BR112014021312B1

BR112014021312B1 - Método e aparelho para determinação da espessura da fase de liga fe-zn de uma chapa de aço galvanizada por imersão a quente

Info

Publication number: BR112014021312B1
Application number: BR112014021312-7A
Authority: BR
Inventors: Makoto Nakazawa
Original assignee: Nippon Steel Corporation
Priority date: 2012-04-25
Filing date: 2013-04-25
Publication date: 2022-01-11
Also published as: KR101572765B1; JPWO2013161922A1; MX2014010409A; US9417197B2; WO2013161922A1; MX361123B; CN103649679A; KR20140021063A; EP2843362A4; JP5403193B1; EP2843362A1; BR112014021312A2; CN103649679B; US20150055756A1

Abstract

método e aparelho para determinação da espessura da fase de liga fe-zn de uma chapa de aço galvanizada e recozida. a presente invenção refere-se a um método para determinar a espessura de uma fase de liga fe-zn de uma chapa de aço galvanizada e recozida que é a determinação de um método para determinar a espessura uma fase específica contida na fase de liga fe-zn de uma chapa de aço galvanizada e recozida compreendendo uma etapa de irradiação de raios x para irradiação da chapa de aço galvanizada e recozida e uma etapa de detecção de raios x para detectar os raios x difratados obtidos na etapa de difração de raio x, que correspondem à fase (gama)-(gama)1, fase (delta) 1, e fase (zeta) contidas na fase de liga fe-zn e que têm um espaçamento de superfície da estrutura do cristal d de 1,5(angstrom) ou mais.

Description

Campo Técnico

[001] A presente invenção refere-se a um método de medição da espessura de uma fase de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente. Em adição, a presente invenção se refere a um aparelho usado para medir a espessura de uma fase de liga Fe-Zn, que pode também ser usado para medição on-line necessária durante a produção de uma chapa de aço galvanizada por imersão a quente.

[002] É reivindicada prioridade sobre o Pedido de Patente Japo nês n° 2012-099762, depositado em 25 de abril de 2012, cujo teor está incorporado aqui por referência.

Antecedentes

[003] Uma chapa de aço galvanizada por imersão a quente foi usada mundialmente como chapa de aço para veículos. Para essa aplicação, a resistência à corrosão, as propriedades de revestimento, a capacidade de soldagem, a resistência à pulverização e à descama- ção durante a conformação por prensagem, são necessárias para a chapa de aço galvanizada por imersão a quente. A camada de revestimento da chapa de aço galvanizada por imersão a quente inclui uma fase Ç, uma fase ÔI, e uma fase F-FI. Entre os requisitos descritos acima, a capacidade de conformação por prensagem representada pela resistência à pulverização e à descamação depende das quantidades da fase Ç e da fase F-FI. A resistência à pulverização é aumentada à medida que a fase F-FI é reduzida, e a resistência à descamação é aumentada à medida que a fase Ç é reduzida. Portanto, para alcançar boa capacidade de prensagem, é necessária uma camada de revesti-mento consistindo principalmente da fase ô1.

[004] Para obter a camada de revestimento consistindo princi palmente da fase δi, a composição (concentração de Al) e a temperatura de um banho de revestimento, e as condições de aquecimento e resfriamento para a ligação precisam ser otimizadas dependendo dos componentes do aço. Em operações comuns, a concentração de Al e a temperatura do banho de revestimento são mantidas dentro de faixas limitadas, e o padrão de aquecimento e resfriamento é determinado dependendo da taxa de ligação do aço. Entretanto, na prática, devido às condições operacionais em um processo anterior (um processo antes da galvanização e recozimento), tal como a laminação a quente, a taxa de ligação pode variar em partes mesmo que no mesmo tipo de aço e até mesmo na mesma bobina. Portanto, em cada momento, o operador ajusta finamente as condições de aquecimento e de resfriamento enquanto verifica visualmente o grau de ligação. O teste de pul-verização e descamação, bem como a análise da fase do revestimento, é executado off-line usando-se partes representativas (tipicamente uma porção frontal e/ou uma porção da cauda) de uma bobina após a produção.

[005] Entretanto, verificando-se a qualidade do revestimento através do teste off-line e da análise, uma resposta rápida para ajustar a condição operacional pode não ser alcançada. Portanto, por exemplo, quando uma taxa de ligação é mudada devido à mudança do tipo de aço, há o risco de uma redução no rendimento. Em adição, por exemplo, dependendo das condições da laminação a quente, a ligação da pare frontal de uma bobina pode ser mais lenta que a da porção mediana. Nesse caso, quando a operação é realizada conforme a condição de ligação da porção frontal, a porção mediana é excessivamente ligada, e pode levar a uma pobre resistência à pulverização da maioria das partes daquela bobina.

[006] Para evitar previamente esses problemas, é eficaz a medi- ção on-line com alta precisão por todo o comprimento da bobina. Uma técnica empregada para esse propósito é uma difração de raios X online. A difração de raios X é um método para medição qualitativa e quantitativa de fases do cristal em uma camada de revestimento usando-se o fenômeno da difração que ocorre quando os cristais são irradiados com raios X com bom paralelismo. Para usar esse método para a medição on-line, há a necessidade de selecionar raios X difratados que tenham boa correlação com a espessura da fase do cristal. Além disso, para obter alta precisão na medição, há a necessidade de selecionar raios X difratados que tenham uma alta intensidade dentro de uma faixa prática de ângulos de difração (2θ). Nos Documentos de Patente 1 e 2, 2θ>80°, que corresponde ao espaçamento da estrutura do cristal d<1,78Â quando Cr é usado como um raios X almejado, é descrito como uma faixa prática onde o efeito de vibração e de radiação de calor da chapa de aço é menor, e a mudança na intensidade do raios X incidente é pequena. Conforme descrito nos Documentos de Patente 2 a 5, d=1,26Â para uma fase Ç (2θ=130° quando o alvo é Cr), d=1,28Â para uma fase δi (2θ=127° quando o alvo é Cr), e d=1,22Â para uma fase r-ri (2θ=139° quando o alvo é Cr) são amplamente usados na técnica anterior.

[007] É também necessário para a medição on-line calibrar a in tensidade de raios X com base no peso do revestimento de Zn, e ajustar o ângulo de pico devido à % de Fe no revestimento. Em adição, é também importante reduzir o efeito da vibração de uma chapa de aço.

[008] Podem ser usadas diferentes curvas de calibração entre a intensidade de raios X e a espessura da fase da liga com base no peso do revestimento de Zn para compensar o efeito do peso do revestimento (Documento de Não Patente 1).

[009] Por outro lado, conforme descrito no Documento de Patente 6, medindo-se a intensidade de raios X difratados Ir de uma fase r correspondente a d=1,22Â e a intensidade antecedente IB próxima de uma posição de raios X difratados, é possível obter um grau de ligação definido como (Ir-IB)/Ir com base em uma única curva de calibração. Nesse método, é assumido que uma vez que o efeito do peso do revestimento é refletido no IB, a correção pode ser alcançada.

