CN109298266B - 测试系统、测试方法、测试装置及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供一种测试系统、测试方法、测试装置及存储介质，所述测试系统包括：测试线，所述测试线的第一端口用于与待测电子设备连接；转接设备，所述转接设备的第三端口与所述测试线的第二端口连接，所述转接设备的第四端口用于与充电设备连接，所述转接设备的第五端口用于与存储设备连接；所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第四端口接通，或者所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第五端口接通。本申请实施例提供的测试系统，无需对测试线与待测电子设备进行反复插拔，测试过程简单，耗时短，从而可以提高对电子设备的充电功能和OTG功能进行测试时的测试效率。

Description

测试系统、测试方法、测试装置及存储介质

技术领域

本申请涉及电子技术领域，特别涉及一种测试系统、测试方法、测试装置及存储介质。

背景技术

在诸如智能手机等电子设备的研发生产过程中，当电子设备的硬件设计和软件开发完成后，需要对电子设备进行测试，以检测电子设备是否符合设计规格的要求。

例如，电子设备既可以通过USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)接口实现充电功能，又可以通过USB接口与其它电子设备(例如计算机、移动硬盘等)实现数据交换功能。当电子设备通过USB接口与其它电子设备实现数据交换功能时，此时USB接口实现OTG(On The Go)接口的功能，以实现电子设备与其它电子设备之间的数据交换。因此，在电子设备的研发生产过程中，需要对电子设备的充电功能和OTG功能进行测试。

当前，对电子设备的充电功能和OTG功能进行测试时，测试过程繁琐，测试耗时长，从而导致测试效率低。

发明内容

本申请实施例提供一种测试系统、测试方法、测试装置及存储介质，可以提高对电子设备的充电功能和OTG功能进行测试时的测试效率。

本申请实施例提供一种测试系统，用于测试电子设备的充电功能和OTG功能，所述测试系统包括：

测试线，所述测试线的第一端口用于与待测电子设备连接；

转接设备，所述转接设备的第三端口与所述测试线的第二端口连接，所述转接设备的第四端口用于与充电设备连接，所述转接设备的第五端口用于与存储设备连接；其中：

所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第四端口接通，以使得所述待测电子设备通过充电功能与所述充电设备接通，或者所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第五端口接通，以使得所述待测电子设备通过OTG功能与所述存储设备接通。

本申请实施例还提供一种测试方法，应用于测试系统，所述测试系统包括：

测试线，所述测试线的第一端口用于与待测电子设备连接；

转接设备，所述转接设备的第三端口与所述测试线的第二端口连接，所述转接设备的第四端口用于与充电设备连接，所述转接设备的第五端口用于与存储设备连接；

所述测试方法包括：

控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第四端口接通，以对所述待测电子设备的充电功能进行测试；

控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第五端口接通，以对所述待测电子设备的OTG功能进行测试。

本申请实施例还提供一种测试装置，应用于测试系统，所述测试系统包括：

测试线，所述测试线的第一端口用于与待测电子设备连接；

转接设备，所述转接设备的第三端口与所述测试线的第二端口连接，所述转接设备的第四端口用于与充电设备连接，所述转接设备的第五端口用于与存储设备连接；

所述测试装置包括控制模块，所述控制模块用于：

控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第四端口接通，以对所述待测电子设备的充电功能进行测试；

控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第五端口接通，以对所述待测电子设备的OTG功能进行测试。

本申请实施例还提供一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行上述测试方法。

本申请实施例提供的测试系统，测试线只需要与待测电子设备进行一次连接，通过转接设备的切换即可实现对待测电子设备的充电功能、OTG功能的两种模式进行测试，无需对测试线与待测电子设备进行反复插拔，测试过程简单，耗时短，从而可以提高对电子设备的充电功能和OTG功能进行测试时的测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的测试系统的结构示意图。

