JP2017510056A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2017510056A5
JP2017510056A5 JP2016543184A JP2016543184A JP2017510056A5 JP 2017510056 A5 JP2017510056 A5 JP 2017510056A5 JP 2016543184 A JP2016543184 A JP 2016543184A JP 2016543184 A JP2016543184 A JP 2016543184A JP 2017510056 A5 JP2017510056 A5 JP 2017510056A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
switch
voltage source
sensing element
differential
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016543184A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017510056A (ja
JP6505717B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from PCT/US2014/071825 external-priority patent/WO2015100214A2/en
Publication of JP2017510056A publication Critical patent/JP2017510056A/ja
Publication of JP2017510056A5 publication Critical patent/JP2017510056A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6505717B2 publication Critical patent/JP6505717B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (24)

  1. 集積回路(IC)であって、
    差動第1の出力および第2の出力、ならびに電流源から電流を受け取るための入力を有する磁気感知素子と、
    前記差動第1の出力および第2の出力の各々に結合された第1のスイッチおよび第2のスイッチと、
    前記第1のスイッチと第2のスイッチの間に結合された第1の電圧源であって、前記第1のスイッチおよび第2のスイッチが、前記第1の電圧源が前記差動第1の出力と第2の出力の両端間に結合される第1の状態を有する第1の電圧源と、
    電圧を出力するためのIC出力であって、前記電圧が、前記第1のスイッチおよび第2のスイッチが前記磁気感知素子から前記IC出力までの信号経路の動作を監視するため前記第1の状態にある場合、前記第1の電圧源に対応するIC出力と
    前記差動第1の出力および第2の出力の各々に結合された第3のスイッチおよび第4のスイッチと、
    前記第3のスイッチと第4のスイッチの間に結合された第2の電圧源であって、前記第3のスイッチおよび第4のスイッチが、前記第2の電圧源が前記差動第1の出力および第2の出力の両端間に結合される第2の状態を有し、前記第1の電圧源及び第2の電圧源が異なる極性を有する、第2の電圧源と
    を備え、前記IC出力が、前記第3のスイッチおよび第4のスイッチが前記磁気感知素子から前記IC出力までの信号経路の動作を監視するために前記第2の状態にある場合、前記第2の電圧源に対応する電圧を出力し、
    前記磁界感知素子の前記第2の差動出力と前記第1のスイッチの間に結合された第5のスイッチと、
    前記磁界感知素子の前記第1の差動出力と前記第2のスイッチの間に結合された第6のスイッチと
    を備え、前記信号経路の利得を検証するべく、前記第1、第2、第3および第4のスイッチのそれぞれの状態が制御可能である集積回路。
  2. 前記磁気感知素子がホール素子を備える、請求項1に記載の集積回路。
  3. 磁気感知素子が磁気抵抗素子を備える、請求項1に記載の集積回路。
  4. 前記磁気感知素子の前記第1の差動出力および第2の差動出力に結合されたそれぞれの入力を有する増幅器をさらに含む、請求項1に記載の集積回路。
  5. 前記集積回路が線形磁気センサを備える、請求項1に記載の集積回路。
  6. リードフレームによって支持されたダイをさらに含み、前記リードフレームが前記リードフレームから切り取られた領域を有し、渦電流を小さくするために前記磁気感知素子の位置と前記領域が整列される、請求項1に記載の集積回路。
  7. 前記リードフレームが、それぞれのダイ取付け部分を有する対応するリード線を有し、ダイが前記リード線の前記ダイ取付け部分の両端間に置かれる、請求項1に記載の集積回路。
  8. プロセッサおよび前記プロセッサのための命令を記憶するための不揮発性メモリをさらに含む、請求項1に記載の集積回路。
  9. 差動第1の出力および第2の出力、ならびに電流を受け取るための入力を有する磁気感知素子を使用するステップと、
    第1のスイッチおよび第2のスイッチを前記差動第1の出力および第2の出力の各々に結合するステップと、
    第1の電圧源を前記第1のスイッチと第2のスイッチの間に結合するステップであって、前記第1のスイッチおよび第2のスイッチが、前記第1の電圧源が前記差動第1の出力と第2の出力の両端間に結合される第1の状態を有するステップと、
    電圧を出力するためIC出力を使用するステップであって、前記電圧が、前記第1のスイッチおよび第2のスイッチが前記磁気感知素子から前記IC出力までの信号経路の動作を監視するため前記第1の状態にある場合、前記第1の電圧源に対応するステップと
    第3のスイッチおよび第4のスイッチを前記差動第1の出力および第2の出力の各々に結合するステップと、
    第2の電圧源を前記第3のスイッチと第4のスイッチの間に結合するステップであって、前記第3のスイッチおよび第4のスイッチが、前記第2の電圧源が前記差動第1の出力と第2の出力の両端間に結合される第2の状態を有し、前記第1の電圧源および第2の電圧源が異なる極性を有する、ステップと、
    を含み、前記第3のスイッチおよび第4のスイッチが前記磁気感知素子から前記IC出力までの信号経路の動作を監視するために前記第2の状態にある場合、前記IC出力が前記第2の電圧源に対応する電圧を出力し、
    第5のスイッチを前記磁界感知素子の前記第2の差動出力と前記第1のスイッチの間に結合するステップと、
    第6のスイッチを前記磁界感知素子の前記第1の差動出力と前記第2のスイッチの間に結合するステップと
    を含み、前記信号経路の利得を検証するべく、前記第1、第2、第3および第4のスイッチのそれぞれの状態が制御可能である方法。
  10. 前記磁気感知素子がホール素子を備える、請求項に記載の方法。
  11. 前記磁気感知素子が磁気抵抗素子を備える、請求項に記載の方法。
  12. 前記磁気感知素子の前記第1の差動出力および第2の差動出力に結合されたそれぞれの入力を有する増幅器を使用するステップをさらに含む、請求項に記載の方法。
  13. 集積回路が線形磁気センサを備える、請求項に記載の方法。
  14. リードフレームによって支持されたダイを使用するステップをさらに含み、前記リードフレームが、前記リードフレームから切り取られた領域を有し、渦電流を小さくするために前記磁気感知素子の位置と前記領域が整列される、請求項に記載の方法。
  15. 前記リードフレームが、それぞれのダイ取付け部分を有する対応するリード線を有し、ダイが前記リード線の前記ダイ取付け部分の両端間に置かれる、請求項に記載の方法。
  16. プロセッサおよび前記プロセッサのための命令を記憶するための不揮発性メモリを使用するステップをさらに含む、請求項に記載の方法。
  17. 前記磁気感知素子の前記入力に電流を提供するために電圧源を使用するステップをさらに含む、請求項に記載の方法。
  18. 前記磁気感知素子の前記入力に電流を提供するために電流源を使用するステップをさらに含む、請求項に記載の方法。
  19. 集積回路であって、
    差動第1の出力および第2の出力、ならびに電流を受け取るための入力を有する磁気感知素子と、
    前記差動第1の出力および第2の出力の各々に結合するための第1のスイッチ手段および第2のスイッチ手段と、
