TW201525487A - 用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板 - Google Patents

Abstract

一種用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板，係與插置於該測試機台之待測積體電路及該測試機台相連接，該多介面訊號切換板係包含一組第一連接埠、一組第二連接埠、一影像擷取卡、一訊號開關模組、一電源線路模組以及一時脈線路控制模組，其中該影像擷取卡與該第一連接埠及第二連接埠電性連接，用以對該待測積體電路進行影像測試，而該訊號開關模組用以透過第一連接埠及該第二連接埠作為該測試機台控制該訊號開關模組執行邏輯測試訊號與影像測試訊號的切換控制，如此控制模式將能夠使得人力成本下降，並減少訊號線拔插次數及提高可靠度。

Description

用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板

本發明係關於一種用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板，特別是指一種為測試機台邏輯測試應用之多介面訊號切換板，用以結合影像測試，使積體電路能進行邏輯與影像測試。

一般影像感測元件(CMOS Image Sensor)主要測試分為基本邏輯測試(logic test)與影像測試(image test)。在硬體需求上，邏輯測試需要一測試機台，而影像測試所花費的時間較長，需準備多台工業電腦，進行影像擷取及測試動作。在傳統的測試方式上，常利用人工的方式來做訊號之轉接，造成人力成本提高，而訊號線的多次拔插，使得訊號線的阻抗值變高，造成訊號的失真，可靠度下降。

另外，由於傳統的產品是將電源與待測物之訊號一起做切換，因此測試機台和影像擷取卡都必須具有一組電源提供給待測物，如此將會造成硬體成本的浪費。此外，傳統的產品由於其面積龐大，當訊號板要與待測物連接時，因機構的限制需要較長的排線來做連接，除了會造成訊號的失真之外，更會使可靠度下降。且當其中一小部分的線路損毀時，將無法避免必須將整塊大板子報廢，因此會增加大量的成本支出。

因此，為了克服上述問題，將用於積體電路測試機台之多介 面訊號切換板能夠透過測試機台控制開關的方式，來達到訊號切換之功能，使得人力成本下降，減少訊號線拔插次數與提高可靠度，如此應為一最佳解決方案。

本發明即在於提供一種用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板，能夠將舊有的訊號切換板分為獨立的子板，以避免因為其中一小部分的線路損毀時而造成其整板報廢，並可以針對不同客戶需求的同測數量提供對應的信號切換板數量。

本發明即在於提供一種用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板，係能夠解決訊號遺失的問題，由於訊號板被分為獨立的四塊子板，不受機構限制，訊號板可安裝於探針機的周圍，使高頻排線的長度縮短，讓訊號傳輸不失真，可靠度提高。

本發明即在於提供一種用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板，係能夠解決傳統產品在其硬體成本上的浪費，將待測物電源部分一律由測試機台提供。

本發明即在於提供一種用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板，係能夠提供可以獨立切換的可調時脈訊號，此時脈具備獨立的控制開關。

可達成上述用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板，係與插置於該測試機台之待測積體電路及該測試機台相連接，該多介面訊號切換板係包含：一組第一連接埠，藉由至少一個排線裝置與該待測積體電路電性連接；一組第二連接埠，藉由至少一個排線裝置與該測試機台電性 連接；一影像擷取卡，與該第一連接埠及第二連接埠電性連接，用以對該待測積體電路進行影像測試；一訊號開關模組，與該第一連接埠、第二連接埠及影像擷取卡電性連接，用以透過第一連接埠及該第二連接埠作為該測試機台控制該訊號開關模組執行邏輯測試訊號與影像測試訊號的切換控制；一電源線路模組，係與該第一連接埠及該第二連接埠電性連接，用以透過第一連接埠及該第二連接埠，各待測機體電路接收該測試機台所輸出之電源；以及一時脈線路控制模組，與該第一連接埠、第二連接埠及影像擷取卡電性連接，用於接收該第二連結埠或該影像擷取卡之一所提供的控制時脈，用以透過該第一連接埠提供該待測積體電路一時脈訊號。

