TW311176B - - Google Patents

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A7 311176 B7 五、發明説明（1 ) 本發明係有闢在印刷電路（PC)板上利用J TAG 對匯滾排進行測試之条统與方法。 I 0 1'-...... HH —'"衣 二 —I- 1^— I - ----- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 舉例而言，一棰習知之測試PC卡上的霣路的方法揭 露於IEEE1149· 1之邊界掃描橒準，該檫準係由 國際聯合测試作桊組織（JTAG)所制定，該文附呈於 此Μ供參考。該檫準涉及以提供雛菊鐽结之移位暫存器元 件以便在積體霣路元件週邊形成通路的方式來設計連續邊 界掃描澜試用之元件（例如積體電路）。 經濟部中央標準局员工消費合作社印製 利用JTAG進行邊界掃描測試的基本觀念在於使連 續資料通過數値積體電路元件Μ便激勵PC卡上的電路， 並對PC卡電路之IC輸入信號進行取樣。由於PC卡之 互接拓撲與邏輯函數為已知（亦邸，PC卡其他部分之J TAG輪出信號與JTAG輸入之間的颺係），主測試電 路可將返回資料與預期結果（亦即，此结果取決於已知之 霣路之函數與PC上互接之方式）進行比較。易言之，如 果PC卡互接正確且位於J TAG源與取樣點之間的所有 電路都正常動作，則送至受拥霣路之連續資料輪入會產生 己知之輪出。此連鳙澜試亦檢拥舆JTAG结合之積體電 路之綸入舆输出揷脑Μ及缓衝器，因為逭些部件位於J T AG輪入舆JTAG_出取樣點之間。 若返回主測試霄路之資料流與預期不符，則表示PC 卡上的互接通路開路或是對另一值信號短路，或者是受測 之J TAG鑰出至J TAG鑰入之路徑上的邏輯有誤動作 發生。在軟驩的控制下對資料滾中的變異董作謹慎的分析 本纸張尺度適用中國國家標隼（CNS ) A4規格（210X297公釐） A7 B7 3Hl76 五、發明説明（2 ) 可隔艙P C卡中的故陣點。 在某些情況下吾人會希望對PC卡上的匯滾抹分路或 其一部分進行測試。例如，在進行条统設計測試時，對電 路板進行短路或開路拥試是非常重要的。逭是由於在緊密 的插脚中可能會有焊料跨接相鄰的揷胞I。或者，不完全或 不正確的焊接可能導致開路。 然而，有時候受拥匯滾排之一部在記憶鑤插槽内中斷 ，因而該匯潦排無法形成閉合霄路。因此，在受澜匯滾排 的某些部分中無法產生J TAG電路，使得匯滾排的J T AG不可能完成。與例而言，這傾問題可能發生於記憶醱 卡沒有插入記憶體揷槽或者插入插棺中的記憶體卡不具備 JTAG測試能力。例如，檷準單一線上記憶體棋組（S IMM)或雙重線上記憶體模組（DIMM)不具有JT A G測試能力。 解決此種問題的方法之一為採用針盤澜試器，它是特 別訂做用Μ測試在中空揷槽內中斷之PC卡匯滾排的部分 。然而，逭捶針盤測試器的成本可能高達數千美元，因而 對許多狀況而言，逭種測試器太過昂貴。此外，製造可使 此棰針盤測試器應用於特定PC卡的测試裝備曠時廢曰， 且不一定能應用於PC卡之原始設計階段。因此，吾人需 要一棰便宜的裝置與方法來拥試霣腦条統或類似設備中的 匯流排。 一種利用J TAG測試印刷霣路板之點對點連接的条 統，包括印刷霣路板，其包括欲TAG加以測試之電 本纸乐尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） --------裝— (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

.5T 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（3 ) 路。印刷電路板上之匯流排，包括連接插脚，而多數値插 入式遇邊或擴充揷槽與這些匯流排揷®電氣耦合。插入式 j tag澜試卡運與插榷之一接合以與其形成m氣連接。 測試卡包括J TAG拥試電路，用Μ經由與測試卡接合之 插槽驅送測試倍嫌至匯流排插脑。最後，此糸統包括與電 路板之匯流排連接之测試電路。測試卡所輪出之測試信號 由J TAG測試霣路加Μ接收，Μ測試印刷電路板上的點 對點連接的完整性。在較佳實施例中，J TAG包括第二 J T A G测試卡，其與第二插槽接合。在另一傾較佳實施 例中，J TAG測試電路包括一積體18路晶片，其可在電 路板上進行J TAG測試。 經濟部中央標準局貞工消費合作社印製 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 就另一観點而言，本發明為一棰澜試在主機板上與插 棺形成界面之匯流排接點的方法。