WO2012111462A1 - 有機エレクトロルミネッセンス素子及び照明装置 - Google Patents

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健 波木井
宏 石代
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Definitions

  • the present invention relates to an organic electroluminescence element and a lighting device that are applied to various displays, display devices, lighting, and the like.
  • an organic electroluminescence element (hereinafter also referred to as an organic EL element) that emits light using electric energy from positive and negative electrodes using an organic material has a low voltage of about several V to several tens V. In particular, it has been attracting attention in recent years because it is a thin-film type complete solid-state device and saves space.
  • a transparent layer (hereinafter referred to as a transparent protective layer) made of a metal phthalocyanine-based material such as copper phthalocyanine is provided between the transparent conductive layer and the light emitting layer.
  • Patent Document 1 A technique for suppressing damage to the organic layer in the process of forming the conductive layer is mentioned (see Patent Document 1 and Patent Document 2). It has been found that this technique has a drawback that the luminous efficiency is lowered because copper phthalocyanine having a low transmittance is used as the material of the transparent protective layer.
  • Patent Document 3 As another technique, studies have been made to use a layer formed by depositing titanium oxide, vanadium oxide, zirconium oxide or lanthanum oxide in an oxygen defect state as a transparent protective layer (see Patent Document 3). This is because the oxygen defect state of the metal oxide described above is unstable, and oxygen radicals generated in the sputtering process for forming the transparent conductive layer are trapped by the transparent protective layer, thereby oxidizing the organic layer. It is a technology that aims to suppress the above. Therefore, it was found that although there is an effect in suppressing the oxidative damage of the organic layer by the sputtering process, there is a problem that the voltage increases due to the oxidation of the transparent protective layer.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and its purpose is to drive the formation of a transparent conductive layer of a top emission type and a double emission type organic electroluminescence element even if a highly productive sputtering method is used.
  • An object of the present invention is to provide an organic electroluminescence element and an illuminating device which have no increase in voltage and whose driving voltage is improved.
  • a transparent protective layer is disposed between the light emitting layer and the transparent conductive layer, and the light emitting layer contains a phosphorescent compound.
  • the transparent protective layer contains a metal oxide, and the metal oxide is molybdenum oxide (hexavalent), rhenium oxide (hexavalent) or nickel oxide (divalent). Hexavalent), rhenium oxide (hexavalent), and nickel oxide (divalent) are in an oxygen deficient state.
  • n1 represents an integer of 1 or more
  • Y1 represents a substituent when n1 is 1, and represents a single bond or an n1-valent linking group when n1 is 2 or more.
  • Ar1 represents a group represented by the following general formula (A). When n1 is 2 or more, a plurality of Ar1s may be the same or different. However, the compound represented by the general formula (1) has at least two condensed aromatic heterocycles in which three or more rings are condensed in the molecule.
  • X represents N (R), O, S or Si (R) (R ′), E1 to E8 represent C (R1) or N, and R, R ′ and R1 represent a hydrogen atom , A substituent or a linking site with Y1.
  • * represents a linking site with Y1.
  • Y2 represents a simple bond or a divalent linking group.
  • Y3 and Y4 each represents a group derived from a 5-membered or 6-membered aromatic ring, and at least one represents a group derived from an aromatic heterocycle containing a nitrogen atom as a ring constituent atom.
  • n2 represents an integer of 1 to 4. ] 6).
  • Y5 represents the bivalent coupling group which consists of an arylene group, heteroarylene group, or those combination.
  • E51 to E66 each represent C (R3) or N, and R3 represents a hydrogen atom or a substituent.
  • Y6 to Y9 each represents a group derived from an aromatic hydrocarbon ring or a group derived from an aromatic heterocycle, and at least one of Y6 or Y7 and at least one of Y8 or Y9 is an aromatic group containing an N atom.
  • n3 and n4 represent an integer of 0 to 4, and n3 + n4 is an integer of 2 or more.
  • 7. 7 The organic electroluminescence device as described in 6 above, wherein the compound represented by the general formula (2) is a compound represented by the following general formula (3).
  • Y5 represents the bivalent coupling group which consists of an arylene group, heteroarylene group, or those combination.
  • E51 to E66 and E71 to E88 each represent C (R3) or N, and R3 represents a hydrogen atom or a substituent. However, at least one of E71 to E79 and at least one of E80 to E88 represents N.
  • n3 and n4 represent an integer of 0 to 4, and n3 + n4 is an integer of 2 or more.
  • 8 The organic electroluminescence device as described in any one of 1 to 7 above, wherein the phosphorescent compound is represented by the following general formula (4).
  • P and Q each represent a carbon atom or a nitrogen atom
  • A1 represents an atomic group which forms an aromatic hydrocarbon ring or an aromatic heterocycle together with PC.
  • A2 represents an atomic group that forms an aromatic heterocycle with QN.
  • P1-L1-P2 represents a bidentate ligand
  • P1 and P2 each independently represent a carbon atom, a nitrogen atom or an oxygen atom.
  • L1 represents an atomic group that forms a bidentate ligand together with P1 and P2.
  • j1 represents an integer of 1 to 3
  • j2 represents an integer of 0 to 2
  • j1 + j2 is 2 or 3.
  • M1 represents a group 8-10 transition metal element in the periodic table.
  • Z represents a hydrocarbon ring group or a heterocyclic group.
  • P and Q each represent a carbon atom or a nitrogen atom
  • A1 represents an atomic group that forms an aromatic hydrocarbon ring or an aromatic heterocyclic ring together with P—C.
  • P1-L1-P2 represents a bidentate ligand, and P1 and P2 each independently represent a carbon atom, a nitrogen atom, or an oxygen atom.
  • L1 represents an atomic group that forms a bidentate ligand together with P1 and P2.
  • M1 represents a group 8-10 transition metal element in the periodic table. A broken line represents a single bond or a double bond. ] 10. 10. The organic electroluminescent device according to 8 or 9, wherein M1 represents iridium.
  • An illuminating device comprising the organic electroluminescent element according to any one of 1 to 13 above.
  • the preferable specific example of the layer structure of the double-sided emission type organic EL element by which the transparent conductive layer of this invention becomes a cathode is shown.
  • the preferable specific example of the layer structure of the top emission type organic EL element by which the transparent conductive layer of this invention becomes an anode is shown.
  • the organic electroluminescence device of the present invention has a transparent protective layer mainly composed of a metal oxide between a transparent conductive layer and a light emitting layer, and contains a phosphorescent compound in the light emitting layer. It is characterized by being.
  • the transparent protective layer is a layer that suppresses damage to the light emitting layer in the steps subsequent to the film forming step of the transparent protective layer, and a layer containing a phosphorescent compound is used in the light emitting layer. Even if the thickness of the transparent protective layer is not increased, there is a feature that the voltage rise due to the sputtering process for forming the transparent conductive layer does not occur.
  • the effect of the present invention is further improved by using a transparent protective layer containing molybdenum oxide (hexavalent), rhenium oxide (hexavalent) or nickel oxide (divalent) in an oxygen defect state as a metal oxide.
  • a transparent protective layer containing molybdenum oxide (hexavalent), rhenium oxide (hexavalent) or nickel oxide (divalent) in an oxygen defect state as a metal oxide.
  • the transparent protective layer containing molybdenum oxide (hexavalent), rhenium oxide (hexavalent) or nickel oxide (divalent) may have a film thickness larger than that of the transparent protective layer containing other metal oxides. This is because the luminescent damage in the sputtering process can be further reduced.
  • Organic EL element >> First, embodiments of the organic EL device of the present invention, which is an example of a surface light emitter, will be described in detail.
  • the contents described below are representative examples of embodiments of the present invention, and the present invention exceeds the gist thereof. As long as there is no, it is not limited to these contents.
  • FIG. 1A shows an example of a double-sided emission type configuration in which the transparent conductive layer 9 serves as a cathode corresponding to the configuration of (ii).
  • the anode 2a is on the substrate 1 side.
  • FIG. 1B shows an example of a top emission type configuration in which the transparent conductive layer 9 serves as an anode, corresponding to the configuration (iv).
  • the cathode 2b is on the substrate 1 side.
  • the transparent protective layer according to the present invention is formed between a transparent conductive layer formed by sputtering or the like and an organic layer including a light emitting layer.
  • the light emitting layer preferably contains at least two kinds of light emitting materials having different emission colors, and a single layer or a light emitting layer unit composed of a plurality of light emitting layers may be formed.
  • the hole transport layer also includes a hole injection layer and an electron blocking layer.
  • the transparent protective layer according to the present invention is a layer that is substantially transparent and suppresses process damage to the light emitting layer in a subsequent step of the transparent protective layer.
  • substantially transparent as used in the present invention means that the visible light transmittance is 50% or more.
  • the organic EL device of the present invention has a transparent protective layer between the transparent conductive layer and the light emitting layer.
  • the transparent protective layer is provided between the transparent conductive layer and the light emitting layer, deterioration of the light emitting layer in the process after the transparent protective layer is suppressed.
  • the transparent protective layer according to the present invention is characterized in that the main component is a metal oxide, and the metal oxide according to the present invention is molybdenum oxide (hexavalent), rhenium oxide (hexavalent) or nickel oxide (2 Value).
  • the metal oxide according to the present invention is in an oxygen defect state.
  • the oxygen defect state means a state having an oxygen-deficient non-stoichiometric composition.
  • the oxygen defect state of molybdenum oxide (hexavalent) means that the molybdenum oxide has molybdenum oxide having a valence smaller than hexavalent.
  • the vapor deposition method is preferred as the method for forming the transparent protective layer according to the present invention.
  • the film thickness of the transparent protective layer according to the present invention is preferably 60 nm or more and 150 nm or less in order to sufficiently suppress the oxidative damage of the organic layer. If the film thickness is too thin, deterioration of the light emitting layer in the transparent conductive layer forming process becomes a problem, and if the film thickness is too thick, a decrease in light extraction efficiency becomes a problem.
  • the transparent protective layer according to the present invention suppresses oxidative damage of the organic layer during electrode formation.
  • Molybdenum oxide (hexavalent), rhenium oxide (hexavalent), and nickel oxide (divalent) contained in the transparent protective layer are in an oxygen defect state and are driven even when the film thickness is as thick as 60 nm or more. The voltage does not rise so much.
  • Molybdenum oxide (hexavalent), rhenium oxide (hexavalent), and nickel oxide (divalent) are commercially available from reagent manufacturers and can be easily obtained.
  • the film forming method of the transparent protective layer according to the present invention is preferably a vapor deposition method.
  • oxygen is introduced into the system (in the vapor deposition apparatus) using a material used as a vapor deposition material such as molybdenum oxide (hexavalent). Without film formation.
  • a transparent protective layer made of a metal oxide in an oxygen defect state can be obtained without forming a stoichiometrically satisfied composition.
  • the film forming conditions can be appropriately changed according to the deposition material such as the heating temperature and the deposition rate except that oxygen is not introduced into the system.
  • the composition of the formed metal oxide film can be confirmed by analyzing by ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis).
  • the transparent protective layer according to the present invention may be patterned as necessary. Since the transparent conductive layer and the electron injection layer or the transparent conductive layer and the hole transport layer are in electrical contact by patterning the transparent protective layer, electrons or holes transported from the transparent conductive layer are Since it is transported to the electron injection layer or the hole transport layer without passing through the transparent protective layer, it is possible to emit light at a lower voltage.
  • patterning the transparent protective layer which concerns on this invention it is preferable to pattern by the space
  • limiting in particular in the shape of patterning For example, a line-form patterning and a grid
  • Examples of the method for patterning the transparent protective layer according to the present invention include a shadow mask method, a laser thermal transfer method, a laser vapor deposition method, a laser ablation method, an ink jet method, and a printing method.
  • a preferred form of the transparent protective layer patterning method according to the present invention is a shadow mask method by vapor deposition.
  • an auxiliary electrode can be provided on the transparent conductive layer for the purpose of reducing the resistance.
  • a material for forming the auxiliary electrode a metal having low resistance such as gold, platinum, silver, copper, and aluminum is preferable.
  • the method for forming the auxiliary electrode include a vapor deposition method, a sputtering method, a printing method, an ink jet method, and an aerosol jet method.
  • the line width of the auxiliary electrode according to the present invention is preferably 50 ⁇ m or less from the viewpoint of the aperture ratio of the transparent conductive layer, and the thickness of the auxiliary electrode is preferably 1 ⁇ m or more from the viewpoint of conductivity.
  • the auxiliary electrode according to the present invention is preferably formed on an unpatterned region of the transparent protective layer. In the present invention, the region where the transparent protective layer is not patterned refers to the region where there is no transparent protective layer.
  • Transparent conductive layer Electrode
  • a conductive light transmissive material such as indium tin oxide (ITO), SnO 2 , ZnO or the like is preferably used.
  • a material such as IDIXO (In 2 O 3 —ZnO) that can form an amorphous light-transmitting conductive film may be used.
  • a sputtering method is preferable from the viewpoint of productivity.
  • the transparent conductive layer according to the present invention may form a pattern having a desired shape by photolithography, or if the pattern accuracy is not so high (about 100 ⁇ m or more), A pattern may be formed through a mask having a desired shape during vapor deposition or sputtering.
  • the sheet resistance of the transparent conductive layer according to the present invention is preferably several hundred ⁇ / ⁇ or less. Further, although the film thickness depends on the material, it is usually selected in the range of 10 to 1000 nm, preferably 50 to 200 nm.
  • the light emitting layer according to the present invention is characterized in that a phosphorescent compound is contained as a light emitting material.
  • the light-emitting layer is a layer that emits light by recombination of electrons and holes injected from the electrode, the electron transport layer, or the hole transport layer, and the light-emitting portion is the light-emitting layer even in the layer of the light-emitting layer. It may be an interface with an adjacent layer.
  • the light emitting layer is not particularly limited in its configuration as long as the light emitting material included satisfies the light emission requirements. Moreover, there may be a plurality of layers having the same emission spectrum and emission maximum wavelength. Moreover, it is preferable to have a non-light emitting intermediate
  • the total film thickness of the light emitting layer is preferably in the range of 1 to 100 nm, and more preferably 1 nm or more and 30 nm or less because a lower driving voltage can be obtained. Note that the total film thickness of the light emitting layer is a film thickness including the intermediate layer when a non-light emitting intermediate layer exists between the light emitting layers.
  • each light emitting layer is preferably adjusted in the range of 1 to 50 nm, more preferably in the range of 1 to 20 nm. There is no particular limitation on the relationship between the film thicknesses of the blue, green and red light emitting layers.
  • a light-emitting material or a host compound which will be described later, is formed by forming a film by a known thin film forming method such as a vacuum deposition method, a spin coating method, a casting method, an LB method, or an inkjet method. it can.
  • Each light emitting layer may be a mixture of a plurality of light emitting materials, or a phosphorescent light emitting material and a fluorescent light emitting material may be mixed and used in the same light emitting layer.
  • the structure of the light emitting layer preferably contains a host compound and a light emitting material (also referred to as a light emitting dopant compound) and emits light from the light emitting material.
  • a light emitting material also referred to as a light emitting dopant compound
  • a compound having a phosphorescence quantum yield of phosphorescence emission at room temperature (25 ° C.) of less than 0.1 is preferable. More preferably, the phosphorescence quantum yield is less than 0.01. Moreover, it is preferable that the volume ratio in the layer is 50% or more among the compounds contained in a light emitting layer.
  • known host compounds may be used alone or in combination of two or more.
  • the organic EL element can be made highly efficient.
  • the host compound used may be a conventionally known low molecular compound, a high molecular compound having a repeating unit, or a low molecular compound having a polymerizable group such as a vinyl group or an epoxy group (evaporation polymerizable light emitting host). .
  • Tg glass transition temperature
  • DSC Different Scanning Colorimetry
  • a phosphorescent material also referred to as a phosphorescent compound or a phosphorescent compound
  • a phosphorescent compound also referred to as a phosphorescent compound or a phosphorescent compound
  • the phosphorescent material is a compound in which light emission from an excited triplet is observed.
  • the phosphorescent material is a compound that emits phosphorescence at room temperature (25 ° C.). Although defined as being a compound of 01 or more, the preferred phosphorescence quantum yield is 0.1 or more.
  • the phosphorescent quantum yield can be measured by the method described in Spectra II, page 398 (1992 edition, Maruzen) of Experimental Chemistry Course 4 of the 4th edition. Although the phosphorescence quantum yield in a solution can be measured using various solvents, when using a phosphorescent material in the present invention, the above phosphorescence quantum yield (0.01 or more) is achieved in any solvent. It only has to be done.
  • phosphorescent materials There are two types of light emission principles of phosphorescent materials. One is the recombination of carriers on the host compound to which carriers are transported to generate an excited state of the host compound, and this energy is used as the phosphorescent material. It is an energy transfer type that obtains light emission from the phosphorescent light emitting material by moving to the phosphor, and the other is a phosphorescent light emitting material that becomes a carrier trap and carrier recombination occurs on the phosphorescent light emitting material. In any case, the excited state energy of the phosphorescent material is lower than the excited state energy of the host compound.
  • the phosphorescent light-emitting material can be appropriately selected from known materials used for the light-emitting layer of the organic EL element, but is preferably a complex compound containing a group 8-10 metal in the periodic table of elements. More preferred are iridium compounds, osmium compounds, platinum compounds (platinum complex compounds), and rare earth complexes, and most preferred are iridium compounds.
  • At least one light emitting layer may contain two or more kinds of light emitting materials, and the concentration ratio of the light emitting materials in the light emitting layer may vary in the thickness direction of the light emitting layer.
  • the phosphorescent compound according to the present invention is preferably a compound represented by the following general formula (4).
  • the phosphorescent compound represented by the general formula (4) (also referred to as a phosphorescent metal complex) is preferably contained as a luminescent dopant in the light emitting layer of the organic EL device of the present invention. However, it may be contained in a constituent layer other than the light emitting layer (the constituent layer of the organic EL element of the present invention will be described in detail later).
  • the aromatic hydrocarbon ring formed by A1 together with P—C includes a benzene ring, biphenyl ring, naphthalene ring, azulene ring, anthracene ring, phenanthrene ring, pyrene ring, chrysene ring, naphthacene ring, Triphenylene ring, o-terphenyl ring, m-terphenyl ring, p-terphenyl ring, acenaphthene ring, coronene ring, fluorene ring, fluoranthrene ring, naphthacene ring, pentacene ring, perylene ring, pentaphen ring, picene ring, Examples include a pyrene ring, a pyrantolen ring, and anthraanthrene ring.
  • These rings may further have a substituent represented by Y1 in the general formula (1) described later.
  • the aromatic heterocycle formed by A1 together with P—C includes a furan ring, a thiophene ring, an oxazole ring, a pyrrole ring, a pyridine ring, a pyridazine ring, a pyrimidine ring, a pyrazine ring, a triazine ring, Benzimidazole ring, oxadiazole ring, triazole ring, imidazole ring, pyrazole ring, thiazole ring, indole ring, benzimidazole ring, benzothiazole ring, benzoxazole ring, quinoxaline ring, quinazoline ring, phthalazine ring, carbazole ring, azacarbazole A ring etc. are mentioned.
  • the azacarbazole ring means one in which at least one carbon atom of the benzene ring constituting the carbazole ring is replaced with a nitrogen atom.
  • These rings may further have a substituent represented by Y1 in the general formula (1) described later.
  • examples of the aromatic heterocycle formed by A2 together with QN include an oxazole ring, an oxadiazole ring, an oxatriazole ring, an isoxazole ring, a tetrazole ring, a thiadiazole ring, a thiatriazole ring, Examples include a thiazole ring, a pyrrole ring, a pyridine ring, a pyridazine ring, a pyrimidine ring, a pyrazine ring, a triazine ring, an imidazole ring, a pyrazole ring, and a triazole ring.
  • These rings may further have a substituent represented by Y1 in the general formula (1) described later.
  • examples of the bidentate ligand represented by P1-L1-P2 include phenylpyridine, phenylpyrazole, phenylimidazole, phenyltriazole, phenyltetrazole, pyrazabole, acetylacetone, and picolinic acid. .
  • j1 represents an integer of 1 to 3
  • j2 represents an integer of 0 to 2
  • j1 + j2 represents 2 or 3
  • j2 is preferably 0.
  • M1 is a transition metal element of Group 8 to Group 10 (also referred to simply as transition metal) in the periodic table of elements, and iridium is particularly preferable.
  • the phosphorescent compound according to the present invention is more preferably a compound represented by the following general formula (5).
  • examples of the hydrocarbon ring group represented by Z include non-aromatic hydrocarbon ring groups and aromatic hydrocarbon ring groups, and examples of the non-aromatic hydrocarbon ring group include cyclopropyl. Group, cyclopentyl group, cyclohexyl group and the like. These groups may be unsubstituted or have a substituent described later.
  • aromatic hydrocarbon ring group examples include, for example, phenyl group, p-chlorophenyl group, mesityl group, tolyl group, xylyl group, naphthyl group, anthryl group, Examples include an azulenyl group, an acenaphthenyl group, a fluorenyl group, a phenanthryl group, an indenyl group, a pyrenyl group, and a biphenylyl group.
  • These groups may be unsubstituted or may have a substituent represented by Y1 in the general formula (1) described later.
  • examples of the heterocyclic group represented by Z include a non-aromatic heterocyclic group and an aromatic heterocyclic group.
  • examples of the non-aromatic heterocyclic group include an epoxy ring, Aziridine ring, thiirane ring, oxetane ring, azetidine ring, thietane ring, tetrahydrofuran ring, dioxolane ring, pyrrolidine ring, pyrazolidine ring, imidazolidine ring, oxazolidine ring, tetrahydrothiophene ring, sulfolane ring, thiazolidine ring, ⁇ -caprolactone ring, ⁇ -Caprolactam ring, piperidine ring, hexahydropyridazine ring, hexahydropyrimidine ring, piperazine ring, morpholine ring, tetrahydropyran ring
  • These groups may be unsubstituted or may have a substituent represented by Y1 in the general formula (1) described later.
