JP2006080116A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2006080116A5
JP2006080116A5 JP2004259280A JP2004259280A JP2006080116A5 JP 2006080116 A5 JP2006080116 A5 JP 2006080116A5 JP 2004259280 A JP2004259280 A JP 2004259280A JP 2004259280 A JP2004259280 A JP 2004259280A JP 2006080116 A5 JP2006080116 A5 JP 2006080116A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
ferromagnetic layer
ferromagnetic
polycrystalline
magnesium oxide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004259280A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006080116A (ja
JP4292128B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from JP2004259280A external-priority patent/JP4292128B2/ja
Priority to JP2004259280A priority Critical patent/JP4292128B2/ja
Priority to EP10150310A priority patent/EP2166581A3/en
Priority to DE602005014526T priority patent/DE602005014526D1/de
Priority to EP08159511A priority patent/EP1973178B1/en
Priority to EP05077020A priority patent/EP1633007B1/en
Priority to TW104101069A priority patent/TWI536624B/zh
Priority to AT05077020T priority patent/ATE431969T1/de
Priority to TW101135284A priority patent/TWI504032B/zh
Priority to TW094130390A priority patent/TWI390780B/zh
Priority to KR1020050082694A priority patent/KR20060051048A/ko
Priority to CNA2009101180744A priority patent/CN101572184A/zh
Priority to CN2005100987654A priority patent/CN1755963B/zh
Priority to US11/219,866 priority patent/US20060056115A1/en
Publication of JP2006080116A publication Critical patent/JP2006080116A/ja
Priority to US11/876,916 priority patent/US20080055793A1/en
Priority to US11/969,049 priority patent/US8394649B2/en
Priority to US12/058,147 priority patent/US20080180862A1/en
Publication of JP2006080116A5 publication Critical patent/JP2006080116A5/ja
Priority to KR1020090048073A priority patent/KR20090071521A/ko
Publication of JP4292128B2 publication Critical patent/JP4292128B2/ja
Application granted granted Critical
Priority to KR1020100016839A priority patent/KR20100036294A/ko
Priority to KR1020100016838A priority patent/KR20100039310A/ko
Priority to US12/983,514 priority patent/US20110094875A1/en
Priority to KR1020120037829A priority patent/KR101234441B1/ko
Priority to KR1020120073272A priority patent/KR101196511B1/ko
Priority to US14/032,815 priority patent/US8934290B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (10)

  1. 第1の強磁性層、第2の強磁性層、及び該第1の強磁性層と第2の強磁性層との間に位置するバリア層を有する積層構造、並びに、該第1の強磁性層の側に位置する基板を含む磁気抵抗効果素子であって、
    前記バリア層は、該層の厚さ方向において、(001)面が界面に平行に配向した単結晶構造の酸化マグネシウムを有し、
    前記第1の強磁性層は、CoFeBを含有する、ことを特徴とする磁気抵抗効果素子。
  2. 前記第1の強磁性層は、前記バリア層の成膜時にアモルファスである、ことを特徴とする請求項1に記載の磁気抵抗効果素子。
  3. 前記バリア層は、酸化マグネシウムターゲットを用いたスパッタリング法で成膜されたである、ことを特徴とする請求項1記載の磁気抵抗効果素子。
  4. 第1の多結晶強磁性層、
    第2の多結晶強磁性層、
    前記第1の多結晶強磁性層と第2の多結晶強磁性層との間に位置し、層の厚さ方向において、(001)面が該層の界面に平行に配向した単結晶構造の酸化マグネシウム層を有する積層構造、並びに
    前記第1の多結晶強磁性層の側に位置する基板
    を有する、ことを特徴とする磁気抵抗効果素子。
  5. 第1の強磁性層、第2の強磁性層、及び該第1の強磁性層と第2の強磁性層との間に位置するバリア層を有する積層構造を含む磁気抵抗効果素子であって、
    少なくとも表面がアモルファス状態の第1の強磁性層を形成する第1工程と、その上に酸化マグネシウム層を形成する第2工程と、少なくとも前記第2工程後に、アニーリング処理を施す第3工程と、を含む製造工程を経て形成されたものであることを特徴とする磁気抵抗効果素子。
