CN105677524A - 测试组件、连接器和测试主板 - Google Patents

Abstract

本公开揭示了一种测试组件、连接器和测试主板，属于测试领域。所述测试组件包括：连接器的管脚包括对应于每路测试信号的输入管脚和输出管脚，输入管脚的封装与终端主板中的共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装相同，连接器的输出管脚与测试主板中的第一连接组件相匹配；连接器，用于在对终端主板进行移动产业处理器接口MIPI？D-PHY测试时通过输入管脚替换终端主板中的共模滤波器，输入管脚用于接收终端主板中的测试信号；并通过输出管脚与第一连接组件电性连接，将测试信号连接至测试主板，通过测试主板中的第二连接组件将测试信号连接至示波器。避免了现有技术中测试人员需要在共模滤波器中焊接连接线，焊接较为不便的问题。

Description

测试组件、连接器和测试主板

技术领域

本公开涉及测试领域，特别涉及一种测试组件、连接器和测试主板。

背景技术

手机中的显示屏和摄像头通常采用MIPI(MobileIndustryProcessorInterface，移动产业处理器接口)协议与手机CPU(CentralProcessingUnit，中央处理器)通讯。并且，显示屏的接口和摄像头的接口的物理层通常是基于D-PHY标准的，所以对手机进行MIPID-PHY测试已经成为手机硬件测试时必不可少的测试之一。

MIPID-PHY测试需要CLK+，CLK-，LANE0+和LANE0-四个测试点，相关技术中，测试人员分别将四根连接线中的每根连接线的一端焊接在手机主板中的共模滤波器(手机主板中预先设置的用于防止MIPI信号干扰射频信号的滤波器)的四路测试信号的输出端，并将连接线的另一端与示波器连接，进而通过示波器实现对手机主板的MIPID-PHY测试。

上述方案中，测试人员需要将连接线焊接在手机主板中，连接线的焊接较为不便。

发明内容

为了克服相关技术中存在的问题，本公开实施例提供了一种测试组件、连接器和测试主板。所述技术方案如下：

根据本公开实施例的第一方面，提供了一种测试组件，所述测试组件包括连接器和测试主板；

所述连接器的管脚包括对应于每路测试信号的输入管脚和输出管脚，所述输入管脚的封装与终端主板中的共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装相同，所述连接器的输出管脚与所述测试主板的第一连接组件相匹配；

所述连接器，用于在对所述终端主板进行移动产业处理器接口MIPID-PHY测试时替换所述终端主板中的所述共模滤波器，所述输入管脚用于接收所述终端主板中的所述测试信号；并通过所述输出管脚与所述第一连接组件电性连接，将所述测试信号连接至所述测试主板，通过所述测试主板的第二连接组件将所述测试信号连接至示波器。

可选地，所述终端主板有n个共模滤波器，

所述连接器包括n个连接组件，每个连接组件的输入管脚的封装与所述n个共模滤波器中的一个共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装对应相同，n为大于1的整数；

其中，不同连接组件对应于不同共模滤波器。

可选地，所述连接器中的所述输入管脚和所述输出管脚通过连接线短接。

可选地，所述测试信号包括CLK+，CLK-，LANE0+和LANE0-；

所述连接器与所述第一连接组件之间的每路测试信号的信号线的长度相同。

可选地，所述输出管脚封装为第一接口，所述第一连接组件为从所述测试主板内延伸至所述测试主板外的印制电路板PCB板或者线路，所述PCB板或者所述线路的末端设置有与所述第一接口匹配的接头；

或者，

所述输出管脚封装为所述第一接口，所述第一连接组件为第二接口；所述输出管脚和所述第一连接组件通过预设线路连接；

或者，

所述输出管脚封装为连接线的连接头，所述第一连接组件为与所述连接头匹配的所述第二接口。

可选地，所述测试信号包括CLK+，CLK-，LANE0+和LANE0-；

所述第一连接组件与所述第二连接组件之间的每路测试信号所对应的信号线的长度相同。

可选地，所述测试主板中的特性阻抗符合MIPI的测试要求。

根据本公开实施例的第二方面，提供了一种连接器，所述连接器的管脚包括对应于每路测试信号的输入管脚和输出管脚，所述输入管脚的封装与终端主板中的共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装相同，所述连接器的输出管脚与测试主板的第一连接组件相匹配；

所述连接器，用于在对所述终端主板进行移动产业处理器接口MIPID-PHY测试时替换所述终端主板中的所述共模滤波器，所述输入管脚用于接收所述终端主板中的所述测试信号；并通过所述输出管脚与所述第一连接组件电性连接，将所述测试信号连接至所述测试主板，通过所述测试主板的第二连接组件将所述测试信号连接至示波器。

