TW201326843A - 連接治具 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種連接治具，與若干電壓測試裝置連接用於測試若干待測介面的電壓，該連接治具包括：一負載模組，包括至少兩負載；若干與待測介面連接的輸入介面，其切換地與負載模組的至少兩個負載連接；若干與電壓測試裝置連接的輸出介面，其切換地連接至對應的輸入介面上；所述選擇模組，其用於切換若干輸入介面與負載模組的至少兩負載連接，並切換若干輸出介面與對應的輸入介面連接；及一控制模組，其用於控制所述選擇模組切換切換上述連接。本發明提供的連接治具能夠方便測試電子設備的多個介面。

Description

連接治具

本發明涉及一種應用於待測介面電壓測試的連接治具。

電子設備，如筆記本電腦，通常設置有若干通用串列匯流排（USB）介面。電子設備在出廠前需要經過USB介面測試，例如驗證USB介面在熱插拔時是否會影響其他USB介面的電壓。在對多個USB介面的浮動電壓測試時，工作人員需頻繁切換負載、電壓測量裝置（如示波器）與對應的USB介面連接，增加人力成本的同時造成連接時USB介面被磨損。

有鑒於此，有必要提供一種連接治具，能夠驗證電子設備的多個介面是否合格。

本發明提供一種連接治具，與若干電壓測試裝置連接用於驗證若干待測介面是否合格，該連接治具包括：一負載模組，包括至少兩負載；若干與待測介面連接的輸入介面，其切換地與負載模組的至少兩個負載連接；若干與電壓測試裝置連接的輸出介面，其切換地連接至對應的輸入介面上；所述選擇模組，其用於切換若干輸入介面與負載模組的至少兩負載連接，並切換若干輸出介面與對應的輸入介面連接；及一控制模組，其用於控制上述選擇模組切換切換上述連接。

本發明提供的連接治具，僅需將該連接治具與待測介面和電壓測試裝置連接後，便能夠驗證電子設備的多個介面是否合格。

參考圖1，該連接治具1包括與若干待測介面2對應連接的若干輸入介面11、與若干電壓測試裝置3對應連接的若干輸出介面12、包括至少兩負載的負載模組13、一選擇模組14及一控制模組15。所述若干輸入介面11分別與負載模組13的至少兩負載連接。所述若干輸出介面12對應連接至需測試電壓的輸入介面11上。所述選擇模組14用於切換若干輸入介面11與負載模組13的至少兩負載之間的連接、以及若干輸出介面12與對應的輸入介面11之間的連接。所述控制模組15用於控制上述選擇模組14切換上述連接。

具體請參考圖2，所示實施方式的連接治具1用於測量其一待測介面2熱插拔時，其他待測介面2的浮動電壓。連接治具1a包括若干輸入介面11、若干輸出介面12、具有第一負載131、第二負載132及第三負載133的負載模組13、一選擇模組14及一控制模組15。在本實施方式當中，待測介面2為通用串列匯流排（USB）介面。該第一負載131為高阻值電阻，當待測介面2與該第一負載131連接時，流過負載的電流近似為0mA，可視為負載拔出該待測介面2的狀況，即待測介面2未連接負載的情況。當第二負載132或第三負載133與待測介面連接時，流過第二負載132或第三負載133的通電電流分別為100mA以及500mA，可視為該負載插入該待測介面2的狀況，即待測介面2連接有正常負載的情況。

具體測試時，選擇模組14將其一輸入介面11與第三負載133連接，其他輸入介面11與第二負載132連接，同時輸出介面12分別連接至與第三負載133連接的輸入介面11上。所述控制模組15控制選擇模組14將與第三負載133連接的輸入介面11切換至與第一負載131連接，此時若干電壓測試裝置3能夠分別偵測到該待測介面2熱插拔時其他待測介面2的浮動電壓值。

相應地，控制模組15控制上述選擇模組14切換其他輸入介面11分別與第一負載131、第二負載132、第三負載133對應連接，並切換若干輸出介面12連接至對應的輸入介面11上，進而進行其他待測介面2的浮動電壓測試。

