CN113030526B - 测试转接装置及测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种测试转接装置和测试系统。该测试转接装置包括：测试转接板，包括：产品接口，包括相对设置并通信连接的第一端和第二端，所述第一端用于与待测产品通信连接，所述第二端的一部分适于与用于对所述待测产品进行测试的测试设备通信连接；以及测试转接板高速接口，与所述第二端的另一部分通信连接；以及多个侦测转接板，每个所述侦测转接板包括：侦测转接板高速接口，用于与所述测试转接板高速接口通信连接；以及侦测点接口，与所述侦测转接板高速接口通信连接，并用于与信号显示设备通信连接；其中，不同的所述侦测转接板包括不同类型的侦测点接口。

Description

测试转接装置及测试系统

技术领域

本申请涉及电路板领域，更具体的，涉及一种测试转接装置及测试系统。

背景技术

芯片等产品制成后，需要进行测试，例如进行后道测试、特性测试等。通常使用自动化测试机搭配转接板来完成测试工作。在项目研发阶段，会普遍地、广泛地使用到转接板。

转接板上需要设计各种侦测点来辅助于调试或信号收集。由于需要测试的产品多种多样，因此要根据产品不同而设计不同的转接板来提供这些侦测点；而且要测试的信号类型多种多样，为了保证高速信号的信号完整性，根据不同的信号类型或者不同的研发用途会用到各种不同类型的接口。

转接板的布局空间有限，能安放的侦测点的数量有限。而且为了兼容各种类型的接口，会导致转接板的结构设计复杂，继而很难兼顾信号完整性。此外，在不同类型的测试中，由于对于信号的观察目的不同，转接板需要连接的观察仪器也不同，而使用转接板的工程师也会花费很多时间在这些繁复的转接板中切换和连接接头。

发明内容

本申请的实施例提供了一种测试转接装置，该测试转接装置包括：测试转接板，包括：产品接口，包括相对设置并通信连接的第一端和第二端，所述第一端用于与待测产品通信连接，所述第二端的一部分适于与用于对所述待测产品进行测试的测试设备通信连接；以及测试转接板高速接口，与所述第二端的另一部分通信连接；以及多个侦测转接板，每个所述侦测转接板包括：侦测转接板高速接口，用于与所述测试转接板高速接口通信连接；以及侦测点接口，与所述侦测转接板高速接口通信连接，并用于与信号显示设备通信连接；其中，不同的所述侦测转接板包括不同类型的侦测点接口。

在一个实施方式中，侦测转接板相对所述测试转接板垂直地布置。

在一个实施方式中，测试转接板还包括：测试接口，与所述第二端的所述一部分通信连接，并用于与所述测试设备通信连接。

在一个实施方式中，侦测转接板高速接口和所述测试转接板高速接口被配置为传输速率不小于PCIe标准信号速率。

在一个实施方式中，测试转接板包括第一线路板；所述第一线路板包括相对的两面；所述测试接口与所述产品接口设置于所述第一线路板的所述两面的不同面；所述测试转接板高速接口与所述产品接口设置于所述第一线路板的所述两面的相同面。

在一个实施方式中，侦测转接板高速接口与所述测试转接板高速接口适于通过插接的方式固定电连接。

在一个实施方式中，侦测转接板与所述测试转接板插接后，所述侦测转接板与所述测试转接板平行或垂直。

在一个实施方式中，侦测转接板包括第二线路板；所述第二线路板包括相对的两面；所述侦测点接口设置于所述第二线路板的两面中的至少一面；所述侦测转接板高速接口设置于所述第二线路板的周部，使所述侦测点接口在所述侦测转接板高速接口与所述测试转接板高速接口插接后远离所述产品接口。

在一个实施方式中，侦测转接板高速接口与所述测试转接板高速接口被配置为适于以不小于10GB/s的带宽通信连接。

在一个实施方式中，测试转接板包括多个测试转接板高速接口和多个产品接口，每个所述产品接口与一个所述测试转接板高速接口通信连接。

在一个实施方式中，侦测点接口是SMP接口、BNC接口、排线接口和探针插口中的至少之一。

在一个实施方式中，侦测点接口用于与示波器、逻辑分析仪、协议分析仪、电表或电流探棒中的至少之一通信连接。

在一个实施方式中，产品接口是芯片插座。

在一个实施方式中，测试转接装置用于安装NAND型闪存，所述产品接口是金手指插座，所述测试转接板高速接口是金手指插座；以及所述侦测转接板高速接口是金手指插头，所述侦测点接口包括BNC接口和探针插口。

