CN110032484A - 一种服务器及其内存中的vdd电压的测试系统和方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种内存中的VDD电压的测试系统，应用于待测板卡中，包括：驱动信号发送模块，用于接收控制信号时向负载卡输出相应大小的驱动信号，以控制负载卡上的负载电流在第一预设电流范围内；负载卡；芯片治具，用于读取待测板卡上的VDD芯片的负载信息；负载信息包括VDD芯片的输出电压以及输出电流；处理模块，用于读取负载信息并进行显示。应用本申请的方案，可以方便地确定出负载电流从而提高检测效率，同时也有利于提高检测精度。本申请还提供了一种服务器及其内存中的VDD电压的测试方法，具有相应效果。

Description

一种服务器及其内存中的VDD电压的测试系统和方法

技术领域

本发明涉及服务器测试技术领域，特别是涉及一种服务器及其内存中的VDD电压的测试系统和方法。

背景技术

服务器的板卡在开发过程中，需要进行详细而严格的测试，内存部分是板卡的重要组成部分，是测试时需要重点关注的部分。内存测试中，VDD电压测试是重点关注的部分。

在进行VDD电压测试时，通常是将一个或多个负载卡通过排线连接在一起，之后插在内存条卡槽上，对负载卡施加负载至预设值，量测负载卡上的VDD电压波形来验证是否符合要求。

给负载卡加负载时，可参见图1，是通过驱动信号发送源对负载卡施加驱动信号来实现的，驱动信号的大小决定了负载的大小。由于施加到负载卡上的是驱动信号，而不是实际的负载，因此无法直接观测到负载的大小，需要从负载卡上量测负载电流的波形来观测负载大小。

目前的方案中，会将示波器与负载卡上的负载电流侦测点连接，进而便可以得到负载电流。但是，示波器上量测出来的是电压信号，其与负载电流之间有一个确定的转换关系，例如针对某一种待测板卡，示波器显示为25mv时，相当于驱动信号发送源在负载卡上施加的负载电流为1A。由于无法直观地看出负载电流，而是需要检测人员进行转换计算，因此增加了工作量，也不利于提高检测效率，同时，不同类型的板卡，转换关系可能相应的不同，进一步地影响了检测效率。并且，驱动信号在发送端以及传输端都容易引入干扰，干扰会导致示波器的波形并非一条直线而是包含了杂讯的纹波，更加不利于工作人员直观方便地确定出负载电流。

另一方面，示波器的检测精度也不高，即示波器本身容易引入干扰，使得示波器的量测结果存在误差，因此通过示波器的量测结果进行驱动信号大小的调节时，也就会导致对驱动信号的大小进行调节时存在误差的情况，影响检测精度。

综上所述，如何更加方便地确定出负载电流以提高检测效率，同时提高检测精度，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种服务器及其内存中的VDD电压的测试系统和方法，以提高检测效率，同时提高检测精度。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种内存中的VDD电压的测试系统，应用于待测板卡中，包括：

驱动信号发送模块，用于接收控制信号时向负载卡输出相应大小的驱动信号，以控制所述负载卡上的负载电流在第一预设电流范围内；

所述负载卡；

芯片治具，用于读取所述待测板卡上的VDD芯片的负载信息；所述负载信息包括所述VDD芯片的输出电压以及输出电流；

处理模块，用于读取所述负载信息并进行显示。

优选的，所述处理模块还用于：

当读取的所述输出电流在所述第一预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第一预设电压范围内时，输出第一提示信息。

优选的，所述处理模块还用于：

当读取的所述输出电流在第二预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第二预设电压范围内时，输出第二提示信息。

优选的，所述芯片治具还用于：读取所述VDD芯片的输入电压、输入电流以及输出功率；

所述处理模块还用于读取所述输入电压、所述输入电流以及所述输出功率并进行显示。

优选的，还包括：

数据记录模块，用于当所述处理模块读取的所述输出电流在第一预设电流范围内，且所述输出电压在第一预设电压范围内时，记录下当前的驱动信号的大小。

一种内存中的VDD电压的测试方法，应用于待测板卡中，包括：

驱动信号发送模块接收控制信号时向负载卡输出相应大小的驱动信号，以控制所述负载卡上的负载电流在第一预设电流范围内；

芯片治具读取所述待测板卡上的VDD芯片的负载信息；所述负载信息包括所述VDD芯片的输出电压以及输出电流；

处理模块读取所述负载信息并进行显示。

优选的，还包括：

当所述处理模块读取的所述输出电流在所述第一预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第一预设电压范围内时，输出第一提示信息。

优选的，还包括：

当所述处理模块读取的所述输出电流在第二预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第二预设电压范围内时，输出第二提示信息。

