CN1163450A

CN1163450A - 光学存储设备

Info

Publication number: CN1163450A
Application number: CN96123427.XA
Authority: CN
Inventors: 山下纪知; 柳茂知
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1996-04-22
Filing date: 1996-12-25
Publication date: 1997-10-29
Anticipated expiration: 2016-12-25
Also published as: JPH09288830A; DE69607458T4; DE69614135D1; EP0862169B1; EP0862169A1; EP0867871A1; EP0803864B1; DE69607458D1; DE69606557T2; DE69606556T2; DE69606556D1; US5892742A; US5933397A; US5896354A; US5901121A; DE69614135T2; EP0803864A3; EP0867872B1; EP0867871B1; EP0803864A2

Abstract

当上面的设备命令了对1-道寻找的存取时，1-道寻找期被分成预定的加速期和减速期。根据跟踪误差信号E2的零交叉点之前和之后的取样点之间的差，即对应的光束速度，来确定并提供减速电流。对于精细寻找，减速电流也是从由刚好在目标道之前的零交叉点之前和之后的取样点之间的差获得的光束速度获得的，并被提供。

Description

光学存储设备

本发明涉及采用诸如CD或盒式MO的可重写介质的光学存储设备，且更具体地说，是涉及一种光学存储设备，它能够进一步改善对高密度记录介质的存取性能

光盘作为多媒体的主流，在近年来得到了迅速的发展。例如，当考虑3.5英寸的盒式MO时，除了传统的128MB和230MB盒式MO之外，近年来正在提供540MB或640MB的高密度记录介质。因此，作为光盘驱动器，要求它能够使用目前能够获得的180MB、230MB、540MB和640MB的所有介质。在近年来迅速发展的个人计算机中，被称为只读存储介质的紧凑盘(CD)的再现功能是不可少的。从空间和费用的角度看，既安装用于CD的光盘驱动器又安装用于作为可重写光盘设备的盒式MO，是非常困难的。因此，近年来，开发了一种光盘驱动器，它既使用盒式MO又使用CD。根据CD/MO共用式光盘驱动器，对于光学系统、机械结构和控制电路单元，它们通常尽可能地构成，以便既能够被用于CD又能够被用于盒式MO。

在使得能够采用高密度记录介质的540MB或640MB光盘驱动器中，与记录密度的改善相联系，介质的道间距减小了，且需要改善寻找精度，以将光头装置的光束移到目标道并使该光束定位。为了改善寻找精度，通过减小寻找速度，光束能够被稳定地拉在目标道中。通常，在目标道的寻找控制中，对于50道或更少的短寻找，由受到VCM驱动的总成上安装的一个透镜致动器进行寻找控制。对于超过50道的长寻找，由VCM驱动的总成和由透镜致动器驱动的总成进行寻找控制。在这种寻找控制中，首先，产生根据至目标道的剩余道数的目标速度，并执行速度控制。当至目标道的剩余道数达到速度控制之前的一或两个道时，提供一个预定的减速电流，从而进行减速控制。当减速完成时，控制模式被切换到位置伺服控制，从而将设备拉到1-道状态。在这种寻找控制中，为了提高540MB或640MB的高密度记录介质的寻找性能，需要在刚好在目标道之前的位置，借助预定的减速电流，将光束的移动速度减小到接近零速度的值，并进行控制以稳定地保持在在道状态。

然而，在这种传统的光盘驱动器寻找控制中，当速度控制的目标速度被设定在略微高点的速度以减小寻找时间时，由速度控制完成的后半部分的减速被迅速地执行，从而刚好在目标道之前的拉入速度有很大的涨落。因此，在借助预定的固定减速电流的减速控制中，减速是不充分的，且光束超前了目标道或者减速进行得过度了，且光束需要返回，因而需要一定的时间才能将光束置于目标道上。虽然能够通过抑制速度控制的目标速度而使刚好在目标道之前的拉入速度得到稳定，由于目标速度较低，速度控制需要时间。即使置入时间能够减小，整个寻找时间变长了。

对于其中把相邻的道设定为目标道并移动光束的1-道寻找控制，也出现这种问题。在传统的1-道寻找控制中，1-道寻找期被等分成三个期间，例如各占1/3的加速期、零电流期、和减速期，并进行前馈控制，以将预定的固定加速电流和减速电流依次加到透镜致动器上。然而，透镜致动器的光束加速特性和减速特性，对于每一个光盘驱动器，都是不同的。因而，当缺少加速电流或减速电流时，寻找时间变长，而相反地，当加速电流或减速电流太大时，稳定时间变长，因而有一个问题，即不能获得足够的1-道寻找性能。

在采用诸如磁光盘、CD等等的的可变介质的光盘驱动器中，装载的介质的道偏心量对于每一个介质都是不同的。介质的偏心量在介质被装载之后的一个初始处理阶段得到测量，且一个偏心抵消电流与介质转动同步地被加到VCM上，以抵消测量到的偏心量。当道被看作是直线时，介质偏心画出一条正弦曲线。因此，准备了所谓的偏心存储器，诸如RAM等等，其中预先存储有正弦值并以具有预定分辨的转角作为地址。从偏心存储器中，与实际的介质转动位置同步地读出相应的正弦值，且根据作为偏心信息而测量到的幅度和用作转动基准位置的相位，获得偏心量。提供了一个抵消电流以抵消偏心量。在传统的、在介质被装载之后的初始化过程中进行的偏心量测量中，例如，采用一个透镜位置检测器来检测装在支架上的物镜的位置，且从一个透镜位置信号测量出偏心幅度的相位，其中该透镜位置信号是通过介质在1-道控制状态下被透镜致动器转动一周而获得的。然而，由于透镜位置检测器本来被用于透镜锁定操作的位置伺服以将安装在支架上的物镜保持在零位置(中立位置)，位置检测信号的线性和分辨率都不高。由于该信号是模拟信号，即使进行A/D转换，也混合了误差。存在一个问题，即不能高度可靠地充分测量偏心信息。

在传统的光盘驱动器中，从介质返回的光由一个二分检测器检测，并从两个光敏信号之间的差别获得一个跟踪误差信号。在此情况下，在介质的ID部分，由被称为坑的凸凹部分记录区号、道号等等，返回的光被ID部分的坑所衰减，在跟踪误差信号中出现象噪声一样下降的涨落，这种涨落在低幅度部分变成了错误的零交叉点，且道数被错误地计数。为了抑制ID部分中返回的光的涨落，通过检测包络线，使跟踪误差信号的形状变得平滑。然而，虽然在540MB或640MB盒式MO介质中的高密度记录是没有问题的，但在传统上采用的128MB的盒式MO介质中，在介质表面的MO记录部分与ID部分之间，形成了镜表面结构的反射部分。在230MB的盒式MO介质中，在用户区以外的区域中，也留有类似的反射部分。因此，为了利用一个光盘驱动器使用从128MB至640MB范围内的盒式MO，当装载了128MB或230MB的盒式MO时，如果在形成跟踪误差信号时，通过获得具有相同电平的反射部分的光敏信号之间的差，而检测到一个包络，则跟踪误差信号在反射部分中下降。另外，出现了一个信号下降，其下降量对应于由于包络检测的放电时间常数，该跟踪误差信号有较大的畸形，且借助零交叉点的道计数操作肯定是错误的。另外，在任何介质中，当检测包络时，在其中跟踪误差信号的零交叉时间间隔短的高速寻找中，跟踪误差信号本身的上和下峰电平被包络检测操作所包络检测，因而存在跟踪误差信号丢失的问题。

另外，传统的光盘驱动器带有聚焦伺服机，以对装在支架上的物镜进行聚焦控制，从而将其聚焦在介质表面上。在该聚焦伺服机中，根据来自介质的返回的光，形成聚焦误差信号。然而，盒式MO介质的道上的ID部分具有物理坑，在两侧上物镜的聚焦位置不同于MO部分的记录表面上的聚焦位置。因此，在反射部分的ID部分的前和后边界上，聚焦误差信号总在变化，因而进行了不必要的聚焦控制。例如，在540MB的盒式MO介质的情况下，外道有84个扇区而内道有54个扇区，且有数目与扇区数目对应的ID部分。因此，在在道状态下，聚焦伺服机频繁地工作，且存在着电流消耗由于聚焦伺服机而增大的问题。虽然可以对于ID部分关断聚焦伺服机，但如果对于ID部分以交替的方式高速接通和关断聚焦伺服机，就会给伺服系统施加很大的干扰，从而失去自动聚焦功能。

根据本发明，提供了一种光学存储设备，它能够通过对于通常的寻找控制和1-道寻找控制实现高速寻找和减小确定时间，从而改善寻找性能。

首先，根据本发明的光学存储设备(以下称为光盘驱动器)，一个支架可以沿着与介质的道横向相交的方向由作为支架致动器的VCM自由移动，一个光学单元被装在一个支架上并由具有物镜的运动光学系统和固定设置在外壳侧的固定光学系统组成，且该光学单元利用光束在介质的道上记录并从其再现信息。装在支架上的运动光学系统的物镜，通过沿着与介质的道横向相交的方向驱动透镜致动器，而从固定光学系统移动光束。一个跟踪误差信号形成电路，根据光束沿着与道横向相交的方向的位置，形成跟踪误差信号，其中光束根据来自介质的返回的光的、由光学单元导出的光敏输出而与道横向相交。借助DSP等等的存取控制单元，当一个上面的设备指令对目标道的存取时，通过控制VCM和透镜致动器，而将光束移向目标道，从而定位在该道上。

(1-道寻找)

根据本发明，首先为这种光盘驱动器提供了一个道寻找控制单元。例如，当上面的设备命令了将光束从目前的道移到前面1个道的目标道的1-道寻找存取时，本发明的1-道寻找控制单元将1-道寻找期分成预定的加速期和减速期。在加速期中，预定的加速电流被加到透镜致动器上。另一方面，在减速期中，从跟踪误差信号的两点之差(TES1-TES2)确定减速电流的值，即提供与速度和确定的减速电流成正比的值。在1-道寻找控制的加速期与减速期之间，提供了一个预减速期，且在该预减速期的开始时刻和结束时刻两点处获得跟踪误差信号之差(TES1-TES2)。已经通过实验证实，加速电流的大约一半，为预减速期中的预减速电流的最佳值。在1-道寻找控制中，为了使跟踪误差信号E2的灵敏度归一化，乘上了对每一个介质获得的校正值，以进行校正。该1-道寻找控制单元在被设定为一个寻找期的1/3的加速期中进行充分的加速，从而减小寻找时间。更具体地说，当控制期间由跟踪误差信号E3的取样数目确定时，加速期被设定为7个取样，预减速期被设定为2个取样，且减速期被设定为4个取样。因此，控制期被设定为总共13个取样。在1-道寻找控制中，当跟踪误差信号的两点之差(TES1-TES2)超过了预定的上限值时，即当加速寻找速度太高时，减速电流的一个命令值被固定在预定的最大值，从而进行减速。相反地，当跟踪误差信号的两点之间的差(TES1-TES2)低于预定的下限值时，即当加速的寻找速度太低时，减速电流的该命令值被固定在预定的最小值，从而进行减速。当在寻找时施加了振动、介质由于支架等而发生倾斜等等时，跟踪误差信号的两点之间的差出现异常。这种异常通过利用减速电流的上限或下限的减速控制，而得到消除。根据这种1-道寻找控制，即使在加速之后的减速开始时速度出现了涨落，减速期中的减速电流也被改变到与实际光束速度相对应的值，从而使光束能够被稳定地定位在目标道上。

(精细寻找)

根据本发明，提供了一种光学存储设备，从而对于利用作为主要装置的透镜致动器而将光束移到目标道的控制(即所谓的道跳跃控制)，即使当刚好在目标道之前进行的减速控制开始时速度有变化，也可以稳定拉入上道状态。

