JP2015039026A - 電子部品及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】回路基板のランドと外部電極とを接続するはんだ内に空気が残留することを抑制する。
【解決手段】長方形状の複数の絶縁体層が積層されて構成され、複数の絶縁体層の辺が連なることによって構成されている実装面を有している積層体12と、実装面において絶縁体層間から露出している複数の第1の引き出し導体22と、実装面において複数の第1の引き出し導体を覆っている第1の外部電極と、を備えている。実装面は、実装時に回路基板と対向する面であり、実装面において積層方向の両端に位置する2つの第1の引き出し導体に挟まれた部分は、実装面を構成している絶縁体層の辺が延在している延在方向から平面視したときに、該部分の中央が該部分の両端よりも突出するように湾曲している。
【選択図】図4

Description

本発明は、電子部品及びその製造方法に関し、より特定的には、絶縁体層が積層されて構成されている積層体を備えた電子部品及びその製造方法に関する。
従来の電子部品としては、例えば、特許文献1に記載の積層コイル部品が知られている。図15は、特許文献1に記載の積層コイル部品100の透視図である。
積層コイル部品100は、セラミック積層体110、コイル導体120及び外部電極130を備えている。セラミック積層体110は、複数のセラミック層が積層されて構成されている。コイル導体120は、内部導体層121とビアホール122とが接続されることにより構成されており、セラミック積層体110の積層方向と平行なコイル軸を有している螺旋状のコイルである。2つの外部電極130はそれぞれ、積層方向に直交する方向に位置する実装面に設けられており、コイル導体120の両端に接続されている。以上のような積層コイル部品100は、回路基板のランドと外部電極130とがはんだにより接合されることにより、回路基板に実装される。
しかしながら、特許文献1に記載の積層コイル部品100では、はんだに空気が残留するおそれがある。より詳細には、外部電極130は、実装面のみに設けられており、平面状をなしている。積層コイル部品100の回路基板への実装時に、はんだ内に空気が混入すると、外部電極130とランドとに空気が挟み込まれてしまい、空気がはんだ外に出ることができなくなってしまう。このように、はんだ内に空気が残留すると、ランドと外部電極130との間で接続不良が発生するおそれがある。
特開平2005−322743号公報
そこで、本発明の目的は、回路基板のランドと外部電極とを接続するはんだ内に空気が残留することを抑制できる電子部品及びその製造方法を提供することである。
本発明の一形態に係る電子部品は、長方形状の複数の絶縁体層が積層されて構成され、該複数の絶縁体層の辺が連なることによって構成されている実装面を有している積層体と、前記実装面において前記絶縁体層間から露出している複数の第1の引き出し導体と、前記実装面において前記複数の第1の引き出し導体を覆っている第1の外部電極と、を備えており、前記実装面は、実装時に回路基板と対向する面であり、前記実装面において積層方向の両端に位置する2つの前記第1の引き出し導体に挟まれた部分は、該実装面を構成している前記絶縁体層の辺が延在している延在方向から平面視したときに、該部分の中央が該部分の両端よりも突出するように湾曲していること、を特徴とする。
本発明の一実施形態に係る電子部品の製造方法は、前記第1の引き出し導体及び前記素子導体が設けられている未焼成の前記積層体を得る第1の工程と、前記積層体を焼成する第2の工程と、を備えていること、を特徴とする。
本発明によれば、回路基板のランドと外部電極とを接続するはんだ内に空気が残留することを抑制できる。
実施形態に係る電子部品の平面図である。 図1の電子部品の積層体の分解図である。 図3(a)は、図1の電子部品の積層体の外観斜視図である。図3(b)は、図1の電子部品の外観斜視図である。 図3(a)のX−Xにおける断面構造図である。 電子部品が回路基板に実装された様子を示した図である。 電子部品がノズルにより吸着される様子を示した図である。 第1の変形例に係る電子部品の断面構造図である。 第2の変形例に係る電子部品の断面構造図である。 第3の変形例に係る電子部品の断面構造図である。 図10(a)は、第4の変形例に係る電子部品の積層体の外観斜視図である。図10(b)は、第4の変形例に係る電子部品の外観斜視図である。 第5の変形例に係る電子部品の平面図である。 第5の変形例に係る電子部品の積層体の分解図である。 図13(a)は、第5の変形例に係る電子部品の積層体の外観斜視図である。図13(b)は、第5の変形例に係る電子部品の外観斜視図である。 図13(a)のX−Xにおける断面構造図である。 特許文献1に記載の積層コイル部品の透視図である。
以下に、本発明の実施形態に係る電子部品及びその製造方法について説明する。
(電子部品の構成)
以下に、本発明の実施形態に係る電子部品について図面を参照しながら説明する。図1は、実施形態に係る電子部品10の平面図である。図2は、図1の電子部品10の積層体12の分解図である。図3(a)は、図1の電子部品10の積層体12の外観斜視図である。図3(b)は、図1の電子部品10の外観斜視図である。図4は、図3(a)のX−Xにおける断面構造図である。図4では、外部電極14a,14bは省略してある。以下、電子部品10の積層方向をy軸方向と定義し、y軸方向から平面視したときに、電子部品10の短辺に沿った方向をz軸方向と定義し、電子部品10の長辺に沿った方向をx軸方向と定義する。x軸、y軸及びz軸は互いに直交している。
電子部品10は、図1及び図2に示すように、積層体12、外部電極14a,14b、ダミー引き出し導体20a〜20g,24a〜24g、引き出し導体22,26、コイルL及びビアホール導体v11〜v24を備えている。
積層体12は、直方体状をなしており、コイルLを内蔵している。積層体12は、底面S1、上面S2、側面S3,S4及び端面S5,S6を有している。底面S1は、積層体12のz軸方向の負方向側の面であり、電子部品10が回路基板に実装される際に、該回路基板と対向する実装面である。上面S2は、積層体12のz軸方向の正方向側の面である。側面S3は、積層体12のy軸方向の負方向側の面である。側面S4は、積層体12のy軸方向の正方向側の面である。端面S5は、積層体12のx軸方向の負方向側の面である。端面S6は、積層体12のx軸方向の正方向側の面である。
積層体12は、図2に示すように、絶縁体層16a〜16jがy軸方向の負方向側から正方向側へとこの順に並ぶように積層されることにより構成されている。絶縁体層16a〜16jはそれぞれ、長方形状をなしており、例えば、Ni−Cu−Zn系フェライトからなる磁性体材料により作製されている。以下では、絶縁体層16a〜16jのy軸方向の負方向側の面を表面と呼び、絶縁体層16a〜16jのy軸方向の正方向側の面を裏面と呼ぶ。
