CN201251780Y - 内存测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种内存测试治具，适于与配置在主板上的第一内存插槽电性连接。此内存测试治具包括一载板、一第二内存插槽以及多个连接器。其中，载板具有金手指，以插入第一内存插槽。第二内存插槽用以插设一待测内存模块，并具有与待测内存模块的测试端电性相连的多个测试点。所述多个连接器分别与这些测试点一对一电性连接。藉此，与这些连接器电性相连的多个传输线，将可传送来自待测内存模块的测试端的信号。

Description

内存测试治具

技术领域

本实用新型是有关于一种测试治具，且特别是有关于一种内存测试治具。

背景技术

在现今信息化爆炸的时代，个人计算机的使用已经与日俱增。此外，为了满足社会大众对影音以及各种高阶软件的需求，不但各项硬件需要加大容量与提升速度，操作系统也必须不断的升级。随着操作系统的升级，除了硬盘要加大容量与中央处理器须提升运算速度之外，作为两者媒介的内存模块同样也需要加大容量并提升处理速度。

内存模块在加大容量且提升速度的同时，如何测量内存模块的测试端的信号以判断内存模块是否有缺陷已成为一个重要课题。因为，测试厂商可透过测量到的信号来判断内存模块的缺陷是来自于制程的问题、内存内部电路的问题、模块后而发生的问题或是主板上各插槽的问题。

一般而言，内存模块在测试的过程中，测试厂商通常会先根据内存模块的电路图与万用表，找出与内存模块的测试端等位或相隔一个排阻的点来作为焊接测试点。之后，再焊出内存模块的焊接测试点，以进行内存模块的测试信号的测量。此种作法不仅容易焊坏或损坏内存模块，此外焊接测试点的寻找以及焊线的手续都增加测试人员的负担。

发明内容

本实用新型提供一种内存测试治具，可致使测试人员轻易测量到待测内存模块的测试端的信号。

本实用新型提出一种内存测试治具，适于与配置在主板上的第一内存插槽电性连接。此内存测试治具包括载板、第二内存插槽以及多个连接器。其中，载板具有金手指，以插入第一内存插槽。第二内存插槽配置在载板上，并电性连接至金手指。

此外，在实际应用上，第二内存插槽用以插设待测内存模块，并具有与待测内存模块的测试端电性相连的多个测试点。另一方面，所述多个连接器分别配置在载板上，并与这些测试点一对一电性连接。藉此，与这些连接器电性相连的多个传输线，将可传送来自待测内存模块的测试端的信号。

在本实用新型的一实施例中，上述的载板为印刷电路板。此外，所述的第一内存插槽与第二内存插槽具有相同的结构。

在本实用新型的一实施例中，上述的第一内存插槽与第二内存插槽分别为双线上存储模块插槽。再者，所述连接器分别为SMA连接器，且所述传输线为同轴缆线。此外，所述待测内存模块为同步动态内存、双倍数据速率内存或是第二代双倍数据速率内存。

本实用新型是利用第二内存插槽所具有的测试点以及载板上的连接器，导引出来自待测内存模块测试端的信号。藉此，与现有技术相较之下，测试人员无需寻找焊接测试点，就可透过与连接器电性相连的传输线测量到测试信号。相对地，本实用新型也可避免现有技术在焊接内存模块时所造成的损坏。

为让本实用新型的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。

附图说明

图1绘示为依照本实用新型一实施例的内存测试治具与主板的结构示意图。

具体实施方式

图1绘示为依照本实用新型一实施例的内存测试治具与主板的结构示意图。请参阅图1，内存测试治具100包括一载板110、一内存插槽120以及多个连接器，例如：连接器131～133。在说明本实施例之前，必须先了解，内存测试治具100适用于一内存插槽210。其中，内存插槽210配置在一主板220上。此外，主板220例如是计算机系统或服务器系统的主板。

请继续参照图1，载板110具有金手指111。在实际应用上，内存测试治具100会透过金手指111插设于内存插槽210，以电性连接至内存插槽210。其中，载板130例如是印刷电路板。

另一方面，内存插槽120配置在载板110上，并与金手指111电性连接。在实际应用上，内存插槽120用以插设一待测内存模块(未绘示出)。此外，内存插槽120具有与待测内存模块测试端电性相连的多个测试点(未绘示出)。

再者，连接器131～133也配置在载板110上，并与前述的多个测试点一对一电性连接。在实际应用上，连接器131～133分别用以电性连接一条传输线(未绘示出)。藉此，待测内存模块的测试端将可透过内存插槽120与连接器131～133，而分别电性连接至多条传输线。相对地，所述多条传输线将可传送来自待测内存模块的测试端的信号。

为了致使本领域具有通常知识者能更加了解本实施，接下来将详述待测内存模块的测试端的信号是如何透过内存测试治具100而被读出。

在实际应用上，当待测内存模块设于内存插槽1120，且内存测试治具100透过金手指111插入在主板220的内存插槽210时，主板220可以透过内存测试治具100对待测内存模块进行读写。在读写待测内存模块的过程中，待测内存模块的测试端会产生测试信号。此时，使用者只需将连接器131～133接上传输线，就可透过与传输线相连的测量设备(例如是示波器)，读取到来自待测内存模块的测试端的信号。

值得一提的是，在本实施例中，内存插槽210与内存插槽120具有相同的结构。此外，内存插槽210与内存插槽120例如是双线上存储模块(Dual In-line MemoryModule，DIMM)插槽。此外，待测内存模块例如是同步动态内存(SynchronousDynamic Random Access Memory，SDRAM)、双倍数据速率(Double Data Rate，DDR)内存或是第二代双倍数据速率(Double Data Rate 2，DDR2)内存等。

另一方面，在本实施例中，连接器131～133例如是SMA(Sub-Minature type A)连接器。此外，与连接器131～133相连的传输线例如是同轴缆线。然而，本领域具有通常知识者应知，内存模块、内存插槽、连接器以及传输线的种类众多，因此可依设计所需来更换内存模块、内存插槽、连接器以及传输线的应用型态。

综上所述，本实用新型是利用第二内存插槽所具有的测试点以及载板上的连接器，导引出来自待测内存模块的测试端的信号。藉此，测试人员无需寻找焊接测试点，就可透过与连接器电性相连的传输线测量到测试信号。

虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许更动与润饰，因此本实用新型的保护范围当以权利要求所界定的为准。

Claims (6)

1.一种内存测试治具，其特征在于，适于与配置在一主板上的一第一内存插槽电性连接，且该内存测试治具包括：

一载板，具有一金手指，以插入该第一内存插槽；

一第二内存插槽，配置在该载板上，并电性连接该金手指，其中该第二内存插槽用以插设一待测内存模块，并具有与该待测内存模块的测试端电性相连的多个测试点；以及

多个连接器，分别配置在该载板上，并与该些测试点一对一电性连接，其中该些连接器分别用以连接一传输线，以传送来自该待测内存模块的测试端的信号。

2.如权利要求1所述的内存测试治具，其特征在于，该载板为一印刷电路板。

3.如权利要求1所述的内存测试治具，其特征在于，该第一内存插槽与该第二内存插槽具有相同的结构。

4.如权利要求3所述的内存测试治具，其特征在于，该第一内存插槽与该第二内存插槽分别为双线上存储模块插槽。

5.如权利要求1所述的内存测试治具，其特征在于，该些连接器分别为SMA连接器，且该传输线为同轴缆线。

6.如权利要求1所述的内存测试治具，其特征在于，该待测内存模块为同步动态内存、双倍数据速率内存或是第二代双倍数据速率内存。

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