第二方面，本申请的实施例提供了一种测试系统，包括：测试设备，用于对被测产品执行测试操作；前述的测试转接装置，其中，至少一个所述侦测转接板与所述测试转接板通信连接，所述测试转接板与所述测试设备通信连接；以及至少一个信号显示设备，与所述至少一个侦测转接板通信连接。

在一个实施方式中，测试系统用于测试NAND型闪存，其中，所述测试转接装置用于安装NAND型闪存，以及，所述产品接口是金手指插座，所述测试转接板高速接口是金手指插座，所述侦测转接板高速接口是金手指插头，所述侦测点接口包括BNC接口和探针插口，所述测试转接板包括与所述第二端的所述一部分通信连接的测试接口，所述测试接口是金手指插座；所述测试设备是与所述测试接口通信连接的自动测试设备；以及所述至少一个信号显示设备包括：适配于BNC接口的协议分析仪，以及适配于探针插口的示波器。

本申请的实施例提供的测试转接装置，通过一个测试转接板配备不同类型的侦测转接板，可以使待测产品通信连接到不同的信号显示设备上。

此外，根据一个实施方式的测试转接装置可以适用于不同检测需求的待测产品，而且每次使用时所组装在一起的测试转接板和侦测转接板的检测效果较好、信号完整性较好，且切换方便。此外，侦测转接板的结构简单，造价较低，使得整套装置的制造成本以及改制成本较低。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1是根据本申请实施例的测试转接板的示意性结构图；

图2是根据本申请实施例的测试转接板的示意性结构图；

图3是根据本申请实施例的第一侦测转接板的示意性结构图；

图4是根据本申请实施例的第二侦测转接板的示意性结构图；

图5是根据本申请实施例的测试系统的一种使用状态的示意图；以及

图6是根据本申请实施例的测试系统的另一种使用状态的示意图。

具体实施方式

为了更好地理解本申请，将参考附图对本申请的各个方面做出更详细的说明。应理解，这些详细说明只是对本申请的示例性实施方式的描述，而非以任何方式限制本申请的范围。在说明书全文中，相同的附图标号指代相同的元件。表述“和/或”包括相关联的所列项目中的一个或多个的任何和全部组合。

应注意，在本说明书中，第一、第二、第三等的表述仅用于将一个特征与另一个特征区分开来，而不表示对特征的任何限制。因此，在不背离本申请的教导的情况下，下文中讨论的。反之亦然。

在附图中，为了便于说明，已稍微调整了部件的厚度、尺寸和形状。附图仅为示例而并非严格按比例绘制。例如，。如在本文中使用的，用语“大致”、“大约”以及类似的用语用作表近似的用语，而不用作表程度的用语，并且旨在说明将由本领域普通技术人员认识到的、测量值或计算值中的固有偏差。

还应理解的是，用语“包括”、“包括有”、“具有”、“包含”和/或“包含有”，当在本说明书中使用时表示存在所陈述的特征、元件和/或部件，但不排除存在或附加有一个或多个其它特征、元件、部件和/或它们的组合。此外，当诸如“...中的至少一个”的表述出现在所列特征的列表之后时，修饰整个所列特征，而不是修饰列表中的单独元件。此外，当描述本申请的实施方式时，使用“可”表示“本申请的一个或多个实施方式”。并且，用语“示例性的”旨在指代示例或举例说明。

除非另外限定，否则本文中使用的所有措辞(包括工程术语和科技术语)均具有与本申请所属领域普通技术人员的通常理解相同的含义。还应理解的是，除非本申请中有明确的说明，否则在常用词典中定义的词语应被解释为具有与它们在相关技术的上下文中的含义一致的含义，而不应以理想化或过于形式化的意义解释。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。另外，除非明确限定或与上下文相矛盾，否则本申请所记载的方法中包含的具体步骤不必限于所记载的顺序，而可以任意顺序执行或并行地执行。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。其中，图2作为主视图时，图1可视为图2的俯视图。或者图2可视为图1的仰视图。