底面S1は、絶縁体層16a〜16jのz軸方向の負方向側の長辺が連なることによって構成されている。上面S2は、絶縁体層16a〜16jのz軸方向の正方向側の長辺が連なることによって構成されている。側面S3は、絶縁体層16aの表面により構成されている。側面S4は、絶縁体層16jの裏面により構成されている。端面S5は、絶縁体層16a〜16jのx軸方向の負方向側の短辺が連なることによって構成されている。端面S6は、絶縁体層16a〜16jのx軸方向の正方向側の短辺が連なることによって構成されている。
コイルLは、図2に示すように、コイル導体18a〜18d及びビアホール導体v1〜v3を含んでいる。コイルLは、コイル導体18a〜18dがビアホール導体v1〜v3により接続されることにより構成されているヘリカルコイルである。コイルLは、y軸方向に延在するコイル軸を有しており、y軸方向の負方向側から平面視したときに、時計回り方向に旋廻しながらy軸方向の負方向側に向かって進行する螺旋状をなしている。また、コイルLは、端部t1,t2を有している。コイルLの端部t1は、コイルLの端部t2よりもy軸方向の正方向側に位置している。
コイル導体18a〜18dはそれぞれ、図2に示すように、絶縁体層16d〜16g上に設けられている。コイル導体18a〜18dはそれぞれ、Agからなる導電性材料により構成され、線状導体が折り曲げられることにより楕円形状の一部を構成している。そして、コイル導体18a〜18dは、y軸方向から平面視したときに、互いに重なり合って楕円形状をなしている。以下では、コイル導体18a〜18dの時計回り方向の上流側の端部を単に上流端と呼び、コイル導体18a〜18dの時計回り方向の下流側の端部を単に下流端と呼ぶ。コイルLの端部t1は、コイル導体18dの上流端であり、コイルLの端部t2は、コイル導体18aの下流端である。
ビアホール導体v1〜v3は、コイル導体18a〜18dを接続している。より詳細には、ビアホール導体v1は、コイル導体18aの上流端とコイル導体18bの下流端とを接続している。ビアホール導体v2は、コイル導体18bの上流端とコイル導体18cの下流端とを接続している。ビアホール導体v3は、コイル導体18cの上流端とコイル導体18dの下流端とを接続している。
引き出し導体22は、絶縁体層16gの表面に設けられており、底面S1において絶縁体層16f,16g間から露出している。より詳細には、引き出し導体22は、x軸方向に延在する長方形状をなしており、絶縁体層16gのz軸方向の負方向側の長辺に沿って設けられている。引き出し導体22は、絶縁体層16gのz軸方向の長辺のx軸方向の正方向側の端部近傍に設けられており、絶縁体層16gのx軸方向の正方向側の短辺には接していない。これにより、引き出し導体22は、底面S1においてx軸方向に延在する線状に露出している。また、引き出し導体22は、コイル導体18dの上流端に接続されている。
ダミー引き出し導体20a〜20gはそれぞれ、絶縁体層16b〜16f,16h,16iの表面に設けられており、底面S1において絶縁体層16a〜16gの間から露出している。ダミー引き出し導体20a〜20gは、引き出し導体22と同じ形状をなしており、y軸方向から平面視したときに、一致した状態で重なっている。これにより、引き出し導体22及びダミー引き出し導体20a〜20gは、図3(a)に示すように、長方形状の形成領域A1内において底面S1から露出している。
引き出し導体22及びダミー引き出し導体20a〜20gの厚みは、図4に示すように、コイル導体18a〜18dの厚みよりも大きい。
また、ダミー引き出し導体20a,20b及びダミー引き出し導体20f,20gは、y軸方向においてコイルLの端部t1,t2よりも外側(すなわち、y軸方向の正方向側及び負方向側)に設けられている。
引き出し導体26は、絶縁体層16dの表面に設けられており、底面S1において絶縁体層16c,16d間から露出している。より詳細には、引き出し導体26は、x軸方向に延在する長方形状をなしており、絶縁体層16dのz軸方向の負方向側の長辺に沿って設けられている。引き出し導体26は、絶縁体層16dのz軸方向の長辺のx軸方向の負方向側の端部近傍に設けられており、絶縁体層16dのx軸方向の負方向側の短辺には接していない。これにより、引き出し導体26は、底面S1においてx軸方向に延在する線状に露出している。また、引き出し導体26は、コイル導体18aの下流端に接続されている。
ダミー引き出し導体24a〜24gはそれぞれ、絶縁体層16b,16c,16e〜16iの表面に設けられており、底面S1において絶縁体層16a〜16gの間から露出している。ダミー引き出し導体24a〜24gは、引き出し導体26と同じ形状をなしており、y軸方向から平面視したときに、一致した状態で重なっている。これにより、引き出し導体26及びダミー引き出し導体24a〜24gは、図3(a)に示すように、長方形状の形成領域A2内において底面S1から露出している。
引き出し導体26及びダミー引き出し導体24a〜24gの厚みは、コイル導体18a〜18dの厚みよりも大きい。
また、ダミー引き出し導体24a,24b及びダミー引き出し導体24f,24gは、y軸方向においてコイルLの端部t1,t2よりも外側(すなわち、y軸方向の正方向側及び負方向側)に設けられている。
ビアホール導体v11〜v17はそれぞれ、絶縁体層16b〜16hをy軸方向に貫通しており、y軸方向から平面視したときに互いに重なりあっている。ビアホール導体v11は、ダミー引き出し導体20aとダミー引き出し導体20bとを接続している。ビアホール導体v12は、ダミー引き出し導体20bとダミー引き出し導体20cとを接続している。ビアホール導体v13は、ダミー引き出し導体20cとダミー引き出し導体20dとを接続している。ビアホール導体v14は、ダミー引き出し導体20dとダミー引き出し導体20eとを接続している。ビアホール導体v15は、ダミー引き出し導体20eと引き出し導体22とを接続している。ビアホール導体v16は、引き出し導体22とダミー引き出し導体20fとを接続している。ビアホール導体v17は、ダミー引き出し導体20fとダミー引き出し導体20gとを接続している。これにより、引き出し導体22とダミー引き出し導体20a〜20gとが接続されている。