此方法之步思包括提供 具有JTAG拥試元件之插入式拥試卡，而該等測試元件 包括邊界揷描暫存器。此澜試卡可插入插槽中。此方法之 步费還包括將澜試卡插入揷槽中；將包括資料位元的測試 向量移入邊界掃描暫存器中；將測試向量資資料位元從邊 界掃描暫存器中經由插槽输出至匯滾排接點；經由J TA G邊界掃描暫存器捕捉拥試向量資料位元；將拥試資料移 出邊界掃描暫存器並移入JTAG測試器中；將所接收之 輸出澜試向量資料位元與預定蝓出型態加Μ比較，Μ辨認 匯滾拂接點中的故障。在本方法之較佳實施例中，產生、 接合、轉移、输出、接收與比較等步驟在主機板上的各組 匯滾排插槽中重複進行。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Α4規格（210Χ297公釐） 6 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（4 ) 就另一値觀點而言，本發明提供一種測試與主機板上 的插槽形成界面之匯流排接點的条统。此糸统包括主機板 、匯溁排，其接點與主機板之揷槽形成界面、舆揷入式测 試卡。插入式測試卡還包括邊界掃描暫存器Μ及與邊界掃 描暫存器連接之連接器部分。連接器部分可與揷槽接合以 形成匯流排接點與揶竹界掃描暫存器之間的連接。揷入式 測試卡邇包括邊界掃描控制電路，其包括TAP控制器舆 指令暫存器。

就另一艢觀點而言，本發明提供一棰拥試至少與主機 板上的一傾揷槽形成界面的多重匯流排接點。此多重匯流 排接點不與主機板上的JTAG測試電路形成電氣連接。 此糸統包括主機板、匯流排，其接點至少與主機板上的一 値插槽形成界面、Μ及至少一片插入式測試卡，其與插槽 接合以建立揷入式拥試卡之J TAG測試霣路與匯流排接 酤之間的霄氣連接。在較佳實施例中，揷入式測試卡之J TAG包括邊界揷描暫存器、TAP控制器與指令暫存器 〇 就另一傾觀點而言，本發明提供一棰測試在主機板上 與插入式週邊或攘充插槽形成界面之匯流排接點的J TA G插入式拥試卡。此拥試卡包括連接器部分，其與插入式 遇邊或擴充揷槽接合、邊界掃描暫存器、以及形成輪入路 徑之輪入匯滾排*來自連接器之信號經由此路徑做為邊界 掃描暫存器之_入。此插卡還包括輪出匯溁排，來自連接 器之鑰出信號經此匯流排送至連接器與邊界掃描控制霄路 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Α4規格（210X297公釐） - I - I - - I --- I ί1-—^1 — - I I I..... ί— — (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（5 ) 。邊界掃描控制電路包括TAP控制器與指令暫存器。 第1圜為霣腦条統之簡略示意方塊圖，該霉腦条統包 括連接至插入式記憶體與_入/_出（I /0 )插播中之 匯流排。 第2圓為本發明之雙重線上記憶體棋組（DIMM) 之一侧的示意平面圖，其中僅繪示J TAG緩衝器電路。 第3圖為第2圖之D I ΜΜ插卡上的邊界挿描測試緩 衝器之一的示意方塊圖。 第4Α與4Β圖為第3圖之邊界掃描緩衝器之内部元 件細部圈。 第5圖為插卡之實施例的示意圖，其中J TAG形成 於卡片背部而與匯流排建接器對面。 第6圜為多重插卡在澜試主機板時的連接方式。 第7圔爲本發明之拥試糸统。 第1圔為電腦条统1 00之簡略方塊圈。電腦条统1 00包括微處理器1 10，它經由条统匯滾排130與匯 流抹橋120以及動態隨機存取記植蠼（DRAM)控制 器140聯繫。在有利的實施例中，撤處理器1 1 0包括 P6撤處理器，而匯滾拂橋1 20包括P6 — PC I霄橋 。此卩6_霣橋120經由週邊元件互接匯流排170而 與磁碟機1 50及插入式I/O插橹1 60聯繫。DRA Μ控制器140經由記憶膿匯滾排195與第一插入式雙 重線上記憶體棋組插棺1 8 0Μ及第二插入式D I ΜΜ插 槽1 90聯繫。當《腦糸統1 80處於操作狀態時，其上 本纸張尺度適用中國國家標準（CNS ) Α4規格（210X297公釐） -----„---L---衣-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 —8 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 3lll76 A7 B7 五、發明説明（6 ) 安裝有DRAM的DIMM (未顯示於第1圖中）揷入插 槽180、190中。雖然第1圖之實施例顯示DIMM 插入卡，單一線上記憶鼸模組（S I MM，未顯示）亦可 用於本發明之教示中。 吾人希望可K在製造階段測試各個積體電路元件，並 在電路晶片上進行點對點的連接測試，以及利用J TAG 邊界掃描測試對所有匯滾排進行拥試。