JP2005049832A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2005049832A5
JP2005049832A5 JP2004182073A JP2004182073A JP2005049832A5 JP 2005049832 A5 JP2005049832 A5 JP 2005049832A5 JP 2004182073 A JP2004182073 A JP 2004182073A JP 2004182073 A JP2004182073 A JP 2004182073A JP 2005049832 A5 JP2005049832 A5 JP 2005049832A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
semiconductor
tft
controlling
crystal element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004182073A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005049832A (ja
JP4748954B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2004182073A priority Critical patent/JP4748954B2/ja
Priority claimed from JP2004182073A external-priority patent/JP4748954B2/ja
Publication of JP2005049832A publication Critical patent/JP2005049832A/ja
Publication of JP2005049832A5 publication Critical patent/JP2005049832A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4748954B2 publication Critical patent/JP4748954B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Claims (22)

  1. 画素部と、前記画素部の動作を制御するための駆動回路とを有し、
    前記画素部には、液晶素子と、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTが設けられており、
    前記駆動回路が有するTFTと、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTとは、チャネル形成領域にセミアモルファス半導体が用いられていることを特徴とする液晶表示装置。
  2. 画素部と、前記画素部の動作を制御するための駆動回路とを有し、
    前記画素部には、液晶素子と、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTが設けられており、
    前記駆動回路が有するTFTと、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTとは、ゲート電極と前記ゲート電極上に形成されたゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上に形成された第1の半導体膜と、前記第1の半導体膜上に形成された一対の第2の半導体膜とを有し、
    前記一対の第2の半導体膜には一導電型を付与する不純物が添加されており、
    前記第1の半導体膜はセミアモルファス半導体で形成されていることを特徴とする液晶表示装置。
  3. 画素部と、前記画素部の動作を制御するための駆動回路とを有し、
    前記画素部には、液晶素子と、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTが設けられており、
    前記駆動回路が有するTFTと、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTとは、ゲート電極と前記ゲート電極上に形成されたゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上に形成された第1の半導体膜と、前記第1の半導体膜上に形成された一対の第2の半導体膜と、前記第1の半導体膜と前記一対の第2の半導体膜の間に、前記一対の第2の半導体膜と重なるように設けられた一対の第3の半導体膜とを有し、
    前記一対の第2の半導体膜には一導電型を付与する不純物が添加されており、
    前記第1の半導体膜には、前記一導電型を付与する不純物とは逆の導電型を付与する不純物が添加されており、
    前記第1の半導体膜はセミアモルファス半導体で形成されていることを特徴とする液晶表示装置。
  4. 画素部と、前記画素部の動作を制御するための駆動回路とを有し、
    前記画素部には、液晶素子と、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTが設けられており、
    前記駆動回路が有するTFTと、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTとは、ゲート電極と前記ゲート電極上に形成されたゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上に形成された第1の半導体膜と、前記第1の半導体膜上に形成されたチャネル保護膜と、前記第1の半導体膜上に形成された一対の第2の半導体膜とを有し
    記一対の第2の半導体膜には一導電型を付与する不純物が添加されており、
    前記第1の半導体膜はセミアモルファス半導体で形成されていることを特徴とする液晶表示装置。
  5. 画素部と、前記画素部の動作を制御するための駆動回路とを有し、
    前記画素部には、液晶素子と、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTが設けられており、
    前記駆動回路が有するTFTと、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTとは、ゲート電極と前記ゲート電極上に形成されたゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上に形成された第1の半導体膜と、前記第1の半導体膜上に形成されたチャネル保護膜と、前記第1の半導体膜上に形成された一対の第2の半導体膜と、前記第1の半導体膜と前記一対の第2の半導体膜の間に、前記一対の第2の半導体膜と重なるように設けられた一対の第3の半導体膜とを有し、
    前記一対の第2の半導体膜には一導電型を付与する不純物が添加されており、
    前記第1の半導体膜には、前記一導電型を付与する不純物とは逆の導電型を付与する不純物が添加されており、
    前記第1の半導体膜はセミアモルファス半導体で形成されていることを特徴とする液晶表示装置。
  6. 請求項3又は請求項5において、前記一対の第3の半導体膜は、セミアモルファス半導体で形成されていることを特徴とする液晶表示装置。
  7. 請求項2乃至請求項6のいずれか1項において、前記一対の第2の半導体膜は、セミアモルファス半導体で形成されていることを特徴とする液晶表示装置。
  8. 請求項2乃至請求項のいずれか1項において、前記一導電型はn型であることを特徴とする液晶表示装置。