图2为本申请实施例提供的测试系统的另一结构示意图。

图3为本申请实施例中的测试线的第二端口的结构示意图。

图4为本申请实施例中的充电设备端口的结构示意图。

图5为本申请实施例中的存储设备端口的结构示意图。

图6为本申请实施例提供的测试方法的流程示意图。

图7为本申请实施例提供的测试方法的另一流程示意图。

图8为本申请实施例提供的测试方法的又一流程示意图。

图9为本申请实施例提供的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请的保护范围。

本申请实施例提供一种测试系统，用于测试电子设备的充电功能和OTG功能。所述电子设备可以为智能手机、计算机、平板电脑、笔记本电脑等设备。

参考图1，图1为本申请实施例提供的测试系统10的结构示意图。测试系统10包括测试线11和转接设备12。

其中，测试线11包括第一端口111和第二端口112。测试线11的第一端口111位于测试线11的一端。所述第一端口111用于与待测电子设备21连接。所述第一端口111可以为USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)端口。例如，所述第一端口111可以为type-c型USB端口。其中，所述待测电子设备21可以为智能手机等电子设备。

测试线11的第二端口112位于测试线11的另一端。所述第二端口112与所述转接设备12连接。所述第二端口112可以为USB端口。

其中，转接设备12包括第三端口121、第四端口122、第五端口123。所述第三端口121与所述测试线11的第二端口112连接。所述第四端口122用于与充电设备22的端口221连接。所述第五端口123用于与存储设备23的端口231连接。其中，所述充电设备22可以为充电适配器，并且所述充电设备22连接至外部电源。所述存储设备23可以为计算机、优盘、移动硬盘或者智能手机等电子设备。

所述转接设备12用于切换至所述第三端口121与所述第四端口122接通，或者切换至所述第三端口121与所述第五端口123接通。

当所述第三端口121与所述第四端口122接通时，待测电子设备21、测试线11、转接设备12、充电设备22依次连接。从而，所述待测电子设备21可以通过充电功能与所述充电设备22接通，此时可以对待测电子设备21的充电功能进行测试。当待测电子设备21通过充电功能与充电设备22成功接通时，表示待测电子设备21的充电功能正常。

当所述第三端口121与所述第五端口123接通时，待测电子设备21、测试线11、转接设备12、存储设备23依次连接。从而，所述待测电子设备21可以通过OTG功能与所述存储设备23接通，此时可以对待测电子设备21的OTG功能进行测试。当待测电子设备21通过OTG功能与存储设备23成功接通时，表示待测电子设备的OTG功能正常。

在一些实施例中，同时参考图2，图2为本申请实施例提供的测试系统10的另一结构示意图。

其中，测试系统10还包括控制设备13。所述转接设备12还包括第六端口124。所述控制设备13与所述转接设备12的第六端口124连接。

所述控制设备13用于控制所述转接设备12切换至所述第三端口121与所述第四端口122接通，或者控制所述转接设备12切换至所述第三端口121与所述第五端口123接通。其中，所述控制设备13可以为计算机、笔记本电脑、智能手机等设备。

在一些实施例中，参考图3，图3为本申请实施例中的测试线11的第二端口112的结构示意图。

所述第二端口112包括电源引脚P1、第一信号传输引脚P2、第二信号传输引脚P3、接地引脚P4、身份识别引脚P5、第三信号传输引脚P6、第四信号传输引脚P7、第一识别引脚P9、第二识别引脚P8。

其中，电源引脚P1可以为VBUS引脚，第一信号传输引脚P2可以为D1-引脚，第二信号传输引脚P3可以为D1+引脚，接地引脚P4可以为GND引脚，身份识别引脚P5可以为ID引脚，第三信号传输引脚P6可以为D2-引脚，第四信号传输引脚P7可以为D2+引脚，第一识别引脚P9可以为CC1引脚，第二识别引脚P8可以为CC2引脚。

参考图4，图4为本申请实施例中的充电设备22的端口221的结构示意图。

所述充电设备22的端口221包括电源引脚Q1、第五信号传输引脚Q2、第六信号传输引脚Q3、接地引脚Q4。

其中，电源引脚Q1可以为VBUS引脚，第五信号传输引脚Q2可以为D1-引脚，第六信号传输引脚Q3可以为D1+引脚，接地引脚Q4可以为GND引脚。

参考图5，图5为本申请实施例中的存储设备23的端口231的结构示意图。

所述存储设备23的端口231包括电源引脚M1、第七信号传输引脚M2、第八信号传输引脚M3、第九信号传输引脚M4、第十信号传输引脚M5、接地引脚M6。

其中，电源引脚M1可以为VBUS引脚，第七信号传输引脚M2可以为D1-引脚，第八信号传输引脚M3可以为D1+引脚，第九信号传输引脚M4可以为D2-引脚，第十信号传输引脚M5可以为D2+引脚，接地引脚M6可以为GND引脚。

