WO2003050612A1 - Screen and method for manufacturing the same and image display system - Google Patents

Screen and method for manufacturing the same and image display system Download PDF

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WO2003050612A1
WO2003050612A1 PCT/JP2002/002897 JP0202897W WO03050612A1 WO 2003050612 A1 WO2003050612 A1 WO 2003050612A1 JP 0202897 W JP0202897 W JP 0202897W WO 03050612 A1 WO03050612 A1 WO 03050612A1
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screen according
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fine particles
reflection
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Atsushi Toda
Yoshihiko Kuroki
Michihiro Ohnishi
Hirotaka Akao
Ko Ishimoto
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Sony Corporation
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    • G02F2202/00Materials and properties
    • G02F2202/32Photonic crystals

Definitions

  • the present invention relates to a screen, a method for manufacturing the same, and an image display system, and is suitable for use in projecting various images.
  • the screen for projection is basically a white screen that can scatter or reflect most light in the visible wavelength range.
  • the light is similarly scattered or reflected, so that the contrast of the image is degraded. For this reason, the method of projecting in a dark room is common.
  • the spectral half width (FWHM) of each of the three primary colors is wide, the color reproduction range on the chromaticity diagram is narrow, and pure Difficult to express colors.
  • the light forming an image scattered or reflected from the screen also has a wide half-width of the spectrum and a narrow color reproduction on the chromaticity diagram. Above, it is difficult to express pure colors.
  • the problem to be solved by the present invention is that the contrast of the image is degraded even when externally unrelated light enters. It is another object of the present invention to provide a screen capable of obtaining a beautiful black image, a method of manufacturing the same, and an image display system using the screen.
  • Another problem to be solved by the present invention is that the screen does not necessarily need to be projected in a dark room, and, for example, does not degrade the contrast of images under ordinary fluorescent lamps or outdoors, and a method of manufacturing the screen and the screen.
  • An object of the present invention is to provide an image display system that uses an image.
  • Still another problem to be solved by the present invention is that when an image is formed by projecting light having a high half-width of a light emitting spectrum such as a semiconductor laser or a light emitting diode (LED) and a high color purity, the narrow half width is provided.
  • a light emitting spectrum such as a semiconductor laser or a light emitting diode (LED)
  • LED light emitting diode
  • An object of the present invention is to provide a manufacturing method thereof and an image display system using the screen.
  • Yet another problem to be solved by the present invention is that even if light with a wide spectral half width of each of the three primary colors of a display such as a liquid crystal projector is projected, the color reproduction range on the chromaticity diagram is widened. It is an object of the present invention to provide a screen capable of expressing a pure color, a method for manufacturing the same, and an image display system using the screen.
  • the first invention of the present invention is:
  • the screen is characterized by having a structure in which fine particles having a size of 1 m or less are regularly arranged.
  • the second invention of this invention is:
  • It is configured to reflect light of a specific wavelength using a photonic crystal. It is a screen that is characterized by
  • a photonic crystal refers to a transparent medium (for example, two kinds of transparent media) whose refractive indices (dielectric constants) are significantly different from each other. It is an artificial crystal that is regularly arranged with a period of nm, and is called a one-dimensional photonic crystal, two-dimensional photonic crystal, or three-dimensional photonic crystal according to the number of dimensions having a periodic structure.
  • This photonic crystal is equivalent to the above-described regular array structure of fine particles in that it has a periodic structure and a function of reflecting light. In other words, the ordered array of fine particles can be considered as a kind of photonic crystal.
  • the third invention of this invention is:
  • a screen characterized by being configured to reflect light of a specific wavelength using a dielectric multilayer film.
  • the dielectric multilayer film can be considered as a one-dimensional photonic crystal.
  • the fourth invention of this invention is:
  • a method for producing a screen having a structure in which fine particles having a size of 1 m or less are regularly arranged
  • Fine particles are arranged by self-organization
  • a method for producing a screen characterized in that:
  • self-organization generally refers to self-organization according to the information structure of the outside world, but here, in a system that deposits fine particles (eg, liquid phase) This means that particles are autonomously deposited and regularly arranged according to the parameters that characterize the system.
  • fine particles eg, liquid phase
  • the deposition of fine particles by self-assembly is typically performed as follows. That is, the fifth invention of the present invention
  • a method for producing a screen having a structure in which fine particles having a size of 1 m or less are regularly arranged
  • the first to third steps are repeated until a required optical characteristic or a required thickness is obtained for the ordered array structure of fine particles, that is, the fine particle layer.
  • a required optical characteristic or a required thickness is obtained for the ordered array structure of fine particles, that is, the fine particle layer.
  • the direction of the substrate is changed by rotating the substrate in its plane either before immersion, during immersion (before lifting), or immediately after lifting. In this case, after drying the substrate, the thickness of the fine particle layer in the substrate surface may be checked, and the orientation of the substrate may be controlled accordingly.
  • the concentration of particulate solution is usually kills in that without any problem to the formation of fine particle layer as long as 2 wt 0/0 above, it is preferable to higher from the viewpoint of efficiently depositing a particulate layer
  • it depends on the material of the fine particles if it is more than 50% by weight, the formation of a good fine particle layer is hindered, so that it is preferably 50% by weight or less.
  • the lifting speed of the substrate is usually 30 im / s or more, the adhesion of the fine particle layer can be performed without any trouble, but if the lifting speed is high, the thickness of the fine particle layer to be attached tends to increase. Therefore, from the viewpoint of efficiently depositing the fine particle layer, it is preferable that the speed be higher, Although there is basically no upper limit to this, from a practical point of view, it is generally, for example, 3 m / s or less.
  • a screen configured to reflect light of a specific wavelength using a photonic crystal
  • An image display system comprising: a projection light source including a semiconductor light emitting element that emits light of a specific wavelength.
  • An image display system comprising: a projection light source including a semiconductor light emitting element that emits light of a specific wavelength determined by the size and arrangement of fine particles.
  • a screen configured to reflect light of a specific wavelength using a dielectric multilayer film
  • An image display system comprising: a projection light source including a semiconductor light emitting element that emits light of a specific wavelength.
  • the size of the fine particles used for the screen is set to 1 m or less because the size of the fine particles is substantially proportional to the wavelength of the light reflected by the fine particles. This is because the size of the fine particles must be at least 1 m or less in order to reflect the visible light that contributes. In particular, when the particles are arranged in a close-packed structure, the size of the particles is typically about 150 nm or more and about 320 nm or less in order to reflect light of three primary colors. .
  • the fine particles used for the screen can form an ordered structure. If so, it can be deposited basically by any method, but typically, it can be easily deposited using a self-assembly technique.
  • the microparticles are typically arranged in a close-packed structure.
  • the close-packed structure is a cubic close-packed structure in which fine particles are arranged to form a face-centered cubic lattice or a hexagonal close-packed structure in which fine particles are arranged to form a hexagonal close-packed lattice.
  • the refractive index of silica generally ranges from 1.36 to 1.47, although it depends on the conditions at the time of formation.
  • the refractive index of the fine particles is n
  • it is more than 269 x (l.36 / n) nm for the red reflection and 314 x
  • blue Fine particles having a diameter of not less than 220 X (1.36 / n) nm and not more than 222 X (1.36 / n) nm are used for reflection, and more typically, for red reflection.
  • a photonic crystal for red reflection, green reflection and blue reflection must be placed vertically on the substrate.
  • a fine particle layer is laminated.
  • the order of lamination of these photonic crystal or fine particle layers is basically arbitrary.
  • the photonic crystal or fine particle layers for red reflection, green reflection and blue reflection are sequentially laminated on a substrate.
  • the stacking order can be reversed.
  • the former case is advantageous in that the influence of Rayleigh scattering can be minimized, and the latter case is particularly advantageous in that the crystallinity of the fine particle layer can be improved.
  • the lamination period of the photonic crystal or fine particle layer for each color is preferably 8 or more and 15 or less in order to enhance the wavelength selectivity.
  • the photonic crystals or fine particle layers for red reflection, green reflection and blue reflection may be arranged laterally on the substrate, and in this case, the lamination period of the photonic crystals or fine particle layers for each color is also set. It is preferably 8 or more and 15 or less in order to enhance the wavelength selectivity.
  • the red, green, and blue reflection fine particle layers have, for example, a strip shape, a rectangular shape, or a square shape, and these fine particle layers are arranged on a substrate in a predetermined arrangement pattern. Are arranged.
  • the arrangement order of the photonic crystals or fine particle layers for red reflection, green reflection and blue reflection is basically arbitrary.
  • Screens preferably absorb the visible light Layer or bulk substrate. Most preferably, this layer or Balta substrate absorbs visible light in all wavelength ranges. A layer that absorbs this visible light or The Balta substrate is preferably provided below the photonic crystal or fine particles or the dielectric multilayer film (on the back side thereof as viewed from the viewing direction of the screen).
  • a substrate provided with a layer that absorbs visible light on the back surface of a transparent substrate may be used.
  • Various materials can be used as the material of the substrate.
  • carbon dioxide and other inorganic materials polyethylene terephthalate (PET), other polymer materials and resin materials can be used.
  • PET polyethylene terephthalate
  • Such an organic material, or a composite material of an inorganic material and an organic material can be used.
  • the fine particle layer or the photonic crystal is preferably used. Before forming tonic crystals, a treatment is performed to improve the wettability of the substrate surface.
  • a buffer layer made of fine particles is preferably formed in advance on the substrate in order to improve wettability.
  • the diameter of the fine particles in the fine particle layer serving as the buffer layer is not less than the diameter of the fine particles for blue reflection described above, that is, 210 X (1.36 / n) nm or more and 2 17 X (1.36 / n).
  • the diameter is selected to be smaller than the nm or less, specifically, smaller than 208 x (1.36 / n) nm.
  • the thickness of the substrate depends on the material of the substrate, but in general, if it is 10 or more, sufficient strength of the screen can be obtained and the advantage that it is not easily broken can be obtained. Below, there is an advantage that the flexibility of the screen is increased and the handling during winding and transport becomes convenient.
  • a dielectric multilayer film is used for the screen, its periodic structure is preferably at least 10 periods in order to enhance wavelength selectivity. In order to spread the reflected light by the diffraction effect, it is preferable that the size of the aggregate of the photonic crystals or fine particles in the lateral direction is smaller than 22 periods.
  • an aggregate of photonic crystals or fine particles or a dielectric multilayer film having both an inclined surface and a surface having a different angle.
  • the angle 0 of the inclined surface is 70 ° ⁇
  • the range is 0 ⁇ 90 °.
  • an aggregate of photonic crystals or fine particles or a dielectric multilayer film has a curved surface.
  • the crystal axis of the photonic crystal or the aggregate of the fine particles or the dielectric multilayer film may be inclined at an angle ⁇ in the range of 77.4 ° ⁇ 90 ° with respect to the incident direction of light. .
  • the aggregate of the photonic crystals or fine particles or the dielectric multilayer film may have a wave. Further, the formation of the irregularities on the substrate surface contributes to the mitigation of the directivity of light.
  • a light diffusion medium is preferably used from the viewpoint of reducing the directivity of light reflected by the screen and having a uniform brightness over the entire screen. It is provided by coating or other methods.
  • the light diffusion medium is, specifically, a diffusion film, a microlens film, a microprism film, or the like formed of a high molecular substance. From the viewpoint of improving the mechanical strength of the screen, the gaps between the fine particles are filled with a binder made of a polymer or the like. In this case, the fine particles may be hollow.
  • the ninth invention of the present invention is
  • a screen comprising regularly arranged fine particles that reflect electromagnetic waves of a specific wavelength.
  • the tenth invention of the present invention is: There are regularly arranged first fine particles that reflect electromagnetic waves of the first wavelength, and regularly arranged first fine particles that reflect electromagnetic waves of a second wavelength different from the first wavelength. And
  • the electromagnetic wave is typically visible light.
  • the electromagnetic wave is described in relation to the first to eighth aspects of the present invention unless it violates its properties. Can be established.
  • only light of a specific wavelength can be selectively reflected by the photonic crystal or the fine particles or the dielectric multilayer film. By using it, light of other wavelengths can also be absorbed.
  • FIGS. 1A and 2B are schematic diagrams for explaining the principle of the screen according to the present invention
  • FIGS. 3 and 4 are schematic diagrams showing a reflection spectrum of a multilayer film
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing a reflection spectrum of regularly arranged fine particles
  • FIGS. 6A to 6C are schematic diagrams for explaining a close-packed structure
  • FIG. Is a schematic diagram showing a spectrum of scattered light of regularly arranged fine particles
  • FIG. 8 is a schematic diagram for explaining the reason why light of a specific wavelength is reflected
  • FIG. Figures A to 10 are schematic diagrams showing the model used to calculate the light field of the fine particles
  • Figures 11 to 31 are schematic diagrams showing the calculation results of the light field of the fine particles.
  • FIG. 32 is a schematic diagram showing the model used to calculate the light field of the fine particles with respect to the green reflection
  • Figs. 33A-39B are green.
  • FIG. 40 is a schematic diagram showing a calculation result of the light field of the fine particles with respect to reflection
  • FIG. 40 is a schematic diagram showing a model used for calculating the light field of the fine particles with respect to blue reflection
  • FIG. 41A to FIG. Fig. B is a schematic diagram showing the calculation result of the optical field of fine particles with respect to blue reflection
  • Fig. 48 is a schematic diagram showing the relationship between the diameter of silica fine particles and the wavelength at which Bragg reflection occurs
  • FIG. 49 Is a schematic diagram showing the model used to calculate the light field of the fine particles for the three primary color reflections
  • FIGS. 50A to 54B are schematic diagrams showing the calculation results of the light field of the fine particles for the three primary color reflections
  • FIG. 55 is a cross-sectional view showing a screen according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 56 is a schematic line for explaining an example of a method for manufacturing a screen according to the first embodiment of the present invention.
  • FIGS. 57A to 60D show a method of manufacturing a screen according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 61 is a schematic diagram illustrating a more specific example
  • FIG. 61 is a schematic diagram showing how light spreads due to diffraction
  • FIG. 62A to 65C are graphs of the optical field of fine particles.
  • Schematic diagrams showing the calculation results Figs. 66 and 67 show schematic diagrams showing how light spreads due to refraction, and Fig. 68 shows the model used to calculate the light field of the fine particles.
  • Schematic diagrams, Fig. 69A-Fig. 75B are schematic diagrams showing the calculation results of the light field of the fine particles, and
  • Fig. 76 is a schematic line showing the spread of the reflected light as the spread of the far-field image
  • FIG. 77A and FIG. 77B are schematic diagrams for explaining the effect of tilting the crystal axis
  • FIG. 78 is a schematic diagram showing a reciprocal lattice space
  • FIG. 80 is a schematic diagram showing an example of a structure for relaxing the directivity
  • FIG. Schematic diagram showing, Fig. 82 And Fig. 83 are schematic diagrams showing the reflection spectrum of the dielectric multilayer film
  • Figs. 84 to 87 show the measurement results of the spectrum of the light emitted from the LCD projector.
  • FIG. 88 is a schematic diagram showing the measurement results of the spectrum of the light emitted from the DLP projector
  • FIG. 92 is a schematic diagram showing the chromaticity diagram.
  • FIG. 93 is a sectional view showing a screen according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 94 is a sectional view showing a screen according to the third embodiment of the present invention. Is a cross-sectional view showing a screen according to the fourth embodiment of the present invention; FIG. 96 is a cross-sectional view showing a screen according to the fifth embodiment of the present invention; FIG. 7C is a plan view showing an example of a planar arrangement pattern of the three primary color reflecting fine particle layers in the screen according to the fifth embodiment of the present invention, and FIG. 98 is a plan view showing a sixth embodiment of the present invention. Sectional view showing a screen, FIG. 99 is a sectional view showing a screen according to a seventh embodiment of the present invention, FIG. 100 is a sectional view showing a screen according to an eighth embodiment of the present invention, FIG.
  • FIG. 101 is a sectional view showing a screen according to a ninth embodiment of the present invention.
  • FIG. 102 is a cross-sectional view showing a screen according to the tenth embodiment of the present invention.
  • FIG. 103 is a cross-sectional view showing a screen according to the eleventh embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 and FIG. 105 are schematic diagrams showing an image display system according to a 12th embodiment of the present invention. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • a combination of a reflector and a light absorbing layer reflects only light of a specific wavelength and absorbs light of other wavelengths, thereby sinking black.
  • a screen can be realized.
  • the one shown in FIG. 1A has a feature that wavelength selectivity is high, and the one shown in FIG. 1B has a feature that the structure is simple.
  • FIGS. 2A and 2B show a specific example of a structure for reflecting only light of a specific wavelength.
  • the structure shown in Fig. 2A is large on the substrate.
  • Bragg condition is a regular array of pre-optimized particles.
  • the structure shown in Fig. 2B has a multilayer film formed by alternately stacking a film with a refractive index of n and a film of n 2 (n,) on a substrate. Only light is selectively reflected.
  • This multilayer film has two types of dielectric films having different refractive indices with respect to their refractive indices n. / 4 n alternately stacked.