    前記第1のスイッチと第2のスイッチの間に結合された第1の電圧源手段であって、前記第1のスイッチおよび第2のスイッチが、前記第1の電圧源が前記差動第1の出力と第2の出力の両端間に結合される第1の状態を有する第1の電圧源手段と、
    電圧を出力するためのIC出力であって、前記電圧が、前記第1のスイッチ手段および第2のスイッチ手段が前記磁気感知素子から前記IC出力までの信号経路の動作を監視するため前記第1の状態にある場合、前記第1の電圧源手段に対応するIC出力と
    前記差動第1の出力および第2の出力の各々に結合された第3のスイッチ手段および第4のスイッチ手段と、
    前記第3のスイッチ手段と第4のスイッチ手段の間に結合された第2の電圧源手段であって、前記第3のスイッチ手段および第4のスイッチ手段が、前記第2の電圧源手段が前記差動第1の出力および第2の出力の両端間に結合される第2の状態を有し、前記第1の電圧源手段及び第2の電圧源手段が異なる極性を有する、第2の電圧源手段と
    を備え、前記IC出力が、前記第3のスイッチ手段および第4のスイッチ手段が前記磁気感知素子から前記IC出力までの信号経路の動作を監視するために前記第2の状態にある場合、前記第2の電圧源手段に対応する電圧を出力し、
    前記磁界感知素子の前記第2の差動出力と前記第1のスイッチ手段の間に結合された第5のスイッチと、
    前記磁界感知素子の前記第1の差動出力と前記第2のスイッチ手段の間に結合された第6のスイッチと
    を備え、前記信号経路の利得を検証するべく、前記第1、第2、第3および第4のスイッチ手段のそれぞれの状態が制御可能である集積回路。
  20. リードフレームによって支持されたダイをさらに含み、前記リードフレームが前記リードフレームから切り取られた領域を有し、渦電流を小さくするために前記磁気感知素子の位置と前記領域が整列される、請求項19に記載の集積回路。
  21. 前記第1の電圧源および第2の電圧源のうちの少なくとも1つが、前記IC出力に結合される増幅器を飽和させるための閾値電圧よりも大きい電圧レベルを提供する、請求項1に記載の集積回路。
  22. 飽和させられた前記増幅器の出力が、前記磁気感知素子から前記IC出力までの信号経路の検証を可能にする、請求項21に記載の集積回路。
  23. 前記第1の電圧源および第2の電圧源のうちの少なくとも1つが、前記IC出力に結合される増幅器を飽和させるための閾値電圧よりも大きい電圧レベルを提供する、請求項9に記載の方法。
  24. 飽和させられた前記増幅器の出力が、前記磁気感知素子から前記IC出力までの信号経路の検証を可能にする、請求項23に記載の集積回路。
JP2016543184A 2013-12-26 2014-12-22 センサ診断のための方法および装置 Active JP6505717B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201361920827P 2013-12-26 2013-12-26
US61/920,827 2013-12-26
PCT/US2014/071825 WO2015100214A2 (en) 2013-12-26 2014-12-22 Methods and apparatus for sensor diagnostics

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019050870A Division JP6697105B2 (ja) 2013-12-26 2019-03-19 センサ診断のための方法および装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2017510056A JP2017510056A (ja) 2017-04-06
JP2017510056A5 true JP2017510056A5 (ja) 2018-02-08
JP6505717B2 JP6505717B2 (ja) 2019-04-24

Family

ID=52345571

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016543184A Active JP6505717B2 (ja) 2013-12-26 2014-12-22 センサ診断のための方法および装置
JP2019050870A Active JP6697105B2 (ja) 2013-12-26 2019-03-19 センサ診断のための方法および装置
JP2020075918A Active JP6903193B2 (ja) 2013-12-26 2020-04-22 センサ診断のための方法および装置

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019050870A Active JP6697105B2 (ja) 2013-12-26 2019-03-19 センサ診断のための方法および装置
JP2020075918A Active JP6903193B2 (ja) 2013-12-26 2020-04-22 センサ診断のための方法および装置

Country Status (5)

Country Link
US (4) US10488458B2 (ja)
EP (3) EP3199967B1 (ja)
JP (3) JP6505717B2 (ja)
KR (1) KR102261944B1 (ja)
WO (1) WO2015100214A2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7280135B2 (ja) 2018-07-19 2023-05-23 ティディケイ-ミクロナス ゲー・エム・ベー・ハー ホールセンサ及びこのようなセンサを動作させる方法
JP7382853B2 (ja) 2020-02-27 2023-11-17 エイブリック株式会社 磁気センサ及び磁気検出方法

Families Citing this family (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3199967B1 (en) 2013-12-26 2023-05-17 Allegro MicroSystems, LLC Methods and apparatus for sensor diagnostics
US9791521B2 (en) * 2014-03-27 2017-10-17 Texas Instruments Incorporated Systems and methods for operating a hall-effect sensor without an applied magnetic field
DE102014210653A1 (de) * 2014-06-04 2015-12-17 Conti Temic Microelectronic Gmbh Vorrichtung zur Ansteuerung und/oder Überwachung eines bürstenlosen Gleichstrommotors
EP3067706B1 (en) * 2015-03-09 2017-10-11 Eurotherm Ltd. Device and method for detecting a break of at least one wired sensor
US9804911B2 (en) * 2015-05-27 2017-10-31 Apple Inc. Concurrent validation of hardware units
US10209279B2 (en) 2015-06-24 2019-02-19 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for monitoring a level of a regulated source
US11402440B2 (en) 2015-07-17 2022-08-02 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for trimming a magnetic field sensor
CN204915554U (zh) * 2015-09-18 2015-12-30 泰科电子(上海)有限公司 感应电路、混合驱动电路及感应器组件