ビアホール導体v18〜v24はそれぞれ、絶縁体層16b〜16hをy軸方向に貫通しており、y軸方向から平面視したときに互いに重なりあっている。ビアホール導体v18は、ダミー引き出し導体24aとダミー引き出し導体24bとを接続している。ビアホール導体v19は、ダミー引き出し導体24bと引き出し導体26とを接続している。ビアホール導体v20は、引き出し導体26とダミー引き出し導体24cとを接続している。ビアホール導体v21は、ダミー引き出し導体24cとダミー引き出し導体24dとを接続している。ビアホール導体v22は、ダミー引き出し導体24dとダミー引き出し導体24eとを接続している。ビアホール導体v23は、ダミー引き出し導体24eとダミー引き出し導体24fとを接続している。ビアホール導体v24は、ダミー引き出し導体24fとダミー引き出し導体24gとを接続している。これにより、引き出し導体26とダミー引き出し導体24a〜24gとが接続されている。
外部電極14aは、図3(b)に示すように、底面S1においてダミー引き出し導体20a〜20g及び引き出し導体22を覆うように、積層体12の底面S1の形成領域A1に直接めっきにより形成されている。外部電極14bは、図3(b)に示すように、底面S1においてダミー引き出し導体24a〜24g及び引き出し導体26を覆うように、積層体12の底面S1の領域A2に直接めっきにより形成されている。外部電極14a,14bはそれぞれ、形成領域A1,A2と同じ長方形状をなしており、底面S1に隣接する側面S3,S4及び端面S5,S6には設けられていない。また、外部電極14aは、外部電極14bよりもx軸方向の正方向側に位置している。外部電極14a,14bの材料としては、例えば、Cu、Ni、Sn等が挙げられる。
以上にように構成された電子部品10では、引き出し導体22、ダミー引き出し導体20a〜20g及びコイル導体18a〜18dを含むx軸方向に垂直な図4に示す断面において以下に説明する構成を有する。まず、引き出し導体22及びダミー引き出し導体20a〜20gを含む領域を断面領域E1とする。コイル導体18a〜18dを含み、かつ、断面領域E1を除く残余の領域を断面領域E2とする。断面領域E1は、コイル導体18a〜18dとダミー引き出し導体20a〜20g及び引き出し導体22との間を通過するy軸に平行な線L1と底面S1とに挟まれている領域である。断面領域E2は、コイル導体18a〜18dとダミー引き出し導体20a〜20g及び引き出し導体22との間を通過するy軸に平行な線L1と上面S2とに挟まれている領域である。
図4に示すように、断面領域E1に占める引き出し導体22及びダミー引き出し導体20a〜20gの面積比は、断面領域E2に占めるコイル導体18a〜18dの面積比よりも大きい。
また、図示しないが、引き出し導体26及びダミー引き出し導体24a〜24gを含む領域を断面領域E1とする。コイル導体18a〜18dを含み、かつ、断面領域E1を除く残余の領域を断面領域E2とする。断面領域E1は、ダミー引き出し導体24a〜24g及び引き出し導体26のz軸方向の正方向側の端部を結んで得られる線よりz軸方向の正方向側を通過する線L1と底面S1とに挟まれている領域である。断面領域E2は、ダミー引き出し導体24a〜24g及び引き出し導体26のz軸方向の正方向側の端部を結んで得られる線よりz軸方向の正方向側を通過する線L1と上面S2とに挟まれている領域である。
断面領域E1に占める引き出し導体26及びダミー引き出し導体24a〜24gの面積比は、断面領域E2に占めるコイル導体18a〜18dの面積比よりも大きい。
また、電子部品10では、図4に示すように、形成領域A1,A2は、底面S1を構成している絶縁体層16a〜16jの長辺が延在している延在方向(x軸方向)から平面視したときに、形成領域A1,A2の中央が形成領域A1,A2の両端よりもz軸方向の負方向側に突出するように湾曲している。本実施形態に係る電子部品10では、底面S1は、x軸方向から平面視したときに、中央が両端よりもz軸方向の負方向側に突出するように湾曲している。底面S1の湾曲量Dとは、図4に示すように、底面S1が最も突出している部分(通常では、底面S1のy軸方向の中央)と底面S1のy軸方向の両端とのz軸方向の距離である。
また、外部電極14a,14bは、形成領域A1,A2に設けられている。よって、外部電極14a,14bも、x軸方向から平面視したときに、外部電極14a,14bの中央が外部電極14a,14bの両端よりもz軸方向の負方向側に突出するように湾曲している。
(電子部品の製造方法)
以下に、電子部品10の製造方法について図面を参照しながら説明する。なお、以下では、複数の電子部品10を同時に作製する際の電子部品10の製造方法について説明する。
まず、図2の絶縁体層16a〜16jとなるべきセラミックグリーンシートを準備する。具体的には、酸化第二鉄(Fe23)、酸化亜鉛(ZnO)、酸化銅(CuO)及び酸化ニッケル(NiO)を所定の比率で秤量したそれぞれの材料を原材料としてボールミルに投入し、湿式調合を行う。得られた混合物を乾燥してから粉砕し、得られた粉末を800℃で1時間仮焼する。得られた仮焼粉末をボールミルにて湿式粉砕した後、乾燥してから解砕して、平均粒径が2μmであるフェライトセラミック粉末を得る。
このフェライトセラミック粉末に対して結合剤(酢酸ビニル、水溶性アクリル等)と可塑剤、湿潤材、分散剤を加えてボールミルで混合を行い、その後、減圧により脱泡を行う。得られたセラミックスラリーをドクターブレード法により、キャリアシート上にシート状に形成して乾燥させ、絶縁体層16a〜16jとなるべきセラミックグリーンシートを作製する。
次に、図2に示すように、絶縁体層16b〜16hとなるべきセラミックグリーンシートのそれぞれに、ビアホール導体v1〜v24を形成する。具体的には、絶縁体層16b〜16hとなるべきセラミックグリーンシートにレーザビームを照射してビアホールを形成する。次に、このビアホールに対して、Ag,Pd,Cu,Auやこれらの合金などの導電性ペーストを印刷塗布などの方法により充填する。
次に、図2に示すように、絶縁体層16b〜16iとなるべきセラミックグリーンシートのz軸方向の負方向側の主面(以下、表面と称す)上にコイル導体18a〜18d、ダミー引き出し導体20a〜20g,24a〜24g及び引き出し導体22,26を形成する。具体的には、絶縁体層16b〜16jとなるべきセラミックグリーンシートの表面上に、Ag,Pd,Cu,Auやこれらの合金などを主成分とする導電性ペーストをスクリーン印刷法やフォトリソグラフィ法などの方法で塗布することにより、コイル導体18a〜18d、ダミー引き出し導体20a〜20g,24a〜24g及び引き出し導体22,26を形成する。なお、コイル導体18a〜18d、ダミー引き出し導体20a〜20g,24a〜24g及び引き出し導体22,26を形成する工程とビアホールに対して導電性ペーストを充填する工程とは、同じ工程において行われてもよい。
