JP4749132B2 - センサ検出装置及びセンサ - Google Patents

センサ検出装置及びセンサ Download PDF

Info

Publication number
JP4749132B2
JP4749132B2 JP2005336278A JP2005336278A JP4749132B2 JP 4749132 B2 JP4749132 B2 JP 4749132B2 JP 2005336278 A JP2005336278 A JP 2005336278A JP 2005336278 A JP2005336278 A JP 2005336278A JP 4749132 B2 JP4749132 B2 JP 4749132B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
input
sensor
signal
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005336278A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007139667A (ja
Inventor
勝哉 清水
宏行 先間
高広 渡井
真也 水谷
考樹 青木
功滋 竹川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Semiconductor Ltd
Original Assignee
Fujitsu Semiconductor Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Semiconductor Ltd filed Critical Fujitsu Semiconductor Ltd
Priority to JP2005336278A priority Critical patent/JP4749132B2/ja
Priority to DE602006010014T priority patent/DE602006010014D1/de
Priority to EP06003782A priority patent/EP1795903B1/en
Priority to TW095106379A priority patent/TWI279540B/zh
Priority to US11/362,098 priority patent/US7271595B2/en
Priority to KR1020060019634A priority patent/KR100793223B1/ko
Publication of JP2007139667A publication Critical patent/JP2007139667A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4749132B2 publication Critical patent/JP4749132B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/12Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by alteration of electrical resistance
    • G01P15/123Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by alteration of electrical resistance by piezo-resistive elements, e.g. semiconductor strain gauges
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B66HOISTING; LIFTING; HAULING
    • B66DCAPSTANS; WINCHES; TACKLES, e.g. PULLEY BLOCKS; HOISTS
    • B66D1/00Rope, cable, or chain winding mechanisms; Capstans
    • B66D1/54Safety gear
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B66HOISTING; LIFTING; HAULING
    • B66DCAPSTANS; WINCHES; TACKLES, e.g. PULLEY BLOCKS; HOISTS
    • B66D1/00Rope, cable, or chain winding mechanisms; Capstans
    • B66D1/28Other constructional details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L25/00Testing or calibrating of apparatus for measuring force, torque, work, mechanical power, or mechanical efficiency
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P21/00Testing or calibrating of apparatus or devices covered by the preceding groups
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2829Testing of circuits in sensor or actuator systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Description

