CN109490673A - 信号端口测试设备 - Google Patents

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Shanghai Smell Information Technology Co Ltd
Shanghai Wentai Information Technology Co Ltd
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere

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Abstract

本发明提供一种信号端口测试设备,包括控制模组与信号切换模组;所述控制模组包括通信单元与控制单元,所述控制模组通过所述通信单元与待测设备连通;所述信号切换模组包括多个信号芯片,每个信号芯片能够控制一种端口测试通道;所述控制单元与所述通信单元连通并发送指令至待测设备进而启动或者关闭待测设备一个端口的工作电源,所述控制单元与所述信号切换模组连通并通过切换至对应的信号芯片进而实现对所述待测设备对应端口的测试。本发明提供的信号端口测试设备,测试类目多且自动化程度高。

Description

信号端口测试设备
【技术领域】
本发明涉及电子设备测试领域,尤其涉及一种信号端口测试设备。
【背景技术】
由于科技的发展,许多常见的信号端口经常更新换代,以满足更大容量的信息传输。而且这些信号端口的协议都是向下兼容,使信号端口能够整合多种信号进而兼容多种设备。比如:USB(Universal Serial Bus,通用串行总线),常见的协议为USB2.0,USB3.x(包含USB3.0,USB3.1);常见的存储卡SD(Secure Digital Card,安全卡),SD协议主要有SD3.0,SD4.0。通常情况下,USB2.0通常只能兼容USB2.0及更低级版本(例如USB1.1),而USB3.X能够兼容包括USB3.X、USB2.0及及更低级版本;同样的,SD3.0仅能兼容SD3.0及更低级版本,SD4.0能够兼容包括SD4.0、SD3.0在内的更多版本。因此测试信号端口的时候,必须使用对应规格的测试设备。
固态硬盘使用的M.2端口,可以支持SATA(Serial Advanced TechnologyAttachment,串行高级技术)和PCIE(Peripheral Component Interconnect Express,外围设备互连)两种硬盘,针对不同的类型的硬盘需要不同的测试设备。
而使用多个规格的测试设备分别对同一待测设备的不同种类、不同版本的端口进行测试,就会造成动作的重复浪费。若需进行长时间的功能测试,一方面重复操作枯燥乏味,难免出现误操作且效率低小;另一方面反复插接端口也加大测试设备的损耗,继而影响测试。
鉴于此,实有必要提供一种新的测试类目多且自动化程度高的信号端口测试设备以克服上述缺陷。
【发明内容】
本发明的目的是提供一种测试类目多且自动化程度高的信号端口测试设备。
为了实现上述目的,本发明提供一种信号端口测试设备,包括控制模组与信号切换模组;所述控制模组包括通信单元与控制单元,所述控制模组通过所述通信单元与待测设备连通;所述信号切换模组包括多个信号芯片,每个信号芯片能够控制一种端口测试通道;所述控制单元与所述通信单元连通并发送指令至待测设备进而启动或者关闭待测设备一个端口的工作电源,所述控制单元与所述信号切换模组连通并通过切换至对应的信号芯片进而实现对所述待测设备对应端口的测试。
在一个优选实施方式中,所述通信单元是无线通信网络单元。
在一个优选实施方式中,所述通信单元与待测设备的连接通过数据线连通。
在一个优选实施方式中,所述待测设备包括多种端口,每种端口包括多种协议端口;每个信号芯片控制一个协议端口的测试通道。
在一个优选实施方式中,所述多种协议端口的测试顺序由所述控制单元设定。
在一个优选实施方式中,所述控制单元可通过所述通信模块同时开启各种端口的工作电源,并将所述信号切换模组同时切换至各种端口对应的多个信号芯片,进而实现对多种端口的同时测量。
在一个优选实施方式中,所述控制单元可通过所述通信模块按顺序逐个开启各种端口的工作电源,并将所述信号切换模组依次切换至对应的信号芯片,进而实现对每种端口的分别测量。
本发明提供的信号端口测试设备,通过将多个信号端口的测设通道一体化,使得信号端口测试设备能够同时测量多种类型的信号端口;另外通过控制单元分别与通信单元及信号切换模组连通,实现对信号端口的自动化测试。本发明提供的信号端口测试设备,测试类目多且自动化程度高。
【附图说明】
图1为本发明提供的信号端口测试设备的结构示意图。
图2为图1所示的信号端口测试设备相对待测设备原理的一个具体实施例。
【具体实施方式】
为了使本发明的目的、技术方案和有益技术效果更加清晰明白,以下结合附图和具体实施方式,对本发明进行进一步详细说明。应当理解的是,本说明书中描述的具体实施方式仅仅是为了解释本发明,并不是为了限定本发明。
请参照图1及图2,本发明提供一种信号端口测试设备100,用于测试待测设备200各种端口的性能。信号端口测试设备100包括控制模组10与信号切换模组20。控制模组10包括通信单元11与控制单元12,控制模组10通过通信单元11与待测设备200连通;信号切换模组20包括多个信号芯片21,每个信号芯片21能够控制一种端口测试通道,即每个芯片能够实现对一种端口的测试。控制单元12与通信单元11连通并发送指令至待测设备200进而启动或者关闭待测设备200一个端口的工作电源,控制单元12与信号切换模组20连通并通过切换对应的信号芯片21实现对测试设备200对应端口的测试。
