JP2002168811A - X線回折法を用いためっき層中の合金相付着量の測定方法及び装置 - Google Patents

X線回折法を用いためっき層中の合金相付着量の測定方法及び装置

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亨 藤村
Akira Yamamoto
山本  公
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】鋼板の振動によりX線の回折位置と検出系との
距離が変動するような場合に、めっき層中の合金相の付
着量を精度よく測定する測定装置および方法の提供。 【解決手段】多層膜ミラー12により平行化されたX線
を、鋼板表面のめっき層に照射して、該めっき層に含ま
れる合金相から発生する回折X線を測定することによ
り、鋼板上のめっき層中の合金相の付着量を測定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、めっき鋼板の製造
時に、めっき層中の合金相をX線回折手法を用いて測定
する装置および方法に関する。
【0002】
【従来の技術】合金相を含むめっきの品質特性(加工時
の耐剥離性、耐食性等)はめっき層中の各合金相の付着
量に依存して著しく変動する。従って、高品質のめっき
製品を製造するためには、各相の付着量を正確に測定
し、熱処理条件等の製造条件を管理することが重要であ
る。合金相を含むめっき層を有するめっき製品の代表例
として、めっき層中に複数種類のFe−Zn合金相を有
する合金化溶融亜鉛めっき鋼板がある。合金化溶融亜鉛
めっき鋼板は、耐剥離性、溶接性、塗装後の耐食性およ
び塗膜密着性等の品質特性を向上させる目的で、溶融亜
鉛めっき鋼板に加熱処理を施し、めっき層中にFe−Z
n合金相を積極的に成長させて製造される。鋼板上のめ
っき層は、Fe−Zn合金相のうちδ1 相を主体とした
ものとなるが、加熱処理の過不足によりΓ相、ζ相が少
量存在する。そして、合金化溶融亜鉛めっき鋼板の品質
特性は、めっき層中のΓ相およびζ相の付着量に著しく
影響を受ける。従って、高品質の合金化溶融亜鉛めっき
鋼板を製造するためには、加熱処理条件、例えば加熱温
度または加熱時間を制御して、常に適正なΓ相、ζ相の
付着量に管理することが重要である。
【0003】合金化溶融亜鉛めっき鋼板のめっき層に含
まれる金属相の付着量を比較的精度よく測定することが
可能な方法として、これまでに例えば特開平9−334
55号公報に開示されている方法がある。この方法は、
めっき層にX線を照射し、Fe−Zn合金相からの回折
X線強度測定値と、予め求めておいたΓ相、ζ相の付着
量既知の合金化溶融亜鉛めっき鋼板の回折X線強度測定
値と、回折X線の理論強度式とを用い、合金化溶融亜鉛
めっき鋼板のΓ相、ζ相の付着量を求め、合金化度を算
出するものである。しかし、得られる回折X線強度が少
なければ、測定精度が悪くなるという問題を有する。ま
た、鋼板のオンライン表面処理工程時の測定のような、
走行する鋼板のオンライン測定では、鋼板の振動の影響
により精度の良い測定ができないという問題がある。す
なわち、ライン上を流れる鋼板の振動により、X線の回
折位置と検出系との距離が変動し、これが回折X線強度
に影響を与える。そのため、Γ相、ζ相のような付着量
が少量である合金相では、その付着量を評価することが
困難であった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、前記従来技
術の問題点に鑑み、めっき層中の合金相の付着量の測定
時に、走行する鋼板のオンライン測定のように、鋼板の
振動によってX線の回折位置と検出系との距離が変動す
るような場合にも、合金相の付着量を精度よく測定でき
る測定装置および方法を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者は、鋼板の振動
により回折位置と検出系との距離が変動するような場合
