CN102411528A - Mxm接口测试连接卡及具有该测试连接卡的测试系统 - Google Patents

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Abstract

一种MXM接口测试连接卡及具有该MXM接口测试连接卡的测试系统，该MXM接口测试连接卡用于连接待测试的MXM插槽，所述MXM插槽内设置一组信号传输引脚，所述MXM接口测试连接卡包括金手指及一组信号测试引脚，所述金手指包括若干信号连接引脚，所述金手指插接于该MXM插槽内，且所述信号连接引脚分别与相应的信号传输引脚相连，所述信号测试引脚分别与相应的信号连接引脚电连接，通过对每一信号测试引脚的信号进行测试，以判断与每一信号测试引脚相应的信号传输引脚性能。

Description

MXM接口测试连接卡及具有该测试连接卡的测试系统
技术领域
本发明涉及一种测试连接卡及具有该测试连接卡的测试系统，尤其涉及一种应用于移动PCI-E模组接口(mobile PCI-Express module interface，以下简称MXM接口)的测试连接卡及具有该测试连接卡的测试系统。
背景技术
移动PCI-E模组接口(mobile PCI-E module，以下简称MXM接口)是一种基于PCI-Express界面，用于连接图形处理器、显卡等设备的常用接口。其采用与PCI-Express兼容的通讯协议，可应用于多种不同类型的笔记本产品，从而受到普遍欢迎。
为保证主机板上的MXM接口可以正常工作，通常需要在产品出厂前对所述MXM接口进行信号测试，以验证所述MXM接口是否符合PCI-E规范的要求。目前的测试方法通常是在主板上的相应测试点焊线以引出对应的信号线，然后组成接地回路，再用探棒接触信号线以进行探测。然而，由于对每一产品的测试都需要在主板上找到测试点，再通过焊线将信号线引出来加以测试，不仅费时费力，而且还很容易损坏主机板。
发明内容
鉴于上述内容，有必要提供一种方便测试的MXM接口测试连接卡。
另，有必要提供一种具有该测试连接卡的测试系统。
一种MXM接口测试连接卡，用于连接待测试的MXM插槽，所述MXM插槽内设置一组信号传输引脚，所述MXM接口测试连接卡包括金手指及一组信号测试引脚，所述金手指包括若干信号连接引脚，所述金手指插接于该MXM插槽内，且所述信号连接引脚分别与相应的信号传输引脚相连，所述信号测试引脚分别与相应的信号连接引脚电连接，通过对每一信号测试引脚的信号进行测试，以判断与每一信号测试引脚相应的信号传输引脚性能。
一种测试系统，用于测试MXM插槽的性能，所述MXM插槽内设置一组信号传输引脚，所述测试系统包括上述MXM接口测试连接卡及测试设备，所述测试设备与所述信号测试引脚相连，用于对每一信号测试引脚的信号进行测试，以判断与每一信号测试引脚相应的信号传输引脚性能。
上述测试系统通过设置一MXM接口测试连接卡，使得在测试每一主机板上MXM插槽的性能时，仅需将MXM接口测试连接卡插接在该MXM插槽上，然后通过直接测试该信号测试引脚的性能即可测得该MXM插槽的性能。该测试系统操作简单方便，且可有效避免主板因焊线而可能造成的损坏，节约了测试的成本。
附图说明
图1为本发明较佳实施例的具有MXM接口测试连接卡的测试系统的功能框图。
图2为图1的MXM接口测试连接卡的平面示意图。
主要元件符号说明
测试系统             100
MXM插槽              200
MXM接口测试连接卡    11
连接件               12
测试设备             13
电路板               111
金手指               112
滤波单元             113
信号传输引脚         RX0-RX17
信号连接引脚         TX0-TX17
电容                 C0-C17
信号测试引脚         D0-D17
凸部            114
具体实施方式
请参照图1与图2，本发明较佳实施方式提供一种测试系统100，用于测试一设置于主板(图未示)上的MXM插槽200是否能够正常工作。所述测试系统包括一MXM接口测试连接卡11、至少一连接件12及一测试设备13。所述MXM接口测试连接卡11可插接于MXM插槽200内。在本发明较佳实施例中，该连接件12为一无线电天线接口(Sub-Miniature-A，以下简称SMA)型连接器，该测试设备13为一示波器。该连接件12用于连接所述MXM接口测试连接卡11及所述测试设备13，以供测试设备13测试所述MXM插槽200的信号传输质量。
该MXM插槽200内设置一组信号传输引脚RX0-RX17，其中信号传输引脚RX0-RX15用于数据信号的传输；信号传输引脚RX16-RX17用于时钟信号的传输。所述MXM接口测试连接卡11包括一电路板111、一金手指112、一滤波单元113及一组信号测试引脚D0-D17。该金手指112设置于电路板111的一侧，包括一组信号连接引脚TX0-TX17，每一信号连接引脚均根据PCI-E标准定义，用于插接该待测MXM插槽200，并与MXM插槽200内相应的信号传输引脚电连接，以接收来自MXM插槽200的数据信号及时钟信号。所述电路板111上与金手指112相连的两端分别设有一凸部114，所述凸部114用于为金手指112在MXM插槽200上的插拔提供便利，并保护该金手指112。
该滤波单元113包括一组电容C0-C17，所述电容C0-C17的一端通过电路板111上的走线连接至与其相应的信号连接引脚TX0-TX17上，另一端连接至相应的信号测试引脚D0-D17，用于将MXM插槽200的信号中的直流成分滤除，并传送给该信号测试引脚D0-D17，进而提高测试的准确度及精密度。
所述信号测试引脚D0-D17设置在电路板111上，且与金手指112相对设置。该信号测试引脚D0-D17的一端分别与电容C0-C17的另一端相连，该信号测试引脚D0-D17的另一端的形状及结构与该连接件12相应，可通过该连接件12连入至测试设备13上，进而通过所述测试设备13对所述MXM插槽200中的信号进行测量。
测试时，将所述MXM接口测试连接卡11中的金手指112对准该MXM插槽200，以将该MXM接口测试连接卡11插接在所述待测MXM插槽200上，并使得该等信号连接引脚TX0-TX15分别与相应的信号传输引脚RX0-RX15相连。接着将连接件12的一端连接到测试设备13上，另一端依次连接至该等信号测试引脚D0-D17，以接通该MXM接口测试连接卡11及测试设备13。上电启动装载有所述MXM插槽200的电脑主板。此时，当MXM插槽200输出一频率为2.5G的信号时，使用者可通过测试设备13观察电脑主板工作时每一信号测试引脚D0-D15输出的波形，以分析及判断与信号测试引脚D0-D15对应的信号传输引脚RX0-RX15的信号输出是否合格。当MXM插槽200输出一频率为5G的信号时，使用者可通过观察电脑主板工作时每一信号测试引脚D0-D17输出的波形，以分析及判断与代表数据信号的信号测试引脚D0-D15对应的信号传输引脚RX0-RX15及与代表时钟信号的信号测试引脚D16-D17相应的信号传输引脚RX16-RX17的信号输出是否合格。
显然，本发明的测试系统100通过设置一MXM接口测试连接卡11，在测试MXM插槽200的性能时，仅需将MXM接口测试连接卡11插接在该MXM插槽200上，便可通过直接测试该信号测试引脚D0-D15的性能，以直接测得该MXM插槽200的性能。该测试系统100操作简单方便，且可有效避免主板因焊线而可能造成的损坏，节约了测试的成本。
另外，本领域技术人员还可在本发明权利要求公开的范围和精神内做其他形式和细节上的各种修改、添加和替换。当然，这些依据本发明精神所做的各种修改、添加和替换等变化，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。