然而，在某些情況 下，沿著某些通信匯流排進行點對點測試可能相當困難， 因爲一個或多镳插槽是空的或者不包含具有JTAG相容 性的模組。 特別是，如第1圔所示，揷入式I/O揷槽輿揷入式 D I MM揷槽1 80與1 90可能為中空，使得PC I匯 流排1 70與記憶體匯流排1 95在两放接點中斷。因此 ，可在其上利用JTAG對PC I匯流排1 70或記憶體 匯流排195之線路進行測試的閉回路並不存在。此外， 插槽160、 180、 190以及PCI匯流排170、 1 95的部分無法利用JTAG進行測試。 因此，為了提供便宜且有效率的条統與方法以便利用 J TAG測試PC I匯溁排1 70與記憶鼯匯流排1 95 的各值接點，特別製作的插入模组200 (參照第2圖） 插入需要具有J TAG相容性Μ利測試的各個揷槽中。 如第2圏所示，插入式J TAG澜試卡200包括可 與記惊體匯流排195 (或者PCI匯滾排170)形成 多插脚連接之插入連接器210。用於各揷槽160、 1 本纸張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） ---^---Γ m - I 1^1 I I I n T I n I n [ I CJ U3 、vs·'· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -9 - 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 A7 _ _B7__ 五、發明説明（7 ) 8具有適用於各插槽160、 180、 190之連接器。 插入式J TAG之個別J TAG拥試卡測試卡2 0 0還包 括J TAG測試界面2 2 0與多數侮J TAG測試緩衝器 2 3 0。如第2圖所示，J TAG测試緩衝器230用以 連接待测之各信號插脚（例如，詭憶體匯流排195或P CI匯流排170)。在較佳實施例中，JTAG測試緩 衝器2 3 0包括可在徳州儀器所生產之S N 7 4 A B T 8 245型之八進位匯滾排收發機中找到的J TAG邊界掃 描邏輯。此棰八進位匯滾排收發機包括兩組八SJTAG 雙向拥試缓衝器，各组共用一個繪出啟動單元。吾人應注 意，揷卡2 00並不具有記憶體，即使在特殊的臑用中記 憶體或其他霄路可設置於卡片200上。然而，揷卡20 0僅用Μ促成J TAG測試電路，因而除了做為J TAG 測試霣路之外，卡片200不具功能性。因此，透過將J TAG測試電路200插入多個揷槽160、180、1 90的方式，匯流排175、 190的测試成本變得便宜 。此外，本發明之成本比必須特別設計且成本在數千美元 之譜的針盤測試器大幅降低。 在测試時，一片或多片插卡200可重後插入收纳插 槽中，並做為待拥多電腦条统之匯流抹的拥試霄路。 «揷卡200用Μ已經設計成可用於J TAG測試之 匯潦排（例如第1圖之PC I匯滾排170)的拥試匯滾 拂接黏時，用以将J TAG資料與指令移入J TAG測試 電路中之資料與指令邊界暫存器（參照第3、4圈）適當 本纸張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） n. II =· —II - - I -I- 11 I -I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -10 - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 ____________- 五、發明説明（8 ) 線路亦已装設完成。然而，若揷入式J TAG測試卡2 0 0其於測試的需要連接至非為J TAG所裂造的匯滾排上 (例如I SA匯流排，一棰傳統式記憶體匯滾排或不具有 可使用之JTAG界面之PCI匯滾排），則特殊的JT AG線路必須經由特殊的連接器（如第5、6圔所示）連 接至卡片200，而使資料與指令可移入JTAG資料與 指令移位暫存器。 第5圈顯示插卡20 0之實施例，其中J TAG接點 形成於卡片邊緣而位匯流排接點之相反侧。包括模式選 擇（TMS) 240在内的四條JTAG線路、一條時鐘 (TCK)線路242、一條資料_入（TDI)線路2 44、一條逸擇性重置（TRST5«〇線路246連接至 JTAG 拥試缓衝器 230 °TMS、TCK、TRST 米線路240、 242、 246K並職方式連接至各個緩 衝器230，而TDI線路244M串聯方式（亦邸，Μ 雛菊鏈结的方式）穿過拥試缓衝器230，此為習知之技 術。第五J TAG資料输出線路248將最後一值緩衝器 230的轤出資料送回。