CN212341337U - 总线接口的测试辅助装置及测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种总线接口的测试辅助装置及测试系统，所述测试辅助装置包括测试板；若干连接器，设置于所述测试板上；若干探针，设置于所述测试板的一侧，且每个所述探针的一端与一所述连接器连接，每个所述探针的另一端与所述总线接口的一个接口连接；其中，所述连接器的未与所述探针连接的一端作为与信号源或者示波器连接的端头。利用本实用新型的总线接口的测试辅助装置能够对非标准总线接口进行测试时，能够避免造成待测非标准总线接口和待测主板损害的风险，节省人力资源和测试时间，并且电路简单易于实现。

Description

总线接口的测试辅助装置及测试系统

技术领域

本实用新型涉及总线接口测试技术领域，特别是涉及一种总线接口的测试辅助装置及测试系统。

背景技术

PCIE(PCI-Express)总线传输速度较快，目前最新的PCIE GEN4已经达到16Gbps，得到了广泛的应用。速度较快的同时也伴随着信号完整性的问题，在现有的电子设备中，尤其是电脑主板上的PCIE设备都需要通过一个标准治具进行测试，对于标准的PCIE总线接口，一般会采用一个测试小板(例如Wilder PCIE M.2fixture)，该测试小板上面有标准的PCIE连接口，能够将PCIE Device直接接到测试小板上，测试小板会引出PCIE的TX+/TX-，RX+/RX-，CLOCK+/CLOCK-三对差分信号，分别接到示波器和任意信号源的各通道进行测试。

但是，也存在一些非标准的PCIE总线接口，这些非标准的PCIE总线接口不能直接连接到现有的测试小板上。现有的解决办法是将被测的PCIE总线接口的3对差分信号TX+/TX-，RX+/RX-，CLOCK+/CLOCK-都引出，通过焊接的方式接到标准的PCIE总线接口上，再将标准的PCIE总线接口连接到现有的测试小板(例如Wilder PCIE M.2fixture)上。焊接工艺消耗的时间较长，造成人力和时间的浪费，而且需焊接的PCIE内置口较多，焊接工艺会导致PCIE总线接口和待测主板的损坏，风险比较大。

实用新型内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种总线接口的测试辅助装置及测试系统，用于解决现有技术中的对非标准PCIE总线接口进行测试时耗费时间长，造成人力和时间浪费，以及容易导致非标准PCIE总线接口和待测主板损坏的技术问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型提供一种总线接口的测试辅助装置，所述总线接口的测试辅助装置包括：

测试板；

若干连接器，设置于所述测试板上；

若干探针，设置于所述测试板上，且每个所述探针的一端与一所述连接器连接，每个所述探针的另一端与所述总线接口的一个接口连接；

其中，所述连接器的未与所述探针连接的一端作为与信号源或者示波器连接的端头。

在一可选实施例中，所述测试辅助装置包括至少六个所述连接器和六个所述探针。

在一可选实施例中，六个所述探针分成三对，其中一对所述探针与所述总线接口的一对输入接口连接，另一对所述探针与所述总线接口的一对输出接口连接，第三对所述探针与所述总线接口的时钟接口连接。

在一可选实施例中，通过所述探针与所述总线接口的一对输入接口连接的两个所述连接器分别与所述信号源连接。

在一可选实施例中，通过所述探针与所述总线接口的一对输出接口连接的两个所述连接器分别与所述示波器连接。

在一可选实施例中，通过所述探针与所述总线接口的一对时钟接口连接的两个所述连接器分别与所述示波器连接。

在一可选实施例中，所述测试辅助装置还包括至少一对隔直接头，通过所述探针与所述总线接口的一对输出接口连接的两个所述连接器通过该对隔直接头与所述示波器连接。

在一可选实施例中，所述测试辅助装置还包括欧姆端子

在一可选实施例中，所述总线接口包括非标准总线接口。

为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型还提供一种总线接口的测试系统，所述测试系统包括：

总线接口的测试辅助装置；

示波器；以及

信号源；

其中，所述总线接口的测试辅助装置包括

测试板；

若干连接器，设置于所述测试板上；

若干探针，设置于所述测试板上，且每个所述探针的一端与一所述连接器连接，每个所述探针的另一端与所述总线接口的一个接口连接；

其中，所述连接器的未与所述探针连接的一端分别与所述信号源或所述示波器连接。

利用本实用新型的总线接口的测试辅助装置能够将现有测试方案中需对被测的非标准PCIE总线接口进行焊接的方式改为点接，避免造成待测非标准PCIE总线接口和待测主板损害的风险，节省人力资源和测试时间，并且电路简单易于实现。