  • aromatic heterocyclic group examples include a pyridyl group, a pyrimidinyl group, a furyl group, a pyrrolyl group, an imidazolyl group, a benzoimidazolyl group, a pyrazolyl group, a pyrazinyl group, and a triazolyl group (for example, 1,2,4-triazole-1- Yl, 1,2,3-triazol-1-yl, etc.), oxazolyl, benzoxazolyl, thiazolyl, isoxazolyl, isothiazolyl, furazanyl, thienyl, quinolyl, benzofuryl, dibenzofuryl Group, benzothienyl group, dibenzothienyl group, indolyl group, carbazolyl group, carbolinyl group, diazacarbazolyl group (indicating that one of the carbon atoms constituting the carboline ring of the carbolinyl group,
  • These groups may be unsubstituted or may have a substituent represented by Y1 in the general formula (1) described later.
  • the group represented by Z is an aromatic hydrocarbon ring group or an aromatic heterocyclic group.
  • the aromatic hydrocarbon ring that A1 forms with P—C includes benzene ring, biphenyl ring, naphthalene ring, azulene ring, anthracene ring, phenanthrene ring, pyrene ring, chrysene ring, naphthacene ring , Triphenylene ring, o-terphenyl ring, m-terphenyl ring, p-terphenyl ring, acenaphthene ring, coronene ring, fluorene ring, fluoranthrene ring, naphthacene ring, pentacene ring, perylene ring, pentaphen ring, picene ring , Pyrene ring, pyranthrene ring, anthraanthrene ring and the like.
  • These rings may further have a substituent represented by Y1 in the general formula (1) described later.
  • the aromatic heterocycle formed by A1 together with P—C includes furan ring, thiophene ring, oxazole ring, pyrrole ring, pyridine ring, pyridazine ring, pyrimidine ring, pyrazine ring, triazine ring, benzo Imidazole ring, oxadiazole ring, triazole ring, imidazole ring, pyrazole ring, thiazole ring, indole ring, benzimidazole ring, benzothiazole ring, benzoxazole ring, quinoxaline ring, quinazoline ring, phthalazine ring, carbazole ring, carboline ring, And azacarbazole ring.
  • the azacarbazole ring means one in which at least one carbon atom of the benzene ring constituting the carbazole ring is replaced with a nitrogen atom.
  • These rings may further have a substituent represented by Y1 in the general formula (1).
  • examples of the bidentate ligand represented by P1-L1-P2 include phenylpyridine, phenylpyrazole, phenylimidazole, phenyltriazole, phenyltetrazole, pyrazabole, acetylacetone, and picolinic acid. .
  • J1 represents an integer of 1 to 3
  • j2 represents an integer of 0 to 2
  • j1 + j2 represents 2 or 3
  • j2 is preferably 0.
  • transition metal elements of groups 8 to 10 in the periodic table of elements represented by M1 (also simply referred to as transition metals) in the periodic table of elements represented by M1 in the general formula (4) Synonymous with group 8-10 transition metal elements.
  • the phosphorescent compound (also referred to as a phosphorescent metal complex or the like) is described in, for example, Organic Letter, vol. 16, 2579-2581 (2001), Inorganic Chemistry, Vol. 30, No. 8, pp. 1685-1687 (1991), J. Am. Am. Chem. Soc. , 123, 4304 (2001), Inorganic Chemistry, Vol. 40, No. 7, 1704-1711 (2001), Inorganic Chemistry, Vol. 41, No. 12, 3055-3066 (2002) , New Journal of Chemistry. 26, 1171 (2002), European Journal of Organic Chemistry, Vol. 4, pages 695-709 (2004), and further synthesized by applying methods such as references described in these documents. it can.
  • the non-light emitting intermediate layer is a layer provided between the light emitting layers.
  • the film thickness of the non-light emitting intermediate layer is preferably in the range of 1 to 20 nm, and more preferably in the range of 3 to 10 nm to suppress interaction such as energy transfer between adjacent light emitting layers, and This is preferable because a large load is not applied to the voltage characteristics.
  • the material used for the non-light emitting intermediate layer may be the same as or different from the host compound of the light emitting layer, but may be the same as the host material of at least one of the adjacent light emitting layers. preferable.
  • the non-light-emitting intermediate layer may contain a non-light-emitting layer, a compound common to each light-emitting layer (for example, a host compound), and each common host material (where a common host material is used) Including the case where the physicochemical characteristics such as phosphorescence emission energy and glass transition point are the same, and the case where the molecular structure of the host compound is the same, etc.)
  • a compound common to each light-emitting layer for example, a host compound
  • each common host material where a common host material is used
  • Carrier mobility is used as a physical property representing carrier transport ability, but the carrier mobility of an organic material generally depends on the electric field strength. Since a material having a high electric field strength dependency easily breaks the balance between injection and transport of holes and electrons, it is preferable to use a material having a low electric field strength dependency of mobility for the intermediate layer material and the host material.
  • the non-light emitting intermediate layer functions as a blocking layer described later, that is, a hole blocking layer and an electron blocking layer. Can be mentioned.
  • injection layer electron injection layer, hole injection layer
  • the injection layer is provided as necessary, and there are an electron injection layer and a hole injection layer, and as described above, it exists between the anode and the light emitting layer or the hole transport layer, and between the cathode and the light emitting layer or the electron transport layer. May be.
  • An injection layer is a layer provided between an electrode and an organic layer in order to reduce drive voltage and improve light emission luminance.
  • Organic EL element and its forefront of industrialization issued by NTT Corporation on November 30, 1998) ) ”, Chapter 2, Chapter 2,“ Electrode Materials ”(pages 123 to 166), which has a hole injection layer and an electron injection layer.
  • JP-A Nos. 9-45479, 9-260062, and 8-288069 The details of the hole injection layer are described in JP-A Nos. 9-45479, 9-260062, and 8-288069. Specific examples thereof include a phthalocyanine layer represented by copper phthalocyanine. And an oxide layer typified by vanadium oxide, an amorphous carbon layer, and a polymer layer using a conductive polymer such as polyaniline (emeraldine) or polythiophene.
  • the details of the electron injection layer are also described in JP-A-6-325871, JP-A-9-17574, JP-A-10-74586, and the like, and specifically, metals represented by strontium, aluminum and the like.
  • metals represented by strontium, aluminum and the like examples thereof include an alkali metal halide layer typified by potassium fluoride, an alkaline earth metal compound layer typified by magnesium fluoride, and an oxide layer typified by molybdenum oxide.
  • the electron injection layer according to the present invention preferably has a laminated structure of a metal layer and an alkali metal halide layer or a laminated structure of an oxide layer, a metal layer and an alkali metal halide layer, and the metal oxide may be doped with an alkali metal. good.
  • the amount of the alkali metal doped into the metal oxide is preferably in the range of 1 to 10% by mass.
  • the electron injection layer is preferably a very thin film, and the film thickness is preferably in the range of 1 nm to 10 ⁇ m although it depends on the material.
  • the blocking layer is provided as necessary in addition to the basic constituent layer of the organic compound thin film as described above. For example, it is described in JP-A Nos. 11-204258 and 11-204359, and “Organic EL elements and the forefront of industrialization (published by NTT Corporation on November 30, 1998)” on page 237. There is a hole blocking (hole blocking) layer.
  • the hole blocking layer has a function of an electron transport layer and is composed of a hole blocking material having a function of transporting electrons and having a remarkably small ability to transport holes, while transporting electrons. By blocking holes, the recombination probability of electrons and holes can be improved. Moreover, the structure of the electron carrying layer mentioned later can be used as a hole-blocking layer concerning this invention as needed.
  • the hole blocking layer is preferably provided adjacent to the light emitting layer.
  • the electron blocking layer in a broad sense, has a function of a hole transport layer, and is made of a material having a function of transporting holes while having a remarkably small ability to transport electrons, while transporting holes. By blocking electrons, the probability of recombination of electrons and holes can be improved. Moreover, the structure of the positive hole transport layer mentioned later can be used as an electron blocking layer as needed.
  • the film thickness of the hole blocking layer according to the present invention is preferably in the range of 3 to 100 nm, more preferably in the range of 5 to 30 nm.
  • the hole transport layer is made of a hole transport material having a function of transporting holes, and in a broad sense, a hole injection layer and an electron blocking layer are also included in the hole transport layer.
  • the hole transport layer can be provided as a single layer or a plurality of layers.
  • the hole transport material has any of hole injection or transport and electron barrier properties, and may be either organic or inorganic.
  • triazole derivatives oxadiazole derivatives, imidazole derivatives, polyarylalkane derivatives, pyrazoline derivatives and pyrazolone derivatives, phenylenediamine derivatives, arylamine derivatives, amino-substituted chalcone derivatives, oxazole derivatives, styrylanthracene derivatives, fluorenone derivatives, hydrazone derivatives
  • Examples thereof include stilbene derivatives, silazane derivatives, aniline copolymers, and conductive polymer oligomers, particularly thiophene oligomers.
  • the above-mentioned materials can be used as the hole transport material, but it is preferable to use a porphyrin compound, an aromatic tertiary amine compound and a styrylamine compound, particularly an aromatic tertiary amine compound.
  • aromatic tertiary amine compounds and styrylamine compounds include N, N, N ′, N′-tetraphenyl-4,4′-diaminophenyl; N, N′-diphenyl-N, N′— Bis (3-methylphenyl)-[1,1′-biphenyl] -4,4′-diamine (TPD); 2,2-bis (4-di-p-tolylaminophenyl) propane; 1,1-bis (4-di-p-tolylaminophenyl) cyclohexane; N, N, N ′, N′-tetra-p-tolyl-4,4′-diaminobiphenyl; 1,1-bis (4-di-p-tolyl) Aminophenyl) -4-phenylcyclohexane; bis (4-dimethylamino-2-methylphenyl) phenylmethane; bis (4-di-p-tolylaminoph
  • No. 5,061,569 Having a condensed aromatic ring of, for example, 4,4'-bis [N- (1-naphthyl) -N-phenylamino] biphenyl (NPD), JP-A-4-308 4,4 ′, 4 ′′ -tris [N- (3-methylphenyl) -N-phenylamino] triphenylamine in which three triphenylamine units described in Japanese Patent No. 88 are linked in a starburst type ( MTDATA) and the like.
  • NPD 4,4'-bis [N- (1-naphthyl) -N-phenylamino] biphenyl
  • JP-A-4-308 4,4 ′, 4 ′′ -tris [N- (3-methylphenyl) -N-phenylamino] triphenylamine in which three triphenylamine units described in Japanese Patent No. 88 are linked in a starburst type ( MTDATA) and the
  • a polymer material in which these materials are introduced into a polymer chain or these materials are used as a polymer main chain can also be used.
  • inorganic compounds such as p-type-Si and p-type-SiC can also be used as the hole injection material and the hole transport material.
  • JP-A-11-251067, J. Org. Huang et. al. A so-called p-type hole transport material as described in a book (Applied Physics Letters 80 (2002), p. 139) can also be used. In the present invention, it is preferable to use these materials because a light-emitting element with higher efficiency can be obtained.
  • the hole transport layer is formed by thinning the hole transport material by a known method such as a vacuum deposition method, a spin coating method, a casting method, a printing method including an ink jet method, or an LB method. Can do.
  • the film thickness of the hole transport layer is not particularly limited, but is usually in the range of 5 nm to 5 ⁇ m, preferably in the range of 5 to 200 nm.
  • This hole transport layer may have a single layer structure composed of one or more of the above materials.
  • a hole transport layer having a high p property doped with impurities examples thereof include JP-A-4-297076, JP-A-2000-196140, 2001-102175, J.A. Appl. Phys. 95, 5773 (2004), and the like.
  • the electron transport layer is made of a material having a function of transporting electrons, and in a broad sense, an electron injection layer and a hole blocking layer are also included in the electron transport layer.
  • the electron transport layer can be provided as a single layer or a plurality of layers.
  • an electron transport material also serving as a hole blocking material used for an electron transport layer adjacent to the light emitting layer on the cathode side is injected from the cathode. It has a function of transmitting electrons to the light emitting layer.
  • the electron transport layer according to the present invention preferably contains a compound represented by the following general formula (1).
  • examples of the substituent represented by Y1 include an alkyl group (for example, methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, tert-butyl group, pentyl group, hexyl group, octyl group, Dodecyl group, tridecyl group, tetradecyl group, pentadecyl group etc.), cycloalkyl group (eg cyclopentyl group, cyclohexyl group etc.), alkenyl group (eg vinyl group, allyl group etc.), alkynyl group (eg ethynyl group, propargyl etc.) Group), aromatic hydrocarbon group (also called aromatic carbocyclic group, aryl group, etc.), for example, phenyl group, p-chlorophenyl group, mesityl group, tolyl group, xylyl group, naphthyl group, an alkyl group (
  • substituents may be further substituted with the above substituents.
  • a plurality of these substituents may be bonded to each other to form a ring.
  • n1-valent linking group represented by Y1 in the general formula (1) examples include a divalent linking group, a trivalent linking group, and a tetravalent linking group.
  • an alkylene group for example, ethylene group, trimethylene group, tetramethylene group, propylene group, ethylethylene group, pentamethylene group, hexamethylene group, 2,2,4-trimethylhexamethylene group, heptamethylene group, octamethylene group, nonamethylene group, decamethylene group, undecamethylene group, dodecamethylene group, cyclohexylene group (for example, 1,6-cyclohexanediyl group, etc.), Cyclopentylene group (for example, 1,5-cyclopentanediyl group and the like), alkenylene group (for example, vinylene group, propenylene group, butenylene group, pentenylene group, 1-methylvinylene group, 1-methylpropenylene group, 2-methylpropenylene group, 1-methylpentenylene group, 3-methyl Pentenylene group, 1-ethylvinylene group, 1-
  • acridine ring benzoquinoline ring, carbazole ring, phenazine ring, phenanthridine ring, phenanthroline ring, carboline ring, cyclazine ring, kindrin ring, tepenidine ring, quinindrin ring, triphenodithia Gin ring, triphenodioxazine ring, phenanthrazine ring, anthrazine ring, perimidine ring, diazacarbazole ring (representing any one of carbon atoms constituting carboline ring replaced by nitrogen atom), phenanthroline ring, dibenzofuran Ring, dibenzothiophene ring, naphthofuran ring, naphthothiophene ring Benzodifuran ring, benzodithiophene ring, naphthodifuran ring, naphthodithiophene ring, anthrafur
  • examples of the trivalent linking group represented by Y1 include ethanetriyl group, propanetriyl group, butanetriyl group, pentanetriyl group, hexanetriyl group, heptanetriyl group, and octanetriyl.
  • the tetravalent linking group represented by Y1 is a group in which one trivalent group is further added to the above trivalent group.
  • each of the divalent linking group, the trivalent linking group, and the tetravalent linking group may further have a substituent represented by Y1 in the general formula (1).
  • Y1 preferably represents a group derived from a condensed aromatic heterocyclic ring formed by condensation of three or more rings, and the three or more rings.
  • a condensed aromatic heterocyclic ring formed by condensing a dibenzofuran ring or a dibenzothiophene ring is preferable.
  • n1 is preferably 2 or more.
  • the compound represented by the general formula (1) has at least two condensed aromatic heterocycles obtained by condensing the above three or more rings in the molecule.
  • Y1 represents an n1-valent linking group
  • Y1 is preferably non-conjugated in order to keep the triplet excitation energy of the compound represented by the general formula (1) high, and further, Tg (glass transition In view of improving the point, also referred to as glass transition temperature, it is preferably composed of an aromatic ring (aromatic hydrocarbon ring + aromatic heterocycle).
  • non-conjugated means that the linking group cannot be expressed by repeating a single bond (also referred to as a single bond) and a double bond, or the conjugate of aromatic rings constituting the linking group is sterically cleaved. Means.
  • Ar1 represents a group represented by the general formula (A).
  • the divalent linking group represented by Y2 has the same meaning as the divalent linking group represented by Y1 in the general formula (1).
  • a 5-membered or 6-membered aromatic ring used for forming a group derived from a 5-membered or 6-membered aromatic ring represented by Y3 and Y4, respectively, includes a benzene ring, oxazole Examples include a ring, a thiophene ring, a furan ring, a pyrrole ring, a pyridine ring, a pyridazine ring, a pyrimidine ring, a pyrazine ring, a diazine ring, a triazine ring, an imidazole ring, an isoxazole ring, a pyrazole ring, and a triazole ring.
  • At least one of the groups derived from a 5-membered or 6-membered aromatic ring represented by Y3 and Y4 respectively represents a group derived from an aromatic heterocycle containing a nitrogen atom as a ring-constituting atom
  • an aromatic heterocycle containing a nitrogen atom as the ring constituent atom an oxazole ring, a pyrrole ring, a pyridine ring, a pyridazine ring, a pyrimidine ring, a pyrazine ring, a diazine ring, a triazine ring, an imidazole ring, an isoxazole ring, a pyrazole ring, Examples include a triazole ring.
  • the group represented by Y3 is preferably a group derived from the above 6-membered aromatic ring, and more preferably a group derived from a benzene ring.
  • the group represented by Y4 is preferably a group derived from the 6-membered aromatic ring, more preferably an aromatic heterocycle containing a nitrogen atom as a ring constituent atom. Particularly preferably, Y4 is a group derived from a pyridine ring.
  • X represents N (R), O, S or Si (R) (R ′)
  • E1 to E8 represent C (R1) or N
  • R, R ′ and R1 are hydrogen atoms, substituents Or the connection site
  • Y2 represents a simple bond or a divalent linking group.
  • E11 to E20 each represent C (R2) or N, and at least one represents N.
  • R2 represents a hydrogen atom, a substituent or a linking site.
  • at least one of E11 and E12 represents C (R2), and R2 represents a linking site.
  • n2 represents an integer of 1 to 4. * Represents a linking site with Y1 in the general formula (1).
  • X represents N (R), O, S or Si (R) (R ′)
  • E1 to E8 represent C (R1) or N
  • R, R ′ and R1 are hydrogen atoms, substituents Or the connection site
  • Y2 represents a simple bond or a divalent linking group.
  • E21 to E25 represent C (R2) or N
  • E26 to E30 represent C (R2), N, O, S or Si (R3) (R4), and at least one of E21 to E30 represents N.
  • R2 represents a hydrogen atom, a substituent or a linking site
  • R3 and R4 represent a hydrogen atom or a substituent.
  • E21 or E22 represents C (R2), and R2 represents a linking site.
  • n2 represents an integer of 1 to 4. * Represents a linking site with Y1 in the general formula (1).
  • a broken line represents a single bond or a double bond.
  • X represents N (R), O, S or Si (R) (R ′)
  • E 1 to E 8 represent C (R1) or N
  • R, R ′ and R1 represent a hydrogen atom
  • Y 2 represents a simple bond or a divalent linking group.
  • E 31 to E 35 represent C (R2), N, O, S or Si (R3) (R4)
  • E 36 to E 40 represent C (R2) or N, and at least one of E 31 to E 40 Represents N.
  • R2 represents a hydrogen atom, a substituent or a linking site
  • R3 and R4 represent a hydrogen atom or a substituent.
  • E 32 or E 33 is represented by —C (R2) ⁇ , and R2 represents a linking site.
  • n2 represents an integer of 1 to 4.
  • * Represents a linking site with Y1 in the general formula (1).
  • a broken line represents a single bond or a double bond.
  • X represents N (R), O, S or Si (R) (R ′)
  • E 1 to E 8 represent C (R1) or N
  • R, R ′ and R1 represent a hydrogen atom
  • Y2 represents a simple bond or a divalent linking group.
  • E 41 to E 50 each represent C (R2), N, O, S, or Si (R3) (R4), and at least one represents N.
  • R2 represents a hydrogen atom, a substituent or a linking site
  • R3 and R4 represent a hydrogen atom or a substituent.
  • E 42 or E 43 is represented by C (R2)
  • R2 represents a linking site.
  • n2 represents an integer of 1 to 4. * Represents a linking site with Y1 in the general formula (1).
  • a broken line represents a single bond or a double bond.
  • N (R) or Si (R) (R ′) represented by X of any of the groups represented by the general formulas (A-1) to (A-4) is further represented by E1 to E8.
  • C (R1) the substituents represented by R, R ′ and R1 have the same meaning as the substituent represented by Y1 in the general formula (1).
  • the divalent linking group represented by Y2 is a divalent group represented by Y1 in the general formula (1). It is synonymous with the linking group.
  • each of the substituents represented by R2 of C (R2) is synonymous with the substituent represented by Y1 in the general formula (1).
  • the electron transport layer according to the present invention preferably contains a compound represented by the following general formula (2).
  • the arylene group and heteroarylene group represented by Y5 are the arylene group and heteroarylene group described as an example of the divalent linking group represented by Y1 in general formula (1). Are synonymous with each other.
  • the divalent linking group consisting of an arylene group, a heteroarylene group or a combination thereof represented by Y5
  • a condensed aromatic heterocycle formed by condensation of three or more rings is preferably included, and a group derived from a dibenzofuran ring or a dibenzothiophene ring is preferable.
  • Y6 to Y9 are each an aromatic hydrocarbon ring used for forming a group derived from an aromatic hydrocarbon ring, such as a benzene ring, a biphenyl ring, a naphthalene ring, an azulene ring, an anthracene ring Phenanthrene ring, pyrene ring, chrysene ring, naphthacene ring, triphenylene ring, o-terphenyl ring, m-terphenyl ring, p-terphenyl ring, acenaphthene ring, coronene ring, fluorene ring, fluoranthrene ring, naphthacene ring , Pentacene ring, perylene ring, pentaphen ring, picene ring, pyrene ring, pyranthrene ring, anthraanthrene ring, and the like.
  • aromatic hydrocarbon ring may have a substituent represented by Y1 in the general formula (1).
  • Y6 to Y9 are each an aromatic heterocycle used for forming a group derived from an aromatic heterocycle, such as a furan ring, a thiophene ring, an oxazole ring, a pyrrole ring, or a pyridine ring.
  • aromatic hydrocarbon ring may have a substituent represented by Y1 in the general formula (1).
  • an aromatic heterocycle containing an N atom used for forming a group derived from an aromatic heterocycle containing an N atom represented by at least one of Y6 or Y7 and at least one of Y8 or Y9.