にも、鋼板上のめっき層に含まれる合金相の付着量を精
度の良く測定できる測定装置および方法を種々検討し、
本装置の開発および本方法を発明するに至った。その要
旨構成は次のとおりである。 (1)X線ビームを照射するX線源と、放射されたX線
を圧縮化、単色化および平行化する多層膜ミラーと、平
行X線の一部を通過させるスリットとを有するX線照射
手段、および、該X線を照射される鋼板表面のめっき層
中の被測定物質から発生する回折X線を検出するX線検
出手段を備えるX線回折法を用いた鋼板上のめっき層中
の合金相の付着量の測定装置。 (2)多層膜ミラーを用いて平行化されたX線を鋼板表
面のめっき層中の被測定物質に照射して、被測定物質か
ら発生する回折X線を検出するX線回折法を用いた鋼板
上のめっき層中の合金相の付着量の測定方法。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、本発明について詳細に説明
する。本発明者らは、鋼板の振動により回折位置と検出
系との距離が変動するような場合にも、鋼板上のめっき
層に含まれる合金相の付着量を精度の良く測定できる測
定装置および方法を種々検討し、平行化されたX線を鋼
板上のめっき層に照射し、めっき層中に含まれる被測定
物質からの回折X線を測定することにより上記従来技術
の問題点を解決できることを確認した。
【0007】本発明の第1の態様は、X線回折法を用い
た鋼板上のめっき層中の合金相の付着量の測定装置であ
る。本発明の第1の態様の測定装置は、鋼板上のめっき
層中の合金相の付着量の測定装置は、X線ビームを照射
するX線源、放射されたX線を圧縮化、単色化および平
行化する手段、具体的には放射されたX線を圧縮化、単
色化および平行化する多層膜ミラー[例えば、X線分析
の進歩、31(2000)11−27]と、平行X線の
一部を通過させるスリットとを有するX線照射手段、お
よび、該X線を照射される鋼板表面のめっき層中の被測
定物質から発生する回折X線を検出するX線検出手段を
備える。
【0008】本発明の第1の態様の測定装置において、
X線源とはX線ビームを発生するX線発生装置である。
本発明の第1の態様の測定装置に使用することができる
X線発生装置は、封入型X線管球または回転対陰極であ
る。いずれもフィラメントと金属の対陰極の間に数十k
Vの高電圧をかけた状態で、フィラメントに電流を流す
ことにより発生した熱電子が高電圧により加速され、金
属ターゲットに衝突することでX線を発生させる。ター
ゲットは、X線の試料による吸収や測定精度を考慮して
選択され、Cu、Cr、Fe、Co、Mo等が使用され
る。本発明の第1の態様の測定装置では、鉄系試料の測
定に適したCr、Fe、Coが好ましく、CrがSN比
が優れることから特に好ましい。
【0009】本発明の第1の態様の測定装置において、
多層膜ミラーとは、重元素と軽元素を交互に周期的に積
層しブラッグ反射を起こさせるもので、放射X線を圧縮
化、単色化および平行化することができるものをいう。
本発明の第1の態様の測定装置では、X線源で発生した
X線ビームは多層膜ミラーに入射することにより圧縮
化、単色化および平行化される。本発明の第1の態様の
測定装置では、上記によりX線ビームが平行化されてお
り、その結果、鋼板表面のめっき層に含まれる物質への
X線ビームの照射によって生じる回折X線も平行化され
ているため、鋼板の振動によりX線の回折位置と検出系
との距離が変動するような場合でも、検出される回折X
線の強度が安定しており、めっきの付着量の測定精度が
向上する。多層膜ミラーはまた、X線を単色化し、それ
により回折ピークの分解能を向上させる効果を有する。
さらに、多層膜ミラーは従来スリットでカットしていた
X線成分も照射するため、回折X線の強度が向上する。
これら分解能の向上および回折強度の向上は、めっき付
着量の測定精度の向上に寄与する。多層膜ミラーによ
り、平行化され、単色化され、圧縮化されたX線ビーム
は、物質表面に照射され、回折X線を生じる。該回折線