参考图1至图4，本申请实施例提供的测试转接装置包括：测试转接板100和多个侦测转接板200A和200B。在图中将侦测转接板示出为包括第一侦测转接板200A和第二侦测转接板200B，但本领域技术人员应该理解，在未背离本申请公开教导的情况下还可以包括其他数量的侦测转接板。

测试转接板100可包括第一线路板101。第一线路板101可以是例如PCB(PrintedCircuit Board，印制电路板)，并包括基材和设置在基材内部的导电线路(未完整示出)。第一线路板101还可包括与导电线路电连接的焊脚。示例性地，在第一线路板101也可以设置有电阻、电容、三极管等电子元件。第一线路板101包括的导电线路或各元器件可基于需求而绝缘或电连接，以实现连接功能并且保证信号完整性。

如图1所示，测试转接板100还可包括测试接口102、产品接口103和测试转接板高速接口104。

测试接口102与产品接口103通信连接。具体地，测试接口102与产品接口103可通过第一线路板101通信连接。

产品接口103与测试转接板高速接口104通信连接。具体地，产品接口103与测试转接板高速接口104可通过第一线路板101通信连接。

可以理解的，在图1和图2中，产品接口103用于通过测试接口102而与测试设备300(参照图5)，例如ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)通信连接，从而使得测试设备300可对连接至产品接口103的待测产品500(参照图5)进行测试操作。在示例性实施方式中，产品接口103可用于与测试设备300通信连接。

在图1和图2所示的实施方式中，产品接口103包括相对的第一端1031和第二端1032，且第一端1031和第二端1032通信连接。产品接口103的第一端1031用于与待测产品通信连接。产品接口103的第二端1032可分为不同的部分，例如产品接口103包括设置于第一端1031和第二端1032之间的多个通道。每个通道可与待测产品500的一根引脚固定电连接，例如插接。具体地，产品接口103可包括位于图2中左侧的一些通道和右侧的另一些通道。进而，产品接口103的第二端1032的一部分用于与测试接口102通信连接，产品接口103的第二端1032的另一部分用于与测试转接板高速接口104通信连接。

测试接口102用于与测试设备通信连接。测试接口102可以是PCIE接口、SATA接口、火线接口(FireWire)等。示例性地，测试转接板100可以包括多个测试接口102。例如，同一个产品接口103可与两个测试接口102通信连接。

测试转接板高速接口104与产品接口103通信连接。参考图1和图2，测试转接板100可以包括多个接口区11～12，其中，第一接口区11中可设置有产品接口103和测试转接板高速接口104。产品接口103可设置在第一接口区11的中部位置。测试转接板高速接口104设置于靠近产品接口103的位置。根据一个示例性实施例，测试转接板100上可设置许多接口及电子元件，而在产品接口103与测试转接板高速接口104之间不设置其他接口或元件。产品接口103与测试转接板高速接口104通过第一线路板101通信连接。该测试转接板高速接口104可以传输完整性较好的信号。

进一步地，第一接口区11内还设置有测试接口102。测试接口102可设置在第一接口区11的边缘部分。

示例性地，第一接口区11内设置有两个测试接口102，所述两个测试接口102相对地设置在第一接口区11的两边。两个测试接口102之间设置前述的产品接口103和测试转接板高速接口104。两个测试接口102可通信连接至产品接口103的第二端1032的不同部分。

示例性地，测试转接板100包括多个测试转接板高速接口104和多个产品接口103，例如两个测试转接板高速接口104和两个产品接口103。示例性地，测试转接板100包括的多个测试转接板高速接口可相互不同，测试转接板100包括的多个产品接口可相互不同。每个产品接口与一个测试转接板高速接口通信连接。

参考图3，其中示出了根据本申请实施例的第一侦测转接板200A的示意性结构图。如图所示，第一侦测转接板200A可包括第二线路板201A。第二线路板201A可例如是PCB，包括基材和设置在基材内部的导电线路。该第二线路板201A还可包括与导电线路电连接的焊脚。示例性地，也可以设置电阻、电容、三极管等电子元件。这些电子元件可用于保证在第一侦测转接板200A中传输的信号的完整性。