其中，当所述转接设备12切换至所述第三端口121与所述第四端口122接通时，也即对待测电子设备21的充电功能进行测试时，所述测试线11的电源引脚P1与所述充电设备22的电源引脚Q1连接，所述第一信号传输引脚P2与所述充电设备22的第五信号传输引脚Q2连接，所述第二信号传输引脚P3与所述充电设备22的第六信号传输引脚Q3连接，所述第一识别引脚P9与所述测试线11的电源引脚P1连接。所述测试线11的其它引脚悬空。其中，所述第一识别引脚P9与电源引脚P1连接，用于表示测试线11的第二端口112连接到的充电设备22为主设备。

在一些实施例中，所述第一识别引脚P9可以通过一个上拉电阻连接至所述测试线11的电源引脚P1。例如，所述上拉电阻可以为56kΩ(千欧姆)。

当所述转接设备12切换至所述第三端口121与所述第五端口123接通时，也即对待测电子设备21的OTG功能进行测试时，需要对待测电子设备21的OTG功能的两种模式分别进行测试。其中，所述两种模式中的一种为OTG的正面插入功能，另一种为OTG的反面插入功能。

第一种模式中，所述测试线11的电源引脚P1与所述存储设备23的电源引脚M1连接，所述第一信号传输引脚P2与所述存储设备23的第七信号传输引脚M2连接，所述第二信号传输引脚P3与所述存储设备23的第八信号传输引脚M3连接，所述第一识别引脚P9接地。所述测试线11的其它引脚悬空。其中，所述第一识别引脚P9接地，用于表示测试线11的第二端口112连接到的存储设备23为从设备。

在一些实施例中，所述第一识别引脚P9可以通过一个下拉电阻接地。例如，所述下拉电阻可以为5.1kΩ。

第二种模式中，所述测试线11的电源引脚P1与所述存储设备23的电源引脚M1连接，所述第三信号传输引脚P6与所述存储设备23的第九信号传输引脚M4连接，所述第四信号传输引脚P7与所述存储设备23的第十信号传输引脚M5连接，所述第二识别引脚P8接地。所述测试线11的其它引脚悬空。其中，所述第二识别引脚P8接地，用于表示测试线11的第二端口112连接到的存储设备23为从设备。

在一些实施例中，所述第二识别引脚P8可以通过一个下拉电阻接地。例如，所述下拉电阻可以为5.1kΩ。

需要说明的是，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分类似的对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。

本申请实施例提供的测试系统10，测试线11只需要与待测电子设备21进行一次连接，通过转接设备12的切换即可实现对待测电子设备21的充电功能、OTG功能的两种模式进行测试，无需对测试线11与待测电子设备21进行反复插拔，测试过程简单，耗时短，从而可以提高对电子设备的充电功能和OTG功能进行测试时的测试效率。

本申请实施例还提供一种测试方法，用于测试电子设备的充电功能和OTG功能。所述电子设备可以为智能手机、计算机、平板电脑、笔记本电脑等设备。所述测试方法应用于上述测试系统10。所述测试系统的组成结构参考上文对测试系统10的描述，在此不再赘述。

参考图6，图6为本申请实施例提供的测试方法的流程示意图。其中，所述测试方法包括以下步骤：

31，控制转接设备切换至第三端口与第四端口接通，以对待测电子设备的充电功能进行测试；

32，控制转接设备切换至第三端口与第五端口接通，以对待测电子设备的OTG功能进行测试。

在一些实施例中，可以在转接设备中集成控制功能，例如可以在转接设备中集成控制芯片，通过控制芯片控制转接设备切换至第三端口与第四端口接通，或者控制转接设备切换至第三端口与第五端口接通。

