム内で受信された場合に、限定するわけではないが、ネットリスト生成プログラム、配置配線(place and route)プログラム等を始めとする1つまたは複数の他のコンピュータプログラムの実行と共にコンピュータシステム内の処理エンティティ(例えば、1つまたは複数のプロセッサ)によって処理して、かかる回路の物理的表示の表現またはイメージを生成してもよい。その後、かかる表現またはイメージは、例えば、装置組み立てプロセスにおいて回路の様々なコンポーネントを形成するために用いられる1つまたは複数のマスクの生成を可能にすることによって、装置組み立てにおいて用いてもよい。
前述の説明および添付の図面において、特定の用語および図面符号が、本発明の完全な理解を提供するために示された。いくつかの例において、用語および符号は、本発明を実行するためには必要でないほどの特定的に詳細な意味を含む場合がある。例えば、回路素子または回路ブロック間の相互接続は、多導体または単一導体信号線として図示または説明してもよい。多導体信号線のそれぞれは、代替として、単一導体信号線であってもよく、単一導体信号線のそれぞれは、代替として、多導体信号線であってもよい。シングルエンドとして図示または説明された信号および信号経路はまた、差動であってもよく、逆も同様である。同様に、アクティブハイまたはアクティブロー論理レベルを有するように説明または図示された信号は、代替実施形態では反対の論理レベルを有してもよい。別の例として、金属酸化膜半導体(MOS)トランジスタを含むように説明または図示された回路は、代替として、バイポーラの技術、または論理素子を実現可能な任意の他の技術を用いて実現してもよい。用語に関して、信号がローもしくはハイ論理状態に駆動されて(またはハイ論理状態に充電されるかロー論理状態に放電されて)特定の状態を示すときに、信号は、「アサート」されると言われる。反対に、信号が、アサート状態(ハイもしくはロー論理状態、または信号駆動回路がオープンドレインもしくはオープンコレクタ状態などのハイインピーダンス状態に遷移された場合に生じる可能性があるフローテイング状態を含む)以外の状態に駆動されることを示すために、信号は、「デアサート」されると言われる。信号駆動回路が、信号駆動および信号受信回路間に結合された信号線において信号をアサート(または、文脈によって明示的に述べられるかまたは示された場合にはデアサート)する場合に、信号駆動回路は、信号を信号受信回路に「出力する」と言われる。信号線は、信号が信号線においてアサートされる場合に、「活性化」されると言われ、信号がデアサートされる場合に、「非活性化」されると言われる。さらに、信号名に付された接頭符号「/」は、信号がアクティブロー信号であることを示す(すなわち、アサート状態は論理ロー状態である)。信号名の上方の線(例えば、
Figure 0005113159
)もまた、アクティブロー信号を示すために用いられる。用語「結合される(された)」は、直接接続と同様に、1つまたは複数の介在する回路または構造を通した接続を表すために用いられる。集積回路装置の「プログラミング」には、限定ではなく例として、ホスト命令に応じて装置内のレジスタまたは他の記憶回路に制御値をロードし、かくして、装置の動作態様を制御することと、ワンタイムプログラミング動作(例えば、装置の製造中に設定回路内でヒューズを飛ばすこと)を通して装置設定を確立するかまたは装置の動作態様を制御することと、および/または装置の1つもしくは複数の選択されたピンもしくは他のコンタクト構造を基準電圧線に接続(ストラッピングとも呼ばれる)して、装置の特定の装置設定もしくは動作態様を確立することと、を含んでもよい。用語「例示的な」は、優位または要件ではなく、例を表すために用いられる。
本発明の特定の実施形態に関連して本発明を説明したが、本発明のより広範な趣旨および範囲から逸脱せずに、様々な修正および変更を本発明に対してなし得ることが明らかであろう。例えば、いずれかの実施形態の特徴または態様は、少なくとも実施可能な場合には、任意の他の実施形態と組み合わせてか、またはそれらの対応物の特徴または態様の代わりに適用してもよい。したがって、本明細書および図面は、限定するものとしてではなく、むしろ例示するものとして考えるべきである。
図面の簡単な説明
オンダイターミネーション方式を用いる先行技術のメモリシステムを示す。 高速信号線ごとに複数の段階的オンダイターミネーションを有するメモリシステムの実施形態を示す。 構成メモリ装置内に追加的な終端構造を加えずに、メモリシステム内に段階的終端を達成するための例示的なアプローチを示す。 段階的オンダイターミネーションを有するメモリシステムの代替実施形態を示す。 段階的オンダイターミネーションを有するメモリシステムの別の実施形態を示す。 明示的または暗黙的な終端制御検出回路と共にメモリ装置内で適用して、複数の段階的終端の所望の1つを達成することが可能な有限状態機械の例示的な状態図を示す。

Claims (87)

