JP2003068983A - 電気的にプログラム可能な抵抗特性を有する、クロストークが低いクロスポイントメモリ - Google Patents
電気的にプログラム可能な抵抗特性を有する、クロストークが低いクロスポイントメモリInfo
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Abstract
するクロスポイントメモリ構造を提供すること。 【解決手段】 本発明によるメモリ構造は、a)基板
と、b)上記基板上に設けられた複数の下部電極と、
c)上記下部電極上に設けられた複数の上部電極であっ
て、上記上部電極は、上記下部電極と交差し、交差する
それぞれの位置にクロスポイントを形成する、上部電極
と、d)各クロスポイントにおける上記複数の上部電極
と上記複数の下部電極との間に配置されたアクティブ層
であるペロブスカイト材料と、を含む。
Description
関し、さらに詳細には、電気的パルスで誘起される磁気
抵抗膜の抵抗変化効果を利用するクロスポイント構造に
関する。
て、それらのうち巨大磁気抵抗(CMR)材料および高
温超伝導(HTSC)材料は、外部影響により変更され
得る電気的な抵抗特性を有する材料である。
(特にCMR材料およびHTSC材料)の特性は、薄膜
またはバルク材料に1つ以上の電気的なショートパルス
を印加することにより変更され得る。単数または複数の
パルスからの電場の強さまたは電流密度は、材料の物理
的状態を切り換えるのに十分であり、これにより材料の
特性を変更させる。パルスは、材料を破壊しないか、ま
たはひどいダメージを与えない程度の十分低いエネルギ
ーである。複数のパルスは、材料の特性のインクリメン
トな変化を生成するようにその材料に印加され得る。変
化され得る特性の1つは、材料の抵抗である。その変化
は、初期の変化を誘導するように使用されるパルスと反
対の極性を有するパルスを用いると、少なくとも部分的
に反転可能となり得る。
クが低い、電気的な抵抗特性を有するクロスポイントメ
モリ構造を提供することを目的とする。
は、a)基板と、b)上記基板上に設けられた複数の下
部電極と、c)上記下部電極上に設けられた複数の上部
電極であって、上記上部電極は、上記下部電極と交差
し、交差するそれぞれの位置にクロスポイントを形成す
る、上部電極と、d)各クロスポイントにおける上記複
数の上部電極と上記複数の下部電極との間に配置された
アクティブ層であるペロブスカイト材料と、を含み、こ
れにより上記目的が達成される。
れた上記ペロブスカイト材料をエピタキシャル形成する
ことを可能にする下部電極材料を含んでもよい。
い。
い。
料であってもよい。
3(PCMO)であってよい。
O5+5であってもよい。
a)半導体基板を提供する工程と、b)複数の下部電極
を形成する工程と、c)上記下部電極上に絶縁材料を堆
積する工程と、d)上記下部電極についての開口部をエ
ッチングする工程と、e)上記下部電極および上記絶縁
材料の上にペロブスカイト材料の層を堆積する工程と、
f)上記ペロブスカイト材料の層を研磨し、これにより
上記ペロブスカイト材料を上記開口部に残し、抵抗性ビ
ットを形成する工程と、g)上記ペロブスカイト材料の
層上に複数の上部電極を形成する工程と、を包含し、こ
れにより上記目的が達成される。
ロブスカイト材料の層をエピタキシャル形成することを
可能にする下部電極材料を含んでもよい。
よい。
(CMR)材料であってもよい。
MnO3(PCMO)であってもよい。
BaCo2O5+5であってもよい。
化学的機械的研磨法を包含してもよい。
れによりクロスポイントメモリ構成を形成してもよい。
程の前に、メモリ回路を形成する工程をさらに包含して
もよい。
続されたビットパストランジスタおよび上記インバータ
の入力と接地との間に接続されたロードトランジスタを
含んでもよい。
トランジスタであり、上記ロードトランジスタがnチャ
ネルトランジスタであってもよい。
と、下部電極上の複数の上部電極とを含み、クロスポイ
ントメモリ構造を形成するメモリ構造が提供される。各
クロスポイントに配置されたペロブスカイト材料は、上
部電極と下部電極との間に配置される。ここで、ペロブ
スカイト材料は、1ビットとして機能する。各ビット
は、メモリ回路内の可変抵抗として機能し得る。
も1つの下部電極を形成するように、基板に導電材料を
堆積し、パターニングすることにより形成される。二酸
化シリコン等の絶縁材料の層は、基板および少なくとも
1つの下部電極上に堆積される。少なくとも1つの接続
開口部は、絶縁材料を通って絶縁材料の下にある下部電
極までエッチングされる。ペロブスカイト材料の層は、
下部電極および絶縁材料に堆積される。ペロブスカイト
材料は絶縁材料の表面から研磨され、その結果、ペロブ
スカイト材料は接続開口部内に残存する。少なくとも1
つの上部電極は、クロスポイントを形成するペロブスカ
イト材料の位置で下部電極に交差するように形成され
る。
上に形成され得る。メモリ回路は、プログラミングおよ
びメモリ構造の読み出しを支援する。メモリ構造の形成
前にメモリ回路を形成することは、メモリ構造の形成に
続くさらなる次の処理によるペロブスカイト材料へのダ
メージを減少させる。
リアレイを形成する方法が提供される。図1は、いくつ
かの初期処理の後のクロスポイントメモリアレイ領域1
0の断面図を示す。メモリアレイ領域10は、基板12
上に形成された下部電極14を備える基板12を含む。
約300nm〜約800nmの酸化物16層は、基板上
に堆積され、平坦化され、エッチングされ、開口部15
が下部電極にアクセス可能なように形成される。下部電
極上の酸化物層の厚みは、材料および所望の抵抗に依存
して、50nm〜600nmである。
または他の材料等のアモルファス、多結晶または結晶の
いずれかである任意の適切な基板材料である。
導電材料で作製される。好適な実施態において、導電材
料は、導電材料上へのペロブスカイト材料のエピタキシ
ャル成長を可能とするYBa2Cu3O7(YBCO)等
の材料である。別の好適な実施形態において、導電材料
はプラチナである。下部電極は、約5nm〜約500n
mの間の範囲の厚みである。図示されるように、下部電
極は、初めに溝を形成することなく、および研磨なしに
堆積され、パターニングされる。
ト材料17の層は、酸化物16の上に堆積され、開口部
15を満たす。ペロブスカイト材料17は、電気信号に
応答して、その抵抗率を変化させ得る材料である。ペロ
ブスカイト材料は、好適には、巨大磁気抵抗(CMR)
材料または高温超伝導(HTSC)材料(例えば、Pr
0.7Ca0.3MnO3(PCMO))である。適切な材料
の別の例は、Gd0.7Ca0.3BaCo2O5+5である。ペ
ロブスカイト材料の厚みは、好適には、約50nm〜約
500nmである。ペロブスカイト材料17は、パルス
レーザー堆積、rfスパッタリング、電子ビーム蒸着、
熱蒸着、有機金属堆積、ゾルゲル堆積、および有機金属
化学気相成長法等の任意の適切な堆積技術を用いて堆積
され得る。
理後のメモリアレイ領域10を示す。ペロブスカイト材
料は、好適には、CMPを用いて研磨される。
ングした後のメモリアレイ領域10を示す。上部電極1
8は、好適には、プラチナ、銅、銀、または金等の導電
材料を含む。下部電極14と上部電極18の1つとの間
に、ここで配置されるペロブスカイト材料は、抵抗メモ
リビット22である。
10を示す。メモリアレイ領域10は、基板上に形成さ
れた複数の下部電極14を備えた基板12を含む。別の
実施形態を図示するために、複数の下部電極14は、溝
を形成し、導電材料を堆積し、基板と同じ高さまで導電
材料を研磨することにより形成される。研磨工程は、化
学機械的研磨法(CMP)または他の適切な手段を用い
て達成され得る。酸化物16の層は、複数の下部電極1
4上に堆積される。複数の上部電極18は、各メモリビ
ット22が下部電極14と上部電極18との間に配置さ
れるように、酸化物16の層、およびペロブスカイト材
料17上に設けられる。
領域20は、例示目的のためだけに、その領域が透明で
あるものとして示すために用いられており、上記材料自
体は、透明であってもよいし、あるいは透明でなくとも
よい。各ビット領域は、クロスポイントに対応する。酸
化物16は、ビット22と連続している。酸化物は、絶
縁材料として振る舞い、ビット間のクロストークを減少
させるか、または消去する。説明を容易にするために、
酸化物が示されるが、代わりに、他の適切な絶縁材料を
用いることも可能である。ビット22は、少なくとも2
つの抵抗値間の間で変化され得る可変抵抗として振る舞
う。ビット22の抵抗の変化は、好適には可逆的であ
る。抵抗率変化の可逆性は、いくつかのヒステリシスを
組み込み得る。一度書き読み出し専用(WORM)等の
いくつかの用途については、抵抗変化えは全く可逆であ
る必要はない。
面積を有し、YBCOが60nmの厚みを備えたビット
22を形成するように用いられる場合、高い抵抗状態
は、約170MΩであり、低い抵抗状態は、約10MΩ
である。低電圧メモリデバイスについて、ビット22が
1ボルトにバイアスされる場合、ビットを流れる電流
は、高い抵抗状態に対して約6nAであり、低い抵抗状
態に対して約100nAである。この実施例は、例示目
的のみに提供される。抵抗値は、ビットの厚み、材料お
よび断面積に依存して、変化する。ビットに印加される
電圧は、ビットを通る電流にさらに影響する。
れ、好適には、実質的に並行な行である。上部電極18
および下部電極14は、規則的なパターンで互いに交差
するようにクロスポイント配置に配列される。クロスポ
イントは、上部電極が下部電極と交差するそれぞれの位
置を示す。示されるように、上部電極および下部電極
は、互いに実質的に90°で配列される。上部電極およ
び下部電極はそれぞれ、クロスポイントメモリアレイの
一部としてのワード線またはビット線のどちらかとして
機能し得る。
実際のデバイスにおいて、基板12、下部電極14およ
び上部電極18が、メモリアレイ領域を越えて、他のデ
バイス構造を含む他の領域にまで拡大し得ることは、明
らかである。
に接続されたメモリアレイ領域10を含むメモリデバイ
