FI119893B - Elektronisen anturin diagnosointi - Google Patents

Elektronisen anturin diagnosointi Download PDF

Info

Publication number
FI119893B
FI119893B FI20070216A FI20070216A FI119893B FI 119893 B FI119893 B FI 119893B FI 20070216 A FI20070216 A FI 20070216A FI 20070216 A FI20070216 A FI 20070216A FI 119893 B FI119893 B FI 119893B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
signal
circuit
test
light
sensor element
Prior art date
Application number
FI20070216A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI20070216A (fi
FI20070216A0 (fi
Inventor
Risto Hedman
Original Assignee
Risto Hedman
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Risto Hedman filed Critical Risto Hedman
Priority to FI20070216A priority Critical patent/FI119893B/fi
Publication of FI20070216A0 publication Critical patent/FI20070216A0/fi
Priority to EP08718535.1A priority patent/EP2135044B1/en
Priority to US12/531,536 priority patent/US8305100B2/en
Priority to PCT/FI2008/050082 priority patent/WO2008113883A1/en
Publication of FI20070216A publication Critical patent/FI20070216A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI119893B publication Critical patent/FI119893B/fi

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
    • G01D18/002—Automatic recalibration
    • G01D18/006—Intermittent recalibration
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
    • G01D3/08—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for safeguarding the apparatus, e.g. against abnormal operation, against breakdown
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L25/00—Testing or calibrating of apparatus for measuring force, torque, work, mechanical power, or mechanical efficiency
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04Q—SELECTING
    • H04Q9/00—Arrangements in telecontrol or telemetry systems for selectively calling a substation from a main station, in which substation desired apparatus is selected for applying a control signal thereto or for obtaining measured values therefrom
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2829—Testing of circuits in sensor or actuator systems
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04Q—SELECTING
    • H04Q2209/00—Arrangements in telecontrol or telemetry systems
    • H04Q2209/80—Arrangements in the sub-station, i.e. sensing device
    • H04Q2209/86—Performing a diagnostic of the sensing device