Claims (8)

1.一种MXM接口测试连接卡，用于连接待测试的MXM插槽，所述MXM插槽内设置一组信号传输引脚，其特征在于：所述MXM接口测试连接卡包括金手指及一组信号测试引脚，所述金手指包括若干信号连接引脚，所述金手指插接于该MXM插槽内，且所述信号连接引脚分别与相应的信号传输引脚相连，所述信号测试引脚分别与相应的信号连接引脚电连接，通过对每一信号测试引脚的信号进行测试，以判断与每一信号测试引脚相应的信号传输引脚性能。
2.如权利要求1所述的MXM接口测试连接卡，其特征在于：所述MXM接口测试连接卡包括电路板，所述金手指及信号测试引脚设置在所述电路板上，且二者相对设置。
3.如权利要求2所述的MXM接口测试连接卡，其特征在于：所述电路板与所述金手指相连的两端分别设有一凸部，用于为金手指在MXM插槽上的插拔提供便利，并保护该金手指。
4.如权利要求1所述的MXM接口测试连接卡，其特征在于：所述MXM接口测试连接卡包括一滤波单元，所述滤波单元连接该信号连接引脚及信号测试引脚，用于将MXM插槽信号中的直流成分滤除，并传送给该信号测试引脚。
5.如权利要求4所述的MXM接口测试连接卡，其特征在于：所述滤波单元为一组数量与信号连接引脚数量相应的电容，每一电容的两端分别连接至相应的信号连接引脚及信号测试引脚。
6.一种测试系统，用于测试MXM插槽的性能，所述MXM插槽内设置一组信号传输引脚，其特征在于：所述测试系统包括如权利要求1-6中任一项所述的MXM接口测试连接卡及测试设备，所述测试设备与所述信号测试引脚相连，用于对每一信号测试引脚的信号进行测试，以判断与每一信号测试引脚相应的信号传输引脚性能。
7.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于：所述测试系统包括至少一连接件，所述连接件的一端固定至该测试设备上，另一端连接至相应的信号测试引脚，以连接所述测试设备及MXM接口测试连接卡。
8.如权利要求7所述的测试系统，其特征在于：该连接件为SMA型连接器。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105677524A (zh) * 2016-01-07 2016-06-15 北京小米移动软件有限公司 测试组件、连接器和测试主板
CN107677926A (zh) * 2017-09-21 2018-02-09 京东方科技集团股份有限公司 印刷电路板及其与柔性电路板之间插接状态的判定方法
CN116755002A (zh) * 2023-08-14 2023-09-15 上海季丰电子股份有限公司 连接器焊接状态的测试方法、装置以及电子设备