US10527703B2 (en) * 2015-12-16 2020-01-07 Allegro Microsystems, Llc Circuits and techniques for performing self-test diagnostics in a magnetic field sensor
US10436856B2 (en) 2015-12-24 2019-10-08 Asahi Kasei Microdevices Corporation Magnetic sensor apparatus and current sensor apparatus
JP6833204B2 (ja) * 2016-02-25 2021-02-24 セニス エージー 磁界の角度を測定する角度センサ及び方法
CH712932A2 (de) * 2016-09-16 2018-03-29 NM Numerical Modelling GmbH Verfahren zur Bestimmung der Position eines Positionsgebers eines Positionsmesssystems.
DE102016220948A1 (de) 2016-10-25 2018-04-26 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Diagnose der Erfassung eines mehrphasigen elektrischen Stroms
US10216559B2 (en) * 2016-11-14 2019-02-26 Allegro Microsystems, Llc Diagnostic fault communication
JP7097671B2 (ja) * 2017-01-15 2022-07-08 甲神電機株式会社 Ic化磁気センサおよびそれに使用するリードフレーム
US10380879B2 (en) 2017-06-14 2019-08-13 Allegro Microsystems, Llc Sensor integrated circuits and methods for safety critical applications
US10692362B2 (en) 2017-06-14 2020-06-23 Allegro Microsystems, Llc Systems and methods for comparing signal channels having different common mode transient immunity
US10636285B2 (en) 2017-06-14 2020-04-28 Allegro Microsystems, Llc Sensor integrated circuits and methods for safety critical applications
EP3470861B1 (en) * 2017-10-10 2019-11-27 Melexis Technologies SA Redundant sensor fault detection
EP3470862B1 (en) 2017-10-10 2022-03-02 Melexis Bulgaria Ltd. Sensor defect diagnostic circuit
US10613158B2 (en) 2017-10-12 2020-04-07 Allegro Microsystems, Llc Efficient signal path diagnostics for safety devices
US10746611B2 (en) * 2017-12-07 2020-08-18 Texas Instruments Incorporated Magnetostrictive strain gauge sensor
EP3543717A1 (de) * 2018-03-22 2019-09-25 Narda Safety Test Solutions GmbH Personenschutz-messgerät
US10955493B2 (en) 2018-05-02 2021-03-23 Analog Devices Global Unlimited Company Magnetic sensor systems
DE102018111011A1 (de) * 2018-05-08 2019-11-14 Infineon Technologies Ag Magnetfeldsensorvorrichtung
US10656170B2 (en) 2018-05-17 2020-05-19 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensors and output signal formats for a magnetic field sensor
TWI681620B (zh) * 2018-05-18 2020-01-01 茂達電子股份有限公司 馬達驅動電路
EP3581951A1 (en) 2018-06-12 2019-12-18 Melexis Bulgaria Ltd. Sensor saturation fault detection
US10746814B2 (en) 2018-06-21 2020-08-18 Allegro Microsystems, Llc Diagnostic methods and apparatus for magnetic field sensors
CN109100671B (zh) * 2018-07-05 2021-06-22 北京华峰测控技术股份有限公司 在集成电路电子元器件测试中针对测试系统的监控方法和监控系统
US10725122B2 (en) 2018-07-20 2020-07-28 Allegro Microsystems, Llc Ratiometric sensor output topology and methods
EP3611485B1 (en) 2018-08-14 2023-06-14 NXP USA, Inc. Temperature sensor system for radar device
US10361732B1 (en) * 2018-10-10 2019-07-23 Nxp Usa, Inc. Fault detection in a low voltage differential signaling (LVDS) system
KR102665443B1 (ko) * 2019-05-30 2024-05-09 삼성전자주식회사 반도체 장치
DE102019005876A1 (de) * 2019-08-22 2021-02-25 Tdk-Micronas Gmbh Integrierte Drehwinkelbestimmungssensoreinheit in einem Messsystem zur Drehwinkelbestimmung
US11942831B2 (en) 2020-01-15 2024-03-26 Allegro Microsystems, Llc Three-phase BLDC motor driver/controller having diagnostic signal processing
US11500010B2 (en) * 2020-01-17 2022-11-15 Texas Instruments Incorporated Integrated circuit with current limit testing circuitry
US11194004B2 (en) 2020-02-12 2021-12-07 Allegro Microsystems, Llc Diagnostic circuits and methods for sensor test circuits
CN111323666A (zh) * 2020-03-18 2020-06-23 紫火信息科技(南京)有限公司 一种led屏的安全防护故障检测系统
US11169223B2 (en) 2020-03-23 2021-11-09 Allegro Microsystems, Llc Hall element signal calibrating in angle sensor
DE102020110682A1 (de) * 2020-04-20 2021-10-21 Infineon Technologies Ag Magnetfeldsensorvorrichtung und Verfahren
US11029370B1 (en) 2020-05-22 2021-06-08 Allegro Microsystems, Llc Sensor output control methods and apparatus
