JP2003016678A - チルト検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 チルトセンサなどの特別な検出装置を設ける
ことなくチルトを検出できる装置を提供する。 【解決手段】 光ディスク１の情報面と光ビームとのチ
ルト量を、基準角度を中心として変化させるチルト可変
手段２６で光ピックアップ３の情報層に対する角度を変
化させながら、チルト検出手段２０で検出したチルト量
に対する最大トラッキングエラー信号振幅を求め、測定
したチルト量とトラッキングエラー信号の振幅値との関
係から、トラッキングエラー信号振幅の値が最大となる
傾きの値より光ディスク１のチルトを検出する

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、情報媒体の情報層
の面と当該情報層に照射する光ビームとの傾き量を検出
するチルト検出装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、情報記録再生装置は大容量のデー
タを記録再生する手段として、より高い記録密度で記録
または再生できる装置が要望されている。高密度記録を
実現するためには、光ビームの光軸中心に対する情報媒
体の情報層の面の傾き（以下チルトと称する）を最適な
角度に制御する必要がある。チルトが最適な角度に保た
れない場合には、情報層に光ビームを集束した際の光ス
ポットが収差をもち、高密度に記録されたデータを正確
に読み出すことや、品質のよい信号を高密度で記録する
ことは困難である。

【０００３】ところが情報媒体の基板は、一般的に樹脂
材料を成形して構成されているために、成形時のひずみ
や保存状態などにより反りを生じる場合が多い。このよ
うな反りを有する情報媒体の情報層の面に対して光ビー
ムの光軸中心の傾き量（以下チルト量と称す）を制御す
る方法として従来からいくつかの方法が提案されてい
る。

【０００４】例えば、実開平２−７２４１４号公報、特
開平７−２７２３００号公報、特開平１０−３０８０２
３号公報などのように、発光素子と２分割された受光素
子で構成されたいわゆるチルトセンサを光ヘッド上に設
け、このチルトセンサで光ヘッドと情報媒体の情報層の
面の相対的な傾きを検出し、チルトセンサの検出信号に
基づいて光ヘッド全体を駆動機構によって傾けながら光
ビームの光軸に対する情報媒体の情報層の面の傾きを制
御するものが提案されている。

【０００５】また、特開平１０−８１２５６４号公報で
はチルトセンサを光ヘッド上ではなくシャーシ上に固定
して設け、これらで検出された信号から情報媒体の反り
を求めて補正するものである。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし従来提案されて
いるこれらの構成では、情報層に対する光ビームの光軸
中心のチルトを専用のチルトセンサを用いて間接的に測
定する技術であるため、測定したチルト量が実際の情報
層に対する光ビームの光軸中心のチルト量を反映してい
る保証がなく、チルト検出精度に劣る課題がある。

【０００７】すなわち、従来の構成では、専用のチルト
センサが情報層に対する光ビームの光軸中心を反映して
いると仮定した上で成り立つもので、例えばチルトセン
サの設置ばらつき、及び／または、チルトセンサの設置
位置と光ビームの光軸中心とが離隔していることに起因
した測定誤差等が生じる。その上、チルトセンサ単体の
みならずその駆動用回路、検出用回路を合わせた部品点
数の増加を招くことは避け難く、コストアップを招いて
いた。

【０００８】本発明は、上記の課題を鑑みてなされたも
のであり、チルトセンサなどの特別な検出装置を設ける
ことなく、正確にチルトを検出することができる装置を
提供することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】前記の問題点を解決する
ために本発明のチルト検出装置は、連続溝または断続し
たピットの何れかを含むトラック上に形成した情報層の
面に照射した光ビームが、前記トラックを横断したとき
前記情報層からの反射光を検知し、トラッキングエラー
信号を出力するトラッキングエラー信号検出手段と、前
記情報層の面と前記光ビームとの相対傾きを可変するチ
ルト可変手段と、前記チルト可変手段が作動して生じる
相対傾き量を出力するチルト量出力手段と、前記相対傾
き量を段階的に一定回数変化させる制御を前記チルト可
変手段に対して行うチルト量制御手段と、前記チルト量
出力手段の出力に応じてトラッキングエラー信号振幅を
測定するトラッキングエラー信号振幅測定手段と、前記
光ビームが前記トラックの所定長さを走査する時間を複
数回時分割し、前記トラッキングエラー信号振幅測定手
段でトラッキングエラー信号振幅を前記複数回測定し、
前記複数回毎にトラッキングエラー信号の最大振幅を検
出する最大振幅検出手段と、前記最大振幅検出手段の出
力を平均化するトラッキングエラー信号振幅平均化手段
とを備える構成を有する。

【００１０】また、本発明のチルト検出装置は、連続溝
または断続したピットの何れかを含むトラック上に形成
した情報層の面に照射した光ビームが、前記トラックを
横断したとき前記情報層からの反射光を検知し、トラッ
キングエラー信号を出力するトラッキングエラー信号検
出手段と、前記情報層の面と前記光ビームとの相対傾き
を可変するチルト可変手段と、前記チルト可変手段が作
動して生じる相対傾き量を出力するチルト量出力手段
と、前記相対傾き量を段階的に一定回数変化させる制御
を前記チルト可変手段に対して行うチルト量制御手段
と、前記チルト量出力手段の出力に応じてトラッキング
エラー信号振幅を測定するトラッキングエラー信号振幅
測定手段と、前記情報層に所定の情報信号が記録されて
いる既記録領域と、前記情報層に情報信号が記録されて
いない未記録領域とを判別する領域判別手段と、前記領
域判別手段で判別した領域の内、多い方の領域をトラッ
キングエラー信号振幅測定の対象領域として選択する領
域選択手段と、前記対象領域における前記トラックの所
定長さを前記光ビームが走査する時間を複数回時分割
し、前記トラッキングエラー信号振幅測定手段でトラッ
キングエラー信号振幅を前記複数回測定し、前記複数回
毎にトラッキングエラー信号の最大振幅を検出する最大
振幅検出手段と、前記最大振幅検出手段の出力を平均化
するトラッキングエラー信号振幅平均化手段とを備える
構成を有する。

【００１１】また、本発明のチルト検出装置は、連続溝
または断続したピットの何れかを含むトラック上に形成
した情報層の面に照射した光ビームが、前記トラックを
横断したとき前記情報層からの反射光を検知し、トラッ
キングエラー信号を出力するトラッキングエラー信号検
出手段と、前記情報層に所定の情報信号が記録されてい
る既記録領域と前記情報層に情報信号が記録されていな
い未記録領域との前記情報層における境界位置を回避し
た領域に前記光ビームを位置制御し、前記情報層の面と
前記光ビームとの相対傾きを可変するチルト可変手段
と、前記チルト可変手段が作動して生じる相対傾き量を
出力するチルト量出力手段と、前記相対傾き量を段階的
に一定回数変化させる制御を前記チルト可変手段に対し
て行うチルト量制御手段と、前記チルト量出力手段の出
力に応じてトラッキングエラー信号振幅を測定するトラ
ッキングエラー信号振幅測定手段と、前記光ビームが前
記トラックの所定長さを走査する時間を複数回時分割
し、前記トラッキングエラー信号振幅測定手段でトラッ
キングエラー信号振幅を前記複数回測定し、前記複数回
毎にトラッキングエラー信号の最大振幅を検出する最大
振幅検出手段と、前記最大振幅検出手段の出力を平均化
するトラッキングエラー信号振幅平均化手段とを備える
構成を有する。

【００１２】また、本発明のチルト検出装置は、連続溝
または断続したピットの何れかを含むトラック上に形成
した情報層の面に照射した光ビームを、前記トラック上
に位置制御するトラッキング制御手段と、前記光ビーム
が、前記トラックを横断したとき前記情報層からの反射
光を検知し、トラッキングエラー信号を出力するトラッ
キングエラー信号検出手段と、前記トラッキング制御手
段により前記光ビームが前記トラック上に位置制御され
ている状態で、所定のトラック本数だけ移動するトラッ
クジャンプ手段と、前記情報層の面と前記光ビームとの
相対傾きを可変するチルト可変手段と、前記チルト可変
手段が作動して生じる相対傾き量を出力するチルト量出
力手段と、前記相対傾き量を段階的に一定回数変化させ
る制御を前記チルト可変手段に対して行うチルト量制御
手段と、前記チルト量出力手段が出力した相対傾き量に
おいて前記トラックジャンプ手段に前記所定のトラック
本数だけ移動する指令を出力し、トラッキングエラー信
号振幅を測定するトラッキングエラー信号振幅測定手段
と、前記光ビームが前記トラッキングエラー信号振幅測
定手段でトラッキングエラー信号振幅を前記所定のトラ
ック本数だけ測定し、前記トラッキングエラー信号振幅
を平均化するトラッキングエラー信号振幅平均化手段と
を備える構成を有する。

【００１３】

【発明の実施の形態】請求項１記載のチルト検出手段
は、光ビームがトラックの所定長さを走査する時間を複
数回時分割し、トラッキングエラー信号振幅測定手段で
トラッキングエラー信号振幅を複数回測定し、複数回毎
にトラッキングエラー信号の最大振幅を検出する最大振
幅検出手段と、最大振幅検出手段の出力を平均化するト
ラッキングエラー信号振幅平均化手段とを備える構成で
あるため、光ディスク上に局所的な案内溝の成形ばらつ
きに起因するトラッキングエラー信号振幅に異常値が存
在する場合でも、トラッキングエラー信号振幅平均化手
段により当該異常値の影響を低減することができ、光ビ
ームの光軸中心に対する光ディスクの情報層の面の傾き
を正確に検出することができる。