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107966646B (zh) * 2017-11-17 2020-01-21 武汉天马微电子有限公司 一种显示装置及其测试方法
CN109242754B (zh) * 2018-07-17 2020-12-04 北京理工大学 一种基于OpenVPX平台的多GPU高性能处理系统

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2403057Y (zh) * 1999-08-31 2000-10-25 海信集团公司 Pci转接电路板
CN1712980A (zh) * 2004-06-22 2005-12-28 大唐移动通信设备有限公司 一种插卡测试装置
CN101206603A (zh) * 2006-12-22 2008-06-25 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 基于pci的ad信号接口卡
CN201392383Y (zh) * 2009-03-25 2010-01-27 英业达科技有限公司 测试制具
CN201413379Y (zh) * 2009-03-24 2010-02-24 纬创资通股份有限公司 测试板

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6441627B1 (en) * 1998-10-26 2002-08-27 Micron Technology, Inc. Socket test device for detecting characteristics of socket signals
IES20000160A2 (en) * 2000-02-29 2001-10-17 Internat Test Technologies A Method and system for testing microprocessor-based boards in a manufacturing environment
US6727717B2 (en) * 2001-09-27 2004-04-27 Sun Microsystems, Inc. Integrated circuit chip test adapter
US7710741B1 (en) * 2005-05-03 2010-05-04 Nvidia Corporation Reconfigurable graphics processing system
CN100517257C (zh) * 2005-10-28 2009-07-22 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 高速外围部件互连总线接口测试装置
TWI323400B (en) * 2006-06-14 2010-04-11 Asustek Comp Inc External multimedia expansion device
US8319782B2 (en) * 2008-07-08 2012-11-27 Dell Products, Lp Systems and methods for providing scalable parallel graphics rendering capability for information handling systems
TWI391058B (zh) * 2009-08-18 2013-03-21 Pegatron Corp 主機板及應用其的可攜式電子裝置
CN102081124B (zh) * 2009-11-27 2014-04-23 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 高速外围设备互连信号辨识系统及方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2403057Y (zh) * 1999-08-31 2000-10-25 海信集团公司 Pci转接电路板
CN1712980A (zh) * 2004-06-22 2005-12-28 大唐移动通信设备有限公司 一种插卡测试装置
CN101206603A (zh) * 2006-12-22 2008-06-25 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 基于pci的ad信号接口卡
CN201413379Y (zh) * 2009-03-24 2010-02-24 纬创资通股份有限公司 测试板
CN201392383Y (zh) * 2009-03-25 2010-01-27 英业达科技有限公司 测试制具

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105677524A (zh) * 2016-01-07 2016-06-15 北京小米移动软件有限公司 测试组件、连接器和测试主板
CN105677524B (zh) * 2016-01-07 2019-11-15 北京小米移动软件有限公司 测试组件、连接器和测试主板
CN107677926A (zh) * 2017-09-21 2018-02-09 京东方科技集团股份有限公司 印刷电路板及其与柔性电路板之间插接状态的判定方法
WO2019056864A1 (zh) * 2017-09-21 2019-03-28 京东方科技集团股份有限公司 印刷电路板及其与柔性电路板之间插接状态的判定方法
CN107677926B (zh) * 2017-09-21 2019-09-20 京东方科技集团股份有限公司 印刷电路板及其与柔性电路板之间插接状态的判定方法
US10884075B2 (en) 2017-09-21 2021-01-05 Chengdu Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. Printed circuit board, method for determining engagement state between printed circuit board and flexible printed circuit and display device
CN116755002A (zh) * 2023-08-14 2023-09-15 上海季丰电子股份有限公司 连接器焊接状态的测试方法、装置以及电子设备

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