  • the ring include, for example, oxazole ring, pyrrole ring, pyridine ring, pyridazine ring, pyrimidine ring, pyrazine ring, triazine ring, benzimidazole ring, oxadiazole ring, triazole ring, imidazole ring, pyrazole ring, thiazole ring, Indole ring, indazole ring, benzimidazole ring, benzothiazole ring, benzoxazole ring, quinoxaline ring, quinazoline ring, cinnoline ring, quinoline ring, isoquinoline ring, phthalazine ring, naphthyr
  • the groups represented by Y7 and Y9 each preferably represent a group derived from a pyridine ring.
  • the groups represented by Y6 and Y8 each preferably represent a group derived from a benzene ring.
  • the electron transport layer according to the present invention more preferably contains a compound represented by the following general formula (3).
  • the arylene group and heteroarylene group represented by Y5 are the arylene group and heteroarylene group described as an example of the divalent linking group represented by Y1 in general formula (1). Are synonymous with each other.
  • the divalent linking group consisting of an arylene group, a heteroarylene group or a combination thereof represented by Y5
  • a condensed aromatic heterocycle formed by condensation of three or more rings is preferably included, and a group derived from a dibenzofuran ring or a dibenzothiophene ring is preferable.
  • E51 to E58 and 6 or more of E59 to E66 are each represented by C (R3).
  • any one of E75 to E79 and any one of E84 to E88 represent N.
  • E71 to E74 and E80 to E83 are each represented by C (R3).
  • E53 is represented by C (R3) and R3 represents a linking site
  • E61 is also represented by C (R3). It is preferable that R3 represents a linking site.
  • E75 and E84 are preferably represented by N, and E71 to E74 and E80 to E83 are each preferably represented by C (R3).
  • Step 2 (Synthesis of Intermediate 2) Intermediate 1 (0.5 mol) was dissolved in 100 ml of DMF at room temperature under air, NBS (2.0 mol) was added, and the mixture was stirred overnight at room temperature. The resulting precipitate was filtered and washed with methanol, yielding intermediate 2 in 92% yield.
  • Step 3 (Synthesis of Compound 5) Under nitrogen atmosphere, intermediate 2 (0.25 mol), 2-phenylpyridine (1.0 mol), ruthenium complex [( ⁇ 6-C 6 H 6 ) RuCl 2 ] 2 (0.05 mol), triphenylphosphine (0.2 mol) and potassium carbonate (12 mol) were mixed in 3 l of NMP (N-methyl-2-pyrrolidone) and stirred at 140 ° C. overnight.
  • NMP N-methyl-2-pyrrolidone
  • any material that can be used for the electron transport layer can be selected from conventionally known compounds, such as a nitro-substituted fluorene derivative. , Diphenylquinone derivatives, thiopyran dioxide derivatives, carbodiimides, fluorenylidenemethane derivatives, anthraquinodimethane and anthrone derivatives, oxadiazole derivatives, and the like.
  • a thiadiazole derivative in which the oxygen atom of the oxadiazole ring is substituted with a sulfur atom, and a quinoxaline derivative having a quinoxaline ring known as an electron withdrawing group can also be used as an electron transport material.
  • a polymer material in which these materials are introduced into a polymer chain or these materials are used as a polymer main chain can also be used.
  • metal complexes of 8-quinolinol derivatives such as tris (8-quinolinol) aluminum (Alq 3 ), tris (5,7-dichloro-8-quinolinol) aluminum, tris (5,7-dibromo-8-quinolinol) Aluminum, tris (2-methyl-8-quinolinol) aluminum, tris (5-methyl-8-quinolinol) aluminum, bis (8-quinolinol) zinc (Znq), etc.
  • Mg Metal complexes replaced with Cu, Ca, Sn, Ga, or Pb can also be used as electron transport materials.
  • metal-free or metal phthalocyanine or those having terminal ends substituted with an alkyl group or a sulfonic acid group can be preferably used as the electron transport material.
  • the distyrylpyrazine derivatives exemplified as the material of the light emitting layer can also be used as the electron transport material, and inorganic semiconductors such as n-type-Si and n-type-SiC can be used as well as the hole injection layer and the hole transport layer. It can be used as an electron transport material.
  • the electron transport layer can be formed by thinning the electron transport material by a known method such as a vacuum deposition method, a spin coating method, a casting method, a printing method including an ink jet method, or an LB method. .
  • the thickness of the electron transport layer is not particularly limited, but is usually in the range of 5 nm to 5 ⁇ m, preferably in the range of 5 to 200 nm.
  • the electron transport layer may have a single layer structure composed of one or more of the above materials.
  • an electron transport layer having a high n property doped with impurities examples thereof include JP-A-4-297076, JP-A-10-270172, JP-A-2000-196140, 2001-102175, J.A. Appl. Phys. 95, 5773 (2004), and the like.
  • an electron transport layer having such a high n property because an element with lower power consumption can be produced.
  • Counter electrode anode or cathode
  • the above-described material constituting the transparent conductivity may be used, or an electrode material made of a metal, an alloy, an electrically conductive compound, or a mixture thereof may be used.
  • Specific examples of such electrode materials include sodium, sodium-potassium alloy, magnesium, lithium, magnesium / copper mixture, magnesium / silver mixture, magnesium / aluminum mixture, magnesium / indium mixture, aluminum / aluminum oxide (Al 2 O 3 ) Mixtures, indium, lithium / aluminum mixtures, rare earth metals and the like.
  • the counter electrode can be produced by forming a thin film of these electrode materials by a method such as vapor deposition or sputtering.
  • the sheet resistance as the counter electrode is preferably several hundred ⁇ / ⁇ or less, and the film thickness is usually selected in the range of 10 nm to 5 ⁇ m, preferably 50 nm to 200 nm.
  • the organic EL element of the present invention can be used as a display device, a display, and various light emission sources.
  • light sources include home lighting, interior lighting, clock and liquid crystal backlights, billboard advertisements, traffic lights, light sources for optical storage media, light sources for electrophotographic copying machines, light sources for optical communication processors, and light sources for optical sensors. Although it is not limited to this, it can be effectively used for a backlight of a liquid crystal display device combined with a color filter and a light source for illumination.
  • the organic EL elements 1-1 to 1-26 were fabricated so that the light emitting area was 5 cm ⁇ 5 cm.
  • the substrate provided with the ITO layer is fixed to a substrate holder of a commercially available vacuum deposition apparatus, and the following ⁇ -NPD, DPVBi, BAlq, Alq 3 and potassium fluoride are placed in a tantalum resistance heating boat, respectively. Attached to the first vacuum chamber.
  • the heating boat containing ⁇ -NPD was heated by being energized and deposited on the ITO layer at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second.
  • a hole injection / hole transport layer having a thickness of 20 nm was provided.
  • the heating boat containing DPVBi was energized and heated to provide a light emitting layer having a film thickness of 30 nm at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second.
  • the heating boat containing BAlq was energized and heated to provide a 10 nm thick hole blocking layer at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / sec. Further, the heating boat containing Alq 3 was heated by energization to provide an electron transport layer having a film thickness of 20 nm at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second.
  • the heating boat containing potassium fluoride was energized and heated to provide a potassium fluoride layer having a thickness of 1 nm at a deposition rate of 0.01 to 0.02 nm / sec. Further, the element formed up to the potassium fluoride layer was transferred to the second vacuum chamber in a vacuum, the second vacuum chamber was depressurized to 4 ⁇ 10 ⁇ 4 Pa, and then the heating boat containing aluminum was energized, An aluminum layer having a film thickness of 5 nm was formed at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second, and an electron injection layer was provided.
  • the element formed up to the electron injection layer was transferred to a commercially available parallel plate sputtering apparatus equipped with an ITO target in advance, and the pressure in the chamber of the sputtering apparatus was reduced to 5 ⁇ 10 ⁇ 3 Pa, and then nitrogen gas and oxygen gas were added. While flowing, discharge was performed at a DC output of 500 W, and a transparent conductive layer (cathode) of an ITO conductive layer having a film thickness of 10 nm / second and a film thickness of 100 nm was formed.
  • a cathode was formed in the same manner as in the organic EL element 1-1.
  • a double-sided emission type EL device 1-3 was obtained in the same manner as the organic EL device 1-2 except that the thickness of the transparent protective layer was changed from 20 nm to 70 nm.
  • a double-sided emission type organic EL element 1-4 was obtained in the same manner as the organic EL element 1-2 except that the material of the transparent protective layer was changed from calcium oxide to lanthanum oxide.
  • the transparent protective layer was analyzed by ESCA, and it was confirmed that the lanthanum oxide constituting the transparent protective layer was in an oxygen-deficient state.
  • a double-sided emission type organic EL device 1-5 was obtained in the same manner as the organic EL device 1-4 except that the film thickness of the transparent protective layer was changed from 20 nm to 70 nm.
  • the substrate provided with the ITO layer is fixed to a substrate holder of a commercially available vacuum deposition apparatus, and the ⁇ -NPD, H4, Ir-4, BAlq, Alq 3 and vanadium oxide are placed in a tantalum resistance heating boat, respectively, and vacuum deposition is performed. Attached to the first vacuum chamber of the apparatus.
  • the heating boat containing ⁇ -NPD was heated by being energized and deposited on the ITO layer at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second.
  • a hole injection / hole transport layer having a thickness of 20 nm was provided.
  • the heating boat containing H4 and the boat containing Ir-4 are energized independently to adjust the deposition rate of H4 as a light emitting host and Ir-4 as a light emitting dopant to 100: 6. Then, a light emitting layer having a thickness of 30 nm was provided.
  • the heating boat containing BAlq was energized and heated to provide a 10 nm thick hole blocking layer at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / sec. Further, the heating boat containing Alq 3 was heated by energization to provide an electron transport layer having a film thickness of 20 nm at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second.
  • the heating boat containing potassium fluoride was energized and heated to provide a potassium fluoride layer having a thickness of 1 nm at a deposition rate of 0.01 to 0.02 nm / sec. Further, the element formed up to the potassium fluoride layer was transferred to the second vacuum chamber in a vacuum, the second vacuum chamber was depressurized to 4 ⁇ 10 ⁇ 4 Pa, and then the heating boat containing aluminum was energized, An aluminum layer having a film thickness of 5 nm was formed at a deposition rate of 0.1 to 0.1 to 0.2 nm / second, and an electron injection layer was provided.
  • the vanadium oxide which comprises the transparent protective layer was in an oxygen defect state (non-stoichiometric composition).
  • the element formed up to the transparent protective layer was transferred to a commercially available parallel plate sputtering apparatus equipped with an ITO target in advance, and after reducing the pressure in the sputtering apparatus chamber to 5 ⁇ 10 ⁇ 3 Pa, nitrogen gas and oxygen gas were added. While flowing, discharge was performed at a DC output of 500 W, and a transparent conductive layer (cathode) of an ITO conductive layer having a film thickness of 10 nm / second and a film thickness of 100 nm was formed.
  • a cathode was formed in the same manner as in the organic EL element 1-6.
  • Organic EL elements 1-8 to 1-12 were produced in the same manner as the organic EL element 1-7, except that the thickness of the transparent protective layer was changed to the values shown in Table 1.
  • Organic EL devices 1-13 to 1-15 were produced in the same manner as the organic EL device 1-9, except that the compounds in the electron transport layer were changed to the compounds shown in Table 1.
  • Organic EL devices 1-16 to 1-18 were produced in the same manner as the organic EL device 1-15 except that the phosphorescent compound was changed to the compounds shown in Table 1.
  • Organic EL elements 1-19 to 1-20 were produced in the same manner as the organic EL element 1-18, except that the material of the transparent protective layer was changed to the material shown in Table 1. Note that molybdenum oxide shown in Table 1 is hexavalent, rhenium oxide is hexavalent, and nickel oxide is divalent.
  • auxiliary electrode On the cathode, an auxiliary electrode made of a line-shaped silver pattern was produced at a spacing of a line width of 50 ⁇ m, a thickness of 1 ⁇ m, and a pitch of 1,000 ⁇ m by a sputtering method using a shadow mask.
  • Organic EL elements 1-22 to 1-23 were produced in the same manner as the organic EL element 1-21, except that the material of the transparent protective layer was changed to the material shown in Table 1.
  • auxiliary electrode An area where the transparent protective layer is not patterned on the cathode on the auxiliary electrode made of a line-shaped silver pattern as shown in FIG. 2 at intervals of a line width of 50 ⁇ m, a thickness of 1 ⁇ m, and a pitch of 1,000 ⁇ m using a shadow mask. Made above.
  • Organic EL elements 1-25 to 1-26 were produced in the same manner as the organic EL element 1-24, except that the material of the transparent protective layer was changed to the material shown in Table 1.
  • any transparent protective layer of Samples 1-8 to 1-26 was in an oxygen deficient state as confirmed by ESCA.
  • Table 1 shows the results obtained as described above.
  • External extraction quantum efficiency (%) number of photons emitted to the outside of the organic EL element / number of electrons sent to the organic EL element ⁇ 100
  • a spectral radiance meter CS-1000 manufactured by Konica Minolta Sensing
  • the external extraction quantum efficiencies of the organic EL elements 1-1 to 1-26 were expressed as relative values with the measured value of the organic EL element 1-1 (comparative example) being 1.0.
  • the relative value of the external extraction quantum efficiency is shown in Table 1.
  • the substrate provided with the aluminum layer is fixed to a substrate holder of a commercially available vacuum deposition apparatus, and potassium fluoride, Alq 3 , BAlq, DPVBi, and ⁇ -NPD are placed in a tantalum resistance heating boat, respectively. Attached to a vacuum chamber.
  • the first vacuum chamber is depressurized to 4 ⁇ 10 ⁇ 4 Pa, and then heated by energizing a heating boat containing potassium fluoride to form a film on the aluminum layer at a deposition rate of 0.01 to 0.02 nm / sec.
  • An electron injection layer having a thickness of 1 nm was provided.
  • the heating boat containing Alq 3 was energized and heated to provide an electron transport layer having a thickness of 20 nm at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second.
  • the heating boat containing DPVBi was energized and heated to provide a light emitting layer having a film thickness of 30 nm at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second.
  • the heating boat containing BAlq was energized and heated to provide an electron blocking layer having a thickness of 10 nm at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second.
  • the heating boat containing ⁇ -NPD was energized and heated to provide a hole injection / hole transport layer having a film thickness of 20 nm at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second.
  • a cathode was formed in the same manner as in the organic EL element 2-1.
  • a top emission type organic EL device 2-3 was obtained in the same manner as the organic EL device 2-2 except that the thickness of the transparent protective layer was changed from 20 nm to 70 nm.
  • a top emission type organic EL element 2-4 was obtained in the same manner as the organic EL element 2-2 except that the material of the transparent protective layer was changed from calcium oxide to lanthanum oxide.
  • a top emission type organic EL element 2-5 was obtained in the same manner as the organic EL element 2-4 except that the thickness of the transparent protective layer was changed from 20 nm to 70 nm.
  • the substrate provided with the aluminum layer is fixed to a substrate holder of a commercially available vacuum deposition apparatus, and potassium fluoride, Alq 3 , BAlq, H4, Ir-4, ⁇ -NPD are placed in a tantalum resistance heating boat, respectively, and vacuum deposition is performed. Attached to the first vacuum chamber of the apparatus.
  • the heating boat containing potassium fluoride was energized and heated, and deposited on the aluminum layer at a deposition rate of 0.01 to 0.02 nm / sec.
  • An electron injection layer having a thickness of 1 nm was provided.
  • the heating boat containing Alq 3 was energized and heated to provide an electron transport layer having a thickness of 20 nm at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second.
  • the heating boat containing H4 and the boat containing Ir-4 are energized independently to adjust the deposition rate of H4 as a light emitting host and Ir-4 as a light emitting dopant to 100: 6. Then, a light emitting layer having a thickness of 30 nm was provided.
  • the heating boat containing BAlq was energized and heated to provide a 10 nm thick hole blocking layer at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second. Further, the heating boat containing ⁇ -NPD was energized and heated to provide a hole injection / hole transport layer having a film thickness of 20 nm at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second.
  • the element formed up to the transparent protective layer is transferred to a commercially available parallel plate sputtering apparatus equipped with an ITO target in advance, and the pressure in the chamber of the sputtering apparatus is reduced to 5 ⁇ 10 ⁇ 3 Pa, and then nitrogen gas and oxygen gas are added. While flowing, it was discharged at a DC output of 500 W to form a transparent conductive layer (anode) of an ITO conductive layer having a film thickness of 10 nm / second and a film thickness of 100 nm.
  • Organic EL elements 2-8 to 2-12 were produced in the same manner as the organic EL element 2-7, except that the thickness of the transparent protective layer was changed to the values shown in Table 2.
  • Organic EL devices 2-13 to 2-15 were produced in the same manner as the organic EL device 2-9, except that the phosphorescent compound was changed to the compounds shown in Table 2.
  • Organic EL elements 2-16 to 2-17 were produced in the same manner as the organic EL element 2-15, except that the material of the transparent protective layer was changed to the material shown in Table 2. Note that molybdenum oxide shown in Table 2 is hexavalent, rhenium oxide is hexavalent, and nickel oxide is divalent.
  • an auxiliary electrode composed of a line-shaped silver pattern was produced by a sputtering method using a shadow mask at a line width of 50 ⁇ m, a thickness of 1 ⁇ m, and a pitch of 1,000 ⁇ m.
  • Organic EL elements 2-19 to 2-20 were produced in the same manner as the organic EL element 2-15 except that the material of the transparent protective layer was changed to the material shown in Table 2.
  • the device is remotely controlled from the outside so that a stainless steel mask is disposed on the electron injection layer. Installed with control.
  • the mask used at this time has a line-shaped hole with a width of 50 ⁇ m at intervals of 1,000 ⁇ m.
  • the heating boat containing molybdenum oxide (hexavalent) was energized and heated, and the above was performed at a deposition rate of 0.1 to 0.2 nm / second.
  • a transparent protective layer was formed over the mask and patterned as shown in FIG.
  • FIG. 3 shows a top view and a cross-sectional view seen from the side.
  • auxiliary electrode An area where the transparent protective layer is not patterned on the cathode, with an auxiliary electrode made of a linear silver pattern as shown in FIG. 3 at intervals of 50 ⁇ m in line width, 1 ⁇ m in thickness and 1,000 ⁇ m in pitch using a shadow mask. Made above.
  • Organic EL elements 2-22 to 2-23 were produced in the same manner as the organic EL element 2-21 except that the material of the transparent protective layer was changed to the material shown in Table 2.
  • any transparent protective layer of Samples 2-8 to 2-23 was in an oxygen deficient state as confirmed by ESCA.
  • External extraction quantum efficiency (%) number of photons emitted to the outside of the organic EL element / number of electrons sent to the organic EL element ⁇ 100
  • a spectral radiance meter CS-1000 manufactured by Konica Minolta Sensing
  • the external extraction quantum efficiencies of the organic EL elements 2-1 to 2-23 were expressed as relative values with the measured value of the organic EL element 2-1 (comparative example) being 1.0.
  • Table 2 shows the relative values of the external extraction quantum efficiency.
  • Table 2 shows the results obtained as described above.
  • the organic electroluminescence element of the present invention emits light at a low voltage and can be used for a display device and a lighting device such as a television or a personal computer having a bright screen.