【００１４】なお、複数回測定した個所が全てまたはそ
の殆どが成形ばらつきを有する場合には、当該測定個所
のトラッキングエラー信号振幅平均化値も異常値となる
が、これはチルト可変手段の１チルト量におけるトラッ
キングエラー信号振幅の平均値が異常値となるだけで、
チルト量制御手段で異なるチルト量に制御された測定個
所も併せて近似処理等の手法で最適チルト量を決定する
ため、１チルト量の測定個所だけが全て異常値であって
も当該異常トラッキングエラー信号振幅平均値による影
響は緩和され、チルト検出精度を向上させることができ
る。

【００１５】請求項２記載のチルト検出手段は、情報層
に所定の情報信号が記録されている既記録領域と、情報
層に情報信号が記録されていない未記録領域とを判別す
る領域判別手段と、領域判別手段で判別した領域の内、
多い方の領域をトラッキングエラー信号振幅測定の対象
領域として選択する領域選択手段と、対象領域における
トラックの所定長さを光ビームが走査する時間を複数回
時分割し、トラッキングエラー信号振幅測定手段でトラ
ッキングエラー信号振幅を複数回測定し、複数回毎にト
ラッキングエラー信号の最大振幅を検出する最大振幅検
出手段と、最大振幅検出手段の出力を平均化するトラッ
キングエラー信号振幅平均化手段とを備える構成である
ため、光学的に情報信号を記録または再生する情報層で
は、記録前後で光ビームに対する当該情報層の光学特性
が異なり、未記録部と既記録部とが混在する領域でＴＥ
信号の振幅が異なる光ディスクで、ＴＥ振幅測定時に記
録部未記録部が混在する場合でも光ビームの光軸に対す
る光ディスクの記録面の傾きを光ヘッドによる再生信号
であるＴＥ信号を用いて正確に検出することが可能とな
る。

【００１６】請求項３記載のチルト検出手段は、既記録
領域と未記録領域との境界領域を回避した位置に光ビー
ムを位置制御する構成を採用したため、既記録領域また
は未記録領域のみでのトラッキングエラー信号の測定を
行うことができ、トラッキングエラー信号振幅測定時に
既記録部と未記録部とが混在する情報層でも、光ビーム
の光軸に対する情報層の面の傾きを正確に検出すること
が可能となる。

【００１７】なお、上述の領域判別手段には、情報面か
らの全反射光を検出し全反射率の差異を検知する全反射
信号検出手段、または既記録信号の有無を検知する既記
録信号検出手段の何れでも適応できる。

【００１８】請求項４記載のチルト検出手段は、トラッ
キング制御手段でトラック上に光ビームを位置制御した
状態で所定のトラック本数だけ移動するトラックジャン
プ手段を備えるため、情報信号が記録されている領域と
記録されていない領域との境界に光ビームが存在する際
に、情報信号の有無によるトラッキングエラー信号振幅
の差異に依存せず、情報層を形成するトラックに局所的
な成形ばらつきが存在する場合でも、光ビームの光軸に
対する情報層の面の傾きを正確に検出することができ
る。

【００１９】なお、チルト可変手段に情報層に光ビーム
を収束する対物レンズを揺動させる機能を付加すると、
情報媒体の成形時等に発生する偏心成分が０または少な
い情報媒体であっても、強制的にトラックの溝横断信号
を発生させることができ、情報層の面に対する光ビーム
の傾きを正確に検出することができる。

【００２０】なお、チルト可変手段は光ピックアップ全
体を傾ける構成、光ビームを集束する対物レンズの角度
を変える構成の何れかが適用できる。

【００２１】

【実施例】以下、本発明のチルト検出装置の一実施例に
ついて、図面を参照しながら説明する。なお、以下に説
明する実施例では情報媒体の一例として光ディスクを取
り上げるが、本発明のチルト検出装置は、トラックを有
し光学的に情報信号の記録及び／または再生を行う情報
媒体であれば、その形状及び／または記録・再生方式は
限定されるものではない。

【００２２】（実施例１）図１は本発明の一実施例の光
ディスク装置の構成を示すブロック図である。図１にお
いて、光ディスク１はスピンドルモータ２によって回転
駆動され、スピンドルモータ２の回転周波数は不図示の
スピンドルサーボ回路によってコントロールされる。モ
ータ回転時間検出回路３８は、スピンドルモータ２に内
蔵されるホール素子から、例えばモータ１回転につき６
つのパルスが出力される信号をもとに、スピンドルモー
タ１回転分の時間を検出するものである。

【００２３】光ピックアップ３は、光ビームを光ディス
ク１の情報層の面（以下、情報面と称す）に集光してデ
ータの記録または再生を行う。記録すべき２値化信号
は、不図示の記録信号処理回路で記録信号に変換されて
光ピックアップ３に送られ、光ディスク１から読み取っ
た再生信号は、再生信号処理回路１９で２値化信号に処
理される。

【００２４】光ピックアップ３の対物レンズ４は、マグ
ネット８とフォーカス駆動コイル９とで構成されたフォ
ーカス磁気回路７により、光ビームの光軸方向（フォー
カス方向）に駆動される。フォーカスサーボ回路６は、
光ピックアップ３から出射された光ビームを光ディスク
１の情報面に集光するため、フォーカス駆動コイル９に
印可する電圧を制御し、対物レンズ４の焦点位置をコン
トロールする。また対物レンズ４は、マグネット８とト
ラッキング駆動コイル１０とで構成されたトラッキング
磁気回路１１により、光ディスク１の半径方向（トラッ
キング方向）に駆動される。トラッキングサーボ回路１
２は、光ピックアップ３から出射された光ビームを情報
面に形成されたトラックに追従させるため、トラッキン
グ駆動コイル１０に印可する電圧を制御することで、対
物レンズ４の光軸位置をコントロールする。光ビームの
焦点位置のずれを示すフォーカスエラー信号、及びトラ
ック方向のずれを示すトラッキングエラー信号は、光ピ
ックアップ３からの再生信号を基にして再生信号処理回
路１９で生成され、フォーカスサーボ回路６及びトラッ
キングサーボ回路１２に送られる。

【００２５】光ピックアップ３を異なる半径位置に移動
させる光ピックアップ移動手段１３は、トラバースモー
タ１４、リードスクリュウ１５、ラック１６、及びガイ
ド軸１７で構成される。トラバースモータ１４の回転軸
に形成されたリードスクリュウ１５は、光ピックアップ
３に固定されたラック１６と係合しており、光ピックア
ップ３はガイド軸１７によって直進可能に支持されてい
る。そして光ピックアップ３は、リードスクリュウ１５
とラック１６とを介して伝達されたトラバースモータ１
４の回転トルクにより、光ディスク１の半径方向に移動
される。

【００２６】また、チルト可変手段２６は、光ピックア
ップ３を光ディスク１の半径方向に移動可能に支持する
ガイド軸１７の外周端の高さを変化させることにより、
光ピックアップ３を光ディスク１の情報面に対する相対
傾きを変化させることで、光ビームの光軸中心の情報面
に対するチルトを可変する機構であり、チルトサーボ回
路２１からのチルト駆動電圧によってチルトモータ２４
が回転し、モータギア２７とチルトラック２８を介して
チルトカム２９が並進駆動される。チルトカム２９の並
進移動によって、チルトカム２９の傾斜面に当接された
チルトフォロア３０が上下し、チルトフォロア３０の上
下動によりチルトフォロア３０と一体的に形成されたガ
イド軸固定板３１が上下する。ガイド軸１７は、その外
周端がガイド軸固定板３１に固定されるとともに、その
内周端が中心に回動自在に支持されている。したがっ
て、ガイド軸固定板３１の上下動によりガイド軸１７の
傾きが変わり、その結果、光ピックアップ３の傾きが変
わる。以上のようにチルトモータ２４を回転させること
により光ピックアップ３の傾きが変わり、情報面に照射
される光ビームの照射角度を変化させることができる。
すなわち、チルトモータ２４の回転を制御するチルト量
制御手段３３により、情報面に照射される光ビームの照
射角度を所望の角度になるようにコントロールすること
ができる。

【００２７】図３にチルトサーボ回路２１の構成を示
す。チルトサーボ回路２１は、光ディスク１の情報面に
照射される光ビームの照射角度が所望の角度になるよう
に、光ピックアップ３の傾きを制御するための回路であ
り、後述するチルト検出部２０に構成されているチルト
量制御手段３３からのチルト設定信号に基づき、チルト
サーボ信号を出力するチルト量出力手段２３と、チルト
サーボ信号に基づいたチルト駆動電圧をチルトモータ２
４に供給するチルトモータ駆動回路２５とから構成され
ている。