本発明は、ブリッジ回路を利用したセンサ素子の異常を検出することができるセンサ検出回路に関し、また、センサ検出回路を備えるセンサ検出装置及びセンサに関する。
図15は、従来の加速度センサの構成を示す回路図である。図において100は加速度を感知するセンサ素子であり、110はセンサ素子100の出力から加速度を検出するセンサ検出装置である。センサ素子100は、加わる圧力に応じて抵抗値が変化する4つのピエゾ抵抗R1、R2、R3及びR4によりホイートストンブリッジ回路を構成したものであり、直列に接続されたピエゾ抵抗R1及びR2と、ピエゾ抵抗R3及びR4とを、駆動電源が与えられる電源端子101及び接地電位に接続される接地端子104の間に並列に接続してある。センサ素子100の出力として、ピエゾ抵抗R1及びR2の間の電位Vs+が第1出力端子102から出力され、ピエゾ抵抗R3及びR4の間の電位Vs−が第2出力端子103から出力される。
ピエゾ抵抗R1、R2、R3及びR4の抵抗値がいずれもRであるときに、センサ素子100に加速度が加わっていない場合、電位Vs+及びVs−は等しいが、加速度が加わった場合には、例えば対角位置のピエゾ抵抗R1及びR4の抵抗値がR+ΔRに変化し、ピエゾ抵抗R2及びR3の抵抗値がR−ΔRに変化するため、電位Vs+及びVs−の間にΔRに応じた電位差が発生する。
センサ検出装置110は、センサ素子100を駆動するための電源回路115を備えており、電源回路115の出力が電源出力端子111から出力され、センサ素子100の電源端子101に与えられる。センサ素子100の2つの電位Vs+及びVs−は、センサ検出装置110の第1入力端子112及び第2入力端子113にそれぞれ与えられ、センサ検出装置110内のアンプ116に入力される。アンプ116は電位Vs+及びVs−の電位差を増幅して出力端子114から出力し、この出力からセンサ素子100に加わる加速度を判断することができる。
特許文献1においては、ホイートストンブリッジ回路の2つの出力電位が、一定範囲内の電位に収まっているか否かを、ウインドウコンパレータを用いてモニタすることによって、ホイートストンブリッジ回路に発生した断線又は短絡等の故障を検出することができる診断回路が提案されている。例えば、ホイートストンブリッジ回路に断線が発生した場合、出力電位が電源又は接地電位となるため、ウインドウコンパレータにて異常を検出できる。
また、特許文献2においては、ホイートストンブリッジ回路と並列に故障検出用抵抗を接続し、故障検出用抵抗の両端の電位差が一定範囲内に収まっているか否かを、ウインドウコンパレータを用いてモニタすることによって、ホイートストンブリッジ回路に発生した断線又は短絡等の故障を検出することができる故障検出装置が提案されている。
特許文献3においては、ホイートストンブリッジ回路に電源としてパルス電圧を印加し、2つの出力電圧の電位差を一定の時間間隔でサンプリング測定し、測定値の変化量が閾値以下となったときの測定値を測定結果として出力する構成とすることにより、ホイートストンブリッジ回路の出力変動の過渡現象の影響を低減でき、検出精度を高めることができる圧力測定装置が提案されている。
実開平4−109371号公報 実開平5−81720号公報 特開2003−194646号公報
しかしながら、特許文献1に記載の診断回路及び特許文献2に記載の故障検出装置においては、ホイートストンブリッジ回路に発生した断線又は短絡等の故障を検出することは可能であるが、ホイートストンブリッジ回路の2つの出力の電位差を増幅するアンプに発生した故障を検出することはできないという問題がある。
特に、加速度センサ及びセンサ検出装置が別のICチップで構成される場合には、センサ検出装置のICの入力端子から侵入する静電気により、入力段のアンプが破壊される虞がある。アンプが破壊された場合には、加速度の検出を正常に行うことができないため、センサ検出回路はアンプの破壊を検出できる構成であることが望ましい。
また、ホイートストンブリッジ回路の2つの出力電位の電位差は微小なものであるため、ノイズの影響が大きく、ノイズにより検出の精度が悪化するという問題がある。また、この電位差を増幅するアンプにはゲインの大きいものを用いることが多く、アンプのオフセットが大きくなり、検出の精度が悪化するという問題がある。特許文献1乃至特許文献3においては、これらの問題に関しては言及されていない。
本発明は、斯かる事情に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、ブリッジ回路を有するセンサ素子から与えられる2つの入力信号の電位差を増幅する差動増幅部の入力信号及び出力信号の電位を監視する監視部を設ける構成とすることにより、センサ素子のブリッジ回路の断線又は短絡等の故障と、差動増幅部の破壊とを検知することができるセンサ検出装置を提供することにある。
また本発明の他の目的とするところは、差動増幅部に入力される2つの入力信号と、差動増幅部から出力される2つの出力信号とに監視部を設ける構成とすることにより、ブリッジ回路の断線又は短絡等の故障と、差動増幅部の破壊とを確実に検知することができるセンサ検出装置を提供することにある。
また本発明の他の目的とするところは、センサ素子から与えられる2つの入力信号の電位差を増幅する差動増幅部の2つの出力信号の電位差を更に増幅して出力する出力段差動増幅部を設けることにより、より確実にセンサ素子の状態を検出することができるセンサ検出装置を提供することにある。
また本発明の他の目的とするところは、センサ素子を駆動するための駆動手段を備える構成とすることにより、別に駆動手段を備える装置を必要としないセンサ検出装置を提供することにある。
また本発明の他の目的とするところは、センサ素子を正弦波信号又はパルス信号等の周期的に変化する信号を用いて駆動し、周期的に変化する信号を直流信号に変換して出力する変換出力手段を備える構成とすることにより、監視部が電位の変化を監視して故障を検知することができ、故障の検知と同時にセンサ素子の状態を検出することができ、また、ノイズによる誤動作を低減できるセンサ検出装置を提供することにある。
また本発明の他の目的とするところは、周期的に変化する信号又は直流の信号を用いてセンサ素子を駆動する構成とすることにより、周期的に変化する信号を用いて監視部が電位の変化を監視して故障を検知することができ、直流の信号を用いてセンサ素子の状態を検出することができるセンサ検出装置を提供することにある。
また本発明の他の目的とするところは、センサ素子を周期的に変化する信号を用いて駆動し、監視点の電位と基準電位とを比較器にて比較し、比較器の比較結果をカウンタによってカウントする構成とすることにより、センサ素子のブリッジ回路に与えられた駆動信号が、各監視点に正しく伝達されているか否かを比較器及びカウンタで調べることができ、故障の検知を簡単に行うことができるセンサ検出装置を提供することにある。
また本発明の他の目的とするところは、複数の基準電位と監視点の電位とを比較器により比較する構成とすることにより、より多様な故障を検知することができるセンサ検出装置を提供することにある。
また本発明の他の目的とするところは、差動増幅部を2つのオペアンプをコンデンサを介して接続する構成とすることにより、2つの入力信号の直流成分に対するゲインを小さくすることができ、交流成分のみを増幅した2つのの出力信号を得ることができ、アンプの直流成分であるオフセットの影響を低減することができるセンサ検出装置を提供することにある。
また本発明の他の目的とするところは、センサ素子のブリッジ回路からの出力を、フィルタを介して差動増幅部へ与える構成とすることにより、例えばフィルタとして広域通過フィルタを用いた場合には、差動増幅部へ与えられる差動の入力の直流成分及び低周波成分をカットすることができ、高周波成分のみを増幅でき、アンプの1/fノイズによる影響を低減することができるセンサ検出装置を提供することにある。
また本発明の他の目的とするところは、センサ素子及びアンプの故障を検知することができるセンサ検出装置を備えることにより、信頼性が高いセンサを提供することにある。
第1発明に係るセンサ検出装置は、ブリッジ回路を有するセンサ素子から出力される前記ブリッジ回路の2つの出力電位の電位差に応じて、前記センサ素子の状態を検出するセンサ検出装置において、前記センサ素子から出力される2つの出力電位が入力される第1入力端子及び第2入力端子と、該第1入力端子及び第2入力端子に入力される入力信号の電位を増幅して出力する差動増幅部と、該差動増幅部の入力信号及び出力信号の電位を監視する監視部とを備え、前記差動増幅部は、入力される2つの入力信号の電位差を増幅して、2つの出力信号を出力するようにしてあり、前記監視部は、前記2つの入力信号及び2つの出力信号の電位を監視するようにしてあることを特徴とする。
本発明においては、センサ素子のブリッジ回路から与えられる2つの入力信号の電位差を増幅する差動増幅部の入力信号及び出力信号の電位を監視する監視部を設ける。センサ素子のブリッジ回路又は差動増幅部に故障が発生した場合には、監視部にて異常が検知されるため、センサ素子及び差動増幅部の故障を検知できる。
本発明においては、センサ素子からの2つの入力信号の電位差を差動増幅部により増幅して2つの出力信号を得る。この2つの入力信号及び2つの出力信号の電位を監視する。センサ素子に故障が発生した場合は差動増幅部の入力信号にて異常が検知され、差動増幅部に故障が発生した場合は出力信号にて異常が検知される。
発明に係るセンサ検出装置は、前記差動増幅部の2つの出力信号の電位差を増幅する出力段差動増幅部を備えることを特徴とする。
本発明においては、センサ素子からの2つの入力信号の電位差を差動増幅部により増幅して2つの出力信号を得る。更に、2つの出力信号の電位差を出力段差動増幅部により増幅して出力する。センサ素子からの2つの入力信号の電位差は微小であるため、複数段の増幅部で複数回増幅を行うことで、確実にセンサ素子の状態を検出する。
発明に係るセンサ検出装置は、前記センサ素子を駆動するための駆動信号を発生する駆動手段を備えることを特徴とする。
本発明においては、センサ検出装置にセンサ素子を駆動するための駆動信号を発生する駆動手段を設ける。これにより、駆動手段を有する別の装置を設ける必要がなくなる。また、センサ検出装置が故障の検出を行う場合に駆動信号を変更することができるようになる。
発明に係るセンサ検出装置は、前記駆動手段が、周期的に変化する駆動信号を発生するようにしてあり、周期的に変化する信号を直流の信号に変換して出力する変換出力手段を備えることを特徴とする。
本発明においては、センサ素子を周期的に変化する信号を用いて駆動する。監視部は監視点の電位の変化を監視して故障の検知を行う。また、周期的に変化する信号を直流の信号に変換して出力する変換出力手段を設け、故障の検知とセンサ素子の状態検出とを同時に行えるようにする。また、周期的に変化する信号を用いることにより、ノイズによる誤動作が低減される。
発明に係るセンサ検出装置は、前記駆動手段が、周期的に変化する駆動信号又は直流の駆動信号を発生するようにしてあることを特徴とする。
本発明においては、駆動手段が周期的に変化する信号又は直流の信号を発生し、発生した信号でセンサ素子を駆動する。例えば、故障の検知を行う場合のみセンサ素子のブリッジ回路を正弦波信号又はパルス信号等の駆動信号にて駆動し、故障の検知を行わない場合はブリッジ回路を直流の駆動信号にて駆動する。差動増幅部に監視部を接続して、故障の検知を行う場合に監視部を動作させることで、故障が検知できるため、簡単に故障の検知機能が実現できる。
発明に係るセンサ検出装置は、前記監視部が、監視する電位と基準電位とを比較する比較器と、該比較器の出力に接続されたカウンタとを有することを特徴とする。
本発明においては、センサ素子のブリッジ回路を周期的に変化する信号によって駆動し、監視点の電位と予め定められた基準電位とを比較器を用いて比較する。ホイートストンブリッジ回路から各監視点に伝達された駆動信号と基準電位との比較結果として比較器の出力からパルス信号を得ることができ、比較器の出力によってカウンタを動作させる。センサ素子のブリッジ回路に与えた駆動信号の周期で決定されるカウンタの期待値と、実際のカウンタの値とを比較することで簡単に故障の検知を行うことができる。
発明に係るセンサ検出装置は、前記監視部が、複数の異なる基準電位の1つを選択する選択部を有し、監視する電位と選択された基準電位とを前記比較器が比較するようにしてあることを特徴とする。