附图说明

图1显示为本实用新型的总线接口的测试辅助装置的结构示意图。

图2显示为本实用新型的总线接口的测试系统。

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本实用新型的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点与功效。本实用新型还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本实用新型的精神下进行各种修饰或改变。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

需要说明的是，本实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本实用新型的基本构想，遂图式中仅显示与本实用新型中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。

对于非标准的PCIE总线接口进行测试时，一般是将被测的PCIE总线接口的3对差分信号TX+/TX-，RX+/RX-，CLOCK+/CLOCK-(在附图1和2中简写为CLK+/CLK-)都引出，通过焊接的方式接到标准的PCIE总线接口上，再将标准的PCIE总线接口连接到现有的测试小板(例如Wilder PCIE M.2fixture)上，这种方式存在焊接工艺消耗的时间较长，造成人力和时间的浪费，而且需焊接的PCIE内置口较多，焊接工艺会导致PCIE总线接口和待测主板的损坏，风险比较大的问题，为了解决上述问题，本实用新型提供一种可适用于非标准PCIE总线接口的测试辅助装置及测试系统，其中，图1示出了本实施例的总线接口的测试辅助装置的结构示意图，图2示出了本实用新型的总线接口的测试系统的结构示意图。

请参阅图1和图2，所述总线接口的测试辅助装置包括测试板1(也即图1和图2中的测试小板)、连接器2、探针以及连接线缆5，所述连接器2设置于所述测试板1上，所述探针设置于所述测试板1的一侧，所述连接器2的一端通过连接线缆5与探针连接，另一端通过连接线缆5与示波器8或者信号源7连接，所述探针的未与所述连接器2连接的一端用于与被测的非标准PCIE总线接口的端口形成点接触。利用本实用新型的总线接口的测试辅助装置可以将现有测试方案中需对被测的非标准PCIE总线接口进行焊接的方式改为点接，避免造成待测非标准PCIE总线接口和待测主板损害的风险，节省人力资源和测试时间，并且电路简单易于实现。

具体地，请参阅图1和图2，所述总线接口的测试辅助装置包括测试板1，设置于所述测试板1上的若干连接器2，若干设置于所述测试板1一侧的若干探针，以及若干连接线缆5。所述连接器2和所述探针一一对应，也即所述连接器2和所述探针的个数相同，所述连接器2和所述探针的个数可以根据被测的非标准PCIE总线接口的接口总数来设定，所述探针的布置方式可根据被测的非标准PCIE总线接口的各接口的布置方式来对应设置，从而可以保证各探针同时与被测的非标准PCIE总线接口的各接口形成点接触；所述连接器2的未与探针连接的一端通过连接线缆5可根据实际需要连接示波器8或信号源7中的一种。

作为示例，所述连接器2包括但不限于SMA(Subminiature-A)连接器2，以实现良好的连接性能。SMA连接器2是一种应用广泛的小型螺纹连接的同轴连接器2，SMA连接器2适用于频率范围直流至26.5GHz的微波领域的应用，应用范围如电信通讯、网络、无线通讯以及检测和测量仪器，SMA连接器2适用于微波设备和数字通信系统的射频回路中连接射频电缆或微带线。需要说明的是，所述连接器2也可以是采用其他形式的射频/微波连接器2。

需要说明的是，在实用新型中，所述信号源7包括正弦波信号源7，函数发生器、脉冲发生器、扫描发生器、任意波形发生器、合成信号源7。为了适合各种实验要求，所述信号源7例如可采用任意波形发生器。

下面将以包含6个接口的非标准PCIE总线接口为例来说明本实用新型的技术方案。

请参阅图1和图2，所述非标准PCIE总线接口的测试辅助装置包括测试板1，六个SMA连接器2(分别是RX+端SMA连接器2，RX-端SMA连接器2，CLOCK+端SMA连接器2，CLOCK-端SMA连接器2，TX+端SMA连接器2，TX-端SMA连接器2)，六个探针(分别命名为第一探针3a，第二探针3b，第三探针3c，第四探针3d，第五探针3e，第六探针3f)，以及若干连接线缆5。所述探针设置于所述测试板1的一侧，每个所述SMA连接器2的一端通过连接线缆5与一所述探针连接，每个所述SMA连接器2未与探针连接的一端与示波器8或任意波形发生器通过连接线缆5连接，所述探针的未与所述SMA连接器2连接的一端用于与被测的非标准PCIE总线接口的端口形成点接触。相互连接的一个SMA连接器2与一探针共同构成一个连接通路，该连接通路将非标准PCIE总线接口的一个接口连接到示波器8或任意波形发生器(当然也可以是其他形式的信号源7)一个通道(Channel)上，测试板1上的RX+/RX-/CLOCK+/CLOCK-/TX+/TX-六个测试点均为SMA连接器2方式，可以便于和示波器8活任意波形发生器的连接。