は、スリット(ソーラスリットと散乱スリット)を介し
て、デバイ環上に配置されたX線検出器で検出・測定さ
れる。
【0010】本発明の第1の態様の測定装置において、
スリットは該X線源で発生するX線ビームの発散を防止
するものであり、X線ビームの縦方向の発散を抑制する
ためのソーラスリットと、試料への水平面内の発散角を
制限するための発散スリットが挙げられ、両者を有する
ものが好ましい。
【0011】本発明の第1の態様の測定装置に使用する
ことができるX線検出器としては、シンチレーションカ
ウンター、プロポーショナルカウンター、半導体検出器
があり、これらのうち最も一般的なのがシンチレーショ
ンカウンターである。本発明の測定装置では、使用する
X線検出器の数は特に限定されない。例えば、複数の相
を測定対象とする場合、対象とする相に応じた数のX線
検出器を用いても良い。
【0012】本発明の第1の態様の測定装置は、好まし
くは該X線検出器で検出された回折強度データを積算す
るデータ処理装置を有する。この場合、回折強度が小さ
い微量の合金相の回折X線を積算して、高めることがで
きるので、微量の合金相、 例えば、合金化溶融亜鉛めっ
き鋼板のめっき層中Γ相、ζ相等の付着量を測定する場
合に有利となる。なお、該データ処理装置は、前記のよ
うに複数のX線検出器を用いる場合に、複数のX線検出
器のデータを処理することもできる。
【0013】本発明の第2の態様は、X線回折法を用い
た、鋼板上のめっき層中の合金相の付着量の測定方法で
ある。本発明の第2の態様の測定方法は、多層膜ミラー
により平行化されたX線を鋼板表面のめっき層中の被測
定物質に照射し、被測定物質からの発生する回折X線を
検出することにより鋼板上のめっき層中の合金相の付着
量を測定する。本発明の第2の態様の測定方法は、平行
化されたX線をめっき層に照射するので、集中法にある
ような回折強度を得るための幾何学的制限が大きく緩和
される。すなわち、走行する鋼板の振動によりX線の回
折位置と検出系の距離が変動する場合でも回折X線の強
度が安定化するのでめっき層に含まれる合金相の付着量
を精度よく測定できる。これは、合金化溶融亜鉛めっき
のオンライン表面処理工程中に行う同めっきの合金相の
付着量のオンライン測定に好適である。すなわち、わず
かな付着量の変動がめっき層の品質特性に著しく影響を
与えるめっき層中のΓ相、ζ相について、付着量測定を
オンラインで精度良く測定できることにより、該測定結
果を表面処理工程にフィードバックし、めっき層に含ま
れる合金相の付着量を最適範囲で製造することができ
る。
【0014】
【実施例】以下、図面を参照に、本発明の第1の態様の
測定装置を用いた合金化溶融亜鉛めっき鋼板のFe−Z
n合金相の付着量をオンラインで測定する装置を実施例
として、本発明の第1の態様の測定装置をさらに説明す
る。但し、本発明の測定装置はこれに限定されない。
【0015】図1は、本発明の測定装置を用いた合金化
溶融亜鉛めっき鋼板のFe−Zn合金相の付着量のオン
ライン測定装置の概念図である。図1において、11は
X線源、12は多層膜ミラー、13、15はスリット、
14は合金化溶融亜鉛めっき鋼板、16〜20はシンチ
レーションカウンターで、16、20はバックグラウン
ド測定用、17はδ1 相、18はζ相、19はΓ相の測
定用である。21はデータ処理装置である。図1におい
て、X線源11から発生したX線は、多層膜ミラー12
により圧縮化、単色化および平行化され、スリット13
を通り、めっき鋼板14に入射する。回折したX線はシ
ンチレーションカウンター16〜20により、その強度
が測定され、データ処理装置21により、ζ相、δ1
およびΓ相の付着量が精度よく算出される。
【0016】本実施例では、X線源にCr管球を用い、
管電圧40kV、管電流70mAでX線(Kα線)を照
射した。回折強度測定に用いたピークは、ζ相の結晶面
間隔d=1.26Å、δ1 相のd=1.28ÅおよびΓ
相のd=1.22Åである。本実施例では、合金化処理