  6. ワード線、
    前記ワード線と交差配置したビット線、並びに、
    前記ワード線と前記ビット線との間を接続するように配置した磁気抵抗効果素子及びトランジスタを有するMRAMであって、
    前記磁気抵抗効果素子は、第1の多結晶強磁性層、第2の多結晶強磁性層及び前記第1の多結晶強磁性層と第2の多結晶強磁性層との間に位置し、層の厚さ方向において、(001)面が該層の界面に平行に配向した単結晶構造の酸化マグネシウム層を有する積層構造を有する、ことを特徴とするMRAM。
  7. 強磁性層該強磁性層上のバリア層とから成る積層構造を含む磁気抵抗効果素子の製造方法であって、
    少なくとも表面がアモルファス状態である強磁性層を成膜し、スパッタリング法を用いて、該強磁性層との界面から該強磁性層とは反対側の界面まで厚さ方向において、(001)面が界面に平行に配向した単結晶構造の酸化マグネシウムを有するバリア層を成膜する工程を有する、ことを特徴とする磁気抵抗効果素子の製造方法。
  8. 前記強磁性層は、CoFeBを含有する、ことを特徴とする請求項7に記載の磁気抵抗効果素子の製造方法。
  9. 前記バリア層を成膜する工程は、スパッタリング法を用いて酸化マグネシウム層を成膜する工程と、アニーリング処理を行う工程と、を含むことを特徴とする請求項7に記載の磁気抵抗効果素子の製造方法。
  10. ロボット搬送装置を備えた搬送チャンバ、
    前記搬送チャンバとゲートバルブを介して接続配置し、強磁性体ターゲットを用いたスパッタリング法により、アモルファス又は多結晶の強磁性体層を成膜するように為した第1の成膜チャンバ、
    前記搬送チャンバとゲートバルブを介して接続配置し、反強磁性体ターゲットを用いたスパッタリング法により、反強磁性体層を成膜するように為した第2の成膜チャンバ、
    前記搬送チャンバとゲートバルブを介して接続配置し、スパッタリング法により、成膜層の厚さ方向において、(001)面が該層の界面に平行に配向した単結晶構造の酸化マグネシウム層を成膜するように為した第3の成膜チャンバ、並びに、
    基板の上に、前記反強磁性層、前記酸化マグネシウム層及び前記アモルファス又は多結晶の強磁性層を積層するように為した搬送機構を有する、ことを特徴とする磁性多層膜作製装置。
JP2004259280A 2004-09-07 2004-09-07 磁気抵抗効果素子の製造方法 Active JP4292128B2 (ja)

Priority Applications (23)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004259280A JP4292128B2 (ja) 2004-09-07 2004-09-07 磁気抵抗効果素子の製造方法
EP10150310A EP2166581A3 (en) 2004-09-07 2005-09-05 Magnetoresistance effect device and method of production of the same
DE602005014526T DE602005014526D1 (de) 2004-09-07 2005-09-05 Magnetoresistives Bauelement und dessen Herstellungsverfahren
EP08159511A EP1973178B1 (en) 2004-09-07 2005-09-05 Magnetoresistance effect device and method of production of the same
EP05077020A EP1633007B1 (en) 2004-09-07 2005-09-05 Magnetoresistance effect device and method of production of the same
TW104101069A TWI536624B (zh) 2004-09-07 2005-09-05 Magnetoresistive element
AT05077020T ATE431969T1 (de) 2004-09-07 2005-09-05 Magnetoresistives bauelement und dessen herstellungsverfahren
TW101135284A TWI504032B (zh) 2004-09-07 2005-09-05 Method for manufacturing magnetoresistance effect elements
TW094130390A TWI390780B (zh) 2004-09-07 2005-09-05 磁阻效應元件
KR1020050082694A KR20060051048A (ko) 2004-09-07 2005-09-06 자기저항 효과를 가지는 소자 및 그 제조 방법
CN2005100987654A CN1755963B (zh) 2004-09-07 2005-09-07 磁电阻效应元件及其制造方法
US11/219,866 US20060056115A1 (en) 2004-09-07 2005-09-07 Magnetoresistance effect device and method of production of the same
CNA2009101180744A CN101572184A (zh) 2004-09-07 2005-09-07 磁性多层膜制作装置
US11/876,916 US20080055793A1 (en) 2004-09-07 2007-10-23 Magnetoresistance effect device
US11/969,049 US8394649B2 (en) 2004-09-07 2008-01-03 Method of production of a magnetoresistance effect device
US12/058,147 US20080180862A1 (en) 2004-09-07 2008-03-28 Method of production of a magnetoresistance effect device
KR1020090048073A KR20090071521A (ko) 2004-09-07 2009-06-01 자기저항 효과를 가지는 소자의 제조 방법
KR1020100016839A KR20100036294A (ko) 2004-09-07 2010-02-24 자기저항 효과 소자의 제조 방법
KR1020100016838A KR20100039310A (ko) 2004-09-07 2010-02-24 자기저항 효과 소자의 제조 방법