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Abstract

　トップエミッション型及び両面エミッション型の有機エレクトロルミネッセンス素子の透明導電性層の形成に、生産性の高いスパッタ法を用いても駆動電圧の上昇が無く、駆動電圧が改良された有機エレクトロルミネッセンス素子及び照明装置を提供することを課題とする。　本発明の有機エレクトロルミネッセンス素子は、少なくとも発光層及び透明導電性層を有し、該発光層と該透明導電性層との間に透明保護層が配置されており、該発光層はリン光発光性化合物を含有し、かつ該透明保護層が金属酸化物を含有し、該金属酸化物がモリブデン酸化物（６価）、レニウム酸化物（６価）又はニッケル酸化物（２価）であり、該モリブデン酸化物（６価）、レニウム酸化物（６価）及びニッケル酸化物（２価）は酸素欠損状態であることを特徴とする。

Description

有機エレクトロルミネッセンス素子及び照明装置
　本発明は、各種ディスプレイ、表示装置及び照明等に適用される有機エレクトロルミネッセンス素子及び照明装置に関する。
　各種ディスプレイのバックライト、看板や非常灯等の表示板、照明等の光源として用いられる面発光体は、高輝度、高発光効率、薄型、軽量といった多くの優れた特徴を有することから、近年注目されている。このような面発光体の中でも、有機材料を用いて正負の各電極からの電気エネルギーによって発光させる有機エレクトロルミネッセンス素子（以下、有機ＥＬ素子ともいう）は、数Ｖ～数十Ｖ程度の低電圧で発光が可能であり、薄膜型の完全固体素子であり、省スペースである等の理由から、特に近年注目されている。
　有機ＥＬ素子の高効率化には光取り出し効率の向上が必須であるが、有機ＥＬ素子は発光層と金属電極との距離が数十ｎｍオーダーと近いため、表面プラズモンモード光の導波損失が大きく、光取り出し効率が上がらないという課題を有している。表面プラズモンモード光の導波損失を少なくする手段としては、トップエミッション型の構成を取ることが挙げられる。
　トップエミッション型有機ＥＬ素子の課題の一つとして、透明導電性層の成膜工程での有機層ダメージによる素子の発光効率低下、電圧上昇及び寿命の低下等がある。特に透明導電性層の成膜プロセスとして生産性が高いスパッタ法を用いた場合に上述の課題が顕著となり、トップエミッション型有機ＥＬ素子の生産性と素子特性の両立は大きな課題であった。生産性と素子特性の両立する技術としては、透明導電性層と発光層との間に銅フタロシアニンなどの金属フタロシアニン系材料から成る層（以下、透明保護層と称する。）を設けることで、透明導電性層の成膜工程での有機層ダメージを抑制する技術が挙げられる（特許文献１、特許文献２参照。）。該技術は、透明保護層の材料として透過率が低い銅フタロシアニンを用いているため、発光効率が下がる欠点を有していることがわかった。
　また、別の技術として、チタン酸化物、バナジウム酸化物、ジルコニウム酸化物又はランタン酸化物を酸素欠陥状態で成膜した層を透明保護層とする検討がなされている（特許文献３参照。）。これは上述の金属酸化物の酸素欠陥状態が不安定であることを利用して、透明導電性層を形成するスパッタ工程で発生する酸素ラジカルを透明保護層でトラップすることによって有機層の酸化ダメージの抑制を狙った技術である。従って、スパッタ工程による有機層の酸化ダメージ抑制には効果があるが、透明保護層の酸化により電圧が上昇する課題を有していることがわかった。特に生産性の観点から、スパッタの放電出力を上げて透明導電性層の成膜速度を高める場合、有機層のダメージ抑制のために透明保護層の膜厚を十分に厚くしておく必要があるので、透明保護層が厚い場合、上述のスパッタ工程での透明保護層の酸化により電圧上昇の課題がさらに大きくなることがわかった。
特開２０００－５８２６５号公報 特開２０００－６８０６３号公報 特許第４３６６６８６号公報
　本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、その目的は、トップエミッション型及び両面エミッション型の有機エレクトロルミネッセンス素子の透明導電性層の形成に、生産性の高いスパッタ法を用いても駆動電圧の上昇が無く、駆動電圧が改良された有機エレクトロルミネッセンス素子及び照明装置を提供することにある。
　本発明の上記目的は、以下の構成により達成することができる。
　１．少なくとも発光層及び透明導電性層を有する有機エレクトロルミネッセンス素子において、該発光層と該透明導電性層との間に透明保護層が配置されており、該発光層はリン光発光性化合物を含有し、かつ該透明保護層が金属酸化物を含有し、該金属酸化物がモリブデン酸化物（６価）、レニウム酸化物（６価）又はニッケル酸化物（２価）であり、該モリブデン酸化物（６価）、レニウム酸化物（６価）及びニッケル酸化物（２価）は酸素欠損状態であることを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子。
　２．前記透明保護層の膜厚が６０ｎｍ以上、１５０ｎｍ以下であることを特徴とする前記１に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
　３．前記発光層と前記透明保護層との間に電子輸送層を有することを特徴とする前記１又は２に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
　４．前記発光層と前記透明保護層との間に正孔輸送層を有することを特徴とする前記１又は２に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
　５．前記電子輸送層が下記一般式（１）で表される化合物を含有することを特徴とする前記３に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
　一般式（１）　　（Ａｒ１）ｎ１－Ｙ１
〔式中、ｎ１は１以上の整数を表し、Ｙ１はｎ１が１の場合は置換基を表し、ｎ１が２以上の場合は単なる結合手又はｎ１価の連結基を表す。Ａｒ１は下記一般式（Ａ）で表される基を表し、ｎ１が２以上の場合、複数のＡｒ１は同一でも異なっていてもよい。但し、前記一般式（１）で表される化合物は分子内に３環以上の環が縮合してなる縮合芳香族複素環を少なくとも２つ有する。〕
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000006
 　〔式中、Ｘは、Ｎ（Ｒ）、Ｏ、Ｓ又はＳｉ（Ｒ）（Ｒ’）を表し、Ｅ１～Ｅ８は、Ｃ（Ｒ１）又はＮを表し、Ｒ、Ｒ’及びＲ１は水素原子、置換基又はＹ１との連結部位を表す。＊はＹ１との連結部位を表す。Ｙ２は単なる結合手又は２価の連結基を表す。Ｙ３及びＹ４は、各々５員又は６員の芳香族環から導出される基を表し、少なくとも一方は環構成原子として窒素原子を含む芳香族複素環から導出される基を表す。ｎ２は１～４の整数を表す。〕
　６．前記一般式（１）で表される化合物が、下記一般式（２）で表される化合物であることを特徴とする前記５に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000007
 〔式中、Ｙ５は、アリーレン基、ヘテロアリーレン基又はそれらの組み合わせからなる２価の連結基を表す。Ｅ５１～Ｅ６６は、各々Ｃ（Ｒ３）又はＮを表し、Ｒ３は水素原子又は置換基を表す。Ｙ６～Ｙ９は、各々芳香族炭化水素環から導出される基又は芳香族複素環から導出される基を表し、Ｙ６又はＹ７の少なくとも一方、及びＹ８又はＹ９の少なくとも一方は、Ｎ原子を含む芳香族複素環から導出される基を表す。ｎ３及びｎ４は０～４の整数を表すが、ｎ３＋ｎ４は２以上の整数である。〕
　７．前記一般式（２）で表される化合物が、下記一般式（３）で表される化合物であることを特徴とする前記６に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000008
 〔式中、Ｙ５は、アリーレン基、ヘテロアリーレン基又はそれらの組み合わせからなる２価の連結基を表す。Ｅ５１～Ｅ６６、Ｅ７１～Ｅ８８は、各々Ｃ（Ｒ３）又はＮを表し、Ｒ３は水素原子又は置換基を表す。但し、Ｅ７１～Ｅ７９の少なくとも１つ及びＥ８０～Ｅ８８の少なくとも１つはＮを表す。ｎ３及びｎ４は０～４の整数を表すが、ｎ３＋ｎ４は２以上の整数である。〕
　８．前記リン光発光性化合物が下記一般式（４）で表されることを特徴とする前記１～７のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000009
 〔式中、Ｐ、Ｑは、各々炭素原子又は窒素原子を表し、Ａ１はＰ－Ｃと共に芳香族炭化水素環又は芳香族複素環を形成する原子群を表す。Ａ２はＱ－Ｎと共に芳香族複素環を形成する原子群を表す。Ｐ１－Ｌ１－Ｐ２は２座の配位子を表し、Ｐ１、Ｐ２は各々独立に炭素原子、窒素原子又は酸素原子を表す。Ｌ１はＰ１、Ｐ２と共に２座の配位子を形成する原子群を表す。ｊ１は１～３の整数を表し、ｊ２は０～２の整数を表すが、ｊ１＋ｊ２は２又は３である。Ｍ１は元素周期表における８族～１０族の遷移金属元素を表す。〕
　９．前記一般式（４）で表される化合物が下記一般式（５）で表される化合物であることを特徴とする前記８に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000010
 〔式中、Ｚは、炭化水素環基又は複素環基を表す。Ｐ、Ｑは、各々炭素原子又は窒素原子を表し、Ａ１はＰ－Ｃと共に芳香族炭化水素環又は芳香族複素環を形成する原子群を表す。Ａ３はＣ（Ｒ０１）＝Ｃ（Ｒ０２）、Ｎ＝Ｃ（Ｒ０２）、Ｃ（Ｒ０１）＝Ｎ又はＮ＝Ｎを表し、Ｒ０１、Ｒ０２は、各々水素原子又は置換基を表す。Ｐ１－Ｌ１－Ｐ２は２座の配位子を表し、Ｐ１、Ｐ２は各々独立に炭素原子、窒素原子、又は酸素原子を表す。Ｌ１はＰ１、Ｐ２と共に２座の配位子を形成する原子群を表す。ｊ１は１～３の整数を表し、ｊ２は０～２の整数を表すが、ｊ１＋ｊ２は２又は３である。Ｍ１は元素周期表における８族～１０族の遷移金属元素を表す。破線は単結合又は二重結合を表す。〕
　１０．前記Ｍ１がイリジウムを表すことを特徴とする前記８又は９に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
　１１．前記透明導電性層上に補助電極を有することを特徴とする前記１～１０のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
　１２．前記透明保護層がパターニングされており、かつ前記補助電極が透明保護層のパターニングされていない領域上に形成されていることを特徴とする前記１１に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
　１３．両面エミッション型であることを特徴とする前記１～１２のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
　１４．前記１～１３のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子を備えたことを特徴とする照明装置。
　本発明によれば、生産性が高く、駆動電圧が改良された有機エレクトロルミネッセンス素子及び照明装置を提供することができる。
本発明の透明導電性層が陰極となる両面エミッション型有機ＥＬ素子の層構成の好ましい具体例を示す。 本発明の透明導電性層が陽極となるトップエミッション型有機ＥＬ素子の層構成の好ましい具体例を示す。 補助電極を有する両面エミッション型有機ＥＬ素子の一例を示す上面図である。 補助電極を有する両面エミッション型有機ＥＬ素子の一例を示す断面図である。 補助電極を有するトップエミッション型有機ＥＬ素子の一例を示す上面図である。 補助電極を有するトップエミッション型有機ＥＬ素子の一例を示す断面図である。
　以下本発明を実施するための最良の形態について詳細に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
　以下、本発明を実施するための形態について詳細に説明する。
　本発明の有機エレクトロルミネッセンス素子は、透明導電性層と発光層との間に金属酸化物を主成分とした透明保護層を有しており、かつ発光層にリン光発光性化合物を含有していることを特徴とする。該透明保護層は透明保護層の成膜工程以降の工程での発光層へのダメージを抑制する層であることを特徴としており、発光層にリン光発光性化合物を含有した層を用いることで、該透明保護層の膜厚を上げなくても透明導電性層を形成するスパッタ工程に起因した電圧上昇が起こらない特徴を有している。さらに、金属酸化物として酸素欠陥状態のモリブデン酸化物（６価）、レニウム酸化物（６価）又はニッケル酸化物（２価）を含有する透明保護層を用いることで、本発明の効果をさらに高めることができる。これはモリブデン酸化物（６価）、レニウム酸化物（６価）又はニッケル酸化物（２価）は酸素欠陥状態の安定性が比較的高いため、スパッタ工程での透明保護層自体の酸化が起こりづらいためか、モリブデン酸化物（６価）、レニウム酸化物（６価）又はニッケル酸化物（２価）を含有する透明保護層はその他の金属酸化物を含有する透明保護層よりも膜厚を上げることができ、スパッタ工程での発光性のダメージをさらに低減できることによる。
　以下、本発明に係る電子注入層を有する有機エレクトロルミネッセンス素子について説明する。
　《有機ＥＬ素子》
　まず、面発光体の一例である本発明の有機ＥＬ素子の実施形態を詳細に説明するが、以下に記載する内容は、本発明の実施態様の代表例であり、本発明はその要旨を超えない限り、これらの内容に限定されない。
　はじめに、有機ＥＬ素子の層構成の好ましい具体例を以下に示す。
　（ｉ）陽極／発光層／電子輸送層／電子注入層／透明保護層／陰極
　（ii）陽極／正孔注入層／正孔輸送層／発光層／電子輸送層／電子注入層／透明保護層／陰極
　（iii）陽極／正孔輸送層／発光層／正孔阻止層／電子輸送層／電子注入層／透明保護層／陰極
　（iv）陽極／透明保護層／正孔注入層／正孔輸送層／発光層／電子輸送層／電子注入層／陰極
　（ｖ）陽極／透明保護層／正孔輸送層／発光層／正孔阻止層／電子輸送層／電子注入層／陰極
　本発明の有機ＥＬ素子は透明保護層の後に形成する電極が透明導電性層であることを特徴とし、対向する電極はアプリケーションによって透明、不透明のどちらも選択することができる。本発明の有機ＥＬ素子はトップエミッション型又は両面エミッション型の構成を取ることが好ましい。
　図１Ａに前記（ii）の構成に対応する、透明導電性層９が陰極となる両面エミッション型の構成の一例を示す。ここでは陽極２ａが基材１側となる。
　また、図１Ｂに前記（iv）の構成に対応する、透明導電性層９が陽極となるトップエミッション型の構成の一例を示す。陰極２ｂが基材１側となる。
　本発明に係る透明保護層は、スパッタ等により形成される透明導電性層と発光層を含む有機層の間に形成されている。
　発光層は、少なくとも発光色の異なる２種以上の発光材料を含有していることが好ましく、単層でも複数の発光層からなる発光層ユニットを形成していてもよい。また、正孔輸送層には正孔注入層、電子阻止層も含まれる。
　《透明保護層》
　本発明に係る透明保護層とは、実質的に透明であり、かつ透明保護層の後工程での発光層へのプロセスダメージを抑制する層であることを特徴とする。本発明でいう実質的に透明とは可視光透過率が５０％以上のことを指す。
　本発明の有機ＥＬ素子は、透明導電性層と発光層との間に透明保護層を有している。透明導電性層と発光層との間に透明保護層を有していると透明保護層以降のプロセスでの発光層の劣化が抑制される。
　本発明に係る透明保護層は主成分が金属酸化物であることを特徴とし、本発明に係る金属酸化物はモリブデン酸化物（６価）、レニウム酸化物（６価）又はニッケル酸化物（２価）である。
　本発明に係る金属酸化物は酸素欠陥状態である。酸素欠陥状態とは、酸素不足型の非化学量論組成となっている状態をいう。例えば、モリブデン酸化物（６価）の酸素欠陥状態は、モリブデン酸化物が、６価より小さな価数のモリブデン酸化物を有することを意味している。
　本発明に係る透明保護層の成膜方法としては蒸着法が好ましい。
　本発明に係る透明保護層の膜厚は、充分な有機層の酸化ダメージの抑制のために、６０ｎｍ以上、１５０ｎｍ以下であることが好ましい。膜厚が薄過ぎると、透明導電性層の成膜工程での発光層の劣化が課題となり、膜厚が厚過ぎると光取り出し効率の低下が課題となる。
　本発明に係る透明保護層は、電極形成の際の、有機層の酸化ダメージを抑制する。該透明保護層に含有されるモリブデン酸化物（６価）、レニウム酸化物（６価）及びニッケル酸化物（２価）は、酸素欠陥状態であり、膜厚が６０ｎｍ以上と厚い場合でも、駆動電圧の上昇がそれほど起きない。モリブデン酸化物（６価）、レニウム酸化物（６価）及びニッケル酸化物（２価）は、試薬メーカー等により、市販されており、容易に入手できる。
　本発明に係る透明保護層の成膜方法としては蒸着法が好ましく、例えば、酸化モリブデン（６価）等、蒸着材料として用いられる材料を用いて、系中（蒸着装置内）に酸素を導入せずに成膜する。酸素を導入せず蒸着を行うことで化学量論的に充足した組成を形成せず酸素欠陥状態の金属酸化物からなる透明保護層を得ることができる。
　また、成膜条件としては系中に酸素を導入しないほかは、加熱温度、また蒸着速度等蒸着材料に応じて適宜変更できる。また、成膜された金属酸化物膜の組成はＥＳＣＡ（Ｅｌｅｃｔｒｏｎ　Ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ　ｆｏｒ　Ｃｈｅｍｉｃａｌ　Ａｎａｌｙｓｉｓｉ）により分析することで確認できる。
　本発明に係る透明保護層は必要に応じてパターニングされていても良い。透明保護層をパターニングすることで透明導電性層と電子注入層又は透明導電性層と正孔輸送層が電気的に接触した構成となるため、透明導電性層から輸送された電子又は正孔が透明保護層を通らずに電子注入層又は正孔輸送層に輸送されるため、より低い電圧で発光させることが可能となる。本発明に係る透明保護層をパターニングする場合は５００μｍ以上５，０００μｍ以下の間隔でパターニングされていることが好ましい。パターニングの形状に特に制限がないが、例えば、ライン状のパターニングや格子状のパターニング形態を取ることができる。本発明に係る透明保護層のパターニング方法としては、シャドーマスク方法、レーザー熱転写法、レーザー蒸着法、レーザーアブレーション法、インクジェット法、印刷法等が挙げられる。本発明に係る透明保護層のパターニング方法として好ましい形態は、蒸着によるシャドーマスク法である。
　《補助電極》
　本発明の有機ＥＬ素子は、透明導電性層上に抵抗を下げる目的で補助電極を設けることができる。補助電極を形成する材料としては、金、白金、銀、銅、アルミ等の抵抗が低い金属が好ましい。補助電極の形成方法としては、蒸着法、スパッタリング法、印刷法、インクジェット法、エアロゾルジェット法などが挙げられる。本発明に係る補助電極の線幅は透明導電性層の開口率の観点から５０μｍ以下であることが好ましく、補助電極の厚さは導電性の観点から、１μ以上であることが好ましい。本発明に係る補助電極は透明保護層がパターニングされている場合は、透明保護層のパターニングされていない領域上に形成することが好ましい。本発明でいう、透明保護層のパターニングされていない領域とは透明保護層がない領域上のことを指す。
　《透明導電性層：電極》
　本発明に係る有機ＥＬ素子における透明導電性層としては、インジウムチンオキシド（ＩＴＯ）、ＳｎＯ２、ＺｎＯ等の導電性光透過性材料が好ましく用いられる。また、ＩＤＩＸＯ（Ｉｎ２Ｏ３－ＺｎＯ）等非晶質で光透過性の導電膜を作製可能な材料を用いてもよい。本発明に係る透明導電性層の形成方法としては生産性の観点から、スパッタリング法が好ましい。本発明に係る透明導電性層は必要に応じて、フォトリソグラフィー法で所望の形状のパターンを形成してもよく、あるいはパターン精度を余り必要としない場合は（１００μｍ以上程度）、上記電極物質の蒸着やスパッタリング時に所望の形状のマスクを介してパターンを形成してもよい。本発明に係る透明導電性層のシート抵抗は数百Ω／□以下が好ましい。更に膜厚は材料にもよるが、通常１０～１０００ｎｍ、好ましくは５０～２００ｎｍの範囲で選ばれる。
　〔発光層〕
　本発明に係る発光層は発光材料としてリン光発光性化合物が含有されていることを特徴とする。
　発光層は、電極又は電子輸送層、正孔輸送層から注入されてくる電子及び正孔が再結合して発光する層であり、発光する部分は発光層の層内であっても発光層と隣接層との界面であってもよい。
　発光層としては、含まれる発光材料が発光要件を満たしていれば、その構成には特に制限はない。また、同一の発光スペクトルや発光極大波長を有する層が複数層あってもよい。また、各発光層間には非発光性の中間層を有していることが好ましい。
　発光層の膜厚の総和は１～１００ｎｍの範囲にあることが好ましく、更に好ましくは、より低い駆動電圧を得ることができることから１ｎｍ以上、３０ｎｍ以下である。なお、発光層の膜厚の総和とは、発光層間に非発光性の中間層が存在する場合には、当該中間層も含む膜厚である。
　個々の発光層の膜厚としては、１～５０ｎｍの範囲に調整することが好ましく、更に好ましくは１～２０ｎｍの範囲に調整することである。青、緑、赤の各発光層の膜厚の関係については、特に制限はない。
　発光層の作製には、後述する発光材料やホスト化合物を、例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、ＬＢ法、インクジェット法等の公知の薄膜形成方法により製膜して形成することができる。
　各発光層は複数の発光材料を混合してもよく、またリン光発光材料と蛍光発光材料を同一発光層中に混合して用いてもよい。
　発光層の構成として、ホスト化合物、発光材料（発光ドーパント化合物ともいう）を含有し、発光材料より発光させることが好ましい。
　〈ホスト化合物〉
　有機ＥＬ素子の発光層に含有されるホスト化合物としては、室温（２５℃）における燐光発光の燐光量子収率が０．１未満の化合物が好ましい。更に好ましくは燐光量子収率が０．０１未満である。また、発光層に含有される化合物の中で、その層中での体積比が５０％以上であることが好ましい。
　ホスト化合物としては、公知のホスト化合物を単独で用いてもよく、又は複数種併用して用いてもよい。ホスト化合物を複数種用いることで、電荷の移動を調整することが可能であり、有機ＥＬ素子を高効率化することができる。また、後述する発光材料を複数種用いることで、異なる発光を混ぜることが可能となり、これにより任意の発光色を得ることができる。
　用いられるホスト化合物としては、従来公知の低分子化合物でも、繰り返し単位をもつ高分子化合物でもよく、ビニル基やエポキシ基のような重合性基を有する低分子化合物（蒸着重合性発光ホスト）でもよい。