装置を有する連続溶融亜鉛めっきラインを50〜120
m/minの走行速度で流れる合金化溶融亜鉛めっき鋼
板のFe−Zn合金相の付着量を、多層膜ミラー12を
有する本発明の装置(実施例)と多層膜ミラー12を用
いない装置(比較例)により測定した。本実施例では、
合金化溶融亜鉛めっき鋼板のめっき層に含まれる金属相
δ1 相、ζ相およびΓ相のうち、鋼板製品の品質上もっ
とも付着量精度を求められるζ相を測定対象とした。鋼
板製品においてζ相に要求される付着量測定値の±のば
らつき幅(付着量精度)は0.37g/m2 である。こ
こで付着量の測定値は、回折X線のカウント数を標準デ
ータを使ってめっき量に換算した場合の値である。な
お、ここで繰り返し精度とは、下記式(1)によって示
されるものである。
【式1】 ただし、iはi回目の測定、nは全繰り返し測定回数、
i はi回目の回折X線強度、Xa はn回の回折X線強
度の平均値を示す。また、ζ相の付着量精度はそれぞれ
0.39g/m2 、0.26g/m2 となり、本発明の
方法を用いることにより、測定の繰り返し精度が向上
し、要求される付着量測定精度を達成することが出来る
ことが確認された。
【0017】
【発明の効果】以上述べたように、本発明の測定装置お
よび測定方法は、鋼板の振動によりX線の回折位置と検
出系との距離が変動するような場合にも、めっき層中の
合金相の付着量を精度よく測定することができる。この
特徴により、本発明の測定装置および測定方法は、鋼板
のオンライン表面処理工程中に実施するめっき層中の合
金相の付着量の測定に好適に使用することができ、特
に、めっき層中に微量に含まれるΓ相、ζ相の付着量の
わずかな変動がめっき製品の品質に著しく影響する合金
化溶融亜鉛めっき鋼板の品質安定化に大きく寄与する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の合金化溶融亜鉛めっき鋼板のFe−
Zn合金相のオンラインX線回折測定装置の概念図であ
る。
【符号の説明】
11 X線源 12 多層膜ミラー 13 スリット 14 合金化溶融亜鉛めっき鋼板 15 スリット 16 バックグラウンド測定用シンチレーションカウン
ター 17 δ1 相測定用シンチレーションカウンター 18 ζ相測定用シンチレーションカウンター 19 Γ相測定用シンチレーションカウンター 20 バックグラウンド測定用シンチレーションカウン
ター 21 データ処理装置
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G01B 15/02 G01B 15/02 D Fターム(参考) 2F067 AA27 BB18 DD01 HH04 JJ03 KK09 LL14 NN03 2G001 AA01 BA18 CA01 DA02 DA06 EA01 GA01 GA13 JA04 KA09 LA02 NA10 NA11 NA17 RA08 SA01 4K027 AA02 AA22 AB28 AB42 AE23 AE27

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】X線ビームを照射するX線源と、放射され
    たX線を圧縮化、単色化および平行化する多層膜ミラー
    と、平行X線の一部を通過させるスリットとを有するX
    線照射手段、および、該X線を照射される鋼板表面のめ
    っき層中の被測定物質から発生する回折X線を検出する
    X線検出手段を備えるX線回折法を用いた鋼板上のめっ
    き層中の合金相の付着量の測定装置。
  2. 【請求項2】多層膜ミラーを用いて平行化されたX線を
    鋼板表面のめっき層中の被測定物質に照射して、被測定
    物質から発生する回折X線を検出するX線回折法を用い
    た鋼板上のめっき層中の合金相の付着量の測定方法。
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