优选的，还包括：

数据记录模块在所述处理模块读取的所述输出电流在第一预设电流范围内，且所述输出电压在第一预设电压范围内时，记录下当前的驱动信号的大小。

一种服务器，包括上述任一项所述的内存中的VDD电压的测试系统。

应用本发明实施例所提供的技术方案，应用于待测板卡中，包括：驱动信号发送模块，用于接收控制信号时向负载卡输出相应大小的驱动信号，以控制负载卡上的负载电流在第一预设电流范围内；负载卡；芯片治具，用于读取待测板卡上的VDD芯片的负载信息；负载信息包括VDD芯片的输出电压以及输出电流；处理模块，用于读取负载信息并进行显示。

本申请中，使用芯片治具进行VDD电压的测试。芯片治具作为精密器件，相较于示波器，其引入的干扰更低。芯片治具可以读取待测板卡上的VDD芯片的负载信息，其中，VDD芯片的输出电流也就是后端电路中的负载电流，处理模块可以读取负载信息并进行显示，相较于示波器，处理模块直接显示出了负载电流，无需人工计算，也就有利于工作人员直观方便地确定出负载电流，提高了检测效率。因此，本申请的方案可以方便地确定出负载电流从而提高检测效率，同时也有利于提高检测精度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中内存中的VDD电压的测试系统的结构示意图；

图2为本发明中一种内存中的VDD电压的测试系统的结构示意图；

图3为本发明一种具体实施方式中处理模块的显示内容示意图；

图4为本发明中一种内存中的VDD电压的测试方法的实施流程图。

具体实施方式

本发明的核心是提供一种内存中的VDD电压的测试系统，可以方便地确定出负载电流从而提高检测效率，同时也有利于提高检测精度。

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参考图2，图2为本发明中一种内存中的VDD电压的测试系统的结构示意图，该测试系统应用于待测板卡中，包括：

驱动信号发送模块10，用于接收控制信号时向负载卡20输出相应大小的驱动信号，以控制负载卡20上的负载电流在第一预设电流范围内；

负载卡20；

芯片治具30，用于读取待测板卡上的VDD芯片的负载信息；负载信息包括VDD芯片的输出电压以及输出电流；

处理模块40，用于读取负载信息并进行显示。

驱动信号发送模块10通常也可以称为驱动信号源或者驱动信号发送源，与负载卡20连接之后，可以在接收到控制信号时向负载卡20输出相应大小的驱动信号。控制信号可以由工作人员进行输入，例如通过相关按键进行控制信号的输入。控制信号中可以携带有相关指令信息，通过该指令信息决定驱动信号发送模块10输出的驱动信号的大小，即驱动信号发送模块10输出的驱动信号的大小是由控制信号决定的。

通常，驱动信号发送模块10可以对当前输出的驱动信号的大小进行显示，以使得工作人员获知驱动信号的大小。驱动信号通常为电压信号。

负载卡20是模拟的内存条，直接插在内存条卡槽上。负载卡20的数量可以为一个或多个，通常情况下，会有多个负载卡20通过排线连接在一起，例如常见的是将6个负载卡20通过排线连接，并且插在待测板卡的卡槽中。

申请人考虑到，由于待测板卡上的VDD芯片都有对应的芯片治具30，而VDD芯片与后端的负载卡20是串联关系，即VDD芯片的输出电流也就是负载卡的负载电流，因此，本申请将芯片治具30与VDD芯片连接，通过读取VDD芯片的负载信息来实现对内存中的VDD电压的测试。

芯片治具30与VDD芯片连接之后，可以读取待测板卡上的VDD芯片的负载信息，负载信息包括了VDD芯片的输出电压以及输出电流。VDD芯片的输出电压也就是本申请需要测试的内存中的VDD电压，而VDD芯片的输出电流也就是负载电流。

芯片治具30作为精密器件，相较于示波器，其引入的干扰更低，使得检测出的负载电流更准确，也就有利于提高测试结果的准确度。

处理模块40与芯片治具30连接，可以读取负载信息并进行显示。处理模块40通常可以为用户电脑，当然，电脑上需要安装用于读取芯片治具30发送的信息的相关软件。

处理模块40显示出的VDD芯片的输出电流也就是在测试时所需检测的负载电流，由于直接显示出了负载电流，无需人工换算，即工作人员可以直观方便地确定出负载电流，也就提高了检测效率。