Description

ELEKTRONISEN ANTURIN DIAGNOSOINTI KEKSINNÖN ALA
Keksintö liittyy fysikaalisia suureita mit-taavien elektronisten antureiden toimintakunnon tar-5 kistamiseen.
KEKSINNÖN TAUSTA
Fysikaalisia suureita sähköisiksi muuttujiksi kuten virran tai resistanssin muutoksiksi muuttavilla 10 antureilla on lukemattomia sovelluskohteita aina yksinkertaisesta, nestepatsaslämpömittarin korvaavasta lämpömittarista monimutkaisten teollisuusprosessien valvonnassa käytettäviin mittalaitteisiin. Mitä kriit-tisempää on anturielementin oikea ja luotettava toi-15 minta, sitä tärkeämpää on kyetä myös valvomaan sen ja myös siihen liittyvän signaalinkäsittelyketjun toimintakuntoa ja saada tieto mahdollisesta vikaantumisesta, ettei tehdä vääriä johtopäätöksiä anturin vikaantumisesta johtuvan virheellisen mittaustuloksen perusteel-20 la.
Usein pienikokoiset anturielementit ovat muu- : hun elektroniikkaan kiinteästi integroituja osia eikä • · · ····· niiden irrottaminen testausta varten tule kysymykseen.
.·. : Toimintakunto tulisi näin ollen kyetä toteamaan antu- • · · .···[ 25 rielementtiin itseensä kajoamatta.
• · .Γ* Tunnettuja ratkaisuja toimintakunnon tarkis- tamiseen ovat ensinnäkin useamman kuin yhden antu- • · *···* rielementin käyttäminen samaan mittaukseen ja näiden antamien mittaustulosten vertaaminen. Suuret tai muut- » · • *·· 3 0 tuneet erot anturielementtien välillä ovat merkki vi-• » · kaantumisesta. Toinen tunnettu ratkaisu on järjestää jv# anturiin keinotekoisesti tiettyä fysikaalisen suureen • · *..I muutosta vastaava poikkeama siten, että anturielemen- • · tin toiminnassa mahdollisesti tapahtuneet muutokset 35 havaitaan vertaamalla testaushetkellä luotua poik-*ί**: keamaa anturielementin asennushetkellä luotuun vastaa- 2 vaan poikkeamaan. Käytännössä testauspoikkeama voidaan esimerkiksi Wheatstonen siltakytkennässä tehdä manuaalisesti kytkimellä, joka kytkee yhden vastuksista rinnalle ylimääräisen resistanssin.
5 Tunnettujen ratkaisuiden ongelmia ovat moni mutkaisuus ja siitä seuraavat korkeat kustannukset, manuaalisuus sekä testausta varten mittauspiiriin kytkettyjen ylimääräisten komponenttien aiheuttamat häiriöt mittaussignaaliin. Keksinnön tarkoituksena on 10 saada aikaan helpotusta näihin ongelmiin.
KEKSINNÖN YHTEENVETO
Keksinnön mukaiselle laitteistolle ja menetelmälle on tunnusomaista se, mitä on esitetty vastaa-15 vasti patenttivaatimuksissa 1 ja 6.
Keksintö kohdistuu ensinnäkin laitteistoon fysikaalista suuretta mittaavan elektronisen antu-rielementin toimintakunnon tarkastamiseksi käsittäen testausvälineet tiettyä mitattavan suureen muutosta 20 vastaavan keinotekoisen testipoikkeaman aikaansaamiseksi anturielementin ja siihen kytketyn mittauspiirin . tuottamaan mittaussignaaliin. Elektronisella antu- • · · **·) rielementillä tarkoitetaan mitä tahansa fysikaalista suuretta havainnoivaa ja tuon suureen sähköiseksi sig- • · *. *: 25 naaliksi yhdessä anturielementtiin kytketyn mittaus- • · · piirin kanssa muuntavaa komponenttia. Tiettyä mitatta- • · j van suureen muutosta vastaava poikkeama voi mittaus- kytkennästä riippuen olla joko tiettyä absoluuttista • · · suureen muutosta vastaava lisäys signaalissa tai ennen 3 0 poikkeaman luomista vallinneeseen signaalitasoon ver- • ·· ,··.^ rannollinen signaalin suhteellinen muutos.