在一些实施例中，还可以通过控制设备对转接设备进行控制，以控制转接设备切换至第三端口与第四端口接通，或者控制转接设备切换至第三端口与第五端口接通。

当转接设备切换至第三端口与第四端口接通时，此时可以对待测电子设备的充电功能进行测试，以检测待测电子设备的充电功能是否正常。

当转接设备切换至第三端口与第五端口接通时，此时可以对待测电子设备的OTG功能进行测试，以检测待测电子设备的OTG功能是否正常。

在一些实施例中，参考图7，图7为本申请实施例提供的测试方法的另一流程示意图。

其中，步骤31、控制转接设备切换至第三端口与第四端口接通，以对待测电子设备的充电功能进行测试，包括以下步骤：

311，控制转接设备切换至第三端口与第四端口接通；

312，判断待测电子设备与充电设备是否成功接通；

313，若待测电子设备与充电设备成功接通，则确定为待测电子设备的充电功能正常；

314，若待测电子设备与充电设备未成功接通，则确定为待测电子设备的充电功能异常。

其中，控制转接设备切换至第三端口与第四端口接通后，可以判断待测电子设备与充电设备是否成功接通。例如，可以通过待测电子设备上是否出现充电提示信息来判断待测电子设备与充电设备是否成功接通。其中，所述充电提示信息可以为显示屏上显示的文本、图像等提示信息，也可以为声音提示信息，还可以为信号灯的闪烁等提示信息。

若待测电子设备上出现充电提示信息，则表示待测电子设备与充电设备成功接通，此时可以确定为待测电子设备的充电功能正常。

若待测电子设备上未出现充电提示信息，则表示待测电子设备与充电设备未成功接通，此时可以确定为待测电子设备的充电功能异常。

在一些实施例中，参考图8，图8为本申请实施例提供的测试方法的又一流程示意图。

其中，步骤32、控制转接设备切换至第三端口与第五端口接通，以对待测电子设备的OTG功能进行测试，包括以下步骤：

321，控制转接设备切换至第三端口与第五端口接通；

322，对待测电子设备的OTG功能的第一模式进行测试；

323，对待测电子设备的OTG功能的第二模式进行测试。

其中，控制转接设备切换至第三端口与第五端口接通后，可以依次对待测电子设备的OTG功能的第一模式、第二模式进行测试，以检测电子设备的OTG功能的第一模式是否正常，以及检测电子设备的OTG功能的第二模式是否正常。其中，所述第一模式可以为OTG的正面插入功能，所述第二模式可以为OTG的反面插入功能。

第一模式下，测试线的第二端口的电源引脚通过所述转接设备与存储设备的电源引脚连接，所述第二端口的第一信号传输引脚通过所述转接设备与所述存储设备的第七信号传输引脚连接，所述第二端口的第二信号传输引脚通过所述转接设备与所述存储设备的第八信号传输引脚连接，所述第二端口的第一识别引脚接地。

第二模式下，测试线的第二端口的电源引脚通过所述转接设备与存储设备的电源引脚连接，所述第二端口的第三信号传输引脚通过所述转接设备与所述存储设备的第九信号传输引脚连接，所述第二端口的第四信号传输引脚通过所述转接设备与所述存储设备的第十信号传输引脚连接，所述第二端口的第二识别引脚接地。

在一些实施例中，步骤322、对待测电子设备的OTG功能的第一模式进行测试，包括以下步骤：

在第一模式下，判断待测电子设备与存储设备是否成功接通；

若待测电子设备与存储设备成功接通，则确定为待测电子设备的OTG功能的第一模式正常；

若待测电子设备与存储设备未成功接通，则确定为待测电子设备的OTG功能的第一模式异常。

其中，在第一模式下，可以通过待测电子设备上是否出现OTG的提示信息来判断待测电子设备与存储设备是否成功接通。其中，所述OTG的提示信息可以为显示屏上显示的文本、图像等提示信息，也可以为声音提示信息，还可以为信号灯的闪烁等提示信息。