  • m is generally an integer of 1 or more, but is assumed to be 1 here, and ⁇ . Is the wavelength of the particular light.
  • the results are shown in FIG.
  • the reflectivity increases by increasing the period of the multilayer film from 1 to 5, and a reflectivity of 90% or more can be obtained in 5 periods.
  • the half width of the peak is as wide as 200 nm.
  • white light is perpendicularly incident on the fine particle layer and the light reflected vertically is measured.
  • SEM scanning electron microscope
  • the strong peak observed in the reflection spectrum is either the third-order Bragg reflection of a face-centered cubic lattice or the second-order Bragg reflection of a hexagonal close-packed lattice. From the above, Bragg reflection was confirmed by the regular arrangement of fine particles deposited by self-assembly.
  • FIG. 7 shows the result of measuring the scattered light by tilting the sample surface by 20 ° in order to measure the spectrum of the scattered light by the fine particle layer.
  • an inverted pattern dip structure
  • This phenomenon is explained as follows. That is, as shown in FIG. 8, light near the wavelength of 625 nm is subjected to strong Bragg reflection near the surface of the fine particle layer, so that light does not travel farther than that. As a result, the scattering is weak, and only the Bragg reflection is strongly received.
  • light with a wavelength other than 625 nm does not receive Bragg reflection and travels farther away, so that it is scattered as a result.
  • the light density distribution is calculated separately for the light traveling to
  • these light density distribution charts are created by copying a color drawing printed on a color printer in black and white using a copier, and the density does not necessarily correspond to the light density (hereinafter the same). ).
  • the horizontal direction is shortened. From these results, for light at wavelengths of 470 nm, 50,000 nm, 525 nm, 540 nm, 580 nm, 600 nm, 645 nm, and 675 nm, It can be seen that only the traveling direction is strong and light reaches the right end of the fine particle layer, and light is emitted from the surface to the right.
  • the calculation of the light field was similarly performed in each case.
  • the model of green reflection is shown in Fig. 32, and the calculation results are shown in Fig. 33 to Fig. 39.
  • the model of blue reflection is shown in Fig. 40, and the calculation results are shown in Figs. 41 to 47. From these results, the green reflection and the blue reflection show strong reflection only at the wavelengths of 525 nm and 475 nm, respectively, and up to about 8 to 15 periods, similar to the red reflection. You can see that the light is traveling.
  • a fine particle layer for red reflection 11 periods is laminated on the substrate, a fine particle layer 11 for green reflection is laminated thereon, and a fine particle layer for blue reflection is further laminated thereon.
  • 11 periods By stacking 11 periods, it is considered that only light of the three primary colors is reflected and light of other wavelengths is transmitted.
  • the model at this time is shown in Fig. 49, and the calculation results are shown in Figs. 50 to 54. From these results, when the wavelength is 475 nm, 525 nm, and 623 nm, strong reflection occurs at the respective fine particle layers for blue reflection, green reflection, and red reflection. It turns out that it does not go to the back.
  • the fine particles 5 are arranged in a close-packed structure.
  • fine particles 5 of the fine particle layers 2 to 4 for example, fine sieve particles are used.
  • the substrate 1 a substrate capable of absorbing light having a wavelength other than the three primary colors is used. Specifically, for example, a black substrate made of carbon is used.
  • This group The thickness of the plate 1 is selected to be not less than 20 jum and not more than 500, specifically, about 50 m. When the thickness of the substrate 1 is about 50 u in this way, the screen is hard to be broken and has high flexibility, so that the screen is easily wound.
  • the area of the screen is appropriately selected according to the application.
  • the screen shown in FIG. 55 can be easily manufactured by using, for example, a self-assembly technique. That is, for example, as shown in FIG. 56, by using an aqueous solution 6 in which the fine particles 5 are dispersed and slowly depositing the fine particles 5 in the aqueous solution 6, the fine particles 5 are regularly formed by self-organization. Arrange. Therefore, by using this self-assembly technique, the fine particle layers 2 to 4 can be sequentially laminated on the substrate 1 in a regular arrangement, whereby a screen can be manufactured.
  • a self-assembly technique That is, for example, as shown in FIG. 56, by using an aqueous solution 6 in which the fine particles 5 are dispersed and slowly depositing the fine particles 5 in the aqueous solution 6, the fine particles 5 are regularly formed by self-organization. Arrange. Therefore, by using this self-assembly technique, the fine particle layers 2 to 4 can be sequentially laminated on the substrate 1 in a regular arrangement, whereby
  • this type of screen is manufactured by a natural sedimentation method (for example, Masuda et al. (2001) Material Integration 14, 37-44) and a dipping-pulling single-particle film manufacturing method (single particle method).
  • the film pulling method for example, Nagayama (19995) powder engineering 32, 476-485
  • a spontaneous sedimentation method a low-concentration fine particle solution is dropped on a substrate, or the substrate is set up in a low-concentration fine particle solution. At this time, the fine particles settled on the substrate are crystallized in a self-organizing manner on the substrate by evaporation of the solvent.
  • the spontaneous sedimentation method is a method of obtaining a three-dimensional crystal thin film of fine particles on a substrate through this process.
  • the problem with this method since the evaporation of the solvent must be at least several hours, it takes a long time to dry the substrate, for the solvent from the substrate is not uniformly emit steam in a plane, a few cm 2 or more large When fabricating a crystal thin film having an area, the thickness of the thin film is uneven in the plane.
  • the single-particle film pulling method a substrate immersed in a low-concentration fine particle solution is pulled into the gas phase. This is a method utilizing a process of obtaining a two-dimensional crystal thin film having a single layer of fine particles.
  • a pull-up rotation method is used as a method to achieve both the production of a three-dimensional crystal by the natural sedimentation method and the reduction of in-plane thickness unevenness by the single-particle film pull-up method, and also to greatly reduce the preparation time.
  • the single-particle film pulling method only a single-layer two-dimensional crystal thin film can be obtained in a single immersion and pulling process.
  • a three-dimensional crystal thin film can be obtained by a single immersion and lifting process similar to the pulling method.
  • a three-dimensional crystal can be obtained as in the case of the natural sedimentation method.
  • the in-plane thickness unevenness can be reduced as in the single particle film pulling method. Further, the time required for the manufacturing process can be significantly reduced.
  • the lifting rotation method will be specifically described with reference to FIGS. 57 to 60. I do.
  • a high concentration e.g., 2 wt% to 5 0 wt 0/0 or less
  • the substrate 1 is lowered from above the solution tank 7 and immersed in the fine particle solution 8.
  • the substrate 1 is pulled up at a high speed (for example, 30 m / s or more and 3 m / s or less). Then, as shown in FIG. Let dry naturally.
  • the fine particle solution 8 adhering to the substrate 1 moves downward by gravity at the same time as being dried, so that the distribution of the fine particles is biased below the substrate 1, and after drying, the distribution of the fine particles is lowered in the vertical direction.
  • a thin film with an in-plane distribution is obtained, which is thicker and thinner above. In the vertical direction, by performing the following steps, it is possible to suppress in-plane thickness unevenness.
  • the substrate 1 that has been dried in the step shown in FIG. 57D is rotated 180 ° in its plane to be turned upside down.
  • the substrate 1 is lowered from above the solution tank 7 and immersed in the fine particle solution 8.
  • high-speed pulling of the substrate 1 (5 8 FIG. C) and the gas phase natural drying (5 8 FIG.
  • thickness of the fine particle layer is lower substrate 1 It has an in-plane distribution that is thick and thin at the top, but the thickness distribution of the previously laminated fine particle layer is opposite to the in-plane distribution, so that the in-plane distribution of the entire substrate 1 in the vertical direction is uniform ⁇ It should be noted that the same effect can be obtained by performing the vertical rotation of the substrate 1 not during the immersion, but during the immersion and immediately after the lifting.
  • Fig. 59A drying is performed in the process shown in Fig. 58D. Is rotated 90 ° clockwise in that plane.
  • the substrate 1 is immersed in the fine particle solution 8 (Fig. 59B), the substrate 1 is pulled up at high speed (Fig. 59C), and the substrate 1 is air-dried (Fig. 59B). D).
  • the substrate 1 that has been dried in the step shown in FIG. 59D is rotated 180 ° in its plane to be turned upside down. Thereafter, as described above, the substrate 1 is immersed in the fine particle solution 8 (FIG. 60B), the substrate 1 is pulled up at a high speed (FIG. 60C), and naturally dried in the gas phase (FIG. 60). D).
  • silica fine particles with a diameter of 280 nm product name: KE-I-P30, manufactured by Nippon Shokubai Co., Ltd.
  • pure water as a solvent
  • commercially available aluminum (aluminum) foil as a substrate (size: short side 2)
  • a 6 mm long rectangle 76 mm long was used for plasma cleaning.
  • 201 drops of a 20% by weight aqueous solution of silicic acid was dropped on a substrate and spread on the substrate surface. Then, the substrate was kept horizontal and dried in a resin sample case for 3 days.
  • the substrate was immersed in a% aqueous solution of silicic acid so that the longer side of the substrate was vertical, and the substrate was pulled up vertically at a speed of 1 Omm / s and dried. After drying, the substrate was turned upside down, immersed, pulled up, and dried in the same way.c. Then, the substrate was rotated 90 ° in its plane and immersed so that the short side direction was vertical. It was pulled vertically at a speed of 10 mm / s as it was. After drying, the substrate was turned upside down and immersed, pulled up and dried in the same manner. In this way, a total of four dipping and lifting steps were performed.
  • the thickness unevenness was smaller in the pulling rotation method than in the natural sedimentation method.
  • both exhibit Bragg reflection, and it is confirmed that the fine particles of the sily force form a three-dimensional crystal.
  • Five points on the line connecting the centers of both short sides of the substrate center point, 1 O in both directions from the center point). mm and 2 O mm apart), the thickness of the prepared thin film was measured.
  • the film thickness was measured by optical measurement as the vertical distance between the surface of the substrate aluminum foil and the surface of the prepared thin film. The results were as follows:
  • the first embodiment it is possible to reflect only the light of the specific three primary colors and absorb the light of the remaining wavelengths on the substrate 1 side, thereby reducing black. You can get a small screen. In this case, even if external light unrelated to the image enters the screen, Since the differences are cut, the contrast is prevented from deteriorating. In particular, when an image is formed with light of good color purity, such as a semiconductor laser or an LED, having a narrow half-width of the emission peak, only the light of the image is efficiently and selectively reflected and other wavelengths are reflected. By cutting light, high contrast can be maintained and black can be sunk. Therefore, the image does not deteriorate even in a dark room. Further, even when light having a wide spectrum half width such as a liquid crystal projector is projected, the wavelength is selectively narrowed, so that the color reproduction range on the chromaticity diagram is widened and the color purity is improved.
  • a wide spectrum half width such as a liquid crystal projector
  • the FFP of the reflected light can be made wider by the diffraction effect of the fine particles. This corresponds to extending the grid points horizontally in the reciprocal grid space. Therefore, the reflected wave was calculated with a wide area (100 ⁇ m x 30 ⁇ m) when the horizontal size was set to 22 periods, 16 periods, and 11 periods.
  • FIGS. 62 to 65 The results are shown in FIGS. 62 to 65. From this result, it is found that the smaller the number of periods in the horizontal direction, the wider the F FP becomes. More specifically, in 22 cycles? Although it was narrow at ⁇ 8 °, the FFP spread as the cycle became smaller, and it became clear that it spread to FFP ⁇ 11 ° at 16 cycles and to FFP ⁇ 17 ° at 11 cycles.
  • the FFP has a relatively narrow FFP of about 10 to 17 ° to provide directivity, thereby increasing the light density, that is, making it brighter.
  • the aggregate of fine particles has a structure having a horizontal surface and a slope, or as shown in Fig. 67, It is conceivable that the surface of the aggregate of fine particles has a curved surface structure.
  • reflected light is emitted obliquely only in a specific direction, but in the example shown in FIG. 67, reflected light is emitted in an arbitrary direction corresponding to a curved surface.
  • the method using refraction and the method of tilting the crystal axis are suitable for projecting onto a screen in a small space such as at home. In this case, if the directivity is strong, the image will not be visible depending on the viewing location.
  • the aggregate 9 of fine particles may have a swell.
  • Wavelength selectivity can also be described using reciprocal lattice space.
  • Fig. 81 when the size in the light incident direction is small, the lattice points in the reciprocal lattice space extend in that direction. As a result, there are many Ewald spheres that intersect the lattice points, and as a result, the range of wavelengths that satisfies the Bragg condition is expanded.
  • the reflection spectra of the dielectric multilayer film in the case of five layers and ten layers were calculated by the effective Fresnel coefficient method. The results are shown in FIGS. 82 and 83.
  • the half-width of the five-layer structure is about 200 nm, whereas the half-width of the ten-layer structure is as narrow as 50 nm.
  • Fig. 84 to Fig. 87 and Fig. 88 to Fig. 91 show the spectrum of light emitted from a liquid crystal (LCD) project and a DLP (Digital Light Processing) project, respectively. It is the result of having measured.
  • Fig. 84 and Fig. 88 are white
  • Fig. 85 and Fig. 89 are blue
  • Fig. 86 and Fig. 90 are green
  • the figure shows the spectrum when red is displayed. Since the wavelength is selected using the color filter, it can be seen that the half width of the spectrum of each of the three primary colors is as wide as 60 to 100 nm for both the LCD projector and the DLP projector. At this time, if a normal screen is used, the half-width does not change even if the light is reflected, so that the color reproducibility is determined by the half-width of this spectrum. On the other hand, when the screen according to the first embodiment is used, the light emitted from the projector is reflected by the screen even if the half width of the spectrum of each of the three primary colors is wide. The half-width narrows down to 30 nm.
  • Fig. 92 shows chromaticity This is shown in the figure. While DLP and LCD have a narrow color reproduction range, it can be seen that when the screen according to the first embodiment is used, the range is widened and color reproducibility is improved.
  • Figure 93 shows this screen.
  • the diffusion film 10 is disposed on the uppermost surface of the fine particle layer 4.
  • This diffusion film 10 is for diffusion of light and protection of the screen surface. That is, by diffusing the light reflected from the screen by the diffusion film 10, the directivity can be reduced and the entire screen can have uniform brightness. In other words, so-called hot spots can be eliminated. Further, the diffusion film 10 can prevent the fine particles from peeling off due to mechanical damage.
  • the diffusion film 10 a material that is transparent in the visible light region and that diffuses light is desirable. In order to diffuse the light, a different refractive index distribution may be provided in the film plane, or the film surface may be provided with irregularities. Specific examples of the diffusion film 10 include, for example, a light-diffusing polyethylene film (having a refractive index distribution in a plane due to fabrication) or a surface capable of diffusing light. Polycarbonate films with irregularities and polyethylene terephthalate film / polyvinyl chloride film are examples. The thickness of the diffusion film 10 is usually 5 mm or less, preferably 1 mm or less.
  • the diffusion film 10 for example, after laminating the fine particle layers 2 to 4 on the substrate 1, the diffusion film 10 is adhered to the surface of the fine particle layer 4 while applying tension (tension). You can do this, this diffusion An adhesive may be applied in advance to the back side of the film 10 and adhered. Furthermore, in order to improve the optical characteristics, the surface of the diffusion film 10 may be coated with a 1/4 wavelength coating for preventing reflection. In this case, it is necessary to Koti ring with a material of lower refractive index than the refractive index of the Fi Lum material £ Specifically, for example, ⁇ 1 0 0 nm of the thickness S i ⁇ 2 glass film by a coating or vapor deposition Coating.
  • a microlens film 11 on which a two-dimensional microlens array is formed is arranged on the uppermost surface of the fine particle layer 4.
  • the micro lens of the micro lens film 11 may be a convex lens, a concave lens, or a combination of both.
  • the material of the microlens film 11 may be basically any material as long as it is transparent in the visible light region.
  • it may be polycarbonate, polyethylene terephthalate, or polyvinyl chloride.
  • the microlens of the microlens film 11 only needs to be about the same as or smaller than the pixel size.
  • a lens having a diameter of about 0.1 mm may be densely arranged in a plane.
  • a 1/4 wavelength coating may be applied to this surface to prevent reflection.
  • a SiO 2 glass film having a thickness of about 100 nm may be coated by coating or vapor deposition.
  • the arrangement method of the microlens film 11 is the same as that of the second embodiment.
  • a microprism film 12 on which a two-dimensional microprism array is formed is arranged on the uppermost surface of the fine particle layer 4. ing.
  • the light reflected from the screen is diffused by the microprism film 12 to reduce the directivity and to provide uniform brightness over the entire screen, eliminating hot spots. it can.
  • the microprism film 12 can prevent the fine particles from peeling off due to mechanical damage.
  • the material of the microprism film 12 may be basically any material as long as it is transparent in the visible light region.
  • polycarbonate, polyethylene terephthalate or polyvinyl chloride may be used.
  • the microprisms of the microprism film 12 need only be about the same as or smaller than the pixel size.
  • prisms having a diameter of about 0.1 mm may be densely arranged in a plane.
  • Quarter-wave coating on the surface to prevent reflection May be performed.