• · *!* Keksinnön mukaisesti laitteisto käsittää mit- • · · • V tauspiiristä galvaanisesti erillään olevan testauspii- • · · rin, johon kuuluu valonlähde, sekä mittauspiiriin kyt- . *·. 35 ketyn valoherkän komponentin valonlähteellä lähetettä- • · · vän valosignaalin vastaanottamiseksi ja edelleen va- • · losignaaliin verrannollisen testipoikkeaman aikaansaa- 3 miseksi mittaussignaaliin. Keksinnön yhtenä perusperiaatteena siis on, että anturielementin toimintakunnon testaamisessa tarvittava mittaussignaalin testipoik-keama luodaan valon avulla lähettämällä mittauspiiriin 5 kytkettyyn valoherkkään komponenttiin, esimerkiksi va-lodiodiin tai -transistoriin, hallitun suuruinen valosignaali .
Käytännössä valonlähde ja valoherkkä komponentti voivat muodostaa yhden integroidun komponentin. 10 Tällaisia usein optoerottimeksi kutsuttuja komponentteja on yleisesti saatavilla erityyppisiä. Valonlähde on tavallisesti LED ja valoherkkä komponentti joko va-lodiodi tai -transistori, joissa valo saa aikaan virran komponentin läpi. Valosignaalin tuotto- ja vas-15 taanottokomponentti tai -komponentit voidaan integroida osaksi muuta mittauselektroniikkaa ja niitä voidaan helposti ohjata esimerkiksi ohjelmallisesti mittaus-elektroniikkaan yhdistetyllä tietokoneella.
Automaattisen ohjauksen mahdollisuuden lisäk- 20 si toinen olennainen etu keksinnössä on galvaanisen yhteyden puuttuminen testipiirin ja varsinaisen mitta- uspiirin välillä. Tällöin testauksen ohjauspiiri häi- ϊ:: ritsee mahdollisimman vähän mittauspiirin toimintaa, ·;··· mikä näkyy hyvänä signaali/kohinasuhteena. Tällaisessa ;*.J 25 järjestelyssä testipoikkeaman ohjauspiiri ei myöskään • · .···. aiheuta vääristymiä mittaussignaaliin silloin, kun • · ;·” testipoikkeamaa ei aiheuteta.
• «· *... Keksinnön edullisessa toteutusmuodossa valo- • · ···’ herkkä komponentti on järjestetty tuottamaan mittaus- 30 piiriin testipoikkeaman aikaansaamiseksi valosignaa- : *·* liin verrannollinen virtasignaali. Varsinainen mitat- • · ♦ ·...· tava ja edelleen käsiteltävä mittaussignaali on tyy- pillisesti jännite jonkin mittauspiirin vastuksen yli, • « jolloin varsinaiseen mitattavaan fysikaaliseen suuree- • » *!* 35 seen verrannolliseen mittausvirtaan summattava testi- virtasignaali on suoraviivainen tapa saada aikaan mai-*ί**ϊ nittu testipoikkeama.
4
Anturielementti voi olla esimerkiksi vastus-tyyppinen anturi, jolloin mitattava fysikaalinen suure vaikuttaa anturin resistanssiin ja sitä kautta anturin läpi kulkevaan virtaan. Toisaalta anturielementti voi 5 olla myös esimerkiksi virtatyypin anturi, jollainen toimii käytännössä fysikaaliseen suureeseen verrannollisena virtalähteenä. Kummassakin tapauksessa varsinainen mittaussignaali on tavallisesti jännite jonkin mittauspiirin vastuksen yli, jolloin edellä mainittu 10 valoherkän komponentin tuottama virtasignaali on edullinen keino testipoikkeaman aikaansaamiseksi.