具體參考圖3，示意出在另一實施方式中，所述連接治具1b用於測量若干待測介面2熱插拔時的其自身的電壓降。連接治具1包括分別對應連接若干待測介面2的若干輸入介面11、與電壓測試裝置3連接的一輸出介面12、具有第一負載131及第二負載132的負載模組13、一選擇模組14及一控制模組15。在本實施方式當中，待測介面2為通用串列匯流排（USB）介面，對應連接第一負載131時的通電電流為0mA，連接第二負載132時的通電電流為500mA。

具體測試時，將連接治具1b的輸入介面11分別與待測介面2連接，輸出介面12與電壓測試裝置3連接。控制模組15控制選擇模組14將其一輸入介面11同時連接第二負載132和輸出介面12後，所述控制模組15接著控制選擇模組14將該與待測介面連接的輸入介面11切換至與第一負載131連接，此時電壓測試裝置3能夠測量與該輸入介面11對應的待測介面2在熱插拔時的其自身電壓降。控制模組15相應控制上述選擇模組14切換其他輸入介面11與第二負載132和輸出介面12的連接，進而測量其他待測介面2在熱插拔時其自身的電壓降。

儘管對本發明的優選實施方式進行了說明和描述，但是本領域的技術人員將領悟到，可以作出各種不同的變化和改進，這些都不超出本發明的真正範圍。因此期望，本發明並不局限於所公開的作為實現本發明所設想的最佳模式的具體實施方式，本發明包括的所有實施方式都有所附權利要求書的保護範圍內。

1、1a、1b．．．連接治具

11．．．輸入介面

12．．．輸出介面

13．．．負載模組

131．．．第一負載

132．．．第二負載

133．．．第三負載

14．．．選擇模組

15．．．控制模組

2．．．待測介面

3．．．電壓測試裝置

圖1係本發明一較佳實施方式連接治具的模組圖。

圖2係圖1所示連接治具應用於浮動電壓測試具體連接圖。

圖3係圖1所示連接治具應用於壓降測試的具體連接圖。

1．．．連接治具

11．．．輸入介面

12．．．輸出介面

13．．．負載模組

14．．．選擇模組

15．．．控制模組

2．．．待測介面

3．．．電壓測試裝置

Claims (6)

1. 一種連接治具，與若干電壓測試裝置連接用於測試待測介面的電壓，該連接治具包括：
   一負載模組，包括至少兩負載；
   若干與待測介面連接的輸入介面，其切換地與負載模組的至少兩個負載連接；
   若干與電壓測試裝置連接的輸出介面，其切換地連接至對應的輸入介面上；
   所述選擇模組，其用於切換若干輸入介面與負載模組的至少兩負載連接，並切換若干輸出介面與對應的輸入介面連接；及
   一控制模組，其用於控制所述選擇模組切換切換若干輸入介面與負載模組的至少兩負載之間的連接及若干輸出介面與對應的輸入介面之間的連接。
2. 如申請專利範圍第1項所述之連接治具，其中：所述待測介面為通用串列匯流排界面，所述負載模組包括高阻抗的第一負載、第二負載及第三負載，所述選擇模組將其一輸入介面與第三負載連接，其他輸入介面與第二負載連接，同時輸出介面連接至與第二負載連接的輸入介面後，所述控制模組控制選擇模組將與第二負載連接的輸入介面切換至與第一負載連接，用於測試該待測介面在熱插拔時其他待測介面的浮動電壓值。
3. 如申請專利範圍第2項所述之連接治具，其中：所述第二負載連接輸入介面時的通電電流為500mA。
4. 如申請專利範圍第2項所述之連接治具，其中：所述第三負載連接輸入介面時的通電電流為100mA。
5. 如申請專利範圍第1項所述之連接治具，其中：所述待測介面為通用串列匯流排界面，所述負載模組包括通電電流為高阻抗的的第一負載、第二負載，所述選擇模組將其一輸入介面同時與第二負載和第二輸出介面連接，所述控制模組控制選擇模組將與第二負載連接的輸入介面切換至與第一負載連接，用於測試該待測介面在熱插拔時的其自身的電壓降。
6. 如申請專利範圍第5項所述之，其中：所述第二負載連接輸入介面時的通電電流為500mA。