　公知のホスト化合物としては、正孔輸送能、電子輸送能を有しつつ、発光の長波長化を防ぎ、かつ高Ｔｇ（ガラス転移温度）化合物が好ましい。ここでいうガラス転移点（Ｔｇ）とは、ＤＳＣ（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ　Ｓｃａｎｎｉｎｇ　Ｃｏｌｏｒｉｍｅｔｒｙ：示差走査熱量法）を用いて、ＪＩＳ－Ｋ－７１２１に準拠した方法により求められる値である。
　公知のホスト化合物の具体例としては、以下の文献に記載されている化合物が挙げられる。例えば、特開２００１－２５７０７６号公報、同２００２－３０８８５５号公報、同２００１－３１３１７９号公報、同２００２－３１９４９１号公報、同２００１－３５７９７７号公報、同２００２－３３４７８６号公報、同２００２－８８６０号公報、同２００２－３３４７８７号公報、同２００２－１５８７１号公報、同２００２－３３４７８８号公報、同２００２－４３０５６号公報、同２００２－３３４７８９号公報、同２００２－７５６４５号公報、同２００２－３３８５７９号公報、同２００２－１０５４４５号公報、同２００２－３４３５６８号公報、同２００２－１４１１７３号公報、同２００２－３５２９５７号公報、同２００２－２０３６８３号公報、同２００２－３６３２２７号公報、同２００２－２３１４５３号公報、同２００３－３１６５号公報、同２００２－２３４８８８号公報、同２００３－２７０４８号公報、同２００２－２５５９３４号公報、同２００２－２６０８６１号公報、同２００２－２８０１８３号公報、同２００２－２９９０６０号公報、同２００２－３０２５１６号公報、同２００２－３０５０８３号公報、同２００２－３０５０８４号公報、同２００２－３０８８３７号公報等が挙げられる。
　〈発光材料〉
　次に、発光材料について説明する。
　発光材料としては、リン光発光材料（リン光性化合物、リン光発光性化合物等ともいう）を用いることができる。
　リン光発光材料とは、励起三重項からの発光が観測される化合物であり、具体的には室温（２５℃）にてリン光発光する化合物であり、燐光量子収率が２５℃において０．０１以上の化合物であると定義されるが、好ましい燐光量子収率は０．１以上である。
　上記燐光量子収率は、第４版実験化学講座７の分光IIの３９８頁（１９９２年版、丸善）に記載の方法により測定できる。溶液中での燐光量子収率は種々の溶媒を用いて測定できるが、本発明においてリン光発光材料を用いる場合、任意の溶媒のいずれかにおいて上記燐光量子収率（０．０１以上）が達成されればよい。
　リン光発光材料の発光の原理としては２種挙げられ、一つはキャリアが輸送されるホスト化合物上でキャリアの再結合が起こってホスト化合物の励起状態が生成し、このエネルギーをリン光発光材料に移動させることでリン光発光材料からの発光を得るというエネルギー移動型であり、もう一つはリン光発光材料がキャリアトラップとなり、リン光発光材料上でキャリアの再結合が起こりリン光発光材料からの発光が得られるというキャリアトラップ型であるが、いずれの場合においても、リン光発光材料の励起状態のエネルギーはホスト化合物の励起状態のエネルギーよりも低いことが条件である。
　リン光発光材料は、有機ＥＬ素子の発光層に使用される公知のものの中から適宜選択して用いることができるが、好ましくは元素の周期表で８～１０族の金属を含有する錯体系化合物であり、更に好ましくはイリジウム化合物、オスミウム化合物、又は白金化合物（白金錯体系化合物）、希土類錯体であり、中でも最も好ましいのはイリジウム化合物である。
　本発明においては、少なくとも一つの発光層に２種以上の発光材料を含有していてもよく、発光層における発光材料の濃度比が発光層の厚さ方向で変化していてもよい。
　本発明に係るリン光発光性化合物は下記一般式（４）で表される化合物であることが好ましい。
　《一般式（４）で表される化合物》
　本発明の有機ＥＬ素子に係るリン光発光性化合物としては、上記一般式（４）で表される化合物が好ましい。
　以下、一般式（４）で表される化合物について説明する。なお、一般式（４）で表されるリン光発光性化合物（リン光発光性の金属錯体ともいう）は、本発明の有機ＥＬ素子の発光層に発光ドーパントとして含有されることが好ましい態様であるが、発光層以外の構成層（本発明の有機ＥＬ素子の構成層については後に詳細に説明する。）に含有されていても良い。
　一般式（４）において、Ａ１がＰ－Ｃと共に形成する芳香族炭化水素環としては、ベンゼン環、ビフェニル環、ナフタレン環、アズレン環、アントラセン環、フェナントレン環、ピレン環、クリセン環、ナフタセン環、トリフェニレン環、ｏ－テルフェニル環、ｍ－テルフェニル環、ｐ－テルフェニル環、アセナフテン環、コロネン環、フルオレン環、フルオラントレン環、ナフタセン環、ペンタセン環、ペリレン環、ペンタフェン環、ピセン環、ピレン環、ピラントレン環、アンスラアントレン環等が挙げられる。
　これらの環は更に、後述の一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基を有してもよい。
　一般式（４）において、Ａ１が、Ｐ－Ｃと共に形成する芳香族複素環としては、フラン環、チオフェン環、オキサゾール環、ピロール環、ピリジン環、ピリダジン環、ピリミジン環、ピラジン環、トリアジン環、ベンゾイミダゾール環、オキサジアゾール環、トリアゾール環、イミダゾール環、ピラゾール環、チアゾール環、インドール環、ベンゾイミダゾール環、ベンゾチアゾール環、ベンゾオキサゾール環、キノキサリン環、キナゾリン環、フタラジン環、カルバゾール環、アザカルバゾール環等が挙げられる。
　ここで、アザカルバゾール環とは、前記カルバゾール環を構成するベンゼン環の炭素原子が１つ以上窒素原子で置き換わったものを示す。
　これらの環は更に、後述の一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基を有してもよい。
　一般式（４）において、Ａ２が、Ｑ－Ｎと共に形成する芳香族複素環としては、オキサゾール環、オキサジアゾール環、オキサトリアゾール環、イソオキサゾール環、テトラゾール環、チアジアゾール環、チアトリアゾール環、イソチアゾール環、ピロール環、ピリジン環、ピリダジン環、ピリミジン環、ピラジン環、トリアジン環、イミダゾール環、ピラゾール環、トリアゾール環等が挙げられる。
　これらの環は更に、後述の一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基を有してもよい。
　一般式（４）において、Ｐ１－Ｌ１－Ｐ２で表される２座の配位子としては、フェニルピリジン、フェニルピラゾール、フェニルイミダゾール、フェニルトリアゾール、フェニルテトラゾール、ピラザボール、アセチルアセトン、ピコリン酸等が挙げられる。
　一般式（４）において、ｊ１は１～３の整数を表し、ｊ２は０～２の整数を表すが、ｊ１＋ｊ２は２又は３を表す、中でも、ｊ２は０である場合が好ましい。
　一般式（４）において、Ｍ１は元素周期表における８族～１０族の遷移金属元素（単に遷移金属ともいう）が用いられるが、中でも、イリジウム好ましい。
　本発明に係るリン光発光性化合物は下記一般式（５）で表される化合物であることがさらに好ましい。
　《一般式（５）で表される化合物》
　本発明に係る一般式（４）で表される化合物の中でも、一般式（５）で表される化合物が好ましい。
　一般式（５）において、Ｚで表される炭化水素環基としては、非芳香族炭化水素環基、芳香族炭化水素環基が挙げられ、前記非芳香族炭化水素環基としては、シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等が挙げられる。これらの基は、無置換でも後述する置換基を有していてもよい。
　また、前記芳香族炭化水素環基（芳香族炭化水素基、アリール基等ともいう）としては、例えば、フェニル基、ｐ－クロロフェニル基、メシチル基、トリル基、キシリル基、ナフチル基、アントリル基、アズレニル基、アセナフテニル基、フルオレニル基、フェナントリル基、インデニル基、ピレニル基、ビフェニリル基等が挙げられる。
　これらの基は、無置換でもよく、後述の一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基を有してもよい。
　一般式（５）において、Ｚで表される複素環基としては、非芳香族複素環基、芳香族複素環基等が挙げられ、前記非芳香族複素環基としては、例えば、エポキシ環、アジリジン環、チイラン環、オキセタン環、アゼチジン環、チエタン環、テトラヒドロフラン環、ジオキソラン環、ピロリジン環、ピラゾリジン環、イミダゾリジン環、オキサゾリジン環、テトラヒドロチオフェン環、スルホラン環、チアゾリジン環、ε－カプロラクトン環、ε－カプロラクタム環、ピペリジン環、ヘキサヒドロピリダジン環、ヘキサヒドロピリミジン環、ピペラジン環、モルホリン環、テトラヒドロピラン環、１，３－ジオキサン環、１，４－ジオキサン環、トリオキサン環、テトラヒドロチオピラン環、チオモルホリン環、チオモルホリン－１，１－ジオキシド環、ピラノース環、ジアザビシクロ［２，２，２］－オクタン環等から導出される基を挙げられる。
　これらの基は、無置換でもよく、後述の一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基を有してもよい。
　前記芳香族複素環基としては、例えば、ピリジル基、ピリミジニル基、フリル基、ピロリル基、イミダゾリル基、ベンゾイミダゾリル基、ピラゾリル基、ピラジニル基、トリアゾリル基（例えば、１，２，４－トリアゾール－１－イル基、１，２，３－トリアゾール－１－イル基等）、オキサゾリル基、ベンゾオキサゾリル基、チアゾリル基、イソオキサゾリル基、イソチアゾリル基、フラザニル基、チエニル基、キノリル基、ベンゾフリル基、ジベンゾフリル基、ベンゾチエニル基、ジベンゾチエニル基、インドリル基、カルバゾリル基、カルボリニル基、ジアザカルバゾリル基（前記カルボリニル基のカルボリン環を構成する炭素原子の一つが窒素原子で置き換わったものを示す）、キノキサリニル基、ピリダジニル基、トリアジニル基、キナゾリニル基、フタラジニル基等が挙げられる。
　これらの基は、無置換でもよく、後述の一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基を有してもよい。
　好ましくは、Ｚで表される基は芳香族炭化水素環基又は芳香族複素環基である。
　一般式（５）において、Ａ１が、Ｐ－Ｃと共に形成する芳香族炭化水素環としては、ベンゼン環、ビフェニル環、ナフタレン環、アズレン環、アントラセン環、フェナントレン環、ピレン環、クリセン環、ナフタセン環、トリフェニレン環、ｏ－テルフェニル環、ｍ－テルフェニル環、ｐ－テルフェニル環、アセナフテン環、コロネン環、フルオレン環、フルオラントレン環、ナフタセン環、ペンタセン環、ペリレン環、ペンタフェン環、ピセン環、ピレン環、ピラントレン環、アンスラアントレン環等が挙げられる。
　これらの環は更に、後述の一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基を有してもよい。
　一般式（５）において、Ａ１がＰ－Ｃと共に形成する芳香族複素環としては、フラン環、チオフェン環、オキサゾール環、ピロール環、ピリジン環、ピリダジン環、ピリミジン環、ピラジン環、トリアジン環、ベンゾイミダゾール環、オキサジアゾール環、トリアゾール環、イミダゾール環、ピラゾール環、チアゾール環、インドール環、ベンゾイミダゾール環、ベンゾチアゾール環、ベンゾオキサゾール環、キノキサリン環、キナゾリン環、フタラジン環、カルバゾール環、カルボリン環、アザカルバゾール環等が挙げられる。
　ここで、アザカルバゾール環とは、前記カルバゾール環を構成するベンゼン環の炭素原子が１つ以上窒素原子で置き換わったものを示す。
　これらの環は更に、一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基を有してもよい。
　一般式（５）のＡ３で表される、－Ｃ（Ｒ０１）＝Ｃ（Ｒ０２）－、－Ｎ＝Ｃ（Ｒ０２）－、－Ｃ（Ｒ０１）＝Ｎ－において、Ｒ０１、Ｒ０２で各々表される置換基は、後述の一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基と同義である。
　一般式（５）において、Ｐ１－Ｌ１－Ｐ２で表される２座の配位子としては、フェニルピリジン、フェニルピラゾール、フェニルイミダゾール、フェニルトリアゾール、フェニルテトラゾール、ピラザボール、アセチルアセトン、ピコリン酸等が挙げられる。
　また、ｊ１は１～３の整数を表し、ｊ２は０～２の整数を表すが、ｊ１＋ｊ２は２又は３を表す、中でも、ｊ２は０である場合が好ましい。
　一般式（５）において、Ｍ１で表される元素周期表における８族～１０族の遷移金属元素（単に遷移金属ともいう）は、一般式（４）において、Ｍ１で表される元素周期表における８族～１０族の遷移金属元素と同義である。
　本発明に係るリン光発光性化合物の具体例を以下に示すが、本発明はこれらに限定されない。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000011
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000012
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000013
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Figure JPOXMLDOC01-appb-C000016
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000017
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 　上記のリン光発光性化合物（リン光発光性金属錯体等ともいう）は、例えば、Ｏｒｇａｎｉｃ　Ｌｅｔｔｅｒ誌、ｖｏｌ３、Ｎｏ．１６、２５７９～２５８１頁（２００１）、Ｉｎｏｒｇａｎｉｃ　Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ，第３０巻、第８号、１６８５～１６８７頁（１９９１年）、Ｊ．Ａｍ．Ｃｈｅｍ．Ｓｏｃ．，１２３巻、４３０４頁（２００１年）、Ｉｎｏｒｇａｎｉｃ　Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ，第４０巻、第７号、１７０４～１７１１頁（２００１年）、Ｉｎｏｒｇａｎｉｃ　Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ，第４１巻、第１２号、３０５５～３０６６頁（２００２年）、Ｎｅｗ　Ｊｏｕｒｎａｌ　ｏｆ　Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ．，第２６巻、１１７１頁（２００２年）、Ｅｕｒｏｐｅａｎ　Ｊｏｕｒｎａｌ　ｏｆ　Ｏｒｇａｎｉｃ　Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ，第４巻、６９５～７０９頁（２００４年）、更にこれらの文献中に記載の参考文献等の方法を適用することにより合成できる。
　〔中間層〕
　各発光層間に非発光性の中間層（非ドープ領域等ともいう）を設ける場合について説明する。
　非発光性の中間層とは、複数の発光層を有する場合、その発光層間に設けられる層である。非発光性の中間層の膜厚としては１～２０ｎｍの範囲にあるのが好ましく、更には３～１０ｎｍの範囲にあることが隣接発光層間のエネルギー移動等相互作用を抑制し、且つ素子の電流電圧特性に大きな負荷を与えないということから好ましい。
　この非発光性の中間層に用いられる材料としては、発光層のホスト化合物と同一でも異なっていてもよいが、隣接する２つの発光層の少なくとも一方の発光層のホスト材料と同一であることが好ましい。
　非発光性の中間層は非発光層、各発光層と共通の化合物（例えば、ホスト化合物等）を含有していてもよく、各々共通ホスト材料（ここで、共通ホスト材料が用いられるとは、燐光発光エネルギー、ガラス転移点等の物理化学的特性が同一である場合やホスト化合物の分子構造が同一である場合等を示す。）を含有することにより、発光層－非発光層間の層間の注入障壁が低減され、電圧（電流）を変化させても正孔と電子の注入バランスが保ちやすいという効果を得ることができる。更に、非ドープ発光層に各発光層に含まれるホスト化合物と同一の物理的特性又は同一の分子構造を有するホスト材料を用いることにより、従来の有機ＥＬ素子作製の大きな問題点である素子作製の煩雑さをも併せて解消することができる。
　ホスト材料はキャリアの輸送を担うため、キャリア輸送能を有する材料が好ましい。キャリア輸送能を表す物性としてキャリア移動度が用いられるが、有機材料のキャリア移動度は一般的に電界強度に依存性が見られる。電界強度依存性の高い材料は正孔と電子注入・輸送バランスを崩しやすいため、中間層材料、ホスト材料は移動度の電界強度依存性の少ない材料を用いることが好ましい。
　また、一方では、正孔や電子の注入バランスを最適に調整するためには、非発光性の中間層は後述する阻止層、即ち正孔阻止層、電子阻止層として機能することも好ましい態様として挙げられる。
　〔注入層：電子注入層、正孔注入層〕
　注入層は必要に応じて設け、電子注入層と正孔注入層があり、上記の如く陽極と発光層又は正孔輸送層の間、及び陰極と発光層又は電子輸送層との間に存在させてもよい。
　注入層とは、駆動電圧低下や発光輝度向上のために電極と有機層間に設けられる層のことで、「有機ＥＬ素子とその工業化最前線（１９９８年１１月３０日エヌ・ティー・エス社発行）」の第２編第２章「電極材料」（１２３～１６６頁）に詳細に記載されており、正孔注入層と電子注入層とがある。
　正孔注入層は、特開平９－４５４７９号公報、同９－２６００６２号公報、同８－２８８０６９号公報等にもその詳細が記載されており、具体例として、銅フタロシアニンに代表されるフタロシアニン層、酸化バナジウムに代表される酸化物層、アモルファスカーボン層、ポリアニリン（エメラルディン）やポリチオフェン等の導電性高分子を用いた高分子層等が挙げられる。
　電子注入層は、特開平６－３２５８７１号公報、同９－１７５７４号公報、同１０－７４５８６号公報等にもその詳細が記載されており、具体的にはストロンチウムやアルミニウム等に代表される金属層、フッ化カリウムに代表されるアルカリ金属ハライド層、フッ化マグネシウムに代表されるアルカリ土類金属化合物層、酸化モリブデンに代表される酸化物層等が挙げられる。本発明に係わる電子注入層は金属層とアルカリ金属ハライド層との積層構成か酸化物層と金属層とアルカリ金属ハライド層との積層構成が好ましく、金属酸化物にアルカリ金属がドープされていても良い。金属酸化物にドープするアルカリ金属の量は１～１０質量％の範囲内が好ましい。上記電子注入層はごく薄い膜であることが望ましく、素材にもよるがその膜厚は１ｎｍ～１０μｍの範囲が好ましい。
　〔阻止層：正孔阻止層、電子阻止層〕
　阻止層は、上記の如く有機化合物薄膜の基本構成層のほかに必要に応じて設けられるものである。例えば、特開平１１－２０４２５８号公報、同１１－２０４３５９号公報、及び「有機ＥＬ素子とその工業化最前線（１９９８年１１月３０日エヌ・ティー・エス社発行）」の２３７頁等に記載されている正孔阻止（ホールブロック）層がある。
　正孔阻止層とは、広い意味では、電子輸送層の機能を有し、電子を輸送する機能を有しつつ正孔を輸送する能力が著しく小さい正孔阻止材料からなり、電子を輸送しつつ正孔を阻止することで電子と正孔の再結合確率を向上させることができる。また、後述する電子輸送層の構成を必要に応じて、本発明に係る正孔阻止層として用いることができる。正孔阻止層は、発光層に隣接して設けられていることが好ましい。
　一方、電子阻止層とは、広い意味では、正孔輸送層の機能を有し、正孔を輸送する機能を有しつつ電子を輸送する能力が著しく小さい材料からなり、正孔を輸送しつつ電子を阻止することで電子と正孔の再結合確率を向上させることができる。また、後述する正孔輸送層の構成を必要に応じて電子阻止層として用いることができる。本発明に係る正孔阻止層の膜厚としては好ましくは３～１００ｎｍの範囲内であり、更に好ましくは５～３０ｎｍの範囲内である。
　〔正孔輸送層〕
　正孔輸送層とは、正孔を輸送する機能を有する正孔輸送材料からなり、広い意味で正孔注入層、電子阻止層も正孔輸送層に含まれる。正孔輸送層は単層又は複数層設けることができる。
　正孔輸送材料としては、正孔の注入又は輸送、電子の障壁性のいずれかを有するものであり、有機物、無機物のいずれであってもよい。例えば、トリアゾール誘導体、オキサジアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、ポリアリールアルカン誘導体、ピラゾリン誘導体及びピラゾロン誘導体、フェニレンジアミン誘導体、アリールアミン誘導体、アミノ置換カルコン誘導体、オキサゾール誘導体、スチリルアントラセン誘導体、フルオレノン誘導体、ヒドラゾン誘導体、スチルベン誘導体、シラザン誘導体、アニリン系共重合体、また導電性高分子オリゴマー、特にチオフェンオリゴマー等が挙げられる。
　正孔輸送材料としては上記のものを使用することができるが、ポルフィリン化合物、芳香族第３級アミン化合物及びスチリルアミン化合物、特に芳香族第３級アミン化合物を用いることが好ましい。
　芳香族第３級アミン化合物及びスチリルアミン化合物の代表例としては、Ｎ，Ｎ，Ｎ′，Ｎ′－テトラフェニル－４，４′－ジアミノフェニル；Ｎ，Ｎ′－ジフェニル－Ｎ，Ｎ′－ビス（３－メチルフェニル）－〔１，１′－ビフェニル〕－４，４′－ジアミン（ＴＰＤ）；２，２－ビス（４－ジ－ｐ－トリルアミノフェニル）プロパン；１，１－ビス（４－ジ－ｐ－トリルアミノフェニル）シクロヘキサン；Ｎ，Ｎ，Ｎ′，Ｎ′－テトラ－ｐ－トリル－４，４′－ジアミノビフェニル；１，１－ビス（４－ジ－ｐ－トリルアミノフェニル）－４－フェニルシクロヘキサン；ビス（４－ジメチルアミノ－２－メチルフェニル）フェニルメタン；ビス（４－ジ－ｐ－トリルアミノフェニル）フェニルメタン；Ｎ，Ｎ′－ジフェニル－Ｎ，Ｎ′－ジ（４－メトキシフェニル）－４，４′－ジアミノビフェニル；Ｎ，Ｎ，Ｎ′，Ｎ′－テトラフェニル－４，４′－ジアミノジフェニルエーテル；４，４′－ビス（ジフェニルアミノ）クオードリフェニル；Ｎ，Ｎ，Ｎ－トリ（ｐ－トリル）アミン；４－（ジ－ｐ－トリルアミノ）－４′－〔４－（ジ－ｐ－トリルアミノ）スチリル〕スチルベン；４－Ｎ，Ｎ－ジフェニルアミノ－（２－ジフェニルビニル）ベンゼン；３－メトキシ－４′－Ｎ，Ｎ－ジフェニルアミノスチルベンゼン；Ｎ－フェニルカルバゾール、更には米国特許第５，０６１，５６９号明細書に記載されている２個の縮合芳香族環を分子内に有するもの、例えば、４，４′－ビス〔Ｎ－（１－ナフチル）－Ｎ－フェニルアミノ〕ビフェニル（ＮＰＤ）、特開平４－３０８６８８号公報に記載されているトリフェニルアミンユニットが３つスターバースト型に連結された４，４′，４″－トリス〔Ｎ－（３－メチルフェニル）－Ｎ－フェニルアミノ〕トリフェニルアミン（ＭＴＤＡＴＡ）等が挙げられる。
