TWI445974B - 複合功能接口測試系統及方法 - Google Patents

Description

複合功能接口測試系統及方法

本發明是有關於一種複合功能接口測試系統與方法。

現代電子產品通常提供多個複合功能接口，如外部串列ATA(external serial ATA，E-SATA)接口或是通用串列匯流排(universal serial bus，USB)3.0接口等。生產廠商必須做重複性的插拔並用不同的裝置進行複合功能的驗證。以E-SATA接口而言，廠商必須驗證USB及SATA的功能；以USB 3.0接口而言，廠商必須驗證USB 2.0及USB 3.0的功能。現有的驗證流程繁雜且不具效率。

本揭露是有關於一種複合功能接口測試系統與方法，可以有效地驗證複合功能接口的功能。

根據本揭露之第一方面，提出一種複合功能接口測試系統，包括一待測裝置以及一測試裝置。待測裝置安裝有一測試軟體並包括一待測接口，待測接口包括一第一組腳位與一第二組腳位。測試裝置包括一連接器、一切換模組、一儲存模組及一控制單元。連接器包括一第三組腳位與一第四組腳位，第三組腳位與第一組腳位屬於一第一通信標準，第四組腳位與第二組腳位屬於一第二通信標準。切換模組用以切換第三組腳位與第四組腳位。儲存模組耦接至切換模組。控制單元用以當連接器連接至待測接口時 控制切換模組，使得待測接口透過第一組腳位與第三組腳位、或第二組腳位與第四組腳位電性連接至切換模組與儲存模組以進行測試。

根據本揭露之第二方面，提出一種複合功能接口測試方法，應用於一待測裝置以及一測試裝置。待測裝置安裝有一測試軟體並包括一待測接口，待測接口包括一第一組腳位與一第二組腳位。測試裝置包括一連接器、一切換模組、一儲存模組及一控制單元。複合功能接口測試方法包括下列步驟。當連接器連接至待測接口時，利用控制單元控制切換模組切換連接器之一第三組腳位或一第四組腳位，第三組腳位與第一組腳位屬於一第一通信標準，第四組腳位與第二組腳位屬於一第二通信標準。利用待測接口透過第一組腳位與第三組腳位、或第二組腳位與第四組腳位電性連接至切換模組以測試儲存模組。

為了對本揭露之上述及其他方面有更佳的瞭解，下文特舉一實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

本揭露所提出之複合功能接口測試系統與方法，利用切換模組在不同通信標準的腳位間切換，可以有效地驗證複合功能接口的功能，並節省測試成本。

請參照第1圖，其繪示依照一實施範例之複合功能接口測試系統之示意圖。複合功能接口測試系統10包括一待測裝置100以及一測試裝置200。待測裝置100安裝有一測試軟體並包括多個待測接口110_1~110_n。每一個待 測接口110_1~110_n包括一第一組腳位與一第二組腳位。測試裝置200包括多個連接器210_1~210_n、多個切換模組220_1~220_n、一儲存模組230、一控制單元240以及一切換單元250。每一個連接器210_1~210_n包括一第三組腳位與一第四組腳位，第三組腳位與第一組腳位屬於一第一通信標準，第四組腳位與第二組腳位屬於一第二通信標準。

每一個切換模組220_1~220_n包括一切換器1與一切換器2，用來切換第三組腳位與第四組腳位連接至對應的連接器210_1~210_n。儲存模組230透過切換單元250耦接至該些切換模組220_1~220_n。切換單元250實質上用來控制進行測試的順序，例如依序測試多個待測接口110_1~110_n，或是同時測試多個待測接口110_1~110_n。當連接器210_1~210_n連接至待測接口110_1~110_n時，待測裝置100之測試軟體透過控制單元240控制該些切換模組220_1~220_n，使得待測接口110_1~110_n透過第一組腳位與第三組腳位、或第二組腳位與第四組腳位電性連接至對應的切換模組220_1~220_n、切換單元250與儲存模組230以進行測試。控制單元240可為測試裝置200之一獨立元件，亦可以由多個連接器之一實現其功能，並不做限制。

接下來茲舉第一通信標準為通用串列埠匯流排(universal serial bus，USB)2.0通信標準，第二通信標準為USB 3.0通信標準為例進行說明，但並不限於此。在此實施範例中，待測接口110_1~110_n與連接器210_1~210_n 實質上均為USB 3.0連接器，如第2圖所示，其分別包括屬於USB 2.0通信標準的第一組腳位與第三組腳位(VBUS、D-、D+及GND)，與屬於USB 3.0通信標準的第二組腳位與第四組腳位(SSRX-、SSRX+、SSTX-、SSTX+及GND)。其中，腳位VBUS為匯流排電壓腳位。儲存模組230例如包括一串列ATA(SATA)硬碟及一USB轉SATA控制器，以供讀寫/傳輸測試。