可选地，所述终端主板有n个共模滤波器，

所述连接器包括n个连接组件，每个连接组件的输入管脚的封装与所述n个共模滤波器中的一个共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装对应相同，n为大于1的整数；

其中，不同连接组件对应于不同共模滤波器。

根据本公开实施例的第三方面，提供了一种测试主板，所述测试主板包括第一连接组件和第二连接组件；

所述第一连接组件，用于在对终端主板进行移动产业处理器接口MIPID-PHY测试时与替换所述终端主板中的共模滤波器的连接器的输出管脚电性相连，所述第一连接组件与所述输出管脚相匹配；

所述第二连接组件，用于在对所述终端主板进行所述MIPID-PHY测试时与示波器的探头电性相连，所述第二连接组件用于将来自所述终端主板的测试信号连接至所述示波器。

可选地，所述测试信号包括CLK+，CLK-，LANE0+和LANE0-；

所述第一连接组件与所述第二连接组件之间的每路测试信号所对应的信号线的长度相同。

本公开实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

通过在对终端主板进行MIPID-PHY测试时，用输入管脚与终端主板中的共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装相同的连接器替换该共模滤波器，并将该连接器的输出管脚与测试主板中的第一连接组件电性连接，通过测试主板中的第二连接组件将来自终端主板的测试信号连接至示波器，避免了现有技术中测试人员需要在共模滤波器中焊接连接线，焊接较为不便的问题；达到了可以简便测试人员的操作提高对终端主板的MIPID-PHY测试的效果。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是本公开部分示例性实施例提供的测试场景的示意图。

图2是本公开一个示例性实施例提供的连接器的输入管脚和输出管脚短接的示意图。

图3是本公开一个示例性实施例提供的连接器的输出管脚与第一连接组件的一种连接方式的示意图。

图4是本公开一个示例性实施例提供的连接器的输出管脚与第一连接组件的另一种连接方式的示意图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

请参考图1，其示出了本发明部分示例性实施例所涉及的测试场景的示意图。如图1所示，该测试场景中包括测试组件110和示波器120。

该测试组件110包括连接器111和测试主板112。

连接器111的管脚包括对应于每路测试信号的输入管脚和输出管脚。其中，输入管脚的封装与终端主板中的共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装相同。

终端主板是指需要进行MIPID-PHY测试的主板，该终端主板可以为手机主板，也可以为其他主板，本实施例对此并不做限定。并且，本实施例所说的封装相同是指连接器111的各个输入管脚之间的相对位置与共模滤波器中的各个输入管脚之间的相对位置相同，或者，与共模滤波器中的各个输出管脚之间的相对位置相同。

可选的，连接器111中还可以包括对应于每路测试信号的接地管脚。并且，当连接器111的输入管脚与共模滤波器的输入管脚的封装相同时，该接地管脚和输入管脚之间的相对位置与终端主板中的共模滤波器的输入管脚和终端主板中的地线之间的相对位置相同；类似的，当连接器111的输入管脚与共模滤波器的输出管脚的封装相同时，该接地管脚和输入管脚之间的相对位置与终端主板中的共模滤波器的输出管脚和终端主板中的地线之间的相对位置相同。实际实现时，各路测试信号可以共用同一个接地管脚，也可以使用不同接地管脚，本实施例对此并不做限定。

实际实现时，终端主板中的共模滤波器可以有一个，也可以有n个。

当共模滤波器有一个时，连接器111可以为输入管脚与该共模滤波器的输入管脚或者输出管脚封装相同的器件。

而当共模滤波器有n个时，连接器111可以相应的包括n个连接组件。每个连接组件的输入管脚的封装与n个共模滤波器中的一个共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装对应相同，n为大于1的整数；其中，不同连接组件对应于不同共模滤波器。

比如，以共模滤波器有3个且连接器111的输入管脚的封装与共模滤波器的输入管脚的封装相同来举例，连接器111可以包括连接组件1、连接组件2和连接组件3共3个连接组件；且，连接组件1的输入管脚的封装与共模滤波器1的输入管脚的封装相同，连接组件2的输入管脚的封装与共模滤波器2的输入管脚的封装相同，连接组件3的输入管脚的封装与共模滤波器3的输入管脚的封装相同。

连接器111的输出管脚与测试主板112中的第一连接组件112a匹配。这里所说的匹配是指输出管脚的结构与第一连接组件112a的结构匹配，这样两者即可电性相连。

可选的，为了使得信号能够通过连接器111，连接器111的内部需要连通，也即连接器111的输入管脚和输出管脚通过连接线短接。比如，以对终端主板进行MIPID-PHY测试为例，测试信号可以包括CLK+，CLK-，LANE0+和LANE0-，则请参考图2，连接器中每路测试信号的输入管脚和输出管脚均短接。