　更にこれらの材料を高分子鎖に導入した、又はこれらの材料を高分子の主鎖とした高分子材料を用いることもできる。また、ｐ型－Ｓｉ、ｐ型－ＳｉＣ等の無機化合物も正孔注入材料、正孔輸送材料として使用することができる。
　また、特開平１１－２５１０６７号公報、Ｊ．Ｈｕａｎｇ　ｅｔ．ａｌ．著文献（Ａｐｐｌｉｅｄ　Ｐｈｙｓｉｃｓ　Ｌｅｔｔｅｒｓ　８０（２００２），ｐ．１３９）に記載されているような、いわゆるｐ型正孔輸送材料を用いることもできる。本発明においては、より高効率の発光素子が得られることから、これらの材料を用いることが好ましい。
　正孔輸送層は、上記正孔輸送材料を、例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、インクジェット法を含む印刷法、ＬＢ法等の公知の方法により、薄膜化することにより形成することができる。正孔輸送層の膜厚については特に制限はないが、通常は５ｎｍ～５μｍの範囲内程度、好ましくは５～２００ｎｍの範囲内である。この正孔輸送層は上記材料の１種又は２種以上からなる一層構造であってもよい。
　また、不純物をドープしたｐ性の高い正孔輸送層を用いることもできる。その例としては、特開平４－２９７０７６号公報、特開２０００－１９６１４０号公報、同２００１－１０２１７５号公報、Ｊ．Ａｐｐｌ．Ｐｈｙｓ．，９５，５７７３（２００４）等に記載されたものが挙げられる。
　このようなｐ性の高い正孔輸送層を用いることが、より低消費電力の素子を作製することができるため好ましい。
　〔電子輸送層〕
　電子輸送層とは、電子を輸送する機能を有する材料からなり、広い意味で電子注入層、正孔阻止層も電子輸送層に含まれる。電子輸送層は単層又は複数層設けることができる。
　従来、単層の電子輸送層、及び複数層とする場合は発光層に対して陰極側に隣接する電子輸送層に用いられる電子輸送材料（正孔阻止材料を兼ねる）としては、陰極より注入された電子を発光層に伝達する機能を有する。
　本発明に係る電子輸送層は下記一般式（１）で表される化合物を含有していることが好ましい。
　《一般式（１）で表される化合物》
　本発明に係る一般式（１）で表される化合物について説明する。
　一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基の例としては、アルキル基（例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ｔｅｒｔ－ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基、ドデシル基、トリデシル基、テトラデシル基、ペンタデシル基等）、シクロアルキル基（例えば、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等）、アルケニル基（例えば、ビニル基、アリル基等）、アルキニル基（例えば、エチニル基、プロパルギル基等）、芳香族炭化水素基（芳香族炭素環基、アリール基等ともいい、例えば、フェニル基、ｐ－クロロフェニル基、メシチル基、トリル基、キシリル基、ナフチル基、アントリル基、アズレニル基、アセナフテニル基、フルオレニル基、フェナントリル基、インデニル基、ピレニル基、ビフェニリル基）、芳香族複素環基（例えば、フリル基、チエニル基、ピリジル基、ピリダジニル基、ピリミジニル基、ピラジニル基、トリアジニル基、イミダゾリル基、ピラゾリル基、チアゾリル基、キナゾリニル基、カルバゾリル基、カルボリニル基、ジアザカルバゾリル基（前記カルボリニル基のカルボリン環を構成する任意の炭素原子の一つが窒素原子で置き換わったものを示す）、フタラジニル基等）、複素環基（例えば、ピロリジル基、イミダゾリジル基、モルホリル基、オキサゾリジル基等）、アルコキシ基（例えば、メトキシ基、エトキシ基、プロピルオキシ基、ペンチルオキシ基、ヘキシルオキシ基、オクチルオキシ基、ドデシルオキシ基等）、シクロアルコキシ基（例えば、シクロペンチルオキシ基、シクロヘキシルオキシ基等）、アリールオキシ基（例えば、フェノキシ基、ナフチルオキシ基等）、アルキルチオ基（例えば、メチルチオ基、エチルチオ基、プロピルチオ基、ペンチルチオ基、ヘキシルチオ基、オクチルチオ基、ドデシルチオ基等）、シクロアルキルチオ基（例えば、シクロペンチルチオ基、シクロヘキシルチオ基等）、アリールチオ基（例えば、フェニルチオ基、ナフチルチオ基等）、アルコキシカルボニル基（例えば、メチルオキシカルボニル基、エチルオキシカルボニル基、ブチルオキシカルボニル基、オクチルオキシカルボニル基、ドデシルオキシカルボニル基等）、アリールオキシカルボニル基（例えば、フェニルオキシカルボニル基、ナフチルオキシカルボニル基等）、スルファモイル基（例えば、アミノスルホニル基、メチルアミノスルホニル基、ジメチルアミノスルホニル基、ブチルアミノスルホニル基、ヘキシルアミノスルホニル基、シクロヘキシルアミノスルホニル基、オクチルアミノスルホニル基、ドデシルアミノスルホニル基、フェニルアミノスルホニル基、ナフチルアミノスルホニル基、２－ピリジルアミノスルホニル基等）、アシル基（例えば、アセチル基、エチルカルボニル基、プロピルカルボニル基、ペンチルカルボニル基、シクロヘキシルカルボニル基、オクチルカルボニル基、２－エチルヘキシルカルボニル基、ドデシルカルボニル基、フェニルカルボニル基、ナフチルカルボニル基、ピリジルカルボニル基等）、アシルオキシ基（例えば、アセチルオキシ基、エチルカルボニルオキシ基、ブチルカルボニルオキシ基、オクチルカルボニルオキシ基、ドデシルカルボニルオキシ基、フェニルカルボニルオキシ基等）、アミド基（例えば、メチルカルボニルアミノ基、エチルカルボニルアミノ基、ジメチルカルボニルアミノ基、プロピルカルボニルアミノ基、ペンチルカルボニルアミノ基、シクロヘキシルカルボニルアミノ基、２－エチルヘキシルカルボニルアミノ基、オクチルカルボニルアミノ基、ドデシルカルボニルアミノ基、フェニルカルボニルアミノ基、ナフチルカルボニルアミノ基等）、カルバモイル基（例えば、アミノカルボニル基、メチルアミノカルボニル基、ジメチルアミノカルボニル基、プロピルアミノカルボニル基、ペンチルアミノカルボニル基、シクロヘキシルアミノカルボニル基、オクチルアミノカルボニル基、２－エチルヘキシルアミノカルボニル基、ドデシルアミノカルボニル基、フェニルアミノカルボニル基、ナフチルアミノカルボニル基、２－ピリジルアミノカルボニル基等）、ウレイド基（例えば、メチルウレイド基、エチルウレイド基、ペンチルウレイド基、シクロヘキシルウレイド基、オクチルウレイド基、ドデシルウレイド基、フェニルウレイド基ナフチルウレイド基、２－ピリジルアミノウレイド基等）、スルフィニル基（例えば、メチルスルフィニル基、エチルスルフィニル基、ブチルスルフィニル基、シクロヘキシルスルフィニル基、２－エチルヘキシルスルフィニル基、ドデシルスルフィニル基、フェニルスルフィニル基、ナフチルスルフィニル基、２－ピリジルスルフィニル基等）、アルキルスルホニル基（例えば、メチルスルホニル基、エチルスルホニル基、ブチルスルホニル基、シクロヘキシルスルホニル基、２－エチルヘキシルスルホニル基、ドデシルスルホニル基等）、アリールスルホニル基又はヘテロアリールスルホニル基（例えば、フェニルスルホニル基、ナフチルスルホニル基、２－ピリジルスルホニル基等）、アミノ基（例えば、アミノ基、エチルアミノ基、ジメチルアミノ基、ブチルアミノ基、シクロペンチルアミノ基、２－エチルヘキシルアミノ基、ドデシルアミノ基、アニリノ基、ナフチルアミノ基、２－ピリジルアミノ基、ピペリジル基（ピペリジニル基ともいう）、２，２，６，６－テトラメチルピペリジニル基等）、ハロゲン原子（例えば、フッ素原子、塩素原子、臭素原子等）、フッ化炭化水素基（例えば、フルオロメチル基、トリフルオロメチル基、ペンタフルオロエチル基、ペンタフルオロフェニル基等）、シアノ基、ニトロ基、ヒドロキシ基、メルカプト基、シリル基（例えば、トリメチルシリル基、トリイソプロピルシリル基、トリフェニルシリル基、フェニルジエチルシリル基等）、リン酸エステル基（例えば、ジヘキシルホスホリル基等）、亜リン酸エステル基（例えばジフェニルホスフィニル基等）、ホスホノ基等が挙げられる。
　これらの置換基は、上記の置換基によって更に置換されていてもよい。また、これらの置換基は複数が互いに結合して環を形成していてもよい。
　一般式（１）において、Ｙ１で表されるｎ１価の連結基としては、具体的には、２価の連結基、３価の連結基、４価の連結基等が挙げられる。
　一般式（１）において、Ｙ１で表される２価の連結基としては、アルキレン基（例えば、エチレン基、トリメチレン基、テトラメチレン基、プロピレン基、エチルエチレン基、ペンタメチレン基、ヘキサメチレン基、２，２，４－トリメチルヘキサメチレン基、ヘプタメチレン基、オクタメチレン基、ノナメチレン基、デカメチレン基、ウンデカメチレン基、ドデカメチレン基、シクロヘキシレン基（例えば、１，６－シクロヘキサンジイル基等）、シクロペンチレン基（例えば、１，５－シクロペンタンジイル基など）等）、アルケニレン基（例えば、ビニレン基、プロペニレン基、ブテニレン基、ペンテニレン基、１－メチルビニレン基、１－メチルプロペニレン基、２－メチルプロペニレン基、１－メチルペンテニレン基、３－メチルペンテニレン基、１－エチルビニレン基、１－エチルプロペニレン基、１－エチルブテニレン基、３－エチルブテニレン基等）、アルキニレン基（例えば、エチニレン基、１－プロピニレン基、１－ブチニレン基、１－ペンチニレン基、１－ヘキシニレン基、２－ブチニレン基、２－ペンチニレン基、１－メチルエチニレン基、３－メチル－１－プロピニレン基、３－メチル－１－ブチニレン基等）、アリーレン基（例えば、ｏ－フェニレン基、ｐ－フェニレン基、ナフタレンジイル基、アントラセンジイル基、ナフタセンジイル基、ピレンジイル基、ナフチルナフタレンジイル基、ビフェニルジイル基（例えば、［１，１′－ビフェニル］－４，４′－ジイル基、３，３′－ビフェニルジイル基、３，６－ビフェニルジイル基等）、テルフェニルジイル基、クアテルフェニルジイル基、キンクフェニルジイル基、セキシフェニルジイル基、セプチフェニルジイル基、オクチフェニルジイル基、ノビフェニルジイル基、デシフェニルジイル基等）、ヘテロアリーレン基（例えば、カルバゾール環、カルボリン環、ジアザカルバゾール環（モノアザカルボリン環ともいい、カルボリン環を構成する炭素原子のひとつが窒素原子で置き換わった構成の環構成を示す）、トリアゾール環、ピロール環、ピリジン環、ピラジン環、キノキサリン環、チオフェン環、オキサジアゾール環、ジベンゾフラン環、ジベンゾチオフェン環、インドール環からなる群から導出される２価の基等）、酸素や硫黄などのカルコゲン原子、３環以上の環が縮合してなる縮合芳香族複素環から導出される基等（ここで、３環以上の環が縮合してなる縮合芳香族複素環としては、好ましくはＮ、Ｏ及びＳから選択されたヘテロ原子を、縮合環を構成する元素として含有する芳香族複素縮合環であることが好ましく、具体的には、アクリジン環、ベンゾキノリン環、カルバゾール環、フェナジン環、フェナントリジン環、フェナントロリン環、カルボリン環、サイクラジン環、キンドリン環、テペニジン環、キニンドリン環、トリフェノジチアジン環、トリフェノジオキサジン環、フェナントラジン環、アントラジン環、ペリミジン環、ジアザカルバゾール環（カルボリン環を構成する炭素原子の任意の一つが窒素原子で置き換わったものを表す）、フェナントロリン環、ジベンゾフラン環、ジベンゾチオフェン環、ナフトフラン環、ナフトチオフェン環、ベンゾジフラン環、ベンゾジチオフェン環、ナフトジフラン環、ナフトジチオフェン環、アントラフラン環、アントラジフラン環、アントラチオフェン環、アントラジチオフェン環、チアントレン環、フェノキサチイン環、チオファントレン環（ナフトチオフェン環）等）が挙げられる。
　一般式（１）において、Ｙ１で表される３価の連結基としては、例えば、エタントリイル基、プロパントリイル基、ブタントリイル基、ペンタントリイル基、ヘキサントリイル基、ヘプタントリイル基、オクタントリイル基、ノナントリイル基、デカントリイル基、ウンデカントリイル基、ドデカントリイル基、シクロヘキサントリイル基、シクロペンタントリイル基、ベンゼントリイル基、ナフタレントリイル基、ピリジントリイル基、カルバゾールトリイル基等が挙げられる。
　一般式（１）において、Ｙ１で表される４価の連結基としては、上記の３価の基に更にひとつ結合基がついたものであり、例えば、プロパンジイリデン基、１，３－プロパンジイル－２－イリデン基、ブタンジイリデン基、ペンタンジイリデン基、ヘキサンジイリデン基、ヘプタンジイリデン基、オクタンジイリデン基、ノナンジイリデン基、デカンジイリデン基、ウンデカンジイリデン基、ドデカンジイリデン基、シクロヘキサンジイリデン基、シクロペンタンジイリデン基、ベンゼンテトライル基、ナフタレンテトライル基、ピリジンテトライル基、カルバゾールテトライル基等が挙げられる。
　なお、上記の２価の連結基、３価の連結基、４価の連結基は、各々更に、一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基を有していても良い。
　一般式（１）で表される化合物の好ましい態様としては、Ｙ１が３環以上の環が縮合してなる縮合芳香族複素環から導出される基を表すことが好ましく、該３環以上の環が縮合してなる縮合芳香族複素環としては、ジベンゾフラン環又はジベンゾチオフェン環が好ましい。また、ｎ１が２以上であることが好ましい。
　更に、一般式（１）で表される化合物は、分子内に上記の３環以上の環が縮合してなる縮合芳香族複素環を少なくとも２つ有する。
　また、Ｙ１がｎ１価の連結基を表す場合、一般式（１）で表される化合物の三重項励起エネルギーを高く保つために、Ｙ１は非共役であることが好ましく、更に、Ｔｇ（ガラス転移点、ガラス転移温度ともいう）を向上させる点から、芳香環（芳香族炭化水素環＋芳香族複素環）で構成されていることが好ましい。
　ここで、非共役とは、連結基が単結合（一重結合ともいう）と二重結合の繰り返しによって表記できないか、又は連結基を構成する芳香環同士の共役が立体的に切断されている場合を意味する。
　（一般式（Ａ）で表される基）
　一般式（１）において、Ａｒ１は、前記一般式（Ａ）で表される基を表す。
　一般式（Ａ）のＸで表されるＮ（Ｒ）又はＳｉ（Ｒ）（Ｒ’）において、更に、Ｅ１～Ｅ８で表されるＣ（Ｒ１）において、Ｒ、Ｒ’及びＲ１で各々表される置換基は、一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基と同義である。
　一般式（Ａ）において、Ｙ２で表される２価の連結基としては、一般式（１）において、Ｙ１で表される２価の連結基と同義である。
　一般式（Ａ）において、Ｙ３及びＹ４で各々表される５員又は６員の芳香族環から導出される基の形成に用いられる５員又は６員の芳香族環としては、ベンゼン環、オキサゾール環、チオフェン環、フラン環、ピロール環、ピリジン環、ピリダジン環、ピリミジン環、ピラジン環、ジアジン環、トリアジン環、イミダゾール環、イソオキサゾール環、ピラゾール環、トリアゾール環等が挙げられる。
　更に、Ｙ３及びＹ４で各々表される５員又は６員の芳香族環から導出される基の少なくとも一方は、環構成原子として窒素原子を含む芳香族複素環から導出される基を表すが、該環構成原子として窒素原子を含む芳香族複素環としては、オキサゾール環、ピロール環、ピリジン環、ピリダジン環、ピリミジン環、ピラジン環、ジアジン環、トリアジン環、イミダゾール環、イソオキサゾール環、ピラゾール環、トリアゾール環等が挙げられる。
　（Ｙ３で表される基の好ましい態様）
　一般式（Ａ）において、Ｙ３で表される基としては、上記６員の芳香族環から導出される基であることが好ましく、更に好ましくは、ベンゼン環から導出される基である。
　（Ｙ４で表される基の好ましい態様）
　一般式（Ａ）において、Ｙ４で表される基としては、上記６員の芳香族環から導出される基であることが好ましく、更に好ましくは、窒素原子を環構成原子と含む芳香族複素環から導出される基であり、特に好ましくは、Ｙ４がピリジン環から導出される基であることである。
　（一般式（Ａ）で表される基の好ましい態様）
　一般式（Ａ）で表される基の好ましい態様としては、下記一般式（Ａ－１）、（Ａ－２）、（Ａ－３）又は（Ａ－４）のいずれかで表される基が挙げられる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000019
 　式中、ＸはＮ（Ｒ）、Ｏ、Ｓ又はＳｉ（Ｒ）（Ｒ’）を表し、Ｅ１～Ｅ８はＣ（Ｒ１）又はＮを表し、Ｒ、Ｒ’及びＲ１は水素原子、置換基又はＹ１との連結部位を表す。Ｙ２は単なる結合手又は２価の連結基を表す。Ｅ１１～Ｅ２０は、Ｃ（Ｒ２）又はＮを表し、少なくとも１つはＮを表す。Ｒ２は、水素原子、置換基又は連結部位を表す。但し、Ｅ１１、Ｅ１２の少なくとも１つはＣ（Ｒ２）を表し、Ｒ２は連結部位を表す。ｎ２は１～４の整数を表す。＊は、前記一般式（１）のＹ１との連結部位を表す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000020
 　式中、ＸはＮ（Ｒ）、Ｏ、Ｓ又はＳｉ（Ｒ）（Ｒ’）を表し、Ｅ１～Ｅ８はＣ（Ｒ１）又はＮを表し、Ｒ、Ｒ’及びＲ１は水素原子、置換基又はＹ１との連結部位を表す。Ｙ２は単なる結合手又は２価の連結基を表す。Ｅ２１～Ｅ２５はＣ（Ｒ２）又はＮを表し、Ｅ２６～Ｅ３０はＣ（Ｒ２）、Ｎ、Ｏ、Ｓ又はＳｉ（Ｒ３）（Ｒ４）を表し、Ｅ２１～Ｅ３０の少なくとも１つはＮを表す。Ｒ２は、水素原子、置換基又は連結部位を表し、Ｒ３及びＲ４は水素原子又は置換基を表す。但し、Ｅ２１又はＥ２２の少なくとも１つはＣ（Ｒ２）を表し、Ｒ２は連結部位を表す。ｎ２は１～４の整数を表す。＊は、前記一般式（１）のＹ１との連結部位を表す。破線は単結合又は二重結合を表す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000021
 　式中、ＸはＮ（Ｒ）、Ｏ、Ｓ又はＳｉ（Ｒ）（Ｒ’）を表し、Ｅ１～Ｅ８はＣ（Ｒ１）又はＮを表し、Ｒ、Ｒ’及びＲ１は水素原子、置換基又はＹ１との連結部位を表す。Ｙ２は単なる結合手又は２価の連結基を表す。Ｅ３１～Ｅ３５はＣ（Ｒ２）、Ｎ、Ｏ、Ｓ又はＳｉ（Ｒ３）（Ｒ４）を表し、Ｅ３６～Ｅ４０はＣ（Ｒ２）又はＮを表し、Ｅ３１～Ｅ４０の少なくとも１つはＮを表す。Ｒ２は、水素原子、置換基又は連結部位を表し、Ｒ３及びＲ４は水素原子又は置換基を表す。但し、Ｅ３２又はＥ３３の少なくとも１つは－Ｃ（Ｒ２）＝で表され、Ｒ２は連結部位を表す。ｎ２は１～４の整数を表す。＊は、前記一般式（１）のＹ１との連結部位を表す。破線は単結合又は二重結合を表す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000022
 　式中、ＸはＮ（Ｒ）、Ｏ、Ｓ又はＳｉ（Ｒ）（Ｒ’）を表し、Ｅ１～Ｅ８はＣ（Ｒ１）又はＮを表し、Ｒ、Ｒ’及びＲ１は水素原子、置換基又はＹ１との連結部位を表す。Ｙ２は単なる結合手又は２価の連結基を表す。Ｅ４１～Ｅ５０はＣ（Ｒ２）、Ｎ、Ｏ、Ｓ又はＳｉ（Ｒ３）（Ｒ４）を表し、少なくとも１つはＮを表す。Ｒ２は、水素原子、置換基又は連結部位を表し、Ｒ３及びＲ４は水素原子又は置換基を表す。但し、Ｅ４２又はＥ４３の少なくとも１つはＣ（Ｒ２）で表され、Ｒ２は連結部位を表す。ｎ２は１～４の整数を表す。＊は、上記一般式（１）のＹ１との連結部位を表す。破線は単結合又は二重結合を表す。
　以下、一般式（Ａ－１）～（Ａ－４）のいずれかで表される基について説明する。
　一般式（Ａ－１）～（Ａ－４）で表される基のいずれかのＸで表されるＮ（Ｒ）又はＳｉ（Ｒ）（Ｒ’）において、更に、Ｅ１～Ｅ８で表されるＣ（Ｒ１）において、Ｒ、Ｒ’及びＲ１で各々表される置換基は、一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基と同義である。
　一般式（Ａ－１）～（Ａ－４）で表される基のいずれかにおいて、Ｙ２で表される２価の連結基としては、一般式（１）において、Ｙ１で表される２価の連結基と同義である。
　一般式（Ａ－１）のＥ１１～Ｅ２０、一般式（Ａ－２）のＥ２１～Ｅ３０、一般式（Ａ－３）のＥ３１～Ｅ４０、一般式（Ａ－４）のＥ４１～Ｅ５０で、各々表されるＣ（Ｒ２）のＲ２で表される置換基は、一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基と同義である。
　本発明に係る電子輸送層は下記一般式（２）で表される化合物を含有していることが好ましい。
　《一般式（２）で表される化合物》
　本発明では、上記一般式（１）で表される化合物の中でも、上記一般式（２）で表される化合物が好ましい。以下、一般式（２）で表される化合物について説明する。
　一般式（２）において、Ｙ５で表されるアリーレン基、ヘテロアリーレン基は、一般式（１）において、Ｙ１で表される２価の連結基の一例として記載されているアリーレン基、ヘテロアリーレン基と各々同義である。
　Ｙ５で表されるアリーレン基、ヘテロアリーレン基又はそれらの組み合わせからなる２価の連結基の好ましい態様としては、ヘテロアリーレン基の中でも、３環以上の環が縮合してなる縮合芳香族複素環から導出される基を含むことが好ましく、また、該３環以上の環が縮合してなる縮合芳香族複素環から導出される基としては、ジベンゾフラン環から導出される基又はジベンゾチオフェン環から導出される基が好ましい。
　一般式（２）において、Ｅ５１～Ｅ６６で各々表されるＣ（Ｒ３）のＲ３で表される置換基は、一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基と同義である。
　一般式（２）において、Ｅ５１～Ｅ６６で各々表される基としては、Ｅ５１～Ｅ５８のうちの６つ以上及びＥ５９～Ｅ６６のうちの６つ以上が、各々Ｃ（Ｒ３）で表されることが好ましい。
　一般式（２）において、Ｙ６～Ｙ９は、各々芳香族炭化水素環から導出される基の形成に用いられる芳香族炭化水素環としては、ベンゼン環、ビフェニル環、ナフタレン環、アズレン環、アントラセン環、フェナントレン環、ピレン環、クリセン環、ナフタセン環、トリフェニレン環、ｏ－テルフェニル環、ｍ－テルフェニル環、ｐ－テルフェニル環、アセナフテン環、コロネン環、フルオレン環、フルオラントレン環、ナフタセン環、ペンタセン環、ペリレン環、ペンタフェン環、ピセン環、ピレン環、ピラントレン環、アンスラアントレン環等が挙げられる。
　更に、前記芳香族炭化水素環は、一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基を有してもよい。
　一般式（２）において、Ｙ６～Ｙ９は、各々芳香族複素環から導出される基の形成に用いられる芳香族複素環としては、例えば、フラン環、チオフェン環、オキサゾール環、ピロール環、ピリジン環、ピリダジン環、ピリミジン環、ピラジン環、トリアジン環、ベンゾイミダゾール環、オキサジアゾール環、トリアゾール環、イミダゾール環、ピラゾール環、チアゾール環、インドール環、インダゾール環、ベンゾイミダゾール環、ベンゾチアゾール環、ベンゾオキサゾール環、キノキサリン環、キナゾリン環、シンノリン環、キノリン環、イソキノリン環、フタラジン環、ナフチリジン環、カルバゾール環、カルボリン環、ジアザカルバゾール環（カルボリン環を構成する炭素原子の一つが更に窒素原子で置換されている環を示す）等が挙げられる。