第一侦测转接板200A还包括侦测转接板高速接口202A和侦测点接口203A，侦测转接板高速接口202A和侦测点接口203A通信连接。具体地，第一侦测转接板200A的侦测转接板高速接口202A和侦测点接口203A可通过第二线路板201A通信连接。示例性地，在第一侦测转接板200A中，侦测转接板高速接口202A位于第二线路板201A的周部，具体地位于图3所示的可见的一面的边缘部分，且可位于侦测点接口203A的一侧。第一侦测转接板200A可包括多个侦测点接口203A，侦测转接板高速接口202A位于全部的这些侦测点接口203A的一侧。

第一侦测转接板200A的侦测转接板高速接口202A用于与测试转接板100的测试转接板高速接口104通信连接。侦测转接板高速接口202A和测试转接板高速接口104通常基于相同的通信协议传输信号，具体地，二者间可传输高速信号。

第一侦测转接板200A的侦测点接口203A用于与信号显示设备通信连接。侦测点接口203A的型号可基于待连接的信号显示设备而选用设置或设计制造。

参考图4，其中示出根据本申请一个实施方式的第二侦测转接板200B。第二侦测转接板200B与第一侦测转接板200A相似。第二侦测转接板200B可包括第二线路板201B。第二侦测转接板200B的第二线路板201B可例如是PCB，包括基材和设置在基材内部的导电线路。

进一步的，第二侦测转接板200B还包括侦测转接板高速接口202B和侦测点接口203B～204B。第二侦测转接板200B的侦测点接口203B～204B中，第一个侦测点接口204B与第一侦测转接板200A的侦测点接口203A是不同类型的接口。具体地，第二侦测转接板200B的第一个侦测点接口204B与第一侦测转接板200A的侦测点接口203A基于不同的通信标准传输信号。

示例性地，第二侦测转接板200B也可包括与第一侦测转接板200A相同类型的接口，例如第二个侦测点接口203B可以与第一侦测转接板200A的侦测点接口203A类型相同。

第二侦测转接板200B的侦测点接口203B～204B可以与第二侦测转接板200B的侦测转接板高速接口202B通信连接于不同的部分。具体地，第二侦测转接板200B的侦测点接口203B～204B和侦测转接板高速接口202B可通过第二线路板201B通信连接。

示例性地，在第二侦测转接板200B中，侦测转接板高速接口202B位于第二线路板201B的外侧。

第二侦测转接板200B的侦测转接板高速接口202B也用于与测试转接板100的测试转接板高速接口104通信连接。侦测转接板高速接口202B和测试转接板高速接口104可基于相同的通信协议传输信号，具体地，二者间传输高速信号。

第二侦测转接板200B的第一个侦测点接口204B和第二个侦测点接口203B可用于与不同的信号显示设备通信连接。当然也可与一个信号显示设备的不同接口通信连接。

本申请提供的测试转接装置还可包括其他的侦测转接板，在此不一一赘述。这些侦测转接板设置有相互不同的侦测点接口，进而每个侦测转接板的第二线路板的具体设计可有所差别，并可通过侦测转接板高速接口与测试转接板100通信连接。具体地，可以与测试转接板100的测试转接板高速接口104通信连接。当测试转接板100包括多个测试转接板高速接口时，可以将侦测转接板高速接口与这些测试转接板高速接口中的一个设置为基于相同的通信协议传输信号。

本申请实施例提供的测设转接装置，包括测试转接板100和多个侦测转接板200A～200B。进一步地，测设转接装置包括多个测试转接板和多个侦测转接板。每个侦测转接板都可以与测试转接板灵活快速的连接与拆卸，每个测试转接板都可以与侦测转接板灵活快速的连接与拆卸。

当一个侦测转接板200A(200B)的侦测转接板高速接口202A(202B)与测试转接板100的测试转接板高速接口104通信连接后，可以使侦测点接口203A(203B～204B)与产品接口103以及测试接口102通信连接；同时，由于不同的侦测转接板200A～200B上设置有不同的侦测点接口203A～204B，可以使测试转接板100方便的切换、连接到的不同的侦测点接口203A～204B，以适应多样化的测试需求。

