CN111459745A - 系统主机储存设备连接端口测试方法 - Google Patents
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Abstract
一种系统主机储存设备连接端口测试方法，所述系统主机包含一运算模块，该测试方法包括下列步骤：使一测试用储存装置耦接该运算模块的一连接端口，该测试用储存装置包括一控制器以及耦接控制器的一缓存单元；进行一储存测试模式，该运算模块提供一数据经由该连接端口传递给该储存装置；该储存装置接收到该数据时，该控制器将该数据写入于缓存单元完成后停止写入作业藉此完成储存测试；进行一读取测试模式，该运算模块请求该储存装置提供该数据进行读取，该控制器仅将该数据自缓存单元中传输给该运送模块藉此完成读取测试。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试方法，尤其涉及一种应用于系统主机储存设备连接端口的测试方法。
背景技术
固态储存装置具有可随意摆放于电脑系统中而不影响其正常运作的特性，但目前的固态储存装置其寿命具有一定的读写次数的规格限制，例如TBW(Terabytes Written)以及DWPD(Drive Writes Per Day)。对于系统测试与伺服器相关业者而言，由于需要经常进行功能测试、烧机老化验证以及装配系统的硬件与软件等部件，因此往往需要大量且多次对储存装置做读取/写入测试，如使用一般的固态储存装置会因为前述寿命问题而对于业者的成本控管更显困难。
为此，如何设计出一种固态硬碟存取测试方法，来解决前述的技术问题，乃为本案发明人所研究的重要课题。
发明内容
本发明的目的在于提供系统主机一种储存设备连接端口的测试方法，能够解决前述一般固态储存装置具有一定读写次数限制的寿命问题，达到改善相关业者成本控管困难的目的。
为了达到前述目的，本发明提出一种系统主机储存设备连接端口测试方法，所述系统主机包含一运算模块，该测试方法包括下列步骤：使一测试用储存装置耦接该运算模块的一连接端口，该测试用储存装置包括一控制器以及耦接控制器的一缓存单元；进行一储存测试模式，该运算模块提供一数据经由该连接端口传递给该储存装置；该储存装置接收到该数据时，该控制器将该数据写入于缓存单元完成后停止写入作业藉此完成储存测试；进行一读取测试模式，该运算模块请求该储存装置提供该数据进行读取，该控制器仅将该数据自缓存单元中传输给该运送模块藉此完成读取测试。
本发明系统主机储存设备连接端口测试方法功效与优点在于，由于运算模块跟储存装置的控制器进行沟通，控制器仅针对缓存单元进行数据的写入跟读取，在过程中使用的均为属于随机存取记忆体(Random Access Memory)的缓存单元，而本领域技术人员可以理解随机存取记忆体的可写入次数与读取寿命均高于传统固态硬碟中的快闪记忆体(Flash Memory)特别指非挥发性快闪记忆体(NAND FLASH)，为此，通过测试方法适当的配置，能够解决前述一般固态储存装置具有一定读写次数限制的寿命问题，达到改善相关业者成本控管困难的目的。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
附图说明
图1为本发明系统主机储存设备连接端口测试方法的系统架构示意图；
图2、3为本发明系统主机储存设备连接端口测试方法的暂存动作示意图；
图4、5为本发明系统主机储存设备连接端口测试方法的读取动作示意图；以及
图6为本发明系统主机储存设备连接端口测试方法的流程示意图。
其中，附图标记
10 运算模块
11 连接端口
20 背板
21 连接器
200 数据
41、42 测试用储存装置
410、420 控制器
411、421 传输端
412、422 快闪记忆体
413、423 缓存单元
S01～S03 步骤
具体实施方式
兹有关本发明的技术内容及详细说明，配合附图说明如下。
请参阅图1所示，其中，系统主机包含运算模块10以及背板20，运算模块10包含连接端口11，背板20具有复数连接器21，其中的一连接器21电性连接连接端口11使运算模块10能耦接背板20。