若待测电子设备上出现OTG的提示信息，则表示待测电子设备与存储设备成功接通，此时可以确定为待测电子设备的OTG功能的第一模式正常。

若待测电子设备上未出现OTG的提示信息，则表示待测电子设备与存储设备未成功接通，此时可以确定为待测电子设备的OTG功能的第一模式异常。

在一些实施例中，步骤323、对待测电子设备的OTG功能的第二模式进行测试，包括以下步骤：

在第二模式下，判断待测电子设备与存储设备是否成功接通；

若待测电子设备与存储设备成功接通，则确定为待测电子设备的OTG功能的第二模式正常；

若待测电子设备与存储设备未成功接通，则确定为待测电子设备的OTG功能的第二模式异常。

其中，在第二模式下，可以通过待测电子设备上是否出现OTG的提示信息来判断待测电子设备与存储设备是否成功接通。其中，所述OTG的提示信息可以为显示屏上显示的文本、图像等提示信息，也可以为声音提示信息，还可以为信号灯的闪烁等提示信息。

若待测电子设备上出现OTG的提示信息，则表示待测电子设备与存储设备成功接通，此时可以确定为待测电子设备的OTG功能的第二模式正常。

若待测电子设备上未出现OTG的提示信息，则表示待测电子设备与存储设备未成功接通，此时可以确定为待测电子设备的OTG功能的第二模式异常。

本申请实施例提供的测试方法，测试线只需要与待测电子设备进行一次连接，通过控制转接设备的切换即可实现对待测电子设备的充电功能、OTG功能的两种模式进行测试，无需对测试线与待测电子设备进行反复插拔，测试过程简单，耗时短，从而可以提高对电子设备的充电功能和OTG功能进行测试时的测试效率。

本申请实施例还提供一种测试装置，用于测试电子设备的充电功能和OTG功能。所述电子设备可以为智能手机、计算机、平板电脑、笔记本电脑等设备。所述测试装置应用于上述测试系统10。所述测试系统的组成结构参考上文对测试系统10的描述，在此不再赘述。

参考图9，图9为本申请实施例提供的测试装置40的结构示意图。其中，测试装置40包括控制模块41，所述控制模块41用于：

控制转接设备切换至第三端口与第四端口接通，以对待测电子设备的充电功能进行测试；

控制转接设备切换至第三端口与第五端口接通，以对待测电子设备的OTG功能进行测试。

在一些实施例中，控制转接设备切换至第三端口与第四端口接通，以对待测电子设备的充电功能进行测试时，所述控制模块41用于执行以下步骤：

控制转接设备切换至第三端口与第四端口接通；

判断待测电子设备与充电设备是否成功接通；

若待测电子设备与充电设备成功接通，则确定为待测电子设备的充电功能正常；

若待测电子设备与充电设备未成功接通，则确定为待测电子设备的充电功能异常。

在一些实施例中，控制转接设备切换至第三端口与第五端口接通，以对待测电子设备的OTG功能进行测试时，所述控制模块41用于执行以下步骤：

控制转接设备切换至第三端口与第五端口接通；

对待测电子设备的OTG功能的第一模式进行测试；

对待测电子设备的OTG功能的第二模式进行测试。

在一些实施例中，对待测电子设备的OTG功能的第一模式进行测试时，所述控制模块41用于执行以下步骤：

在第一模式下，判断待测电子设备与存储设备是否成功接通；

若待测电子设备与存储设备成功接通，则确定为待测电子设备的OTG功能的第一模式正常；

若待测电子设备与存储设备未成功接通，则确定为待测电子设备的OTG功能的第一模式异常。

在一些实施例中，对待测电子设备的OTG功能的第二模式进行测试时，所述控制模块41用于执行以下步骤：

在第二模式下，判断待测电子设备与存储设备是否成功接通；

若待测电子设备与存储设备成功接通，则确定为待测电子设备的OTG功能的第二模式正常；

若待测电子设备与存储设备未成功接通，则确定为待测电子设备的OTG功能的第二模式异常。

本申请实施例提供的测试装置，测试线只需要与待测电子设备进行一次连接，通过控制模块控制转接设备的切换即可实现对待测电子设备的充电功能、OTG功能的两种模式进行测试，无需对测试线与待测电子设备进行反复插拔，测试过程简单，耗时短，从而可以提高对电子设备的充电功能和OTG功能进行测试时的测试效率。

本申请实施例还提供一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，所述计算机执行上述任一实施例所述的测试方法。