为了在道跳跃控制中稳定地拉入上道状态，本发明的特征在于提供了减速控制单元，该单元用于当用作为主要装置的透镜致动器将光束移向目标道时进行方式控制，减速电流Ib从跟踪误差信号在目标道之前一个道的道零交叉位置处的两点之间的差来确定，并由存取控制单元从上面的设备提供到透镜致动器。更具体地说，减速电流Ib从跟踪误差信号在刚好在目标道之前的零交叉位置之前和之后的取样值TES1和TES2之间的差(TES1-TES2)确定。由于取样期Ts是恒定的，跟踪误差信号在刚好在目标道之前的零交叉位置之前和之后的取样值TES1和TES2之间的差(TES1-TES2)的值与速度V成正比。即，刚好在目标道得到检测之前的实际速度和减速电流，是根据检测到的速度而确定。因此，即使在减速开始时光束速度有变化，最佳减速电流始终得到确定，由于缺少减速电流的超前或由于过度的减速电流的延迟得到了防止，且至目标道的稳定上道得到了保证。减速控制单元将为每一个介质获得的校正值乘到取样的跟踪误差信号上，以进行校正，其中该介质的检测灵敏度得到了归一化。因此，对于每一个介质都不同的跟踪误差信号的幅度得到了归一化，且实现了稳定的上道。当从跟踪误差信号的两点之间的差确定的减速电流超过了预定的上限值时，减速控制单元认为这两点的值表示了由于振动、噪声等等引起的异常。在此情况下，减速电流被固定在预定的最大值，从而进行减速控制。相反地，当从跟踪误差信号的两点之间的差确定的减速电流低于预定的下限值时，减速控制单元也类似地认为这两点的值表示了由于振动、噪声等等引起的异常。在此情况下，减速电流被固定在预定的最小值，从而进行减速控制。根据减速起始速度V0-它是作为从目标道之前两道的零交叉位置至目标道之前一个道的零交叉位置的时间(零交叉时间间隔)T0的倒数而获得的，减速控制单元确定从刚好在零交叉点之后的取样点(取样点TES2)至减速开始时的减速开始时间T1，并随后确定减速时间T2。在此情况下，当减速起始速度V0等于或小于能够进行至在道状态的拉入控制的有限速度Vth时，减速开始时间T1根据减速起始速度V0而得到改变。减速时间T2被设定为预定的固定时间。从刚好在目标道之前的零交叉位置之前和之后的跟踪误差信号的取样值之间的差(TES1-TES2)确定的减速电流Ib，在固定的减速时间T2中被提供到透镜致动器。相反地，当减速起始速度V0超过了能够进行至在道状态的拉入控制的有限速度Vth时，减速开始时间T1被设定为零，减速时间T2根据减速起始速度V0而确定，且具有预定最大值的减速电流被提供给透镜致动器。减速控制单元，通过对于目标道之前两道的零交叉位置同目标道之前一个道的零交叉位置之间的速度控制而将目标柱面的剩余道数设定为零，而确定目标速度，从而减小速度控制的伺服增益并进行预减速。为了进行预减速，希望把速度控制的伺服增益减小到1/2。

当诸如盒式MO包围的介质等等的介质-它具有用于跟踪的槽并在槽之间记录信息-被用作介质时，槽的位置被置于零交叉位置且跟踪误差信号得到检测。因此，在速度控制中，目标道之前一个道的零交叉位置被置于0.5道之前的位置。目标道之前两道的零交叉位置被置于1.5道之前的位置。当诸如CD等等的只读介质-在其上借助坑记录了信息-被用作介质时，坑的位置被置于零交叉位置且跟踪误差信号得到检测。因此，在减速控制中，目标道之前一个道的零交叉位置被置于1.0道之前的位置。目标道之前两道的零交叉位置被置于2.0道之前的位置。通过利用存取控制单元的透镜致动器作为主装置而将光束移到目标道的控制，是速度控制，该速度控制用于把电流提供到透镜致动器，从而使根据剩余道的数目而为目标道产生的目标速度与从跟踪误差检测信号获得的实际速度之间的偏离被置于零。利用存取控制单元的VCM作为副装置而将光束移到目标道的控制，是前馈控制，从而根据目标道与当前道之间的偏离，将加速电流和减速电流提供给VCM，且支架以恒定的加速度得到加速，并在此之后进行减速。

(偏心校正)

根据本发明，提供了一种光学存储设备，它有效而精确地测量偏心校正所需的偏心信息并使介质被装载时的偏心校正得到优化。

因此，本发明具有：偏心测量单元，用于在其中定位器对支架和透镜的驱动被停止的状态下，根据对跟踪误差信号的零交叉点的检测来测量用于转动基准位置的偏心幅度Eamp和偏心相位Tφ，以作为偏心信息；偏心存储器，其中与介质的转动位置相对应地存储了与一周转动对应的正弦值；以及，偏心校正单元，用于获得从偏心存储器读出的正弦值和由测量单元获得的偏心测量信息得到的介质偏心量，并用于控制定位器以抵消该偏心量。该偏心校正单元通过将一个道间距TP乘以与介质的一周转动相对应的、与表示介质的一周转动的介质检测信号同步获得的跟踪误差信号的零交叉点的数目的一半，而获得偏心幅度Eamp。从转动检测信号的一周转动开始位置至跟踪误差信号的最大零交叉间隔时间的中点的时间，被作为偏心相位Tφ而获得。当在相对于转动基准位置的当前转动位置过去的时间tx与偏心相位Tφ之间的差(tx-Tφ)为负时，偏心测量单元从偏心存储器读出一个正弦值sin2πf(tx-Tφ+Trot)(它是从通过将一周转动时间Trot加到(tx-Tφ)上而获得的时间(tx-Tφ+Trot)获得的，)以进行校正。f表示由介质的转速确定的偏心周期。当差(tx-Tφ)等于0或正值时，偏心测量单元从偏心存储器读出从差(tx-Tφ)获得的正弦值sin2πf(tx-Tφ)。

偏心测量单元的特征在于与一周转动对应的零交叉点的数目，是由偏心校正单元，在偏心校正状态下，根据测量的偏心信息，而测量的，且当由于偏心校正的零交叉点数目超过了测量时的零交叉点数目时，通过测量获得的偏心相位Tφ被校正到相反的相位。对于相反相位情况下的校正，设定一个偏心相反相位(Tφ+Trot/2)就足够了，而(Tφ+Trot/2)是通过将一周转动时间Trot的一半时间加到测量到的相位Tφ上而获得的。即，在一个测量过程中，一周转动开始位置的偏心相位是否正确，或者是偏离了180°的相反相位，都是不能判定的。因此，执行根据测量的偏心信息的偏心校正，且如果每周转动的零交叉点数目由于校正而减小，则可理解为偏心相位是校正的。如果零交叉点数目由于校正而增大，由于这意味着偏心相位是相反相位，则它得到校正。因此，校正的偏心相位始终能够作为测量结果而得到设定。偏心测量单元执行对偏心信息的测量并在测量两次之后进行偏心校正，并在偏心校正完成之后比较与一周转动相对应的零交叉点数目。当它们之差超过了一个阈值时，就重复对偏心的测量和校正，直到该差等于或小于该阈值。因此，即使由于在偏心测量期间加上了振动等等而进行了大量的偏心测量，始终能够不受这种振动等等的影响而获得正确的偏心信息测量结果。一定数目的每一周转动转动的正弦值和介质转动速度，都被存储在偏心存储器中，其中该数目由DSP的取样数等等设定的预定读出期间确定。当介质转动速度改变时，该正弦值被更新成改变后的介质转动速度确定的数目的一周转动的正弦值。例如，假定MO介质以3600rpm转动且有36个数据(间隔为10°的转角处的正弦值)，当CD介质以2400rpm转动时，有54个数据(间隔为6.7°的转角处的正弦值)。

(包络伺服)

根据本发明的光学存储设备，即使在由于介质的不同或高速寻找而有或没有反射部分的情况下，也能够适当地形成跟踪误差信号。

因此，根据本发明，于光学存储设备的跟踪误差检测电路中，根据通过将来自一个光学单元的光束照射到介质上而产生的返回的光的光敏输出，形成根据该光束的位置的跟踪误差信号，而该方向与道横向相交。为该跟踪误差检测电路提供了：二分检测器，用于接收来自介质的返回的光并将其转换成电信号；减法器，用于从来自二分检测器的光敏信号之差形成跟踪误差信号并将其输出；峰保持电路，用于检测来自二分检测器的光敏信号的包络并输出至该减法器；以及，切换控制电路，用于根据需要对峰保持电路的包络检测功能进行通—断控制。当识别是装载了具有介质表面的反射部分(mirror portion)的介质(例如128MB的盒式MO介质)时，就关断峰保持电路的包络检测功能。在装载了在介质表面的一部分上具有反射部分的介质(例如具有在非用户区中的反射部分的230MB的盒式MO介质)的情况下，当识别出对具有反射部分的道区的存取时，就关断峰保持电路的包络检测功能。因此，对于具有反射部分的介质，由于包络检测被关断，能够抑制包络检测时反射部分的返回光所产生的跟踪误差信号的大的失真。在ID部分的道误差信号中，出现了根据坑的幅度下降。然而，在低密度记录中，由于道间距较大，即使有略微的噪声，也能够充分地进行寻找控制和上道控制。另外，当识别其中从跟踪误差信号获得的寻找速度超过了预定速度的高速寻找时，切换控制电路关断了峰保持电路的包络检测功能。即使在不具有反射部分的540MB或640MB盒式MO中包络检测被接通，包络检测在高速寻找时被关断。因此，防止了跟踪误差信号被包络检测所掩盖并丢失的情况，且能够进行高速寻找。

(聚焦伺服)

根据本发明，提供了一种光学存储设备，它能够在不失去聚焦伺服功能的情况下，消除ID部分的聚焦伺服的徒劳运动。

为此，本发明的特征在于，对于光学存储设备的聚焦伺服电路—它用于根据通过将来自光学单元的光束照射到介质上而获得的返回光的光敏输出而将定位器的物镜控制到聚焦位置，提供了：PID操作控制单元，它具有比例装置、积分器和微分器；以及，控制器，用于将PID操作控制单元的微分器的功能停止一个时间—在该时间里获得表示介质的ID部分的栅极信号。该控制器还能够停止PID操作控制单元的比例装置的功能。该控制器还将PID操作控制单元的微分器和比例装置增益设定为零并停止这些功能。表示介质的ID部分的栅极信号通常由一个格式化器来形成。该ID栅极信号在由DSP等等实现的聚焦伺服中得到提取。通过将增益设定为0，至少用于聚焦伺服的PID操作控制单元的微分器的功能被停止。因此，即使当返回光由于ID部分的小坑而有所改变时，它也不被反射到聚焦伺服的控制器。相反地，一个积分控制强烈地起着作用，且即使聚焦误差信号由于ID部分而涨落，也能够进行聚焦控制—其中物镜被稳定地置于反射部分的聚焦状态。

本发明的上述和其他目的、特征和优点，通过以下结合附图的详细描述，将变得显而易见。

图1是根据本发明的光盘驱动器的框图；

图2是采用盒式MO的本发明的设备的结构的示意说明图；

图3是采用CD的本发明的设备的结构的示意说明图；

图4是由图1的DSP实现的伺服系统的功能框图；

图5是图4的模拟切换进行的伺服控制模式的通/断操作的说明图；

图6是图5的伺服控制模式的说明图；

图7A至7C是根据本发明的1-道寻找的说明图；

图8是根据本发明的1-道寻找控制的流程图；

图9A至9D是根据本发明的、采用盒式MO的精细寻找控制的说明图，在该盒式MO中透镜致动器和VCM受到同时驱动；

图10A和10B是图9A至9D的用于将头移到目标道的减速控制的详细说明图；

图11A和11B是根据本发明的精细寻找控制的流程图；

图12A和12B是图11A和11 B的减速控制的详细流程图；

图13A至13D是用于在采用CD的情况下将头移到目标道的减速控制的说明图；

图14是本发明的偏心存储控制的功能框图；

图15是MO介质中的偏心的说明图；

图16是根据介质偏心而与道横向相交的光束轨迹的说明图；

图17A至17C是当测量偏心时的跟踪误差信号、转动检测信号和VCM电流的时序图；

图18A至18C是当利用偏心测量结果校正偏心时跟踪误差信号、转动检测信号和VCM电流的时序图；

图19A至19C是当转动相位被倒相时在进行偏心校正时跟踪误差信号、转动检测信号和VCM电流的时序图；

图20是图14的偏心测量单元进行的测量过程的总流程图；

图21是图20的偏心测量过程的详细流程图；

图22是根据偏心测量结果的偏心校正控制的流程图；

图23A至23C是通过读出偏心存储器而与取样时钟信号同步的校正值输出过程的说明图；

图24是图1的、用于包络伺服的TES检测电路的框图；

图25是图24的峰保持电路的电路图；

图26是介质镜单元的说明图；

图27A至27D是光敏信号和当包络伺服被关断的TES信号和当包络伺服被接通时的TES信号的信号波形图；

图28A至28C是当包络伺服被关断时图26的镜单元的光敏信号和TES信号的信号波形图；

图29A至29C是当包络伺服被接通时图26的镜单元的光敏信号和TES信号的信号波形图；

图30A至30C是图25的峰保持电路的包络伺服器的通/断操作与矩形输入相对应的输出波形的说明图；

图31A和31B是用于包络伺服的通/断操作的高速寻找时TES信号的说明图；

图32是当装载介质时根据本发明的包络伺服的通/断控制的流程图；

图33是在寻找期间根据本发明的包络伺服的通/断控制的流程图；

图34是PID算法操作单元的功能框图，该单元用于进行图4中的聚焦以防止ID部分的错误操作；

图35A至35D是当图34的微分、积分和比例操作得到确认时ID部分中的聚焦控制的时序图；

图36A至36F是当图34的微分控制被关断且积分和比例控制被确认时ID部分中的聚焦控制的时序图。

(设备构造)

