KR101572765B1 - 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법 및 측정 장치 - Google Patents

합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법 및 측정 장치 Download PDF

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Abstract

이 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법은, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상에 포함되는 소정의 상의 두께를 측정하는 측정 방법이며, 상기 합금화 용융 아연 도금 강판에 X선을 조사하는 X선 조사 공정과, 상기 X선 조사 공정에서 얻어진 회절 X선 중, 상기 Fe-Zn 합금상에 포함되는 Γ·Γ1상, δ1상 및 ζ상의 각각에 대응하고, 또한 결정 격자면 간격 d가 1.5Å 이상에 상당하는 상기 회절 X선을 검출하는 회절 X선 검출 공정을 갖는다.

Description

합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법 및 측정 장치 {METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING Fe-Zn ALLOY PHASE THICKNESS OF HOT-DIP GALVANIZED STEEL SHEET}
본 발명은, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 합금화 용융 아연 도금 강판의 제조시에 필요한 온라인 측정에도 이용하는 것이 가능한, Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치에 관한 것이다.
본원은, 2012년 04월 25일에 일본에 출원된 일본 특허 출원 제2012-099762호에 기초하여 우선권을 주장하고, 그 내용을 여기에 원용한다.
합금화 용융 아연 도금 강판은, 자동차용 강판으로서 전세계에서 널리 사용되고 있다. 합금화 용융 아연 도금 강판에 요구되는 품질 특성으로서는, 내식성, 도장성, 용접성, 프레스 성형시의 내 파우더링성 및 내 플레이킹성 등이 있다. 합금화 용융 아연 도금 강판의 도금층을 구성하는 Fe-Zn상은, ζ상, δ1상, Γ·Γ1상을 포함하고, 상기 특성 중, 특히 내 파우더링성 및 내 플레이킹성으로 대표되는 프레스 성형성은, ζ상, Γ·Γ1상의 생성량으로 좌우된다. 내 파우더링성은 Γ·Γ1상이 적을수록 양호해지고, 내 플레이킹성은 ζ상이 적을수록 양호해진다. 그로 인해, 양호한 프레스 성형성을 얻기 위해서는, δ1상 주체의 도금층이 요구된다.
도금층을 δ1상 주체로 하기 위해서는, 도금욕 조성(욕중 Al 농도)이나 도금욕의 욕온, 강재의 가열 및 냉각 조건을, 강재 성분에 따라서 최적화할 필요가 있다. 욕중 Al 농도나 욕온은 일정 범위로 유지하는 것이 통상이며, 또한 강재의 합금화 속도에 따라서, 최적이라고 생각되는 가열·냉각 패턴을 정하여 조업한다. 그러나 실제로는, 예를 들어 열연 등의 전공정(도금보다도 앞의 공정)에서의 조업 조건에 따라, 동일한 강종이라도, 나아가서는 동일한 코일 내라도, 부위에 따라 합금화 속도가 바뀌는 경우가 있다. 이로 인해, 그때마다, 작업자가 육안으로 합금화의 정도를 확인하면서, 가열·냉각 조건을 미세 조정하고 있다. 그 결과, 어떠한 합금상이 얻어졌는지, 또한 내 파우더링성 및 내 플레이킹성이 양호하였는지 여부는, 통판(通板) 후에 코일의 대표 부위(통상은 프론트부 및/또는 테일부)를 오프라인에서, 시험 및 분석함으로써 확인하고 있다.
그러나, 이러한 오프라인에서의 시험 및 분석에 의해 도금 품질을 확인하는 방법은, 조업 조건에의 신속한 피드백이 불가능하다. 그로 인해, 예를 들어 강종이 바뀌어 합금화 속도가 변화된 경우, 수율이 떨어지는 것으로 이어질 위험성이 있다. 또한, 예를 들어 열연의 권취 조건 등에 따라서는, 코일의 프론트부가 미들부에 비해 합금화가 느린 케이스도 있고, 이 경우에 합금화 조건을 프론트부에 맞추어 조업하면, 미들부가 과합금으로 되어, 코일의 대부분에서 파우더링이 현재화되는 것과 같은 사태도 상정된다.
이들 문제를 미연에 방지하기 위해서는, 코일 전체 길이에 걸치는 정밀도가 높은 온라인 측정이 유효하다. 이 목적으로 실시되어 있는 기술이, 온라인 X선 회절법이다. X선 회절법은, 결정에 평행성이 좋은 X선을 조사한 경우에 일어나는 회절 현상을 이용하여, 도금층 중의 결정상의 정성·정량 평가를 행하는 방법이다. 이것을 온라인 측정에 이용하는 경우에는, 회절 X선 강도와 결정상 막 두께의 상관이 좋은 회절 X선을 선택할 필요가 있다. 또한, 높은 측정 정밀도를 얻기 위해서는 강도가 큰 회절 X선을 실용적인 회절각 범위로부터 선택할 필요가 있다. 특허문헌 1 및 2에는, 실용적인 회절각(2θ) 범위로서, 2θ＞80°(X선 관구로서 Cr 관구를 사용한 경우, 결정 격자면 간격 : d＜1.78Å)가, 강판의 편차, 강판으로부터의 열적 영향 및 입사 X선 강도 변동의 영향이 작은 범위라고 개시되어 있다. 상기 조건을 만족시키는 결정 격자면 간격으로서 종래부터 다용되고 있는 것은, 예를 들어 특허문헌 2∼5에도 기재된 바와 같이, ζ상은 d＝1.26Å(Cr 관구에서의 2θ＝130°)이고, δ1상은 d＝1.28Å(Cr 관구에서의 2θ＝127°)이고, Γ·Γ1상은 d＝1.22Å(Cr 관구에서의 2θ＝139°)이다.
X선 회절법을 합금상의 온라인 측정에 이용하는 경우의 그 밖의 과제로서, 도금 부착량에 의한 회절 X선 강도 보정과, 도금층 중 Fe％가 변화하는 것에 의한 회절 X선 피크 각도의 변동 보정을 적절하게 행할 필요가 있는 점을 들 수 있다. 또한, 강판 진동의 영향을 경감시키는 것도 중요하다.
도금 부착량의 영향을 보정하는 방법으로서는, 도금 부착량마다 합금상 두께와 회절 X선 강도의 관계 곡선, 즉, 검량선을 구분하여 사용하는 방법이 있다(비특허문헌 1).
한편, 이 방법에 의존하지 않고 단일의 검량선으로 보정하는 방법으로서, 예를 들어 특허문헌 6에, d＝1.22Å에 대응하는 Γ상의 회절 X선 강도 IΓ과, 회절 X선 위치 근방에서의 백그라운드 강도 IB를 측정하여, (IΓ-IB)/IΓ로 정의되는 합금화도를 구하는 방법이 개시되어 있다. 이 방법에서는, 도금 부착량의 영향이 IB에 반영되므로 보정된다고 해석할 수 있다.
특허문헌 5에는, 도금층 중 Fe％(도금층 중의 Fe 농도)가 변화되는 것에 의한 회절 X선 피크 각도의 변동을 보정하는 방법이 개시되어 있다. Fe-Zn 합금상은 모두 Fe％에 범위가 있고, 예를 들어 Γ상에서는 20∼28질량％의 범위이다. 따라서, 합금화의 정도에 따라 결정 격자면 간격은 변화되고, 적절한 회절각 2θ도 이것에 따라서 변화된다. 특허문헌 5는 회절각 2θ의 변화를 포착하기 위해, 2θ로 2∼5°의 범위에서 검출기를 원호상에서 주사(走査)시키는 기술이다. 이 기술을 이용함으로써 검출기를 고정한 경우에 비해, 합금화 조건의 적성 범위를, 보다 정확하게 판단할 수 있다.
특허문헌 7에, 강판 진동에 의한 영향을 경감시키는 기술이 개시되어 있다. 특허문헌 7에서는, 입사 X선 빔을 다층막 미러에 입사시킴으로써 평행화한다. 그 결과, 강판 표면의 도금층에의 입사 X선 빔 조사에 의해 발생하는 회절 X선도 평행화되므로, 강판의 진동에 의해 X선의 회절 위치와 검출계의 거리가 변동되는 경우라도, 검출되는 회절 X선의 강도가 안정된다.