  1. データ信号を受信するデータ信号入力部と、
    第1の負荷素子と、前記第1の負荷素子を前記データ信号入力部に切り替え可能に結合する第1のスイッチ素子と、を有する第1の終端回路と、
    第2の負荷素子と、前記第2の負荷素子を前記データ信号入力部に切り替え可能に結合する第2のスイッチ素子と、を有する第2の終端回路と、
    メモリコントローラからの制御情報に応じて、第1のデジタル値および第2のデジタル値を記憶する構成回路であって、前記第1のデジタル値が、前記第1の負荷素子のインピーダンスを制御するために前記第1の終端回路に供給され、前記第2のデジタル値が、前記第2の負荷素子のインピーダンスを制御するために前記第2の終端回路に供給される構成回路と、
    を含む集積回路装置。
  2. 制御信号を受信し、かつ前記第1および第2のスイッチ素子に結合された制御入力部をさらに含む、請求項1に記載の集積回路装置。
  3. 前記制御信号が第1の状態である場合には、前記第1のスイッチ素子が、前記第1の負荷素子と前記データ信号入力部との間に導電性経路を形成するように構成され、前記制御信号が第2の状態である場合には、前記第2のスイッチ素子が、前記第2の負荷素子と前記データ信号との間に導電性経路を形成するように構成される、請求項2に記載の集積回路装置。
  4. 前記制御信号が、第1および第2の終端制御信号を含み、かつ前記第1の終端制御信号が第1の論理状態にあり、前記第2の終端制御信号が第2の論理状態にあるとき、前記制御信号の前記第1の状態を確立し、かつ前記第1の終端制御信号が前記第2の論理状態にあり、前記第2の終端制御信号が前記第1の論理状態にあるとき、前記制御信号の前記第2の状態を確立する、請求項3に記載の集積回路装置。
  5. 前記制御信号が、第1および第2の終端制御信号が両方とも前記第2の論理状態である第3の状態である場合には、前記第1および第2のスイッチ素子が、両方とも、非導通状態に切り替えられて、前記第1および第2の負荷素子を前記データ信号入力部から減結合する、請求項4に記載の集積回路装置。
  6. 前記第1および第2の終端回路と並列に前記データ信号入力部に結合された受信回路をさらに含む、請求項1に記載の集積回路装置。
  7. 前記受信回路に結合されたメモリコアをさらに含む、請求項6に記載の集積回路装置。
  8. メモリ装置のそれぞれのセットにデータ信号を出力し、かつこれらのセットからデータ信号を受信する複数のメモリインタフェースと、
    前記受信回路と前記複数のメモリインタフェースとの間に結合されて、前記受信回路を前記複数のメモリインタフェースのアドレス選択された1つに切り替え可能に結合する回路と、
    をさらに含む、請求項6に記載の集積回路装置。
  9. アドレス値、またはトランザクションが前記集積回路装置かもしくは別の集積回路装置に向けられているかどうかを示す制御値の少なくとも1つを受信するように結合されたスヌープ論理回路であって、前記トランザクションが前記集積回路装置に向けられている場合には、前記第1のスイッチ素子が前記第1の負荷素子と前記データ信号入力部との間に導電性経路を形成できるように、かつ前記トランザクションが前記別の集積回路装置に向けられている場合には、前記第2のスイッチ素子が前記第2の負荷素子と前記データ信号入力部との間に導電性経路を形成できるように、前記第1および第2のスイッチ素子に結合されたスヌープ論理回路をさらに含む、請求項1に記載の集積回路装置。
  10. 前記集積回路装置内で以前受信された情報の少なくとも一部に基づいて、トランザクションが前記集積回路装置かまたは別の集積回路装置に向けられているかどうかを決定する制御回路であって、前記トランザクションが前記集積回路装置に向けられている場合には、前記第1のスイッチ素子が前記第1の負荷素子と前記データ信号入力部との間に導電性経路を形成できるように、かつ前記トランザクションが前記別の集積回路装置に向けられている場合には、前記第2のスイッチ素子が前記第2の負荷素子と前記データ信号入力部との間に導電性経路を形成できるように、前記第1および第2のスイッチ素子に結合された制御回路をさらに含む、請求項1に記載の集積回路装置。
  11. メモリモジュールであって、
    外部データ経路の信号線に結合する複数のデータ入力部と、
    第1および第2の終端制御信号をそれぞれ受信する第1および第2の終端制御入力部と
    複数のメモリ装置であって、各メモリ装置が、前記複数のデータ入力部のそれぞれのサブセットならびに前記第1および第2の終端制御入力部に結合される複数のメモリ装置と、
    を含み、
    各メモリ装置が、前記複数のデータ入力部の前記サブセットにそれぞれ結合された複数の終端回路を含み、各終端回路が、前記データ入力部の対応する1つに切り替え可能に結合された第1の負荷素子、および前記データ入力部の対応する1つに切り替え可能に結合された前記第2の負荷素子を含み、
    前記メモリモジュールが、
    メモリコントローラからの制御情報に応じて、第1のデジタル値および第2のデジタル値を記憶する構成回路であって、前記第1のデジタル値が、前記第1の負荷素子のインピーダンスを制御するために前記第1の終端回路に供給され、前記第2のデジタル値が、前記第2の負荷素子のインピーダンスを制御するために前記第2の終端回路に供給される構成回路を含む、メモリモジュール。
  12. 前記複数の終端回路のそれぞれが、前記第1の終端制御入力部を介して受信される信号の状態に従って、前記第1の負荷素子を前記データ入力部の対応する1つに切り替え可能に結合するか、または前記第1の負荷素子を前記データ入力部の対応する1つから切り替え可能に減結合する第1のスイッチ素子と、前記第2の終端制御入力部を介して受信される信号の状態に従って、前記第2の負荷素子を前記データ入力部の対応する1つに切り替え可能に結合するか、または前記第2の負荷素子を前記データ入力部の対応する1つから切り替え可能に減結合する第2のスイッチ素子と、を含む、請求項11に記載のメモリモジュール。
  13. 各メモリ装置が、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)記憶素子のアレイを含む、請求項11に記載のメモリモジュール。
  14. 第1の外部信号線に結合された第1の集積回路装置内の動作方法であって、
    メモリコントローラから終端制御信号を受信することと、
    前記第1の外部信号線で送信されるデータ信号が前記第1の集積回路装置に向けられていることを前記終端制御信号が示す場合には、第1の終端負荷素子を前記第1の外部信号線に切り替え可能に結合することと、
    前記第1の外部信号線で送信されるデータ信号が別の集積回路装置に向けられていることを前記終端制御信号が示す場合には、第2の終端負荷素子を前記第1の外部信号線に切り替え可能に結合することと、
    を含む方法。
  15. 前記第1の外部信号線における前記データ信号の送信より所定の時間先立って、前記終端制御信号を受信することをさらに含む、請求項14に記載の方法。
  16. メモリコントローラ内の動作方法であって、データ経路が、前記メモリコントローラと第1のメモリモジュールとの間に結合され、前記方法が、
    データ信号が前記データ経路を介して前記第1のメモリモジュール内で受信されることになる場合には、第1の状態を有する制御信号を前記第1のメモリモジュールに出力することであって、前記第1の状態を有する前記制御信号が、前記第1のメモリモジュール内のメモリ装置をイネーブルにして、第1の複数の終端負荷素子を前記データ経路に結合することと、
    データ信号が前記データ経路を介して第2のメモリモジュール内で受信されることになる場合には、第2の状態を有する前記制御信号を前記第1のメモリモジュールに出力することであって、前記第2の状態を有する前記制御信号が、前記第1のメモリモジュール内の前記メモリ装置をイネーブルにして、第2の複数の終端負荷素子を前記データ経路に結合することと、
    を含む方法。
  17. 前記制御信号が、第1および第2のコンポーネント信号を含み、前記第1の状態を有する前記制御信号を前記第1のメモリモジュールに出力することが、第1の論理状態を有する前記第1のコンポーネント信号を前記第1のメモリモジュールに出力することと、第2の論理状態を有する前記第2のコンポーネント信号を前記第1のメモリモジュールに出力することと、を含む、請求項16に記載の方法。
  18. 外部装置から受信されるアドレス値に従って、前記データ信号が、前記第1のメモリモジュールかまたは前記第2のメモリモジュールに送信されることになるかどうかを決定することをさらに含む、請求項16に記載の方法。
  19. 前記第1のメモリモジュールに配置された不揮発性記憶装置から情報を受信することであって、前記メモリ装置が前記第1の複数の終端負荷素子および前記第2の複数の終端負荷素子を含むことを、前記情報が示すことをさらに含む、請求項16に記載の方法。
  20. インピーダンス選択値に関連して前記メモリ装置に命令を出力することであって、前記命令が、前記メモリ装置に、前記インピーダンス選択値を前記メモリ装置の設定回路内に記憶するように命じて、前記第1の終端負荷素子用のインピーダンス値を確立することをさらに含む、請求項16に記載の方法。
  21. メモリコントローラ内の動作方法であって、データ経路が、前記メモリコントローラと第1のメモリモジュールとの間に結合され、前記方法が、
    1つまたは複数の命令を第1のメモリモジュールに出力して、前記第1のメモリモジュールに配置された第1のメモリ装置セット内における第1の終端要素用の第1のインピーダンス値を確立し、かつ前記第1のメモリモジュールに配置された第2のメモリ装置セット内における第2の終端要素用の第2のインピーダンス値を確立することと、
    データ信号が前記データ経路を介して前記第1のメモリモジュール内で受信されることになる場合には、第1の状態を有する制御信号を前記第1のメモリモジュールに出力することであって、前記第1の状態を有する前記制御信号が、前記第1の終端要素を前記データ経路に切り替え可能に結合することと、
    データ信号が前記データ経路を介して第2のメモリモジュール内で受信されることになる場合には、第2の状態を有する前記制御信号を前記第1のメモリモジュールに出力することであって、前記第2の状態を有する前記制御信号が、前記第2の終端要素を前記データ経路に切り替え可能に結合することと、
    を含む方法。
  22. 前記制御信号が、第1および第2のコンポーネント信号を含み、前記第1の状態を有する前記制御信号を前記第1のメモリモジュールに出力することが、前記第1の論理状態を有する前記第1のコンポーネント信号を前記第1のメモリモジュールに出力することと、第2の論理状態を有する前記第2のコンポーネント信号を前記第1のメモリモジュールに出力することと、を含む、請求項21に記載の方法。
  23. 外部装置から受信されたアドレス値に従って、前記データ信号が、前記第1のメモリモジュールかまたは前記第2のメモリモジュールに送信されることになるかどうかを決定することをさらに含む、請求項21に記載の方法。
  24. 外部信号線を終端するための第1の手段と、
    前記外部信号線を終端するための第2の手段と、
    メモリコントローラからの制御情報に応じて、第1のデジタル値および第2のデジタル値を記憶するための手段であって、前記第1のデジタル値が、終端用の前記第1の手段のインピーダンスを制御し、前記第2のデジタル値が、終端用の前記第2の手段のインピーダンスを制御する手段と、
    前記外部信号線で送信されるデータ信号が、前記集積回路装置に向けられている場合には、終端用の前記第1の手段を前記外部信号線に切り替え可能に結合するための手段と、
