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  1. 多結晶体を含む半導体焼結体であって、
    前記多結晶体は、マグネシウムシリサイド、又はマグネシウムシリサイドを含む合金を含み、
    前記多結晶体を構成する結晶粒の平均粒径が1μm以下であり、
    電気伝導率が10,000S/m以上である、半導体焼結体。
  2. リン、アルミニウム、ヒ素、アンチモン、ビスマスから選択される1つ以上のドーパントを含有する、請求項1に記載の半導体焼結体。
  3. リチウム、ホウ素、アルミニウム、ガリウム、インジウム、タリウムから選択される1つ以上のドーパントを含有する、請求項1に記載の半導体焼結体。
  4. ゼーベック係数が−150〜50μV/Kである、請求項1から3のいずれか一項に記載の半導体焼結体。
  5. 請求項1から4のいずれか一項に記載の半導体焼結体を含む電気・電子部材。
  6. マグネシウムシリサイド又はマグネシウムシリサイドを含む合金を含み、平均粒径が1μm以下である粒子を準備する粒子準備ステップと、
    前記粒子の表面に、ドーパント元素を含む膜を形成する被膜形成ステップと、
    前記被膜が表面に形成された粒子を焼結して、半導体焼結体を得る焼結ステップと
    を含む、半導体焼結体の製造方法。
  7. 前記ドーパント元素が、リン、ヒ素、アンチモン、ビスマスから選択される1つ以上を含む、請求項6に記載の半導体焼結体の製造方法。
  8. 前記ドーパント元素が、ホウ素、アルミニウム、ガリウム、インジウム、タリウムから選択される1つ以上を含む、請求項6に記載の半導体焼結体の製造方法。
  9. 前記焼結ステップを、600℃以上の温度で行う、請求項6から8のいずれか一項に記載の半導体焼結体の製造方法。
  10. 前記焼結ステップが、放電プラズマ焼結を行うことを含む、請求項6から9のいずれか一項に記載の半導体焼結体の製造方法。
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