일본 특허 출원 공개 소52-21887호 공보 일본 특허 출원 공개 평5-45305호 공보 일본 특허 출원 공개 평9-33455호 공보 일본 특허 출원 공개 평7-260715호 공보 일본 특허 출원 공개 평4-110644호 공보 일본 특허 출원 공개 평1-301155호 공보 일본 특허 출원 공개 제2002-168811호 공보 일본 특허 출원 공개 평4-42044호 공보 일본 특허 출원 공개 평6-347247호 공보
가와사키 제철 기보, 18(1986)2, p.31
그러나, 종래 기술의 X선 회절법은, 코일 전체 길이에 걸쳐 정밀도가 높은 온라인 측정을 행하여, 결과를 신속하게 조업 조건으로 피드백하여, 과합금이나 미합금을 미연에 방지하기 위해서는, 결코 충분한 것이라고는 할 수 없다. 그 최대의 이유는, 종래 사용되어 온 ζ상, δ1상 및 Γ·Γ1상의 각 상이 나타내는 3개의 회절 X선 피크가, 서로 인접하고 있고, 또한 높고 평탄하지 않은 백그라운드가 있는 영역에 존재하기 때문이다.
이 결과, 예를 들어 특허문헌 8에 있는 바와 같이, 3개의 상을 정량하기 위해서는, 구할 상의 회절 X선 강도와, 양단부의 백그라운드 강도 및 다른 2상의 회절 X선 강도를 회귀식에 넣고 산출해야 한다. 이 경우, 각각의 오차가 겹쳐지므로, 어느 상의 두께도 고정밀도로 구하는 것이 어렵다.
또한, 특허문헌 9에는, 시험재에 회절 효율이 근사한 기준재의 회절 X선 강도 측정 결과와 정전류 전해법에 의한 상 분석 결과에 기초하여, 물리적 근거가 있는 X선의 이론 강도식을 유도하고, 이 식을 이용하여 각 상의 두께를 구하는 방법이 개시되어 있다. 그러나, 하나의 상의 두께를 구하기 위해서는, 다른 상의 두께나 백그라운드 강도뿐만 아니라, 구할 상의 회절 효율이나 질량 흡수 계수 등도 감안해야 해 회귀식은 극히 복잡해진다.
즉, 종래 기술은, 강판의 편차, 강판으로부터의 열적 영향 및 입사 X선 강도 변동의 영향이 작은 범위인 2θ＞80°라고 하는 제약 조건과, 3상(ζ상, δ1상, Γ·Γ1상)의 회절 X선이 인접하고 있는 것에 의한 동시 측정이라고 하는 조건을 중시하고 있다. 그 결과, 각 상의 두께를 고정밀도로 측정한다고 하는 본래 목적을 달성하기 위해서는 극히 불충분하다고 할 수 있다.
본 발명은 상기 문제에 비추어 이루어진 것이다. 즉, 본 발명은 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상의 두께를 고정밀도로 측정하는 것이 가능한, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법 및 측정 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명자들은, 상기한 과제에 대해 2θ가 저각측인 범위에서, 백그라운드 강도가 낮고, 또한 평탄한(수평에 가까운) 것에 착안하여, 예의, 검토를 거듭하였다. 그 결과, 결정 격자면 간격 d가 1.5Å 이상에 상당하는 저각측에, 각 상 단독의 회절 X선 피크가 복수 존재하는 것을 발견하였다. 본 발명자들은, 이들 피크의 정량성에 대해 검토를 거듭한 결과, 정량성이 우수하고 백그라운드 강도가 낮은, 각 상의 단독 피크를 동정하기에 이르렀다. 또한, 본 발명자들은, 이들 단독 피크를 사용함으로써 측정 정밀도의 과제를 해결할 수 있는 것을 발견하였다. 또한, 2상 이상의 동시 측정을 위해서는, 이들 피크를 동시 측정할 수 있도록 2θ를 설정한 후, 가장 정밀도가 요구되는 피크에 대해 입사각과 반사각의 비대칭성을 최대한 저감시키는 것이 유효한 것을 발견하고, 본 발명을 완성하기에 이르렀다.
본 발명은 상기 지식에 기초하여 이루어진 것이며, 그 요지는 이하와 같다.
(1) 즉, 본 발명의 일 형태에 관한 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법은, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상에 포함되는 소정의 상의 두께를 측정하는 측정 방법이며, 상기 합금화 용융 아연 도금 강판에 X선을 조사하는 X선 조사 공정과, 상기 X선 조사 공정에서 얻어진 회절 X선 중, 상기 Fe-Zn 합금상에 포함되는 Γ·Γ1상, δ1상 및 ζ상의 각각에 대응하고, 또한 결정 격자면 간격 d가 1.5Å 이상에 상당하는 상기 회절 X선을 검출하는 회절 X선 검출 공정을 갖는다.
(2) 상기 (1)에 기재된 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법에서는, 상기 회절 X선 검출 공정에 있어서, 상기 결정 격자면 간격 d가 1.914Å에 상당하는 상기 회절 X선의 강도로부터 백그라운드 강도를 뺀 값을 이용하여, 상기 Γ·Γ1상의 상기 두께를 측정해도 된다.
(3) 상기 (1) 또는 (2)에 기재된 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법에서는, 상기 회절 X선 검출 공정에 있어서, 상기 결정 격자면 간격 d가 2.363Å에 상당하는 상기 회절 X선의 강도로부터 백그라운드 강도를 뺀 값을 이용하여, 상기 δ1상의 상기 두께를 측정해도 된다.
(4) 상기 (1)∼(3) 중 어느 한 항에 기재된 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법에서는, 상기 회절 X선 검출 공정에 있어서, 상기 결정 격자면 간격 d가 4.109Å에 상당하는 상기 회절 X선의 강도로부터 백그라운드 강도를 뺀 값을 이용하여, 상기 ζ상의 상기 두께를 측정해도 된다.
(5) 본 발명의 일 형태에 관한 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상에 있어서의 소정의 상의 두께를 측정하는 측정 장치이며, X선 관구와, 상기 Fe-Zn 합금상으로부터의 회절 X선을 검출하고, 상기 회절 X선의 강도를 측정하는 검출기를 갖고, 상기 X선 관구로부터 조사되는 입사 X선의 방향과 상기 검출기가 검출하는 상기 회절 X선의 방향이 이루는 회절각이, 상기 Fe-Zn 합금상에 포함되는 Γ·Γ1상, δ1상 및 ζ상에 각각 대응하는 회절 X선 중, 결정 격자면 간격 d가 1.5Å 이상에 상당하는 상기 회절 X선의 회절각의 범위에 속하는 각도이다.
(6) 상기 (5)에 기재된 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치는, 상기 회절각이, 상기 결정 격자면 간격 d가 1.914Å에 상당하는 상기 회절 X선의 회절각의 범위에 속하는 각도여도 된다.
(7) 상기 (5) 또는 (6)에 기재된 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치는, 상기 회절각이, 상기 결정 격자면 간격 d가 2.363Å에 상당하는 상기 회절 X선의 회절각의 범위에 속하는 각도여도 된다.
(8) 상기 (5)∼(7) 중 어느 한 항에 기재된 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치는, 상기 회절각이, 상기 결정 격자면 간격 d가 4.109Å에 상당하는 상기 회절 X선의 회절각의 범위에 속하는 각도여도 된다.
(9) 상기 (5)∼(8) 중 어느 한 항에 기재된 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치는, 상기 검출기를 2개 이상 갖고, 이들 검출기에 의해, 상기 Γ·Γ1상, 상기 δ1상 또는 상기 ζ상에 각각 대응하는 상기 회절 X선 중 적어도 2개의 상에 상당하는 상기 회절 X선이 검출되어도 된다.
본 발명의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법을 적용함으로써, 번잡한 회귀식을 사용하는 일 없이 Γ·Γ1상, δ1상, ζ상의 각 상의 두께를 고정밀도로 정량할 수 있다. 또한, 본 발명의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치를 적용함으로써, 코일 전체 길이에 걸쳐 정밀도가 높은 온라인 측정을 행할 수 있으므로, 그 결과를 신속하게 조업 조건으로 피드백하여, 과합금이나 미합금을 미연에 방지할 수 있다. 이 결과, 수율 향상이나 품질 보증에 크게 기여할 수 있으므로, 저비용으로 도금 품질이 우수한 합금화 용융 아연 도금 강판을, 수요자에게 안정적으로 공급할 수 있다.
도 1은 X선 관구로서 Cu를 사용한 경우에 있어서의 본 발명에서 측정하는 각 상 회절 X선의 회절각(2θ)의 범위와 각 상 회절 피크 중 적합예를 나타낸 도면이다.
도 2a는 X선 관구로서 Cu를 사용한 경우에 있어서의 Γ·Γ1상의 저각 회절 X선(2θ＝47.47°)의 정량성을 나타내는 도면이다.
도 2b는 X선 관구로서 Cu를 사용한 경우에 있어서의 Γ·Γ1상의 저각 회절 X선(2θ＝13.92°)의 정량성을 나타내는 도면이다.