US12/983,514 US20110094875A1 (en) 2004-09-07 2011-01-03 Magnetoresistance effect device and method of production of the same
KR1020120037829A KR101234441B1 (ko) 2004-09-07 2012-04-12 자기저항 효과 소자 및 mram
KR1020120073272A KR101196511B1 (ko) 2004-09-07 2012-07-05 자기저항 효과 소자 및 mram
US14/032,815 US8934290B2 (en) 2004-09-07 2013-09-20 Magnetoresistance effect device and method of production of the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004259280A JP4292128B2 (ja) 2004-09-07 2004-09-07 磁気抵抗効果素子の製造方法

Related Child Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008163571A Division JP4774082B2 (ja) 2008-06-23 2008-06-23 磁気抵抗効果素子の製造方法
JP2008259594A Division JP2009044173A (ja) 2008-10-06 2008-10-06 磁性多層膜形成装置
JP2008259611A Division JP4774092B2 (ja) 2008-10-06 2008-10-06 磁気抵抗効果素子およびそれを用いたmram

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2006080116A JP2006080116A (ja) 2006-03-23
JP2006080116A5 true JP2006080116A5 (ja) 2008-08-14
JP4292128B2 JP4292128B2 (ja) 2009-07-08

Family

ID=35326492

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004259280A Active JP4292128B2 (ja) 2004-09-07 2004-09-07 磁気抵抗効果素子の製造方法

Country Status (8)

Country Link
US (6) US20060056115A1 (ja)
EP (3) EP1973178B1 (ja)
JP (1) JP4292128B2 (ja)
KR (6) KR20060051048A (ja)
CN (2) CN1755963B (ja)
AT (1) ATE431969T1 (ja)
DE (1) DE602005014526D1 (ja)
TW (3) TWI536624B (ja)

Families Citing this family (81)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4100025B2 (ja) * 2002-04-09 2008-06-11 ソニー株式会社 磁気抵抗効果素子及び磁気メモリ装置
US7696169B2 (en) * 2003-06-06 2010-04-13 The Feinstein Institute For Medical Research Inhibitors of the interaction between HMGB polypeptides and toll-like receptor 2 as anti-inflammatory agents
US7911832B2 (en) * 2003-08-19 2011-03-22 New York University High speed low power magnetic devices based on current induced spin-momentum transfer
US7884403B2 (en) 2004-03-12 2011-02-08 Japan Science And Technology Agency Magnetic tunnel junction device and memory device including the same
JPWO2006022183A1 (ja) * 2004-08-27 2008-05-08 独立行政法人科学技術振興機構 磁気抵抗素子及びその製造方法
JP4292128B2 (ja) * 2004-09-07 2009-07-08 キヤノンアネルバ株式会社 磁気抵抗効果素子の製造方法
JP2006210391A (ja) * 2005-01-25 2006-08-10 Japan Science & Technology Agency 磁気抵抗素子及びその製造方法
JP5096702B2 (ja) * 2005-07-28 2012-12-12 株式会社日立製作所 磁気抵抗効果素子及びそれを搭載した不揮発性磁気メモリ
JP4782037B2 (ja) 2006-03-03 2011-09-28 キヤノンアネルバ株式会社 磁気抵抗効果素子の製造方法及び製造装置
JP4731393B2 (ja) * 2006-04-28 2011-07-20 株式会社日立製作所 磁気再生ヘッド
JP2007305768A (ja) * 2006-05-11 2007-11-22 Tdk Corp トンネル磁気抵抗効果素子の製造方法、薄膜磁気ヘッドの製造方法及び磁気メモリの製造方法
US7535069B2 (en) * 2006-06-14 2009-05-19 International Business Machines Corporation Magnetic tunnel junction with enhanced magnetic switching characteristics
JP4673274B2 (ja) * 2006-09-11 2011-04-20 ヒタチグローバルストレージテクノロジーズネザーランドビーブイ 外部ストレス耐性の高い磁気抵抗効果型ヘッド
JP4923896B2 (ja) * 2006-09-15 2012-04-25 富士通株式会社 交換結合膜及び磁気デバイス
JP2008078379A (ja) * 2006-09-21 2008-04-03 Alps Electric Co Ltd トンネル型磁気検出素子の製造方法
US7751156B2 (en) * 2006-09-29 2010-07-06 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. Dual-layer free layer in a tunneling magnetoresistance (TMR) element