ス30が示される。メモリ回路32は、少なくとも1つ
のロードトランジスタ36および少なくとも1つのイン
バータ38に接続された少なくとも1つのビットパスト
ランジスタ34を含む。これらの構造は、個別の半導体
素子の形成が周知であるので、模式的に示される。
な実施形態において、メモリ回路32のトランジスタ構
造、相互接続またはメモリ回路32の他の構成要素のう
ち1つ以上は、メモリアレイ領域10の形成前に形成さ
れ得る。メモリアレイ領域10を形成する前にメモリ回
路32の構成要素を形成することによって、次の処理に
よるぺロブスカイト材料の劣化可能性は、減少される
か、または無くなる。
のメモリブロック30の模式図である。メモリブロック
30は、メモリ回路32に接続されたメモリアレイ領域
10を含む。この模式図において、各ビットは、ビット
線B1〜B4としても示される下側電極14とワード線
W1〜W4としても示される上側電極18との間で接続
されたビット抵抗器52として示される。あるいは、下
側電極は、ワード線であり得、上側電極はビット線であ
り得る。ビット線は、メモリ回路32に接続される。示
されるように、下側電極は、ビット線であり、下側電極
は、メモリ回路32に接続される。
て、高い抵抗状態および低い抵抗状態を含む少なくとも
2つの値の間で変化され得る抵抗を有する。
ット線それぞれは、ビットパストランジスタ34に接続
される。ビットパストランジスタ34は、ビットパスゲ
ート64を有する。ビットパスゲート64は、どのビッ
トがプログラミングされているか、または読み出されて
いるかを判定するように機能する。ビットパストランジ
スタは、ロードゲート66を有するロードトランジスタ
36とインバータ38とに接続される。ロードトランジ
スタは、どのメモリブロックがプログラミングされてい
るか、または読み出されているかを判定するように用い
られる。インバータは、ロードトランジスタと組み合わ
せて、2つの電圧レベルの間の出力を設定するように用
いられ、その結果、バイナリ状態が読み出され得る。
それはプログラミングされ、読み出され得る。全てのビ
ット抵抗器52を、詳細には、1本のワード線に沿う全
てのビット抵抗器52を、高い抵抗または低い抵抗と同
じレベルに設定することもまた、望まれ得る。これは、
ワード消去またはブロック消去を生成するように用いら
れ得る。例えば、nチャネルトランジスタがパストラン
ジスタおよびロードトランジスタについて用いられる場
合、負の電圧、または複数の負の電圧パルスをワード線
(例えば、W1)にかけて、メモリブロック30のビッ
トパスゲート64およびロードトランジスタゲート66
を接地することにより、ワード線のクロスポイントの全
てのビット抵抗器52を、同じ抵抗状態(高い抵抗また
は低い抵抗のいずれか)に設定する。ビットパスゲート
およびロードゲートが、電流がビットを通って流れ得る
ように、適切にバイアスされる場合、ワード線の正の電
圧を用いることも可能である。
ジスタは、ビットパストランジスタおよびロードトラン
ジスタとして用いられ得る。この場合、正の電圧がワー
ド線に印加される一方で、ビットパスゲートおよびロー
ドゲートを接地する。負の電圧が、電流がビットを通っ
て流れ得るように、ビットパスゲートおよびロードゲー
トに十分に印加される場合、負の電圧パルスが用いられ
得る。
は、好適には、ペロブスカイト材料に損傷を与えないよ
うなレベルである。好適には、ワード線のクロスポイン
トの全てのビット抵抗器52は、高い抵抗レベルに設定
される。1つのパルスがビット領域の抵抗率を変えるの
に十分でない場合、ペロブスカイト材料が損傷を受ける
レベルより低いレベルの複数の電圧パルスは、ビット領
域の抵抗率の変化に影響するように用いられ得る。残り
のワード線に上記プロセスを繰り返すことによって、メ
モリブロック全体が同じ状態に設定され得る。
1のオン電圧を印加し、ロードゲート66に第2のオン
電圧を印加し、少なくとも1つのプログラミング電圧パ
ルスをワード線に与えることによって、プログラミング
され得る。ワード線に与えられた電圧パルスは、ワード
消去またはブロック消去に対して用いられる極性と逆の
極性であり、ビット抵抗器52の抵抗率を逆の抵抗状態
に変化させる。nチャネルトランジスタは、1実施形態
において上述されたように用いられる場合、プログラミ
ングパルスが正となり、ビット抵抗器52の抵抗は、好
適には、高い抵抗状態から低い抵抗状態に変化される。
スゲート64および任意の選択されていないメモリブロ
ック30のロードトランジスタゲート66が接地に接続
される。ワード線およびビット線のクロスポイントの任
意の電圧は、非常に微小であり、その結果、抵抗におけ
る著しい変化は選択されていないビットで生じない。
ート、ならびにロードゲートに加えられた極性および電
圧は、メモリ回路の所望の振る舞いを得るために、nチ
ャネルトランジスタが用いられるか、またはpチャネル
トランジスタが用いられるかに依存して、選択され得
る。
ードゲート66に印加される。ロード電圧は、ロードト
ランジスタ36の閾値電圧よりも小さい。さらに、この
ロード電圧におけるロードトランジスタ36の飽和電流
は、ロードトランジスタ36が高い抵抗レベルにある場
合、ビット抵抗器52を通る電流フローよりも大きい。
しかし、このロード電圧におけるロードトランジスタ3
6の飽和電流は、ロードトランジスタ36が低い抵抗レ
ベルにある場合、ビット抵抗器52を通る電流フローよ
りも低い。ビットパスゲート64は、電流がビットパス
トランジスタ34を流れ得るために十分な電圧(例え
ば、VCC)に維持される。読み出し電圧は、ワード線に
印加される。ワード線に印加される電圧は、好適には、
ビット抵抗器52の抵抗率を変えるのに必要な限界電圧
よりも低い電圧のパルスである。
合、ビット抵抗器52を通る電流フローは、ロードトラ
ンジスタ36の飽和電流よりも小さい。次いで、ビット
線の電圧は、インバータ38の入力でのnチャネルトラ
ンジスタの閾値電圧より低い。次いで、インバータの出
力電圧は、電源電圧にほぼ等しい。
合、大きな電流はビット抵抗器を通って流れる傾向にあ
る。この大きな電流はロードトランジスタの飽和電流よ
りも大きい。ビット線の電圧は、インバータ38の入力
でのnチャネルトランジスタの閾値電圧より大きい。次
いで、インバータの出力電圧は、接地に対応する約0ボ
ルトに等しい。
流が6nA〜100nAであることが期待される。ロー
ドトランジスタのロードゲートで印加されるバイアス電
圧は、ロードトランジスタの飽和電流が6nA〜100
nA(例えば、50nA)であるように選択される必要
がある。ビットの抵抗が、ビットを通る電流が50nA
未満であるのに十分高くある場合、電流は、ロードトラ
ンジスタを通って流れず、インバータの出力は動作電圧
(例えば、VCC)に至る。ビットの抵抗が、50nAよ
り大きい電流がビットを通って流れるように低い場合、
電流は、ロードトランジスタを通って流れ、インバータ
の出力が約0ボルト、または接地に至る。ビットが0ボ
ルトに対応する高い抵抗にあり、ビットが動作電圧に対
応する低い抵抗にあることが所望である場合、さらなる
インバータがインバータの出力に追加され得る。
述されてきたが、本発明の適用範囲は、これらの特定の
実施形態に限定されない。むしろ、特許請求の範囲が本
発明の範囲を決定する。
メモリデバイスが、その製造方法および使用方法と共に
提供される。メモリデバイスは、上側電極と下側電極と
のクロスポイントに配置されるペロブスカイト材料を用
いて形成されるビットを含む。各ビットは、1つ以上の
電圧パルスの付与に応答して、抵抗率の範囲を変え得る
抵抗特性を有する。電圧パルスは、ビットの抵抗率を増
加させ、ビットの抵抗率を減少させるように用いられ得
るか、またはビットの抵抗率を判定し得る。プログラミ
ングを支援し、ビット領域から読み出すメモリ回路が提
供される。
電気的な抵抗特性を有するクロスポイントメモリ構造を
提供することができる。
断面図である。
断面図である。
断面図である。
断面図である。
角投影図である。
続されるメモリ読み出し回路の模式図である。
メモリデバイスの模式図である。
Claims (20)
- 【請求項1】 a)基板と、 b)該基板上に設けられた複数の下部電極と、 c)該下部電極上に設けられた複数の上部電極であっ
て、該上部電極は、該下部電極と交差し、交差するそれ
ぞれの位置にクロスポイントを形成する、上部電極と、 d)各クロスポイントにおける該複数の上部電極と該複
数の下部電極との間に配置されたアクティブ層であるペ
ロブスカイト材料と、を含む、メモリ構造。 - 【請求項2】 前記下部電極は、該下部電極上に設けら
れた該ペロブスカイト材料をエピタキシャル形成するこ
とを可能にする下部電極材料を含む、請求項1に記載の
メモリ構造。 - 【請求項3】 前記下部電極材料はYBCOである、請
求項2に記載のメモリ構造。 - 【請求項4】 前記下部電極はプラチナを含む、請求項
1に記載のメモリ構造。 - 【請求項5】 アクティブ層が巨大磁気抵抗(CMR)
材料である、請求項1に記載のメモリ構造。 - 【請求項6】 アクティブ層がPr0.7Ca0.3MnO3
(PCMO)である、請求項1に記載のメモリ構造。 - 【請求項7】 アクティブ層がGd0.7Ca0.3BaCo
2O5+5である、請求項1に記載のメモリ構造。 - 【請求項8】 メモリ構造を製造する方法であって、該
方法は、 a)半導体基板を提供する工程と、 b)複数の下部電極を形成する工程と、 c)該下部電極上に絶縁材料を堆積する工程と、 d)該下部電極についての開口部をエッチングする工程
と、 e)該下部電極および該絶縁材料の上にペロブスカイト
材料の層を堆積する工程と、 f)該ペロブスカイト材料の層を研磨し、これにより該
ペロブスカイト材料を該開口部に残し、抵抗性ビットを
形成する工程と、 g)該ペロブスカイト材料の層上に複数の上部電極を形
成する工程と、を包含する、方法。 - 【請求項9】 前記下部電極は、該下部電極上の該ペロ
ブスカイト材料の層をエピタキシャル形成することを可
能にする下部電極材料を含む、請求項8に記載の方法。 - 【請求項10】 前記下部電極材料はYBCOである、