輪出線路240、 242、 24 4、 246經由JTAG蝓入連接器250連接至第5圈 中的卡片200°TMS、 TCK、 TRST※輪入線路 2 4 0、2 4 2、2 4 6亦連接至JTAG鑰出連接器2 52，而TDO線路248亦連接至JTAG輪出連揆器 252。並行匯滾排254排供匯滾排連接器256與J TAG澜試级衝器230之輪入出插脚之間的互接。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） n· I ^^^1 1^1 i ^^^1 In I*又 I m ^^^1 i^i^i i s.-e (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 11 經濟部中央標準局負工消費合作社印製 3lH76 B7 五、發明説明（9 ) 第6圓顯示多片插卡在拥試主機板600時的連接方 式。如第6圖所示，J TAG测試線路連接於上片200 之背面而非穿過匯流排接點，因為在圖中匯流排不包括J TAG測試線路，或者匯流排所具有之J TAG測試線路 不與主機板掃描鏈成鐮菊鍵結。 第3画為SN74ABT82425之功能方塊圖。 第3圖為商用IC之内部電路圖，其可用於第2圓之掃描 測試缓衝器230。如第3園所示，缓衝器230包括邊 界掃描暫存器300M及八偁雙向緩衝器通道3 10 (第 3臞中僅繪示一個缓衝器通道310)。各雙向通道緩衝 器3 10是供A匯流排的一齒位元（第3圏左鴒所示）與 B匯滾排之對應位元（第3圖右钿所示）之間的互接。第 3圖中僅顯示用Μ互接A匯流排之第一位元（A1)輿B 匯流排之第一位元（B1)之互接的雙向通道緩衝器31 0。未顯示的t価緩衝通道互接位元A2與B2，位元A 3與B3，位元A4與B4，位元A5舆B5，位元A6 與B6，位元A7舆B7，位元A8與B8。各缓衝器通 道310包括®別輪入緩衝器312、 318M及傾別輪 出缓衝器314、 316。_出缓衝器314、 316為 三態緩衝器，其离阻抗狀態在一般棋式下分別由AND閘 320與ANDM322之輪出啟勖端A (OEA)與輪 出歆動端B (OEB)加Μ控制，而在JTAG測試楔式 下則分別由JTAG邊界掃描輪出單元（OUT CEL L) 324、326加以控制。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 12 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（10 ) AND閘320組經由级衝器330接收主動低階輸 出啟動（OE)線路328之第一反相輪出。邊界掃描暫 存器3 0 0中的J T A G邊界掃描_入單元（I N CE LL) 332連接至缓衝器330之_出端以監控棟出啟 動線路328之輸出狀態。AND閘320之第二非反相 輪出由定向線路（DIR)經由缓衝器336所提供。邊 界掃描暫存器300中之JTAG掃描蝓出單元338連 接至緩衝器3 3 6之綸出端Μ便監控定向線路3 34之狀 態。AND蘭322分別透過缓衝器330、 336而從 输出啟動線路328接收經反相之_出，並從定向線路3 34接收經反相之輸入。因此在原始所設計的缓衝器23 0的應用中，僅有一僱來自AND閘320、 322之Ο EA舆OEB信號可根據線路334之DIR倍號狀態而 產生作用。在較佳實施例中，輪出啟動舆定向線路328 、334為离階，因而當掃描拥試缓衝器230不在JT AG測試棋式時，八進位缓衝器之第十六I/O揷®位於 离阻抗棋式且不彩鬱受測匯滾排。在所述之JTAG模式 中，_出啟動線路328、定向線路334、AND閘3 20、 322並未使用*而緩衝器僅有JTAG_出軍元 324、 326所控制。 各八値通道分別由邊界掃描暫存器300中的A匯滾 排钿JTAG輪入軍元340、 A側JTAG鍮出單元3 42、 B側JTAG綸入單元346舆B側JTAG_a 單元348加以控制，此如第4A、4B圖所示。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) Γ 13 經濟部中央樣準局員工消費合作杜印製 A7 B7 五、發明説明（11 ) 邊界掃描暫存器300接收資料與指令位元，這些位 元可在傳统J TAG澜試電路的控制下移入邊界掃描暫存 器300中。特別是控制邊界掃描暫存器300之J TA G澜試電路包括旁通暫存器350、邊界控制暫存器35 5、指令暫存器360、TAP控制器365。暫存器3 50-360經由缓衝器371接收線路370上的拥試 資料_入（TDI)信號。TAP控制器365提供控制 _出至指令暫存器3 6 0、邊界控制暫存器3 5 5與旁通 暫存器3 5 0。 