US11493362B2 (en) 2020-08-12 2022-11-08 Analog Devices International Unlimited Company Systems and methods for detecting magnetic turn counter errors
US11608109B2 (en) 2020-08-12 2023-03-21 Analog Devices International Unlimited Company Systems and methods for detecting magnetic turn counter errors with redundancy
DE102020212329B4 (de) * 2020-09-30 2022-08-18 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Verfahren zum Testen eines Sensors und elektronische Schaltung
TWD212629S (zh) * 2020-10-16 2021-07-11 擎宏電子企業有限公司 顯示螢幕之圖形化使用者介面之部分
US11561257B2 (en) 2020-12-22 2023-01-24 Allegro Microsystems, Llc Signal path monitor
CN112762816B (zh) * 2020-12-25 2022-07-05 兰州飞行控制有限责任公司 具有自隔离卡阻故障的多余度角位移传感器及使用方法
US11630130B2 (en) 2021-03-31 2023-04-18 Allegro Microsystems, Llc Channel sensitivity matching
US11567108B2 (en) 2021-03-31 2023-01-31 Allegro Microsystems, Llc Multi-gain channels for multi-range sensor
CN113093087A (zh) * 2021-06-04 2021-07-09 武汉磐电科技股份有限公司 互感器校验仪整检方法、装置、设备及存储介质
US11885645B2 (en) 2021-06-17 2024-01-30 Allegro Microsystems, Llc Supply voltage configurable sensor
US11525705B1 (en) 2021-07-13 2022-12-13 Allegro Microsystems, Llc Magnetic-field sensor with test pin for diagnostic assessment of target validity, target placement and/or control of signal range and/or offset
US11598655B2 (en) 2021-07-13 2023-03-07 Allegro Microsystems, Llc Magnetic-field sensor with test pin for control of signal range and/or offset
US11885646B2 (en) 2021-08-12 2024-01-30 Allegro Microsystems, Llc Programmable active pixel test injection
CN113758606B (zh) * 2021-10-14 2023-09-05 成都微光集电科技有限公司 温度传感器及测温设备
CN114485738B (zh) * 2022-01-06 2024-01-12 天津中德应用技术大学 一种双组霍尔传感器装置及其控制方法
US11848682B2 (en) 2022-01-11 2023-12-19 Allegro Microsystems, Llc Diagnostic circuits and methods for analog-to-digital converters
US11722141B1 (en) 2022-04-22 2023-08-08 Allegro Microsystems, Llc Delay-locked-loop timing error mitigation
US11719769B1 (en) 2022-06-14 2023-08-08 Allegro Microsystems, Llc Method and apparatus for sensor signal path diagnostics

Family Cites Families (153)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4004217A (en) 1975-10-31 1977-01-18 S.H.E. Corporation Flux locked loop
GB2000639B (en) 1977-06-29 1982-03-31 Tokyo Shibaura Electric Co Semiconductor device
DE3030620A1 (de) 1980-08-13 1982-03-11 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Anordnung zur aenderung der elektrischen schaltungskonfiguration von integrierten halbleiterschaltkreisen
US4465976A (en) * 1982-01-26 1984-08-14 Sprague Electric Company Hall element with bucking current and magnet biases
CH664632A5 (de) 1984-08-16 1988-03-15 Landis & Gyr Ag Schaltungsanordnung zur kompensation von schwankungen des uebertragungsfaktors eines magnetfeldsensors.
SE447608B (sv) 1985-04-03 1986-11-24 Hightech Network Ab Forfarande och anordning for instellning av en digital regulator
US4833406A (en) 1986-04-17 1989-05-23 Household Commercial Financial Services Inc. Temperature compensated Hall-effect sensor apparatus
US4764760A (en) 1986-12-19 1988-08-16 General Electric Company Automatic gain control for machine tool monitor
US4760285A (en) 1987-03-30 1988-07-26 Honeywell Inc. Hall effect device with epitaxal layer resistive means for providing temperature independent sensitivity
FR2614695B1 (fr) 1987-04-28 1989-06-23 Commissariat Energie Atomique Procede de numerisation et de linearisation d'un capteur a caracteristique periodique quasi sinusoidale et dispositif correspondant
US4823075A (en) 1987-10-13 1989-04-18 General Electric Company Current sensor using hall-effect device with feedback
DE3879187D1 (de) 1988-04-21 1993-04-15 Landis & Gyr Betriebs Ag Integrierte halbleiterschaltung mit einem magnetfeldsensor aus halbleitermaterial.
