CN201681140U

CN201681140U - 一种偏压配置接口及带偏压配置接口的可靠性测试板

Info

Publication number: CN201681140U
Application number: CN2010201364604U
Authority: CN
Inventors: 刘云海; 李刚; 冯军宏; 丁佳妮
Original assignee: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp
Current assignee: Semiconductor Manufacturing International Beijing Corp
Priority date: 2010-03-19
Filing date: 2010-03-19
Publication date: 2010-12-22
Anticipated expiration: 2020-03-19

Abstract

本实用新型公开了一种偏压配置接口，该偏压配置接口包括电源接入端、接地端以及与所述电源接入端及接地端相连的多个十字型五针插针，所述十字型五针插针包括一个中心插针以及四个外围插针，所述四个外围插针分别通过不同的电阻与所述电源接入端或接地端相连从而具有不同的偏压，所述中心插针通过两孔式跳线与任意一个外围插针做电性连接以具有与外围插针相应的偏压，从而简化了偏压配置。同时本实用新型还公开了一种带偏压配置接口的可靠性测试板，该可靠性测试板通过偏压配置接口为被测芯片的引脚配置偏压，使得产品的偏压配置不需通过插拔电阻实现，从而提高了效率。

Description

一种偏压配置接口及带偏压配置接口的可靠性测试板

技术领域

本实用新型涉及集成电路产品可靠性测试领域，尤其涉及一种偏压配置接口及使用该偏压配置接口的可靠性测试板。

背景技术

可靠性试验是保证集成电路性能和质量的关键，可靠性技术是集成电路制造行业的支撑技术，为集成电路性能的迅速发展和产品的实用化提供保障。在集成电路产品的可靠性(尤其是封装可靠性)认证和评估中，温湿偏置(THB，Temperature Humidity with Bias)测试和高加速温湿度及偏压测试(HAST，HighlyAccelerated Stress Test)是重要的测试项目。THB测试和HAST测试是评估集成电路产品在高温、高湿和偏压条件下对湿气的抵抗能力，加速芯片裸露金属的腐蚀以及湿气渗透对非密闭型封装的影响。

产品可靠性测试中往往需要使用对应的测试板，例如在HAST测试中，需要使用HAST板。通常来说，HAST板由放置测试芯片用的测试座(Socket)与相应的印刷电路板(PCB)组成，其作用是给每个被测样品的特定引脚提供偏压。在HAST测试中，将待测试产品(芯片)置于HAST板的测试座中，再将HAST板与机台内的扩展板(Extension Board)相连，电偏压(Electric Bias)便可以加到测试产品的引脚上。

然而由于测试的产品种类不一，例如包括静态随机存储器(SRAM)和动态随机存储器(DRAM)以及NAND和NOR规格的闪存等，即使他们的封装类型相同，但是他们的信号引脚以及电源引脚的分布位置却不相同。

为了解决这一问题，目前通常是将HAST板的偏压配置部分设为开放式的，即在HAST板上设有电阻连接区域，通过在接口处插入不同的电阻来为相同封装的不同产品配置偏压，这样就需要用手工方式通过电阻连接把板配置成适合某种产品的连线。然而每对一种产品进行HAST测试，就需要重新配置电阻连线而需要多次插拔电阻，并且由于产品电源引脚的偏压通常与其信号引脚的偏压不同，不是简单的高低电平，而是一具体值，因而对产品电源引脚的调试是比较困难的，需更换不同阻值的电阻来调试电源引脚的偏压。因此将花费大量的时间和人力，很容易出错，接触不良也时常发生，对于测试效率的提高非常不利，甚至延误产品的测试周期。

为了解决HAST测试效率低下的问题，2009年9月30日公开的“用于产品可靠性测试板的跳线板”(公开号为CN101545946A的中国专利)公布了一种跳线板，所述跳线板包括板体和多个针脚，所述板体上整合有与HAST板的连线区相对应的信号走线，并在所述信号走线之间插接电阻，以配置成适合某种产品的连线，在进行HAST测试时，只需将整块跳线板的针脚插入HAST板的连线区，即可进行相应产品的HAST测试。这种跳线板使得每次进行同种产品测试时，不需重复插拔电阻，减少了单个插拔电阻的负担，但它的缺点在于必须预先制作特定的跳线板，从而不利于紧急任务的处理，同时由于不同的产品需预先制作不同的跳线板，因而成本也会有一定程度的增加，并且产品电源引脚的电压调试问题也没有解决。