請求項9に記載の方法。 - 【請求項11】 前記下部電極はプラチナを含む、請求
項8に記載の方法。 - 【請求項12】 前記絶縁材料は二酸化シリコンであ
る、請求項8に記載の方法。 - 【請求項13】 前記ペロブスカイト材料が巨大磁気抵
抗(CMR)材料である、請求項8に記載の方法。 - 【請求項14】 前記ペロブスカイト材料がPr0.7C
a0.3MnO3(PCMO)である、請求項8に記載の方
法。 - 【請求項15】 前記ペロブスカイト材料がGd0.7C
a0.3BaCo2O5+5である、請求項8に記載の方法。 - 【請求項16】 前記ペロブスカイト材料を研磨する工
程が化学的機械的研磨法を包含する、請求項8に記載の
方法。 - 【請求項17】 前記上部電極を前記下部電極上に設
け、これによりクロスポイントメモリ構成を形成する、
請求項8に記載の方法。 - 【請求項18】 前記ペロブスカイト材料の層を堆積す
る工程の前に、メモリ回路を形成する工程をさらに包含
する、請求項8に記載の方法。 - 【請求項19】 前記メモリ回路は、インバータの入力
に接続されたビットパストランジスタおよび該インバー
タの入力と接地との間に接続されたロードトランジスタ
を含む、請求項18に記載の方法。 - 【請求項20】 前記ビットパストランジスタがnチャ
ネルトランジスタであり、前記ロードトランジスタがn
チャネルトランジスタである、請求項19に記載の方
法。
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Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004311969A (ja) * | 2003-03-17 | 2004-11-04 | Sharp Corp | ナノスケール抵抗クロスポイント型メモリアレイおよびデバイスを製造する方法 |
JP2005064502A (ja) * | 2003-08-13 | 2005-03-10 | Sharp Corp | RRAM用途のスピンコーティングされたPr1−xCaxMnO3薄膜の高温アニーリング |
JP2005109446A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Sharp Corp | Rramに応用するための単一マスクpt/pcmo/ptスタックのエッチングプロセス |
JP2005159359A (ja) * | 2003-11-24 | 2005-06-16 | Sharp Corp | 3drram |
JP2005203759A (ja) * | 2004-01-15 | 2005-07-28 | Sharp Corp | Pcmoスピンコート堆積 |
JP2005203733A (ja) * | 2004-01-12 | 2005-07-28 | Sharp Corp | バッファ化層メモリセル |
WO2005086250A1 (ja) * | 2004-03-05 | 2005-09-15 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | トンネルジャンクション素子 |
JP2006107700A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-20 | Sharp Corp | 相補出力型抵抗性メモリセル |
JP2006319264A (ja) * | 2005-05-16 | 2006-11-24 | Sony Corp | 記憶素子の製造方法、記憶装置の製造方法 |
WO2007007608A1 (ja) * | 2005-07-12 | 2007-01-18 | Sharp Kabushiki Kaisha | 半導体記憶装置及びその製造方法 |
JP2007027499A (ja) * | 2005-07-19 | 2007-02-01 | Sony Corp | 記憶素子及び記憶装置 |
JP2007042784A (ja) * | 2005-08-02 | 2007-02-15 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 金属酸化物素子及びその製造方法 |
JP2007514265A (ja) * | 2003-12-26 | 2007-05-31 | 松下電器産業株式会社 | 記憶素子、メモリ回路、半導体集積回路 |
WO2007102212A1 (ja) * | 2006-03-08 | 2007-09-13 | Fujitsu Limited | 抵抗変化型記憶素子の製造方法 |
WO2007105284A1 (ja) * | 2006-03-13 | 2007-09-20 | Fujitsu Limited | 抵抗変化型記憶素子および抵抗変化型記憶素子の製造方法 |
US7276175B2 (en) | 2004-02-25 | 2007-10-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor device fabrication method |
US7348653B2 (en) | 2005-04-19 | 2008-03-25 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Resistive memory cell, method for forming the same and resistive memory array using the same |
US7473612B2 (en) | 2004-09-14 | 2009-01-06 | Panasonic Corporation | Method for fabricating a variable-resistance element including heating a RMCoO3 perovskite structure in an oxygen atmosphere |
US7879626B2 (en) | 2004-11-17 | 2011-02-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Structure and manufacturing method of semiconductor memory device |
US8116113B2 (en) | 2009-01-21 | 2012-02-14 | Sony Corporation | Cross-point semiconductor memory device and method of manufacturing the same |
JP2012084765A (ja) * | 2010-10-14 | 2012-04-26 | Sony Corp | 不揮発性メモリ素子及びその製造方法 |
US8268713B2 (en) | 2009-09-04 | 2012-09-18 | Sony Corporation | Method of manufacturing nonvolatile memory device |
US8462539B2 (en) | 2009-02-20 | 2013-06-11 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Resistive memory element and use thereof |
US8542520B2 (en) | 2009-02-20 | 2013-09-24 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Resistive memory element and use thereof |
JP2017010604A (ja) * | 2015-06-18 | 2017-01-12 | イーエム・ミクロエレクトロニク−マリン・エス アー | メモリ回路 |
Families Citing this family (103)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6759249B2 (en) * | 2002-02-07 | 2004-07-06 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Device and method for reversible resistance change induced by electric pulses in non-crystalline perovskite unipolar programmable memory |
US6778421B2 (en) * | 2002-03-14 | 2004-08-17 | Hewlett-Packard Development Company, Lp. | Memory device array having a pair of magnetic bits sharing a common conductor line |
US6798685B2 (en) * | 2002-08-02 | 2004-09-28 | Unity Semiconductor Corporation | Multi-output multiplexor |
US6753561B1 (en) | 2002-08-02 | 2004-06-22 | Unity Semiconductor Corporation | Cross point memory array using multiple thin films |
US6850455B2 (en) * | 2002-08-02 | 2005-02-01 | Unity Semiconductor Corporation | Multiplexor having a reference voltage on unselected lines |
US6917539B2 (en) * | 2002-08-02 | 2005-07-12 | Unity Semiconductor Corporation | High-density NVRAM |