次に、図2に示すように、絶縁体層16a〜16jとなるべきセラミックグリーンシートをこの順に並ぶように積層・圧着して、未焼成のマザー積層体を得る。絶縁体層16a〜16jとなるべきセラミックグリーンシートの積層・圧着は、1枚ずつ積層して仮圧着してマザー積層体を得た後、未焼成のマザー積層体を静水圧プレスなどにより加圧して本圧着を行う。
次に、マザー積層体をカット刃により所定寸法の積層体12にカットする。これにより未焼成の積層体12を得る。この未焼成の積層体12には、脱バインダー処理及び焼成がなされる。脱バインダー処理は、例えば、低酸素雰囲気中において500℃で2時間の条件で行う。焼成は、例えば、800℃〜900℃で2.5時間の条件で行う。
焼成工程において、絶縁体層16a〜16j、コイル導体18a〜18d、ダミー引き出し導体20a〜20g,24a〜24g及び引き出し導体22,26に収縮が発生する。ただし、セラミックからなる絶縁体層16a〜16jの収縮率は、導体からなるコイル導体18a〜18d、ダミー引き出し導体20a〜20g,24a〜24g及び引き出し導体22,26の収縮率よりも大きい。そのため、相対的に少ない導体が含まれる断面領域E2は、相対的に多くの導体が含まれる断面領域E1に比べて大きく収縮する。よって、図4に示すように、断面領域E2のy軸方向の幅は、断面領域E1のy軸方向の幅よりも小さくなる。これにより、断面領域E2のy軸方向の両端が、z軸方向に引っ張り上げられる。その結果、底面S1は、中央が両端よりもz軸方向の負方向側に突出するように湾曲する。
次に、積層体12に対してバレル研磨加工を施して、面取りを行う。そして、Niめっき及びSnめっきを施すことにより、外部電極14a,14bを形成する。具体的には、積層体12の底面S1には、ダミー引き出し導体20a〜20g,24a〜24g及び引き出し導体22,26が露出している。そこで、めっき工法によって、ダミー引き出し導体20a〜20g,24a〜24g及び引き出し導体22,26を起点に導体膜を成長させることにより、図3(b)に示すように、外部電極14a,14bを形成する。以上の工程により、図1に示すような電子部品10が完成する。
(効果)
本実施形態に係る電子部品10によれば、回路基板のランドと外部電極14a,14bとを接続するはんだ内に空気が残留することを抑制できる。より詳細には、特許文献1に記載の積層コイル部品100では、外部電極130は、実装面のみに設けられており、平面状をなしている。積層コイル部品100の回路基板への実装時に、はんだ内に空気が混入すると、外部電極130とランドとに空気が挟み込まれてしまい、空気がはんだ外に出ることができなくなってしまう。このように、はんだ内に空気が残留すると、ランドと外部電極130との間で接続不良が発生するおそれがある。
そこで、電子部品10では、形成領域A1,A2は、図4に示すように、x軸方向から平面視したときに、形成領域A1,A2の中央が形成領域A1,A2の両端よりも突出するように湾曲している。これにより、外部電極14a,14bも、x軸方向から平面視したときに、外部電極14a,14bの中央が外部電極14a,14bの両端よりもz軸方向の負方向側に突出するように湾曲している。そのため、外部電極14a,14bがはんだを介してランドに接合された際に、外部電極14a,14bのy軸方向の両端とランドとの間隔は、外部電極14a,14bのy軸方向の中央とランドとの間隔よりも大きくなる。よって、空気は、外部電極14a,14bとランドとの間に挟み込まれたとしても、はんだ外に出やすくなる。その結果、電子部品10では、回路基板のランドと外部電極14a,14bとを接続するはんだ内に空気が残留することが抑制される。
また、電子部品10によれば、電子部品10が回路基板に対して傾いた状態で実装されることが抑制される。より詳細には、電子部品10では、形成領域A1,A2は、図4に示すように、x軸方向から平面視したときに、形成領域A1,A2の中央が形成領域A1,A2の両端よりも突出するように湾曲している。これにより、外部電極14a,14bも、x軸方向から平面視したときに、外部電極14a,14bの中央が外部電極14a,14bの両端よりもz軸方向の負方向側に突出するように湾曲している。そのため、外部電極14a,14bがはんだを介してランドに接合された際に、外部電極14a,14bのy軸方向の両端とランドとの間隔は、外部電極14a,14bのy軸方向の中央とランドとの間隔よりも大きくなる。すなわち、電子部品10における外部電極14a,14bのy軸方向の両端とランドとの間のはんだは、湾曲していない実装面を有する電子部品の外部電極とランドとの間のはんだよりも多くなる。これにより、電子部品10において外部電極14a,14bを回路基板に引き付ける表面張力は、湾曲していない実装面を有する電子部品の外部電極14a,14bを回路基板に引き付ける表面張力よりも大きくなる。よって、外部電極14a,14bは、ランドに対して安定して吸着されるようになる。その結果、電子部品10が回路基板に対して傾いた状態で実装されることが抑制される。
電子部品10は、x軸方向から平面視したときに、底面S1を湾曲させるために、以下に説明する構造を有している。より詳細には、セラミックからなる絶縁体層16a〜16jの収縮率は、導体からなるコイル導体18a〜18d、ダミー引き出し導体20a〜20g,24a〜24g及び引き出し導体22,26の収縮率よりも大きい。そこで、図4に示すように、断面領域E1に占める引き出し導体22,26及びダミー引き出し導体20a〜20g,24a〜24gの面積比は、断面領域E2に占めるコイル導体18a〜18dの面積比よりも大きい。したがって、相対的に少ない導体が含まれる断面領域E2は、相対的に多くの導体が含まれる断面領域E1に比べて大きく収縮する。よって、図4に示すように、断面領域E2のy軸方向の幅は、断面領域E1のy軸方向の幅よりも小さくなる。これにより、断面領域E2のy軸方向の両端が、z軸方向に引っ張り上げられる。その結果、底面S1は、中央が両端よりもz軸方向の負方向側に突出するように湾曲する。
また、電子部品10では、ダミー引き出し導体20a,20b,24a,24b及びダミー引き出し導体20f,20g,24f,24gは、y軸方向においてコイルLの端部t1,t2よりも外側(すなわち、y軸方向の正方向側及び負方向側)に設けられている。これにより、断面領域E1のy軸方向の収縮量と断面領域E2のy軸方向の収縮量との差がより大きくなる。その結果、電子部品10では、底面S1の湾曲量Dがより大きくなる。
更に、ダミー引き出し導体20a,20b,24a,24b及びダミー引き出し導体20f,20g,24f,24gの厚みの分だけ、断面領域E1のy軸方向の幅が大きくなる。その結果、断面領域E1のy軸方向の幅と断面領域E2のy軸方向の幅との差が大きくなる。これにより、断面領域E2のy軸方向の両端が、z軸方向により強く引っ張り上げられる。その結果、底面S1は、電子部品10では、底面S1の湾曲量Dがより大きくなる。