  • a SiO 2 glass film having a thickness of about 100 nm may be coated by coating or vapor deposition.
  • the arrangement method of the microprism film 11 is the same as in the first embodiment.
  • the screen is the same as that of the screen according to the first embodiment, and a description thereof will not be repeated.
  • the fine particle layer 2 for red reflection, the fine particle layer 3 for green reflection, and the fine particle layer 4 for blue reflection are arranged on the substrate 1 in the vertical direction (the direction perpendicular to the substrate).
  • the fine particle layers 2 to 4 are arranged on the substrate 1 in a lateral direction (a direction parallel to the substrate).
  • a fine particle layer 2 for red reflection, a fine particle layer 3 for green reflection, and a fine particle layer for blue reflection 4 are arranged horizontally.
  • FIG. 97 shows an example of the planar shape and planar arrangement pattern of these fine particle layers 1 to 4.
  • the fine particle layers 2 to 4 in the form of stripes are alternately arranged.
  • the width of the striped fine particle layers 2 to 4 may be 1/3 of the pixel size or smaller.
  • rectangular fine particle layers 2 to 4 are arranged in a grid pattern.
  • the size of the rectangular fine particle layers 2 to 4 may be equal to or smaller than 1/3 of the pixel size.
  • square fine particle layers 2 to 4 are arranged in a grid pattern.
  • the size of the square fine particle layers 2 to 4 may be equal to or smaller than 1/3 of the pixel size.
  • fine particles for each color may be separately applied on the substrate 1 by an ink jet method, or may be applied by screen printing / gravure printing. You may divide.
  • a mask having openings corresponding to the patterns of the fine particle layers 2 to 4 is prepared. Fine particles for each color may be applied three times using these masks.
  • the screen is the same as the screen according to the first embodiment, and thus the description is omitted.
  • the three primary color fine particle layers 1 to 4 are arranged in the horizontal direction on the substrate 1, the three primary color fine particle layers 2 to 4 are vertically stacked on the substrate 1.
  • the total thickness of the fine particle layer in the vertical direction is reduced, and the loss due to light scattering and the like is reduced, so that light can be absorbed efficiently.
  • the gaps between the fine particles 5 in the fine particle layers 1 to 4 are filled with the binder 13.
  • a material having a refractive index different from that of the fine particles is used as the material of the binder 13.
  • a polyolefin-based material such as polypropylene, polyethylene, or polybutylene-polyacetate can be used as the binder 13.
  • a fine particle layer 2 on substrate 1 After the formation of the fine particles (4) and (4), a solution in which the binder material is dissolved is impregnated into the fine particle layers (1) to (4) and solidified. There is a method of filling a gap between the fine particles 5 while depositing the fine particles by adding a dissolved solution.
  • the gap between the fine particles 5 is filled with the binder 13 so that the mechanical strength of the screen is improved.
  • the refractive index of the binder 13 can be controlled with respect to the material of the fine particles 5 to reduce the half width of the reflection spectrum. Can be obtained.
  • a portion corresponding to the fine particles 5 in the fine particle layers 1 to 4 of the screen shown in FIG. It has a so-called inverse opapar structure.
  • fine particle layers 2 to 4 are formed on the substrate 1, and the fine particle layers 2 to 4 are impregnated with a solution in which a binder material is dissolved and solidified.
  • a solution in which a binder material is dissolved and solidified After filling the gap of 5 with the binder 13, it may be put in a predetermined etching solution, for example, a hydrofluoric acid solution to dissolve fine particles (for example, silica fine particles).
  • a predetermined etching solution for example, a hydrofluoric acid solution to dissolve fine particles (for example, silica fine particles).
  • the configuration is the same as that of the screen according to the first embodiment, and a description thereof will not be repeated.
  • the refractive index difference between the cavity 14 corresponding to the fine particles and the binder 13 is different from the refractive index between the air and the binder 13.
  • the refractive index difference is obtained, a large refractive index difference can be obtained as compared with the case where the fine particles 5 are fine particles of silicide force. For this reason, the period of the fine particle layer required for causing the required reflection can be reduced, and the screen can be made thinner.
  • a substrate provided with an absorbing layer 16 on the back surface of a transparent substrate 15 is used.
  • the absorption layer 16 a material that can absorb light having a wavelength other than the three primary colors is used.
  • a carbon film is used.
  • the transparent substrate 15 is, for example, a transparent glass substrate or a polycarbonate substrate, and the absorbing layer 16 is a carbon film coated on the back surface thereof.
  • the thickness of the absorption layer 16 is selected so as to be able to sufficiently absorb light of wavelengths other than the three primary colors according to its material.However, the thickness when a carbon film is used as the absorption layer 16 is selected. The following is a description of That is, the absorption coefficient of the carbon alpha, depends on the manufacturing method, is generally 1 0 3 ⁇ 1 0 5 cm '.
  • weakening the light intensity up to a 1 0 3 cm 'even 1 / e
  • the thickness of the carbon film needs to be 0.1 m or more, preferably 10 ⁇ m or more.
  • the degree of freedom in selecting the material of the substrate is increased. Benefits can be obtained.
  • a black substrate whose surface is roughened by sanding (absorbing light of wavelengths other than the three primary colors) is used as a substrate.
  • PET film 17 is used.
  • sand processing refers to processing in which the surface is roughened by rubbing with a file or the like.
  • the height of the irregularities on the surface of the PET film 17 is, for example, 0.8 to 4 WM.
  • the surface of the PET film 17 that has been roughened by sanding has good wettability, it is easy to apply the aqueous solution 6 in which fine particles 5 such as fine silica particles are dispersed.
  • the directivity of light is reduced by the unevenness of the surface of the PET film 17, hot spots are less likely to occur.
  • the inexpensive PET film 17 is used as the substrate, so that the screen can be manufactured at low cost. then c can be obtained, for screen according to the first 0 embodiment of the present invention described I do. This screen is shown in FIG.
  • the fine particle layer 2 for red reflection, the fine particle layer 3 for green reflection, and the fine particle layer 4 for blue reflection are sequentially laminated on the substrate 1 in the vertical direction.
  • the order of lamination of the fine particle layers 2 to 4 need not necessarily be set in this manner. From the viewpoint of the arrangement (crystallinity) of the fine particles 5, it is rather preferable to reverse the lamination order. Therefore, in the tenth embodiment, a case where the stacking order of the fine particle layers 2 to 4 is reversed will be described.
  • the fine particle layers 2 are sequentially laminated.
  • the fine particles 5 of the fine particle layer 4 for blue reflection are the smallest, when the fine particles 5 are arranged on the substrate 1, the surface of the fine particle layer 4 has the smallest unevenness.
  • fine particles 5 of the fine particle layer 3 for green reflection are arranged on the base surface having such small irregularities, the arrangement is less likely to be disturbed, and the crystallinity is improved.
  • the tenth embodiment in addition to the same advantages as the first embodiment, since the crystallinity of each of the fine particle layers 2 to 4 is good, the half width of the reflection spectrum is reduced.
  • the advantage is that the three primary colors can be efficiently reflected in a narrow area, and the other light can be absorbed by the substrate 1.
  • a fine particle layer 2 for red reflection and a fine particle for green reflection are provided on a substrate 1 via a buffer layer 18.