US6970375B2 (en) * | 2002-08-02 | 2005-11-29 | Unity Semiconductor Corporation | Providing a reference voltage to a cross point memory array |
US7042035B2 (en) * | 2002-08-02 | 2006-05-09 | Unity Semiconductor Corporation | Memory array with high temperature wiring |
US7186569B2 (en) * | 2002-08-02 | 2007-03-06 | Unity Semiconductor Corporation | Conductive memory stack with sidewall |
US7326979B2 (en) * | 2002-08-02 | 2008-02-05 | Unity Semiconductor Corporation | Resistive memory device with a treated interface |
US6831854B2 (en) * | 2002-08-02 | 2004-12-14 | Unity Semiconductor Corporation | Cross point memory array using distinct voltages |
US6834008B2 (en) * | 2002-08-02 | 2004-12-21 | Unity Semiconductor Corporation | Cross point memory array using multiple modes of operation |
US6850429B2 (en) * | 2002-08-02 | 2005-02-01 | Unity Semiconductor Corporation | Cross point memory array with memory plugs exhibiting a characteristic hysteresis |
US7129531B2 (en) * | 2002-08-08 | 2006-10-31 | Ovonyx, Inc. | Programmable resistance memory element with titanium rich adhesion layer |
US6847047B2 (en) * | 2002-11-04 | 2005-01-25 | Advanced Micro Devices, Inc. | Methods that facilitate control of memory arrays utilizing zener diode-like devices |
JP4509467B2 (ja) * | 2002-11-08 | 2010-07-21 | シャープ株式会社 | 不揮発可変抵抗素子、及び記憶装置 |
JP4167513B2 (ja) * | 2003-03-06 | 2008-10-15 | シャープ株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2004273656A (ja) * | 2003-03-07 | 2004-09-30 | Taiyo Yuden Co Ltd | Epir素子及びそれを利用した半導体装置 |
US7063984B2 (en) * | 2003-03-13 | 2006-06-20 | Unity Semiconductor Corporation | Low temperature deposition of complex metal oxides (CMO) memory materials for non-volatile memory integrated circuits |
JP2005032401A (ja) * | 2003-06-17 | 2005-02-03 | Sharp Corp | 不揮発性半導体記憶装置及びその書き込み方法と消去方法 |
US20050041467A1 (en) * | 2003-06-18 | 2005-02-24 | Macronix International Co., Ltd. | Chalcogenide memory |
US7106120B1 (en) | 2003-07-22 | 2006-09-12 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | PCMO resistor trimmer |
US6962648B2 (en) * | 2003-09-15 | 2005-11-08 | Global Silicon Net Corp. | Back-biased face target sputtering |
US7881133B2 (en) | 2003-11-11 | 2011-02-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of managing a flash memory and the flash memory |
DE10355561A1 (de) * | 2003-11-28 | 2005-06-30 | Infineon Technologies Ag | Halbleiteranordnung mit nichtflüchtigen Speichern |
US7082052B2 (en) | 2004-02-06 | 2006-07-25 | Unity Semiconductor Corporation | Multi-resistive state element with reactive metal |
US20060171200A1 (en) * | 2004-02-06 | 2006-08-03 | Unity Semiconductor Corporation | Memory using mixed valence conductive oxides |
JP4460363B2 (ja) * | 2004-06-08 | 2010-05-12 | シャープ株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
JP4377751B2 (ja) * | 2004-06-10 | 2009-12-02 | シャープ株式会社 | クロスポイント構造の半導体記憶装置及びその製造方法 |
US7084691B2 (en) * | 2004-07-21 | 2006-08-01 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Mono-polarity switchable PCMO resistor trimmer |
US20060068099A1 (en) * | 2004-09-30 | 2006-03-30 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Grading PrxCa1-xMnO3 thin films by metalorganic chemical vapor deposition |
US20060081467A1 (en) * | 2004-10-15 | 2006-04-20 | Makoto Nagashima | Systems and methods for magnetron deposition |
US20060081466A1 (en) * | 2004-10-15 | 2006-04-20 | Makoto Nagashima | High uniformity 1-D multiple magnet magnetron source |
US7425504B2 (en) * | 2004-10-15 | 2008-09-16 | 4D-S Pty Ltd. | Systems and methods for plasma etching |
JP4829502B2 (ja) * | 2005-01-11 | 2011-12-07 | シャープ株式会社 | 半導体記憶装置の製造方法 |
US8137333B2 (en) | 2005-10-25 | 2012-03-20 | Voyage Medical, Inc. | Delivery of biological compounds to ischemic and/or infarcted tissue |
US10064540B2 (en) | 2005-02-02 | 2018-09-04 | Intuitive Surgical Operations, Inc. | Visualization apparatus for transseptal access |
US9510732B2 (en) | 2005-10-25 | 2016-12-06 | Intuitive Surgical Operations, Inc. | Methods and apparatus for efficient purging |
US8078266B2 (en) | 2005-10-25 | 2011-12-13 | Voyage Medical, Inc. | Flow reduction hood systems |
US20080015569A1 (en) | 2005-02-02 | 2008-01-17 | Voyage Medical, Inc. | Methods and apparatus for treatment of atrial fibrillation |
US11478152B2 (en) | 2005-02-02 | 2022-10-25 | Intuitive Surgical Operations, Inc. | Electrophysiology mapping and visualization system |