EP0357013A3 (en) 1988-09-02 1991-05-15 Honeywell Inc. Magnetic field measuring circuit
DE3829815A1 (de) 1988-09-02 1990-03-22 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Positionsmesseinrichtung
JPH02271256A (ja) 1989-04-12 1990-11-06 Toshiba Corp 回転速度検出装置の判定装置
US5038246A (en) 1989-08-31 1991-08-06 Square D Company Fault powered, processor controlled circuit breaker trip system having reliable tripping operation
JP2754782B2 (ja) 1989-09-08 1998-05-20 神鋼電機株式会社 リニアエンコーダ
DE4114835A1 (de) 1991-05-07 1992-11-12 Vdo Schindling Schalteinrichtung, insbesondere zur verwendung in kraftfahrzeugen
JPH0514196A (ja) 1991-06-28 1993-01-22 Toshiba Corp 自己診断機能付入力回路
DE59109002D1 (de) 1991-07-31 1998-07-09 Micronas Intermetall Gmbh Hallsensor mit Selbstkompensation
JP3019550B2 (ja) * 1991-10-14 2000-03-13 日産自動車株式会社 半導体センサの自己診断回路
US5247278A (en) 1991-11-26 1993-09-21 Honeywell Inc. Magnetic field sensing device
JP3183565B2 (ja) 1992-07-13 2001-07-09 カヤバ工業株式会社 センサの故障検出装置
US5469058A (en) 1992-12-30 1995-11-21 Dunnam; Curt Feedback enhanced sensor, alternating magnetic field detector
GB2276727B (en) 1993-04-01 1997-04-09 Rolls Royce & Ass Improvements in and relating to magnetometers
JP3336668B2 (ja) 1993-04-15 2002-10-21 株式会社デンソー センサ信号処理装置
US5424558A (en) 1993-05-17 1995-06-13 High Yield Technology, Inc. Apparatus and a method for dynamically tuning a particle sensor in response to varying process conditions
DE4319146C2 (de) 1993-06-09 1999-02-04 Inst Mikrostrukturtechnologie Magnetfeldsensor, aufgebaut aus einer Ummagnetisierungsleitung und einem oder mehreren magnetoresistiven Widerständen
US5329416A (en) 1993-07-06 1994-07-12 Alliedsignal Inc. Active broadband magnetic flux rate feedback sensing arrangement
JPH0766649A (ja) 1993-08-20 1995-03-10 Nec Corp 自動出力レベル制御回路
US6104231A (en) 1994-07-19 2000-08-15 Honeywell International Inc. Temperature compensation circuit for a hall effect element
JP3274034B2 (ja) * 1994-12-26 2002-04-15 三菱電機株式会社 半導体加速度検出装置
JPH08201490A (ja) 1995-01-31 1996-08-09 Mitsumi Electric Co Ltd センサic
US5570052A (en) 1995-06-07 1996-10-29 Philips Electronics North America Corporation Detection circuit with differential input and hysteresis proportional to the peak input voltage
US5631602A (en) * 1995-08-07 1997-05-20 Delco Electronics Corporation Wheatstone bridge amplifier circuit with integrated diagnostic testing
JPH0979004A (ja) 1995-09-13 1997-03-25 Toshiba Eng Co Ltd ターニング装置のゼロ速度検出装置
DE19539458C2 (de) 1995-10-24 2001-03-15 Bosch Gmbh Robert Sensor mit Testeingang
DE19542086C2 (de) 1995-11-11 2002-10-24 Bosch Gmbh Robert Einrichtung zur Fehlererkennung bei einem Sensor
US5621319A (en) 1995-12-08 1997-04-15 Allegro Microsystems, Inc. Chopped hall sensor with synchronously chopped sample-and-hold circuit
JPH1090421A (ja) 1996-09-13 1998-04-10 Siemens Ag 高エネルギ放射に対する検出器
JPH10190421A (ja) * 1996-11-26 1998-07-21 Noboru Masuda 信号処理回路
WO1998038519A1 (fr) * 1997-02-28 1998-09-03 Asahi Kasei Electronics Co., Ltd. Detecteur magnetique
US5793778A (en) 1997-04-11 1998-08-11 National Semiconductor Corporation Method and apparatus for testing analog and digital circuitry within a larger circuit
ES2165206T3 (es) * 1997-11-20 2002-03-01 Siemens Ag Dispositivo de diagnosis para el reconocimiento de cortocircuitos o de interrupciones de la linea de un sensor inductivo.