【００２８】次に、光ピックアップ３に設けられた光検
出器３４と再生信号処理回路１９とに関して、図４を用
いて説明する。図４は、光検出器３４の構成と光ディス
ク１の情報面からの反射光の関係とを示したものであ
る。光検出器３４は分割された４つの受光素子Ａ、Ｂ、
Ｃ、Ｄから構成され、それぞれの出力ａ、ｂ、ｃ、ｄは
再生信号処理回路１９に出力される。再生信号処理回路
１９は光検出器３４の出力ａ、ｂ、ｃ、ｄから、 トラッキングエラー信号＝（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）、 フォーカスエラー信号＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）、 を生成する。

【００２９】このトラッキングエラー（以下、ＴＥと称
す）信号は、トラッキングサーボ回路１２へ送られ、光
スポットを情報面のトラックに追従させるトラッキング
サーボに用いられる。また、フォーカスエラー（以下、
ＦＥと称す）信号は、フォーカスサーボ回路６へ送ら
れ、光スポットを情報面に集光するために対物レンズ４
の焦点位置をコントロールするフォーカスサーボに用い
られる。

【００３０】図５にチルト検出部２０の構成を示す。チ
ルト検出部２０は、ローパスフィルタ３７、ＴＥ信号振
幅計測部３５、最大ＴＥ振幅検出部４１、最大ＴＥ振幅
平均化部３９、モータ回転時間時分割部４０、最適チル
ト量検出部３６、及びチルト量制御手段３３から構成さ
れている。ローパスフィルタ３７は再生信号処理回路１
９で生成されたＴＥ信号の高周波ノイズＮを除去する。
ＴＥ信号振幅計測部３５は、ノイズを除去されたＴＥ信
号の振幅を計測する。

【００３１】スピンドルモータ２に備えるホール素子か
らモータ１回転につき出力される６つのパルス信号によ
り、モータ回転時間検出回路３８にて測定されたモータ
の所定回転数に要する時間を基づき、時分割部４０では
モータの当該所定回転数に要する時間の１／ｎ（ｎは２
以上の整数）時間を計測する。最大ＴＥ信号振幅検出部
４１ではＴＥ信号振幅計測部３５で測定されたＴＥ信号
振幅をもとに、時分割部４０の出力に応じてｎ回毎にＴ
Ｅ信号振幅の最大値を検出する。最大ＴＥ信号振幅平均
化部３９では、ｎ回測定された最大ＴＥ信号振幅の平均
値を求める。以下、所定回転数を１とし、ｎを３とした
例で説明する。

【００３２】チルト量制御手段３３は、情報面の所定の
一に光ピックアップ３を対向させた後、情報面と光ビー
ムのチルト量を所望の角度に設定するチルト設定信号
を、チルトサーボ回路２１に出力する。最適チルト量検
出部３６では、チルト量制御手段３３から段階的に出力
されるチルト設定信号に基づき、１つのチルト量に対し
時分割部４０で時分割された３回ＴＥ信号振幅計測部３
５で計測した最大ＴＥ信号振幅から、最大ＴＥ信号振幅
平均化部３９によってＴＥ信号の最大振幅値を平均化
し、当該平均化値を当該チルト量におけるチルト量に割
り当て、この動作をチルト量制御手段３３からの異なる
チルト設定信号についても繰り返して得られたＴＥ信号
の最大振幅平均値の大小関係を求め、最大ＴＥ信号の振
幅値が最も大きくなるチルト量を、光ピックアップ移動
手段１３で移動した情報面に対する光ビームの位置にお
ける最適チルト量として出力する。なお、最大ＴＥ信号
振幅平均化部３９では単に最大ＴＥ信号振幅を平均化す
るだけでなく、例えばＴＥ信号の最大振幅値もっとも大
きい値を除き、残りの最大ＴＥ信号振幅の平均値を検出
する構成を採用すると、例えばディスク基板成形時の偏
心等で最大ＴＥ信号振幅に異常値がある場合等では最大
ＴＥ信号振幅の精度を向上できる。

【００３３】以上のように構成された本実施例のチルト
検出装置において、その動作を説明する。まず、光ピッ
クアップ移動手段１３で情報面の所望の一に光ピックア
ップ３を移動すると共にトラッキングサーボをオフに
し、光ビームがトラックを横断する状態で、予め決めら
れている傾きを基準角度０度として、ＴＥ信号の振幅を
計測する。図６にチルト検出部２０内でのＴＥ信号振幅
の変化の一例を示す。

【００３４】図６（ａ）のように、再生信号処理回路１
９で生成されたＴＥ信号には電気的要因やディスク上に
記録された信号の影響に起因し、高周波ノイズＮが重畳
される。ＴＥ信号振幅検出時には高周波ノイズＮが誤検
出の要因となるため、これをローパスフィルタ３７で除
去する。一方、光ディスク１の基板に偏心が存在する場
合、情報面と光ビームとの相対速度は光ディスク１の回
転に伴い偏心の影響を受け、ＴＥ信号の周期が正弦波的
に変化し、光ビームがトラックを横断することにより発
生するＴＥ信号の周波数は当該相対速度に応じて変化す
る。ローパスフィルタ３７は、上述したように高周波ノ
イズＮを除去すると共に、高い周波数になる程ＴＥ信号
の振幅も減衰されるため、高周波ノイズＮ除去後のＴＥ
信号振幅は図６（ｂ）のように情報面と光ビームとの相
対速度に応じて変化する。一方、チルト量を測定する場
合のＴＥ信号振幅は、例えば光ディスク１回転中の最大
ＴＥ信号振幅を測定すればよいが、高周波ノイズＮを除
去するローパスフィルタ３７によりＴＥ信号の高周波領
域における振幅も減衰されるため、ＴＥ信号振幅で得ら
れる振幅に基づく検出では不安定となる。さらに、図６
（ｃ）のように、例えば光ディスク１のトラック成形過
程でのばらつき等により局所的にＴＥ信号振幅値が通常
よりも大きい異常値Ａを有する場合、最大ＴＥ信号振幅
値はこの異常値Ａとなってしまい、正常な値ではなくな
る。そこで、例えば光ディスク１回転分の時間を１／３
回転ずつに時分割し、１／３回転の時間毎に最大ＴＥ信
号振幅値を３回測定し、その３つの平均を求めることに
より局所的なＴＥ信号振幅異常値の影響を分散させる。

【００３５】この時分割には、例えばスピンドルモータ
２に備えるホール素子等のセンサーから発生するモータ
１回転につき６つのパルス信号に基づき決定することが
できる。すなわち、モータ回転時間検出回路３８ではパ
ルス信号６つをカウントすることで、モータ１回転の時
間を測定する。モータ回転時間検出回路３８からの出力
信号は時分割部４０に入力され、ここで光ディスク１の
１回転分の時間を１／３回転ずつに時分割し、１／３回
転毎に信号を出力する。この出力信号を受けた最大ＴＥ
信号振幅検出部４１では、光ディスク１の１／３回転毎
の最大ＴＥ信号振幅を測定し、最大ＴＥ信号振幅平均化
部３９においてその平均化が行われる。

【００３６】そして光ピックアップ３の傾きを、チルト
量制御手段３３の制御でチルトモータ２４を介してチル
ト可変手段２６を段階的に、例えば一定の角度ピッチで
正方向と負方向に３ステップずつ変化させながら、光デ
ィスク１の情報面と光ビームとの相対傾きを変化させな
がら、上述の手法によって各チルト量における最大ＴＥ
信号振幅を合計７ポイント測定する。その結果の一例を
図７に示す。同図のように各チルト量における最大ＴＥ
信号振幅は変化するため、最適チルト量検出部３６に
て、各チルト量における最大ＴＥ信号振幅が最も大きく
なる最適チルト量を求め、チルト量制御手段３３に送ら
れる。

【００３７】光ピックアップ３の傾き量を、一定の角度
ピッチで段階的に正方向と負方向に例えば３ステップず
つ変化させ、最大ＴＥ信号振幅を測定することにより、
最適チルト量検出部３６は最大ＴＥ信号振幅が最も大き
くなるチルト量を最適チルト量として設定し、チルト量
制御手段３３に出力して記憶させる。そして、記録もし
くは再生動作の際には、チルト量制御手段３３が、最適
チルト量に設定するためのチルト設定信号をチルトサー
ボ回路２１に出力し、チルトサーボ回路２１によって光
ディスク１と光ビームの相対傾きは最適チルト量に制御
される。このようにして、情報面の所望の位置における
光ビームの最適チルト量が決定できる。

【００３８】以上のように、光ディスクのトラック成形
過程でのばらつき等により局所的にＴＥ信号振幅値が通
常よりも大きい異常値が得られる場合でも、光ビームが
トラックの所定長さを走査する時間を複数回時分割し、
当該複数回最大ＴＥ信号振幅を測定し、その平均値を用
いることにより、異常値の影響を分散させることがで
き、精度良く最大ＴＥ信号振幅を測定することができ
る。

【００３９】また、本実施例の構成によれば、チルトセ
ンサなどの特別な検出装置を設けることなく、光ディス
クのトラック成形過程でのばらつき等により溝形状が局
所的に異常な場合でも、光ビームの光軸に対する光ディ
スクの情報面の傾きを正確に検出できるチルト検出装置
が提供できる。

【００４０】（実施例２）以下、本発明の他の実施例の
光ディスク装置について、図面を参照しながら説明す
る。図８は、本実施例の光ディスク装置の構成を示すブ
ロック図である。なお、実施例１と共通する構成要素に
は同一符号を付与し、その動作の詳細な説明は割愛す
る。