背板20可以为单面式背板(Backplane)或双面式背板(Midplane)，所述背板20相容一般通用的高速背板架构标准，例如CPCI、ATCA、MicroTCA、VPX等，除此之外，每一连接器21可以为相容SATA、SAS、NVMe三种传输协定的混合型U.2储存设备接口或为独立的SATA、SAS、mSATA、M.2、SATA DOM、NF1、NGSFF、EGSFF储存设备接口并可以提供热插拔功能；于其他实施方式中，可将背板20替换为其他具有同样传输功能连接器21的主机板(Mother board)或电子线路基板而运算单元10可选择性地设置在主机板或电子线路基板上。
系统主机可以是伺服器(Server)、电脑(PC)或笔记型电脑、平板电脑、智能手机、个人数字助理等各类具有运算单元的电子装置。
当使用者要对系统主机进行储存设备连接端口测试时，可选择性的使用一测试用数据储存装置41进行测试，测试用数据储存装置41包含一控制器410以及耦接控制器410的缓存单元413以及快闪记忆体412以及一传输端411用以使测试用数据储存装置41耦接其他电子装置；同样地，使用者也可以选择性地同时使用两个测试用数据储存装置41、42进行测试，第二个测试用数据储存装置42大致跟第一个测试用数据储存装置相同，两个差异仅在于控制器410、420之间内存不同传输协定，传输协定可以为相容SATA、SAS、NVMe的任一种。
特别说明，缓存单元413为随机存取记忆体(Random Access Memory)，因此，当缓存单元413失去工作电力时，将清除所储存的数据；而缓存单元413可以为动态随机存取记忆体(Dynamic Random Access Memory)，也可以为静态随机存取记忆体(Static Random-Access Memory)于本实施例中不予特别限制；
快闪记忆体412可以为非挥发性快闪记忆体(NAND FLASH)。
进一步说明，依照使用者的需求，测试用数据储存装置也可以在不具有快闪记忆体412的状态下使用。
以下针对测试方法区分为储存测试方法以及读取测试方法分别进行详细说明；请参阅图2、图3，当使用者需要对系统主机进行运算模块10的连接端口11做储存测试时，使用者使用一测试用储存装置41插接背板20上的连接器21使测试用储存装置41能够透过连接端口11电性连接该运算模块10，接着进行一储存测试模式，该运算模块10提供一数据200经由该连接端口11、背板20的连接器21传递给该储存装置41；该储存装置41接收到该数据200时，该控制器410将该数据200写入于缓存单元413，并于完成后停止写入作业藉此完成储存测试；
当使用者进行一读取测试模式时，此时测试用储存装置41保持跟背板20的连接器21耦接状态，该运算模块10依据使用者需求请求该储存装置41提供该数据200进行读取，该控制器410仅将该数据200自缓存单元413中传输给该运算模块10藉此完成读取测试。
请参阅图4、图5，为本发明的另一实施方式，如果使用者需要同时测试两个测试用储存装置41、42时，则是与单颗测是用储存装置的方法近似，使用者先将两个测试用储存装置41、42分别插接于背板20上的连接器21，使其能够透过连接端口11电性连接运算模块10，接着进行一储存测试模式，该运算模块提供一数据200经由该连接端口11、背板20的连接器21同步传递给储存装置41、42；该储存装置41、42接收到该数据200时，该控制器410、420将该数据200写入于缓存单元413、423中，并于完成后停止写入作业藉此完成储存测试。
同样地，当使用者进行一读取测试模式时，此时测试用储存装置41、42分别保持跟背板20的连接器21耦接状态，该运算模块10依据使用者需求请求该储存装置41、42提供该数据200进行读取，该控制器410、420仅将该数据200自缓存单元413、423经由连接器21以及连接端口11传输给该运算模块10藉此完成读取测试；进行测试时，可以同步对测试用储存装置41、42进行储存与读取测试，也可以依照使用者的需求，采一前一后的方式个别进行测试。
