CN103000229A - 测试卡 - Google Patents

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CN103000229A
CN103000229A CN2011102670377A CN201110267037A CN103000229A CN 103000229 A CN103000229 A CN 103000229A CN 2011102670377 A CN2011102670377 A CN 2011102670377A CN 201110267037 A CN201110267037 A CN 201110267037A CN 103000229 A CN103000229 A CN 103000229A
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board connector
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杨富森
白云
童松林
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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    • G—PHYSICS
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    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • G11C29/022—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters in I/O circuitry
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
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    • G11C29/021—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters in voltage or current generators

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Abstract

一种测试卡，包括板边连接器，至少一用于连接负载器的接口和一双掷开关。该接口通过该双掷开关与该板边连接器相连。当该测试卡插入待测内存储器的插槽时，该板边连接器的第一和第二电压金手指分别对应连接该待测内存储器插槽的两电压引脚。上述测试卡辅助测试内存储器的两组电压时不会损坏主板，方便快捷。

Description

测试卡
技术领域
本发明涉及一种测试卡。
背景技术
测试内存储器电压时，常需在测试仪器与内存储器之间连接负载器以限流，由于主板线路排布密集，往往需在主板上刮出铜皮以将该负载器与该内存储器插槽的输出端相连，如此，不仅浪费时间，还会给主板带来不可恢复的损坏。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种不会损坏主板且节省测试时间的测试卡。
一种测试卡，用于辅助测试内存储器的两组电压，该辅助测试卡包括：
一板边连接器，该板边连接器与待测内存储器的插槽相匹配，该板边连接器包括第一及第二电压金手指，当该辅助测试卡插入该待测试内存储器插槽时，该第一电压金手指对应与该待测内存储器插槽的第一电压引脚相连，该第二电压金手指对应与该待测内存储器插槽的第二电压引脚相连；
至少一接口，用于连接负载器；以及
一开关单元，包括第一至第三端，该开关单元的第一端与该接口相连，该开关单元的第二和第三端分别连接该第一和第二电压金手指，该开关单元用于选择性地使该接口连接该第一或第二电压金手指。
上述测试卡通过该接口连接负载器，并通过该板边连接器的第一电压金手指和第二电压金手指分别连接待测内存储器插槽的两个电压引脚，如此，即可使得该负载器间接与待测内存储器插槽的两个电压引脚相连，而无需刮出主板铜皮以将负载器与该内存储器插槽的电压引脚相连，不会损坏主板，方便快捷。
附图说明
图1为本发明测试卡的较佳实施方式的示意图。
主要元件符号说明
测试卡 100
接口 80
双掷开关 30
金手指 1、2
板边连接器 10
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参考图1，本发明测试卡100用于辅助测试内存储器的两组电压VDDQ和VTT，该辅助测试卡100的较佳实施例包括板边连接器10、若干接口80、双掷开关30。
该板边连接器10与待测内存储器的插槽（图未示）相匹配，以使得该测试卡100可插入该待测内存储器插槽内。
该板边连接器10中的金手指1、2对应该待测内存储器插槽的两电压引脚的位置，当该测试卡100插入该待测内存储器插槽时，该金手指1和2分别与该待测内存储器插槽的两电压引脚对应相连。本实施例中，该待测内存储器插槽为DDR3（Double Data Rate 3）内存储器插槽，其两电压引脚分别用于输出两组电压VDDQ和VTT。
该接口80用于连接负载器。
该双掷开关30包括动端、第一和第二不动端，该双掷开关30的动端与该接口80相连，该双掷开关30的第一和第二不动端分别连接该金手指1和2。该双掷开关30用于选择性地使该接口80连接该金手指1或2。其他实施例中，该双掷开关30还可为其他的开关单元如双向滑动开关。
测试时，将该测试卡100插入该待测内存储器插槽，并根据测试需要将一个或多个负载器连接于该接口80和测试仪器之间以进行限流，且每一负载器连接一接口80，再选择性地将该双掷开关30的动端连接该第一或第二不动端，以测试待测内存储器的两组电压VDDQ和VTT。
上述测试卡100通过该接口80连接负载器，并通过该板边连接器10的金手指1和2分别连接待测内存储器插槽的两个电压引脚，如此，即可使得该负载器间接与待测内存储器插槽的两个电压引脚相连，而无需刮出主板铜皮以将负载器与该内存储器插槽的电压引脚相连，不会损坏主板，方便快捷。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替代，皆涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (2)

1.一种测试卡，用于辅助测试内存储器的两组电压，该辅助测试卡包括：
一板边连接器，该板边连接器与待测内存储器的插槽相匹配，该板边连接器包括第一及第二电压金手指，当该辅助测试卡插入该待测试内存储器插槽时，该第一电压金手指对应与该待测内存储器插槽的第一电压引脚相连，该第二电压金手指对应与该待测内存储器插槽的第二电压引脚相连；
至少一接口，用于连接负载器；以及
一开关单元，包括第一至第三端，该开关单元的第一端与该接口相连，该开关单元的第二和第三端分别连接该第一和第二电压金手指，该开关单元用于选择性地使该接口连接该第一或第二电压金手指。
2.如权利要求1所述的测试卡，其特征在于：该开关单元为一双掷开关，该开关单元的第一至第三端分别对应为该双掷开关的动端、第一不动端和第二不动端。
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SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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