本発明においては、複数の基準電位を用意し、基準電位を切り替えて比較器に与え、複数の比較を行う。比較基準を複数用意することにより、回路の断線又は短絡等の簡単な故障のみでなく、例えばピエゾ抵抗で構成されるホイートストンブリッジ回路の劣化による抵抗値の変化又は回路の微小な電流リークによる電位の変化等の様々な故障に対応できる。
発明に係るセンサ検出装置は、前記差動増幅部が、前記第1入力端子が非反転入力に接続され、出力が抵抗を介して反転入力に接続された第1オペアンプと、前記第2入力端子が非反転入力に接続され、出力が抵抗を介して反転入力に接続された第2オペアンプとを有し、前記第1オペアンプの反転入力及び前記第2オペアンプの反転入力がコンデンサを介して接続してあることを特徴とする。
本発明においては、2つのオペアンプをコンデンサを介して接続し、差動増幅部を構成する。センサ素子のブリッジ回路からの2つの入力信号の直流成分に対するゲインが小さくなり、交流成分のみが増幅されて出力されるため、アンプの直流成分であるオフセットの影響がなくなる。また、この構成によりセンサ素子のブリッジ回路は常に正弦波信号又はパルス信号等の駆動信号にて駆動するが、この場合に高い周波数の駆動信号でブリッジ回路を駆動することにより、オペアンプの1/fノイズを低減することができる。
発明に係るセンサ検出装置は、前記第1入力端子及び前記第2入力端子は、フィルタを介して前記差動増幅部に接続してあることを特徴とする。
本発明においては、センサ素子のブリッジ回路からの入力信号をフィルタを通して差動増幅部に与える。例えば、入力信号を高域通過フィルタを通して直流成分及び低周波成分をカットし、高周波成分のみ差動増幅部へ与える。アンプによる1/fノイズは低周波領域で大きいため、直流成分及び低周波成分をカットすることによって1/fノイズの影響が低減できる。
10発明に係るセンサは、ブリッジ回路を有し、該ブリッジ回路の2つの電位を出力するセンサ素子と、該センサ素子が出力する2つの電位が入力される上述のセンサ検出装置とを備えることを特徴とする。
本発明においては、上述のセンサ検出装置をセンサに備えることにより、センサ素子及びアンプの故障を検知することが可能となり、センサの信頼性が高くなる。
第1発明による場合は、差動増幅部の入力信号及び出力信号の電位を監視する監視部を設けることにより、ブリッジ回路又は差動増幅部に故障が発生した場合には、監視部にて故障を検知することができるため、センサによる加速度又は圧力等の検出結果の信頼性を向上することができる。
また、センサ素子から差動増幅部へ入力される2つの入力信号及び差動増幅部が出力する2つの出力信号を監視部が監視することにより、センサ素子の故障を入力信号の監視により確実に検知でき、差動増幅部の故障を出力信号の監視により確実に検知できるため、センサによる加速度又は圧力等の検出結果の信頼性を向上することができる。
発明による場合は、センサ素子からの2つの入力信号の電位差を増幅する差動増幅部の2つの出力信号の電位差を更に増幅して出力する出力段差動増幅部を設けることにより、センサ素子からの2つの入力信号の微小な電位差を確実に増幅でき、センサによる加速度又は圧力等の検出精度を高くできる。
発明による場合は、センサ検出装置にセンサ素子を駆動する駆動手段を設けることにより、駆動手段を有する別の装置を設ける必要がないため、センサのコストを削減できる。また、センサ検出装置内で駆動信号を変更する制御が可能であり、センサの状態を検出する場合と、故障の検知を行う場合とで異なる駆動信号を出力できるため、回路構成に応じた故障の検知を行うことができる。
発明による場合は、センサ素子を周期的に変化する信号を用いて駆動し、周期的に変化する信号を直流信号に変換して出力する変換出力手段を備えることにより、センサ素子の状態の検出を周期的に変化する信号を用いて行うことができ、監視部は監視点の電位の変化から故障を検知できるため、センサ素子の状態の検出と、故障の検知とを同時に行うことができ、センサの信頼性を高める事ができる。また、周期的に変化する信号を用いるため、ノイズによる誤動作を低減でき、センサの信頼性をより高める事ができる。
発明による場合は、周期的に変化する信号又は直流の信号を用いてセンサ素子を駆動する、例えば、故障の検知を行う場合に周期的に変化する信号にて駆動し、センサ素子の状態検出を行う場合は直流の駆動信号にて駆動することにより、センサ素子の状態検出は従来のセンサ検出装置と同様の処理で行うことができ、既存の回路に駆動信号の発生源及び監視部を付加することで簡単に故障検知の機能を追加できるため、短期間で設計を行うことができ、開発コストを低減できる。
発明による場合は、センサ素子を正弦波信号又はパルス信号等の駆動信号によって駆動し、監視点の電位と基準電位とを比較器にて比較し、比較器の比較結果をカウンタによってカウントする構成とすることにより、ブリッジ回路に与えられた駆動信号が各監視点に正しく伝達されているか否かを比較器及びカウンタで調べることができるため、ブリッジ回路又は差動増幅部に発生した故障を簡単にかつ確実に検知でき、センサによる加速度又は圧力等の検出結果の信頼性を向上することができる。
発明による場合は、複数の基準電位と監視点の電位とを比較器により比較する構成とすることにより、回路の断線又は短絡等の簡単な故障のみでなく、例えばピエゾ抵抗で構成されるブリッジ回路の劣化による抵抗値の変化又は回路の微小な電流リークによる電位の変化等の様々な故障に対応できるため、より信頼性を向上することができる。
発明による場合は、差動増幅部を2つのオペアンプをコンデンサを介して接続する構成とすることにより、2つの入力信号の直流成分に対するゲインを小さくし、交流成分のみを増幅した2つの出力信号を得ることができ、オペアンプの直流成分であるオフセットの影響を低減することができるため、より高精度に加速度又は圧力等の検出を行うことができる。また、ブリッジ回路を常に交流信号又はパルス信号にて駆動することにより、オペアンプの1/fノイズを低減できるため、より高精度に加速度又は圧力等の検出を行うことができる。
発明による場合は、センサ素子のブリッジ回路からの出力を、フィルタを介して差動増幅部へ与える構成とすることにより、例えば、フィルタとして高域通過フィルタを用いた場合には、差動増幅部へ与えられる差動の入力の直流成分及び低周波成分をカットし、高周波成分のみを増幅でき、アンプの1/fノイズによる影響を低減することができるため、より高精度に加速度又は圧力等の検出を行うことができる。
10発明による場合は、センサ素子及びアンプの故障を検知することができるセンサ検出装置を備えることにより、センサが検出する加速度又は圧力等の検出結果の信頼性を向上することができる。
(実施の形態1)
以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づき具体的に説明する。図1は、本発明の実施の形態1に係る加速度センサの構成を示す回路図であり、図2は、本発明の実施の形態1に係るセンサ検出回路の構成を示す回路図である。図において100は加速度を感知するセンサ素子であり、1はセンサ素子100の出力から加速度を検出するセンサ検出装置である。なお、本図に示すセンサ素子100は、従来のセンサの構成として図15に示したセンサ素子100と同じであるので、説明を省略する。
センサ検出装置1は、センサ素子100を駆動するための駆動信号発生回路6を備え、駆動信号発生回路6からの駆動信号をセンサ素子100に与え、センサ素子100から出力される2つの電位Vs+及びVs−の電位差をセンサ検出回路10により増幅して出力する。また、センサ検出装置1は、センサ素子100及びセンサ検出回路10に故障が発生しているか否かを、制御部8により判定する。制御部8は、駆動信号発生回路6、基準電位発生回路7、センサ検出回路10内の監視回路40a、40a及び監視回路40b、40bを制御して故障の判定を行う。
駆動信号発生回路6は、約0V〜電源電圧Vddの振幅を有し、約1MHzで発振するパルス信号を発生させて出力するものであり、発生したパルス信号はセンサ検出装置1の駆動信号出力端子2から出力され、センサ素子100の電源端子101に与えられる。基準電位発生回路7は、電源電圧Vddの変動及び温度の変動に対する影響が少なく安定した一定の電位を出力するものであり、出力である基準電位はセンサ検出回路10へ与えられる。なお、基準電位発生回路7は、ツェナーダイオードを用いた基準電圧回路又はバンドギャップ基準電圧回路等の公知の技術を利用して構成される。
センサ素子100の2つの電位Vs+及びVs−は、センサ検出装置1の第1入力端子3及び第2入力端子4にそれぞれ与えられ、センサ検出回路10の第1入力端子11及び第2入力端子12にそれぞれ入力される。センサ検出回路10は、入力された電位Vs+及びVs−の電位差を増幅して出力端子13から出力し、この出力がセンサ検出装置1のセンサ出力端子5からセンサ出力として出力され、センサ出力からセンサ素子100に加わる加速度を判断することができる。また、制御部8による故障検知の結果は、故障検知出力端子9から出力されるようにしてあり、故障を検知した場合には“H”が出力され、故障を検知していない場合は“L”が出力される。これにより、例えば、本発明に係るセンサを備えた機器は、故障検知出力端子9から“H”が出力されていることを認識した場合に、警告のランプを点灯する、又は警告メッセージを音声出力する等の処理を行うことができる。
センサ検出回路10は、信号の低周波成分をカットして高周波成分を通過させる2つの高域通過フィルタ30、30、2つの入力信号の電位差を増幅し、増幅された電位差を有する2つの信号を出力する入力段差動増幅器20、2つの入力信号の電位差を増幅して出力する出力段差動増幅器25、及び周期信号を直流に変換する整流回路35等を備えている。
センサ検出回路10の第1入力端子11及び第2入力端子12から入力された2つの信号は、それぞれ高域通過フィルタ30、30に与えられる。高域通過フィルタ30は、入力端子と出力端子との間にコンデンサC12が設けられ、直列に接続された抵抗R19及びバイアス電源31が出力端子及び接地電位の間に設けられてなり、コンデンサC12の容量値及び抵抗R19の抵抗値により定まる遮断周波数以下の周波数の信号をカットする。
高域通過フィルタ30、30にて低周波成分がカットされた2つの入力信号は、入力段差動増幅器20に与えられる。入力段差動増幅器20は、2つのオペアンプ21、22を有しており、2つの入力信号はオペアンプ21、22の非反転入力端子にそれぞれ与えられる。
入力段差動増幅器20は、オペアンプ21の出力端子が抵抗R11を介してオペアンプ21の反転入力端子に接続され、オペアンプ22の出力端子が抵抗R12を介してオペアンプ22の反転入力端子に接続され、オペアンプ21の反転入力端子及びオペアンプ22の反転入力端子が、直列に接続された抵抗R13、コンデンサC11及び抵抗R14を介して接続されている。この構成により、入力段差動増幅器20は、2つの入力信号の電位差を増幅して、増幅された電位差を有する2つの出力信号を各オペアンプ21、22の出力端子から出力する。
2つのオペアンプ21、22の各反転入力端子が、コンデンサC11を介して接続されるため、入力段差動増幅器20は、入力信号の交流成分のみを増幅し、直流成分は増幅せずに出力する。これは、直流成分に関しては、2つのオペアンプ21、22の反転入力端子が接続されておらず、各オペアンプ21、22がそれぞれボルテージフォロワ回路を形成している場合と等価であるためである。これにより、オペアンプ21、22に固有のオフセットは直流成分と見なすことができ、増幅されないため、入力段差動増幅器20のゲインを大きくして精度を高めることができる。
入力段差動増幅器20の2つの出力信号は出力段差動増幅器25に与えられ、出力段差動増幅器25により2つの信号の電位差が増幅されて出力される。出力段差動増幅器25は、オペアンプ26を有しており、入力段差動増幅器20からの2つの出力信号の一方は抵抗R15を介してオペアンプ26の反転入力端子に与えられ、他方は抵抗R16を介してオペアンプ26の非反転入力端子に与えられる。また、オペアンプ26の出力端子は抵抗R17を介してオペアンプ26の反転入力端子に接続され、オペアンプ26の非反転入力端子は直列に接続された抵抗R18及びオフセット調節用電源27を介して接地電位に接続されている。出力段差動増幅器25は、これらの抵抗R15、R16、R17、R18により規定される増幅率で2つの信号の電位差を増幅する。また、オペアンプ26の出力端子には抵抗R20が直列に接続してあり、オペアンプ26の出力信号を抵抗R20を介して出力段差動増幅器25の出力信号として出力する。