JP2008135432A (ja) * 2006-11-27 2008-06-12 Tdk Corp トンネル磁気抵抗効果素子及びその製造方法
US7695761B1 (en) 2006-12-21 2010-04-13 Western Digital (Fremont), Llc Method and system for providing a spin tunneling magnetic element having a crystalline barrier layer
US7715156B2 (en) 2007-01-12 2010-05-11 Tdk Corporation Tunnel magnetoresistive effect element and thin-film magnetic head with tunnel magnetoresistive effect read head element
JP2008192634A (ja) * 2007-01-31 2008-08-21 Fujitsu Ltd トンネル磁気抵抗効果膜および磁気デバイス
JP4885769B2 (ja) * 2007-03-09 2012-02-29 株式会社アルバック 磁気抵抗素子の製造方法、磁気デバイスの製造方法、磁気抵抗素子の製造装置および磁気デバイスの製造装置
JP2008306169A (ja) * 2007-05-07 2008-12-18 Canon Anelva Corp 磁気抵抗素子、磁気抵抗素子の製造方法及び磁性多層膜作成装置
US8559141B1 (en) 2007-05-07 2013-10-15 Western Digital (Fremont), Llc Spin tunneling magnetic element promoting free layer crystal growth from a barrier layer interface
US8174800B2 (en) 2007-05-07 2012-05-08 Canon Anelva Corporation Magnetoresistive element, method of manufacturing the same, and magnetic multilayered film manufacturing apparatus
US8679301B2 (en) * 2007-08-01 2014-03-25 HGST Netherlands B.V. Repeatability for RF MgO TMR barrier layer process by implementing Ti pasting
JP2009065040A (ja) * 2007-09-07 2009-03-26 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 磁性材料及びそれを用いた磁気抵抗素子
WO2009044473A1 (ja) * 2007-10-04 2009-04-09 Canon Anelva Corporation 高周波スパッタリング装置
WO2009044474A1 (ja) * 2007-10-04 2009-04-09 Canon Anelva Corporation 真空薄膜形成加工装置
US8133745B2 (en) * 2007-10-17 2012-03-13 Magic Technologies, Inc. Method of magnetic tunneling layer processes for spin-transfer torque MRAM
KR101706192B1 (ko) * 2007-11-28 2017-02-13 가부시키가이샤 아루박 스퍼터 장치 및 성막방법
US8545999B1 (en) 2008-02-21 2013-10-01 Western Digital (Fremont), Llc Method and system for providing a magnetoresistive structure
JPWO2009110119A1 (ja) * 2008-03-06 2011-07-14 富士電機ホールディングス株式会社 強磁性トンネル接合素子および強磁性トンネル接合素子の駆動方法
KR101298817B1 (ko) * 2008-03-07 2013-08-23 캐논 아네르바 가부시키가이샤 자기 저항 소자의 제조 방법 및 자기 저항 소자의 제조 장치
US8077436B2 (en) 2008-03-20 2011-12-13 Tdk Corporation CPP-type magnetoresistance effect element having three magnetic layers
CN102132434A (zh) * 2008-09-01 2011-07-20 佳能安内华股份有限公司 磁阻元件及其制造方法、用于该制造方法的存储介质
WO2010026667A1 (en) 2008-09-03 2010-03-11 Canon Anelva Corporation Ferromagnetic preferred grain growth promotion seed layer for amorphous or microcrystalline mgo tunnel barrier
JP2010062353A (ja) * 2008-09-04 2010-03-18 Fujitsu Ltd 磁気抵抗効果素子
US20110227018A1 (en) * 2008-09-08 2011-09-22 Canon Anelva Corporation Magnetoresistance element, method of manufacturing the same, and storage medium used in the manufacturing method
US20110143460A1 (en) * 2008-09-09 2011-06-16 Canon Anelva Corporation Method of manufacturing magnetoresistance element and storage medium used in the manufacturing method
JP2010080806A (ja) * 2008-09-29 2010-04-08 Canon Anelva Corp 磁気抵抗素子の製造法及びその記憶媒体
JP2010109319A (ja) * 2008-09-30 2010-05-13 Canon Anelva Corp 磁気抵抗素子の製造法および記憶媒体