邊界暫存器300之輪出做為三輪入多工器380之 第一_入，而旁通暫存器350舆遴界暫存器355之輪 出做為多工器3 8 0之第二舆第三輸入。指令暫存器3 6 0提供選擇輪出至多工器3 8 0。多工器3 80之輪出做 為2: 1多工器385之第一輪入，而指令暫存器360 之輪出做為多工器385之第二輪入。支線控制器提供選 擇輸入至多工器385並提供三態_入至連接於多工器3 8 5之蠄出端的測試資料鑰出级衝器3 9 0。輸出缓衝器 390之_出爲線路392上的TD0信號。 利用第3圓之霣路執行J TAG拥試的方法為此技毎 中為人所熟知者。例如，參閲IEEE1149·1之J TAG邊界掃描檫準可知用Μ在適當的测試向董中進行移 位的方法。 第4Α、4Β画詳細治示邊界掃描暫存器3 0 0之輪 入與_出單元之功能方塊0。特別是輸入單元340示於 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） n· I I IT n n n I^^-― —— . 丁 3-一* (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 14 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明（12 第4A圖而輪出單元348示於第4B圖。其他蠄入單元 與輸出單元之具有類似的结構。 如第4A圏所示，輸入單元340包括2_ 1多工器 400,其第一綸入端（0)連接至邊界掃描鐽結。亦即 ，第一繪入端接收第3圜之邊界掃描暫存器300之先前 輸入單元或輪出單元之輸出，或接收缓衝器370之TD I轅入。多工器4 0 0具有第二_入端（1 ) »其接收輪 入缓衝器3 12之輸出。其他_入單元（未顯示）由邊界 掃描鍵结與個別輪入缓衝器中接收對應的輸人。 多工器400具有選擇輪入端（S)該输入端由第3 圖之TAP控制器365所產生之CAPTURE-DR 信號所控制。當CAPTURE-DR信號作用時，多工 器400S擇繪入緩衝器312之鍮出。當CAPTUR E-DR信號不作用時，多工器400從邊界掃描鏈結選 擇輪入。 多工器4 0 0之輓出做為正反器4 0 2之資料輸入（ D)，該正反器由第3圈之TAP控制器365所產生之 資料暫存器時間（DR - CLK)信號進行時控。正反器 402之輪出（Q)做為輪入單元340之移位_出，而 該_出則做為邊界掃描鋪结之下一傾單元的移位輸入，就 像在第3_中邊界掃描暫存器3 0 0之資料_出做為多工 器380之_出一樣。在邊界掃描移位操作時，送至多工 器400之選擇輸入端的CAPTURE-DR信號為抑 制狀態*使得正反器4 0 2成為包括其他橡入單元舆輪出 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） ----1------^ '衣------訂 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 15 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 16 五、發明説明（13 單元之邊界播描移位暫存器的一部分。 如第4A圖所示，輪入缓衝器3 1 2之_出做爲Μ下 第4Β圖所示之輸出單元348之輸入。 如第4Β圖所示，輪出單元348包括輪入多工器4 20,其具有第一_入端（0)、第二_入端（1)與選 擇蠄入绱（S)與輸出端。第一端入端接收邊界掃描暫存 器300之先前繪入單元或輸出單元之輪出，或接收第3 圖之缓衝器370之TDI輪入。第二輸入端接收第4Α 圖之輸入缓衝器312之輓出。選擇輸入端由前述CAP TURE-DR信號加Μ控制。 輸入多工器420之_出做爲正反器422之資料輓 入（D)，該正反器亦由前述D R - C L Κ信號加Μ時控 。正反器422之資料鑰出（Q)做為閂類霣路424之 資料繪入*該閂鎖電路之閂鎮啟動控制輪入端由第3圓之 TAP控制器所產生之UPDATE-DR信號加Κ控制 。該UP DATE - DR信轚由TAP控制器365響醮 於經由TMS信*線路372 (第3園）所接收之更新指 令加Μ啟動。 正反器422之資料_出亦做爲_出單元348之移 位輪出*該移位輪出做爲邊界掃描鏈结之下一個單元之移 位輸入，或者，若特定_出單元為邊界掃描鍵結之最後一 锢單元，則其做為邊界掃描暫存器300對第3圖之多工 器380之資料輪出。 _出單元348還包括輸出多工器426,其具有第 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210 X 297公釐） -16 I-·· I -I — I 11 - - n ml . 