需要说明的是，本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述计算机程序可以存储于计算机可读存储介质中，所述存储介质可以包括但不限于：只读存储器(ROM，Read OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁盘或光盘等。

以上对本申请实施例所提供的测试系统、测试方法、测试装置及存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统用于测试待测电子设备的充电功能和OTG的插入功能，所述测试系统包括：

测试线，所述测试线的第一端口用于与所述待测电子设备连接，所述测试线的第二端口包括电源引脚、第一信号传输引脚、第二信号传输引脚、第三信号传输引脚、第四信号传输引脚、第一识别引脚、第二识别引脚；

转接设备，所述转接设备的第三端口与所述测试线的第二端口连接，所述转接设备的第四端口用于与充电设备连接，以实现所述充电功能，所述转接设备的第五端口用于与存储设备连接，以实现所述OTG的插入功能；其中：

所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第四端口接通，以使得所述待测电子设备通过所述充电功能与所述充电设备接通；或者

所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第五端口接通，以使得所述待测电子设备通过所述OTG的插入功能与所述存储设备接通；

所述转接设备切换至所述第三端口与所述第五端口接通时，所述测试线的电源引脚与所述存储设备的电源引脚连接，所述第一信号传输引脚与所述存储设备的第七信号传输引脚连接，所述第二信号传输引脚与所述存储设备的第八信号传输引脚连接，所述第一识别引脚接地，以实现所述OTG的正面插入功能测试；或者

所述测试线的电源引脚与所述存储设备的电源引脚连接，所述第三信号传输引脚与所述存储设备的第九信号传输引脚连接，所述第四信号传输引脚与所述存储设备的第十信号传输引脚连接，所述第二识别引脚接地，以实现所述OTG的反面插入功能测试。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，还包括：

控制设备，所述控制设备与所述转接设备的第六端口连接，所述控制设备用于控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第四端口接通，或者控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第五端口接通。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：

所述转接设备切换至所述第三端口与所述第四端口接通时，所述测试线的电源引脚与所述充电设备的电源引脚连接，所述第一信号传输引脚与所述充电设备的第五信号传输引脚连接，所述第二信号传输引脚与所述充电设备的第六信号传输引脚连接，所述第一识别引脚与所述测试线的电源引脚连接，以实现所述充电功能。

4.一种测试方法，应用于测试系统，其特征在于，所述测试系统用于测试待测电子设备的充电功能和OTG的插入功能，所述测试系统包括：

测试线，所述测试线的第一端口用于与所述待测电子设备连接，所述测试线的第二端口包括电源引脚、第一信号传输引脚、第二信号传输引脚、第三信号传输引脚、第四信号传输引脚、第一识别引脚、第二识别引脚；

转接设备，所述转接设备的第三端口与所述测试线的第二端口连接，所述转接设备的第四端口用于与充电设备连接，以实现所述充电功能，所述转接设备的第五端口用于与存储设备连接，以实现所述OTG的插入功能；其中：

所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第四端口接通，以使得所述待测电子设备通过所述充电功能与所述充电设备接通；或者

所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第五端口接通，以使得所述待测电子设备通过所述OTG的插入功能与所述存储设备接通；

所述转接设备切换至所述第三端口与所述第五端口接通时，所述测试线的电源引脚与所述存储设备的电源引脚连接，所述第一信号传输引脚与所述存储设备的第七信号传输引脚连接，所述第二信号传输引脚与所述存储设备的第八信号传输引脚连接，所述第一识别引脚接地，以实现所述OTG的正面插入功能测试；或者

所述测试线的电源引脚与所述存储设备的电源引脚连接，所述第三信号传输引脚与所述存储设备的第九信号传输引脚连接，所述第四信号传输引脚与所述存储设备的第十信号传输引脚连接，所述第二识别引脚接地，以实现所述OTG的反面插入功能测试；

所述测试方法包括：

控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第四端口接通，以对所述待测电子设备的所述充电功能进行测试；

控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第五端口接通，以对所述待测电子设备的所述OTG的插入功能进行测试。

5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第四端口接通，以对所述待测电子设备的所述充电功能进行测试，包括：