更に、電子部品10では、ダミー引き出し導体20c〜20e,24c〜24eは、y軸方向においてコイルLの端部t1,t2よりも内側に設けられている。これにより、断面領域E1のy軸方向の収縮量と断面領域E2のy軸方向の収縮量との差がより大きくなる。その結果、電子部品10では、底面S1の湾曲量Dがより大きくなる。
また、電子部品10では、引き出し導体22,26及びダミー引き出し導体20a〜20f,24a〜24fの厚みは、図4に示すように、コイル導体18a〜18dの厚みよりも大きい。これにより、断面領域E1に占める引き出し導体22,26及びダミー引き出し導体20a〜20g,24a〜24gの面積比を、断面領域E2に占めるコイル導体18a〜18dの面積比よりもより大きくすることができる。その結果、電子部品10では、底面S1の湾曲量Dがより大きくなる。
本願発明者は、電子部品10が回路基板に対して傾いた状態で実装されることが抑制されることをより明確にするために、以下に説明する実験を行った。図5は、電子部品10が回路基板200に実装された様子を示した図である。
本願発明者は、以下の条件を有する電子部品10を第1のサンプルないし第14のサンプルとして1つずつ作製した。表1は、第1のサンプルないし第14のサンプルの湾曲量Dを示した表である。湾曲量Dの測定は、キーエンス社製のデジタルマイクロスコープVHX−500を用いて、第1のサンプルないし第14のサンプルの断面を500倍の倍率で観察し、測長機能を用いて行った。
チップサイズ:0603サイズ(mm)
電極サイズ:0.15mm×0.28mm
Figure 2015039026
本願発明者は、図5に示すように、はんだ300を介してランド202に外部電極14a,14bを接合させることにより、第1のサンプルないし第14のサンプルを回路基板200に実装した。そして、電子部品10の回路基板200に対する傾きθを測定した。傾きθは、図5に示すように、回路基板200の法線に対する底面S1の法線の傾きである。傾きθの測定は、CNC画像測定システムNEXIV(型式:VMR−3020、メーカ:株式会社ニコン)により行った。表2は、実験結果を示した表である。
Figure 2015039026
表2に示すように、湾曲量Dが大きくなるにしたがって、傾きθが小さくなっていることが分かる。よって、底面S1が湾曲することによって、電子部品10が傾いた状態で回路基板200に実装されることが抑制されることが分かる。
また、電子部品10の実装後には、電子部品10が正常な位置及び姿勢で実装されているかを確認するために、画像処理によって外観検査を行う。この際、傾きθが5°以上であると、電子部品10の上面S2に加えて、側面S3又は側面S4が検出されてしまい、電子部品10が実装不良であると判定されてしまう。よって、傾きθは、5°以下であることが好ましい。そこで、湾曲量Dが0.08μmである第1のサンプルでは、傾きθは、5.9°であったのに対して、湾曲量Dが0.15μmである第2のサンプルでは、傾きθは、4.9°となっている。よって、湾曲量Dは、0.15μm以上であることが好ましい。
また、電子部品10をノズルで吸着する観点からは、湾曲量Dは、12.5以下であることが好ましい。図6は、電子部品10がノズル600により吸着される様子を示した図である。
電子部品10は、図6(a)に示すように、テーピング台紙500上に貼り付けられている。電子部品10の実装時には、ノズル600により電子部品10の上面S2を吸着して、電子部品10をテーピング台紙500から取り外す。
ここで、底面S1の湾曲量Dが大きくなると、図6(b)に示すように、電子部品10がテーピング台紙500上において傾くおそれがある。そのため、ノズル600により電子部品10の上面S2を吸着することが困難となる。本願発明者の実験によれば、湾曲量Dが12.5μmである第12のサンプルでは、吸着ミスが発生しなかったが、湾曲量Dが15.15μmである第13のサンプルでは、吸着ミスが発生した。よって、吸着ミスの抑制の観点から、湾曲量Dは、12.5μm以下であることが好ましい。
(第1の変形例)
以下に、第1の変形例に係る電子部品10aについて図面を参照しながら説明する。図7は、第1の変形例に係る電子部品10aの断面構造図である。電子部品10aの外観斜視図については、図3を援用する。
電子部品10aでは、y軸方向においてコイルLの端部t1,t2よりも外側に設けられているダミー引き出し導体20a,20b,20f,20g,24a,24b,24f,24gの厚みT2は、y軸方向においてコイルLの端部t1,t2よりも内側に設けられているダミー引き出し導体20c〜20e,24c〜24e及び引き出し導体22,26の厚みT1よりも大きい。そして、y軸方向においてコイルLの端部t1,t2よりも内側に設けられているダミー引き出し導体20c〜20e,24c〜24e及び引き出し導体22,26の厚みは、コイル導体18a〜18dの厚みT1と等しい。
以上の電子部品10aによれば、ダミー引き出し導体20a,20b,20f,20g,24a,24b,24f,24gの厚みT2は、コイル導体18a〜18dの厚みT1よりも大きい。これにより、断面領域E1に占める引き出し導体22,26及びダミー引き出し導体20a〜20g,24a〜24gの面積比を、断面領域E2に占めるコイル導体18a〜18dの面積比よりもより大きくすることができる。その結果、電子部品10aでは、底面S1の湾曲量Dがより大きくなる。
また、電子部品10aでは、ダミー引き出し導体20c〜20e,24c〜24e及び引き出し導体22,26の厚みT1は、コイル導体18a〜18dの厚みT1と等しい。そのため、同じ絶縁体層16上に形成されるべきダミー引き出し導体20c〜20e,24c〜24e、引き出し導体22,26及びコイル導体18a〜18dをスクリーン印刷によって同時に形成することができる。その結果、電子部品10aの製造工程数が削減される。
(第2の変形例)
以下に、第2の変形例に係る電子部品10bについて図面を参照しながら説明する。図8は、第2の変形例に係る電子部品10bの断面構造図である。電子部品10bの外観斜視図については、図3を援用する。
電子部品10bでは、y軸方向においてコイルLの端部t1,t2よりも外側に設けられている絶縁体層16a〜16c,16g〜16jの厚みT4は、y軸方向においてコイルLの端部t1,t2よりも内側に設けられている絶縁体層16d〜16fの厚みT3よりも小さい。