[0010] No Documento de Patente 5, é descrito um método para corrigir a mudança no ângulo de pico do raios X difratado devido à mudança no % de Fe em uma camada de revestimento. As fases de liga Fe-Zn têm faixas de % de Fe de 20 a 28% em massa. Portanto, as mudanças no espaçamento da estrutura do cristal conforme o grau de ligação, e um ângulo de difração adequado 2θ também mudam conforme o grau de ligação. O Documento de Patente 5 é uma Técnica de, para averiguar a mudança no ângulo de difração 2θ, permitindo que um detector varra uma faixa de 2 a 5° a partir de um caminho em arco. Usando-se essa técnica, uma faixa adequada das condições de ligação pode ser determinada com mais precisão comparado a um caso em que o detector é fixo.

[0011] No Documento de Patente 7, é descrita uma técnica de re duzir o efeito da vibração de ma chapa de aço. No Documento de Patente 7, um raio de raios X incidente é introduzido em uma óptica de múltiplas camadas para ser colimado. Como resultado, raios X difrata- dos gerados pela irradiação da chapa de aço com o raio de raios X incidente são colimados. Portanto, mesmo quando a distância entre o detector e a posição de difração dos raios X na chapa de aço muda devido à vibração, a intensidade de raios X detectada não muda significativamente. Documentos da Técnica Anterior Documentos de Patente Documento de Patente 1 Pedido de Patente Japonês Não Examinado , Primeira Publicação n° S52-21887 Documento de Patente 2 Pedido de Patente Japonês Não Examinado , Primeira Publicação n° H05-45305 Documento de Patente 3 Pedido de Patente Japonês Não Examinado , Primeira Publicação n° H09-33455 Documento de Patente 4 Pedido de Patente Japonês Não Examinado , Primeira Publicação n° H07-260715 Documento de Patente 5 Pedido de Patente Japonês Não Examinado , Primeira Publicação n° H04-110644 Documento de Patente 6 Pedido de Patente Japonês Não Examinado , Primeira Publicação n° H01-301155 Documento de Patente 7 Pedido de Patente Japonês Não Examinado , Primeira Publicação n° 2002-168811 Documento de Patente 8 Pedido de Patente Japonês Não Examinado , Primeira Publicação n° H04-42044 Documento de Patente 9 Pedido de Patente Japonês Não Examinado , Primeira Publicação n° H06-347247 Documentos de Não Patente Documento de Não Patente 1 KAWASAKI STEEL GIHO Vol.18 (1986) No.2, p.31

Sumário da Invenção Problema que a Invenção deve resolver

[0012] Entretanto, a difração de raios X conforme a técnica relativa não é suficiente para executar a medição on-line sobre todo o comprimento da bobina com alta precisão, realimentando os resultados para ajustar as condições operacionais, e para evitar previamente uma ligação ou não ligação excessiva. A razão principal é que os picos de raios X difratado derivado da fase Ç, a fase δi, e a fase rTi, que foram usadas no passado, são adjacentes entre si e são detectadas com ruídos de fundo fortes e irregulares.

[0013] Como um resultado, por exemplo, como no Documento de Patente 8, para calcular a espessura das três fases, a intensidade do raios X difratado da fase a ser calculada, as intensidades antecedentes em suas duas extremidades, e as intensidades de raios X difratado das outras duas fases têm que ser introduzidas em uma equação de regressão. Nesse caso, os respectivos erros são acumulados e assim é difícil obter a espessura de qualquer fase com boa precisão.

[0014] Em adição, no Documento de Patente 9, é descrito um mé todo para calcular a espessura de cada fase usando-se uma equação de intensidade teórica de raios X tendo significado físico. É necessária a análise da difração de raios X do material de referência tendo uma eficiência de difração similar a um material de teste, bem como a análise de fase conforme uma eletrólise de corrente constante do material de teste. Entretanto, para obter a espessura de uma fase única, não apenas as espessuras das outras fases e as intensidades antecedentes, mas também a eficiência da difração, o coeficiente de absorção de massa, tem que ser considerado, e assim a equação de regressão se torna extremamente complexa.

[0015] Na técnica relativa, é considerado ser importante que 2θ>80°, no qual a vibração da chapa de aço, o efeito do calor na chapa de aço, e o efeito da mudança na intensidade de raios X incidente são menores. Também é considerado ser importante que os picos de difração de todas as três fases (a fase Ç, a fase ÔI, e a fase F-FI) são adjacentes e são medidos simultaneamente. Como resultado, a técnica é extremamente insuficiente para medir a espessura de cada fase com boa precisão.

[0016] A presente invenção foi feita levando em consideração os problemas mencionados anteriormente. Isto é, um objetivo da presente invenção é fornecer um método para medição da espessura de uma fase de liga Fe-Zn incluída no revestimento de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente, na qual a espessura da fase Fe-Zn pode ser medida com boa precisão, e um aparelho para medir a mesma.

Meios para resolver os problemas

[0017] Os inventores pesquisaram profundamente o objetivo acima focando na faixa menor de ângulo de 2θ onde a intensidade antecedente é baixa e não flutua. Como resultado, foi descoberto que em uma faixa de ângulo menor correspondente a um espaçamento da estrutura do cristal d de 1,5Â ou maior, muitos picos de difração de raios X estão presentes separadamente. Os inventores examinaram profundamente a quantidade das intensidades de pico para cada fase, que tenham a melhor quantidade com a intensidade antecedente. Além disso, os inventores descobriram que o problema com a precisão da medição pode ser resolvido usando-se os picos identificados. Além disso, para medições simultâneas de mais de duas fases, é descoberto ser eficaz reduzir a assimetria entre o ângulo de incidência e o ângulo de reflexão para um pico para o qual uma maior precisão é exigida, completando assim a presente invenção.

[0018] A presente invenção foi feita com base nas descobertas, e sua essência é como segue:

[0019] (1) Isto é, um método para medição da espessura de uma fase de liga Fe-Zn de interesse incluiu na fase de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente inclui: um processo de irradiação de raios X de irradiar a chapa de aço galvanizada por imersão a quente com os raios X incidentes; e um processo de detecção dos raios X difratados obtidos no processo de irradiação de raios X, derivado de uma fase F-FI, uma fase δi, e uma fase Ç incluída na fase de liga Fe-Zn com um espaçamento da estrutura do cristal d de 1,5Â ou maior.

[0020] (2) No método de medição de uma espessura de uma fase de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente descrita no item (1), no processo de detecção de raios X, a espessura da fase F-F1 pode ser medida usando-se um valor obtido pela subtração da intensidade antecedente do espaçamento da estrutura do cristal d de 1,914Â.

[0021] (3) No método de medição da espessura de uma fase de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente descrita nos itens (1) e (2), no processo de detecção de raios X, a espessura da fase δi pode ser medida usando-se um valor obtido subtraindo-se a intensidade antecedente da intensidade do raios X difratado derivado da fase δ1 com o espaçamento da estrutura do cristal d de 2,363Â.

[0022] (4) No método de medição da espessura de uma fase de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente descrita em qualquer um dos itens (1) a (3), no processo de detecção de raios X, a espessura da fase Ç pode ser medida usando-se o valor obtido pela subtração da intensidade antecedente da intensidade do raios X difratado derivado da fase Ç com o espaçamento da estrutura do cristal d de 4,109Â.

[0023] (5) Um aparelho para medir a espessura de uma fase de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente conforme um outro aspecto da presente invenção inclui: um tubo de raios X; e um detector que detecta raios X difratados, no qual o ângulo de difração entre a direção dos raios X incidentes irradiados pelo tubo de raios X e a direção dos raios X difratados pelo detector é um ângulo correspondente à fase r-ri, à fase δi, e à fase Ç incluídas na fase de liga Fe-Zn, e comum espaçamento da estrutura do cristal d de 1,5Â ou mais.

