CN112485627A - 一种高可靠服务器内存供电治具及其使用方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种高可靠服务器内存供电治具，包括：主控板、测试主板和若干内存负载卡，主控板通过插孔与内存负载卡连接，内存负载卡通过内存插条与测试主板连接；所述主控板用于电源供电、驱动信号引入、信号检测和拉载电路的选择；所述测试主板用于输入电压路径的选择和内存负载卡的承载；所述内存负载卡用于连接电子负载、引入多级输入电压和导出测试电压本发明操作简单，只需要连接好治具以及测试仪器，调整对应拨码开关，输入对应信号，就可测试，不需要焊接，保护精密电阻，利于治具长期使用及保养，成本低，减少人力测试时间，提高工作效率及测试精确度。
Description
技术领域
本发明涉及服务器供电框架领域，特别是涉及一种高可靠服务器内存供电治具及其使用方法。
背景技术
现在的服务器性能要求越来越多，服务器主板已经由2路过渡到4路和8路。对内存的传输速率要求也越来越高。
同时，内存上集成了越来越多的功能供电模块，针对这些电源功能模块，需要更大及更严苛的输入电压设计规格来满足后端芯片的性能需要。现有方案测试内存相关电压规范时，并未关注内存供电输入，仅仅只是量测12V输入电流精度。
为此，需要对输入电源进行全面量测，以保证内存在高速运转时能正常工作。
在测试过程中，需要根据协会及业界规范进行内存电压规范的验证，内存的供电设计中会要求给满足内存电压规范，要考虑模拟内存在最严苛情况下的输入电源设计是否能够满足设计要求。
为了适配Intel Gen4平台对于12V和3.3V供电的需求，并满足内存输入供电的电流电压测试指标能满足设计要求，本文提出一种测试服务器内存供电小的治具及测试系统。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种高可靠服务器内存供电治具及其使用方法，能够适应新Intel Gen4供电框架，对3.3V和12V供电输入的要求，内存对于供电输入的全面验证，解决现有技术中对内存供电监测需要将电子负载进行电烙铁的焊接，导致精密电阻损坏的问题。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种高可靠服务器内存供电治具，其特征在于，包括：
主控板、测试主板和若干内存负载卡，主控板通过插孔与内存负载卡连接，内存负载卡通过内存插条与测试主板连接；
所述主控板用于电源供电、驱动信号引入、信号检测和拉载电路的选择；
所述测试主板用于输入电压路径的选择和内存负载卡的承载；
所述内存负载卡用于连接电子负载、引入多级输入电压和导出测试电压。
进一步，述主控板上设有供电模块、信号驱动模块和控制模块，供电模块给主控板供电，信号驱动模块对驱动信号进行载入，控制模块根据内存负载卡引入的多级输入电压的等级控制与内存负载卡的导通，控制模块与示波器连接。
进一步，所述内存负载卡上设有电子负载接口、电流加载模块、电压引出及信号控制模块和开关，电子负载接口与电子负载连接，多级输入电压通过电流加载模块对电子负载卡进行上电，电压引出及信号控制模块用于测试电压的引出，开关用于导通内存负载卡接收驱动信号。
进一步，所述测试主板上设有对应输入电压等级的拨码与内存插条，所述多级输入电压包括3.3V和12V输入电压，拨码将3.3V和12V输入电压分别连通，内存插条用于连接测试主板与所述内存负载卡。
进一步，所述控制模块包括12V控制模块与3.3V控制模块，控制模块分别与所述信号驱动模块和所述电压引出及信号控制模块相连，驱动信号由驱动模块通过控制模块加载到电压引出及信号控制模块。
一种高可靠服务器内存供电治具的使用方法，包括以下步骤：
将内存负载卡分别与测试主板和主控板连接，将主控板上电；测试电压时，将测试主板上对应电压的拨码打开，同时打开每一个内存负载卡开关，并将控制模块与示波器相连；
测量动态电流时，将驱动信号通过主控板加载到内存负载卡，通过示波器调整动态电流，使动态电流满足实际测试需要电流，再通过示波器测量输入电压。
进一步，所述测试主板进行大电流测试时，打开内存负载卡的开关，并在内存负载卡上拉载电子负载，电子负载进行电流的分载。
本发明的有益效果是：本发明操作简单，只需要连接好治具以及测试仪器，调整对应拨码开关，输入对应信号，就可测试；不需要焊接，保护精密电阻，利于治具长期使用及保养，成本低，减少人力测试时间，提高工作效率及测试精确度。
附图说明
图1是本发明一种高可靠服务器内存供电治具的结构图；
图2是本发明一种高可靠服务器内存供电治具12V和3.3V电压引出及信号控制模块的结构图；
图3是本发明一种高可靠服务器内存供电治具电流加载模块的结构图；