作为示例，第一探针3a/第二探针3b/第三探针3c/第四探针3d/第五探针3e/第六探针3f与测试板1的连接方式可以为焊接，当然也可以采用其他方式。

作为示例，六个所述探针分成三对，其中一对所述探针(第一探针3a和第二探针3b)与所述总线接口的一对输入接口(也即接口RX+和接口RX-)连接，另一对所述探针(第三探针3c和第四探针3d)与所述总线接口的一对输出接口(也即接口TX+和接口TX-)连接，第三对所述探针(第五探针3e和第六探针3f)与所述总线接口的时钟接口(也即接口CLOCK+和接口CLOCK-)连接。具体地，所述第一探针3a的一端与被测得非标准PCIE总线接口的RX+相点接，另一端与测试小板的RX+端SMA连接器2相连；第二探针3b的一端与被测得非标准PCIE总线接口的RX-相点接，另一端与测试小板的RX-端SMA连接器2相连；第三探针3c的一端与被测得非标准PCIE总线接口的CLOCK+相点接，另一端与测试小板的CLOCK+端SMA连接器2相连；第四探针3d的一端与被测得非标准PCIE总线接口的CLOCK-相点接，另一端与测试小板的CLOCK-端SMA连接器2相连；第五探针3e的一端与被测得非标准PCIE总线接口的TX+相点接，另一端与测试小板的TX+端SMA连接器2相连；第六探针3f的一端与被测得非标准PCIE总线接口的TX-相点接，另一端与测试小板的TX-端SMA连接器2相连。

作为示例，在进行进行非标准PCIE总线TX接口测试时，通过所述探针与总线接口的一对输入接口(接口RX+和接口RX-)连接的两个所述SMA连接器2(RX+端SMA连接器2和RX-端SMA连接器2)分别与所述任意波形发生器连接；通过所述探针与总线接口的一对输出接口(接口TX+和接口TX-)连接的两个所述连接器2(TX+端SMA连接器2和TX-端SMA连接器2)分别与所述示波器8连接；通过所述探针与总线接口的一对时钟接口(接口CLOCK+和接口CLOCK-)连接的两个所述连接器2(CLOCK+端SMA连接器2和CLOCK-端SMA连接器2)分别与所述示波器8连接。具体地，在进行非标准PCIE总线TX接口测试时，测试板1的RX+/RX-端SMA连接器2通过一对隔直接头4a和4b(DC Block，也称为隔直模块)接到任意波形发生器的Channel 1/Channel 2)(通道1/通道2)，该连接可以保证非标准PCIE总线TX信号能够顺利出发；测试板1上的CLOCK+/CLOCK-端SMA连接器2通过一对SMA Cable(连接线缆5)分别连接到示波器8的Channel 1/Channel 2(通道1/通道2)；测试板1上的TX+/TX-端SMA连接器2通过一对SMA Cable(连接线缆5)分别连接到示波器8的Channel 3/Channel 4(通道3/通道4)。

需要说明的是，上述示波器8的Channel 1-4只是为了便于说明而命名的，并不是特指某个对应的Channel。作为示例，例如也可以将测试板1上的TX+/TX-端SMA连接器2通过一对SMA Cable(连接线缆5)分别连接到示波器8的Channel 1/Channel 2(通道1/通道2)，而将测试板1上的CLOCK+/CLOCK-端SMA连接器2通过一对SMA Cable(连接线缆5)分别连接到示波器8的Channel 3/Channel 4(通道3/通道4)上。

所述非标准PCIE总线接口的测试辅助装置原理如下：通过第一探针3a/第二探针3b与被测的非标准PCIE总线接口RX+/RX-分别相点接，然后通过测试板1的RX+/RX-端SMA连接器2把信号引到任意波形发生器；通过第三探针3c/第四探针3d与被测的非标准PCIE接口CLOCK+/CLOCK-分别相点接，然后通过测试板1的CLOCK+/CLOCK-端SMA连接器2把信号引到示波器8的Channel 1/Channel 2；通过第五探针3e/第六探针3f与被测的非标准PCIE接口TX+/TX-分别相点接，然后通过测试板1的TX+/TX-端SMA连接器2把信号引到示波器8Channel 3/Channel 4；测试时，利用任意波形发生器对非标准PCIE总线接口RX发射信号，使被测的主板发出相应的TX信号，从而通过第五探针3e/第六探针3f捕捉到信号，再利用示波器8捕捉到合适的波形进行分析。