同样的问题也存在于产品的其它可靠性测试中，如：温湿偏置(THB，Temperature Humidity with Bias)测试。

因此，如何提高可靠性测试的效率，解决产品电源引脚的电压调试问题，已成为业界亟需解决的任务。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于产品可靠性测试板的偏压配置接口，以解决现有技术中偏压配置需不断插拔电阻，效率低下的问题。

本实用新型的另一目的在于提供一种带偏压配置接口的可靠性测试板，以解决现有技术中偏压配置需不断插拔电阻，效率低下的问题。

为解决上述问题，本实用新型提出一种偏压配置接口，所述偏压配置接口包括电源接入端、接地端以及与所述电源接入端及接地端相连的多个十字型五针插针，所述十字型五针插针包括位于中心的偏压输出插针以及均匀分布在所述偏压输出插针四周的高电位插针、低电位插针、第一器件电源插针及第二器件电源插针，所述高电位插针通过第一电阻与所述电源接入端相连，所述低电位插针通过保险丝与所述接地端相连，所述第一器件电源插针通过第二电阻与所述电源接入端相连，所述第二器件电源插针通过第三电阻与所述电源接入端相连，所述偏压输出插针通过两孔式跳线与四周的任意插针做电性连接。

可选的，所述第一电阻为定值电阻。

可选的，所述定值电阻的阻值范围为5～10千欧姆。

可选的，所述第二电阻及所述第三电阻为可调电阻。

可选的，所述可调电阻的阻值范围为0～100欧姆。

可选的，所述保险丝为导线。

可选的，所述保险丝为0欧姆的电阻。

同时，本实用新型还提出一种带偏压配置接口的可靠性测试板，所述带偏压配置接口的可靠性测试板包括测试区以及和所述测试区电性连接的上述的偏压配置接口，所述测试区用于放置测试芯片，所述偏压配置接口中的每个十字型五针插针的偏压输出插针与所述测试芯片的一个引脚相连。

可选的，所述测试区包括多个测试座，所述测试芯片放置于所述测试座内。

本实用新型由于采用以上的技术方案，使之与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果：

(1)将通常需要每次插拔的电阻集成到可靠性测试板上，使得每次更换测试产品时，不需要插拔电阻；

(2)在进行产品的可靠性测试之前，不需要预先制作其它转接板，从而降低了成本；

(3)通过两孔式跳线实现产品引脚的偏压配置，既可靠又快速；

(4)产品的电源引脚偏压通过可调电阻进行调节，既简单又方便。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的偏压配置接口的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的带偏压配置接口的HAST板的示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本实用新型提出的偏压配置接口以及带偏压配置接口的可靠性测试板作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本实用新型的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率，仅用于方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。

本实用新型的核心思想在于，提供一种偏压配置接口，该偏压配置接口通过连接不同种类的电阻，将外接电偏压信号或接地信号分别引入到十字型五针插针的周围四个插针，使得周围四个插针具有不同的偏压，中心插针只需通过两孔跳线与周围四个插针中的任意一个连通，即可使中心插针具有相应的偏压，从而简化了偏压配置，提高了效率。同时还提供一种带偏压配置接口的可靠性测试板，该可靠性测试板通过偏压配置接口为被测芯片的引脚配置偏压，使得产品的偏压配置不需通过插拔电阻实现，从而提高了效率。

请参考图1，图1为本实用新型实施例提供的偏压配置接口的结构示意图，如图1所示，所述偏压配置接口300包括电源接入端PS1和PS2、接地端GND以及与所述电源接入端PS1和PS2及接地端GND相连的多个十字型五针插针301，所述十字型五针插针301包括位于中心的偏压输出插针301a以及均匀分布在所述偏压输出插针301a四周的高电位插针301b、低电位插针301c、第一器件电源插针301d及第二器件电源插针301e，所述高电位插针301b通过第一电阻302与所述电源接入端PS1相连，所述低电位插针301c通过保险丝303与所述接地端GND相连，所述第一器件电源插针301d通过第二电阻304与所述电源接入端PS1相连，所述第二器件电源插针301e通过第三电阻305与所述电源接入端PS2相连，所述偏压输出插针301a通过两孔式跳线与四周的任意插针做电性连接。

其中，所述第一电阻302为定值电阻，其阻值范围为5～10千欧姆；所述第二电阻304及所述第三电阻305为可调电阻，所述可调电阻的阻值范围为0～100欧姆；所述保险丝303为导线或0欧姆的电阻。