图4是本发明一种高可靠服务器内存供电治具拉载电流原理图；
图5是本发明一种高可靠服务器内存供电治具的使用方法流程图。
附图中各部件的标记如下：1、供电模块；2、信号驱动模块；3、主控板；4、12V控制模块；5、3.3V控制模块；6、测试主板；7、内存负载卡；8、电子负载接口；9、电流加载模块；10、电压引出及信号控制模块；11、第一三极管；12、第一场效应管；13、第二三极管；14、第二场效应管，15、精密电阻；16、示波器。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。
请参阅图1，本发明实施例包括：
一种高可靠服务器内存供电治具，包括：主控板3与测试主板6；
主控板3上设有供电模块1、信号驱动模块2、12V控制模块4、3.3V控制模块5，12V控制模块4、3.3V控制模块5分别设有控制芯片；
测试主板6上设有若干内存加载卡7、内存插条和拨码开关，内存负载卡7上设有电子负载接口8、电流加载模块9和电压引出及信号控制模块10，内存负载卡7与内存负载卡7之间相互连接并由信号驱动模块2引入驱动电流；每个内存负载卡7上设有启动开关，当进行测试时打开启动开关，令驱动信号通过内存负载卡7传输到测试主板6的电流加载模块9；测试主板6上设有的拨码可以进行12V和3.3V调控，进行12V测试时打开12V拨码开关，进行3.3V测试时打开3.3V拨码开关；
主控板3与测试主板间通过电压引出及信号控制引脚连接，电压引出及信号控制模块10为针孔结构；
如图2，电压引出及信号控制模块10上设有信号引脚和接地引脚，如图3，电流加载模块9上设有电流加载引脚与接地引脚；
如图4，供电模块1对控制芯片输送能量，信号驱动模块2与控制芯片相连并加载Intel Gen4治具或信号发生器信号，控制芯片与内存负载卡7相连，内存负载卡7上分为12V测试部分与3.3V测试部分，12V测试部分设有第一场效应管12分别与第一三极管11和精密电阻15相连，精密电阻15一端接地，第一场效应管12与12V电压调整器相连，示波器16连接精密电阻15进行电流检测；3.3V测试部分设有第二场效应管14分别与第二三极管13和精密电阻15，精密电阻15一端接地，第二场效应管14与3.3V电压调整器相连，示波器16连接精密电阻进行电流检测；
如图5，一种高可靠服务器内存供电治具的使用方法，包括以下步骤：
将内存负载卡7安装到测试主板6的内存插条上，将内存负载卡7与主要控制板3连接，将电子负载接口8与电子负载相连，将控制主板3和测试主板6上电；
测试12V电压时，将测试主板6的12V拨码打开，同时打开每一个内存负载卡7开关，将12V控制模块4与示波器16相连，测试电流较大时可以通过电子负载拉载；
测试3.3V电压时，将测试主板6的3.3V拨码打开，同时打开每一个内存负载卡7开关，将3.3V控制模块5与示波器相连；
测试动态电流时，使用Intel Gen4治具或者信号发生器输送驱动信号，通过示波器调整动态电流，使动态电流满足实际测试需要电流，再通过示波器测量12V或3.3V电压调整器输入电压。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (7)
1.一种高可靠服务器内存供电治具，其特征在于，包括：
主控板、测试主板和若干内存负载卡，主控板通过插孔与内存负载卡连接，内存负载卡通过内存插条与测试主板连接；
所述主控板用于电源供电、驱动信号引入、信号检测和拉载电路的选择；
所述测试主板用于输入电压路径的选择和内存负载卡的承载；
所述内存负载卡用于连接电子负载、引入多级输入电压和导出测试电压。
2.根据权利要求1所述的一种高可靠服务器内存供电治具，其特征在于：所述主控板上设有供电模块、信号驱动模块和控制模块，供电模块给主控板供电，信号驱动模块对驱动信号进行载入，控制模块根据内存负载卡引入的多级输入电压的等级控制与内存负载卡的导通，控制模块与示波器连接。
3.根据权利要求2所述的一种高可靠服务器内存供电治具，其特征在于：所述内存负载卡上设有电子负载接口、电流加载模块、电压引出及信号控制模块和开关，电子负载接口与电子负载连接，多级输入电压通过电流加载模块对电子负载卡进行上电，电压引出及信号控制模块用于测试电压的引出，开关用于导通内存负载卡接收驱动信号。
4.根据权利要求3所述的一种高可靠服务器内存供电治具，其特征在于：
所述测试主板上设有对应输入电压等级的拨码与内存插条，所述多级输入电压包括3.3V和12V输入电压，拨码将3.3V和12V输入电压分别连通，。
5.根据权利要求4所述的一种高可靠服务器内存供电治具，其特征在于：所述控制模块包括12V控制模块与3.3V控制模块，控制模块分别与所述信号驱动模块和所述电压引出及信号控制模块相连，驱动信号由驱动模块通过控制模块加载到电压引出及信号控制模块。