出力段差動増幅器25の出力信号は整流回路35に与えられる。整流回路35は、例えば複数のダイオードによるブリッジ回路と、抵抗及びコンデンサによる低域通過フィルタとを組み合わせた公知の回路構成である。整流回路35により直流の信号に変換された出力信号は、センサ検出回路10の出力端子13から出力され、センサ検出装置1のセンサ出力端子5からセンサ出力として出力される。
センサ検出回路10は、入力段差動増幅器20の2つの入力信号のうちのオペアンプ21側の入力信号の電位を監視する監視回路40a及びオペアンプ22側の入力信号の電位を監視する監視回路40bと、2つの出力信号のうちのオペアンプ21側の出力信号の電位を監視する監視回路40c及びオペアンプ22側の出力信号の電位を監視する監視回路40dとを備えている。なお、図2においては基準電位発生回路7及び制御部8との接続は図示を省略してあるが、基準電位発生回路7及び制御部8は監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dと接続される。
図3は、本発明に係るセンサ検出回路の監視回路40aの構成を示す回路図である。監視回路40aは、各監視点の電位である監視電位、基準電圧発生回路7から出力される基準電圧、並びに制御部8からの制御信号として選択信号及びリセット信号が与えられる。また、監視回路40aは、基準電位及び接地電位の間の電圧を分圧する分圧回路41、入力された複数の電位から1つの電位を選択して出力する選択回路42、入力された2つの電位の大小を比較する比較器43及び入力された信号の変化をカウントするカウンタ44を備えている。
分圧回路41は、基準電位が入力される入力端子と接地電位との間に、3つの抵抗R41、R42、R43が、抵抗R41が基準電位側となるように、直列に接続されたものであり、抵抗R41及びR42の間の電位、並びに抵抗R42及びR43の間の電位を比較基準電位として出力する。分圧回路41の出力である2つの比較基準電位は選択回路42に入力される。
選択回路42は、制御部8から与えられる選択信号に従って、2つの比較基準電位のいずれか一方の電位を出力して比較器43に与える。制御部8からの選択信号は、例えば1ビットのロジック信号であり、選択信号が“H”の場合には2つの比較基準電位のうちの高い方の比較基準電位を出力し、選択信号が“L”の場合には低い方の比較基準電位を出力するようにしてある。
図4は、本発明に係る選択回路42の一構成例を示す回路図である。選択回路42は、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1のソース同士及びドレイン同士をそれぞれ接続して構成されるスイッチ回路と、同様にPMOSトランジスタP2及びNMOSトランジスタN2のソース同士及びドレイン同士をそれぞれ接続して構成される伝達ゲート回路とを備えている。2つの伝達ゲート回路の入力に2つの比較基準電位がそれぞれ入力され、2つの伝達ゲート回路の出力が短絡されたものが出力電位として出力される。
即ち、一方の比較基準電位(比較基準電位1)が入力される端子がPMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1のソースに接続され、他方の比較基準電位(比較基準電位2)が入力される端子がPMOSトランジスタP2及びNMOSトランジスタN2のソースに接続され、全てのトランジスタのドレインは出力電位を出力する端子に接続されている。選択信号が入力される端子は、NMOSトランジスタ1及びPMOSトランジスタ2のゲートに接続されている。また、選択回路42は論理の反転を行うインバータ47を1つ備えており、選択信号が入力される端子はインバータ47の入力に接続されている。インバータ47の出力はPMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN2の入力に接続されている。
以上の構成の選択回路42では、選択信号が“H”の場合、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1で構成される伝達ゲート回路が導通し、PMOSトランジスタP2及びNMOSトランジスタN2で構成される伝達ゲート回路は導通しないため、出力電位として比較基準電位1が出力される。選択信号が“L”の場合には、比較基準電位2が出力される。
比較器43は、監視電位と選択回路42により選択された比較基準電位とを比較し、例えば、監視電位が比較基準電位高い場合に”H”を出力し、監視電位が比較基準電位より低い場合に”L”を出力する。比較器43はオペアンプを用いた公知の回路で構成され、比較器43の出力はカウンタ44に与えられる。
カウンタ44は複数のフリップフロップにより構成され、比較器43からの出力信号の立ち上がりエッジに応じてカウント値を増加させる。カウント値のリセットは制御部8からのリセット信号により行われ、カウンタ44のカウント値は監視回路40aの出力として制御部8へ与えられる。
なお、図示は省略するが、他の監視回路40b、40c、40dの回路構成は、図3に示した監視回路40aと同様の構成であり、監視回路40a及び40bは抵抗R41、R42、R43の抵抗値が同じであり、監視回路40c及び40dは、監視回路40aと抵抗R41、R42、R43の抵抗値が異なるものである。即ち、監視回路40a、40bと監視回路40c、40dとでは、比較器43にて比較を行う場合の比較基準電位が異なる。
制御部8は、駆動信号発生回路6が発生したパルス信号が、センサ素子100から監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dが設けられた各監視点まで正しく伝達されているか否かを、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dの出力のカウント値を基にして判断する。このとき、制御部8は、駆動信号発生回路6から所定の時間内に出力されたパルス信号のパルス数を期待値として、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dのカウント値と比較する。例えば、駆動信号発生回路6が周期1μsのパルス信号を出力する場合に、制御部8は、監視回路40a、40b、40c、40d内のカウンタ44をリセットした後、100μs後にカウンタ44の出力値を取得する。このとき、カウンタ44の期待値は100であるので、制御部は取得したカウント値が100であるか否かを判定することで、故障が発生しているか否かを判定できる。
また、制御部8は、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40d内の選択回路42の切り替えを行い、複数の比較基準電位を用いて、複数回カウント値と期待値との比較を行う。カウント値及び期待値の比較結果から、センサ素子100又はセンサ検出回路10に故障が発生していると判断した場合には、制御部8はセンサ検出装置1の故障検知出力端子9に”H”を出力する。故障が発生していないと判断した場合には、制御部8は故障検知出力端子9に”L”を出力する。
例えば、センサ素子100のホイートストンブリッジ回路に断線が生じた場合、駆動信号発生回路6からのパルス信号が監視点まで全く伝達されず、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dのカウント値が増加しないため、制御部8が故障を検知することができる。
図5は、本発明に係るセンサ検出装置1の制御部8が行う故障検出処理の処理手順を示すフローチャートである。まず、制御部8は、選択信号として“H”を出力し(ステップS1)、高い方の比較基準電位による比較の準備を行う。次いで、カウンタ44をリセットし(ステップS2)、一定の期間、例えば駆動信号発生回路6が発生するパルス信号の100周期分の期間待機する(ステップS3)。一定期間が経過した後、カウンタ44の出力であるカウント値を取得し(ステップS4)、期待値との比較を行う(ステップS5)。
期待値との比較を終了した後、選択信号として“L”を出力し(ステップS6)、低い方の比較基準電位による比較の準備を行う。次いで、カウンタ44をリセットし(ステップS7)、一定の期間待機する(ステップS8)。一定期間が経過した後、カウンタ44の出力であるカウント値を取得し(ステップS9)、期待値との比較を行う(ステップS10)。
次いで、ステップS5及びS10にて行ったカウンタ44のカウント値と期待値との比較の結果が全て一致したか否かを調べる(ステップS11)。全比較結果が一致している場合(S11:YES)、故障は発生していないので、故障検知出力端子9から“L”を出力する(ステップS12)。全比較結果が一致していない場合(S11:NO)、故障が発生しているため、故障検知出力端子9から“H”を出力する(ステップS13)。故障検知出力端子9から“H”又は“L”を出力した後、制御部8は処理を終了する。
図6は、本発明に係るセンサ検出回路の動作例を示す略示波形図であり、センサ素子100及びセンサ検出回路10に故障がなく、センサ素子100に加速度が加わっていない状態を示している。図6に示す(a)〜(g)の波形は、
(a)駆動信号発生回路6の駆動信号
(b)入力段差動増幅器20の一方の入力であるオペアンプ21の入力信号Va
(c)入力段差動増幅器20の他方の入力であるオペアンプ22の入力信号Vb
(d)オペアンプ21の出力信号Vc
(e)オペアンプ22の出力信号Vd
(f)出力段差動増幅器25の出力信号Vz
(g)センサ検出装置1のセンサ出力信号
を示している。更に、監視回路40a、40bの高い側の比較器順電位をV1、低い側の基準電位をV2とし、また、監視回路40c、40dの高い側の比較器順電位をV3、低い側の基準電位をV4として図中に破線で示してある。
なお、以降の動作例においては、入力段差動増幅器20内の抵抗R11及びR12の抵抗値が等しく、抵抗R13及びR14の抵抗値が等しいものとする。また、出力段差動増幅器25内の抵抗R15及びR16の抵抗値が等しく、抵抗R17及びR18の抵抗値が等しいものとする。
駆動信号発生回路6からセンサ素子100へ、駆動信号として一定周期のパルス信号が入力されている(図6(a)参照)。センサ素子100に加速度が加わっていない状態では、駆動信号の振幅が1/2倍された信号がセンサ素子100の出力Vs+及びVs−として出力されてセンサ検出回路10にそれぞれ与えらる。センサ検出回路10に入力された2つの信号は、高域通過フィルタ30、30を通過し、入力段差動増幅器20に2つの入力信号Va及びVbとして与えられる(図6(b)及び(c)参照)。
入力段差動増幅器20の入出力の関係は、以下の式で表される。
Vc−Vd=α0・(Va−Vb) …(1)
Vc=α1・Va−α2・Vb …(2)
Vd=α1・Vb−α2・Va …(3)
ただし、α1>α2であり、α0、α1及びα2は、抵抗R11、R12、R13、R14の抵抗値及びコンデンサC11の容量値により定まる増幅率である。
センサ素子100に加速度が加わっていない場合、入力段差動増幅器20に与えられる入力信号Va及びVbは等しいため、出力信号Vc及びVdは等しい(図6(d)及び(e)参照)。入力段差動増幅器20の出力信号Vc及びVdは、出力段差動増幅器25に与えられる。
出力段差動増幅器25の入出力の関係は、以下の式で表される。
Vz=β・(VdーVc) …(4)
ただし、βは抵抗R15、R16、R17及びR18の抵抗値により定まる増幅率である。
よって、出力信号Vc及びVdが等しい場合は、出力段差動増幅器25の出力Vzは0となり(図6(f)参照)、センサ検出装置1のセンサ出力もまた0となる(図6(g)参照)。
図7は、センサ素子100に加速度が加わっている場合の動作例を示す略示波形図であり、センサ素子100及びセンサ検出回路10に故障がなく、センサ素子100に加速度が加わり、ピエゾ抵抗R1及びR4の抵抗値が増加し、ピエゾ抵抗R2及びR3の抵抗値が減少した場合を図示している。図7(a)〜(g)の波形は、図6(a)〜(g)に示すものと同じ信号である。