以下结合图5和图6来描述本申请提供的测试系统并进一步描述前述的测试转接装置的具体实施方式。

参考图5和图6，该实施方式提供的测试系统1可包括测试设备300、信号显示设备400和测试转接装置10。测试转接装置10包括测试转接板100和至少两个侦测转接板200A～200B。该测试系统1通过测试转接装置10将测试设备300、信号显示设备400和待测产品500通信连接，可用于测试待测产品500。

待测产品500的种类可以是多种多样的，其测试需求也不同。例如在芯片测试领域，待测产品500可以是待测芯片(Device Under Test，DUT)。对待测产品500可以进行后道测试(FT)或特性测试(CHAR)等。

针对不同的待测产品500，在测试前需要了解集成电路及其相关电路的工作原理，要熟悉所用集成电路的功能、内部电路、主要电气参数、各引脚的作用以及引脚的正常电压、波形与外围元件组成电路的工作原理等。进而针对不同的待测产品500通常要设计不同的测试转接装置10。具体地，本申请提供的测试转接装置10包括多个侦测转接板200A～200B，可以提供不同类型的侦测点接口203A～204B。

此时测试设备300可以选用例如集成电路测试设备。测试设备300可用作电源，也可用于提供测试信号。针对不同的测试，测试设备300可提供低速信号、高速信号；还可以提供不同波形的信号，包括模拟信号、数字信号等。

回到图1、图2和图5，测试转接板100的第一线路板101包括相对的两面，即图2或图5所示的顶面和底面。测试接口102设置于底面，产品接口103和测试转接板高速接口104设置在顶面。这样的布局可以使测试接口102与测试设备300方便地通信连接，并使产品接口103和测试转接板高速接口104具有较好的操作空间。

待测产品500设置于产品接口103处并与产品接口103通信连接。具体地，产品接口103可以是芯片插座，与待测芯片500固定地电连接。

在示例性实施方式中，第一侦测转接板200A的侦测转接板高速接口202A与测试转接板高速接口104适于通过插接的方式固定电连接。

如图5所示，第一侦测转接板200A的侦测转接板高速接口202A与测试转接板高速接口104插接后，第一侦测转接板200A与测试转接板100平行。

进一步地，在示例性实施方式中，第一侦测转接板200A的第二线路板201A包括相对的两面，如图5中的顶面和底面。第一侦测转接板200A中，侦测点接口203A设置于第二线路板201A的顶面；侦测转接板高速接口202A设置于第二线路板201A的周部，具体地位于底面的边缘部分，使侦测点接口203A远离产品接口103。如此设置，测试转接装置10结构紧凑，占用空间小，并且可以为侦测点接口203A提供较好的操作空间。

如图6所示，第二侦测转接板200B的侦测转接板高速接口202B与测试转接板高速接口104插接后，第二侦测转接板200B与测试转接板100垂直。

在示例性实施方式中，第二侦测转接板200B的第二线路板201B包括相对的两面，如图6所示的左面和右面。第二侦测转接板200B中，第二线路板201B的左面和右面均设置有侦测点接口，其中第一个侦测点204B和第二个侦测点203B的设置位置基于需求设计而定；侦测转接板高速接口202B设置于第二线路板201B的周部，具体地设置于外侧，使侦测点接口203B～204B远离产品接口103。

在示例性实施方式中，第二侦测转接板200B与测试转接板100可以具有其他的连接方式实现垂直设置。

测试转接板100可放置在测试设备300上方，受制于测试设备300的尺寸限制，测试转接板100的尺寸受限且其上的布局空间有限。两个信号显示设备400分别放在测试设备300的两侧。

第二侦测转接板200B相对测试转接板100垂直设置后，可以避免与信号显示设备400干涉。进而信号显示设备400与测试设备300的放置位置比较接近。操作者可以同时观测不同的信号显示设备400，并且操作测试设备300。垂直设置的第二侦测转接板200B的两面都可以使用，避免其中一面被遮挡。而且与信号显示设备400连接的线缆具有更宽松的放置空间，可避免缠绕等情况并便于拔插。