請參照第3A圖及第3B圖，其繪示依照一實施範例之複合功能接口測試方法之流程圖。在第3A圖及第3B圖中茲以切換單元250連接切換模組220_1與連接器210_1至儲存模組230為例進行說明。於步驟S300中，利用一纜線將連接器210_1連接至待測接口110_1，該纜線例如為一USB 3.0纜線。此時，待測接口110_1的第一組腳位對接連接器210_1的第三組腳位，待測接口110_1的第二組腳位對接連接器210_1的第四組腳位。於步驟S310中，利用待測裝置100透過待測接口110_1與連接器210_1中連接的匯流排電壓腳位VBUS供電給儲存模組230。

第3B圖中的步驟S320與S330實際上可以分開執行或接續執行，並不限定執行次序。於步驟S322中，利用控制器240控制切換模組220_1中的切換器1以切換連接器210_1的第三組腳位電性連接儲存模組230。於步驟S324中，待測裝置100之測試軟體判斷是否透過第一組腳位與第三組腳位偵測到儲存模組230。若未偵測到儲存模組230，則於步驟S340中，測試軟體判斷第一組接腳為接腳異常，亦即USB 2.0接腳異常。當偵測到儲存模組230， 於步驟S326中，測試軟體對儲存模組230進行讀寫/傳輸測試。於步驟S328中，測試軟體判斷讀寫/傳輸測試是否通過，其中傳輸測試即是判斷透過第一接腳的傳輸速率是否達到USB 2.0標準。當測試軟體判斷讀寫/傳輸測試失敗，則於步驟S350中，測試軟體判斷第一組接腳為功能異常，亦即USB 2.0功能異常。

於步驟S332中，利用控制器240控制切換模組220_1中的切換器2以切換連接器210_1的第四組腳位電性連接儲存模組230。於步驟S334中，測試軟體判斷是否透過第二組腳位與第四組腳位偵測到儲存模組230。若未偵測到儲存模組230，則於步驟S340中，測試軟體判斷第二組接腳為接腳異常，亦即USB 3.0接腳異常。當偵測到儲存模組230，於步驟S336中，測試軟體對儲存模組230進行讀寫/傳輸測試。於步驟S338中，測試軟體判斷讀寫/傳輸測試是否通過，其中傳輸測試即是判斷透過第一接腳的傳輸速率是否達到USB 3.0標準。當測試軟體判斷讀寫/傳輸測試失敗，則於步驟S350中，測試軟體判斷第二組接腳為功能異常，亦即USB 3.0功能異常。

當對應USB 2.0通信標準與USB 3.0通信標準的讀寫/傳輸測試都完成後，於步驟S360中，匯流排電壓腳位VBUS與儲存模組230的電性連接被斷開。

在上述的第3A圖及第3B圖中茲以測試裝置200對待測接口110_1進行測試為例做說明。更進一步地，切換單元250可依序連接切換模組220_2~220_n至儲存模組230，以依序透過連接器210_2~210_n測試待測接口 110_2~110_n，直到所有的待測接口都被測試完畢。此外，當儲存模組230包括多個SATA硬碟時，切換單元250更可同時連接該些切換模組220_1~220_n至儲存模組230，以同時透過連接器210_1~210_n測試所有的待測接口110_1~110_n。

本揭露上述實施例所揭露之複合功能接口測試系統與方法，利用測試裝置的切換模組在連接器的不同通信標準的腳位間切換，不需做重複性的插拔亦不需不同的測試裝置，即可以有效地驗證待測裝置的待測接口的複合功能，並節省測試成本。

綜上所述，雖然本發明已以多個實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

10‧‧‧複合功能接口測試系統

100‧‧‧待測裝置

110_1~110_n‧‧‧待測接口

200‧‧‧測試裝置

210_1~210_n‧‧‧連接器

220_1~220_n‧‧‧切換模組

230‧‧‧儲存模組

240‧‧‧控制單元

250‧‧‧切換單元

第1圖繪示依照一實施範例之複合功能接口測試系統之示意圖。

第2圖繪示依照一實施範例之待測接口/連接器之腳位示意圖。

第3A圖及第3B圖繪示依照一實施範例之複合功能接口測試方法之流程圖。

10‧‧‧複合功能接口測試系統

100‧‧‧待測裝置

110_1~110_n‧‧‧待測接口

200‧‧‧測試裝置

210_1~210_n‧‧‧連接器

220_1~220_n‧‧‧切換模組

230‧‧‧儲存模組

240‧‧‧控制單元

250‧‧‧切換單元

Claims (12)

