JPH0726921B2 - メツキ鋼板の表層皮膜の機器分析法 - Google Patents
メツキ鋼板の表層皮膜の機器分析法Info
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- JPH0726921B2 JPH0726921B2 JP61280780A JP28078086A JPH0726921B2 JP H0726921 B2 JPH0726921 B2 JP H0726921B2 JP 61280780 A JP61280780 A JP 61280780A JP 28078086 A JP28078086 A JP 28078086A JP H0726921 B2 JPH0726921 B2 JP H0726921B2
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、下地金属を含むメッキ被膜の付着量と組成を
Ｘ線回折法と蛍光Ｘ線法との組み合わせによりオンライ
ンで測定する方法に関する。
Ｘ線回折法と蛍光Ｘ線法との組み合わせによりオンライ
ンで測定する方法に関する。
［従来の技術］ 従来、メッキ鋼板のオンライン被膜分析は蛍光Ｘ線法が
一般的であった。しかし、Fe−Zn合金メッキ鋼板のよう
にメッキ被膜が下地金属を含む場合、従来の蛍光Ｘ線法
では下地からの蛍光Ｘ線とメッキ被膜からの蛍光Ｘ線を
区別できないためメッキ被膜の付着量と組成のいずれの
測定も困難であった。
一般的であった。しかし、Fe−Zn合金メッキ鋼板のよう
にメッキ被膜が下地金属を含む場合、従来の蛍光Ｘ線法
では下地からの蛍光Ｘ線とメッキ被膜からの蛍光Ｘ線を
区別できないためメッキ被膜の付着量と組成のいずれの
測定も困難であった。
この問題を解決する方法として次の２つが提案されてい
る。
る。
下地金属からの蛍光Ｘ線が検出されない第１の測定角
（入射角及び出射角）と、下地金属からの蛍光Ｘ線が検
出される第２の測定角においてそれぞれ蛍光Ｘ線強度を
測定し、両測定値に基きメッキ被膜付着量及び組成を求
める方法（特開昭58−223047号公報）。
（入射角及び出射角）と、下地金属からの蛍光Ｘ線が検
出される第２の測定角においてそれぞれ蛍光Ｘ線強度を
測定し、両測定値に基きメッキ被膜付着量及び組成を求
める方法（特開昭58−223047号公報）。
Fe−Zn合金メッキ鋼板において、被膜による吸収を利用
して下地のα−Feの回折Ｘ線強度から付着量を、そして
被膜中のη相及びFe−Zn合金相のうちから選ばれた１つ
以上の相の回折Ｘ線強度から組成を求める方法（特開昭
60−169553号公報）。
して下地のα−Feの回折Ｘ線強度から付着量を、そして
被膜中のη相及びFe−Zn合金相のうちから選ばれた１つ
以上の相の回折Ｘ線強度から組成を求める方法（特開昭
60−169553号公報）。
［発明が解決しようとする問題点］ しかしながら、２つの測定角を用いた前記蛍光Ｘ線法は
第１の測定角が数度以内で測定距離変動の影響を受けや
すく、オンライン測定法としては不向きであった。
第１の測定角が数度以内で測定距離変動の影響を受けや
すく、オンライン測定法としては不向きであった。
また、回折Ｘ線による方法は、下地のα−Feの回折Ｘ線
強度はメッキの付着量ばかりでなくメッキ被膜の組成
や、成分、製造条件などにより異なる下地鋼板の集合組
織にも依存すること、合金相の組成、構造が、同じFe−
Zn合金メッキ鋼板であっても溶融メッキ材と電気メッキ
材とでは異なること、そして、被膜中の各相に対する回
折Ｘ線強度はメッキ被膜の合金相組成や付着量だけでな
く集合組織にも依存すること等の問題があった。
強度はメッキの付着量ばかりでなくメッキ被膜の組成