士5"n - —^1 ^^1 i 、va (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明（14 ) 一鍮入端（〇)、第二輪入端（1)、選擇餘入（s)與 _出端。繪出多工器4 2 6之第一端出端接收輪入緩衝器 3 12 (第4A圖）之輸出。綸出多工器426之第二輸 入端接收閂鎖電路424之資料繪出。選擇输入端接收由 TAP控制器36 5響應於TMS線路3 7 2之測試模式 指令而產生之TE ST-M0DE信號。在TE ST - Μ ◦ DE信號被抑制時，第4Α團之緩衝器3 1 2之_出做 爲多工器4 2 6之输出，而該蝓出做為第3、4Α團所示 之輸出缓衝器3 1 6之_方入。當TE ST -MODE信 號作用時，閂銳《路424之輸出做為輸出多工器426 對鑰出緩衝器316之鑰出。 第3圖之輸出緩衝器314與316分別由輪出箪元 326、 324之信號加Μ啟動。輸出單元326、 32 4與第4Β圜所示者相似，只是單元324、 326之輪 出連接至値別輪出緩衝器316、 314之高阻抗控制輪 端入。此外，單元326、 324之輪入分別來自0ΕΑ 與0ΕΒ (輪出啟動端Α與輸出啟動端Β)。 在本發明較佳實施例之SN74AB8245中， 入單元340與输出單元348M下述方式連接至邊界掃 描移位暫存器。測試賫料輸入（TDI)號信號370由 輪入緩衝器3 7 1送至OE B鴒出單元3 24，然後被送 到OEA綸出單元326，之後被送至D I R輪入單元3 38，之後至0E_入單元332，之後至B側輸入單元 (B8、B7、B6、B5、B4、B3、B2、B 1 ) ^1. - III LH 1 1·—111 I .H ^^1 n n I 5 、ve (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本纸張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -17 - 17 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明（15 ) ，之後至 Α«ί_ 入單元（A8、A7、A6、A5、A4 、A3、Α2、Α1)，之後至Α俩輪出單元（Α8、A 7、A6、A5、A4、A3、A2、A1)，之後經由 多工器3 8 0、多工器3 8 5與輸出緩衝器3 9 0而成為 測試資料_出（TDO)信號。 吾人應注意，SN74ABT8245積體電路中的 澜試邏輯比第4A、 4B圖中所示者複雜。為求簡化，僅 有執行邊界掃描测試所需的功能顯示其中。SN74AB T8245積體電路亦包括支援其他可能應用到的JTA G功能，但它們並非實施本發明所必霹。 在本發明的獮試操作中，移入邊界掃描暫存器3 0 0 中的資料被閂鎖於連接至A匯流排與B匯流抹之繪出單元 342、 348、 326、 324之閂鎖霄路424中， 受控以選擇第二鍮入端（1)之輪出多工器4 2 6中，連 接至各幢出單元342、 348之輸出缓衝器314與3 16中、並由_出單元326、 324所啟動，使得在測 試中連接至缓衝器230之插脚的匯滾排由缓衝器230 的選定資料加Μ驅動。匯滾排上的資料由連接至受測匯滾 排的其他邏輯電路加Μ接收並與預期資料比較Μ便決定是 否受測匯流排中的各個插脑都被正常地里動。 相反地，受測匯流排可在輸出緩衝器3 1 4、3 1 6 被鼷閉時由其他邏辑加Μ驅動。受測匯滾排上的資料隨後 經由输出缓衝器3 1 2、3 1 8加以接收，並由餡別正反 器402加以捕捉。之後*所接收之資料被移出邊界掃描 本纸張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（21〇Χ297公釐）

In- ^^^1 1^1 —^^1 HI ^^^1 * am m» —^ϋ i -¾-a (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 18 SHl76 A7 B7 夂、發明説明（16 ) 暫存器300並送至TDO線路。TDO上的連績餘出資 料由JTAG拥試主電路（第7圜）加以接收，並舆預期 資料相比較Μ便決定受測匯滾拂之功能是否正常° 如此一來，插卡200,包括邊界掃描暫存器300 中的JTAG電路，構成便宜且有效率的条統與方法Μ便 測試帶一般J TAG環境下無法被澜試的PC I匯流排1 70與記憶體匯滾排1 95。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製