示例性地，第二侦测转接板200B上可以设置更多的侦测点接口203B～204B，可以同时连接多个信号显示设备400，避免在需要侦测多个信号时不得不牺牲一些信号。进一步地，第二侦测转接板200B垂直设置后，其在图示竖向方向上的长度可不受限制。根据侦测点接口203B～204B的设计需要，第二侦测转接板200B的长度可以加长，以在一个第二侦测转接板200B中集成全部所需的侦测点接口203B～204B。

示例性地，侦测点接口203B～204B数量不变时，设置在双面可比设置在单面更紧凑，第二侦测转接板200B的尺寸可以较小。

图5和图6示出了测试系统1的不同使用状态，也即示出了测试转接装置10的不同使用状态。

本领域技术人员应当理解，图5和图6仅仅是一些示例性的使用状态，在不脱离本申请的教导的前提下，测试系统及测试转接装置可以有其他的样式。例如测试转接装置设置在测试设备的侧面。例如测试转接板的测试接口设置于第一线路板的外周。本申请涉及的保护范围不应仅限于所提供的示例。

在示例性实施方式中，第一侦测转接板200A的侦测转接板高速接口202A与测试转接板高速接口104适于以不小于10GB/s的带宽通信连接。在示例性实施方式中，侦测转接板高速接口202A和测试转接板高速接口104选用可传输PCIe标准信号速率的硬件接口，使得侦测转接板高速接口202A的传输速率不小于PCIe标准信号速率，测试转接板高速接口104的传输速率不小于PCIe标准信号速率。例如，侦测转接板高速接口202A的传输速率不小于2.5GT/s；进一步地，侦测转接板高速接口202A的传输速率不小于16GT/s。

在不同类型的测试中，由于对于信号的观察目的不同，测试转接装置10需要连接的信号显示设备400也不同。例如，需要测高速信号时侦测点接口可设置为SMP接口或者SMA接口(SubMiniature version A connector)；需要测低速信号时，侦测点接口可以是排线接口。

在更具体的测试项目中，需要设置对应的信号显示设备400。例如功能测试关注整体波形有没有问题，通常会引出较多的信号并接到逻辑分析仪或协议分析仪等设备；特性测试关注信号细节，通常会引出少量信号并接到示波器等设备；如果要观察电流，则需要接到电表或特殊电流探棒。继而为了与这些不同的信号显示设备400匹配，侦测转接板需要配备不同型号的侦测点接口，例如探针插口，或者用于与线夹匹配的凸起。

本申请提供的测试系统1，在使用时基于测试需求而选择第一侦测转接板200A，并将第一侦测转接板200A与测试转接板100通信连接。继而与测试设备300、信号显示设备400和待测产品500通信连接。

测试设备300向测试转接板100发出测试信号。测试转接板100的第一线路板101通过测试接口102接受测试信号，并利用其内部的线路将测试信号通过产品接口103传输给待测产品500。待测产品500接受待测信号。示例性地，待测产品500可以完整地将待测信号发出，或者发出响应信号。第一线路板101通过产品接口103接受待测产品500发出的待测信号或响应信号并通过测试转接板高速接口104发出。

第一侦测转接板200A的第二线路板201A通过侦测转接板高速接口202A接受到待测产品500发出的待测信号或响应信号并通过侦测点接口203A发出。信号显示设备400通过其探针等输入接口接受到待测产品500发出的待测信号或响应信号。信号显示设备400可通过其输出装置例如屏幕、指示表等显示所接收的信号。

当对于待测产品500的一些测试完成后，需要进行另一些测试时，将测试转接装置10中，连接于测试转接板100的第一侦测转接板200A更换为第二侦测转接板200B，以使该测试系统1更换状态，即提供不同的侦测点接口。并且这样的更换可以对待测产品500的同一个管脚实行不同的侦测方式，进而观察、测试性能。

利用本申请提供的测试系统1可以实现简单的通电观察、静态调试，也可以通过产生合适的信号来进行动态调试。也可以用于收集待测产品500的信号。还可以设计程序来自动测试。

本申请提供的测试转接装置及测试系统，在有限的安装空间可以扩展各种各样的侦测点接口。而且测试转接板及侦测转接板上的线路布局比较简单，每块板的设计都比较容易，且信号完整性容易保证。该测试转接装置及测试系统可以用于不同类型的测试，而且不同的使用人员都可以使用，避免重复设计和制造。而且面对新的测试需求时，扩展性好，通用性好，设计难度降低。

