CN111077426A - 一种边界扫描适配器 - Google Patents

一种边界扫描适配器 Download PDF

Info

Publication number
CN111077426A
CN111077426A CN201811230533.3A CN201811230533A CN111077426A CN 111077426 A CN111077426 A CN 111077426A CN 201811230533 A CN201811230533 A CN 201811230533A CN 111077426 A CN111077426 A CN 111077426A
Authority
CN
China
Prior art keywords
data register
tap controller
acquisition module
communication connection
signal acquisition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201811230533.3A
Other languages
English (en)
Inventor
刘震
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jiangsu Kai Ya Environmental Protection Technology Co ltd
Original Assignee
Jiangsu Kai Ya Environmental Protection Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jiangsu Kai Ya Environmental Protection Technology Co ltd filed Critical Jiangsu Kai Ya Environmental Protection Technology Co ltd
Priority to CN201811230533.3A priority Critical patent/CN111077426A/zh
Publication of CN111077426A publication Critical patent/CN111077426A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2844—Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31712—Input or output aspects
    • G01R31/31713—Input or output interfaces for test, e.g. test pins, buffers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种边界扫描适配器，包括分频器（1）、指令寄存器（2）、数据寄存器（3）、TAP控制器（4）、信号采集模块（5）、信号发生模块（6）以及通信接口（7），所述分频器（1）分别与数据寄存器（3）、TAP控制器（4）、信号采集模块（5）、信号发生模块（6）以及通信接口（7）电性连接，所述数据寄存器（3）与通信接口（7）通信连接，所述指令寄存器（2）与数据寄存器（3）通信连接，所述数据寄存器（3）与TAP控制器（4）通信连接，所述TAP控制器（4）与信号采集模块（5）通信连接。本发明采用边界扫描适配器，能够成功实现对含边界扫描器件电路板的在线测试、离线测试等功能，而且系统体积小，测试时与电路板的连接线少。

Description

一种边界扫描适配器
技术领域
本发明涉及计算机技术领域，具体涉及一种边界扫描适配器。
背景技术
随着电子技术的不断发展，电子设备中越来越多的使用大规模可编程数字逻辑器件，如 FPGA 等。这种器件的使用提高了电子设备的性能，增加了可靠性，但是与此同时复杂的逻辑关系、细密的引脚也给设备的维修带来了巨大的压力。维修人员无法通过探针来测量芯片 引脚上的波形，而使用“针床”等专用测试平台又需要付出很高的成本。边界扫描技术的诞生为这一问题提供了一个新的解决途径。边界扫描协议是联合测试工作组（JTAG：Joint test action group）提出了，并于1990 年形成了IEEE 1149.1 工业标准。该标准通过设置在器件输入输出引脚与内核电路之间的边界扫描单元对器件及外围电路进行测试，从而提高了电路板的可测性。边界扫描就像一根“虚拟探针”，能够在不影响电路板正常工作的同时，采集芯片引脚的状态信息，通过分析这些信息达到故障诊断功能。因此，亟需本领域技术人员研究出一种边界扫描适配器。
发明内容
本发明的目的是为了解决上述现有技术中存在的不足，提供了一种边界扫描适配器。
为了达到上述发明目的，本发明提供的技术方案如下：一种边界扫描适配器，它包括分频器、指令寄存器、数据寄存器、TAP控制器、信号采集模块、信号发生模块以及通信接口，所述分频器分别与数据寄存器、TAP控制器、信号采集模块、信号发生模块以及通信接口电性连接，所述数据寄存器与通信接口通信连接，所述指令寄存器与数据寄存器通信连接，所述数据寄存器与TAP控制器通信连接，所述TAP控制器与信号采集模块通信连接。
作为本发明更加优选地，所述信号采集模块用于采集外部数字信号。
作为本发明更加优选地，所述信号发生模块用于输出测试数字信号。
基于上述技术方案，本发明的与现有技术相比具有如下技术优点：
本发明采用边界扫描适配器，能够成功实现对含边界扫描器件电路板的在线测试、离线测试等功能，而且系统的体积小，测试时与电路板的连接线少。
附图说明
图1为本发明边界扫描适配器的结构示意图。
图中：1.分频器，2.指令寄存器，3.数据寄存器，4.TAP控制器，5.信号采集模块，6.信号发生模块，7.通信接口。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的解释说明。
如图1所示，一种边界扫描适配器，它包括分频器1、指令寄存器2、数据寄存器3、TAP控制器4、信号采集模块5、信号发生模块6以及通信接口7，所述分频器1分别与数据寄存器3、TAP控制器4、信号采集模块5、信号发生模块6以及通信接口7电性连接，所述数据寄存器3与通信接口7通信连接，所述指令寄存器2与数据寄存器3通信连接，所述数据寄存器3与TAP控制器4通信连接，所述TAP控制器4与信号采集模块5通信连接。
所述信号采集模块5用于采集外部数字信号。所述信号发生模块6用于输出测试数字信号。
上述内容为本发明的示例及说明，但不意味着本发明可取得的优点受此限制，凡是本发明实践过程中可能对结构的简单变换、和/或一些实施方式中实现的优点的其中一个或多个均在本申请的保护范围内。