以上の電子部品10bによれば、絶縁体層16a〜16c,16g〜16jの厚みT4が薄くなっているので、断面領域E1のコイルLの端部t1,t2よりも外側の部分に占めるダミー引き出し導体20a,20b,20e,20f,24a,24b,24e,24fの面積比がより大きくなる。そのため、断面領域E1のコイルLの端部t1,t2よりも外側の部分がより収縮しにくくなる。その結果、電子部品10bでは、底面S1の湾曲量Dがより大きくなる。
(第3の変形例)
以下に、第3の変形例に係る電子部品10cについて図面を参照しながら説明する。図9は、第3の変形例に係る電子部品10cの断面構造図である。電子部品10cの外観斜視図については、図3を援用する。
電子部品10cでは、y軸方向においてコイルLの端部t1,t2よりも外側に設けられているダミー引き出し導体20a,20b,20f,20g,24a,24b,24f,24gの底面S1からの高さは、y軸方向においてコイルLの端部t1,t2よりも内側に設けられているダミー引き出し導体20c〜20e,24c〜24e及び引き出し導体22,26の底面S1からの高さよりも高い。
以上の電子部品10cによっても、断面領域E1のコイルLの端部t1,t2よりも外側の部分に占めるダミー引き出し導体20a,20b,20e,20f,24a,24b,24e,24fの面積比がより大きくなる。そのため、断面領域E1のコイルLの端部t1,t2よりも外側の部分がより収縮しにくくなる。その結果、電子部品10cでは、底面S1の湾曲量Dがより大きくなる。
(第4の変形例)
以下に、第4の変形例に係る電子部品10dについて図面を参照しながら説明する。図10(a)は、第4の変形例に係る電子部品10dの積層体12の外観斜視図である。図10(b)は、第4の変形例に係る電子部品10dの外観斜視図である。
電子部品10dでは、引き出し導体22,ダミー引き出し導体20a〜20gは、端面S6に露出している。これにより、外部電極14aは、底面S1と端面S6に跨って形成されており、L字型をなしている。
また、引き出し導体26,ダミー引き出し導体24a〜24gは、端面S5に露出している。これにより、外部電極14bは、底面S1と端面S5に跨って形成されており、L字型をなしている。
以上の電子部品10dでは、はんだは、外部電極14aの側面S6に設けられている部分及び外部電極14bの側面S5に設けられている部分に付着するようになる。これにより、はんだが電子部品10dを回路基板に引き付ける表面張力は、はんだが電子部品10を回路基板に引き付ける表面張力よりも大きくなる。その結果、電子部品10dでは、回路基板により強固に実装されるようになる。
なお、外部電極14a,14bは、側面S3,S4にも形成されてもよい。
(第5の変形例)
以下に、第5の変形例に係る電子部品10eについて図面を参照しながら説明する。図11は、第5の変形例に係る電子部品10eの平面図である。図12は、第5の変形例に係る電子部品10eの積層体12の分解図である。図13(a)は、第5の変形例に係る電子部品10eの積層体12の外観斜視図である。図13(b)は、第5の変形例に係る電子部品10eの外観斜視図である。図14は、図13(a)のX−Xにおける断面構造図である。図14では、外部電極14a,14bは省略してある。以下、電子部品10eの積層方向をx軸方向と定義し、x軸方向から平面視したときの上下方向をz軸方向と定義し、x軸方向から平面視したときの左右方向をy軸方向と定義する。x軸、y軸及びz軸は互いに直交している。
電子部品10eは、図11及び図12に示すように、積層体12、外部電極14a,14b、ダミー引き出し導体20a,20b,24a,24b、引き出し導体22,26、コイルL及びビアホール導体v4〜v9を備えている。
積層体12は、直方体状をなしており、コイルLを内蔵している。積層体12は、底面S1、上面S2、側面S3,S4及び端面S5,S6を有している。底面S1は、積層体12のy軸方向の負方向側の面であり、電子部品10eが回路基板に実装される際に、該回路基板と対向する実装面である。上面S2は、積層体12のz軸方向の正方向側の面である。側面S3は、積層体12のx軸方向の負方向側の面である。側面S4は、積層体12のx軸方向の正方向側の面である。端面S5は、積層体12のy軸方向の負方向側の面である。端面S6は、積層体12のy軸方向の正方向側の面である。
積層体12は、図12に示すように、絶縁体層16a〜16lがx軸方向の正方向側から負方向側へとこの順に並ぶように積層されることにより構成されている。絶縁体層16a〜16lはそれぞれ、正方形状をなしており、例えば、Ni−Cu−Zn系フェライトからなる磁性体材料により作製されている。以下では、絶縁体層16a〜16lのx軸方向の正方向側の面を表面と呼び、絶縁体層16a〜16lのx軸方向の負方向側の面を裏面と呼ぶ。
底面S1は、絶縁体層16a〜16lのz軸方向の負方向側の辺が連なることによって構成されている。上面S2は、絶縁体層16a〜16lのz軸方向の正方向側の辺が連なることによって構成されている。側面S3は、絶縁体層16lの裏面により構成されている。側面S4は、絶縁体層16aの表面により構成されている。端面S5は、絶縁体層16a〜16lのy軸方向の負方向側の辺が連なることによって構成されている。端面S6は、絶縁体層16a〜16lのy軸方向の正方向側の辺が連なることによって構成されている。
コイルLは、図12に示すように、コイル導体18a〜18d及びビアホール導体v1〜v3を含んでいる。コイルLは、コイル導体18a〜18dがビアホール導体v1〜v3により接続されることにより構成されているヘリカルコイルである。コイルLは、x軸方向に延在するコイル軸を有しており、x軸方向の正方向側から平面視したときに、反時計回り方向に旋廻しながらx軸方向の負方向側に向かって進行する螺旋状をなしている。また、コイルLは、端部t1,t2を有している。コイルLの端部t1は、コイルLの端部t2よりもx軸方向の正方向側に位置している。
コイル導体18a〜18dはそれぞれ、図12に示すように、絶縁体層16e〜16h上に設けられている。コイル導体18a〜18dはそれぞれ、Agからなる導電性材料により構成され、線状導体が折り曲げられることによりコ字型を構成している。そして、コイル導体18a〜18dは、x軸方向から平面視したときに、互いに重なり合って正方形状をなしている。以下では、コイル導体18a〜18dの反時計回り方向の上流側の端部を単に上流端と呼び、コイル導体18a〜18dの反時計回り方向の下流側の端部を単に下流端と呼ぶ。コイルLの端部t1は、コイル導体18aの上流端であり、コイルLの端部t2は、コイル導体18dの下流端である。
ビアホール導体v1〜v3は、コイル導体18a〜18dを接続している。より詳細には、ビアホール導体v1は、コイル導体18aの下流端とコイル導体18bの上流端とを接続している。ビアホール導体v2は、コイル導体18bの下流端とコイル導体18cの上流端とを接続している。ビアホール導体v3は、コイル導体18cの下流端とコイル導体18dの上流端とを接続している。