  9. 請求項1乃至請求項のいずれか1項において、前記駆動回路が有するTFTと、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTとは、窒化珪素、酸化珪素膜又は窒化酸化素膜で覆われていることを特徴とする液晶表示装置。
  10. 請求項1乃至請求項9のいずれか1項において、前記駆動回路が有するTFTのソース又はドレインと、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTのソース又はドレインに、それぞれ電気的に接続された配線は、アルミニウム、チタン、タンタル若しくはモリブデン、又はこれらの元素の窒化物を含むことを特徴とする液晶表示装置。
  11. 請求項10において、前記アルミニウムには、チタン、シリコン、スカンジウム、ネオジウム又は銅が、0.5〜5原子%の濃度で添加されていることを特徴とする液晶表示装置。
  12. 画素部と、前記画素部の動作を制御するための走査線駆動回路及び信号線駆動回路とを有し、
    前記画素部には、液晶素子と、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTが設けられており、
    前記走査線駆動回路が有するTFTと、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTとは、チャネル形成領域にセミアモルファス半導体が用いられており、
    前記信号線駆動回路が有するトランジスタは、単結晶又は多結晶の半導体を用いていることを特徴とする液晶表示装置。
  13. 画素部と、前記画素部の動作を制御するための走査線駆動回路及び信号線駆動回路とを有し、
    前記画素部には、液晶素子と、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTが設けられており、
    前記走査線駆動回路が有するTFTと、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTとは、チャネル形成領域にセミアモルファス半導体が用いられており、
    前記信号線駆動回路が有するトランジスタは、SOIを用いていることを特徴とする液晶表示装置。
  14. 請求項1乃至請求項13のいずれか1項において、前記液晶素子に印加される電圧を制御するTFTはマルチゲート構造を有することを特徴とする液晶表示装置。
  15. 請求項1乃至請求項14のいずれか1項において、前記駆動回路はアナログスイッチを含むことを特徴とする液晶表示装置。
  16. 請求項1乃至請求項15のいずれか1項において、前記セミアモルファス半導体は、0.5〜20nmの結晶粒を含むことを特徴とする液晶表示装置。
  17. 請求項1乃至請求項16のいずれか1項において、前記セミアモルファス半導体は、水素又はハロゲンを1原子%以上含むことを特徴とする液晶表示装置。
  18. 請求項1乃至請求項17のいずれか1項において、前記セミアモルファス半導体は、珪化物気体をグロー放電分解することにより形成されたものであることを特徴とする液晶表示装置。
  19. 請求項1乃至請求項18のいずれか1項において、前記セミアモルファス半導体は、水素、ヘリウム、アルゴン、クリプトン及びネオンから選ばれた一種又は複数のガスで希釈した珪化物気体を用いて形成されたものであることを特徴とする液晶表示装置。
  20. 請求項1乃至請求項19のいずれか1項において、前記セミアモルファス半導体は、炭化物気体又はゲルマニウム化気体を混入させた珪化物気体を用いて形成されたものであることを特徴とする液晶表示装置。
  21. 請求項1乃至請求項20のいずれか1項に記載の液晶表示装置を用いた電子機器。
  22. 請求項21において、前記電子機器は、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ、ナビゲーションシステム、音響再生装置、パーソナルコンピュータ、ゲーム機器、携帯情報端末又は画像再生装置であることを特徴とする電子機器。
JP2004182073A 2003-07-14 2004-06-21 液晶表示装置 Expired - Fee Related JP4748954B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004182073A JP4748954B2 (ja) 2003-07-14 2004-06-21 液晶表示装置

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003273869 2003-07-14
JP2003273869 2003-07-14
JP2004182073A JP4748954B2 (ja) 2003-07-14 2004-06-21 液晶表示装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010135678A Division JP2010250341A (ja) 2003-07-14 2010-06-15 液晶表示装置、及び電子機器

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2005049832A JP2005049832A (ja) 2005-02-24
JP2005049832A5 true JP2005049832A5 (ja) 2007-06-21
JP4748954B2 JP4748954B2 (ja) 2011-08-17

Family

ID=34277498

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004182073A Expired - Fee Related JP4748954B2 (ja) 2003-07-14 2004-06-21 液晶表示装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4748954B2 (ja)

Families Citing this family (111)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1998374A3 (en) 2005-09-29 2012-01-18 Semiconductor Energy Laboratory Co, Ltd. Semiconductor device having oxide semiconductor layer and manufacturing method thereof
KR101224377B1 (ko) * 2006-02-17 2013-01-21 삼성디스플레이 주식회사 실리콘층의 형성방법 및 이를 이용한 표시기판의 제조방법
KR101457656B1 (ko) 2007-05-17 2014-11-04 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체장치의 제조방법, 표시장치의 제조방법, 반도체장치,표시장치 및 전자기기
US8803781B2 (en) * 2007-05-18 2014-08-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and display device
JP5364293B2 (ja) 2007-06-01 2013-12-11 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置の作製方法およびプラズマcvd装置
US8207010B2 (en) 2007-06-05 2012-06-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing photoelectric conversion device