　更に、前記芳香族炭化水素環は、一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基を有してもよい。
　一般式（２）において、Ｙ６又はＹ７の少なくとも一方、及びＹ８又はＹ９の少なくとも一方で表されるＮ原子を含む芳香族複素環から導出される基の形成に用いられるＮ原子を含む芳香族複素環としては、例えば、例えば、オキサゾール環、ピロール環、ピリジン環、ピリダジン環、ピリミジン環、ピラジン環、トリアジン環、ベンゾイミダゾール環、オキサジアゾール環、トリアゾール環、イミダゾール環、ピラゾール環、チアゾール環、インドール環、インダゾール環、ベンゾイミダゾール環、ベンゾチアゾール環、ベンゾオキサゾール環、キノキサリン環、キナゾリン環、シンノリン環、キノリン環、イソキノリン環、フタラジン環、ナフチリジン環、カルバゾール環、カルボリン環、ジアザカルバゾール環（カルボリン環を構成する炭素原子の一つが更に窒素原子で置換されている環を示す）等が挙げられる。
　一般式（２）において、Ｙ７、Ｙ９で表される基としては、各々ピリジン環から導出される基を表すことが好ましい。
　また、一般式（２）において、Ｙ６及びＹ８で表される基としては、各々ベンゼン環から導出される基を表すことが好ましい。
　本発明に係る電子輸送層は下記一般式（３）で表される化合物を含有していることがより好ましい。
　《一般式（３）で表される化合物》
　以下、一般式（２）で表される化合物について説明する。
　一般式（３）において、Ｙ５で表されるアリーレン基、ヘテロアリーレン基は、一般式（１）において、Ｙ１で表される２価の連結基の一例として記載されているアリーレン基、ヘテロアリーレン基と各々同義である。
　Ｙ５で表されるアリーレン基、ヘテロアリーレン基又はそれらの組み合わせからなる２価の連結基の好ましい態様としては、ヘテロアリーレン基の中でも、３環以上の環が縮合してなる縮合芳香族複素環から導出される基を含むことが好ましく、また、該３環以上の環が縮合してなる縮合芳香族複素環から導出される基としては、ジベンゾフラン環から導出される基又はジベンゾチオフェン環から導出される基が好ましい。
　一般式（３）において、Ｅ５１～Ｅ６６、Ｅ７１～Ｅ７８で各々表される－Ｃ（Ｒ３）＝のＲ３で表される置換基は、一般式（１）において、Ｙ１で表される置換基と同義である。
　一般式（３）において、Ｅ５１～Ｅ５８のうちの６つ以上及びＥ５９～Ｅ６６のうちの６つ以上が、各々Ｃ（Ｒ３）で表されることが好ましい。
　一般式（３）において、Ｅ７５～Ｅ７９の少なくとも１つ及びＥ８４～Ｅ８８の少なくとも１つが－Ｎ＝を表すことが好ましい。
　更には、一般式（３）において、Ｅ７５～Ｅ７９のいずれか１つ及びＥ８４～Ｅ８８のいずれか１つがＮを表すことが好ましい。
　また、一般式（３）において、Ｅ７１～Ｅ７４及びＥ８０～Ｅ８３が、各々Ｃ（Ｒ３）で表されることが好ましい態様として挙げられる。
　更に、一般式（２）又は一般式（３）で表される化合物において、Ｅ５３がＣ（Ｒ３）で表され、且つ、Ｒ３が連結部位を表すことが好ましく、更に、Ｅ６１も同時にＣ（Ｒ３）で表され、且つ、Ｒ３が連結部位を表すことが好ましい。
　更に、Ｅ７５及びＥ８４がＮで表されることが好ましく、Ｅ７１～Ｅ７４及びＥ８０～Ｅ８３が、各々Ｃ（Ｒ３）で表されることが好ましい。
　以下、本発明に係る一般式（１）、（２）又は（３）で表される化合物の具体例を示すが、本発明はこれらに限定されない。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000023
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000024
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000025
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000026
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000027
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000028
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000029
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000030
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000031
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000032
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000033
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000034
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000035
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000036
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000037
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Figure JPOXMLDOC01-appb-C000048
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000049
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000050
 　以下に代表的な化合物の合成例を示す。
　《化合物５の合成例》
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000051
 　工程１：（中間体１の合成）
　窒素雰囲気下、３，６－ジブロモジベンゾフラン（１．０モル）、カルバゾール（２．０モル）、銅粉末（３．０モル）、炭酸カリウム（１．５モル）をＤＭＡｃ（ジメチルアセトアミド）３００ｍｌ中に混合し、１３０℃で２４時間撹拌した。反応液を室温まで冷却後、トルエン１ｌを加え、蒸留水で３回洗浄し、有機層を減圧下に溶媒を留去し、残渣をシリカゲルフラッシュクロマトグラフィー（ｎ－ヘプタン：トルエン＝４：１～３：１）にて精製し、中間体１を収率８５％で得た。
　工程２：（中間体２の合成）
　室温、大気下で中間体１（０．５モル）をＤＭＦ１００ｍｌに溶解し、ＮＢＳ（２．０モル）を加え、一晩室温で撹拌した。得られた沈殿を濾過し、メタノールで洗浄し、中間体２を収率９２％で得た。
　工程３：（化合物５の合成）
　窒素雰囲気下、中間体２（０．２５モル）、２－フェニルピリジン（１．０モル）、ルテニウム錯体［（η６－Ｃ６Ｈ６）ＲｕＣｌ２］２（０．０５モル）、トリフェニルホスフィン（０．２モル）、炭酸カリウム（１２モル）をＮＭＰ（Ｎ－メチル－２－ピロリドン）３ｌ中で混合し、１４０℃で一晩撹拌した。
　反応液を室温まで冷却後、ジクロロメタン５ｌを加え、反応液を濾過した。濾液は減圧下に溶媒を留去し（８００Ｐａ、８０℃）、（Ｎ－メチル－２－ピロリドン）残渣をシリカゲルフラッシュクロマトグラフィー（ＣＨ２Ｃｌ２：Ｅｔ３Ｎ＝２０：１～１０：１）にて精製した。
　各フラクションを集めて溶媒を減圧下に留去後、残渣をジクロロメタンに再び溶解し、水で３回洗浄後した。有機相を無水硫酸マグネシウムで乾燥後、溶媒を減圧下に留去して化合物５を収率６８％で得た。
　一般式（１）で表される化合物以外に、前記電子輸送層に用いてもよい材料としては従来公知の化合物の中から任意のものを選択して用いることができ、例えば、ニトロ置換フルオレン誘導体、ジフェニルキノン誘導体、チオピランジオキシド誘導体、カルボジイミド、フレオレニリデンメタン誘導体、アントラキノジメタン及びアントロン誘導体、オキサジアゾール誘導体等が挙げられる。更に、上記オキサジアゾール誘導体において、オキサジアゾール環の酸素原子を硫黄原子に置換したチアジアゾール誘導体、電子吸引基として知られているキノキサリン環を有するキノキサリン誘導体も、電子輸送材料として用いることができる。更にこれらの材料を高分子鎖に導入した、又はこれらの材料を高分子の主鎖とした高分子材料を用いることもできる。
　また、８－キノリノール誘導体の金属錯体、例えば、トリス（８－キノリノール）アルミニウム（Ａｌｑ３）、トリス（５，７－ジクロロ－８－キノリノール）アルミニウム、トリス（５，７－ジブロモ－８－キノリノール）アルミニウム、トリス（２－メチル－８－キノリノール）アルミニウム、トリス（５－メチル－８－キノリノール）アルミニウム、ビス（８－キノリノール）亜鉛（Ｚｎｑ）等、及びこれらの金属錯体の中心金属がＩｎ、Ｍｇ、Ｃｕ、Ｃａ、Ｓｎ、Ｇａ又はＰｂに置き替わった金属錯体も、電子輸送材料として用いることができる。その他、メタルフリー若しくはメタルフタロシアニン、又はそれらの末端がアルキル基やスルホン酸基等で置換されているものも、電子輸送材料として好ましく用いることができる。また、発光層の材料として例示したジスチリルピラジン誘導体も電子輸送材料として用いることができるし、正孔注入層、正孔輸送層と同様にｎ型－Ｓｉ、ｎ型－ＳｉＣ等の無機半導体も電子輸送材料として用いることができる。
　電子輸送層は、上記電子輸送材料を、例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、インクジェット法を含む印刷法、ＬＢ法等の公知の方法により、薄膜化することにより形成することができる。電子輸送層の膜厚については特に制限はないが、通常は５ｎｍ～５μｍの範囲内程度、好ましくは５～２００ｎｍの範囲内である。電子輸送層は上記材料の１種又は２種以上からなる一層構造であってもよい。
　また、不純物をドープしたｎ性の高い電子輸送層を用いることもできる。その例としては、特開平４－２９７０７６号公報、同１０－２７０１７２号公報、特開２０００－１９６１４０号公報、同２００１－１０２１７５号公報、Ｊ．Ａｐｐｌ．Ｐｈｙｓ．，９５，５７７３（２００４）等に記載されたものが挙げられる。
　本発明においては、このようなｎ性の高い電子輸送層を用いることがより低消費電力の素子を作製することができるため好ましい。
　〔対向電極：陽極又は陰極〕
　対向電極としては、前述の透明導電性を構成する材料を用いても良いし、金属、合金、電気伝導性化合物及びこれらの混合物を電極物質とするものが用いることもできる。このような電極物質の具体例としては、ナトリウム、ナトリウム－カリウム合金、マグネシウム、リチウム、マグネシウム／銅混合物、マグネシウム／銀混合物、マグネシウム／アルミニウム混合物、マグネシウム／インジウム混合物、アルミニウム／酸化アルミニウム（Ａｌ２Ｏ３）混合物、インジウム、リチウム／アルミニウム混合物、希土類金属等が挙げられる。対向電極はこれらの電極物質を蒸着やスパッタリング等の方法により薄膜を形成させることにより、作製することができる。また、対向電極としてのシート抵抗は数百Ω／□以下が好ましく、膜厚は通常１０ｎｍ～５μｍ、好ましくは５０ｎｍ～２００ｎｍの範囲で選ばれる。
　《用途》
　本発明の有機ＥＬ素子は、表示デバイス、ディスプレイ、各種発光光源として用いることができる。発光光源として、例えば、家庭用照明、車内照明、時計や液晶用のバックライト、看板広告、信号機、光記憶媒体の光源、電子写真複写機の光源、光通信処理機の光源、光センサーの光源等が挙げられるがこれに限定するものではないが、特にカラーフィルターと組み合わせた液晶表示装置のバックライト、照明用光源としての用途に有効に用いることができる。
　以下、実施例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。なお、実施例において「部」あるいは「％」の表示を用いるが、特に断りがない限り「質量部」あるいは「質量％」を表す。
　《両面エミッション型有機ＥＬ素子の作製》
　有機ＥＬ素子１－１～１－２６は発光面積が５ｃｍ×５ｃｍとなるように作製した。
　〔有機ＥＬ素子１－１の作製〕
　（陽極の形成）
　透明な基板１の上に厚さ１００ｎｍとなる条件でＩＴＯをスパッタ法で成膜、パターニングして、ＩＴＯ層から成る陽極を形成した。次いで、ＩＴＯ層を設けた基板を、イソプロピルアルコールで超音波洗浄し、乾燥窒素ガスで乾燥し、ＵＶオゾン洗浄を５分間行った。
　（正孔注入層～電子輸送層の形成）
　このＩＴＯ層を設けた基板を市販の真空蒸着装置の基板ホルダーに固定し、タンタル製抵抗加熱ボートに下記のα－ＮＰＤ、ＤＰＶＢｉ、ＢＡｌｑ、Ａｌｑ３及びフッ化カリウムをそれぞれ入れ、真空蒸着装置の第１真空槽に取り付けた。
　更に、タングステン製抵抗加熱ボートにアルミニウムを入れ、真空蒸着装置の第２真空槽に取り付けた。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000052
 　まず、第１真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、α－ＮＰＤの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒でＩＴＯ層上に膜厚２０ｎｍの正孔注入／正孔輸送層を設けた。
　更に、ＤＰＶＢｉの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚３０ｎｍの発光層を設けた。
　次いで、ＢＡｌｑの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚１０ｎｍの正孔阻止層を設けた。更に、Ａｌｑ３の入った前記加熱ボートを通電して加熱し蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚２０ｎｍの電子輸送層を設けた。
　（電子注入層の形成）
　次に、フッ化カリウムの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．０１～０．０２ｎｍ／秒で膜厚１ｎｍのフッ化カリウム層を設けた。更に、フッ化カリウム層まで成膜した素子を真空のまま第２真空槽に移し、第２真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、アルミニウムの入った前記加熱ボートに通電して、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚５ｎｍのアルミニウム層を形成し、電子注入層を設けた。
　（透明導電性層（陰極）の形成）
　次に、電子注入層まで成膜した素子をあらかじめＩＴＯターゲットを装着した市販の平行平板スパッタリング装置に移し、スパッタリング装置のチャンバー内を５×１０－３Ｐａまで減圧した後、窒素ガスと酸素ガスを流しながら、ＤＣ出力５００Ｗで放電し、成膜速度１０ｎｍ／秒で膜厚１００ｎｍのＩＴＯ導電層の透明導電性層（陰極）を形成した。
　（素子の封止）
　最後に、上記で得られた素子をガラスケースで覆い、厚み３００μｍのガラス基板を封止用基板として用い、周囲にシール材としてエポキシ系光硬化型接着剤（東亞合成社製ラックストラックＬＣ０６２９Ｂ）を適用し、これを前記透明支持基板と密着させ、ガラス基板側からＵＶ光を照射して、硬化・封止して、両面エミッション型有機ＥＬ素子１－１を得た。
　〔有機ＥＬ素子１－２の作製〕
　（陽極～電子注入層の形成）
　陽極～電子注入層までは有機ＥＬ素子１－１と同様な方法で成膜した。
　（透明保護層の形成）
　次に、電子注入層まで成膜した素子を真空のまま第１真空槽に戻し、第１真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、真空蒸着装置に酸素ガスを導入せずに、酸化カルシウムＣａＯの入った加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚２０ｎｍの透明保護層を設けた。なお、同様な方法で作製した素子を別途作製し、透明保護層をＥＳＣＡで分析したところ、透明保護層を構成している酸化カルシウムは酸素欠陥状態（非化学量論組成）になっていた。
　（陰極の形成）
　有機ＥＬ素子１－１と同様にして陰極を成膜した。
　（素子の封止）
　有機ＥＬ素子１－１と同様な方法で硬化・封止して、両面エミッション型有機ＥＬ素子１－２を得た。
　〔有機ＥＬ素子１－３の作製〕
　透明保護層の膜厚を２０ｎｍから７０ｎｍに変更した以外は有機ＥＬ素子１－２と同様な方法で両面エミッション型有機ＥＬ素子１－３を得た。
　〔有機ＥＬ素子１－４の作製〕
　透明保護層の材料を酸化カルシウムから酸化ランタンに変更した以外は有機ＥＬ素子１－２と同様な方法で両面エミッション型有機ＥＬ素子１－４を得た。
　なお、透明保護層をＥＳＣＡで分析し、透明保護層を構成している酸化ランタンは酸素欠陥状態になっていることを確認した。
　〔有機ＥＬ素子１－５の作製〕
　透明保護層の膜厚を２０ｎｍから７０ｎｍに変更した以外は有機ＥＬ素子１－４と同様な方法で両面エミッション型有機ＥＬ素子１－５を得た。
　〔有機ＥＬ素子１－６の作製〕
　（陽極の形成）
　有機ＥＬ素子１－１と同様な方法でＩＴＯ層から成る陽極を形成した。
　（正孔注入層～電子輸送層の形成）
　このＩＴＯ層を設けた基板を市販の真空蒸着装置の基板ホルダーに固定し、タンタル製抵抗加熱ボートに前記α－ＮＰＤ、Ｈ４、Ｉｒ－４、ＢＡｌｑ、Ａｌｑ３及び酸化バナジウムをそれぞれ入れ、真空蒸着装置の第１真空槽に取り付けた。
　更に、タングステン製抵抗加熱ボートにアルミニウムを入れ、真空蒸着装置の第２真空槽に取り付けた。
　まず、第１真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、α－ＮＰＤの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒でＩＴＯ層上に膜厚２０ｎｍの正孔注入／正孔輸送層を設けた。
　更に、Ｈ４の入った前記加熱ボートとＩｒ－４の入ったボートをそれぞれ独立に通電して、発光ホストであるＨ４と発光ドーパントであるＩｒ－４の蒸着速度が１００：６になるように調節し、膜厚３０ｎｍの発光層を設けた。
　次いで、ＢＡｌｑの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚１０ｎｍの正孔阻止層を設けた。更に、Ａｌｑ３の入った前記加熱ボートを通電して加熱し蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚２０ｎｍの電子輸送層を設けた。
　（電子注入層の形成）
　次に、フッ化カリウムの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．０１～０．０２ｎｍ／秒で膜厚１ｎｍのフッ化カリウム層を設けた。更に、フッ化カリウム層まで成膜した素子を真空のまま第２真空槽に移し、第２真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、アルミニウムの入った前記加熱ボートに通電して、蒸着速度０．１～０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚５ｎｍのアルミニウム層を形成し、電子注入層を設けた。
　（透明保護層の形成）
　次に、電子注入層まで成膜した素子を真空のまま第１真空槽に戻し、第１真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、酸化バナジウムの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で蒸着して膜厚２０ｎｍの透明保護層を設けた。
　なお、同様な方法で作製した素子を別途作製し、透明保護層をＥＳＣＡで分析したところ、透明保護層を構成している酸化バナジウムは酸素欠陥状態（非化学量論組成）になっていた。
　（透明導電性層（陰極）の形成）
　次に、透明保護層まで成膜した素子をあらかじめＩＴＯターゲットを装着した市販の平行平板スパッタリング装置に移し、スパッタリング装置のチャンバー内を５×１０－３Ｐａまで減圧した後、窒素ガスと酸素ガスを流しながら、ＤＣ出力５００Ｗで放電し、成膜速度１０ｎｍ／秒で膜厚１００ｎｍのＩＴＯ導電層の透明導電性層（陰極）を形成した。
　（素子の封止）
　有機ＥＬ素子１－１と同様な方法で硬化・封止して、両面エミッション型有機ＥＬ素子１－６を得た。
　〔有機ＥＬ素子１－７の作製〕
　（陽極～電子注入層の形成）
　陽極～電子注入層までは有機ＥＬ素子１－６と同様な方法で成膜した。
　（透明保護層の形成）
　次に、電子注入層まで成膜した素子を真空のまま第１真空槽に戻し、第１真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、酸化モリブデン（６価）の入った加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で蒸着を行い膜厚２０ｎｍの透明保護層を設けた。
　（陰極の形成）
　有機ＥＬ素子１－６と同様にして陰極を成膜した。
　（素子の封止）
　有機ＥＬ素子１－６と同様な方法で硬化・封止して、両面エミッション型有機ＥＬ素子１－７を得た。なお、同様な方法で作製した素子を別途作製し、透明保護層をＥＳＣＡで分析し、透明保護層を構成している酸化モリブデン（６価）は酸素欠陥状態になっていることを確認した。
　〔有機ＥＬ素子１－８～１－１２の作製〕
　透明保護層の膜厚を表１に記載の値に変更した以外は有機ＥＬ素子１－７と同様な方法で、有機ＥＬ素子１－８～１－１２を作製した。
　〔有機ＥＬ素子１－１３～１－１５の作製〕
　電子輸送層の化合物を表１に記載の化合物に変更した以外は有機ＥＬ素子１－９と同様な方法で、有機ＥＬ素子１－１３～１－１５を作製した。
　〔有機ＥＬ素子１－１６～１－１８の作製〕
　リン光発光性化合物を表１に記載の化合物に変更した以外は有機ＥＬ素子１－１５と同様な方法で、有機ＥＬ素子１－１６～１－１８を作製した。
　〔有機ＥＬ素子１－１９～１－２０の作製〕
　透明保護層の材料を表１に記載の材料に変更した以外は有機ＥＬ素子１－１８と同様な方法で、有機ＥＬ素子１－１９～１－２０を作製した。なお、表１に記した酸化モリブデンは６価であり、酸化レニウムは６価であり、酸化ニッケルは２価である。
　〔有機ＥＬ素子１－２１の作製〕
　（陽極～陰極の形成）
　陽極～陰極までは有機ＥＬ素子１－１８と同様な方法で成膜した。
　（補助電極の作製）
　陰極上に、シャドーマスクを用いてスパッタ法で線幅５０μｍ、厚み１μｍ、ピッチ１，０００μｍの間隔でライン状の銀パターンから成る補助電極を作製した。
　（素子の封止）