[0024] (6) No aparelho usado para medir a espessura de uma fase de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente descrita no item (5), o ângulo de difração pode ser um ângulo que corresponde ap espaçamento da estrutura do cristal d de i,9i4Â.

[0025] (7) No aparelho usado para medir a espessura de uma fase de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente descrita no item (5) ou (6),o ângulo de difração pode ser um ângulo que corresponda ao espaçamento da estrutura do cristal d de 2,363Â.

[0026] (8) No aparelho usado para medir a espessura de uma fase de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente descrita em qualquer um dos itens (5) a (7), o ângulo de difração pode ser um ângulo que corresponda ao espaçamento da estrutura do cristal d de 4,109Â.

[0027] (9) No aparelho usado para medir a espessura de uma fase de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente escrita em qualquer um dos itens (5) a (8), dois ou mais dos detectores podem ser incluídos, e a difração dos raios X derivados de pelo menos duas fases entre a fase rTi a fase δi, e a fase Ç pode ser detectada pelos detectores.

Efeito da Invenção

[0028] Aplicando-se o método de medição da espessura de uma fase de liga Fe-Zn de interesse incluída na fase de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente da presente invenção, as espessuras da fase rTi, da fase δi, e da fase Ç podem ser medidas com boa precisão sem o uso de uma equação de regressão complexa. Em adição, aplicando-se o aparelho para medição da espessura de uma fase de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente da presente invenção, medições on-line podem ser executadas com alta precisão por todo o comprimento da bobina. Portanto, reali- mentando-se os resultados rapidamente para ajustar as condições operacionais, uma ligação excessiva ou uma não ligação podem ser previamente evitadas. Isto contribuirá para a melhoria do rendimento e para a garantia da qualidade. Portanto, uma chapa de aço galvanizada por imersão a quente com excelente qualidade de revestimento pode ser fornecida estavelmente aos clientes a baixo custo.

Breve descrição dos desenhos

[0029] A FIG. i mostra a faixa preferível dos ângulos de difração (2θ) e os picos de difração preferíveis de cada fase Fe-Zn, que são medidos na presente invenção quando Cu é usado como um alvo de raios X.

[0030] A FIG. 2A mostra a relação quantitativa do ângulo de baixa difração de raios X (2θ=47,47°) de uma fase F-FI quando Cu é usado como alvo dos raios X.

[0031] A FIG. 2B mostra a relação quantitativa do ângulo de baixa difração de raios X (2θ=13,92°) da fase F-FI quando C é usado como alvo dos raios X.

[0032] A FIG. 3A mostra a relação quantitativa do ângulo de baixa difração de raios X (2θ=16,00°) de uma fase ÔI quando Cu é usado como alvo dos raios X.

[0033] A FIG. 3B mostra a relação quantitativa do ângulo de baixa difração de raios X (2θ=38,05°) da fase ô1 quando Cu é usado como alvo dos raios X.

[0034] A FIG. 4A mostra a relação quantitativa do ângulo de baixa difração de raios X (2θ=21,61°) da fase Ç quando Cu é usado como alvo dos raios X.

[0035] A FIG. 4B mostra a relação quantitativa do ângulo de baixa difração de raios X (2θ=24,10°) da fase Ç quando Cu é usado como alvo dos raios X.

[0036] A FIG. 4C mostra a relação quantitativa do ângulo de baixa difração de raios X (2θ=32,32°) da fase Ç quando Cu é usado como alvo dos raios X.

[0037] A FIG. 5 mostra um exemplo de configuração de um apare lho para medição da intensidade do ângulo baixo de raios X da fase F-FI de acordo com a presente invenção quando Cr e usado como alvo dos raios X.

[0038] A FIG. 6 shows mostra um exemplo de configuração do aparelho para medição da intensidade do ângulo baixo de raios X da fase r-ri conforme a presente invenção quando Cr é usado como alvo dos raios X.

[0039] A FIG. 7 mostra um exemplo de configuração de um apare lho para medir simultaneamente o ângulo baixo de raios X da fase r-ri, da fase δi, e da fase Ç de acordo com a presente invenção quando Cr é usado como alvo dos raios X.

[0040] A FIG. 8A mostra o pico de difração de raios X das fases Fe-Zn e um cenário para obter a espessura de cada fase Fe-Zn simul-taneamente na técnica relativa.

[0041] A FIG. 8B mostra o pico de difração de raios X e o cenário para obter a espessura de uma fase r-ri na presente invenção.

[0042] A FIG. 9A mostra a correlação entre a espessura da fase r-ri medida pela difração de raios Xe a espessura medida por análise química.

[0043] A FIG. 9B mostra a correlação entre a espessura da fase Ç medida pela difração de raios X e a espessura medida por análise química.

[0044] A FIG. i0A mostra a correlação entre a espessura da fase δi medida pela difração de raios X e a espessura medida por análise química, quando o peso do revestimento de Zn é de cerca de 30g/m2.

[0045] A FIG. i0B mostra a correlação entre a espessura da fase δi medida pela difração de raios X e a espessura medida por análise química, quando o peso do revestimento de Zn é de cerca de 45 g/m2.

[0046] A FIG. ii mostra a espessura da fase r-ri medida pela di- fração continua de raios X on-line quando uma bobina é passada através da CGL (linha de galvanização contínua) com mudanças na velocidade da linha e na temperatura de aquecimento.

Modalidade da invenção

[0047] Doravante o método de medição da espessura de uma fase de liga Fe-Zn incluída no revestimento de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente conforme uma modalidade da presente invenção (doravante de ser referida simplesmente como método de medição conforme essa modalidade) e um aparelho usado para medir a espessura de uma fase de liga Fe-Zn incluída no revestimento de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente conforme uma modalidade da presente invenção (doravante pode ser re-ferido como aparelho de medição conforme essa modalidade) serão descritos em detalhes em relação aos desenhos.

[0048] Será descrita uma difração de raios X aplicada ao método de medição conforme essa modalidade. A difração de raios X aplicada ao método de medição conforme essa modalidade inclui irradiar um espécime policristalino com raios X característicos e medir a intensidade de difração a um ângulo de difração específico e é classificada no método Debye-Scherrer. Em adição, um aparelho de difração de raios X que pode ser aplicado ao método de medição conforme essa modalidade é constituído por um aparelho gerador de raios X que gera um raio de raios X, uma fenda para restringir a divergência do raio de raios X, um detector, uma fenda em frente ao detector, um aparelho depositador de contagem, etc.

[0049] O aparelho gerador de raios X que pode ser usado nessa modalidade gera raios X pela aceleração dos elétrons térmicos produzidos pela corrente do filamento com uma alta voltagem, permitindo que eles colidam com o alvo metálico. Os raios X gerados são tirados através de uma janela de berílio. Os tipos de aparelhos geradores de raios X incluem um tubo de raios X do tipo selado e uma fonte de raios X de anodo giratório. O metal alvo é selecionado devido à absorção de raios X por m espécime e precisão de medição, e Cu, Cr, Fe, Co, Mo, Ti, e similares são comumente usados. Entre esses, Cu e Cr são particularmente preferíveis devido à excelente versatilidade. Os raios X gerados incluem, em adição aos raios Ka de interesse, raios Kβ e componentes brancos de raios X e assim precisam ser monocromados pela remoção de tais componentes. Um raio de raios X pode ser monocromado inserindo-se um filtro Kβ feito de uma folha metálica em frente à fenda ou usando-se um monocromador. Além disso, um analisador de altura de pulso pode também ser combinado ou um sistema de colimação usando um colimador de raios X pode também ser empregado.