JP2010102805A (ja) * 2008-10-27 2010-05-06 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv トンネル接合型磁気抵抗効果ヘッド
JP5133232B2 (ja) * 2008-12-26 2013-01-30 株式会社アルバック 成膜装置及び成膜方法
KR101584747B1 (ko) * 2009-01-20 2016-01-13 삼성전자주식회사 자기 메모리 소자
CN102460650B (zh) 2009-06-24 2014-10-01 佳能安内华股份有限公司 真空加热/冷却装置及磁阻元件的制造方法
US8183653B2 (en) 2009-07-13 2012-05-22 Seagate Technology Llc Magnetic tunnel junction having coherent tunneling structure
US8498084B1 (en) 2009-07-21 2013-07-30 Western Digital (Fremont), Llc Magnetoresistive sensors having an improved free layer
JP5588642B2 (ja) * 2009-09-02 2014-09-10 エイチジーエスティーネザーランドビーブイ トンネル接合型磁気抵抗効果ヘッド及びその製造方法
US8194365B1 (en) 2009-09-03 2012-06-05 Western Digital (Fremont), Llc Method and system for providing a read sensor having a low magnetostriction free layer
JP5596694B2 (ja) * 2009-09-11 2014-09-24 株式会社アルバック 薄膜形成方法
JP2011123923A (ja) 2009-12-08 2011-06-23 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv 磁気抵抗効果ヘッド、磁気記録再生装置
JP5576643B2 (ja) 2009-12-10 2014-08-20 エイチジーエスティーネザーランドビーブイ トンネル接合型磁気抵抗効果素子、トンネル接合型磁気抵抗効果ヘッド、磁気記録再生装置、及びその製造方法
RU2451769C2 (ru) * 2009-12-22 2012-05-27 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н.Ельцина" Способ, устройство для получения многослойных пленок и многослойная структура, полученная с их использованием
CN102687297B (zh) 2009-12-28 2014-12-24 佳能安内华股份有限公司 磁阻元件的制造方法
US8692343B2 (en) * 2010-04-26 2014-04-08 Headway Technologies, Inc. MR enhancing layer (MREL) for spintronic devices
CN102947481A (zh) * 2010-06-21 2013-02-27 株式会社爱发科 基板反转装置、真空成膜装置以及基板反转方法
WO2012056807A1 (ja) 2010-10-25 2012-05-03 日本碍子株式会社 セラミックス材料、積層体、半導体製造装置用部材及びスパッタリングターゲット部材
WO2012056808A1 (ja) 2010-10-25 2012-05-03 日本碍子株式会社 セラミックス材料、半導体製造装置用部材、スパッタリングターゲット部材及びセラミックス材料の製造方法
CN103250263B (zh) * 2010-12-22 2015-07-01 株式会社爱发科 穿隧磁阻元件的制造方法
CN103403215B (zh) 2010-12-28 2016-01-06 佳能安内华股份有限公司 制造设备
US8503135B2 (en) 2011-09-21 2013-08-06 Seagate Technology Llc Magnetic sensor with enhanced magnetoresistance ratio
US8710602B2 (en) 2011-12-20 2014-04-29 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and system for providing magnetic junctions having improved characteristics
JP5856490B2 (ja) 2012-01-20 2016-02-09 ルネサスエレクトロニクス株式会社 磁気抵抗効果素子及び磁気メモリ
TWI514373B (zh) * 2012-02-15 2015-12-21 Ind Tech Res Inst 上固定型垂直磁化穿隧磁阻元件
JP5895610B2 (ja) * 2012-03-07 2016-03-30 富士通株式会社 磁気抵抗メモリおよび磁気抵抗メモリの製造方法
JP5935444B2 (ja) * 2012-03-29 2016-06-15 Tdk株式会社 スピン伝導素子、及びスピン伝導を用いた磁気センサ及び磁気ヘッド
JP5774568B2 (ja) 2012-09-21 2015-09-09 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
JP2014090109A (ja) * 2012-10-31 2014-05-15 Hitachi High-Technologies Corp 磁気抵抗素子の製造方法
KR102100850B1 (ko) * 2012-11-07 2020-04-14 엔지케이 인슐레이터 엘티디 세라믹스 재료 및 스퍼터링 타겟 부재
WO2014073388A1 (ja) 2012-11-07 2014-05-15 日本碍子株式会社 セラミックス材料及びスパッタリングターゲット部材
US9070381B1 (en) 2013-04-12 2015-06-30 Western Digital (Fremont), Llc Magnetic recording read transducer having a laminated free layer
JP6225835B2 (ja) * 2013-08-28 2017-11-08 株式会社デンソー 磁気抵抗素子およびそれを用いた磁気センサ
US9209386B2 (en) * 2013-09-06 2015-12-08 Makoto Nagamine Magneto-resistive element having a ferromagnetic layer containing boron