1. 一種複合功能接口測試系統，包括：一待測裝置，安裝有一測試軟體並包括一待測接口，該待測接口包括一第一組腳位與一第二組腳位；以及一測試裝置，包括：一連接器，包括一第三組腳位與一第四組腳位，該第三組腳位與該第一組腳位屬於一第一通信標準，該第四組腳位與該第二組腳位屬於一第二通信標準；一切換模組，用以切換該第三組腳位與該第四組腳位；一儲存模組，耦接至該切換模組；及一控制單元，用以當該連接器連接至該待測接口時控制該切換模組，使得該待測接口透過該第一組腳位與該第三組腳位、或該第二組腳位與該第四組腳位電性連接至該切換模組與該儲存模組以進行測試。
2. 如申請專利範圍第1項所述之複合功能接口測試系統，其中該第一通信標準為通用串列埠匯流排(universal serial bus，USB)2.0通信標準，該第二通信標準為USB 3.0通信標準。
3. 如申請專利範圍第1項所述之複合功能接口測試系統，其中該第一組腳位包括一匯流排電壓腳位，該第三組腳位包括另一匯流排電壓腳位，且當該連接器連接至該待測接口時，該待測裝置透過電性連接之該匯流排電壓腳位與另該匯流排電壓腳位供電給該儲存模組。
4. 如申請專利範圍第3項所述之複合功能接口測試 系統，其中當該連接器透過一纜線連接至該待測接口時，該控制器控制該切換模組以切換該第三組腳位電性連接該儲存模組；當該測試軟體透過該第一組腳位與該第三組腳位未偵測到該儲存模組，該測試軟體判斷該第一組接腳為接腳異常；當該測試軟體偵測到該儲存模組，該測試軟體對該儲存模組進行讀寫/傳輸測試；當該測試軟體判斷該讀寫/傳輸測試失敗，該測試軟體判斷該第一組接腳為功能異常。
5. 如申請專利範圍第3項所述之複合功能接口測試系統，其中當該連接器透過一纜線連接至該待測接口時，該控制器控制該切換模組以切換該第四組腳位電性連接該儲存模組；當該測試軟體透過該第二組腳位與該第四組腳位未偵測到該儲存模組，該測試軟體判斷該第二組接腳為接腳異常；當該測試軟體偵測到該儲存模組，該測試軟體對該儲存模組進行讀寫/傳輸測試；當該測試軟體判斷該讀寫/傳輸測試失敗，該測試軟體判斷該第二組接腳為功能異常。
6. 如申請專利範圍第1項所述之複合功能接口測試系統，其中該待測裝置更包括多個該待測接口，該測試裝置更包括對應該些待測接口之多個該連接器、多個該切換模組與一切換單元，該切換單元連接於該些切換模組與該 儲存模組之間以切換該些切換模組至該儲存模組。
7. 一種複合功能接口測試方法，應用於一待測裝置以及一測試裝置，該待測裝置安裝有一測試軟體並包括一待測接口，待測接口包括一第一組腳位與一第二組腳位，該測試裝置包括一連接器、一切換模組、一儲存模組及一控制單元，該複合功能接口測試方法包括：當該連接器連接至該待測接口時，利用該控制單元控制該切換模組切換該連接器之一第三組腳位或一第四組腳位，該第三組腳位與該第一組腳位屬於一第一通信標準，該第四組腳位與該第二組腳位屬於一第二通信標準；以及利用該待測接口透過該第一組腳位與該第三組腳位、或該第二組腳位與該第四組腳位電性連接至該切換模組以測試該儲存模組。
8. 如申請專利範圍第7項所述之複合功能接口測試方法，其中該第一通信標準為通用串列埠匯流排(universal serial bus，USB)2.0通信標準，該第二通信標準為USB 3.0通信標準。
9. 如申請專利範圍第7項所述之複合功能接口測試方法，其中該第一組腳位包括一匯流排電壓腳位，該第三組腳位包括另一匯流排電壓腳位，該複合功能接口測試方法更包括：當該連接器連接至該待測接口時，利用該待測裝置透過電性連接之該匯流排電壓腳位與另該匯流排電壓腳位供電給該儲存模組。
10. 如申請專利範圍第9項所述之複合功能接口測試方法，更包括：利用一纜線將該連接器連接至該待測接口，並利用該控制器控制該切換模組以切換該第三組腳位電性連接該儲存模組；當該測試軟體透過該第一組腳位與該第三組腳位未偵測到該儲存模組，該測試軟體判斷該第一組接腳為接腳異常；當該測試軟體偵測到該儲存模組，該測試軟體對該儲存模組進行讀寫/傳輸測試；以及當該測試軟體判斷該讀寫/傳輸測試失敗，該測試軟體判斷該第一組接腳為功能異常。
11. 如申請專利範圍第9項所述之複合功能接口測試方法，更包括：利用一纜線將該連接器連接至該待測接口，並利用該控制器控制該切換模組以切換該第四組腳位電性連接該儲存模組；當該測試軟體透過該第二組腳位與該第四組腳位未偵測到該儲存模組，該測試軟體判斷該第二組接腳為接腳異常；當該測試軟體偵測到該儲存模組，該測試軟體對該儲存模組進行讀寫/傳輸測試；以及當該測試軟體判斷該讀寫/傳輸測試失敗，該測試軟體判斷該第二組接腳為功能異常。
12. 如申請專利範圍第9項所述之複合功能接口測試 方法，其中該待測裝置更包括多個該待測接口，該測試裝置更包括對應該些待測接口之多個該連接器、多個該切換模組與一切換單元，該複合功能接口測試方法更包括：利用該切換單元以切換該些切換模組至該儲存模組。