还需要说明的是，在传统的采用示波器的测试方案中，在部分场合中，负载卡20能够正常接收驱动信号，但是由于接触异常等原因，可能会导致负载卡20中的部分单元出现异常，进而导致负载电流侦测点的电压出现异常，即负载卡20的输出端存在异常，也就使得示波器检测出的负载电流并不是真实的负载电流。负载电流的检测出现异常，也就会导致内存VDD电压的测试结果不准确。而本申请的方案中，芯片治具30与待测板卡上的VDD芯片连接，即检测点是在VDD芯片的输出端，上述负载电流侦测点的电压异常，并不会影响到VDD芯片的输出端的输出电压以及输出电流，因此本申请的方案有利于提高测试结果的准确度。

在进行测试时，将驱动信号发送模块10，负载卡20，芯片治具30以及处理模块40都连接完毕之后，工作人员可以通过控制信号进行驱动信号的大小的控制，并且观察处理模块40显示的VDD芯片的输出电流，该电流也即负载卡20上的负载电流。通常，工作人员会控制驱动信号缓慢增大。当处理模块40显示的电流在第一预设电流范围内时，说明负载电流已经达到了测试要求，工作人员观察处理模块40上显示的VDD芯片的输出电压的大小，便可以确定出检测结果。例如当VDD芯片的输出电压在预设范围内时，可以确定内存中的VDD电压的测试结果为测试通过，否则为测试未通过。

应用本发明实施例所提供的内存中的VDD电压的测试系统，应用于待测板卡中，包括：驱动信号发送模块10，用于接收控制信号时向负载卡20输出相应大小的驱动信号，以控制负载卡20上的负载电流在第一预设电流范围内；负载卡20；芯片治具30，用于读取待测板卡上的VDD芯片的负载信息；负载信息包括VDD芯片的输出电压以及输出电流；处理模块40，用于读取负载信息并进行显示。

本申请中，使用芯片治具30进行VDD电压的测试。芯片治具30作为精密器件，相较于示波器，其引入的干扰更低。芯片治具30可以读取待测板卡上的VDD芯片的负载信息，其中，VDD芯片的输出电流也就是后端电路中的负载电流，处理模块40可以读取负载信息并进行显示，相较于示波器，处理模块40直接显示出了负载电流，无需人工计算，也就有利于工作人员直观方便地确定出负载电流，提高了检测效率。因此，本申请的方案可以方便地确定出负载电流从而提高检测效率，同时也有利于提高检测精度。

在本发明的一种具体实施方式中，处理模块40还用于：

当读取的输出电流在第一预设电流范围内，且判断出输出电压不在第一预设电压范围内时，输出第一提示信息。

该种实施方式中，处理模块40可以协助工作人员进行内存VDD电压测试是否通过的判断，即当VDD芯片的输出电流在第一预设电流范围内时，说明负载电流已经满足测试条件，处理模块40便自动判断VDD芯片的输出电压的大小，当判断出该电压不在第一预设电压范围内时，说明VDD电压的测试结果为测试不通过，便输出第一提示信息，使得工作人员及时注意到待测板卡的内存VDD电压测试不通过的情况，有利于降低由于人工操作导致的误判情况的发生概率。

此外，第一预设电流范围以及第一预设电压范围均可以根据实际情况进行设定和调整，例如根据待测板卡的种类、型号的不同进行相适应的调整，并不影响本发明的实施。

在本发明的一种具体实施方式中，处理模块40还用于：

当读取的输出电流在第二预设电流范围内，且判断出输出电压不在第二预设电压范围内时，输出第二提示信息。

在部分场合中，在进行内存VDD电压的测试时，需要进行多组测试。例如，当负载电流分别达到0.1A，0.5A以及0.8A时，各进行一次内存VDD电压的测试。该种实施方式中，当处理模块40读取的输出电流在第二预设电流范围内，且判断出输出电压不在第二预设电压范围内时，处理模块40会输出第二提示信息，以使得工作人员及时注意到测试不通过的情况。

在本发明的一种具体实施方式中，考虑到工作人员获知更为全面的VDD芯片的信息，有利于协助进行测试结果的判断以及后续的分析，因此芯片治具30还用于：读取VDD芯片的输入电压、输入电流以及输出功率；处理模块40还用于读取输入电压、输入电流以及输出功率并进行显示。例如图3中，处理模块40显示出的VDD芯片的输入电压为12.06V，输入电流为0.13A，输出电压为1.211V，输出电流为0.1A，输出功率为0.12W。