引き出し導体22は、絶縁体層16dの表面に設けられており、底面S1及び端面S5,S6において絶縁体層16c,16d間から露出している。より詳細には、引き出し導体22は、y軸方向に延在する長方形状をなしており、絶縁体層16dのz軸方向の負方向側の辺に沿って設けられており、絶縁体層16dのy軸方向の両側の辺に接している。これにより、引き出し導体22は、底面S1においてy軸方向に延在する線状に露出していると共に、端面S5,S6においてz軸方向に延在するように線状に露出している。
ダミー引き出し導体20a,20bはそれぞれ、絶縁体層16b,16cの表面に設けられており、底面S1において絶縁体層16a〜16cの間から露出している。ダミー引き出し導体20a,20bは、引き出し導体22と同じ形状をなしており、y軸方向から平面視したときに、一致した状態で重なっている。これにより、引き出し導体22及びダミー引き出し導体20a,20bは、図13(a)に示すように、長方形状の形成領域A1内において底面S1から露出している。
引き出し導体26は、絶縁体層16iの表面に設けられており、底面S1及び端面S5,S6において絶縁体層16h,16i間から露出している。より詳細には、引き出し導体26は、y軸方向に延在する長方形状をなしており、絶縁体層16iのz軸方向の負方向側の辺に沿って設けられており、絶縁体層16iのy軸方向の両側の辺に接している。これにより、引き出し導体26は、底面S1においてy軸方向に延在する線状に露出していると共に、端面S5,S6においてz軸方向に延在するように線状に露出している。
ダミー引き出し導体24a,24bはそれぞれ、絶縁体層16j,16kの表面に設けられており、底面S1において絶縁体層16i〜16kの間から露出している。ダミー引き出し導体24a,24bは、引き出し導体26と同じ形状をなしており、y軸方向から平面視したときに、一致した状態で重なっている。これにより、引き出し導体26及びダミー引き出し導体24a,24bは、図13(a)に示すように、長方形状の形成領域A2内において底面S1から露出している。
ビアホール導体v4〜v6はそれぞれ、絶縁体層16b〜16dをx軸方向に貫通しており、x軸方向から平面視したときに互いに重なりあっている。ビアホール導体v4は、ダミー引き出し導体20aとダミー引き出し導体20bとを接続している。ビアホール導体v5は、ダミー引き出し導体20bと引き出し導体22とを接続している。ビアホール導体v6は、引き出し導体22とコイル導体18aの上流端とを接続している。
ビアホール導体v7〜v9はそれぞれ、絶縁体層16h〜16jをx軸方向に貫通しており、x軸方向から平面視したときに互いに重なりあっている。ビアホール導体v7は、コイル導体18dの下流端と引き出し導体26とを接続している。ビアホール導体v8は、引き出し導体26とダミー引き出し導体24aとを接続している。ビアホール導体v9は、ダミー引き出し導体24aとダミー引き出し導体24bとを接続している。
外部電極14aは、図13(b)に示すように、底面S1及び端面S5,S6においてダミー引き出し導体20a,20b及び引き出し導体22を覆うように直接めっきにより形成されている。これにより、外部電極14aは、積層体12の底面S1の形成領域A1に形成されている。外部電極14bは、図13(b)に示すように、底面S1及び端面S5,S6においてダミー引き出し導体24a,24b及び引き出し導体26を覆うように直接めっきにより形成されている。これにより、外部電極14bは、積層体12の底面S1の形成領域A2に形成されている。また、外部電極14aは、外部電極14bよりもx軸方向の正方向側に位置している。外部電極14a,14bの材料としては、例えば、Cu、Ni、Sn等が挙げられる。
以上にように構成された電子部品10eでは、引き出し導体22、ダミー引き出し導体20a,20b及びコイル導体18a〜18dを含むy軸方向に垂直な図14に示す断面において以下に説明する構成を有する。まず、引き出し導体22及びダミー引き出し導体20a,20bを含む領域を断面領域E1とする。コイル導体18a〜18dを含み、かつ、断面領域E1を除く残余の領域を断面領域E2とする。断面領域E1は、コイル導体18a〜18dとダミー引き出し導体20a,20bとの間を通過するx軸に平行な線L2と底面S1とに挟まれている領域である。断面領域E2は、コイル導体18a〜18dとダミー引き出し導体20a,20bとの間を通過するx軸に平行な線L2と上面S2とに挟まれている領域である。
図14に示すように、断面領域E1に占める引き出し導体22及びダミー引き出し導体20a,20bの面積比は、断面領域E2に占めるコイル導体18a〜18dの面積比よりも大きい。
また、引き出し導体26、ダミー引き出し導体24a,24b及びコイル導体18a〜18dを含むy軸方向に垂直な断面において以下に説明する構成を有する。まず、引き出し導体26及びダミー引き出し導体24a,24bを含む領域を断面領域E1とする。コイル導体18a〜18dを含み、かつ、断面領域E1を除く残余の領域を断面領域E2とする。断面領域E1は、コイル導体18a〜18dとダミー引き出し導体24a,24bとの間を通過するx軸に平行な線L2と底面S1とに挟まれている領域である。断面領域E2は、コイル導体18a〜18dとダミー引き出し導体24a,24bとの間を通過するx軸に平行な線L2と上面S2とに挟まれている領域である。
断面領域E1に占める引き出し導体26及びダミー引き出し導体24a,24bの面積比は、断面領域E2に占めるコイル導体18a〜18dの面積比よりも大きい。
また、電子部品10eでは、図14に示すように、形成領域A1,A2は、底面S1を構成している絶縁体層16a〜16lの辺が延在している延在方向(y軸方向)から平面視したときに、形成領域A1,A2の中央が形成領域A1,A2の両端よりもz軸方向の負方向側に突出するように湾曲している。
また、外部電極14a,14bは、形成領域A1,A2に設けられている。よって、外部電極14a,14bも、y軸方向から平面視したときに、外部電極14a,14bの中央が外部電極14a,14bの両端よりもz軸方向の負方向側に突出するように湾曲している。
以上のように構成された電子部品10eによれば、電子部品10と同様に、回路基板のランドと外部電極14a,14bとを接続するはんだ内に空気が残留することを抑制できる。
また、電子部品10eでは、はんだは、外部電極14aの端面S5,S6に設けられている部分及び外部電極14bの端面S5,S6に設けられている部分に付着するようになる。これにより、はんだが電子部品10eを回路基板に引き付ける表面張力は、はんだが電子部品10を回路基板に引き付ける表面張力よりも大きくなる。その結果、電子部品10eでは、回路基板により強固に実装されるようになる。