や、成分、製造条件などにより異なる下地鋼板の集合組
織にも依存すること、合金相の組成、構造が、同じFe−
Zn合金メッキ鋼板であっても溶融メッキ材と電気メッキ
材とでは異なること、そして、被膜中の各相に対する回
折Ｘ線強度はメッキ被膜の合金相組成や付着量だけでな
く集合組織にも依存すること等の問題があった。
［問題点を解決するための手段］ 本発明は、蛍光Ｘ線法によりメッキ被膜の組成を、そし
てＸ線回折法によりメッキ付着量を測定することによっ
て前記の問題点を解決したものである。
てＸ線回折法によりメッキ付着量を測定することによっ
て前記の問題点を解決したものである。
すなわち、本発明は、２種の波長の特性Ｘ線で、メッキ
鋼板下地金属の同一面間隔、同一方位の格子面の回折Ｘ
線を測定する光学系を構成し、二系列に配置した検出器
の一つで発生する蛍光Ｘ線と一方の回折Ｘ線を検出し、
検出器の他方で発生する他方の回折Ｘ線を検出し、検出
された両回折Ｘ線の強度の比を予め求めておいた校正曲
線と照合させてメッキ被膜付着量を求め、さらに該付着
量と前記蛍光Ｘ線の強度から該メッキ被膜の組成を求
め、該メッキ鋼板のメッキ被膜の付着量と組成とを同時
に分析することを特徴とするメッキ鋼板のメッキ被膜の
機器分析法に関するものである。
鋼板下地金属の同一面間隔、同一方位の格子面の回折Ｘ
線を測定する光学系を構成し、二系列に配置した検出器
の一つで発生する蛍光Ｘ線と一方の回折Ｘ線を検出し、
検出器の他方で発生する他方の回折Ｘ線を検出し、検出
された両回折Ｘ線の強度の比を予め求めておいた校正曲
線と照合させてメッキ被膜付着量を求め、さらに該付着
量と前記蛍光Ｘ線の強度から該メッキ被膜の組成を求
め、該メッキ鋼板のメッキ被膜の付着量と組成とを同時
に分析することを特徴とするメッキ鋼板のメッキ被膜の
機器分析法に関するものである。
メッキ鋼板の種類は問わないが、本発明の方法はメッキ
被膜が下地金属成分を含むものの分析に威力を発揮す
る。
被膜が下地金属成分を含むものの分析に威力を発揮す
る。
特性Ｘ線の２種の波長とそれらの測定角（入射角、出射
角）は、測定格子面が決まればブラッグの式により一方
が定まれば他方は自動的に定まる関係にある。測定誤差
を少なくする点で測定角が10度以上となるよういずれの
波長も設定することが好ましい。２種の特性Ｘ線は２種
のＸ線管をそれぞれの光源としてもよく、また、同種の
Ｘ線管から発せられる複数のＸ線または連続Ｘ線のなか
から選択してもよい。後者の場合にはＸ線管を１個とし
てこれを移動させる。Ｘ線管は蛍光Ｘ線分析あるいはＸ
線回折分析に通常使用されているものから選択すればよ
い。２種の波長の特性Ｘ線は同一部位に照射させること
はいうまでもない。
角）は、測定格子面が決まればブラッグの式により一方
が定まれば他方は自動的に定まる関係にある。測定誤差
を少なくする点で測定角が10度以上となるよういずれの
波長も設定することが好ましい。２種の特性Ｘ線は２種
のＸ線管をそれぞれの光源としてもよく、また、同種の
Ｘ線管から発せられる複数のＸ線または連続Ｘ線のなか
から選択してもよい。後者の場合にはＸ線管を１個とし
てこれを移動させる。Ｘ線管は蛍光Ｘ線分析あるいはＸ
線回折分析に通常使用されているものから選択すればよ
い。２種の波長の特性Ｘ線は同一部位に照射させること
はいうまでもない。
［作用］ 蛍光Ｘ線法では測定角を大きくとると下地からの蛍光Ｘ
線が検出され、蛍光Ｘ線強度は付着量と組成の関数とな
る。そこで、下地の回折Ｘ線強度を測定して付着量を求
めれば蛍光Ｘ線強度から組成を求めることができる。こ
れを利用して前記の問題点を解決する。すなわち、Ｘ線
回折法では波長を長くすれば測定角をある程度大きくで