在示例性实施方式中，本申请提供的测试系统用于测试NAND型(与非型)闪存、UFS闪存或EMMC闪存。示例性地，测试设备300是ATE。

例如待测产品500是UFS闪存，可包括被定义为支持PCIE3.0协议的金手指插头，例如M.2金手指插头。

参考图5，示例性实施方式中，测试转接装置10的产品接口103是金手指插座，例如M.2插座，用于安装UFS闪存。将产品接口103中需要工程量测的信号对应的针脚通过走线集中连接到测试转接板高速接口104。测试转接板高速接口104是金手指插座，例如PCIE×16插槽。

对应测试转接板高速接口104的侦测转接板高速接口202A是金手指插头。同时侦测转接板高速接口202A与测试转接板高速接口104支持至少12Gbps速率，以传输高速信号。

侦测点接口203A被配置为同轴连接器(BNC)。而信号显示设备400包括协议分析仪。协议分析仪可通过线缆与BNC连接。由于信号显示设备400具有一定的体积，因此无法与测试设备300临近放置，进而需使用较长的线缆。BNC具有较好的抗信号衰减性能。

另一个第一侦测转接板200A包括设置为金手指插头的侦测转接板高速接口202A和设置为探针插口的侦测点接口203A。信号显示设备400包括示波器。示波器的探棒与探针插口连接，进而用于侦测UFS闪存的信号的电平。

相比于在测试转接板上设计不同的侦测点接口的传统方式，本申请通过使用测试转接板100来搭配多个具有不同侦测点接口203A的第一侦测转接板200A，可满足各种不同的工程侦测信号需求。测试转接板的制造成本可达第一侦测转接板200A的制造成本的百倍。本申请提供的测试转接装置大大节省了成本，尤其是在整体的多需求工程测试中。

在示例性实施方式中，一个第一侦测转接板200A也可以应用于不同的测试转接板100中。例如另一套用于测试NAND闪存的测试转接板100也可以使用前述具有探针插口的第一侦测转接板200A。进而该示波器也可用于测试NAND闪存的信号的电平。

适用于不同产品的两个测试转接板100的走线可能不同，通过定义高速信号及电平信号的位置，使得在各自的测试转接板高速接口104处能保持一致。则同一个第一侦测转接板200A可以通过侦测转接板高速接口202A来连接到不同的测试转接板100并用于传输信号。

例如待测产品500是NAND型闪存，可包括被定义为支持PCIE3.0协议金手指插头，例如M.2金手指。

参考图6，在示例性实施方式中，测试转接装置10的产品接口103是金手指插座，例如M.2插座。产品接口103用于安装NAND型闪存。测试接口102与产品接口103的一部分通过测试转接板100内的走线通信连接，并与测试设备300通信连接。测试转接板高速接口104是金手指插座，PCIE×16插槽。

第二侦测转接板200B的各接口可设置于PCB板上。侦测转接板高速接口202B是金手指插头，可以是直接贴片在PCB上的金手指组成的插头。第二侦测转接板200B通过侦测转接板高速接口202B直接插接到测试转接板高速接口104并电连接。

第二侦测转接板200B上的各侦测点接口203B～204B可以参照前述实施例中的侦测点接口，进而适用于各种信号显示设备400。左侧的信号显示设备400与第二个侦测点接口203B通信连接。右侧的信号显示设备400与第一个侦测点接口204B通信连接。两个信号显示设备400可同时用于对NAND型闪存侦测。

测试设备300通过测试接口102、产品接口103而向待测产品500发送信号。待测产品500回馈的信号经测试转接板高速接口104和侦测转接板高速接口202B传输到第二侦测转接板200B。根据第二侦测转接板200B内的走线设计，使得高速信号传输到第一个侦测点接口204B并传输到例如协议分析仪。低速信号传输到第二个侦测点接口203B并传输到另一个信号显示设备400。

以上描述仅为本申请的较佳实施方式以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的保护范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述技术构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (16)