[0050] Para restringir a divergência do raio de raios X, uma fenda solar para restringir a divergência na direção vertical e uma fenda de divergência para restringir a divergência em uma direção horizontal são preferivelmente usadas. Raios X difratados gerados pela irradiação de uma superfície do material com o raio de raios X são coletados através da fenda de recebimento de luz e, através da fenda solar e da fenda de dispersão são detectados pelo detector de raios X de modo que sua intensidade seja medida.

[0051] Os detectores de raios X que podem ser usados no apare lho de medição incluem um medidor de cintilações, um medidor proporcional, um detector de semicondutor, etc. Entre esses, o medidor de cintilações é o mais comumente usado. No aparelho de medição da presente invenção, o número de detectores de raios X sendo usados não é particularmente limitado. Por exemplo, quando mais de duas fases são medidas, detectores de raios X correspondentes ao número de fases de interesse e cada antecedente podem ser usados.

[0052] A seguir essa modalidade será descrita em detalhes.

[0053] Inicialmente será descrito cada um dos picos de difração correspondente a cada fase a ser medida, que é usado no método de medição da espessura de uma fase de liga Fe-Zn conforme essa modalidade. Um pico de difração correspondente a cada fase pode ser especificado usando-se um espaçamento da estrutura do cristal. O pico tem excelente quantidade e tem baixa intensidade antecedente, e assim a espessura de cada fase pode ser obtida com boa precisão sem o uso de uma equação de regressão complexa ou similar.

[0054] A relação entre o ângulo de difração (2θ) e o espaçamento da estrutura do cristal d quando Cr ou Cu é usado como alvo do raios X está mostrada na Tabela 1. É caracterizado nessa modalidade que a medição de qualquer fase de liga é executada em um ângulo menor de difração comparado à técnica relativa. Especificamente, na presente invenção, a medição é executada a um ângulo de difração correspondente ao espaçamento da estrutura do cristal d de 1,5Â ou mais. O ângulo de difração é, como geralmente definido, duas vezes maior (2θ) que o ângulo Bragg θ que satisfaz a condição de difração de Bragg para um espaçamento da estrutura do cristal d. Em um faixa do ângulo de difração correspondente a um espaçamento da estrutura do cristal d de 1,5Â ou mais, a intensidade antecedente em um espectro de di- fração de raios X medida é relativamente baixa. O limite superior do espaçamento da estrutura do cristal d não precisa ser particularmente limitado, mas é considerado ser substancialmente 6,4Â ou menos. Como mostrado na Tabela 1 a seguir, há muitos picos de difração de raios X na faixa do ângulo de difração correspondente a um espaçamento da estrutura do cristal d de 1,5Â ou mais, que derivaram de cada uma das fases de liga a serem focadas. Na Tabela 1 a seguir, os ângulos de difração são representados até duas casas decimais. Entretanto, cada um dos ângulos de difração representado é um valor calculado a partir do espaçamento da estrutura do cristal correspondente d, e na prática, os ângulos de difração podem ser ajustados finamente medindo-se as intensidades dos raios X difratados reais. Isto é, nessa configuração, um ângulo de difração (2θ) correspondente ao espaçamento da estrutura do cristal d significa que o ângulo de difra- ção inclui o ângulo de difração (2θ) mostrado na Tabela 1 e os ângulos ajustados dentro da faixa de ±0.5°. Em adição, na Tabela 1 a seguir, é mostrado o coeficiente de correlação entre a intensidade do ângulo baixo do pico de difração de raios X e a intensidade do pico principal de cada fase de liga. O coeficiente de correlação será descrito em detalhes em relação às FIGS. 2A, 2B, 3A, 3B, 4A, 4B, e 4C. O pico principal é referido como um pico de difração de raios X que tenha a intensidade máxima para cada fase de liga. Tabela 1

[0055] Em adição, ângulos de difração 2θ para obter a difração dos raios X, usando-se uma variedade de alvos, derivados de um es-paçamento da estrutura do cristal d correspondente ao n° 7 da Tabela 1 estão mostrados na Tabela 2.

[0056] De acordo com a Tabela 2, alvos de raios X diferentes de Cr e Cu podem também ser aplicados ao método de medição conforme essa modalidade. Particularmente, considerando-se o fato de que a configuração do aparelho se torna compacta à medida que o ângulo de difração 2θ é aumentado, os alvos dos raios X tendo um 2θ maior que o do Cu são vantajosos. Tabela 2

[0057] A FIG. 1 mostra a faixa de ângulos de difração (2θ) dos rai os X difratados derivados de cada fase usados no método de medição conforme essa modalidade e os picos de difração de raios X preferíveis de cada fase, comparado à faixa de medição da técnica relativa, quando Cu é usado como alvo dos raios X. Na técnica relativa, para medir a espessura de uma fase de liga Fe-Zn, foram medidas as intensidades dos três picos adjacentes detectados com um forte e irregular ruído de fundo. Contrário a isso, na FIG. 1, a intensidade de um pico separado de cada fase com uma baixa intensidade antecedente é medido nessa modalidade usando-se um menor ângulo de difração correspondente ao espaçamento da estrutura do cristal d de i,5Â ou mais.

[0058] Na FIG. 1, oito resultados de medição de (1) a (8) são su perpostos. (1) é o resultado da medição do revestimento galvanizado e recozido incluindo a fase rTi, a fase δi, e a fase Ç. Por outro lado, (2) a (8) são resultados das medições do revestimento galvanizado e re- cozido retirados por uma eletrólise de potencial constante. Potenciais eletrolíticos usando-se um eletrodo calomel saturado como eletrodo de referência são -1075 mV para (2), -1050 mV para (3), -1040 mV para (4), -1020 mV para (5), -1000 mV para (6), -980 mV para (7), e -940 mV para (8). Com a mudança do potencial eletrolítico de menos nobre para nobre, inicialmente a fase C, e então a fase δi desaparecem, e apenas a fase rTi permanece em (8). Mesmo em qualquer dos espécimes tendo diferentes composições, os três picos de difração de raios X (fase Ç: 21,61°, fase δ: 38,05°, fase rTi: 47,47°) mostrados como exemplos preferíveis são caracterizados pelo fato de que eles podem ser identificados como picos separados sem serem afetados pelos picos de outras fases e cenários. Isso significa que quando nenhum pico de difração é detectado a esses ângulos de difração, fases correspondentes não existem no revestimento.

[0059] A seguir, a quantidade da intensidade dos picos de difração de raios X correspondente a cada fase será descrita. Os picos de cada fase em uma faixa de ângulo menor nessa modalidade estão listados em i a i5 da Tabela i com o coeficiente de correlação. Nas FIGS. 2A a 4B, grupos de chapas galvanizadas com diferentes espessuras das três fases (fase C, fase δ, e fase rTi) foram analisados por difração de raios X usando-se Cu como alvo dos raios X, e as intensidades de picos de difração de raios X de baixo ângulo e as intensidades dos principais picos foram correlacionados. A FIG. 2A mostra a correlação en- tre a intensidade do pico a 20=47,47° e a intensidade do pico principal da fase rTi, e a FIG. 2B mostra a correlação entre a intensidade de pico a 20=13,92° e a intensidade do pico principal da fase FTI. Quanto maior a correlação, melhor a quantidade do pico de difração de baixo ângulo. O coeficiente de correlação na FIG. 2A foi 0,94, e o coeficiente de correlação na FIG. 2B foi 0,71.