JP2006229227A (ja) * | 2005-02-14 | 2006-08-31 | Samsung Electronics Co Ltd | 抵抗変化型メモリ素子 |
US20130082232A1 (en) | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Unity Semiconductor Corporation | Multi Layered Conductive Metal Oxide Structures And Methods For Facilitating Enhanced Performance Characteristics Of Two Terminal Memory Cells |
US8270193B2 (en) | 2010-01-29 | 2012-09-18 | Unity Semiconductor Corporation | Local bit lines and methods of selecting the same to access memory elements in cross-point arrays |
US8937292B2 (en) | 2011-08-15 | 2015-01-20 | Unity Semiconductor Corporation | Vertical cross point arrays for ultra high density memory applications |
US8565003B2 (en) | 2011-06-28 | 2013-10-22 | Unity Semiconductor Corporation | Multilayer cross-point memory array having reduced disturb susceptibility |
US8559209B2 (en) | 2011-06-10 | 2013-10-15 | Unity Semiconductor Corporation | Array voltage regulating technique to enable data operations on large cross-point memory arrays with resistive memory elements |
US7323349B2 (en) * | 2005-05-02 | 2008-01-29 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Self-aligned cross point resistor memory array |
US20070084717A1 (en) * | 2005-10-16 | 2007-04-19 | Makoto Nagashima | Back-biased face target sputtering based high density non-volatile caching data storage |
US20070084716A1 (en) * | 2005-10-16 | 2007-04-19 | Makoto Nagashima | Back-biased face target sputtering based high density non-volatile data storage |
US8221310B2 (en) | 2005-10-25 | 2012-07-17 | Voyage Medical, Inc. | Tissue visualization device and method variations |
JP4231502B2 (ja) * | 2005-11-02 | 2009-03-04 | シャープ株式会社 | クロスポイント構造の半導体記憶装置 |
US7236389B2 (en) * | 2005-11-17 | 2007-06-26 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Cross-point RRAM memory array having low bit line crosstalk |
US20070205096A1 (en) * | 2006-03-06 | 2007-09-06 | Makoto Nagashima | Magnetron based wafer processing |
US8395199B2 (en) * | 2006-03-25 | 2013-03-12 | 4D-S Pty Ltd. | Systems and methods for fabricating self-aligned memory cell |
US8183554B2 (en) * | 2006-04-03 | 2012-05-22 | Blaise Laurent Mouttet | Symmetrical programmable memresistor crossbar structure |
US9965251B2 (en) * | 2006-04-03 | 2018-05-08 | Blaise Laurent Mouttet | Crossbar arithmetic and summation processor |
US20070233761A1 (en) * | 2006-04-03 | 2007-10-04 | Mouttet Blaise L | Crossbar arithmetic processor |
US7576565B2 (en) * | 2006-04-03 | 2009-08-18 | Blaise Laurent Mouttet | Crossbar waveform driver circuit |
US20070231972A1 (en) * | 2006-04-03 | 2007-10-04 | Mouttet Blaise L | Manufacture of programmable crossbar signal processor |
US7302513B2 (en) * | 2006-04-03 | 2007-11-27 | Blaise Laurent Mouttet | Programmable crossbar signal processor |
US7763552B2 (en) * | 2006-04-28 | 2010-07-27 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method of interconnect formation using focused beams |
US9055906B2 (en) | 2006-06-14 | 2015-06-16 | Intuitive Surgical Operations, Inc. | In-vivo visualization systems |
US20080011603A1 (en) * | 2006-07-14 | 2008-01-17 | Makoto Nagashima | Ultra high vacuum deposition of PCMO material |
US8454810B2 (en) * | 2006-07-14 | 2013-06-04 | 4D-S Pty Ltd. | Dual hexagonal shaped plasma source |
US7932548B2 (en) | 2006-07-14 | 2011-04-26 | 4D-S Pty Ltd. | Systems and methods for fabricating self-aligned memory cell |
KR100755409B1 (ko) * | 2006-08-28 | 2007-09-04 | 삼성전자주식회사 | 저항 메모리 소자의 프로그래밍 방법 |
US10004388B2 (en) | 2006-09-01 | 2018-06-26 | Intuitive Surgical Operations, Inc. | Coronary sinus cannulation |
US20080097476A1 (en) | 2006-09-01 | 2008-04-24 | Voyage Medical, Inc. | Precision control systems for tissue visualization and manipulation assemblies |
JP2010502313A (ja) | 2006-09-01 | 2010-01-28 | ボエッジ メディカル, インコーポレイテッド | 心房細動の治療のための方法および装置 |
US8308915B2 (en) | 2006-09-14 | 2012-11-13 | 4D-S Pty Ltd. | Systems and methods for magnetron deposition |
US7524722B2 (en) * | 2006-10-12 | 2009-04-28 | Macronix International Co., Ltd. | Resistance type memory device and fabricating method and operating method thereof |
US8758229B2 (en) | 2006-12-21 | 2014-06-24 | Intuitive Surgical Operations, Inc. | Axial visualization systems |
US8085615B2 (en) | 2006-12-29 | 2011-12-27 | Spansion Llc | Multi-state resistance changing memory with a word line driver for applying a same program voltage to the word line |
US7960224B2 (en) * | 2007-04-03 | 2011-06-14 | Macronix International Co., Ltd. | Operation method for multi-level switching of metal-oxide based RRAM |