In m I In ml In I— v 1^1 ^^1 ^^1 I - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 在操作時，如第7圖所示，J TAG指令與資料從J TAG主拥試電路700移入主機板600上的JTAG 霄路中（未顯示於第7圏中）的指令與資料暫存器，Μ及 第一與第二D I ΜΜ卡2 0 0之J TAG霣路（亦未顯示 於第7圖）。資料與指令經由連接器705、霣纜715 、連接器420、電纜720、連接器725、連接器7 30、電纜735、連接器740、連接器745與電親 750移入值別暫存器中。如第7圖所示，連接器7 1 5 與主機板600邊緣的匹配連接器420接合，而連接器 725、 730、 745與插卡200之邊緣上的®別匹 配連接器接合。在有移實施例中，連接器725、 740 、745為陽、陰連接器交替（例如，電纜720之連接 器725為陽性連接器，霣級735之連接器73 0爲陰 性連接器），使得一片或多片插卡200可被旁通（例如 ，有一傾空插槽存在時）。因此，若插槽180、190 為空揷槽，則«纜720之連接器725可直接與電猓7 50之連接器745接合，使得J TAG主測試電路可軽 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210 X 25>7公釐） 19 A7 ____B7__ 五、發明説明（π ) 易連接，而使其可測試之霣路與進行JTAG測試時一樣 多。 在逋當的資料移入JTAG暫存器後，資料被送至接 點並由位於另一僱地點而與該接點聯繫之J TAG電路加 以接收。例如，第一揷卡200 (與揷槽180接合）可 输出資料至匯滾排195 (第1圖），再由DRAM控制 器140加Μ接收。DRAM控制器140 (未顯示）中 之J TAG霉路取讀匯滾排1 95上的資料並經由連接器 7 1 5將其送回J TAG主澜試電路700以供驗證。 雖然Μ上對本發明之®佳實施例詳加說明，顯然熟習 此技術之人土可在不悖離本發明之箱神與其本特性的前提 下對其施Μ各種修改。例如，前述SN74ABT824 5Μ外的便宜的測試電路可用於J TAG插入式测試卡2 00中。因此，前述說明僅為示範之用而非本發明之限制 。因此，本發明之範醻臁由下呈之申請專利範圍加Μ界定 -I- i -11 m ill I ^^1 1/ ^^^1 ^^1 UK I f --3 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Α4規格（210Χ297公釐） -20 -

Claims (1)

1. A8 B8 C8 D8 311176 六、申請專利範圍 1. 一種利用J TAG測試霄路板之點對點連接的糸統， 該条统包括： 該電路板，包括MJ TAG加Μ测試之電路； 該電路板上的匯流排，該匯流排包括連接插脚； 與該等匯流排揷腳霣氣锅接之一値或多傕插入式 遇邊或擴充插槽； 與該等插槽接合以便在其上建立電氣連接之揷入 式J TAG測試卡，該測試卡包括J TAG测試電路 ，用以經由與該測試卡接合之該揷槽驅動測試信號至 該匯流排揷脚；與 與該霣路板上之該匯流排連接之JTAG測試電 路，其中由該測試卡所輸出之該澜試«路由T A G拥試電路加Μ接收以便拥試該電路板上的點對酤連 接的完整性。 2. 如申讅專利範圍第1項之条統，其中該J TAG拥試 卡包括與第二插槽接合之第二J TAG澍試卡。 3. 如申請專利範圍第1項之糸统，其中該J TAG澜試 霣路包括可在該電路板一進行J TAG的積體電路晶 片。 4. 一棰測試主機板上的匯流拂接黠的方法，該等接點舆 一插榷形成界面，該方法包括以下步费ί : 提供具有J TAG測試元件的插入式卡片，該等 測試元件包括邊界掃描暫存器*該測試卡之構谊係用 以揷入該插槽； 本紙張尺度適用中國國家梯準（CNS ) A4規格（210X297公釐） nn ml n i ,t /n t, 4 nn n (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 六、申請專利範圍 將該測試卡插人揷槽中； 將包含資料位元的拥試向量移入該邊界掃描暫存 器中； 將該等澜試向量資料位元從該邊界掃描暫存器經 由該插槽輪出至該等匯滾排接點； 經由該等匯滾排接點接收該等输出測試向量位元 » 將該等所接收之輪出拥試向量資料位"元與is定輸 出型式進行比較，Μ辨認該等匯滾排接點中的故障。 5·如申請專利範圍第4項之方法，其中該等產生、接合 、轉移、輸出、接收與比較之步驟在與揷槽形成界面 之該主機板之各値匯流排接點中重複。 6.