[0060] Similarmente, a FIG. 3A mostra a correlação entre a inten sidade de pico a 20=16,00° e a intensidade do pico principal da fase δ1, e a FIG. 3B mostra a correlação entre a intensidade de pico a 20=38,05° e a intensidade do pico principal da fase δ1. A FIG. 4A mostra a correlação entre a intensidade de pico a 20=21,61° e a intensidade do pico principal da fase Ç, a FIG. 4B mostra a correlação entre a intensidade do pico a 20=24,10° e a intensidade do pico principal da fase Ç, e a FIG. 4C mostra a correlação entre a intensidade de pico a 20=32,32° e a intensidade do pico principal da fase Ç O coeficiente de correlação (R2) é como mostrado em cada FIG e na Tabela 1. É concluído com base na Tabela 1 que os picos de difração preferíveis mos-trados na FIG. 1 têm os melhores coeficientes de correlação entre os picos de difração de raios X de baixo ângulo para cada fase.

[0061] A escolha da difração de raios X de baixo ângulo nessa configuração, entretanto, não é limitado aos três picos preferíveis mostrados na FIG. 1. Basicamente, os picos de difração de raios X das fases mostradas na Tabela 1 podem ser selecionados com qualquer combinação dependendo das condições de medição, embora aqueles tendo maiores coeficientes de correlação mostrados na Tabela 1 são selecionados preferivelmente.

[0062] Doravante o aparelho de medição conforme essa modali dade, isto é, u aparelho de medição on-line usado para executar medição das intensidades dos picos de difração de raios X preferíveis correspondentes a cada fase será descrito em relação às FIGs. 5 a 7.

[0063] Inicialmente será descrita a configuração de um aparelho usado para medir a espessura da fase r-r em relação às FIGs. 5 e 6.

[0064] A FIG. 5 é um diagrama esquemático do aparelho de medi ção on-line que mede a espessura da fase r-r quando Cr é usado como alvo dos raios X. Na FIG. 5, a ilustração de uma fenda, de um aparelho depositador de contagem, etc. são omitidas. O ângulo incidente dos raios X é ajustado para 36,75° para satisfazer a condição de Bragg. Quando a tira de aço 6 é irradiada com raios X do tubo de raios X i, vários raios X difratados tendo diferentes ângulos de difração são gerados. Entre esses, um detector 2 mede a intensidade de raios X difratados derivados da fase r-ri com um espaçamento da estrutura do cristal de d=1,914Â. Um detector 3 e um detector 4 medem a intensidade antecedente em um lado de alto ângulo e em um lado de baixo ângulo, respectivamente. Com base no padrão de difração de raios X próximo do pico de difração correspondente a d=1,914Â, que é detectado pelo detector 2, a medição do ângulo antecedente pode ser determinada, por exemplo, a 0,5 a 15° a partir do ângulo de difração do detector 2. Na prática, antes da medição on-line, é recomendado que um ângulo de medição antecedente adequado seja obtido off-line. Os picos de difração de raios X nessa invenção são detectados onde a intensidade antecedente é baixa, e assim qualquer um entre o detector 3 e o detector 4 pode ser omitido. Em adição, quando a diferença entre o ângulo de difração e o ângulo de medição antecedente é 5° ou menos, é fisicamente difícil dispor o detector 3 ou o detector 4. Portanto, o ângulo de difração do detector 2 pode ser mapeado em até 5° para obter a intensidade antecedente.

[0065] A espessura da fase r-r1 pode ser medida usando-se a in tensidade de raios X descrita acima. Por exemplo, um valor obtido subtraindo-se a intensidade antecedente da intensidade de difração de raios X pode ser convertido na espessura da fase com base na curva de calibração feita pelo método exemplificado no Exemplo 1.

[0066] A FIG. 6 é um diagrama esquemático do aparelho de medi ção on-line que mede a espessura da fase r-r quando Cu é usado como alvo dos raios X. Na FIG. 6, ilustração de uma fenda, um aparelho de registro de contagem, etc. é omitido. O ângulo incidente é ajustado em 23,74° para satisfazer a condição de Bragg. Um detector i2 mede a intensidade dos raios X difratados derivados da fase r-r com um espaçamento da estrutura do cristal de d=1,914Â. Usando-se a intensidade de raios X difratados, a espessura da fase rTi pode ser medida. Um detector i3 e um detector i4 medem a intensidade antecedente em um lado de alto ângulo e em um lado de baixo ângulo respectivamente. Com base em um padrão de difração de raios X próximo do pico de difração de raios X correspondente a d=i,9i4Â, que é detectado pelo detector i2, a medição do ângulo antecedente pode ser determinada, por exemplo, 0,5 a i5° do ângulo de difração do detector i2. Na prática, antes da medição on-line, é recomendado que um ângulo de medição antecedente adequado seja obtido off-line. Os picos de difração de raios X nessa invenção são detectados onde a intensidade antecedente é baixa, e assim qualquer um entre o detector i3 2 o detector i4 pode também ser omitido. Em adição, quando a diferença entre o ângulo de difração e o ângulo de medição antecedente é 5° ou menos, é fisicamente difícil descartar o detector i3 ou o detector i4. Portanto, o ângulo de difração do detector i2 pode ser mapeado em até 5° para obter a intensidade antecedente.

[0067] Um aparelho para medir a espessura da fase δi on-line e um aparelho para medir a espessura da fase Ç on-line podem ser con-figurados similarmente ao aparelho ilustrado na FIG. 5 ou 6. Isto é, o ângulo incidente θ é ajustado com base nos ângulos de difração 2θ mostrados na Tabela i, e o pico de difração correspondente a um espaçamento da estrutura do cristal d de uma fase a ser focalizada pode ser detectado por um detector.

[0068] A FIG. 7 é um diagrama ilustrando esquematicamente a configuração do aparelho de medição on-line para medir as intensidades dos raios X difratados de mais de duas fases simultaneamente entre a fase r-Fi, a fase δi, e a fase Ç que estão incluídas na liga Fe- Zn.

[0069] A FIG. 7 ilustra o aparelho de medição on-line para medir a espessura das três fases simultaneamente quando o Cr é usado como alvo dos raios X. A ilustração de uma fenda, um aparelho depositador de contagem, etc., é omitida. Um detector 22 detecta o pico de difra- ção de raios X correspondente a d=1,914Â da fase rTi, um detector 23 detecta o pico de difração de raios X correspondente a d=2,363Â da fase δi, e um detector 24 detecta o pico de difração de raios X correspondente a d=4,109Â da fase Ç. Um detector 25 mede a intensidade antecedente em um lado de ângulo alto da fase r-ri,um detector 26 mede a intensidade antecedente em um lado de alto ângulo da fase δi, e um detector 27 mede a intensidade antecedente em um lado de ângulo alto da fase Ç. Na prática, antes da medição on-line, é recomendado que um ângulo de medição antecedente seja obtido off-line. Na FIG. 7, a intensidade antecedente é medida apenas no lado de alto ângulo de cada pico de difração de raios X. Entretanto, a intensidade antecedente pode ser medida apenas em um lado de ângulo baixo, ou em ambos os lados, o lado de ângulo baixo e lado de ângulo alto. Em adição, quando a diferença entre o ângulo de difração e o ângulo de medição antecedente é 5° ou menos, é fisicamente difícil descartar os detectores 25, 26 e 27. Portanto, o ângulo de difração dos detectores 22, 23 e 24 pode ser mapeado em até 5° para obter a intensidade antecedente.