  • the layer 3 and the fine particle layer 4 for blue reflection are sequentially laminated.
  • a fine particle layer as a buffer layer 18 is deposited on the substrate 1, and then fine particle layers 2 to 4 are deposited thereon.
  • the buffer layer 18 composed of a fine particle layer is deposited on the substrate 1 and the fine particle layers 2 to 4 are deposited thereon, so that compared with the case where the fine particle layers 2 to 4 are directly deposited on the substrate 1.
  • the wettability of the base for forming the fine particle layer 2-4 is improved. Therefore, fine particle layers 2 to 4 having good crystallinity can be obtained.
  • D 10 nm
  • FIG. 104 shows the configuration of this image display system.
  • FIG. 105 shows a perspective view of this image display system.
  • the image display system according to the first embodiment includes a screen 19 according to any of the first to eleventh embodiments and a screen 19 according to the first embodiment.
  • the project consists of a project 20 for projecting an image on the screen 19.
  • the projector 20 includes a light source 21 capable of emitting red, green, and blue light, and lenses 22 and 23 for condensing and projecting.
  • the light source 21 is composed of a semiconductor light emitting element capable of emitting red, green and blue light, that is, a semiconductor laser or a light emitting diode. More specifically, when a semiconductor laser is used as the light source 21, for example, an A 1 G a In P semiconductor laser is used as a red semiconductor laser, and a Zn semiconductor is used as a green semiconductor laser. S e based semiconductor lasers, as semiconductor lasers for the blue example G a N-based semiconductor laser is used.
  • the numerical values, structures, shapes, material-fine particle deposition methods, and the like described in the above embodiments are merely examples, and if necessary, different numerical values, structures, shapes, materials, and fine particles may be used.
  • a deposition method or the like may be used.
  • the microlens film 11 is disposed on the uppermost surface of the fine particle layer 4, and in the fourth embodiment described above, the microprism film 11 is disposed on the uppermost surface of the fine particle layer 4.
  • a film in which a micro lens and a micro prism are mixed may be arranged on the uppermost surface of the fine particle layer 4.
  • the contrast of an image is degraded even when external light unrelated to the image is incident on the screen. It is possible to obtain a beautiful image with no black spots. In addition, it is not always necessary to project in a dark room, and the contrast does not deteriorate even under a normal fluorescent lamp or outdoors.

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Description

明 細 書 スク リーンおよびその製造方法ならびに画像表示システム 技術分野
この発明は、 スク リーンおよびその製造方法ならびに画像表示シス テムに関し、 各種の画像の投射に用いて好適なものである。 背景技術
従来、 投射用のスク リーンは、 可視波長領域のほとんどの光を散乱 または反射することができる白地のスク リーンが基本である。 この場 合、 画像に関係のない外部の光がスク リーンに入射したときにも同様 に散乱または反射されてしまうので、 画像のコントラス 卜が劣化して しまう。 このため、 暗室で投射する方法が一般的である。
しかしながら、 暗室で投射しても、 外部からの漏れ光や暗室内部で の画像と無関係な光があると、 画像のコントラス 卜が劣化するととも に、 黒が沈まないことになる。
また、 C R Tや液晶ディスプレイなどの一般に普及しているディス プレイにおいては、 各三原色光のスぺク トル半値幅 (F W H M ) が広 く、 色度図上の色再現範囲が狭い上に、 純粋な色を表現しにくい。 更 に、 液晶または C R Tプロジヱクタ一型デイスプレイにおいても、 ス ク リーンから散乱または反射される画像を形成する光は同様にスぺク トルの半値幅が広く、 色度図上の色再現性が狭い上に、 純粋な色を表 現しにくい。
したがって、 この発明が解決しょうとする課題は、 外部から画像に 関係ない光が入射したときでも画像のコントラストが劣化することが なく、 黒の沈んだ綺麗な画像を得ることができるスク リーンおよびそ の製造方法ならびにこのスク リーンを用いた画像表示システムを提供 することにある。
この発明が解決しょう とする他の課題は、 必ずしも暗室で投射する 必要がなく、 たとえば通常の蛍光灯の下や屋外でも画像のコン トラス トが劣化しないスク リーンおよびその製造方法ならびにこのスク リー ンを用いた画像表示システムを提供することにある。
この発明が解決しょうとする更に他の課題は、 半導体レーザや発光 ダイォード (L E D ) などの発光スぺク トルの半値幅が狭くて色純度 の良い光を投射することで画像を形成する場合に、 効率良く選択的に 画像の光だけを反射して他の波長の光を力ッ 卜することで高コン トラ ス トを維持することができるとともに、 黒を沈ませることができるス ク リーンおよびその製造方法ならびにこのスク リーンを用いた画像表 示システムを提供することにある。
この発明が解決しょう とする更に他の課題は、 たとえ液晶プロジュ クターなどのディスプレイの各三原色のスぺク 卜ル半値幅が広い光を 投射しても、 色度図上の色再現範囲を広くすることができるとともに. 純粋な色を表現することができるスク リーンおよびその製造方法なら びにこのスク リ一ンを用いた画像表示システムを提供することにある < 発明の開示
上記課題を解決するために、 この発明の第 1 の発明は、
大きさが 1 m以下の微粒子を規則的に配列した構造を有すること を特徴とするスク リーンである。
この発明の第 2の発明は、
フォ トニック結晶を用いて特定の波長の光を反射するように構成さ れていることを特徴とするスク リーンである。
ここで、 フォ トニッ ク結晶とは、 屈折率 (誘電率) が互いに大きく 異なる透明な媒質 (たとえば、 二種類の透明媒質) を光の波長程度の 周期、 たとえば数百〜 1 0 0 0数百 n mの周期で規則正しく配置した 人工結晶であり、 周期構造を持つ次元数に応じて、 一次元フォ トニッ ク結晶、 二次元フォ トニッ ク結晶、 三次元フォ トニッ ク結晶と呼ばれ る。 このフォ トニッ ク結晶は、 周期構造を有し、 光を反射する機能を 有する点で、 上記の微粒子の規則配列構造と同等である。 言い換えれ ば、 微粒子の規則配列構造はフォ トニック結晶の一種と考えることが できる。
この発明の第 3の発明は、
誘電体多層膜を用いて特定の波長の光を反射するように構成されて いることを特徴とするスク リーンである。
ここで、 誘電体多層膜は、 一次元フォ トニッ ク結晶と考えることが できる。
この発明の第 4の発明は、
大きさが 1 m以下の微粒子を規則的に配列した構造を有するスク リ一ンの製造方法であつて、
微粒子を自己組織化により配列するようにした
ことを特徴とするスク リーンの製造方法である。
ここで、 自己組織化とは、 一般的には、 外界の情報構造に合わせて 自律的に自己を組織化することを言うが、 ここでは、 微粒子を堆積さ せる系 (たとえば、 液相) において、 その系を特徴付けるパラメ一夕 に応じて自律的に微粒子が堆積して規則的に配列することを言う。 この自己組織化による微粒子の堆積は、 典型的には、 次のようにし て行われる。 すなわち、 この発明の第 5の発明は、
大きさが 1 m以下の微粒子を規則的に配列した構造を有するスク リーンの製造方法であって、
2重量0 /0以上の微粒子溶液中に基板を浸漬する第 1 の工程と、 基板を気相中に 3 0 u m / s以上の速度で引き上げることによりそ の表面を微粒子溶液で濡らす第 2の工程と、
微粒子溶液で濡れた基板を気相中で乾燥させる第 3の工程とを有す る
ことを特徴とするものである。
ここで、 最も好適には、 微粒子の規則配列構造、 すなわち微粒子層 について、 必要な光学特性が得られるまで、 あるいは必要な厚さが得 られるまで、 第 1の工程から第 3の工程を繰り返す。 また、 第 1 のェ 程から第 3の工程を 1 回だけ行っただけでは、 基板面内で微粒子層の 厚さの均一性を得ることができないことが多いことから、 好適には、 基板の浸漬前、 浸漬中 (引き上げ前) または引き上げ直後のいずれか の時に基板をその面内で回転させることにより基板の向きを変える。 この場合、 基板の乾燥後に基板面内の微粒子層の厚さを調べ、 それに 合わせて基板の向きを制御しても良い。 また、 微粒子溶液の濃度は、 通常は 2重量0 /0以上であれば微粒子層の形成を支障なく行うことがで きるが、 微粒子層を効率的に堆積させる観点からはより高くするのが 好ましく、 一方、 微粒子の材料にもよるが、 5 0重量%ょり高くなる と良好な微粒子層の形成に支障が生じるため、 5 0重量%以下とする のが好ましい。 更に、 基板の引き上げ速度は、 通常は 3 0 i m / s以 上であれば微粒子層の付着を支障なく行うことができるが、 引き上げ 速度が速いと付着する微粒子層の厚さが増加する傾向があるため、 微 粒子層を効率的に堆積させる観点からはより速くするのが好ましく、 これには基本的には上限が存在しないと考えられるが、 実用的な観点 からは、 一般的にはたとえば 3 m / s以下である。
この発明の第 6の発明は、
フォ トニック結晶を用いて特定の波長の光を反射するように構成さ れているスク リーンと、
特定の波長の光を発光する半導体発光素子からなる投射用光源とを 有することを特徴とする画像表示システムである。
この発明の第 7の発明は、
大きさが 1 z/ m以下の微粒子を規則的に配列した構造を有するスク リーンと、
微粒子の大きさおよび配列により決まる特定の波長の光を発光する 半導体発光素子からなる投射用光源とを有することを特徴とする画像 表示システムである。
この発明の第 8の発明は、
誘電体多層膜を用いて特定の波長の光を反射するように構成されて いるスク リーンと、
特定の波長の光を発光する半導体発光素子からなる投射用光源とを 有することを特徴とする画像表示システムである。
この発明において、 スク リ一ンに用いる微粒子の大きさを 1 m以 下としたのは、 微粒子の大きさとこの微粒子により反射される光の波 長とはほぼ比例関係にあるところ、 画像形成に寄与する可視光を反射 するためには、 微粒子の大きさを少なく とも 1 m以下とする必要が あるためである。 特に、 微粒子が最密構造で配列している場合、 三原 色の光を反射するためには、 この微粒子の大きさは、 典型的には約 1 5 0 n m以上約 3 2 0 n m以下である。
スク リーンに用いる微粒子は、 規則配列構造を形成することができ れば、 基本的にはどのような方法により堆積させても良いが、 典型的 には、 自己組織化技術を用いて容易に堆積させることができる。 この 微粒子は、 典型的には、 最密構造に配列される。 ここで、 最密構造と は、 微粒子が面心立方格子を形成するように配列した立方最密構造ま たは微粒子が六方最密格子を形成するように配列した六方最密構造で ある。
典型的には、 赤、 緑および青の三原色に対応した波長の光を同時に 反射することができるようにするために、 微粒子の直径またはフォ ト ニック結晶または誘電体多層膜の周期は 3種類存在する構造とする。 微粒子としては種々のものを用いることが可能であり、 必要に応じて 選ぶことができるが、 好適には、 シリカまたはシリカと同じ屈折率を 持つ微粒子が用いられる。 ここで、 シリカの屈折率は、 形成時の条件 などにもよるが、 一般には 1 . 3 6 〜 1 . 4 7の範囲にある。 この場 合、 典型的には、 微粒子の材料によらず、 微粒子の屈折率を nとする と、 赤色反射用として 2 6 9 x ( l . 3 6 /n ) nm以上 3 1 4 x ( 1 . 3 6 /n ) nm以下の直径の微粒子、 緑色反射用として 2 2 4 X ( 1 . 3 6 /n ) nm以上 2 5 l x ( し 3 6 /n ) nm以下の直 径の微粒子、 青色反射用として 2 0 2 X ( 1 . 3 6 /n ) nm以上 2 2 4 X ( 1 . 3 6 /n ) n m以下の直径の微粒子が用いられ、 より典 型的には、 赤色反射用として 2 7 8 X ( 1 . 3 6 /n ) nm以上 3 0 5 X ( 1 . 3 6 /n ) nm以下の直径の微粒子、 緑色反射用として 1 2 4 X ( 1 . 3 6 /n ) nm以上 2 3 7 x ( l . 3 6 n ) nm以下 の直径の微粒子、 青色反射用として 2 0 8 X ( 1 . 3 6 /n ) nm以 上 2 1 7 x ( l . 3 6 /n ) n m以下の直径の微粒子が用いられる。 ただし、 これらの赤色反射用の微粒子、 緑色反射用の微粒子および青 色反射用の微粒子は、 必要に応じて、 互いに異なる材料のものを用い ても良い。 赤、 緑および青の三原色に対応した波長の光を同時に反射 することができるようにするためには、 基板上に、 縦方向に赤色反射 用、 緑色反射用および青色反射用のフォ トニッ ク結晶または微粒子層 を積層する。 これらのフォ トニッ ク結晶または微粒子層の積層順序は 基本的には任意であるが、 たとえば、 基板上に赤色反射用、 緑色反射 用および青色反射用のフォ トニッ ク結晶または微粒子層を順番に積層 したり、 これと積層順序を逆にしたりすることができる。 前者の場合 にはレイ リー散乱による影響を最小限に抑えることができる点で有利 であり、 後者の場合は特に微粒子層の結晶性を良好にすることができ る点で有利である。 この場合、 各色用のフォ トニック結晶または微粒 子層の積層周期は、 波長の選択性を高めるために、 好適には 8以上 1 5以下とする。
赤色反射用、 緑色反射用および青色反射用のフォ トニッ ク結晶また は微粒子層は基板上に横方向に配列しても良く、 この場合も、 各色用 のフォ トニック結晶または微粒子層の積層周期は波長の選択性を高め るために好適には 8以上 1 5以下とする。 ここで、 これらの赤色反射 用、 緑色反射用および青色反射用の微粒子層は、 たとえば、 ス トライ プ状、 長方形または正方形の形状を有し、 これらの微粒子層が基板上 に所定の配列パターンで配列される。 また、 これらの赤色反射用、 緑 色反射用および青色反射用のフォ トニッ ク結晶または微粒子層の配列 順序は、 基本的には任意である。