US9425388B2 (en) 2013-09-12 2016-08-23 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetic element and method of manufacturing the same
US8956882B1 (en) 2013-09-12 2015-02-17 Kazuhiro Tomioka Method of manufacturing magnetoresistive element
JP6173854B2 (ja) 2013-09-20 2017-08-02 株式会社東芝 歪検知素子、圧力センサ、マイクロフォン、血圧センサ及びタッチパネル
KR102126975B1 (ko) 2013-12-09 2020-06-25 삼성전자주식회사 자기 기억 소자 및 그 제조 방법
WO2016017047A1 (ja) * 2014-07-28 2016-02-04 キヤノンアネルバ株式会社 成膜方法、真空処理装置、半導体発光素子の製造方法、半導体発光素子、半導体電子素子の製造方法、半導体電子素子、照明装置
JP2017059740A (ja) * 2015-09-18 2017-03-23 富士通株式会社 磁気トンネル接合素子及び半導体記憶装置
US11646143B2 (en) 2019-05-21 2023-05-09 International Business Machines Corporation Magnetic multi-layers containing MgO sublayers as perpendicularly magnetized magnetic electrodes for magnetic memory technology
KR20210006725A (ko) 2019-07-09 2021-01-19 삼성전자주식회사 스퍼터링 장치 및 이를 이용한 반도체 장치의 제조 방법

Family Cites Families (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ZA849070B (en) * 1983-12-07 1985-07-31 Energy Conversion Devices Inc Semiconducting multilayered structures and systems and methods for synthesizing the structures and devices incorporating the structures
US5506063A (en) * 1990-11-14 1996-04-09 Nec Corporation Soft magnetic film of iron and process of formation thereof
JPH06196648A (ja) * 1992-12-25 1994-07-15 Fuji Xerox Co Ltd 配向性強誘電体薄膜素子
US5817366A (en) * 1996-07-29 1998-10-06 Tdk Corporation Method for manufacturing organic electroluminescent element and apparatus therefor
US5945694A (en) * 1997-01-31 1999-08-31 Motorola, Inc. Compound semiconductor device having reduced temperature variability
JP3219713B2 (ja) * 1997-02-07 2001-10-15 アルプス電気株式会社 磁気抵抗効果素子の製造方法
US6181537B1 (en) * 1999-03-29 2001-01-30 International Business Machines Corporation Tunnel junction structure with junction layer embedded in amorphous ferromagnetic layers
US6201672B1 (en) * 1999-04-26 2001-03-13 International Business Machines Corporation Spin valve sensor having improved interface between pinning layer and pinned layer structure
JP3589346B2 (ja) * 1999-06-17 2004-11-17 松下電器産業株式会社 磁気抵抗効果素子および磁気抵抗効果記憶素子
US6252750B1 (en) * 1999-07-23 2001-06-26 International Business Machines Corporation Read head with file resettable double antiparallel (AP) pinned spin valve sensor
US6275362B1 (en) * 1999-07-30 2001-08-14 International Business Machines Corporation Magnetic read head having spin valve sensor with improved seed layer for a free layer
WO2001056090A1 (fr) 2000-01-28 2001-08-02 Sharp Kabushiki Kaisha Dispositif a magnetoresistance et procede de fabrication de celui-ci, base pour dispositif a magnetoresistance et procede de fabrication de celle-ci, et capteur a magnetoresistance
JP2002050011A (ja) * 2000-08-03 2002-02-15 Nec Corp 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果ヘッド、磁気抵抗変換システム及び磁気記録システム
JP2002167661A (ja) 2000-11-30 2002-06-11 Anelva Corp 磁性多層膜作製装置
JP3576111B2 (ja) * 2001-03-12 2004-10-13 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子
