CN211062033U - 测试转接器以及测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例公开了一种测试转接器以及测试设备，包括：至少一个信号切换芯片；每个所述信号切换芯片包括第一输入引脚、第二输入引脚、选择切换引脚和输出引脚；每个所述信号切换芯片的所述第一输入引脚连接一输入接口公头；每个所述信号切换芯片的所述第二输入引脚连接一输入接口母头；每个所述信号切换芯片的所述输出引脚连接一输出接口母头；每个所述信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第一电平信号，将所述第一输入引脚与所述输出引脚之间的通道导通；每个所述信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第二电平信号，将所述第二输入引脚与所述输出引脚之间的通道导通。可以方便切换主机以及外设模组和测试器之间的插接，进行信号的测量。

Description

测试转接器以及测试设备

技术领域

本实用新型实施例涉及数据接口技术领域，尤其涉及一种测试转接器以及测试设备。

背景技术

某些通用接口可以支持多种协议，可以传输USB信号以及PCIE信号等。例如使用M.2接口的设备有SSD固态硬盘、5G模组以及主板等。在元器件出厂前一般需要通过M.2接口进行信号测试，以保证出厂良率。

但是SSD固态硬盘、5G模组等外设设备使用的是接口公头，而主板上使用的是接口母头。信号测试设备一般备有接口的公头。在测量主板时，测试设备的接口公头与主板的接口母头插接，实现信号传输以进行信号测试。但在测试SSD固态硬盘、5G模组等外设设备时，就需要重新焊接线路。重新焊接线路进行测量还会导致测量过程中的阻抗无法保证，影响测量准确性。

实用新型内容

本实用新型提供一种测试转接器以及测试设备，以实现方便对主板以及各种外设模组的信号测试。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种测试转接器，包括：至少一个信号切换芯片；

每个所述信号切换芯片包括第一输入引脚、第二输入引脚、选择切换引脚和输出引脚；

每个所述信号切换芯片的所述第一输入引脚连接一输入接口公头；

每个所述信号切换芯片的所述第二输入引脚连接一输入接口母头；

每个所述信号切换芯片的所述输出引脚连接一输出接口母头；

每个所述信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第一电平信号，将所述第一输入引脚与所述输出引脚之间的通道导通；每个所述信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第二电平信号，将所述第二输入引脚与所述输出引脚之间的通道导通。

进一步的，所述测试转接器包括多个所述信号切换芯片；各所述信号切换芯片的所述第一输入引脚与所述输出引脚之间以及所述第二输入引脚与所述输出引脚之间的通道类型不同。

进一步的，所述测试转接器包括包括：第一信号切换芯片、第二信号切换芯片；第一输入接口公头、第二输入接口公头、第一输入接口母头、第二输入接口母头、第一输出接口母头和第二输出接口母头；

所述第一信号切换芯片的所述第一输入引脚与所述第一输入接口公头连接；所述第一信号切换芯片的所述第二输入引脚与所述第一输入接口母头连接；所述第一信号切换芯片的所述输出引脚与所述第一输出接口母头连接；

所述第二信号切换芯片的所述第一输入引脚与所述第二输入接口公头连接；所述第二信号切换芯片的所述第二输入引脚与所述第二输入接口母头连接；所述第二信号切换芯片的所述输出引脚与所述第二输出接口母头连接；

所述第一信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第一电平信号，将第一信号切换芯片的所述第一输入引脚与所述输出引脚之间的PCIE信号通道导通；所述第一信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第二电平信号，将所述第一信号切换芯片的所述第二输入引脚与所述输出引脚之间的PCIE信号通道导通；

所述第二信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第一电平信号，将第二信号切换芯片的所述第一输入引脚与所述输出引脚之间的USB信号通道导通；所述第二信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第二电平信号，将所述第二信号切换芯片的所述第二输入引脚与所述输出引脚之间的USB信号通道导通。

进一步的，所述测试转接器还包括电源模块以及至少一个开关单元；所述开关单元与所述信号切换芯片一一对应设置；

每个所述开关单元的第一端与所述电源模块连接；所述开关单元的第二端分别与下拉电阻的第一端以及一一对应的所述信号切换芯片的所述选择切换引脚连接；所述下拉电阻的第二段接地。