도 3a는 X선 관구로서 Cu를 사용한 경우에 있어서의 δ1상의 저각 회절 X선(2θ＝16.00°)의 정량성을 나타내는 도면이다.
도 3b는 X선 관구로서 Cu를 사용한 경우에 있어서의 δ1상의 저각 회절 X선(2θ＝38.05°)의 정량성을 나타내는 도면이다.
도 4a는 X선 관구로서 Cu를 사용한 경우에 있어서의 ζ상의 저각 회절 X선(2θ＝21.61°)의 정량성을 나타내는 도면이다.
도 4b는 X선 관구로서 Cu를 사용한 경우에 있어서의 ζ상의 저각 회절 X선(2θ＝24.10°)의 정량성을 나타내는 도면이다.
도 4c는 X선 관구로서 Cu를 사용한 경우에 있어서의 ζ상의 저각 회절 X선(2θ＝32.32°)의 정량성을 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명에 관한 Γ·Γ1상 저각 회절 X선을 측정하는 장치의 구성예를 나타낸 모식도이다.
도 6은 본 발명에 관한 Γ·Γ1상 저각 회절 X선을 측정하는 장치의 구성예를 나타낸 모식도이다.
도 7은 본 발명에 관한 Γ·Γ1상, δ1상, ζ상 저각 회절 X선을 동시 측정하는 장치의 구성예를 나타낸 모식도이다.
도 8a는 종래 기술에서 3상 동시 측정하는 경우의, X선 회절법으로 Fe-Zn 합금상 두께를 구하기 위한 회절 X선 피크와 백그라운드를 취하는 방법을 나타낸 모식도이다.
도 8b는 본 발명에서 Γ·Γ1상을 측정하는 경우의, X선 회절법으로 Fe-Zn 합금상 두께를 구하기 위한 회절 X선 피크와 백그라운드를 취하는 방법을 나타낸 모식도이다.
도 9a는 X선 회절법에 의한 Fe-Zn 합금상 두께의 측정값과 화학 분석에 의한 실측값의 상관을 나타낸 도면으로, Γ·Γ1상의 측정 결과를 나타내는 도면이다.
도 9b는 X선 회절법에 의한 Fe-Zn 합금상 두께의 측정값과 화학 분석에 의한 실측값의 상관을 나타낸 도면으로, ζ상의 측정 결과를 나타내는 도면이다.
도 10a는 X선 회절법에 의한 Fe-Zn 합금상 두께의 측정값과 화학 분석에 의한 실측값의 상관을 나타낸 도면으로, Zn 부착량이 30g/㎡인 위치의 근방의 δ1상의 측정 결과를 나타내는 도면이다.
도 10b는 X선 회절법에 의한 Fe-Zn 합금상 두께의 측정값과 화학 분석에 의한 실측값의 상관을 나타낸 도면으로, Zn 부착량이 45g/㎡인 위치의 근방의 δ1상의 측정 결과를 나타내는 도면이다.
도 11은 실기 CGL(연속 용융 아연 도금 라인)에서, 가열 온도와 라인 속도를 변화시키면서 코일을 통판시켰을 때의, Γ·Γ1상의 온라인 연속 측정 결과이다.
이하에 도면을 참조하면서, 본 발명의 일 실시 형태에 관한 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법(이하, 간단히 본 실시 형태에 관한 측정 방법이라 하는 경우가 있음) 및 본 발명의 일 실시 형태에 관한 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치(이하, 간단히 본 실시 형태에 관한 측정 장치라고 하는 경우가 있음)에 대해 상세하게 설명한다.
본 실시 형태에 관한 측정 방법에 적용하는 X선 회절법에 대해 설명한다. 본 실시 형태에 관한 측정 방법에 적용하는 X선 회절법은, 다결정 시료에 특성 X선을 조사하여, 특정 회절각에서의 반사 강도를 측정하는 것으로, 데바이 셰러(Debye-Scherrer)법으로 분류된다. 또한, 본 실시 형태에 관한 측정 방법에 적용 가능한 X선 회절 장치는, X선 빔을 발생하는 X선 발생 장치, X선 빔의 발산을 제한하는 슬릿, 검출기, 수광 슬릿 및 계수 기록 장치 등에 의해 구성된다.
본 실시 형태에 있어서 사용할 수 있는 X선 발생 장치는, 필라멘트에 전류를 흘림으로써 열전자를 발생시키고, 이 열전자를 수십 kV의 고전압으로 가속하여 금속 타깃에 충돌시킴으로써 X선을 발생시키고, 발생한 X선을, 베릴륨 창을 통해 취출한다. 이러한 X선 발생 장치로서는, 예를 들어 봉입형 X선 관구와, 회전 대음극이 있다. 금속 타깃은, 시료에 의한 X선의 흡수나 측정 정밀도를 고려하여 선택되며, Cu, Cr, Fe, Co, Mo, Ti 등이 사용된다. 이 중에서는, Cu, Cr이 범용성이 우수하므로 특히 바람직하다. 발생하는 X선은, 목적으로 하는 Kα선 외에, Kβ선이나 백색 X선 성분이 포함되므로, 이들 성분을 제거하여 단색화할 필요가 있다. X선 빔의 단색화는, 금속박으로 만들어진 Kβ 필터를 수광 슬릿 앞에 삽입하거나, 또는 모노크로메이터를 사용함으로써 행한다. 나아가서는, 파고 분석기와 조합하거나, X선 콜리메이터에 의한 콜리메이션 시스템을 채용해도 된다.
X선 빔의 발산을 제한하는 슬릿으로서, X선 빔의 종방향의 발산을 억제하기 위한 솔러 슬릿과, 시료에의 수평면 내의 발산각을 제한하기 위한 발산 슬릿으로 이루어지는 것을 사용하는 것이 바람직하다. X선 빔을 물질 표면에 조사함으로써 발생한 회절 X선은, 수광 슬릿을 통해 집광되고, 다시 솔러 슬릿과 산란 슬릿을 통해 X선 검출기에 의해 검출되어, 그 강도가 측정된다.
측정 장치에 사용할 수 있는 X선 검출기로서는, 예를 들어 신틸레이션 카운터, 프로포셔널 카운터, 반도체 검출기 등이 있다. 이 중 가장 일반적인 것이 신틸레이션 카운터이다. 본 발명의 측정 장치에서는, 사용하는 X선 검출기의 수는 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 복수의 상을 측정 대상으로 하는 경우, 대상으로 하는 상과 백그라운드에 따른 수의 X선 검출기를 사용하는 것이 좋다.
다음에, 본 실시 형태에 대해 상세하게 설명한다.
우선, 본 실시 형태에 관한 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법에 있어서 이용하는, 측정해야 할 각 상에 대응하는 회절 X선의 단독 피크에 대해 설명한다. 각 상에 대응하는 회절 X선의 단독 피크는, 결정 격자면 간격을 이용하여 규정할 수 있다. 이들 피크는, 정량성이 우수하고 또한 백그라운드 강도가 낮으므로, 번잡한 회귀식 등을 사용하는 일 없이 각 상의 두께를 고정밀도로 구할 수 있다.
X선 관구로서, Cr 혹은 Cu를 사용한 경우에 있어서의 회절각(2θ)과 결정 격자면 간격 d의 관계를 표 1에 나타낸다. 본 실시 형태에서는, 어느 합금상에 대해서도, 종래보다도 저각측에서 측정하는 것이 특징이다. 구체적으로는, 본 발명에서는, 결정 격자면 간격 d가 1.5Å 이상에 상당하는 회절각에서 측정한다. 또한 회절각이라 함은, 일반적으로 정의되는 바와 같이, 결정 격자면 간격 d에 대해 Bragg의 회절 조건을 만족시키는 Bragg각 θ의 배각(2θ)이다. 결정 격자면 간격 d가 1.5Å 이상에 상당하는 회절각의 범위에서는, 측정된 X선 회절 스펙트럼에 있어서 백그라운드 강도가 비교적 낮다. 결정 격자면 간격 d의 상한은, 특별히 한정할 필요는 없지만, 실질적으로 6.4Å 이하로 된다고 생각된다. 또한, 결정 격자면 간격 d가 1.5Å 이상에 상당하는 회절각의 범위에서는, 하기 표 1에 나타낸 바와 같이, 착안하는 합금상 각각에 대응하는 회절 X선의 피크(회절 X선 피크)가 복수 존재한다. 하기 표 1에 있어서, 회절각은 소수 둘째자리까지 표기하였지만, 표기한 각 회절각은 각각의 결정 격자면 간격 d로부터의 계산값이며, 실제의 회절 X선의 강도(회절 X선 강도)의 측정에 의해 회절각을 미세 조정해도 된다. 즉, 본 실시 형태에 있어서, 회절각(2θ)이 결정 격자면 간격 d에 상당한다고 하는 것은, 회절각이 표 1에 기재된 회절각(2θ) 및 기재의 회절각을 ±0.5° 이내로 미세 조정한 범위가 포함되는 것을 의미한다. 또한, 하기하는 표 1중에, 이들 회절각에서 측정한 각 합금상의 회절 X선 강도와 메인 피크의 회절 X선 강도의 상관 계수를 나타냈다. 이 상관 계수에 대해서는, 도 2a, 도 2b, 도 3a, 도 3b, 도 4a, 도 4b, 도 4c를 참조하여, 상세하게 설명한다. 또한, 메인 피크라 함은, 각 합금상의 회절 X선 피크의 그 중 강도가 최대인 것을 말한다.