6.一种根据权利要求1-5任一项所述高可靠服务器内存供电治具的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：
将内存负载卡分别与测试主板和主控板连接，将主控板上电；
测试电压时，将测试主板上对应电压的拨码打开，同时打开每一个内存负载卡开关，并将控制模块与示波器相连；
测量动态电流时，将驱动信号通过主控板加载到内存负载卡，通过示波器调整动态电流，使动态电流满足实际测试需要电流，再通过示波器测量输入电压。
7.根据权利要求6所述的一种高可靠服务器内存供电治具的使用方法，其特征在于：所述测试主板进行大电流测试时，打开内存负载卡的开关，并在内存负载卡上拉载电子负载，电子负载进行电流的分载。
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|---|---|---|---|---|
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Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN201251780Y (zh) * | 2008-07-18 | 2009-06-03 | 英业达科技有限公司 | 内存测试治具 |
| CN101645028A (zh) * | 2009-09-04 | 2010-02-10 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种基于刀片服务器内存电压的测试方法 |
| CN102339650A (zh) * | 2011-10-20 | 2012-02-01 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种内存条测试装置及测试方法 |
| CN102880534A (zh) * | 2012-07-20 | 2013-01-16 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 一种用于龙芯服务器主板的内存电压的测试方法 |
| CN110032484A (zh) * | 2019-04-15 | 2019-07-19 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种服务器及其内存中的vdd电压的测试系统和方法 |
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Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN201251780Y (zh) * | 2008-07-18 | 2009-06-03 | 英业达科技有限公司 | 内存测试治具 |
| CN101645028A (zh) * | 2009-09-04 | 2010-02-10 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种基于刀片服务器内存电压的测试方法 |
| CN102339650A (zh) * | 2011-10-20 | 2012-02-01 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种内存条测试装置及测试方法 |
| CN102880534A (zh) * | 2012-07-20 | 2013-01-16 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 一种用于龙芯服务器主板的内存电压的测试方法 |
| CN110032484A (zh) * | 2019-04-15 | 2019-07-19 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种服务器及其内存中的vdd电压的测试系统和方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113589041A (zh) * | 2021-06-22 | 2021-11-02 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种接口电源信号测试治具、完整性测试系统、方法 |
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