进一步的，所述测试转接器还包括至少一个上拉电阻；所述上拉电阻与所述开关单元一一对应设置；所述开关单元的第一端通过一一对应的所述上拉电阻与所述电源模块连接。

进一步的，所述测试转接器还包括控制模块；所述控制模块与各所述信号切换芯片的所述选择切换引脚连接；所述控制模块用于向所述信号切换芯片的所述选择切换引脚提供第一电平信号或第二电平信号。

进一步的，所述输入接口公头、输入接口母头以及输出接口母头的接口类型为M.2接口。

进一步的，所述第一电平信号为高电平；所述第二电平信号为低电平。

第二方面，本实用新型实施例提供了一种测试设备，包括测试器和第一方面所述的测试转接器；

所述测试器包括输入接口公头；所述测试转接器的输出接口母头与所述测试器的输入接口公头连接。

进一步的，所述测试器包括示波器。

本实用新型实施例提供的测试转接器，可以通过信号切换芯片选择通过输入接口公头接受主机发送的信号，或者选择通过输入接口母头接受外设模组发送的信号。本实用新型实施例提供的测试转接器可以方便切换主机以及外设模组和测试器之间的插接，进行信号的测量。

附图说明

图1为本实用新型一个实施例提供的一种测试转接器的结构示意图；

图2为本实用新型另一实施例提供的一种测试转接器的结构示意图；

图3为本实用新型另一实施例提供的一种测试转接器的结构示意图；

图4为本实用新型另一实施例提供的一种测试转接器的结构示意图；

图5为本实用新型另一实施例提供的一种测试转接器的结构示意图；

图6为本实用新型另一实施例提供的一种测试设备的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

在一个实施例中，本实用新型提供一种测试转接器，图1为本实用新型一个实施例提供的一种测试转接器的结构示意图。如图1所示，本实用新型实施例提供的测试转接器包括：至少一个信号切换芯片10(图1中示例性的设置一个信号切换芯片)。其中，每个信号切换芯片10包括第一输入引脚101、第二输入引脚102、选择切换引脚103和输出引脚104。

每个信号切换芯片10的第一输入引脚101连接一输入接口公头20；每个信号切换芯片10的第二输入引脚102连接一输入接口母头30；每个信号切换芯片10的输出引脚104连接一输出接口母头40。

每个信号切换芯片10的选择切换引脚103受控于第一电平信号，将第一输入引脚101与输出引脚104之间的通道导通；每个信号切换芯片10的选择切换引脚103受控于第二电平信号，将第二输入引脚102与输出引脚104之间的通道导通。

当信号切换芯片10的选择切换引脚103接收到第一电平信号时，第一输入引脚101与输出引脚104之间的通道导通；由于第一输入引脚101与输入接口公头20连接，因此此时主板的接口母头可以通过输入接口公头20插接，信号切换芯片10的输出接口母头40与测试器的公头插接，从而可以实现对主板信号的测量。

当信号切换芯片10的选择切换引脚103接收到第二电平信号时，第二输入引脚102与输出引脚104之间的通道导通；由于第二输入引脚102与输入接口母头30连接，因此此时外设模组，例如SSD固态硬盘、5G模组等的接口公头可以通过输入接口母头30插接，信号切换芯片10的输出接口母头40与测试器的公头插接，从而可以实现对外设模组信号的测量。

本实用新型实施例通过信号切换芯片选择与输入接口公头连接的第一输入引脚和输出引脚之间的通道导通，或者与输入接口母公头连接的第二输入引脚和输出引脚之间的通道导通，从而实现了方便切换主机以及外设模组和测试器之间的插接的效果。

需要说明的是，本实用新型提供的测试转接器可以多个信号切换芯片。图1示例性的设置测试转接器包括一个信号切换芯片。若测试转接器包括多个信号切换芯片，可以设置各信号切换芯片的第一输入引脚与输出引脚之间以及第二输入引脚与输出引脚之间的通道类型不同，从可以实现各信号切换芯片对不同通信协议类型信号的传输。