本实施方式中,通信单元11是无线通信网络单元,例如WIFI、蓝牙。在其他实施方式中,通信单元11与待测设备200的连接也可以通过数据线连通。其中所述带测设备200可以为笔记本电脑、手机等整机,也可以为带端口的功能模块。所述信号端口测试设备100与测试待测设备200各种端口通过对应的数据线插接连接。
待测设备200包括多种端口,例如USB端口201、SD端口202及M.2端口203中的至少一类;每种端口包括多种协议端口,例如USB端口201为USB2.0协议或USB3.X协议中的一种,SD端口202为SD3.0协议或SD4.0协议中的一种,M.2端口203为SATA协议或PCIE协议中的一种。待测设备200的每种协议端口的测试对应一个特定的测试通道,也即每个信号芯片21控制一个协议端口的测试通道。
具体的,USB2.0协议的USB端口201对应一个信号芯片,USB3.X协议的USB端口201对应一个信号芯片,SD3.0协议的SD端口202对应一个信号芯片,SD4.0协议的SD端口202对应一个信号芯片,SATA协议的M.2端口对应一个信号芯片,PCIE协议的M.2端口对应一个信号芯片等。其中USB2.0协议或USB3.X协议的USB端口201的工作电压均为5V,SD3.0协议的SD端口202的工作电压为3.3V,SD4.0协议的SD端口202的工作电压为1.8V,SATA协议或PCIE协议的M.2端口203的工作电压均为3.3V。
具体的,以USB端口201为例,控制单元12一方面通过通信单元11启动待测设备200中USB端口201的5V的工作电源,另一方面将信号切换模组20切换至USB2.0协议的USB端口201对应的信号芯片21,进而实现对USB2.0协议的USB端口201的测试。由于USB2.0协议或USB3.X协议的USB端口201的工作电压均为5V,在不调整USB端口201的工作电源的情况下,将信号切换模组20切换至USB3.X协议的USB端口201对应的信号芯片21,进而实现对USB3.X协议的USB端口201的测试,若不能取得测试数据,则USB3.X协议的USB端口201有故障或不存在。当然,USB2.0协议的USB端口201与USB3.X协议的USB端口201的测试顺序并不是固定的,具体顺序可通过控制单元12设定。即多种协议端口的测试顺序由控制单元12设定。
同样的,控制单元12一方面通过通信单元11启动待测设备200中SD端口202的3.3V的工作电源(即SD3.0协议的SD端口202的工作电压),另一方面将信号切换模组20切换至SD3.0协议的SD端口202对应的信号芯片21,进而实现对SD3.0协议的SD端口202的测试。控制单元12一方面通过通信单元11启动待测设备200中SD端口202的1.8V的工作电源(即SD4.0协议的SD端口202的工作电压),另一方面将信号切换模组20切换至SD4.0协议的SD端口202对应的信号芯片21,进而实现对SD4.0协议的SD端口202的测试,若不能取得测试数据,则SD4.0协议的SD端口202有故障或不存在。当然,SD3.0协议的SD端口202与SD4.0协议的SD端口202的测试顺序并不是固定的,具体顺序可通过控制单元12设定。
控制单元12一方面通过通信单元11启动待测设备200中M.2端口203的3.3V的工作电源,另一方面将信号切换模组20切换至SATA协议的M.2端口203对应的信号芯片21,进而实现对SATA协议的M.2端口203的测试,若不能取得测试数据,则SATA协议的M.2端口203有故障或不存在。由SATA协议或PCIE协议的M.2端口203的工作电压均为3.3V,在不调整M.2端口203的工作电源的情况下,将信号切换模组20切换至PCIE协议的M.2端口203对应的信号芯片21,进而实现对PCIE协议的M.2端口203的测试,若不能取得测试数据,则PCIE协议的M.2端口203有故障或不存在。当然,SATA协议的M.2端口203与PCIE协议的M.2端口203的测试顺序并不是固定的,具体顺序可通过控制单元12设定。
本实施例中,由于各种端口(例如USB端口201、SD端口202与M.2端口203)互相独立且互不影响,控制单元12可通过通信模块11同时开启各种端口的工作电源,并将信号切换模组20同时切换至各种端口对应的多个信号芯片21,进而实现对多种端口的同时测量,节省测试时间,提高工作效率。
在其他实施例中,控制单元12可通过通信模块11按顺序逐个开启各种端口的工作电源,并将信号切换模组20依次切换至对应的信号芯片21,进而实现对每种端口的测量。这种方法操作稳妥,测量精确。
本发明提供能的信号端口测试设备100,通过将多个信号端口的测设通道一体化,使得信号端口测试设备100能够同时测量多种类型的信号端口;另外通过控制单元12分别与通信单元11及信号切换模组20连通,实现对信号端口测试的自动化。本发明提供的信号端口测试设备100,测试类目多且自动化程度高。
本发明并不仅仅限于说明书和实施方式中所描述,因此对于熟悉领域的人员而言可容易地实现另外的优点和修改,故在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念的精神和范围的情况下,本发明并不限于特定的细节、代表性的设备和这里示出与描述的图示示例。