Claims (3)

1.一种边界扫描适配器，其特征在于：它包括分频器（1）、指令寄存器（2）、数据寄存器（3）、TAP控制器（4）、信号采集模块（5）、信号发生模块（6）以及通信接口（7），所述分频器（1）分别与数据寄存器（3）、TAP控制器（4）、信号采集模块（5）、信号发生模块（6）以及通信接口（7）电性连接，所述数据寄存器（3）与通信接口（7）通信连接，所述指令寄存器（2）与数据寄存器（3）通信连接，所述数据寄存器（3）与TAP控制器（4）通信连接，所述TAP控制器（4）与信号采集模块（5）通信连接。
2.根据权利要求1所述的边界扫描适配器，其特征在于：所述信号采集模块（5）用于采集外部数字信号。
3.根据权利要求1所述的边界扫描适配器，其特征在于：所述信号发生模块（6）用于输出测试数字信号。
CN201811230533.3A 2018-10-22 2018-10-22 一种边界扫描适配器 Pending CN111077426A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811230533.3A CN111077426A (zh) 2018-10-22 2018-10-22 一种边界扫描适配器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811230533.3A CN111077426A (zh) 2018-10-22 2018-10-22 一种边界扫描适配器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN111077426A true CN111077426A (zh) 2020-04-28

Family

ID=70309786

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811230533.3A Pending CN111077426A (zh) 2018-10-22 2018-10-22 一种边界扫描适配器

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111077426A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111856251A (zh) * 2020-08-03 2020-10-30 泰州市博泰电子有限公司 一种移动通信电路板测试系统

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111856251A (zh) * 2020-08-03 2020-10-30 泰州市博泰电子有限公司 一种移动通信电路板测试系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112165415B (zh) 1553b总线控制设备、控制系统及控制方法
CN108475227B (zh) 测试功能组件及数据调试方法
CN203241502U (zh) 基于cpci总线的控制系统通用测试装置
CN105372536B (zh) 航空电子通用测试平台
CN100377102C (zh) 主机板功能测试板
CN106918771A (zh) 适用于通用串行总线连接器的测试电路板
CN102176699B (zh) 一种时分制命令/响应式多路复用总线的测试平台
CN109828872A (zh) 信号测试装置及方法
CN102339251A (zh) 测试系统及其usb接口测试连接卡
CN106291321B (zh) 基于LabWindows/CVI的等离子电源电路自动测试平台及方法
CN102063358B (zh) I2c总线检测装置
CN111142011A (zh) 快递柜测试治具
TW201928381A (zh) 連接器的腳位連接測試系統及其方法
CN111077426A (zh) 一种边界扫描适配器
CN102411528A (zh) Mxm接口测试连接卡及具有该测试连接卡的测试系统
US20120217977A1 (en) Test apparatus for pci-e signals
CN108680812A (zh) 一种电能质量在线监测装置
CN105677524A (zh) 测试组件、连接器和测试主板
CN208110030U (zh) 一种电表通信模块的通信测试板
CN217561648U (zh) 一种测试装置及系统
CN105785256A (zh) 集成电路产品测试系统
CN211352215U (zh) 5g通信模组测试组件及计算机设备
TW202007997A (zh) 半導體積體電路測試系統及其半導體積體電路測試裝置
CN211375588U (zh) 一种多调试接口切换电路
CN110780183B (zh) 一种用于jtag边界扫描测试的接口电路

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20200428