　有機ＥＬ素子１－１８と同様な方法で硬化・封止して、両面エミッション型有機ＥＬ素子１－２１を得た。
　〔有機ＥＬ素子１－２２～１－２３の作製〕
　透明保護層の材料を表１に記載の材料に変更した以外は有機ＥＬ素子１－２１と同様な方法で、有機ＥＬ素子１－２２～１－２３を作製した。
　〔有機ＥＬ素子１－２４の作製〕
　（陽極～電子注入層の形成）
　陽極～電子注入層までは有機ＥＬ素子１－１８と同様な方法で成膜した。
　（透明保護層の形成）
　次に、電子注入層まで成膜した素子を真空のまま第１真空槽に戻した後、電子注入層の上にステンレス鋼製のマスクが配置されるように装置外部からリモートコントロールで設置した。このとき使用したマスクは１，０００μｍ間隔で幅５０μｍのライン状の穴が空いている。次に、第２真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、酸化モリブデン（６価）の入った加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で上記マスク越しに成膜し、膜厚７０ｎｍの図２に模式図で示したようにパターニングされた透明保護層を設けた。上面図と側面から見た断面図で示した。
　（補助電極の作製）
　陰極上に、シャドーマスクを用いてスパッタ法で線幅５０μｍ、厚み１μｍ、ピッチ１，０００μｍの間隔で図２のようなライン状の銀パターンから成る補助電極を透明保護層がパターニングされていない領域上に作製した。
　（素子の封止）
　有機ＥＬ素子１－１８と同様な方法で硬化・封止して、両面エミッション型有機ＥＬ素子１－２４を得た。
　〔有機ＥＬ素子１－２５～１－２６の作製〕
　透明保護層の材料を表１に記載の材料に変更した以外は有機ＥＬ素子１－２４と同様な方法で、有機ＥＬ素子１－２５～１－２６を作製した。
　なお、試料１－８～１－２６のいずれの透明保護層についてもＥＳＣＡで確認したところ酸素欠損状態であった。
　《有機ＥＬ素子の評価》
　上記作製した各有機ＥＬ素子について、下記の方法に従って電圧の測定を行った。
　〔電圧の測定〕
　上記で作製した各有機ＥＬ素子に対し、陽極側と陰極側の両側の正面輝度の和が１０００ｃｄ／ｍ２となるときの電圧を各素子の電圧とした。なお、輝度の測定には分光放射輝度計ＣＳ－１０００（コニカミノルタセンシング製）を用いた。得られた電圧の数値が小さいほど、好ましい結果であることを表す。
　以上により得られた結果を、表１に示す。
　（外部取り出し量子効率）
　作製した有機ＥＬ素子に対し、２．５ｍＡ／ｃｍ２で定電流を印加したときの外部取り出し量子効率（％）を測定した。外部取り出し量子効率は以下の式により算出される。
　外部取り出し量子効率（％）＝有機ＥＬ素子外部に発光した光子数／有機ＥＬ素子に流した電子数×１００
　なお、測定には分光放射輝度計ＣＳ－１０００（コニカミノルタセンシング製）を用いた。有機ＥＬ素子１－１～１－２６の外部取り出し量子効率は、有機ＥＬ素子１－１（比較例）の測定値を１．０とした相対値で表した。外部取り出し量子効率の相対値を表１に記した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000053
 　表１に記載の結果より明らかなように、本発明に係る有機ＥＬ素子は、比較例に対し、発光効率及び駆動電圧に優れていることが分かる。
　《トップエミッション型有機ＥＬ素子の作製》
　有機ＥＬ素子２－１～２－２３は発光面積が５ｃｍ×５ｃｍとなるように作製した。
　〔有機ＥＬ素子２－１の作製〕
　（陰極の形成）
　透明な基板１の上に厚さ１００ｎｍとなる条件でアルミニウムをスパッタ法で成膜、パターニングして、アルミニウム層から成る陽極を形成した。次いで、アルミニウム層を設けた基板を、イソプロピルアルコールで超音波洗浄し、乾燥窒素ガスで乾燥し、ＵＶオゾン洗浄を５分間行った。
　（電子注入層～正孔注入／正孔輸送の形成）
　このアルミニウム層を設けた基板を市販の真空蒸着装置の基板ホルダーに固定し、タンタル製抵抗加熱ボートにフッ化カリウム、Ａｌｑ３、ＢＡｌｑ、ＤＰＶＢｉ、α－ＮＰＤをそれぞれ入れ、真空蒸着装置の第１真空槽に取り付けた。
　まず、第１真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、フッ化カリウムの入った加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．０１～０．０２ｎｍ／秒でアルミニウム層上に膜厚１ｎｍの電子注入層を設けた。
　次に、Ａｌｑ３の入った前記加熱ボートを通電して加熱し蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚２０ｎｍの電子輸送層を設けた。
　更に、ＤＰＶＢｉの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚３０ｎｍの発光層を設けた。
　次いで、ＢＡｌｑの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚１０ｎｍの電子阻止層を設けた。
　更に、α－ＮＰＤの入った前記加熱ボートを通電して加熱し蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚２０ｎｍの正孔注入／正孔輸送層を設けた。
　（透明導電性層（陽極）の形成）
　次に、正孔注入／正孔輸送層まで成膜した素子をあらかじめＩＴＯターゲットを装着した市販の平行平板スパッタリング装置に移し、スパッタリング装置のチャンバー内を５×１０－３Ｐａまで減圧した後、窒素ガスと酸素ガスを流しながら、ＤＣ出力５００Ｗで放電し、成膜速度１０ｎｍ／秒で膜厚１００ｎｍのＩＴＯ導電層の透明導電性層（陽極）を形成した。
　（素子の封止）
　最後に、上記で得られた素子をガラスケースで覆い、厚み３００μｍのガラス基板を封止用基板として用い、周囲にシール材としてエポキシ系光硬化型接着剤（東亞合成社製ラックストラックＬＣ０６２９Ｂ）を適用し、これを前記透明支持基板と密着させ、ガラス基板側からＵＶ光を照射して、硬化・封止して、トップエミッション型有機ＥＬ素子２－１を得た。
　〔有機ＥＬ素子２－２の作製〕
　（陰極～正孔注入／正孔輸送層の形成）
　陰極～正孔注入／正孔輸送層までは有機ＥＬ素子２－１と同様な方法で成膜した。
　（透明保護層の形成）
　次に、正孔注入／正孔輸送層まで成膜した素子を真空のまま第１真空槽に戻し、第１真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、酸化カルシウムの入った加熱ボートに通電して加熱し、酸素ガスを導入せずに、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で蒸着を行って膜厚２０ｎｍの透明保護層を設けた。
　（陽極の形成）
　有機ＥＬ素子２－１と同様にして陰極を成膜した。
　（素子の封止）
　有機ＥＬ素子２－１と同様な方法で硬化・封止して、トップエミッション型有機ＥＬ素子２－２を得た。
　〔有機ＥＬ素子２－３の作製〕
　透明保護層の膜厚を２０ｎｍから７０ｎｍに変更した以外は有機ＥＬ素子２－２と同様な方法でトップエミッション型有機ＥＬ素子２－３を得た。
　〔有機ＥＬ素子２－４の作製〕
　透明保護層の材料を酸化カルシウムから酸化ランタンに変更した以外は有機ＥＬ素子２－２と同様な方法でトップエミッション型有機ＥＬ素子２－４を得た。
　〔有機ＥＬ素子２－５の作製〕
　透明保護層の膜厚を２０ｎｍから７０ｎｍに変更した以外は有機ＥＬ素子２－４と同様な方法でトップエミッション型有機ＥＬ素子２－５を得た。
　〔有機ＥＬ素子２－６の作製〕
　（陰極の形成）
　有機ＥＬ素子２－１と同様な方法でアルミニウム層から成る陰極を形成した。
　（電子注入層～正孔注入／正孔輸送の形成）
　このアルミニウム層を設けた基板を市販の真空蒸着装置の基板ホルダーに固定し、タンタル製抵抗加熱ボートにフッ化カリウム、Ａｌｑ３、ＢＡｌｑ、Ｈ４、Ｉｒ－４、α－ＮＰＤをそれぞれ入れ、真空蒸着装置の第１真空槽に取り付けた。
　まず、第１真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、フッ化カリウムの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．０１～０．０２ｎｍ／秒でアルミニウム層上に膜厚１ｎｍの電子注入層を設けた。
　次に、Ａｌｑ３の入った前記加熱ボートを通電して加熱し蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚２０ｎｍの電子輸送層を設けた。
　更に、Ｈ４の入った前記加熱ボートとＩｒ－４の入ったボートをそれぞれ独立に通電して、発光ホストであるＨ４と発光ドーパントであるＩｒ－４の蒸着速度が１００：６になるように調節し、膜厚３０ｎｍの発光層を設けた。
　次いで、ＢＡｌｑの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚１０ｎｍの正孔阻止層を設けた。更に、α－ＮＰＤの入った前記加熱ボートを通電して加熱し蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚２０ｎｍの正孔注入／正孔輸送層を設けた。
　（透明保護層の形成）
　次に、正孔注入／正孔輸送層まで成膜した素子を真空のまま第１真空槽に戻し、第１真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、酸化バナジウムの入った加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で蒸着を行って膜厚２０ｎｍの透明保護層を設けた。
　（透明導電性層（陽極）の形成）
　次に、透明保護層まで成膜した素子をあらかじめＩＴＯターゲットを装着した市販の平行平板スパッタリング装置に移し、スパッタリング装置のチャンバー内を５×１０－３Ｐａまで減圧した後、窒素ガスと酸素ガスを流しながら、ＤＣ出力５００Ｗで放電し、成膜速度１０ｎｍ／秒で膜厚１００ｎｍのＩＴＯ導電層の透明導電性層（陽極）を形成した。
　（素子の封止）
　有機ＥＬ素子２－１と同様な方法で硬化・封止して、トップエミッション型有機ＥＬ素子２－６を得た。
　〔有機ＥＬ素子２－７の作製〕
　（陰極～正孔注入／正孔輸送層の形成）
　陰極～正孔注入／正孔輸送層までは有機ＥＬ素子２－６と同様な方法で成膜した。
　（透明保護層の形成）
　次に、電子注入層まで成膜した素子を真空のまま第１真空槽に戻し、第１真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、酸化モリブデン（６価）の入った加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で膜厚２０ｎｍの透明保護層を設けた。
　（陽極の形成）
　有機ＥＬ素子２－６と同様にして陽極を成膜した。
　（素子の封止）
　有機ＥＬ素子２－６と同様な方法で硬化・封止して、トップエミッション型有機ＥＬ素子２－７を得た。なお、同様な方法で作製した素子を別途作製し、透明保護層をＥＳＣＡで分析し、透明保護層を構成している酸化モリブデン（６価）は酸素欠陥状態になっていることを確認した。
　〔有機ＥＬ素子２－８～２－１２の作製〕
　透明保護層の膜厚を表２に記載の値に変更した以外は有機ＥＬ素子２－７と同様な方法で、有機ＥＬ素子２－８～２－１２を作製した。
　〔有機ＥＬ素子２－１３～２－１５の作製〕
　リン光発光性化合物を表２に記載の化合物に変更した以外は有機ＥＬ素子２－９と同様な方法で、有機ＥＬ素子２－１３～２－１５を作製した。
　〔有機ＥＬ素子２－１６～２－１７の作製〕
　透明保護層の材料を表２に記載の材料に変更した以外は有機ＥＬ素子２－１５と同様な方法で、有機ＥＬ素子２－１６～２－１７を作製した。なお、表２に記した酸化モリブデンは６価であり、酸化レニウムは６価であり、酸化ニッケルは２価である。
　〔有機ＥＬ素子２－１８の作製〕
　（陽極～陰極の形成）
　陰極～陽極までは有機ＥＬ素子２－１５と同様な方法で成膜した。
　（補助電極の作製）
　陽極上に、シャドーマスクを用いてスパッタ法で線幅５０μｍ、厚み１μｍ、ピッチ１，０００μｍの間隔でライン状の銀パターンから成る補助電極を作製した。
　（素子の封止）
　有機ＥＬ素子２－１５と同様な方法で硬化・封止して、トップエミッション型有機ＥＬ素子２－１８を得た。
　〔有機ＥＬ素子２－１９～２－２０の作製〕
　透明保護層の材料を表２に記載の材料に変更した以外は有機ＥＬ素子２－１５と同様な方法で、有機ＥＬ素子２－１９～２－２０を作製した。
　〔有機ＥＬ素子２－２１の作製〕
　（陰極～正孔注入／正孔輸送層の形成）
　陰極～正孔注入／正孔輸送層までは有機ＥＬ素子２－１８と同様な方法で成膜した。
　（透明保護層の形成）
　次に、正孔注入／正孔輸送層まで成膜した素子を真空のまま第１真空槽に戻した後、電子注入層の上にステンレス鋼製のマスクが配置されるように装置外部からリモートコントロールで設置した。このとき使用したマスクは１，０００μｍ間隔で幅５０μｍのライン状の穴が空いている。次に、第２真空槽を４×１０－４Ｐａまで減圧した後、酸化モリブデン（６価）の入った加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度０．１～０．２ｎｍ／秒で上記マスク越しに成膜し、膜厚７０ｎｍの図３のようにパターニングされた透明保護層を設けた。図３に、上面図及び側面から見た断面図を示した。
　（補助電極の作製）
　陰極上に、シャドーマスクを用いてスパッタ法で線幅５０μｍ、厚み１μｍ、ピッチ１，０００μｍの間隔で図３のようなライン状の銀パターンから成る補助電極を透明保護層がパターニングされていない領域上に作製した。
　（素子の封止）
　有機ＥＬ素子２－１５と同様な方法で硬化・封止して、トップエミッション型有機ＥＬ素子２－２１を得た。
　〔有機ＥＬ素子２－２２～２－２３の作製〕
　透明保護層の材料を表２に記載の材料に変更した以外は有機ＥＬ素子２－２１と同様な方法で、有機ＥＬ素子２－２２～２－２３を作製した。
　なお、試料２－８～２－２３のいずれの透明保護層についてもＥＳＣＡで確認したところ酸素欠損状態であった。
　《有機ＥＬ素子の評価》
　上記作製した各有機ＥＬ素子について、下記の方法に従って電圧の測定を行った。
　〔電圧の測定〕
　上記で作製した各有機ＥＬ素子に対し、陽極側の正面輝度が１０００ｃｄ／ｍ２となるときの電圧を各素子の電圧とした。なお、輝度の測定には分光放射輝度計ＣＳ－１０００（コニカミノルタセンシング製）を用いた。得られた電圧の数値が小さいほど、好ましい結果であることを表す。
　（外部取り出し量子効率）
　作製した有機ＥＬ素子に対し、２．５ｍＡ／ｃｍ２で定電流を印加したときの外部取り出し量子効率（％）を測定した。外部取り出し量子効率は以下の式により算出される。
　外部取り出し量子効率（％）＝有機ＥＬ素子外部に発光した光子数／有機ＥＬ素子に流した電子数×１００
　なお、測定には分光放射輝度計ＣＳ－１０００（コニカミノルタセンシング製）を用いた。有機ＥＬ素子２－１～２－２３の外部取り出し量子効率は、有機ＥＬ素子２－１（比較例）の測定値を１．０とした相対値で表した。外部取り出し量子効率の相対値を表２に記した。
　以上により得られた結果を、表２に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000054
 　表２に記載の結果より明らかなように、本発明に係る有機ＥＬ素子は、比較例に対し、発光効率及び駆動電圧に優れていることが分かる。
　本発明の有機エレクトロルミネッセンス素子は、低い電圧で発光し、明るい画面を有するテレビやパソコン等の表示装置及び照明装置に利用することができる。
　１　　基材
　２ａ　　陽極
　２ｂ　　陰極
　３　　正孔注入層
　４　　正孔輸送層
　５　　発光層
　６　　電子輸送層
　７　　電子注入層
　８　　透明保護層
　９　　透明導電性層
　１０　　補助電極

Claims (14)

  1. 　少なくとも発光層及び透明導電性層を有する有機エレクトロルミネッセンス素子において、該発光層と該透明導電性層との間に透明保護層が配置されており、該発光層はリン光発光性化合物を含有し、かつ該透明保護層が金属酸化物を含有し、該金属酸化物がモリブデン酸化物（６価）、レニウム酸化物（６価）又はニッケル酸化物（２価）であり、該モリブデン酸化物（６価）、レニウム酸化物（６価）及びニッケル酸化物（２価）は酸素欠損状態であることを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子。
  2. 　前記透明保護層の膜厚が６０ｎｍ以上、１５０ｎｍ以下であることを特徴とする請求項１に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
  3. 　前記発光層と前記透明保護層との間に電子輸送層を有することを特徴とする請求項１又は２に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
  4. 　前記発光層と前記透明保護層との間に正孔輸送層を有することを特徴とする請求項１又は２に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
  5. 　前記電子輸送層が下記一般式（１）で表される化合物を含有することを特徴とする請求項３に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
    　一般式（１）　　（Ａｒ１）ｎ１－Ｙ１
    〔式中、ｎ１は１以上の整数を表し、Ｙ１はｎ１が１の場合は置換基を表し、ｎ１が２以上の場合は単なる結合手又はｎ１価の連結基を表す。Ａｒ１は下記一般式（Ａ）で表される基を表し、ｎ１が２以上の場合、複数のＡｒ１は同一でも異なっていてもよい。但し、前記一般式（１）で表される化合物は分子内に３環以上の環が縮合してなる縮合芳香族複素環を少なくとも２つ有する。〕
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001
     〔式中、Ｘは、Ｎ（Ｒ）、Ｏ、Ｓ又はＳｉ（Ｒ）（Ｒ’）を表し、Ｅ１～Ｅ８は、Ｃ（Ｒ１）又はＮを表し、Ｒ、Ｒ’及びＲ１は水素原子、置換基又はＹ１との連結部位を表す。＊はＹ１との連結部位を表す。Ｙ２は単なる結合手又は２価の連結基を表す。Ｙ３及びＹ４は、各々５員又は６員の芳香族環から導出される基を表し、少なくとも一方は環構成原子として窒素原子を含む芳香族複素環から導出される基を表す。ｎ２は１～４の整数を表す。〕
  6. 　前記一般式（１）で表される化合物が、下記一般式（２）で表される化合物であることを特徴とする請求項５に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000002
     〔式中、Ｙ５は、アリーレン基、ヘテロアリーレン基又はそれらの組み合わせからなる２価の連結基を表す。Ｅ５１～Ｅ６６は、各々Ｃ（Ｒ３）又はＮを表し、Ｒ３は水素原子又は置換基を表す。Ｙ６～Ｙ９は、各々芳香族炭化水素環から導出される基又は芳香族複素環から導出される基を表し、Ｙ６又はＹ７の少なくとも一方、及びＹ８又はＹ９の少なくとも一方は、Ｎ原子を含む芳香族複素環から導出される基を表す。ｎ３及びｎ４は０～４の整数を表すが、ｎ３＋ｎ４は２以上の整数である。〕
  7. 　前記一般式（２）で表される化合物が、下記一般式（３）で表される化合物であることを特徴とする請求項６に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000003
     〔式中、Ｙ５は、アリーレン基、ヘテロアリーレン基又はそれらの組み合わせからなる２価の連結基を表す。Ｅ５１～Ｅ６６、Ｅ７１～Ｅ８８は、各々Ｃ（Ｒ３）又はＮを表し、Ｒ３は水素原子又は置換基を表す。但し、Ｅ７１～Ｅ７９の少なくとも１つ及びＥ８０～Ｅ８８の少なくとも１つはＮを表す。ｎ３及びｎ４は０～４の整数を表すが、ｎ３＋ｎ４は２以上の整数である。〕
  8. 　前記リン光発光性化合物が下記一般式（４）で表されることを特徴とする請求項１～７のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000004
     〔式中、Ｐ、Ｑは、各々炭素原子又は窒素原子を表し、Ａ１はＰ－Ｃと共に芳香族炭化水素環又は芳香族複素環を形成する原子群を表す。Ａ２はＱ－Ｎと共に芳香族複素環を形成する原子群を表す。Ｐ１－Ｌ１－Ｐ２は２座の配位子を表し、Ｐ１、Ｐ２は各々独立に炭素原子、窒素原子又は酸素原子を表す。Ｌ１はＰ１、Ｐ２と共に２座の配位子を形成する原子群を表す。ｊ１は１～３の整数を表し、ｊ２は０～２の整数を表すが、ｊ１＋ｊ２は２又は３である。Ｍ１は元素周期表における８族～１０族の遷移金属元素を表す。〕
  9. 　前記一般式（４）で表される化合物が下記一般式（５）で表される化合物であることを特徴とする請求項８に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000005
     〔式中、Ｚは、炭化水素環基又は複素環基を表す。Ｐ、Ｑは、各々炭素原子又は窒素原子を表し、Ａ１はＰ－Ｃと共に芳香族炭化水素環又は芳香族複素環を形成する原子群を表す。Ａ３はＣ（Ｒ０１）＝Ｃ（Ｒ０２）、Ｎ＝Ｃ（Ｒ０２）、Ｃ（Ｒ０１）＝Ｎ又はＮ＝Ｎを表し、Ｒ０１、Ｒ０２は、各々水素原子又は置換基を表す。Ｐ１－Ｌ１－Ｐ２は２座の配位子を表し、Ｐ１、Ｐ２は各々独立に炭素原子、窒素原子、又は酸素原子を表す。Ｌ１はＰ１、Ｐ２と共に２座の配位子を形成する原子群を表す。ｊ１は１～３の整数を表し、ｊ２は０～２の整数を表すが、ｊ１＋ｊ２は２又は３である。Ｍ１は元素周期表における８族～１０族の遷移金属元素を表す。破線は単結合又は二重結合を表す。〕
  10. 　前記Ｍ１がイリジウムを表すことを特徴とする請求項８又は９に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
  11. 　前記透明導電性層上に補助電極を有することを特徴とする請求項１～１０のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
  12. 　前記透明保護層がパターニングされており、かつ前記補助電極が透明保護層のパターニングされていない領域上に形成されていることを特徴とする請求項１１に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
  13. 　両面エミッション型であることを特徴とする請求項１～１２のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
  14. 　請求項１～１３のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子を備えたことを特徴とする照明装置。
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