この場合、図6と比較して、入力段差動増幅器20への入力信号Vaの振幅は減少し、入力信号Vbの振幅は増加する(図7(b)及び(c)参照)。上述の(1)式乃至(3)式に従い、入力段差動増幅器20からは、入力信号Va及びVbの電位差を増幅するように出力信号Vc及びVdが出力される(図7(d)及び(e)参照)。出力段差動増幅器25は、上述の(4)式に従い、入力段差動増幅器20の出力信号Vc及びVdの電位差を更に増幅して出力信号Vzとして出力し(図7(f)参照)、出力信号Vzが整流回路35にて直流信号に変換されてセンサ出力として出力される(図7(g)参照)。このとき、センサ出力の電位が0Vより大きいため、加速度がセンサ素子100に加わっていることが判断できる。
なお、図6及び図7に示すように、監視回路40a、40bの比較基準電位V1及びV2は、センサ素子100及びセンサ検出回路10に故障が生じていないときの入力信号Va及びVbの振幅の変動範囲において、上側の比較基準電位V1で比較を行った場合はカウンタ44がカウントアップされず、下側の比較基準電位V2で比較を行った場合はカウンタ44がカウントアップされるように、予め定めてある。同様に、監視回路40c、40dの比較基準電位V3及びV4は、上側の比較基準電位V3で比較を行った場合はカウンタ44がカウントアップされず、下側の比較基準電位V4で比較を行った場合はカウンタ44がカウントアップされるように、予め定めてある。よって、制御部8は、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dにて、上側の比較基準電位で比較を行った場合にカウンタ44がカウントアップされず、下側の比較基準電位で比較を行った場合にカウンタ44がカウントアップされている状態を、故障が生じていない正常状態と判定し、故障検知出力端子9に”L”を出力する。
図8は、センサ素子100のピエゾ抵抗R4が断線故障している場合の動作例を示す略示波形図である。なお、センサ素子100には加速度が加わっていないものとする。図8(a)〜(g)の波形は、図6(a)〜(g)に示すものと同じ信号である。
この場合、入力段差動増幅器20の一方の入力信号Vaとして、図6に示した故障が発生していない正常状態と同様に、駆動信号の振幅を1/2倍した信号が与えられ(図8(b)参照)、他方の入力信号Vbとして、ピエゾ抵抗R4にて断線が生じているため、駆動信号の振幅が1/2倍されず、駆動信号がそのまま与えられる(図8(c)参照)。上述の(1)式乃至(3)式に従い、入力段差動増幅器20からは、入力信号Va及びVbの電位差を増幅するように出力信号Vc及びVdが出力される。このとき入力信号Vbの振幅が大きいため、出力信号Vcの振幅がより小さく(図8(d)参照)、出力信号Vdの振幅がより大きく(図8(e)参照)なるように、入力段差動増幅器20は増幅を行う。
入力信号Vaを監視する監視回路40aでは、上側の比較基準電位V1を用いて比較を行った場合、カウンタ44はカウントアップされず、下側の比較基準電位V2を用いて比較を行った場合、カウンタ44がカウントアップされるため、制御部8は故障が発生していない正常状態と判定する。しかし、入力信号Vbを監視する監視回路40bでは、上側の比較基準電位V1を用いて比較を行った場合に、カウンタ44がカウントアップされるため、制御部8は故障が発生していると判定する。また、出力信号Vcを監視する監視回路40cでは、下側の比較基準電位V4を用いて比較を行った場合に、カウンタ44がカウントアップされず、出力信号Vdを監視する監視回路40dでは、上側の比較基準電位V3を用いて比較を行った場合に、カウンタ44がカウントアップされるため、両監視回路40c、40dにおいても、制御部8は故障が発生していると判定する。
よって、監視回路40b、40c、40dの3つの出力から、制御部8は故障が発生していると判定するため、制御部8はセンサ素子100に故障が発生していると判断し、故障検知出力端子9に”H”を出力する。
図9は、センサ素子100のピエゾ抵抗R2及びR4が断線故障している場合の動作例を示す略示波形図である。なお、センサ素子100には加速度が加わっていないものとする。図9(a)〜(g)の波形は、図6(a)〜(g)に示すものと同じ信号である。
この場合、入力段差動増幅器20の入力信号Va及びVbとして、駆動信号がそのまま与えられる(図9(b)及び(c)参照)。入力信号Va及びVbとして、等しく振幅の大きな信号が与えられるため、入力差動増幅器20は、振幅が等しくより大きい出力信号VcおよびVdを出力する(図9(d)及び(e)参照)。
入力信号Vaを監視する監視回路40a及びVbを監視する監視回路40bでは、上側の比較基準電位V1を用いて比較を行った場合に、カウンタ44がカウントアップされるため、制御部8は故障が発生していると判定する。また、出力信号Vcを監視する監視回路40c及びVdを監視する監視回路40cでは、上側の比較基準電位V3を用いて比較を行った場合に、カウンタ44がカウントアップされるため、制御部8は故障が発生していると判定する。よって、監視回路40a、40b、40c、40dの4つの出力から、制御部8は故障が発生していると判定するため、制御部8はセンサ素子100に故障が発生していると判断し、故障検知出力端子9に”H”を出力する。
図8においては、センサ素子100のピエゾ抵抗R4が断線故障している場合の動作例を示し、図9においては、ピエゾ抵抗R2及びR4が断線故障している場合の動作例を示したが、その他にもセンサ素子100の故障パターンが存在する。図示は省略するが、例えば、ピエゾ抵抗R1が断線故障した場合、駆動信号発生回路6からの駆動信号がセンサ素子100の第1出力端子102に伝わらないため、センサ素子100の出力Vs+が接地電位となり、入力段差動増幅器20の一方の入力信号Vaを監視する監視回路40aのカウンタ44がカウントアップされないため、制御部8が故障を検知することができる。また、ピエゾ抵抗R1及びR3が断線故障した場合も同様にして、入力段差動増幅器20の入力信号Vaを監視する監視回路40a及びVbを監視する監視回路40bのカウンタ44がカウントアップされないため、制御部8が故障を検知することができる。その他の断線故障の組み合わせ及び監視回路40a、40b、40c、40dによる故障の検知結果を以下の表に示す。なお、この表においては、“○”は対応する監視回路にて故障が検知されることを表し、“×”は検知されないことを表すものとする。
Figure 0004749132
次に、センサ検出回路10に故障が発生した場合の動作例を示す。図10は、入力段差動増幅器20内の抵抗R11が接地電位にショートする故障が起きている場合の動作例を示す略示波形図である。なお、センサ素子100には加速度が加わっていないものとする。図10(a)〜(g)の波形は、図6(a)〜(g)に示すものと同じ信号である。
この場合、入力段差動増幅器20の入力信号Va及びVbとして、図6に示した故障が発生していない正常状態と同様に、駆動信号の振幅を1/2倍した信号が与えられる(図10(b)及び(c)参照)。しかし、入力段差動増幅器20内の抵抗R11が接地電位とショートしているため、出力信号Vcは出力が接地電位となり(図10(d)参照)、出力信号Vdは、入力信号Vaに関係なく、入力信号Vbの振幅を増幅した信号となる(図10(e)参照)。
入力信号Vaを監視する監視回路40a及びVbを監視する監視回路40bでは、制御部8は故障が発生していないと判定する。出力信号Vcを監視する監視回路40cでは、下側の比較基準電位V4を用いて比較を行った場合に、カウンタ44がカウントアップされないため、制御部8は故障が発生していると判定する。また、出力信号Vdを監視する監視回路40dでは、上側の比較基準電位V3を用いて比較を行った場合に、カウンタ44がカウントアップされるため、制御部8は故障が発生していると判定する。よって、監視回路40c、40dの出力結果からのみ、制御部8が故障が発生していると判定するため、制御部8は入力段差動増幅器20に故障が発生していると判断し、故障検知出力端子9に”H”を出力する。
図11は、入力段差動増幅器20内の抵抗R13が断線故障している場合の動作例を示す略示波形図である。なお、センサ素子100には加速度が加わっていないものとする。図11(a)〜(g)の波形は、図6(a)〜(g)に示すものと同じ信号である。
この場合、入力段差動増幅器20の入力信号Va及びVbとして、図6に示した故障が発生していない正常状態と同様に、駆動信号の振幅を1/2倍した信号が与えられる(図11(b)及び(c)参照)。しかし、入力段差動増幅器20内の抵抗R13が断線しており、オペアンプ21及び抵抗R11、並びにオペアンプ22及び抵抗R12がそれぞれ増幅率が1の非反転増幅器、所謂ボルテージフォロアを形成するため、入力信号Va及びVbが増幅されずにそのまま出力信号Vc及びVdとして出力される(図11(d)及び(e)参照)。
入力信号Vaを監視する監視回路40a及びVbを監視する監視回路40bでは、制御部8は故障が発生していないと判定する。しかし、入力段差動増幅部20にて入力信号Va及びVbが増幅されないため、出力信号Vcを監視する監視回路40c及びVdを監視する監視回路40dでは、下側の比較基準電位V4を用いて比較を行った場合に、カウンタ44がカウントアップされないため、制御部8は故障が発生していると判定する。よって、監視回路40c、40dの出力結果からのみ、制御部8が故障が発生していると判定するため、制御部8は入力段差動増幅器20に故障が発生していると判断し、故障検知出力端子9に”H”を出力する。
なお、図8〜図11に示すセンサ素子100又はセンサ検出回路10に故障が発生した場合の動作例において、センサ素子100には加速度が加わっていない場合を図示して説明を行ったが、センサ素子100に加速度が加わった場合にセンサ素子の電位Vs+及びVs−の間に生じる電位差は数mV程度であり、センサ素子100及びセンサ検出回路10に故障が発生した場合には、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dによる監視点の電位は、正常動作時の電位と比較して数百mV〜数V程度の差が生じるため、比較器順電位Va、Vb、Vc及びVdを適切に設定することにより、センサ素子100に加速度が加わっている状態であっても、故障検知を行うことができる。
以上の構成の加速度センサにおいては、駆動信号発生回路6が出力するパルス信号を用いて、センサ素子100による加速度の検知を行うことができると共に、センサ素子100及び入力段差動増幅器20の故障の検知を行うことができる。駆動信号発生回路6が出力するパルス信号の周波数を高くすることにより、入力段差動増幅器20及び出力段差動増幅器25内のオペアンプの1/fノイズを低減でき、より高精度に加速度の検出を行うことができる。また、入力段差動増幅器20の2つの入力信号及び2つの出力信号をそれぞれ監視する監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dを設けることにより、センサ素子100のみでなく、入力段差動増幅器20の故障の有無を判断できる。また、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dにて故障が発生していないと判定されている場合に、センサ出力に異常が発生している場合には、間接的に出力段差動増幅器25又は整流回路35に故障が発生していると判断することができる。
なお、本実施の形態においては、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dをセンサ検出回路10の各監視点に1つずつ設ける構成を示したが、これに限るものではなく、センサ検出回路10に1つだけ設けて、各監視点の電位をスイッチで切り替えて1つの監視回路に入力する構成であってもよい。また、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dによりセンサ検出回路10の4つの監視点の監視を行う構成を示したが、これに限るものではなく、5つ以上又は3つ以下の監視点の電位を監視する構成としてもよい。また、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dが、それぞれ2つの比較基準電位を用いて比較を行う構成を示したが、これに限るものではなく、1つの比較基準電位又は3つ以上の比較基準電位を用いて比較を行う構成としてもよい。また、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dが選択回路42をそなえて複数の比較基準電位を切り替える構成を示したが、これに限らず、比較器43及びカウンタ44を複数備えて、複数の比較基準電位とそれぞれ比較を行う構成としてもよい。また、監視回路40a、40bを高域通過フィルタ30、30の出力側に設ける構成を示したが、入力側に設ける構成としてもよい。また、高域通過フィルタ30、30は必要がない場合には、センサ検出回路10が高域通過フィルタ30、30を備えない構成としてもよい。また、駆動信号発生回路6が発生する駆動信号がパルス信号である構成を示したが、これに限るものではなく、例えばサイン波又は三角波等の他の信号であってもよい。また、図6〜図11に示した動作例は一例であって、これに限るものではなく、その他の故障を同様の方法で検出することが可能である。