KR100852206B1 (ko) * | 2007-04-04 | 2008-08-13 | 삼성전자주식회사 | 저항 메모리 소자 및 그 제조 방법. |
US8657805B2 (en) | 2007-05-08 | 2014-02-25 | Intuitive Surgical Operations, Inc. | Complex shape steerable tissue visualization and manipulation catheter |
US7768812B2 (en) * | 2008-01-15 | 2010-08-03 | Micron Technology, Inc. | Memory cells, memory cell programming methods, memory cell reading methods, memory cell operating methods, and memory devices |
US8034655B2 (en) | 2008-04-08 | 2011-10-11 | Micron Technology, Inc. | Non-volatile resistive oxide memory cells, non-volatile resistive oxide memory arrays, and methods of forming non-volatile resistive oxide memory cells and memory arrays |
US8211743B2 (en) | 2008-05-02 | 2012-07-03 | Micron Technology, Inc. | Methods of forming non-volatile memory cells having multi-resistive state material between conductive electrodes |
US8114468B2 (en) * | 2008-06-18 | 2012-02-14 | Boise Technology, Inc. | Methods of forming a non-volatile resistive oxide memory array |
US8134137B2 (en) | 2008-06-18 | 2012-03-13 | Micron Technology, Inc. | Memory device constructions, memory cell forming methods, and semiconductor construction forming methods |
US9343665B2 (en) * | 2008-07-02 | 2016-05-17 | Micron Technology, Inc. | Methods of forming a non-volatile resistive oxide memory cell and methods of forming a non-volatile resistive oxide memory array |
US20100135061A1 (en) * | 2008-12-02 | 2010-06-03 | Shaoping Li | Non-Volatile Memory Cell with Ferroelectric Layer Configurations |
US8125817B2 (en) * | 2008-12-18 | 2012-02-28 | Panasonic Corporation | Nonvolatile storage device and method for writing into the same |
US8638584B2 (en) * | 2010-02-02 | 2014-01-28 | Unity Semiconductor Corporation | Memory architectures and techniques to enhance throughput for cross-point arrays |
US8427859B2 (en) | 2010-04-22 | 2013-04-23 | Micron Technology, Inc. | Arrays of vertically stacked tiers of non-volatile cross point memory cells, methods of forming arrays of vertically stacked tiers of non-volatile cross point memory cells, and methods of reading a data value stored by an array of vertically stacked tiers of non-volatile cross point memory cells |
US8411477B2 (en) | 2010-04-22 | 2013-04-02 | Micron Technology, Inc. | Arrays of vertically stacked tiers of non-volatile cross point memory cells, methods of forming arrays of vertically stacked tiers of non-volatile cross point memory cells, and methods of reading a data value stored by an array of vertically stacked tiers of non-volatile cross point memory cells |
US8289763B2 (en) | 2010-06-07 | 2012-10-16 | Micron Technology, Inc. | Memory arrays |
CN103119716B (zh) | 2010-09-27 | 2016-03-02 | 松下电器产业株式会社 | 存储单元阵列、半导体存储装置、存储单元阵列的制造方法及半导体存储装置的读出方法 |
US8351242B2 (en) | 2010-09-29 | 2013-01-08 | Micron Technology, Inc. | Electronic devices, memory devices and memory arrays |
US8759809B2 (en) | 2010-10-21 | 2014-06-24 | Micron Technology, Inc. | Integrated circuitry comprising nonvolatile memory cells having platelike electrode and ion conductive material layer |
US8796661B2 (en) | 2010-11-01 | 2014-08-05 | Micron Technology, Inc. | Nonvolatile memory cells and methods of forming nonvolatile memory cell |
US8526213B2 (en) | 2010-11-01 | 2013-09-03 | Micron Technology, Inc. | Memory cells, methods of programming memory cells, and methods of forming memory cells |
US9454997B2 (en) | 2010-12-02 | 2016-09-27 | Micron Technology, Inc. | Array of nonvolatile memory cells having at least five memory cells per unit cell, having a plurality of the unit cells which individually comprise three elevational regions of programmable material, and/or having a continuous volume having a combination of a plurality of vertically oriented memory cells and a plurality of horizontally oriented memory cells; array of vertically stacked tiers of nonvolatile memory cells |
US8431458B2 (en) | 2010-12-27 | 2013-04-30 | Micron Technology, Inc. | Methods of forming a nonvolatile memory cell and methods of forming an array of nonvolatile memory cells |
US8791447B2 (en) | 2011-01-20 | 2014-07-29 | Micron Technology, Inc. | Arrays of nonvolatile memory cells and methods of forming arrays of nonvolatile memory cells |
US8488365B2 (en) | 2011-02-24 | 2013-07-16 | Micron Technology, Inc. | Memory cells |
US8537592B2 (en) | 2011-04-15 | 2013-09-17 | Micron Technology, Inc. | Arrays of nonvolatile memory cells and methods of forming arrays of nonvolatile memory cells |