进一步说明，前述的储存测试以及读取测试的方法，测试用储存装置41、42的快闪记忆体412、422都会因为没有受到储存跟读取的工作而不会减少读写次数寿命；换言之，即在储存测试中，控制器410、420将该数据200写入于缓存单元413、423中而不写入该快闪记忆体412、422中；在读取测试中，控制器410、420仅读取储存于该缓存单元413、423内的数据200而不读取该快闪记忆体412、422；因此可以确保当测试用储存装置41、42为固态硬碟时(SSD)，利用此测试方法可以延长使用寿命。
特别说明，当使用者所使用的为具有混合型传输协定的运算模块10，亦即运算模块10具有同时内建SATA、SAS、NVMe等传输协定并与所能对应沟通的每一储存装置41、42同步进行储存测试模式与读取测试模式；而背板上的连接器则为U.2传输界面，因此测试用储存装置41、42则可以选择分别为SAS或NVMe等不同传输协定的储存装置，藉此可以同时测试运算模块10与连接端口11能否正常因应储存装置41、42不同的传输协定都可以正常进行储存与读取作业。
请参阅图6所示，为本发明系统主机储存设备连接端口测试方法的流程示意图。一开始，使测试用储存装置41、42耦接运算模块10的连接端口11，各测试用储存装置41、42包括控制器410、420以及耦接控制器410、420的缓存单元413、423(步骤S01)；接着进行一储存测试模式，运算模块10提供数据200经由连接端口11传递给各测试用储存装置41、42；当各测试用储存装置41、42接收到数据200时，控制器410、420将数据200写入于缓存单元413、423完成后停止写入作业藉此完成储存测试(步骤S02)；之后进行一读取测试模式，运算模块10请求各测试用储存装置41、42提供数据200进行读取，控制器410、420仅将数据200自缓存单元413、423中传输给运算模块10藉此完成读取测试(步骤S03)。
为此，通过测试方法适当的配置，能够解决前述一般固态储存装置具有一定读写次数限制的寿命问题，达到改善相关业者成本控管困难的目的。
当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
Claims (6)
1.一种系统主机储存设备连接端口测试方法，所述系统主机包含一运算模块，其特征在于，该测试方法包括下列步骤：
使一测试用储存装置耦接该运算模块的一连接端口，该测试用储存装置包括一控制器以及耦接该控制器的一缓存单元；
进行一储存测试模式，该运算模块提供一数据经由该连接端口传递给该储存装置；
该储存装置接收到该数据时，该控制器将该数据写入于缓存单元完成后停止写入作业藉此完成储存测试；
进行一读取测试模式，该运算模块请求该储存装置提供该数据进行读取，该控制器仅将该数据自缓存单元中传输给该运送模块藉此完成读取测试。
2.根据权利要求1所述的系统主机储存设备连接端测试方法，其特征在于，该储存装置更包含耦接该控制器的一快闪记忆体，其中进行储存测试模式时，该控制器将该数据写入于缓存单元中而不写入该快闪记忆体。
3.根据权利要求2所述的系统主机储存设备连接端测试方法，其特征在于进行读取测试模式时，该控制器仅读取储存于该缓存单元内的该数据而不读取该快闪记忆体，并传输该数据给予该运算模块。
4.根据权利要求3所述的系统主机储存设备连接端测试方法，其特征在于，该控制器受到内建的一韧体驱动执行该储存测试模式以及该读取测试模式。
5.根据权利要求4所述的系统主机储存设备连接端测试方法，其特征在于该缓存单元为随机存取记忆体，当该缓存单元失去工作电力时，该缓存单元将清除所储存的该数据。
6.根据权利要求5所述的系统主机储存设备连接段测试方法，其特征在于包括有二储存装置，每一储存装置具有不同一传输协定并分别耦接该运算模块，该运算模块依据内建的多组该传输协定并与所能对应沟通的每一该储存装置同步进行储存测试模式与读取测试模式。
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