CN104216809A - 信号测试装置 - Google Patents

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Abstract

一种信号测试装置包括一电路板，该电路板上设有一处理器、与处理器相连的第一继电器单元、第二继电器单元、选择单元、显示单元及与一待测装置的被测信号接口相连的板边连接器。第一继电器单元及第二继电器单元分别包括若干个继电器，板边连接器包括若干对信号引脚，每对信号引脚的正信号引脚分别通过一线缆对应连接所述第一继电器单元的一个继电器，每对信号引脚的负信号引脚分别通过一线缆对应连接第二继电器单元的一个继电器。处理器根据信道选择按键发出的信号选择待测试的一对信号引脚，并导通第一继电器单元及第二继电器单元中与待测试的一对信号引脚对应的继电器。本发明能避免了现有技术中由于频繁地插拔测试线缆所带来的繁琐操作。

Description

信号测试装置
技术领域
本发明涉及一种信号测试装置，尤其涉及一种电脑主机外围接口设备的信号测试装置。
背景技术
新标准的电脑主机外围接口PCIE（Peripheral Component Interconnect Express，外围设备快速连接）接口，因其具备较高传输率及较大兼容性而被广泛使用。人们对主板上PCIE接口的测试包括对若干插槽所传输待测信号的信道测试及速率测试。通常，人们对一个待测信号进行测试时，都需先将一测试线缆连接于该待测信号所对应的PCIE接口的插槽上，对待测信号所对应的信道进行测试，再对该待测信号所对应每一速率进行测试；当该待测信号的信道及每一速率都测试完毕后，需将主机关闭，并将测试线缆拔出，再重新插入下一个待测信号所对应的PCIE接口的插槽，然后重新开机，并进行当前待测信号的信道及速率的测试。如此反复地操作，会导致测试繁琐，增加测试量，还会降低测试效率。
发明内容
本发明提供一种能方便及高效地测试PCIE接口的信号测试装置。
一种信号测试装置，包括一电路板，该电路板的一侧设有与一待测接口相连的板边连接器，该电路板还包括：
一处理器；
信号传输单元，与处理器相连，该信号传输单元包括第一继电器单元、第二继电器单元、及与第一继电器单元相连的第一信号端子和与第二继电器单元相连的第二信号端子，所述第一继电器单元及第二继电器单元分别包括若干个继电器，所述第一、第二信号端子用于与一示波器的第一对信号检测端相连，所述板边连接器包括若干对信号引脚，每对信号引脚用以传输一对差分信号，每对信号引脚包括一正信号引脚及一负信号引脚，所述每对信号引脚的的正信号引脚分别通过一线缆对应连接所述第一继电器单元的一个继电器，每对信号引脚的负信号引脚分别通过一线缆对应连接第二继电器单元的一个继电器；
选择单元，与处理器相连，其包括信道选择按键及速率选择按键，所述信道选择按键用以选择待测接口信号，所述速率选择按键用以选择待测接口信号的速率；
显示单元，与处理器相连，该显示单元包括信道显示单元及速率显示单元，所述信道显示单元用以显示待测接口信号的代码，所述速率显示单元用以显示待测接口信号的速率代码；
所述处理器根据信道选择按键发出的信号选择待测试的一对信号引脚，并导通第一继电器单元及第二继电器单元中与待测试的一对信号引脚对应的继电器，并控制该信道显示单元显示被选定的待测试的一对信号引脚传输的信号的代码；所述处理器还根据速率选择按键发出的信号控制待测试的一对信号引脚的数据速率，速率显示单元显示待测试的一对信号引脚传输信号的速率代码及次频代码。
本发明的信号测试装置通过处理器、信号传输单元及选择单元的配合能高效、方便地检测出待测装置的每一被测接口所对应信号的速率。从而避免了现有技术中由于频繁地插拔测试线缆所带来的繁琐操作。
附图说明
图1是本发明信号测试装置的较佳实施例的示意图。
主要元件符号说明
电路板 11
处理器 12
传输单元 13
选择单元 14
板边连接器 16
第一继电器单元 130
第二继电器单元 132
第一信号端子 134
第二信号端子 136
线缆 139
信道选择按键 140
速率选择按键 141
信道显示单元 150
速率显示单元 151
主频显示屏 510
次频显示屏 512
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参照图1，为本发明较佳实施方式的信号测试装置，该信号测试装置包括一电路板11，该电路板11上设有一处理器12、与处理器12相连的信号传输单元13、选择单元14、信道显示单元150、速率显示单元151及板边连接器16。所述信道显示单元150及速率显示单元151均由数码管组成。所述板边连接器16符合外围设备快速连接（Peripheral Component Interconnect Express，PCIE）连接器标准，其设置于电路板11的底部，用于与一主板上的待测PCIE接口相连以实现数据传输。
信号传输单元13包括第一继电器单元130、第二继电器单元132、第一信号端子134、第二信号端子136。所述第一信号端子134与第一继电器单元130相连，第二信号端子136与第二继电器单元132相连。所述第一信号端子134及第二信号端子136与一示波器（图中未示出）的第一对信号检测端相连。在本实施例中，第一继电器单元130及第二继电器单元132分别包括四个继电器。在本实施例中，第一继电器单元130、第二继电器单元132分别设置在电路板11的正面及反面。