Eräässä keksinnön toteutusmuodossa mittaus-piiri käsittää Wheatstonen siltakytkennän, jossa antu-rielementti on yksi siltakytkennän vastuksista. Yhden 15 neljästä sillan vastuksista ollessa vastustyypin anturi säädetään sillan vastukset tavallisesti niin, että jossakin tietyssä tilanteessa silta on tasapainossa tuottaen sillan haarojen välille nollajännitteen. Mitattavan suureen aiheuttaessa mittaavaan vastukseen 20 muutoksen tasapaino rikkoontuu ja tämä nähdään mainitussa sillan haarojen välisessä jännitteessä. Anturin toimintakunnon testaamiseksi siltaa voidaan poikkeut-JJJ taa myös keinotekoisesti syöttämällä mittaavaan haa- ·;··· raan valosignaalista muunnettu virtasignaali. Tällöin ·*. : 25 ei tarvita tunnetun tekniikan mukaisia siltaan erik- • · · • · .·*·. seen kytkettäviä lisävastuksia. On luonnollisesti mah- • · dollista, että useampikin kuin yksi sillan vastuksista • ·· on jotakin fysikaalista suuretta mittaava anturiele- • · • · *** mentti.
30 Jotta itse testauksessa käytettävä valosig- • ♦ : ** naali säilyisi mahdollisimman vakiona, käsittää tes- • · · tauspiiri edullisesti välineet valonlähteen ikääntymi-sen kompensoimiseksi.
• · .···. Keksinnön menetelmässä elektronisen antu- • · *Γ* 35 rielementin toimintakunnon tarkastamiseksi aiheutetaan anturielementin ja siihen kytketyn mittauspiirin tuot-"**: tamaan mittaussignaaliin tiettyä mitattavan fysikaali- 5 sen suureen muutosta vastaava keinotekoinen testipoik-keama. Keksinnön mukaisesti testipoikkeama aiheutetaan lähettämällä mittauspiirin ulkopuolelta mittauspiriin valosignaali, joka edelleen voidaan muuntaa sopivim-5 maksi signaaliksi ja summata mittaussignaaliin. Mitta uspiirin ulkopuolelta lähettäminen tarkoittaa, että valosignaalin lähettävien ja vastaanottavien välineiden välillä ei ole galvaanista yhteyttä.
Testipoikkeaman aikaansaamiseksi mittauspii-10 riin lähetetty valosignaali muunnetaan edullisesti virtasignaaliksi mittauspiiriin.
Testauksen luotettavuuden ylläpitämiseksi keksinnön menetelmässä kompensoidaan edullisesti valosignaalin lähettämiseen käytettävien välineiden 15 ikääntymisen valosignaaliin aiheuttamia muutoksia.
KEKSINNÖN YKSITYISKOHTAINEN SELOSTUS
Keksintöä selostetaan seuraavassa yksityiskohtaisemmin oheisen piirustuksen avulla, jossa kuva 1 20 esittää kytkentäkaaviota eräästä keksinnön mukaisesta laitteistosta ja havainnollistaa samalla erästä kek- . sinnön mukaista menetelmää.
• · ·
Kuvan 1 laitteistossa 1 on mittauspiiri 2, • · · · johon kuuluu Wheatstonen siltakytkentä 21, signaalin-25 käsittelyelektroniikkaa 22, A/D-muunnin 23 sekä mikro- • · · prosessori 24. Yksi sillan vastuksista on vastustyyp- • · J pinen anturielementti 3, jonka resistanssi riippuu mi- :***: tattavasta suureesta, joka voi olla esimerkiksi lämpö- ··· tila. Anturielementti voi myös olla esimerkiksi kappa- :*. 30 leen taipumista tai venymistä mittaava venymäliuska- • ·· *··. anturi. Anturielementin toimintakunnon testaamiseksi • · • · *Γ laitteistoon kuuluu varsinaisen mittauspiirin lisäksi ·· · • V myös testauspiiri 4, jonka avulla voidaan tuottaa mit- *«· tauspiiriin mittaussignaaliin testipoikkeama. Testaus- . [·. 35 piirissä 4 on kaksi osiota, joissa kummassakin on oh- • · · jausjännitteellä VI, V2 operaatiovahvistimen UI, U2 ja vastusten R5, R6, R7, R8 avulla ohjattava LED 5a, 5b 6 valosignaalin 7a, 7b lähettämiseksi. Mittauspiiriin on vastaavasti valosignaalien vastaanottamiseksi kytketty valodiodit 6a, 6b. Toinen valodiodeista on kytketty mittaavan anturielementin 3 ja toinen sillan saman 5 haaran toisen vastuksen R2 rinnalle. Käytännössä valo-diodit ja LED:it voivat olla pareittain integroituja komponentteja. Valodiodin sijasta olisi luonnollisesti mahdollista käyttää myös esimerkiksi valotransistoria.