    前記外部信号線で送信される前記データ信号が、別の集積回路装置に向けられている場合には、終端用の前記第2の手段を前記外部信号線に切り替え可能に結合するための手段と、
    を含む集積回路装置。
  25. コマンドを受信するコマンドインタフェースと、
    前記コマンドが書き込みコマンドであることに応じて、データ線から書き込みデータを受信するバッファと、
    制御信号を受信する制御入力部と、
    前記制御信号に応じて、切替え可能に、データ線において機能する終端要素と、
    前記終端要素用の第1のインピーダンス設定値を表わす第1の値を記憶する第1のレジスタと、
    前記終端要素用の第2のインピーダンス設定値を表わす第2の値を記憶する第2のレジスタと、
    前記終端要素、前記第1のレジスタおよび前記第2のレジスタに結合された制御回路であって、前記コマンドインタフェースで受信されたコマンドが前記書き込みコマンドであるかどうかに少なくとも部分的に基づいて、前記第1のインピーダンス設定値および前記第2のインピーダンス設定値の1つを前記終端要素に適用する制御回路と、
    を含むメモリ装置。
  26. 前記制御信号の第1の論理状態に応じて、前記制御回路が、前記書き込みコマンドの受信に先立って、前記第2のインピーダンス設定値を前記終端要素に適用し、前記書き込みコマンドが受信された後で、前記第1のインピーダンス設定値を前記終端要素に適用し、かつ前記制御信号の第2の論理状態に応じて、前記制御回路が、前記終端要素を前記データ線から減結合する、請求項25のメモリ装置。
  27. 前記制御回路が状態機械回路を含み、前記制御信号の前記第1の論理状態に応じて、
    前記状態機械回路が、前記メモリ装置が書き込み状態に遷移する場合に、前記終端要素を前記第1のインピーダンス設定値で機能させ、
    前記状態機械回路が、前記メモリ装置がプリチャージ状態に遷移する場合に、前記終端要素を前記第2のインピーダンス設定値で機能させる、請求項26に記載のメモリ装置。
  28. 前記制御信号の前記第1の論理状態に応じて、前記状態機械回路が、前記メモリ装置がアクティブ状態に遷移する場合に、前記終端要素を前記第2のインピーダンス設定値で機能させる、請求項27に記載のメモリ装置。
  29. 前記制御信号の前記第1の論理状態に応じて、前記状態機械回路が、前記メモリ装置がアイドル状態に遷移する場合に、前記終端要素を前記第2のインピーダンス設定値で機能させる、請求項27に記載のメモリ装置。
  30. 前記終端要素が、抵抗素子を用いて実現される、請求項25に記載のメモリ装置。
  31. 出力ドライバをさらに含み、前記終端要素が、前記出力ドライバの一部を形成するプルアップトランジスタおよびプルダウンドライバトランジスタを含み、
    前記プルアップトランジスタの第1のサブセットおよび前記プルダウントランジスタの第1のサブセットが、グループとして活性化されて、前記終端要素を前記第1のインピーダンス設定値で機能させ、
    前記プルアップトランジスタの第2のサブセットおよび前記プルダウントランジスタの第2のサブセットが、グループとして活性化されて、前記終端要素を前記第2のインピーダンス設定値で機能させる、請求項25に記載のメモリ装置。
  32. 前記コマンドが読み出しコマンドであることに応じて、前記プルアップトランジスタおよび前記プルダウントランジスタを用いてデータを出力する、請求項31に記載のメモリ装置。
  33. 前記第1のインピーダンス設定値がソフト終端値であり、前記第2のインピーダンス設定値がハード終端値である、請求項32に記載のメモリ装置。
  34. 前記書き込みデータを記憶するダイナミックランダムアクセスメモリセルのコアをさらに含む、請求項25に記載のメモリ装置。
  35. データを伝達する信号線と、
    第1の制御信号を伝達する第1の制御線と、
    前記第1の制御線から前記第1の制御信号を受信する第1の複数のメモリ装置であって、前記第1の複数のメモリ装置の各メモリ装置が、
    第1の書き込みコマンドを受信するコマンドインタフェースと、
    前記第1の制御信号に応じて、切替え可能に、前記信号線において機能する第1の終端要素と、
    前記第1の終端要素用の第1のインピーダンス設定値を表わす第1の値を記憶する第1のレジスタと、
    前記第1の終端要素用の第2のインピーダンス設定値を表わす第2の値を記憶する第2のレジスタであって、前記第1のインピーダンス設定値および前記第2のインピーダンス設定値の1つが、前記メモリ装置によって受信されたコマンドが書き込みコマンドであるかどうかに少なくとも部分的に基づいて、前記第1の終端要素に適用される第2のレジスタと、を含む第1の複数のメモリ装置と、
    を含むメモリモジュール。
  36. 第2の制御信号を伝達する第2の制御線と、
    前記第2の制御線から前記第2の制御信号を受信する第2の複数のメモリ装置であって、前記第2の複数のメモリ装置の各メモリ装置が、
    第2の書き込みコマンドを受信するコマンドインタフェースと、
    前記第2の制御信号に応じて、切替え可能に、前記信号線において機能する第2の終端要素と、
    前記第2の終端要素用の第1のインピーダンス設定値を表わす第1の値を記憶する第1のレジスタと、
    前記第2の終端要素用の第2のインピーダンス設定値を表わす第2の値を記憶する第2のレジスタであって、前記第2の制御信号に応じて、前記第1のインピーダンス設定値および前記第2のインピーダンス設定値の1つが、前記第2の書き込みコマンドが前記コマンドインタフェースで受信されるかどうかに少なくとも部分的に基づいて、前記第2の終端要素に適用される第2のレジスタと、を含む第2の複数のメモリ装置と、
    をさらに含む、請求項35に記載のメモリモジュール。
  37. 前記第1の制御信号および前記第1の書き込みコマンドが、前記第1の複数のメモリ装置における各メモリ装置の前記コマンドインタフェースで受信されることに応じて、
    前記第1の複数のメモリ装置の各メモリ装置に対して、前記第1のインピーダンス設定値が、前記第1の終端要素に適用され、
    前記第2の複数のメモリ装置の各メモリ装置に対して、前記第2のインピーダンス設定値が、前記第2の終端要素に適用され、
    前記第2の制御信号および前記第2の書き込みコマンドが、前記第2の複数のメモリ装置における各メモリ装置の前記コマンドインタフェースで受信されることに応じて、
    前記第1の複数のメモリ装置の各メモリ装置に対して、前記第2のインピーダンス設定値が、前記第1の終端要素に適用され、
    前記第2の複数のメモリ装置の各メモリ装置に対して、前記第1のインピーダンス設定値が、前記第2の終端要素に適用される、請求項36に記載のメモリモジュール。
  38. 前記第1のインピーダンス設定値がソフト終端値であり、前記第2のインピーダンス設定値がハード終端値である、請求項37に記載のメモリモジュール。
  39. 前記第1の複数のメモリ装置が前記第1のインピーダンス設定値および前記第2のインピーダンス設定値のサポートを含むかどうかを示す情報を記憶する不揮発性メモリ装置をさらに含む、請求項35に記載のメモリモジュール。
  40. データを伝達する信号線と、
    第1の制御信号を伝達する第1の制御線と、
    前記第1の制御線から前記第1の制御信号を受信する第1の複数のメモリ装置であって、前記第1の複数のメモリ装置の各メモリ装置が、
    第1の書き込みコマンドを受信する第1のコマンドインタフェースと、
    前記第1の制御信号に応じて、前記信号線に切り替え可能に結合される第1の終端要素と、
    前記第1の終端要素用の第1のインピーダンス設定値を表わす第1の値を記憶する第1のレジスタと、
    前記第1の終端要素用の第2のインピーダンス設定値を表わす第2の値を記憶する第2のレジスタであって、前記第1の制御信号に応じて、前記第1のインピーダンス設定値および前記第2のインピーダンス設定値の1つが、前記第1の書き込みコマンドが前記第1のコマンドインタフェースにおいて受信されたかどうかに少なくとも部分的に基づいて、前記第1の終端要素に適用される第2のレジスタと、を含む第1の複数のメモリ装置と、
    前記第1の制御線から前記第1の制御信号を受信する第2の複数のメモリ装置であって、前記第2の複数のメモリ装置の各メモリ装置が、
    第2の書き込みコマンドを受信する第2のコマンドインタフェースと、
    前記第1の制御信号に応じて、前記信号線に切り替え可能に結合される第2の終端要素と、
    前記第2の終端要素用の第1のインピーダンス設定値を表わす第1の値を記憶する第1のレジスタと、
    前記第2の終端要素用の第2のインピーダンス設定値を表わす第2の値を記憶する第2のレジスタであって、前記第1の制御信号に応じて、前記第1のインピーダンス設定値および前記第2のインピーダンス設定値の1つが、前記第2の書き込みコマンドが前記第2のコマンドインタフェースにおいて受信されたかどうかに少なくとも部分的に基づいて、前記第2の終端要素に適用される第2のレジスタと、を含む第2の複数のメモリ装置と、
    を含むモジュール。
  41. 前記第1の複数のメモリ装置におけるメモリ装置が、ダイナミックランダムアクセスメモリ装置であり、前記第2の複数のメモリ装置におけるメモリ装置が、ダイナミックランダムアクセスメモリ装置である、請求項40に記載のモジュール。
  42. 前記第1のインピーダンス設定値がソフト終端値であり、前記第2のインピーダンス設定値がハード終端値である、請求項40に記載のモジュール。
  43. データを伝達する信号線と、
    第1の制御信号を伝達する第1の制御線と、
    第2の制御信号を伝達する第2の制御線と、
    前記第1の制御線から前記第1の制御信号を受信する第1の複数のメモリ装置であって、前記第1の複数のメモリ装置の各メモリ装置が、
    第1の書き込みコマンドを受信する第1のコマンドインタフェースと、
    前記第1の制御信号に応じて、前記信号線に切り替え可能に結合される第1の終端要素と、を含む第1の複数のメモリ装置と、
    前記第2の制御線から前記第2の制御信号を受信する第2の複数のメモリ装置であって、前記第2の複数のメモリ装置の各メモリ装置が、
    第2の書き込みコマンドを受信する第2のコマンドインタフェースと、
    前記第2の制御信号に応じて、前記信号線に切り替え可能に結合される第2の終端要素と、を含む第2の複数のメモリ装置と、
    を含むシステムであって、
    前記第1の制御信号および前記第1の書き込みコマンドが、前記第1の複数のメモリ装置における各メモリ装置の前記コマンドインタフェースで受信されることに応じて、
    前記第1の複数のメモリ装置の各メモリ装置に対して、第1のインピーダンス設定値が、前記第1の終端要素に適用され、
    前記第2の複数のメモリ装置の各メモリ装置に対して、第2のインピーダンス設定値が、前記第2の終端要素に適用され、
    前記第2の制御信号および前記第2の書き込みコマンドが、前記第2の複数のメモリ装置における各メモリ装置の前記コマンドインタフェースで受信されることに応じて、
    前記第1の複数のメモリ装置の各メモリ装置に対して、前記第2のインピーダンス設定値が、前記第1の終端要素に適用され、
    前記第2の複数のメモリ装置の各メモリ装置に対して、前記第1のインピーダンス設定値が、前記第2の終端要素に適用されるシステム。
  44. 前記第1の複数のメモリ装置の各メモリ装置が、
    前記第1のインピーダンス設定値を表わす第1の値を記憶する第1のレジスタと、