きるので、前述の蛍光Ｘ線法における測定角が小さいこ
とによる問題点を解決できる。この点に関し、例えば、
波長が2.29ÅのCrKα線でα−Fe｛200｝を測定する場合
の入射角と出射角の和は106.4度になる。また、蛍光Ｘ
線強度はメッキ被膜の付着量と組成だけに依存するので
前述の回折Ｘ線法における溶融メッキ材と電気メッキ材
とで異なる問題及び集合組織の影響の問題を解決でき
る。被膜の組成及び下地鋼板の集合組織の影響について
は２波長で同一面間隔同一方位の下地の格子面について
その回折Ｘ線強度を測定することにより解決できる。
線が検出され、蛍光Ｘ線強度は付着量と組成の関数とな
る。そこで、下地の回折Ｘ線強度を測定して付着量を求
めれば蛍光Ｘ線強度から組成を求めることができる。こ
れを利用して前記の問題点を解決する。すなわち、Ｘ線
回折法では波長を長くすれば測定角をある程度大きくで
きるので、前述の蛍光Ｘ線法における測定角が小さいこ
とによる問題点を解決できる。この点に関し、例えば、
波長が2.29ÅのCrKα線でα−Fe｛200｝を測定する場合
の入射角と出射角の和は106.4度になる。また、蛍光Ｘ
線強度はメッキ被膜の付着量と組成だけに依存するので
前述の回折Ｘ線法における溶融メッキ材と電気メッキ材
とで異なる問題及び集合組織の影響の問題を解決でき
る。被膜の組成及び下地鋼板の集合組織の影響について
は２波長で同一面間隔同一方位の下地の格子面について
その回折Ｘ線強度を測定することにより解決できる。
本発明の方法の原理をFe−Zn合金メッキ鋼板を例として
述べると、波長λ1,λ２で下地の同一面間隔の格子面の
回折Ｘ線強度I1,I2は次式で表わされる。
述べると、波長λ1,λ２で下地の同一面間隔の格子面の
回折Ｘ線強度I1,I2は次式で表わされる。
ε1,ε2:集合組織の影響 I10,I20:無方向性で付着量０の場合の波長λ1,λ２に対
する回折Ｘ線強度 μ（λ１），μ（λ２）：波長λ1,λ２のＸ線に対する
メッキ被膜の質量吸収係数 ρ：メッキ被膜の密度 t:メッキ被膜の厚み（ρｔが付着量） θ1B,θ2B:波長λ1,λ２に対する測定格子面のブラッグ
角 φ1,φ2:X線入射角 ψ1,ψ2:回折Ｘ線出射角 上記のメッキ被膜の質量吸収係数は次式で表わされる。
する回折Ｘ線強度 μ（λ１），μ（λ２）：波長λ1,λ２のＸ線に対する
メッキ被膜の質量吸収係数 ρ：メッキ被膜の密度 t:メッキ被膜の厚み（ρｔが付着量） θ1B,θ2B:波長λ1,λ２に対する測定格子面のブラッグ
角 φ1,φ2:X線入射角 ψ1,ψ2:回折Ｘ線出射角 上記のメッキ被膜の質量吸収係数は次式で表わされる。
μ（λ１）＝WFeμFe（λ１）＋（１−WFe）μZn
（λ１） （３） μ（λ２）＝WFeμFe（λ２）＋（１−WFe）μZn
（λ２） （４） WFe:Feの重量分率 μFe（λ１），μFe（λ２）：波長λ1,λ２のＸ線に対
するFeの質量吸収係数 μZn（λ１），μZn（λ２）：波長λ1,λ２のＸ線に対
するZnの質量吸収係数 また、ブラッグ式が成立するから、 2d sinθ1B＝ｎλ１ （５） 2d sinθ2B＝ｎλ２ （６） d:測定格子面の面間隔 n:1,2,… なお、Ｘ線入射角φ1,φ２と回折Ｘ線出射角ψ1,ψ２の
和はブラッグ角の２倍であるから、 φ１＋ψ１＝２θ1B （７） φ２＋ψ２＝２θ2B （８） となる。
（λ１） （３） μ（λ２）＝WFeμFe（λ２）＋（１−WFe）μZn
（λ２） （４） WFe:Feの重量分率 μFe（λ１），μFe（λ２）：波長λ1,λ２のＸ線に対
するFeの質量吸収係数 μZn（λ１），μZn（λ２）：波長λ1,λ２のＸ線に対