JP5331389B2 (ja) 2007-06-15 2013-10-30 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置の作製方法
US8921858B2 (en) 2007-06-29 2014-12-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device
US9176353B2 (en) 2007-06-29 2015-11-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device
US7998800B2 (en) 2007-07-06 2011-08-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device
US7738050B2 (en) 2007-07-06 2010-06-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd Liquid crystal display device
US8334537B2 (en) 2007-07-06 2012-12-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device
TWI456663B (zh) 2007-07-20 2014-10-11 Semiconductor Energy Lab 顯示裝置之製造方法
JP2009049384A (ja) 2007-07-20 2009-03-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置
TWI575293B (zh) 2007-07-20 2017-03-21 半導體能源研究所股份有限公司 液晶顯示裝置
US7897971B2 (en) 2007-07-26 2011-03-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US7633089B2 (en) 2007-07-26 2009-12-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device and electronic device provided with the same
US8786793B2 (en) 2007-07-27 2014-07-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and manufacturing method thereof
US8330887B2 (en) 2007-07-27 2012-12-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device and electronic device
JP5216446B2 (ja) 2007-07-27 2013-06-19 株式会社半導体エネルギー研究所 プラズマcvd装置及び表示装置の作製方法
JP5058084B2 (ja) 2007-07-27 2012-10-24 株式会社半導体エネルギー研究所 光電変換装置の作製方法及びマイクロ波プラズマcvd装置
JP5395382B2 (ja) 2007-08-07 2014-01-22 株式会社半導体エネルギー研究所 トランジスタの作製方法
CN101765917B (zh) 2007-08-07 2012-07-18 株式会社半导体能源研究所 显示器件及具有该显示器件的电子设备及其制造方法
JP2009071289A (ja) 2007-08-17 2009-04-02 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその作製方法
US9054206B2 (en) 2007-08-17 2015-06-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device
US8101444B2 (en) 2007-08-17 2012-01-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device
US7611930B2 (en) 2007-08-17 2009-11-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of manufacturing display device
JP5058909B2 (ja) 2007-08-17 2012-10-24 株式会社半導体エネルギー研究所 プラズマcvd装置及び薄膜トランジスタの作製方法
KR101484297B1 (ko) 2007-08-31 2015-01-19 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시장치 및 표시장치의 제작방법
JP5480480B2 (ja) 2007-09-03 2014-04-23 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP5395384B2 (ja) 2007-09-07 2014-01-22 株式会社半導体エネルギー研究所 薄膜トランジスタの作製方法
US8030147B2 (en) 2007-09-14 2011-10-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing thin film transistor and display device including the thin film transistor
JP5371341B2 (ja) 2007-09-21 2013-12-18 株式会社半導体エネルギー研究所 電気泳動方式の表示装置
US20090090915A1 (en) 2007-10-05 2009-04-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor, display device having thin film transistor, and method for manufacturing the same
KR101455304B1 (ko) 2007-10-05 2014-11-03 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 박막트랜지스터, 및 박막트랜지스터를 가지는 표시장치, 및그들의 제작방법
JP5311957B2 (ja) 2007-10-23 2013-10-09 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置及びその作製方法
JP5311955B2 (ja) 2007-11-01 2013-10-09 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置の作製方法
WO2009060922A1 (en) 2007-11-05 2009-05-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor and display device having the thin film transistor
US8030655B2 (en) 2007-12-03 2011-10-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor, display device having thin film transistor