需要说明的是，虽然图1和图2中只示出了包含六个SMA连接器2和六个探针的情况，也即一对TX(TX+和TX-)连接通路，一对RX(RX+和RX-)连接通路，一对CLOCK(CLOCK+和CLOCK-)连接通路，但可以理解的是，当需要同时对多个非标准PCIE总线进行测试时，可以对测试板1进行扩展，扩展多对TX和多对RX连接通路(可以不扩展CLOCK连接通路，而是共用一对CLOCK连接通路)，每路TX(TX+或TX-)连接通路包括相互连接的一个SMA连接器2和一探针，同样，每路RX(RX+或RX-)连接通路包括相互连接的一个SMA连接器2和一探针，并且TX连接通路的对数与RX连接通路的对数相同；也就是可以在测试板1通过增加SMA连接器2及探针的个数来进行扩展多路TX/RX连接通路，扩展的SMA连接器2及探针的个数是4的倍数。

当测试板1上存在多对TX连接通路和多对RX连接通路时，在对部分PCIE设备进行信号完整性测试时，为了测试信号的稳定，需要在未进行测试的若干对TX连接通道的TX+端SMA连接器2和TX-端SMA连接器2的未与探针连接的一端分别插接一欧姆端子。作为示例，所述欧姆端子为50欧姆端子，当然也可以采用其他电阻值的欧姆端子。需要说明的是，欧姆端子也可以通过一等值的电阻来进行替换，当采用电阻时，电阻的一端与SMA连接器2的未与探针连接的一端连接，而另一端悬空设置。

需要说明的是，本实用新型的总线接口的测试辅助装置及测试系统同样适应于标准的PCIE总线接口的测试；本实用新型的总线接口的测试辅助装置及测试系统的技术方案通过变形也同样也适用于其他标准或非标准的总线接口的测试。

本实用新型的总线接口的测试辅助装置包括测试板；若干连接器，设置于所述测试板上；若干探针，设置于所述测试板上，且每个所述探针的一端与一所述连接器连接，每个所述探针的另一端与所述总线接口的一个接口连接；其中，所述连接器的未与所述探针连接的一端作为与信号源或者示波器连接的端头。利用本实用新型的总线接口的测试辅助装置能够将现有测试方案中需对被测的非标准PCIE总线接口进行焊接的方式改为点接，避免造成待测非标准PCIE总线接口和待测主板损害的风险，节省人力资源和测试时间，并且电路简单易于实现。

本实用新型的实施例还公开一种总线接口的测试系统，该测试系统包括上文介绍的总线接口的测试辅助装置及配套使用的信号源和示波器。具体地的连接关系详见上文的描述，在此不做赘述。

在本文的描述中，提供了许多特定细节，诸如部件和/或方法的实例，以提供对本实用新型实施例的完全理解。然而，本领域技术人员将认识到可以在没有一项或多项具体细节的情况下或通过其他设备、系统、组件、方法、部件、材料、零件等等来实践本实用新型的实施例。在其他情况下，未具体示出或详细描述公知的结构、材料或操作，以避免使本实用新型实施例的方面变模糊。

在整篇说明书中提到“一个实施例(one embodiment)”、“实施例(anembodiment)”或“具体实施例(a specific embodiment)”意指与结合实施例描述的特定特征、结构或特性包括在本实用新型的至少一个实施例中，并且不一定在所有实施例中。因而，在整篇说明书中不同地方的短语“在一个实施例中(in one embodiment)”、“在实施例中(in an embodiment)”或“在具体实施例中(in a specific embodiment)”的各个表象不一定是指相同的实施例。此外，本实用新型的任何具体实施例的特定特征、结构或特性可以按任何合适的方式与一个或多个其他实施例结合。应当理解本文所述和所示的实用新型实施例的其他变型和修改可能是根据本文教导的，并将被视作本实用新型精神和范围的一部分。

还应当理解还可以以更分离或更整合的方式实施附图所示元件中的一个或多个，或者甚至因为在某些情况下不能操作而被移除或因为可以根据特定应用是有用的而被提供。

另外，除非另外明确指明，附图中的任何标志箭头应当仅被视为示例性的，而并非限制。此外，除非另外指明，本文所用的术语“或”一般意在表示“和/或”。在术语因提供分离或组合能力是不清楚的而被预见的情况下，部件或步骤的组合也将视为已被指明。