フォ トニック結晶または微粒子層または誘電体多層膜を通って抜け 出る、 赤、 緑および青の三原色以外の波長の可視光を吸収するために. スク リーンは、 好適にはその可視光の吸収が可能な層またはバルク基 板を有する。 最も好適には、 この層またはバルタ基板は、 すべての波 長域の可視光を吸収するものである。 この可視光を吸収する層または バルタ基板は、 好適には、 フォ トニッ ク結晶または微粒子または誘電 体多層膜の下 (スク リーンの観察方向から見てそれらの裏側) に設け られる。 基板として、 透明基板の裏面に可視光を吸収する層を設けた ものを用いても良い。 基板の材料としては、 種々のものを用いること ができ、 具体的には、 たとえば、 力一ボンその他の無機材料や、 ポリ エチレンテレフタレ一卜 (P ET) その他の高分子材料あるいは樹脂 材料のような有機材料、 更には無機材料と有機材料との複合材料を用 いることができる。 基板上に液相で微粒子層またはフォ トニッ ク結晶 を形成する場合、 基板の種類によっては必ずしも濡れ性が十分でない 場合もあるので、 そのような場合には、 好適には、 微粒子層またはフ ォ トニッ ク結晶を形成する前に、 基板表面の濡れ性を向上させる処理 が施される。 具体的には、 たとえば、 基板表面に粗面化処理を施して 凹凸を形成したり、 S i 〇2 膜その他の膜で表面をコーティ ングした り、 薬液で表面を処理したりする。 更に、 特に基板上に微粒子層を液 相で堆積させる場合には、 濡れ性を向上させるために、 好適には、 基 板上にあらかじめ微粒子からなるバッファ層を形成する。 このバッフ ァ層としての微粒子層の微粒子の直径は、 上記の青色反射用の微粒子 の直径、 すなわち 2 0 8 X ( 1. 3 6 /n) nm以上 2 1 7 X ( 1. 3 6 /n ) nm以下の直径より小さく選ばれ、 具体的には、 2 0 8 x ( 1 . 3 6 /n) nmより小さく選ばれる。 基板の厚さは、 基板材料 にもよるが、 一般的には 1 0 以上あればスク リ一ンの強度として 十分なものが得られ、 破れにくいという利点が得られ、 一方、 5 0 0 n m以下であるとスク リーンのフレキシビリティーが高くなり、 巻き 取りや運搬時などの取り扱いが便利になるという利点がある。 スク リ ーンに誘電体多層膜を用いる場合、 その周期構造は、 波長選択性を高 めるために、 好適には 1 0周期以上とする。 回折効果により反射光を広げるためには、 好適には、 フォ トニッ ク 結晶または微粒子の集合体の横方向の大きさを 2 2周期より小さくす る。 あるいは、 斜めの面とそれとは異なる角度を持つ面とを併せ持つ フォ トニッ ク結晶または微粒子の集合体または誘電体多層膜を用いる この場合、 好適には、 斜めの面の角度 0は 7 0 ° ≤ 0≤ 9 0 ° の範囲 とする。 あるいは、 フォ トニッ ク結晶または微粒子の集合体または誘 電体多層膜に曲面を持たせる。 更には、 フォ トニック結晶または微粒 子の集合体または誘電体多層膜の結晶軸を光の入射方向に対して 7 7 . 4 ° ≤ひ≤ 9 0 ° の範囲の角度 α傾けるようにしても良い。 また、 ス ク リーンで反射される光の指向性を緩和する観点より、 フォ トニッ ク 結晶または微粒子の集合体または誘電体多層膜にうねりを持たせても 良い。 更に、 上記の基板表面への凹凸の形成は、 この光の指向性の緩 和にも資するものである。
フォ トニック結晶または微粒子層または誘電体多層膜上には、 スク リーンで反射される光の指向性を緩和するとともに、 スクリーン全体 に均一な輝度を持たせる観点より、 好適には、 光拡散媒体がコーティ ングその他の手法により設けられる。 光拡散媒体は、 具体的には、 高 分子物質などにより形成された拡散フィルム、 マイクロレンズフィル ム、 マイクロプリズムフィルムなどである。 スク リーンの機械的強度 の向上の観点からは、 微粒子の間の隙間が高分子物質などからなる結 合剤 (バインダー) により埋められる。 この場合、 微粒子を空洞とし ても良い。
この発明の第 9の発明は、
特定の波長の電磁波を反射する規則的に配列された微粒子を有する ことを特徴とするスク リーンである。
この発明の第 1 0の発明は、 第 1の波長の電磁波を反射する規則的に配列された第 1の微粒子と、 第 1の波長と異なる第 2の波長の電磁波を反射する規則的に配列さ れた第 1の微粒子とを有し、
第 1の微粒子の直径と第 2の微粒子の直径とが互いに異なることを 特徴とするスクリーンである。
この発明の第 9および第 1 0の発明において、 電磁波は、 典型的に は可視光であり、 この場合、 その性質に反しない限り、 この発明の第 1〜第 8の発明に関連して述べたことが成立し得る。
上述のように構成されたこの発明によれば、 フォ トニック結晶ある いは微粒子あるいは誘電体多層膜により、 特定の波長の光だけを選択 的に反射することができ、 更には、 吸収層などを用いることによりそ の他の波長の光を吸収することもできる。
また、 自己組織化により微粒子を規則的に配置することにより、 所 望の微粒子層を容易に形成することができる。 図面の簡単な説明
第 1図 A〜第 2図 Bは、 この発明によるスクリーンの原理を説明す るための略線図、 第 3図および第 4図は、 多層膜の反射スぺク トルを 示す略線図、 第 5図は、 規則的に配列された微粒子の反射スぺク トル を示す略線図、 第 6図 A〜第 6図 Cは、 最密構造を説明するための略 線図、 第 7図は、 規則的に配列された微粒子の散乱光のスぺク トルを 示す略線図、 第 8図は、 特定の波長の光が反射される理由を説明する ための略線図、 第 9図 A〜第 1 0図は、 微粒子の光場の計算に用いた モデルを示す略線図、 第 1 1図 A〜第 3 1図 Bは、 微粒子の光場の計 算結果を示す略線図、 第 3 2図は、 緑色反射に対する微粒子の光場の 計算に用いたモデルを示す略線図、 第 3 3図 A〜第 3 9図 Bは、 緑色 反射に対する微粒子の光場の計算結果を示す略線図、 第 4 0図は、 青 色反射に対する微粒子の光場の計算に用いたモデルを示す略線図、 第 4 1図 A〜第 4 7図 Bは、 青色反射に対する微粒子の光場の計算結果 を示す略線図、 第 4 8図は、 シリカ微粒子の直径とブラッグ反射が起 こる波長との関係を示す略線図、 第 4 9図は、 三原色反射に対する微 粒子の光場の計算に用いたモデルを示す略線図、 第 5 0図 A〜第 5 4 図 Bは、 三原色反射に対する微粒子の光場の計算結果を示す略線図、 第 5 5図は、 この発明の第 1の実施形態によるスクリーンを示す断面 図、 第 5 6図は、 この発明の第 1の実施形態によるスクリーンの製造 方法の一例を説明するための略線図、 第 5 7図 A〜第 6 0図 Dは、 こ の発明の第 1の実施形態によるスクリーンの製造方法のより具体的な 例を説明するための略線図、 第 6 1図は、 回折により光が広がる様子 を示す略線図、 第 6 2図 A〜第 6 5図 Cは、 微粒子の光場の計算結果 を示す略線図、 第 6 6図および第 6 7図は、 屈折により光が広がる様 子を示す略線図、 第 6 8図は、 微粒子の光場の計算に用いたモデルを 示す略線図、 第 6 9図 A〜第 7 5図 Bは、 微粒子の光場の計算結果を 示す略線図、 第 7 6図は、 反射光の広がりを遠視野像の広がりとして 示す略線図、 第 7 7図 Aおよび第 7 7図 Bは、 結晶軸を傾けた効果を 説明するための略線図、 第 7 8図は、 逆格子空間を示す略線図、 第 7 9図は、 結晶軸の傾きとブラッグ条件を満たす波長との関係を示す略 線図、 第 8 0図は、 指向性を緩和する構造の一例を示す略線図、 第 8 1図は、 逆格子空間を示す略線図、 第 8 2図および第 8 3図は、 誘電 体多層膜の反射スぺク トルを示す略線図、 第 8 4図〜第 8 7図は、 L C Dプロジヱクターから出射した光のスぺク トルの測定結果を示す略 線図、 第 8 8図〜第 9 1図は、 D L Pプロジェクターから出射した光 のスぺク トルの測定結果を示す略線図、 第 9 2図は、 色度図を示す略 線図、 第 9 3図は、 この発明の第 2の実施形態によるスクリーンを示 す断面図、 第 9 4図は、 この発明の第 3の実施形態によるスクリーン を示す断面図、 第 9 5図は、 この発明の第 4の実施形態によるスクリ ーンを示す断面図、 第 9 6図は、 この発明の第 5の実施形態によるス ク リーンを示す断面図、 第 9 7図 A〜第 9 7図 Cは、 この発明の第 5 の実施形態によるスクリーンにおける三原色反射用の微粒子層の平面 的な配列パターンの例を示す平面図、 第 9 8図は、 この発明の第 6の 実施形態によるスクリーンを示す断面図、 第 9 9図は、 この発明の第 7の実施形態によるスクリーンを示す断面図、 第 1 0 0図は、 この発 明の第 8の実施形態によるスクリーンを示す断面図、 第 1 0 1図は、 この発明の第 9の実施形態によるスクリーンを示す断面図、 第 1 0 2 図は、 この発明の第 1 0の実施形態によるスクリーンを示す断面図、 第 1 0 3図は、 この発明の第 1 1の実施形態によるスクリーンを示す 断面図、 第 1 0 4図および第 1 0 5図は、 この発明の第 1 2の実施形 態による画像表示システムを示す略線図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 この発明の実施形態について説明する。 なお、 実施形態の全 図において、 同一または対応する部分には同一の符号を付す。
第 1図 Aおよび第 1図 Bに示すように、 反射板と光吸収層との組み 合わせにより特定の波長の光だけを反射して他の波長の光を吸収する ことで、 黒を沈ませるスク リーンを実現することができる。 ここで、 第 1図 Aに示すものは波長の選択性が高いという特徴があり、 第 1図 Bに示すものは構造が簡単であるという特徴がある。
特定の波長の光だけを反射するための構造の具体例を第 2図 Aおよ び第 2図 Bに示す。 第 2図 Aに示す構造は、 基板上に、 大きさがあら かじめ最適化された微粒子を規則的に配列したもので、 ブラッグ条件
( λ = 2 nA/m、 λ : 入射光の波長、 η : モード屈折率、 Λ :構造 の周期、 m :次数) を満たす波長の光のみが選択的に反射される。 第 2図 Bに示す構造は、 基板上に、 屈折率が の膜と n2 ( n , ) の膜とを交互に積層して多層膜を形成したもので、 干渉効果により特 定の波長の光のみが選択的に反射される。
まず、 多層膜の反射スぺク トルを有効フレネル係数法で見積もった 結果を説明する。 この多層膜は、 互いに屈折率が異なる二種類の誘電 体膜をそれらの屈折率 nに対して mえ。 / 4 nの厚さで交互に積層し たものである。 ただし、 mは一般には 1以上の整数であるがここでは 1 とし、 λ。 は特定の光の波長である。 結果を第 3図に示す。 ここで は、 一方の誘電体膜の屈折率を η = 1. 2、 他方の誘電体膜の屈折率 を η= し 8と し、 λ。 = 5 2 0 nmとして計算を行っている。 この 結果から、 多層膜の周期を 1から 5まで増加させることで、 反射率が 増加し、 5周期で 9 0 %以上の反射率が得られるのが判る。 一方で、 そのピークの半値幅が〜 2 0 0 nmと広いことも判る。
次に、 5周期の条件で 3原色の波長え。 = 4 9 0 nm (青色) 、 。 = 5 2 0 nm (緑色) 、 え。 = 6 5 0 nm (赤色) について計算した 結果を第 4図に示す。 この結果から、 3原色のいずれの波長の場合で もピークの半値幅が広いためにピーク同士が重なり合うが、 ある程度 特定の波長の光だけを反射することができることが判る。
一方、 形成方法は後に詳細に説明するが、 自己組織化により最密構 造で規則的に配列されたシリカ微粒子 (直径 D= 2 8 0 nm) につい て反射スペク トルを測定した結果を第 5図に示す。 ただし、 この測定 では、 白色光を微粒子層に垂直に入射して垂直に反射した光を測定し ている。 走査型電子顕微鏡 ( S EM) による観察から、 微粒子は自己 組織化により、 第 6図 A、 第 6図 Bおよび第 6図 Cに示されるような 面心立方格子か、 あるいは最密六方格子の最密構造になっていると考 えられる。 第 5図より、 波長 6 2 5 nm付近にピークが見られるのが 判る。 更に、 その最大反射率は〜 5 4 %と比較的高く、 ピークの半値 幅は〜 3 O nmと狭いことが判る。 この反射は規則的に配列した微粒 子によるブラッグ反射である。 このように可視光の波長オーダーと同 じ大きさ (く 1 wm) の周期構造体により、 このようなブラッグ反射 が生じる。
上述のブラッグ反射についてより詳細に説明する。
最密構造には、 第 6図 Aに示すように、 A、 B、 Cの三つの配列パ ターンが存在するが、 面心立方格子の場合には、 第 6図 Bに示すよう に、 AB CAB C ' · ' の順番に積み上がることになる。 このとき微 粒子の直径を D = 2 8 0 nmとすると、 その周期は Λ= 7 2 7. 5 η mとなる。 これに対して、 六方最密格子の場合には、 第 6図 Cに示す ように、 ΑΒΑΒ · · ' の順番に積み上がるので、 その周期は Λ= 4 8 5. O nmとなる。 これらのことからブラッグ条件 ( λ = 2 η Λ / m) を満たす波長を計算で見積もると、 表 1 に示すようになる。 ただ し、 モード屈折率 nは〜 1 . 3 とした。
m 面心立方格子 六方最密格子
λ ( n m ) λ m)
1 1 8 9 1 1 2 6 1
2 9 4 6 6 3 0 3 6 3 0 4 2 0 4 4 7 3 3 1 5
これらの計算結果から、 6 2 5 n mに近い値と して、 二つ候補が挙 げられる。 すなわち、 反射スぺク トルにおいて観察された強いピーク は、 面心立方格子の 3次のブラッグ反射か、 あるいは六方最密格子の 2次のブラッグ反射であることが示される。 以上により、 自己組織化 によって堆積された微粒子の規則配列によりブラッグ反射が確認され たことになる。
次に、 上述の微粒子層による散乱光のスぺク トルを測定するために サンプル表面を 2 0 ° 傾けて散乱光を測定した結果を第 7図に示す。 この場合、 6 2 5 n m付近の波長の光が、 ほとんど反射しなくなるよ うな逆パターン (ディップ構造) となるのが判る。 これは、 強いブラ ッグ反射のために散乱光が抑えられていることを意味する。 この現象 は次のように説明される。 すなわち、 第 8図に示すように、 波長 6 2 5 n m付近の光は微粒子層の表面近くで強いブラッグ反射を受けるた め、 それより も奥側に光が進まない。 そのために散乱が弱く、 ブラッ グ反射だけを強く受けることになる。 一方、 6 2 5 n m以外の波長の 光はブラッグ反射を受けないためにそれより奥側に進むので、 結果と して散乱される。
更に、 上述の最密構造で配列した微粒子について、 光の反射が強く なるような波長域をマスクゥエル方程式による光場計算によって見積 もった。 ただし、 実際の微粒子は第 9図 Aに示すように〇形状である が、 第 9図 Bに示すようにそれをほぼ正方形の口形状に近似して計算 を行った。 ここでは、 □形状粒子の横方向 ( X ) および縦方向 (y ) の粒子間隔を〇形状粒子のそれらと同じ間隔にして計算している ( X
= 2 4 2 nm、 y= 2 8 0 nm) 。 また、 充填率も 0. 7 4と、 両者 とも同じにして計算している。 微粒子の屈折率を n= 1 . 3 6とし、 またサンプルの厚さを考慮して積層周期を 3 0周期 (第 1 0図) とし て計算を行った。 その結果を第 1 1図〜第 1 9図に示す。 ここでは、 図中左側から微粒子層に光を入射して進行方向 (図中左から右、 「F 〇 RWAR D」 とも表す) に進む光と逆方向 (図中右から左、 「BA C KWARD」 とも表す) に進む光とに分けて光密度分布が計算され ている。 ただし、 これらの光密度分布図は、 カラープリ ン夕で印刷さ れたカラ一図面を複写機で白黒コピーして作成したものであり、 濃さ は必ずしも光密度に対応していない (以下同様) 。 また、 紙面の都合 上、 横方向を縮めて示されている。 これらの結果から、 波長が 4 7 0 nm、 5 0 0 nm、 5 2 5 nm、 5 4 0 nm、 5 8 0 nm、 6 0 0 n m、 6 4 5 nm、 6 7 5 n mの光では、 進行方向のみが強く存在して 微粒子層の右端まで光が到達し、 その表面から右側に光が出射してい るのが判る。 それに比べて逆方向の光はバルク内部のみでしか存在せ ず、 微粒子層の左端まで到達していてもほとんどその表面から左側に 光が出射していないのが判る。 ところが、 第 1 7図に示すように、 6 2 5 nmの波長の光では、 逆方向に進む光が表面近くで強く生じてお り、 その表面から左側へ光が強く出射しているのが判る。 また、 逆方 向に進む光が強いため、 進行方向の光は表面から 8〜 1 5周期分まで しか進入していないことも判る。 特に 1 1周期あたりがその境界と見 られる。 これらの結果は、 実験において 6 2 5 nm付近の波長の光で 強い反射が起こっていることと一致している。 更に、 この 6 2 5 nm の前後の波長で詳細に調べた結果を第 2 0図〜第 3 1図に示す。 これ らの結果から、 波長 6 0 5〜 6 3 2 nmの範囲で反射が起きているこ とが判る。 これらの結果は、 実験において反射率のピークの半値幅が
〜 3 0 nm (第 5図) と狭いことと良く一致する。 このように多層膜 に比べて微粒子で反射率のピークの半値幅が狭くなる理由としては、 微粒子では横方向にもブラッグ反射が起きているために強い閉じ込め 効果が起こることが関係していると考えられる。 また、 ブラッグ反射 が起きている波長 6 2 5 nmでは、 表面からわずか 8〜 1 5周期だけ しか光が進入しておらず、 これは散乱光が抑制されていることと合致 する。
次に、 緑色および青色の光を反射させることについて述べる。 微粒 子の直径 Dとこの微粒子により反射される光の波長; Iとはほぼ比例関 係にあるので、 反射させたい光の波長を; L D とすると、 D= 2 8 0 n mに対してえ。 = 6 2 5 nmの関係から、 緑色 ( λ。 = 5 2 5 nm) や青色 ( λ。 = 4 7 5 nm) ではそれぞれ D = 2 3 5 nm、 D = 2 1 2 nmとなる。 それぞれの場合について同様に光場の計算を行った。 緑色反射のモデルを第 3 2図に、 計算結果を第 3 3図〜第 3 9図に示 す。 また、 青色反射のモデルを第 4 0図に、 計算結果を第 4 1図〜第 4 7図に示す。 これらの結果から、 緑色反射と青色反射とでは、 それ ぞれ 5 2 5 nmと 4 7 5 n mの波長のときだけに強い反射が生じてい て、 赤色反射と同様にほぼ 8〜 1 5周期まで光が進行しているのが判 る。
以上のように、 微粒子の直径 Dと波長えとはほぼ比例関係にあるこ とから、 第 4 8図に示すような関係になる。 この図から、 青色反射で は D = 2 0 2〜 2 2 4 nm、 緑色反射では D = 2 2 4〜 2 5 1 nm、 赤色反射では D = 2 6 9〜 3 1 4 nmとなる。 とりわけ色度図上で純 粋な三原色と して、 青色反射ではえ。 = 4 7 5 ± 1 0 nmで D= 2 0 8〜 2 1 7 n mとなり、 緑色反射では λ。 = 5 1 5 ± 1 5 nmで D- 2 2 4〜 2 3 7 nmとなり、 赤色反射ではえ。 = 6 5 0 ± 3 0 nmで D = 2 7 8〜 3 0 5 nmとなる。
以上の結果から、 たとえば、 基板上に赤色反射用の微粒子層 1 1周 期を積層し、 その上に緑色反射用の微粒子層 1 1周期を積層し、 更に その上に青色反射用の微粒子層 1 1周期を積層すれば、 三原色の光だ けを反射させてその他の波長の光は透過すると考えられる。 これらに ついて同様に光場の計算で見積もった。 このときのモデルを第 4 9図 に、 計算結果を第 5 0図〜第 5 4図に示す。 これらの結果から、 波長 が 4 7 5 nm、 5 2 5 nm、 6 2 3 nmのときにそれぞれの青色反射 用、 緑色反射用、 赤色反射用微粒子層のところで強い反射が生じてお り、 それ以上奥に進まないのが判る。 それに対して、 5 9 0 nmや 5 5 5 nmなど三原色以外の波長では、 反射がほとんど起こっていない ので赤色反射用微粒子層の右端まで光が到達し、 そこから更に右側に 光が出射しているのが判る。 したがって、 これより奥側に光を吸収す る材料を置く ことで、 たとえば基板として光を吸収する材料を置く こ とで、 三原色以外の光を効率良くカツ 卜することができる。