而本發明之積體電路測試機台，係包含設置於該待測積體電路的上方的探針機，該探針機上具有複數個對應於該待測積體電路的電性測試埠，該電性測試埠可對該待測積體電路提供電性測試訊號，而該電性測試訊號係透過設置於該測試機台上的一多介面訊號切換板提供，其特徵在於，該多介面訊號切換板包括：一組第一連接埠，藉由至少一個排線裝置與該探針機之電性測試埠電性連接；一組第二連接埠，藉由至少一個排線裝置與該積體電路測試機台之電性連接埠電性連接；一影像擷取卡，與該第一連接埠及第二連接埠電性連接，用以對該待測積體電路進行影像測試；一訊號開關模組，與該第一連接埠、第二連接埠及影像擷取卡電性連接，用以透過第一連接埠及該第二連接埠作為積體電路測試機台控制該訊號開關模組執行邏輯測試訊號與影像測試訊號的切換控制；一電源線路模組，與該第一連接埠及該第二連接埠電性連接，用以透過第一連接埠及該第二連接埠，各待測機體電路接收該積體電路測試機台所輸出之電源；以 及一時脈線路控制模組，與該第一連接埠、第二連接埠及影像擷取卡電性連接，用於接收該第二連結埠或該影像擷取卡之一所提供的控制時脈，用以透過該第一連接埠提供該待測積體電路一時脈訊號。

〔本發明〕

1‧‧‧測試機台

11‧‧‧電性連接埠

12‧‧‧待測積體電路插槽

121‧‧‧待測積體電路

13‧‧‧探針機

131‧‧‧探針卡

1311‧‧‧電性測試埠

14‧‧‧多介面訊號切換板

141‧‧‧第一連接埠

142‧‧‧第二連接埠

143‧‧‧影像擷取卡

144‧‧‧訊號開關模組

145‧‧‧電源線路模組

146‧‧‧時脈線路控制模組

15‧‧‧排線裝置

第1圖係本發明用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板之架構示意圖；第2圖係本發明用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板之硬體架構實施示意圖；第3圖係本發明用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板之系統架構實施示意圖；以及第4圖係本發明用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板之探針機與多介面訊號切換板連接示意圖。

有關於本發明之前述及其他技術內容、特點與功效，在以下配合參考圖式之較佳實施例的詳細說明中，將可清楚的呈現。

如第1圖及第2圖所示，為本發明之用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板之架構示意圖及硬體架構實施示意圖，如圖中所示，其中該多介面訊號切換板14係包含一組第一連接埠141、一組第二連接埠142、一影像擷取卡143、一訊號開關模組144、一電源線路模組145以及一時脈線路控制模組146，由於該測試機台1上係至少有一個以上的電性連接埠11、至少一個的待測積體電路插槽12及一探針機13，而該第二連接埠142能夠藉由至少一個排線裝置15與該測試機台1之電性連接埠11相 連接，以使第二連接埠142能夠與該測試機台1電性連接。

而該探針機13係設置於該插置有待測積體電路121的上方，由於該探針機13上係具有探針卡131，探針卡131上至少一個以上的電性測試埠1311，例如探針等等；而當要進行測試時，該探針機13會與待測積體電路121進行接觸，因此當該第一連接埠141藉由至少一個排線裝置15與該探針機13之電性測試埠1311電性連接時，該電性測試埠1311則與該待測積體電路121電性連接，以由該電性測試埠1311對該待測積體電路121提供電性測試訊號，而該電性測試訊號係透過設置於該測試機台1上的一多介面訊號切換板14提供。

由於該多介面訊號切換板14功能是將待測積體電路121訊號切換邏輯測試或影像測試，其中邏輯測試在驗證積體電路的基本電性，而影像測試則是由該多介面訊號切換板1之影像擷取卡143利用軟體分析與測試影像擷取的資料是否正確，另外為了能夠控制切換邏輯測試或影像測試，該測試機台1能夠透過第一連接埠141及該第二連接埠142，控制該訊號開關模組144執行邏輯測試訊號與影像測試訊號的切換。

由本發明之第2圖可知，由於本實施例中的測試機台1是支援四塊的多介面訊號切換板14，但並非僅能用於四塊的多介面訊號切換板14，而是依據測試機台1實際的需求與能夠連接之多介面訊號切換板14進行搭配使用。