    前記第2のインピーダンス設定値を表わす第2の値を記憶する第2のレジスタと、
    をさらに含み、
    前記第2の複数のメモリ装置の各メモリ装置が、
    前記第1のインピーダンス設定値を表わす第1の値を記憶する第1のレジスタと、
    前記第2のインピーダンス設定値を表わす第2の値を記憶する第2のレジスタと、
    をさらに含む、請求項43に記載のシステム。
  45. 前記第1のインピーダンス設定値がソフト終端値であり、前記第2のインピーダンス設定値がハード終端値である、請求項43に記載のシステム。
  46. データを伝達する信号線と、
    第1の制御信号を伝達する第1の制御線と、
    第2の制御信号を伝達する第2の制御線と、
    前記第1の制御線から前記第1の制御信号を受信する第1のランクのメモリ装置であって、前記第1のランクにおける各メモリ装置が、
    第1の書き込みコマンドを受信する第1のコマンドインタフェースと、
    前記第1の制御信号に応じて、前記信号線に切り替え可能に結合される第1の終端要素と、を含む第1のランクのメモリ装置と、
    前記第2の制御線から前記第2の制御信号を受信する第2のランクのメモリ装置であって、前記第2のランクのメモリ装置における各メモリ装置が、
    第2の書き込みコマンドを受信する第2のコマンドインタフェースと、
    前記第2の制御信号に応じて、前記信号線に切り替え可能に結合される第2の終端要素と、
    を含む第2のランクのメモリ装置と、
    を含むモジュールであって、
    前記第1の制御信号および前記第1の書き込みコマンドが、前記第1のランクにおける各メモリ装置の前記コマンドインタフェースで受信されることに応じて、
    前記第1のランクの各メモリ装置に対して、第1のインピーダンス設定値が、前記第1の終端要素に適用され、
    前記第2のランクの各メモリ装置に対して、第2のインピーダンス設定値が、前記第2の終端要素に適用され、
    前記第2の制御信号および前記第2の書き込みコマンドが、前記第2のランクにおける各メモリ装置の前記コマンドインタフェースで受信されることに応じて、
    前記第1のランクの各メモリ装置に対して、前記第2のインピーダンス設定値が、前記第1の終端要素に適用され、
    前記第2のランクの各メモリ装置に対して、前記第1のインピーダンス設定値が、前記第2の終端要素に適用されるモジュール。
  47. 前記第1のランクのメモリ装置におけるメモリ装置が、ダイナミックランダムアクセスメモリ装置であり、前記第2のランクのメモリ装置におけるメモリ装置が、ダイナミックランダムアクセスメモリ装置である、請求項46に記載のモジュール。
  48. 前記第1のランクのメモリ装置の各メモリ装置が、
    前記第1のインピーダンス設定値を表わす第1の値を記憶する第1のレジスタと、
    前記第2のインピーダンス設定値を表わす第2の値を記憶する第2のレジスタと、
    をさらに含み、
    前記第2のランクのメモリ装置の各メモリ装置が、
    前記第1のインピーダンス設定値を表わす第1の値を記憶する第1のレジスタと、
    前記第2のインピーダンス設定値を表わす第2の値を記憶する第2のレジスタと、をさらに含む、請求項46に記載のモジュール。
  49. 前記第1のインピーダンス設定値がソフト終端値であり、前記第2のインピーダンス設定値がハード終端値である、請求項46に記載のモジュール。
  50. メモリコアを含むメモリ装置の動作方法であって、
    書き込みコマンドを受信することであって、前記書き込みコマンドが、端子において、書き込み動作に関連するデータを受信する前記書き込み動作を指定することと、
    前記書き込みコマンドに応じ、かつ前記端子において前記データを受信する前に、第1のインピーダンス値を有する終端インピーダンスを前記端子に適用することと、
    前記書き込み動作の後で、第2のインピーダンス値を有する終端インピーダンスを前記端子に適用することと、
    前記第2のインピーダンス値を有する前記終端インピーダンスを前記端子に適用した後で、読み出しコマンドを受信することであって、前記読み出しコマンドが読み出し動作を指定することと、
    前記読み出しコマンドに応じて、
    前記第2のインピーダンス値を有する前記終端インピーダンスを前記端子から減結合し、
    前記端子において、前記読み出し動作に関連するデータを出力することと、
    を含む方法。
  51. 前記メモリコアが、ダイナミックランダムアクセスメモリセルを含む、請求項50に記載の方法。
  52. 前記端子において前記終端インピーダンスを選択的に活性化する制御信号を受信することであって、前記終端インピーダンスが、前記第1のインピーダンス値および前記第2のインピーダンス値の1つを有することをさらに含む、請求項50に記載の方法。
  53. 前記第1のインピーダンス値がソフト終端値であり、前記第2のインピーダンス値がハード終端値である、請求項50に記載の方法。
  54. 前記第1のインピーダンス値を有する前記終端インピーダンスを前記端子に適用することが、プルアップドライバ素子の第1のサブセットおよびプルダウンドライバ素子の第1のサブセットを同時に活性化することを含む、請求項50に記載の方法。
  55. 前記第2のインピーダンス値を有する前記終端インピーダンスを前記端子に適用することが、前記プルアップドライバ素子の第2のサブセットおよび前記プルダウンドライバ素子の第2のサブセットを同時に活性化することを含む、請求項54に記載の方法。
  56. 前記プルアップドライバ素子および前記プルダウンドライバ素子が、前記読み出し動作に関連する前記データを出力する、請求項54に記載の方法。
  57. メモリ装置における動作方法であって、
    書き込みコマンドを受信することと、
    前記書き込みコマンドを受信した後で、プルアップドライバ素子の第1のサブセットおよびプルダウンドライバ素子の第1のサブセットを同時に活性化して、端子において第1の終端インピーダンス値を生じさせることと、
    前記端子において前記第1の終端インピーダンス値を生じさせた後で、かつ前記書き込みコマンドに応じて、前記端子において書き込みデータを受信することと、
    前記端子において前記書き込みデータを受信した後で、前記プルアップドライバ素子の第2のサブセットおよび前記プルダウンドライバ素子の第2のサブセットを同時に活性化して、前記端子において第2の終端インピーダンス値を生じさせることと、
    前記端子において前記第2の終端インピーダンス値を生じさせた後で、読み出しコマンドを受信することと、
    前記読み出しコマンドを受信した後で、前記プルアップドライバ素子の前記第2のサブセットおよび前記プルダウンドライバ素子の前記第2のサブセットをターンオフすることと、
    前記読み出しコマンドに応じて、前記プルアップドライバ素子および前記プルダウンドライバ素子を用い、前記端子において読み出しデータを出力することと、
    を含む方法。
  58. 前記メモリ装置が、前記読み出しデータを記憶するダイナミックランダムアクセスメモリセルを含む、請求項57に記載の方法。
  59. 前記端子において終端インピーダンスを選択的に活性化する制御信号を受信することであって、前記終端インピーダンスが、前記第1のインピーダンス値および前記第2のインピーダンス値の1つを有することをさらに含む、請求項57に記載の方法。
  60. 複数のメモリセルを有するメモリコアと、
    読み出しコマンドおよび書き込みコマンドの1つを含むコマンドを受信するコマンドインタフェースであって、前記読み出しコマンドが読み出し動作を指定し、前記書き込みコマンドが書き込み動作を指定するコマンドインタフェースと、
    前記書き込み動作に関連するデータを外部信号線から受信し、かつ前記読み出し動作に関連するデータを前記外部信号線に伝達する端子と、
    前記端子において終端インピーダンスを制御する状態機械であって、
    前記書き込みコマンドが前記コマンドインタフェースで受信された後で、前記状態機械が、前記端子において第1のインピーダンス値を生じさせ、
    前記書き込み動作が完了した後で、前記状態機械が、前記端子に対して第2のインピーダンス値を生じさせ、前記読み出しコマンドが前記コマンドインタフェースで受信された後で、前記状態機械が、前記端子に対して前記終端インピーダンスをターンオフする状態機械と、
    含むメモリ装置。
  61. 前記読み出し動作に関連する前記データを出力するために、プルアップドライバ素子およびプルダウンドライバ素子を含む出力ドライバをさらに含み、前記第1のインピーダンス値が、前記出力ドライバに含まれるトランジスタセットを選択的に活性化することによって生じる、請求項60に記載のメモリ装置。
  62. 前記プルアップドライバ素子が、第1のトランジスタセットを含み、前記プルダウンドライバ素子が第2のトランジスタセットを含み、
    前記第1のトランジスタセットの第1のサブセットおよび前記第2のトランジスタセットの第1のサブセットが、グループとして活性化されて、前記第1のインピーダンス値を生成し、
    前記第1のトランジスタセットの第2のサブセットおよび前記第2のトランジスタセットの第2のサブセットが、グループとして活性化されて、前記第2のインピーダンス値を生成する、請求項61に記載のメモリ装置。
  63. 前記複数のメモリセルがダイナミックランダムアクセスメモリセルを含む、請求項60に記載のメモリ装置。
  64. データ線において前記終端インピーダンスを選択的に活性化する制御信号を、前記メモリ装置の外部の装置から受信する制御端子であって、前記終端インピーダンスが、前記第1のインピーダンス値および前記第2のインピーダンス値の1つを有する制御端子をさらに含む、請求項60に記載のメモリ装置。
  65. 前記第1のインピーダンス値を表わす第1の値を記憶する第1のレジスタと、
    前記第2のインピーダンス値を表わす第2の値を記憶する第2のレジスタと、
    をさらに含む、請求項60に記載のメモリ装置。
  66. 読み出しコマンドおよび書き込みコマンドの1つを含むコマンドを受信するコマンドインタフェースであって、前記読み出しコマンドが読み出し動作を指定し、前記書き込みコマンドが書き込み動作を指定するコマンドインタフェースと、
    前記書き込み動作に関連するデータを外部信号線から受信し、かつ前記読み出し動作に関連するデータを前記外部信号線に伝達する端子と、
    前記端子において終端インピーダンスを制御する状態機械であって、
    前記書き込みコマンドが前記コマンドインタフェースで受信された後で、前記状態機械が、第1のインピーダンス値を備えた前記終端インピーダンスを前記端子に適用し、
    前記書き込み動作が完了した後で、前記状態機械が、第2のインピーダンス値を備えた前記終端インピーダンスを前記子に適用し、
    前記読み出しコマンドが前記コマンドインタフェースで受信された後で、前記状態機械が、前記端子に対して前記終端インピーダンスをターンオフする状態機械と、
    含むメモリ装置。
  67. 前記終端インピーダンスの前記第1のインピーダンス値を表わす第1の値を記憶する第1のレジスタと、
    前記終端インピーダンスの前記第2のインピーダンス値を表わす第2の値を記憶する第2のレジスタと、
    をさらに含む、請求項66に記載のメモリ装置。
  68. 前記データを記憶する複数のダイナミックランダムアクセスメモリセルをさらに含む、請求項66に記載のメモリ装置。