Figure 112014001449917-pct00001
또한, 각종 X선원에 대해, 표 1의 번호 7에 상당하는 결정 격자면 간격 d의 회절선을 얻기 위한 회절각 2θ를 표 2에 나타낸다.
표 2에 따르면, 범용되고 있는 Cr, Cu 이외의 X선원이라도, 본 실시 형태에 관한 측정 방법에 적용이 가능한 것을 알 수 있다. 특히, 회절각 2θ가 클수록 장치 구성이 콤팩트해지는 것을 고려하면, Cu보다도 2θ가 큰 X선원이 유리하다.
Figure 112014001449917-pct00002
도 1에, 본 실시 형태에 관한 측정 방법에서 사용하는 각 상의 회절 X선의 회절각(2θ)의 범위와 각 상 회절 X선 피크 중 적합예를, 종래 기술의 측정 범위와 비교하여 나타낸다. 도 1은 X선 관구에 Cu를 사용한 예이다. 종래 기술에서는, Fe-Zn 합금상의 두께를 측정하기 위해, 높고 평탄하지 않은 백그라운드가 있는 영역에 존재하는 3개의 근접하는 피크를 측정해 왔다. 이에 대해 본 실시 형태에서는, 도 1에 나타낸 바와 같이, 결정 격자면 간격 d가 1.5Å 이상에 상당하는 저각측에 위치하는 백그라운드 강도가 낮은 각 상의 단독 피크를 측정한다.
도 1에는, (1)∼(8)의 8개의 측정 결과가 동시에 나타내어져 있다. 이 중, 측정 결과 (1)은 Γ·Γ1상, δ1상 및 ζ상이 3상 모두 존재하는 합금화 용융 아연 도금의 측정 결과이다. 한편, (2)∼(8)은 (1)에서 나타낸 측정 시료를 순차, 정전위 전해법으로 전해 박리해 갔을 때의 합금화 용융 아연 도금의 측정 결과이다. 포화 칼로멜 전극에 대한 전해 전위는 각각, (2)가 -1075mV, (3)이 -1050mV, (4)가 -1040mV, (5)가 -1020mV, (6)이 -1000mV, (7)이 -980mV, (8)이 -940mV이다. 각 측정 결과 (1)∼(8)에 있어서의 회절 X선 피크의 강도 추이로부터 명백한 바와 같이, 전해 전위가 높아짐에 따라, 우선 ζ상, 다음에 δ1상이 소실된다. (8)에서는 Γ·Γ1상만이 잔존하고 있는 것을 알 수 있다. 이들 조성이 다른 시료 중 어느 쪽에 있어서도, 각 상 회절 X선 피크 중 적합예로서 나타낸 3개의 회절 X선 피크(ζ상 : 21.61°, δ1상 : 38.05°, Γ·Γ1상 : 47.47°)는, 다른 상의 피크나 백그라운드의 영향을 받지 않고, 단독 피크로서 동정할 수 있는 것이 특징이다. 그 상이 존재하지 않을 때에는, 그 상에 대응하는 회절 X선의 검출 각도에 있어서, 착안하는 상에 기인하는 피크가 없다.
다음에, 상기한 각 상에 대응하는 회절 X선 피크의 정량성에 대해 설명한다. 저각측에 있는 각 상의 단독 피크는, 상기한 피크 이외에도 존재한다. 저각측에 있는 각 상의 단독 피크를 나타낸 것이, 상기 표 1의 1∼15이다. 표 1에서는, 각 피크의 정량성을 메인 피크와의 상관 계수를 이용하여 나타내고 있다. 이 피크의 정량성에 대해, 도 2a∼도 4b를 참조하여 구체적으로 설명한다. 도 2a∼도 4b는, 3상(ζ상, δ1상 및 Γ·Γ1상)의 두께가 다른 복수의 합금화 용융 아연 도금 강판을, X선 관구에 Cu를 사용하여 회절 X선 강도를 측정하여 얻어진 데이터를 이용하여, 저각측 피크의 강도와 주 피크(메인 피크) 강도의 상관을 조사한 것이다. 도 2a는, 2θ＝47.47°의 피크와 Γ·Γ1상의 주 피크(메인 피크)의 상관을 나타낸 도면이고, 도 2b는 2θ＝13.92°의 피크와 Γ·Γ1상의 주 피크(메인 피크)의 상관을 나타낸 도면이다. 양자의 상관이 높을수록, 저각측 피크의 정량성이 좋은 것을 나타낸다. 도 2a, 도 2b로부터 상관 계수를 구한 결과, 도 2a는 상관 계수가 0.94, 도 2b는 상관 계수가 0.71이었다.
마찬가지로, 도 3a는, 2θ＝16.00°의 피크와 δ1상의 주 피크의 상관을 나타낸 도면이고, 도 3b는, 2θ＝38.05°의 피크와 δ1상의 주 피크의 상관을 나타낸 도면이다. 또한, 도 4a는, 2θ＝21.61°의 피크와 ζ상의 주 피크의 상관을 나타낸 도면이고, 도 4b는, 2θ＝24.10°의 피크와 ζ상의 주 피크의 상관을 나타낸 도면이고, 도 4c는, 2θ＝32.32°의 피크와 ζ상의 주 피크의 상관을 나타낸 도면이다. 상관 계수(R2)는 각 도면 중 및 표 1에 나타내는 바와 같다. 이상을 비교하면, 각 상 회절 X선 피크 중 메인 피크와의 상관 계수가 높고, 정밀도가 우수한 적합한 피크는, 도 1에 나타내는 3개의 피크인 것을 알 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서 이용 가능한 각 상의 회절 X선 피크의 조합은, 도 1에 나타낸 3개의 적합한 피크에 한정되지 않는다. 예를 들어, 표 1에 나타낸 각 상의 회절 X선 피크 중으로부터, 측정 상황 등에 따라서, 적절히 조합하여 이용할 수 있다. 이때, 이용하는 각 상의 회절 X선 피크를 선택하는 데 있어서는, 표 1에 나타낸 상관 계수가 보다 큰 값으로 되어 있는 것을 선택하는 것이 바람직하다.
이하에서는, 본 실시 형태에 관한 측정 장치, 즉, 상기한 각 상에 대응하는 적합한 회절 X선 피크의 측정을 행하기 위한 온라인 측정 장치에 대해, 도 5∼도 7을 참조하면서 설명한다.
우선, 온라인 측정 장치의 대표예로서, Fe-Zn 합금상 중 Γ·Γ1상의 두께를 측정하는 장치의 구체적 구성을, 도 5 및 도 6으로 설명한다.
도 5는 X선 관구(1)로서 Cr을 사용한 경우에 있어서의, Γ·Γ1상 두께의 온라인 측정 장치의 모식도이다. 도 5에서는, 슬릿이나 계수 기록 장치 등에 관한 도시는 생략하고 있다. 이 측정 장치에서는, 브래그 조건을 만족시키기 위해, X선의 입사각은 θ(36.75°)로 설정되어 있다. X선 관구(1)로부터 강대(6)에 X선이 조사되면, 다른 회절각을 갖는 복수의 회절 X선이 발생한다. 이 중, 검출기(2)에서는, Γ·Γ1상의 결정 격자면 간격 d＝1.914Å에 상당하는 회절 X선의 강도가 측정된다. 검출기(3) 및 검출기(4)에서는, 각각, 고각측의 백그라운드 강도 및 저각측의 백그라운드 강도가 측정된다. 백그라운드의 측정각은, X선 회절 도형을 바탕으로 검출기(2)에서 검출되는 d＝1.914Å에 상당하는 회절 X선의 근방에서 적절하게 결정할 수 있어, 예를 들어 0.5∼15°정도, 착안하는 회절 X선으로부터 이격된 측정각을 채용할 수 있다. 실용상은, 온라인 측정에 앞서, 오프라인에서 적절한 백그라운드의 측정각을 구하는 것이 바람직하다. 착안하고 있는 회절 X선 피크는, 백그라운드가 비교적 평탄하므로, 검출기(3) 및 검출기(4) 중 어느 한쪽을 생략해도 상관없다. 또한, 회절 X선과 백그라운드의 각도차가 5°이하인 경우에는, 검출기(3)나 검출기(4)를 배치하는 것이 물리적으로 곤란하므로, 회절 X선용 검출기(2)를 사용하여, 회절각의 근방에서 소정의 각도만큼 주사시킴으로써, 백그라운드를 구해도 된다.