所述板边连接器16包括若干电源引脚、若干接地引脚及若干信号引脚，所述若干电源引脚、若干接地引脚及若干信号引脚与主板上的待测PCIE接口的引脚对应电连接。在本实施方式中，以所述板边连接器16的四对信号引脚，如第一至第四对信号引脚LAN0、LAN1、LAN2、LAN3为例进行说明。其中，每一对信号引脚用于传输一对差分信号。所述每对信号引脚包括正负两个信号引脚，且每对信号引脚的正信号引脚通过线缆139分别与所述第一继电器单元130的每个继电器对应相连，每对信号引脚的负信号引脚通过线缆139分别与所述第二继电器单元132的每个继电器对应相连。第一继电器单元130、第二继电器单元132分别用以选通并高速传输每对待测信号。
每条线缆139通过一电阻R接地，以实现阻抗匹配，防止信号反射，保证信号的传输质量。
第一至第四信号引脚LAN0、LAN1、LAN2、LAN3中的每一对信号引脚传输的信号均包括三个主速率Gen1-Gen3，其中，Gen1的数据速率为2.5GHz，Gen2的数据速率为5GHz，Gen3的数据速率为8GHz。同时，Gen2包括2个子速率，Gen3包括11个子速率。
选择单元14包括信道选择按键140及速率选择按键141。所述信道选择按键140与处理器12相连，信道选择按键140用以选择待测PCIE接口的信号，信道显示单元150与所述处理器12相连，用以显示选择的待测PCIE接口的信号的代码。在本实施例中，第一至第四对信号引脚LAN0、LAN1、LAN2、LAN3传输的信号的代码分别为0、1、2、3。
所述速率选择按键141与处理器12相连，速率选择按键141用以选择待测PCIE接口信号的速率，速率显示单元151用以显示选择的待测PCIE接口的信号的速率代码。在本实施例中，速率显示单元151包括主频显示屏510及次频显示屏512。以每路被测信号的主速率Gen3为例，主频显示屏510用以显示主速率代码，如Gen3的代码3，子速率显示屏512用以显示子速率，如Gen3下的每一子速率的代码。
测试时，若按下信道选择按键140一次，则处理器12选择第一对信号引脚LAN0传输的信号进行测试，处理器12命令第一对信号引脚LAN0的正、负信号引脚所对应的继电器闭合，使第一对信号引脚LAN0所传输的信号通过第一继电器单元130和第二继电器单元132的相应继电器传递给示波器；同时，处理器12命令信道显示单元150显示第一对信号引脚LAN0 传输的信号的代码“0”。若按下信道选择按键140两次，则处理器12选择第二对信号引脚LAN1传输的信号进行测试，处理器12命令第二对信号引脚LAN1的正、负信号引脚所对应的继电器闭合，使第二对信号引脚LAN1所传输的信号通过第一继电器单元130和第二继电器单元132的相应继电器传递给示波器，同时，处理器12命令信道显示单元150显示第二对信号引脚LAN1 传输的信号的代码“1”。所述处理器12根据速率选择按键141发出的信号控制当前测试的一对信号引脚的数据速率。
同理，若按下信道选择按键140三次或四次，则处理器12对应选择第三对信号引脚LAN2或第四对信号引脚LAN3传输的信号进行测试，处理器12命令第一继电器单元130和第二继电器单元132的相应继电器闭合，同时，处理器12控制信道显示单元150上显示相应代码“2”或“3”。如此，通过按下信道选择按键140来选择待测PCIE接口的被测信号。
当测试第一对信号引脚LAN0传输的信号时，若按下速率选择按键141一次，处理器12接收到速率选择按键141的按键指令，则处理器12选择测试第一对信号引脚LAN0的主速率Gen1，且处理器12命令速率显示单元151的主频显示屏510上显示Gen1的速率代码“1”。若按下速率选择按键141两次，则处理器12选择测试第一对信号引脚LAN0的主速率Gen2，处理器12命令速率显示单元151的主频显示屏510上显示Gen2的速率代码“2”，且处理器12命令子速率显示屏512上显示Gen2的第一个子速率代码“1”。若按下速率选择按键141三次，则处理器12命令显示单元151的主频显示屏510上显示Gen2的速率代码“2”，处理器12命令子速率显示屏512上显示Gen2的第二个子速率代码“2”。若按下速率选择按键141四次，处理器12选择测试第一对信号引脚LAN0的主速率Gen3，且处理器12命令速率显示单元151的主频显示屏510上显示Gen3的速率代码“3”，且处理器12命令子速率显示屏512上显示Gen3的第一个子速率代码“1”。同理，每多按一下速率选择按键141，即可切换至下一个待测速率。
如此，在处理器12的控制下，通过信道选择按键140及速率选择按键141的切换即可对待测PCIE接口的每一引脚输出的信号及每一信号的速率进行测试，并通过信号传输单元13，实现每路信号的高速传输。此过程无需频繁开关机及切换测试线缆，且测试的状态均通过信道显示单元150及速率显示单元151进行显示，从而实现对PCIE接口信号的方便、高效及准确地测试。
在本实施例中，处理器12为一单片机，当然也可以采用可编辑逻辑器件等其他智能处理芯片。
可以理解的是，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术构思做出其它各种相应的改变与变形，而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (5)