  69. データ線において前記終端インピーダンスを選択的に活性化する制御信号を受信する制御端子であって、前記終端インピーダンスが、前記第1のインピーダンス値および前記第2のインピーダンス値の1つを有する制御端子をさらに含む、請求項66に記載のメモリ装置。
  70. 読み出しコマンドおよび書き込みコマンドの1つを含むコマンドを受信するコマンドインタフェースと、
    前記書き込みコマンドに応じて書き込みデータを受信する端子と、
    前記端子に結合された出力ドライバであって、前記読み出しコマンドに応じて、少なくとも第1の論理状態および第2の論理状態によって表わされる読み出しデータを出力し、前記出力ドライバが、
    データ線において前記第1の論理状態を提供するプルアップドライバ素子と、
    前記データ線において前記第2の論理状態を提供するプルダウンドライバ素子と、
    前記端子において終端インピーダンスを制御する状態機械であって、
    前記書き込みコマンドが前記コマンドインタフェースで受信された後で、前記状態機械が、前記プルアップドライバ素子の第1のサブセットおよび前記プルダウンドライバ素子の第1のサブセットを同時に活性化することによって、第1のインピーダンス値を前記端子に適用し、
    前記書き込みデータが前記端子で受信された後で、前記状態機械が、前記プルアップドライバ素子の第2のサブセットおよび前記プルダウンドライバ素子の第2のサブセットを同時に活性化することによって、第2のインピーダンス値を前記端子に適用する状態機械と、を含む出力ドライバと、
    を含むメモリ装置。
  71. 前記読み出しコマンドに応じて前記データを出力する前に、前記状態機械が、前記プルアップドライバ素子の前記第2のサブセットおよび前記プルダウンドライバ素子の前記第2のサブセットをターンオフする、請求項70に記載のメモリ装置。
  72. 前記終端インピーダンスの前記第1のインピーダンス値を表わす第1の値を記憶する第1のレジスタと、
    前記終端インピーダンスの前記第2のインピーダンス値を表わす第2の値を記憶する第2のレジスタと、
    をさらに含む、請求項70に記載のメモリ装置。
  73. 前記データを記憶する複数のダイナミックランダムアクセスメモリセルをさらに含む、請求項70に記載のメモリ装置。
  74. 前記データ線において前記終端インピーダンスを選択的に活性化する制御信号を受信する制御端子であって、前記終端インピーダンスが、前記第1のインピーダンス値および前記第2のインピーダンス値の1つを有する制御端子をさらに含む、請求項70に記載のメモリ装置。
  75. 複数のプルアップ素子および複数のプルダウン素子を有する出力ドライバであって、データ線にデータを出力する出力ドライバと、
    前記データ線において終端インピーダンスを生じさせる制御信号を受信する制御端子であって、前記終端インピーダンスが前記プルアップ素子およびプルダウン素子の選択的結合を通して暗黙的に導入される制御端子と、
    前記終端インピーダンスの第1のインピーダンス設定値を表わす第1の値を記憶する第1のレジスタであって、前記第1のインピーダンス設定値が、前記複数のプルアップ素子の第1のサブセットおよび前記複数のプルダウン素子の第1のサブセットを同時に活性化することによって生じる、第1のレジスタと、
    前記終端インピーダンスの第2のインピーダンス設定値を表わす第2の値を記憶する第2のレジスタであって、前記第2のインピーダンス設定値が、前記プルアップ素子の第2のサブセットおよび前記プルダウン素子の第2のサブセットを同時に活性化することによって生じる、第2のレジスタと、
    前記制御信号に応じて、前記メモリ装置によって受信されたコマンドが書き込みコマンドであるかどうかに少なくとも部分的に基づいて、前記第1のインピーダンス設定値および前記第2のインピーダンス設定値の1つを前記終端インピーダンスに適用する状態機械と、
    を含むメモリ装置。
  76. 前記書き込みコマンドを受信するコマンドインタフェースをさらに含み、前記制御信号に応じて、
    前記終端インピーダンスが、前記書き込みコマンドが前記コマンドインタフェースで受信されることに応じて、前記第1のインピーダンス設定値となり、
    前記終端インピーダンスが、前記メモリ装置がアイドル状態に遷移する場合に、前記第2のインピーダンス設定値となる、請求項75に記載のメモリ装置。
  77. 前記プルアップ素子が、第1のトランジスタセットを含み、前記プルダウン素子が、第2のトランジスタセットを含み、
    前記第1のトランジスタセットの第1のサブセットおよび前記第2のトランジスタセットの第1のサブセットが、グループとして同時に活性化されて、前記第1のインピーダンス設定値を生成し、
    前記第1のトランジスタセットの第2のサブセットおよび前記第2のトランジスタセットの第2のサブセットが、グループとして同時に活性化されて、前記第2のインピーダンス設定値を生成する、請求項75に記載のメモリ装置。
  78. 前記データを記憶するダイナミックランダムアクセスメモリセルのコアをさらに含む、請求項75に記載のメモリ装置。
  79. 前記制御信号に結合された制御回路であって、
    前記制御信号の第1の論理状態が、前記データ線において前記終端インピーダンスを生じさせることを示し、
    かつ前記制御信号の第2の論理状態が、前記データ線において前記終端インピーダンスを非活性化することを示すように、前記制御信号を処理する制御回路をさらに含み、
    前記第1の論理状態を有する前記制御信号に対して、
    前記終端インピーダンスが、前記メモリ装置が書き込み状態に遷移する場合に、前記第1のインピーダンス設定値となり、
    前記終端インピーダンスが、前記メモリ装置が前記書き込み状態以外の状態に遷移する場合に、前記第2のインピーダンス設定値となる、請求項75に記載のメモリ装置。
  80. 複数のメモリセルを有するメモリコアと、
    書き込みコマンドを受信するコマンドインタフェースであって、前記書き込みコマンドが書き込み動作を指定するコマンドインタフェースと、
    前記書き込みコマンドに応じてデータ線から書き込みデータを受信するバッファであって、前記書き込みデータが、前記書き込み動作中に前記メモリコアに供給されるバッファと、
    第1のインピーダンス値を有する第1のインピーダンスおよび第2のインピーダンス値を有する第2のインピーダンスの1つを前記データ線に切り替え可能に結合する終端要素と、
    前記第1のインピーダンスおよび前記第2のインピーダンスの1つを前記終端要素に適用する状態機械と、
    を含み、
    前記状態機械が、前記書き込みコマンドが前記コマンドインタフェースで受信された後で、前記第1のインピーダンスを前記終端要素に適用し、
    前記状態機械が、前記書き込み動作が完了した後で、前記第2のインピーダンスを前記終端要素に適用するメモリ装置。
  81. 前記状態機械が、読み出しコマンドが前記コマンドインタフェースで受信されたことに応じて、前記終端要素を非活性化する、請求項80に記載のメモリ装置。
  82. 前記終端要素が、前記読み出しコマンドに応じて前記データを出力する出力ドライバに含まれるトランジスタセットを選択的に活性化することによって生じる、請求項81に記載のメモリ装置。
  83. 前記トランジスタセットが、第1のトランジスタセットおよび第2のトランジスタセットを含み、
    前記第1のトランジスタセットの第1のサブセットおよび前記第2のトランジスタセットの第1のサブセットが、グループとして同時に活性化されて、前記第1のインピーダンス値を生成し、
    前記第1のトランジスタセットの第2のサブセットおよび前記第2のトランジスタセットの第2のサブセットが、グループとして同時に活性化されて、前記第2のインピーダンス値を生成する、請求項82に記載のメモリ装置。
  84. 前記データ線において前記終端要素を選択的に活性化する制御信号を受信する制御端子であって、前記終端要素が、前記第1のインピーダンス値および前記第2のインピーダンス値の1つを有する制御端子をさらに含む、請求項80に記載のメモリ装置。
  85. メモリコアを含むメモリ装置の動作方法であって、
    書き込みコマンドを受信することであって、前記書き込みコマンドが、端子において、書き込み動作に関連するデータを受信する前記書き込み動作を指定することと、
    終端インピーダンスを前記端子に適用することを示す制御信号を受信することと、
    前記書き込みコマンド、および前記終端インピーダンスを活性化することを示す制御信号に応じて、前記データを受信する前に、第1のインピーダンス値を有する前記終端インピーダンスを前記端子に適用することと、
    前記書き込み動作の後で、第2のインピーダンス値を有する終端インピーダンスを前記端子に適用することと、
    を含む方法。
  86. 電子システムにおける動作方法であって、
    書き込みコマンドをメモリ装置に供給することであって、前記書き込みコマンドが、前記メモリ装置への書き込み動作を指定することと、
    前記書き込みコマンドに応じて、前記メモリ装置が、第1のインピーダンス値を有する終端インピーダンスを端子に適用することと、
    前記第1のインピーダンス値を有する前記終端インピーダンスを前記端子に適用した後で、前記メモリ装置が、前記端子において、前記書き込み動作に関連するデータを受信することと、
    前記メモリ装置が、前記データを受信した後で、第2のインピーダンス値を有する終端インピーダンスを前記端子に適用することと、
    前記第2のインピーダンス値を有する前記終端インピーダンスを前記端子に適用した後で、読み出しコマンドを前記メモリ装置に供給することであって、前記読み出しコマンドが読み出し動作を前記メモリ装置に指定することと、
    前記読み出しコマンドに応じて、
    前記メモリ装置が、前記第2のインピーダンス値を有する前記終端インピーダンスを前記端子から除去し、
    除去の後で、前記メモリ装置が、前記読み出しコマンドに関連するデータを前記端子において出力することと、
    を含む方法。
  87. 電子システムにおける動作方法であって、
    書き込みコマンドをメモリ装置に供給することであって、前記書き込みコマンドが、前記メモリ装置への書き込み動作を指定することと、
    前記書き込みコマンドに応じて、前記メモリ装置が、前記書き込み動作に関連するデータを端子において受信することと、
    終端インピーダンスが前記端子に適用されることを示す制御信号を前記メモリ装置供給することと、
    終端インピーダンスが前記端子に適用されることを示す制御信号に応じて、
    前記データを受信する前に、前記メモリ装置が、第1のインピーダンス値を備えた終端インピーダンスを前記端子に適用し、
    前記データを受信した後で、前記メモリ装置が、第2のインピーダンス値を備えた終端インピーダンスを前記端子に適用することと、
    を含む方法。
JP2009513379A 2006-06-02 2007-05-22 段階的オンダイターミネーションを備えた集積回路 Active JP5113159B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/422,022 US7486104B2 (en) 2006-06-02 2006-06-02 Integrated circuit with graduated on-die termination
US11/422,022 2006-06-02
PCT/US2007/069471 WO2008030641A2 (en) 2006-06-02 2007-05-22 Integrated circuit with graduated on-die termination