するZnの質量吸収係数 また、ブラッグ式が成立するから、 2d sinθ1B＝ｎλ１ （５） 2d sinθ2B＝ｎλ２ （６） d:測定格子面の面間隔 n:1,2,… なお、Ｘ線入射角φ1,φ２と回折Ｘ線出射角ψ1,ψ２の
和はブラッグ角の２倍であるから、 φ１＋ψ１＝２θ1B （７） φ２＋ψ２＝２θ2B （８） となる。
従来法はI1から付着量ρｔを求める方法であるが、μ
（λ１）がWFeの関数であり、ε１が鋼種、板厚、測定
角（φ1,ψ１）などに依存することを考えると、この方
法はオンラインの測定には適さない。
（λ１）がWFeの関数であり、ε１が鋼種、板厚、測定
角（φ1,ψ１）などに依存することを考えると、この方
法はオンラインの測定には適さない。
次に、φ１＝ψ１＝θ1B、φ２＝ψ２＝θ2BとしてＲ＝
I1/I2をとるとこれは次式で表わされる。
I1/I2をとるとこれは次式で表わされる。
φ１＝ψ１＝θ1B、φ２＝ψ２＝θ2Bとすれば、同一方
位（試料面に平行）の格子面を測定することになり、式
（９）でε１＝ε２とする。すなわち集合組織の影響を
除くことができる。また、式（９）でμFe（λ２）/sin
θ2B−μZn（λ２）/sinθ2B−μFe（λ１）/sinθ1B＋
μZn（λ１）/sinθ1B０となるようにλ1,λ２を選べ
ばＲはWFeの影響つまり組成の影響を受けない。λ1,λ
２が一定ならばＲは付着量ρｔだけの関数となる。そこ
で、Ｒからメッキ付着量を精度よく求めることができ
る。
位（試料面に平行）の格子面を測定することになり、式
（９）でε１＝ε２とする。すなわち集合組織の影響を
除くことができる。また、式（９）でμFe（λ２）/sin
θ2B−μZn（λ２）/sinθ2B−μFe（λ１）/sinθ1B＋
μZn（λ１）/sinθ1B０となるようにλ1,λ２を選べ
ばＲはWFeの影響つまり組成の影響を受けない。λ1,λ
２が一定ならばＲは付着量ρｔだけの関数となる。そこ
で、Ｒからメッキ付着量を精度よく求めることができ
る。
測定角については、測定面をα−Fe｛200｝としλ１＝
2.29Å（CrKα線）、λ２＝1.79Å（CoKα線）とすれば
θ1B＝53.2゜、θ2B＝38.7゜となり、従来法より低角側
の角度を大きくできる。
2.29Å（CrKα線）、λ２＝1.79Å（CoKα線）とすれば
θ1B＝53.2゜、θ2B＝38.7゜となり、従来法より低角側
の角度を大きくできる。
上記の条件下ではI1とＲは次式で表わされる。
I1＝ε1I10exp｛（68.8WFe−225）・２ρｔ・10-4｝
（１′） 式（１′）、（10′）においてρの単位はg/m2であり、
ｔの単位はμｍである。
（１′） 式（１′）、（10′）においてρの単位はg/m2であり、
ｔの単位はμｍである。
ε１＝ε２となるように測定角を選んだときの、I1/ε
１、I10とρｔとの関係を第７図にそしてR/（I10/I20）
とρｔとの関係を第８図にそれぞれ示す。図中、実線は
WFeが0.1の場合をそして点線は0.3の場合をそれぞれ表
わしている。上記の測定角はφ１＝ψ１＝θ1B＝53.2
゜、φ２＝ψ２＝θ2B＝38.7゜である。WFeが0.1から0.
3に変化した検量線のずれは付着量40g/m2付近でI1/ε1
I10の場合3.5g/m2であるのに対しR/（I10/I20）の場合
には1g/m2であり、Ｒの方が小さい。
１、I10とρｔとの関係を第７図にそしてR/（I10/I20）
とρｔとの関係を第８図にそれぞれ示す。図中、実線は
WFeが0.1の場合をそして点線は0.3の場合をそれぞれ表
わしている。上記の測定角はφ１＝ψ１＝θ1B＝53.2
゜、φ２＝ψ２＝θ2B＝38.7゜である。WFeが0.1から0.