为了保证测试的准确度，连接器111的特性阻抗需要符合MIPI的测试需求，本实施例对此并不做限定。

连接器111，用于在对终端主板进行MIPID-PHY测试时替换终端主板中的共模滤波器。由于连接器111的输入管脚的封装与共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装相同，因此，在对终端主板进行MIPID-PHY测试时，测试人员可以将终端主板中的共模滤波器取下，并且当连接器111的输入管脚的封装与共模滤波器的输入管脚的封装相同时，测试人员可以将该连接器111的输入管脚焊接在共模滤波器的输入管脚所对应的位置处；类似的，当连接器111的输入管脚的封装与共模滤波器的输出管脚的封装相同时，测试人员可以将连接器111的输入管脚焊接在共模滤波器的输出管脚所对应的位置处。

由于在终端主板中焊接连接器111的管脚的焊接难度远远低于在共模滤波器中焊接连接线的难度，所以这就很好的简化了测试人员的测试难度。

测试主板112包括第一连接组件112a和第二连接组件112b。

连接器111用于在对终端主板进行MIPID-PHY测试时与测试主板112中的第一连接组件112a电性连接。

可选的，连接器111与第一连接组件112a电性连接的连接方式可以包括如下三种可能的实现方式。

第一种，连接器111的输出管脚封装为第一接口，第一连接组件112a为从测试主板112内延伸至测试主板112外的PCB(PrintedCircuitBoard，印制电路板)或者线路，PCB板或者线路的末端设置有与第一接口匹配的接头。

比如，连接器111可以为公头，第一连接组件112a为测试主板112中延伸至测试主板112外部的线路，该线路的末端可以设置有与该公头匹配的母头。

第二种，连接器111的输出管脚封装为第一接口，第一连接组件112a为第二接口；连接器111和第一连接组件112a通过预设线路连接。其中，预设线路的一端与第一接口匹配，预设线路的另一端与第二接口匹配。

比如，请参考图3，其示出了连接器111和第一连接组件112a的连接示意图。

第三种，连接器111的输出管脚封装为连接线的连接头，第一连接组件112a为与连接头匹配的第二接口。

比如，请参考图4，其示出了连接器111与第一连接组件112a的另一种连接示意图。

实际实现时，为了保证测试的准确度，在测试信号包括CLK+，CLK-，LANE0+和LANE0-时，连接器111和第一连接组件112a之间的每路测试信号所对应的信号线的长度相同。

通过保证连接器111和第一连接组件112a之间的每路测试信号所对应的信号线的长度相同，避免了信号传输过程中由于信号线长度的不同而导致的测试信号出现误差最终测试不准确的问题。

在将连接器111和测试主板112中的第一连接组件112a电性连接之后，连接器111即可将终端主板中产生的测试信号连接至测试主板112。

测试主板112中的第二连接组件112b为与示波器120的探头匹配的连接部。可选的，结合图1，该第二连接组件112b可以为与探头匹配的连接孔。

在将第二连接组件112b与示波器120的探头连接之后，测试信号可以连接至示波器120。

实际实现时，为了保证测试的准确度，测试主板112中的特性阻抗符合MIPI的测试要求。

并且，在测试信号包括CLK+，CLK-，LANE0+和LANE0-时，第一连接组件112a和第二连接组件112b之间的每路测试信号所对应的信号线的长度相同。

通过保证第一连接组件112a和第二连接组件112b之间的每路测试信号所对应的信号线等长，提高了信号测试的测试准确度。

此外，为了减少信号传输过程中，对测试信号的影响，第一连接组件112a和第二连接组件112b之间的信号线尽可能的短。

基于上述测试组件，测试人员需要对终端主板进行MIPID-PHY测试时，测试人员将终端主板中的共模滤波器取下，并将共模滤波器的输入管脚和输出管脚通过连接线分别短接。之后，在连接器111的输入管脚与共模滤波器的输入管脚的封装相同时，将连接器111的输入管脚焊接在该共模滤波器的输入管脚所对应的位置；而在连接器111的输入管脚与共模滤波器的输出管脚的封装相同时，将连接器111的输入管脚焊接在共模滤波器的输出管脚所对应的位置处。此后，测试人员将该连接器111中与测试主板112中的第一连接组件112a匹配的输出管脚与该第一连接组件112a连接，将测试主板112中的第二连接组件112b与示波器120的探头连接，此后，在对包含该终端主板的终端通电之后即可方便的实现对终端主板的MIPID-PHY测试时，提高了测试人员的测试效率。