US8591650B2 (en) 2007-12-03 2013-11-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for forming crystalline semiconductor film, method for manufacturing thin film transistor, and method for manufacturing display device
US8187956B2 (en) 2007-12-03 2012-05-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing microcrystalline semiconductor film, thin film transistor having microcrystalline semiconductor film, and photoelectric conversion device having microcrystalline semiconductor film
TWI481029B (zh) 2007-12-03 2015-04-11 半導體能源研究所股份有限公司 半導體裝置
KR101523353B1 (ko) 2007-12-03 2015-05-27 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 박막트랜지스터 및 반도체 장치
US7910929B2 (en) 2007-12-18 2011-03-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
EP2073255B1 (en) 2007-12-21 2016-08-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Diode and display device comprising the diode
JP5527966B2 (ja) 2007-12-28 2014-06-25 株式会社半導体エネルギー研究所 薄膜トランジスタ
JP5572307B2 (ja) 2007-12-28 2014-08-13 株式会社半導体エネルギー研究所 光電変換装置の製造方法
JP5409024B2 (ja) 2008-02-15 2014-02-05 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
US7786485B2 (en) 2008-02-29 2010-08-31 Semicondutor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin-film transistor and display device
US7812348B2 (en) 2008-02-29 2010-10-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin-film transistor and display device
US7968880B2 (en) 2008-03-01 2011-06-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor and display device
US8247315B2 (en) 2008-03-17 2012-08-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Plasma processing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
JP5411528B2 (ja) 2008-03-18 2014-02-12 株式会社半導体エネルギー研究所 薄膜トランジスタ及び表示装置
US7821012B2 (en) 2008-03-18 2010-10-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor
KR101455317B1 (ko) 2008-04-18 2014-10-27 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 박막 트랜지스터 및 그 제작 방법
US8138032B2 (en) 2008-04-18 2012-03-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing thin film transistor having microcrystalline semiconductor film
JP5416460B2 (ja) 2008-04-18 2014-02-12 株式会社半導体エネルギー研究所 薄膜トランジスタおよび薄膜トランジスタの作製方法
US8053294B2 (en) 2008-04-21 2011-11-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing method of thin film transistor by controlling generation of crystal nuclei of microcrystalline semiconductor film
US8049215B2 (en) 2008-04-25 2011-11-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor
JP5436017B2 (ja) 2008-04-25 2014-03-05 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US7998801B2 (en) 2008-04-25 2011-08-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing method of thin film transistor having altered semiconductor layer
JP5518366B2 (ja) 2008-05-16 2014-06-11 株式会社半導体エネルギー研究所 薄膜トランジスタ
US8039842B2 (en) 2008-05-22 2011-10-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor and display device including thin film transistor
KR101703511B1 (ko) 2008-06-27 2017-02-07 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 박막 트랜지스터
KR101602252B1 (ko) 2008-06-27 2016-03-10 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 박막 트랜지스터, 반도체장치 및 전자기기
US8283667B2 (en) 2008-09-05 2012-10-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor
US8227278B2 (en) 2008-09-05 2012-07-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Methods for manufacturing thin film transistor and display device
US8436353B2 (en) 2008-09-16 2013-05-07 Sharp Kabushiki Kaisha Thin film transistor with recess