图2为本实用新型另一实施例提供的一种测试转接器的结构示意图。如图2所示，测试转接器包括两个信号切换芯片，分别为第一信号切换芯片11和第二信号切换芯片12。还包括第一输入接口公头21、第二输入接口公头22、第一输入接口母头31、第二输入接口母头32、第一输出接口母头41和第二输出接口母头42。

第一信号切换芯片11的第一输入引脚101与第一输入接口公头21连接；第一信号切换芯片11的第二输入引脚102与第一输入接口母头31连接；第一信号切换芯片11的输出引脚104与第一输出接口母头41连接。主板的接口母头可以与第一输入接口公头21实现插接，从而可以实现与第一信号切换芯片11的电连接。外设模组的接口公头可以与第一输入接口母头31实现插接，从而可以实现与第一信号切换芯片11的电连接。

第一信号切换芯片11的选择切换引脚103受控于第一电平信号，将第一信号切换芯片11的第一输入引脚101与输出引脚104之间的PCIE信号通道导通；第一信号切换芯片11的选择切换引脚103受控于第二电平信号，将第一信号切换芯片11的第二输入引脚102与104输出引脚之间的PCIE信号通道导通。本实用新型提供的测试转接器，其中的第一信号切换芯片可以实现对主板接口以及外设模组接口PCIE信号的切换量测。

参见图2，本实用新型实施例提供的测试转接器，其第二信号切换芯片12的第一输入引脚101与第二输入接口公头22连接；第二信号切换芯片12的第二输入引脚102与第二输入接口母头32连接；第二信号切换芯片12的输出引脚104与第二输出接口母头42连接；主板的接口母头可以与第二输入接口公头22实现插接，从而可以实现与第二信号切换芯片12的电连接。外设模组的接口公头可以与第二输入接口母头32实现插接，从而可以实现与第二信号切换芯片12的电连接。

第二信号切换芯片12的选择切换引脚103受控于第一电平信号，将第二信号切换芯片12的第一输入引脚101与输出引脚104之间的USB信号通道导通；第二信号切换芯片12的选择切换引脚103受控于第二电平信号，将第二信号切换芯片12的第二输入引脚102与输出引脚104之间的USB信号通道导通。本实用新型提供的测试转接器，其中的第二信号切换芯片可以实现对主板接口以及外设模组接口USB信号的切换量测。

在上述各实施例的基础上，可选的，本实用新型还提供了为信号切换芯片提供第一电平信号或者第二电平信号的具体实现方式。可选的，本实用新型实施例提供的测试转接器还包括电源模块以及至少一个开关单元；开关单元与信号切换芯片一一对应设置；每个开关单元的第一端与电源模块连接；开关单元的第二端分别与下拉电阻的第一端以及一一对应的信号切换芯片的选择切换引脚连接；下拉电阻的第二端接地。

图3以测试转接器包括两个信号切换芯片为例进行说明，而非对信号切换芯片数量的限定。参见图3，本实用新型实施例还包括电源模块50以及两个开关单元，分别为第一开关单元J1和第二开关单元J2；第一开关单元J1与第一信号切换芯片11一一对应设置，第二开关单元J2与第二信号切换芯片12一一对应设置。

第一开关单元J1的第一端与电源模块50连接，第一开关单元J1的第二端分别与下拉电阻R1的第一端以及第一信号切换芯片11的选择切换引脚103连接；下拉电阻R1的第二端接地。第二开关单元J2的第一端与电源模块50连接，第二开关单元J2的第二端分别与下拉电阻R2的第一端以及第二信号切换芯片12的选择切换引脚103连接；下拉电阻R2的第二端接地。

第一开关单元J1闭合时，第一信号切换芯片11的选择切换引脚103接收高电平，第一信号切换芯片11将第一输入引脚101与输出引脚104之间的通道导通。此时，主板的接口母头可以与第一输入接口公头21插接，主板的接口发出的PCIE信号可以依次经第一输入接口公头21、第一信号切换芯片11的第一输入引脚101、第一信号切换芯片11的输出引脚104、传输至第一输出接口母头41，第一输出接口母头41与测试器的接口公头插接后，即可实现对主板接口信号的测量。