[0070] No aparelho de medição conforme essa modalidade, os ângulos de difração da três fases são separados entre si conforme descrito acima, então não é possível satisfazer a condição de Bragg para todas as fases ao mesmo tempo. Mesmo quando a condição de Bragg não é satisfeita, a espessura da fase pode ser medida. Entretanto, a precisão da medição é aumentada quando a condição de Bragg é satisfeita. Portanto, é preferível determinar o ângulo incidente conforme o propósito da medição de modo que os raios X difratados derivados da fase cuja precisão de medição deve ser maximizada satisfaçam a condição Bragg. Na FIG. 7, o ângulo incidente é ajustado para 16,00°. Isto é porque o propósito principal é evitar a Não ligação e assim a precisão da medição da fase Ç é considerada ser importante. Por outro lado, quando a precisão da medição da fase r-r é considerada ser importante com o propósito de evitar uma ligação excessiva, o ângulo incidente é preferivelmente ajustado para 36,75°. Entretanto, nesse ângulo incidente, é difícil descartar o detector da fase Ç em uma cabeça. Portanto, é preferível que a fase r-r e a fase δi sejam medidas simultaneamente. Nesse caso, a espessura da fase Ç pode ser obtida subtraindo-se as espessuras da fase r-ri e a fase δi da espessura do peso do revestimento de zinco medida separadamente. Caso contrário, o aparelho de medição on-line para medir a espessura da fase Ç conforme descrito acima pode ser usado em combinação. Quando apenas a determinação de ausência ou da presença da fase Ç é exigida, um método de aplicação de um subpico (pico menor após o pico - “shoulder peak”) mostrado na FIG. 8B, que será descrito mais tarde, pode ser usado.

[0071] Para contrabalançar o efeito do peso do revestimento nos resultados, obtido pelo aparelho de medição on-line como ilustrado nas FIGs. 5 a 7, é preferível usar diferentes curvas de calibração entre a intensidade de difração de raios X e a espessura da fase de liga com base no peso do revestimento de Zn. Atualmente, o peso do revestimento da chapa de aço galvanizada por imersão a quente usada para veículos é principalmente cerca de 45 g/m2, embora aquelas com um peso de revestimento de cerca de 30 g/m2 são também comercializadas. Para essas, curves de calibração diferentes são desejavelmente usadas. Quando a chapa de aço galvanizada por imersão a quente tendo um peso de revestimento de cerca de 60 g/m2 é produzida, é desejável usar outra curva de calibração com base o peso do revestimento.

[0072] Como método para corrigir a mudança em um ângulo de pico de difração devido a uma mudança no % de Fe em uma camada de revestimento, o método descrito no Documento de Patente 5 pode ser aplicado. Em adição, como uma técnica para reduzir o efeito das vibrações da chapa de aço, o método descrito no Documento de Patente 7 pode ser aplicado.

[0073] Foi descrito como medir a espessura das fases de liga Fe- Zn on-line usando-se o aparelho ilustrado nas FIGS. 5 a 7. Entretanto, os aparelhos ilustrados nas FIGs. 5 a 7 podem também ser usados para a medição off-line bem como para a medição on-line. Nas descrições acima, o aparelho usa os três picos de difração de raios X preferíveis. Entretanto, os outros picos mostrados na Tabela 1 podem também ser usados, ajustando-se o ângulo incidente dos raios X conforme o ângulo de difração de raios X.

[0074] Atualmente, a técnica de produção da chapa de aço galva nizada por imersão a quente e a qualidade do seu revestimento são notavelmente avançados e estabilizados comparados àqueles no momento quando os Documentos de Patente 1 a 9 foram depositados. Por exemplo, variações no peso do revestimento de Zn a partir de um valor almejado são significativamente reduzidos, o % de Fe em uma camada de revestimento não varia significativamente a partir do valor almejado de 10%, e a camada de revestimento contém principalmente a fase δi. Consequentemente, a exigência dos clientes por qualidade de revestimento se torna ainda mais estrita, e assim a mais leve pulverização ou descamação não deve ser permitida. No método de medição conforme essa modalidade, uma leve diferença na quantidade a fase r-ri ou da fase Ç que permanece levemente pode ser detectado com boa precisão. Consequentemente, o método de medição conforme essa modalidade não é um método de medição que seja um tipo universal, mas tem baixa precisão, como mostrado na técnica relativa, na qual os dados são processados usando-se uma equação de regressão complexa para obter a espessura e o grau de ligação de cada fase por uma faixa ampla de peso de revestimento de Zn e a configuração da fase de revestimento. Isto é, o método de medição conforme essa modalidade é um método de medição que realize um sistema de medição de precisão, no qual uma leve diferença pode ser detectada com boa precisão em uma faixa produzível na prática. Em adição, o aparelho de medição conforme essa modalidade é um aparelho de medição que realize um sistema de medição de precisão, no qual uma leve diferença pode ser detectada com boa precisão em uma faixa produzível na prática.

Exemplos

[0075] A seguir, a presente invenção será explicada usando-se exemplos.

[0076] No Exemplo i, será explicado o método de medição con forme descrito acima. No Exemplo 2, será explicada a medição on-line usando-se o aparelho de medição conforme descrito acima. A presente invenção não é limitada aos exemplos a seguir.

Exemplo 1

[0077] Quarenta amostras de chapas de aço galvanizadas por imersão a quente foram preparadas tendo diferentes pesos de revestimento de Zn e diferentes graus de ligação revestidos nos diferentes tipos de aço. As amostras em sua maioria foram produzidas na linha de produção, e uma parte delas foi preparada em um laboratório. A especificação das amostras é mostrada conforme a seguir.

[0078] Tipos de aço: Nb-Ti sulc, 340BH, e 590DP

[0079] Peso do revestimento de Zn: valores almejados de 45 g/m2 e 30 g/m2

[0080] Grau de ligação: (%) de Fe de 7,0 a 13,0%

[0081] Entre essas, sete a dez amostras tendo diferentes espessu ras de fase foram selecionadas, e usando-se essas amostras, foram feitas curves de calibração, mostrando a relação entre a intensidade de raios X dos picos de difração e a espessura de cada fase. Duas curvas de calibração foram feitas na presente invenção com base no peso do revestimento de zinco e apenas uma curva de calibração foi feita para a técnica relativa independentemente do peso do revestimento de Zn. O Cr foi usado como o alvo dos raios X para irradiar os raios X (raios Kα) a uma voltagem de 40 kV e uma corrente de 150 mA. Os picos de difração para a medição da presente invenção e da técnica relativa foram ambos selecionados daqueles mostrados na tabela 1. Um difratômetro de raios X convencional de laboratório foi usado para a medição.

[0082] As FIGs. 8A e 8B mostram o ambiente antecedente. Para a técnica relativa, como ilustrado na FIG. 8A, a intensidade de uma linha reta que conecta ambas as extremidades de toda a faixa de medição incluindo três picos de difração foi usada como intensidade antecedente, conforme o Documento de Patente 9. Por outro lado, para a presente invenção, a intensidade de uma linha reta que conecta ambas as extremidades de cada pico de difração é usada como a intensidade antecedente, como ilustrado na FIG. 8B. O ressalto mostrado à direita do pico da FIG. 8B é o subpico da fase Ç, e pode ser usado para determinar se a fase Ç está presente ou não, embora sua quantidade não seja suficiente.