而本發明之多介面訊號切換板14除了訊號可切換以外，在做影像測試時，更提供了待測物電源及可調整之時脈訊號，其中該電源線路模組145能夠透過第一連接埠141及該第二連接埠142，使各待測機體電 路121接收該測試機台1所輸出之電源，由第3圖可知，本實施例中在做影像測試時，由於待測積體電路121需要外部提供電源，因此該多介面訊號切換板14能夠提供各四組電源給每個待測積體電路121，由於本實施例之多介面訊號切換板14能夠支援同時四顆積體電路測試121，故會輸出總共十六組電源，每一組皆為獨立可調。

另外，由第3圖可知，該時脈線路控制模組146能夠接收該第二連結埠142或該影像擷取卡143之一所提供的控制時脈，之後該時脈線路控制模組146能夠再透過該第一連接埠141提供該待測積體電路121一可調時脈訊號。

另外，由第4圖可知，因多介面訊號切換板14體積比傳統的測試板小，因此本發明之多介面訊號切換板14能夠斜插於探針機13之探針卡131的周圍(使多介面訊號切換板14與探針機13平台之間呈現90度以下的角度)，而斜插的方式能夠使高頻排線的長度縮短，讓訊號不失真與提高可靠度。

藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。

1‧‧‧測試機台

11‧‧‧電性連接埠

12‧‧‧待測積體電路插槽

121‧‧‧待測積體電路

13‧‧‧探針機

1311‧‧‧電性測試埠

14‧‧‧多介面訊號切換板

141‧‧‧第一連接埠

142‧‧‧第二連接埠

143‧‧‧影像擷取卡

144‧‧‧訊號開關模組

145‧‧‧電源線路模組

146‧‧‧時脈線路控制模組

15‧‧‧排線裝置

Claims (2)

1. 一種用於積體電路測試機台之多介面訊號切換板，係與插置於該測試機台之待測積體電路及該測試機台相連接，該多介面訊號切換板係包含：一組第一連接埠，藉由至少一個排線裝置與該待測積體電路電性連接；一組第二連接埠，藉由至少一個排線裝置與該測試機台電性連接；一影像擷取卡，與該第一連接埠及第二連接埠電性連接，用以對該待測積體電路進行影像測試；一訊號開關模組，與該第一連接埠、第二連接埠及影像擷取卡電性連接，用以透過第一連接埠及該第二連接埠作為該測試機台控制該訊號開關模組執行邏輯測試訊號與影像測試訊號的切換控制；一電源線路模組，與該第一連接埠及該第二連接埠電性連接，用以透過第一連接埠及該第二連接埠，各待測機體電路接收該測試機台所輸出之電源；以及一時脈線路控制模組，與該第一連接埠、第二連接埠及影像擷取卡電性連接，用於接收該第二連結埠或該影像擷取卡之一所提供的控制時脈，用以透過該第一連接埠提供該待測積體電路一時脈訊號。
2. 一種積體電路測試機台，係包含設置於該待測積體電路的上方的探針機，該探針機上具有複數個對應於該待測積體電路的電性測試埠，該電性測試埠可對該待測積體電路提供電性測試訊號，而該電性測試訊號係透過設置於該測試機台上的一多介面訊號切換板提供，其特徵在於，該多介面訊號切換板包括：一組第一連接埠，藉由至少一個排線裝置與該探針機之電性測試埠 電性連接；一組第二連接埠，藉由至少一個排線裝置與該積體電路測試機台之電性連接埠電性連接；一影像擷取卡，與該第一連接埠及第二連接埠電性連接，用以對該待測積體電路進行影像測試；一訊號開關模組，與該第一連接埠、第二連接埠及影像擷取卡電性連接，用以透過第一連接埠及該第二連接埠作為積體電路測試機台控制該訊號開關模組執行邏輯測試訊號與影像測試訊號的切換控制；一電源線路模組，與該第一連接埠及該第二連接埠電性連接，用以透過第一連接埠及該第二連接埠，各待測機體電路接收該積體電路測試機台所輸出之電源；以及一時脈線路控制模組，與該第一連接埠、第二連接埠及影像擷取卡電性連接，用於接收該第二連結埠或該影像擷取卡之一所提供的控制時脈，用以透過該第一連接埠提供該待測積體電路一時脈訊號。