JPS61100643A - 合金メツキ被膜のｘ線分析方法 - Google Patents
合金メツキ被膜のｘ線分析方法Info
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- JPS61100643A JPS61100643A JP59223497A JP22349784A JPS61100643A JP S61100643 A JPS61100643 A JP S61100643A JP 59223497 A JP59223497 A JP 59223497A JP 22349784 A JP22349784 A JP 22349784A JP S61100643 A JPS61100643 A JP S61100643A
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- rays
- ray
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はメッキ被膜の成分中に下地金属成分が含まれる
メッキ金属材、例えばＦｅ−Ｚｎ合金メッキ鋼板におけ
るメッキ被膜の厚さく目付量）及び／又は組織をＸ線回
折により定量分析する方法に関する。
メッキ金属材、例えばＦｅ−Ｚｎ合金メッキ鋼板におけ
るメッキ被膜の厚さく目付量）及び／又は組織をＸ線回
折により定量分析する方法に関する。
合金メッキ材、例えばＦｅ−Ｚｎ合金メッキ鋼板は、Ｚ
ｎメッキ鋼板に比べ、とくに塗装後耐食性にすぐれる特
徴があり、近時、自動車車体、その他の耐腐食用途への
適用が進められている。
ｎメッキ鋼板に比べ、とくに塗装後耐食性にすぐれる特
徴があり、近時、自動車車体、その他の耐腐食用途への
適用が進められている。
Ｆｅ−Ｚｎ合金メッキ鋼板に躍らず一般にメッキ鋼板の
場合、耐食性、その他諸性質はメッキ付着量及び組織（
合金メッキ等の場合）に依存するため、その製造に当り
これらメッキ付着量２組織を管理することは是非共必要
である。
場合、耐食性、その他諸性質はメッキ付着量及び組織（
合金メッキ等の場合）に依存するため、その製造に当り
これらメッキ付着量２組織を管理することは是非共必要
である。
その管理方法には、化学分析法、螢光Ｘ線分析法、Ｘ線
回折法等があり、そのうちのＸ線回折法には１波長のＸ
線によるメッキ被膜の合金相回折せき度と鋼板からの回
折強度との連立方程式の解を求めて分析する方法（特開
昭５８−１６７０１７号）が提案されている。
回折法等があり、そのうちのＸ線回折法には１波長のＸ
線によるメッキ被膜の合金相回折せき度と鋼板からの回
折強度との連立方程式の解を求めて分析する方法（特開
昭５８−１６７０１７号）が提案されている。
しかしながら、この方法はメッキ被膜の合金相、即ちζ
相、δ相、ｒ相等の回折Ｘ線の強度を用いるため、測定
範囲が合金相の生じる約１０〜３０％のＦｅｄ度の範囲
が限定され、又メソ半時には非平衡状態（それ以降の温
度変化により相変態が変わり得る状態）となっており、
測定位置によっては厚み方向の合金相の比率が異なって
測定値にバラツキが生じ、測定精度が劣っていた。
相、δ相、ｒ相等の回折Ｘ線の強度を用いるため、測定
範囲が合金相の生じる約１０〜３０％のＦｅｄ度の範囲
が限定され、又メソ半時には非平衡状態（それ以降の温
度変化により相変態が変わり得る状態）となっており、
測定位置によっては厚み方向の合金相の比率が異なって