JP3961777B2 (ja) 2001-03-26 2007-08-22 株式会社東芝 磁気センサー
JP4304568B2 (ja) 2002-04-23 2009-07-29 独立行政法人産業技術総合研究所 平坦化トンネル磁気抵抗素子
JP3815601B2 (ja) 2001-09-14 2006-08-30 独立行政法人産業技術総合研究所 トンネル磁気抵抗素子および磁気ランダムアクセスメモリ
JP2002359413A (ja) 2001-05-31 2002-12-13 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 強磁性トンネル磁気抵抗素子
EP1391942A4 (en) 2001-05-31 2007-08-15 Nat Inst Of Advanced Ind Scien TUNNEL MAGNETIC RESISTANCE ELEMENT
DE10136806A1 (de) 2001-07-27 2003-02-13 Uvex Sports Gmbh & Co Kg Sichtscheibe, insbesondere für Skibrillen o. dgl. und Verfahren zu deren Herstellung
US6936903B2 (en) * 2001-09-25 2005-08-30 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Magnetic memory cell having a soft reference layer
US7262064B2 (en) * 2001-10-12 2007-08-28 Sony Corporation Magnetoresistive effect element, magnetic memory element magnetic memory device and manufacturing methods thereof
JP2003124541A (ja) * 2001-10-12 2003-04-25 Nec Corp 交換結合膜、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気ランダムアクセスメモリ
FR2830971B1 (fr) * 2001-10-12 2004-03-12 Commissariat Energie Atomique Dispositif magnetoresistif a vanne de spin a performances ameliorees
JP2003152239A (ja) * 2001-11-12 2003-05-23 Fujitsu Ltd 磁気抵抗効果素子、及び、それを有する読み取りヘッド並びにドライブ
US6674617B2 (en) * 2002-03-07 2004-01-06 International Business Machines Corporation Tunnel junction sensor with a multilayer free-layer structure
JP2003267750A (ja) 2002-03-15 2003-09-25 Nihon Yamamura Glass Co Ltd 抵抗体被覆用ガラス組成物
JP4100025B2 (ja) 2002-04-09 2008-06-11 ソニー株式会社 磁気抵抗効果素子及び磁気メモリ装置
FR2840925B1 (fr) * 2002-06-18 2005-04-01 Riber Chambre d'evaporation de materiaux sous vide a pompage differentiel
JP2004063592A (ja) 2002-07-25 2004-02-26 Sony Corp 磁気抵抗効果素子および磁気メモリ装置
JP2004071897A (ja) * 2002-08-07 2004-03-04 Sony Corp 磁気抵抗効果素子及び磁気メモリ装置
US6831312B2 (en) * 2002-08-30 2004-12-14 Freescale Semiconductor, Inc. Amorphous alloys for magnetic devices
TWI277363B (en) * 2002-08-30 2007-03-21 Semiconductor Energy Lab Fabrication system, light-emitting device and fabricating method of organic compound-containing layer
JP2004128015A (ja) * 2002-09-30 2004-04-22 Sony Corp 磁気抵抗効果素子および磁気メモリ装置
JP2004128229A (ja) * 2002-10-02 2004-04-22 Nec Corp 磁性メモリ及びその製造方法
US6828260B2 (en) * 2002-10-29 2004-12-07 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Ultra-violet treatment of a tunnel barrier layer through an overlayer a tunnel junction device
US7318236B2 (en) 2003-02-27 2008-01-08 Microsoft Corporation Tying a digital license to a user and tying the user to multiple computing devices in a digital rights management (DRM) system
JP2004348777A (ja) * 2003-05-20 2004-12-09 Hitachi Ltd 垂直磁気記録媒体および磁気記録装置
US7598555B1 (en) * 2003-08-22 2009-10-06 International Business Machines Corporation MgO tunnel barriers and method of formation
JP2005071555A (ja) 2003-08-28 2005-03-17 Sony Corp ディスク装置及びこれを備えた電子機器
US20050110004A1 (en) * 2003-11-24 2005-05-26 International Business Machines Corporation Magnetic tunnel junction with improved tunneling magneto-resistance