Normaalitoiminnassa siltakytkentä 21 sääde-10 tään siten, että tietyllä mitattavan suureen arvolla silta on tasapainossa, jolloin sillan haarojen välistä mitattava jännite on nolla. Säädön toteuttamiseksi joku sillan vastuksista R2, R3, R4 voi olla resistanssiltaan säädettävissä. Kun mitattava suure muuttuu 15 tästä perustilanteesta, aiheuttaa se sillan tasapainon rikkoontumisen ja jännitteen sillan haarojen välille. Kun halutaan testata anturin toimintakuntoa, voidaan testauspiirin valonlähteellä 5a, 5b lähettää määrätyn suuruinen valosignaali 7a, 7b, joka saa aikaan virran 20 transistorin 6a, 6b läpi. Riippuen siitä, kummallako testauspiirin 4 osioista valosignaali lähetetään, aiheuttaa valosignaali 7a, 7b valotransistorissa 6a, 6b : virran 12, 13, joka summautuu joko anturielementin 3 • · · J tai mittaushaaran toisen vastuksen R2 läpi kulkevaan .·. : 25 virtaan aiheuttaen sillan haarojen väliseen jännittee- • ·· .··/ seen poikkeaman, joka on käytetystä testauspiirin osi- • · öistä riippuen joko positiivinen tai negatiivinen. An- • · *..]* turin testauksessa käytettävän valosignaalin suuruus • · *···' määrätään etukäteen siten, että se vastaa tietyn suu- 30 ruista poikkeamaa vikaantumattoman anturielementin ta- • · ; *·· pauksessa. Jos testauksessa mittausjännitteeseen tuo- • · · J : tettu poikkeama eroaa olennaisesti vertailupoikkeamas- ··"· ta, on se merkki anturielementin vikaantumisesta. Luo- • · · • · *..I taessa testipoikkeama mittaussignaaliin valon avulla • · *;* 35 ei tarvita galvaanista yhteyttä testauspiirin 4 ja mittauspiirin 2 välillä, jolloin testauspiiri aiheut- • · 7 taa mahdollisimman vähän häiriöitä tai vääristymiä itse mittaukseen.
Edellä kuvatulla periaatteella eli tietyn suuruinen testipoikkeama mittaussignaaliin tuottamalla 5 voidaan kuvan 1 laitteistolla tutkia myös koko signaa-linkäsittelytien 22, 23, 24 toimintakuntoa. Lisäksi laitteistolla voidaan anturin tai koko signaalinkäsit-telytien toimintakunnon tarkastamisen ohella myös tasapainottaa siltakytkentä sopivan kokoisen valosignaa-10 Iin 7a, 7b DC-pohjatason avulla. Tämä yksinkertaistaa laitteistoa kokonaisuudessaan, kun ei tarvita erillisiä välineitä, esimerkiksi säätövastuksia, sillan tasapainottamiseksi .
Kuvan 1 testauspiirissä 4 on kumpaakin valon- 15 lähdettä 5a, 5b kohden myös itse testauspiirissä valo- diodit 8a, 8b. Nämä valodiodit on tarkoitettu LED:ien ikääntymisen kompensointiin. Niiden avulla voidaan seurata LED:ien ikääntymisen mahdollisesti aiheuttamaa valosignaalien muuttumista ja kompensoida ne ohjaus- 20 jännitteiden VI, V2 muutoksilla.
Keksintöä ei rajoiteta edellä esitettyihin esimerkkeihin vaan on alan ammattilaiselle ilmeistä, ; ;1; että keksinnön toteutusmuodot voivat vaihdella patent- • · · tivaatimusten puitteissa. Erityisesti mittauskytkentä ; 25 voi olla mikä tahansa muukin kytkentä kuin Wheatstonen • · · siltakytkentä.
• · • · • · · • · • · • · · • · · • · • · ··· • · • · · • · · • · • · · • · • · ··· • · · • · · · • · · • · • · • · · · • · · • · • · • · »