图1是本发明的光盘驱动器的电路框图。本发明的光盘驱动器由控制器10和外壳12构成。控制器10包括：MPU14，用于进行光盘驱动器的总体控制；接口控制器16，用于向一个上层的设备发送并从其接收指令和数据；格式化器18，用于进行从光盘介质读出数据或向其写入数据所需的处理；以及，缓存存储器20，它通常由MPU14、接口控制器16和格式化器18使用。提供了编码器22和激光二极管控制电路24，作为格式化器18的写入系统。激光二极管控制电路24的控制输出，被提供给为外壳12侧的一个光学单元设置的激光二极管30。作为利用激光二极管30进行记录和再现的光盘，即作为可重写盒式MO介质，在本实施例中可以采用128MB、230MB、540MB和640MB盘中的任何一种。在它们中，对于128MB和230MB的盒式MO介质，采用了根据介质上标志的有无来记录数据的坑位置坑位置记录(PPM记录)。对于进行高密度记录的540MB和640MB的盒式MO介质，采用了用于使标志的边缘即前缘和后缘对应于数据的脉宽记录)PWM记录)。在此例中，640MB和540MB存储容量的不同，取决于扇区容量的不同。因此，在2kB扇区容量的情况下，存储容量等于640MB，且在512kB的情况等于540MB。如上所述，本发明的光盘驱动器能够与具有128MB、230MB、540MB和640MB存储容量的任何一种盒式MO相对应。因此，当盒式MO被装载到光盘驱动器中时，从表示坑的存在的信号测量介质上ID部分的间隔，介质的种类由MPU 14根据该ID间隔来识别，且种类的识别结果被通知给格式化器18。因此，在128MB或230MB介质的情况下，进行与PPM记录对应的格式化处理，且在540MB或640MB介质的情况下，进行根据PWM记录的格式化处理。作为用于格式化器18的读出系统，设置了解码器26和读出LSI电路28。由为外壳12设置的检测器32的激光二极管30的返回光束的光敏信号，作为ID信号和MO信号而经过头放大器34被提供到读出LSI电路28。读出LSI电路28具有诸如AGC电路、滤波器、扇区标记检测电路、合成器、PLL等等的电路功能，从提供的ID信号和MO信号形成了读出时钟和读出数据，并将它们传送给解码器26。由于区CAV被用作借助转轴马达40的介质记录方法，对于读出LSI电路28，由MPU14进行对一个内装合成器的、与一个区相对应的时钟频率切换控制。编码器22的调制方法和解码器26的解调方法，根据介质的种类，而由格式化器18进行切换。即，对于128MB和230MB的介质，这些方法被切换到PPM记录的调制和解调方法。对于540MB和640MB的介质，这些方法被切换成PWM记录的调制和解调方法。设置在外壳12上的一个温度检测器36的检测信号被提供给MPU 14。根据温度检测器36检测到的设备中的环境温度，MPU14在激光二极管控制电路24中把用于读出、写入和擦除操作的发光功率控制在最佳值。MPU14借助驱动器38来控制设置在外壳12上的转轴马达40。由于盒式MO的记录/再现操作是借助区CAV方法进行的，所以转轴马达40以例如3600rpm的恒定速度转动。MPU14还通过驱动器42来控制设置在外壳12侧上的电磁铁44。电磁铁44被设置在与装载在设备中的盒式MO的光束发射侧相对的一侧上，并在记录和擦除操作时给介质提供一个外部磁场。DSP15实现从激光二极管30至介质的光束的定位伺服功能。为此，在外壳12侧上为光学单元提供了用于接收来自介质的光束模式的光的二分检测器46，且一个FES检测电路(聚焦误差信号检测电路)48从二分检测器46的光敏输出形成聚焦误差信号E1，并将其送到DSP15。TES检测电路(跟踪误差信号检测电路)50从二分检测器46的光敏输出形成一个跟踪误差信号E2，并将其提供给DSP15。跟踪误差信号E2被提供到一个TZC电路(道零交叉检测电路)45。该TZC电路45形成道零交叉脉冲E3并将其送到DSP15。在外壳12上还设置了一个透镜位置检测器52，用于检测物镜的透镜位置以将激光束照射到介质上，并将透镜位置检测信号(LPOS)E4提供给DSP15。DSP15通过驱动器54、58和62控制聚焦致动器56、透镜致动器60、以及VCM64，以定位光束。

图2显示了外壳的示意图。转轴马达40被设置在外壳66上。通过从进入门68将盒式MO70插入转轴马达40的转轴的轮毂中，进行装载，诸如将盒式MO70中的MO介质72附在转轴马达40的转轴的轮毂上。在装载的盒式MO70的MO介质72的低侧上，设置了支架76，它可以由VCM64沿着横过介质道的方向自由移动。在支架76上装有物镜80。来自为固定的光学系统78设置的半导体激光器的光束通过棱镜81而进入物镜80，从而在MO介质72的介质表面上形成光束点。物镜80得到控制，以借助图12的外壳12的聚焦致动器56，而沿着光轴方向移动，并还能够借助透镜致动器60而沿着横过介质道的径向方向移动例如十个道以内的距离。安装在支架76上的物镜80的位置，由图1的透镜位置检测器52检测。透镜位置检测器52，在物镜80的光轴沿着纵向向上的中立位置，将透镜位置检测信号设定为0，并产生与不同极性的向外和向内运动的运动量相对应的透镜位置检测信号E4。

本发明的光盘驱动器还能够采用盒式MO以外的只读CD作为光盘介质。图3显示了其中CD被装载在图2的盒式MO70中的状态。在采用CD的情况下，根据本实施例，一个CD介质82被安装在准备托架84上并从进入门68被装载到外壳66中。托架84具有转台86，以事先将CD介质82装载到转轴马达40上。为此，CD介质82在其中CD介质82的中央部分的一个孔被装在转台86上的状态下，被装到托架84上，从而将介质装载到光盘驱动器上。作为用于托架84的转台86，采用了以如此方式构成的转台，即在CD介质82侧的结构具有与对应于CD介质82的中央孔的通常的CD盘驱动器的CD装载结构相同的CD装载结构，且在转台86的转轴马达40侧上的结构具有与用于图2的盒式MO70的轮毂的结构相同的结构。通过采用这样的转台86，即使在CD介质82具有形状和尺寸相当不同的暴露的介质的情况下，也能够通过以类似于盒式MO70的方式利用托架84，而将介质装载到转轴马达40上。如上所述，为了适应CD介质82的装载，在图10的控制器中，当MPU14识别出装载的介质是CD介质82时，格式化器18、读出LSI电路28和解码器26被切换到与CD对应的电路功能。还可以只为CD介质设置读出系统的电路，且盒式MO的读出系统被切换到CD介质的读出系统。同时，由于借助转轴马达40的介质转动控制是通过CD介质82中的恒定线速度方法(CLV方法)进行的，为了将从CD的读出系统获得的读出时钟设定在基准恒定线速度，MPU14将转轴马达40设定在一个CLV控制模式，以根据道位置通过驱动器38来改变转速。本发明还能够被用于只为图2的盒式MO70的光盘驱动器—它没有图3所示的CD介质82的再现功能。

图4是借助为图1的控制器10设置的DSP15实现的聚焦伺服、透镜伺服和VCM伺服的功能框图。首先，在聚焦伺服系统中，聚焦误差信号E1由一个A/D转换器88转换成数字数据并得到提取，该数据在相加点90由设定在寄存器92中的FES偏离进行校正，校正的数据受到相位补偿器94的相位补偿，以提高预定高频频带中的增益，且由PID算法操作单元96进行对聚焦误差信号的比例积分和微分算法操作。另外，在信号被相位补偿器100进行相位补偿之后，寄存器102的聚焦偏离在相加点104得到补偿。相加点的输出信号被D/A转换器108通过限幅器106转换成模拟信号，从而产生至聚焦致动器56的电流指令值。在PID算法操作单元96与相位补偿器100之间，设置有伺服开关98，从而使聚焦伺服的通/断操作能够得到控制。现在描述透镜致动器60的透镜伺服系统。该透镜伺服系统可被分成速度控制系统、道伺服系统和透镜位置伺服系统三个系统。首先，根据速度控制系统，道道零交叉信号E3被提供给计数器110，由计数时钟获得道零交叉间隔的时间，且由速度计算器112获得光束速度。速度计算器112与来自寄存器116的目标速度之间的偏离，在相加点114获得。对于速度偏离的相位补偿，由相位补偿器120通过伺服开关118进行，且在此之后，所产生的数据被提供给加法器122。在透镜伺服的道伺服系统中，跟踪误差信号E2被A/D转换器124转换成数字数据并得到提取，对已经被寄存器126设定的TES偏离的校正在相加点128进行，且相位补偿由相位补偿器130进行。在此之后，由PID算法操作单元140进行比例积分和微分算法操作，且所产生的数据通过伺服开关142而被提供给加法器122。另外，根据透镜位置伺服系统，透镜位置检测信号E4被A/D转换器144转换成数字数据并作为数字数据而得到提取，借助寄存器148的LPOS偏离校正由加法器146进行，且相位补偿由相位补偿器150进行。在此之后，借助PID算法操作单元152进行比例积分和微分算法操作，且所产生的数据通过伺服开关156而被提供给加法器122。TES偏离抵消可由寄存器154加到伺服开关156的输入端。上述的速度伺服系统的速度偏离信号、道伺服系统的跟踪误差信号、以及透镜位置伺服系统的透镜位置检测信号由加法器122相加，且所产生的信号由相位补偿器158进行相位补偿。在此之后，它在相加点160受到寄存器162的道偏离校正，校正的信号由D/A转换器166转换成模拟信号，并作为透镜致动器60的电流指令值而被输出到驱动器侧。现在描述VCM64的伺服系统。VCM64的伺服系统构成了根据寻找时的目标道位置和当前道位置之间的偏离的前馈控制伺服系统。首先，加法器170将计数器110根据寄存器168的道零交叉信号E3检测到的光束当前位置，与寄存器172中的目标道位置相比较，从而形成与目标道位置的剩余道的数目对应的位置偏离信号。加法器170的输出受到相位补偿器174的相位补偿。在此之后，所产生的数据受到PID算法操作单元176的比例积分和微分算法操作，通过伺服开关178而得到相位补偿器180的进一步的相位补偿，并通过加法器182而被提供到IIR188。进一步地，在完成了相位补偿器190进行的相位补偿之后，在加法器192中进行根据寄存器194的VCM偏离的校正。所产生的数据通过限幅器196而被提供给加法器198。通过从偏心存储器200读出数据而进行的介质偏心校正，由加法器198进行。与沿着向内方向的寻找和沿着向外方向的寻找相对应的不同极性，由寄存器202设定到位置偏离信号上—该位置偏离信号受到加法器198的偏心校正的VCM伺服。另外，所产生的信号的绝对值由绝对值形成电路204形成。该绝对值信号由D/A转换器206转换成模拟信号，被VCM 64转换成VCM电流指令值，并被输出到驱动器侧。另外，为透镜伺服系统设置的透镜位置伺服系统的相位补偿器150的输出得到分流，并通过PID算法操作单元184和伺服开关186而被提供到VCM伺服系统的加法器182。因此，当通过在伺服开关186的接通状态下借助透镜致动器60驱动物镜，而寻找透镜时，由加法器146根据此时的透镜位置检测信号而形成的透镜位置检测信号，作为位置偏离信号，通过PID算法操作单元184和伺服开关186，而被加到VCM位置伺服系统的加法器182上。因此，VCM 64控制了支架的位置，以通过驱动透镜致动器60，而将透镜位置偏离设定为零。由于由透镜致动器根据透镜位置检测信号的偏离信号进行的这种伺服控制被加到VCM64的伺服系统上，这种控制被称为双重伺服。