상술한 회절 X선 강도를 사용함으로써 Γ·Γ1상의 상 두께를 측정할 수 있다. 상 두께의 측정 방법으로서는, 예를 들어, 상기 회절 X선 강도로부터 백그라운드 강도를 뺀 값을, 실시예 1에 예시한 것과 같은 방법으로 작성한 검량선에 기초하여, 상 두께로 변환할 수 있다.
도 6은 X선 관구(11)로서 Cu를 사용한 경우에 있어서의, Γ·Γ1상 두께의 온라인 측정 장치의 모식도이다. 도 6에서는, 슬릿이나 계수 기록 장치 등에 관한 도시는 생략하고 있다. 이 측정 장치에서는, 브래그 조건을 만족시키기 위해, 입사각은 θ(23.74°)로 설정되어 있다. 검출기(12)에서 Γ·Γ1상의 d＝1.914Å에 상당하는 회절 X선의 강도가 측정된다. 이 회절 X선 강도를 사용함으로써 Γ·Γ1상의 상 두께를 측정할 수 있다. 검출기(13) 및 검출기(14)에서는, 각각, 고각측의 백그라운드 강도 및 저각측의 백그라운드 강도가 측정된다. 백그라운드의 측정각은, X선 회절 도형을 바탕으로 검출기(12)에서 검출되는 d＝1.914Å에 상당하는 회절 X선의 근방에서 적절하게 결정할 수 있어, 예를 들어 0.5∼15°정도, 착안하는 회절 X선으로부터 이격된 측정각을 채용할 수 있다. 실용상은, 온라인 측정에 앞서, 오프라인에서 적절한 백그라운드의 측정각을 구하는 것이 바람직하다. 착안하고 있는 회절 X선 피크는, 백그라운드가 비교적 평탄하므로, 검출기(13) 및 검출기(14) 중 어느 한쪽을 생략해도 상관없다. 또한, 회절 X선과 백그라운드의 각도차가 5°이하인 경우에는, 검출기(13)나 검출기(14)를 배치하는 것이 물리적으로 곤란하므로, 회절 X선용 검출기(12)를 사용하여, 회절각의 근방에서 소정의 각도만큼 주사시킴으로써, 백그라운드를 구해도 된다.
δ1상 두께를 온라인 측정하는 장치 및 ζ상 두께를 온라인 측정하는 장치에 대해서도, 도 5나 도 6에 나타낸 Γ·Γ1상 두께를 온라인 측정하는 장치와 마찬가지로 구성하는 것이 가능하다. 즉, 상기 표 1에 나타낸 회절각 2θ에 기초하여 입사각 θ를 설정하고, 착안하는 상의 결정 격자면 간격 d의 회절선을 검출기에 의해 검출하면 된다.
도 7은 Fe-Zn 합금상에 포함되는 Γ·Γ1상, δ1상, ζ상의 3상 중 2상 또는 3상의 회절 X선을 동시에 측정하기 위한 온라인 측정 장치의 구성을 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 7에서는, 이러한 온라인 측정 장치의 대표예로서, 3상을 동시 측정하는 구성을 구체예를 들어 설명한다. 도 7은 X선 관구(21)로서 Cr을 사용한 경우의 3상의 두께를 동시 측정하는 온라인 측정 장치의 모식도이다. 도 7에서는, 슬릿이나 계수 기록 장치 등에 관한 도시는 생략하고 있다. 검출기(22)에서 Γ·Γ1상의 d＝1.914Å에 상당하는 회절 X선을 검출하고, 검출기(23)에서 δ1상의 d＝2.363Å에 상당하는 회절 X선을 검출하고, 검출기(24)에서 ζ상의 d＝4.109Å에 상당하는 회절 X선을 검출한다. 이들 회절 X선을 사용함으로써 Γ·Γ1상, δ1상, ζ상의 상 두께를 측정할 수 있다. 또한, 검출기(25)에서는 Γ·Γ1상의 고각측 백그라운드 강도를 측정하고, 검출기(26)에서는 δ1상의 고각측 백그라운드 강도를 측정하고, 검출기(27)에서는 ζ상의 고각측 백그라운드 강도를 측정한다. 실용상은, 온라인 측정에 앞서, 오프라인에서 적절한 백그라운드의 측정각을 구하는 것이 바람직하다. 또한, 도 7에 나타낸 예에서는, 각 회절 X선의 고각측 백그라운드 강도만을 측정하고 있지만, 그 대신에 저각측 백그라운드 강도만을 측정해도 되고, 또한 저각측, 고각측의 양쪽의 백그라운드 강도를 측정해도 된다. 또한, 회절 X선과 백그라운드의 각도차가 5°이하인 경우에는, 검출기(25, 26)나 검출기(27)를 배치하는 것이 물리적으로 곤란하므로, 회절선용 검출기(22, 23, 24)를 사용하여, 회절각의 근방에서 소정의 각도만큼 주사시킴으로써, 백그라운드를 구해도 된다.
본 실시 형태에 관한 측정 장치에서는, 상기한 바와 같이 3상의 회절각이 서로 이격되어 있으므로, 모든 상에 대해 동시에 브래그 조건을 만족시킬 수 없다. 브래그 조건을 만족시키지 않아도, 상의 두께의 측정은 가능하지만, 브래그 조건을 만족시킴으로써, 측정 정밀도가 증가한다. 그로 인해, 측정 목적에 따라서, 가장 측정 정밀도를 높이고자 하는 회절 X선이 브래그 조건을 만족시키도록 입사각을 정하는 것이 바람직하다. 도 7에서는, 입사각은 16.00°로 설정되어 있다. 이것은, 미합금을 방지하는 것을 주 목적으로 하여, ζ상의 측정 정밀도를 중시하였기 때문이다. 한편, 과합금을 방지할 목적으로 Γ·Γ1상의 측정 정밀도를 중시하는 경우에는, 입사각은 36.75°로 설정하는 것이 바람직하다. 그러나, 이 입사각에서는 ζ상의 검출기를 헤드 내에 배치하는 것이 곤란해지므로, Γ·Γ1상과 δ1상의 2상 동시 측정으로 하는 것이 바람직하다. 이 경우, ζ상의 두께는, 별도 측정한 Zn 부착량 두께로부터, Γ·Γ1상과 δ1상의 두께를 뺌으로써 구할 수 있다. 혹은, 상기한 바와 같은 ζ상 두께를 측정하기 위한 온라인 측정 장치를 병용하면 된다. ζ상의 유무의 판정만으로 좋다면, 후술하는 바와 같이 도 8b에 나타낸 서브 피크(숄더 피크)를 활용하는 방법도 있다.
도 5∼도 7에 나타낸 바와 같은 온라인 측정 장치에 의해 측정한 측정 결과에 대해, 도금 부착량의 영향을 보정하기 위해서는, 도금 부착량마다 합금상 두께와 회절 X선 강도의 관계 곡선인 검량선을 구분하여 사용하는 것이 바람직하다. 현재, 자동차용 강판에 사용되는 합금화 용융 아연 도금 강판의 도금 부착량은, 주로 45g/㎡ 전후이지만, 일부, 30g/㎡ 전후의 것도 실용화되어 있다. 이들에 대해서는, 각각의 검량선을 사용하는 것이 바람직하다. 보다 두꺼운 부착량의 도금, 예를 들어 60g/㎡ 전후의 것을 제조하는 경우에는, 도금 부착량에 맞는 검량선을 사용하는 것이 바람직하다.
도 5∼도 7에 나타낸 바와 같은 온라인 측정 장치에 의해 측정한 측정 결과에 대해, 도금층 중 Fe％가 변화되는 것에 의한 회절 X선 피크 각도의 변동을 보정하는 방법으로서, 특허문헌 5에 기재된 방법을 적용해도 된다. 또한, 강판 진동에 의한 영향을 경감시키는 기술로서, 특허문헌 7에 기재된 방법을 적용해도 된다.