3に変化した検量線のずれは付着量40g/m2付近でI1/ε1
I10の場合3.5g/m2であるのに対しR/（I10/I20）の場合
には1g/m2であり、Ｒの方が小さい。
［実施例］ 第１図に示すような装置を用いてFe−Zn合金メッキ鋼板
のメッキ付着量と組成の同時測定を行なった。
のメッキ付着量と組成の同時測定を行なった。
この装置はＸ線管1,2からメッキ鋼板３の表層面に波長
の異なる特性Ｘ線を照射し、表層面から出射された回折
Ｘ線をそれぞれ検出器4,7で検出するものである。各検
出器4,7からの信号はそれぞれ増幅器5,8で増幅し、波高
分析器6,9を経由して信号処理装置10で処理してＲを求
める。４−５−６の系ではI1をそして７−８−９の系で
はI2をそれぞれ測定するようになっている。FeとZnの蛍
光Ｘ線は６又は９のいずれかを多重波高分析器にして測
定を行なうようになっている。多重波高分析器側の系の
検出器にはエネルギー分解能の優れた半導体検出器が好
ましく用いられる。蛍光Ｘ線を測定しない方の系の検出
器の前にはフィルターをおくか、あるいは蛍光Ｘ線を測
定する方の系と同じ構成になっている。
の異なる特性Ｘ線を照射し、表層面から出射された回折
Ｘ線をそれぞれ検出器4,7で検出するものである。各検
出器4,7からの信号はそれぞれ増幅器5,8で増幅し、波高
分析器6,9を経由して信号処理装置10で処理してＲを求
める。４−５−６の系ではI1をそして７−８−９の系で
はI2をそれぞれ測定するようになっている。FeとZnの蛍
光Ｘ線は６又は９のいずれかを多重波高分析器にして測
定を行なうようになっている。多重波高分析器側の系の
検出器にはエネルギー分解能の優れた半導体検出器が好
ましく用いられる。蛍光Ｘ線を測定しない方の系の検出
器の前にはフィルターをおくか、あるいは蛍光Ｘ線を測
定する方の系と同じ構成になっている。
Ｘ線管にはCr管とCo管を用い、下地の測定格子面にはα
−Fe｛200｝を選んだ。
−Fe｛200｝を選んだ。
測定結果を第２〜６図に示す。図中、三角印はメッキ被
膜のFe含有率が13.7〜15.9％のものについての測定結果
を表わしており、四角印は24.6〜26.3％のものについて
の測定結果を表わしている。第２図はCrKα線に対する
α−Fe｛200｝の回折Ｘ線強度（I1）とメッキ被膜の付
着量との関係を示し、第３図はCoKα線に対するα−Fe
｛200｝の回折Ｘ線強度（I2）とメッキ被膜の付着量と
の関係を示している。これらの図に示すように付着量と
I1、付着量とI2の関係はいずれも一つの校正曲線では定
まらない。これは前述の式（１）と式（２）に示すε1,
ε２が試料によって異なるためである。次に、I1/I2で
あるＲと付着量の関係を第４図に示す。同図に示すよう
にＲと付着量との関係は一意的に定まり、Ｒ値から付着
量を求めることができる。
膜のFe含有率が13.7〜15.9％のものについての測定結果
を表わしており、四角印は24.6〜26.3％のものについて
の測定結果を表わしている。第２図はCrKα線に対する
α−Fe｛200｝の回折Ｘ線強度（I1）とメッキ被膜の付
着量との関係を示し、第３図はCoKα線に対するα−Fe
｛200｝の回折Ｘ線強度（I2）とメッキ被膜の付着量と
の関係を示している。これらの図に示すように付着量と
I1、付着量とI2の関係はいずれも一つの校正曲線では定
まらない。これは前述の式（１）と式（２）に示すε1,
ε２が試料によって異なるためである。次に、I1/I2で
あるＲと付着量の関係を第４図に示す。同図に示すよう
にＲと付着量との関係は一意的に定まり、Ｒ値から付着
量を求めることができる。
試料から発生する蛍光Ｘ線のFeKα線の相対強度（Ｉ
FeKαとメッキ被膜の付着量との関係を第５図にそしてZ
nKα線の相対強度（ＩZnKα）とメッキ被膜の付着量と
の関係を第６図にそれぞれ示す。これらの図に示すよう
に、ＩFeKαとＩZnKαはいずれも付着量と組成の関数に
なっており、付着量をＲから求めてそれからFe含有率を
算出する。
FeKαとメッキ被膜の付着量との関係を第５図にそしてZ
nKα線の相対強度（ＩZnKα）とメッキ被膜の付着量と
の関係を第６図にそれぞれ示す。これらの図に示すよう
に、ＩFeKαとＩZnKαはいずれも付着量と組成の関数に
なっており、付着量をＲから求めてそれからFe含有率を
算出する。
［発明の効果］ 本発明の分析方法は測定角を大きくとれることから測定
距離変動の影響を小さくすることができる。また、２種
の波長の回折Ｘ線強度の比を用いることにより下地鋼板
の集合組織、メッキ被膜の組成などの影響を排してメッ
キ被膜の付着量を簡単かつ精度よく求めることができ、
Fe含有率は蛍光Ｘ線強度より求めるのでメッキ方法、メ
ッキ被膜の集合組織などの影響を受けることがない。従
って、本発明の方法により、メッキ鋼板のメッキ被膜の
付着量及び含有率を簡単、迅速かつ高精度で測定するこ
とができる。このような本発明の方法はオンライン分析
に特に適するものである。
距離変動の影響を小さくすることができる。また、２種
の波長の回折Ｘ線強度の比を用いることにより下地鋼板
の集合組織、メッキ被膜の組成などの影響を排してメッ
キ被膜の付着量を簡単かつ精度よく求めることができ、
Fe含有率は蛍光Ｘ線強度より求めるのでメッキ方法、メ
ッキ被膜の集合組織などの影響を受けることがない。従