图5显示了图4的伺服系统进行的控制模式和伺服开关98、118、142、156、178和186的通/断状态。伺服系统的控制模式被分成聚焦切断模式、跟踪切断模式、跟踪接通模式、精细寻找模式和位置寻找模式五种模式。这些模式的控制内容如图6所示。首先，聚焦切断模式表示其中光束的道存取被停止的状态。通过关断伺服开关98且只接通伺服开关156，关断聚焦伺服，从而借助透镜致动器60将支架上的物镜控制到零位置。在跟踪切断模式下，通过接通伺服开关98，使聚焦伺服得到确认，伺服开关156被接通，从而借助透镜致动器60将物镜控制到零位置。因而，在跟踪切断模式下，只在光束的停止状态下能够聚焦至介质的光束。根据跟踪接通模式，通过接通伺服开关98使聚焦伺服得到确认，且伺服开关142被接通，从而通过借助道误差信号的驱动，来进行透镜致动器60的上道控制。另外，通过接通伺服开关186，借助透镜位置检测信号的位置伺服被加到VCM伺服系统上，从而使VCM偏离或偏心偏离得到补偿。根据精细寻找模式，当上面的设备命令了至目标柱面的存取时，通过透镜致动器60的速度控制和VCM 64的前馈控制，将光束移到目标位置。即，在其中通过接通伺服开关98而使聚焦伺服得到确认的状态下，透镜致动器60的速度控制是通过接通伺服开关118而进行的。另外，与目标和当前道位置之间的偏离相对应的前馈控制，进行通过接通伺服开关178而进行的。另外，通过接通伺服开关186，根据透镜位置检测信号E4的位置偏离，施加控制光束的双重伺服，以通过驱动VCM64而移到一个透镜零位置。位置寻找模式表示借助透镜致动器60的透镜位置控制。在其中透镜被保持在零位置的状态下，VCM64的位置控制被适当地进行，从而借助与目标道位置的当前道位置处的道数目相对应的位置偏离信号，使光束被移到目标道。即，在其中通过接通伺服开关98而使聚焦伺服得到确认的状态下，伺服开关156被接通，从而进行透镜锁定操作，以借助透镜致动器60将透镜保持在零位置。在此状态下，支架被VCM64所移动，从而通过接通伺服开关178，而使目标道位置的偏离被设定为零，从而将光束的位置控制在目标道上。

(1-道寻找控制)

图7A至7C是当从上面的设备接收到1-道寻找指令时跟踪误差信号E2、用于驱动透镜致动器的D/A转换器、电流指令值I2、和寻找控制中跟踪接通模式下的控制状态的时序图，其中在该1-道寻找指令中当前道的内或外侧的相邻道被设定为目标道。根据本发明的光盘驱动器中的1-道寻找控制，如图7A的跟踪误差信号E2所示，寻找控制期间被分成加速期210、预减速期212以及减速期214三个期间。另外，获得了当加速期210结束时的时刻t2的跟踪误差信号E2的取样点216处的值TES1与当减速期214开始时的时刻t4的跟踪误差信号E2的取样点220处的值TES2之间的差，作为表示光束移动速度的信息。图7B中的减速期214中的减速电流的值Ib2，由两个取样点216和220之间的差(TES1-TES2)确定，从而使光束能够通过1-道寻找而被稳定地定位到道上。在图7B中的DAC电流指令值I2的1-道寻找期中的加速期210、预减速期212和减速期214，已经在设计阶段得到预定。加速时间T1、预减速时间T2和减速时间T3，由诸如设备仿真等等的调节，而固定确定。根据本实施例，当假定用于提取跟踪误差信号E2的D/A转换器的取样次数被设定为一小时单位时，在其中道间距等于1.1μm的540MB和640MB高密度记录盒式MO介质中，作为最佳值，在加速时间T1中获得七个取样的时间，在预减速时间T2中获得两个取样的时间，且在减速时间T3中获得四个取样的时间。即，根据本发明中的1-道寻找控制，在总共13个取样的期间中的七个取样被分配给首先的加速期210，且超过1-道寻找期一半的期间被设定为加速期210。通过为这样加速期提供预定的加速电流，即使在1-道寻找的情况下，也进行了足够的加速。该取样数是当图4中的A/D转换器124的取样频率被设定为68kHz时的数目。另一方面，在传统的1-道寻找控制中，零速度期和与加速期对应的减速期和预减速期被设定为几乎1/3。即使当采用了与图7B中的相同的加速电流Ia时，由于传统的加速期太短，即只有整个期间的1/3，光束的加速度比本发明的1-道寻找中的低。因此，在根据本发明的1-道寻找中，通过在对应于传统的加速期的1/3的加速期210-实际上是超过了传统的加速时间的一半的时间T1(＝七个取样)中进行寻找，光束移动速度得到仰角充分的加速。因此，光束移动速度的加速得到了充分的进行，从而减小了1-道寻找时间。在随后的预减速期212中，在最后的减速期214之前，进行了初步的减速。通过把1或更小的预定的系数乘到加速电流Ia上，从而确定用于预减速期212的减速电流Ib的值，就已经足够了。根据本发明人等进行的实验，当加速电流的半电流被设定为预减速电流Ib1时，就能够进行优化的1-道控制。因此，所希望的是用接近加速电流Ia的半值的值，作为预减速期212中所用的预减速电流Ib1。对于预减速期212之后的减速期214中的减速电流Ib2，从加速结束时刻t2和加速开始时刻t4的取样点216和220所检测到的跟踪误差信号E2的值TES1和TES2之间的差(TES1-TES2)以及预减速时间T2，以如下的方式获得速度V。

V＝(TES1-TES2)/T2根据从如上所述的实际跟踪误差信号E2的改变获得的速度V，以如下方式获得减速电流Ib2。

Ib2＝(T3/V)×(制动增益Gb)通过在减速时间T3期间向透镜致动器提供电流Ib2，可以在1-道寻找结束时将光束稳定地定位在道上。在图7C的跟踪接通模式控制状态下，跟踪伺服在时刻t1被1-道寻找控制的启动所关断，且跟踪伺服在时刻t6被减速的结束所接通，从而使光束能够在时刻t6被稳定定位在一个道之前的目标道上。如上所述，在本发明的1-道寻找控制中，由于减速期中减速电流Ib2的值是通过在1-道寻找控制中从跟踪误差信号E2检测实际速度而确定的，即使当速度在加速完成之后有所改变，也能够命令根据此时的速度的优化减速电流Ib2。因此，即使当使用不同的光盘驱动器时，也能够实现1-道寻找的稳定上道。

图8是实现图7的1-道寻找控制的控制过程的流程图。当从上面的设备至图1的MPU14的1-道寻找的指令得到解码时，通过命令DSP15而执行控制过程，以进行1-道寻找。首先，在步骤S0，设定一个TES灵敏度校正值，以将跟踪误差信号E2的上和下峰值归一化到预定的值。归一化TES灵敏度的校正值是以这样的方式获得的，即使得在将盒式MO装载到光盘驱动器中的初始化过程中，通过借助VCM或透镜致动器以预定的速度缓慢移到光束来提取跟踪误差信号，且测量信号的纵向幅度值，从而从测量值和预定的特定幅度值之间的比值获得校正值。例如当假定纵向幅度的指定值被设定为Aref且实际测量到的上和下峰值之差被设定为A时，由公式α＝(Aref/A)得到实际获得并被用来将跟踪误差信号归一化成特定值的校正值α。如上所述，用于对通过装载介质时的初始化过程而获得的TES灵敏度进行归一化的校正值α，在步骤S0得到提取。当在随后的1-道寻找过程中提取跟踪误差信号时，始终使用通过乘上校正值α而得到归一化的值。在步骤S1，输出使A/D转换器相透镜致动器提供加速电流的电流指令值。因此，透镜致动器60使光束向着相邻道加速和移动。在步骤S2，判定预定的加速时间T1是否已经过去。如果“是”，则在步骤S3，此时的跟踪误差信号TES得到取样并被设定为TES1。对于TES1，通过乘以校正系数α以归一化TES灵敏度，进行校正。在步骤S4，例如，把等于加速电流Ia的1/2的半预减速电流Ia/2提供到透镜致动器，从而命令输出电流，以进行预减速。对于预减速状态，在步骤S5进行检查，以判定预定的预减速时间T2是否已经过去。如果“是”，在步骤S6，跟踪误差信号E2再次得到取样并被设定为TES2。在步骤S7，通过利用预定的预减速时间T2，从在步骤S3和S6提取的跟踪误差信号值TES1和TES2，获得速度V。在步骤S8，判定在步骤S7获得的速度V的绝对值是否大于预定的最大速度Vmax。如果“是”，则进行到步骤S9，并判定已经施加了由于振动、光盘驱动器的倾斜等等而引起的异常加速。另一方面，当在步骤S8速度V的绝对值等于或小于最大速度Vmax时，进行到步骤S10，且把速度V的绝对值同一个预定的最小速度Vmin相比较。在此情况下，当该绝对值小于最小速度Vmin时，判定已经通过提取提取错误的跟踪误差信号而计算了错误的速度—这些错误的跟踪误差信号是在步骤S3或S6提取信号时由于诸如振动等等而产生的，从而使速度V在步骤S11被固定在最小速度Vmin。当速度V如上确定时，在步骤S12，通过用速度V除减速时间T3并将制动增益Gb乘到所产生的值上，获得减速电流Ib2，且命令把与速度V对应的减速电流Ib2提供给透镜致动器60。在步骤S13，判定预定的减速时间T3是否已经过去。如果“是”，在步骤S14关断至透镜致动器的减速电流输出。在步骤S15，处于关断状态的上道模式控制被接通，以进行上道控制。因此，在光束被拉至相邻的道之后，在步骤S16，当识别到上道确定状态，例如光束已经被定在道中心并处于预定的偏离之内时，上道的完成被通知给MPU14，从而完成一系列的1-道寻找控制。在完成1-道寻找控制之后的上道控制状态下，MPU14根据在上面的设备的1-道寻找指令之后传送的存取指令，将数据记录到介质道上或从该道上再现数据。

在此例中，作为图7A至7C中的1-道寻找控制中的加速期210中的加速时间T1、预减速期212中的预减速时间T2、以及减速期214中的减速时间T3的最佳值而显示的取样数，是在图5的A/D转换器124的取样频率被设定为68kHz的情况下获得的数，其中A/D转换器124中已经提取了跟踪误差信号E2。在取样频率为68kHz的情况下，一个取样的时间为大约15微秒。在13个取样的情况下，设定195微秒的时间就足够了。即使当包括了t5和t6之间的时间的稳定时间时，1-道寻找的上道也能够在250至300微秒的短时间内进行。另外，根据本发明的1-道寻找控制，当至例如目标柱面的道数小于预定值时，例如在几个道的情况下，寻找是通过重复图7A至7C中的1-道寻找控制与至目标道的道数相等的次数，而得到进行的。更具体地说，对于每一个道，都重复从t1至t6的时间的过程。对于道数超过了通过重复1-道寻找控制而进行的至目标道的寻找，进行根据图6的精细寻找模式的寻找控制。

(精细寻找)

在图1中，在本发明的光盘驱动器中，当MPU14识别出已经从上面的设备通过接口控制器16接收到了向对应于超过1-道寻找控制的道数的目标道的存取指令时，MPU14命令DSP15进行精细寻找—其中指定了目标道地址。通过由MPU14接收精细寻找指令，DSP15如图9A至9D的时序图所示地进行精细寻找控制。该精细寻找控制是这样的，即用于移动装在图2的支架76上的物镜80的透镜致动器60，被用作主装置，并同时进行控制，以使用于驱动支架76的VCM64被用作副装置。

在图9A至9D的精细寻找控制中，显示了从寻找开始至寻找结束的时间里的跟踪误差信号E2、光束速度V、透镜致动器60的电流I2、以及VCM64的电流I3。透镜致动器60的寻找控制器进行控制，以根据从当前道至目标道的剩余道的数目，设定目标速度。如图9B所示，速度控制是在加速期间230、恒定速度期间232、以及在恒定速度期间238之后且刚好在目标柱面之前的减速期间240中进行的。另一方面，如图9D所示，在VCM 64进行的支架控制中，前馈控制产生加速电流和减速电流，以恒定的加速度加速支架，并在此之后在寻找开始时根据目标道的减速道的位置偏离进行减速。更具体地说，作为VCM电流I3，在寻找控制的前半部提供一个加速电流246，并在寻找控制的后半部提供一个减速电流248。借助通过VCM 64的前馈控制的恒定加速控制，对于图9B的光束速度V，借助VCM的前馈控制的恒定加速期间230出现在借助透镜致动器的速度控制的恒定速度期间232的中间。当光束通过与至目标道的一半距离对应的位置时，光束速度V借助VCM64的前馈控制的减速电流而进入恒定减速期间236。当VCM恒定减速期间236中的减速电流低于借助透镜致动器60的速度控制的恒定速度控制的目标速度处的电流时，光束速度V呈现为恒定速度期间238。另外，当详细考虑透镜致动器60的速度控制时，一个具体的加速电流242在寻找开始时的时刻t1被提供给透镜致动器60。该加速电流具有电流值Ia并在预定时间T1中得到提供。因此，透镜致动器60在预定的恒定速度得到加速。当加速在时刻t3结束时，控制模式进入恒定速度控制，其中速度被保持恒定，以被设定在目标速度。当通过图9A中的跟踪误差信号E2的目标道一个道之前的零交叉点250时，在从时刻t8至时刻t9的时间中提供减速电流244，该减速电流是根据在零交叉点250之前和之后的取样点248和252获得的跟踪误差信号E2的值TES1和TES2之间的差(TES1-TES2)的。当减速在时刻t9完成时，上道伺服得到确认，从而将光束定位在目标柱面的道上。另一方面，在图9D的VCM64控制中，在刚好在直到获得跟踪误差信号E2的第一零交叉点的时刻之前的零交叉点计数启动时间Tcs已经过去时的时刻t2，一个用于加速的前馈电流-Iff被提供给VCM64，从而进行沿着目标柱面的方向的加速控制。当通过计数跟踪误差信号E2的零交叉点而确定光束在时刻t4到达了与目标柱面的一半距离对应的道位置时，该电流在此时被切换到减速电流Iff，从而进行恒定加速度的减速控制的。在与刚好在目标道之前0.5道的位置的零交叉点250对应的时刻t6处，VCM64的减速电流被关断，从而完成前馈控制。