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009540633A JP2009540633A (ja) 2009-11-19
JP5113159B2 true JP5113159B2 (ja) 2013-01-09

Family

ID=38789378

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009513379A Active JP5113159B2 (ja) 2006-06-02 2007-05-22 段階的オンダイターミネーションを備えた集積回路

Country Status (6)

Country Link
US (25) US7486104B2 (ja)
EP (7) EP2860641B1 (ja)
JP (1) JP5113159B2 (ja)
CN (2) CN102279833B (ja)
DE (1) DE202007018730U1 (ja)
WO (1) WO2008030641A2 (ja)

Families Citing this family (90)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9542352B2 (en) 2006-02-09 2017-01-10 Google Inc. System and method for reducing command scheduling constraints of memory circuits
US8359187B2 (en) 2005-06-24 2013-01-22 Google Inc. Simulating a different number of memory circuit devices
US8438328B2 (en) 2008-02-21 2013-05-07 Google Inc. Emulation of abstracted DIMMs using abstracted DRAMs
US7386656B2 (en) 2006-07-31 2008-06-10 Metaram, Inc. Interface circuit system and method for performing power management operations in conjunction with only a portion of a memory circuit
US20080028136A1 (en) 2006-07-31 2008-01-31 Schakel Keith R Method and apparatus for refresh management of memory modules
US8397013B1 (en) 2006-10-05 2013-03-12 Google Inc. Hybrid memory module
US10013371B2 (en) 2005-06-24 2018-07-03 Google Llc Configurable memory circuit system and method
US8244971B2 (en) 2006-07-31 2012-08-14 Google Inc. Memory circuit system and method
US8327104B2 (en) 2006-07-31 2012-12-04 Google Inc. Adjusting the timing of signals associated with a memory system
US8081474B1 (en) 2007-12-18 2011-12-20 Google Inc. Embossed heat spreader
US8796830B1 (en) 2006-09-01 2014-08-05 Google Inc. Stackable low-profile lead frame package
US8060774B2 (en) 2005-06-24 2011-11-15 Google Inc. Memory systems and memory modules
US7609567B2 (en) 2005-06-24 2009-10-27 Metaram, Inc. System and method for simulating an aspect of a memory circuit
US8077535B2 (en) 2006-07-31 2011-12-13 Google Inc. Memory refresh apparatus and method
US8386722B1 (en) 2008-06-23 2013-02-26 Google Inc. Stacked DIMM memory interface
US8090897B2 (en) 2006-07-31 2012-01-03 Google Inc. System and method for simulating an aspect of a memory circuit
US9507739B2 (en) 2005-06-24 2016-11-29 Google Inc. Configurable memory circuit system and method
US9171585B2 (en) 2005-06-24 2015-10-27 Google Inc. Configurable memory circuit system and method
US8041881B2 (en) 2006-07-31 2011-10-18 Google Inc. Memory device with emulated characteristics
US20080082763A1 (en) 2006-10-02 2008-04-03 Metaram, Inc. Apparatus and method for power management of memory circuits by a system or component thereof
US8089795B2 (en) 2006-02-09 2012-01-03 Google Inc. Memory module with memory stack and interface with enhanced capabilities
US8335894B1 (en) * 2008-07-25 2012-12-18 Google Inc. Configurable memory system with interface circuit
US8130560B1 (en) 2006-11-13 2012-03-06 Google Inc. Multi-rank partial width memory modules
US8055833B2 (en) 2006-10-05 2011-11-08 Google Inc. System and method for increasing capacity, performance, and flexibility of flash storage
US8111566B1 (en) 2007-11-16 2012-02-07 Google, Inc. Optimal channel design for memory devices for providing a high-speed memory interface
WO2007028109A2 (en) 2005-09-02 2007-03-08 Metaram, Inc. Methods and apparatus of stacking drams
US7439760B2 (en) 2005-12-19 2008-10-21 Rambus Inc. Configurable on-die termination
US9632929B2 (en) 2006-02-09 2017-04-25 Google Inc. Translating an address associated with a command communicated between a system and memory circuits
US7486104B2 (en) * 2006-06-02 2009-02-03 Rambus Inc. Integrated circuit with graduated on-die termination
US7724589B2 (en) 2006-07-31 2010-05-25 Google Inc. System and method for delaying a signal communicated from a system to at least one of a plurality of memory circuits
KR100844932B1 (ko) * 2006-09-27 2008-07-10 주식회사 하이닉스반도체 온 다이 터미네이션 회로를 갖는 반도체메모리소자
JP5019573B2 (ja) 2006-10-18 2012-09-05 キヤノン株式会社 メモリ制御回路とメモリシステム、及びそのメモリ制御方法、及び集積回路
US8080874B1 (en) 2007-09-14 2011-12-20 Google Inc. Providing additional space between an integrated circuit and a circuit board for positioning a component therebetween
US7864604B2 (en) * 2007-09-27 2011-01-04 Intel Corporation Multiple address outputs for programming the memory register set differently for different DRAM devices
JP5603535B2 (ja) * 2007-11-29 2014-10-08 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル 信号伝送回路及びその特性調整方法、メモリモジュール、並びに、回路基板の製造方法
US8516185B2 (en) * 2009-07-16 2013-08-20 Netlist, Inc. System and method utilizing distributed byte-wise buffers on a memory module
US8041865B2 (en) * 2008-08-04 2011-10-18 Qimonda Ag Bus termination system and method
KR100974225B1 (ko) * 2008-12-23 2010-08-06 주식회사 하이닉스반도체 임피던스 조정 주기 설정회로 및 반도체 집적회로
KR100980425B1 (ko) * 2008-12-30 2010-09-07 주식회사 하이닉스반도체 글로벌 입출력 라인 터미네이션 제어 회로
JP2010219751A (ja) 2009-03-16 2010-09-30 Elpida Memory Inc 半導体装置
US9608630B2 (en) * 2009-05-06 2017-03-28 Micron Technology, Inc. Reference voltage circuits and on-die termination circuits, methods for updating the same, and methods for tracking supply, temperature, and/or process variation
US7843213B1 (en) * 2009-05-21 2010-11-30 Nanya Technology Corp. Signal termination scheme for high speed memory modules
DE202010017690U1 (de) * 2009-06-09 2012-05-29 Google, Inc. Programmierung von Dimm-Abschlusswiderstandswerten
US9128632B2 (en) 2009-07-16 2015-09-08 Netlist, Inc. Memory module with distributed data buffers and method of operation
US7868651B1 (en) * 2009-12-08 2011-01-11 International Business Machines Corporation Off-die termination of memory module signal lines
KR101789077B1 (ko) * 2010-02-23 2017-11-20 삼성전자주식회사 온-다이 터미네이션 회로, 데이터 출력 버퍼, 반도체 메모리 장치, 메모리 모듈, 온-다이 터미네이션 회로의 구동 방법, 데이터 출력 버퍼의 구동 방법 및 온-다이 터미네이션 트레이닝 방법
JP2013534100A (ja) * 2010-06-17 2013-08-29 ラムバス・インコーポレーテッド 平衡したオンダイターミネーション
US8688955B2 (en) 2010-08-13 2014-04-01 Micron Technology, Inc. Line termination methods and apparatus
US8988102B2 (en) 2011-02-02 2015-03-24 Rambus Inc. On-die termination
KR20130003551A (ko) * 2011-06-30 2013-01-09 삼성전자주식회사 온 다이 터미네이션을 포함하는 반도체 메모리 장치, 메모리 콘트롤러, 메모리 시스템 및 온 다이 터미네이션 제어방법
JP5653856B2 (ja) 2011-07-21 2015-01-14 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
CN103050147B (zh) * 2011-10-13 2016-03-02 澜起科技(上海)有限公司 端接器件系统
WO2014015071A2 (en) * 2012-07-20 2014-01-23 Rambus Inc. Reducing unwanted reflections in source-terminated channels
US9286129B2 (en) * 2013-05-08 2016-03-15 International Business Machines Corporation Termination of requests in a distributed coprocessor system
US20150006826A1 (en) * 2013-06-28 2015-01-01 Yean Kee Yong Strap-based multiplexing scheme for memory control module
US9779039B2 (en) * 2013-08-29 2017-10-03 Micron Technology, Inc. Impedance adjustment in a memory device
CN104063183A (zh) * 2013-10-30 2014-09-24 苏州天鸣信息科技有限公司 一种切换式储存装置
US9292391B2 (en) * 2014-02-12 2016-03-22 Apple Inc. Interface calibration using configurable on-die terminations
TWI561077B (en) * 2014-05-08 2016-12-01 Novatek Microelectronics Corp Video transmission system
US9780782B2 (en) * 2014-07-23 2017-10-03 Intel Corporation On-die termination control without a dedicated pin in a multi-rank system
US9571098B2 (en) 2014-08-11 2017-02-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Signal receiving circuits including termination resistance having adjustable resistance value, operating methods thereof, and storage devices therewith
US10255220B2 (en) 2015-03-30 2019-04-09 Rambus Inc. Dynamic termination scheme for memory communication
US10241937B2 (en) 2015-07-08 2019-03-26 International Business Machines Corporation Adjusting an optimization parameter to customize a signal eye for a target chip on a shared bus
US10114788B2 (en) 2015-07-08 2018-10-30 International Business Machines Corporation Adjusting an optimization parameter to customize a signal eye for a target chip on a shared bus
US10423545B2 (en) * 2015-07-08 2019-09-24 International Business Machines Corporation Adjusting an optimization parameter to customize a signal eye for a target chip on a shared bus
KR102275812B1 (ko) 2015-09-04 2021-07-14 삼성전자주식회사 센터 패드 타입의 스택드 칩 구조에서 신호 완결성 이슈를 개선할 수 있는 온다이 터미네이션 스키마를 갖는 반도체 메모리 장치
US10141935B2 (en) * 2015-09-25 2018-11-27 Intel Corporation Programmable on-die termination timing in a multi-rank system
KR20170064777A (ko) 2015-12-02 2017-06-12 삼성전자주식회사 Zq 핀 없이 캘리브레이션 동작을 수행하는 메모리 장치
KR20170112289A (ko) 2016-03-31 2017-10-12 삼성전자주식회사 비휘발성 메모리 장치, 이를 포함하는 메모리 시스템 및 비휘발성 메모리 장치의 구동 방법
RU2632956C1 (ru) * 2016-05-06 2017-10-11 Владимир Глебович Венгерцев Устройство и способ обезвреживания ртутьсодержащих отходов
KR102592777B1 (ko) * 2016-06-27 2023-10-25 애플 인크. 조합된 높은 밀도, 낮은 대역폭 및 낮은 밀도, 높은 대역폭 메모리들을 갖는 메모리 시스템
KR102554496B1 (ko) * 2016-07-14 2023-07-13 에스케이하이닉스 주식회사 복수개의 메모리 모듈을 포함하는 데이터 처리 시스템
US10679722B2 (en) 2016-08-26 2020-06-09 Sandisk Technologies Llc Storage system with several integrated components and method for use therewith
JP6753746B2 (ja) * 2016-09-15 2020-09-09 キオクシア株式会社 半導体記憶装置
US20180246643A1 (en) * 2017-02-28 2018-08-30 Dell Products, Lp System and Method to Perform Runtime Saves on Dual Data Rate NVDIMMs
US20180322914A1 (en) * 2017-05-03 2018-11-08 Mediatek Inc. Multi-rank topology of memory module and associated control method
US10496584B2 (en) 2017-05-11 2019-12-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory system for supporting internal DQ termination of data buffer
KR102553266B1 (ko) 2017-11-03 2023-07-07 삼성전자 주식회사 온-다이-터미네이션 회로를 포함하는 메모리 장치
CN108682441B (zh) * 2018-04-25 2021-04-30 深圳市国微电子有限公司 一种静态sram的读写电路及集成电路
US11276443B2 (en) * 2018-10-16 2022-03-15 Micron Technology, Inc. Offset cancellation
JP2020102286A (ja) * 2018-12-21 2020-07-02 キオクシア株式会社 半導体記憶装置
KR20200078994A (ko) 2018-12-24 2020-07-02 에스케이하이닉스 주식회사 터미네이션을 수행하는 반도체 장치 및 이를 포함하는 반도체 시스템
JP7266698B2 (ja) * 2019-10-15 2023-04-28 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント 信号処理チップ、及び信号処理システム
KR20210057859A (ko) 2019-11-12 2021-05-24 삼성전자주식회사 위치 정보를 식별하여 셀프 캘리브레이션을 수행하는 메모리 장치 및 그것을 포함하는 메모리 모듈
US10998904B1 (en) * 2019-11-15 2021-05-04 Xilinx, Inc. Programmable termination circuits for programmable devices
US11210429B2 (en) * 2020-03-10 2021-12-28 Micron Technology, Inc. Memory access gate
DE102020108101A1 (de) * 2020-03-24 2021-09-30 Pilz Gmbh & Co. Kg Vorrichtung zur Speicherung von Daten in einem nichtflüchtigen Speicher
US11200190B2 (en) * 2020-04-21 2021-12-14 Innogrit Technologies Co., Ltd. Command based on-die termination for high-speed NAND interface
US20220043135A1 (en) * 2020-08-05 2022-02-10 Rockwell Automation Technologies, Inc. Automatic device ordering
KR20220126364A (ko) * 2021-03-09 2022-09-16 에스케이하이닉스 주식회사 컴퓨터 시스템 및 이를 위한 인터페이스 회로