(実施の形態2)
図12は、本発明の実施の形態2に係る加速度センサの構成を示す回路図である。実施の形態2に係る加速度センサは、実施の形態1の加速度センサと比較して、センサ検出装置1aの構成が異なる。
センサ検出装置1aは、センサ素子100を駆動するための定電流源71及び駆動信号発生回路6と、定電流源71の出力又は駆動信号発生回路6の出力のいずれかを選択して駆動信号出力端子2から出力する選択器70とを備えている。選択器70は、制御部8により制御されており、加速度の検知を行う通常動作時には定電流源71の出力がセンサ素子100に与えられ、センサ素子100及びセンサ検出装置1aの故障を検知する故障検知動作時には駆動信号発生回路6の出力がセンサ素子100に与えられる。
また、センサ検出装置1aは、基準電位を発生する基準電位発生回路7、並びにセンサ素子100の2つの電位Vs+及びVs−の電位差を増幅して出力するセンサ検出回路10aを備えている。基準電位発生回路7の出力はセンサ検出回路10aに与えられている。センサ検出回路10aは、故障検知動作時には制御部8により制御されてセンサ素子100及びセンサ検出回路10aの故障の検知を行うことができる。
センサ素子100の2つの電位Vs+及びVs−は、センサ検出装置1aの第1入力端子3及び第2入力端子4にそれぞれ与えられ、センサ検出回路10aの第1入力端子11及び第2入力端子12にそれぞれ入力される。センサ検出回路10aは、入力された電位Vs+及びVs−の電位差を増幅して第1出力端子13a及び第2出力端子13bから出力し、この2つの出力がセンサ検出装置1aの第1センサ出力端子5a及び第2センサ出力端子5bからセンサ出力として出力される。第1出力端子13a及び第2出力端子13bから出力される出力信号は、どちらもセンサ素子100のVs+及びVs−の電位差を増幅した信号であるが、増幅率が異なる。また、制御部8による故障検知の結果は、故障検知出力端子9から出力される。
図13は、本発明の実施の形態2に係るセンサ検出回路10aの構成を示す回路図である。なお、図13においては基準電位発生回路7及び制御部8との接続は図示を省略してあるが、基準電位発生回路7及び制御部8は監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dと接続される。
センサ検出回路10aの第1入力端子11及び第2入力端子12から入力された2つの信号は、入力段差動増幅器50に与えられる。入力段差動増幅器50は、2つのオペアンプ51、52を有しており、2つの入力信号はオペアンプ51、52の非反転入力端子にそれぞれ与えられる。オペアンプ51の出力端子は抵抗R51を介してオペアンプ51の反転入力端子に接続され、オペアンプ52の出力端子は抵抗R52を介してオペアンプ52の反転入力端子に接続されている。また、オペアンプ51の反転入力端子及びオペアンプ52の反転入力端子は抵抗R53を介して接続されている。入力段差動増幅器50は、2つの入力信号の電位差を増幅して、増幅された電位差を有する2つの出力信号を各オペアンプ51、52の出力端子から出力する。
入力段差動増幅器50の2つの出力信号は出力段差動増幅器25に与えられ、出力段差動増幅器25により2つの信号の電位差が増幅されて出力される。なお、入力段差動増幅器50及び出力段差動増幅器25は、合わせて1つの差動増幅器と見ることができ、この場合、2つの差動増幅器により所謂インスツルメンテーションアンプが構成されている。インスツルメンテーションアンプは、同相成分除去比が高いためノイズに強く、また、入力インピーダンスが高いという利点がある。
出力段差動増幅器25の出力は第1出力端子13aから出力されるとともに、非反転増幅器60へ与えられる。非反転増幅器60は、オペアンプ61及び2つの抵抗R54、R55を有しており、出力段差動増幅器25からの出力信号がオペアンプ61の非反転入力端子に与えられる。オペアンプ61の出力端子は抵抗R55を介してオペアンプ61の反転入力端子に接続され、オペアンプ61の反転入力端子は抵抗R54を介して電源電位に接続されている。
非反転増幅器60の出力は、反転増幅器65へ与えられる。反転増幅器65は、オペアンプ66、2つの抵抗R56、R57及びオフセット調節用電源67を有しており、非反転増幅器60の出力端子が抵抗R56を介してオペアンプ66の反転入力端子に接続される。また、オペアンプ66の出力端子が抵抗R57を介してオペアンプ66の反転入力端子に接続され、オペアンプ66の非反転入力端子にオフセット調節用電源67が接続される。
反転増幅器65の出力はセンサ検出回路10aの第2出力端子に与えられる。即ち、センサ検出回路10aは、出力段差動増幅器25の出力を第1出力端子13aから出力し、且つ、第1出力端子13aから出力される信号を非反転増幅器60及び反転増幅器65によって更に増幅した信号を第2出力端子13bから出力するようにしてある。
また、センサ検出回路10aは、入力段差動増幅器50の2つの入力信号のうちのオペアンプ51側の入力信号の電位を監視する監視回路40a及びオペアンプ52側の入力信号の電位を監視する監視回路40bと、2つの出力信号のうちのオペアンプ51側の出力信号の電位を監視する監視回路40c及びオペアンプ52側の出力信号の電位を監視する監視回路40dとを備えている。センサ検出装置1aの制御部8は、センサ素子100及びセンサ検出回路10aの故障検出を行う場合、選択器70を切り替えて駆動信号発生回路6が出力するパルス信号をセンサ素子100へ与え、パルス信号が入力段差動増幅器50の入力及び出力に正しく伝達されているか否かを、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dのカウンタ44がカウントアップされるか否かで判断することができる。
なお、センサ素子100及びセンサ検出回路10aの故障検出を行う場合の、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dの動作は、実施の形態1の図8〜図11に示すものと同様であるため、説明を省略する。
以上の構成の実施の形態2に係る加速度センサは、センサ素子100及びセンサ検出回路10aの故障検知を行う場合には、選択器70を切り替えてパルス信号をセンサ素子100に与え、監視回路40a、40b及び監視回路40c、40dにて入力段差動増幅器50の入力及び出力を監視することで故障の検知を行うことができる。また、センサ検出回路10aから監視回路40a、40b、40c、40dを除いた回路は、センサ検出回路として従来から用いられている既知の回路である。よって、センサ検出回路10aは、既知のセンサ検出回路に監視回路40a、40b、40c、40dを追加するのみで簡単に故障の検知機能を備えることができ、少ない設計期間及び設計コスト等で実現することができる。また、加速度の検出を行う場合には、図15に示した従来の加速度センサと全く同様であるため、従来の加速度センサとの置き換えが容易にできるという利点がある。
なお、実施の形態2に係る加速度センサにおいては、第1センサ出力端子5a及び第2センサ出力端子5bの2つの出力端子を備える構成を示したが、これに限らず、どちらか一方のみを有する構成であってもよい。
なお、実施の形態2に係る加速度センサのその他の構成は、実施の形態1に係る加速度センサの構成と同様であるため、対応する箇所には同じ符号を付して詳細な説明を省略する。
(変形例)
図14は、本発明の実施の形態2の変形例に係るセンサ検出回路の構成を示す回路図である。本変形例のセンサ検出回路10bは、図13に示すセンサ検出回路10aに、更に監視回路40e、40f、40gを追加した構成である。
監視回路40eは、出力段差動増幅器25の出力信号の電位を監視するものであり、出力段差動増幅器25の抵抗R20と非反転増幅器60のオペアンプ61の非反転入力端子との間に接続される。監視回路40fは、非反転増幅器60の出力信号の電位を監視するものであり、非反転増幅器60のオペアンプ61の出力端子と反転増幅器65の抵抗R56との間に接続される。監視回路40gは、反転増幅器65の出力信号の電位を監視するものであり、反転増幅器65のオペアンプ66の出力端子とセンサ検出回路10bの第2出力端子13bとの間に接続される。
監視回路40e、40f、40gを設けることにより、出力段差動増幅器25、非反転増幅器60及び反転増幅器65に故障が発生した場合であっても、故障を検知することができる。また、異常を検知した監視回路の組み合わせによって、いずれの増幅器に故障が発生したかを特定することができる。
例えば、監視回路40c、40dにて異常が検知されず、監視回路40eにて異常が検知された場合には、出力段差動増幅器25に故障が発生したと特定することができる。同様にして、監視回路40eにて異常が検知されず、監視回路40fにて異常が検知された場合には、非反転増幅器60に故障が発生したと特定することができ、また、監視回路40fにて異常が検知されず、監視回路40gにて異常が検知された場合には、反転増幅器65に故障が発生したと特定することができる。
以上の構成により、センサ素子100に生じた故障と、センサ検出回路10b内の増幅器に生じた故障とを検出することができ、また、故障が発生した箇所の特定を行うことができるため、センサの信頼性をより向上させることができる。
本発明の実施の形態1に係る加速度センサの構成を示す回路図である。 本発明の実施の形態1に係るセンサ検出回路の構成を示す回路図である。 本発明に係るセンサ検出回路の監視回路の構成を示す回路図である。 本発明に係る選択回路の一構成例を示す回路図である。 本発明に係るセンサ検出装置の制御部が行う故障検出処理の処理手順を示すフローチャートである。 本発明に係るセンサ検出回路の動作例を示す略示波形図である。 センサ素子に加速度が加わっている場合の動作例を示す略示波形図である。 センサ素子のピエゾ抵抗R4が断線故障している場合の動作例を示す略示波形図である。 センサ素子のピエゾ抵抗R2及びR4が断線故障している場合の動作例を示す略示波形図である。 入力段差動増幅器内の抵抗R11が接地電位にショートする故障が起きている場合の動作例を示す略示波形図である。 入力段差動増幅器内の抵抗R13が断線故障している場合の動作例を示す略示波形図である。 本発明の実施の形態2に係る加速度センサの構成を示す回路図である。 本発明の実施の形態2に係るセンサ検出回路の構成を示す回路図である。 本発明の実施の形態2の変形例に係るセンサ検出回路の構成を示す回路図である。 従来の加速度センサの構成を示す回路図である。
符号の説明
1、1a、1b センサ検出装置
2 駆動信号出力端子
3 第1入力端子
4 第2入力端子
5 センサ出力端子
5a 第1センサ出力
5b 第2センサ出力
6 駆動信号発生回路(駆動手段)
7 基準電位発生回路
8 制御部
9 故障検知出力端子
10、10a、10b センサ検出回路
11 第1入力端子
12 第2入力端子
13 出力端子
13a 第1出力端子
13b 第2出力端子
20、50 入力段差動増幅器(差動増幅部)
21、51 オペアンプ(第1オペアンプ)
22、52 オペアンプ(第2オペアンプ)
25 出力段差動増幅器(出力段差動増幅部)
30 高域通過フィルタ
35 整流回路(変換出力手段)
40a、40b、40c、40d、40e、40f、40g 監視回路(監視部)
41 分圧回路
42 選択回路(選択部)
43 比較器
44 カウンタ
70 選択器
71 定電流源
100 センサ素子