在此例中，图9A中的跟踪误差信号E2是装载盒式MO情况下的精细寻找中的跟踪误差信号。对于盒式MO介质，由于跟踪误差信号E2的零交叉点是在相邻道边界处获得的，零交叉点的道位置具有诸如0.5、1.5、2.5……的标度

图10A至10B显示了减速控制的细节，该减速控制是在为恒定速度期间238和刚好在图9A至9D中的目标道之前的减速期间240提取跟踪误差信号E2和光束速度V的同时进行的。如图10A所示，在分别位于目标道之前0.5道的零交叉点250之前和之后的取样点248和252，提取跟踪误差信号E2的值TES1和TES2。根据它们之间的差(TES1-TES2)，为提供给图10B的透镜致动器60的减速电流确定在取样点252的时刻t7之后直到减速开始的减速开始时间T1、减速时间T2、和减速电流Ib。即，在取样点248和252处的跟踪误差信号E2之差(TES1-TES2)，表示了取样期Ts的光束移动量。因此，光束速度V以如下方式获得。

V＝(TES1-TES2)/Ts根据本发明的减速控制，在固定确定的减速时间T2期间提供的减速电流Ib，是根据光束速度V确定的。即，减速电流Ib是由以下表达式获得的。

Ib＝(T2/V)×(制动增益Gb)当减速开始之前的光束速度处于能够将光束拉入在道状态的有限速度的范围内时，通过根据光束速度V确定减速电流Ib的这种减速控制是有效的。为了在减速开始时鉴别光束速度，根据本发明，图10A中在目标道之前两道的零交叉点254和在目标道之前一个道的零交叉点250之间的时间T0，即目标道之前1.5道的位置与目标道之前0.5道的位置之间的时间T0，得到了测量，从而以如下方式获得了减速起始速度V0。

V0＝(2×道间距TP)/T0当如上获得的减速起始速度V0处于能够将光束拉入在道状态的有限速度范围之内时，图10B中的减速开始时间T1被如下确定。

T1＝T0/256在此例中，分母中的256表示预定的缺省值。作为这样的值，可以根据需要采用适当的值。在减速开始时间T1过去的时序，从速度V、减速时间T2以及制动增益Gb确定减速电流Ib，并在固定确定的减速时间T2中提供该减速电流Ib，其中速度V是从刚好在目标道之前的零交叉点250之前和之后的取样点248和252之间的差(TES1-TES2)获得的。另一方面，当根据1.5道之前的位置和0.5道之前的位置的时间T0减速起始速度V0超过了能够将光束拉入在道状态的有限速度时，减速起始速度V0太高了。在此情况下，不从光束速度V确定减速电流Ib-该光束速度V是根据刚好在目标道之前的零交叉点250之前和之后的取样点248和252之间的差(TES1-TES2)获得的。当假定减速开始时间T1被设定为0(T1＝0)且减速电流Ib被设定为预定的最大减速电流值Imax时，减速时间T2由以下表达式获得。

T2＝(2×道间距TP)/T0如上所述，在速度过大的情况下，通过在减速时间T2中提供最大减速电流Imax，可以有把握地将速度减速到接近零的速度—在该速度能够将光束稳定地拉入到目标道中。

图11A和11B是图9A至9D中的精细寻找控制的流程图。在图12A和12B中详细显示了刚好在目标道之前的减速控制。图11A显示了精细寻找控制中对透镜致动器60的主控制。首先，在步骤S1，在寻找开始时将加速电流Ia输出到透镜致动器60，如图9C所示。如图9D所示，在步骤S2判定预定零交叉计数的启动时间Tcs是否已经过去。如果“是”，在步骤S3判定致动器的加速时间Ta是否已经过去。直到致动器加速时间Ta过去，在步骤S4判定是否检测到了第1-道零交叉点。如果“是”，随后进行步骤S5并设定第一TZC检测标记。当在步骤S3致动器加速时间Ta过去时，在步骤S6判定步骤S5中的第一TZC检测标记是否已经得到设定。如果“是”，随后进行步骤S8。如果“否”，即当未检测到第1-道零交叉点时，在步骤S7判定是否已经检测到道零交叉点。当检测到道零交叉点时，随后进行步骤S8。当从跟踪误差信号E2的零交叉点的过去的时间获得光束速度时，由于该速度不能在寻找开始时的第一零交叉点处检测到且能够在第二时刻首先获得，步骤S4至S7的第1-道零交叉点的检测表示了从速度的算法操作的目标跳过第一零交叉点检测的过程。在步骤S8，在寻找开始之后，当进行对道零交叉点的第二检测时，首先从此时的两个零交叉点之间的时间间隔获得光束速度，从而使得能够在步骤S9和随后所要进行的步骤进行致动器速度控制。因此，当在步骤S8进行第二道零交叉点检测时，光束位于一个位置，该位置移向距寻找开始位置1.5道的目标柱面侧。在步骤S9，获得前1-道零交叉点和当前道零交叉点之间的时间间隔，并将其与对应于透镜致动器的硬件故障的预定时间φ2相比较。如果该时间间隔超过了异常时间φ2，则在步骤S10进行误差处理。如果道零交叉点之间的时间间隔正常，则随后进行步骤S11并判定至目标道的剩余道数目是否已经达到1.5道。直到剩余道的数目达到了目标道之前1.5道，在步骤S12和随后的步骤进行速度控制处理。在步骤S12，判定寻找方向是否向内的方向。如果“是”，随后进行步骤S13且使VCM64能够产生用于向内寻找的前馈电流。如果是向外方向，在步骤S14，使VCM 64产生用于向外寻找的前馈电流。在步骤S15，由从当前道至目标道的剩余道的数目，计算目标速度。在图11B的步骤S16，判定目标速度是否等于最大目标速度VTmax。当目标速度大于最大目标速度VTmax时，在步骤S17，目标速度被设定为最大目标速度VTmax且确定至VCM64的电流，以使其等于与VTmax相对应的恒定加速速度φ1。当计算出的目标速度等于或小于最大目标速度VTmax时，不进行步骤S17的处理。在步骤S18，从目标速度减去实际速度—即通过用道零交叉间隔除道间距TP而获得的值，预定的速度反馈增益Gv被乘到相减所产生的值上，且电流I2被输出到透镜致动器60。在图11A的步骤S11，当剩余道的数目达到1.5道时，进行步骤S19的减速控制。步骤S19的减速控制的细节在图12A和12B中显示。

在图12A的减速控制中，当剩余道的数目达到目标道之前的1.5道时，在步骤S20，速度控制的控制状态得到改变，并进行预减速。根据该预减速，速度控制的反馈增益Gv被减小且目标速度被同时设定为0。为了DC反馈增益Gv，更具体地说，乘上了校正系数K。作为校正系数K，K＝0.5是实验获得的最佳值。如上所述，通过将目标速度设定为0并将反馈增益Gv减小一半，被作为此时的光束速度的值(道间距TP)/(TZC时间间隔)具有负值。如图10B所示，从在目标道之前1.5柱面的位置，通过将与速度反馈增益Gv的一半相对应的值乘以上述负值而获得的预减速电流256，被提供给透镜致动器60。通过在如上所述的步骤S20中在目标柱面的减速控制之前进行的预减速控制，可以把光束速度控制在一个优化减速起始速度。在步骤S21，判定剩余道的数目是否已经达到0.5道。直到剩余道的数目达到0.5道，在步骤S22，每当获得跟踪误差信号E2的取样值TES时，都将其作为用于速度比例值计算的TES1而提取。当在步骤S21剩余道的数目达到0.5道时，在步骤S23判定从1.5道至0.5道的一段时间里的减速起始速度V0是否超过了一个有限速度Vth。更具体地说，与有限速度Vth对应的阈值时间Tth被设定为100微秒。当1.5道和0.5道之间的时间的TZD时间间隔T0小于100微秒时，判定速度V0超过了该有限速度，且处理进行到步骤S3和随后步骤中对过速的处理。当TZC时间间隔等于或大于100微秒时，判定速度V0是适当的减速起始速度。在步骤S24，判定在0.5道过去之后的第一取样时序。当该时序达到取样时序时，在步骤S25，跟踪误差信号TES得到提取并被设定为TES2。在步骤S26，通过利用TZC时间间隔T0和缺省值256，计算出减速开始时间T1。在步骤S27，判定减速开始时间T1是否已经过去。如果“是”，在步骤S28判定光束速度V是否大于预定的最大速度Vmax。如果速度V超过了最大速度Vmax，则在步骤S31，在固定确定的减速时间T2中输出最大减速电流Imax。当速度V等于或小于最大速度Vmax时，在步骤S29判定速度V是否等于或小于最小速度Vmin。当速度V等于或小于最小速度Vmin时，在步骤S32，在固定确定的减速时间T2中输出最小减速电流Imin。当借助(TES1-TES2)获得的光束速度V处于最大速度Vmax与最小速度Vmin之间的适当范围内时，在步骤S30，从取样期Ts、光束速度V和制动增益Gb确定减速电流Ib，并在预定的减速时间T2中提供该减速电流Ib。当在步骤S30、31或32把减速电流输出到透镜致动器60时，随后进行图12B的步骤S33，且判定减速时间T2是否已经过去。如果“是”，随后进行步骤S34，且控制模式被切换到上道控制—即图5和6中的跟踪接通模式，且光束被拉入到目标道上。当在步骤S35获得了上道稳定检查时，一系列的处理完成。

在图12A的步骤S23，当判定从1.5道的位置至0.5道的位置的TZC时间间隔T0小于对应于有限速度Vth的有限时间Tth＝100微秒，且减速起始速度超过了有限速度Vth时，随后进行步骤S36，且减速开始时间T1被设定为T1＝0，且减速时间T2以如下方式获得。

T2＝(2×道间距TP/T0)现在，假定沿着减速方向的加速度被设定为A且减速起始速度被设定为V，对减速时间T2的计算意味着

T2＝V/A

随后，在步骤S37，输出预定的最大减速电流Imax。在步骤S38，判定在步骤S36计算出的减速时间T2是否已经过去。当减速时间T2过去时，处理进行到图12B的步骤S34，且控制模式被切换到上道控制。在步骤S35，判定上道稳定的完成。在此之后，处理完成。

图13A和13B是时序图，显示了当图3的CD介质82被装载到本发明的光盘驱动器中时，刚好在精细寻找控制的目标道之前减速控制。以与图10A和10B类似的方式，图13A和13B显示了从CD介质获得的跟踪误差信号E30和此时提供给透镜致动器60的电流I2。在CD介质中，跟踪误差信号E30在道中心与零点相交。因此，在CD介质情况下跟踪误差信号的零交叉点表示了道号0，1，2，3，……因而在刚好在CD介质中的目标道之前的减速控制中，如图13A所示，减速起始速度V0是从零交叉点400和402的TZC时间间隔T0获得的，而零交叉点400和402处于从目标道之前两道的位置到目标道之前一个道的位置的范围内。在零交叉点402之前和之后的取样点404和406处的跟踪误差信号E20的值被设定为TES1和TES2(零交叉点402在目标道之前一个道)，且从它们之间的差(TES1-TES2)获得光束速度V。其他的构成与图10A和10B中的盒式MO介质情况下的基本相同。作为CD介质中的道间距TP，采用了CD特定的1.6微秒。在盒式MO介质中，以与CD介质类似的方式，道间距TP对于540MB和640MB被设定为1.1微秒，对于230MB被设定为1.4微秒，且对于128MB被设定为1.6微秒。因此，只要根据与介质的种类对应的道间距和介质是盒式MO介质还是CD介质(对应于当盒式MO或CD被装载时的介质种类识别结果)设定道数目的标准，就足够了。对于减速控制中使用的跟踪误差信号的值TES1和TES2，显然应该理解的是，灵敏度校正是通过用校正值乘这些值以使通过介质装载的初始化过程而获得的跟踪误差信号归一化而进行的，且校正的值得到使用。