また、電子部品10eでは、外部電極14a,14bは、側面S3,S4に設けられていない。そのため、コイルLが発生した磁束が通過することによって生じる渦電流損失が抑制され、コイルLのQ値が低下することが抑制される。
更に、コイルLのコイル軸は、側面S3,S4に直交し、かつ外部電極14a,14bは、側面S3,S4に設けられていない。よって、コイルLと外部電極14a,14b間の浮遊容量が小さくなる。その結果、コイルLの高周波特性が向上する。
(その他の実施形態)
本発明に係る電子部品は、電子部品10,10a〜10eに限らず、その要旨の範囲内において変更可能である。
なお、ダミー引き出し導体20,24同士は、ビアホール導体によって接続されていなくてもよい。
なお、電子部品10において、コイル導体18a〜18d、ダミー引き出し導体20a〜20g,24a〜24g及び引き出し導体22,26は、全て等しい厚みを有していてもよい。
なお、電子部品10,10a〜10eが備えている回路素子はコイルLに限らない。よって、回路素子は、コンデンサ等であってもよい。
なお、電子部品10,10a〜10eの構成を組み合わせてもよい。
この出願は、2011年6月15日に出願された日本国出願2011−133196号に基づく優先権を主張するものであり、その全体の開示内容が本明細書に参照により組み込まれる。
本発明は、電子部品及びその製造方法に有用であり、特に、回路基板のランドと外部電極とを接続するはんだ内に空気が残留することを抑制できる点において優れている。
A1,A2 形成領域
L コイル
S1 底面
S2 上面
S3,S4 側面
S5,S6 端面
t1,t2 端部
10,10a〜10e 電子部品
12 積層体
14a,14b 外部電極
16a〜16l 絶縁体層
18a〜18d コイル導体
20a〜20g,24a〜24g ダミー引き出し導体
22,26 引き出し導体
E1,E2 断面領域

Claims (14)

  1. 長方形状の複数の絶縁体層が積層されて構成され、該複数の絶縁体層の辺が連なることによって構成されている実装面を有している積層体と、
    前記実装面において前記絶縁体層間から露出している複数の第1の引き出し導体と、
    前記実装面において前記複数の第1の引き出し導体を覆っている第1の外部電極と、
    を備えており、
    前記実装面は、実装時に回路基板と対向する面であり、
    前記実装面において積層方向の両端に位置する2つの前記第1の引き出し導体に挟まれた部分は、該実装面を構成している前記絶縁体層の辺が延在している延在方向から平面視したときに、該部分の中央が該部分の両端よりも突出するように湾曲していること、
    を特徴とする電子部品。
  2. 前記実装面において前記第1の外部電極が設けられている第1の形成領域は、該実装面を構成している前記絶縁体層の辺が延在している延在方向から平面視したときに、該第1の形成領域の中央が該第1の形成領域の両端よりも突出するように湾曲していること、
    を特徴とする請求項1に記載の電子部品。
  3. 複数の素子導体により構成されている回路素子を、
    更に備えていること、
    を特徴とする請求項1又は請求項2のいずれかに記載の電子部品。
  4. 前記第1の引き出し導体及び前記素子導体を含む前記延在方向に垂直な断面において、前記第1の引き出し導体及び前記実装面を含む領域を第1の断面領域とし、前記素子導体を含み、かつ、該第1の断面領域を除く残余の領域を第2の断面領域としたときに、
    前記第1の断面領域に占める前記第1の引き出し導体の面積比は、前記第2の断面領域に占める前記素子導体の面積比よりも大きいこと、
    を特徴とする請求項3に記載の電子部品。
  5. 一部の前記第1の引き出し導体は、積層方向において前記回路素子の両端よりも外側に設けられていること、
    を特徴とする請求項3又は請求項4のいずれかに記載の電子部品。
  6. 積層方向において前記回路素子の両端よりも外側に設けられている前記第1の引き出し導体の厚みは、積層方向において該回路素子の両端よりも内側に設けられている前記第1の引き出し導体の厚みよりも大きいこと、
    を特徴とする請求項5に記載の電子部品。
  7. 前記第1の引き出し導体の厚みは、前記素子導体の厚みよりも大きいこと、
    を特徴とする請求項3ないし請求項6のいずれかに記載の電子部品。
  8. 積層方向において前記回路素子の両端よりも外側に設けられている前記絶縁体層の厚みは、積層方向において該回路素子の両端よりも内側に設けられている前記絶縁体層の厚みよりも小さいこと、
    を特徴とする請求項3ないし請求項7のいずれかに記載の電子部品。
  9. 積層方向において前記回路素子の両端よりも外側に設けられている前記第1の引き出し導体の前記実装面からの高さは、積層方向において該回路素子の両端よりも内側に設けられている前記第1の引き出し導体の該実装面からの高さよりも高いこと、
    を特徴とする請求項5に記載の電子部品。
  10. 前記実装面において前記絶縁体層間から露出している複数の第2の引き出し導体と、
    前記実装面において前記複数の第2の引き出し導体を覆っている第2の外部電極と、
    を備えており、
    前記第1の外部電極と前記第2の外部電極とは、前記延在方向に並んでおり、
    前記実装面において前記第2の外部電極が設けられている第2の形成領域は、前記延在方向から平面視したときに、該第2の形成領域の中央が該第2の形成領域の両端よりも突出するように湾曲していること、
    を特徴とする請求項1ないし請求項9のいずれかに記載の電子部品。
  11. 前記延在方向から平面視したときにおいて、前記実装面が最も突出している部分と該実装面の両端との該実装面の法線方向の距離は、0.15μm以上12.5μm以下であること、
    を特徴とする請求項10に記載の電子部品。
  12. 前記第1の外部電極は、めっきにより形成されていること、
    を特徴とする請求項1ないし請求項11のいずれかに記載の電子部品。
  13. 前記積層体は、焼成されていること、
    を特徴とする請求項1ないし請求項12のいずれかに記載の電子部品。
  14. 請求項4に記載の電子部品の製造方法であって、
    前記第1の引き出し導体及び前記素子導体が設けられている未焼成の前記積層体を得る第1の工程と、
    前記積層体を焼成する第2の工程と、
    を備えていること、
    を特徴とする電子部品の製造方法。
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