US6011770A (en) 1997-12-10 2000-01-04 Texas Instrumental Incorporated Method and apparatus for high-order bandpass filter with linearly adjustable bandwidth
US6262871B1 (en) 1998-05-28 2001-07-17 X-L Synergy, Llc Fail safe fault interrupter
US6809515B1 (en) 1998-07-31 2004-10-26 Spinix Corporation Passive solid-state magnetic field sensors and applications therefor
EP1014101A3 (en) 1998-12-21 2004-11-03 Sura Magnets AB Magnetic testing apparatus
JP3041614B1 (ja) 1999-01-12 2000-05-15 本田技研工業株式会社 電流検出装置及び電動機制御装置
US6351506B1 (en) 1999-04-19 2002-02-26 National Semiconductor Corporation Switched capacitor filter circuit having reduced offsets and providing offset compensation when used in a closed feedback loop
US6436748B1 (en) 1999-08-31 2002-08-20 Micron Technology, Inc. Method for fabricating CMOS transistors having matching characteristics and apparatus formed thereby
FR2801445A1 (fr) 1999-11-23 2001-05-25 Koninkl Philips Electronics Nv Dispositif d'amplification a largeur de bande ajustable
US6980005B2 (en) 2003-09-23 2005-12-27 Pass & Seymar, Inc. Circuit protection device with timed negative half-cycle self test
US6917321B1 (en) 2000-05-21 2005-07-12 Analog Devices, Inc. Method and apparatus for use in switched capacitor systems
US6420868B1 (en) 2000-06-16 2002-07-16 Honeywell International Inc. Read-out electronics for DC squid magnetic measurements
US6853178B2 (en) 2000-06-19 2005-02-08 Texas Instruments Incorporated Integrated circuit leadframes patterned for measuring the accurate amplitude of changing currents
DE10032530C2 (de) 2000-07-05 2002-10-24 Infineon Technologies Ag Verstärkerschaltung mit Offsetkompensation
US20020024109A1 (en) * 2000-08-29 2002-02-28 Kambiz Hayat-Dawoodi Integrated circuit and method for magnetic sensor testing
US7190784B2 (en) 2000-12-29 2007-03-13 Legerity, Inc. Method and apparatus for adaptive DC level control
US6545495B2 (en) 2001-04-17 2003-04-08 Ut-Battelle, Llc Method and apparatus for self-calibration of capacitive sensors
EP1260825A1 (de) 2001-05-25 2002-11-27 Sentron Ag Magnetfeldsensor
GB0126014D0 (en) 2001-10-30 2001-12-19 Sensopad Technologies Ltd Modulated field position sensor
US8107901B2 (en) 2001-08-20 2012-01-31 Motorola Solutions, Inc. Feedback loop with adjustable bandwidth
JP3835354B2 (ja) 2001-10-29 2006-10-18 ヤマハ株式会社 磁気センサ
JP3877998B2 (ja) 2001-11-05 2007-02-07 株式会社山武 角度センサの温度情報検出装置および位置検出装置
JP2003195933A (ja) 2001-12-27 2003-07-11 Mitsubishi Electric Corp 監視制御装置
JP2003254850A (ja) * 2002-03-01 2003-09-10 Denso Corp 自己診断機能付きセンサ出力処理回路
US6744259B2 (en) 2002-06-25 2004-06-01 Associated Research, Inc. System and method for verifying failure detect circuitry in safety compliance test instruments
US7096386B2 (en) 2002-09-19 2006-08-22 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor integrated circuit having functional modules each including a built-in self testing circuit
US6781359B2 (en) 2002-09-20 2004-08-24 Allegro Microsystems, Inc. Integrated current sensor
US7259545B2 (en) 2003-02-11 2007-08-21 Allegro Microsystems, Inc. Integrated sensor
US20040193988A1 (en) * 2003-03-26 2004-09-30 James Saloio Engine speed sensor with fault detection
DE10337045A1 (de) 2003-08-12 2005-03-17 Infineon Technologies Ag In-Betrieb-Test eines Signalpfades
US7075287B1 (en) 2003-08-26 2006-07-11 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
US7086270B2 (en) 2004-02-24 2006-08-08 Analog Devices, Inc. Method for continuous sensor self-test
WO2005114671A1 (en) 2004-05-18 2005-12-01 Koninklijke Philips Electronics N.V. Digital magnetic current sensor and logic
US7961823B2 (en) 2004-06-02 2011-06-14 Broadcom Corporation System and method for adjusting multiple control loops using common criteria
US7292096B2 (en) 2004-06-21 2007-11-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Amplifier
EP1637898A1 (en) 2004-09-16 2006-03-22 Liaisons Electroniques-Mecaniques Lem S.A. Continuously calibrated magnetic field sensor
JP4385911B2 (ja) 2004-09-28 2009-12-16 株式会社デンソー 回転角度検出装置
JP2006105932A (ja) * 2004-10-08 2006-04-20 Toyota Motor Corp ブリッジ回路を有するセンサの故障判定装置およびその故障判定方法
US7443309B2 (en) 2004-12-01 2008-10-28 Hubbell Incorporated Self testing ground fault circuit interrupter (GFCI)
EP1679524A1 (en) 2005-01-11 2006-07-12 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne Epfl - Sti - Imm - Lmis3 Hall sensor and method of operating a Hall sensor
US7701208B2 (en) 2005-02-08 2010-04-20 Rohm Co., Ltd. Magnetic sensor circuit and portable terminal provided with such magnetic sensor circuit
DE102005047413B8 (de) 2005-02-23 2012-05-10 Infineon Technologies Ag Magnetfeldsensorelement und Verfahren zum Durchführen eines On-Wafer-Funktionstests, sowie Verfahren zur Herstellung von Magnetfeldsensorelementen und Verfahren zur Herstellung von Magnetfeldsensorelementen mit On-Wafer-Funktionstest