Claims (7)

1.一种信号端口测试设备,其特征在于:包括控制模组与信号切换模组;所述控制模组包括通信单元与控制单元,所述控制模组通过所述通信单元与待测设备连通;所述信号切换模组包括多个信号芯片,每个信号芯片能够控制一种端口测试通道;所述控制单元与所述通信单元连通并发送指令至待测设备进而启动或者关闭待测设备一个端口的工作电源,所述控制单元与所述信号切换模组连通并通过切换至对应的信号芯片进而实现对所述待测设备对应端口的测试。
2.如权利要求1所述的信号端口测试设备,其特征在于:所述通信单元是无线通信网络单元。
3.如权利要求1所述的信号端口测试设备,其特征在于:所述通信单元与待测设备的连接通过数据线连通。
4.如权利要求1所述的信号端口测试设备,其特征在于:所述待测设备包括多种端口,每种端口包括多种协议端口;每个信号芯片控制一个协议端口的测试通道。
5.如权利要求4所述的信号端口测试设备,其特征在于:所述多种协议端口的测试顺序由所述控制单元设定。
6.如权利要求1所述的信号端口测试设备,其特征在于:所述控制单元可通过所述通信模块同时开启各种端口的工作电源,并将所述信号切换模组同时切换至各种端口对应的多个信号芯片,进而实现对多种端口的同时测量。
7.如权利要求1所述的信号端口测试设备,其特征在于:所述控制单元可通过所述通信模块按顺序逐个开启各种端口的工作电源,并将所述信号切换模组依次切换至对应的信号芯片,进而实现对每种端口的分别测量。
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