そこで、 この発明の第 1の実施形態においては、 スク リーンを第 5 5図に示す断面構造を有するように構成する。 すなわち、 基板 1上に 赤色反射用の D= 2 8 0 nmの微粒子層 2を 1 1周期積層し、 その上 に緑色反射用の D= 2 3 4. 5 nmの微粒子層 3を 1 1周期積層し、 更にその上に青色反射用の D= 2 1 2 nmの微粒子層 4を 1 1周期積 層してスク リーンを構成する。 微粒子層 2〜 4のいずれにおいても、 微粒子 5が最密構造で配列している。 これらの微粒子層 2 ~ 4の微粒 子 5としては、 たとえばシリ力微粒子が用いられる。 また、 基板 1 と しては、 三原色以外の波長の光を吸収することができるものが用いら れ、 具体的にはたとえばカーボン製の黒い基板が用いられる。 この基 板 1 の厚さは、 2 0 ju m以上 5 0 0 以下に選ばれ、 具体的にはた とえば 5 0 m程度に選ばれる。 基板 1の厚さがこのように 5 0 u 程度であると、 スク リーンが破れにく く、 しかもフレキシビリティー が高いためスク リーンの卷き取りもしゃすい。 また、 スク リーンの面 積は用途に応じて適宜選ばれる。
この第 5 5図に示すスク リーンは、 たとえば、 自己組織化技術を用 いることにより容易に製造することができる。 すなわち、 たとえば、 第 5 6図に示すように、 微粒子 5が分散された水溶液 6を用い、 この 水溶液 6中で微粒子 5をゆつく り堆積させることにより、 微粒子 5が 自己組織化により規則的に配列する。 そこで、 この自己組織化技術を 用いて、 基板 1上に微粒子層 2〜4を順次、 規則配列で積層すること ができ、 これによつてスク リーンを製造することができる。
このスク リーンの製造方法についてより詳細に説明する。 一般に、 この種のスクリーンの製造方法としては、 自然沈降法 (たとえば、 増 田ほか ( 2 0 0 1 ) マテリアルインテグレーショ ン 1 4、 3 7 - 4 4 ) および浸漬引き上げ単粒子膜作製法 (単粒子膜引き上げ法) (たとえ ば、 永山 ( 1 9 9 5 ) 粉体工学 3 2、 4 7 6 - 4 8 5 ) が考えられる。 自然沈降法では、 低濃度の微粒子溶液を基板上に滴下するか、 低濃度 の微粒子溶液中に基板を立てる。 このとき、 基板上に沈降した微粒子 が溶媒の蒸発によって基板上に自己組織的に結晶化する。 自然沈降法 はこの工程を通して基板上に微粒子の三次元結晶の薄膜を得る方法で ある。 この方法の問題点は、 溶媒の蒸発に数時間以上必要であるため、 基板の乾燥に長時間を要すること、 基板上から溶媒が面内に均等に蒸 発しないため、 数 c m 2 以上の大面積の結晶の薄膜を作製する際には、 その薄膜が面内に厚さむらを生じることである。 一方、 単粒子膜引き 上げ法は、 低濃度の微粒子溶液中に浸漬した基板を気相中に引き上げ ることにより微粒子単層の二次元結晶の薄膜を得る工程を利用した方 法である。 この工程を繰り返すことにより、 微粒子単層の薄膜を積層 し、 任意の厚さの三次元結晶の薄膜を得る。 この方法の問題点は、 単 粒子膜の積層によるため、 工程が複雑であり、 作製に長時間を要する こと、 面内で均一な二次元結晶化を行わせるために、 引き上げ速度を 低速に制御する必要があることである。 数 c m 2 以上の大面積の薄膜 作製では長時間にわたって気液界面のメニスカスが乱れないように制 御する必要があり、 容易ではない。
そこで、 自然沈降法による三次元結晶の作製と単粒子膜引き上げ法 による面内の厚さむらの軽減とを両立させ、 更に、 作製時間を大幅に 短縮させる方法として、 引き上げ回転法を用いる。 単粒子膜引き上げ 法では、 一度の浸潰と引き上げの工程で単層の二次元結晶薄膜しか得 られないのに対して、 引き上げ回転法では高濃度の微粒子溶液を用い ることによって、 単粒子膜引き上げ法と同様の一度の浸潰と引き上げ の工程で三次元結晶薄膜を得ることができる。 これにより、 自然沈降 法と同様に三次元結晶を得ることができる。 そして、 基板の回転によ り、 単粒子膜引き上げ法のように、 面内の厚さむらを軽減することが できる。 また、 作製工程に要する時間を大幅に減らすことができる。 この引き上げ回転法では、 高濃度の微粒子溶液中に基板を浸潰し、 気相中へ引き上げを行うと、 乾燥が遅く溶液の濡れ量が多い部分に微 粒子が集積することによって厚さむらが生じる。 この厚さむらは、 基 板の鉛直方向下方および水平方向左右端から生じる。 そこで、 浸漬前. 浸漬中、 引き上げ直後のいずれかの時に基板を面内で回転させること により濡れ量を制御したところ、 面内の厚さむらが減少し、 厚さが面 内で均一な薄膜が得られた。
第 5 7図〜第 6 0図を参照してこの引き上げ回転法を具体的に説明 する。
第 5 7図 Aに示すように、 溶液槽 7中に高濃度 (たとえば、 2重量 %以上 5 0重量0 /0以下) の微粒子溶液 8を入れたものを用意する。 次 に、 第 5 7図 Bに示すように、 溶液槽 7の上方から基板 1 を下降させ て微粒子溶液 8中に浸漬する。 次に、 第 5 7図 Cに示すように、 基板 1 を高速 (たとえば、 3 0 m / s以上 3 m / s以下) で引き上げた 後、 第 5 7図 Dに示すように、 気相中にて自然乾燥させる。
これらの工程において、 基板 1に付着してくる微粒子溶液 8は、 乾 燥すると同時に重力によつて下方に移動するため、 微粒子の分布は基 板 1の下方に偏り、 乾燥後には鉛直方向に関して下方が厚く、 上方が 薄いという、 面内分布を持った薄膜が得られる。 この鉛直方向に関し ては、 下記の通りに工程を行うことによって、 面内の厚さむらを抑え ることができる。
すなわち、 第 5 8図 Aに示すように、 第 5 7図 Dに示す工程で乾燥 を行った基板 1 をその面内で 1 8 0 ° 回転させて上下を逆にする。 次 に、 第 5 8図 Bに示すように、 溶液槽 7の上方から基板 1 を下降させ て微粒子溶液 8中に浸漬する。 この後、 上述と同様に、 基板 1の高速 引き上げ (第 5 8図 C ) および気相中自然乾燥 (第 5 8図 D ) を行う c この結果、 微粒子層の厚さは基板 1の下方が厚く、 上方が薄いという 面内分布を持つが、 先に積層した微粒子層の厚さの面内分布とは逆に なるため、 鉛直方向に関して、 基板 1全体での面内分布は均一となる < なお、 この基板 1の上下の回転は、 浸漬前ではなく、 浸漬中ゃ引き上 げ直後に行っても同様な効果を得ることができる。
水平方向に関しても基板 1全体での微粒子層の厚さの面内分布を均 一とするために、 第 5 7図および第 5 8図と同様な工程を行う。
すなわち、 第 5 9図 Aに示すように、 第 5 8図 Dに示す工程で乾燥 を行った基板 1 をその面内で時計方向に 9 0 ° 回転させる。 次に、 上 述と同様に、 基板 1の微粒子溶液 8中への浸漬 (第 5 9図 B ) 、 基板 1 の高速引き上げ (第 5 9図 C ) および気相中自然乾燥 (第 5 9図 D ) を行う。
次に、 第 6 0図 Aに示すように、 第 5 9図 Dに示す工程で乾燥を行 つた基板 1をその面内で 1 8 0 ° 回転させて上下を逆にする。 この後、 上述と同様に、 基板 1の微粒子溶液 8中への浸漬 (第 6 0図 B ) 、 基 板 1の高速引き上げ (第 6 0図 C ) および気相中自然乾燥 (第 6 0図 D ) を ίτう。
以上の方法により、 短時間で、 面内むらが観測されない結晶化した 大面積の微粒子薄膜を得ることができる。
なお、 基板 1 を水平にし、 基板 1の濡れ量を面内に均一にし、 乾燥 させることにより面内の厚さむらを減少させる手法を考えることはで きるが、 実際にやって見た範囲内では、 濡れ量を均一に保つことはで きず、 面内に厚さむらを生じた。
ここで、 自然沈降法により作製した微粒子薄膜と上述の引き上げ回 転法により作製した微粒子薄膜との間の厚さむらの比較結果について 説明する。
ここでは、 微粒子として直径 2 8 0 n mのシリカ微粒子 (品名 K E 一 P 3 0、 (株) 日本触媒製) 、 溶媒として純水、 基板として市販の アルミ (アルミニウム) 箔 (大きさ :短辺 2 6 m m、 長辺 7 6 m mの 長方形) をプラズマ洗浄したものを用いた。
まず、 自然沈降法によるサンプルの作製においては、 基板上に 2 0 重量%シリ力水溶液を 2 0 1滴下し、 基板表面に広げた。 そして、 基板を水平に保ち、 樹脂製の試料ケース内で 3日間乾燥させた。
一方、 引き上げ回転法によるサンプルの作製においては、 2 0重量 %シリ力水溶液中に基板をその長辺方向が鉛直方向となるようにして 浸漬し、 そのまま速度 1 O mm/ sで垂直に引き上げ、 乾燥させた。 乾燥後、 基板の上下を逆にし、 同様に浸漬、 引き上げ、 乾燥を行った c 次に、 基板をその面内で 9 0 ° 回転させてその短辺方向が鉛直方向と なるようにして浸漬し、 そのまま速度 1 0 mm/ sで垂直に引き上げ. 乾燥させた。 乾燥後、 基板の上下を逆にし、 同様に浸漬、 引き上げ、 乾燥を行った。 このようにして、 計 4回の浸漬、 引き上げ工程を実施 した。
両サンプルについて目視での比較を行った結果、 自然沈降法に比べ て引き上げ回転法では厚さむらが小さかった。 また、 両者ともブラッ グ反射を示し、 シリ力の微粒子が三次元結晶を形成していることが確 基板の両短辺の中心を結ぶ線上の 5点 (中心点、 中心点から両方向 に 1 O mmおよび 2 O mm離れた点) で、 作製した薄膜の膜厚を測定 した。 膜厚は基板のアルミ箔の表面と作製した薄膜の表面との鉛直距 離として光計測により測定した。 結果は次のとおりであった。
自然沈降法:平均値 1 4. 8 m、 標準偏差 3. 1 m
引き上げ回転法:平均値 9. 9 ^ 01、 標準偏差0. 6 /m
これらの標準偏差の違いから、 自然沈降法に比べて、 引き上げ回転 法での膜厚のばらつきが格段に小さいことが確認された。 引き上げ回 転法の 4回の工程により、 厚さむらの小さい 3 5層程度の三次元結晶 のシリ力薄膜を作製することができた。
以上のように、 この第 1の実施形態によれば、 特定の三原色の光だ けを反射して残りの波長の光を基板 1側で吸収させることが可能とな ることにより、 黒を沈ませるスク リーンを得ることができる。 この場 合、 画像に関係ない外部の光がスク リーンに入射した場合にも、 波長 が異なるためにカツ 卜されるため、 コントラス トが劣化するのが防止 される。 特に、 半導体レーザや L E Dなどの発光ピークの半値幅が狭 くて色純度の良い光で画像を形成している場合には、 効率良く選択的 に画像の光だけを反射して他の波長の光をカツ 卜することで、 高コン トラス トを維持することができるとともに、 黒を沈ませることができ る。 したがって、 暗室でなく とも画像の劣化が起こらない。 また、 液 晶プロジヱクターなどスぺク トル半値幅が広い光を投影しても、 波長 を選択的に狭くするので、 色度図上の色再現範囲が広くなり、 色純度 も良くなる。
次に、 回折効果により反射光の遠視野像 (F F P ; Far F i e l d Pat t em)を広げる方法について説明する。
第 6 1 図に示すように、 一般に、 光の入射方向に垂直な方向の物体 のサイズを十分に小さくすることにより、 その物体により光は回折さ れて広がる。 そこで、 この第 1 の実施形態のようにスク リーンを微粒 子の集合体により形成することで、 微粒子による回折効果で反射光の F F Pに広がりを持たせることができると考えられる。 これは逆格子 空間上で格子点を横方向に伸ばすことに対応する。 そこで、 横方向の サイズを 2 2周期、 1 6周期、 1 1周期とした場合の反射波を広い面 積 ( 1 0 0 u m x 3 0 Λί m ) で計算した。 その結果を第 6 2図〜第 6 5図に示す。 この結果から、 横方向の周期数が小さくなるほど、 F F Pが広くなることが判る。 より詳細には、 2 2周期では ? 〜 8 ° と狭いが、 周期をより小さく していくほど F F Pは広がり、 1 6周期 で F F P〜 1 1 ° 、 1 1周期では F F P〜 1 7 ° まで広がることが判 つた。
映画館などの大きな会場でスク リーンに画像を表示する場合には比 較的視野角が狭くても良く、 むしろ明るさが求められる。 この場合に は、 F F Pが 1 0〜 1 7 ° 程度と比較的狭く して指向性を持たせ、 そ れによつて光密度を高く、 すなわち明るくすることが可能である。 次に、 屈折で反射光の F F Pを広げる方法について説明する。
屈折で反射光の F F Pに広がりを持たせるためには、 第 6 6図に示 すように、 微粒子の集合体を水平面と斜面とを持つ構造とするか、 第 6 7図に示すように、 微粒子の集合体の表面を曲面構造とすることが 考えられる。 第 6 6図に示す例では特定の方向だけに斜めに反射光が 出射されるが、 第 6 7図に示す例では曲面に対応して任意の方向に反 射光が出射される。
第 6 8図に示すように、 微粒子の集合体について垂直方向 (結晶軸 の方向) に対する斜面の角度 0を変えて計算を行った。 ただし、 入射 光の波長は 6 2 5 nmで、 微粒子の直径は 1 8 0 nmとした (ここで は水平面 (第 6 8図中左側の端面) に垂直入射する場合にはブラッグ 反射が起こる条件である) 。 その結果を第 6 9図〜第 7 3図に示す。 この結果より、 0 = 1 4. 4。 、 5 8. 。 の斜面に光が入射しても ブラッグ反射がほとんど起きておらず、 光が透過しているのが判る。 それに対して、 0 = 7 0. 2 ° 、 7 5. 7 ° 、 7 8. 9 ° の斜面では 反射が生じているのが判る。
更に、 広い反射側において BAC KWARDの結果を第 7 4図およ び第 Ί 5図に示す。 この結果より、 0 = 1 4. 4 ° 、 5 8. 2 ° では 斜めの反射が生じていないが、 0 = 7 0. 2 ° 、 7 5. 7 ° 、 7 8. 9 ° では斜めの反射が生じていることが判る。 その結果を F F Pとし て示したグラフが第 7 6図である。 この結果より、 3 5 ° 付近にピー クが出現しているのが判る。 これらの結果から、 屈折の方法では θ = 9 0〜 7 0 ° の範囲に斜面を形成すれば、 F F Ρに 7 0 ° まで広がり を持たせることができることが判る。 次に、 第 7 7図に示すように、 光の入射方向に対して結晶軸を傾け た場合について説明する。 この場合、 ブラッグ条件を満たす波長がず れることになる。 その波長は、 垂直入射 (入射方向が結晶軸と平行) のときの波長を L。 とすると、 え ( θ ) = λ 0 s i n eとなる。 これ は、 第 7 8図に示すように、 光の入射方向がずれてく るために逆格子 空間において格子点が原点を中心に回転することにより、 同じエワル ド球 ( 1 /ぇを半径とした球) の面上にその格子点が乗らなくなるこ とを意味する。 この効果を考慮して計算した結果を第 7 9図に示す。 この結果より、 スぺク トルの半値幅が 3 0 nmである場合、 0 = 7 7. 4〜 9 0 ° の範囲内であればブラッグ反射が生じることになる。 Θ = 7 7 . 4 ° の場合には、 垂直方向から 2 0 = 2 5 . 6 ° の角度で反射 されることになるが、 反対方向、 すなわち 0 =— 7 7 . 4 ° にも軸を 傾斜させると合計で F F P = 5 1 . 6 ° となる。
以上のように、 屈折を用いる方法や結晶軸を傾ける方法は、 家庭な どの狭い空間でスクリーンに投影する場合に適する。 この場合、 指向 性が強いと、 見る場所によって画像が見えなくなるからである。
この指向性を緩やかにするためには、 第 8 0図に示すように、 微粒 子の集合体 9にうねりを持たせるようにしても良い。
次に、 スクリーンの波長の選択性について説明する。
波長の選択性も逆格子空間を用いて説明することができる。 すなわ ち、 第 8 1図に示すように、 光の入射方向のサイズが小さい場合、 逆 格子空間での格子点はその方向に伸びる。 その結果、 格子点と交差す るエワルド球が多数存在することとなり、 結果としてブラッグ条件を 満たす波長えの範囲が広がることになる。 ここで、 5層と 1 0層の場 合の誘電体多層膜の反射スペク トルについて、 有効フレネル係数法で 計算を行った。 その結果を第 8 2図および第 8 3図に示す。 この結果 から、 5層では半値幅が 2 0 0 nm程度あるのに対して 1 0層構造で は半値幅が 5 0 nmと狭くなっているのが判る。 ただし、 波長の選択 性を良く しょうとして、 単純に層数を増やすだけでは不十分であり、 光にとっての実効的なサイズを大きくする必要がある。 数層のみでは 1 0 0 %反射されるものを 1 0 0層ほど積層しても、 実効的なサイズ は数層のみで波長の選択性は悪いままである。 したがって、 微粒子に よる個々の回折格子の反射効率をなるベく下げて、 多層にわたって回 折が生じるような構造にするのが望ましい。
上述のように、 この第 1の実施形態によるスク リーンを使用するこ とで各三原色のスペク トルの半値幅が狭くなるが、 これによつて色純 度が良くなり、 色度図上の再現範囲が広がることを以下に説明する。 第 8 4図〜第 8 7図および第 8 8図〜第 9 1図はそれぞれ液晶 ( L C D ; Liquid Crystal Display) プロジヱク夕一および D L P (Digi tal Light Processing) プロジヱクターから出射した光のスぺク トル を測定した結果である。 ここで、 第 8 4図、 第 8 8図は白色を、 第 8 5図、 第 8 9図は青色を、 第 8 6図、 第 9 0図は緑色を、 第 8 7図、 第 9 1図は赤色を表示したときのスぺク トルである。 色フィルターを 用いて波長の選択を行っているため、 L C Dプロジヱクタ一、 DL P プロジェクターともに各三原色のスぺク トル半値幅が 6 0 ~ 1 0 0 n mと広いことが判る。 このとき通常のスク リーンを用いると光が反射 されても半値幅に変化がないために、 このスぺク トルの半値幅で色再 現性が決定されることになる。 これに対し、 この第 1の実施形態によ るスク リーンを用いた場合、 プロジヱクターから出射した光の各三原 色のスぺク トル半値幅が広くても、 スク リ一ンで反射されるときに波 長が選択されて半値幅が 3 0 nmまで狭くなる。 このとき、 色度図上 の色再現範囲が広がるとともに色再現性が良くなる。 第 9 2図は色度 図上でそのことを表している。 D L Pや L C Dでは色再現範囲が狭い のに対し、 この第 1の実施形態によるスク リーンを用いた場合、 その 範囲が広がるとともに色の再現性が良くなるのが判る。
次に、 この発明の第 2の実施形態によるスク リーンについて説明す る。 第 9 3図にこのスクリーンを示す。