(偏心量的校正)

图14是功能框图，用于测量介质的偏心量，并根据为图1中的光盘驱动器提供的光盘介质被装载之后的初始化过程中的测量结果，来进行偏心校正。对于偏心校正，先在MPU10侧设置偏心测量单元260。在DSP15侧设置偏心存储器控制单元262。根据MPU10的偏心测量单元260的偏心信息测量结果，利用偏心存储器200，对VCM64的伺服系统进行偏离校正，以校正偏心量。更具体地说，根据偏心存储器200形成的偏心偏离量，在图4的VCM64的伺服系统中的限幅器196的输出阶段被提供给加法器198。一个用于抵消偏心量的偏心偏离被提供给VCM 64的电流指令值，而该电流指令值被输入到加法器198。

首先，描述为MPU10设置的偏心测量单元260的测量过程。图15显示了装载到本发明的光盘驱动器上的盒式MO介质70。盒式MO介质70具有一个轮毂，该轮毂附在位于介质中心的转轴马达的转轴上。在转动中心264的介质表面上形成的道中心266通常具有大约几十μm的偏心。因此，当盒式MO介质70被装载和附在转轴马达的转动中心264上时，在道上出现了一个偏心量—其中对应于转动中心264与道中心266之间的偏心量的一周转动被设定为一个周期。盒式MO介质70的盘表面的记录区域，沿着径向方向被分成从最里的区0至最外的区9的十个区。各个区通过重复ID区268和MO区270而构成。对于包括在区中的道，被ID区268所除的扇区的数目是相等的。如在右侧所示的三个道的放大图所示，ID区是由称为坑的信息单位组成的一组槽或孔。在该ID区中写入了扇区标志、道号、扇区号、CRC等等。因此，通过再现ID区268中的信号，能够检测光束所在的区号、道号、扇区号等等。在ID区268之后提供的MO区270，是记录和再现数据的区。

图16显示了在其中支架和透镜致动器停止的状态下，当光束点272固定在任意道位置时，介质的一周转动的光束轨迹274。为了简化说明，实际上，偏心介质表面侧被固定，且光束点272的运动被相对地表示为光束轨迹274。如图15所示，在盒式MO介质70中，由于在机械转动中心264与道中心264之间存在有大约几十μm的偏心，当光束点272固定且介质转动时，由于比偏离两倍大的幅度，光束轨迹274产生了位置改变，从而对一周转动被设定为一个周期。为了测量这种光盘介质中的偏心量，在图6的偏心测量单元260中，在其中VCM64和透镜致动器60被停止的状态下，只有聚焦伺服被接通，相对于如图17A所示的跟踪误差信号，计数每一周转动的零交叉点数。在此情况下，如图17B所示，采用了一个转动检测信号E4，它通过利用光盘介质的指标作为基准位置而一周转动的开始位置275。即，转动检测信号E4在时刻t1从其中一周转动的开始位置得到识别的状态上升，跟踪误差信号E2的零交叉点数得到计数。直到转动检测信号在时刻t6再次上升时的零交叉点数目也得到计数。如果能够以如上方式计数一周转动期间Trot中的零交叉点数目(N)，假定道间距被设定为TP，则偏心幅度Eamp可被计算为

Eamp＝(N/2)TP另一方面，对于作为具有正弦波形特征的偏心量的相位—其中一周转动被设定为一个周期，如图16所示)，对于一周转动开始位置275，跟踪误差信号E2的零交叉间隔的最大时间Tmax，是通过将转动检测信号E1的一周转动开始位置275设定一个基准值，且将直到Tmax的中间时刻t4的时间Tφ设定为偏心相位，而获得的。即，在图17A中，由于时刻t3与时刻t5之间的零交叉时间间隔被设定为最大时间Tmax，直到中间时刻t4的时间Tφ被确定为从转动检测信号E4的转动开始位置275至原始位置的相位量，其中在该原始位置具有正弦波形特征的偏心量等于0。

如图17A至17C所示，当能够根据跟踪误差信号E2的零交叉点测量偏心幅度Eamp和相位Tφ时，测量结果被置入图14的DSP15的偏心存储器控制单元262。与各个转动位置对应的正弦值，与介质的转动同步地被从偏心存储器200读出，并被乘以偏心幅度Eamp，从而获得偏心量。在借助偏心量进行偏离校正的同时，跟踪误差信号E2在每一周转动中的零交叉点数目再次得到测量。

在图18A至18C，当通过图17A至17C的测量而获得的相位Tφ与实际的偏心相位一致时的偏心校正时的跟踪误差信号E2，与转动检测信号E4一起得到显示，且用于偏心校正的抵消电流I3被提供给VCM64。当所测量到的偏心相位Tφ，通过把偏心校正电流I3提供给VCM64，而得到校正时，光束至道的偏心得到了校正。在此情况下，每一个转动周期Trot所获得的跟踪误差信号E2的零交叉点数目，被大大减小，例如在此情况下被减小到6次。由于零交叉点数目对应于偏心校正之后的剩余偏心幅度，所以可以证实校正是根据适当的偏心测量结果而进行的。另一方面，当在图17A至17C中测量到的相位Tφ与实际相位偏离180°时，即使根据测量到的结果进行偏心校正，也会使偏心量增大。在此情况下，如图19A至19C所示，通过转动检测信号E4的一个转动周期Trot获得的跟踪误差信号E2的零交叉点数目大大地增大。当如上所述的测量值的零交叉点数目增大时，由于测量到的相位Tφ偏离了180°，通过将一周转动时间Trot的一半加到测量到的相位Tφ上，可以将其校正到相位(Tφ+Trot/2)。如果该相位能够被校正到如上所述的正确相位，就能够通过借助校正相位的偏心校正，而获得优化的偏心校正状态，如图18A所示，其中在该优化偏心校正状态下一个转动周期Trot的零交叉点数目比第一次测量时的数目大大减少了。

图20是借助为图14的MPU10设置的偏心测量单元260的偏心测量过程的总体流程图。在本发明的光盘设备中，在其中盒式MO或CD得到装载的初始化过程中，在步骤S1所示的第一测量过程之后，在步骤S2执行第二测量过程。

作为在步骤S1和S2的测量过程的内容，如图19所示，从跟踪误差信号的零交叉点，测量偏心幅度Eamp和相位Tφ。随后，利用测量结果进行偏心校正。如果零交叉点数目增大，进行把相位校正到相反的相位的处理。另外，当在每一个测量过程中执行偏心校正时每一周转动的零交叉点数目，都得到保留。当在步骤S2完成了第二测量过程时，随后进行步骤S3。获得了根据第一和第二测量过程中(即在前一和当前的测量过程中)的测量结果的偏心校正的每一周转动的零交叉点数目之间的差的绝对值。当该差的绝对值处于预定的阈值TH之内，例如一个允许的偏心校正量，更具体地说，当它等于或小于TH＝10时，就认为测量结果是正确的。例如，在第一和第二测量过程的测量结果中，在校正之后的零交叉点数目较小的测量结果被用于偏心校正。另一方面，当前一和当前测量过程之间的差的绝对值超过了预定阈值TH时，处理再次返回到步骤S2，且测量过程重新进行。在此情况下，测量过程是第三次。在步骤S3，判定前一和当前次之间即第二次与第三次的差的绝对值是否等于或小于阈值TH。在此情况下，如果在第一测量过程中由于振动等等而进行了异常的偏心测量，在第三次测量时前一和当前测量过程中的测量结果之间的差的绝对值通过比较而等于或小于阈值TH，从而使正确的测量结果能够被用于偏心校正。因此，在装载了光盘介质之后的初始化过程中的偏心测量阶段加上了振动、噪声等等并进行了错误的测量过程，通过重复该测量过程直到前一和当前测量结果之间的差的绝对值处于预定的阈值之内，就能够自动消除错误的偏心量测量结果的采用。

图21是在图20的步骤S1或步骤S2执行的偏心测量处理的流程图。首先，在步骤S1，检测其中转动检测信号上升的一周转动，即检测转动起始位置是否存在。当检测到一周转动时，随后进行步骤S2并检测跟踪误差信号的零交叉点。当获得了零交叉点时，在步骤S3计数器CNT的计数值增加1。在步骤S4，判定零交叉时间间隔是否已经大于最大值MAX。当它已经大于最大值MAX时，新获得的TZC时间间隔在步骤S5被设定为最大值MAX。对于作为最大值MAX的TZC时间间隔，在步骤S6，从检测到一周转动的时间被插入相位Tφ。上述的过程得到重复，直到在步骤S7检测到下一周转动。当通过在步骤S7检测一周转动，而从计数器CNT的计数值获得了对应于一周转动和它们之中的TZC时间间隔的最大值的相位Tφ时，在步骤S8计算偏心幅度Eamp。偏心相位Tφ在步骤S9获得。在步骤S10，根据测量到的偏心幅度Eamp和相位Tφ，执行偏心校正操作。在步骤S11，在进行偏心校正操作的同时，由计数器CNT测量对应于一周转动的、借助偏心量的零交叉点数目。在步骤S12，把测量之前和之后的计数器CNT的值与零交叉点值相比较。如果校正之后的值与零交叉点值相比得到减小，测量结果被判定是正确的，且处理过程结束。如果校正之后的值增大，在步骤S13偏心相位Tφ被校正到偏离180°的^*Tφ，并执行偏心校正操作。

图22是借助在图21的步骤S10测量到的偏心幅度Eamp和相位Tφ的偏心校正操作的流程图。该偏心校正控制操作预定的取样时钟的每一次中断。当有取样中断时，都从步骤S1的转动检测的时刻tx减去测量到的偏心相位Tφ。当计算值t小于0且是负值时，随后进行步骤S3，且通过加上一周转动时间Trot而对其进行校正。这是由于如图23A至23C的时序图所示。

图23A显示了一个取样时钟信号。图23B显示了转动检测信号E4。现在假定图22的偏心校正控制是以取样时钟信号的时序在转动检测信号E4的前缘之后的时刻t1执行的，则在此情况下在步骤S1计算出的时刻t为t＝t1-Tφ并具有负值。处理从步骤S2进行到步骤S3，且时刻t通过加上转动检测信号E4的一周转动周期Trot而得到校正。因此，校正值等于(t1+Trot)。作为偏心存储器200中的一个地址，具有作为转动检测信号E4的前缘的转动起始位置的相位Tφ的延迟的一个位置，被设定为0点，且值sin2πft得到存储。因此，在步骤S3计算出的值(t＝t1+Trot)等于图23C中的偏心存储器200中的点282处的值。现在，假定偏心存储器200也存在在相位Tφ侧，在点282处的值是一个正弦值，且该正弦值与在对应于被用作点282的时刻t1的转动位置处的值相同。因此，直到从转动起始位置过去的时间tx超过了相位Tφ，对通过步骤S3的校正的偏心存储器200执行读出操作。在步骤S4，由于在步骤S3或步骤S1获得的时刻t被用作地址且sin2πf的值被从偏心存储器200读出，通过将测量到的偏心幅度Eamp乘到读出的值上，获得了用于校正偏心量的校正电流Ie，并将该校正电流Ie加到至VCM64的驱动电流上，从而进行偏心校正。

借助取样时钟信号取样的正弦数据sinθ的每32个取样，被存储在图14的偏心存储器200中，该取样被用于确定DSP15的操作时序。因此，在盒式MO介质的转速为3600rpm的情况下，存储在偏心存储器200中的、与一周转动对应的正弦数据的数目等于36。每10°的正弦数据都被存储在该表中。寄存在偏心存储器200中的正弦数据之间的数据，通过利用线性插值的近似计算获得，并被输出。当CD被装载时，光盘驱动器的介质转动速度被改变到与CD对应的2400rpm。当介质的转速如上所述地改变时，由于偏心存储器200的读出周期是恒定为32个取样的，所以存储到偏心存储器200中的数据的数目改变。在2400rpm的情况下，一周转动的偏心校正所需的正弦值数据的数目等于54，且需要每大约6.7°的正弦数据。因此，当从装载的介质识别出转速的改变时，偏心存储器200得到更新，以存储适宜改变后的转速的正弦数据。