控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第四端口接通；

判断所述待测电子设备与所述充电设备是否成功接通；

若所述待测电子设备与所述充电设备成功接通，则确定为所述待测电子设备的充电功能正常；

若所述待测电子设备与所述充电设备未成功接通，则确定为所述待测电子设备的充电功能异常。

6.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第五端口接通，以对所述待测电子设备的所述OTG的插入功能进行测试，包括：

控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第五端口接通；

对所述待测电子设备的所述OTG的插入功能的正面插入功能进行测试，所述正面插入功能下，所述第二端口的电源引脚通过所述转接设备与所述存储设备的电源引脚连接，所述第二端口的第一信号传输引脚通过所述转接设备与所述存储设备的第七信号传输引脚连接，所述第二端口的第二信号传输引脚通过所述转接设备与所述存储设备的第八信号传输引脚连接，所述第二端口的第一识别引脚接地；

对所述待测电子设备的所述OTG的插入功能的反面插入功能进行测试，所述反面插入功能下，所述第二端口的电源引脚通过所述转接设备与所述存储设备的电源引脚连接，所述第二端口的第三信号传输引脚通过所述转接设备与所述存储设备的第九信号传输引脚连接，所述第二端口的第四信号传输引脚通过所述转接设备与所述存储设备的第十信号传输引脚连接，所述第二端口的第二识别引脚接地。

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述对所述待测电子设备的所述OTG的插入功能的正面插入功能进行测试的步骤包括：

在所述正面插入功能下，判断所述待测电子设备与所述存储设备是否成功接通；

若所述待测电子设备与所述存储设备成功接通，则确定为所述待测电子设备的所述OTG的插入功能的正面插入功能正常；

若所述待测电子设备与所述存储设备未成功接通，则确定为所述待测电子设备的所述OTG的插入功能的正面插入功能异常。

8.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述对所述待测电子设备的所述OTG的插入功能的反面插入功能进行测试的步骤包括：

在所述反面插入功能下，判断所述待测电子设备与所述存储设备是否成功接通；

若所述待测电子设备与所述存储设备成功接通，则确定为所述待测电子设备的所述OTG的插入功能的反面插入功能正常；

若所述待测电子设备与所述存储设备未成功接通，则确定为所述待测电子设备的所述OTG的插入功能的反面插入功能异常。

9.一种测试装置，应用于测试系统，其特征在于，所述测试系统用于测试待测电子设备的充电功能和OTG的插入功能，所述测试系统包括：

测试线，所述测试线的第一端口用于与所述待测电子设备连接，所述测试线的第二端口包括电源引脚、第一信号传输引脚、第二信号传输引脚、第三信号传输引脚、第四信号传输引脚、第一识别引脚、第二识别引脚；

转接设备，所述转接设备的第三端口与所述测试线的第二端口连接，所述转接设备的第四端口用于与充电设备连接，以实现所述充电功能，所述转接设备的第五端口用于与存储设备连接，以实现所述OTG的插入功能；其中：

所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第四端口接通，以使得所述待测电子设备通过所述充电功能与所述充电设备接通；或者

所述转接设备用于切换至所述第三端口与所述第五端口接通，以使得所述待测电子设备通过所述OTG的插入功能与所述存储设备接通；

所述转接设备切换至所述第三端口与所述第五端口接通时，所述测试线的电源引脚与所述存储设备的电源引脚连接，所述第一信号传输引脚与所述存储设备的第七信号传输引脚连接，所述第二信号传输引脚与所述存储设备的第八信号传输引脚连接，所述第一识别引脚接地，以实现所述OTG的正面插入功能测试；或者

所述测试线的电源引脚与所述存储设备的电源引脚连接，所述第三信号传输引脚与所述存储设备的第九信号传输引脚连接，所述第四信号传输引脚与所述存储设备的第十信号传输引脚连接，所述第二识别引脚接地，以实现所述OTG的反面插入功能测试；

所述测试装置包括控制模块，所述控制模块用于：

控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第四端口接通，以对所述待测电子设备的所述充电功能进行测试；

控制所述转接设备切换至所述第三端口与所述第五端口接通，以对所述待测电子设备的所述OTG的插入功能进行测试。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行权利要求4至8任一项所述的测试方法。

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