EP2421030B1 (en) 2008-09-19 2020-10-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
JP5525224B2 (ja) 2008-09-30 2014-06-18 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
JP5498762B2 (ja) 2008-11-17 2014-05-21 株式会社半導体エネルギー研究所 薄膜トランジスタの作製方法
KR20100067612A (ko) 2008-12-11 2010-06-21 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 박막 트랜지스터 및 표시 장치
JP5590868B2 (ja) 2008-12-11 2014-09-17 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
KR101667622B1 (ko) 2008-12-11 2016-10-28 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 박막 트랜지스터 및 표시 장치
CN103730515B (zh) 2009-03-09 2016-08-17 株式会社半导体能源研究所 半导体器件
JP5888802B2 (ja) 2009-05-28 2016-03-22 株式会社半導体エネルギー研究所 トランジスタを有する装置
US8258025B2 (en) 2009-08-07 2012-09-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing microcrystalline semiconductor film and thin film transistor
US9177761B2 (en) 2009-08-25 2015-11-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Plasma CVD apparatus, method for forming microcrystalline semiconductor film and method for manufacturing semiconductor device
WO2011043194A1 (en) * 2009-10-09 2011-04-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
KR101626054B1 (ko) 2009-10-19 2016-06-01 삼성디스플레이 주식회사 표시 기판, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 표시 장치
JP5698950B2 (ja) 2009-10-23 2015-04-08 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
US8395156B2 (en) 2009-11-24 2013-03-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
TWI535028B (zh) 2009-12-21 2016-05-21 半導體能源研究所股份有限公司 薄膜電晶體
KR101836067B1 (ko) 2009-12-21 2018-03-08 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 박막 트랜지스터와 그 제작 방법
US8598586B2 (en) 2009-12-21 2013-12-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor and manufacturing method thereof
US8299467B2 (en) 2009-12-28 2012-10-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor and fabrication method thereof
US8383434B2 (en) 2010-02-22 2013-02-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor and manufacturing method thereof
JP5709579B2 (ja) * 2010-03-02 2015-04-30 株式会社半導体エネルギー研究所 微結晶半導体膜の作製方法
JP5752447B2 (ja) 2010-03-15 2015-07-22 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP5752446B2 (ja) 2010-03-15 2015-07-22 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
TWI512981B (zh) 2010-04-27 2015-12-11 Semiconductor Energy Lab 微晶半導體膜的製造方法及半導體裝置的製造方法
JP5785770B2 (ja) 2010-05-14 2015-09-30 株式会社半導体エネルギー研究所 微結晶半導体膜の作製方法、及び半導体装置の作製方法
WO2011142443A1 (en) * 2010-05-14 2011-11-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Microcrystalline silicon film, manufacturing method thereof, semiconductor device, and manufacturing method thereof
WO2011155295A1 (en) * 2010-06-10 2011-12-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Dc/dc converter, power supply circuit, and semiconductor device
US8778745B2 (en) 2010-06-29 2014-07-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device
KR20120003374A (ko) 2010-07-02 2012-01-10 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 및 반도체 장치의 제작 방법
KR101830193B1 (ko) 2010-07-02 2018-02-20 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 및 반도체 장치의 제작 방법
US8916425B2 (en) 2010-07-26 2014-12-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for forming microcrystalline semiconductor film and method for manufacturing semiconductor device
CN102386072B (zh) 2010-08-25 2016-05-04 株式会社半导体能源研究所 微晶半导体膜的制造方法及半导体装置的制造方法