상기 설명에서는, 도 5∼도 7에 나타낸 바와 같은 장치를 사용하여 Fe-Zn 합금상의 두께를 온라인 측정하는 경우에 대해 설명하였지만, 도 5∼도 7에 나타낸 바와 같은 장치는, 온라인 측정뿐만 아니라, 오프라인에서의 측정에도 이용 가능하다.
또한, 상기 설명에서는, 적합한 3개의 회절 X선 피크를 이용하는 경우에 있어서의 장치에 대해 설명하였지만, 표 1에 나타낸 다른 회절 X선 피크를 이용하는 경우에는, 이용하는 회절 X선 피크의 회절각에 따라서, X선의 입사각 θ를 설정하면 된다.
현재, 합금화 용융 아연 도금 강판의 제조 기술 및 도금 품질은, 특허문헌 1∼9가 출원된 시기에 비교하여 현저히 진보되어, 안정화되어 있다. 예를 들어, Zn 부착량의, 목표값에 대한 편차는 크게 저감되어 있다. 또한, 도금층 중 Fe％도, 목표값인 10％에 대해 편차가 크게 발생하는 일은 없고, 도금층은 대체로 δ1상 주체의 구성으로 되어 있다. 이것에 따라, 수요자의 도금 품질에 대한 요구는 오히려 엄격해져, 파우더링이나 플레이킹은 경미한 것이라도 허용되지 않는 상황에 있다. 이러한 상황하에 있어서, 본 실시 형태에 관한 측정 방법에서는, Γ·Γ1상 생성량의 근소한 차이, 혹은 근소하게 남은 ζ상을 고정밀도로 검출하는 것이 가능하다. 따라서 본 실시 형태에 관한 측정 방법은, 종래 기술에 보여지는, Zn 부착량이나 도금 상 구성이 크게 변화된 경우라도 각 상의 두께나 합금화도를 구할 수 있도록 복잡한 회귀식을 사용하여 데이터 처리하는, 만능형이지만 정밀도가 낮은 측정 방법은 아니다. 즉, 본 실시 형태에 관한 측정 방법은, 현실적으로 생산되는 범위 내에서의 근소한 차이를 감도 좋게 검출 가능한, 정밀 측정 시스템을 실현한 측정 방법이다. 또한, 본 실시 형태에 관한 측정 장치는, 현실적으로 생산되는 범위 내에서의 근소한 차이를 감도 좋게 검출 가능한, 정밀 측정 시스템을 실현할 수 있는 측정 장치이다.
실시예
다음에, 실시예를 사용하여 본 발명을 설명한다.
실시예 1에서는 상기한 바와 같은 측정 방법에 대해 설명한다. 실시예 2에서는 상기한 바와 같은 측정 장치를 이용하여 온라인 측정을 행한 경우에 대해 설명한다. 또한, 본 발명은 이하의 예에 한정되는 것은 아니다.
(실시예 1)
강재의 종류, Zn 부착량, 합금화도가 다른 40종류의 합금화 용융 아연 도금 강판 샘플을 준비하였다. 실기 제조재를 중심으로, 일부는 실험실에서 제작하였다. 이하에 샘플의 개요를 나타낸다.
강재의 종류 : Nb-Ti sulc, 340BH, 590DP
Zn 부착량 : 목표값 45g/㎡, 30g/㎡
합금화도 : Fe(％) 7.0∼13.0％
이들 중으로부터 3상의 두께가 다르다고 생각되는 7∼10샘플을 선택하여, 회절 X선 강도와 각 상 두께의 관계를 나타내는 검량선을 작성하였다. 검량선은, 본 발명예에서는 Zn 부착량별로 2종류 작성하고, 종래 기술의 예에서는 Zn 부착량에 상관없이 1종으로 하였다. X선원에는 Cr 관구를 사용하여, 관 전압 40kV, 관 전류 150mA로 X선(Kα선)을 조사하였다. 회절 X선 강도 측정에 사용한 피크는, 본 발명예, 종래 기술 모두, 표 1에 나타낸 것으로부터 적절하게 선택하였다. 여기서, 회절 X선 강도 측정에 이용한 측정 장치는, 공지의 실험실 뱃치식 X선 회절 장치를 이용하였다.
백그라운드는, 도 8a, 도 8b와 같이 설정하였다. 즉, 도 8a에 나타내는 바와 같이, 종래 기술의 예에 있어서는 특허문헌 9에 따라서, 3상의 피크를 포함하는 전 측정 범위의 양단부를 연결하는 직선을 백그라운드 강도로 하였다. 한편, 도 8b에 나타내는 바와 같이, 본 발명예에 있어서는, 각 상 피크의 양단부를 연결하는 직선을 백그라운드 강도로 하였다. 도 8b의 피크 우측에 보여지는 숄더는 ζ상의 서브 피크로, 정량성에는 과제가 있지만, ζ상 유무의 판정에는 사용할 수 있다.
각 상 두께의 실측은, 화학 분석을 이용하여 이하와 같이 행하였다.
(1) ζ상 : η상이 없는 것, ζ상이 존재하는 것을 X선 회절에 의해 확인할 수 있었던 것을 샘플로서 선택하였다. 포화 칼로멜 전극에 대해 -1030mV로 샘플을 정전위 전해한 후, ζ상이 소실된 것을 X선 회절에 의해 확인하였다. 남은 도금의 부착량(g/㎡)을 화학 분석(ICP)에 의해 측정하였다. 이 값과 원래의 도금 부착량(g/㎡)의 차를 ζ상의 부착량(g/㎡)으로 하고, 얻어진 부착량을 ζ상의 비중 7.15로 나눈 값을, ζ상 두께(㎛)로 하였다. 이 값(㎛)과, 정전위 전해 전에 측정한 ζ상의 회절 X선 강도(cps)의 관계를, ζ상의 검량선으로 하였다.
또한, η상이라 함은, 순 Zn상이다.
(2) Γ·Γ1상 : η상 및 ζ상이 없는 것을 X선 회절에 의해 확인할 수 있었던 것을 샘플로서 선택하였다. 포화 칼로멜 전극에 대해 -940mV로 샘플을 정전위 전해한 후, X선 회절에 의해 Γ·Γ1상만이 잔존한 것을 확인하였다. 이 샘플을 단면 매립하고, 경사 연마하여, 주사형 전자 현미경(Scanning Electron Microscope:SEM)에 의해 Γ·Γ1상의 평균 두께(㎛)를 실측하였다. 이 값(㎛)과, 정전위 전해 전에 측정한 Γ·Γ1상의 회절 X선 강도(cps)의 관계를, Γ·Γ1상의 검량선으로 하였다.
(3) δ1상 : η상 및 ζ상이 없는 것을 X선 회절에 의해 확인할 수 있었던 것을 샘플로서 선택하였다. 도금 부착량(g/㎡)으로부터, 상기 (2)에서 나타낸 Γ·Γ1상 두께(㎛)에 Γ·Γ1상의 비중 7.36을 곱한 값(g/㎡)을 감산하고, 얻어진 값을 δ1상의 비중 7.24로 나눈 값을 δ1상 두께(㎛)로 하였다. 이 값(㎛)과, 정전위 전해 전에 측정한 δ1상의 회절 X선 강도(cps)의 관계를, δ1상의 검량선으로 하였다. 또한 검량선은, Zn 부착량 30∼35g/㎡의 샘플과, Zn 부착량 45∼55g/㎡의 샘플로 나누어, 2종류 작성하였다.
다음에, 나머지 샘플을 사용하여, X선 회절법에 의한 Fe-Zn 합금상 두께에 대해, 회절 X선 강도의 측정값(cps)으로부터 상기한 검량선을 이용하여 구한 막 두께(㎛)와 화학 분석 등을 이용하여 구한 막 두께의 실측값(㎛)의 상관을 조사하였다. 회절 X선 강도 측정에 이용하는 측정 장치로서, 공지의 실험실 뱃치식 X선 회절 장치를 이용하였다.
얻어진 결과를, 도 9a 및 도 9b 및 도 10a 및 도 10b에 나타낸다. 도 9a가, Γ·Γ1상에 대한 결과를 나타내고, 도 9b가 ζ상에 대한 결과를 나타내고 있다. 또한, 도 10a, 도 10b는, δ1상에 대한 결과를 나타내고 있다. 또한, 본 발명예에 있어서, 도 10a, 도 10b에서는, 사용한 검량선의 종류가 다르다.
도 9a, 도 9b, 도 10a, 도 10b에 나타낸 어느 경우에 있어서도, 본 발명예는, 종래 기술에 비해, 실측값과의 상관이 양호한 것을 알 수 있다. 특히, δ1상에 대해 보면, Zn 부착량별로 2종류의 검량선을 작성한 본 발명예는, 도 10a, 도 10b 중 어느 쪽에 대해서도 양호한 상관이 얻어져 있다. 한편, Zn 부착량에 상관없이 1종의 검량선만 작성한 종래 기술의 예는, 특히 얇은 부착량측인 도 10a에 있어서, 실측값으로부터의 괴리가 큰 것을 알 수 있다.