Claims (10)

  1. ブリッジ回路を有するセンサ素子から出力される前記ブリッジ回路の2つの出力電位の電位差に応じて、前記センサ素子の状態を検出するセンサ検出装置において、
    前記センサ素子から出力される2つの出力電位が入力される第1入力端子及び第2入力端子と、
    該第1入力端子及び第2入力端子に入力される入力信号の電位を増幅して出力する差動増幅部と、
    該差動増幅部の入力信号及び出力信号の電位を監視する監視部と
    を備え
    前記差動増幅部は、入力される2つの入力信号の電位差を増幅して、2つの出力信号を出力するようにしてあり、
    前記監視部は、前記2つの入力信号及び2つの出力信号の電位を監視するようにしてあること
    を特徴とするセンサ検出装置。
  2. 前記差動増幅部の2つの出力信号の電位差を増幅する出力段差動増幅部を備える請求項に記載のセンサ検出装置。
  3. 前記センサ素子を駆動するための駆動信号を発生する駆動手段を備える請求項1又は請求項に記載のセンサ検出装置。
  4. 前記駆動手段は、周期的に変化する駆動信号を発生するようにしてあり、
    周期的に変化する信号を直流の信号に変換して出力する変換出力手段を備える請求項に記載のセンサ検出装置。
  5. 前記駆動手段は、周期的に変化する駆動信号又は直流の駆動信号を発生するようにしてある請求項に記載のセンサ検出装置。
  6. 前記監視部は、
    監視する電位と基準電位とを比較する比較器と、
    該比較器の出力に接続されたカウンタと
    を有する請求項又は請求項に記載のセンサ検出装置。
  7. 前記監視部は、複数の異なる基準電位の1つを選択する選択部を有し、監視する電位と選択された基準電位とを前記比較器が比較するようにしてある請求項に記載のセンサ検出装置。
  8. 前記差動増幅部は、
    前記第1入力端子が非反転入力に接続され、出力が抵抗を介して反転入力に接続された第1オペアンプと、
    前記第2入力端子が非反転入力に接続され、出力が抵抗を介して反転入力に接続された第2オペアンプとを有し、
    前記第1オペアンプの反転入力及び前記第2オペアンプの反転入力がコンデンサを介して接続してある請求項1乃至請求項のいずれか1つに記載のセンサ検出装置。
  9. 前記第1入力端子及び前記第2入力端子は、フィルタを介して前記差動増幅部に接続してある請求項1乃至請求項のいずれか1つに記載のセンサ検出装置。
  10. ブリッジ回路を有し、該ブリッジ回路の2つの電位を出力するセンサ素子と、
    該センサ素子が出力する2つの電位が入力される請求項1乃至請求項のいずれか1つに記載のセンサ検出装置と
    を備えることを特徴とするセンサ。
JP2005336278A 2005-11-21 2005-11-21 センサ検出装置及びセンサ Expired - Fee Related JP4749132B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005336278A JP4749132B2 (ja) 2005-11-21 2005-11-21 センサ検出装置及びセンサ
DE602006010014T DE602006010014D1 (de) 2005-11-21 2006-02-24 Vorrichtung zur Detektion eines Defekts in einem Sensor
EP06003782A EP1795903B1 (en) 2005-11-21 2006-02-24 Apparatus for detecting the failure of a sensor
TW095106379A TWI279540B (en) 2005-11-21 2006-02-24 Sensor detection apparatus and sensor
US11/362,098 US7271595B2 (en) 2005-11-21 2006-02-27 Sensor detection apparatus and sensor
KR1020060019634A KR100793223B1 (ko) 2005-11-21 2006-02-28 센서 검출 장치 및 센서