【００４１】光学的に情報を掲出する情報媒体では、情
報層に所定の情報信号を記録した既記録部と情報信号を
記録していない未記録部とでは情報層の光学特性が変化
する情報媒体が多い。そのため既記録部と未記録部とが
混在した領域でＴＥ信号振幅を測定すると、光学特性の
相違に基づき得られる振幅が異なり、ＴＥ信号振幅が大
きく得られる領域の最大ＴＥ信号振幅のみが抽出される
ことになり、正確なチルト量が測定できない。そこで、
再生信号処理回路１９で生成された全反射（ＡＳ）信号
のエンベロープを、ＡＳエンベロープ信号２値化回路４
２で２値化することにより、現在光ビームが位置する情
報面の場所が既記録部か未記録部かの領域判別を行い、
当該判別に応じて既記録部または未記録部内でのＴＥ信
号を測定し、最大ＴＥ信号振幅を検出できる。このＡＳ
エンベロープ信号は、ＡＳエンベロープ信号２値化回路
４２により得る点が実施例１と異なる。また、実施例１
におけるチルト検出部２０の動作も相違する。

【００４２】先ず、チルト検出部１２０について図９の
ブロック図を参照して説明する。本実施例においても、
再生信号処理回路１９で生成されたＴＥ信号は、ローパ
スフィルタ３７を介してＴＥ信号振幅計測部３５でＥ信
号振幅が測定される。このＴＥ信号振幅の測定値から最
大ＴＥ信号振幅計測部１４１にて最大ＴＥ信号振幅が計
測されるが、このときＡＳエンベロープ信号２値化回路
４２の領域判別信号により、既記録領域での最大ＴＥ信
号振幅と未記録領域での最大ＴＥ信号振幅とが個別に最
大ＴＥ信号振幅計測部１４１ａ及び１４１ｂで測定され
る。また、実施例１の同じ例で説明すると、時分割部４
０の出力に応じて最大ＴＥ信号振幅を１／３回転ずつ３
回測定し、既記録部と未記録部とで個別に最大ＴＥ信号
振幅平均化部１３９ａ及び１３９ｂにて平均化される。
既記録部と未記録部との境界領域では、各領域が光ディ
スク１の１回転中に混在するため、３回の測定中測定し
た回数に応じ、既記録部と未記録部とで個別に最大ＴＥ
信号振幅を平均化する。既記録・未記録領域占有率測定
部４４では、モータ回転時間検出回路３８からのモータ
回転時間検出信号と、ＡＳエンベロープ信号２値化回路
４２からの領域判別信号とに基づき、モータ１回転に占
める既記録部と未記録部との割合を検出し、割合の多い
方の領域の最大ＴＥ信号振幅を最適チルト量検出部３６
に指示する。

【００４３】以上のように構成された本実施例のチルト
検出動作を説明する。例えば既記録部のＴＥ信号振幅が
未記録部よりも大きくなる特性を持つ場合、ＴＥ信号振
幅の測定ポイントが情報面の既記録部と未記録部との境
界領域で、図１０（ａ）に示すように光ディスク１の１
回転の間に既記録部と未記録部との領域に応じてＴＥ信
号振幅は大きく変化する。ＴＥの最大信号振幅からチル
ト量を測定する本発明の方式では、既記録部と未記録部
とが混在した状態でそのままＴＥ信号振幅を測定する
と、既記録部のＴＥ信号振幅が未記録部のＴＥ信号振幅
より大きく検出されるため、最大ＴＥ信号振幅は既記録
部から得られた最大ＴＥ信号振幅が優先的に採用され、
本来の最大ＴＥ信号振幅とは異なりその結果チルト量を
誤検出してしまう。そこで、既記録部と未記録部とでＡ
Ｓエンベロープ信号が変化することに着目し、ＡＳエン
ベロープ信号２値化回路４２にて２値化されたＡＳエン
ベロープ信号を領域判別信号として使用することで、正
確なチルト量を決定する構成が本実施例である。このよ
うに領域判別信号を使って、ＴＥ信号振幅計測部３５で
計測されたＴＥ信号振幅の内最大ＴＥ信号振幅計測部１
４１にて既記録部と未記録部とで既記録領域の最大ＴＥ
信号振幅計測部１４１ａ及び未記録領域の最大ＴＥ信号
振幅測定部１４１ｂにより個別に最大ＴＥ信号振幅が求
められ、最大ＴＥ信号振幅平均化値も同様に既記録領域
の最大ＴＥ信号振幅平均化部１３９ａ及び未記録領域の
最大ＴＥ信号平均化部１３９ｂにより個別に求められ
る。また、モータ回転時間検出信号と領域判別信号とか
ら、モータ１回転に占める既記録部と未記録部との割合
が既記録・未記録領域占有率測定部４４にて検出でき、
この結果から割合の多い領域の最大ＴＥ信号振幅を領域
選択部５４で選択し、最適チルト量検出部３６で使用す
る。なお、図４に示した光検出器の構成で、ＡＳ信号は
（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）として表される。

【００４４】まず、光ピックアップ移動手段１３に移動
信号を与え情報層の所定の位置に移動させる。移動した
光ピックアップ３で情報面から得られるＡＳ信号をＡＳ
エンベロープ信号２値化回路４２で２値化し、光ビーム
が照射している情報面が既記録部か未記録部かを判断す
る。一方、光ピックアップ３を、チルト量制御手段３３
からのチルト設定信号に基づきチルト可変手段２６で１
つの傾き量に傾かせる。光ピックアップ３の１つの傾き
量に対し、実施例１と同様に時分割部４０による時分割
で所定の回数（実施例１では３回）ＴＥ信号振幅を測定
し、最大ＴＥ信号振幅検出部４３で得た３つの最大ＴＥ
信号振幅を最大ＴＥ信号振幅平均化部３９で平均化し、
当該１つの傾き量における最適チルト量を決定する。

【００４５】そしてチルト量制御手段３３からの別のチ
ルト設定信号に基づき段階的にチルト可変手段２６を動
作させ、上述の傾き量における最適チルト量を決定し、
例えば正方向に３ステップ、負方向に３ステップ合計７
ステップ繰り返し、７つの傾き量における最適チルト量
を７つ測定する。各チルト量における最大ＴＥ信号振幅
は変化するため、最適チルト量検出部３６にて、各チル
ト量における最大ＴＥ信号振幅が最も大きくなる最適チ
ルト量を求め、チルト量制御手段３３に送られる。この
ようにして、情報層の所定の位置における光ビームのチ
ルト量が決定できる。

【００４６】なお、上述の例では既記録部または未記録
部何れかの領域で検出を行う場合について説明したが、
既記録部と未記録部とが混在する領域、または既記録部
と未記録部との境界領域の何れかの領域では、既記録・
未記録領域占有率測定部４３で測定した占有率の大きい
領域を領域選択部５４で選択し、選択した領域のみにつ
いて検出を行うことも可能である。占有率が高い領域に
ついて検出を行う理由は、平均の母数が増えるため好ま
しい点と共に、チルト量を大きく変化させていった場
合、光ビームが照射される光ディスク１上の位置がずれ
ることを考慮したためである。例えば未記録部がモータ
１回転に占める割合が非常に少ないにも関わらず未記録
部を検出対象領域とした場合、チルト量を大きく変える
と光ビームの位置がずれることで、光ビームが照射する
情報面が全て既記録部となり、未記録部が無くなり、Ｔ
Ｅ信号の検出が出来なくなる等の不具合を回避すること
が出来る。

【００４７】以上のように、本実施例の構成によれば、
チルトセンサなどの特別な検出装置を設けることなく、
未記録部と既記録部とでＴＥ信号の振幅が異なり、両者
の混在領域ではＴＥ信号振幅が大きく変動する情報層の
場合でも、光ビームの光軸に対する光ディスクの情報面
の傾きを正確に検出できると共に、未記録部と既記録部
とでＴＥ信号の振幅が異なり、両者の混在領域ではＴＥ
信号振幅が大きく変動する情報層の場合でも、既記録部
と未記録部との最大ＴＥ信号振幅を個別に測定し、測定
領域の多い方の最大ＴＥ信号振幅を用いることにより、
未記録部と既記録部との混在の影響を無くすことができ
る。

【００４８】（実施例３）以下、本発明の別の実施例に
ついて、図面を参照しながら説明する。本実施例は、Ａ
Ｓエンベロープ２値化回路４２の動作のみが実施例２と
異なり、その他の構成要素とその動作は実施例２と同様
であるので同一符号を付してその詳細な説明は省略す
る。