って、本発明の方法により、メッキ鋼板のメッキ被膜の
付着量及び含有率を簡単、迅速かつ高精度で測定するこ
とができる。このような本発明の方法はオンライン分析
に特に適するものである。
第１図は本発明の分析方法に用いる装置の構成の概要を
示す図である。第２図及び第３図は測定結果を回折Ｘ線
強度（I1），（I2）とメッキ被膜付着量との関係につい
て示す図であり、第４図はその比（I1/I2）とメッキ被
膜付着量との関係を示す図である。第５図及び第６図は
FeKα線の蛍光Ｘ線強度（ＩFeKα）、及びZnKα線の蛍
光Ｘ線強度（ＩZnKα）とメッキ被膜付着量との関係を
それぞれ示す図である。第７図はI1/ε1 I10とメッキ被
膜付着量との関係をそして第８図はR/（I10/I20）とメ
ッキ被膜付着量との関係をそれぞれ２種のFe重量分率の
メッキ被膜について測定した結果を示す図である。 1,2……Ｘ線管、３……メッキ鋼板、4,7……検出器,5,8
……増幅器、6,9……波高分析器、10……信号処理装置
示す図である。第２図及び第３図は測定結果を回折Ｘ線
強度（I1），（I2）とメッキ被膜付着量との関係につい
て示す図であり、第４図はその比（I1/I2）とメッキ被
膜付着量との関係を示す図である。第５図及び第６図は
FeKα線の蛍光Ｘ線強度（ＩFeKα）、及びZnKα線の蛍
光Ｘ線強度（ＩZnKα）とメッキ被膜付着量との関係を
それぞれ示す図である。第７図はI1/ε1 I10とメッキ被
膜付着量との関係をそして第８図はR/（I10/I20）とメ
ッキ被膜付着量との関係をそれぞれ２種のFe重量分率の
メッキ被膜について測定した結果を示す図である。 1,2……Ｘ線管、３……メッキ鋼板、4,7……検出器,5,8
……増幅器、6,9……波高分析器、10……信号処理装置
Claims (1)
- 【請求項１】２種の波長の特性Ｘ線で、メッキ鋼板下地
金属の同一面間隔、同一方位の格子面の回折Ｘ線を測定
する光学系を構成し、二系列に配置した検出器の一つで
発生する蛍光Ｘ線と一方の回折Ｘ線を検出し、検出器の
他方で発生する他方の回折Ｘ線を検出し、検出された両
回折Ｘ線の強度の比を予め求めておいた校正曲線と照合
させてメッキ被膜付着量を求め、さらに該付着量と前記
蛍光Ｘ線の強度から該メッキ被膜の組成を求め、該メッ
キ鋼板のメッキ被膜の付着量と組成とを同時に分析する
ことを特徴とするメッキ鋼板のメッキ被膜の機器分析法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61280780A JPH0726921B2 (ja) | 1986-11-27 | 1986-11-27 | メツキ鋼板の表層皮膜の機器分析法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61280780A JPH0726921B2 (ja) | 1986-11-27 | 1986-11-27 | メツキ鋼板の表層皮膜の機器分析法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63134942A JPS63134942A (ja) | 1988-06-07 |
| JPH0726921B2 true JPH0726921B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=17629851
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61280780A Expired - Lifetime JPH0726921B2 (ja) | 1986-11-27 | 1986-11-27 | メツキ鋼板の表層皮膜の機器分析法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0726921B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9146203B2 (en) | 2010-07-30 | 2015-09-29 | Rigaku Corporation | X-ray stress measuring apparatus |
| EP4019951A1 (en) * | 2020-12-24 | 2022-06-29 | Inel S.A.S | Apparatuses and methods for combined simultaneous analyses of materials |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61100643A (ja) * | 1984-10-23 | 1986-05-19 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 合金メツキ被膜のｘ線分析方法 |
-
1986
- 1986-11-27 JP JP61280780A patent/JPH0726921B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63134942A (ja) | 1988-06-07 |
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