1.一种测试转接装置，其特征在于，包括：

测试转接板，包括：

产品接口，包括相对设置并通信连接的第一端和第二端，所述第一端用于与待测产品通信连接，所述第二端的一部分适于与用于对所述待测产品进行测试的测试设备通信连接；以及

测试转接板高速接口，与所述第二端的另一部分通信连接；以及

多个侦测转接板，每个所述侦测转接板包括：

侦测转接板高速接口，用于与所述测试转接板高速接口可拆卸地通信连接；以及

至少一个侦测点接口，所述侦测点接口与所述侦测转接板高速接口通信连接，并用于与信号显示设备通信连接；

其中，不同的所述侦测转接板包括不同类型的侦测点接口。

2.根据权利要求1所述的测试转接装置，其中，所述侦测转接板相对所述测试转接板垂直地布置。

3.根据权利要求1所述的测试转接装置，其中，所述测试转接板还包括：

测试接口，与所述第二端的所述一部分通信连接，并用于与所述测试设备通信连接。

4.根据权利要求1所述的测试转接装置，其中，所述侦测转接板高速接口和所述测试转接板高速接口被配置为传输速率不小于PCIe标准信号速率。

5.根据权利要求1所述的测试转接装置，其中，所述测试转接板包括第一线路板；所述第一线路板包括相对的两面；

所述测试接口与所述产品接口设置于所述第一线路板的所述两面的不同面；

所述测试转接板高速接口与所述产品接口设置于所述第一线路板的所述两面的相同面。

6.根据权利要求1所述的测试转接装置，其中，所述侦测转接板高速接口与所述测试转接板高速接口适于通过插接的方式固定电连接。

7.根据权利要求6所述的测试转接装置，其中，所述侦测转接板与所述测试转接板插接后，所述侦测转接板与所述测试转接板平行或垂直。

8.根据权利要求5所述的测试转接装置，其中，所述侦测转接板包括第二线路板；所述第二线路板包括相对的两面；

所述侦测点接口设置于所述第二线路板的两面中的至少一面；

所述侦测转接板高速接口设置于所述第二线路板的周部，使所述侦测点接口在所述侦测转接板高速接口与所述测试转接板高速接口插接后远离所述产品接口。

9.根据权利要求1所述的测试转接装置，其中，所述侦测转接板高速接口与所述测试转接板高速接口被配置为适于以不小于10GB/s的带宽通信连接。

10.根据权利要求1所述的测试转接装置，其中，所述测试转接板包括多个测试转接板高速接口和多个产品接口，每个所述产品接口与一个所述测试转接板高速接口通信连接。

11.根据权利要求1所述的测试转接装置，其中，所述侦测点接口是SMP接口、BNC接口、排线接口和探针插口中的至少之一。

12.根据权利要求1所述的测试转接装置，其中，所述侦测点接口用于与示波器、逻辑分析仪、协议分析仪、电表或电流探棒中的至少之一通信连接。

13.根据权利要求1所述的测试转接装置，其中，所述产品接口是芯片插座。

14.根据权利要求1所述的测试转接装置，其中，所述测试转接装置用于安装NAND型闪存，所述产品接口是金手指插座，所述测试转接板高速接口是金手指插座；以及

所述侦测转接板高速接口是金手指插头，所述侦测点接口包括BNC接口和探针插口。

15.一种测试系统，其特征在于，包括：

测试设备，用于对被测产品执行测试操作；

如权利要求1至14中任一项所述的测试转接装置，其中，至少一个所述侦测转接板与所述测试转接板通信连接，所述测试转接板与所述测试设备通信连接；以及

至少一个信号显示设备，与所述至少一个侦测转接板通信连接。

16.根据权利要求15所述的测试系统，其中，所述测试系统用于测试NAND型闪存，以及，

所述测试转接装置用于安装NAND型闪存，其中，所述产品接口是金手指插座，所述测试转接板高速接口是金手指插座，所述侦测转接板高速接口是金手指插头，所述侦测点接口包括BNC接口和探针插口，所述测试转接板包括与所述第二端的所述一部分通信连接的测试接口，所述测试接口是金手指插座；

所述测试设备是与所述测试接口通信连接的自动测试设备；以及

所述至少一个信号显示设备包括：适配于BNC接口的协议分析仪，以及适配于探针插口的示波器。

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