(실시예 2)
실기 CGL(연속 용융 아연 도금 라인)에서, 가열 온도와 라인 속도를 변화시키면서 코일을 통판하여, Γ·Γ1상의 두께를 온라인에서 연속 측정하였다. 회절 X선 강도 측정에 이용한 측정 장치는, 도 6에 나타낸 구조를 갖는 장치이다. 측정 대상으로 한 코일은 3개 준비하였다. 첫 번째는, 조업 조건 설정을 위한 더미 코일로 하고, 강종이 다른 두 번째(강종 : 340BH)와 세 번째(강종 : Nb-Ti sulc)를 연속 통판하였을 때의, 조업 조건 변화에 수반되는 Γ·Γ1상의 두께의 변화를, 온라인에서 모니터할 수 있는지 여부를 조사하였다. 도금욕 조성은 Zn-0.138％Al-0.03％Fe, 욕온 및 도금욕 중에의 침입 판 온도는 460℃였다. 측정 결과의 타당성을 평가하기 위해, 온라인 측정을 행한 코일의 프론트부와 테일부로부터 샘플을 채취하여, U 비드법에 의한 도금 밀착성 시험을 행하였다.
결과를, 도 11에 나타낸다. 도 11의 횡축은 시각이며, 시간의 경과와 함께, 코일 ＃1(더미), 코일 ＃2(340BH), 코일 ＃3(Nb-Ti)이 연속적으로 통판되는 것을 나타내고 있다.
상단 2개에, 조업 조건인 CGL의 합금화로에서의 가열 온도와 중앙 라인 속도의 경시 변화를 나타낸다. 도 11로부터 알 수 있는 바와 같이, 더미의 코일 #1로부터 코일 #2(340BH)로 전환할 때에 중앙 라인 속도가 135mpm으로 상승하고 있다. 또한, 코일 #2(340BH)로부터 코일 #3(Nb-Ti sulc)으로 전환할 때에, 가열 온도가 480℃로 낮아지는 동시에, 중앙 라인 속도가 150mpm까지 상승하고 있다.
본 발명의 온라인 연속 측정(도 11 중의 굵은 실선)에서는, 코일의 전환시나 조업 조건의 변경에 연동하여, Γ·Γ1상의 두께가 변화되어 있는 것이 관측된다. 예를 들어, 코일 #2(340BH)로부터 보다 합금화하기 쉬운 코일 #3(Nb-Ti sulc)로 전환할 때에, Γ·Γ1상의 두께가 불연속으로 증가하고, 그 후, 가열 온도를 낮추고, 라인 속도를 증가시킴으로써 Γ·Γ1상의 두께는 연속적으로 감소한 후, 적성값에 수렴되어 있는 것을 알 수 있다. 이에 대해, 종래 기술의 온라인에서 연속 측정에서는, 조업 변화와는 관계없이 Γ·Γ1상의 두께가 변동되어 있다.
도금 밀착성을 평가하기 위한 샘플은, 도 11 중에 △로 나타내는 5개소로부터 채취하였다. 즉, 코일 1의 테일부(#1), 코일 2의 프론트부(#2-1) 및 테일부(#2-2) 및 코일 3의 프론트부(#3-1) 및 테일부(#3-2)이다. 미리 설정되어 있는 조업상의 평가 조건에 기초하여 평가한 결과, #1, #3-1은 불합격, #2-1, #2-2, #3-2는 합격이었다. 이 결과로부터만 출하 판정하면, 코일 #2는 출하 가능하지만, 코일 #3은 코일 도중까지는 출하 불가능하고, 출하에 있어서는 리코일링 라인에서 되감아 소 코일로 분할하면서, U 비드 시험에 의해 출하 가능 범위를 결정해야 한다. 이에 대해, 본 발명의 온라인 연속 측정을 이용하면, 도 11의 하단에 나타낸 바와 같은 연속적인 판정이 가능해지므로, 코일 #3에 있어서의 출하 OK인지 NG인지의 경계 위치를 알 수 있다. 따라서, 적절한 위치에서 코일을 커트하여 즉시 출하할 수 있다. 또한, 본 발명에서는 결과를 신속하게 조업 조건으로 피드백하는 것이 가능하므로, 출하 NG 범위를 최소로 할 수 있다. 그 결과, 수율이 향상된다. 이에 반해, 종래법에는 이러한 기능이 없다. 따라서, 본 발명의 X선 회절 온라인 연속 측정법은, 종래법보다도 대폭 우수하다.
이상, 도면을 참조하면서 본 발명의 적합한 실시 형태에 대해 상세하게 설명하였지만, 본 발명은 이러한 예에 한정되는 것은 아니다. 본 발명이 속하는 기술 분야에 있어서의 통상의 지식을 갖는 자이면, 특허청구범위에 기재된 기술적 사상의 범주 내에서, 각종 변경예 또는 수정예에 상도할 수 있는 것은 명확하고, 이들에 대해서도, 당연히 본 발명의 기술적 범위에 속한다.
본 발명에 따르면, 품질이 안정된 합금화 용융 아연 도금 강판을 저렴하고 또한 안정적으로 공급할 수 있어, 방청성이 우수한 자동차의 보급이 점점 촉진된다. 이것은 자동차의 수명이나 안전성 향상으로 이어지고, 또한 자원 절약의 관점에서 지구 환경의 개선에도 기여한다. 따라서, 산업상의 이용 가치는 극히 크다.
1 : X선 관구(Cr)
2 : 검출기(Γ·Γ1상 피크 검출기)
3 : 검출기(백그라운드 검출기 : 고각측)
4 : 검출기(백그라운드 검출기 : 저각측)
5 : 헤드
6 : 강대
11 : X선 관구(Cu)
12 : 검출기(Γ·Γ1상 피크 검출기)
13 : 검출기(백그라운드 검출기 : 고각측)
14 : 검출기(백그라운드 검출기 : 저각측)
15 : 헤드
16 : 강대
21 : X선 관구(Cr)
22 : 검출기(Γ·Γ1상 피크 검출기)
23 : 검출기(δ1상 피크 검출기)
24 : 검출기(ζ상 피크 검출기)
25 : 검출기(Γ·Γ1상 백그라운드 검출기 : 고각측)
26 : 검출기(δ1상 백그라운드 검출기 : 고각측)
27 : 검출기(ζ상 백그라운드 검출기 : 고각측)
28 : 헤드
29 : 강대

Claims (14)

  1. 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상에 포함되는 소정의 상의 두께를 측정하는 측정 방법이며,
    상기 합금화 용융 아연 도금 강판에 X선을 조사하는 X선 조사 공정과,
    상기 X선 조사 공정에서 얻어진 회절 X선 중, 상기 Fe-Zn 합금상에 포함되는 Γ·Γ1상, δ1상 및 ζ상의 각각에 대응하고, 또한 결정 격자면 간격 d가 1.5Å 이상에 상당하는 상기 회절 X선을 검출하는 회절 X선 검출 공정을 갖는 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 회절 X선 검출 공정에 있어서, 상기 결정 격자면 간격 d가 1.914Å에 상당하는 상기 회절 X선의 강도로부터 백그라운드 강도를 뺀 값을 이용하여, 상기 Γ·Γ1상의 상기 두께를 측정하는 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 회절 X선 검출 공정에 있어서, 상기 결정 격자면 간격 d가 2.363Å에 상당하는 상기 회절 X선의 강도로부터 백그라운드 강도를 뺀 값을 이용하여, 상기 δ1상의 상기 두께를 측정하는 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 회절 X선 검출 공정에 있어서, 상기 결정 격자면 간격 d가 4.109Å에 상당하는 상기 회절 X선의 강도로부터 백그라운드 강도를 뺀 값을 이용하여, 상기 ζ상의 상기 두께를 측정하는 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법.
  5. 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상에 있어서의 소정의 상의 두께를 측정하는 측정 장치이며,
    X선 관구와,
    상기 Fe-Zn 합금상으로부터의 회절 X선을 검출하고, 상기 회절 X선의 강도를 측정하는 검출기를 갖고,
    상기 X선 관구로부터 조사되는 입사 X선의 방향과 상기 검출기가 검출하는 상기 회절 X선의 방향이 이루는 회절각이, 상기 Fe-Zn 합금상에 포함되는 Γ·Γ1상, δ1상 및 ζ상에 각각 대응하는 회절 X선 중, 결정 격자면 간격 d가 1.5Å 이상에 상당하는 상기 회절 X선의 회절각의 범위에 속하는 각도인 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 회절각이, 상기 결정 격자면 간격 d가 1.914Å에 상당하는 상기 회절 X선의 회절각의 범위에 속하는 각도인 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치.