US7253614B2 (en) 2005-03-21 2007-08-07 Allegro Microsystems, Inc. Proximity detector having a sequential flow state machine
US7325175B2 (en) 2005-05-04 2008-01-29 Broadcom Corporation Phase adjust using relative error
US7769110B2 (en) 2005-05-13 2010-08-03 Broadcom Corporation Threshold adjust system and method
US7327153B2 (en) 2005-11-02 2008-02-05 Texas Instruments Incorporated Analog built-in self-test module
US20070110199A1 (en) 2005-11-15 2007-05-17 Afshin Momtaz Receive equalizer with adaptive loops
JP4749132B2 (ja) * 2005-11-21 2011-08-17 富士通セミコンダクター株式会社 センサ検出装置及びセンサ
JP4916821B2 (ja) 2006-03-31 2012-04-18 株式会社ダイヘン 電圧検出用プリント基板及びそれを用いた電圧検出器
CN101454683A (zh) 2006-05-30 2009-06-10 皇家飞利浦电子股份有限公司 具有自适应场补偿的传感器设备
US20080013298A1 (en) 2006-07-14 2008-01-17 Nirmal Sharma Methods and apparatus for passive attachment of components for integrated circuits
DE502007005695D1 (de) 2006-08-01 2010-12-30 Continental Teves Ag & Co Ohg Sensoranordnung zur präzisen erfassung von relativbewegungen zwischen einem encoder und einem sensor
DE102006037226B4 (de) 2006-08-09 2008-05-29 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Im Messbetrieb kalibrierbarer magnetischer 3D-Punktsensor
DE102006045141B9 (de) 2006-09-25 2009-02-19 Infineon Technologies Ag Magnetfeld-Sensor-Vorrichtung
GB0620307D0 (en) 2006-10-16 2006-11-22 Ami Semiconductor Belgium Bvba Auto-calibration of magnetic sensor
US7425821B2 (en) 2006-10-19 2008-09-16 Allegro Microsystems, Inc. Chopped Hall effect sensor
US7729675B2 (en) 2006-12-08 2010-06-01 Silicon Laboratories Inc. Reducing noise during a gain change
US8128549B2 (en) 2007-02-20 2012-03-06 Neuronetics, Inc. Capacitor failure detection
CN101641609B (zh) * 2007-03-23 2013-06-05 旭化成微电子株式会社 磁传感器及其灵敏度测量方法
JP4774071B2 (ja) 2007-04-05 2011-09-14 ルネサスエレクトロニクス株式会社 プローブ抵抗値測定方法、プローブ抵抗値測定用パッドを有する半導体装置
DE102007025001B4 (de) 2007-05-30 2017-03-23 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Testen einer Messbrücke, Messbrückenanordnung, Testanordnung zum Testen einer Messbrücke, Verfahren zum Herstellen einer getesteten Messbrückenanordnung und Computerprogramm
JP4897585B2 (ja) * 2007-06-22 2012-03-14 ローム株式会社 磁気センサ回路及びこれを用いた電子機器
US7982454B2 (en) 2007-06-26 2011-07-19 Allegro Microsystems, Inc. Calibration circuits and methods for a proximity detector using a first rotation detector for a determined time period and a second rotation detector after the determined time period
US7605580B2 (en) 2007-06-29 2009-10-20 Infineon Technologies Austria Ag Integrated hybrid current sensor
US7800389B2 (en) 2007-07-13 2010-09-21 Allegro Microsystems, Inc. Integrated circuit having built-in self-test features
US7694200B2 (en) 2007-07-18 2010-04-06 Allegro Microsystems, Inc. Integrated circuit having built-in self-test features
DE102007041230B3 (de) 2007-08-31 2009-04-09 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Kalibrierbarer mehrdimensionaler magnetischer Punktsensor sowie entsprechendes Verfahren und Computerprogramm dafür
US7973635B2 (en) 2007-09-28 2011-07-05 Access Business Group International Llc Printed circuit board coil
US7923996B2 (en) 2008-02-26 2011-04-12 Allegro Microsystems, Inc. Magnetic field sensor with automatic sensitivity adjustment
US8269491B2 (en) 2008-02-27 2012-09-18 Allegro Microsystems, Inc. DC offset removal for a magnetic field sensor
US7936144B2 (en) 2008-03-06 2011-05-03 Allegro Microsystems, Inc. Self-calibration algorithms in a small motor driver IC with an integrated position sensor
JP4577396B2 (ja) * 2008-04-03 2010-11-10 株式会社デンソー 回転検出装置
US7605647B1 (en) 2008-04-29 2009-10-20 Allegro Microsystems, Inc. Chopper-stabilized amplifier and magnetic field sensor
US7764118B2 (en) 2008-09-11 2010-07-27 Analog Devices, Inc. Auto-correction feedback loop for offset and ripple suppression in a chopper-stabilized amplifier
JP5187093B2 (ja) * 2008-09-17 2013-04-24 ミツミ電機株式会社 モータ駆動用半導体集積回路およびテスト方法
EP2211147B1 (de) * 2009-01-23 2012-11-28 Micronas GmbH Verfahren zur Funktionsüberprüfung einer elektrischen Schaltung
US8447556B2 (en) * 2009-02-17 2013-05-21 Allegro Microsystems, Inc. Circuits and methods for generating a self-test of a magnetic field sensor
US8466700B2 (en) * 2009-03-18 2013-06-18 Infineon Technologies Ag System that measures characteristics of output signal
KR101026061B1 (ko) 2009-04-13 2011-04-04 엘에스엠트론 주식회사 저항층 내장 도전체 및 그 제조방법과 인쇄회로기판
JP2010283713A (ja) * 2009-06-08 2010-12-16 Sanyo Electric Co Ltd オフセットキャンセル回路
US7990209B2 (en) 2009-06-19 2011-08-02 Allegro Microsystems, Inc. Switched capacitor notch filter
EP2634592B1 (en) 2009-07-22 2015-01-14 Allegro Microsystems, LLC Circuits and methods for generating a diagnostic mode of operation in a magnetic field sensor
US8299783B2 (en) 2009-08-27 2012-10-30 Allegro Microsystems, Inc. Circuits and methods for calibration of a motion detector
JP5711746B2 (ja) 2009-09-14 2015-05-07 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ 検査オブジェクトの内部圧力を測定する装置および方法