US8891276B2 (en) | 2011-06-10 | 2014-11-18 | Unity Semiconductor Corporation | Memory array with local bitlines and local-to-global bitline pass gates and gain stages |
US10566056B2 (en) | 2011-06-10 | 2020-02-18 | Unity Semiconductor Corporation | Global bit line pre-charge circuit that compensates for process, operating voltage, and temperature variations |
US9117495B2 (en) | 2011-06-10 | 2015-08-25 | Unity Semiconductor Corporation | Global bit line pre-charge circuit that compensates for process, operating voltage, and temperature variations |
US10261977B2 (en) * | 2017-05-04 | 2019-04-16 | University Of Rochester | Resistive memory accelerator |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02285593A (ja) * | 1989-04-26 | 1990-11-22 | Mitsubishi Electric Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JPH0418753A (ja) * | 1990-05-11 | 1992-01-22 | Olympus Optical Co Ltd | 強誘電体メモリ |
JPH04344383A (ja) * | 1991-05-22 | 1992-11-30 | Mitsubishi Electric Corp | 磁性薄膜メモリおよびその読み出し方法 |
JPH05198191A (ja) * | 1992-01-21 | 1993-08-06 | Sharp Corp | 半導体読み出し専用メモリのセンス増幅回路 |
JPH08293585A (ja) * | 1995-02-20 | 1996-11-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 記憶装置及びその製造方法 |
JP2000106462A (ja) * | 1998-06-30 | 2000-04-11 | Toshiba Corp | 磁気素子とそれを用いた磁気メモリおよび磁気センサ |
US6204139B1 (en) * | 1998-08-25 | 2001-03-20 | University Of Houston | Method for switching the properties of perovskite materials used in thin film resistors |
JP2001127263A (ja) * | 1999-10-27 | 2001-05-11 | Sony Corp | 不揮発性メモリおよびその駆動方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3838405A (en) * | 1973-10-03 | 1974-09-24 | Ibm | Non-volatile diode cross point memory array |
US5410504A (en) * | 1994-05-03 | 1995-04-25 | Ward; Calvin B. | Memory based on arrays of capacitors |
US5712612A (en) * | 1996-01-02 | 1998-01-27 | Hewlett-Packard Company | Tunneling ferrimagnetic magnetoresistive sensor |
US5640343A (en) * | 1996-03-18 | 1997-06-17 | International Business Machines Corporation | Magnetic memory array using magnetic tunnel junction devices in the memory cells |
US5792569A (en) * | 1996-03-19 | 1998-08-11 | International Business Machines Corporation | Magnetic devices and sensors based on perovskite manganese oxide materials |
US5894447A (en) * | 1996-09-26 | 1999-04-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory device including a particular memory cell block structure |
US5991193A (en) * | 1997-12-02 | 1999-11-23 | International Business Machines Corporation | Voltage biasing for magnetic ram with magnetic tunnel memory cells |
US6128214A (en) | 1999-03-29 | 2000-10-03 | Hewlett-Packard | Molecular wire crossbar memory |
JP4327942B2 (ja) * | 1999-05-20 | 2009-09-09 | Tdk株式会社 | 薄膜圧電素子 |
KR100366702B1 (ko) * | 2000-02-03 | 2003-01-08 | 삼성전자 주식회사 | 쓰기 및 읽기 회로를 갖는 자기 터널 접합 소자를 이용한자기 랜덤 액세스 메모리 |
US6531371B2 (en) * | 2001-06-28 | 2003-03-11 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Electrically programmable resistance cross point memory |
-
2001
- 2001-06-28 US US09/893,830 patent/US6693821B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-05-27 JP JP2002152419A patent/JP2003068983A/ja active Pending
- 2002-06-11 TW TW091112643A patent/TW550764B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-06-26 KR KR10-2002-0035877A patent/KR100479012B1/ko active IP Right Grant
-
2003
- 2003-11-13 US US10/713,327 patent/US6858905B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2009
- 2009-12-28 JP JP2009298948A patent/JP2010114457A/ja not_active Withdrawn
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02285593A (ja) * | 1989-04-26 | 1990-11-22 | Mitsubishi Electric Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JPH0418753A (ja) * | 1990-05-11 | 1992-01-22 | Olympus Optical Co Ltd | 強誘電体メモリ |
JPH04344383A (ja) * | 1991-05-22 | 1992-11-30 | Mitsubishi Electric Corp | 磁性薄膜メモリおよびその読み出し方法 |
JPH05198191A (ja) * | 1992-01-21 | 1993-08-06 | Sharp Corp | 半導体読み出し専用メモリのセンス増幅回路 |
JPH08293585A (ja) * | 1995-02-20 | 1996-11-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 記憶装置及びその製造方法 |
JP2000106462A (ja) * | 1998-06-30 | 2000-04-11 | Toshiba Corp | 磁気素子とそれを用いた磁気メモリおよび磁気センサ |
US6204139B1 (en) * | 1998-08-25 | 2001-03-20 | University Of Houston | Method for switching the properties of perovskite materials used in thin film resistors |
JP2001127263A (ja) * | 1999-10-27 | 2001-05-11 | Sony Corp | 不揮発性メモリおよびその駆動方法 |