(包络伺服)

图24是为图1的光盘驱动器的控制器10设置的TES检测电路50的电路框图。光敏信号E5和E6，从设置在光学单元侧的二分检测器46的光敏单元46-1和46-2，被输入到TES检测电路50。TES检测电路50由峰保持电路290和292、减法器294、以及包络检测切换电路295组成。峰保持电路290和292具有如图25的峰保持电路290所代表性地显示的电路结构。在输入端之后，用于峰保持的电容C1通过电阻R1和二极管D而与图25的峰保持电路290相连。用于放电的电阻R2与电容C1并联。用于放电的电阻R3通过模拟开关296而连接。模拟开关296由来自图24中的包络检测切换电路295的切换信号E9进行通/断控制。在把包络伺服置于接通状态的情况下，即执行包络检测的情况下，模拟开关296如图中所示地被关断。在此情况下，电容C1的放电时间常数由电阻R2确定。由C1和R2的值确定的放电时间常数，被设定为这样的时间常数，即使得能够进行抑制跟踪误差信号的下降的包络检测，而这种下降是由于540MB或640MB的盒式MO介质的ID部分的返回光引起的。为了关断包络检测，模拟开关296被接通。当模拟开关296被接通时，除了放电电阻R2以外，放电电阻R3也与电容C1相并联。因此，放电电阻减小为电阻R2和R3的并联电阻值，从而使包络检测被置于关断状态。显然应该理解的是，当用户想要完全关断包络检测时，电容C1自己也可以借助模拟开关296而得到断开。

在图24的包络检测切换电路295中，峰保持电路290和292的包络检测受到来自图1的DSP 15的切换控制信号的通/断控制。包络检测的通/断操作是以如下方法进行的。

I.当装载具有反射部分的128MB盒式MO介质时，包络检测被关断。

II.在230MB盒式MO介质的装载状态下，当接收到一个存取指令时，包络检测被关断，其中在该存取指令中用户区中的具有反射部分的非用户区—即所谓的处理区—被设定为目标道。

III.在540MB和640MB的盒式MO介质的速度控制中，当检测到超过预定值的高速寻找时，包络检测被关断。对于230MB盒式MO的用户区，也以类似的方式在高速寻找时关断包络检测。

作为判定高速寻找的预定速度，只要进行道零交叉间隔的高速寻找就足够了，该零交叉间隔短于直到跟踪误差信号从峰电平减小到0电平所需的时间，而该时间是由图25中的电容C1和电阻R2所确定的，且该时间是根据包络检测被接通时的放电时间常数的。

图26是具有反射部分的介质表面的说明图。对于MO部分270的ID部分268，在每一个道上形成有槽298。对于ID部分268，在槽298所夹的区域中形成有包括凸凹的坑302。然而，在它们之间存在有具有平整的镜表面的反射部分300。在这种介质道中，来自ID部分的光束的返回光对跟踪误差信号的影响如图27A至27D所示。图27A显示了二分检测器46的光敏信号E5。图27B显示了二分检测器46的光敏信号E6。光敏信号E5和E6的幅度都根据ID部分268中坑302的凹和凸部分而出现下降。图27C显示了通过从光敏信号E5减去光敏信号E6而获得的跟踪误差信号E2。在幅度分量中出现了一个下降，在该下降中加有光敏信号中的ID部分的下降。当出现这种幅度下降308时，例如，在跟踪误差信号E2的低幅度部分中，出现一个道零交叉，且道计数操作被错误地进行。因此，通过接通借助图24的峰保持电路290和292的包络检测，可以把来自ID部分的返回光造成的涨落抑制成平稳的幅度涨落310。

图28A至28C显示了由于来自图26的反射部分300的返回光的光敏信号E5和E6以及跟踪误差信号E2，并涉及包络检测的关断状态。由于来自反射部分300的返回光变成了电平和极性与光敏信号E5和E6相同的信号，跟踪误差信号E2从光敏信号E5和E6之间的差，造成了与反射部分相对应的一个信号下降，如下降部分314所示。图29A至29C显示了在这样的情况下的信号特性，即其中对于图28A至28C中的反射部分的介质的跟踪误差信号的检测而接通了包络检测。当包络检测被接通时，与光敏信号E5和E6的ID部分相对应的下降304和306得到抑制，如幅度涨落316和318所示。跟踪误差信号E2的幅度下降308也得到抑制，如幅度涨落310所示。然而，对于来自ID部分之后的反射部分的反射分量315和312，在反射分量上升之后，包络检测被接通。因此，幅度分量根据包络检测的放电时间常数，象波形230和322那样，缓慢地减小，从而使测量过程之后的跟踪误差信号的信号幅度324受到了很大的畸形，如跟踪误差信号E2中所示的。为了避免图29A至29C中所示的、由于包络检测被接通时的反射部分的返回光而引起的跟踪误差信号E2的这种畸变，所希望的是关断包络检测并如图28A至28C所示地采用跟踪误差信号E2。

图30A至30C显示了当矩形波脉冲326被输入图25的峰保持电路290时，在接通包络检测时的后缘波形330和其被关断时的后缘波形332。当包络检测被接通时，由于在峰检测之后的后缘波形330后延如图30B的输出所示的一个通常的时间常数，由于其中ID部分的下降等等得到了抑制的包络检测，能够形成一个平稳的跟踪误差信号。对于具有反射部分的介质，则通过关断包络检测，波形如图30C所示地突然后延(332)，从而使由于反射部分的返回光产生的光敏分量缓慢地后延，从而使得可以防止跟踪误差信号的大的畸变。

图31A和31B显示了高速寻找时相对于包络检测的通/断操作的跟踪误差信号。图31A显示了当包络检测被关断时在高速寻找模式下的跟踪误差信号。跟踪误差信号的上和下峰值幅度和它们之间的零交叉点都得到了精确的重新构成。另一方面，当包络检测被接通时，该信号显示出如图31B所示的平缓的后缘波形330，从而使零交叉间隔变短。在高速寻找模式下，如图31B所示，只有上和下峰的幅度分量得到检测，且作为跟踪误差信号的功能完全失去。在本发明中，在高速寻找模式下，为了避免如图31B所示的跟踪误差信号的失去，关断了包络检测，从而使跟踪误差信号即使在高速寻找中也能够被精确地形成，如图31A所示。

图32是图24的包络伺服控制过程的流程图。首先，在步骤S1，当介质被装载时，识别装载的介质的种类。当在系统2识别出装载的介质是128MB的盒式MO介质时，随后进行步骤S3，且包络伺服被关断。当在步骤S4识别装载的介质是230MB的盒式MO介质时，在步骤S5判定非用户区是否被存取。当从上面的设备接收到其中非用户区被设定为目标道的存取时，随后进行步骤S6，且包络伺服被关断。当没有对非用户区的存取时，包络伺服在步骤S7被接通。

图33显示了在包络伺服被接通的状态下当执行寻找控制时对包络伺服的通/断控制。在该寻找控制中，在步骤S1，判定从跟踪误差信号的零交叉时间间隔获得的寻找速度是否等于或高于预定的阈值速度Vth。当该寻找速度等于或高于阈值速度Vth时，判定寻找模式是高速寻找。包络伺服在步骤S2被关断。当寻找速度小于阈值速度Vth时，在步骤S3维持包络伺服的接通状态。上述的处理得到重复，直到在步骤S4鉴别出寻找的结束。当寻找速度在寻找期间等于或小于Vth时，包络伺服在该时刻在步骤S3被接通。

(聚焦伺服)

图34显示了设置在用于聚焦致动器56的聚焦伺服中的PID操作单元96的功能框，而聚焦致动器56是由图4的DSP15实现的。PID操作单元96包括：微分操作单元，它具有微分器340和增益倍增器342；积分操作单元，它具有积分器344和增益倍增器346；以及，比例操作单元，它利用增益倍增器348。根据图1中的FES检测电路48产生的介质的返回光的光敏输出而形成的聚焦误差信号E1，被输入到微分器340、积分器344和增益倍增器348中的每一个。增益倍增器342、346和348的输出被加法器350所倍增，且最后由D/A转换器108通过伺服开关98向聚焦致动器56提供一个电流，作为PID算法操作的聚焦伺服信号。进行一个响应聚焦，以将聚焦误差信号E1设定为0。在本发明中，为如上所述的聚焦伺服的PID操作单元96新设置了一个增益控制单元352。一个ID选通信号E11从图1所示的格式化器18被输入到增益控制单元352。当来自格式化器18的ID选通信号E11被设定为使能时，增益控制单元352将设置在微分器340之后的增益倍增器342的增益切换到0。因此，在ID选通信号E11得到使能的时间里，从增益倍增器342输出的微分分量被设定为0。比例操作单元作为比例操作单元而进行操作。

图35A至35D显示了在微分器340的增益倍增器342的增益没有与ID选通信号E1 1同步地被增益控制单元352设定为0的情况下的操作。与图35A的道的ID部分相对应，聚焦误差信号E1如图35B所示地涨落。在此情况下，当图34的PID操作单元96的PID操作功能得到确认时，主要取决于微分分量的至聚焦致动器56的电流I1，以与ID部分之前和之后的聚焦误差信号E1的后和前缘相同步的脉冲的形式，得到提供。即，当从MO部分移到ID部分时，进行了将物镜聚焦到ID部分上的自动聚焦。当从ID部分移到MO部分时，进行了用于相反地将物镜聚焦到MO部分上的自动聚焦。上述操作在道上的每一个ID部分上都得到重复。因此，物镜的透镜位置根据MO部分和ID部分而被交替地被控制到聚焦位置，如图35D所示。然而，对于ID部分，由于形成了借助物理坑的记录状态，不需要象在MO部分中那样的用于磁光记录的精确自动聚焦控制。即使透镜没有被聚焦在ID部分上，也能够从ID部分的返回光再现出具有足够高的S/N比的ID信号。因此，在本发明中，如图36C所示，用于倍增微分器340的增益的增益倍增器342的微分增益Gd，如图36D所示地，在与ID选通信号E11同步的ID部分的时序，被设定为0，其中该ID选通信号E11是与道的ID部分同步地从格式化器获得的。在ID部分中，PID操作单元96作为PID操作单元而进行操作。即使在聚焦误差信号E1中出现了与如图36B所示的ID部分对应的阶梯状改变，这种改变也不出现在PID操作单元96的输出中。因此，聚焦致动器56的电流I1在ID部分中不改变，如图36E所示，且能够提供稳定的最小的所需电流。对于图36F中的物镜的透镜位置，该位置在每一个ID部分都不改变，且MO部分的聚焦状态能够得到稳定的维持。在图34的实施例中，增益控制单元352，与ID选通信号E11同步地，将微分器340的增益倍增器342的增益切换到0。然而，构成增益操作单元的增益倍增器348的增益，也能够与ID选通信号E11同步地被设定为0。因此，由于PID操作单元96在ID部分的时序只执行积分算法操作，通过聚焦误差信号E1的聚焦伺服的不必要的操作得到了进一步的有效抑制，其中该聚焦误差信号E1由ID部分所改变。对于由于盘介质的弯曲而产生的沿着纵向方向的平缓涨落，稳定的自动聚焦得到了维持，从而能够借助积分比例控制或积分控制，而以足够长的时间常数进行跟随。

在上述实施例中，作为例子而显示和描述了其中能够装载和使用盒式MO介质和CD介质的光盘驱动器。在能够采用盒式MO介质和CD介质的上述光盘驱动器中，需要共同采用检测跟踪误差信号的光学系统。通常，对于盒式MO介质采用推—拉方法，且对于CD介质采用通常的3光束方法。然而，如果采用3光束方法，由于该光学系统不能被共同地用于盒式MO介质和CD介质，在本发明中，即使对CD介质也采用一个光束。然而，在具有680nm波长的激光二极管的情况下，对于CD的坑的深度的关系来说，不能采用推—拉方法。在本发明中，对于CD介质的跟踪误差检测，采用了外差方法。因此，即使在盒式MO介质和CD介质任何一种情况下，都能够用同一个光学单元检测跟踪误差信号，且能够进行对定位器的控制。

本发明不仅限于能够采用盒式MO介质和CD介质的光盘驱动器，而是能够被实现为能够采用诸如128MB、230MB和540MB或640MB的所有盒式MO介质的光盘驱动器。