综上所述，本实施例提供的测试组件，通过在对终端主板进行MIPID-PHY测试时，用输入管脚与终端主板中的共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装相同的连接器替换该共模滤波器，并将该连接器的输出管脚与测试主板中的第一连接组件电性连接，通过测试主板中的第二连接组件将来自终端主板的测试信号连接至示波器，避免了现有技术中测试人员需要在共模滤波器中焊接连接线，焊接较为不便的问题；达到了可以简便测试人员的操作提高对终端主板的MIPID-PHY测试的效果。

本实施例通过将连接器焊接在终端主板中，也解决了现有技术中在焊接连接线至共模滤波器时，受焊接技术的限制而导致的每路测试信号所对应的连接线(信号线)长度不同，对终端主板的测试准确度较低的问题，达到了可以提高测试准确度的效果。

需要说明的是，本公开还公开了一种连接器和一种测试主板。其中，该连接器与上述实施例中的测试组件中的连接器类似；测试主板与上述实施例中的测试组件中的测试主板类似，本实施例在此不再赘述。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (11)

1.一种测试组件，其特征在于，所述测试组件包括连接器和测试主板；

所述连接器的管脚包括对应于每路测试信号的输入管脚和输出管脚，所述输入管脚的封装与终端主板中的共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装相同，所述连接器的输出管脚与所述测试主板的第一连接组件相匹配；

所述连接器，用于在对所述终端主板进行移动产业处理器接口MIPID-PHY测试时替换所述终端主板中的所述共模滤波器，所述输入管脚用于接收所述终端主板中的所述测试信号；并通过所述输出管脚与所述第一连接组件电性连接，将所述测试信号连接至所述测试主板，通过所述测试主板的第二连接组件将所述测试信号连接至示波器。

2.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于，所述终端主板有n个共模滤波器，

所述连接器包括n个连接组件，每个连接组件的输入管脚的封装与所述n个共模滤波器中的一个共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装对应相同，n为大于1的整数；

其中，不同连接组件对应于不同共模滤波器。

3.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于，所述连接器中的所述输入管脚和所述输出管脚通过连接线短接。

4.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于，所述测试信号包括CLK+，CLK-，LANE0+和LANE0-；

所述连接器与所述第一连接组件之间的每路测试信号的信号线的长度相同。

5.根据权利要求1至4任一所述的测试组件，其特征在于，

所述输出管脚封装为第一接口，所述第一连接组件为从所述测试主板内延伸至所述测试主板外的印制电路板PCB板或者线路，所述PCB板或者所述线路的末端设置有与所述第一接口匹配的接头；

或者，

所述输出管脚封装为所述第一接口，所述第一连接组件为第二接口；所述输出管脚和所述第一连接组件通过预设线路连接；

或者，

所述输出管脚封装为连接线的连接头，所述第一连接组件为与所述连接头匹配的所述第二接口。

6.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于，所述测试信号包括CLK+，CLK-，LANE0+和LANE0-；

所述第一连接组件与所述第二连接组件之间的每路测试信号所对应的信号线的长度相同。

7.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于，所述测试主板中的特性阻抗符合MIPI的测试要求。

8.一种连接器，其特征在于，所述连接器的管脚包括对应于每路测试信号的输入管脚和输出管脚，所述输入管脚的封装与终端主板中的共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装相同，所述连接器的输出管脚与测试主板的第一连接组件相匹配；

所述连接器，用于在对所述终端主板进行移动产业处理器接口MIPID-PHY测试时替换所述终端主板中的所述共模滤波器，所述输入管脚用于接收所述终端主板中的所述测试信号；并通过所述输出管脚与所述第一连接组件电性连接，将所述测试信号连接至所述测试主板，通过所述测试主板的第二连接组件将所述测试信号连接至示波器。

9.根据权利要求8所述的连接器，其特征在于，所述终端主板有n个共模滤波器，

所述连接器包括n个连接组件，每个连接组件的输入管脚的封装与所述n个共模滤波器中的一个共模滤波器的输入管脚或者输出管脚的封装对应相同，n为大于1的整数；

其中，不同连接组件对应于不同共模滤波器。

10.一种测试主板，其特征在于，所述测试主板包括第一连接组件和第二连接组件；

所述第一连接组件，用于在对终端主板进行移动产业处理器接口MIPID-PHY测试时与替换所述终端主板中的共模滤波器的连接器的输出管脚电性相连，所述第一连接组件与所述输出管脚相匹配；

所述第二连接组件，用于在对所述终端主板进行所述MIPID-PHY测试时与示波器的探头电性相连，所述第二连接组件用于将来自所述终端主板的测试信号连接至所述示波器。

11.根据权利要求10所述的测试主板，其特征在于，所述测试信号包括CLK+，CLK-，LANE0+和LANE0-；

所述第一连接组件与所述第二连接组件之间的每路测试信号所对应的信号线的长度相同。