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  1. 第1の電流が流れる第1の抵抗と、
    前記第1の電流により前記第1の抵抗の両端に生ずる第1の電圧を増幅して、第2の電圧を出力する第1の回路と、
    前記第2の電圧に対応する第2の電流を出力する第2の回路と、
    前記第2の回路から前記第2の電流が入力され、前記第2の電流に応じた第1の信号を生成する第3の回路と、を有し、
    前記第3の回路は、
    前記第2の電流が入力される第1の端子を有する第1の容量素子と、
    前記第1の端子の電圧に対応する信号を生成し、前記第1の信号として出力する第4の回路と、
    前記第1の端子と前記第2の回路との接続を制御する第1のスイッチと、
    前記第1の端子と第4の電圧が供給されるノードとの接続を制御する第2のスイッチと、を有することを特徴とする半導体装置。
  2. 請求項1において、
    前記第4の回路は、入力された第3の電圧を第1の基準電圧と比較し、比較結果を前記第1の信号として出力する機能を有することを特徴とする半導体装置。
  3. 請求項1において、
    前記第3の回路は、前記第1の端子の電圧に対応する信号を生成し、第2の信号として出力する第5の回路を有し、
    前記第4の回路は、入力された前記第3の電圧を第1の基準電圧と比較し、比較結果を前記第1の信号として出力する機能を有し、
    前記第5の回路は、前記第3の電圧を第2の基準電圧と比較し、比較結果を前記第2の信号として出力する機能を有することを特徴とする半導体装置。
  4. 第1の電流が流れる第1の抵抗と、
    前記第1の電流により前記第1の抵抗の両端に生ずる第1の電圧を増幅して、第2の電圧を出力する第1の回路と、
    前記第2の電圧に対応する第2の電流を出力する第2の回路と、
    前記第2の回路から前記第2の電流が入力され、前記第2の電流に対応する第1の信号を生成する第3の回路と、を有し、
    前記第3の回路は、
    前記第2の電流が入力される第1の端子を有する第1の容量素子と、
    前記第1の端子の第3電圧の増加を検出し、第2の信号を生成する第4の回路と、
    前記第1の端子の前記第3の電圧の低下を検出し、第3の信号を生成する第5の回路と、
    前記第2の信号及び前記第3の信号の変化の回数を計数し、前記計数結果に対応する前記第1の信号を生成する第6の回路と、
    前記第1の端子と前記第2の回路との接続を制御する第1のスイッチと、
    前記第1の端子と第4の電圧が供給されるノードとの接続を制御する第2のスイッチと、
    前記第2の信号及び前記第3の信号から、前記第2のスイッチの制御信号を生成する第7の回路と、を有することを特徴とする半導体装置。
  5. 請求項1乃至4のいずれかにおいて、
    前記第1のスイッチ及び前記第2のスイッチは、チャネルが酸化物半導体膜に形成されているトランジスタであることを特徴とする半導体装置。
  6. 請求項1乃至5のいずれか一において、
    前記第1の容量素子は、第2の端子を有し、
    前記第2の端子は、前記第1の抵抗の一方の端子と同じ電位を有することを特徴とする半導体装置。
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