根据如上所述的本发明，获得了以下的效果。首先，对于1-道寻找控制，即使在0速度结束之后的减速开始时的速度有所涨落，减速期中的减速电流也被改变到根据实际光束速度的值，从而使光束能够在目标道上稳定地移动。对于精细寻找，刚好在目标道之前的实际速度得到了检测，且减速电流根据该速度而确定，从而即使在减速开始时的光束速度有变化，减速电流也总是能够优化地得到确定。防止了由于过度的减速电流而引起的延迟和由于缺少减速电流而产生的超前，从而使至目标道的稳定上道得到了保证。对于偏心校正，从介质的一周转动的跟踪误差信号获得了偏心幅度和偏心相位。从借助测量偏心信息进行偏心校正时的测量结果，能够立即知道偏心相位是正确的相位还是相反的相位。通过测量高度准确的偏心信息，偏心校正能够得到优化。另外，对于包络伺服，即使对于有或没有介质的MO部分或高速寻找，通过包络检测功能的通—断，能够适当地形成跟踪误差信号。另外，对于聚焦伺服，在其中获得表示介质的ID部分的选通信号的时间里，至少聚焦伺服的PID算法操作的微分功能被停止。因此，即使由于ID部分的微小坑而使返回光中有改变，它也不被反映到聚焦伺服控制上，相反地，积分控制强烈地起着作用。即使聚焦误差信号由于ID部分而涨落，也能够进行将物镜稳定地置于MO部分的聚焦状态聚焦控制。因此，作为整个设备，对目标柱面的寻找性能得到了显著的改善。即使在采用可变介质的光盘驱动器的情况下，能够实现与硬盘的类似的存储容量和存取性能。

Claims

1.光学存储设备，包括：

支架致动器，用于驱动一个支架，该支架得到适当的设置，从而能够沿着与介质的道横向相交的方向移动；

物镜，用于将光束照射到介质上；

定位器，用于沿着与介质的道横向相交的方向移动所述物镜；

跟踪误差信号形成电路，用于基于来自介质的返回光的光敏输出，根据沿着与道横向相交的方向的所述光束的位置，形成跟踪误差信号；

存取控制单元，用于将光束移到一个目标道，从而通过所述定位器的控制而进入在道状态；以及

1-道寻找控制单元，用于当进行1-道寻找存取时将1-道寻找期分成加速期和减速期-其中在该1-道寻找中在当前道之前一个道的位置被设定为目标道，在所述加速期中向所述透镜致动器提供加速电流，并在所述减速期中从所述跟踪误差信号的两点之间的差控制减速电流值。

2.根据权利要求1的设备，其中所述1-道寻找控制单元提供了所述加速期与所述减速期之间的预减速期，并获得所述预减速期的开始时刻和结束时刻的两点之间的所述跟踪误差信号之差。

3.根据权利要求1的设备，其中所述1-道寻找控制单元将所述预减速期中的预减速电流设定在所述加速电流几乎一半。

4.根据权利要求1的设备，其中所述1-道寻找控制单元将对每一个介质获得的校正值乘到所述跟踪误差信号上，从而归一化检测灵敏度。

5.根据权利要求1的设备，其中所述1-道寻找控制单元将所述加速期设定为超过一个寻找期的1/3的时期。

6.根据权利要求1的设备，其中当控制期由所述跟踪误差信号的取样数目确定且所述1-道寻找控制期间被设定为13个取样时，所述1-道寻找控制单元将所述加速期设定为7个取样，将所述预减速期设定为2个取样，并将所述减速期设定为4个取样。

7.根据权利要求1的设备，其中当所述跟踪误差信号的两点之间的差超过了预定的上限值时，所述1-道寻找控制单元将所述减速电流固定在预定的最大值。

8.根据权利要求1的设备，其中当所述跟踪误差信号的两点之间的差小于预定的下限值时，所述1-道寻找控制单元将所述减速电流固定在预定的最小值。

9.一种光学存储设备，包括：

支架致动器，用于驱动一个支架，该支架得到适当设置以能够沿着与介质的道横向相交的方向移动；

装在所述支架上的透镜致动器，用于通过驱动一个物镜而使光束沿着与所述介质的所述道横向相交的方向移动；

跟踪误差信号形成电路，用于基于由光头获得的、来自介质的返回光的光敏输出，根据沿与道横向相交的方向的所述光束的位置，形成跟踪误差信号；

存取控制单元，用于借助其中将所述透镜致动器用作主装置且所述支架致动器被用作副装置的控制，将光束移到目标道从而进入在道状态；以及

减速控制单元，用于当光束被所述存取控制单元移向目标道时，从所述跟踪误差信号在一个道零交叉位置附近的两点之间的差，控制提供给所述透镜致动器的减速电流，其中所述道零交叉位置在目标道的一个道前。

10.根据权利要求9的设备，其中所述减速控制单元从所述跟踪误差信号在刚好在目标道之前的零交叉位置之前和之后的取样值之间的差，确定减速电流。

11.根据权利要求9的设备，其中所述减速控制单元将一个校正值乘到所述取样跟踪误差信号上，以进行校正，而该校正值是为每一种介质获得的，以归一化跟踪误差检测信号的检测灵敏度。

12.根据权利要求9的设备，其中当从所述跟踪误差信号的两点之间的差确定的减速电流超过了预定的上限值时，所述减速控制单元将所述减速电流固定在预定的最大值。

13.根据权利要求9的设备，其中当从所述跟踪误差信号的两点之间的差确定的减速电流低于预定的下限值时，所述减速控制单元将所述减速电流固定在预定的最小值。

14.根据权利要求9的设备，其中所述减速控制单元在从刚好在零交叉点之后的一个取样点至减速开始的时间间隔里根据一个减速起始速度来确定减速开始时间和随后的减速时间，其中该减速起始速度是作为从目标道之前两道的零交叉位置至目标道之前一个道的零交叉位置的时间的倒数而获得的。

15.根据权利要求14的设备，其中当所述减速起始速度等于或小于能够进行拉入控制的有限速度时，所述减速控制单元根据所述减速起始速度改变减速开始时间，将减速时间设定在预定的固定时间，并将从所述跟踪误差信号在刚好在目标道之前的零交叉位置之前和之后的取样点之间的差确定的减速电流提供给所述透镜致动器达所述固定时间。

16.根据权利要求14的设备，其中当所述减速起始速度超过了以其能够进行拉入控制的有限速度时，所述减速控制单元将所述减速开始时间设定为零，根据所述减速起始速度确定所述减速时间，并将具有预定最大值的减速电流提供给所述透镜致动器。

17.根据权利要求9的设备，其中对于从目标道之前两道的零交叉位置至目标道之前一个道的零交叉位置的间隔中的速度控制，所述减速控制单元将至目标柱面的剩余道的数目设定为零，设定目标速度、减小速度控制的伺服增益，并进行预减速。

18.根据权利要求17的设备，其中对于从目标道之前两道的零交叉位置至目标道之前一个道的零交叉位置的间隔中的速度控制，所述减速控制单元将伺服增益减小一半。

19.根据权利要求9的设备，其中当将带有用于跟踪的槽且其中信息被记录在所述槽之间的介质被用作所述介质时，所述槽的位置作为零交叉位置而得到检测。

20.根据权利要求9的设备，其中当其上已经借助坑而记录有信息的介质被用作所述介质时，所述坑的位置被作为零交叉位置而得到检测。

21.根据权利要求9的设备，其中所述透镜致动器被用作所述存取控制单元中的主装置的控制是用于向所述透镜致动器提供电流形成速度控制，该控制使根据至目标道的剩余道的数目而产生的目标速度与从所述跟踪误差检测信号获得的实际速度之间的差设定为零。

22.根据权利要求9的设备，其中所述存取控制单元中的所述支架致动器被用作副装置的控制是前馈控制，该前馈控制使得加速电流减速电流根据目标道的位置与当前道之间的差而被提供给所述支架致动器，且所述支架以预定的加速度得到加速，且在此之后所述支架被减速。

23.一种光学存储设备，包括：

物镜，用于将光束照射到介质上；

存取控制单元，用于把来自光学单元的光束移到目标道，从而通过所述定位器的驱动控制而进入在道状态；

跟踪误差信号形成电路，用于根据所述光束沿着与这些道横向相交的方向的位置并根据所述光学单元获得的来自介质的返回光的光敏输出，形成跟踪误差信号；

偏心测量单元，用于在对所述支架和透镜的驱动被停止的状态下，根据对所述跟踪误差信号的零交叉点的检测，测量一周转动的开始位置的偏心幅度和偏心相位，作为偏心信息；

偏心存储器，其中与一周转动对应的正弦值已经对应于所述介质的转动位置而得到了存储；

偏心校正单元，用于由从所述存储器读出的正弦值和所述测量单元测量到的偏心信息获得介质偏心量，并控制所述定位器以抵消所述偏心量。

24.根据权利要求23的设备，其中所述偏心校正单元通过将一个道间距乘到与介质的一周转动对应的所述跟踪误差信号的零交叉点数目的一半上，而获得所述偏心幅度Eamp，并获得从所述转动检测信号的一周转动开始位置至所述跟踪误差信号的最大零交叉时间间隔的中间点的时间并将其作为所述偏心相位Tφ，其中所述零交叉点数目是与表示所述介质的一周转动的介质检测信号同步地获得的。

25.根据权利要求23的设备，其中当一周转动的开始位置的当前转动位置处的过去时间tx与所述偏心相位Tφ之间的差(tx-Tφ)是负的时，所述偏心校正单元从所述偏心存储器读出一个正弦值sin2πf(tx-Tφ+Trot)-它是从其中一周转动的时间Trot被加到所述差上的时间(tx-Tφ+Trot)获得的，从而进行校正，且当所述差(tx-Tφ)等于0或为正时，所述偏心校正单元从所述偏心存储器中读出从所述差获得的一个正弦值sin2πf(tx-Tφ)，从而进行校正。

26.根据权利要求23的设备，其中所述偏心测量单元在借助所述偏心校正单元进行偏心校正状态下根据测量到的偏心信息来测量每一周转动的零交叉点数目，且当所述偏心校正的零交叉点数目超过了测量时的零交叉点数目时，借助该测量过程获得的偏心相位Tφ被校正到相反的相位。

27.根据权利要求26的设备，其中作为相反的相位，所述偏心测量单元将偏心相位Tφ校正到相反的偏心相位(Tφ+Trot/2)-其中一周转动时间Trot的一半被加到测量到的相位Tφ上。

28.根据权利要求23的设备，其中所述偏心测量单元在测量之后进行两次偏心信息测量和偏心校正，且在完成了两次偏心校正之后比较与一周转动对应的零交叉点数目，且当比较结果之间的差超过了预定的阈值时，所述偏心测量单元重复偏心测量和校正，直到所述差等于或小于所述阈值。

29.根据权利要求23的设备，其中数目由预定的读出期和介质转动速度确定的、与一周转动对应的正弦值被存储在所述偏心存储器中，且当该介质转动速度改变时，这些正弦值被更新成数目由改变后的介质转动速度确定的、与一周转动对应的正弦值。

30.光学存储设备中的跟踪误差检测电路，在该光学存储设备中根据通过将光束照射到介质上而获得的返回光的光敏输出，形成跟踪误差信号，该跟踪误差信号是根据沿着与道横向相交的方向的光束的位置的，该跟踪误差检测电路包括：

二分检测器，用于接收来自所述介质的返回光并将其转换成电信号；

减法器，用于由从所述二分检测器导出的光敏信号之间的差形成跟踪误差信号，并将其输出；

峰保持电路，用于检测来自所述二分检测器的光敏信号的包络，并输出到所述减法器；以及

切换控制电路，用于在需要时借助所述峰保持电路对一个包络检测功能进行通/断控制。

31.根据权利要求30的检测电路，其中当识别出已经装载了介质表面上具有反射部分的介质时，所述切换控制电路关断所述峰保持电路的包络检测功能。

32.根据权利要求31的检测电路，其中当识别出已经装载了介质表面的一部分上具有反射部分的介质时，所述切换控制电路当识别出对具有反射部分的道区的存取时关断所述峰保持电路的包络检测功能。

33.根据权利要求30的检测电路，其中当识别到其中从跟踪误差信号获得的寻找速度超过了预定的速度时，所述切换控制电路关断所述峰保持电路的包络检测功能。

34.一种光学存储设备，它具有用于根据一个返回光的光敏输出将物镜控制在聚焦位置的聚焦伺服电路，其中该返回光是通过将光束照射到介质上而导出的，其中所述聚焦伺服电路包括：

PID操作单元，它具有比例装置、积分器和微分器；以及

控制单元，用于在其中获得表示所述介质的ID部分的选通信号的时间里，停止所述PID操作单元的微分器功能。

35.根据权利要求34的设备，其中所述控制单元进一步停止所述PID操作单元的比例装置功能。

36.根据权利要求34或35的设备，其中所述控制单元进一步将所述PID操作单元的微分器和比例装置的增益设定为零，并停止所述微分器和比例装置的功能。