【００４９】本実施例の光ディスク１の動作を説明す
る。例えば既記録部のＴＥ信号振幅が未記録部のＴＥ信
号振幅に比べ大きくなる特性を持つ情報層に、記録ミス
による影響や光ディスク１及び／または情報層に欠陥が
存在したときに、図１１（ａ）及び（ｂ）に示すよう
に、ＴＥ信号振幅は既記録部と同等であるが、ＡＳ信号
が欠落部Ｄを有するため、図１１（ｃ）に示すようにＡ
Ｓエンベロープ信号の２値化信号が欠落部Ｄでローレベ
ルとなり、未記録部と判断する場合がある。即ち、未記
録部と判断しているのにも関わらずＴＥ信号振幅は既記
録部と同等の大きな値となっている。よって、未記録部
の最大ＴＥ信号振幅を測定するときに、ＡＳ信号が欠落
している場所のＴＥを最大ＴＥ信号振幅として検出して
しまい、正しく未記録部の最大ＴＥ信号振幅が測定でき
ない。そこで、ＡＳエンベロープ２値化回路１４２にお
いて、ＡＳエンベロープ信号がコンパレートレベルより
上にある状態から下に変化したとき、ＡＳエンベロープ
２値化回路からの出力はすぐにハイレベルからローレベ
ルに切り替わるのではなく、一定時間ハイレベルにホー
ルドした後ローレベルに切り替わるようにホールド機能
をを持たせる。

【００５０】これにより、図１１（ｄ）の（”Ｈ”−ｈ
ｏｌｄ）に示すように、ＡＳ信号が一部欠落する事が
あってもハイレベルで一定時間ホールドされ既記録部と
判断されるため、未記録部の最大ＴＥ信号振幅を誤検出
することは無くなる。また、図１１（ｄ）の（”Ｈ”−
ｈｏｌｄ）に示すように、未記録部を一定時間の間既
記録部として判断することになるが、既記録部に対して
未記録部のＴＥ信号振幅が小さくなる特性を持つ場合、
最大ＴＥ信号振幅を測定することが当該チルト検出の目
的であるため、既記録部として最大ＴＥ信号振幅を求め
るのには影響が無い。なお、情報層が既記録部のＴＥ信
号振幅は未記録部のＴＥ信号振幅に比べ小さくなる特性
を持つ場合は、未記録部から既記録部に移動しても一定
時間の間未記録部と判断し続けるようにすれば、上記内
容と同等の効果が得られる。

【００５１】そしてチルト量制御手段３３からの別のチ
ルト設定信号に基づき段階的にチルト可変手段２６を動
作させ、上述の傾き量における最適チルト量を決定し、
例えば一定の角度ピッチで正方向に３ステップ、負方向
に３ステップ合計７ステップ繰り返し、最適チルト量検
出部３６は最大ＴＥ信号振幅が最も大きくなるチルト量
を最適チルト量として設定し、チルト量制御手段３３に
出力して記憶させる。そして、記録もしくは再生動作の
際には、チルト量制御手段３３が、最適チルト量に設定
するためのチルト設定信号をチルトサーボ回路２１に出
力し、チルトサーボ回路２１によって光ディスク１と光
ビームの相対傾きは最適チルト量に制御される。

【００５２】以上のように、本実施例の構成によれば、
チルトセンサなどの特別な検出装置を設けることなく、
未記録部と既記録部とでＴＥ信号の振幅が異なり、記録
ミスによる影響や光ディスク１及び／または情報層の欠
陥によりＡＳ信号が欠落する光ディスクの場合であって
も、光ビームの光軸に対する光ディスクの情報面の傾き
を正確に検出できると共に、ＴＥ信号振幅が大きくなる
領域の判定を一定時間ホールドする機能を持たせ、既記
録部と未記録部との最大ＴＥ信号振幅を個別に測定し、
測定領域の多い方の最大ＴＥ信号振幅を用いることによ
り、精度よくＴＥ信号振幅を測定できる。

【００５３】（実施例４）以下、本発明の他の実施例に
ついて、図面を参照しながら説明する。本実施例は、現
在光ビームが位置する光ディスク１上の場所が、記録済
みの既記録領域か記録していない未記録領域であるかを
記録された信号（以下、ＲＦ信号と称す）で判別するＲ
Ｆエンベロープ信号２値化回路５２を用いるものであ
り、その他の点は実施例２または３と同様であるため、
構成要素は同一符号を付してその詳細な説明は省略す
る。

【００５４】図１２は本実施例の構成を示すブロック図
である。ＲＦエンベロープ信号２値化回路５２では、再
生信号処理回路１９から情報面のＲＦ信号を検出し、そ
のエンベロープを２値化する。未記録部では信号が記録
されていないためＲＦ信号が無く、ＲＦエンベロープ信
号は出てこないが、信号が記録されている既記録部では
ＲＦエンベロープ信号が出力される。すなわちＲＦエン
ベロープ信号を２値化することによって既記録部の判別
が可能となる。

【００５５】以上のように、本実施例の構成によれば、
チルトセンサなどの特別な検出装置を設けることなく、
未記録部と既記録部とでＴＥ信号の振幅が異なり、記録
ミスによる影響や光ディスク１及び／または情報層の欠
陥によりＡＳ信号が欠落する光ディスクの場合でも、光
ビームの光軸に対する光ディスクの情報面の傾きを正確
に検出できる光ディスクのチルト検出装置を提供する。

【００５６】（実施例５）以下、本発明の別の実施例に
ついて、図面を参照しながら説明する。本実施例の光デ
ィスク装置は、実施例１の構成に新たに付加したＴＥ信
号振幅補正回路５３が実施例１と異なるだけで、その他
の構成要素とその動作は実施例１と同様であるので、同
一符号を付してその詳細な説明は省略する。

【００５７】図１３は本実施例の構成を示すブロック図
である。以上のように構成された本実施例についてその
動作を説明する。光ディスク１の情報層は記録すること
により表面の反射率が変わり、またＴＥ信号振幅がＡＳ
信号の振幅に応じて変化する場合、既記録部と未記録部
とで変化するＴＥ信号の振幅をＡＳの信号振幅を使って
補正することができる。例えば、ＡＳ信号とＴＥ信号と
の関係がα＝ＴＥ／ＡＳで一定の場合、α＝ＮＴＥ／Ｎ
ＡＳを満たす定数をＮＴＥとＮＡＳとし、未記録部のＡ
Ｓ及びＴＥをＡＳ’及びＴＥ’、既記録部でのＡＳ及び
ＴＥをＡＳ”、ＴＥ”とすると、それぞれα＝ＴＥ’／
ＡＳ’、α＝ＴＥ”／ＡＳ”の関係が成り立ち、ＮＴＥ
＝ＮＡＳ×（ＴＥ’／ＡＳ’）＝ＮＡＳ×（ＴＥ”／Ａ
Ｓ”）の式が成立する。すなわち、ＡＳ’、ＴＥ’、Ａ
Ｓ”、ＴＥ”、の値（すなわち、既記録部と未記録部と
の値）にかかわらず、ＴＥの振幅はＮＴＥ一定にするこ
とができる。また、チルトが発生するとα＝ＴＥ／ＡＳ
の関係が変化し、α＞ＴＥ／ＡＳとなるため、ＮＡＳ×
（ＴＥ／ＡＳ）の値が最大となるチルト量が最適チルト
量となる。よってＴＥ信号振幅補正回路５３では上記演
算式を用い、ＡＳ信号からＴＥ信号の補正を行う。

【００５８】そしてチルト量制御手段３３からの別のチ
ルト設定信号に基づき段階的にチルト可変手段２６を動
作させ、上述の傾き量における最適チルト量を決定し、
例えば一定の角度ピッチで正方向に３ステップ、負方向
に３ステップ合計７ステップ繰り返し、最適チルト量検
出部３６は最大ＴＥ信号振幅が最も大きくなるチルト量
を最適チルト量として設定し、チルト量制御手段３３に
出力して記憶させる。そして、記録もしくは再生動作の
際には、チルト量制御手段３３が、最適チルト量に設定
するためのチルト設定信号をチルトサーボ回路２１に出
力し、チルトサーボ回路２１によって光ディスク１と光
ビームの相対傾きは最適チルト量に制御される。

【００５９】以上のように、本実施例の構成によれば、
チルトセンサなどの特別な検出装置を設けることなく、
未記録部と既記録部とでＴＥ信号の振幅が異なり、両者
の混在領域ではＴＥ信号振幅が大きく変動する光ディス
クの場合でも、光ビームの光軸に対する光ディスクの情
報面の傾きを正確に検出できると共に、ＡＳ信号を用い
てＴＥ信号を補正することにより、未記録部と既記録部
との混在の影響を無くすことができる。

【００６０】（実施例６）以下、本発明の他の実施例に
ついて、図面を参照しながら説明する。本実施例は、実
施例１に示した構成対し記録管理領域データ処理部４５
とトラバースサーボ回路１８の動作が、実施例１と異な
る。その他の構成要素とその動作は実施例１と同様であ
るので同一符号を付してその詳細な説明は省略する。

【００６１】図１４は本実施例の構成を示すブロック図
である。記録を行った既記録領域を管理する情報が、記
録管理領域に書き込まれている光ディスクが多い。そこ
で、光ディスク１の記録管理領域を記録管理領域データ
処理部４５で、既記録部と未記録部との境界部を読み出
す。次に、ＴＥ信号振幅の測定ポイントが記録管理領域
データ処理部４５で読み出された既記録部と未記録部と
の境界領域上であった場合、記録管理領域データ処理部
４５からの指令によりトラバースサーボ回路１８からト
ラバースモータ１４を動かし、光ピックアップ３を移動
させる。