測定値にバラツキが生じ、測定精度が劣っていた。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、波長
の異なるＸ線を合金メン半金属材へ照射して下地金属か
らの各回折Ｘ線強度を測定し、測定値夫々に基づいて付
着量と組成とを未知数とする各方程式をたて、その連立
方程式を解くことにより付着量と組成との定量が可能な
合金メッキ被膜のＸ線分析方法を提供することを目的と
する。
の異なるＸ線を合金メン半金属材へ照射して下地金属か
らの各回折Ｘ線強度を測定し、測定値夫々に基づいて付
着量と組成とを未知数とする各方程式をたて、その連立
方程式を解くことにより付着量と組成との定量が可能な
合金メッキ被膜のＸ線分析方法を提供することを目的と
する。
本発明に係る合金メッキ被膜のＸ線分析方法は、メッキ
被膜の成分中に下地金属成分が含まれる合金メッキ金属
材のメッキ被膜の付着量と組成とをＸ線回折法にて定量
する方法において、波長の異なる２つのＸ線夫々を前記
メッキ金属材にｎ回異なるブラッグ角（θ）にて照射し
、２波長のＸ線夫々の各ブラッグ角での回折Ｘ線強度（
Ｉ）を測定し、この測定値と予め前記各波長に基づいて
定めた定数ａ、ｂ、ｃを含む下式 ％式％） Ｒ：Ｘ線回折位置での金属特性及び温度等に基づき定ま
る値（集合組織を持 たない場合のランダム強度） Ｘ：メッキ被膜の付着量 ＷＭｅ：メッキ被膜中の下地金属と同じ成分の重量濃度 とにより得られる２元連立方程式の２つの未知数である
ｘ、ＷＭｅを算出することを特徴とする。
被膜の成分中に下地金属成分が含まれる合金メッキ金属
材のメッキ被膜の付着量と組成とをＸ線回折法にて定量
する方法において、波長の異なる２つのＸ線夫々を前記
メッキ金属材にｎ回異なるブラッグ角（θ）にて照射し
、２波長のＸ線夫々の各ブラッグ角での回折Ｘ線強度（
Ｉ）を測定し、この測定値と予め前記各波長に基づいて
定めた定数ａ、ｂ、ｃを含む下式 ％式％） Ｒ：Ｘ線回折位置での金属特性及び温度等に基づき定ま
る値（集合組織を持 たない場合のランダム強度） Ｘ：メッキ被膜の付着量 ＷＭｅ：メッキ被膜中の下地金属と同じ成分の重量濃度 とにより得られる２元連立方程式の２つの未知数である
ｘ、ＷＭｅを算出することを特徴とする。
以下に本発明の分析原理につき説明する。第１図は本発
明方法の分析原理説明図であって、下地金属となるＦｅ
の上にＦｅ−Ｚｎがメ□ンキされているＦｅ−Ｚｎ合金
メッキ鋼板に入射角θ （ブラッグ角）にて強度１ｏの
Ｘ線を照射し、取出し角θにて回折（反射）したＸ線の
強度■を測定する。
明方法の分析原理説明図であって、下地金属となるＦｅ
の上にＦｅ−Ｚｎがメ□ンキされているＦｅ−Ｚｎ合金
メッキ鋼板に入射角θ （ブラッグ角）にて強度１ｏの
Ｘ線を照射し、取出し角θにて回折（反射）したＸ線の
強度■を測定する。
照射されたＸ線は、Ｆｅ−Ｚｎ合金メッキ層の表面Ａ
−Ｆｅ−Ｚｎ界面３間で吸収され、Ｂ点でのその強度Ｉ
′は、 但し、μに一為：入射Ｘ線λのＦｅ−Ｚｎ合金メッキ層
による質量吸収係数 ρ：メッキ被膜の密度 ｄ：メッキ被膜の厚さくρ・ｄ： 付着量） として表わされ、Ｂ点にて回折されたＸ線の強度■”は
、 但し、 ｅ：電子の電荷 ｍ：電子の質量 Ｃ：光速 Ａ：入射ビームの断面積 ｒ：ディフラクトメータ円の半径 μ：照射部の平均線吸収係数 Ｖ二単位格子の体積 Ｆ：゛構造因子 ｐ：多重度因子 Ｌ−ｐ：ローレンツ・偏光因子 ｅ −２Ｍ ：温度因子 にて示される。
−Ｆｅ−Ｚｎ界面３間で吸収され、Ｂ点でのその強度Ｉ
′は、 但し、μに一為：入射Ｘ線λのＦｅ−Ｚｎ合金メッキ層
による質量吸収係数 ρ：メッキ被膜の密度 ｄ：メッキ被膜の厚さくρ・ｄ： 付着量） として表わされ、Ｂ点にて回折されたＸ線の強度■”は
、 但し、 ｅ：電子の電荷 ｍ：電子の質量 Ｃ：光速 Ａ：入射ビームの断面積 ｒ：ディフラクトメータ円の半径 μ：照射部の平均線吸収係数 Ｖ二単位格子の体積 Ｆ：゛構造因子 ｐ：多重度因子 Ｌ−ｐ：ローレンツ・偏光因子 ｅ −２Ｍ ：温度因子 にて示される。
回折されたＸ線はＢ−表面Ｃ間で吸収され、測定される
回折Ｘ線の強度■は、 ここで、Ｃｏ、 Ｃｕ等の各元素に固有の波長のＸ線、
即ち特性Ｘ線回折の場合、上記（４）式の右辺第３゜４
．５項は、 であり、これをｋとし、また結晶方向がランダムな状態
における回折強度たる第６項の変数〔（１／ｖ２）・Ｉ
Ｆ１２ ・ｐ・ （Ｌ−Ｐ）・ｅ−２″Ｉ〕（Ｘ線回折
位置での金属特性及び温度等に基づき定まる値）をＲと
すると、上記（４）式は、・・・（５） となる。
回折Ｘ線の強度■は、 ここで、Ｃｏ、 Ｃｕ等の各元素に固有の波長のＸ線、
即ち特性Ｘ線回折の場合、上記（４）式の右辺第３゜４
．５項は、 であり、これをｋとし、また結晶方向がランダムな状態
における回折強度たる第６項の変数〔（１／ｖ２）・Ｉ
Ｆ１２ ・ｐ・ （Ｌ−Ｐ）・ｅ−２″Ｉ〕（Ｘ線回折
位置での金属特性及び温度等に基づき定まる値）をＲと
すると、上記（４）式は、・・・（５） となる。
回折はブラッグの式：２ｄ−ｓｉｎθ＝ｎ・λ （ｎは
回折の次数であり正の整数）の満足する条（牛で生じ、
回折の生じるミラー指数を（ｈＭりｊ、ｊ＝１．・・・
、ｎとすると、各ｊ値のときに上記（６）式が成立する
。また（６）式はその自然対数をとって変形した下記（
７）式にて表わされる。
回折の次数であり正の整数）の満足する条（牛で生じ、
回折の生じるミラー指数を（ｈＭりｊ、ｊ＝１．・・・
、ｎとすると、各ｊ値のときに上記（６）式が成立する
。また（６）式はその自然対数をとって変形した下記（
７）式にて表わされる。
＝−２・μ起−一・ρ・ｄ ・・・（７）さて、
μへｍ−は、 μ−−為＝μミ・Ｗ１＋μ狐・Ｗシ ーμ〜・Ｗ〜＋（１−Ｗ、、） ・μＬ−μ、＋（μ
に一μ鳳）・ＷＩｌ、 ・・・（８）但し、μ−二人
射Ｘ線λのＦｅによる質量吸収係数 μ払：入射Ｘ線λのＺｎによる質量吸収係数 Ｗ、、：メソキ被梗中のＦｅ重量濃度 Ｗコニメッキ被膜中のＺｎ重９１度 として表わされるので上記（７）式は、Ｒｋ・Ｉ。
μへｍ−は、 μ−−為＝μミ・Ｗ１＋μ狐・Ｗシ ーμ〜・Ｗ〜＋（１−Ｗ、、） ・μＬ−μ、＋（μ
に一μ鳳）・ＷＩｌ、 ・・・（８）但し、μ−二人
射Ｘ線λのＦｅによる質量吸収係数 μ払：入射Ｘ線λのＺｎによる質量吸収係数 Ｗ、、：メソキ被梗中のＦｅ重量濃度 Ｗコニメッキ被膜中のＺｎ重９１度 として表わされるので上記（７）式は、Ｒｋ・Ｉ。
−−２（μし＋（μだ一μ′−）・Ｗ、） ・ρ・ｄ
・・・（９） となる。
・・・（９） となる。
この（９）式が下地金属Ｆｅに集合組織がある場合に各
格子面からの回折線強度が影響を受けて異なるため、そ
の補正は上記回折線強度での（９）式の平均化を行う。
格子面からの回折線強度が影響を受けて異なるため、そ
の補正は上記回折線強度での（９）式の平均化を行う。
その平均化は下記００１式にてなされる。
（以 下 余 白）
上記００１式は下記（１１）式に示すように整理できる
。
。
■
Σ（ｎｎ□・ ｓｉｎθ）。
−２（μ〜−μ転）・Ｗｌ・ρ・ｄ ・・・（１１）こ
の（１１）式において回折Ｘ線の種類（数）が一定であ
る場合には、右辺１個の−Σ（ｋ’ ・ ｓｉｎθ）。
の（１１）式において回折Ｘ線の種類（数）が一定であ
る場合には、右辺１個の−Σ（ｋ’ ・ ｓｉｎθ）。
Ｚｎは一定であり、これをａとし、また２項、３項の定
数−２μ私、−２（μに一μ思）を夫々ｂ。
数−２μ私、−２（μに一μ思）を夫々ｂ。
Ｃ１付着量ｐ−ｄをＸ、左辺Σ（ｇｎ−・ｓｔｎθ）。
Ｚｎをｙとすると上記（１１）式は、
ｙ＝ａ ＋ｂｘ十ｃ−Ｗｓ、 ・ｘ ・
＝ （１２＞にて表わされ得る。
＝ （１２＞にて表わされ得る。
従って回折Ｘ線強度Ｔが測定されてｙ値が定まると未知
数ＷＦｅ、 ｘが２つとなり、波長の異なる２つのＸ
線による上記（１２）式の連立方程式の解を求めること
によりＷＦｅ、 ｘが算出される。なお定数ａ、ｂ、
ｃは回帰分析により求まる値である。
数ＷＦｅ、 ｘが２つとなり、波長の異なる２つのＸ
線による上記（１２）式の連立方程式の解を求めること
によりＷＦｅ、 ｘが算出される。なお定数ａ、ｂ、
ｃは回帰分析により求まる値である。
次に本発明を図面に基づいて具体的に説明する。
第２図は本発明の実施状態を示す模式図であり、図中１
はＦｅの下地金属１ａの上にＦｅ−Ｚｎ （以下メッキ
被膜という）ｌｂがメッキされているＦｅ−Ｚｎ合金メ
ツ半＃ｒ４板である。
はＦｅの下地金属１ａの上にＦｅ−Ｚｎ （以下メッキ
被膜という）ｌｂがメッキされているＦｅ−Ｚｎ合金メ
ツ半＃ｒ４板である。
該Ｆｅ−Ｚｎ合金メッキ鋼板（以下単にメッキ鋼板とい
う）１の上方適宜位置にはＸ線源２が配設されており、
これから入射角θを種々変えてＸ線を照射させ、Ｆｅ−
Ｚｎ界面で回折したＸ線を捉えるように取出し角θに向
けられた検出器３が首振り、水平移動可能に配設されて
いる。
う）１の上方適宜位置にはＸ線源２が配設されており、
これから入射角θを種々変えてＸ線を照射させ、Ｆｅ−
Ｚｎ界面で回折したＸ線を捉えるように取出し角θに向
けられた検出器３が首振り、水平移動可能に配設されて
いる。
Ｘ線源２のターゲット、例えばＣｏ、とフィラメント間
を所定の電流、電圧で励起してＣｏＫαを発生させ、前
記ブラッグの式を満足するように入射角θを複数、例え
ば５回変更してＸ線をメッキ鋼板ｌへ照射し、それらの
入射角θと等しい取出し角θにて回折Ｘ線の強度■を検
出する。
を所定の電流、電圧で励起してＣｏＫαを発生させ、前
記ブラッグの式を満足するように入射角θを複数、例え
ば５回変更してＸ線をメッキ鋼板ｌへ照射し、それらの
入射角θと等しい取出し角θにて回折Ｘ線の強度■を検
出する。
検出器３にて検出された回折Ｘ線はここで電気信号に変
換される。検出器３の出力電気信号は増幅器４へ送られ
て増幅された後に、波高分析器５及び計数器６によって
回折Ｘ線強度に変換される。
換される。検出器３の出力電気信号は増幅器４へ送られ
て増幅された後に、波高分析器５及び計数器６によって
回折Ｘ線強度に変換される。
計数器６の回折Ｘ線強度に対応する出力は計算機７に導
かれる。この計算機７には励起Ｘ線の種類、波長に基づ
き前記（１２）式の定数ａ、 ｂ、 ｃが定まった
関数が設定されており、計算機７は人力される５つの回
折Ｘ線強度に基づいて築合組織による影響が除かれたｙ
値を定め、２つの未知数ＷＦｅ、 ｘの第１の方程式
を得る。
かれる。この計算機７には励起Ｘ線の種類、波長に基づ
き前記（１２）式の定数ａ、 ｂ、 ｃが定まった
関数が設定されており、計算機７は人力される５つの回
折Ｘ線強度に基づいて築合組織による影響が除かれたｙ
値を定め、２つの未知数ＷＦｅ、 ｘの第１の方程式
を得る。
次いでＸ線源２のターゲットを例えばＣｕに変えて、Ｃ
ｕとフィラメント間に前記と異なる所定の電流、電圧で
励起してＣｕＫαを発生させ、ブラッグの式を満足する
ように入射角θを複数、例えば６回変更して前同様に行
った。計算機７は入力された６つの回折Ｘ線強度に基づ
いて２つの未知数Ｗ Ｆ ｅ 。
ｕとフィラメント間に前記と異なる所定の電流、電圧で
励起してＣｕＫαを発生させ、ブラッグの式を満足する
ように入射角θを複数、例えば６回変更して前同様に行
った。計算機７は入力された６つの回折Ｘ線強度に基づ
いて２つの未知数Ｗ Ｆ ｅ 。
Ｘの第２の方程式を得、前記第１の方程式との連立方程
式を解いてＷＦｅ、 ｘを算出する。従って算出値Ｗ
Ｆｅに基づきメッキ被膜の組成が、またＸによりメッキ
被膜の付着量が末々定量される。
式を解いてＷＦｅ、 ｘを算出する。従って算出値Ｗ
Ｆｅに基づきメッキ被膜の組成が、またＸによりメッキ
被膜の付着量が末々定量される。
なお上記実施例では下地金属をＦｅとしメッキ被膜組成
をＦｅ−−Ｚｎとしたが、本発明はこれに限らず下地金
属をＦｅ以外の金属とし、メッキ被膜組成をＦｅ以外の
金属−Ｚｎ以外の金属としても、例えば下地金属をＣｕ
としメッキ被膜をＣｕを含む組成の場合にあっても実施
できる。
をＦｅ−−Ｚｎとしたが、本発明はこれに限らず下地金
属をＦｅ以外の金属とし、メッキ被膜組成をＦｅ以外の
金属−Ｚｎ以外の金属としても、例えば下地金属をＣｕ
としメッキ被膜をＣｕを含む組成の場合にあっても実施
できる。
また、上記実施例ではＸ線源のターゲットを替えて各別
に特性Ｘ線を発生させているが、本発明は複数のターゲ
ットを内臓するＸ線源より同時に複数のＸ線゛を発生さ
せ、それらをブラッグの式を満足するように合金メッキ
鋼板等に照射させて分析してもよい。
に特性Ｘ線を発生させているが、本発明は複数のターゲ
ットを内臓するＸ線源より同時に複数のＸ線゛を発生さ
せ、それらをブラッグの式を満足するように合金メッキ
鋼板等に照射させて分析してもよい。
次に本発明方法と従来より行われている化学分析方法と
による測定結果を比較して本発明方法の効果を明らかに
する。本発明によりＦｅ−Ｚｎ合金メッキ鋼板へＣｏＫ
ｃｅ（波長： １．７８５２９ 人）とＣｕＫｔｘ（波
長： １．５４１７８人）の２つのＸ線を夫々照射し、
第１表に示す回折角２θ、ミラー指数（ｈ、ｋＪ）の格
子面での回折Ｘ線強度を求め、 計算機に予め励起Ｘ線に基づき定数ａ、 ｂ、 （
の定まったＣｏＫαに関する下記（１３）式、ＣｕＫα
に関する下記（１４）式の各ｙ値を求め、３’ ＝４．
４４ ＋０．００７６３ ｘ −０，０００２８２ＷＦ
ｅ−ｘ −（１３））’ ＝２．６７−０．０１３４
ｘ −０，０００４９５ＷＦｅ−ｘ −（１４）（
１３）、 （１４）式の連立°方程式を解いて付着量
。
による測定結果を比較して本発明方法の効果を明らかに
する。本発明によりＦｅ−Ｚｎ合金メッキ鋼板へＣｏＫ
ｃｅ（波長： １．７８５２９ 人）とＣｕＫｔｘ（波
長： １．５４１７８人）の２つのＸ線を夫々照射し、
第１表に示す回折角２θ、ミラー指数（ｈ、ｋＪ）の格
子面での回折Ｘ線強度を求め、 計算機に予め励起Ｘ線に基づき定数ａ、 ｂ、 （
の定まったＣｏＫαに関する下記（１３）式、ＣｕＫα
に関する下記（１４）式の各ｙ値を求め、３’ ＝４．
４４ ＋０．００７６３ ｘ −０，０００２８２ＷＦ
ｅ−ｘ −（１３））’ ＝２．６７−０．０１３４
ｘ −０，０００４９５ＷＦｅ−ｘ −（１４）（
１３）、 （１４）式の連立°方程式を解いて付着量
。
メッキ被膜中のＦｅのＭ量洟度を翼出した。
第３図は紺軸に本発明方法のＸ線分析法にょる付着量（
ｇ／ｍ２）を、また横軸に従来の化学分析法で得られた
付着量（ｇ／ｍ２）を示している。
ｇ／ｍ２）を、また横軸に従来の化学分析法で得られた
付着量（ｇ／ｍ２）を示している。
第４図は縦軸に本発明方法のＸ線分析法によるメッキ被
膜中のＦｅの重量濃度（％）を、また横軸に従来の化学
分析法で１写られたメッキ被膜中のＦａの重量濃度（％
）を示している。
膜中のＦｅの重量濃度（％）を、また横軸に従来の化学
分析法で１写られたメッキ被膜中のＦａの重量濃度（％
）を示している。
第３．４図より理解される如く、いずれも本発明方法に
て得られるＸ線分析値は化学分析値と一致し、本発明を
実施することによりメ・ンキ被膜のＦｅ又はＺｎの重量
濃度、つまり組成及び付着量を定量することができる。
て得られるＸ線分析値は化学分析値と一致し、本発明を
実施することによりメ・ンキ被膜のＦｅ又はＺｎの重量
濃度、つまり組成及び付着量を定量することができる。
なお上記説明では下地金属材が集合組織であっても正確
に分析できるようにしているが、集合組織でない場合は
前記（１１）式中のｊ、ｎを夫々１として、即ち各波長
で１回回折Ｘ線強度を測定して連立方程式の解を求めれ
ばよい。
に分析できるようにしているが、集合組織でない場合は
前記（１１）式中のｊ、ｎを夫々１として、即ち各波長
で１回回折Ｘ線強度を測定して連立方程式の解を求めれ
ばよい。
このように本発明方法による場合は、２種類のＸ線を用
いてその連立方程式を解いて付着量２組成を求めるので
高精度の分析ができ、また合金メッキ金属材のメッキ被
膜の厚さ又は組成を自動的且つ正確に定量することが可
能となるので、この測定結果を用いてのメッキ被膜の厚
さ制御あるいはメッキ浴の組成制御をオンライン化して
実施することが可能となり、本発明は合金メッキ金属材
の品質向上に寄与する処は多大である。
いてその連立方程式を解いて付着量２組成を求めるので
高精度の分析ができ、また合金メッキ金属材のメッキ被
膜の厚さ又は組成を自動的且つ正確に定量することが可
能となるので、この測定結果を用いてのメッキ被膜の厚
さ制御あるいはメッキ浴の組成制御をオンライン化して
実施することが可能となり、本発明は合金メッキ金属材
の品質向上に寄与する処は多大である。
第１図は本発明の詳細な説明図、第２図は本発明の実施
状態を示す模式図、第３図、第４図は本発明方法と化学
分析法とで得られた付着量及びメッキ被膜中のＦｅの重
量濃度との関係を夫々示すグラフである。 １・・・Ｆｅ−Ｚｎ合金メッキ鋼板 ２・・・Ｘ線源
３・・・検出器 ７・・・計算器
状態を示す模式図、第３図、第４図は本発明方法と化学
分析法とで得られた付着量及びメッキ被膜中のＦｅの重
量濃度との関係を夫々示すグラフである。 １・・・Ｆｅ−Ｚｎ合金メッキ鋼板 ２・・・Ｘ線源
３・・・検出器 ７・・・計算器
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、メッキ被膜の成分中に下地金属成分が含まれる合金
メッキ金属材のメッキ被膜の付着量と組成とをＸ線回折
法にて定量する方法において、波長の異なる２つのＸ線
夫々を前記メッキ金属材にｎ回、異なるブラッグ角（θ
）にて照射し、２波長のＸ線夫々の各ブラッグ角での回
折Ｘ線強度（Ｉ）を測定し、この測定値と予め前記各波
長に基づいて定めた定数ａ、ｂ、ｃを含む下式 Σ｛（ｌｎＩ／Ｒ）・ｓｉｎθ｝＿ｊ／ｎ ＝ａ＋ｂ・ｘ＋ｃ・ＷＭｅ・ｘ 但し、ｊ＝１、・・・、ｎ Ｒ：Ｘ線回折位置での金属特性及び 温度等に基づき定まる値（集合 組織を持たない場合のランダム 強度） ｘ：メッキ被膜の付着量 ＷＭｅ：メッキ被膜中の下地金属と同じ 成分の重量濃度 とにより得られる２元連立方程式の２つの未知数である
ｘ、ＷＭｅを算出することを特徴とする合金メッキ被膜
のＸ線分析方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59223497A JPS61100643A (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | 合金メツキ被膜のｘ線分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59223497A JPS61100643A (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | 合金メツキ被膜のｘ線分析方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61100643A true JPS61100643A (ja) | 1986-05-19 |
Family
ID=16799065
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59223497A Pending JPS61100643A (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | 合金メツキ被膜のｘ線分析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61100643A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63134942A (ja) * | 1986-11-27 | 1988-06-07 | Nkk Corp | メツキ鋼板の表層皮膜の機器分析法 |
| JP2014235815A (ja) * | 2013-05-31 | 2014-12-15 | 住友電気工業株式会社 | アルミニウム成形体の製造方法、アルミニウムの分析方法及びアルミニウムめっきシステム |
-
1984
- 1984-10-23 JP JP59223497A patent/JPS61100643A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63134942A (ja) * | 1986-11-27 | 1988-06-07 | Nkk Corp | メツキ鋼板の表層皮膜の機器分析法 |
| JP2014235815A (ja) * | 2013-05-31 | 2014-12-15 | 住友電気工業株式会社 | アルミニウム成形体の製造方法、アルミニウムの分析方法及びアルミニウムめっきシステム |
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