[0083] A espessura real de cada fase foi determinada usando-se análise química como segue. 

[0084] (1) fase Ç: as amostras sem a fase μ (faze Zn puro) e com a fase Ç foram escolhidas pela análise de difração de raios X. As amostras foram submetidas a uma eletrólise de potencial constante a -1030 mV em relação a um eletrodo calomel saturado, e o desaparecimento da fase Ç foi checado pela difração de raios X. O peso do revestimento remanescente (g/m2) foi medido por análise química (ICP). A diferença entre esse valor e o peso do revestimento de Zn original (g/m2) foi determinado como o peso de revestimento (g/m2) da fase Ç. A espessura (μm) da fase Ç foi calculada dividindo-se esse peso de revestimento (g/m2) da fase Ç pela gravidade específica da fase Ç, que é 7,15. A relação entre esse valor (μm) e a intensidade (cps) do raios X difratado derivado da fase Ç medida antes da eletrólise com potencial constante foi determinada como a curva de calibração da fase Ç

[0085] (2) fase r-rr As amostras sem a fase μ (fase Zn puro) e com a fase Ç foram escolhidas pela análise de difração de raios X. As amostras foram submetidas à eletrólise de potencial constante a -940 mV em relação a um eletrodo calomel saturado, e foi checado pela di- fração de raios X para certificar que apenas a fase r-r1 permaneceu. A amostra foi incrustada em resina, e foi polida para observação da seção transversal, e a espessura media (μm) da fase r-r1 foi medida por um microscópio de varredura eletrônica (SEM). A relação entre esse valor (μm) e a intensidade (cps) do raios X difratado derivado da fase r-r1 medida antes da eletrólise de potencial constante foi determinada como a curva de calibração da fase r-r1.

[0086] (3) fase ÔI: As amostras sem a fase μ (fase Zn puro) e sem a fase Ç foram escolhidas por análise de difração de raios X. O valor (g/m2) obtido multiplicando-se a espessura (μm) da fase r-r1 mostrada em (2) pela gravidade específica de 7,36 da fase r-ri foi subtraído do peso de revestimento de Zn original (g/m2), e o valor obtido foi dividido pela gravidade específica de 7,24 da fase Ô1 para ser determinado como a espessura (μm) da fase ÔI. A relação entre esse valor (μm) e a intensidade (cps) do raios X difratado derivado da fase ôi medida antes da eletrólise de potencial constante foi determinada como a curva de calibração da fase ôi. Duas curvas de calibração foram feitas para a fase ôi. Uma para as amostras com peso de revestimento de Zn entre 30 e 35 g/m2 e uma para as amostras com peso de revestimento de Zn entre 45 e 55 g/m2.

[0087] A seguir, usando-se as amostras remanescentes, foi exa minada a correlação entre a espessura (μm) estimada a partir do valor de medição (cps) da intensidade de raios X difratado usando-se a curva de calibração e o valor de medição real (μm) da espessura de uma película (μm) obtida por análise química descrita acima. Um difratôme- tro de raios X convencional de laboratório foi usado parta a medição.

[0088] Os resultados estão mostrados nas FIGs. 9A, 9B, i0A, e 10B. A FIG. 9A mostra o resultado da fase F-F1, a FIG. 9B mostra os resultados da fase Ç, e as FIGS. 10A e 10B mostram o resultado da fase ô1. Para a presente invenção, as curvas de calibração usadas nas FIGs. 10A e 10B são diferentes.

[0089] Pode ser visto das FIGs. 9A, 9B, 10A, e 10B que a correla ção da presente invenção é melhor que a da técnica relativa. Particularmente, em reação à fase ô1, boas correlações são obtidas em ambas as FIGs. 10A e 10B da presente invenção, na qual duas curvas de calibração são feitas de acordo com o peso do revestimento de Zn. Por outro lado, na técnica relativa na qual apenas uma curva de cali- bração é feita independentemente do peso do revestimento de Zn, há um grande vão, especialmente com a menor faixa de peso de revestimento na FIG. 10A.

Exemplo 2

[0090] Na linha de galvanização contínua, uma bobina da chapa de aço foi galvanizada por imersão a quente mudando-se a temperatura de aquecimento e a velocidade da linha, e a espessura da fase r-r foi medida continuamente on-line. O aparelho de medição usado para medir a intensidade dos raios X difratado é o aparelho que tem a estrutura ilustrada na FIG. 6. Três bobinas foram preparadas. A primeira bobina era uma bobina modelo para ajustar as condições operacionais. A segunda bobina (tipo de aço: 340 BH) e a terceira bobina (tipo de aço: Nb-Ti sulc) foram galvanizadas por imersão a quente continuamente, para ver se a mudança na espessura da fase r-r de acordo com uma mudança nas condições operacionais podiam ser monitoradas on-line. A composição do banho de revestimento foi Zn-0,i38% Al- 0,03% Fe, e a temperatura do banho e a temperatura da chapa inserida no banho de revestimento foram 460°C. Para avaliar a validade dos resultados da medição, foram coletadas amostras da porção inicial e da porção final da bobina submetida à medição on-line, e um teste de adesão do revestimento foi executado por um método “U bead”.

[0091] Os resultados estão mostrados na FIG. ii. O eixo horizon tal representa o tempo, e a bobina No. i (modelo), a bobina No. 2 (340BH), e a bobina No. 3 (Nb-Ti) foram galvanizadas por imersão a quente continuamente.

[0092] As duas curvas superiores mostram mudanças na tempera tura de aquecimento e na velocidade da linha em um forno de ligação da CGL, que são condições operacionais, em função do tempo. Como pode ser visto da FIF. ii, no momento da transição da bobina modelo No.i para a bobina No.2 (340BH), a velocidade na linha central é aumentada para i35 mpm. Em adição, no momento da transição s bobina No.2 (340BH) para a bobina No.3 (Nb-Ti sulc), a temperatura de aquecimento é reduzida para 480°C, e a velocidade na linha central é aumentada para 150 mpm.

[0093] Durante a medição contínua on-line (a linha sólida grossa na FIG. 11) da presente invenção, é observado a mudança na espessura da fase r-ri com a transição das bobinas ou as mudanças nas condições operacionais. Por exemplo, no momento da transição da bobina No.2 (340BH) para a bobina No.3 (Nb-Ti sulc) que é ligada mais facilmente, a espessura da fase rTi é aumentada descontinua- mente, e posteriormente, pela diminuição da temperatura de aquecimento e aumento da velocidade da linha, a espessura da fase r-r é reduzida continuamente e então converge para um valor adequado. Ao contrário disso, durante a medição continua on-line da técnica relativa, a espessura da fase r-ri flutua independentemente das mudanças operacionais.