【００６２】以上のように構成された本実施例の動作を
説明する。ＴＥ信号振幅の測定ポイントが光ディスク１
上の既記録部と未記録部との境界領域上で、例えば既記
録部のＴＥ信号振幅が未記録部のＴＥ信号振幅よりも大
きくなる特性を持つ場合、図１０（ａ）に示すようにデ
ィスク１回転の間に既記録部と未記録部とのそれぞれの
領域に応じてＴＥ信号振幅は大きく変化する。ＴＥの最
大信号振幅からチルト量を測定する本発明の方式では、
そのままＴＥ信号振幅を測定すると未記録部のＴＥ信号
振幅が小さいため、既記録部の最大ＴＥ信号振幅に左右
されチルト量を誤検出してしまうことが想定される。

【００６３】そこでまず、記録管理領域データ処理部４
５で、光ディスク１上の記録管理領域から、情報層の既
記録領域の情報を読み出し、既記録部と未記録部との境
界領域を検出する。次に、チルト量検出のためＴＥ信号
振幅を測定しようとする情報面上の測定ポイントが、記
録管理領域データ処理部４５で検出された既記録部と未
記録部との境界領域と一致した場合、記録管理領域デー
タ処理部４５からの指令によりトラバースサーボ回路１
８からトラバースモータ１４を動かし、光ピックアップ
３を移動させる。つまり、光ビームの照射される位置を
動かすことによって、ＴＥ信号振幅の測定ポイントを既
記録部と未記録部との境界領域から移動させる。

【００６４】以上のように、本実施例は未記録部と既記
録部とでＴＥ信号の振幅が異なり、両者の混在領域では
ＴＥ信号振幅が大きく変動する光ディスクの場合でも、
情報層の記録管理領域から既記録部と未記録部との境界
領域を検出し、この境界領域を避けたポイントでＴＥ信
号振幅を測定することにより、未記録部と既記録部とが
混在する光ディスクでもＴＥ信号振幅を正しく測定する
ことができる。

【００６５】そしてチルト量制御手段３３からの別のチ
ルト設定信号に基づき段階的にチルト可変手段２６を動
作させ、上述の傾き量における最適チルト量を決定し、
例えば一定の角度ピッチで正方向に３ステップ、負方向
に３ステップ合計７ステップ繰り返し、各チルトでの最
大ＴＥ信号振幅を７つ測定することにより、最適チルト
量検出部３６は最大ＴＥ信号振幅が最も大きくなるチル
ト量を最適チルト量として設定し、チルト量制御手段３
３に出力して記憶させる。そして、記録もしくは再生動
作の際には、チルト量制御手段３３が、最適チルト量に
設定するためのチルト設定信号をチルトサーボ回路２１
に出力し、チルトサーボ回路２１によって光ディスク１
と光ビームの相対傾きは最適チルト量に制御される。

【００６６】以上のように、本実施例の構成によれば、
チルトセンサなどの特別な検出装置を設けることなく、
未記録部と既記録部とでＴＥ信号の振幅が異なり、両者
の混在領域ではＴＥ信号振幅が大きく変動する光ディス
クの場合でも、光ビームの光軸に対する光ディスクの情
報面の傾きを正確に検出できる光ディスクのチルト検出
装置を提供する。

【００６７】（実施例７）以下、本発明の別の実施例に
ついて、図面を参照しながら説明する。本実施例は、チ
ルト量制御手段３３とトラッキングサーボ回路１２との
動作が、実施例１と異なる。その他の構成要素とその動
作は実施例１と同様であるので同一符号を付してその詳
細な説明は省略する本実施例においては、ＴＥ信号振幅
を測定する場合、チルト量制御手段１３３からの指示に
基づき、トラッキング駆動回路４８にレンズ振動用駆動
信号を外部から印可することにより、レンズをトラッキ
ング方向（光ディスクの半径方向）に振動させることが
でき、光ディスク１の偏心が０の場合でもトラッキング
ＯＦＦ状態でＴＥに溝横断信号の発生が可能となる。

【００６８】図１５にトラッキングサーボ回路１１２の
構成を示す。トラッキングサーボ回路１１２は、トラキ
ング制御用フィルタ４６と、トラキング制御用フィルタ
４６の動作をＯＮ、ＯＦＦするためのトラッキング制御
用フィルタスイッチ４７と、トラッキング磁気回路１１
を駆動させる信号を生成するトラッキング駆動回路４８
と、トラッキングＯＦＦ状態で前記トラッキング磁気回
路１１をトラッキング方向に振動させるレンズ振動用駆
動信号発生部４９とから構成されている。

【００６９】以上のように構成された本実施例の動作を
説明する。前記光ディスク１の偏心がほとんどない場
合、トラッキングＯＦＦ状態で光ディスク１と情報面の
光ビームとの相対位置関係はほとんど変化が無いため、
トラッキングＯＦＦ状態でのＴＥ信号は図１６（ａ）の
ように横断するトラック（光ディスク上の溝）の本数が
少なくなり、光ディスク１回転の時間を複数に時分割し
各時間内での最大振幅を測定する事ができなくなる（こ
の図の例では光ディスク１回転中ＴＥ信号振幅を２本し
か測定できないため光ディスク１回転を１／３回転ずつ
に時分割する事ができない）。

【００７０】そこで、ＴＥ信号振幅を測定する場合、チ
ルト量制御手段１３３からの指示に基づき、レンズ振動
用駆動信号発生部４９からトラッキング駆動回路４８に
対し信号を送り、トラッキング磁気回路１１をトラッキ
ング方向に振動させることにより、図１６（ｂ）に示す
ように、偏心０の場合でも光ディスク１回転中のトラッ
ク横断本数を増やすことができ、ＴＥ信号の溝横断信号
を多く発生させることができる。こうすることにより光
ディスク１回転を時分割し、各時間毎の最大ＴＥ信号振
幅を測定し、その平均値を用い、異常値の影響を分散さ
せることができ、精度良く最大ＴＥ信号振幅を測定する
ことができる。

【００７１】そして光ピックアップ３の傾きを一定の角
度ピッチで正方向と負方向に３ステップずつ変化させ最
大ＴＥ信号振幅を測定することにより、最適チルト量検
出部３６は最大ＴＥ信号振幅が最も大きくなるチルト量
を最適チルト量として設定し、チルト量制御手段１３３
に出力して記憶させる。そして、記録もしくは再生動作
の際には、チルト量制御手段１３３が、最適チルト量に
設定するためのチルト設定信号をチルトサーボ回路２１
に出力し、チルトサーボ回路２１によって光ディスク１
と光ビームの相対傾きは最適チルト量に制御される。

【００７２】以上のように、本実施例の構成によれば、
チルトセンサなどの特別な検出装置を設けることなく、
光ディスクのトラック成形過程でのばらつき等により溝
形状が局所的に異常な場合でも、光ビームの光軸に対す
る光ディスクの情報面の傾きを正確に検出できると共
に、偏心０の光ディスクの場合でもレンズをトラッキン
グ方向に振動させることでトラッキングＯＦＦ状態でＴ
Ｅの溝横断信号を多数発生させることができる。

【００７３】（実施例８）以下、本発明の他の実施例に
ついて、図面を参照しながら説明する。図１７に示す本
実施例の構成は、実施例１ではトラッキングオフ状態で
ＴＥ信号振幅を測定していたのに対し、トラッキングオ
ン状態でトラックジャンプを行い、この時のＴＥ信号振
幅を測定するものである。従って、実施例１に対しトラ
ッキングサーボ回路２１２、チルト検出部２２０の動作
が異なる。その他の構成要素とその動作は実施例１と同
様であり、同一符号を付してその詳細な説明は省略す
る。

【００７４】図１８にトラッキングサーボ回路２１２の
構成を示す。ＴＥ信号はＴＥ対称性補正回路５１に入力
され、安定してトラックジャンプができるようにＴＥ信
号の対称性を調整できる構成となっている。トラックジ
ャンプ指令回路５０では、モータ回転時間検出回路より
モータ１回転の時間を検出し、１回転毎に隣接するトラ
ックへトラックジャンプにより往復の移動をするよう指
示を出す。すなわち、回転に同期して往復のトラックジ
ャンプを行うことにより、同じトラック位置の振幅を複
数回測定することができる。

【００７５】図１９にチルト検出部２２０の構成を示
す。トラックジャンプによって現れるＴＥ信号振幅をロ
ーパスフィルタ３７に入力し、ＴＥ信号振幅計測部３５
で測定する。また、測定ばらつきを考慮して複数回ＴＥ
信号振幅を測定し、ＴＥ信号振幅平均化部５５で平均化
処理する。

【００７６】以上のように構成された本実施例の光ディ
スクのチルト検出装置において、その動作を説明する。
まず、光ピックアップ移動手段１３に移動信号を与え情
報層の所定の位置に移動させる。一方、トラッキングサ
ーボをオフにし、光ビームがトラックを横断する状態
で、光ピックアップ３をチルト量制御手段３３からのチ
ルト設定信号に基づきチルト可変手段２６で予め決めら
れている基準の傾きを基準角度０度として、ＴＥ信号の
振幅を計測する。この時、ＴＥ信号の対称性がずれてい
る場合、ＴＥ対称性補正回路５１を用いて対称性の補正
を行う。これは基準角度０度でチルト量が大きかった場
合でも、トラックジャンプをが安定して行うためであ
る。次にトラッキングオンさせ、トラックジャンプ指令
回路５０からモータ１回転毎に隣接するトラックへ往復
のトラックジャンプ指令信号を発生する。光ディスク１
の回転に同期して往復ジャンプを行うので、同じトラッ
クのＴＥ信号振幅を測定することができる。これにより
近傍の異なるトラックでＴＥ信号振幅がばらついていた
としても、同じトラックを測定するためばらつきの影響
は受けず、また既記録部と未記録部とが混在する影響も
無い。トラックジャンプを行う隣接したトラック同士が
丁度既記録部と未記録部との境界領域であった場合は、
ＡＳエンベロープ２値化回路４２のような領域判別信号
を用いて境界部を認識し、トラッキングサーボ回路２１
２に別のトラック間でトラックジャンプを行うよう指示
する。