第一开关单元J1断开时，第一信号切换芯片11的选择切换引脚103接收低电平，第一信号切换芯片11将第二输入引脚102与输出引脚104之间的通道导通。此时，外设模组的接口公头可以与第一输入接口母头31插接，外设模组的接口发出的PCIE信号可以依次经第一输入接口母头31、第一信号切换芯片11的第二输入引脚102、第一信号切换芯片11的输出引脚104、传输至第一输出接口母头41，第一输出接口母头41与测试器的接口公头插接后，即可实现对外设模组接口信号的测量。

当第二开关单元J2闭合时，第二信号切换芯片12的选择切换引脚103接收高电平，第二信号切换芯片12将第一输入引脚101与输出引脚104之间的通道导通。此时，主板的接口母头可以与第二输入接口公头22插接，主板的接口发出的USB信号可以依次经第二输入接口公头22、第二信号切换芯片12的第一输入引脚101、第二信号切换芯片12的输出引脚104、传输至第二输出接口母头42，第二输出接口母头42与测试器的接口公头插接后，即可实现对主板接口信号的测量。

当第二开光单元J2断开时，第二信号切换芯片12的选择切换引脚103接收低电平，第二信号切换芯片12将第二输入引脚102与输出引脚104之间的通道导通。此时，外设模组的接口公头可以与第二输入接口母头32插接，外设模组的接口发出的USB信号可以依次经第二输入接口母头32、第二信号切换芯片12的第二输入引脚102、第二信号切换芯片12的输出引脚104、传输至第二输出接口母头42，第二输出接口母头42与测试器的接口公头插接后，即可实现对外设模组接口信号的测量。

图4为本实用新型另一实施例提供的一种测试转接器的结构示意图。如图4所示，还包括至少一个上拉电阻；上拉电阻与开关单元一一对应设置；开关单元的第一端通过一一对应的上拉电阻与电源模块连接。图4示例性的设置2个开关单元，2个信号切换芯片以及2个上拉电阻。2个上拉电阻分别为第一上拉电阻R3和第二上拉电阻R4。第一上拉电阻R3与第一开关单元J1一一对应设置，第二上拉电阻R4与第二开关单元J2一一对应设置，第一开关单元J1的第一端通过第一上拉电阻R3与电源模块50连接，第二开关单元J2的第一端通过第二上拉电阻R4与电源模块50连接。第一上拉电阻R3以及第二上拉电阻R4的设置可以起到限流的作用。

本实用新型实施例还提供了又一种为信号切换芯片提供第一电平信号或者第二电平信号的具体实现方式。如图5所示，图5示例性的设置两个信号切换芯片，而并非对本实用新型的限定。参见图5，还包括控制模60；控制模块60与各信号切换芯片(图5中的第一信号切换芯片11以及第二信号切换芯片12)的选择切换引脚103连接。控制模块60用于向信号切换芯片(图5中的第一信号切换芯片11以及第二信号切换芯片12)的选择切换引脚103提供第一电平信号或第二电平信号。

本实用新型实施例通过控制模块60实现向各信号切换芯片提供第一电平信号或者第二电平信号。本实施例中的控制模块例如可以是微控制器或单片机等元器件。

需要说明的是，上述各实施例中的输入接口公头、输入接口母头以及输出接口母头的接口类型优选的可以是M.2接口。

M.2接口是一种兼容性十分广泛的微型接口，M.2接口可以兼容多种通信协议，如sata、PCIe、USB、HSIC、UART、SMBus等。M.2接口是一种替代MSATA新的接口规范，与MSATA相比，M.2不但有信号传输速度快的优势，还具有体积小的优势。

在上述各个实施例的基础上，可以设置第一电平信号为高电平；第二电平信号为低电平。

本实用新型实施例还提供一种测试设备，包括上述任一实施例的测试转接器。此外还包括测试器。测试器包括输入接口公头；测试转接器的输出接口母头与测试器的输入接口公头连接，从而可以实现测试器通过测试转接器对主板接口信号或者外设模组接口信号的测量。

图6为本实用新型实施例提供的一种测试设备的结构示意图。参见图6，本实用新型实施例提供的测试设备包括：测试器70和上述任一实施例的测试转接器100；

测试器70包括输入接口公头71；测试转接器100的输出接口母头(图6中的第一输出接口母头41和第二输出接口母头42)与测试器70的输入接口公头71连接。

本实用新型实施例通过测试转接器中的信号切换芯片选择与输入接口公头连接的第一输入引脚和输出引脚之间的通道导通，或者与输入接口母公头连接的第二输入引脚和输出引脚之间的通道导通，从而实现了方便切换主机以及外设模组和测试器之间的插接的效果。