[0094] Amostras para a avaliação da adesão do revestimento fo ram coletadas dos cinco locais mostrados como Δ na FIG. 11. Isto é, os locais são uma porção do fim (No.i) da bobina i, uma porção do início (No.2-1) e uma porção do fim (No.2-2) da bobina 2, e uma porção do início (No.3-1) e uma porção do fim (No.3-2) da bobina 3. Com base na avaliação das condições operacionais ajustadas previamente, No.1 e No.3-1 foram desqualificados, e No.2-1, No.2-2 e No.3-2 foram qualificados. Quando o embarque é determinado a partir dos resultados, a bobina No. 2 pode ser embarcada. Entretanto, uma parte da bobina No.3 não pode ser embarcada e, para o embarque, a sua faixa de embarque tem que ser determinada pelo teste de U bead enquanto rebobina a bobina No.3 usando-se uma linha de rebobinamento e dividindo-se a bobina No.3 em bobinas pequenas. Ao contrário disso, quando a medição contínua on-line da presente invenção é usada, a determinação continua é possível como mostrado na etapa inferior da FIG.11, e assim a posição de fronteira entre OK e NG para embarque da bobina No.3 é conhecida. Portanto, a bobina pode ser cortada em uma posição adequada e pode ser embarcada imediatamente. Além disso, na presente invenção, os resultados podem ser rapidamente realimentados às condições operacionais, e assim a faixa de embarque NG pode ser minimizada. Como resultado, o rendimento é aumentado. Ao contrário disso, no método conforme a técnica relativa, tais funções não são permitidas. Portanto, o método de medição contínua da difração de raios X on-line da presente invenção é significativamente superior ao método conforme a técnica relativa.

[0095] Embora as modalidades preferidas da presente invenção tenham sido descritas em detalhes em relação aos desenhos, a presente invenção não é limitada a essas modalidades. Deve ser notado por aqueles que são peritos na técnica à qual a presente invenção pertence que vários exemplos de mudanças e modificações podem ser feitas no escopo da ideia técnica descrita nas reivindicações anexas, e esses exemplos naturalmente pertencem à faixa técnica da presente invenção.

Aplicabilidade Industrial

[0096] De acordo com a presente invenção, uma chapa de aço galvanizada por imersão a quente com qualidade estável pode ser fornecida a baixo custo, e assim o desenvolvimento de veículos com excelentes propriedades antiferrugem é também acelerado. Isto está conectado ao aumento na vida útil e na segurança dos veículos e contribui para a melhoria do ambiente global do ponto de vista de economizar recursos. Portanto, a utilidade industrial é extremamente alta. Descrição dos Numerais de Referência e Sinais 1: Tubo de raios X (Cr) 2: Detector (Detector de pico da fase rTi) 3: Detector (Detector de cenário: Lado de ângulo alto) 4: Detector (Detector de cenário: Lado de ângulo baixo) 5: Cabeça 6: Tira de aço 11: Tubo de raios X (Cu) 12: Detector (Detector de pico da fase rTi) 13: Detector (Detector de cenário: Lado de ângulo alto) 14: Detector (Detector de cenário: Lado de ângulo baixo) 15: Cabeça 16: Tira de aço 21: Tubo de raios X (Cr) 22: Detector (Detector de pico da fase rTi) 23: Detector (Detector de pico da fase δi) 24: Detector (Detector de pico da fase Ç) 25: Detector (Detector de cenário da fase rTi: Lado de ângulo alto) 26: Detector (Detector de cenário da fase δi: Lado de ângulo alto) 27: Detector (Detector de cenário da fase Ç: Lado de ângulo alto) 28: Cabeça 29: Tira de aço

Claims

1. Método de medição da espessura de uma fase de liga Fe- Zn de interesse incluída na fase de liga Fe-Zn de uma chapa de aço galvanizada por imersão a quente, caracterizado pelo fato de que compreende: um processo de irradiação de raios X irradiando a chapa de aço galvanizada por imersão a quente com os raios X incidentes; um processo de detecção de raios X de detectação dos raios X difratados, que são obtidos no processo de irradiação de raios X, derivados de uma fase r-ri, de uma fase δi, e de uma fase Ç incluídas na fase de liga Fe-Zn com um espaçamento da estrutura do cristal d de 1,5Â ou mais; e um processo de determinação de uma espessura de uma fase de liga de Fe-Zn de interesse com base na intensidade dos raios-X detectados, em que, no processo de detecção de raios-X, um valor obtido subtraindo uma intensidade de fundo de uma intensidade do raio-X difratado com o espaçamento da estrutura do cristal d correspondente a 1,507Â, 1,536Â, 1,623Â, 1,720Â, 1,833Â, 1,899Â, 1,914Â, 1,971Â, 2,363Â, 2,593Â, 2,770Â, 3,692Â, 4,109Â, 5,535Â ou 6,351Â é usado para medir a espessura da fase de liga de Fe-Zn de interesse.

2. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que, no processo de detecção de raios X, a espessura da fase r-ri é medida usando-se um valor obtido subtraindo-se a intensidade de fundo da intensidade dos raios X difratados derivados da fase r-ri com o espaçamento da estrutura do cristal d de i,9i4Â.

3. Método de acordo com a reivindicação i ou 2, caracterizado pelo fato de que, no processo de detecção de raios X, a espessura da fase δi é medida usando-se um valor obtido subtraindo-se a intensidade antecedente da intensidade dos raios X difratados derivados da fase δi com o espaçamento da estrutura do cristal d de 2,363Â.

4. Método de acordo com qualquer uma das reivindicações i a 3, caracterizado pelo fato de que, no processo de detecção de raios X, a espessura da fase Ç é medida usando-se um valor obtido subtraindo-se a intensidade antecedente da intensidade dos raios X difratados derivados da fase Ç com o espaçamento da estrutura do cristal d de 4,i09Â.

5. Aparelho usado para medir a espessura de uma fase de liga Fe-Zn da chapa de aço galvanizada por imersão a quente, caracterizado pelo fato de que compreende: um tubo de raios X; e um detector que detecta raios X difratados da fase de liga Fe-Zn para medir a intensidade dos raios X difratados, em que o tubo de raios X e o detector estão configurados para que a difração do ângulo entre a direção dos raios X incidentes irradiados pelo tubo de raios X e a direção dos raios X difratados detectados pelo detector possa ser um ângulo correspondente a uma fase r-ri, a uma fase δi, e/ou a uma fase Ç incluídas na fase de liga Fe- Zn, e com um espaçamento da estrutura de cristal d de i,5Â ou mais, e em que o ângulo de difração é um ângulo que corresponde ao espaçamento da estrutura do cristal d de i,507Â, i,536Â, i,623Â, i,720Â, i,833Â, i,899Â, i,9i4Â, i,97iÂ, 2,363 Â, 2,593Â, 2,770Â, 3,692 Â, 4,i09Â, 5,535Â ou 6,35iÂ.

6. Aparelho de acordo com a reivindicação 5, caracterizado pelo fato de que o ângulo de difração é um ângulo que corresponde ao espaçamento da estrutura do grão de cristal d de i,9i4Â.

7. Aparelho de acordo com a reivindicação 5 ou 6, caracterizado pelo fato de que o ângulo de difração é um ângulo que corresponde ao espaçamento da estrutura do grão de cristal d de 2,363Â.

8. Aparelho de acordo com qualquer uma das reivindicações 5 a 7, caracterizado pelo fato de que o ângulo de difração é um ângulo que corresponde ao espaçamento da estrutura do cristal d de 4,109Â.

9. Aparelho de acordo com qualquer uma das reivindicações 5 a 8, caracterizado pelo fato de que dois ou mais detectores estão incluídos, e os raios X difratados derivados de pelo menos duas fases entre a fase r-ri, a fase δi, e a fase Ç são detectados pelos detectores.