如在本文的描述和在下面整篇权利要求书中所用，除非另外指明，“一个(a)”、“一个(an)”和“该(the)”包括复数参考物。同样，如在本文的描述和在下面整篇权利要求书中所用，除非另外指明，“在…中(in)”的意思包括“在…中(in)”和“在…上(on)”。

本实用新型所示实施例的上述描述(包括在说明书摘要中所述的内容)并非意在详尽列举或将本实用新型限制到本文所公开的精确形式。尽管在本文仅为说明的目的而描述了本实用新型的具体实施例和本实用新型的实例，但是正如本领域技术人员将认识和理解的，各种等效修改是可以在本实用新型的精神和范围内的。如所指出的，可以按照本实用新型所述实施例的上述描述来对本实用新型进行这些修改，并且这些修改将在本实用新型的精神和范围内。

本文已经在总体上将系统和方法描述为有助于理解本实用新型的细节。此外，已经给出了各种具体细节以提供本实用新型实施例的总体理解。然而，相关领域的技术人员将会认识到，本实用新型的实施例可以在没有一个或多个具体细节的情况下进行实践，或者利用其它装置、系统、配件、方法、组件、材料、部分等进行实践。在其它情况下，并未特别示出或详细描述公知结构、材料和/或操作以避免对本实用新型实施例的各方面造成混淆。

因而，尽管本实用新型在本文已参照其具体实施例进行描述，但是修改自由、各种改变和替换意在上述公开内，并且应当理解，在某些情况下，在未背离所提出实用新型的范围和精神的前提下，在没有对应使用其他特征的情况下将采用本实用新型的一些特征。因此，可以进行许多修改，以使特定环境或材料适应本实用新型的实质范围和精神。本实用新型并非意在限制到在下面权利要求书中使用的特定术语和/或作为设想用以执行本实用新型的最佳方式公开的具体实施例，但是本实用新型将包括落入所附权利要求书范围内的任何和所有实施例及等同物。因而，本实用新型的范围将只由所附的权利要求书进行确定。

Claims (10)

1.一种总线接口的测试辅助装置，其特征在于，所述测试辅助装置包括：

测试板；

若干连接器，设置于所述测试板上；

若干探针，设置于所述测试板的一侧，且每个所述探针的一端与一所述连接器连接，每个所述探针的另一端与所述总线接口的一个接口连接；

其中，所述连接器的未与所述探针连接的一端作为与信号源或者示波器连接的端头。

2.根据权利要求1所述的总线接口的测试辅助装置，其特征在于，所述测试辅助装置包括至少六个所述连接器和六个所述探针。

3.根据权利要求1所述的总线接口的测试辅助装置，其特征在于，六个所述探针分成三对，其中一对所述探针与所述总线接口的一对输入接口连接，另一对所述探针与所述总线接口的一对输出接口连接，第三对所述探针与所述总线接口的时钟接口连接。

4.根据权利要求3所述的总线接口的测试辅助装置，其特征在于，通过所述探针与所述总线接口的一对输入接口连接的两个所述连接器分别与所述信号源连接。

5.根据权利要求3所述的总线接口的测试辅助装置，其特征在于，通过所述探针与所述总线接口的一对输出接口连接的两个所述连接器分别与所述示波器连接。

6.根据权利要求3所述的总线接口的测试辅助装置，其特征在于，通过所述探针与所述总线接口的一对时钟接口连接的两个所述连接器分别与所述示波器连接。

7.根据权利要求3所述的总线接口的测试辅助装置，其特征在于，所述测试辅助装置还包括至少一对隔直接头，通过所述探针与所述总线接口的一对输出接口连接的两个所述连接器通过该对隔直接头与所述示波器连接。

8.根据权利要求3所述的总线接口的测试辅助装置，其特征在于，所述测试辅助装置还包括欧姆端子。

9.根据权利要求1-8中任意一项所述的总线接口的测试辅助装置，其特征在于，所述总线接口包括非标准总线接口。

10.一种总线接口的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：

总线接口的测试辅助装置；

示波器；以及

信号源；

其中，所述总线接口的测试辅助装置包括

测试板；

若干连接器，设置于所述测试板上；

若干探针，设置于所述测试板上，且每个所述探针的一端与一所述连接器连接，每个所述探针的另一端与所述总线接口的一个接口连接；

其中，所述连接器的未与所述探针连接的一端分别与所述信号源或所述示波器连接。

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