第 9 3図に示すように、 この第 の実施形態によるスク リーンにお いては、 微粒子層 4の最上面に拡散フィルム 1 0が配置されている。 この拡散フィルム 1 0は、 光の拡散およびスク リーン表面の保護のた めのものである。 すなわち、 スク リーンから反射される光をこの拡散 フィルム 1 0により拡散させることで、 指向性を緩和するとともに、 スク リーン全体に均一な輝度を持たせることができる。 言い換えれば、 いわゆるホッ トスポッ トをなくすことができる。 また、 この拡散フィ ルム 1 0により、 機械的なダメージで微粒子が剥がれるのを防止する ことができる。
この拡散フィルム 1 0 としては、 可視光領域において透明な材料で、 かつ光を拡散させるものが望ましい。 光を拡散させるためには、 フィ ルム面内で異なる屈折率分布を持たせても、 またはフィルム表面に凹 凸を設けても良い。 この拡散フイルム 1 0 としては、 具体的には、 た とえば、 光拡散性のあるポリエチレンフィルム (作製上、 面内に屈折 率分布を持つ) や、 光を拡散することができるように表面を凹凸加工 したポリカーボネー卜フィルムやポリエチレンテレフタレー卜フィル ムゃポリ塩化ビニルフィルムなどが挙げられる。 この拡散フィルム 1 0の厚さは、 通常は 5 m m以下、 望ましくは 1 m m以下とする。
拡散フィルム 1 0を配置するには、 たとえば、 基板 1上に微粒子層 2〜 4を積層した後に、 張力 (テンショ ン) を加えながらこの拡散フ イルム 1 0を微粒子層 4の表面に貼って接着しても良いし、 この拡散 フィルム 1 0の裏側に予め接着剤を塗布して接着しても良い。 更には- 光学特性を良くするために、 この拡散フィルム 1 0の表面に、 反射防 止のための 1 / 4波長コーティ ングを行っても良い。 この場合、 フィ ルム材の屈折率より低い屈折率の材料でコーティ ングする必要がある £ 具体的には、 たとえば〜 1 0 0 n mの厚さの S i 〇 2 ガラス膜を塗布 や蒸着法でコーティングする。
上記以外のことは、 第 1の実施形態によるスク リーンと同様である ので、 説明を省略する。
次に、 この発明の第 3の実施形態によるスク リーンについて説明す る。 このスク リーンを第 9 4図に示す。
第 9 4図に示すように、 この第 3の実施形態によるスク リーンにお いては、 微粒子層 4の最上面に、 二次元マイ クロレンズァレイが形成 されたマイクロレンズフィルム 1 1 が配置されている。 このマイクロ レンズフィルム 1 1 のマイ クロレンズは凸レンズでも、 凹レンズでも- 両者の複合でも良い。 スク リーンから反射される光をこのマイクロレ ンズフイルム 1 1 により拡散させることで、 指向性を緩和するととも に、 スク リーン全体に均一な輝度を持たせることができ、 ホッ トスポ ッ トをなくすことができる。 また、 このマイ クロレンズフィルム 1 1 により、 機械的なダメージで微粒子が剥がれるのを防止することがで きる。
このマイ クロレンズフィルム 1 1 の材質は、 可視光領域で透明なも のであれば、 基本的にはどのようなものであっても良い。 たとえば、 ポリカーボネー卜やポリエチレンテレフタレートやポリ塩化ビニルで も良い。 このマイ クロレンズフィルム 1 1のマイ クロレンズは画素サ ィズと同程度かそれより小さければ良く、 たとえば、 面内に 0 . l m m程度の直径のレンズを密に配置すれば良い。 更に特性を良くするた めに、 この表面には反射防止のための 1 / 4波長コ一ティ ングを行つ ても良い。 この場合、 マイクロレンズフィルム 1 1 のレンズの屈折率 より低い屈折率の材料でコーティ ングする必要がある。 たとえば〜 1 0 0 n mの厚さの S i 0 2 ガラス膜を塗布や蒸着法でコ一ティ ングし ても良い。
マイクロレンズフイルム 1 1 の配置方法は第 2の実施形態と同様で ある。
上記以外のことは、 第 1の実施形態によるスク リーンと同様である ので、 説明を省略する。
次に、 この発明の第 4の実施形態によるスク リーンについて説明す る。 このスクリーンを第 9 5図に示す。
第 9 5図に示すように、 この第 4の実施形態によるスク リーンにお いては、 微粒子層 4の最上面に、 二次元マイ クロプリズムアレイが形 成されたマイクロプリズムフィルム 1 2が配置されている。 スクリ一 ンから反射される光をこのマイ クロプリズムフィルム 1 2により拡散 させることで、 指向性を緩和するとともに、 スク リーン全体に均一な 輝度を持たせることができ、 ホッ トスポッ トをなくすことができる。 また、 このマイクロプリズムフィルム 1 2により、 機械的なダメージ で微粒子が剥がれるのを防止することができる。
このマイ クロプリズムフィルム 1 2の材質は、 可視光領域で透明な ものであれば、 基本的にはどのようなものであっても良い。 たとえば. ポリカーボネートやポリエチレンテレフ夕レートやポリ塩化ビ二ルで も良い。 このマイクロプリズムフィルム 1 2のマイ クロプリズムは画 素サイズと同程度かそれより小さければ良く、 たとえば、 面内に 0 . 1 m m程度の直径のプリズムを密に配置すれば良い。 更に特性を良く するために、 この表面には反射防止のための 1 / 4波長コーティ ング を行っても良い。 この場合、 マイクロプリズムフィルム 1 2のプリズ ムの屈折率より低い屈折率の材料でコーティングする必要がある。 た とえば〜 1 0 0 n mの厚さの S i 0 2 ガラス膜を塗布や蒸着法でコー ティ ングしても良い。
マイ クロプリズムフィルム 1 1の配置方法は第 1の実施形態と同様 である。
上記以外のことは、 第 1の実施形態によるスクリーンと同様である ので、 説明を省略する。
次に、 この発明の第 5の実施形態によるスクリーンについて説明す る。 このスク リーンを第 9 6図に示す。
上述の第 1 ないし第 4の実施形態においては、 基板 1上に赤色反射 用の微粒子層 2、 緑色反射用の微粒子層 3および青色反射用の微粒子 層 4を縦方向 (基板に垂直な方向) に積層しているが、 この第 5の実 施形態においては、 これらの微粒子層 2〜 4を基板 1上に横方向 (基 板に平行な方向) に配置する。
すなわち、 第 9 6図に示すように、 この第 5の実施形態によるスク リーンにおいては、 基板 1上に、 赤色反射用の微粒子層 2、 緑色反射 用の微粒子層 3および青色反射用の微粒子層 4が横方向に配置されて いる。
これらの微粒子層 1〜 4の平面形状および平面配列パターンの例を 第 9 7図に示す。 第 9 7図 Aに示す例では、 ストライプ状の平面形状 の微粒子層 2〜 4を交互に配列している。 ここで、 ストライプ状の微 粒子層 2 〜 4の幅は画素サイズの 1 / 3の大きさかそれより小さけれ ば良い。 第 9 7図 Bに示す例では、 長方形の平面形状の微粒子層 2〜 4を格子状に配列している。 ここで、 長方形の微粒子層 2〜 4の大き さは画素サイズの 1 / 3の大きさと同等かそれより小さければ良い。 第 9 7図 Cに示す例では、 正方形の平面形状の微粒子層 2〜 4を格子 状に配列している。 ここで、 正方形の微粒子層 2〜 4の大きさは画素 サイズの 1 / 3の大きさと同等かそれより小さければ良い。
基板 1上に微粒子層 2〜 4 を形成するためには、 たとえば、 インク ジェッ ト方式で各色用の微粒子を基板 1上に塗り分けても良いし、 ス ク リーン印刷ゃグラビア印刷を用いて塗り分けても良い。 あるいは、 各微粒子層 2〜 4のパターンに対応した開口を有するマスクを用意し. これらのマスクを用いて各色用の微粒子を三回塗布しても良い。
上記以外のことは、 第 1 の実施形態によるスクリーンと同様である ので、 説明を省略する。
この第 5の実施形態によれば、 三原色用の微粒子層 1〜 4が基板 1 上に横方向に配置されているので、 三原色の微粒子層 2〜 4 を基板 1 上に縦方向に積層した場合に比べて、 トータルな微粒子層の縦方向の 厚さが小さくなり、 それによつて光の散乱などによる損失が減ること から、 光の吸収を効率的に行うことができる。
次に、 この発明の第 6の実施形態によるスク リーンについて説明す る。 このスク リーンを第 9 8図に示す。
第 9 8図に示すように、 この第 6の実施形態によるスク リーンにお いては、 微粒子層 1〜 4において、 微粒子 5の間の隙間がバインダー 1 3により埋められている。 ここで重要なことは、 このバインダー 1 3の材料としては、 微粒子の屈折率と異なる屈折率を持つ材料を用い ることである。 具体的には、 たとえば、 微粒子がシリカ微粒子である 場合には、 バイ ンダ一 1 3 として、 ポリプロピレンやポリエチレンや ポリィソプチレンゃポリ酢酸ビュルなどのポリオレフィ ン系材料を用 いることができる。
このスク リーンを製造するには、 たとえば、 基板 1上に微粒子層 2 〜 4を形成した後にこれらの微粒子層 1〜 4にバイ ンダ一材料を溶か した溶液を染み込ませて固化させる方法や、 予め微粒子 (たとえば、 シリカ微粒子) のコロイ ド溶液にこのバイ ンダー材料を溶かした溶液 を入れて微粒子の堆積とともに微粒子 5の隙間を埋める方法などがあ る。
上記以外のことは、 第 1 の実施形態によるスク リーンと同様である ので、 説明を省略する。
この第 6の実施形態によれば、 第 1 の実施形態と同様な利点に加え て、 微粒子 5の間の隙間がバイ ンダー 1 3により埋められていること により、 スク リーンの機械的な強度の向上を図ることができるととも に、 微粒子 5の材料に対してバインダ一 1 3の屈折率を制御して反射 スぺク トルの半値幅を狭くすることができるなど光学特性の向上を図 ることができるという利点を得ることができる。
次に、 この発明の第 7の実施形態によるスク リーンについて説明す る。 このスク リーンを第 9 9図に示す。
第 9 9図に示すように、 この第 7の実施形態によるスクリーンにお いては、 第 9 8図に示すスク リーンの微粒子層 1〜 4における微粒子 5に相当する部分が空洞 1 4になっており、 いわゆるインバースォパ ール構造となっている。
このスク リーンを製造するためには、 たとえば、 基板 1上に微粒子 層 2〜 4 を形成し、 更にこれらの微粒子層 2〜 4にバイ ンダー材料を 溶かした溶液を染み込ませて固化させることにより微粒子 5の隙間を バインダー 1 3で埋めた後、 所定のエッチング液、 たとえばフッ酸溶 液に入れて微粒子 (たとえば、 シリカ微粒子) を溶かせば良い。 上記以外のことは、 第 1 の実施形態によるスク リーンと同様である ので、 説明を省略する。 この第 7の実施形態によれば、 第 1の実施形態と同様な利点に加え て、 微粒子に相当する空洞 1 4 とバインダ一 1 3 との屈折率差は空気 とバイ ンダー 1 3 との屈折率差となるので、 微粒子 5がシリ力微粒子 などである場合に比べて、 大きい屈折率差を得ることができる。 この ため、 必要な反射を起こさせるために必要な微粒子層の周期をより少 なくすることができ、 ひいてはスク リーンをより薄型化することがで きる。
次に、 この発明の第 8の実施形態によるスクリーンについて説明す る。 このスク リーンを第 1 0 0図に示す。
第 1 0 0図に示すように、 この第 8の実施形態によるスク リーンに おいては、 基板として、 透明基板 1 5の裏面に吸収層 1 6 を設けたも のが用いられている。 この吸収層 1 6 としては、 三原色以外の波長の 光を吸収することができるものが用いられ、 たとえばカーボン膜が用 いられる。 より具体的には、 透明基板 1 5はたとえば透明なガラス基 板やポリカーボネート基板であり、 吸収層 1 6はそれらの裏面にコー ティ ングしたカーボン膜である。
ここで、 吸収層 1 6の厚さはその材料に応じて三原色以外の波長の 光を十分に吸収することができるように選ばれるが、 吸収層 1 6 とし てカーボン膜を用いる場合の厚さについて説明すると、 次のとおりで ある。 すなわち、 カーボンの吸収係数 αは、 その作製方法に依存する が、 一般に 1 0 3 〜 1 0 5 c m 'である。 光強度 Pは、 光が吸収層 1 6を進んだ距離を Xとすると P ( X ) /P ( 0 ) = e X p ( ~ a x ) と表されるから、 a = 1 0 5 c m 1の場合、 十分な吸収として 1 / e ( e : 自然対数の底) まで光強度を弱めるためにはカーボン膜の厚さ dを 0 . l w mとすれば良い。 したがって、 最低 d = 0 . 1 mが必 要となる。 更に、 a = 1 0 3 c m 'でも 1 / eまで光強度を弱めるた めにはカーボン膜の厚さを d = l O w mとすることが必要となる。 こ れらのことから、 カーボン膜の厚さを 0 . 1 m以上、 好適には 1 0 〃 m以上にする必要がある。
上記以外のことは、 第 1の実施形態によるスク リーンと同様である ので、 説明を省略する。
この第 8の実施形態によれば、 第 1 の実施形態と同様な利点に加え て、 基板自体が光吸収を起こすものでなくても良いので、 基板の材料 の選択の自由度が高くなるという利点を得ることができる。
次に、 この発明の第 9の実施形態によるスク リーンについて説明す る。 このスク リーンを第 1 0 1図に示す。
第 1 0 1図に示すように、 この第 9の実施形態によるスク リーンに おいては、 基板として、 表面がサン ド加工により粗面化処理された黒 い (三原色以外の波長の光を吸収することができる) P E Tフィルム 1 7が用いられている。 ここで、 サン ド加工とは、 やすりなどで擦つ て表面を荒らす加工のことである。 この P E Tフィルム 1 7の表面の 凹凸の高さはたとえば 0 . 8〜 4 w mである。 この場合、 サン ド加工 により粗面化処理された P E Tフィルム 1 7の表面は濡れ性が良好で あるため、 シリ力微粒子などの微粒子 5が分散された水溶液 6が塗布 されやすくなる。 更に、 P E Tフィルム 1 7の表面の凹凸により光の 指向性が緩和されるため、 ホッ トスポッ 卜が発生しにく くなる。
上記以外のことは、 第 1の実施形態によるスク リーンと同様である ので、 説明を省略する。
この第 9の実施形態によれば、 第 1 の実施形態と同様な利点に加え て、 基板として、 安価な P E Tフィルム 1 7を用いているので、 スク リーンを安価に製造することができるという利点を得ることができる c 次に、 この発明の第 1 0の実施形態によるスク リーンについて説明 する。 このスクリーンを第 1 0 2図に示す。
上述の第 1の実施形態においては、 基板 1上に赤色反射用の微粒子 層 2、 緑色反射用の微粒子層 3および青色反射用の微粒子層 4を縦方 向に順次積層しているが、 これらの微粒子層 2 〜 4の積層順序は必ず しもこのようにする必要はなく、 微粒子 5の配列性 (結晶性) の観点 からは、 むしろ積層順序を逆にするのが望ましい。 そこで、 この第 1 0の実施形態においては、 微粒子層 2〜 4の積層順序を逆にした場合 について説明する。
すなわち、 第 1 0 2図に示すように、 この第 1 0の実施形態による スク リーンにおいては、 基板 1上に、 青色反射用の微粒子層 4、 緑色 反射用の微粒子層 3および赤色反射用の微粒子層 2が順次積層されて いる。 この場合、 青色反射用の微粒子層 4の微粒子 5は最も小さいた め、 この微粒子 5を基板 1上に配列させると、 微粒子層 4の表面の凹 凸が最も小さいことになる。 このように凹凸が小さい下地表面に、 次 に大きい、 緑色反射用の微粒子層 3の微粒子 5を配列させた場合、 そ の配列性が乱れにく くなり、 結晶性が良くなる。 同様に、 この微粒子 層 3上に、 次に大きい、 赤色反射用の微粒子層 2の微粒子 5を配列さ せた場合にも、 その配列性が乱れにく く、 結晶性が良くなる。 このよ うにして、 微粒子層 2 〜 4のいずれの結晶性も良くすることができる ( 上記以外のことは、 第 1の実施形態によるスクリーンと同様である ので、 説明を省略する。
この第 1 0の実施形態によれば、 第 1の実施形態と同様な利点に加 えて、 微粒子層 2 ~ 4のいずれの結晶性も良好であることから、 反射 スぺク トルの半値幅が狭く、 効率的に三原色を反射させることができ るとともに、 それ以外の光は基板 1で吸収することができるという利 点を得ることができる。 次に、 この発明の第 1 1 の実施形態によるスクリーンについて説明 する。 このスク リーンを第 1 0 3図に示す。
第 1 0 3図に示すように、 この第 1 1 の実施形態によるスク リーン においては、 基板 1上に、 バッファ層 1 8を介して、 赤色反射用の微 粒子層 2、 緑色反射用の微粒子層 3および青色反射用の微粒子層 4が 順次積層されている。 ここで、 バッファ層 1 8は、 青色反射用の微粒 子層 4の微粒子より小さい直径、 具体的にはたとえば D = 1 2 0 n m の微粒子による微粒子層からなる。
このスク リーンを製造するには、 基板 1上にまずバッファ層 1 8 と しての微粒子層を堆積させた後、 その上に微粒子層 2〜 4 を堆積させ る。
上記以外のことは、 第 1 の実施形態によるスク リーンと同様である ので、 説明を省略する。
この第 1 1の実施形態によれば、 第 1 の実施形態と同様な利点に加 えて、 次のような利点を得ることができる。 すなわち、 基板 1上に微 粒子層からなるバッファ層 1 8を堆積させ、 その上に微粒子層 2〜 4 を堆積させているため、 基板 1上に微粒子層 2〜 4を直接堆積させる 場合に比べて、 微粒子層 2 - 4 を形成する下地の濡れ性が向上する。 このため、 結晶性の良好な微粒子層 2〜 4を得ることができる。 また. バッファ層 1 8 としての微粒子層の微粒子の直径は、 青色反射用の微 粒子層 4より小さい D = 1 0 n mであるため、 スク リーンに光を投 射したときのこのバッファ層 1 8からのブラッグ反射の波長は可視光 の波長より短く、 スク リーン特性に影響を及ぼさない。
次に、 この発明の第 1 2の実施形態による画像表示システムについ て説明する。 この画像表示システムの構成を第 1 0 4図に示す。 第 1 0 5図にこの画像表示システムの斜視図を示す。 第 1 0 4図および第 1 0 5図に示すように、 この第 1 1の実施形態 による画像表示システムは、 第 1 〜第 1 1 の実施形態のいずれかによ るスク リーン 1 9 とこのスク リーン 1 9 に画像を投射するためのプロ ジヱク夕一 2 0 とからなる。 プロジヱクタ一 2 0は、 赤色、 緑色およ び青色の光を発光可能な光源 2 1 と集光および投射用のレンズ 2 2、 2 3 とを備えている。 光源 2 1 は、 赤色、 緑色および青色の光を発光 可能な半導体発光素子、 すなわち半導体レーザまたは発光ダイォード からなる。 より具体的には、 光源 2 1 として半導体レーザを用いる場 合を考えると、 赤色用の半導体レーザとしてはたとえば A 1 G a I n P系半導体レーザが、 緑色用の半導体レーザとしてはたとえば Z n S e系半導体レーザが、 青色用の半導体レーザとしてはたとえば G a N 系半導体レーザが用いられる。