Claims (8)

1. Laitteisto (1) fysikaalista suuretta mit-taavan elektronisen anturielementin (3) toimintakunnon tarkastamiseksi käsittäen testausvälineet tiettyä mi- 5 tattavan fysikaalisen suureen muutosta vastaavan tes-tipoikkeaman aikaansaamiseksi anturielementin ja siihen kytketyn mittauspiirin (2) tuottamaan mittaussignaaliin, tunnettu siitä, että testausvälineet käsittävät mittauspiiristä (2) galvaanisesti erotetun 10 testauspiirin (4) , johon kuuluu valonlähde (5a, 5b), sekä mittauspiiriin kytketyn valoherkän komponentin (6a, 6b) valonlähteellä lähetettävän valosignaalin (7a, 7b) vastaanottamiseksi ja edelleen valosignaaliin verrannollisen testipoikkeaman aikaansaamiseksi mitta-15 ussignaaliin,
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että valoherkkä komponentti (6a, 6b) on järjestetty tuottamaan mittauspiiriin (2) testipoikkeaman aikaansaamiseksi virtasignaali (12, 13).
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen lait teisto, tunnettu siitä, että anturielementti (3) on vastustyyppinen anturi.
4. Jonkin patenttivaatimuksista 1-3 mukai-nen laitteisto, tunnettu siitä, että mittauspiiri 25 (2) käsittää Wheatstonen siltakytkennän (21) , jossa :***; anturielementti (3) on yksi siltakytkennän vastuksis- ··· ta.
• ♦♦ .··♦. 5. Jonkin edellisistä patenttivaatimuksista ♦ ♦ mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että testaus- .. 30 piiri (4) käsittää välineet (8a, 8b) valonlähteen (5a, • · 5b) ikääntymisen valosignaaliin (7a, 7b) aiheuttamien • · *·..* muutosten kompensoimiseksi.
·*·*: 6. Menetelmä fysikaalista suuretta mittaavan • · .·*·. elektronisen anturielementin (3) toimintakunnon tar- • · ··· •# 35 kastamiseksi, jossa menetelmässä aiheutetaan antu- • · · *·!♦* rielementin ja siihen kytketyn mittauspiirin (2) tuot- *’*· tamaan mittaussignaaliin tiettyä mitattavan fysikaali- sen suureen muutosta vastaava testipoikkeama, tunnettu siitä, että testipoikkeama aiheutetaan lähettämällä mittauspiirin (2) ulkopuolelta mittauspiiriin valosignaali (7a, 7b).
7. Patenttivaatimuksen 6 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että muunnetaan valosignaali (7a, 7b) testipoikkeaman aikaansaamiseksi virtasignaaliksi (12, 13) mittauspiiriin (2).
8. Patenttivaatimuksen 6 tai 7 mukainen mene-10 telmä, tunnettu siitä, että kompensoidaan valosignaalin (7a, 7b) lähettämiseen käytettävien välineiden (5a, 5b) ikääntymisen valosignaaliin aiheuttamia muu toksia . 15 • · · • · ♦ • · · • · • ♦ • · · • ·1 • · • · · • « • · ··· ·· • · • · · • · · • · • · • · · ·· • · • ·· • · · • · • · ··· • · · • · · • · • · ··· • · • · ··· • · · • · · ··· ·
FI20070216A 2007-03-16 2007-03-16 Elektronisen anturin diagnosointi FI119893B (fi)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20070216A FI119893B (fi) 2007-03-16 2007-03-16 Elektronisen anturin diagnosointi
EP08718535.1A EP2135044B1 (en) 2007-03-16 2008-02-22 Diagnosing an electronic sensor
US12/531,536 US8305100B2 (en) 2007-03-16 2008-02-22 Diagnosing an electronic sensor
PCT/FI2008/050082 WO2008113883A1 (en) 2007-03-16 2008-02-22 Diagnosing an electronic sensor