【００７７】そしてチルト量制御手段３３からの別のチ
ルト設定信号に基づき段階的にチルト可変手段２６を動
作させ、上述の傾き量における最適チルト量を決定し、
例えば正方向に３ステップ、負方向に３ステップ合計７
ステップ繰り返し、７つの傾き量における最適チルト量
を７つ測定する。チルト量を変化させた場合、ＴＥ信号
の対称性がずれ、トラックジャンプが安定して行えなく
なる場合があるので、チルト量を変化させる毎にＴＥ対
称性補正回路５１を用いてＴＥの対称性を調整する。図
７のように各チルト量におけるＴＥ信号振幅は変化する
ため、最適チルト量検出部３６にて、各チルト量におけ
るＴＥ信号振幅が最も大きくなる最適チルト量を求め、
チルト量制御手段１３３に出力して記憶させる。そし
て、記録もしくは再生動作の際には、チルト量制御手段
１３３が、最適チルト量に設定するためのチルト設定信
号をチルトサーボ回路２１に出力し、チルトサーボ回路
２１によって光ディスク１と光ビームの相対傾きは最適
チルト量に制御される。

【００７８】以上のように、本実施例の構成によれば、
チルトセンサなどの特別な検出装置を設けることなく、
光ディスクのトラック成形過程でのばらつき等により局
所的にＴＥ信号振幅値が正常時よりも大きくなる場合で
も、既記録部と未記録部とが混在する場合でも同じトラ
ック位置でトラックジャンプを行い、そのＴＥ信号振幅
を測定することにより精度良くＴＥ信号振幅を測定する
ことができ、光ビームの光軸に対する光ディスクの情報
面の傾きを正確に検出できるチルト検出装置を提供す
る。

【００７９】（実施例９）以下、本発明の別の実施例に
ついて、図面を参照しながら説明する。実施例１〜８で
はチルト量を変化させるために光ピックアップ３の傾き
を変えたが、本実施例においては、チルト可変手段は光
ビームを集束する対物レンズ４の角度を変える構成とし
た。対物レンズ４の傾きを変える構成にしても、実施例
１〜８と同様の効果が得られる。つまり、対物レンズ４
の傾きを変えることにより、光ビームが情報面に入射す
る角度を変えることができる。よって本実施例において
は、対物レンズ４の傾きを変えることで、光ビームの情
報面に対するチルト量を変化させながら、ＴＥ信号振幅
が最大となる最適チルト量を求めることができる。

【００８０】図２０に対物レンズ４を傾けるチルトアク
チュエータの構成を示す。チルト磁気回路は、マグネッ
ト８と内周側フォーカス駆動コイル６４１、及びマグネ
ット８と外周側フォーカス駆動コイル６４２で構成され
ている。内周側フォーカス駆動コイル６４１と外周側フ
ォーカスコイル６４２とに（すなわち、フォーカスコイ
ル６４０に）同位相の電圧を加えると、対物レンズ４は
フォーカス方向（上下方向）に駆動される。また、内周
側フォーカス駆動コイル６４１と外周側フォーカスコイ
ル６４２とに逆位相の電圧を加えると対物レンズ４は傾
き、これらのコイルに入力する電圧をコントロールする
ことで対物レンズ４の傾き角度を制御できる。

【００８１】図２１は本実施例の構成を示すブロック
図、図２２はチルトサーボ回路６２１の構成を示す図あ
る。チルトサーボ回路６２１は、光ディスク１に照射さ
れる光ビームの照射角度が所望の角度になるように対物
レンズ４の傾きを制御する。チルト量制御手段１３３か
らのチルト設定信号に基づき、チルトサーボ信号を出力
するチルト量出力手段６２３、及びチルトサーボ信号に
基づき内周側フォーカス駆動コイル６４１と外周側フォ
ーカスコイル６４２とに電圧を印可するチルト駆動回路
６４３から構成されている。そのほかの構成は実施例１
と同様であり、同一符号を付してその詳細な説明は省略
する。

【００８２】そしてチルト量制御手段３３からの別のチ
ルト設定信号に基づき段階的にチルト可変手段２６を動
作させ、上述の傾き量における最適チルト量を決定し、
例えば正方向に３ステップ、負方向に３ステップ合計７
ステップ繰り返し、７つの傾き量における最適チルト量
を７つ測定する。各チルト量における最適チルト量検出
部３６で、最大ＴＥ信号振幅が最も大きくなるチルト量
を最適チルト量として設定し、チルト量制御手段１３３
に出力して記憶させる。そして、記録動作もしくは再生
動作の際には、チルト量制御手段１３３が、最適チルト
量に設定するチルト設定信号をチルトサーボ回路２１に
出力し、チルトサーボ回路６２１によって対物レンズ４
の傾きをコントロールすることにより情報面と光ビーム
との相対傾きを最適チルト量に制御することができる。
このようにして、情報層の所定の位置における光ビーム
のチルト量が決定できる。

【００８３】以上のように、本実施例の構成によれば、
チルトセンサなどの特別な検出装置を設けることなく、
情報媒体のトラック成形過程でのばらつき等により溝形
状が局所的に異常な場合及び／または情報媒体の反り量
が大きく、局所的にＴＥ信号振幅値が通常よりも大きい
異常値を有する場合でも、時分割した回数毎に最大ＴＥ
信号振幅の平均値を適用することにより、異常値の影響
を分散でき、確実に最適チルト量を検出することができ
ると共に、光ビームの光軸に対する情報面の傾きを正確
に検出でき、非常に高精度で信頼性の高いチルトサーボ
が実現できる。また、チルト可変を光りピックアップ全
体の傾きで行う構成に代え対物レンズでの傾きを変える
構成を採用したため、チルト可変手段の構成を簡素化
し、小型・薄型化、低コスト化を実現する。

【００８４】なお、本発明のチルト検出装置は、情報媒
体の形状及び／または情報層の記録再生方式に依存せ
ず、トラックを備え光学的にトラックを検出する情報媒
体のチルト検出を高精度に実現できるため、例えばＤＶ
Ｄ−Ｒ記録再生装置、ＤＶＤ−ＲＡＭ記録再生装置、Ｄ
ＶＤ−ＲＷ記録再生装置、ＣＤ−Ｒ記録再生装置、ＣＤ
−ＲＷ記録再生装置、光磁気記録再生装置、ＭＤ記録再
生装置などの記録可能型光ディスク記録再生装置、及び
ＤＶＤ−ＲＯＭ再生装置、ＣＤ−ＲＯＭ再生装置や再生
専用ＭＤ装置などの再生専用型光ディスク再生装置、及
び記録のみを行う光ディスク記録装置のいずれの光ディ
スク装置を始め、各種媒体の記録装置、再生装置または
記録再生装置においても好適であり、いずれの場合も同
様の効果を奏することは言うまでもない。

【００８５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明のチルト検
出装置は、光ディスクの情報面と光ビームの相対傾きの
チルト量を、光ピックアップの情報層に対する位置を所
定の位置に移動させ、情報面に対する光ビームの１つの
傾き量に対し、トラッキングエラー信号から得られる最
大トラッキングエラー信号振幅を所定回数平均化し、こ
の作業を情報面に対する光ビームの傾き量を段階的に変
化させた回数測定を複数回繰り返し、当該複数回計測し
た各傾き量における最大トラッキングエラー信号振幅の
内最も大きいトラッキングエラー信号振幅を当該情報層
に対する光ビームの位置での最適チルト量とする構成で
あるため、チルトセンサなどの特別な検出装置を設ける
ことなく、情報媒体の反り量及び／またはトラック等の
成形過程でのばらつき等の大小または／及びそれらの場
所の集中度に関わらず、光ビームの光軸に対する光ディ
スクの情報面の傾きを正確に検出し、かつ光ビームの光
軸に対する光ディスクの情報面の傾きを最適な角度に精
度良く制御することが可能となる。よって、小型・薄型
でかつ信頼性の高い記録再生装置を実現することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例におけるチルト検出装置の構
成を示すブロック図