—棰測試與主機板上的揷槽形成界面之匯流拂接點的 条統，該条統包括： 該主機板； 該匯流排，其具有與該主機板上之插槽形成界面 之該等接點； 插入式測試卡邇包括： 邊界掃描暫存器； 與該邊界掃掃暫存器連接之連接器部分，該 連接器部分之構造用Μ與該揷槽接合，以形成該等匯 流排接點與該邊界挿描暫存器之間的逋接；舆 邊界掃描控制霣路，包括： T A Ρ控制器；舆 本紙俵尺度適用中國國家標準（CNS ) A4规格（2丨0X297公釐） ϋ mu - i m · I i . .1*^^14 I m n 一 0¾. i \ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 22 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 指令暫存器。 7·—種測試至少與兩僱主機板揷槽形成界面之多重匯流 排接點的方法，其中該等多重匯流棑接點與主機板界 * 面形成電氣連接而不與該主機板上的J TAG測試電 路形成電氣連接，該条統包括： 該主機板； 該匯流排，其具有至少與兩值該主機板上的揷It 形成界面的該等接點； 至少兩張插入式測試卡，其與該等至少兩值插棺 接合Μ形成該揷入式測試卡上的J TAG澜試電路與 該等匯流排接點之間的電氣連接。 8. 如申請專利範蘭第7項之条统，其中該等揷入式測試 卡上的JTAG測試電路包括邊界挿描暫存器、TA P控制器與指令暫存器。 9. 一種測試與至少一値主機板上的揷槽形成界面之多重 匯滾排接點的条統，其中該主機板具有J TAG測試 電路，且其中該等多重匯滾排接點與該主機板上的該 J TAG電路之間沒有電氣連接，該糸統包括： 該主機板； 該匯滾排，其具有輿至少一®該主機板上的插槽 形成界面之該等接點； 至少一片插入式拥試卡，其舆該至少一饈揷槽接 合Μ便在該插入式測試卡之J TAG测試電路與該等 匯溁排接點之間形成霣氣連接，該插卡具有可與該主 本紙浪尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝· 、-·* A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 機板上的該J TAG 接的額外接點。 10. 如申請專利範圍第9请其中該揷入式測試卡之 該J TAG測試電路包拮IT界#描暫存器、TAP控 制器與指令暫存器。 '〆 11. 如申請專利範圍第9項之条統，其中該等額外接點位 於該插入式測試卡之邊緣而與該等匯流排接點分離， 且其中該主機板之該J TAG電路經由J TAG測試 霄纜連接至該等額外接點，該J TAG測試電纜連接 於該等額外接點與該主機板之間。 12·—種用Μ測試在主機板上與插入式遇邊或擴充插棺形 成界面之匯流排接點之J TAG揷入式測試卡，該测 試卡包括： 與該揷入式遇邊或擴充插槽接合之連接器部分； 緩衡器電路，包括： 邊界緩掃描暫存器； T A P控制器；與 指令暫存器； 經濟部中央標準局貝工消費合作社印聚 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) I 提供輪出路徑之輪入匯流排，來自連接器之信號 經由該輸入路徑送至該邊界掃描暫存器做為輸入； 繪出匯流排，來自該邊界掃摒暫存器之輸出倍號 經此匯流排送至該連接器，且其中該缓衝器霣路僅做 為JTAG澜試装置而非做為缓衝器^ 13.如申請専利範困第12項之J TAG揷入，¥中 該缕衡器電路包括74ACT8245八進位器 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4规格（210X297公釐） 24 311176 B88 C8 D8 申請專利範圍 g試在主機板上與插入会匯流排插槽形成界面之 * 、.' 匯澈有髮ί點之JTAG揷入式测試卡，該測試卡包括 與該插入式匯流排插槽接合之第一連接器部分； 提供界面至JTAG資料輸入與繪出線路Μ及J TAG控制線路之第二連接器部分； 具有多數艟匯流排收發器之積體電路*該等收發 器與該第一連接器部分電氣建接以便傳送資料至該匯 流排插槽並從該匯流排插槽接收資料，該&體電路還 包括J TAG界面，該界面由該第二連接器部分接收 連繪資料與控制信號，並在該等J TAG資料線路與 該等匯流排收發器之間傳送資料，以便啟動該積體電 路而使其作用有如可對該匯流排插槽進行測試之J T AG測試«路，該積饈霣路之不執行其主要功能，而 是做為JTAG測試裝置。 n n·— —il. MW 雪 '.· n ^^^1 i In 1^1^1 In、一aJ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央棣準局員工消費合作社印製 本紙莰尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） 25