以上、 この発明の実施形態につき具体的に説明したが、 この発明は- 上述の実施形態に限定されるものではなく、 この発明の技術的思想に 基づく各種の変形が可能である。
たとえば、 上述の実施形態において挙げた数値、 構造、 形状、 材料- 微粒子の堆積方法などはあく までも例に過ぎず、 必要に応じて、 これ らと異なる数値、 構造、 形状、 材料、 微粒子の堆積方法などを用いて も良い。
また、 上述の第 3の実施形態においては微粒子層 4の最上面にマイ クロレンズフィルム 1 1 を配置し、 上述の第 4の実施形態においては 微粒子層 4の最上面にマイ クロプリズムフ.ィルム 1 1を配置している が、 マイ クロレンズとマイ クロプリズムとが混在したフィルムを微粒 子層 4の最上面に配置するようにしても良い。
以上説明したように、 この発明によれば、 画像に関係ない外部の光 がスク リーンに入射したときでも画像のコン トラス 卜が劣化すること がなく黒の沈んだ綺麗な画像を得ることができる。 また、 必ずしも暗 室で投影する必要がなく、 通常の蛍光灯の下や屋外でもコン卜ラス ト が劣化しない。
更に、 半導体レーザや L E Dなど半値幅の狭くて色純度の良い光で 投影することで画像を形成している場合、 効率良く選択的に画像の光 だけを反射させて他の波長の光をカツ 卜することで高コン トラス トを 維持するとともに黒が良く沈むことになる。 その上、 たとえば液晶プ 口ジヱクターなどの各三原色のスぺク トル半値幅が広い光を投影して も、 色度図上の色再現性が良くなり、 純粋な色を表現することができ る。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 大きさが 1 m以下の微粒子を規則的に配列した構造を有するこ とを特徴とするスク リーン。
. 自己組織化により上記微粒子を規則的に配列した構造を有するこ とを特徴とする請求の範囲 1記載のスク リーン。
3. 上記微粒子を最密構造に配列した構造を有することを特徴とする 請求の範囲 1記載のスクリーン。
4. 赤、 綠および青の三原色に対応した波長の光を同時に反射するこ とができるように、 上記微粒子の直径が 3種類存在する構造を有する ことを特徴とする請求の範囲 1記載のスク リーン。
5. 上記微粒子としてシリ力またはシリ力と同じ屈折率を持つ微粒子 を用いたことを特徴とする請求の範囲 1記載のスク リーン。
6. 赤色反射用として 2 6 9 X ( 1. 3 6 /n) nm以上 3 1 4 x ( 1. 3 6 /n) nm以下の直径の微粒子、 緑色反射用として 2 2 4
X ( 1. 3 6 /n) nm以上 2 5 l x ( l . 3 6 /n) nm以下の直 径の微粒子、 青色反射用として 2 0 2 x ( 1. 3 6 /n) nm以上 1 2 4 X ( 1 . 3 6 /n) nm以下の直径の微粒子 (ただし、 nは微粒 子の屈折率) を用いたことを特徴とする請求の範囲 5記載のスク リー ン。
7. 赤色反射用として 2 7 8 x ( l . 3 6 /n) n m以上 3 0 5 x
( 1. 3 6 /n) nm以下の直径の微粒子、 緑色反射用として 2 2 4 X ( 1. 3 6 /n) nm以上 2 3 7 x ( 1 . 3 6 /n) nm以下の直 径の微粒子、 青色反射用として 2 0 8 X ( 1 . 3 6 /n) nm以上 1 1 7 X ( 1 . 3 6 /n) nm以下の直径の微粒子 (ただし、 nは微粒 子の屈折率) を用いたことを特徴とする請求の範囲 5記載のスク リー ン。
8 . 基板上に縦方向に赤色反射用の微粒子層、 緑色反射用の微粒子層 および青色反射用の微粒子層が積層されていることを特徴とする請求 の範囲 1記載のスク リ一ン。
9 . 基板上に縦方向に赤色反射用の微粒子層、 緑色反射用の微粒子層 および青色反射用の微粒子層が順次積層されていることを特徴とする 請求の範囲 1記載のスク リーン。
1 0 . 基板上に縦方向に青色反射用の微粒子層、 緑色反射用の微粒子 層および赤色反射用の微粒子層が順次積層されていることを特徴とす る請求の範囲 1記載のスク リーン。
1 1 . 積層周期が 8以上 1 5以下であることを特徴とする請求の範囲 8記載のスク リーン。
1 2 . 基板上に横方向に赤色反射用の微粒子層、 緑色反射用の微粒子 層および青色反射用の微粒子層が配列されていることを特徴とする請 求の範囲 1記載のスク リーン。
1 3 . 積層周期が 8以上 1 5以下であることを特徴とする請求の範囲 1 2記載のスク リーン。
1 4 . 上記赤色反射用の微粒子層、 緑色反射用の微粒子層および青色 反射用の微粒子層はス 卜ライプ状、 長方形または正方形の形状を有し. これらの微粒子層が上記基板上に所定の配列パターンで配列されてい ることを特徴とする請求の範囲 1 2記載のスク リーン。
1 5 . 可視光を吸収する層またはバルク基板を有することを特徴とす る請求の範囲 1記載のスク リーン。
1 6 . 上記可視光を吸収する層またはバルク基板はすべての波長域の 可視光を吸収することを特徴とする請求の範囲 1 5記載のスク リーン (
1 7 . 上記可視光を吸収する層またはバルク基板が上記微粒子の下に あることを特徴とする請求の範囲 1 5記載のスク リーン。
1 8 . 上記基板が透明基板の裏面に可視光を吸収する層が設けられた ものであることを特徴とする請求の範囲 8 または 1 2記載のスク リー ン。
1 9 . 上記基板が P E Tフィルムであることを特徴とする請求の範囲 8または 1 2記載のスク リーン。
2 0 . 上記基板の表面に濡れ性を向上させるための凹凸または膜が設 けられていることを特徴とする請求の範囲 8または 1 2記載のスク リ 一ン。
2 1 . 上記微粒子層上に光拡散媒体が設けられていることを特徴とす る請求の範囲 8または 1 2記載のスク リーン。
2 2 . 上記光拡散媒体が拡散フィルムであることを特徴とする請求の 範囲 2 1記載のスク リーン。
2 3 . 上記光拡散媒体がマイク口レンズフィルムであることを特徴と する請求の範囲 2 1記載のスク リーン。
2 4 . 上記光拡散媒体がマイクロプリズムフィルムであることを特徴 とする請求の範囲 2 1記載のスク リーン。
2 5 . 上記微粒子の間の隙間が結合剤により埋められていることを特 徴とする請求の範囲 1記載のスク リーン。
2 6 . 上記微粒子が空洞からなることを特徴とする請求の範囲 2 5記 載のスク リーン。
2 7 . 上記微粒子の集合体を有するこ とを特徴とする請求の範囲 1記 載のスク リーン。
2 8 . 上記微粒子の集合体の横方向の大きさが 2 2周期より小さいこ とを特徴とする請求の範囲 2 7記載のスク リーン。
2 9 . 上記微粒子の集合体はその結晶軸に対して斜めの面とそれとは 異なる角度を持つ面とを併せ持つことを特徴とする請求の範囲 2 7記 載のスク リーン。
3 0. 上記斜めの面の角度 Θが 7 0 ° ≤ Θ≤ 9 0 ° の範囲であること を特徴とする請求の範囲 2 9記載のスク リーン。
3 1. 上記微粒子の集合体が曲面を持つことを特徴とする請求の範囲
2 7記載のスク リーン。
3 2. 上記微粒子の集合体の結晶軸が光の入射方向に対して 7 7. 4 ' ≤ α≤ 9 0 ° の範囲の角度 α傾いていることを特徴とする請求の範囲
2 7記載のスク リーン。
3 3. 上記微粒子の集合体にうねりを持たせたことを特徴とする請求 の範囲 1 7記載のスク リーン。
3 4. 上記基板上に、 バッファ層を介して、 赤色反射用の微粒子層、 緑色反射用の微粒子層および青色反射用の微粒子層が設けられている ことを特徴とする請求の範囲 8または 1 2記載のスク リーン。
3 5. 上記バッファ層は、 2 0 8 Χ ( 1. 3 6 /n ) nm以下の直径 の微粒子 (ただし、 nは微粒子の屈折率) の層からなることを特徴と する請求の範囲 3 4記載のスク リーン。
3 6. フォ トニック結晶を用いて特定の波長の光を反射するように構 成されていることを特徴とするスク リーン。
3 7. 上記フォ トニッ ク結晶は微粒子を規則的に配列した構造を有す ることを特徴とする請求の範囲 3 6記載のスク リーン。
3 8. 自己組織化により上記微粒子を規則的に配列した構造を有する ことを特徴とする請求の範囲 3 7記載のスク リーン。
3 9. 上記微粒子を最密構造に配列した構造を有することを特徴とす る請求の範囲 3 7記載のスク リーン。
4 0. 赤、 緑および青の三原色に対応した波長の光を同時に反射する ことができるように、 上記フォ トニッ ク結晶の周期が 3種類存在する 構造を有することを特徴とする請求の範囲 3 6記載のスク リーン。
4 1 . 基板上に縦方向に赤色反射用のフォ トニッ ク結晶、 緑色反射用 のフォ トニッ ク結晶および青色反射用のフォ トニック結晶が積層され ていることを特徴とする請求の範囲 3 6記載のスク リーン。
4 2 . 基板上に縦方向に赤色反射用のフォ.トニッ ク結晶、 緑色反射用 のフォ トニック結晶および青色反射用のフォ トニック結晶が順次積層 されていることを特徴とする請求の範囲 3 6記載のスク リーン。
4 3 . 基板上に縦方向に青色反射用のフォ トニッ ク結晶、 緑色反射用 のフォ トニッ ク結晶および赤色反射用のフォ トニック結晶が順次積層 されていることを特徴とする請求の範囲 3 6記載のスク リーン。
4 4 . 積層周期が 8以上 1 5以下であることを特徴とする請求の範囲 4 1記載のスク リ一ン。
4 5 . 基板上に横方向に赤色反射用のフォ トニック結晶、 緑色反射用 のフォ トニッ ク結晶および青色反射用のフォ トニック結晶が配列され ていることを特徴とする請求の範囲 3 6記載のスク リーン。
4 6 . 積層周期が 8以上 1 5以下であることを特徴とする請求の範囲 4 5記載のスク リーン。
4 7 . 上記赤色反射用のフォ トニック結晶、 緑色反射用のフォ トニッ ク結晶および青色反射用のフォ トニッ ク結晶はス トライプ状、 長方形 または正方形の形状を有し、 これらのフォ トニッ ク結晶が上記基板上 に所定の配列パターンで配列されていることを特徴とする請求の範囲 4 5記載のスク リ一ン。
4 8 . 可視光を吸収する層またはバルタ基板を有することを特徴とす る請求の範囲 3 6記載のスクリーン。
4 9 . 上記可視光を吸収する層またはバルタ基板はすべての波長域の 可視光を吸収することを特徴とする請求の範囲 4 8記載のスク リーン c 5 0 . 上記可視光を吸収する層またはバルク基板が上記微粒子の下に あることを特徴とする請求の範囲 4 8記載のスク リーン。
5 1 . 上記基板が透明基板の裏面に可視光を吸収する層が設けられた ものであることを特徴とする請求の範囲 4 1 または 4 5記載のスク リ 一ン。
5 2 . 上記基板が P E Tフィルムであることを特徴とする請求の範囲 1 または 4 5記載のスク リーン。
5 3 . 上記基板の表面に濡れ性を向上させるための凹凸または膜が設 けられていることを特徴とする請求の範囲 4 1 または 4 5記載のスク リーン。
5 4 . 上記フォ トニック結晶上に光拡散媒体が設けられていることを 特徴とする請求の範囲 4 1 または 4 5記載のスク リーン。
5 5 . 上記光拡散媒体が拡散フィルムであることを特徴とする請求の 範囲 5 4記載のスク リーン。
5 6 . 上記光拡散媒体がマイクロレンズフィルムであることを特徴と する請求の範囲 5 4記載のスク リーン。
5 7 . 上記光拡散媒体がマイクロプリズムフィルムであることを特徴 とする請求の範囲 5 4記載のスクリーン。
5 8 . 上記フォ 卜ニッ ク結晶の横方向の大きさが 2 2周期より小さい ことを特徴とする請求の範囲 3 6記載のスク リーン。
5 9 . 上記フォ トニック結晶はその結晶軸に対して斜めの面とそれと は異なる角度を持つ面とを併せ持つことを特徴とする請求の範囲 3 6 記載のスク リーン。
6 0 . 上記斜めの面の角度 0が 7 0 ° ≤ 0≤ 9 0 ° の範囲であること を特徴とする請求の範囲 5 9記載のスク リーン。
6 1 . 上記フォ トニッ ク結晶が曲面を持つことを特徴とする請求の範 囲 3 6記載のスク リーン。
6 2 . 上記フォ トニッ ク結晶の結晶軸が光の入射方向に対して 7 7 . 4 ° ≤α≤ 9 0 ° の範囲の角度ひ傾いていることを特徴とする請求の 範囲 3 6記載のスク リーン。
6 3 . 上記フォ トニック結晶にうねりを持たせたことを特徴とする請 求の範囲 3 6記載のスク リーン。
6 4 . 誘電体多層膜を用いて特定の波長の光を反射するように構成さ れていることを特徴とするスク リ一ン。
6 5 . 上記誘電体多層膜の周期構造が 1 0周期以上であることを特徴 とする請求の範囲 6 4記載のスク リーン。
6 6 . 赤、 緑および青の三原色に対応した波長の光を同時に反射する ことができるように、 上記誘電体多層膜の周期が 3種類存在する構造 を有することを特徴とする請求の範囲 6 4記載のスク リーン。
6 7 . 基板上に縦方向に赤色反射用の誘電体多層膜、 緑色反射用の誘 電体多層膜および青色反射用の誘電体多層膜が積層されていることを 特徴とする請求の範囲 6 4記載のスク リーン。
6 8 . 基板上に縦方向に赤色反射用の誘電体多層膜、 緑色反射用の誘 電体多層膜および青色反射用の誘電体多層膜が順次積層されているこ とを特徴とする請求の範囲 6 4記載のスク リーン。
6 9 . 基板上に縦方向に青色反射用の誘電体多層膜、 緑色反射用の誘 電体多層膜および赤色反射用の誘電体多層膜が順次積層されているこ とを特徴とする請求の範囲 6 4記載のスク リーン。
7 0 . 基板上に横方向に赤色反射用の誘電体多層膜、 緑色反射用の誘 電体多層膜および青色反射用の誘電体多層膜が配列されていることを 特徴とする請求の範囲 6 4記載のスク リーン。
7 1 . 上記赤色反射用の誘電体多層膜、 緑色反射用の誘電体多層膜お よび青色反射用の誘電体多層膜はス トライプ状、 長方形または正方形 の形状を有し、 これらの誘電体多層膜が上記基板上に所定の配列パ夕 ーンで配列されていることを特徴とする請求の範囲 7 0記載のスク リ —ン。
7 2 . 可視光を吸収する層またはバルク基板を有することを特徴とす る請求の範囲 6 4記載のスク リーン。
7 3 . 上記可視光を吸収する層またはバルク基板はすべての波長域の 可視光を吸収することを特徴とする請求の範囲 7 2記載のスクリーン £ 7 4 . 上記可視光を吸収する層またはバルク基板が上記微粒子の下に あることを特徴とする請求の範囲 Ί 2記載のスク リーン。
7 5 . 上記基板が透明基板の裏面に可視光を吸収する層が設けられた ものであることを特徴とする請求の範囲 6 7または 7 0記載のスク リ ―ン。
7 6 . 上記基板が P E Tフィルムであることを特徴とする請求の範囲
6 7または 7 0記載のスクリーン。
7 7 . 上記基板の表面に濡れ性を向上させるための凹凸または膜が設 けられていることを特徴とする請求の範囲 6 7または 7 0記載のスク リーン。
7 8 . 上記誘電体多層膜上に光拡散媒体が設けられていることを特徴 とする請求の範囲 6 7または 7 0記載のスク リーン。
7 9 . 上記光拡散媒体が拡散フィルムであることを特徴とする請求の 範囲 Ί 8記載のスク リーン。
8 0 . 上記光拡散媒体がマイ クロレンズフィルムであることを特徴と する請求の範囲 7 8記載のスク リーン。
8 1 . 上記光拡散媒体がマイクロプリズムフィルムであることを特徴 とする請求の範囲 7 8記載のスク リーン。
8 2 . 上記誘電体多層膜はその結晶軸に対して斜めの面とそれとは異 なる角度を持つ面とを併せ持つことを特徴とする請求の範囲 6 4記載 のスクリーン。
8 3 . 上記斜めの面の角度 0が 7 0 ° ≤ 0≤ 9 0。 の範囲であること を特徴とする請求の範囲 8 2記載のスク リーン。
8 4 . 上記誘電体多層膜が曲面を持つことを特徴とする請求の範囲 6 4記載のスクリーン。
8 5 . 上記誘電体多層膜の結晶軸が光の入射方向に対して 7 7 . 4 ° ≤ α≤ 9 0。 の範囲の角度 α傾いていることを特徴とする請求の範囲 6 4記載のスク リーン。
8 6 . 上記誘電体多層膜にうねりを持たせたことを特徴とする請求の 範囲 6 4記載のスク リ一ン。
8 7 . 大きさが 1 m以下の微粒子を規則的に配列した構造を有する スク リーンの製造方法であって、
上記微粒子を自己組織化により配列するようにしたことを特徴とす るスクリーンの製造方法。
8 8 . 大きさが 1 以下の微粒子を規則的に配列した構造を有する スク リーンの製造方法であって、
2重量%以上の微粒子溶液中に基板を浸漬する第 1の工程と、 上記基板を気相中に 3 0 i m / s以上の速度で引き上げることによ りその表面を上記微粒子溶液で濡らす第 2の工程と、
上記微粒子溶液で濡れた上記基板を気相中で乾燥させる第 3の工程 とを有することを特徴とするスク リーンの製造方法。
8 9 . 上記第 1の工程から上記第 3の工程を必要な光学特性または厚 さを有する微粒子層が形成されるまで繰り返すようにしたことを特徴 とする請求の範囲 8 8記載のスク リーンの製造方法。
9 0 . 上記基板の浸漬前、 浸漬中または引き上げ直後のいずれかの時 に、 上記基板をその面内で回転させることにより上記基板の向きを変 えるようにしたことを特徴とする請求の範囲 8 8記載のスク リーンの 製造方法。
9 1 . 上記基板の浸漬前に上記基板の表面に濡れ性を向上させる処理 を施すようにしたことを特徴とする請求の範囲 8 8記載のスク リーン の製造方法。
9 2 . 大きさが 1 m以下の微粒子を規則的に配列した構造を有する スク リーンと、
上記微粒子の大きさおよび配列により決まる特定の波長の光を発光 する半導体発光素子からなる投射用光源とを有することを特徴とする 画像表示システム。
9 3 . フォ トニッ ク結晶を用いて特定の波長の光を反射するように構 成されているスク リーンと、
上記特定の波長の光を発光する半導体発光素子からなる投射用光源 とを有することを特徴とする画像表示システム。
9 4 . 誘電体多層膜を用いて特定の波長の光を反射するように構成さ れているスク リーンと、
上記特定の波長の光を発光する半導体発光素子からなる投射用光源 とを有することを特徴とする画像表示システム。
9 5 . 特定の波長の電磁波を反射する規則的に配列された微粒子を有 することを特徴とするスク リーン。
9 6 . 上記電磁波は可視光であることを特徴とする請求の範囲 9 5記 載のスク リ一ン。
9 7 . 第 1 の波長の電磁波を反射する規則的に配列された第 1 の微粒 子と、
上記第 1の波長と異なる第 2の波長の電磁波を反射する規則的に配 列された第 2の微粒子とを有し、
上記第 1 の微粒子の直径と上記第 2の微粒子の直径とが互いに異な ることを特徴とするスク リーン。
9 8 . 上記第 1 の波長の電磁波および上記第 2の波長の電磁波は可視 光であることを特徴とする請求の範囲 9 7記載のスク リーン。
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