JP5271949B2 (ja) 2009-09-29 2013-08-21 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US20110133732A1 (en) * 2009-12-03 2011-06-09 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for enhanced frequency response of magnetic sensors
US20110169488A1 (en) 2010-01-08 2011-07-14 Everspin Technologies, Inc. Method and structure for testing and calibrating magnetic field sensing device
EP2369301B1 (de) * 2010-03-23 2014-04-30 Micronas GmbH Sensorbaustein und Verfahren zur Funktionsüberwachung eines solchen
US8680848B2 (en) 2010-06-03 2014-03-25 Allegro Microsystems, Llc Motion sensor, method, and computer-readable storage medium providing a motion sensor that adjusts gains of two circuit channels to bring the gains close to each other
US8564285B2 (en) 2010-07-28 2013-10-22 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with improved differentiation between a sensed magnetic field signal and a noise signal
US8577634B2 (en) 2010-12-15 2013-11-05 Allegro Microsystems, Llc Systems and methods for synchronizing sensor data
JP5573739B2 (ja) 2011-03-18 2014-08-20 株式会社デンソー スタータ駆動装置
US8680846B2 (en) 2011-04-27 2014-03-25 Allegro Microsystems, Llc Circuits and methods for self-calibrating or self-testing a magnetic field sensor
JP6033529B2 (ja) * 2011-05-30 2016-11-30 株式会社東海理化電機製作所 検出装置および電流センサ
US8890518B2 (en) 2011-06-08 2014-11-18 Allegro Microsystems, Llc Arrangements for self-testing a circular vertical hall (CVH) sensing element and/or for self-testing a magnetic field sensor that uses a circular vertical hall (CVH) sensing element
JP5793059B2 (ja) 2011-10-31 2015-10-14 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁気センサ
JP5230786B2 (ja) 2011-11-08 2013-07-10 三菱電機株式会社 二次電池の状態検知装置、二次電池の状態検知装置のための故障診断方法
JP5865108B2 (ja) 2012-02-16 2016-02-17 セイコーインスツル株式会社 磁気センサ装置
US9201122B2 (en) 2012-02-16 2015-12-01 Allegro Microsystems, Llc Circuits and methods using adjustable feedback for self-calibrating or self-testing a magnetic field sensor with an adjustable time constant
JP5629302B2 (ja) * 2012-02-29 2014-11-19 旭化成エレクトロニクス株式会社 自己診断機能を有する電流センサ及び信号処理回路
US9812588B2 (en) * 2012-03-20 2017-11-07 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material
US8896295B2 (en) * 2012-04-04 2014-11-25 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor having multiple sensing elements and a programmable misalignment adjustment device for misalignment detection and correction in current sensing and other applications
US9817078B2 (en) 2012-05-10 2017-11-14 Allegro Microsystems Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having integrated coil
US8754640B2 (en) 2012-06-18 2014-06-17 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensors and related techniques that can provide self-test information in a formatted output signal
US9383425B2 (en) 2012-12-28 2016-07-05 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for a current sensor having fault detection and self test functionality
US10725100B2 (en) 2013-03-15 2020-07-28 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having an externally accessible coil
US9411025B2 (en) 2013-04-26 2016-08-09 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame and a magnet
EP3199967B1 (en) 2013-12-26 2023-05-17 Allegro MicroSystems, LLC Methods and apparatus for sensor diagnostics
US9791521B2 (en) 2014-03-27 2017-10-17 Texas Instruments Incorporated Systems and methods for operating a hall-effect sensor without an applied magnetic field
US9645220B2 (en) 2014-04-17 2017-05-09 Allegro Microsystems, Llc Circuits and methods for self-calibrating or self-testing a magnetic field sensor using phase discrimination

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7280135B2 (ja) 2018-07-19 2023-05-23 ティディケイ-ミクロナス ゲー・エム・ベー・ハー ホールセンサ及びこのようなセンサを動作させる方法
JP7382853B2 (ja) 2020-02-27 2023-11-17 エイブリック株式会社 磁気センサ及び磁気検出方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2017510056A5 (ja)
WO2015100214A3 (en) Methods and apparatus for sensor diagnostics
WO2014149416A3 (en) Magnetic field sensor having an externally accessible coil
JP2014142923A5 (ja)
JP2016515233A5 (ja)
JP2016109660A5 (ja) 電流検出回路、入出力装置
JP2016001186A5 (ja)
GB2547385A (en) Energy metering system and method for its calibration
JP2016522892A5 (ja)
MX2016010159A (es) Circuito integrado de sensor magnetico, conjunto de motor y aparato de aplicación.
JP2019053048A5 (ja)
JP2016192594A5 (ja)
JP2018530298A5 (ja)
WO2016073123A3 (en) High-current sensing scheme using drain-source voltage
JP2016219090A5 (ja)
IN2014MN01960A (ja)
JP2015156640A5 (ja) 情報処理装置
JP2012208868A5 (ja)
JP2013118475A5 (ja)
JP2010193034A5 (ja)
JP2015037206A5 (ja)
WO2017050040A1 (zh) 电容式传感器、传感装置、感测系统、以及电子设备
JP2015200523A5 (ja)
MX2016010219A (es) Sensor magnetico, metodo para controlar un estado operativo del mismo, circuito integrado y conjunto de motor.
JP2014003598A5 (ja)