US7252852B1 (en) * 2003-12-12 2007-08-07 International Business Machines Corporation Mg-Zn oxide tunnel barriers and method of formation
US7149105B2 (en) * 2004-02-24 2006-12-12 Infineon Technologies Ag Magnetic tunnel junctions for MRAM devices
US7884403B2 (en) * 2004-03-12 2011-02-08 Japan Science And Technology Agency Magnetic tunnel junction device and memory device including the same
US7270896B2 (en) * 2004-07-02 2007-09-18 International Business Machines Corporation High performance magnetic tunnel barriers with amorphous materials
US20060012926A1 (en) * 2004-07-15 2006-01-19 Parkin Stuart S P Magnetic tunnel barriers and associated magnetic tunnel junctions with high tunneling magnetoresistance
US7408749B2 (en) * 2004-08-23 2008-08-05 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. CPP GMR/TMR structure providing higher dR
JPWO2006022183A1 (ja) * 2004-08-27 2008-05-08 独立行政法人科学技術振興機構 磁気抵抗素子及びその製造方法
JP4292128B2 (ja) * 2004-09-07 2009-07-08 キヤノンアネルバ株式会社 磁気抵抗効果素子の製造方法
US7595967B1 (en) * 2004-09-07 2009-09-29 Western Digital (Fremont), Llp Method for fabricating a spacer layer for a magnetoresistive element
US7377025B2 (en) * 2004-10-29 2008-05-27 Headway Technologies, Inc. Method of forming an improved AP1 layer for a TMR device
US20060128038A1 (en) * 2004-12-06 2006-06-15 Mahendra Pakala Method and system for providing a highly textured magnetoresistance element and magnetic memory
US7443639B2 (en) * 2005-04-04 2008-10-28 International Business Machines Corporation Magnetic tunnel junctions including crystalline and amorphous tunnel barrier materials
JP2008263031A (ja) * 2007-04-11 2008-10-30 Toshiba Corp 磁気抵抗効果素子とその製造方法、磁気抵抗効果素子を備えた磁気記憶装置とその製造方法
EP1986284B1 (en) * 2007-04-23 2014-08-20 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. A connector and an assembling method therefor
JP2009124058A (ja) * 2007-11-19 2009-06-04 Fujitsu Ltd 磁気抵抗効果素子の面積抵抗の測定方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006080116A5 (ja)
TW202410499A (zh) 適於高溫熱處理之磁性穿隧接面
TWI536624B (zh) Magnetoresistive element
US20100080894A1 (en) Fabricating method of magnetoresistive element, and storage medium
US20100078310A1 (en) Fabricating method of magnetoresistive element, and storage medium
JP7442580B2 (ja) 調整可能な大きい垂直磁気異方性を有する磁気トンネル接合
WO2010026705A1 (ja) 磁気抵抗素子とその製造方法、該製造方法に用いる記憶媒体
JP2007533156A5 (ja)
TWI632711B (zh) Magnetoresistance effect element
JP2011523506A5 (ja)
JP2008507854A5 (ja)
TWI821274B (zh) 磁性穿隧接合結構及其製造方法
JP4774082B2 (ja) 磁気抵抗効果素子の製造方法
JP2015179844A (ja) 犠牲挿入層を用いるスピン移動トルク磁気デバイスで使用可能な垂直磁気異方性磁気接合を提供する方法
JP2020013921A5 (ja)
JP2008159177A5 (ja)
WO2010023833A1 (ja) 磁気抵抗素子とその製造方法、該製造方法に用いる記憶媒体
WO2010095525A1 (ja) 磁気抵抗素子および磁気抵抗素子の製造方法
CN204481054U (zh) 一种微型化垂直式各向异性磁电阻元件
EP3826014B1 (en) Magnetic junction comprising an oxide interlayer containing glass-forming agent
JPWO2010026725A1 (ja) 磁気抵抗素子とその製造方法、該製造方法に用いる記憶媒体
JPWO2010026703A1 (ja) 磁気抵抗素子とその製造方法、該製造方法に用いる記憶媒体
US10867651B2 (en) Initialization process for magnetic random access memory (MRAM) production
WO2010026704A1 (ja) 磁気抵抗素子とその製造方法、該製造方法に用いる記憶媒体
JP4774092B2 (ja) 磁気抵抗効果素子およびそれを用いたmram