1.一种信号测试装置，其包括一电路板，该电路板的一侧设有与一待测接口相连的板边连接器，其特征在于：该电路板还包括：
一处理器；
信号传输单元，与处理器相连，该信号传输单元包括第一继电器单元、第二继电器单元、及与第一继电器单元相连的第一信号端子和与第二继电器单元相连的第二信号端子，所述第一继电器单元及第二继电器单元分别包括若干个继电器，所述第一、第二信号端子用于与一示波器的第一对信号检测端相连，所述板边连接器包括若干对信号引脚，每对信号引脚用以传输一对差分信号，每对信号引脚包括一正信号引脚及一负信号引脚，所述每对信号引脚的的正信号引脚分别通过一线缆对应连接所述第一继电器单元的一个继电器，每对信号引脚的负信号引脚分别通过一线缆对应连接第二继电器单元的一个继电器；
选择单元，与处理器相连，其包括信道选择按键及速率选择按键，所述信道选择按键用以选择待测接口信号，所述速率选择按键用以选择待测接口信号的速率；
显示单元，与处理器相连，该显示单元包括信道显示单元及速率显示单元，所述信道显示单元用以显示待测接口信号的代码，所述速率显示单元用以显示待测接口信号的速率代码；
所述处理器根据信道选择按键发出的信号选择待测试的一对信号引脚，并导通第一继电器单元及第二继电器单元中与待测试的一对信号引脚对应的继电器，并控制该信道显示单元显示被选定的待测试的一对信号引脚传输的信号的代码；所述处理器还根据速率选择按键发出的信号控制待测试的一对信号引脚的数据速率，速率显示单元显示待测试的一对信号引脚传输信号的速率代码及次频代码。
2.如权利要求1所述的信号测试装置，其特征在于：所述电路板包括正面和与正面相对的背面，所述第一继电器设置于所述电路板的正面，所述第二继电器设置于所述电路板的背面。
3.如权利要求2所述的信号测试装置，其特征在于：连接于所述板边连接器与第一、第二继电器之间的每一线缆分别通过一电阻接地。
4.如权利要求3所述的信号测试装置，其特征在于：所述信道显示单元及速率显示单元均由数码管组成。
5.如权利要求4所述的信号测试装置，其特征在于：所述处理器为单片机或可编辑逻辑器。
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