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005336278A JP4749132B2 (ja) 2005-11-21 2005-11-21 センサ検出装置及びセンサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007139667A JP2007139667A (ja) 2007-06-07
JP4749132B2 true JP4749132B2 (ja) 2011-08-17

Family

ID=37963820

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005336278A Expired - Fee Related JP4749132B2 (ja) 2005-11-21 2005-11-21 センサ検出装置及びセンサ

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7271595B2 (ja)
EP (1) EP1795903B1 (ja)
JP (1) JP4749132B2 (ja)
KR (1) KR100793223B1 (ja)
DE (1) DE602006010014D1 (ja)
TW (1) TWI279540B (ja)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI119893B (fi) * 2007-03-16 2009-04-30 Risto Hedman Elektronisen anturin diagnosointi
JP4649489B2 (ja) * 2008-03-27 2011-03-09 株式会社日立製作所 組電池の総電圧検出回路
DK2241344T3 (en) 2009-04-16 2014-03-03 Hoffmann La Roche Portable infusion with feel-testing device
DE102009033232A1 (de) * 2009-07-14 2011-01-27 Continental Automotive Gmbh Verfahren zur fahrzeugeigenen Funktionsdiagnose eines Rußsensors und/oder zur Erkennung von weiteren Bestandteilen im Ruß in einem Kraftfahrzeug
JP5281556B2 (ja) * 2009-12-07 2013-09-04 セイコーインスツル株式会社 物理量センサ
JP5517777B2 (ja) * 2010-06-25 2014-06-11 日立オートモティブシステムズ株式会社 ブリッジ回路の断線検出回路および断線検出手段を有するシステム
US9157822B2 (en) * 2011-02-01 2015-10-13 Kulite Semiconductor Products, Inc. Electronic interface for LVDT-type pressure transducers using piezoresistive sensors
FR2973883B1 (fr) * 2011-04-05 2013-05-10 Sagem Defense Securite Procede et systeme de detection d'un court-circuit affectant un capteur
JP6033529B2 (ja) * 2011-05-30 2016-11-30 株式会社東海理化電機製作所 検出装置および電流センサ
CN203170019U (zh) * 2012-02-10 2013-09-04 欧格运动有限责任公司 一种具有可拆卸式弹性垫的飞盘
TWI571049B (zh) * 2012-03-12 2017-02-11 禾瑞亞科技股份有限公司 信號量測電路
US10488458B2 (en) * 2013-12-26 2019-11-26 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for sensor diagnostics
US9322732B2 (en) * 2014-01-17 2016-04-26 Hamilton Sundstrand Corporation Strain gauge pressure sensor circuit with sensor disconnect detection
JP6488784B2 (ja) * 2015-03-16 2019-03-27 セイコーエプソン株式会社 回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体
JP6443171B2 (ja) * 2015-03-26 2018-12-26 アイシン精機株式会社 荷重検出装置及び異常検知装置
JP6386970B2 (ja) * 2015-05-25 2018-09-05 アルプス電気株式会社 センサの異常検出装置及びセンサ装置
WO2016191243A1 (en) * 2015-05-28 2016-12-01 Sikorsky Aircraft Corporation Systems and methods for assessing condition of a sensor
US10527703B2 (en) 2015-12-16 2020-01-07 Allegro Microsystems, Llc Circuits and techniques for performing self-test diagnostics in a magnetic field sensor
JP6740076B2 (ja) * 2016-10-04 2020-08-12 株式会社共和電業 搬送波型ひずみ測定装置における入力オープン検出回路
KR102071249B1 (ko) * 2017-04-14 2020-04-01 주식회사 지니틱스 홀센서의 출력전압을 교정하여 렌즈위치를 검출하는 렌즈위치 검출장치
EP3401646B1 (en) 2017-05-09 2020-04-15 Melexis Technologies SA Bridge sensor error check
KR102035924B1 (ko) * 2018-02-02 2019-11-08 최정태 고장진단회로 일체형 브릿지 구조의 압력센서 및 브릿지 구조 압력센서의 고장진단 방법
EP3611522B1 (en) * 2018-08-14 2021-05-05 NXP USA, Inc. Embedded test circuitry and method therefor
JP6908198B2 (ja) 2018-10-26 2021-07-21 富士電機株式会社 圧力センサ
US11112444B2 (en) 2019-04-02 2021-09-07 Hamilton Sundstrand Corporation Reduced error sensor fault detection
US11047920B2 (en) 2019-04-02 2021-06-29 Hamilton Sunstrand Corporation Sensor to sensor short detection
US11630015B2 (en) * 2020-08-17 2023-04-18 Rosemount Aerospace Inc. Verification of correct operation of a physical parameter sensor
JP2023123979A (ja) * 2022-02-25 2023-09-06 日本特殊陶業株式会社 ガスセンサ
TWI834322B (zh) * 2022-09-30 2024-03-01 新唐科技股份有限公司 比較器檢測電路及其檢測方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4063447A (en) * 1977-03-14 1977-12-20 Honeywell, Inc. Bridge circuit with drift compensation
KR850000309B1 (ko) * 1983-04-21 1985-03-18 재단법인 한국기계연구소 변위 측정장치
JP2538185Y2 (ja) * 1991-03-06 1997-06-11 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 半導体加速度センサの診断回路
EP0536667B1 (en) * 1991-10-07 1997-01-08 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Analogue signal processor
JP2560811Y2 (ja) * 1992-03-31 1998-01-26 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 半導体センサの故障検出装置
EP0592205B1 (en) * 1992-10-07 1998-01-07 Nec Corporation Semiconductor sensor with fault detecting circuit
JPH081390B2 (ja) 1992-10-07 1996-01-10 日本電気株式会社 故障検出回路付半導体センサ装置
US5726564A (en) * 1994-10-27 1998-03-10 Zexel Corporation Temperature-compensating method for a resistance bridge circuit, resistance bridge circuit with temperature-compensating circuit, and acceleration sensor using the same
JP3274034B2 (ja) * 1994-12-26 2002-04-15 三菱電機株式会社 半導体加速度検出装置
US5631602A (en) * 1995-08-07 1997-05-20 Delco Electronics Corporation Wheatstone bridge amplifier circuit with integrated diagnostic testing
US6452151B1 (en) * 1999-07-27 2002-09-17 Rohm Co., Ltd. Image-sensing semiconductor device and image-sensing device
JP4184657B2 (ja) * 2001-12-26 2008-11-19 セイコーインスツル株式会社 圧力測定装置
JP2005049097A (ja) * 2003-07-29 2005-02-24 Alps Electric Co Ltd 故障検出回路

Also Published As

Publication number Publication date
EP1795903B1 (en) 2009-10-28
KR20070053594A (ko) 2007-05-25
DE602006010014D1 (de) 2009-12-10
KR100793223B1 (ko) 2008-01-10
TW200720658A (en) 2007-06-01
US7271595B2 (en) 2007-09-18
EP1795903A3 (en) 2008-10-01
JP2007139667A (ja) 2007-06-07
EP1795903A2 (en) 2007-06-13
US20070115005A1 (en) 2007-05-24
TWI279540B (en) 2007-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4749132B2 (ja) センサ検出装置及びセンサ
US10852360B2 (en) ADC input circuit sensing for fault detection
CN107528297B (zh) 过电流保护电路
CN107257915B (zh) 具有改进的故障识别的测量电桥组件和方法
US9322871B2 (en) Current measurement circuit and method of diagnosing faults in same
US8154312B2 (en) Sensor system
JP2003254850A (ja) 自己診断機能付きセンサ出力処理回路
RU2492423C1 (ru) Цепь возбуждения датчиков постоянного тока
WO2009020566A1 (en) Voltage transformation circuit
US20190235006A1 (en) Wiring line abnormality detecting device
EP3144640B1 (en) Sensor arrangement and method for operation of a sensor
Tang et al. A highly-integrated CMOS transceiver for active structural health monitoring
JP6646380B2 (ja) 電流検出回路
JP4671768B2 (ja) インピーダンス測定装置
JP4851149B2 (ja) 電磁流量計
JP2828246B2 (ja) 電極外れ検出回路
JP5190103B2 (ja) 電圧発生装置、電流発生装置
US8746034B2 (en) Inertial sensor
JP2020008372A (ja) 半導体装置および信号入力回路の診断方法
JP5221095B2 (ja) コイル巻線検査方法および検査装置
CN113168197A (zh) 电子装置
CN112462123A (zh) 一种宽输入交直流电压隔离采集电路
JP2015177619A (ja) 降圧コンバータ回路およびそのテスト方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080414

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20080728

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101207

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110204

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110517

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110517

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4749132

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140527

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees