JPS63134942A - メツキ鋼板の表層皮膜の機器分析法 - Google Patents
メツキ鋼板の表層皮膜の機器分析法Info
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- JPS63134942A JPS63134942A JP61280780A JP28078086A JPS63134942A JP S63134942 A JPS63134942 A JP S63134942A JP 61280780 A JP61280780 A JP 61280780A JP 28078086 A JP28078086 A JP 28078086A JP S63134942 A JPS63134942 A JP S63134942A
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Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
［産業上の利用分野］
本梵明は、下地金属を含むメッキ被膜の付着量と組成を
Ｘ線回折法と蛍光Ｘ線法との組み合わせによりオンライ
ンで測定する方法に関する。 ［従来の技術］ 従来、メッキ鋼板のオンライン被膜分析は蛍光Ｘ線法が
一般的であった。しかし、Ｆｅ−１ｎ合金メッキ鋼板の
ようにメッキ被膜が下地金属を含む場合、従来の蛍光Ｘ
線法ではＦ地からの蛍光Ｘ線とメッキ被膜からの蛍光Ｘ
線を区別で＠ ｌ、ｒいためメッキ被膜の付着量と組成
のいずれの測定も国難であった。 この問題を解決する方法として次の２つが提案されでい
る。 下地金属からの蛍光ｘＩ！２が′検出されない第１の測
定角（入射角及び出射角）と、下地金属からの蛍光ｘａ
が検出される第２の測定角においてそれぞれ蛍光Ｘ線強
度を測定し、両側室（１に暴きメッキ被膜付着吊及び組
成を求める方法（特開昭５８−２２３０４７目公報）。 Ｆｅ−Ｉｎ合金メッキ鋼板にｄｉいて、被膜による吸収
を利用して下地のα−Ｆｅの回折Ｘ線強度から付ｔｔｆ
ｉを、そして被膜中の７相及びＦｅ−Ｚｎ合金相のうち
から選ばれた１つ以上の相の回折Ｘ呻強度から組成を求
める方法（特開昭６０−１６９５５３ 号公報）。 ［発明が解決しようとする問題点１ しかしながら、２つの測定角を用いた前記蛍光Ｘ線法は
第１の測定角が数度以内で測定距離変動の影響を受りや
づく、オンライン測定法としては不向きであった。 また、回Ｉｊｊ Ｘ線による方法は、下地のα−Ｆｅの
回折Ｘ線強度はメッキのｆｊｎ吊ばかりでなくメッキ被
膜の組成や、成分、製造条件などにより異なる下地鋼板
の集合組織にも依存すること、合金相の組成、Ｉｔ’ｌ
ｌ造が、回じｒｅ−Ｚｎ合金メツ１°鋼板ぐあっても溶
融メッキ材と電気メツキ材とでは異なること、そして、
被膜中の各相に対する回折Ｘ線強度はメッキ被膜の合金
相組成やｆ＝ｊ着吊だ（）でなく集合組織にも依存する
こと等の問題があった。 ［問題点を解決するための手段１ 本発明は、蛍光Ｘ線法によりメッキ被膜の組成を、そし
て×１９回折法によりメツキイ１者吊を測定することに
よって前記の問題点を解決したものである。 すなわら、本発明は、２種の波長の特性Ｘ線で、メッキ
閘坂下地金属の同−面間隔、同一り位の格子面の回折Ｘ
線を測定する光学系を構成し、二系列に配置した検出器
の一つで発生ずる蛍光Ｘ線と一方の回折Ｘ線を検出し、
検出器の他方で発生ずる他方の回折Ｘ線を検出し、それ
らの信号を信号処理装置で処理して該メッキ鋼板の表層
皮膜の付着量と組成とを同時に分析することを特徴とす
るメッキ鋼板の表層皮膜の機器分析法に関するものであ
る。 メッキ鋼板の種類ｔ、Ｌ問わないが、木ｙで明の／ｊ法
はメッキ被膜が下地金属成分を含むものの分析に威力を
発揮する。 特性Ｘ線の２種の波長とそれらの測定角（入射角、出射
角）は、測定格子面が決まればブラッグの式により一方
が定まれば他方は自動的に定まる関係にある。波長は測
定誤差を少なくする点でいずれも測定角が１０度以上と
覆ることが好ましい。 測定角（入射角及び出射角）の一方は少なくとも下地か
らの蛍光Ｘ線が検出される程度の大きさ、例えば２０度
以上とする。２種の特性Ｘ線は２ｆＩのＸ線管をそれぞ
れの光源としてもよく、また、同種のＸＢ管から発せら
れる複数のＸ５または連続Ｘ線のなかから選択してもＪ
、い。後者の場合にはＸ線管を１個としてこれを移動さ
せる。Ｘ線管は蛍光Ｘ線分析あるいはＸ線回折分析に通
常使用されているものから選択すればよい。２ ＋Ｉの
波長の特性Ｘ線は同一部位に照射させることはいうまで
もない。 ［作ｍ） 蛍光Ｘ線法ぐは測定角を大きくとると１・地からの蛍光
Ｘ線が検出され、蛍光Ｘ線強度は何首用と組成の関数と
なる。そこで、下地の回折Ｘ線強度を測定して付？！ｆ
ｆｉを求めれば蛍光Ｘ線強ｊ！！から組成を求めること
がぐきる。これを利用して前記の問題点を解決する。づ
なわら、Ｘ線回折法では波長を長くすれば測定角をある
程ル大きくできるので、前述の蛍光Ｘ線法における測定
角が小さいことによる問題点を解決できる。この点に関
し、例えば、波長が２．２９Ａ （７）ＣｒＫｏｃ線で
ａ −Ｆｅ（２００）を測定する場合の入射角と出射角
の和は１０６．４度になる。また、蛍光Ｘ線強度はメッ
キ被膜の（＝ｌ ｌ ｆｆｉと組成だ（〕に依存プるの
で前述の回折Ｘ線法にＪ３ける溶融メッキ材と電気メッ
キ材とで異なる問題及び集合組織の影響の問題を解決で
きる。被膜の組成及び下地鋼板の床台組織の影響につい
ては２波長で同−面間隔同一方位の下地の格子面につい
てその回折Ｘ線強１哀を測足りることにより解決できる
。 本発明の方法の原即をＦｅ−Ｚｎ合金メッキ鋼板を例と
して述べると、波長λノ、λ２でＦ地の１１７１−面間
隔の格子面の回折Ｘ線強度り、１２は次式で表わされる
。 ε１１εＬ ：集合組織の影響 １１０、 １２＝ ：無方向性で付着量０の場合の波長
λＬ、λ２に対する回折Ｘ線強度 μ（λ、）、μ（λ２）二波長λ−１λ２のＸ線に対す
るメッキ被膜の質吊吸収係数 ρ：メッキ被膜の密度 ｔ：メッキ被膜の厚み（ρ［が（＝Ｊ ［吊）θ４！
、θ２Ｂ：波長λ３．λ２に対する測定格子面のブラッ
グ角 φ１１φｚ ：Ｘ線入射角 ψ１．ψ２ ：回折Ｘ線出射角 上記のメッキ被膜の質量吸収係数は次式で表わされる。 μ （λ、）＝Ｗ、、μｐｅ（λ＋ ）＋（Ｉ Ｗ
Ｅｅ） μｍ２．（λ、）（３）μ（λ２ ）＝’Ａ
ｈｅ７１ Ｆｅ（λ２）＋（Ｉ ＷＦ−μｚｒ＋（λｚ
） （４）Ｗ（−ｅ ： ｌ’ｅの１ｆｆｉ分
率 μｒ−ｅ （λ、）、μＦｅ’ （λ２）：波長λ−１
λ２のＸ線に対するＦｅのｆｆｉ吊吸収係数 μ２．、（λ、）、μＺ１．（λ２）二波長λＩ、λ２
のＸ線に対するＩｎの質量吸収係数 また、ブラッグ式が成立り゛るから、 ２ｄ ｓｉｎθ＋Ｒ＝ｊｌ λ Ｉ
（５）２ｃ） ｓｉｎθ２１１ ＝
Ｑλｚ（６）ｄ：測定格子面の面間隔 ｎ：１，２．・・・ なＪ３、Ｘ線入射角φＩ 、φユと回折Ｘ線用０４角ψ
Ｉ、ψ２の和はブラック角の２１ｆｌ ’Ｕ−あるから
、φＩ＋φ、−２θｒｎ （７）φ
よ◆ψ２＝２θＪＲｒａ） となる。 従来法は１１ から４＝１４１’（昂ρ［を求める方
法であるが、μ（λＩ）がＷｐｅの関数であり、εｌが
鋼種、板厚、測定角（φ１．ψ、）などに依存すること
を考えると、この方法はオンラインの測定には適さない
。 次に、φ、＝ψ、＝θｌｌ？、φえ＝ψ□＝θユＢとし
てＲ＝１＋／ｌｘをとるとこれは次式で表わされる。 φ、＝ψ、＝θ、ｎ、φユ＝ψニーθユバとずれば、同
一方位（試料面に平行）の格子面を測定することになり
、式（９）でεＩ・εユ となる。ずなわら集合［ｉｌ
の影響を除くことができる。また、式（９）でμｆｅ（
λｚ）／Ｓｉｎθ）Ｂ −μｘｎ （λＪ ）／ｓｉｎ
θ、１Ｆ！−μｒｅ（λＩ）／ｓｉｎθ” ＋ ｕｘｈ
（λ、 ）／ｓｔｎθｚｓ”ｏとなるようにλｌ、λ
Ｌを選べばＲはＷｒ−ｅの影響つまり組成の影響を受け
ない。λｌ、λユが一定ならばＲはｆＮＪ着量ρｔだけ
の関数となる。そこで、Ｒからメッキ付着吊を精度よく
求めることができる。 測定角については、測定面をα−Ｆｅ（２００）としλ
ｒ ＝２．２９Ａ（ＣｒＫ、＜線）、λｘ ＝１．７９
＾（ＣＯ（、を線）とすればθ１Ｂ＝５３．２°、θコ
／ｌ ＝ ３８．７°となり、従来法より低角側の角度
を大きくできる。 上記の条件下ではｈ とＲは次式で表わされる。 ！−ε＋ Ｉ＋ｏｅＸＩ）（（Ｇ８．８ ％ｅ−２２５
）−２ρｔ−１０） （１°）式（１°）、（
１０°）においてρの中位はｇ／Ｃｌ１１であり、ｔの
単位はμｍである。 εｌ＝εユとなるように測定角を選ｌυだときの、１、
／ε−１１０とρｔとの関係を第７図にそしてＲ／（１
１０／１や）とρｔとの関係を第８図にそれぞれ示り。 図中、実線はＷＥｅが０．１の場合をそして点線は０．
３の場合をそれぞれ表わしくいる。上記の測定角はφ１
＝ψ、＝θ、Ｒ＝５３．２°、φ２＝ψえ＝０２８＝
３８．７’である。Ｗ ｒｅが０．１から０．３に変化
した検量線のずれはｆＮＪ看帛４０ｇ／ｍｆ；Ｊ近で１
．／ε、１．。 の場合３．５ｇ／ｍであるのに対しＲ／（１１ａ ／
１２ｏ）の場合には１９／ｒｄであり、Ｒの方が小さい
。 ［実施例］ 第１図に示すような装置を用いて［ｅ−ハ）合金メッキ
鋼板のメッキ付ｉｌｌと組成の同時測定を行なった。 この装置はＸ線管１．２からメッキ鋼板３の表層面に波
長の異なる特性Ｘ線を照射し、表層面から出射された回
折Ｘ線をそれぞれ検出器４，７で検出するちのぐある。 各検出器４．７からの信号はそれぞれ増幅器５．εｌで
増幅し、波＾分析器６゜９を経由して信号処理装置１０
で処理し
Ｘ線回折法と蛍光Ｘ線法との組み合わせによりオンライ
ンで測定する方法に関する。 ［従来の技術］ 従来、メッキ鋼板のオンライン被膜分析は蛍光Ｘ線法が
一般的であった。しかし、Ｆｅ−１ｎ合金メッキ鋼板の
ようにメッキ被膜が下地金属を含む場合、従来の蛍光Ｘ
線法ではＦ地からの蛍光Ｘ線とメッキ被膜からの蛍光Ｘ
線を区別で＠ ｌ、ｒいためメッキ被膜の付着量と組成
のいずれの測定も国難であった。 この問題を解決する方法として次の２つが提案されでい
る。 下地金属からの蛍光ｘＩ！２が′検出されない第１の測
定角（入射角及び出射角）と、下地金属からの蛍光ｘａ
が検出される第２の測定角においてそれぞれ蛍光Ｘ線強
度を測定し、両側室（１に暴きメッキ被膜付着吊及び組
成を求める方法（特開昭５８−２２３０４７目公報）。 Ｆｅ−Ｉｎ合金メッキ鋼板にｄｉいて、被膜による吸収
を利用して下地のα−Ｆｅの回折Ｘ線強度から付ｔｔｆ
ｉを、そして被膜中の７相及びＦｅ−Ｚｎ合金相のうち
から選ばれた１つ以上の相の回折Ｘ呻強度から組成を求
める方法（特開昭６０−１６９５５３ 号公報）。 ［発明が解決しようとする問題点１ しかしながら、２つの測定角を用いた前記蛍光Ｘ線法は
第１の測定角が数度以内で測定距離変動の影響を受りや
づく、オンライン測定法としては不向きであった。 また、回Ｉｊｊ Ｘ線による方法は、下地のα−Ｆｅの
回折Ｘ線強度はメッキのｆｊｎ吊ばかりでなくメッキ被
膜の組成や、成分、製造条件などにより異なる下地鋼板
の集合組織にも依存すること、合金相の組成、Ｉｔ’ｌ
ｌ造が、回じｒｅ−Ｚｎ合金メツ１°鋼板ぐあっても溶
融メッキ材と電気メツキ材とでは異なること、そして、
被膜中の各相に対する回折Ｘ線強度はメッキ被膜の合金
相組成やｆ＝ｊ着吊だ（）でなく集合組織にも依存する
こと等の問題があった。 ［問題点を解決するための手段１ 本発明は、蛍光Ｘ線法によりメッキ被膜の組成を、そし
て×１９回折法によりメツキイ１者吊を測定することに
よって前記の問題点を解決したものである。 すなわら、本発明は、２種の波長の特性Ｘ線で、メッキ
閘坂下地金属の同−面間隔、同一り位の格子面の回折Ｘ
線を測定する光学系を構成し、二系列に配置した検出器
の一つで発生ずる蛍光Ｘ線と一方の回折Ｘ線を検出し、
検出器の他方で発生ずる他方の回折Ｘ線を検出し、それ
らの信号を信号処理装置で処理して該メッキ鋼板の表層
皮膜の付着量と組成とを同時に分析することを特徴とす
るメッキ鋼板の表層皮膜の機器分析法に関するものであ
る。 メッキ鋼板の種類ｔ、Ｌ問わないが、木ｙで明の／ｊ法
はメッキ被膜が下地金属成分を含むものの分析に威力を
発揮する。 特性Ｘ線の２種の波長とそれらの測定角（入射角、出射
角）は、測定格子面が決まればブラッグの式により一方
が定まれば他方は自動的に定まる関係にある。波長は測
定誤差を少なくする点でいずれも測定角が１０度以上と
覆ることが好ましい。 測定角（入射角及び出射角）の一方は少なくとも下地か
らの蛍光Ｘ線が検出される程度の大きさ、例えば２０度
以上とする。２種の特性Ｘ線は２ｆＩのＸ線管をそれぞ
れの光源としてもよく、また、同種のＸＢ管から発せら
れる複数のＸ５または連続Ｘ線のなかから選択してもＪ
、い。後者の場合にはＸ線管を１個としてこれを移動さ
せる。Ｘ線管は蛍光Ｘ線分析あるいはＸ線回折分析に通
常使用されているものから選択すればよい。２ ＋Ｉの
波長の特性Ｘ線は同一部位に照射させることはいうまで
もない。 ［作ｍ） 蛍光Ｘ線法ぐは測定角を大きくとると１・地からの蛍光
Ｘ線が検出され、蛍光Ｘ線強度は何首用と組成の関数と
なる。そこで、下地の回折Ｘ線強度を測定して付？！ｆ
ｆｉを求めれば蛍光Ｘ線強ｊ！！から組成を求めること
がぐきる。これを利用して前記の問題点を解決する。づ
なわら、Ｘ線回折法では波長を長くすれば測定角をある
程ル大きくできるので、前述の蛍光Ｘ線法における測定
角が小さいことによる問題点を解決できる。この点に関
し、例えば、波長が２．２９Ａ （７）ＣｒＫｏｃ線で
ａ −Ｆｅ（２００）を測定する場合の入射角と出射角
の和は１０６．４度になる。また、蛍光Ｘ線強度はメッ
キ被膜の（＝ｌ ｌ ｆｆｉと組成だ（〕に依存プるの
で前述の回折Ｘ線法にＪ３ける溶融メッキ材と電気メッ
キ材とで異なる問題及び集合組織の影響の問題を解決で
きる。被膜の組成及び下地鋼板の床台組織の影響につい
ては２波長で同−面間隔同一方位の下地の格子面につい
てその回折Ｘ線強１哀を測足りることにより解決できる
。 本発明の方法の原即をＦｅ−Ｚｎ合金メッキ鋼板を例と
して述べると、波長λノ、λ２でＦ地の１１７１−面間
隔の格子面の回折Ｘ線強度り、１２は次式で表わされる
。 ε１１εＬ ：集合組織の影響 １１０、 １２＝ ：無方向性で付着量０の場合の波長
λＬ、λ２に対する回折Ｘ線強度 μ（λ、）、μ（λ２）二波長λ−１λ２のＸ線に対す
るメッキ被膜の質吊吸収係数 ρ：メッキ被膜の密度 ｔ：メッキ被膜の厚み（ρ［が（＝Ｊ ［吊）θ４！
、θ２Ｂ：波長λ３．λ２に対する測定格子面のブラッ
グ角 φ１１φｚ ：Ｘ線入射角 ψ１．ψ２ ：回折Ｘ線出射角 上記のメッキ被膜の質量吸収係数は次式で表わされる。 μ （λ、）＝Ｗ、、μｐｅ（λ＋ ）＋（Ｉ Ｗ
Ｅｅ） μｍ２．（λ、）（３）μ（λ２ ）＝’Ａ
ｈｅ７１ Ｆｅ（λ２）＋（Ｉ ＷＦ−μｚｒ＋（λｚ
） （４）Ｗ（−ｅ ： ｌ’ｅの１ｆｆｉ分
率 μｒ−ｅ （λ、）、μＦｅ’ （λ２）：波長λ−１
λ２のＸ線に対するＦｅのｆｆｉ吊吸収係数 μ２．、（λ、）、μＺ１．（λ２）二波長λＩ、λ２
のＸ線に対するＩｎの質量吸収係数 また、ブラッグ式が成立り゛るから、 ２ｄ ｓｉｎθ＋Ｒ＝ｊｌ λ Ｉ
（５）２ｃ） ｓｉｎθ２１１ ＝
Ｑλｚ（６）ｄ：測定格子面の面間隔 ｎ：１，２．・・・ なＪ３、Ｘ線入射角φＩ 、φユと回折Ｘ線用０４角ψ
Ｉ、ψ２の和はブラック角の２１ｆｌ ’Ｕ−あるから
、φＩ＋φ、−２θｒｎ （７）φ
よ◆ψ２＝２θＪＲｒａ） となる。 従来法は１１ から４＝１４１’（昂ρ［を求める方
法であるが、μ（λＩ）がＷｐｅの関数であり、εｌが
鋼種、板厚、測定角（φ１．ψ、）などに依存すること
を考えると、この方法はオンラインの測定には適さない
。 次に、φ、＝ψ、＝θｌｌ？、φえ＝ψ□＝θユＢとし
てＲ＝１＋／ｌｘをとるとこれは次式で表わされる。 φ、＝ψ、＝θ、ｎ、φユ＝ψニーθユバとずれば、同
一方位（試料面に平行）の格子面を測定することになり
、式（９）でεＩ・εユ となる。ずなわら集合［ｉｌ
の影響を除くことができる。また、式（９）でμｆｅ（
λｚ）／Ｓｉｎθ）Ｂ −μｘｎ （λＪ ）／ｓｉｎ
θ、１Ｆ！−μｒｅ（λＩ）／ｓｉｎθ” ＋ ｕｘｈ
（λ、 ）／ｓｔｎθｚｓ”ｏとなるようにλｌ、λ
Ｌを選べばＲはＷｒ−ｅの影響つまり組成の影響を受け
ない。λｌ、λユが一定ならばＲはｆＮＪ着量ρｔだけ
の関数となる。そこで、Ｒからメッキ付着吊を精度よく
求めることができる。 測定角については、測定面をα−Ｆｅ（２００）としλ
ｒ ＝２．２９Ａ（ＣｒＫ、＜線）、λｘ ＝１．７９
＾（ＣＯ（、を線）とすればθ１Ｂ＝５３．２°、θコ
／ｌ ＝ ３８．７°となり、従来法より低角側の角度
を大きくできる。 上記の条件下ではｈ とＲは次式で表わされる。 ！−ε＋ Ｉ＋ｏｅＸＩ）（（Ｇ８．８ ％ｅ−２２５
）−２ρｔ−１０） （１°）式（１°）、（
１０°）においてρの中位はｇ／Ｃｌ１１であり、ｔの
単位はμｍである。 εｌ＝εユとなるように測定角を選ｌυだときの、１、
／ε−１１０とρｔとの関係を第７図にそしてＲ／（１
１０／１や）とρｔとの関係を第８図にそれぞれ示り。 図中、実線はＷＥｅが０．１の場合をそして点線は０．
３の場合をそれぞれ表わしくいる。上記の測定角はφ１
＝ψ、＝θ、Ｒ＝５３．２°、φ２＝ψえ＝０２８＝
３８．７’である。Ｗ ｒｅが０．１から０．３に変化
した検量線のずれはｆＮＪ看帛４０ｇ／ｍｆ；Ｊ近で１
．／ε、１．。 の場合３．５ｇ／ｍであるのに対しＲ／（１１ａ ／
１２ｏ）の場合には１９／ｒｄであり、Ｒの方が小さい
。 ［実施例］ 第１図に示すような装置を用いて［ｅ−ハ）合金メッキ
鋼板のメッキ付ｉｌｌと組成の同時測定を行なった。 この装置はＸ線管１．２からメッキ鋼板３の表層面に波
長の異なる特性Ｘ線を照射し、表層面から出射された回
折Ｘ線をそれぞれ検出器４，７で検出するちのぐある。 各検出器４．７からの信号はそれぞれ増幅器５．εｌで
増幅し、波＾分析器６゜９を経由して信号処理装置１０
で処理し
【Ｒを求める。４−５−６の系ではｈをそして
７−８−９の系ではＩ２をそれぞれ測定するようになっ
ている。Ｆｅとｌｎの蛍光Ｘ線は６又は９のいずれかを
多重波＾分析器にして測定を行なうようになっている。 多重波高分析器側の系の検出器にはエネルギー分解能の
優れた半】！９体検出器が好ましく用いられる。蛍光Ｘ
線を測定しない方の系の検出器の前にはフィルターをお
くか、あるいは蛍光Ｘ線を測定する方の系と同じ構成に
なっている。 Ｘ線管にはＣｒ管とＣｏ管を用い、下地の測定格子面に
はα−Ｆｅ（２００）を選んだ。 測定結果を第２〜（５図に示す。図中、三角印はメッキ
被膜のＦｅ含ず１率が１３７〜１５９％のちのについて
の測定結果を表わしくおり、四角中は２４．６〜２６．
３％のものについての測定結果を表わしている。 第２図はＣｒＫべ線に対するα−Ｆｅ（２００）の回１
バＸ線強度（１＋ ）とメッキ被膜のｆ’ｌ ？ｔ ｆ
ｆｉとの関係を示し、第３図はＣｏし線に対するα−Ｆ
ｅ（２００）の回折Ｘ線強度（１２）とメッキ被膜のイ
１着半量の関係を示している。これらの図に示りように
ｆ、Ｊ ｉ ｆｆｉと１１ 、付着量と１２の関係はい
ずれも一つの校正曲線では定まらない。これは前述の式
（１）と式（２）に示ずε１１６２が試料ににって異な
るためである。次に、Ｉ＋／Ｉλである［でと（Ｊ ｎ
吊の関係を第４図に示づ。同図に示ずようにＲとｆ４
？を早との関係は一意的に定まり、１＜賄から（；Ｊ
８１ｆｌを求めることができる。 試ｖ１から発りトする蛍光Ｘ＄２のｒｅＫｄ線の相対強
度（Ｉｒｅｋａ）とメッキ被膜の（＝Ｊ ｎ吊との関係
を第５図にそして７ｎＫメ線の相対強度（Ｉｚ＋＋に、
メ）とメッキ被膜の付￥１吊との関係を第６−図にそれ
ぞれ承り。 これらの図に示１ように、ｌ ＦｇｋａとＩｚ＋、醜は
いずれも付着量と組成の関数になっており、付着量を１
＜から求めてそれから［ｅ含有率をｎ出する。 ［Ｆｅ明の効果１ 本発明の分析方法は測定角を人さくとれることから測定
距離変１ｊの影響を小さくすることができる。また、２
種の波長の回ｆＪｉ Ｘ線強度の比を用いることにより
下地鋼板の集合組織、メッキ？！ｌ！！膜の組成などの
影響を排してメッキ披ｎＱのイ」着量を簡単かつ精度よ
く求めることができ、Ｆｅ含有率は蛍光Ｘ線強度より求
めるのでメッキ方法、メッキ被膜の集合組織などの影響
を受けることがない。従って、本発明の方法により、メ
ツーｔ、ｍ仮のメッキ被膜の付着量及び含有率を簡単、
迅速かつ高精度で測定することができる。このような本
発明の方法はオンライン分析に特に適するものである。
７−８−９の系ではＩ２をそれぞれ測定するようになっ
ている。Ｆｅとｌｎの蛍光Ｘ線は６又は９のいずれかを
多重波＾分析器にして測定を行なうようになっている。 多重波高分析器側の系の検出器にはエネルギー分解能の
優れた半】！９体検出器が好ましく用いられる。蛍光Ｘ
線を測定しない方の系の検出器の前にはフィルターをお
くか、あるいは蛍光Ｘ線を測定する方の系と同じ構成に
なっている。 Ｘ線管にはＣｒ管とＣｏ管を用い、下地の測定格子面に
はα−Ｆｅ（２００）を選んだ。 測定結果を第２〜（５図に示す。図中、三角印はメッキ
被膜のＦｅ含ず１率が１３７〜１５９％のちのについて
の測定結果を表わしくおり、四角中は２４．６〜２６．
３％のものについての測定結果を表わしている。 第２図はＣｒＫべ線に対するα−Ｆｅ（２００）の回１
バＸ線強度（１＋ ）とメッキ被膜のｆ’ｌ ？ｔ ｆ
ｆｉとの関係を示し、第３図はＣｏし線に対するα−Ｆ
ｅ（２００）の回折Ｘ線強度（１２）とメッキ被膜のイ
１着半量の関係を示している。これらの図に示りように
ｆ、Ｊ ｉ ｆｆｉと１１ 、付着量と１２の関係はい
ずれも一つの校正曲線では定まらない。これは前述の式
（１）と式（２）に示ずε１１６２が試料ににって異な
るためである。次に、Ｉ＋／Ｉλである［でと（Ｊ ｎ
吊の関係を第４図に示づ。同図に示ずようにＲとｆ４
？を早との関係は一意的に定まり、１＜賄から（；Ｊ
８１ｆｌを求めることができる。 試ｖ１から発りトする蛍光Ｘ＄２のｒｅＫｄ線の相対強
度（Ｉｒｅｋａ）とメッキ被膜の（＝Ｊ ｎ吊との関係
を第５図にそして７ｎＫメ線の相対強度（Ｉｚ＋＋に、
メ）とメッキ被膜の付￥１吊との関係を第６−図にそれ
ぞれ承り。 これらの図に示１ように、ｌ ＦｇｋａとＩｚ＋、醜は
いずれも付着量と組成の関数になっており、付着量を１
＜から求めてそれから［ｅ含有率をｎ出する。 ［Ｆｅ明の効果１ 本発明の分析方法は測定角を人さくとれることから測定
距離変１ｊの影響を小さくすることができる。また、２
種の波長の回ｆＪｉ Ｘ線強度の比を用いることにより
下地鋼板の集合組織、メッキ？！ｌ！！膜の組成などの
影響を排してメッキ披ｎＱのイ」着量を簡単かつ精度よ
く求めることができ、Ｆｅ含有率は蛍光Ｘ線強度より求
めるのでメッキ方法、メッキ被膜の集合組織などの影響
を受けることがない。従って、本発明の方法により、メ
ツーｔ、ｍ仮のメッキ被膜の付着量及び含有率を簡単、
迅速かつ高精度で測定することができる。このような本
発明の方法はオンライン分析に特に適するものである。
第１図は本発明の分析方法に用いる装置の構成の概要を
示１図である。第２図及び第３図は測定結果を回ＩＪｉ
Ｘ線強度（Ｉｌｌ、 （Ｉｚ）とメツ、１：被躾付
若吊との関係について示１図であり、第４図はその比（
ＩＩ／＋２）とメッキ被膜付ＷＦＲとの関係を示す図で
ある。第５図及び第６図はｒｅＫｎ線の蛍光Ｘ線強度（
Ｉｒ−ｅ庖）、及び１ｎＫａ線の蛍光Ｘ線強度（ＩＺ、
、によ）とメッキ被膜Ｉｆ ２７ Ｍどの関係をそれぞ
れ示す図である。第７図は１１／ε１ｊｌＱとメッキ被
膜付首吊との１１０ｇＡをそして第８図は［た／（ＩＩ
。 ／１コＣ）とメッキ被膜（；Ｊ ？’を吊との関係をそ
れぞれ２種のＦｅ％半分率のメッキ被膜について測定し
た結果を示す図である。 １．２・・・Ｘａ管、３・・・メツ−１鋼板、４，７・
・・検出器、５，８・・・増幅器、６．９・・・波高分
析器、１０・・・信号処理装置 特許出願人 Ｈ本鋼管株式会社 代理人 弁理′、［１１１中 １１２ 浩第７図 メ・・ヘイｔｉイ：ｔ４ｆ、−（ｇ／ｒｒｆ）ヌ・キ技
役付４％ （ｇ／ｒｎ’） 手続補正内（自発） 昭和６２（ｒ １ Ｂ ２３日
示１図である。第２図及び第３図は測定結果を回ＩＪｉ
Ｘ線強度（Ｉｌｌ、 （Ｉｚ）とメツ、１：被躾付
若吊との関係について示１図であり、第４図はその比（
ＩＩ／＋２）とメッキ被膜付ＷＦＲとの関係を示す図で
ある。第５図及び第６図はｒｅＫｎ線の蛍光Ｘ線強度（
Ｉｒ−ｅ庖）、及び１ｎＫａ線の蛍光Ｘ線強度（ＩＺ、
、によ）とメッキ被膜Ｉｆ ２７ Ｍどの関係をそれぞ
れ示す図である。第７図は１１／ε１ｊｌＱとメッキ被
膜付首吊との１１０ｇＡをそして第８図は［た／（ＩＩ
。 ／１コＣ）とメッキ被膜（；Ｊ ？’を吊との関係をそ
れぞれ２種のＦｅ％半分率のメッキ被膜について測定し
た結果を示す図である。 １．２・・・Ｘａ管、３・・・メツ−１鋼板、４，７・
・・検出器、５，８・・・増幅器、６．９・・・波高分
析器、１０・・・信号処理装置 特許出願人 Ｈ本鋼管株式会社 代理人 弁理′、［１１１中 １１２ 浩第７図 メ・・ヘイｔｉイ：ｔ４ｆ、−（ｇ／ｒｒｆ）ヌ・キ技
役付４％ （ｇ／ｒｎ’） 手続補正内（自発） 昭和６２（ｒ １ Ｂ ２３日
Claims (1)
- ２種の波長の特性Ｘ線で、メッキ鋼板下地金属の同一面
間隔、同一方位の格子面の回折Ｘ線を測定する光学系を
構成し、二系列に配置した検出器の一つで発生する蛍光
Ｘ線と一方の回折Ｘ線を検出し、検出器の他方で発生す
る他方の回折Ｘ線を検出し、それらの信号を信号処理装
置で処理して該メッキ鋼板の表層皮膜の付着量と組成と
を同時に分析することを特徴とするメッキ鋼板の表層皮
膜の機器分析法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61280780A JPH0726921B2 (ja) | 1986-11-27 | 1986-11-27 | メツキ鋼板の表層皮膜の機器分析法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61280780A JPH0726921B2 (ja) | 1986-11-27 | 1986-11-27 | メツキ鋼板の表層皮膜の機器分析法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63134942A true JPS63134942A (ja) | 1988-06-07 |
| JPH0726921B2 JPH0726921B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=17629851
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61280780A Expired - Lifetime JPH0726921B2 (ja) | 1986-11-27 | 1986-11-27 | メツキ鋼板の表層皮膜の機器分析法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0726921B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012015046A1 (ja) * | 2010-07-30 | 2012-02-02 | 株式会社リガク | Ｘ線応力測定装置 |
| US20220205935A1 (en) * | 2020-12-24 | 2022-06-30 | Inel S.A.S. | Apparatuses and methods for combined simultaneous analyses of materials |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61100643A (ja) * | 1984-10-23 | 1986-05-19 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 合金メツキ被膜のｘ線分析方法 |
-
1986
- 1986-11-27 JP JP61280780A patent/JPH0726921B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61100643A (ja) * | 1984-10-23 | 1986-05-19 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 合金メツキ被膜のｘ線分析方法 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012015046A1 (ja) * | 2010-07-30 | 2012-02-02 | 株式会社リガク | Ｘ線応力測定装置 |
| JP5560338B2 (ja) * | 2010-07-30 | 2014-07-23 | 株式会社リガク | Ｘ線応力測定装置 |
| US9146203B2 (en) | 2010-07-30 | 2015-09-29 | Rigaku Corporation | X-ray stress measuring apparatus |
| US20220205935A1 (en) * | 2020-12-24 | 2022-06-30 | Inel S.A.S. | Apparatuses and methods for combined simultaneous analyses of materials |
| US11796492B2 (en) * | 2020-12-24 | 2023-10-24 | Inel S.A.S. | Apparatuses and methods for combined simultaneous analyses of materials |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0726921B2 (ja) | 1995-03-29 |
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