Family Cites Families (101)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4131942A (en) 1977-01-10 1978-12-26 Xerox Corporation Non-volatile storage module for a controller
DE4142081A1 (de) 1990-12-20 1992-07-23 Murata Manufacturing Co Abschlussschaltkreis zum abschluss einer datenbusleitung
US5272396B2 (en) * 1991-09-05 1996-11-26 Unitrode Corp Controllable bus terminator with voltage regulation
JPH0784863A (ja) 1993-09-20 1995-03-31 Hitachi Ltd 情報処理装置およびそれに適した半導体記憶装置
US5467455A (en) 1993-11-03 1995-11-14 Motorola, Inc. Data processing system and method for performing dynamic bus termination
US5570037A (en) * 1994-07-20 1996-10-29 Methode Electronics Switchable differential terminator
US5541534A (en) 1995-02-13 1996-07-30 International Business Machines Corporation Mixed voltage interface converter
US5578940A (en) 1995-04-04 1996-11-26 Rambus, Inc. Modular bus with single or double parallel termination
US5546016A (en) 1995-07-03 1996-08-13 Intel Corporation MOS termination for low power signaling
US5666078A (en) 1996-02-07 1997-09-09 International Business Machines Corporation Programmable impedance output driver
US5726583A (en) 1996-07-19 1998-03-10 Kaplinsky; Cecil H. Programmable dynamic line-termination circuit
JP3439096B2 (ja) * 1996-11-18 2003-08-25 株式会社日立製作所 終端抵抗制御型バスシステム
US5995894A (en) 1997-05-27 1999-11-30 Case Corporation System for analyzing spatially-variable harvest data by pass
US6323672B1 (en) 1997-06-25 2001-11-27 Sun Microsystems, Inc. Apparatus for reducing reflections when using dynamic termination logic signaling
US5982191A (en) * 1997-06-25 1999-11-09 Sun Microsystems, Inc. Broadly distributed termination for buses using switched terminator logic
US6232792B1 (en) * 1997-06-25 2001-05-15 Sun Microsystems, Inc. Terminating transmission lines using on-chip terminator circuitry
US6060907A (en) 1997-06-25 2000-05-09 Sun Microsystems, Inc. Impedance control circuit
US6087847A (en) * 1997-07-29 2000-07-11 Intel Corporation Impedance control circuit
JPH11154852A (ja) * 1997-11-20 1999-06-08 Mitsubishi Electric Corp 反射抑制装置
US6198307B1 (en) 1998-10-26 2001-03-06 Rambus Inc. Output driver circuit with well-controlled output impedance
US6157206A (en) 1998-12-31 2000-12-05 Intel Corporation On-chip termination
US6069539A (en) * 1999-05-27 2000-05-30 Cisco Technology, Inc. VTT power distribution system
US6463543B1 (en) * 1999-08-03 2002-10-08 Btech, Inc. Serial bus communications system
US6308232B1 (en) 1999-09-01 2001-10-23 Rambus Inc. Electronically moveable terminator and method for using same in a memory system
US7572238B2 (en) * 1999-10-04 2009-08-11 Dermanew, Inc. Handheld sonic microdermabrasion porous applicator
US6560666B1 (en) * 1999-11-23 2003-05-06 Intel Corporation Hub link mechanism for impedance compensation update
US6424200B1 (en) 2000-06-12 2002-07-23 Lsi Logic Corporation Termination impedance trimming circuit
US6356105B1 (en) 2000-06-28 2002-03-12 Intel Corporation Impedance control system for a center tapped termination bus
US6356106B1 (en) * 2000-09-12 2002-03-12 Micron Technology, Inc. Active termination in a multidrop memory system
US8391039B2 (en) 2001-04-24 2013-03-05 Rambus Inc. Memory module with termination component
US6675272B2 (en) * 2001-04-24 2004-01-06 Rambus Inc. Method and apparatus for coordinating memory operations among diversely-located memory components
DE10124176B4 (de) * 2001-05-17 2005-10-06 Infineon Technologies Ag Vorrichtung und Verfahren zum Reduzieren von Reflexionen in einem Speicherbussystem
KR100410552B1 (ko) 2001-07-13 2003-12-18 삼성전자주식회사 반도체 메모리의 종단임피던스 정합부 제어장치 및 그 방법
KR100389928B1 (ko) * 2001-07-20 2003-07-04 삼성전자주식회사 액티브 터미네이션 제어를 위한 반도체 메모리 시스템
US7102958B2 (en) * 2001-07-20 2006-09-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Integrated circuit memory devices that support selective mode register set commands and related memory modules, memory controllers, and methods
JP3799251B2 (ja) 2001-08-24 2006-07-19 エルピーダメモリ株式会社 メモリデバイス及びメモリシステム
US7102200B2 (en) 2001-09-04 2006-09-05 Intel Corporation On-die termination resistor with analog compensation
JP4317353B2 (ja) * 2001-10-19 2009-08-19 三星電子株式会社 メモリシステムの能動終端抵抗の制御装置及び方法
US6981089B2 (en) * 2001-12-31 2005-12-27 Intel Corporation Memory bus termination with memory unit having termination control
KR100454126B1 (ko) * 2002-01-15 2004-10-26 삼성전자주식회사 분리된 클록 라인을 구비한 정보 처리 시스템
US6683472B2 (en) * 2002-02-19 2004-01-27 Rambus Inc. Method and apparatus for selectably providing single-ended and differential signaling with controllable impedance and transition time
US6639423B2 (en) 2002-03-12 2003-10-28 Intel Corporation Current mode driver with variable termination
JP2003283322A (ja) * 2002-03-27 2003-10-03 Mitsubishi Electric Corp インターフェイス回路および半導体装置
US6781405B2 (en) 2002-04-29 2004-08-24 Rambus Inc. Adaptive signal termination
US6894691B2 (en) 2002-05-01 2005-05-17 Dell Products L.P. Dynamic switching of parallel termination for power management with DDR memory
KR100422451B1 (ko) * 2002-05-24 2004-03-11 삼성전자주식회사 온-다이 터미네이션 제어방법 및 그에 따른 제어회로
JP2004021916A (ja) * 2002-06-20 2004-01-22 Renesas Technology Corp データバス
US6965529B2 (en) 2002-06-21 2005-11-15 Intel Coproration Memory bus termination
KR100448901B1 (ko) * 2002-08-23 2004-09-16 삼성전자주식회사 종결 회로를 갖는 반도체 집적 회로의 레이아웃
KR100860523B1 (ko) * 2002-10-11 2008-09-26 엘지디스플레이 주식회사 횡전계방식 액정 표시 소자 및 그 제조방법
JP3808026B2 (ja) * 2002-10-23 2006-08-09 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
KR100464437B1 (ko) * 2002-11-20 2004-12-31 삼성전자주식회사 온칩 dc 전류 소모를 최소화할 수 있는 odt 회로와odt 방법 및 이를 구비하는 메모리장치를 채용하는메모리 시스템
US7142461B2 (en) * 2002-11-20 2006-11-28 Micron Technology, Inc. Active termination control though on module register
US6842035B2 (en) 2002-12-31 2005-01-11 Intel Corporation Apparatus and method for bus signal termination compensation during detected quiet cycle
US6856169B2 (en) 2003-05-09 2005-02-15 Rambus, Inc. Method and apparatus for signal reception using ground termination and/or non-ground termination
KR100541045B1 (ko) * 2003-05-13 2006-01-10 삼성전자주식회사 듀얼 뱅크 시스템, 이 시스템에 사용을 위한 메모리, 및이 메모리의 온 다이 종단 방법
KR100583636B1 (ko) 2003-08-19 2006-05-26 삼성전자주식회사 단일의 기준 저항기를 이용하여 종결 회로 및 오프-칩구동 회로의 임피던스를 제어하는 장치
US7042859B2 (en) * 2003-09-02 2006-05-09 Santera Systems, Inc. Methods and systems for performing call handover in a media gateway
US6924660B2 (en) 2003-09-08 2005-08-02 Rambus Inc. Calibration methods and circuits for optimized on-die termination
JP2005119471A (ja) 2003-10-16 2005-05-12 Calsonic Kansei Corp 車両用表示装置
US6980020B2 (en) 2003-12-19 2005-12-27 Rambus Inc. Calibration methods and circuits for optimized on-die termination
US7532537B2 (en) 2004-03-05 2009-05-12 Netlist, Inc. Memory module with a circuit providing load isolation and memory domain translation
KR100539252B1 (ko) * 2004-03-08 2005-12-27 삼성전자주식회사 데이터 버스 및 커맨드/어드레스 버스를 통해 전송되는신호의 충실도를 향상시킬 수 있는 메모리 모듈 및 이를포함하는 메모리 시스템
KR100604843B1 (ko) * 2004-03-26 2006-07-31 삼성전자주식회사 온-다이 종단 회로를 구비한 메모리 모듈 및 그 제어 방법
US20050228912A1 (en) * 2004-03-30 2005-10-13 Walker Clinton F Memory address bus termination control
KR100541557B1 (ko) 2004-04-13 2006-01-10 삼성전자주식회사 메모리 모듈 및 이 모듈의 반도체 메모리 장치의 임피던스교정 방법
US7516281B2 (en) 2004-05-25 2009-04-07 Micron Technology, Inc. On-die termination snooping for 2T applications in a memory system implementing non-self-terminating ODT schemes
US7173450B2 (en) 2004-06-01 2007-02-06 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Bus controller
CN100584654C (zh) * 2004-07-12 2010-01-27 天津大学 基于can总线的纯电动汽车主控制器装置及其控制方法
US7092312B2 (en) * 2004-08-03 2006-08-15 Micron Technology, Inc. Pre-emphasis for strobe signals in memory device
US7123047B2 (en) 2004-08-18 2006-10-17 Intel Corporation Dynamic on-die termination management
KR100555571B1 (ko) * 2004-09-07 2006-03-03 삼성전자주식회사 반도체 장치의 송신기
US7433992B2 (en) * 2004-11-18 2008-10-07 Intel Corporation Command controlling different operations in different chips
US7996590B2 (en) * 2004-12-30 2011-08-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory module and semiconductor memory system having termination resistor units
US8335115B2 (en) * 2004-12-30 2012-12-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory module and semiconductor memory system having termination resistor units
US7138823B2 (en) 2005-01-20 2006-11-21 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for independent control of on-die termination for output buffers of a memory device
JP2005310153A (ja) * 2005-04-19 2005-11-04 Elpida Memory Inc メモリ装置
WO2006129779A1 (ja) * 2005-05-30 2006-12-07 Seiko Epson Corporation 半導体記憶装置
US20060277355A1 (en) 2005-06-01 2006-12-07 Mark Ellsberry Capacity-expanding memory device
TWI264881B (en) 2005-06-13 2006-10-21 Airoha Technology Inc Method and apparatus for RF signal demodulation
US7432731B2 (en) 2005-06-30 2008-10-07 Intel Corporation Method and apparatus to calibrate DRAM on resistance (Ron) and on-die termination (ODT) values over process, voltage and temperature (PVT) variations
DE102005036528B4 (de) 2005-07-29 2012-01-26 Qimonda Ag Speicherbaustein und Verfahren zum Betreiben eines Speicherbausteins
KR100640158B1 (ko) 2005-09-27 2006-11-01 주식회사 하이닉스반도체 데이터 출력드라이버의 임피던스를 조정할 수 있는 반도체메모리 장치
US7414426B2 (en) * 2005-12-07 2008-08-19 Intel Corporation Time multiplexed dynamic on-die termination
US7342411B2 (en) 2005-12-07 2008-03-11 Intel Corporation Dynamic on-die termination launch latency reduction
US7372293B2 (en) 2005-12-07 2008-05-13 Intel Corporation Polarity driven dynamic on-die termination
US7439760B2 (en) 2005-12-19 2008-10-21 Rambus Inc. Configurable on-die termination
US20070247185A1 (en) * 2006-03-30 2007-10-25 Hideo Oie Memory system with dynamic termination
US7486104B2 (en) * 2006-06-02 2009-02-03 Rambus Inc. Integrated circuit with graduated on-die termination
JP5019573B2 (ja) * 2006-10-18 2012-09-05 キヤノン株式会社 メモリ制御回路とメモリシステム、及びそのメモリ制御方法、及び集積回路
WO2008079911A1 (en) * 2006-12-21 2008-07-03 Rambus Inc. Dynamic on-die termination of address and command signals
KR100943861B1 (ko) 2008-06-12 2010-02-24 주식회사 하이닉스반도체 임피던스 매칭된 양방향 멀티 드롭 버스 시스템, 그를이용한 메모리 시스템 및 메모리 모듈
JP5346259B2 (ja) * 2009-09-08 2013-11-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路
KR20110050923A (ko) * 2009-11-09 2011-05-17 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치, 반도체 메모리 모듈 및 이를 구비하는 반도체 메모리 시스템
US8531898B2 (en) * 2010-04-02 2013-09-10 Samsung Electronics Co., Ltd. On-die termination circuit, data output buffer and semiconductor memory device
JP2013534100A (ja) * 2010-06-17 2013-08-29 ラムバス・インコーポレーテッド 平衡したオンダイターミネーション
US8988102B2 (en) * 2011-02-02 2015-03-24 Rambus Inc. On-die termination
KR101858578B1 (ko) * 2011-12-21 2018-05-18 에스케이하이닉스 주식회사 이종 칩들을 포함하는 반도체 패키지 및 이를 포함하는 메모리 시스템
KR102098243B1 (ko) * 2013-07-19 2020-05-26 삼성전자주식회사 집적 회로 및 그것의 데이터 입력 방법
US9780782B2 (en) * 2014-07-23 2017-10-03 Intel Corporation On-die termination control without a dedicated pin in a multi-rank system
KR102656206B1 (ko) * 2016-12-08 2024-04-11 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 장치