US8704230B2 (en) 2010-08-26 2014-04-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US9230826B2 (en) 2010-08-26 2016-01-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Etching method using mixed gas and method for manufacturing semiconductor device
TWI538218B (zh) 2010-09-14 2016-06-11 半導體能源研究所股份有限公司 薄膜電晶體
KR101426515B1 (ko) * 2010-09-15 2014-08-05 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 및 표시 장치
US8338240B2 (en) 2010-10-01 2012-12-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing transistor
JP2012089708A (ja) 2010-10-20 2012-05-10 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 微結晶シリコン膜の作製方法、半導体装置の作製方法
US8450158B2 (en) 2010-11-04 2013-05-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for forming microcrystalline semiconductor film and method for manufacturing semiconductor device
US8394685B2 (en) 2010-12-06 2013-03-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Etching method and manufacturing method of thin film transistor
US9048327B2 (en) 2011-01-25 2015-06-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Microcrystalline semiconductor film, method for manufacturing the same, and method for manufacturing semiconductor device
US8828859B2 (en) 2011-02-11 2014-09-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for forming semiconductor film and method for manufacturing semiconductor device
US9401396B2 (en) 2011-04-19 2016-07-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device and plasma oxidation treatment method
JP5832780B2 (ja) 2011-05-24 2015-12-16 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の製造方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56122123A (en) * 1980-03-03 1981-09-25 Shunpei Yamazaki Semiamorphous semiconductor
JP2588382B2 (ja) * 1981-01-09 1997-03-05 株式会社 半導体エネルギー研究所 絶縁ゲイト型半導体装置
JP2564501B2 (ja) * 1981-10-29 1996-12-18 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JPS57115856A (en) * 1981-01-09 1982-07-19 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Compound semiconductor device
JP3054187B2 (ja) * 1990-11-09 2000-06-19 株式会社半導体エネルギー研究所 絶縁ゲイト型半導体装置の作製方法
JP2997737B2 (ja) * 1990-12-25 2000-01-11 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置
JPH0786604A (ja) * 1993-09-17 1995-03-31 Mitsubishi Electric Corp 薄膜トランジスタ及びその製造方法
JPH10256554A (ja) * 1997-03-13 1998-09-25 Toshiba Corp 薄膜トランジスタ及びその製造方法
JP4397438B2 (ja) * 1997-09-29 2010-01-13 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP2001007342A (ja) * 1999-04-20 2001-01-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその作製方法
JP4112527B2 (ja) * 2003-07-14 2008-07-02 株式会社半導体エネルギー研究所 システムオンパネル型の発光装置の作製方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2005049832A5 (ja)
JP4748954B2 (ja) 液晶表示装置
JP4076648B2 (ja) 半導体装置
JP5292451B2 (ja) 半導体表示装置
US6524895B2 (en) Semiconductor device and method of fabricating the same
JP4531175B2 (ja) 半導体装置の作製方法
JP5300498B2 (ja) 表示装置
JP4393812B2 (ja) 表示装置及び電子機器
JP5288666B2 (ja) 表示装置
JP2001036019A (ja) コンデンサ及び半導体装置並びにそれらの作製方法
JP4641582B2 (ja) 半導体装置の作製方法
JP4578609B2 (ja) 電気光学装置
JP2005051211A5 (ja)
JP2000349298A (ja) 電気光学装置およびその作製方法
JP2000199886A5 (ja) 液晶表示装置、携帯情報端末、ビデオカメラ、コンピュータ、ヘッドマウントディスプレイ、ディスプレイ、プレーヤー及びデジタルカメラ
JP5051942B2 (ja) 半導体装置
US7808566B2 (en) Active matrix display device and electronic appliance using the same
JP4558121B2 (ja) 半導体装置及びその作製方法
JP2001013524A5 (ja)
JP4869464B2 (ja) 半導体装置およびその作製方法
JP2001094115A (ja) 半導体装置及びその作製方法
JP4850763B2 (ja) 半導体装置の作製方法
JP4298768B2 (ja) 半導体装置
JP4641586B2 (ja) 半導体装置の作製方法
JP4160072B2 (ja) 半導体装置の作製方法