Cited By (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004311969A (ja) * | 2003-03-17 | 2004-11-04 | Sharp Corp | ナノスケール抵抗クロスポイント型メモリアレイおよびデバイスを製造する方法 |
JP2005064502A (ja) * | 2003-08-13 | 2005-03-10 | Sharp Corp | RRAM用途のスピンコーティングされたPr1−xCaxMnO3薄膜の高温アニーリング |
JP4674747B2 (ja) * | 2003-09-30 | 2011-04-20 | シャープ株式会社 | Rramに応用するための単一マスクpt/pcmo/ptスタックのエッチングプロセス |
JP2005109446A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Sharp Corp | Rramに応用するための単一マスクpt/pcmo/ptスタックのエッチングプロセス |
JP2005159359A (ja) * | 2003-11-24 | 2005-06-16 | Sharp Corp | 3drram |
US7714311B2 (en) | 2003-12-26 | 2010-05-11 | Panasonic Corporation | Memory device, memory circuit and semiconductor integrated circuit having variable resistance |
JP2007514265A (ja) * | 2003-12-26 | 2007-05-31 | 松下電器産業株式会社 | 記憶素子、メモリ回路、半導体集積回路 |
JP2005203733A (ja) * | 2004-01-12 | 2005-07-28 | Sharp Corp | バッファ化層メモリセル |
JP4743748B2 (ja) * | 2004-01-15 | 2011-08-10 | シャープ株式会社 | Pcmoスピンコート堆積 |
JP2005203759A (ja) * | 2004-01-15 | 2005-07-28 | Sharp Corp | Pcmoスピンコート堆積 |
US7276175B2 (en) | 2004-02-25 | 2007-10-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor device fabrication method |
WO2005086250A1 (ja) * | 2004-03-05 | 2005-09-15 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | トンネルジャンクション素子 |
US7485937B2 (en) | 2004-03-05 | 2009-02-03 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Tunnel junction device |
JPWO2005086250A1 (ja) * | 2004-03-05 | 2008-01-24 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | トンネルジャンクション素子 |
US7473612B2 (en) | 2004-09-14 | 2009-01-06 | Panasonic Corporation | Method for fabricating a variable-resistance element including heating a RMCoO3 perovskite structure in an oxygen atmosphere |
JP2006107700A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-20 | Sharp Corp | 相補出力型抵抗性メモリセル |
JP4603437B2 (ja) * | 2004-09-30 | 2010-12-22 | シャープ株式会社 | 相補出力型抵抗性メモリセル |
US8030695B2 (en) | 2004-11-17 | 2011-10-04 | Sharp Kabushiki Kaisha | Structure and manufacturing method of semiconductor memory device |
US7879626B2 (en) | 2004-11-17 | 2011-02-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Structure and manufacturing method of semiconductor memory device |
US7348653B2 (en) | 2005-04-19 | 2008-03-25 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Resistive memory cell, method for forming the same and resistive memory array using the same |
JP2006319264A (ja) * | 2005-05-16 | 2006-11-24 | Sony Corp | 記憶素子の製造方法、記憶装置の製造方法 |
JP4548211B2 (ja) * | 2005-05-16 | 2010-09-22 | ソニー株式会社 | 記憶素子の製造方法、記憶装置の製造方法 |
WO2007007608A1 (ja) * | 2005-07-12 | 2007-01-18 | Sharp Kabushiki Kaisha | 半導体記憶装置及びその製造方法 |
JP4635759B2 (ja) * | 2005-07-19 | 2011-02-23 | ソニー株式会社 | 記憶素子及び記憶装置 |
JP2007027499A (ja) * | 2005-07-19 | 2007-02-01 | Sony Corp | 記憶素子及び記憶装置 |
JP2007042784A (ja) * | 2005-08-02 | 2007-02-15 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 金属酸化物素子及びその製造方法 |
JPWO2007102212A1 (ja) * | 2006-03-08 | 2009-07-23 | 富士通株式会社 | 抵抗変化型記憶素子の製造方法 |
WO2007102212A1 (ja) * | 2006-03-08 | 2007-09-13 | Fujitsu Limited | 抵抗変化型記憶素子の製造方法 |
JPWO2007105284A1 (ja) * | 2006-03-13 | 2009-07-23 | 富士通株式会社 | 抵抗変化型記憶素子および抵抗変化型記憶素子の製造方法 |
WO2007105284A1 (ja) * | 2006-03-13 | 2007-09-20 | Fujitsu Limited | 抵抗変化型記憶素子および抵抗変化型記憶素子の製造方法 |
US8116113B2 (en) | 2009-01-21 | 2012-02-14 | Sony Corporation | Cross-point semiconductor memory device and method of manufacturing the same |
US8462539B2 (en) | 2009-02-20 | 2013-06-11 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Resistive memory element and use thereof |
US8542520B2 (en) | 2009-02-20 | 2013-09-24 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Resistive memory element and use thereof |
US8268713B2 (en) | 2009-09-04 | 2012-09-18 | Sony Corporation | Method of manufacturing nonvolatile memory device |
JP2012084765A (ja) * | 2010-10-14 | 2012-04-26 | Sony Corp | 不揮発性メモリ素子及びその製造方法 |
US8853663B2 (en) | 2010-10-14 | 2014-10-07 | Sony Corporation | Nonvolatile memory device and manufacturing method thereof |
JP2017010604A (ja) * | 2015-06-18 | 2017-01-12 | イーエム・ミクロエレクトロニク−マリン・エス アー | メモリ回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20030003025A (ko) | 2003-01-09 |
JP2010114457A (ja) | 2010-05-20 |
US20040164332A1 (en) | 2004-08-26 |
KR100479012B1 (ko) | 2005-03-30 |
US20030001178A1 (en) | 2003-01-02 |
TW550764B (en) | 2003-09-01 |
US6693821B2 (en) | 2004-02-17 |
US6858905B2 (en) | 2005-02-22 |
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JP2006339395A (ja) | 抵抗変化型素子および半導体装置 |
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