在本发明的一种具体实施方式中，还包括：

数据记录模块，用于当处理模块40读取的输出电流在第一预设电流范围内，且输出电压在第一预设电压范围内时，记录下当前的驱动信号的大小。

考虑到工作人员在进行内存VDD电压的测试时，通常需要进行同型号的批量测试，例如100张待测板卡中，A型号，B型号以及C型号各占三分之一。由上文描述可知，在通常的测试流程中，工作人员需要观察处理模块40显示出的电流来调节驱动信号的大小，当处理模块40显示出的电流达到预设的第一电流阈值时停止对驱动信号的调整。该种实施方式中，当处理模块40读取的输出电流在第一预设电流范围内，且输出电压在第一预设电压范围内时，通过数据记录模块对当前的驱动信号的大小进行记录，这样，在后续的测试过程中，遇到相同型号的待测板卡，直接将驱动信号调节至该记录值即可。因此该种实施方式有利于提高测试效率。

相应于上面的系统实施例，本发明实施例还提供了一种内存中的VDD电压的测试方法，可与上文相互对应参照。

参见图4所示，为本发明中一种内存中的VDD电压的测试方法的实施流程图，该方法应用于待测板卡中，包括以下步骤：

步骤S101：驱动信号发送模块接收控制信号时向负载卡输出相应大小的驱动信号，以控制负载卡上的负载电流在第一预设电流范围内；

步骤S102：芯片治具读取待测板卡上的VDD芯片的负载信息；负载信息包括VDD芯片的输出电压以及输出电流；

步骤S103：处理模块读取负载信息并进行显示。

在本发明的一种具体实施方式中，还包括：

当处理模块读取的输出电流在第一预设电流范围内，且判断出输出电压不在第一预设电压范围内时，输出第一提示信息。

在本发明的一种具体实施方式中，还包括：

当处理模块读取的输出电流在第二预设电流范围内，且判断出输出电压不在第二预设电压范围内时，输出第二提示信息。

在本发明的一种具体实施方式中，还包括：

数据记录模块在处理模块读取的输出电流在第一预设电流范围内，且输出电压在第一预设电压范围内时，记录下当前的驱动信号的大小。

相应于上面的方法和系统实施例，本发明实施例还提供了一种服务器，可以包括上述任一实施例中的内存中的VDD电压的测试系统，此处不再重复说明。

还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的技术方案及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种内存中的VDD电压的测试系统，其特征在于，应用于待测板卡中，包括：

驱动信号发送模块，用于接收控制信号时向负载卡输出相应大小的驱动信号，以控制所述负载卡上的负载电流在第一预设电流范围内；

所述负载卡；

芯片治具，用于读取所述待测板卡上的VDD芯片的负载信息；所述负载信息包括所述VDD芯片的输出电压以及输出电流；

处理模块，用于读取所述负载信息并进行显示。

2.根据权利要求1所述的内存中的VDD电压的测试系统，其特征在于，所述处理模块还用于：

当读取的所述输出电流在所述第一预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第一预设电压范围内时，输出第一提示信息。

3.根据权利要求2所述的内存中的VDD电压的测试系统，其特征在于，所述处理模块还用于：

当读取的所述输出电流在第二预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第二预设电压范围内时，输出第二提示信息。

4.根据权利要求1所述的内存中的VDD电压的测试系统，其特征在于，所述芯片治具还用于：读取所述VDD芯片的输入电压、输入电流以及输出功率；

所述处理模块还用于读取所述输入电压、所述输入电流以及所述输出功率并进行显示。

5.根据权利要求1至4任一项所述的内存中的VDD电压的测试系统，其特征在于，还包括：

数据记录模块，用于当所述处理模块读取的所述输出电流在第一预设电流范围内，且所述输出电压在第一预设电压范围内时，记录下当前的驱动信号的大小。

6.一种内存中的VDD电压的测试方法，其特征在于，应用于待测板卡中，包括：

驱动信号发送模块接收控制信号时向负载卡输出相应大小的驱动信号，以控制所述负载卡上的负载电流在第一预设电流范围内；

芯片治具读取所述待测板卡上的VDD芯片的负载信息；所述负载信息包括所述VDD芯片的输出电压以及输出电流；

处理模块读取所述负载信息并进行显示。

7.根据权利要求6所述的内存中的VDD电压的测试方法，其特征在于，还包括：

当所述处理模块读取的所述输出电流在所述第一预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第一预设电压范围内时，输出第一提示信息。

8.根据权利要求6所述的内存中的VDD电压的测试方法，其特征在于，还包括：

当所述处理模块读取的所述输出电流在第二预设电流范围内，且判断出所述输出电压不在第二预设电压范围内时，输出第二提示信息。

9.根据权利要求6至8任一项所述的内存中的VDD电压的测试方法，其特征在于，还包括：

数据记录模块在所述处理模块读取的所述输出电流在第一预设电流范围内，且所述输出电压在第一预设电压范围内时，记录下当前的驱动信号的大小。

10.一种服务器，其特征在于，包括如权利要求1至5任一项所述的内存中的VDD电压的测试系统。