可选的，本实施例中测试器例如可以包括示波器。

可选的，测试转接器的输入接口公头、输入接口母头、输出接口母头以及测试器的输入接口公头的接口类型例如可以均为M.2接口。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种测试转接器，其特征在于，包括：至少一个信号切换芯片；

每个所述信号切换芯片包括第一输入引脚、第二输入引脚、选择切换引脚和输出引脚；

每个所述信号切换芯片的所述第一输入引脚连接一输入接口公头；

每个所述信号切换芯片的所述第二输入引脚连接一输入接口母头；

每个所述信号切换芯片的所述输出引脚连接一输出接口母头；

每个所述信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第一电平信号，将所述第一输入引脚与所述输出引脚之间的通道导通；每个所述信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第二电平信号，将所述第二输入引脚与所述输出引脚之间的通道导通。

2.根据权利要求1所述的测试转接器，其特征在于，包括多个所述信号切换芯片；各所述信号切换芯片的所述第一输入引脚与所述输出引脚之间以及所述第二输入引脚与所述输出引脚之间的通道类型不同。

3.根据权利要求2所述的测试转接器，其特征在于，包括：第一信号切换芯片、第二信号切换芯片；第一输入接口公头、第二输入接口公头、第一输入接口母头、第二输入接口母头、第一输出接口母头和第二输出接口母头；

所述第一信号切换芯片的所述第一输入引脚与所述第一输入接口公头连接；所述第一信号切换芯片的所述第二输入引脚与所述第一输入接口母头连接；所述第一信号切换芯片的所述输出引脚与所述第一输出接口母头连接；

所述第二信号切换芯片的所述第一输入引脚与所述第二输入接口公头连接；所述第二信号切换芯片的所述第二输入引脚与所述第二输入接口母头连接；所述第二信号切换芯片的所述输出引脚与所述第二输出接口母头连接；

所述第一信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第一电平信号，将第一信号切换芯片的所述第一输入引脚与所述输出引脚之间的PCIE信号通道导通；所述第一信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第二电平信号，将所述第一信号切换芯片的所述第二输入引脚与所述输出引脚之间的PCIE信号通道导通；

所述第二信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第一电平信号，将第二信号切换芯片的所述第一输入引脚与所述输出引脚之间的USB信号通道导通；所述第二信号切换芯片的所述选择切换引脚受控于第二电平信号，将所述第二信号切换芯片的所述第二输入引脚与所述输出引脚之间的USB信号通道导通。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的测试转接器，其特征在于，还包括电源模块以及至少一个开关单元；所述开关单元与所述信号切换芯片一一对应设置；

每个所述开关单元的第一端与所述电源模块连接；所述开关单元的第二端分别与下拉电阻的第一端以及一一对应的所述信号切换芯片的所述选择切换引脚连接；所述下拉电阻的第二端接地。

5.根据权利要求4所述的测试转接器，其特征在于，还包括至少一个上拉电阻；所述上拉电阻与所述开关单元一一对应设置；所述开关单元的第一端通过一一对应的所述上拉电阻与所述电源模块连接。

6.根据权利要求1-3中任一项所述的测试转接器，其特征在于，还包括控制模块；所述控制模块与各所述信号切换芯片的所述选择切换引脚连接；所述控制模块用于向所述信号切换芯片的所述选择切换引脚提供第一电平信号或第二电平信号。

7.根据权利要求1所述的测试转接器，其特征在于，所述输入接口公头、输入接口母头以及输出接口母头的接口类型为M.2接口。

8.根据权利要求1所述的测试转接器，其特征在于，所述第一电平信号为高电平；所述第二电平信号为低电平。

9.一种测试设备，其特征在于，包括测试器和权利要求1-8中任一项所述的测试转接器；

所述测试器包括输入接口公头；所述测试转接器的输出接口母头与所述测试器的输入接口公头连接。

10.根据权利要求9所述的测试设备，其特征在于，所述测试器包括示波器。

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