Also Published As

Publication number Publication date
US20190348985A1 (en) 2019-11-14
US20200287542A1 (en) 2020-09-10
US20200358441A1 (en) 2020-11-12
US20080315916A1 (en) 2008-12-25
EP2133799A2 (en) 2009-12-16
CN102279833B (zh) 2016-01-06
US7782082B2 (en) 2010-08-24
US20170331477A1 (en) 2017-11-16
EP2458508B1 (en) 2015-07-08
EP4235446A2 (en) 2023-08-30
US20130307584A1 (en) 2013-11-21
EP3761184C0 (en) 2023-07-05
US8981811B2 (en) 2015-03-17
EP3761184A1 (en) 2021-01-06
US20150042378A1 (en) 2015-02-12
US10056902B2 (en) 2018-08-21
US20090284281A1 (en) 2009-11-19
US20150263733A1 (en) 2015-09-17
US8610459B2 (en) 2013-12-17
US7486104B2 (en) 2009-02-03
US20150236694A1 (en) 2015-08-20
US20110156750A1 (en) 2011-06-30
US20150244365A1 (en) 2015-08-27
US9306565B2 (en) 2016-04-05
WO2008030641A2 (en) 2008-03-13
US7602209B2 (en) 2009-10-13
CN101460936B (zh) 2011-08-31
US9306567B2 (en) 2016-04-05
US20070279084A1 (en) 2007-12-06
US20150244364A1 (en) 2015-08-27
US8089298B2 (en) 2012-01-03
US20110267101A1 (en) 2011-11-03
US20160005489A1 (en) 2016-01-07
US20150249451A1 (en) 2015-09-03
US9660648B2 (en) 2017-05-23
US9306568B2 (en) 2016-04-05
US20190052269A1 (en) 2019-02-14
US20100315122A1 (en) 2010-12-16
EP2133799B1 (en) 2012-10-03
US20110241727A1 (en) 2011-10-06
US7924048B2 (en) 2011-04-12
US20120265930A1 (en) 2012-10-18
EP1999602B1 (en) 2012-11-21
JP2009540633A (ja) 2009-11-19
US9166583B2 (en) 2015-10-20
US10270442B2 (en) 2019-04-23
US9225328B2 (en) 2015-12-29
US11349478B2 (en) 2022-05-31
EP1999602A2 (en) 2008-12-10
EP2442232A2 (en) 2012-04-18
EP2133799A3 (en) 2010-03-03
CN101460936A (zh) 2009-06-17
EP3761184B1 (en) 2023-07-05
US20160233863A1 (en) 2016-08-11
US20150229306A1 (en) 2015-08-13
US9135206B2 (en) 2015-09-15
DE202007018730U1 (de) 2009-04-09
US9337835B2 (en) 2016-05-10
US10944400B2 (en) 2021-03-09
US9306564B2 (en) 2016-04-05
EP2860641B1 (en) 2020-07-22
US20220345131A1 (en) 2022-10-27
US8188762B2 (en) 2012-05-29
EP4235446A3 (en) 2023-10-25
EP2442232B1 (en) 2014-02-26
US8610455B2 (en) 2013-12-17
EP2458508A1 (en) 2012-05-30
US10651849B2 (en) 2020-05-12
US9306566B2 (en) 2016-04-05
EP2860641A1 (en) 2015-04-15
CN102279833A (zh) 2011-12-14
WO2008030641A3 (en) 2008-05-29
US20150084672A1 (en) 2015-03-26
EP2442232A3 (en) 2013-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5113159B2 (ja) 段階的オンダイターミネーションを備えた集積回路

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120118

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120416

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120517

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120815

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120918

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121011

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151019

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5113159

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250