请继续参考图2，图2为本实用新型实施例提供的带偏压配置接口的HAST板的示意图，如图2所示，该HAST板100包括测试区200以及和所述测试区200电性连接的如图1所示的偏压配置接口300，所述测试区200用于放置测试芯片，所述偏压配置接口300为所述测试芯片的引脚提供偏压，所述偏压配置接口300中的每个十字型五针插针301的偏压输出插针301a与所述测试芯片的一个引脚相连。

其中，所述测试区200包括多个测试座201，所述测试芯片放置于所述测试座201内。

本实用新型实施例提供的带偏压配置接口的HAST板100的使用方法为：外接电偏压信号加到偏压配置接口300的电源接入端PS1和PS2后(由于HAST板具有两个电源接入端，可外接两种电偏压信号)，十字型五针插针301的高电位插针301b、低电位插针301c、第一器件电源插针301d以及第二器件电源插针301e便具有不同的偏压，由于偏压配置接口300的每个偏压输出插针301a通过内部走线与测试座201的一个管脚电性连接，而测试座的管脚与被测芯片的引脚对应连接，因此偏压配置接口300的每个偏压输出插针301a对应被测芯片的一个引脚。在对被测芯片的引脚进行偏压配置时，只需根据被测芯片每个引脚的偏压要求，用两孔跳线将被测芯片的每个引脚所对应的偏压输出插针301a与四周的高电位插针301b、低电位插针301c、第一器件电源插针301d或第二器件电源插针301e中的任一个连接即可。

此外，在调试被测芯片的电源引脚的偏压时，不需更换电阻，只需调节可调电阻的阻值即可实现。

并且该偏压配置接口300上的各个电阻是可更换式的，当电阻损坏时，可将其更换。

在本实用新型的一个具体实施例中，所述偏压配置接口300具有两个电源接入端PS1和PS2，然而应该认识到，根据实际需要，所述偏压配置接口300还可以具有其它数量的电源接入端，例如一个电源接入端。

在本实用新型的一个具体实施例中，所述偏压配置接口300被集成到HAST板中，为HAST测试提供方便，然而应该认识到，所述偏压配置接口300还可以集成到其它具有相似结构的可靠性测试板中，例如THB中，为相应的可靠性测试提供方便。

综上所述，本实用新型提供了一种偏压配置接口，该偏压配置接口通过连接不同种类的电阻，将外接电偏压信号或接地信号分别引入到十字型五针插针的周围四个插针，使得周围四个插针具有不同的偏压，中心插针只需通过两孔跳线与周围四个插针中的任意一个连通，即可使中心插针具有相应的偏压，从而简化了偏压配置，提高了效率。

同时，本实用新型还提供一种带偏压配置接口的可靠性测试板，该可靠性测试板通过偏压配置接口为被测芯片的引脚配置偏压，使得产品的偏压配置不需通过插拔电阻实现，从而提高了效率。

显然，本领域的技术人员可以对实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

Claims

1.一种偏压配置接口，用于可靠性测试板的偏压配置，其特征在于，包括电源接入端、接地端以及与所述电源接入端及接地端相连的多个十字型五针插针，所述十字型五针插针包括位于中心的偏压输出插针以及均匀分布在所述偏压输出插针四周的高电位插针、低电位插针、第一器件电源插针及第二器件电源插针，所述高电位插针通过第一电阻与所述电源接入端相连，所述低电位插针通过保险丝与所述接地端相连，所述第一器件电源插针通过第二电阻与所述电源接入端相连，所述第二器件电源插针通过第三电阻与所述电源接入端相连，所述偏压输出插针通过两孔式跳线与四周的任意插针做电性连接。

2.如权利要求1所述的偏压配置接口，其特征在于，所述第一电阻为定值电阻。

3.如权利要求2所述的偏压配置接口，其特征在于，所述定值电阻的阻值范围为5～10千欧姆。

4.如权利要求1所述的偏压配置接口，其特征在于，所述第二电阻及所述第三电阻为可调电阻。

5.如权利要求4所述的偏压配置接口，其特征在于，所述可调电阻的阻值范围为0～100欧姆。

6.如权利要求1所述的偏压配置接口，其特征在于，所述保险丝为导线。

7.如权利要求1所述的偏压配置接口，其特征在于，所述保险丝为0欧姆的电阻。

8.一种利用权利要求1至7中任一项所述的偏压配置接口的可靠性测试板，其特征在于，包括测试区以及和所述测试区电性连接的偏压配置接口，所述测试区用于放置测试芯片，所述偏压配置接口中的每个十字型五针插针的偏压输出插针与所述测试芯片的一个引脚相连。

9.如权利要求8所述的可靠性测试板，其特征在于，所述测试区包括多个测试座，所述测试芯片放置于所述测试座内。