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20070216A FI119893B (fi) 2007-03-16 2007-03-16 Elektronisen anturin diagnosointi
FI20070216 2007-03-16

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20070216A0 FI20070216A0 (fi) 2007-03-16
FI20070216A FI20070216A (fi) 2008-09-17
FI119893B true FI119893B (fi) 2009-04-30

Family

ID=37930020

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20070216A FI119893B (fi) 2007-03-16 2007-03-16 Elektronisen anturin diagnosointi

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8305100B2 (fi)
EP (1) EP2135044B1 (fi)
FI (1) FI119893B (fi)
WO (1) WO2008113883A1 (fi)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3640653B1 (en) * 2018-10-15 2024-01-24 Continental Automotive Technologies GmbH Observation circuit for observing an input impedance at a high frequency connector of a mobile device terminal and mobile device terminal comprising such an observation circuit and vehicle comprising the mobile device terminal

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DD109744A1 (fi) * 1973-12-27 1974-11-12
DE4412982C1 (de) * 1994-04-15 1995-09-07 Audi Ag Vorrichtung zur Fehlerüberprüfung von Wheatston'schen Meßbrücken
US5734269A (en) * 1994-08-08 1998-03-31 The Nippon Signal Co., Ltd. Bridge circuit fault monitoring apparatus using an output signal level from a bridge circuit and a power source current level to determine faults
DE19728381B4 (de) * 1997-07-03 2006-11-09 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Schaltung zur Funktionsüberwachung einer Sensorbrücke
JPH11132953A (ja) * 1997-10-29 1999-05-21 Bunshi Bio Photonics Kenkyusho:Kk 蛍光寿命測定方法および装置
DE19806753A1 (de) 1998-02-18 1999-09-02 Telefunken Microelectron Sensormodul
US6422088B1 (en) 1999-09-24 2002-07-23 Denso Corporation Sensor failure or abnormality detecting system incorporated in a physical or dynamic quantity detecting apparatus
US6646446B2 (en) * 2000-09-20 2003-11-11 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for fault detection in a resistive bridge sensor
DE102004056133B4 (de) * 2004-02-20 2007-04-12 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zur Erfassung einer Offsetdrift bei einer Wheatstone-Meßbrücke
DE102004013683A1 (de) * 2004-03-18 2005-11-03 Fag Kugelfischer Ag & Co. Ohg Messvorrichtung
EP1719990B1 (de) * 2005-05-06 2013-11-06 Acam-messelectronic GmbH Verfahren und Vorrichtung zur Temperaturkompensation einer Messbrücke
JP4749132B2 (ja) * 2005-11-21 2011-08-17 富士通セミコンダクター株式会社 センサ検出装置及びセンサ

Also Published As

Publication number Publication date
US20100164511A1 (en) 2010-07-01
WO2008113883A1 (en) 2008-09-25
FI20070216A (fi) 2008-09-17
EP2135044A1 (en) 2009-12-23
US8305100B2 (en) 2012-11-06
EP2135044B1 (en) 2017-07-19
EP2135044A4 (en) 2016-08-17
FI20070216A0 (fi) 2007-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9063174B2 (en) Hall effect measurement instrument with temperature compensation
US20110018534A1 (en) Diagnosable hall sensor
US7088108B2 (en) Method for detecting an offset drift in a wheatstone measuring bridge
US9726705B2 (en) Sensor interface circuits
US9297865B2 (en) Hall effect measurement instrument with temperature compensation
WO2008009676A1 (en) Temperature measurement device and measurement method
US20080224694A1 (en) Semiconductor component and method for testing such a component
EP2924404A1 (en) Thermocouple module with wire resistance compensation
JP2020507054A (ja) スマートセンサ適用のためのデバイスおよび方法
US10359321B2 (en) On-chip circuit and method for accurately measuring die temperature of an integrated circuit
EP3273221A1 (en) System and method for detecting corrosion
US20180136182A1 (en) Accurate multi-gas analyzer
KR200427534Y1 (ko) 제어봉 코일 전류 감시 센서 진단 시스템
FI119893B (fi) Elektronisen anturin diagnosointi
JP3280981B2 (ja) 測定セル、測定機器および接続ケーブルを備えた熱伝導形真空計
US10634565B2 (en) Temperature sensing apparatus and temperature sensing method thereof
US6909275B2 (en) Electrical circuit for driving a load
US20140350862A1 (en) Sensor assembly for hygenic material processing systems
GB2507093A (en) Method and circuit for measuring the electrical resistance of a thermocouple
US20060162419A1 (en) Measuring device with plausibility check
US8893554B2 (en) System and method for passively compensating pressure sensors
JP2013205345A (ja) 温度検出装置
CN109443503B (zh) 检测装置
KR100500632B1 (ko) 인서키트테스트시스템의 적외선카메라 데이터보정방법
US11268998B1 (en) Dynamic bridge diagnostic

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Ref document number: 119893

Country of ref document: FI