【図２】本発明に適用できる光ピックアップ部分の拡大
図

【図３】同実施例におけるチルトサーボ回路の構成を示
すブロック図

【図４】同実施例における光検出器の構成を示す図

【図５】同実施例におけるチルト検出部の構成を示すブ
ロック図

【図６】同実施例におけるトラッキングエラー信号を示
す図

【図７】同実施例における最大信号振幅の近似曲線を示
すグラフ

【図８】本発明の他の実施例におけるチルト検出装置の
構成を示すブロック図

【図９】同実施例におけるチルト検出部のブロック図

【図１０】同実施例におけるトラッキングエラー信号と
全反射エンベロープ２値化信号を示す図

【図１１】本発明の別の実施例における全反射エンベロ
ープ２値化信号を示す図

【図１２】本発明の他の実施例におけるチルト検出装置
の構成を示すブロック図

【図１３】本発明の別の実施例におけるチルト検出装置
の構成を示すブロック図

【図１４】本発明の他の実施例におけるチルト検出装置
の構成を示すブロック図

【図１５】本発明の別の実施例におけるトラッキングサ
ーボ回路の構成を示すブロック図

【図１６】同実施例におけるトラッキングエラー信号を
示す図

【図１７】本発明の他の実施例におけるチルト検出装置
の構成を示すブロック図

【図１８】同実施例におけるトラッキングサーボ回路の
構成を示すブロック図

【図１９】同実施例におけるチルト検出部の構成を示す
ブロック図

【図２０】本発明の別の実施例における光ピックアップ
の構成を示す図

【図２１】同実施例のチルト検出装置の構成を示すブロ
ック図

【図２２】同実施例のチルトサーボ回路の構成を示すブ
ロック図

【符号の説明】

１ 情報媒体 ２ スピンドルモータ ３ 光ピックアップ ４ 対物レンズ ５ スピンドルサーボ回路 ６ フォーカスサーボ回路 ７ フォーカス磁気回路 ８ マグネット ９ フォーカス駆動コイル １０ トラッキング駆動コイル １１ トラッキング磁気回路 １２、１１２、２１２ トラッキングサーボ回路 １３ 光ピックアップ移動手段 １４ トラバースモータ １５ リードスクリュウ １６ ラック １７ ガイド軸 １８ トラバースサーボ回路 １９ 再生信号処理回路 ２０、１２０、２２０ チルト検出部 ２１、６２１ チルトサーボ回路 ２２ チルトエラー検出回路 ２３、６２３ チルト量出力手段 ２４ チルトモータ ２５ チルトモータ駆動回路 ２６ チルト可変手段 ２７ モータギア ２８ チルトラック ２９ チルトカム ３０ チルトフォロア ３１ ガイド軸固定板 ３２ サーボＣＰＵ ３３、１３３ チルト量制御手段 ３４ 光検出器 ３５ トラッキングエラー信号振幅測定手段 ３６ 最適チルト量検出部 ３７ ローパスフィルタ ３８ モータ回転時間検出回路 ３９、１３９ 最大トラッキングエラー信号振幅平均化
部 ４０ 時分割部 ４１、１４１ 最大トラッキングエラー信号振幅検出部 ４２、１４２ ＡＳエンベロープ信号２値化回路 ４３ 最大トラッキングエラー信号振幅検出部 ４４ 既記録・未記録領域占有率測定部 ４５ 記録管理領域データ処理部 ４６ トラッキング制御用フィルタ ４７ トラッキング制御用フィルタスイッチ ４８ トラキング駆動回路 ４９ レンズ振動用駆動信号発生部 ５０ トラックジャンプ指令回路発生部 ５１ トラッキングエラー信号対称性補正回路 ５２ ＲＦエンベロープ信号２値化回路 ５３ トラッキングエラー信号振幅補正回路 ５４ 領域選択部 ５５ トラッキングエラー信号振幅平均化部 ６４１ 内周側フォーカス駆動コイル ６４２ 外周側フォーカス駆動コイル ６４３ チルト駆動回路

フロントページの続き (72)発明者 正木 清 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 赤木 規孝 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 5D117 AA02 BB03 EE10 FF11 FX02 FX06 KK25 5D118 AA13 BF02 BF03 CA13 CB03 CC12 CD03 CD04

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 連続溝または断続したピットの何れかを
   含むトラック上に形成した情報層の面に照射した光ビー
   ムが、前記トラックを横断したとき前記情報層からの反
   射光を検知し、トラッキングエラー信号を出力するトラ
   ッキングエラー信号検出手段と、 前記情報層の面と前記光ビームとの相対傾きを可変する
   チルト可変手段と、 前記チルト可変手段が作動して生じる相対傾き量を出力
   するチルト量出力手段と、 前記相対傾き量を段階的に一定回数変化させる制御を前
   記チルト可変手段に対して行うチルト量制御手段と、 前記チルト量出力手段の出力に応じてトラッキングエラ
   ー信号振幅を測定するトラッキングエラー信号振幅測定
   手段と、 前記光ビームが前記トラックの所定長さを走査する時間
   を複数回時分割し、前記トラッキングエラー信号振幅測
   定手段でトラッキングエラー信号振幅を前記複数回測定
   し、前記複数回毎にトラッキングエラー信号の最大振幅
   を検出する最大振幅検出手段と、 前記最大振幅検出手段の出力を平均化するトラッキング
   エラー信号振幅平均化手段とを備えることを特徴とする
   チルト検出装置。
2. 【請求項２】 連続溝または断続したピットの何れかを
   含むトラック上に形成した情報層の面に照射した光ビー
   ムが、前記トラックを横断したとき前記情報層からの反
   射光を検知し、トラッキングエラー信号を出力するトラ
   ッキングエラー信号検出手段と、 前記情報層の面と前記光ビームとの相対傾きを可変する
   チルト可変手段と、 前記チルト可変手段が作動して生じる相対傾き量を出力
   するチルト量出力手段と、 前記相対傾き量を段階的に一定回数変化させる制御を前
   記チルト可変手段に対して行うチルト量制御手段と、 前記チルト量出力手段の出力に応じてトラッキングエラ
   ー信号振幅を測定するトラッキングエラー信号振幅測定
   手段と、 前記情報層に所定の情報信号が記録されている既記録領
   域と、前記情報層に情報信号が記録されていない未記録
   領域とを判別する領域判別手段と、 前記領域判別手段で判別した領域の内、多い方の領域を
   トラッキングエラー信号振幅測定の対象領域として選択
   する領域選択手段と、 前記対象領域における前記トラックの所定長さを前記光
   ビームが走査する時間を複数回時分割し、前記トラッキ
   ングエラー信号振幅測定手段でトラッキングエラー信号
   振幅を前記複数回測定し、前記複数回毎にトラッキング
   エラー信号の最大振幅を検出する最大振幅検出手段と、 前記最大振幅検出手段の出力を平均化するトラッキング
   エラー信号振幅平均化手段とを備えることを特徴とする
   チルト検出装置。
3. 【請求項３】 連続溝または断続したピットの何れかを
   含むトラック上に形成した情報層の面に照射した光ビー
   ムが、前記トラックを横断したとき前記情報層からの反
   射光を検知し、トラッキングエラー信号を出力するトラ
   ッキングエラー信号検出手段と、 前記情報層に所定の情報信号が記録されている既記録領
   域と前記情報層に情報信号が記録されていない未記録領
   域との前記情報層における境界位置を回避した領域に前
   記光ビームを位置制御し、前記情報層の面と前記光ビー
   ムとの相対傾きを可変するチルト可変手段と、 前記チルト可変手段が作動して生じる相対傾き量を出力
   するチルト量出力手段と、 前記相対傾き量を段階的に一定回数変化させる制御を前
   記チルト可変手段に対して行うチルト量制御手段と、 前記チルト量出力手段の出力に応じてトラッキングエラ
   ー信号振幅を測定するトラッキングエラー信号振幅測定
   手段と、 前記光ビームが前記トラックの所定長さを走査する時間
   を複数回時分割し、前記トラッキングエラー信号振幅測
   定手段でトラッキングエラー信号振幅を前記複数回測定
   し、前記複数回毎にトラッキングエラー信号の最大振幅
   を検出する最大振幅検出手段と、 前記最大振幅検出手段の出力を平均化するトラッキング
   エラー信号振幅平均化手段とを備えることを特徴とする
   チルト検出装置。
4. 【請求項４】 連続溝または断続したピットの何れかを
   含むトラック上に形成した情報層の面に照射した光ビー
   ムを、前記トラック上に位置制御するトラッキング制御
   手段と、 前記光ビームが、前記トラックを横断したとき前記情報
   層からの反射光を検知し、トラッキングエラー信号を出
   力するトラッキングエラー信号検出手段と、 前記トラッキング制御手段により前記光ビームが前記ト
   ラック上に位置制御されている状態で、所定のトラック
   本数だけ移動するトラックジャンプ手段と、 前記情報層の面と前記光ビームとの相対傾きを可変する
   チルト可変手段と、 前記チルト可変手段が作動して生じる相対傾き量を出力
   するチルト量出力手段と、 前記相対傾き量を段階的に一定回数変化させる制御を前
   記チルト可変手段に対して行うチルト量制御手段と、 前記チルト量出力手段が出力した相対傾き量においてト
   ラックジャンプ量を前記トラックジャンプ手段に前記所
   定のトラック本数だけ移動する指令を出力し、トラッキ
   ングエラー信号振幅を測定するトラッキングエラー信号
   振幅測定手段と、 前記トラッキングエラー信号振幅測定手段でトラッキン
   グエラー信号振幅を前記所定のトラック本数だけ測定
   し、前記トラッキングエラー信号振幅を平均化するトラ
   ッキングエラー信号振幅平均化手段とを備えることを特
   徴とするチルト検出装置。