  7. 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 회절각이, 상기 결정 격자면 간격 d가 2.363Å에 상당하는 상기 회절 X선의 회절각의 범위에 속하는 각도인 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치.
  8. 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 회절각이, 상기 결정 격자면 간격 d가 4.109Å에 상당하는 상기 회절 X선의 회절각의 범위에 속하는 각도인 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치.
  9. 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 검출기를 2개 이상 갖고,
    이들 검출기에 의해, 상기 Γ·Γ1상, 상기 δ1상 또는 상기 ζ상에 각각 대응하는 상기 회절 X선 중 적어도 2개의 상에 상당하는 상기 회절 X선이 검출되는 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치.
  10. 제3항에 있어서, 상기 회절 X선 검출 공정에 있어서, 상기 결정 격자면 간격 d가 4.109Å에 상당하는 상기 회절 X선의 강도로부터 백그라운드 강도를 뺀 값을 이용하여, 상기 ζ상의 상기 두께를 측정하는 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 방법.
  11. 제7항에 있어서, 상기 회절각이, 상기 결정 격자면 간격 d가 4.109Å에 상당하는 상기 회절 X선의 회절각의 범위에 속하는 각도인 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치.
  12. 제7항에 있어서, 상기 검출기를 2개 이상 갖고,
    이들 검출기에 의해, 상기 Γ·Γ1상, 상기 δ1상 또는 상기 ζ상에 각각 대응하는 상기 회절 X선 중 적어도 2개의 상에 상당하는 상기 회절 X선이 검출되는 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치.
  13. 제8항에 있어서, 상기 검출기를 2개 이상 갖고,
    이들 검출기에 의해, 상기 Γ·Γ1상, 상기 δ1상 또는 상기 ζ상에 각각 대응하는 상기 회절 X선 중 적어도 2개의 상에 상당하는 상기 회절 X선이 검출되는 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치.
  14. 제11항에 있어서, 상기 검출기를 2개 이상 갖고,
    이들 검출기에 의해, 상기 Γ·Γ1상, 상기 δ1상 또는 상기 ζ상에 각각 대응하는 상기 회절 X선 중 적어도 2개의 상에 상당하는 상기 회절 X선이 검출되는 것을 특징으로 하는, 합금화 용융 아연 도금 강판의 Fe-Zn 합금상 두께의 측정 장치.
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105960590B (zh) * 2014-02-05 2018-12-21 杰富意钢铁株式会社 X射线衍射装置以及x射线衍射测量方法
JP6362429B2 (ja) * 2014-06-02 2018-07-25 日新製鋼株式会社 合金化溶融亜鉛めっき鋼板のγ相生成量予測方法および製造方法
CN104345071B (zh) * 2014-11-03 2015-10-28 广东电网有限责任公司电力科学研究院 一种表征镍基高温合金中γ/γ′相晶格错配度的方法
US9851313B2 (en) * 2015-03-03 2017-12-26 Panalytical B.V. Quantitative X-ray analysis—ratio correction
JP6520865B2 (ja) * 2016-08-17 2019-05-29 Ｊｆｅスチール株式会社 亜鉛めっき鋼板の合金化度および／またはめっき付着量測定方法
US11933747B2 (en) * 2017-06-28 2024-03-19 University Of Maryland, College Park System and method for in-situ X-ray diffraction-based real-time monitoring of microstructure properties of printing objects
WO2019230010A1 (ja) * 2018-06-01 2019-12-05 株式会社東芝 予兆データサーバ及びｘ線厚み測定システム
CN110132188B (zh) * 2019-06-19 2020-11-10 中国人民解放军空军工程大学 一种基于多元素x射线特征光谱综合分析的涂渗层厚度计算方法
JP2022152946A (ja) * 2021-03-29 2022-10-12 本田技研工業株式会社 Ｘ線回折測定装置および方法

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5847659B2 (ja) 1975-08-12 1983-10-24 日新製鋼株式会社 ゴウキンカアエンテツバンノ ゴウキンカドノ ソクテイホウホウ
JPS5694249A (en) 1979-12-28 1981-07-30 Kawasaki Steel Corp Method for measurement of degree of alloying of galvannealed sheet steel
JPS58190747A (ja) 1982-04-30 1983-11-07 Sumitomo Metal Ind Ltd 合金化Ｚｎメツキ鋼板の合金化度判定方法
JPS6058537A (ja) 1983-09-10 1985-04-04 Sumitomo Metal Ind Ltd Ｆｅ−Ζｎ合金メツキ鋼板のメツキ定量方法
JPS6259844A (ja) 1985-09-10 1987-03-16 Sumitomo Metal Ind Ltd 合金化溶融亜鉛めつき鋼板の合金化度測定方法
JP2542906B2 (ja) 1988-05-30 1996-10-09 日新製鋼株式会社 Ｘ線回折法による合金化亜鉛めっき鋼板の合金化度の測定方法
JP2709173B2 (ja) 1990-02-27 1998-02-04 日本鋼管株式会社 耐パウダリング性及び摺動特性に優れた合金化溶融亜鉛めっき鋼板
JPH0442044A (ja) 1990-06-06 1992-02-12 Nippon Steel Corp 合金層特性測定方法
JP2904891B2 (ja) 1990-08-31 1999-06-14 日新製鋼株式会社 合金化亜鉛めつき鋼板のオンライン合金化度測定装置
JP2707865B2 (ja) 1991-02-08 1998-02-04 住友金属工業株式会社 合金化亜鉛めっき層の合金化度測定方法
JPH05264477A (ja) 1992-03-18 1993-10-12 Sumitomo Metal Ind Ltd 結晶相の配向度分析法
JPH06347247A (ja) 1993-06-10 1994-12-20 Sumitomo Metal Ind Ltd めっき層合金相厚さの測定方法
JPH07260715A (ja) 1994-03-17 1995-10-13 Nkk Corp 合金めっき相の厚さ測定方法及び装置
JP3329931B2 (ja) 1994-03-31 2002-09-30 川崎製鉄株式会社 Ｘ線回折測定装置及びｘ線回折測定方法
JPH0933455A (ja) 1995-07-14 1997-02-07 Sumitomo Metal Ind Ltd 合金化めっき層の合金化度測定方法
JP2001272358A (ja) 2000-03-24 2001-10-05 Nikon Corp Ｘ線試料検査装置
CN1392956A (zh) 2000-09-22 2003-01-22 川崎制铁株式会社 采用x射线衍射法的金属相定量测定方法、装置及采用该方法和装置的电镀钢板制造方法
JP2002168811A (ja) 2000-11-30 2002-06-14 Kawasaki Steel Corp Ｘ線回折法を用いためっき層中の合金相付着量の測定方法及び装置
JP4753872B2 (ja) * 2003-08-04 2011-08-24 エックス−レイ オプティカル システムズ インコーポレーテッド Ｘ線回折装置及びその方法
KR100685024B1 (ko) 2004-12-22 2007-02-20 주식회사 포스코 합금화 용융 아연 도금 강판의 합금상 분율 및 합금화도측정장치
CN1800839A (zh) 2004-12-31 2006-07-12 马鞍山钢铁股份有限公司 X射线衍射相分析样品架及分析方法
JP4262734B2 (ja) 2005-09-14 2009-05-13 株式会社リガク 蛍光ｘ線分析装置および方法
CN101558454B (zh) 2006-11-16 2013-11-06 X射线光学系统公司 包括具有各自的晶体取向的多个层的x射线聚焦光学器件
KR100916121B1 (ko) 2007-12-27 2009-09-08 주식회사 포스코 합금화 용융아연도금 강판의 도금층 합금상 분율 측정방법및 합금상 제어 방법
JP5365157B2 (ja) 2008-11-21 2013-12-11 Ｊｆｅスチール株式会社 表面処理鋼板および電子機器筐体
JP5584998B2 (ja) * 2009-05-15 2014-09-10 新日鐵住金株式会社 外観、プレス成形性に優れた合金化溶融亜鉛めっき鋼板の製造方法
JP5838109B2 (ja) 2011-05-13 2015-12-24 株式会社リガク 複合ｘ線分析装置

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Publication number Publication date
JPWO2013161922A1 (ja) 2015-12-24
MX2014010409A (es) 2014-09-22
US9417197B2 (en) 2016-08-16
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CN103649679A (zh) 2014-03-19
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